JP7545749B2 - 圧力調節装置 - Google Patents
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Description
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- 電子顕微鏡試料ホルダーを通る、供給源からの気体の流れを調節するための圧力調節装置であって、
前記気体を供給する上流タンクと、
前記上流タンクに接続され、前記上流タンクから、前記上流タンクの下流に配置された前記電子顕微鏡試料ホルダーに前記気体を供給するための流入管路と、
前記電子顕微鏡試料ホルダーに接続され、前記電子顕微鏡試料ホルダーから、前記電子顕微鏡試料ホルダーを流れた後の前記気体を受け入れるための流出管路と、
前記流出管路に接続された下流タンクであって、前記上流タンクよりも圧力が低い前記下流タンクと、
前記流出管路に接続され、前記電子顕微鏡試料ホルダーの下流に配置された可変の漏出弁と、を備え、
前記可変の漏出弁は、前記上流タンクから前記電子顕微鏡試料ホルダーを通る前記気体の流量を計測し、
前記気体の流量は、前記上流タンクまたは前記下流タンクの圧力変化率に基づいて計算され、
前記気体は、前記上流タンクと前記下流タンクとの間の圧力差により、前記可変の漏出弁を流れる、圧力調節装置。 - 前記流出管路に接続された残留気体分析計(RGA)をさらに備え、
前記残留気体分析計は、前記電子顕微鏡試料ホルダーの下流に配置される、請求項1に記載の圧力調節装置。 - 前記残留気体分析計は、前記可変の漏出弁の下流に配置される、請求項2に記載の圧力調節装置。
- 前記電子顕微鏡試料ホルダーは、入口弁を有し、
前記圧力調節装置から前記電子顕微鏡試料ホルダーを遮断するために、前記電子顕微鏡試料ホルダーへの流入および前記前記電子顕微鏡試料ホルダーからの流出の両方を同時に閉鎖する、請求項1に記載の圧力調節装置。 - 前記可変の漏出弁の下流に配置された弁をさらに備え、
前記弁は、前記下流タンクまたは前記残留気体分析計に流出気体を選択的に導くことを特徴とする請求項2に記載の圧力調節装置。 - 前記電子顕微鏡試料ホルダーの下流に配置された弁をさらに備え、
前記弁は、前記下流タンクまたは前記残留気体分析計に流出気体を選択的に導くことを特徴とする請求項2に記載の圧力調節装置。 - 前記下流タンクは、前記上流タンクよりも低い圧力に維持される、請求項1に記載の圧力調節装置。
- 前記上流タンクの上流に配置され、前記流入管路に接続されて、高圧力の実験用気体の前記気体への導入を制御することで、前記気体の混合物を動的に変化させるための少なくとも1つの電気的に駆動される弁をさらに備え、
前記少なくとも1つの弁をソフトウェアを用いて制御することにより、前記混合物は所望の混合割合に到達するように動的に変化する、請求項1に記載の圧力調節装置。 - 前記電子顕微鏡試料ホルダーの先端部の圧力は、前記高圧力の実験用気体を前記気体に追加するときに、前記電子顕微鏡試料ホルダーの下流の前記可変の漏出弁を制御して、前記電子顕微鏡試料ホルダーを通る前記気体の導入を変化させることにより維持される、請求項8に記載の圧力調節装置。
- 前記可変の漏出弁を前記電子顕微鏡試料ホルダーの近くに支持するためのブームをさらに備える、請求項1に記載の圧力調節装置。
- 前記上流タンクの圧力または前記下流タンクの圧力を測定するための、気体に依存しない圧力計をさらに備える、請求項1に記載の圧力調節装置。
- 前記可変の漏出弁は目標流量を達成するために、ソフトウェア又はファームウェア制御部によって調節される、請求項11に記載の圧力調節装置。
- 前記上流タンクおよび前記下流タンクの少なくとも一方の圧力変化率に基づいて、ソフトウェア又はファームウェア制御部によって、前記気体の前記流量を計算する、請求項1に記載の圧力調節装置。
- 前記圧力調節装置内の最大の圧力降下は、前記可変の漏出弁を通じて生じる、請求項1に記載の圧力調節装置。
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