JPH0415884B2 - - Google Patents
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- JPH0415884B2 JPH0415884B2 JP60211314A JP21131485A JPH0415884B2 JP H0415884 B2 JPH0415884 B2 JP H0415884B2 JP 60211314 A JP60211314 A JP 60211314A JP 21131485 A JP21131485 A JP 21131485A JP H0415884 B2 JPH0415884 B2 JP H0415884B2
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 46
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- 230000008094 contradictory effect Effects 0.000 description 2
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 2
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Geophysics And Detection Of Objects (AREA)
- Switches Operated By Changes In Physical Conditions (AREA)
- Optical Radar Systems And Details Thereof (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Measurement Of Optical Distance (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
［技術分野］
本発明は、投光手段から検知エリアに投光され
る光ビームの被検知物体による反射光を受光手段
にて受光し、受光手段出力に基いて検知エリア内
の被検知物体の有無を検知するようにした反射型
光電スイツチに関するものである。
る光ビームの被検知物体による反射光を受光手段
にて受光し、受光手段出力に基いて検知エリア内
の被検知物体の有無を検知するようにした反射型
光電スイツチに関するものである。
［背景技術］
従来、この種の反射型光電スイツチとして、投
光手段から検知エリアに投光した光の被検知物体
による反射光を受光手段にて受光し、被検知物体
からの反射光量の大小によつて被検知物体の有無
を判定するようにしたものがあり、このような反
射型光電スイツチにあつては、被検知物体の後方
に高反射率の物体がある場合や被検知物体の反射
率が異なる場合などにおいて測距誤差が生じて誤
動作が発生（検知距離が変化）するという問題が
あつた。そこで、このような誤動作を防止するよ
うにした反射型光電スイツチとして、発明者らが
特願昭58−14163号として出願している三角測量
方式のものがある。すなわち、この反射型光電ス
イツチは第４図および第５図に示すようになつて
おり、被検知物体Ｘに対して光ビームＰを投光す
る投光手段１は、投光タイミングを設定するクロ
ツクパルスを発生する発振回路１０、投光用発光
素子１２を駆動するドライブ回路１１および凸レ
ンズよりなる投光用光学系１３にて形成されてお
り、投光用発光素子１２から発せられる光を投光
用光学手段１３にて光ビームＰに成形して検知エ
リアに投光するようになつている。この投光手段
１から所定距離l0をもつて側方に配設され被検知
物体Ｘによる光ビームＰの反射光Ｒを集光する受
光用光学系２は凸レンズにて形成されている。こ
の受光用光学系２の集光面に配設され集光スポツ
トＳの位置（距離ｌに対応してＭ方向に移動す
る）に対応した位置信号IA，IBを出力する位置検
出手段４は、例えば１次元位置検出素子（PSD）
にて形成されており、この出力信号は相反した信
号となつている。この位置検出手段４出力に基い
て被検知物体Ｘが所定の検知エリア内に存在する
かどうかを判別して出力回路６を制御する判別制
御手段５は、位置検出手段４から出力される位置
信号（相反する電流信号IA，IB）をそれぞれ増幅
して電圧信号VA，VBに変換する受光回路２１ａ，
２１ｂと、受光回路２１ａ，２１ｂ出力を対数増
幅する対数増幅回路２２ａ，２２ｂと、対数増幅
回路２２ａ，２２ｂ出力lnVA，lnVBの差を演算
する減算回路２３と、上記減算回路２３出力
lnVA／VBと距離設定用ボリユームVRにて設定さ
れる基準電圧VSとを比較して、減算回路２３出
力lnVA／VBが第７図に示すように基準電圧VS以
下のとき（被検知物体Ｘが検知エリア内に存在す
るとき）に出力が“Ｈ”レベルとなる電圧コンパ
レータよりなる比較回路２４と、上記比較回路２
４出力を発振回路１０出力に基いてチエツク（ク
ロツクパルスに同期してレベルを判定）すること
により誤動作を防止する信号処理回路２５とで形
成されており、上記信号処理回路２５から物体検
知信号が出力されたとき、出力回路６が駆動され
るようになつている。なお、第６図ａ，ｂ，ｃ
は、被検知物体Ｘまでの距離がl1，l2，l3である
場合における位置検出手段４上の集光スポツトＳ
の位置をそれぞれ示している。また、上述の１次
元位置検出素子に代えて２個のフオトダイオード
をＭ方向（集光スポツトＳの移動方向）に連設し
たものを位置検出手段４として用いても良いこと
は言うまでもない。
光手段から検知エリアに投光した光の被検知物体
による反射光を受光手段にて受光し、被検知物体
からの反射光量の大小によつて被検知物体の有無
を判定するようにしたものがあり、このような反
射型光電スイツチにあつては、被検知物体の後方
に高反射率の物体がある場合や被検知物体の反射
率が異なる場合などにおいて測距誤差が生じて誤
動作が発生（検知距離が変化）するという問題が
あつた。そこで、このような誤動作を防止するよ
うにした反射型光電スイツチとして、発明者らが
特願昭58−14163号として出願している三角測量
方式のものがある。すなわち、この反射型光電ス
イツチは第４図および第５図に示すようになつて
おり、被検知物体Ｘに対して光ビームＰを投光す
る投光手段１は、投光タイミングを設定するクロ
ツクパルスを発生する発振回路１０、投光用発光
素子１２を駆動するドライブ回路１１および凸レ
ンズよりなる投光用光学系１３にて形成されてお
り、投光用発光素子１２から発せられる光を投光
用光学手段１３にて光ビームＰに成形して検知エ
リアに投光するようになつている。この投光手段
１から所定距離l0をもつて側方に配設され被検知
物体Ｘによる光ビームＰの反射光Ｒを集光する受
光用光学系２は凸レンズにて形成されている。こ
の受光用光学系２の集光面に配設され集光スポツ
トＳの位置（距離ｌに対応してＭ方向に移動す
る）に対応した位置信号IA，IBを出力する位置検
出手段４は、例えば１次元位置検出素子（PSD）
にて形成されており、この出力信号は相反した信
号となつている。この位置検出手段４出力に基い
て被検知物体Ｘが所定の検知エリア内に存在する
かどうかを判別して出力回路６を制御する判別制
御手段５は、位置検出手段４から出力される位置
信号（相反する電流信号IA，IB）をそれぞれ増幅
して電圧信号VA，VBに変換する受光回路２１ａ，
２１ｂと、受光回路２１ａ，２１ｂ出力を対数増
幅する対数増幅回路２２ａ，２２ｂと、対数増幅
回路２２ａ，２２ｂ出力lnVA，lnVBの差を演算
する減算回路２３と、上記減算回路２３出力
lnVA／VBと距離設定用ボリユームVRにて設定さ
れる基準電圧VSとを比較して、減算回路２３出
力lnVA／VBが第７図に示すように基準電圧VS以
下のとき（被検知物体Ｘが検知エリア内に存在す
るとき）に出力が“Ｈ”レベルとなる電圧コンパ
レータよりなる比較回路２４と、上記比較回路２
４出力を発振回路１０出力に基いてチエツク（ク
ロツクパルスに同期してレベルを判定）すること
により誤動作を防止する信号処理回路２５とで形
成されており、上記信号処理回路２５から物体検
知信号が出力されたとき、出力回路６が駆動され
るようになつている。なお、第６図ａ，ｂ，ｃ
は、被検知物体Ｘまでの距離がl1，l2，l3である
場合における位置検出手段４上の集光スポツトＳ
の位置をそれぞれ示している。また、上述の１次
元位置検出素子に代えて２個のフオトダイオード
をＭ方向（集光スポツトＳの移動方向）に連設し
たものを位置検出手段４として用いても良いこと
は言うまでもない。
ところで、従来、このような反射型光電スイツ
チを狭いスペースに配設し易くするために、第８
図に示すように、光学ブロツクＡと回路ブロツク
Ｂとを光フアイバー７，８ａ，８ｂを使用して光
学的に接続したものがあつた。ここに、投光用光
フアイバー７は投光用光学系１２と投光用発光素
子１３との間を光学的に接続しており、受光用光
フアイバー８ａ，８ｂは受光用光学系２と位置検
出手段４との間を光学的に接続している。第９図
は受光用光フアイバー８ａ，８ｂの受光端面にお
ける集光スポツトＳの移動状態を示す図（第６図
に対応する図）であり、第１０図は受光用光フア
イバー８ａ，８ｂと位置検出手段４たる１次元位
置検出素子との光結合剤を示しており、両受光用
光フアイバー８ａ，８ｂの結合位置の間隔ｙを変
えることにより検知特性を変化させることができ
るようになつている。なお、２個のフオトダイオ
ードを連設して位置検出手段４を形成するものに
あつては、各フオトダイオードを受光用光フアイ
バー８ａ，８ｂの出光端面にそれぞれ光結合し、
各フオトダイオード出力を受光回路２１ａ，２１
ｂに入力すれば良い。また、被検知物体Ｘが検知
エリアの遠点（検知距離）に存在する場合におけ
る集光スポツトＳの位置が第９図ｂになるように
光学系１３，２および光フアイバー７，８ａ，８
ｂの相対位置を設定するようにすれば、受光回路
２１ａ，２１ｂ出力VA，VBを比較回路２４にて
直接比較してその大小を判定することにより比較
回路２４出力として物体検知信号を得ることがで
き、回路構成が簡単になるとともに、距離設定用
ボリユームVRによる調整作業も不要になる。
チを狭いスペースに配設し易くするために、第８
図に示すように、光学ブロツクＡと回路ブロツク
Ｂとを光フアイバー７，８ａ，８ｂを使用して光
学的に接続したものがあつた。ここに、投光用光
フアイバー７は投光用光学系１２と投光用発光素
子１３との間を光学的に接続しており、受光用光
フアイバー８ａ，８ｂは受光用光学系２と位置検
出手段４との間を光学的に接続している。第９図
は受光用光フアイバー８ａ，８ｂの受光端面にお
ける集光スポツトＳの移動状態を示す図（第６図
に対応する図）であり、第１０図は受光用光フア
イバー８ａ，８ｂと位置検出手段４たる１次元位
置検出素子との光結合剤を示しており、両受光用
光フアイバー８ａ，８ｂの結合位置の間隔ｙを変
えることにより検知特性を変化させることができ
るようになつている。なお、２個のフオトダイオ
ードを連設して位置検出手段４を形成するものに
あつては、各フオトダイオードを受光用光フアイ
バー８ａ，８ｂの出光端面にそれぞれ光結合し、
各フオトダイオード出力を受光回路２１ａ，２１
ｂに入力すれば良い。また、被検知物体Ｘが検知
エリアの遠点（検知距離）に存在する場合におけ
る集光スポツトＳの位置が第９図ｂになるように
光学系１３，２および光フアイバー７，８ａ，８
ｂの相対位置を設定するようにすれば、受光回路
２１ａ，２１ｂ出力VA，VBを比較回路２４にて
直接比較してその大小を判定することにより比較
回路２４出力として物体検知信号を得ることがで
き、回路構成が簡単になるとともに、距離設定用
ボリユームVRによる調整作業も不要になる。
ところで、上述のような反射型光電スイツチの
量産時において、検知エリア（検知距離）を予め
設定された商品のスペツクに合わせて調整する必
要があるが、従来例にあつては、両光学系１３，
２が異なつたレンズを用いており、両光学系１
３，２および投、受光用光フアイバー７，８ａ，
８ｂが個別部品になつていたので、各部品の相対
位置を調整して検知距離を商品のスペツクに合致
させる調整作業が面倒になるという問題があつ
た。もちろん、総ての部品の各部の寸法精度を高
くしてやれば調整は不要であるが、総ての部品の
各部の寸法のばらつきを少なくすることは技術的
に困難であつてコスト高になるので、従来、各部
品の各部の寸法のばらつきをある程度許容し、組
み立て工程において１箇所だけ調整を行うことに
より、検知エリアを所定のスペツクに合致させる
ようにしていた。例えば、第１１図に示すよう
に、受光用光フアイバー８ａ，８ｂの光学系側の
端部の位置を矢印Ｍ方向に調整していたが、光学
ブロツクＡが小型化されているために調整作業が
面倒であり、無調整化が望まれていた。なお、光
フアイバーを用いない第４図従来例の場合にあつ
ても、同様に組み立て工程における調整が面倒で
あるという問題があることは言うまでもない。
量産時において、検知エリア（検知距離）を予め
設定された商品のスペツクに合わせて調整する必
要があるが、従来例にあつては、両光学系１３，
２が異なつたレンズを用いており、両光学系１
３，２および投、受光用光フアイバー７，８ａ，
８ｂが個別部品になつていたので、各部品の相対
位置を調整して検知距離を商品のスペツクに合致
させる調整作業が面倒になるという問題があつ
た。もちろん、総ての部品の各部の寸法精度を高
くしてやれば調整は不要であるが、総ての部品の
各部の寸法のばらつきを少なくすることは技術的
に困難であつてコスト高になるので、従来、各部
品の各部の寸法のばらつきをある程度許容し、組
み立て工程において１箇所だけ調整を行うことに
より、検知エリアを所定のスペツクに合致させる
ようにしていた。例えば、第１１図に示すよう
に、受光用光フアイバー８ａ，８ｂの光学系側の
端部の位置を矢印Ｍ方向に調整していたが、光学
ブロツクＡが小型化されているために調整作業が
面倒であり、無調整化が望まれていた。なお、光
フアイバーを用いない第４図従来例の場合にあつ
ても、同様に組み立て工程における調整が面倒で
あるという問題があることは言うまでもない。
［発明の目的］
本発明は上記の点に鑑みて為されてものであ
り、その目的とするところは、要所の寸法精度を
高くするだけで無調整化が達成でき、コストが安
くしかも組み立てが容易な反射型光電スイツチを
提供することにある。
り、その目的とするところは、要所の寸法精度を
高くするだけで無調整化が達成でき、コストが安
くしかも組み立てが容易な反射型光電スイツチを
提供することにある。
［発明の開示］
実施例
第１図および第２図は本発明一実施例を示すも
ので、従来例と同様の反射型光電スイツチにおい
て、両光学系１３，２と光学ブロツクＡとして投
光用光源としての投光用発光素子１２及び位置検
出手段４から分離するとともに、光学ブロツクＡ
と投光用発光素子１２及び位置検出手段４との間
を夫々光フアイバ７，８ａ，８ｂにて光学的に接
続し、両光学系１３，２を同一のレンズにて形成
するとともに、両レンズを所定間隔l0で保持する
レンズホルダ部３２を光学系ブロツクＡのケース
３１に設け、光フアイバ７，８ａ，８ｂを所定間
隔L0で保持する投受光ブロツク３０を上記ケー
ス３１の所定位置に嵌合固定するようにしたもの
であり、実施例にあつては、投、受光用光フアイ
バー７，８ａ，８ｂは、投受光ブロツク本体３０
ａに穿設された保持孔３５，３６に挿入されて所
定間隔L0で保持されるようになつている。また、
小型の凸レンズよりなる投、受光用光学系１３，
２のレンズホルダー部３２はケース３１を構成す
るケース本体３１ａの前面に形成された投、受光
用開口部３２ａ，３２ｂにて形成されており、投
受光ブロツク３０をケース本体３１ａの所定位置
に嵌合してケースカバー３１ｂを覆着することに
より光学ブロツクＡが形成されるようになつてい
る。なお、投、受光用開口部３２ａ，３２ｂには
レンズ保護を兼ねるフイルター３３ａ，３３ｂが
取着されており、受光用光学系２と受光用光フア
イバー８ａ，８ｂの受光面との間の光路の側方に
は、光電スイツチの直近の不感領域をなくすため
のＶ字状反射板３４が配設されている。また、太
径の投光用光フアイバー７の光学系側の端面に出
光範囲を制限する光源径制御用アパーチヤ３９を
設けており、投光用光フアイバー７と投光用発光
素子１２との光結合を容易にした場合にあつて
も、投光用光源の径を小さくできるようにして、
ビーム径が細く且つ強い光ビームＰを検知エリア
に投光できるようにしている。
ので、従来例と同様の反射型光電スイツチにおい
て、両光学系１３，２と光学ブロツクＡとして投
光用光源としての投光用発光素子１２及び位置検
出手段４から分離するとともに、光学ブロツクＡ
と投光用発光素子１２及び位置検出手段４との間
を夫々光フアイバ７，８ａ，８ｂにて光学的に接
続し、両光学系１３，２を同一のレンズにて形成
するとともに、両レンズを所定間隔l0で保持する
レンズホルダ部３２を光学系ブロツクＡのケース
３１に設け、光フアイバ７，８ａ，８ｂを所定間
隔L0で保持する投受光ブロツク３０を上記ケー
ス３１の所定位置に嵌合固定するようにしたもの
であり、実施例にあつては、投、受光用光フアイ
バー７，８ａ，８ｂは、投受光ブロツク本体３０
ａに穿設された保持孔３５，３６に挿入されて所
定間隔L0で保持されるようになつている。また、
小型の凸レンズよりなる投、受光用光学系１３，
２のレンズホルダー部３２はケース３１を構成す
るケース本体３１ａの前面に形成された投、受光
用開口部３２ａ，３２ｂにて形成されており、投
受光ブロツク３０をケース本体３１ａの所定位置
に嵌合してケースカバー３１ｂを覆着することに
より光学ブロツクＡが形成されるようになつてい
る。なお、投、受光用開口部３２ａ，３２ｂには
レンズ保護を兼ねるフイルター３３ａ，３３ｂが
取着されており、受光用光学系２と受光用光フア
イバー８ａ，８ｂの受光面との間の光路の側方に
は、光電スイツチの直近の不感領域をなくすため
のＶ字状反射板３４が配設されている。また、太
径の投光用光フアイバー７の光学系側の端面に出
光範囲を制限する光源径制御用アパーチヤ３９を
設けており、投光用光フアイバー７と投光用発光
素子１２との光結合を容易にした場合にあつて
も、投光用光源の径を小さくできるようにして、
ビーム径が細く且つ強い光ビームＰを検知エリア
に投光できるようにしている。
いま、実施例にあつては、投光用光学系１２お
よび受光用光学系２として同一のレンズ（焦点距
離が等しい）を用いており、且つ両光学系１３，
２をレンズホルダー部３２にて所定間隔l0で保持
するとともに、投光用光フアイバー７および受光
用光フアイバー８ａ，８ｂを投受光ブロツク３０
として所定間隔L0で保持しているので、両所定
間隔l0，L0の寸法精度を高くするだけで、検知エ
リアを商品のスペツクに容易に合致させることが
でき、部品の寸法のばらつきによつて第２図に点
線で示すように投受光ブロツク３０の位置がずれ
て投光用光学系１３のレンズの光軸と投光用光フ
アイバー７の光軸とがずれた場合にあつても、受
光用光フアイバ８ａ，８ｂの光学系側の端面に結
像する集光スポツトＳの位置は変化せず（集光ス
ポツトＳは受光用光フアイバー８ａ，８ｂの接合
部に常に結像）、検知距離のずれが生じないよう
になつている。すなわち、第３図に示すようにレ
ンズ間距離l0、投受光用光フアイバー間距離L0、
レンズから被検知物体Ｘまでの距離ａ、レンズか
ら光フアイバー端面までの距離ｂの場合における
像倍率ｍはｍ＝ａ／ｂとなり、 L0＝l0＋l0／ｍ …(1) の関係式が成立している。ここに、投光用光フア
イバー７がΔxだけずれた場合において、上記関
係式は、 L0′＝（l0−Δx）＋（l0＋mΔx）／ｍ ＝l0＋l0／ｍ …(2) となる。上記(1)(2)式よりL0＝L0′を満足すれば、
検知距離を変化しないようにすることができるこ
とになる。
よび受光用光学系２として同一のレンズ（焦点距
離が等しい）を用いており、且つ両光学系１３，
２をレンズホルダー部３２にて所定間隔l0で保持
するとともに、投光用光フアイバー７および受光
用光フアイバー８ａ，８ｂを投受光ブロツク３０
として所定間隔L0で保持しているので、両所定
間隔l0，L0の寸法精度を高くするだけで、検知エ
リアを商品のスペツクに容易に合致させることが
でき、部品の寸法のばらつきによつて第２図に点
線で示すように投受光ブロツク３０の位置がずれ
て投光用光学系１３のレンズの光軸と投光用光フ
アイバー７の光軸とがずれた場合にあつても、受
光用光フアイバ８ａ，８ｂの光学系側の端面に結
像する集光スポツトＳの位置は変化せず（集光ス
ポツトＳは受光用光フアイバー８ａ，８ｂの接合
部に常に結像）、検知距離のずれが生じないよう
になつている。すなわち、第３図に示すようにレ
ンズ間距離l0、投受光用光フアイバー間距離L0、
レンズから被検知物体Ｘまでの距離ａ、レンズか
ら光フアイバー端面までの距離ｂの場合における
像倍率ｍはｍ＝ａ／ｂとなり、 L0＝l0＋l0／ｍ …(1) の関係式が成立している。ここに、投光用光フア
イバー７がΔxだけずれた場合において、上記関
係式は、 L0′＝（l0−Δx）＋（l0＋mΔx）／ｍ ＝l0＋l0／ｍ …(2) となる。上記(1)(2)式よりL0＝L0′を満足すれば、
検知距離を変化しないようにすることができるこ
とになる。
以上のことから明らかなように、所定間隔l0，
L0のような要所の寸法精度を高くするだけで、
他の部分の寸法精度をあまり考慮しなくても組み
立て工程における位置調整を省略することがで
き、コストが安くしかも無調整化が達成できて組
み立てが容易な反射型光電スイツチが得られるよ
うになつている。なお、実施例では光フアイバー
７，８ａ，８ｂを用いて検知ヘツドを小型化した
例を示しているが、投光用発光素子１２および位
置検出手段４を所定間隔L0でプリント基板に実
装して投受光ブロツクを形成して、この投受光ブ
ロツクを投、受光用光学系１３，２が所定間隔l0
でレンズホルダー部に配設された光電スイツチケ
ースの所定位置に嵌合固定するようにしても良い
ことは言うまでもない。
L0のような要所の寸法精度を高くするだけで、
他の部分の寸法精度をあまり考慮しなくても組み
立て工程における位置調整を省略することがで
き、コストが安くしかも無調整化が達成できて組
み立てが容易な反射型光電スイツチが得られるよ
うになつている。なお、実施例では光フアイバー
７，８ａ，８ｂを用いて検知ヘツドを小型化した
例を示しているが、投光用発光素子１２および位
置検出手段４を所定間隔L0でプリント基板に実
装して投受光ブロツクを形成して、この投受光ブ
ロツクを投、受光用光学系１３，２が所定間隔l0
でレンズホルダー部に配設された光電スイツチケ
ースの所定位置に嵌合固定するようにしても良い
ことは言うまでもない。
［発明の効果］
本発明は上述のように、投光用光源から発する
光を投光用光学系にて光ビームに成形して検知エ
リアに投光する投光手段と、投光手段の側方に所
定距離をもつて配設され被検知物体による光ビー
ムの反射光を集光する受光用光学系と、受光用光
学系の集光面に配設され被検知物体までの距離に
応じて集光面内で移動する集光スポツトの位置に
対応した位置信号を出力する位置検出手段と、位
置検出手段出力に基いて被検知物体が所定の検知
エリア内に存在するかどうかを判別して出力回路
を制御する判別制御手段とを備え、両光学系を光
学ブロツクとして投光用光源及び位置検出手段か
ら分離するとともに、光学ブロツクと投光用光源
及び位置検出手段との間を夫々光フアイバにて光
学的に接続し、両光学系を同一のレンズにて形成
するとともに、両レンズを所定間隔で保持するレ
ンズホルダ部を光学系ブロツクのケースに設け、
両光フアイバを所定間隔で保持する投受光ブロツ
クを上記ケースの所定位置に嵌合固定しているの
で、光学ブロツクのケースに対して一体化された
光学系及び光フアイバを保持した投受光ブロツク
を組み込むだけであるので、組立が容易に行え、
また光学ブロツクのケース要所の寸法精度を高く
すれば、光学ブロツクのケースを用いて実質的な
光学系と投光用光源及び位置検出手段との位置決
めが行え、光学系と投光用光源及び位置検出手段
との相対位置を調整して検知距離を商品スペツク
に合致させるという調整作業が不要となり、さら
に両光学系を光学ブロツクとして投光用光源及び
位置検出手段から分離してあるので、光学ブロツ
クと回路ブロツクとをこの種の反射型光電スイツ
チを組み込む装置の空きスペース等に組み込むこ
とが可能となり、装置への組込みが容易となると
いう効果がある。
光を投光用光学系にて光ビームに成形して検知エ
リアに投光する投光手段と、投光手段の側方に所
定距離をもつて配設され被検知物体による光ビー
ムの反射光を集光する受光用光学系と、受光用光
学系の集光面に配設され被検知物体までの距離に
応じて集光面内で移動する集光スポツトの位置に
対応した位置信号を出力する位置検出手段と、位
置検出手段出力に基いて被検知物体が所定の検知
エリア内に存在するかどうかを判別して出力回路
を制御する判別制御手段とを備え、両光学系を光
学ブロツクとして投光用光源及び位置検出手段か
ら分離するとともに、光学ブロツクと投光用光源
及び位置検出手段との間を夫々光フアイバにて光
学的に接続し、両光学系を同一のレンズにて形成
するとともに、両レンズを所定間隔で保持するレ
ンズホルダ部を光学系ブロツクのケースに設け、
両光フアイバを所定間隔で保持する投受光ブロツ
クを上記ケースの所定位置に嵌合固定しているの
で、光学ブロツクのケースに対して一体化された
光学系及び光フアイバを保持した投受光ブロツク
を組み込むだけであるので、組立が容易に行え、
また光学ブロツクのケース要所の寸法精度を高く
すれば、光学ブロツクのケースを用いて実質的な
光学系と投光用光源及び位置検出手段との位置決
めが行え、光学系と投光用光源及び位置検出手段
との相対位置を調整して検知距離を商品スペツク
に合致させるという調整作業が不要となり、さら
に両光学系を光学ブロツクとして投光用光源及び
位置検出手段から分離してあるので、光学ブロツ
クと回路ブロツクとをこの種の反射型光電スイツ
チを組み込む装置の空きスペース等に組み込むこ
とが可能となり、装置への組込みが容易となると
いう効果がある。
第１図は本発明一実施例の要部分解斜視図、第
２図ａは同上の要部正面図、第２図ｂは同上の要
部断面図、第３図は同上の動作説明図、第４図は
本発明に係る反射型光電スイツチの基本例の要部
概略構成図、第５図は同上のブロツク回路図、第
６図および第７図は同上の動作説明図、第８図は
従来例の概略構成図、第９図乃至第１１図は同上
の動作説明図である。 １は投光手段、２は受光用光学系、４は位置検
出手段、５は判別制御手段、６は出力回路、７，
８ａ，８ｂは光フアイバー、９は投受光ブロツ
ク、１２は投光用発光素子、１３は投光用光学
系、３０は投受光ブロツク、３１はケース、３２
はレンズホルダー部である。
２図ａは同上の要部正面図、第２図ｂは同上の要
部断面図、第３図は同上の動作説明図、第４図は
本発明に係る反射型光電スイツチの基本例の要部
概略構成図、第５図は同上のブロツク回路図、第
６図および第７図は同上の動作説明図、第８図は
従来例の概略構成図、第９図乃至第１１図は同上
の動作説明図である。 １は投光手段、２は受光用光学系、４は位置検
出手段、５は判別制御手段、６は出力回路、７，
８ａ，８ｂは光フアイバー、９は投受光ブロツ
ク、１２は投光用発光素子、１３は投光用光学
系、３０は投受光ブロツク、３１はケース、３２
はレンズホルダー部である。
Claims (1)
- １ 投光用光源から発する光を投光用光学系にて
光ビームに成形して検知エリアに投光する投光手
段と、投光手段の側方に所定距離をもつて配設さ
れ被検知物体による光ビームの反射光を集光する
受光用光学系と、受光用光学系の集光面に配設さ
れ被検知物体までの距離に応じて集光面内で移動
する集光スポツトの位置に対応した位置信号を出
力する位置検出手段と、位置検出手段出力に基い
て被検知物体が所定の検知エリア内に存在するか
どうかを判別して出力回路を制御する判別制御手
段とを備え、両光学系を光学ブロツクとして投光
用光源及び位置検出手段から分離するとともに、
光学ブロツクと投光用光源及び位置検出手段との
間を夫々光フアイバにて光学的に接続し、両光学
系を同一のレンズにて形成するとともに、両レン
ズを所定間隔で保持するレンズホルダ部を光学系
ブロツクのケースに設け、両光フアイバを所定間
隔で保持する投受光ブロツクを上記ケースの所定
位置に嵌合固定するようにしたことを特徴とする
反射型光電スイツチ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60211314A JPS6270708A (ja) | 1985-09-25 | 1985-09-25 | 反射型光電スイツチ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60211314A JPS6270708A (ja) | 1985-09-25 | 1985-09-25 | 反射型光電スイツチ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6270708A JPS6270708A (ja) | 1987-04-01 |
| JPH0415884B2 true JPH0415884B2 (ja) | 1992-03-19 |
Family
ID=16603888
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60211314A Granted JPS6270708A (ja) | 1985-09-25 | 1985-09-25 | 反射型光電スイツチ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6270708A (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE102006003228A1 (de) * | 2006-01-24 | 2007-08-02 | Sick Ag | Vorrichtung zur Überwachung eines Schutzfeldes |
| CN112461124B (zh) * | 2020-10-26 | 2021-11-30 | 东风汽车集团有限公司 | 一种车身地板检测支架定位系统及方法 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5440663A (en) * | 1977-09-06 | 1979-03-30 | Minolta Camera Co Ltd | Range finder |
-
1985
- 1985-09-25 JP JP60211314A patent/JPS6270708A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5440663A (en) * | 1977-09-06 | 1979-03-30 | Minolta Camera Co Ltd | Range finder |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6270708A (ja) | 1987-04-01 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |