JP7420258B2 - ドライバ回路 - Google Patents
ドライバ回路 Download PDFInfo
- Publication number
- JP7420258B2 JP7420258B2 JP2022538526A JP2022538526A JP7420258B2 JP 7420258 B2 JP7420258 B2 JP 7420258B2 JP 2022538526 A JP2022538526 A JP 2022538526A JP 2022538526 A JP2022538526 A JP 2022538526A JP 7420258 B2 JP7420258 B2 JP 7420258B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- transmission line
- terminal
- input
- output
- esd protection
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 190
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims description 50
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 12
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 32
- 230000003071 parasitic effect Effects 0.000 description 18
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 6
- 238000004088 simulation Methods 0.000 description 6
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 6
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 5
- 230000006378 damage Effects 0.000 description 2
- 238000002955 isolation Methods 0.000 description 2
- 230000002195 synergetic effect Effects 0.000 description 2
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K17/00—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
- H03K17/51—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used
- H03K17/56—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used by the use, as active elements, of semiconductor devices
- H03K17/687—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used by the use, as active elements, of semiconductor devices the devices being field-effect transistors
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03F—AMPLIFIERS
- H03F3/00—Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements
- H03F3/45—Differential amplifiers
- H03F3/45071—Differential amplifiers with semiconductor devices only
- H03F3/45076—Differential amplifiers with semiconductor devices only characterised by the way of implementation of the active amplifying circuit in the differential amplifier
- H03F3/45475—Differential amplifiers with semiconductor devices only characterised by the way of implementation of the active amplifying circuit in the differential amplifier using IC blocks as the active amplifying circuit
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03F—AMPLIFIERS
- H03F1/00—Details of amplifiers with only discharge tubes, only semiconductor devices or only unspecified devices as amplifying elements
- H03F1/52—Circuit arrangements for protecting such amplifiers
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03F—AMPLIFIERS
- H03F1/00—Details of amplifiers with only discharge tubes, only semiconductor devices or only unspecified devices as amplifying elements
- H03F1/56—Modifications of input or output impedances, not otherwise provided for
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03F—AMPLIFIERS
- H03F3/00—Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements
- H03F3/45—Differential amplifiers
- H03F3/45071—Differential amplifiers with semiconductor devices only
- H03F3/45076—Differential amplifiers with semiconductor devices only characterised by the way of implementation of the active amplifying circuit in the differential amplifier
- H03F3/4508—Differential amplifiers with semiconductor devices only characterised by the way of implementation of the active amplifying circuit in the differential amplifier using bipolar transistors as the active amplifying circuit
- H03F3/45085—Long tailed pairs
- H03F3/45089—Non-folded cascode stages
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03F—AMPLIFIERS
- H03F3/00—Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements
- H03F3/45—Differential amplifiers
- H03F3/45071—Differential amplifiers with semiconductor devices only
- H03F3/45076—Differential amplifiers with semiconductor devices only characterised by the way of implementation of the active amplifying circuit in the differential amplifier
- H03F3/45179—Differential amplifiers with semiconductor devices only characterised by the way of implementation of the active amplifying circuit in the differential amplifier using MOSFET transistors as the active amplifying circuit
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K17/00—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
- H03K17/08—Modifications for protecting switching circuit against overcurrent or overvoltage
- H03K17/081—Modifications for protecting switching circuit against overcurrent or overvoltage without feedback from the output circuit to the control circuit
- H03K17/0814—Modifications for protecting switching circuit against overcurrent or overvoltage without feedback from the output circuit to the control circuit by measures taken in the output circuit
- H03K17/08142—Modifications for protecting switching circuit against overcurrent or overvoltage without feedback from the output circuit to the control circuit by measures taken in the output circuit in field-effect transistor switches
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03F—AMPLIFIERS
- H03F2200/00—Indexing scheme relating to amplifiers
- H03F2200/405—Indexing scheme relating to amplifiers the output amplifying stage of an amplifier comprising more than three power stages
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03F—AMPLIFIERS
- H03F2200/00—Indexing scheme relating to amplifiers
- H03F2200/444—Diode used as protection means in an amplifier, e.g. as a limiter or as a switch
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03F—AMPLIFIERS
- H03F2203/00—Indexing scheme relating to amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements covered by H03F3/00
- H03F2203/45—Indexing scheme relating to differential amplifiers
- H03F2203/45604—Indexing scheme relating to differential amplifiers the IC comprising a input shunting resistor
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03F—AMPLIFIERS
- H03F2203/00—Indexing scheme relating to amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements covered by H03F3/00
- H03F2203/45—Indexing scheme relating to differential amplifiers
- H03F2203/45636—Indexing scheme relating to differential amplifiers the LC comprising clamping means, e.g. diodes
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03F—AMPLIFIERS
- H03F2203/00—Indexing scheme relating to amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements covered by H03F3/00
- H03F2203/45—Indexing scheme relating to differential amplifiers
- H03F2203/45652—Indexing scheme relating to differential amplifiers the LC comprising one or more further dif amp stages, either identical to the dif amp or not, in cascade
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Logic Circuits (AREA)
- Amplifiers (AREA)
Description
図18は出力回路104の構成を示す回路図である。出力回路104は、トランジスタQ100~Q104から構成される。
一方、ドライバ回路100の入力信号端子Vinp,Vinnに電源電圧VCCよりも高い電圧が印加された場合には、入力信号端子Vinp,VinnからダイオードD100,D102を経由して電源電圧VCC側に電流が流れることにより、ドライバ回路100のトランジスタが保護される。また、入力信号端子Vinp,Vinnにグラウンドよりも低い電圧が印加された場合には、グラウンドからダイオードD101,D103を経由して入力信号端子Vinp,Vinn側に電流が流れることにより、ドライバ回路100のトランジスタが保護される。
以下、本発明の実施例について図面を参照して説明する。図1は本発明の第1の実施例に係るドライバ回路の構成を示す回路図である。本実施例のドライバ回路100aは、MZM200の駆動のための差動信号が入力される入力バッファ101と、入力バッファ101から出力された差動信号の振幅が一定になるように利得を調整するGCA102と、GCA102から出力された差動信号を増幅する前置増幅器103と、前置増幅器103から出力された差動信号に応じてMZM200を駆動するオープンコレクタ型の出力回路104aと、一端がドライバ回路100aの正相側の入力信号端子Vinpに接続され、他端が入力バッファ101の非反転入力端子VipAに接続されたDCカットキャパシタC100と、一端がドライバ回路100aの逆相側の入力信号端子Vinnに接続され、他端が入力バッファ101の反転入力端子VinAに接続されたDCカットキャパシタC101と、入力信号端子Vinp,Vinn間に直列に接続された2つの入力終端抵抗R100,R101と、入力終端抵抗R100,R101の接続点に接続されたESD保護回路107と、出力信号端子Voutp,Voutnに接続されたESD保護回路108とから構成される。入力終端抵抗R100,R101のそれぞれの抵抗値は50Ωである。
入力信号端子Vinpに電源電圧VCCよりも高い正の電圧が印加された場合には、入力信号端子Vinpから入力終端抵抗R100とダイオードD110とを経由して電源電圧VCC側に電流が流れる。同様に、入力信号端子Vinnに電源電圧VCCよりも高い正の電圧が印加された場合には、入力信号端子Vinnから入力終端抵抗R101とダイオードD110とを経由して電源電圧VCC側に電流が流れる。
次に、本実施例の第2の実施例について説明する。図7は本発明の第2の実施例に係るドライバ回路の構成を示す回路図である。本実施例のドライバ回路100bは、入力バッファ101と、GCA102と、前置増幅器103と、出力回路104aと、DCカットキャパシタC100,C101と、入力終端抵抗R100,R101と、ESD保護回路107と、出力回路104aとドライバ回路100bの差動出力信号端子Voutp,Voutnとの間に接続されたESD保護回路110とから構成される。
図8はESD保護回路110の構成を示す回路図である。ESD保護回路110は、入力端が出力回路104aの非反転出力端子Vopに接続され、出力端がドライバ回路100bの正相側の出力信号端子Voutpに接続された伝送線路111と、入力端が出力回路104aの反転出力端子Vonに接続され、出力端がドライバ回路100bの逆相側の出力信号端子Voutnに接続された伝送線路112と、伝送線路111に沿って配置され、アノードが伝送線路111に接続され、カソードが電源電圧VCCに接続された複数のダイオードD116と、伝送線路112に沿って配置され、アノードが伝送線路112に接続され、カソードが電源電圧VCCに接続された複数のダイオードD117とから構成される。
ただし、伝送線路111,112の損失が大きい場合は広帯域化が困難になるので、伝送線路111,112の損失は小さい方が望ましい。
なお、グラウンドに接続されるダイオードをESD保護回路110と同様に疑似伝送線路に組み込んだ場合には、寄生容量が大きくなり、カットオフ周波数が低くなる。
次に、本発明の第3の実施例について説明する。図9は本発明の第3の実施例に係るドライバ回路の構成を示す回路図である。本実施例のドライバ回路100cは、入力バッファ101と、GCA102と、前置増幅器103と、出力回路104aと、DCカットキャパシタC100,C101と、ESD保護回路110と、ドライバ回路100cの差動入力信号端子Vinp,Vinnに接続されたESD保護回路113とから構成される。
図10はESD保護回路113の構成を示す回路図である。ESD保護回路113は、入力端がドライバ回路100cの正相側の入力信号端子Vinpに接続され、出力端がDCカットキャパシタC100の一端に接続された伝送線路114と、入力端がドライバ回路100cの逆相側の入力信号端子Vinnに接続され、出力端がDCカットキャパシタC101の一端に接続された伝送線路115と、伝送線路114に沿って配置され、一端が伝送線路114に接続された複数の入力終端抵抗R102と、伝送線路115に沿って配置され、一端が伝送線路115に接続され、他端が入力終端抵抗R102の他端に接続された複数の入力終端抵抗R103と、直列に接続された入力終端抵抗R102,R103の組毎に設けられ、アノードが入力終端抵抗R102,R103の接続点に接続され、カソードが電源電圧VCCに接続された複数のダイオードD118と、ダイオードD118毎に設けられ、アノードがグラウンドに接続され、カソードがダイオードD118のアノードに接続された複数のダイオードD119とから構成される。
また、N個の入力終端抵抗R102とN個の入力終端抵抗R103のそれぞれの抵抗値をN×50Ωとする。
次に、本発明の第4の実施例について説明する。図11は本発明の第4の実施例に係るドライバ回路の構成を示す回路図である。本実施例のドライバ回路100dは、入力バッファ101と、GCA102と、前置増幅器103と、出力回路104aと、DCカットキャパシタC100,C101と、ESD保護回路110と、ドライバ回路100dの差動入力信号端子Vinp,Vinnに接続されたESD保護回路116とから構成される。
図12はESD保護回路116の構成を示す回路図である。ESD保護回路116は、入力端がドライバ回路100dの正相側の入力信号端子Vinpに接続され、出力端がDCカットキャパシタC100の一端に接続された伝送線路114と、入力端がドライバ回路100dの逆相側の入力信号端子Vinnに接続され、出力端がDCカットキャパシタC101の一端に接続された伝送線路115と、伝送線路114に沿って配置され、一端が伝送線路114に接続された複数の入力終端抵抗R102と、伝送線路115に沿って配置され、一端が伝送線路115に接続され、他端が入力終端抵抗R102の他端に接続された複数の入力終端抵抗R103と、直列に接続された入力終端抵抗R102,R103の複数の組のうち1つおきの組毎に設けられ、アノードが入力終端抵抗R102,R103の接続点に接続され、カソードが電源電圧VCCに接続された複数のダイオードD120と、アノードがグラウンドに接続され、入力終端抵抗R102,R103の複数の組のうちダイオードD120が接続されていない入力終端抵抗R102,R103の接続点にカソードが接続された複数のダイオードD121とから構成される。
また、N個の入力終端抵抗R102とN個の入力終端抵抗R103のそれぞれの抵抗値をN×50Ωとする。
次に、本発明の第5の実施例について説明する。図13は本発明の第5の実施例に係るドライバ回路の構成を示す回路図である。本実施例のドライバ回路100eは、入力バッファ101と、GCA102と、前置増幅器103と、出力回路104aと、DCカットキャパシタC100,C101と、ESD保護回路110と、ドライバ回路100eの差動入力信号端子Vinp,Vinnに接続されたESD保護回路117とから構成される。
図14はESD保護回路117の構成を示す回路図である。ESD保護回路117は、入力端がドライバ回路100eの正相側の入力信号端子Vinpに接続され、出力端がDCカットキャパシタC100の一端に接続された伝送線路114と、入力端がドライバ回路100eの逆相側の入力信号端子Vinnに接続され、出力端がDCカットキャパシタC101の一端に接続された伝送線路115と、伝送線路114の出力端と伝送線路115の出力端との間に直列に接続された2つの入力終端抵抗R104,R105と、伝送線路114に沿って配置され、アノードが伝送線路114に接続され、カソードが電源電圧VCCに接続された複数のダイオードD122と、ダイオードD122毎に設けられ、アノードがグラウンドに接続され、カソードがダイオードD122のアノードに接続された複数のダイオードD123と、伝送線路115に沿って配置され、アノードが伝送線路115に接続され、カソードが電源電圧VCCに接続された複数のダイオードD124と、ダイオードD124毎に設けられ、アノードがグラウンドに接続され、カソードがダイオードD124のアノードに接続された複数のダイオードD125とから構成される。
また、入力終端抵抗R104,R105のそれぞれの抵抗値を50Ωとする。
次に、本発明の第6の実施例について説明する。図15は本発明の第6の実施例に係るドライバ回路の構成を示す回路図である。本実施例のドライバ回路100fは、入力バッファ101と、GCA102と、前置増幅器103と、出力回路104aと、DCカットキャパシタC100,C101と、ESD保護回路110と、ドライバ回路100fの差動入力信号端子Vinp,Vinnに接続されたESD保護回路118とから構成される。
図16はESD保護回路118の構成を示す回路図である。ESD保護回路118は、入力端がドライバ回路100fの正相側の入力信号端子Vinpに接続され、出力端がDCカットキャパシタC100の一端に接続された伝送線路114と、入力端がドライバ回路100fの逆相側の入力信号端子Vinnに接続され、出力端がDCカットキャパシタC101の一端に接続された伝送線路115と、伝送線路114の出力端と伝送線路115の出力端との間に直列に接続された2つの入力終端抵抗R104,R105と、伝送線路114に沿って配置され、アノードが伝送線路114に接続され、カソードが電源電圧VCCに接続された複数のダイオードD126と、伝送線路114に沿って配置され、アノードがグラウンドに接続され、カソードが伝送線路114に接続された複数のダイオードD127と、伝送線路115に沿って配置され、アノードが伝送線路115に接続され、カソードが電源電圧VCCに接続された複数のダイオードD128と、伝送線路115に沿って配置され、アノードがグラウンドに接続され、カソードが伝送線路115に接続された複数のダイオードD129とから構成される。
また、入力終端抵抗R104,R105のそれぞれの抵抗値を50Ωとする。
Claims (6)
- ドライバ回路の正相側の第1の入力信号端子と逆相側の第2の入力信号端子とに接続されたESD保護回路と、
一端が前記ESD保護回路に接続された第1、第2のキャパシタと、
非反転入力端子が前記第1のキャパシタの他端に接続され、反転入力端子が前記第2のキャパシタの他端に接続された入力バッファとを備え、
前記ESD保護回路は、
入力端が前記第1の入力信号端子に接続され、出力端が前記第1のキャパシタの一端に接続された第1の伝送線路と、
入力端が前記第2の入力信号端子に接続され、出力端が前記第2のキャパシタの一端に接続された第2の伝送線路と、
前記第1の伝送線路に沿って配置され、一端が前記第1の伝送線路に接続されたN個(Nは2以上の整数)の第1の入力終端抵抗と、
前記第2の伝送線路に沿って配置され、一端が前記第2の伝送線路に接続され、他端が前記第1の入力終端抵抗の他端に接続されたN個の第2の入力終端抵抗と、
直列に接続された前記第1、第2の入力終端抵抗の組毎に設けられ、アノードが前記第1、第2の入力終端抵抗の接続点に接続され、カソードが電源電圧に接続されたN個の第1のダイオードと、
前記第1のダイオード毎に設けられ、アノードがグラウンドに接続され、カソードが前記第1のダイオードのアノードに接続されたN個の第2のダイオードとから構成され、
前記第1の入力終端抵抗の抵抗値はN×50Ωであり、前記第2の入力終端抵抗の抵抗値はN×50Ωであり、
前記第1の伝送線路と、前記N個の第1の入力終端抵抗と、前記N個の第1のダイオードとから構成される擬似伝送線路の特性インピーダンスが50Ωであり、
前記第2の伝送線路と、前記N個の第2の入力終端抵抗と、前記N個の第2のダイオードとから構成される擬似伝送線路の特性インピーダンスが50Ωであることを特徴とするドライバ回路。 - ドライバ回路の正相側の第1の入力信号端子と逆相側の第2の入力信号端子とに接続されたESD保護回路と、
一端が前記ESD保護回路に接続された第1、第2のキャパシタと、
非反転入力端子が前記第1のキャパシタの他端に接続され、反転入力端子が前記第2のキャパシタの他端に接続された入力バッファとを備え、
前記ESD保護回路は、
入力端が前記第1の入力信号端子に接続され、出力端が前記第1のキャパシタの一端に接続された第1の伝送線路と、
入力端が前記第2の入力信号端子に接続され、出力端が前記第2のキャパシタの一端に接続された第2の伝送線路と、
前記第1の伝送線路に沿って配置され、一端が前記第1の伝送線路に接続された複数の第1の入力終端抵抗と、
前記第2の伝送線路に沿って配置され、一端が前記第2の伝送線路に接続され、他端が前記第1の入力終端抵抗の他端に接続された複数の第2の入力終端抵抗と、
直列に接続された前記第1、第2の入力終端抵抗の複数の組のうち1つおきの組毎に設けられ、アノードが前記第1、第2の入力終端抵抗の接続点に接続され、カソードが電源電圧に接続された複数の第1のダイオードと、
アノードがグラウンドに接続され、前記第1、第2の入力終端抵抗の複数の組のうち前記第1のダイオードが接続されていない第1、第2の入力終端抵抗の接続点にカソードが接続された複数の第2のダイオードとから構成されることを特徴とするドライバ回路。 - ドライバ回路の正相側の第1の入力信号端子と逆相側の第2の入力信号端子とに接続されたESD保護回路と、
一端が前記ESD保護回路に接続された第1、第2のキャパシタと、
非反転入力端子が前記第1のキャパシタの他端に接続され、反転入力端子が前記第2のキャパシタの他端に接続された入力バッファとを備え、
前記ESD保護回路は、
入力端が前記第1の入力信号端子に接続され、出力端が前記第1のキャパシタの一端に接続された第1の伝送線路と、
入力端が前記第2の入力信号端子に接続され、出力端が前記第2のキャパシタの一端に接続された第2の伝送線路と、
前記第1の伝送線路の出力端と前記第2の伝送線路の出力端との間に直列に接続された第1、第2の入力終端抵抗と、
前記第1の伝送線路に沿って配置され、アノードが前記第1の伝送線路に接続され、カソードが電源電圧に接続された複数の第1のダイオードと、
前記第1のダイオード毎に設けられ、アノードがグラウンドに接続され、カソードが前記第1の伝送線路に接続された複数の第2のダイオードと、
前記第2の伝送線路に沿って配置され、アノードが前記第2の伝送線路に接続され、カソードが前記電源電圧に接続された複数の第3のダイオードと、
前記第3のダイオード毎に設けられ、アノードがグラウンドに接続され、カソードが前記第2の伝送線路に接続された複数の第4のダイオードとから構成され、
前記第1のダイオードと前記第2のダイオードとは、前記第1の伝送線路の異なる点に接続されるように交互に配置され、
前記第3のダイオードと前記第4のダイオードとは、前記第2の伝送線路の異なる点に接続されるように交互に配置されることを特徴とするドライバ回路。 - 非反転出力端子がドライバ回路の正相側の第1の出力信号端子に接続され、反転出力端子がドライバ回路の逆相側の第2の出力信号端子に接続された出力回路と、
前記第1、第2の出力信号端子に接続された第1のESD保護回路とを備え、
前記第1のESD保護回路は、
アノードが前記第1の出力信号端子に接続され、カソードが電源電圧に接続された第1のダイオードと、
アノードが前記第2の出力信号端子に接続され、カソードが前記電源電圧に接続された第2のダイオードとから構成され、
前記出力回路は、
ベース端子に光変調器の駆動のための差動信号が入力される第1、第2のトランジスタと、
コレクタ端子が前記第1の出力信号端子に接続され、エミッタ端子が前記第1のトランジスタのコレクタ端子に接続された第3のトランジスタと、
コレクタ端子が前記第2の出力信号端子に接続され、エミッタ端子が前記第2のトランジスタのコレクタ端子に接続された第4のトランジスタと、
前記第3、第4のトランジスタのベース端子に接続された第2のESD保護回路とから構成され、
前記第2のESD保護回路は、
アノードがグラウンドに接続され、カソードが前記第3のトランジスタのベース端子に接続された第3のダイオードと、
アノードがグラウンドに接続され、カソードが前記第4のトランジスタのベース端子に接続された第4のダイオードとから構成されることを特徴とするドライバ回路。 - 非反転出力端子がドライバ回路の正相側の第1の出力信号端子に接続され、反転出力端子がドライバ回路の逆相側の第2の出力信号端子に接続された出力回路と、
前記出力回路と前記第1、第2の出力信号端子との間に接続された第1のESD保護回路とを備え、
前記第1のESD保護回路は、
入力端が前記出力回路の非反転出力端子に接続され、出力端が前記第1の出力信号端子に接続された第1の伝送線路と、
入力端が前記出力回路の反転出力端子に接続され、出力端が前記第2の出力信号端子に接続された第2の伝送線路と、
前記第1の伝送線路に沿って配置され、アノードが前記第1の伝送線路に接続され、カソードが電源電圧に接続された複数の第1のダイオードと、
前記第2の伝送線路に沿って配置され、アノードが前記第2の伝送線路に接続され、カソードが前記電源電圧に接続された複数の第2のダイオードとから構成され、
前記出力回路は、
ベース端子に光変調器の駆動のための差動信号が入力される第1、第2のトランジスタと、
コレクタ端子が前記第1の出力信号端子に接続され、エミッタ端子が前記第1のトランジスタのコレクタ端子に接続された第3のトランジスタと、
コレクタ端子が前記第2の出力信号端子に接続され、エミッタ端子が前記第2のトランジスタのコレクタ端子に接続された第4のトランジスタと、
前記第3、第4のトランジスタのベース端子に接続された第2のESD保護回路とから構成され、
前記第2のESD保護回路は、
アノードがグラウンドに接続され、カソードが前記第3のトランジスタのベース端子に接続された第3のダイオードと、
アノードがグラウンドに接続され、カソードが前記第4のトランジスタのベース端子に接続された第4のダイオードとから構成されることを特徴とするドライバ回路。 - 請求項4または5記載のドライバ回路において、
前記出力回路は、
ベース端子が出力回路の非反転入力端子に接続された前記第1のトランジスタと、
ベース端子が出力回路の反転入力端子に接続された前記第2のトランジスタと、
ベース端子が第1のバイアス電圧に接続され、コレクタ端子が前記第1の出力信号端子に接続され、エミッタ端子が前記第1のトランジスタのコレクタ端子に接続された前記第3のトランジスタと、
ベース端子が前記第1のバイアス電圧に接続され、コレクタ端子が前記第2の出力信号端子に接続され、エミッタ端子が前記第2のトランジスタのコレクタ端子に接続された前記第4のトランジスタと、
ベース端子が第2のバイアス電圧に接続され、コレクタ端子が前記第1、第2のトランジスタのエミッタ端子に接続され、エミッタ端子がグラウンドに接続された第5のトランジスタと、
前記第2のESD保護回路とから構成されることを特徴とするドライバ回路。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
PCT/JP2020/028253 WO2022018823A1 (ja) | 2020-07-21 | 2020-07-21 | ドライバ回路 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2022018823A1 JPWO2022018823A1 (ja) | 2022-01-27 |
JP7420258B2 true JP7420258B2 (ja) | 2024-01-23 |
Family
ID=79729346
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2022538526A Active JP7420258B2 (ja) | 2020-07-21 | 2020-07-21 | ドライバ回路 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20230275581A1 (ja) |
JP (1) | JP7420258B2 (ja) |
WO (1) | WO2022018823A1 (ja) |
Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000510653A (ja) | 1997-04-16 | 2000-08-15 | ザ ボード オブ トラスティーズ オブ ザ リーランド スタンフォード ジュニア ユニバーシティ | 高速集積回路のための分散型esd保護デバイス |
JP2003023101A (ja) | 2001-07-05 | 2003-01-24 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体装置 |
US20060256489A1 (en) | 2005-05-10 | 2006-11-16 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. | ESD protection circuits with impedance matching for radio-frequency applications |
JP2010233140A (ja) | 2009-03-30 | 2010-10-14 | Hitachi Ltd | 半導体集積回路装置 |
JP2011228372A (ja) | 2010-04-16 | 2011-11-10 | Toshiba Corp | 半導体集積回路装置 |
US20130308232A1 (en) | 2012-05-16 | 2013-11-21 | Nxp B.V. | Protection circuit |
JP2017175008A (ja) | 2016-03-24 | 2017-09-28 | アンリツ株式会社 | Esd保護回路およびesd保護方法 |
CN108322195A (zh) | 2017-01-16 | 2018-07-24 | 天津大学(青岛)海洋工程研究院有限公司 | 一种具有静电放电保护电路的功率放大器 |
Family Cites Families (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0779231B2 (ja) * | 1986-06-20 | 1995-08-23 | 富士通株式会社 | インタフェイス回路 |
JPH02170458A (ja) * | 1988-12-22 | 1990-07-02 | Sony Corp | 保護回路 |
JP2838836B2 (ja) * | 1990-04-26 | 1998-12-16 | 富士通株式会社 | 半導体集積回路及び半導体集積回路装置 |
JPH07226557A (ja) * | 1994-02-15 | 1995-08-22 | Hitachi Ltd | 電子回路およびこれを用いた半導体装置 |
TW431042B (en) * | 1999-05-18 | 2001-04-21 | Sunplus Technology Co Ltd | Electrostatic discharge protection apparatus of polydiode |
JP2003197754A (ja) * | 2001-12-26 | 2003-07-11 | Mitsubishi Electric Corp | 高周波半導体装置 |
US7009827B1 (en) * | 2002-10-15 | 2006-03-07 | Silicon Image, Inc. | Voltage swing detection circuit for hot plug event or device detection via a differential link |
US6738248B1 (en) * | 2002-10-28 | 2004-05-18 | Lsi Logic Corporation | ESD protection circuit for low amplitude signals |
US7218491B2 (en) * | 2002-12-23 | 2007-05-15 | Intel Corporation | Electrostatic discharge protection unit including equalization |
US7355476B2 (en) * | 2005-06-30 | 2008-04-08 | Silicon Laboratories Inc. | Input stage for an amplifier |
US8346198B2 (en) * | 2005-06-30 | 2013-01-01 | Silicon Laboratories Inc. | Low noise amplifier for a radio receiver |
US9019669B1 (en) * | 2012-12-19 | 2015-04-28 | Pmc-Sierra Us, Inc. | Distributed electrostatic discharge protection circuit |
US9438188B2 (en) * | 2014-09-15 | 2016-09-06 | Qualcomm Incorporated | Common-gate amplifier for high-speed DC-coupling communications |
US9432230B1 (en) * | 2015-10-21 | 2016-08-30 | Freescale Semiconductor, Inc. | Passive equalizer capable of use in a receiver |
US20190089150A1 (en) * | 2017-09-19 | 2019-03-21 | Kandou Labs, S.A. | Distributed electrostatic discharge protection for chip-to-chip communications interface |
EP3731422B1 (en) * | 2017-12-18 | 2022-11-30 | Nippon Telegraph and Telephone Corporation | Ic chip |
US10917084B2 (en) * | 2018-04-27 | 2021-02-09 | Shanghai Zhaoxin Semiconductor Co., Ltd. | Output driving system with capacitance compensation |
US11405068B2 (en) * | 2020-08-03 | 2022-08-02 | Apple Inc. | Bi-directional single-ended transmission systems |
JP2022081070A (ja) * | 2020-11-19 | 2022-05-31 | 住友電気工業株式会社 | 静電気保護回路および半導体集積回路 |
-
2020
- 2020-07-21 US US18/005,938 patent/US20230275581A1/en active Pending
- 2020-07-21 WO PCT/JP2020/028253 patent/WO2022018823A1/ja active Application Filing
- 2020-07-21 JP JP2022538526A patent/JP7420258B2/ja active Active
Patent Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000510653A (ja) | 1997-04-16 | 2000-08-15 | ザ ボード オブ トラスティーズ オブ ザ リーランド スタンフォード ジュニア ユニバーシティ | 高速集積回路のための分散型esd保護デバイス |
JP2003023101A (ja) | 2001-07-05 | 2003-01-24 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体装置 |
US20060256489A1 (en) | 2005-05-10 | 2006-11-16 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. | ESD protection circuits with impedance matching for radio-frequency applications |
JP2010233140A (ja) | 2009-03-30 | 2010-10-14 | Hitachi Ltd | 半導体集積回路装置 |
JP2011228372A (ja) | 2010-04-16 | 2011-11-10 | Toshiba Corp | 半導体集積回路装置 |
US20130308232A1 (en) | 2012-05-16 | 2013-11-21 | Nxp B.V. | Protection circuit |
JP2017175008A (ja) | 2016-03-24 | 2017-09-28 | アンリツ株式会社 | Esd保護回路およびesd保護方法 |
CN108322195A (zh) | 2017-01-16 | 2018-07-24 | 天津大学(青岛)海洋工程研究院有限公司 | 一种具有静电放电保护电路的功率放大器 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2022018823A1 (ja) | 2022-01-27 |
US20230275581A1 (en) | 2023-08-31 |
JPWO2022018823A1 (ja) | 2022-01-27 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US11894655B2 (en) | H-bridge integrated laser driver | |
KR102422590B1 (ko) | 격리기 제품을 위한 수신기 중간 가변 이득 스테이지 | |
KR102468237B1 (ko) | 디지털 격리기들을 위한 리시버 프론트 엔드 | |
US20120206201A1 (en) | Semiconductor device | |
JP2009302859A (ja) | 電力増幅器 | |
EP4358401A2 (en) | Bias modulation active linearization for broadband amplifiers | |
US20220158448A1 (en) | Electrostatic protection circuit and semiconductor integrated circuit | |
JP4965602B2 (ja) | 差動分布回路icパッケージ | |
JP2006325096A (ja) | 高周波電力増幅器 | |
US20120243712A1 (en) | Switch and switch circuit using the same | |
US6081133A (en) | Universal receiver device | |
JP7420258B2 (ja) | ドライバ回路 | |
US7003007B2 (en) | System and method for using an output transformer for packaged laser diode drivers | |
JP2009016979A (ja) | トランスインピーダンスアンプ | |
JP2006074074A (ja) | 高周波電力増幅器 | |
JP2009225216A (ja) | トランスインピーダンスアンプ接続回路 | |
US11990747B2 (en) | Electrostatic protection circuit and semiconductor integrated circuit | |
US9929708B2 (en) | Active device and circuits used therewith | |
TWI799186B (zh) | 傳送端電路 | |
JP5418162B2 (ja) | トランスインピーダンスアンプ | |
US8803490B2 (en) | Current-mode active termination | |
US7786796B2 (en) | Audio amplifier | |
JP2001320267A (ja) | Ecl終端回路 | |
CN116827331A (zh) | 发送端电路 | |
EP3748844A1 (en) | Pulse width distortion cancellation of switching mode amplifier for reduced second harmonic interference |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20221102 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20230711 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20230906 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20231212 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20231225 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 7420258 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |