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JPH04192178A - Refresh device for memory - Google Patents

Refresh device for memory

Info

Publication number
JPH04192178A
JPH04192178A JP2323735A JP32373590A JPH04192178A JP H04192178 A JPH04192178 A JP H04192178A JP 2323735 A JP2323735 A JP 2323735A JP 32373590 A JP32373590 A JP 32373590A JP H04192178 A JPH04192178 A JP H04192178A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
refresh
signal
memory
interval
temperature
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2323735A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Koji Hirata
浩二 平田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba TEC Corp
Original Assignee
Tokyo Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tokyo Electric Co Ltd filed Critical Tokyo Electric Co Ltd
Priority to JP2323735A priority Critical patent/JPH04192178A/en
Publication of JPH04192178A publication Critical patent/JPH04192178A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

PURPOSE:To improve an operation efficiency for a processing device by controlling the interval of refresh variably against a memory in accordance with the change of atmospheric temperature. CONSTITUTION:A thermistor 12 has the characteristic such that the resistance value becomes low when the measured temperature rises. So, the oscillation pulse width of a pulse signal S1 is short when the temperature is high and becomes long as the temperature is lowered. Then, the pulse signal S1 outputted from an RC oscillator 11 is inputted to the clock terminal CK of a DFF 10 and converted to a square wave pulse signal S2 having the twice pulse width by the DFF 10 then supplied to a refresh counter 9 as a refresh timing signal. Consequently, a refresh interval control means making the supply interval of refresh timing signal variable with the temperature measured by the thermistor 12 is constituted of the RC oscillator 11 and the DFF 10.

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野コ 本発明は、ダイナミック形ランダム・アクセス◆メモリ
(以下D−RAMと略称する)等に適用されるメモリの
リフレッシュ装置に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a memory refresh device applied to dynamic random access memory (hereinafter abbreviated as D-RAM) and the like.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

第4図は従来のメモリのリフレッシュ装置を示すブロッ
ク図である。同図においてlが中央処理装置(以下CP
Uと略称する)、2がリフレッシュが必要なり−RAM
であって、両者はアドレスバス3a、データバス3b及
びコントロールバス3cの各パスラインで接続されてい
る。
FIG. 4 is a block diagram showing a conventional memory refresh device. In the figure, l is the central processing unit (hereinafter CP
(abbreviated as U), 2 requires refreshing - RAM
The two are connected by path lines of an address bus 3a, a data bus 3b, and a control bus 3c.

上記アドレスバス3aには、アドレスを行アドレスと列
アドレスとに分けて時分割でD−RAM2に供給するた
めのアドレスマルチプレクサ4が介在されている。また
、アドレスバス3aのアドレスマルチプレクサ4よりC
PUI側に、アドレスをデコードして制御信号を上記制
御バス3cに出力するアドレスデコーダ5が接続されて
いる。
An address multiplexer 4 is interposed in the address bus 3a for dividing addresses into row addresses and column addresses and supplying them to the D-RAM 2 in a time-division manner. Also, from the address multiplexer 4 of the address bus 3a, C
An address decoder 5 that decodes addresses and outputs control signals to the control bus 3c is connected to the PUI side.

上記データバス3bには、データを−時ラッチするため
のデータバッファ6が介在されている。
A data buffer 6 for latching data is interposed in the data bus 3b.

上記制御バス3cには、D−RAM2にコントロール信
号としてRA、S信号(負論理)RASO1CAS信号
(負論理)CASO、ライト信号(負論理)WEO等を
供給するためのタイミングコントローラ7か介在されて
いる。また制御バス3Cのタイミングコントローラ7よ
りCPUI側に、D−RAM2に対するリフレッシュ要
求を発生するとともに、そのリフレッシュ要求とCPU
IからのD−RAM2に対するアクセス要求との調停を
行い、その結果によりデータバッファ5を制御するリフ
レッシュコントローラ8が接続されている。
A timing controller 7 is interposed in the control bus 3c for supplying control signals such as RA, S signal (negative logic) RASO1CAS signal (negative logic) CASO, and write signal (negative logic) WEO to the D-RAM2. There is. In addition, a refresh request for the D-RAM 2 is generated from the timing controller 7 of the control bus 3C to the CPUI side, and the refresh request and the CPU
A refresh controller 8 is connected which arbitrates with access requests from I to the D-RAM 2 and controls the data buffer 5 based on the result.

図中9はCPUIから一定周波数のクロック信号CKを
リフレッシュタイミング信号として入力して規則的にリ
フレッシュアドレスを作成し、そのリフレッシュアドレ
スを含むリフレッシュ信号をマルチアドレスプレクサ4
に供給するリフレッシュカウンタである。
9 in the figure inputs a clock signal CK of a constant frequency from the CPU as a refresh timing signal, regularly creates refresh addresses, and sends a refresh signal containing the refresh address to the multi-address multiplexer 4.
This is a refresh counter that supplies data to

しかして、リフレッシュコントローラ8における調停の
結果リフレッシュ要求が有効になると、タイミングコン
トローラ6から前記マルチアドレスプレクサ4に切替信
号SXが出力される。応じて、マルチアドレスプレクサ
4ではリフレッシュカウンタ9より供給されるリフレッ
シュアドレスが行アドレスと列アドレスに分けられて時
分割でD−RAM2に供給され、同時にタイミングコン
トローラ7よりD−RAM2にRAS信号RASOとC
AS信号CASOとが時分割で印加されて、D−RAM
2のリフレッシュが行われるようになっている。
When the refresh request becomes valid as a result of arbitration in the refresh controller 8, a switching signal SX is output from the timing controller 6 to the multi-address multiplexer 4. Accordingly, in the multi-address plexer 4, the refresh address supplied from the refresh counter 9 is divided into a row address and a column address and supplied to the D-RAM 2 in a time division manner, and at the same time, the timing controller 7 sends the RAS signal RASO to the D-RAM 2. and C
The AS signal CASO is applied in a time-division manner to the D-RAM.
2 refresh is performed.

このように、従来は一定周波数のクロック信号CKをリ
フレッシュカウンタ9で分周してリフレッシュアドレス
を一定周期で発生させ、かつリフレッシュコントローラ
8による調停の結果リフレッシュ要求が有効になるとア
ドレスマルチプレクサ4を切替えて上記リフレッシュア
ドレスをD−RAM2に供給する構成であったので、D
〜RAM2のリフレッシュは一定間隔で行われていた。
In this way, conventionally, the frequency of the clock signal CK of a constant frequency is divided by the refresh counter 9 to generate refresh addresses at a constant cycle, and when a refresh request becomes valid as a result of arbitration by the refresh controller 8, the address multiplexer 4 is switched. Since the above refresh address was configured to be supplied to D-RAM2, D
~RAM2 was refreshed at regular intervals.

ところで、D−RAM2におけるリフレッシュの最大許
容間隔が周囲の雰囲気温度に依存していることは既に知
られている。第5図にリフレッシュの最大許容間隔t 
 (is)と雰囲気温度T (”C)との関係を示す。
By the way, it is already known that the maximum permissible refresh interval in the D-RAM 2 depends on the surrounding atmospheric temperature. Figure 5 shows the maximum allowable refresh interval t.
(is) and the ambient temperature T (''C).

同図から明らかなように、雰囲気温度が0 (℃)の場
合にはリフレッシュの間隔が約800(ms)であって
もD−RAM2のデータは安定に保持されるが、雰囲気
温度がそれより上昇するとデータが消失するおそれがあ
る。このため、従来はリフレッシュの間隔を一定に制御
していたので、雰囲気温度が高温でも対処できるように
比較的短い間隔に設定されていた。
As is clear from the figure, when the ambient temperature is 0 (℃), the data in D-RAM2 is held stably even if the refresh interval is approximately 800 (ms), but if the ambient temperature is If the temperature rises, data may be lost. For this reason, in the past, the refresh interval was controlled to be constant, so it was set to a relatively short interval so as to be able to handle even high ambient temperatures.

[発明が解決しようとする課題] 上述したように従来のメモリのリフレッシュ装置におい
ては、メモリに対するリフレッシュの間隔を比較的短い
一定間隔で制御していた。このため、リフレッシュの実
行中は処理装置がメモリをアクセスできないので、主記
憶装置としてリフレッシュが必要なメモリを使用した場
合に処理装置の動作効率が悪くなる問題があった。
[Problems to be Solved by the Invention] As described above, in the conventional memory refresh device, the refresh interval for the memory is controlled at relatively short constant intervals. For this reason, the processing device cannot access the memory while the refresh is being executed, so there is a problem that the operating efficiency of the processing device deteriorates when a memory that requires refreshing is used as the main storage device.

そこで本発明は、雰囲気温度の変化に従ってメモリに対
するリフレッシュの間隔を可変制御でき、処理装置の動
作効率を向上できるメモリのリフレッシュ装置を提供し
ようとするものである。
SUMMARY OF THE INVENTION Accordingly, it is an object of the present invention to provide a memory refresh device that can variably control the refresh interval of the memory according to changes in ambient temperature and improve the operating efficiency of the processing device.

口課題を解決するための手段] 本発明は、メモリに対するリフレッシュ要求と処理装置
からのアクセス要求との調停を行う調停手段、間欠的に
供給されるリフレッシュタイミング信号に基づいてリフ
レッシュ信号を発生するリフレッシュ信号発生手段、及
び調停手段によりリフレッシュ要求が有効になると発生
手段により発生されるリフレッシュ信号をメモリへ供給
するリフレッシュ制御手段を備えたメモリのリフレッシ
ュ装置において、雰囲気温度を測定する温度測定手段と
、この測定手段により測定される雰囲気温度の高低によ
りリフレッシュタイミング信号の供給間隔を可変するリ
フレッシュ間隔調整手段とを設けたものである。
Means for Solving the Problem] The present invention provides an arbitration unit that arbitrates between a refresh request to a memory and an access request from a processing device, and a refresh unit that generates a refresh signal based on a refresh timing signal that is intermittently supplied. A memory refresh device comprising a signal generating means and a refresh control means for supplying a refresh signal generated by the generating means to the memory when a refresh request is validated by the arbitration means, comprising a temperature measuring means for measuring an ambient temperature; A refresh interval adjusting means is provided for varying the supply interval of the refresh timing signal depending on the level of the ambient temperature measured by the measuring means.

[作 用] 上記の如く構成された本発明であれば、温度側足手段に
よって測定される雰囲気温度が低下すると、それに対応
してリフレッシュタイミング信号の供給間隔が長くなる
。これにより、リフレッシュ信号発生手段より発生され
るリフレッシュ信号の発生間隔が長くなり、ひいてはメ
モリに対するリフレッシュの間隔が長くなる。
[Function] According to the present invention configured as described above, when the ambient temperature measured by the temperature side means decreases, the refresh timing signal supply interval increases accordingly. As a result, the interval between refresh signals generated by the refresh signal generating means becomes longer, and the interval between refreshes for the memory becomes longer.

逆に、雰囲気温度が上昇すると、それに対応してリフレ
ッシュタイミング信号の供給間隔が短くなる。これによ
り、リフレッシュ信号発生手段より発生されるリフレッ
シュ信号の発生間隔が短くなり、ひいてはメモリに対す
るリフレッシュの間隔が短くなる。
Conversely, when the ambient temperature rises, the refresh timing signal supply interval becomes correspondingly shorter. This shortens the generation interval of the refresh signal generated by the refresh signal generating means, which in turn shortens the refresh interval for the memory.

リフレッシュ間隔が長くなると処理装置のアクセス要求
とリフレッシュ要求とが重なり合うことが少なくなり、
処理装置の動作効率が高められる。
When the refresh interval becomes longer, the access requests and refresh requests of the processing device are less likely to overlap.
The operating efficiency of the processing device is increased.

[実施例] 以下、本発明の一実施例を図面を参照しながら説明する
[Example] Hereinafter, an example of the present invention will be described with reference to the drawings.

第1図は本実施例装置の構成を示すブロック図である。FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of the apparatus of this embodiment.

先ず、第4図と同一部分に同一符号を付して簡単に説明
する。すなわち、処理装置としてのCPUIとリフレッ
シュが必要なメモリであるD−RAM2とがアドレスバ
ス3a、データバス3b及びコントロールバス3cの各
パスラインで接続されている。そしてアドレスバス3a
にはアドレスマルチプレクサ4が介在されており、かつ
、アドレスバス3aのアドレスマルチプレクサ4よりC
PUI側にアドレスデコーダ5が接続されている。デー
タバス3bにはデータバッファ6が介在されている。制
御バス3Cにはタイミングコントローラ7が介在されて
おり、かつ、制御バス3cのタイミングコントローラ7
よりCPUI側にリフレッシュコントローラ8が接続さ
れている。
First, a brief explanation will be provided by assigning the same reference numerals to the same parts as in FIG. 4. That is, the CPUI, which is a processing device, and the D-RAM 2, which is a memory that needs to be refreshed, are connected through each path line of an address bus 3a, a data bus 3b, and a control bus 3c. and address bus 3a
An address multiplexer 4 is interposed between the address bus 3a and the address multiplexer 4 of the address bus 3a.
An address decoder 5 is connected to the PUI side. A data buffer 6 is interposed on the data bus 3b. A timing controller 7 is interposed in the control bus 3C, and the timing controller 7 of the control bus 3c
A refresh controller 8 is connected to the CPUI side.

リフレッシュカウンタ9は、D型フリップフロップ(以
下DFFと略称する)10の出力端子Qから出力される
信号S2をリフレッシュタイミング信号として入力して
規則的にリフレッシュアドレスを作成し、そのリフレッ
シニアドレスを含むリフレッシュ信号S3をマルチアド
レスプレクサ4に供給する。
The refresh counter 9 inputs the signal S2 outputted from the output terminal Q of the D-type flip-flop (hereinafter abbreviated as DFF) 10 as a refresh timing signal, regularly creates a refresh address, and includes the refresh address. A refresh signal S3 is supplied to the multi-address plexer 4.

ここに、リフレッシュカウンタ9は、間欠的に供給され
るリフレッシュタイミング信号S2に基づいてリフレッ
シュ信号S3を発生するリフレッシュ信号発生手段を構
成する。リフレッシュコントローラ8は、D−RAM2
に対するリフレッシュ要求とCPUIからのアクセス要
求との調停を行う調停手段を構成する。アドレスマルチ
プレクサ4及びタイミングコントローラ7は、調停の結
果リフレッシュ要求が有効になるとリフレッシュ信号s
3をD−RAM2へ供給するリフレッシュ制御手段を構
成する。
Here, the refresh counter 9 constitutes a refresh signal generating means that generates a refresh signal S3 based on a refresh timing signal S2 that is intermittently supplied. The refresh controller 8 is a D-RAM2
An arbitration means is configured to arbitrate between a refresh request for the CPU and an access request from the CPUI. When the refresh request becomes valid as a result of arbitration, the address multiplexer 4 and the timing controller 7 send a refresh signal s.
3 to the D-RAM 2.

一方、上記DFFIOの入力端子りには直流電源VCC
が印加されている。クロック端子CKにはRC発振器1
1の反転出力端子QOが接続されている。
On the other hand, the DC power supply VCC is connected to the input terminal of the above DFFIO.
is applied. RC oscillator 1 is connected to clock terminal CK.
1 inverting output terminal QO is connected.

上記RC発振器11は、周囲の雰囲気温度を測定する温
度測定手段としてのサーミスタ12と抵抗13との合計
抵抗値をR1コンデンサ14の容量をCとしたとき次の
(1)式で示される発振パルス幅Tのパルス信号S1を
反転出力端子QOより発生させるものである。
The RC oscillator 11 generates an oscillation pulse that is expressed by the following equation (1), where the total resistance value of a thermistor 12 and a resistor 13 as a temperature measuring means for measuring the ambient atmospheric temperature is set to C as the capacitance of an R1 capacitor 14. A pulse signal S1 having a width T is generated from an inverting output terminal QO.

T−0,46CR−(1) ここで、サーミスタ12の特性は一般に測定温度か上昇
するのに従って抵抗値が小さくなる。従って、パルス信
号S1の発振パルス幅Tは雰囲気温度が高いときには短
く、低くなるにつれて次第に長くなる。
T-0, 46CR-(1) Here, the resistance value of the thermistor 12 generally decreases as the measured temperature increases. Therefore, the oscillation pulse width T of the pulse signal S1 is short when the ambient temperature is high, and becomes gradually longer as the ambient temperature becomes lower.

しかして、上記RC発振器11より出力されるパルス信
号S1はDFFIOのクロック端子CKに入力され、D
FFIOによりパルス幅が2倍の方形波パルス信号S2
に変換されて、リフレッシュタイミング信号としてリフ
レッシュカウンタ9に供給されるようになっている。
Therefore, the pulse signal S1 output from the RC oscillator 11 is input to the clock terminal CK of DFFIO, and
Square wave pulse signal S2 with double pulse width due to FFIO
The signal is converted into a refresh timing signal and supplied to the refresh counter 9 as a refresh timing signal.

ここに、上記RC発振器11及びDFFIOは、サーミ
スタ12によって測定される雰囲気温度の高低によりリ
フレッシュタイミング信号の供給間隔を可変するリフレ
ッシュ間隔調整手段を構成する。
Here, the RC oscillator 11 and DFFIO constitute a refresh interval adjusting means that varies the supply interval of the refresh timing signal depending on the level of the ambient temperature measured by the thermistor 12.

このように構成された本実施例において、今、抵抗13
の抵抗値を5 (KΩ)とし、コンデンサl4の容量を
2200(pF)とする。また、サーミスタ12として
雰囲気温度が70(”C)のとき抵抗値が2 (KΩ)
となり、雰囲気温度か0(℃)のとき抵抗値が40(K
Ω)となるような特性のものを用いるものとする。
In this embodiment configured in this way, the resistor 13 is now
Let the resistance value of the capacitor l4 be 5 (KΩ), and the capacitance of the capacitor l4 be 2200 (pF). In addition, the resistance value of the thermistor 12 is 2 (KΩ) when the ambient temperature is 70 ("C).
When the ambient temperature is 0 (℃), the resistance value is 40 (K
Ω) shall be used.

そうすると、雰囲気温度が70(”C)のときには、R
C発振器11から出力されるパルス信号S1の発振パル
ス幅Tは、前記(1)式により約7(μS)となる。こ
の場合、DFFユ0の出力はパルス幅T′が約14(μ
S)の方形波パルス信号S2となり、この信号S2がリ
フレッシュタイミング信号としてリフレッシュカウンタ
9に供給される。これにより、リフレッシュカウンタ9
においてはパルス信号S2の立上げがカウントされ、そ
れに基づいて規則的にリフレッシュアドレスが作成され
て、そのリフレッシュアドレスを含むリフレッシュ信号
S3がアドレスマルチプレクサ3へ出力される。
Then, when the ambient temperature is 70 ("C), R
The oscillation pulse width T of the pulse signal S1 output from the C oscillator 11 is approximately 7 (μS) according to the above equation (1). In this case, the output of DFF unit 0 has a pulse width T' of approximately 14 (μ
S) becomes a square wave pulse signal S2, and this signal S2 is supplied to the refresh counter 9 as a refresh timing signal. As a result, refresh counter 9
, the rising edge of the pulse signal S2 is counted, a refresh address is regularly created based on it, and a refresh signal S3 containing the refresh address is output to the address multiplexer 3.

一方、雰囲気温度が0(℃)のときには、RC発振器1
1から出力されるパルス信号S1の発振パルス幅Tは、
前記(1)式により約45(μS)となる。この場合、
DFFIOの出力はパルス幅T′が約90(μS)の方
形波パルス信号S2となり、この信号S2がリフレッシ
ュタイミング信号としてリフレッシュカウンタ9に供給
される。
On the other hand, when the ambient temperature is 0 (℃), the RC oscillator 1
The oscillation pulse width T of the pulse signal S1 output from 1 is
According to the above equation (1), it is approximately 45 (μS). in this case,
The output of DFFIO becomes a square wave pulse signal S2 with a pulse width T' of approximately 90 (μS), and this signal S2 is supplied to the refresh counter 9 as a refresh timing signal.

これにより、リフレッシュカウンタ9においてはパルス
信号S2の立上げがカウントされ、それに基づいて規則
的にリフレッシュアドレスが作成されて、そのリフレッ
シュアドレスを含むリフレッシュ信号S3がアドレスマ
ルチプレクサ3へ出力される。
As a result, the refresh counter 9 counts the rise of the pulse signal S2, based on which a refresh address is regularly created, and a refresh signal S3 containing the refresh address is output to the address multiplexer 3.

第2図に雰囲気温度が70(’IC’)のときの発振パ
ルス信号S1、方形波パルス信号S2及びリフレッシュ
信号S3のタイミング波形例を示し、第3図に雰囲気温
度がO(”C)のときの発振パルス信号S1、方形波パ
ルス信号S2及びリフレッシュ信号S3のタイミング波
形例を示す。両図から明らかなように雰囲気温度が低い
場合には高い場合に比べてリフレッシュ信号S3の間隔
t (ms)が長くなる。
Fig. 2 shows an example of the timing waveforms of the oscillation pulse signal S1, square wave pulse signal S2, and refresh signal S3 when the ambient temperature is 70 ('IC'), and Fig. 3 shows an example of the timing waveforms of the oscillation pulse signal S1, square wave pulse signal S2, and refresh signal S3 when the ambient temperature is O ('C'). Examples of the timing waveforms of the oscillation pulse signal S1, the square wave pulse signal S2, and the refresh signal S3 are shown below.As is clear from both figures, the interval t (ms) of the refresh signal S3 is shorter when the ambient temperature is lower than when it is higher. ) becomes longer.

このように本実施例においては、サーミスタ12を用い
て周囲の雰囲気温度を測定し、測定温度が低いときには
高いときに比べてリフレッシュの間隔が長くなるように
調整している。一般に、第5図に示すように雰囲気温度
が低いときには高いときに比べてリフレッシュの間隔を
長くしてもD−RAM2のデータは安定に保持される。
As described above, in this embodiment, the ambient atmospheric temperature is measured using the thermistor 12, and the refresh interval is adjusted so that when the measured temperature is low, the refresh interval is longer than when the measured temperature is high. Generally, as shown in FIG. 5, when the ambient temperature is low, the data in the D-RAM 2 is stably held even if the refresh interval is longer than when the ambient temperature is high.

従って、雰囲気温度が低いときにはリフレッシュの間隔
が長くなるので、CPUIのアクセス要求とリフレッシ
ュ要求とが重なり合うことが少なくなり、CPUIの動
作効率が向上される。
Therefore, when the ambient temperature is low, the refresh interval becomes longer, so the CPUI access requests and the refresh requests are less likely to overlap, and the operating efficiency of the CPUI is improved.

なお、前記実施例ではサーミスタ12の測定温度によっ
てRC発振器1の発振パルス幅Tを可変することにより
リフレッシュタイミング信号の供給間隔を可変する例を
示したが、例えば第5図に示すような特性のデータをテ
ーブルとしてROM等に格納し、CPUIがサーミスタ
の測定温度を検知して上記テーブルデータから測定温度
に対応するりフレッシニ間隔を選択し、それに基づいて
リフレッシュカウンタ9へのクロック信号CKの周波数
を可変するようにしてもよい。
In the above embodiment, an example was shown in which the supply interval of the refresh timing signal was varied by varying the oscillation pulse width T of the RC oscillator 1 depending on the temperature measured by the thermistor 12. The data is stored as a table in a ROM, etc., and the CPU detects the temperature measured by the thermistor, selects a frequency interval corresponding to the measured temperature from the table data, and based on that selects the frequency of the clock signal CK to the refresh counter 9. It may be made variable.

[発明の効果] 以上詳述したように本発明によれば、雰囲気温度の変化
に従ってメモリに対するリフレッシュの間隔を可変制御
でき、処理装置の動作効率を向上できるメモリのりフレ
ッンユ装置を提供できる。
[Effects of the Invention] As described in detail above, according to the present invention, it is possible to provide a memory paste/french device that can variably control the refresh interval for the memory according to changes in ambient temperature and improve the operating efficiency of the processing device.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の一実施例の構成を示すブロック図、第
2図は同実施例において雰囲気温度が低いときの主要信
号のタイミング波形図、第3図は同実施例において雰囲
気温度が高いときの主要信号のタイミング波形図、第4
図は従来の構成を示すブロック図、第5図は雰囲気温度
とリフレッシュの最大許容間隔との関係を示す特性図で
ある。 1・・・CPU。 2・・・D−RAM。 4・・・アドレスマルチプレクサ、 7・・・タイミングコントローラ、 8・・・リフレッシュコントローラ、 9・・・リフレッシュカウンタ、 10・・・DFF。 11・・・RC発振器、 12・・・サーミスタ。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 第1図 :::。 醗    t(ms)     、     t(ms
)     、     t(ms)     i第2
図 第3図 す 第4図
Figure 1 is a block diagram showing the configuration of an embodiment of the present invention, Figure 2 is a timing waveform diagram of main signals when the ambient temperature is low in the same embodiment, and Figure 3 is a diagram of the timing waveforms of the main signals in the same embodiment when the ambient temperature is high. Timing waveform diagram of main signals when
The figure is a block diagram showing a conventional configuration, and FIG. 5 is a characteristic diagram showing the relationship between ambient temperature and maximum allowable refresh interval. 1...CPU. 2...D-RAM. 4... Address multiplexer, 7... Timing controller, 8... Refresh controller, 9... Refresh counter, 10... DFF. 11...RC oscillator, 12...Thermistor. Applicant's representative Patent attorney Takehiko Suzue Figure 1:::.醗 t(ms) , t(ms
), t(ms) i second
Figure 3 Figure 4

Claims (1)

【特許請求の範囲】 メモリに対するリフレッシュ要求と処理装置からのアク
セス要求との調停を行う調停手段、間欠的に供給される
リフレッシュタイミング信号に基づいてリフレッシュ信
号を発生するリフレッシュ信号発生手段、及び前記調停
手段によりリフレッシュ要求が有効になると前記発生手
段により発生されるリフレッシュ信号を前記メモリへ供
給するリフレッシュ制御手段を備えたメモリのリフレッ
シュ装置において、 雰囲気温度を測定する温度測定手段と、 この測定手段により測定される雰囲気温度の高低により
前記リフレッシュタイミング信号の供給間隔を可変する
リフレッシュ間隔調整手段と、を具備したことを特徴と
するメモリのリフレッシュ装置。
[Scope of Claims] Arbitration means that arbitrates between a refresh request to a memory and an access request from a processing device, a refresh signal generation means that generates a refresh signal based on a refresh timing signal that is intermittently supplied, and said arbitration means. A memory refresh device comprising a refresh control means for supplying a refresh signal generated by the generating means to the memory when a refresh request is enabled by the means, comprising a temperature measuring means for measuring an ambient temperature; 1. A memory refresh device comprising: refresh interval adjusting means for varying the supply interval of the refresh timing signal depending on the level of ambient temperature.
JP2323735A 1990-11-27 1990-11-27 Refresh device for memory Pending JPH04192178A (en)

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Cited By (2)

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