JPH04192920A - Cmos論理出力回路 - Google Patents
Cmos論理出力回路Info
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- JPH04192920A JPH04192920A JP2326794A JP32679490A JPH04192920A JP H04192920 A JPH04192920 A JP H04192920A JP 2326794 A JP2326794 A JP 2326794A JP 32679490 A JP32679490 A JP 32679490A JP H04192920 A JPH04192920 A JP H04192920A
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- diode
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 3
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 2
- 230000001052 transient effect Effects 0.000 abstract description 7
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 3
- 230000003071 parasitic effect Effects 0.000 description 2
- 238000003491 array Methods 0.000 description 1
- 238000013016 damping Methods 0.000 description 1
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Logic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野コ
本発明は、C,MOS論理出力回路、さらには負荷駆動
能力を大きく設定することによって高速化を図ったCM
OS論理出力回路に適用して有効な技術に関するもので
、例えば高速型の標準ロジックIC(半導体集積回路装
置)に利用して有効な技術に関するものである。
能力を大きく設定することによって高速化を図ったCM
OS論理出力回路に適用して有効な技術に関するもので
、例えば高速型の標準ロジックIC(半導体集積回路装
置)に利用して有効な技術に関するものである。
[従来の技術]
第5図は標準ロジックICとして構成されたCMOS論
理出力回路の一例を示したものであって、QplとQn
lはCMOS論理入力回路1を構成するPチャンネルM
OSトランジスタとnチャンネルMOSトランジスタ、
inはその論理入力、Qp3とQn3はCMOS論理出
力回路2を構成するPチャンネルMOSトランジスタと
nチャンネルMOSトランジスタ、outはその論理出
力、Vccは高レベル側の電源電位、GNDは低レベル
側の基準電位(接地電位)である。
理出力回路の一例を示したものであって、QplとQn
lはCMOS論理入力回路1を構成するPチャンネルM
OSトランジスタとnチャンネルMOSトランジスタ、
inはその論理入力、Qp3とQn3はCMOS論理出
力回路2を構成するPチャンネルMOSトランジスタと
nチャンネルMOSトランジスタ、outはその論理出
力、Vccは高レベル側の電源電位、GNDは低レベル
側の基準電位(接地電位)である。
ここで、従来の技術においては、CMOS論理出力回路
2の負荷駆動能力を大きくすることによって動作の高速
化が図られていた。負荷駆動能力はMOSトランジスタ
Qp 3.Qn 3のサイズを大きくすることによって
増大させることができる(例えば、日経マグロウヒル社
[日経エレクトロニクス 1982年6月21日号(N
o、293)」第115頁〜第229頁 解説を参照)
。
2の負荷駆動能力を大きくすることによって動作の高速
化が図られていた。負荷駆動能力はMOSトランジスタ
Qp 3.Qn 3のサイズを大きくすることによって
増大させることができる(例えば、日経マグロウヒル社
[日経エレクトロニクス 1982年6月21日号(N
o、293)」第115頁〜第229頁 解説を参照)
。
[発明が解決しようとする課題]
しかしながら、上述した技術には、次のような問題のあ
ることが本発明者らによってあきらかとされた。
ることが本発明者らによってあきらかとされた。
すなわち、高速化のためにCM OS k理出力回路2
の負荷駆動能力を大きくすると、入力1nの電位がPチ
ャンネルMOSトランジスタQp3のしきい値とnチャ
ンネルMOSトランジスタQnのしきい値の間を通過す
る際に過渡的に流れる貫通電流が増大する。一方、上記
CMOS論理出力回路2と電源電圧Vcc−GNDの間
には、ボンディングワイヤーやリードフレームおよびプ
リント配線などによって、何らかのインダグタンスが寄
生する。このため、上記CMOS論理出力回路2の出力
○utには、上記貫通電流と寄生インダクタンスによる
過渡ノイズが生じる。この過渡ノイズは、通常速度のC
M OS論理回路ではそれほど問題にならなかったが、
高速動作するCMOS論理出力回路では大きな支障にな
る二とが判明した。とくに、第4図のグラフに曲線Bで
示すように、出力OUtがロウ(低レベル)からハイ(
高レベル)に切り換えられるときに生じるスパイク状の
ノイズは、電源ラインから他の回路に回り込んで誤動作
を引き起こす原因となりやすい。
の負荷駆動能力を大きくすると、入力1nの電位がPチ
ャンネルMOSトランジスタQp3のしきい値とnチャ
ンネルMOSトランジスタQnのしきい値の間を通過す
る際に過渡的に流れる貫通電流が増大する。一方、上記
CMOS論理出力回路2と電源電圧Vcc−GNDの間
には、ボンディングワイヤーやリードフレームおよびプ
リント配線などによって、何らかのインダグタンスが寄
生する。このため、上記CMOS論理出力回路2の出力
○utには、上記貫通電流と寄生インダクタンスによる
過渡ノイズが生じる。この過渡ノイズは、通常速度のC
M OS論理回路ではそれほど問題にならなかったが、
高速動作するCMOS論理出力回路では大きな支障にな
る二とが判明した。とくに、第4図のグラフに曲線Bで
示すように、出力OUtがロウ(低レベル)からハイ(
高レベル)に切り換えられるときに生じるスパイク状の
ノイズは、電源ラインから他の回路に回り込んで誤動作
を引き起こす原因となりやすい。
本発明の目的は、高速化されたCMOS論理出力回路の
出力がロウからハイに切り換えられるときに生じる過渡
ノイズを、比較的簡単な構成によって効果的に抑えられ
るようにする集積回路技術を提供することにある。
出力がロウからハイに切り換えられるときに生じる過渡
ノイズを、比較的簡単な構成によって効果的に抑えられ
るようにする集積回路技術を提供することにある。
この・発明の前記ならびにそのほかの目的と新規な特徴
については、本明細書の記述および添附図面から明らか
になるであろう。
については、本明細書の記述および添附図面から明らか
になるであろう。
[課題を解決するための手段]
本願において開示される発明のうち代表的なものの概要
を説明すれば、下記のとおりである。
を説明すれば、下記のとおりである。
すなわち、CMOS論理出力回路のPチャンネルMO3
hランシスタ側に、ダイオードを電源電位に対して順方
向となるように直列に挿入するものである。
hランシスタ側に、ダイオードを電源電位に対して順方
向となるように直列に挿入するものである。
[作用]
上記した手段によれば、出力の電位がロウ領域からハイ
領域に立ち上げられて電源電位の近傍に達すると、この
近傍に達した時点にて、ダイオードの順方向での電圧電
流特性によってPチャンネルMOSトランジスタから出
力へ流れる電流が制限されるようになる。この結果、出
力の立上がり波形は、電源電位の近傍にて選択的になめ
らかにさせられる。
領域に立ち上げられて電源電位の近傍に達すると、この
近傍に達した時点にて、ダイオードの順方向での電圧電
流特性によってPチャンネルMOSトランジスタから出
力へ流れる電流が制限されるようになる。この結果、出
力の立上がり波形は、電源電位の近傍にて選択的になめ
らかにさせられる。
これにより、高速化されたCMOS論理出力回路の出力
がロウからハイに切り換えられるときに生じる過渡ノイ
ズを、比較的簡単な構成によって効果的に抑えられるよ
うにするという上記目的が達成される。
がロウからハイに切り換えられるときに生じる過渡ノイ
ズを、比較的簡単な構成によって効果的に抑えられるよ
うにするという上記目的が達成される。
[実施例コ
以下、本発明の好適な実施例を図面に基づいて説明する
。
。
なお、各図中、同一符号は同一あるいは相当部分を示す
。
。
第1図は本発明の技術が適用されたCMOS論理出力回
路の一実施例を示したものであって、Qpl、Qp2お
よびQnl、Qn2はCMOS論理入論理入力回路酸す
るpチャンネルMOSトランジスタおよびnチャンネル
MOSトランジスタ、inはその論理入力、Qp3およ
びQn3はCMO8論理出力回路2を構成するPチャン
ネルMOSトランジスタおよびnチャンネルMOSトラ
ンジスタ、outはその論理出力、Vccは高レベル側
の電源電位、GNDは低レベル側の基準電位(接地電位
)、DlはCMOS論理出力回路2のpチャンネルMO
SトランジスタQp3側に、電源電位Vccに対して順
方向となるように直列に挿入されたダイオードである。
路の一実施例を示したものであって、Qpl、Qp2お
よびQnl、Qn2はCMOS論理入論理入力回路酸す
るpチャンネルMOSトランジスタおよびnチャンネル
MOSトランジスタ、inはその論理入力、Qp3およ
びQn3はCMO8論理出力回路2を構成するPチャン
ネルMOSトランジスタおよびnチャンネルMOSトラ
ンジスタ、outはその論理出力、Vccは高レベル側
の電源電位、GNDは低レベル側の基準電位(接地電位
)、DlはCMOS論理出力回路2のpチャンネルMO
SトランジスタQp3側に、電源電位Vccに対して順
方向となるように直列に挿入されたダイオードである。
ここで、ダイオードD1は、第2図に示すように、np
nバイポーラトランジスタQblのコレクタとベースを
接続したものが使用されている。
nバイポーラトランジスタQblのコレクタとベースを
接続したものが使用されている。
上記バイポーラトランジスタQblは、第3図に示すよ
うに、CMOS論理出力回路2を構成するpチャンオ、
ルMOSトランジスタQp3およびnチャンネルMOS
トランジスタQn3とともに、同一のn型半導体基板(
n−sub)31上に集積形成される。
うに、CMOS論理出力回路2を構成するpチャンオ、
ルMOSトランジスタQp3およびnチャンネルMOS
トランジスタQn3とともに、同一のn型半導体基板(
n−sub)31上に集積形成される。
同図において、32はnチャンネルMOSトランジスタ
を形成するためのp型ウェル層、33はPチャンネルM
OSトランジスタを形成するためのn型ウェル層、34
はnチャンネルMOSトランジスタのソース・ドレイン
領域を形成するためのn生型拡散層、35はnチャンネ
ルMOSトランジスタのソース・ドレイン領域を形成す
るためのp生型拡散層である。
を形成するためのp型ウェル層、33はPチャンネルM
OSトランジスタを形成するためのn型ウェル層、34
はnチャンネルMOSトランジスタのソース・ドレイン
領域を形成するためのn生型拡散層、35はnチャンネ
ルMOSトランジスタのソース・ドレイン領域を形成す
るためのp生型拡散層である。
上記ダイオードDlとなるバイポーラトランジスタQb
lは、nチャンネルMOSトランジスタを形成するため
のp型ウェル層32と、nチャンネルMOSトランジス
タのソース・ドレイン領域を形成するためのn十型拡散
層34と、nチャンネルMOSトランジスタのソース・
ドレイン領域を形成するためのp十型拡散層35を利用
することによって、従来のCMOS論理回路を形成する
ための製造工程だけで形成することができる。
lは、nチャンネルMOSトランジスタを形成するため
のp型ウェル層32と、nチャンネルMOSトランジス
タのソース・ドレイン領域を形成するためのn十型拡散
層34と、nチャンネルMOSトランジスタのソース・
ドレイン領域を形成するためのp十型拡散層35を利用
することによって、従来のCMOS論理回路を形成する
ための製造工程だけで形成することができる。
次に動作について説明する。
第1図の回路では、入力inがロウからハイに切り換わ
ることにより、nチャンネルMOSトランジスタQn3
がオンからオフ、pチャンネルM○SトランジスタQp
3がオフからオンにそれぞれ切り換えられる。これによ
り、出力OUtの電位は、電源電位Vccからpチャシ
ネ9MO3)ランジスタQp3を通して供給される電流
によって、ロウからハイに駆動される。この駆動によっ
て出力outの電位がハイ領域に入り、さらに電源電位
Vccに対してダイオードDIの順方向電圧すなわちバ
イポーラトランジスタQblのベース・エミッタ間電圧
Vbeだけ低いところまで達すると、この時点で、出力
outに供給される電流が上記ダイオード61の順方向
での電圧電流特性によって抑制されるようになる。
ることにより、nチャンネルMOSトランジスタQn3
がオンからオフ、pチャンネルM○SトランジスタQp
3がオフからオンにそれぞれ切り換えられる。これによ
り、出力OUtの電位は、電源電位Vccからpチャシ
ネ9MO3)ランジスタQp3を通して供給される電流
によって、ロウからハイに駆動される。この駆動によっ
て出力outの電位がハイ領域に入り、さらに電源電位
Vccに対してダイオードDIの順方向電圧すなわちバ
イポーラトランジスタQblのベース・エミッタ間電圧
Vbeだけ低いところまで達すると、この時点で、出力
outに供給される電流が上記ダイオード61の順方向
での電圧電流特性によって抑制されるようになる。
このため、第4図のグラフに曲線Aで示すように、出力
OUtの立上がりは、出力OUtがロウからハイに立ち
上がって電源電位VCCの近傍に達するあたりから鈍化
させられる。これにより、出力の立上がり波形は、電源
電位Vccの近傍にて選択的になめらかにさせられる。
OUtの立上がりは、出力OUtがロウからハイに立ち
上がって電源電位VCCの近傍に達するあたりから鈍化
させられる。これにより、出力の立上がり波形は、電源
電位Vccの近傍にて選択的になめらかにさせられる。
したがって、出力outは、電源電位VCCを大きく越
えるようなスパイクノイズを生じることなく、定常的な
ハイ状態に移行することができる。
えるようなスパイクノイズを生じることなく、定常的な
ハイ状態に移行することができる。
ここで注目すべきことは、出力outの立上がり波形が
鈍化させられるのは、出力outの電位が電源電位Vc
c(7)近傍(Vcc−Vbe)に達してからであって
、このときの出力outはすでに完全なハイ領域にある
ということである。これにより、出力outがロウ領域
からハイ領域に立ち上がるまでの速度は、バイポーラト
ランジスタQblのオン抵抗の影響を若干受けるものの
、はとんど低下しない。また、出力outの定常的なハ
イレベルがバイポーラトランジスタQblのベース・エ
ミッタ間電圧V b eの分だけ低くなるが、この低下
分はわずか(約0.6V)であって、実用上の支障とな
ることはない。また、上記低下分(0,6V)は、例え
ばダイオードD1と並列に抵抗を挿入することによって
簡単に補償する♀ともできる。
鈍化させられるのは、出力outの電位が電源電位Vc
c(7)近傍(Vcc−Vbe)に達してからであって
、このときの出力outはすでに完全なハイ領域にある
ということである。これにより、出力outがロウ領域
からハイ領域に立ち上がるまでの速度は、バイポーラト
ランジスタQblのオン抵抗の影響を若干受けるものの
、はとんど低下しない。また、出力outの定常的なハ
イレベルがバイポーラトランジスタQblのベース・エ
ミッタ間電圧V b eの分だけ低くなるが、この低下
分はわずか(約0.6V)であって、実用上の支障とな
ることはない。また、上記低下分(0,6V)は、例え
ばダイオードD1と並列に抵抗を挿入することによって
簡単に補償する♀ともできる。
さらに、電源電位Vccに対して順方向となるように直
列挿入されたダイオードD1は、その整流作用によって
、出力out側にて生じる逆起電圧ノイズが電源ライン
側に回り込むのを阻止する効果と、寄生インダクタンス
によるリンギング振動を抑制するダンピング効果も合わ
せてもたらすことができる。
列挿入されたダイオードD1は、その整流作用によって
、出力out側にて生じる逆起電圧ノイズが電源ライン
側に回り込むのを阻止する効果と、寄生インダクタンス
によるリンギング振動を抑制するダンピング効果も合わ
せてもたらすことができる。
以上のようにして、高速化されたCMOS論理出力回路
2の出力outがハイに切り換えられるときに生じる過
渡ノイズを、比較的簡単な構成によって効果的に抑制す
ることができる。
2の出力outがハイに切り換えられるときに生じる過
渡ノイズを、比較的簡単な構成によって効果的に抑制す
ることができる。
以上本発明者によってなされた発明を実施例に基づき具
体的に説明したが、本発明は上記実施例に限定されるも
のではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能
であることはいうまでもない。
体的に説明したが、本発明は上記実施例に限定されるも
のではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能
であることはいうまでもない。
例えば、上述した実施例では、ダイオードDIをpチャ
ンネルMO3)−ランジスタQb3のソース端子と電源
電位VCCの間に挿入しであるが、これをQp3のドレ
イン端子と出力端子。utとの間に挿入するようにして
もよい。
ンネルMO3)−ランジスタQb3のソース端子と電源
電位VCCの間に挿入しであるが、これをQp3のドレ
イン端子と出力端子。utとの間に挿入するようにして
もよい。
以上の説明では主として本発明者によってなされた発明
をその背景となった利用分野である標準ロジックICに
適用した場合について説明したが、それに限定されるも
のではなく、例えばカスタムICあるいはゲートアレイ
などにも適用できる。
をその背景となった利用分野である標準ロジックICに
適用した場合について説明したが、それに限定されるも
のではなく、例えばカスタムICあるいはゲートアレイ
などにも適用できる。
[発明の効果コ
本願において開示される発明のうち代表的なものによっ
て得られる効果を簡単に説明すれば下記のとおりである
。
て得られる効果を簡単に説明すれば下記のとおりである
。
すなわち、高速化されたCMOS論理出力回路の8力が
ロウからハイに切り換えられるときに生じる過渡ノイズ
を、比較的簡単な構成によって効果的に抑制することが
できるという効果が得られる。
ロウからハイに切り換えられるときに生じる過渡ノイズ
を、比較的簡単な構成によって効果的に抑制することが
できるという効果が得られる。
第1図は本発明の技術が適用されたCMOS論理出力回
路の一実施例を示す回路図、 第2図は上記回路の要部をなすダイオードの部分の等価
回路図、 第3図は上記回路の要部における素子構造の概略構成図
、 第4図は本発明の回路の特性および従来の回路の特性を
示すグラフ、 第5図は従来のCMOS論理出力回路の構成例を示す回
路図である。
路の一実施例を示す回路図、 第2図は上記回路の要部をなすダイオードの部分の等価
回路図、 第3図は上記回路の要部における素子構造の概略構成図
、 第4図は本発明の回路の特性および従来の回路の特性を
示すグラフ、 第5図は従来のCMOS論理出力回路の構成例を示す回
路図である。
Claims (1)
- 1、CMOS論理出力回路のpチャンネルMOSトラン
ジスタ側に、ダイオードを電源電位に対して順方向とな
るように直列に挿入したことを特徴とするCMOS論理
出力回路。2、CMOS論理出力回路を形成するPチャ
ンネルMOSトランジスタおよびnチャンネルMOSト
ランジスタと、等価的にダイオードを形成するバイポー
ラトランジスタとが同一半導体基板内に集積形成される
とともに、上記バイポーラトランジスタが上記Pチャン
ネルMOSトランジスタ側にて電源電位に対して順方向
に直列に介在させられたことを特徴とする特許請求の範
囲第1項記載のCMOS論理出力回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2326794A JPH04192920A (ja) | 1990-11-27 | 1990-11-27 | Cmos論理出力回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2326794A JPH04192920A (ja) | 1990-11-27 | 1990-11-27 | Cmos論理出力回路 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04192920A true JPH04192920A (ja) | 1992-07-13 |
Family
ID=18191785
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2326794A Pending JPH04192920A (ja) | 1990-11-27 | 1990-11-27 | Cmos論理出力回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH04192920A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2017200217A (ja) * | 2002-12-25 | 2017-11-02 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 半導体装置及び表示装置 |
-
1990
- 1990-11-27 JP JP2326794A patent/JPH04192920A/ja active Pending
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2017200217A (ja) * | 2002-12-25 | 2017-11-02 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 半導体装置及び表示装置 |
US10121448B2 (en) | 2002-12-25 | 2018-11-06 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device, and display device and electronic device utilizing the same |
US10373581B2 (en) | 2002-12-25 | 2019-08-06 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device, and display device and electronic device utilizing the same |
US10867576B2 (en) | 2002-12-25 | 2020-12-15 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device, and display device and electronic device utilizing the same |
US11217200B2 (en) | 2002-12-25 | 2022-01-04 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device, and display device and electronic device utilizing the same |
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