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JP7253679B2 - Failure detection system and failure detection method for component mounting line - Google Patents

Failure detection system and failure detection method for component mounting line Download PDF

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JP7253679B2 JP2017187812A JP2017187812A JP7253679B2 JP 7253679 B2 JP7253679 B2 JP 7253679B2 JP 2017187812 A JP2017187812 A JP 2017187812A JP 2017187812 A JP2017187812 A JP 2017187812A JP 7253679 B2 JP7253679 B2 JP 7253679B2
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Description

本発明は、部品実装ラインを構成するデバイスの不調を検知する不調検知システムおよび部品実装ラインの不調検知方法に関する。 The present invention relates to a malfunction detection system for detecting malfunctions of devices constituting a component mounting line and a malfunction detection method for a component mounting line.

従来、基板に部品を実装した実装基板を製造する部品実装ラインを構成する部品実装装置において、部品実装装置のいずれかのデバイス(部位)に異常(エラー)が発生したことを検知すると、その旨を作業者に報知する機能を有している部品実装装置が知られている(例えば、特許文献1参照)。特許文献1に記載の部品実装装置は、デバイスの異常を検知するセンサ(異常検知装置)を備えており、センサが異常を検知するとエラーの発生を作業者に報知している。 2. Description of the Related Art Conventionally, when an abnormality (error) has occurred in any device (portion) of a component mounting apparatus that constitutes a component mounting line for manufacturing a mounting board on which components are mounted on a board, it is reported that the error has occurred. There is known a component mounting apparatus having a function of informing a worker of the above (see, for example, Patent Document 1). The component mounting apparatus described in Patent Literature 1 includes a sensor (abnormality detection device) that detects an abnormality in the device, and notifies the operator of the occurrence of an error when the sensor detects an abnormality.

特開2013-4951号公報JP 2013-4951 A

しかしながら、特許文献1を含む従来技術では、センサが検知した異常をエラーと判断しているのみであり、将来発生するエラーの前兆であるデバイスの不調状態を検出するためには改善の余地があった。 However, in the prior art including Patent Document 1, an abnormality detected by the sensor is only determined as an error, and there is room for improvement in detecting a malfunctioning state of the device, which is a sign of an error that will occur in the future. rice field.

そこで本発明は、部品実装ラインで実装基板を製造中にデバイスの不調を検知することができる不調検知システムおよび部品実装ラインの不調検知方法を提供することを目的とする。 SUMMARY OF THE INVENTION Accordingly, it is an object of the present invention to provide a failure detection system and a failure detection method for a component mounting line that can detect a failure of a device during manufacture of a mounting board on a component mounting line.

本発明の不調検知システムは、部品実装装置を含む部品実装ラインを構成するデバイスの稼働状況に関するデータを収集するデータ収集部と、前記データ収集部により収集されたデータに含まれる1以上の特徴量データの傾向が正常時の特徴量データの傾向から外れているか否かを判定する判定部と、前記判定部により前記正常時の特徴量データの傾向から外れていると判定された前記特徴量データに対応する少なくとも1以上の前記デバイスが不調であって近いうちに前記デバイスが不良になる可能性があることを通知する通知部と、を備える。 A malfunction detection system of the present invention includes a data collection unit that collects data on the operating status of devices that constitute a component mounting line including a component mounting apparatus, and one or more feature amounts included in the data collected by the data collection unit. a judgment unit for judging whether or not the tendency of data deviates from the tendency of the feature amount data in the normal state; and the feature amount data judged by the judgment unit to deviate from the tendency of the feature amount data in the normal state. and a notification unit that notifies that at least one or more of the devices corresponding to the is malfunctioning and may soon become defective .

本発明の部品実装ラインの不調検知方法は、部品実装装置を含む部品実装ラインを構成するデバイスの不調を検知する部品実装ラインの不調検知方法であって、前記部品実装ラインから前記デバイスの稼働状況に関するデータを収集するデータ収集工程と、前記データ収集工程において収集されたデータに含まれる1以上の特徴量データの傾向が正常時の特徴量データの傾向から外れているか否かを判定する判定工程と、前記判定工程において前記正常時の特徴量データの傾向から外れていると判定された前記特徴量データに対応する少なくとも1以上の前記デバイスが不調であって近いうちに前記デバイスが不良になる可能性があることを通知する通知工程と、を含む。 A malfunction detection method for a component mounting line according to the present invention is a method for detecting malfunction of a device constituting a component mounting line including a component mounting apparatus, wherein the operation status of the device is detected from the component mounting line. a data collection step of collecting data related to the and at least one or more of the devices corresponding to the feature amount data determined to deviate from the trend of the feature amount data in the normal state in the determination step , and the device will soon become defective. and a notification step of notifying that there is a possibility .

本発明によれば、部品実装ラインで実装基板を製造中にデバイスの不調を検知することができる。 According to the present invention, a malfunction of a device can be detected during manufacture of a mounting substrate on a component mounting line.

本発明の一実施の形態の部品実装システムの構成説明図1 is an explanatory diagram of the configuration of a component mounting system according to an embodiment of the present invention; FIG. 本発明の一実施の形態の部品実装装置の構成説明図BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG. 1 is an explanatory diagram of the configuration of a component mounting apparatus according to an embodiment of the present invention; 本発明の一実施の形態の不調検知システムの構成を示すブロック図1 is a block diagram showing the configuration of a malfunction detection system according to an embodiment of the present invention; 本発明の一実施の形態の不調検知システムにおける特徴量データの一例の説明図FIG. 2 is an explanatory diagram of an example of feature amount data in the malfunction detection system according to one embodiment of the present invention; 本発明の一実施の形態の不調検知システムにおける学習データセットの一例の説明図FIG. 2 is an explanatory diagram of an example of a learning data set in the malfunction detection system according to one embodiment of the present invention; 本発明の一実施の形態の不調検知システムにおける検知モデルの一例の説明図Explanatory diagram of an example of a detection model in the malfunction detection system of one embodiment of the present invention 本発明の一実施の形態の不調検知方法のフローを示す図The figure which shows the flow of the malfunction detection method of one embodiment of this invention.

以下に図面を用いて、本発明の一実施の形態を詳細に説明する。以下で述べる構成、形状等は説明のための例示であって、部品実装システム、部品実装ラインの仕様に応じ、適宜変更が可能である。以下では、全ての図面において対応する要素には同一符号を付し、重複する説明を省略する。図2では、水平面内で互いに直交する2軸方向として、基板搬送方向のX方向(図2における紙面垂直方向)、基板搬送方向に直交するY方向(図2における左右方向)が示される。また、水平面と直交する高さ方向としてZ方向(図2における上下方向)が示される。 An embodiment of the present invention will be described in detail below with reference to the drawings. The configuration, shape, etc. described below are examples for explanation, and can be changed as appropriate according to the specifications of the component mounting system and the component mounting line. In the following, the same reference numerals are given to the corresponding elements in all the drawings, and redundant explanations are omitted. In FIG. 2, the X direction (perpendicular to the paper surface in FIG. 2) of the substrate transfer direction and the Y direction (horizontal direction in FIG. 2) perpendicular to the substrate transfer direction are shown as two axial directions perpendicular to each other in the horizontal plane. Also, the Z direction (vertical direction in FIG. 2) is shown as the height direction orthogonal to the horizontal plane.

まず図1を参照して部品実装システム1について説明する。部品実装システム1は、基板搬送方向の上流側(図1における左側)から順番に、製造設備である部品実装装置M1、部品実装装置M2、部品実装装置M3を備えている。部品実装装置M1~M3はベルトコンベア等の基板搬送機構を有しており、部品実装装置M1~M3の基板搬送機構で基板を上流から下流へ搬送しながら実装基板を製造する。部品実装装置M1~M3は、有線または無線による通信ネットワーク2によって管理コンピュータ3と接続されており、他の部品実装装置M1~M3、管理コンピュータ3との間でデータの送受信を行う。 First, a component mounting system 1 will be described with reference to FIG. The component mounting system 1 includes a component mounting apparatus M1, a component mounting apparatus M2, and a component mounting apparatus M3, which are manufacturing facilities, in order from the upstream side (the left side in FIG. 1) in the board transfer direction. The component mounting apparatuses M1 to M3 have a substrate conveying mechanism such as a belt conveyor, and manufacture mounted boards while conveying the substrates from upstream to downstream by the substrate conveying mechanisms of the component mounting apparatuses M1 to M3. The component mounting apparatuses M1 to M3 are connected to a management computer 3 via a wired or wireless communication network 2, and transmit and receive data to and from the other component mounting apparatuses M1 to M3 and the management computer 3. FIG.

なお、部品実装ラインL1が備える部品実装装置M1~M3は3台に限定されることなく、1台、2台、4台以上であってもよい。また、部品実装ラインL1は、部品実装装置M1~M3の他に基板にクリームはんだを印刷する印刷装置、部品が実装された基板を加熱して部品を基板にはんだ付けするリフロー装置などの装置を有してもよい。このように、部品実装装置M1~M3と管理コンピュータ3は、部品実装装置M1~M3を含む複数の設備を有する部品実装ラインL1を構成する。 Note that the number of component mounting apparatuses M1 to M3 provided in the component mounting line L1 is not limited to three, and may be one, two, four or more. In addition to the component mounting apparatuses M1 to M3, the component mounting line L1 includes devices such as a printing device that prints cream solder on the board and a reflow device that heats the board on which components are mounted and solders the components to the board. may have. Thus, the component mounting apparatuses M1 to M3 and the management computer 3 constitute a component mounting line L1 having a plurality of facilities including the component mounting apparatuses M1 to M3.

図1において、管理コンピュータ3は、部品実装装置M1~M3に対して実装基板の生産に必要なプログラムやデータの送信などの処理を実行する。また、管理コンピュータ3は、部品実装装置M1~M3から通信ネットワーク2を介して送信される部品実装装置M1~M3が備える各種デバイスの稼働状況などを収集して、デバイスが正常状態であるか、近いうちに不良になる可能性がある不調状態であるかを監視する。 In FIG. 1, the management computer 3 executes processing such as transmission of programs and data necessary for production of mounted boards to the component mounting apparatuses M1 to M3. In addition, the management computer 3 collects the operation statuses of various devices provided in the component mounting apparatuses M1 to M3, which are transmitted from the component mounting apparatuses M1 to M3 via the communication network 2, and determines whether the devices are in a normal state. Monitor if it is in an unhealthy state that is likely to become defective in the near future.

図1において、管理コンピュータ3は、通信ネットワーク2とは異なる上位通信ネットワーク4によって他の部品実装ラインL2,L3、部品実装ラインL1~L3で共通のデータなどを管理する上位コンピュータ5と接続されており、相互にデータの送受信を行うことができる。 In FIG. 1, a management computer 3 is connected to a host computer 5 that manages data common to other component mounting lines L2 and L3 and component mounting lines L1 to L3 via a host communication network 4 different from the communication network 2. and can send and receive data to each other.

次に図2を参照して、部品実装装置M1~M3の構成を説明する。部品実装装置M1~M3は同様の構成をしており、以下、部品実装装置M1について説明する。部品実装装置M1は、基板Bに部品Dを装着する機能を有している。基台11の上面に設けられた基板搬送機構12は、基板BをX方向に搬送して位置決めして保持する。ヘッド移動機構13は、プレート13aを介して装着された実装ヘッド14をX方向、Y方向に移動させる。実装ヘッド14の下端には、吸着ノズル15が装着される。 Next, referring to FIG. 2, the configuration of component mounting apparatuses M1 to M3 will be described. The component mounting apparatuses M1 to M3 have the same configuration, and the component mounting apparatus M1 will be described below. The component mounting apparatus M1 has a function of mounting a component D on a board B. FIG. A substrate transport mechanism 12 provided on the upper surface of the base 11 transports the substrate B in the X direction, positions it, and holds it. The head moving mechanism 13 moves the mounting head 14 mounted via the plate 13a in the X direction and the Y direction. A suction nozzle 15 is attached to the lower end of the mounting head 14 .

基板搬送機構12の側方で基台11に結合された台車17の上部には、複数のテープフィーダ16がX方向に並んで取り付けられている。台車17には、部品実装装置M1に供給される部品Dを格納するキャリアテープ18が、リール19に巻回収納されて保持されている。テープフィーダ16に挿入されたキャリアテープ18は、テープフィーダ16に内蔵されるテープ送り機構16aにより一定間隔でピッチ送りされる。これにより、キャリアテープ18が格納する部品Dがテープフィーダ16の上部に設けられた部品供給口16bに順に供給される。 A plurality of tape feeders 16 are mounted side by side in the X direction on the top of a carriage 17 coupled to the base 11 on the side of the substrate transport mechanism 12 . A carrier tape 18 for storing components D to be supplied to the component mounting apparatus M<b>1 is wound around a reel 19 and held on the carriage 17 . The carrier tape 18 inserted into the tape feeder 16 is pitch-fed by a tape feeding mechanism 16a built in the tape feeder 16 at regular intervals. As a result, the components D stored in the carrier tape 18 are sequentially supplied to the component supply port 16b provided at the top of the tape feeder 16. As shown in FIG.

図2において、部品実装装置M1は、基板搬送機構12、ヘッド移動機構13、実装ヘッド14、テープフィーダ16を制御して、部品実装動作を実行させる制御部Cを備えている。部品実装動作において、制御部Cは、ヘッド移動機構13によって実装ヘッド14をテープフィーダ16の上方に移動させ、テープフィーダ16が部品供給口16bに供給した部品Dを吸着ノズル15により真空吸着してピックアップさせる(矢印a)。次いで制御部Cは、ヘッド移動機構13によって部品Dを保持した実装ヘッド14を基板搬送機構12に保持させた基板Bの上方に移動させ、基板B上の所定の部品装着位置Baに部品Dを実装させる(矢印b)。 In FIG. 2, the component mounting apparatus M1 includes a control unit C that controls the substrate transport mechanism 12, the head moving mechanism 13, the mounting head 14, and the tape feeder 16 to perform the component mounting operation. In the component mounting operation, the controller C causes the head moving mechanism 13 to move the mounting head 14 above the tape feeder 16, and the suction nozzle 15 vacuum-sucks the component D supplied from the tape feeder 16 to the component supply port 16b. Pick up (arrow a). Next, the control unit C causes the head moving mechanism 13 to move the mounting head 14 holding the component D above the substrate B held by the substrate transport mechanism 12, and the component D is placed on the predetermined component mounting position Ba on the substrate B. (Arrow b).

図2において、実装ヘッド14は、吸着ノズル15が部品Dを真空吸着する際の真空度を計測する真空センサ14aを備えている。真空センサ14aによる部品保持動作時の吸着ノズル15の真空度の計測結果より、吸着ミス(吸着エラー)の発生の有無を検出することができる。すなわち、吸着ノズル15が部品Dを正常に吸着すると真空度が所定値より小さくなり、吸着ノズル15が部品Dを保持できなかったり異常な姿勢で吸着したりすると真空度が所定値まで下がらない。そこで、制御部Cは、計測された真空度を所定値と比較することにより吸着ミスを検出することができる。 In FIG. 2, the mounting head 14 has a vacuum sensor 14a for measuring the degree of vacuum when the suction nozzle 15 vacuum-sucks the component D. As shown in FIG. It is possible to detect the presence or absence of a suction failure (suction error) from the measurement result of the degree of vacuum of the suction nozzle 15 during component holding operation by the vacuum sensor 14a. That is, when the suction nozzle 15 normally picks up the component D, the degree of vacuum becomes smaller than a predetermined value, and when the suction nozzle 15 cannot hold the component D or picks up the component D in an abnormal posture, the degree of vacuum does not decrease to the predetermined value. Therefore, the controller C can detect a suction error by comparing the measured degree of vacuum with a predetermined value.

図2において、プレート13aには、光軸方向を下方に向けた基板認識カメラ20が取り付けられている。基板認識カメラ20は、ヘッド移動機構13により実装ヘッド14と一体的にX方向、Y方向に移動する。基板認識カメラ20は、テープフィーダ16の上方に移動して、部品供給口16bの供給位置に供給された部品Dを撮像する。 In FIG. 2, a substrate recognition camera 20 is attached to the plate 13a with its optical axis directed downward. The board recognition camera 20 is moved integrally with the mounting head 14 in the X direction and the Y direction by the head moving mechanism 13 . The board recognition camera 20 moves above the tape feeder 16 and images the component D supplied to the supply position of the component supply port 16b.

制御部Cは、撮像結果を画像認識して、期待される正規の供給位置から実際に供給された部品Dがずれた供給位置ずれ量を算出する。また、制御部Cは、算出した供給位置ずれ量に基づいて、吸着ノズル15が部品Dをピックアップする際の吸着位置(実装ヘッド14の停止位置)、またはテープフィーダ16の部品Dの供給位置を補正する。また、制御部Cは、撮像結果を画像認識して、部品供給口16bに部品Dが供給されずに部品Dを認識することができない供給エラーも検出する。 The control unit C performs image recognition on the imaging result, and calculates the supply position deviation amount by which the actually supplied component D is shifted from the expected normal supply position. Further, based on the calculated supply position deviation amount, the control unit C determines the suction position (stop position of the mounting head 14) when the suction nozzle 15 picks up the component D, or the supply position of the component D of the tape feeder 16. to correct. Further, the control unit C performs image recognition on the imaging result, and detects a supply error in which the component D cannot be recognized because the component D is not supplied to the component supply port 16b.

図2において、基板搬送機構12とテープフィーダ16の間の基台11の上面には、光軸方向を上方に向けた部品認識カメラ21が取り付けられている。部品認識カメラ21は、部品Dをピックアップした吸着ノズル15が上方を通過する際に、吸着ノズル15に保持される部品D(または、部品Dを保持できなかった吸着ノズル15)の下面を撮像する。 In FIG. 2, a component recognition camera 21 is mounted on the upper surface of the base 11 between the board transfer mechanism 12 and the tape feeder 16, with the optical axis directed upward. The component recognition camera 21 images the lower surface of the component D held by the suction nozzle 15 (or the suction nozzle 15 that could not hold the component D) when the suction nozzle 15 that picked up the component D passes above. .

制御部Cは、撮像結果を画像認識して、吸着ノズル15に保持される部品Dの姿勢が異常である、または吸着ノズル15に保持されているはずの部品Dを認識することができない認識エラーが発生していないかを判断する。また、制御部Cは、撮像結果を画像認識して、期待される正規の吸着位置から吸着ノズル15に実際に吸着された部品Dがずれた吸着位置ずれ量を算出する。制御部Cは、基板B上の部品装着位置Baに部品Dを実装する際、吸着位置ずれ量に基づいて装着位置補正、装着姿勢補正を実行する。 The control unit C performs image recognition on the imaging result, and recognizes that the posture of the component D held by the suction nozzle 15 is abnormal, or that the component D that should be held by the suction nozzle 15 cannot be recognized. is not occurring. Further, the control unit C performs image recognition on the imaging result, and calculates the suction position deviation amount by which the component D actually picked up by the suction nozzle 15 is shifted from the expected normal suction position. When the component D is mounted on the component mounting position Ba on the board B, the control unit C performs mounting position correction and mounting posture correction based on the amount of deviation of the suction position.

このように、部品実装装置M1は、デバイスである(フィーダ)テープフィーダ16、実装ヘッド14、ノズル(吸着ノズル15)を備えている。そして、制御部Cは、検出した吸着エラー、供給エラー、認識エラーの発生状況、算出した供給位置ずれ量、吸着ノズル15による部品Dの吸着位置の補正量、吸着位置ずれ量、装着位置補正量、装着姿勢補正量などを、デバイスの状況(正常、異常など)と関連付けて管理コンピュータ3に送信する。また、制御部Cは、真空センサ14aによる真空度など、部品実装装置M1の各機構が備える各種センサの計測結果を、デバイスの状況(正常、異常など)と関連付けて管理コンピュータ3に送信する。このように、管理コンピュータ3には、部品実装装置M1~M3の稼働状況に関する大量のデータが逐次送信される。 As described above, the component mounting apparatus M1 includes a device (feeder) tape feeder 16, a mounting head 14, and a nozzle (suction nozzle 15). Then, the controller C controls the detected suction error, supply error, occurrence status of the recognition error, calculated supply position deviation amount, correction amount of the suction position of the component D by the suction nozzle 15, suction position deviation amount, and mounting position correction amount. , correction amount of wearing posture, etc. are transmitted to the management computer 3 in association with the status of the device (normal, abnormal, etc.). In addition, the control unit C associates the measurement results of various sensors provided in each mechanism of the component mounting apparatus M1, such as the degree of vacuum by the vacuum sensor 14a, with the status of the device (normal, abnormal, etc.) and transmits them to the management computer 3. In this manner, a large amount of data regarding the operating status of the component mounting apparatuses M1 to M3 is sequentially transmitted to the management computer 3. FIG.

次に図3を参照して、管理コンピュータ3の構成について説明する。管理コンピュータ3は、処理部30、記憶装置である収集データ記憶部37、学習データセット記憶部39、モデル記憶部41の他、ライン内通信部43、上位通信部44、表示部45を備えている。処理部30はCPUなどのデータ処理装置であり、内部処理部としてデータ収集部31、学習データセット作成部32、検知モデル作成部33、判定部34、通知処理部35、更新部36を備えている。 Next, referring to FIG. 3, the configuration of the management computer 3 will be described. The management computer 3 includes a processing unit 30, a collected data storage unit 37 which is a storage device, a learning data set storage unit 39, a model storage unit 41, an in-line communication unit 43, a higher-level communication unit 44, and a display unit 45. there is The processing unit 30 is a data processing device such as a CPU, and includes a data collection unit 31, a learning data set creation unit 32, a detection model creation unit 33, a determination unit 34, a notification processing unit 35, and an update unit 36 as internal processing units. there is

ライン内通信部43は通信インターフェースであり、通信ネットワーク2を介して部品実装装置M1~M3との間でデータの送受信を行う。上位通信部44は通信インターフェースであり、上位通信ネットワーク4を介して他の部品実装ラインL2,L3、上位コンピュータ5との間でデータの送受信を行う。表示部45は、液晶ディスプレイなどの表示装置である。 The in-line communication unit 43 is a communication interface, and transmits and receives data to and from the component mounting apparatuses M1 to M3 via the communication network 2. FIG. The host communication unit 44 is a communication interface, and transmits and receives data to and from other component mounting lines L2 and L3 and the host computer 5 via the host communication network 4 . The display unit 45 is a display device such as a liquid crystal display.

図3において、データ収集部31は、部品実装装置M1~M3の稼働状況に関するデータを収集して、稼働状況データ38として収集データ記憶部37に記憶させる。すなわち、データ収集部31は、部品実装装置M1~M3を含む部品実装ラインL1から稼働状況データ38を収集する。稼働状況データ38には、部品実装動作におけるエラーに関する情報、各種補正値と補正後の部品実装動作の状況(正常、異常など)とを関連付けた情報、部品実装装置M1~M3が備える各種センサの計測結果と計測前後の部品実装動作の状況とを関連付けた情報などが含まれる。 In FIG. 3, the data collection unit 31 collects data about the operating status of the component mounting apparatuses M1 to M3 and stores the collected data as the operating status data 38 in the collected data storage unit 37 . That is, the data collection unit 31 collects the operating status data 38 from the component mounting line L1 including the component mounting apparatuses M1 to M3. The operating status data 38 includes information about errors in the component mounting operation, information relating various correction values to the status of the component mounting operation after correction (normal, abnormal, etc.), and various sensors provided in the component mounting apparatuses M1 to M3. It includes information that associates the measurement result with the status of the component mounting operation before and after the measurement.

図3において、学習データセット作成部32は、稼働状況データ38に基づいて、部品実装装置M1~M3が備えるデバイスの特徴量データを稼働状況が正常の区間と不調の区間に分別し、正常ラベルまたは不調ラベルを付したデバイス状況データ40を作成してデバイス毎に学習データセット記憶部39に記憶させる。 In FIG. 3, the learning data set creation unit 32 classifies the feature amount data of the devices provided in the component mounting apparatuses M1 to M3 based on the operation status data 38 into normal operation status sections and bad operation status sections. Alternatively, the device status data 40 with the malfunction label is created and stored in the learning data set storage unit 39 for each device.

ここで図4を参照して、稼働状況データ38に含まれる特徴量データの例と、学習データセット作成部32によるデバイス状況データ40(学習データセット)の作成手順について説明する。図4は、一の吸着ノズル15に関連する吸着エラーのエラー率と、その吸着ノズル15が装着された実装ヘッド14の真空センサ14aが計測した吸着ノズル15の真空度の平均値を、稼働時間における遷移として表している。ここで、エラー率は1時間あたりのエラー数、真空度の平均値は真空度の1時間の平均である。 Here, with reference to FIG. 4, an example of feature amount data included in the operating status data 38 and a procedure for creating the device status data 40 (learning data set) by the learning data set creating unit 32 will be described. FIG. 4 shows the error rate of suction errors related to one suction nozzle 15 and the average value of the degree of vacuum of the suction nozzle 15 measured by the vacuum sensor 14a of the mounting head 14 on which the suction nozzle 15 is mounted, over the operating time. is represented as a transition in Here, the error rate is the number of errors per hour, and the average vacuum degree is the average vacuum degree for one hour.

図4に示すように、吸着エラーのエラー率には、予め停止閾値と警告閾値が設定されている。部品実装装置M1~M3は、吸着ノズル15が部品Dを正常に吸着できていない吸着エラーが発生したと判断すると、テープフィーダ16から新しい部品Dを取り出して保持する部品保持動作のリトライを自動的に実行する。 As shown in FIG. 4, a stop threshold value and a warning threshold value are set in advance for the error rate of adsorption errors. When the component mounting apparatuses M1 to M3 determine that a suction error has occurred in which the suction nozzle 15 cannot normally pick up the component D, the component mounting devices M1 to M3 automatically retry the component holding operation of taking out and holding a new component D from the tape feeder 16. run to

停止閾値は、この部品保持動作のリトライが頻発するため、実装基板の製造を停止したメンテナンスが必要となるエラー率である。警告閾値は、部品保持動作のリトライで自動的に問題が解消するため現時点で実装基板の製造を停止したメンテナンスが必要ではないが、段取り替えなどで装置を停止する機会にメンテナンスするように作業者に警告を報知するエラー率である。図4では、13時から14時にエラー率が警告閾値を超過し、15時にエラー率が停止閾値を超過しており、その後、メンテナンスが実行されている。 The stop threshold is an error rate that requires maintenance by stopping the manufacturing of the mounting board because the retry of the component holding operation occurs frequently. As for the warning threshold, since the problem is automatically resolved by retrying the part holding operation, it is not necessary to stop manufacturing the mounting board at the present time, but the operator is instructed to perform maintenance when the equipment is stopped due to setup changes, etc. is the error rate at which a warning is issued to In FIG. 4, the error rate exceeds the warning threshold from 13:00 to 14:00, and the error rate exceeds the stop threshold at 15:00, after which maintenance is performed.

図4において、学習データセットを作成する際、まず、学習データセット作成部32は、稼働状況データ38に含まれる特徴量データである吸着エラーのエラー数と真空センサ14aの計測結果を統計処理してエラー率と真空度の平均値を算出する。次いで学習データセット作成部32は、エラー率が警告閾値より低い10時から12時を正常の区間と分別し、エラー率が警告閾値以上で停止閾値より低い13時から14時を不調の区間と分別する。 In FIG. 4, when creating a learning data set, first, the learning data set creation unit 32 statistically processes the number of adsorption errors, which are feature data included in the operation status data 38, and the measurement results of the vacuum sensor 14a. Calculate the average value of the error rate and degree of vacuum. Next, the learning data set creation unit 32 classifies the period from 10:00 to 12:00 when the error rate is lower than the warning threshold as a normal section, and classifies the section from 13:00 to 14:00 when the error rate is equal to or higher than the warning threshold and lower than the stop threshold as a bad section. Separate.

次いで学習データセット作成部32は、稼働状況データ38に含まれる10時から12時の吸着エラーのエラー数と真空度を抽出して、正常ラベルを付したデバイス状況データ40を作成する。また、学習データセット作成部32は、稼働状況データ38に含まれる13時から14時の吸着エラーのエラー数と真空度を抽出して、不調ラベルを付したデバイス状況データ40を作成する。このように、学習データセット作成部32は、なくとも正常時の特徴量データおよび不調時の特徴量データを含む学習データセット(デバイス状況データ40)を作成する。 Next, the learning data set creation unit 32 extracts the number of suction errors and the degree of vacuum from 10:00 to 12:00 included in the operation status data 38, and creates device status data 40 labeled as normal. The learning data set creation unit 32 also extracts the number of suction errors and the degree of vacuum from 13:00 to 14:00 included in the operation status data 38, and creates device status data 40 with a malfunction label attached. In this way, the learning data set creation unit 32 creates a learning data set (device status data 40) that includes at least the feature amount data in the normal state and the feature amount data in the unhealthy state.

図3において、検知モデル作成部33は、デバイス状況データ40に含まれる正常ラベルが付された正常時の特徴量データおよび不調ラベルが付された不調時の特徴量データを用いて後述する検知モデル42を作成してモデル記憶部41に記憶させる。すなわち、検知モデル作成部33は、学習データセット(デバイス状況データ40)を用いて検知モデル42を作成する。 In FIG. 3, the detection model creation unit 33 generates a detection model, which will be described later, by using the normal-labeled feature amount data and the malfunction-labeled feature amount data in the malfunction state, which are included in the device status data 40 . 42 is created and stored in the model storage unit 41 . That is, the detection model creation unit 33 creates the detection model 42 using the learning data set (device status data 40).

判定部34は、検知モデル42に基づいて、データ収集部31によって収集された稼働状況データ38に含まれる1以上の特徴量データの傾向が正常時の特徴量データの傾向から外れているか否かを判定する。判定部34による判定の詳細は、後で説明する。 Based on the detection model 42, the determination unit 34 determines whether or not the tendency of one or more feature amount data included in the operating status data 38 collected by the data collection unit 31 deviates from the tendency of the feature amount data during normal operation. judge. Details of determination by the determination unit 34 will be described later.

通知処理部35は、判定部34が特徴量データの傾向が正常時の傾向から外れていると判定すると、その特徴量データに対応するデバイスが不調であると表示部45に通知させる。すなわち、通知処理部35と表示部45は、判定部34により特徴量データが正常時の特徴量データの傾向から外れていると判定された特徴量に対応する部品実装ラインL1を構成する少なくとも1以上のデバイスが不調であると通知する通知部である。なお、通知処理部35は、作業者が所持する携帯端末(図示省略)に通知するようにしてもよい。 When the determination unit 34 determines that the trend of the feature amount data deviates from the normal trend, the notification processing unit 35 notifies the display unit 45 that the device corresponding to the feature amount data is malfunctioning. That is, the notification processing unit 35 and the display unit 45 are connected to at least one component mounting line L1 corresponding to the feature amount determined by the determination unit 34 that the feature amount data deviates from the tendency of the feature amount data in the normal state. It is a notification unit that notifies that the above device is malfunctioning. Note that the notification processing unit 35 may notify a portable terminal (not shown) possessed by the worker.

ここで図5、図6を参照して、図4に示す稼働状況データ38から作成されたデバイス状況データ40(学習データセット)を用いた検知モデル42の作成の具体例について説明する。図5は、10分間あたりのエラー数であるエラー率と、10分間の平均の真空度の散布図である。図5には、正常ラベルを付された白丸のデータと、不調ラベルが付された黒丸のデータがプロットされている。 Here, a specific example of creating the detection model 42 using the device status data 40 (learning data set) created from the operating status data 38 shown in FIG. 4 will be described with reference to FIGS. 5 and 6. FIG. FIG. 5 is a scatter diagram of the error rate, which is the number of errors per 10 minutes, and the average degree of vacuum for 10 minutes. In FIG. 5, data are plotted in open circles labeled as normal and as black circles labeled as unhealthy.

図5において、検知モデル42を作成する際、まず、検知モデル作成部33は、統計解析などの手法を用いてデバイス状況データ40(学習データセット)を詳細に解析する。この例では、検知モデル作成部33は、デバイス状況データ40に含まれる吸着エラーのエラー数と真空度から、エラー率と真空度の平均値を算出して両者の相関関係を分析している。 In FIG. 5, when creating the detection model 42, the detection model creation unit 33 first analyzes the device status data 40 (learning data set) in detail using a technique such as statistical analysis. In this example, the detection model creating unit 33 calculates the average value of the error rate and the degree of vacuum from the number of adsorption errors and the degree of vacuum included in the device status data 40, and analyzes the correlation between the two.

図5において、エラー率と真空度の間には正の相関があり、真空度が高くなるとエラー率が増加して不調となる傾向がある。さらに、真空度がV1より低い領域のデータには全て正常ラベルが付され、真空度がV2より高い領域のデータには全てが不調ラベルが付されている。そこで、検知モデル作成部33は、真空度がV1より低いと正常、真空度がV2より高いと不調と判定する検知モデル42を作成する(図6)。 In FIG. 5, there is a positive correlation between the error rate and the degree of vacuum, and when the degree of vacuum increases, the error rate increases and there is a tendency to become unsatisfactory. Furthermore, all the data in the regions where the degree of vacuum is lower than V1 are labeled as normal, and the data in the regions where the degree of vacuum is higher than V2 are all labeled as faulty. Therefore, the detection model creation unit 33 creates a detection model 42 that determines normality when the degree of vacuum is lower than V1 and malfunction when the degree of vacuum is higher than V2 (FIG. 6).

図5において、真空度がV1からV2の間は、正常ラベルが付されたデータと不調ラベルが付されたデータが混在している。そこで、検知モデル作成部33は、真空度がV1からV2の間のデータを更に詳細に解析する。解析の結果、真空度の増加率がG1より高いと、全てのデータに不調ラベルが付されていた(図示省略)。そこで、検知モデル作成部33は、真空度がV1からV2の間で、かつ、真空度の増加率がG1より高いと不調と判定する検知モデル42を作成する(図6)。 In FIG. 5, when the degree of vacuum is between V1 and V2, data labeled as normal and data labeled as unhealthy are mixed. Therefore, the detection model creating unit 33 analyzes the data for the degree of vacuum between V1 and V2 in more detail. As a result of the analysis, when the rate of increase in the degree of vacuum was higher than G1, all the data were labeled as bad (not shown). Therefore, the detection model creation unit 33 creates a detection model 42 that determines that the degree of vacuum is between V1 and V2 and the increase rate of the degree of vacuum is higher than G1 (FIG. 6).

次に図6を参照して、検知モデル42に基づく判定部34による不調の判定について説明する。図6に示す検知モデル42は、稼働状況データ38に含まれる真空センサ14aが計測した真空度を特徴量データとして、吸着ノズル15または実装ヘッド14の不調を検知するモデルである。図6に示す検知モデル42において、真空度がV2以上、または、真空度がV1以上かつ真空度の増加率がG1以上の領域、すなわちハッチングされた領域(以下、「不調領域」と称す。)が不調と判定する条件である。 Next, with reference to FIG. 6, the determination of malfunction by the determination unit 34 based on the detection model 42 will be described. A detection model 42 shown in FIG. 6 is a model for detecting a malfunction of the suction nozzle 15 or the mounting head 14 using the degree of vacuum measured by the vacuum sensor 14a included in the operation status data 38 as feature amount data. In the detection model 42 shown in FIG. 6, the area where the degree of vacuum is V2 or more, or the area where the degree of vacuum is V1 or more and the rate of increase of the degree of vacuum is G1 or more, that is, the hatched area (hereinafter referred to as "unsatisfactory area"). is the condition for judging that the condition is not good.

図6において、判定部34は、真空度と真空度の増加率を算出し、算出した真空度と真空度の増加率が図中にハッチングで示す不調領域にあるか否かを判定する。すなわち、算出した真空度と真空度の増加率が不調領域にある場合に、特徴量データが正常時の傾向から外れて吸着ノズル15または実装ヘッド14が不調であると判定する。なお、不調を検知した後、判定部34は、他の検知モデル42に基づいて、不調の原因を絞り込む判定をさらに実行してもよい。 In FIG. 6, the determination unit 34 calculates the degree of vacuum and the rate of increase in the degree of vacuum, and determines whether or not the calculated degree of vacuum and the rate of increase in the degree of vacuum are in a malfunctioning region indicated by hatching in the drawing. That is, when the calculated degree of vacuum and the increase rate of the degree of vacuum are in the malfunctioning region, it is determined that the feature amount data deviates from the normal trend and the suction nozzle 15 or the mounting head 14 is malfunctioning. After detecting the malfunction, the determination unit 34 may further perform determination to narrow down the cause of the malfunction based on another detection model 42 .

図3において、更新部36は、検知モデル42が作成された後、データ収集部31により収集された稼働状況データ38に基づいて、学習データセット(デバイス状況データ40)の内容を更新する。なお、更新部36は、学習データセット作成用として既に収集していた稼働状況データ38の一部と併せて、デバイス状況データ40を更新してもよい。 In FIG. 3, the updating unit 36 updates the content of the learning data set (device status data 40) based on the operation status data 38 collected by the data collecting unit 31 after the detection model 42 is created. Note that the updating unit 36 may update the device status data 40 together with part of the operating status data 38 that has already been collected for creating the learning data set.

更新部36が学習データセット(デバイス状況データ40)を更新すると、検知モデル作成部33は、更新されたデバイス状況データ40を用いて所定のタイミングで検知モデル42を更新する。所定のタイミングは、例えば、1週間毎など所定の間隔、部品実装ラインL1で製造する実装基板の種類を変更する段取り替えの時、部品実装ラインL1の稼働を開始する始業時などであり、状況に応じて適宜設定される。また、吸着エラーが頻発しているが不調として判定されない場合など、検知モデル42の見直しが必要な時に検知モデル42を更新するようにしてもよい。 When the update unit 36 updates the learning data set (device situation data 40), the detection model creation unit 33 uses the updated device situation data 40 to update the detection model 42 at a predetermined timing. The predetermined timing is, for example, a predetermined interval such as once a week, the time of changeover to change the type of mounting substrate manufactured in the component mounting line L1, or the start of work when the component mounting line L1 starts operating. is set as appropriate. Further, the detection model 42 may be updated when it is necessary to review the detection model 42, such as when adsorption errors occur frequently but are not determined to be malfunctioning.

次に図7のフローに沿って、部品実装装置M1~M3を含む部品実装ラインL1を構成するデバイスの不調を検知する部品実装ラインの不調検知方法について説明する。まず、データ収集部31は、部品実装ラインL1から学習データセット作成用のデータを収集する(ST1:第1のデータ収集工程)。収集されたデータは稼働状況データ38として収集データ記憶部37に記憶される。次いで学習データセット作成部32は、稼働状況データ38に基づいて、少なくとも正常時の特徴量データおよび不調時の特徴量データを含む学習データセット(デバイス状況データ40)を作成する(ST2:学習データセット作成工程)。 Next, along with the flow of FIG. 7, a malfunction detection method of a component mounting line for detecting malfunction of devices constituting the component mounting line L1 including the component mounting apparatuses M1 to M3 will be described. First, the data collection unit 31 collects data for creating a learning data set from the component mounting line L1 (ST1: first data collection step). The collected data is stored in the collected data storage unit 37 as the operating status data 38 . Next, the learning data set creation unit 32 creates a learning data set (device status data 40) including at least the feature amount data during normal operation and the feature amount data during malfunction based on the operation status data 38 (ST2: learning data set creation process).

次いで検知モデル作成部33は、学習データセットを用いて検知モデル42を作成する(ST3:検知モデル作成工程)。次いでデータ収集部31は、部品実装ラインL1から不調の判定用の稼働状況データ38を収集する(ST4:第2のデータ収集工程)。なお、判定用のデータは、検知モデル42を作成した後に収集した稼働状況データ38のみの他、学習データセット作成用として既に収集していた稼働状況データ38の一部と併せてもよい。 Next, the detection model creation unit 33 creates the detection model 42 using the learning data set (ST3: detection model creation step). Next, the data collection unit 31 collects the operation status data 38 for determining malfunction from the component mounting line L1 (ST4: second data collection step). The data for judgment may be not only the operation status data 38 collected after the detection model 42 is created, but also part of the operation status data 38 already collected for creating the learning data set.

図7において、次いで検知モデル42を更新するタイミングでない場合(ST5においてNo)、判定部34は、検知モデル42に基づいて、第2のデータ収集工程(ST4)および第1のデータ収集工程において収集された稼働状況データ38に含まれる1以上の特徴量データの傾向が正常時の特徴量データの傾向から外れているか否かを判定する(ST6:判定工程)。正常時の特徴量データの傾向から外れていない場合(ST6においてNo)、第2のデータ収集工程(ST4)に戻って定期的な判定が行われる。 In FIG. 7, if it is not time to update the detection model 42 next (No in ST5), the determination unit 34 collects in the second data collection step (ST4) and the first data collection step based on the detection model 42 It is determined whether or not the tendency of one or more feature amount data included in the obtained operating status data 38 deviates from the tendency of the feature amount data during normal operation (ST6: determination step). If the trend of the feature amount data does not deviate from the normal state (No in ST6), the process returns to the second data collection step (ST4) and periodic determination is performed.

判定工程(ST6)において正常時の特徴量データの傾向から外れていると判定されると(Yes)、通知処理部35は、特徴量データに対応する少なくとも1以上のデバイスが不調であると表示部45に通知させる(ST7:通知工程)。これによって、部品実装ラインL1で実装基板を製造中にデバイスの不調を検知することができる。 If it is determined in the determination step (ST6) that the trend of the feature data is out of the normal state (Yes), the notification processing unit 35 displays that at least one or more devices corresponding to the feature data are malfunctioning. The unit 45 is notified (ST7: notification step). As a result, it is possible to detect a malfunction of the device during manufacturing of the mounting board on the component mounting line L1.

第2のデータ収集工程(ST4)の後に検知モデル42を更新するタイミングになると場合(ST5においてYes)、更新部36は、第2のデータ収集工程(ST4)において収集された稼働状況データ38によって学習データセット(デバイス状況データ40)を更新する(ST8:学習データセット更新工程)。 If it is time to update the detection model 42 after the second data collection step (ST4) (Yes in ST5), the update unit 36 updates the operating status data 38 collected in the second data collection step (ST4). The learning data set (device status data 40) is updated (ST8: learning data set update step).

次いで検知モデル作成工程(ST3)において、更新されたデバイス状況データ40を用いて検知モデル42が作成される。すなわち、学習データセット更新工程(ST8)と検知モデル作成工程(ST3)は、第2のデータ収集工程(ST4)において収集された稼働状況データ38によって検知モデル42を更新する更新工程となる。 Next, in the detection model creation step (ST3), a detection model 42 is created using the updated device status data 40. FIG. That is, the learning data set update step (ST8) and the detection model creation step (ST3) are update steps for updating the detection model 42 with the operating status data 38 collected in the second data collection step (ST4).

上記説明したように、本実施の形態の管理コンピュータ3は、部品実装装置M1~M3を含む部品実装ラインL1から稼働状況データ38を収集するデータ収集部31と、収集された稼働状況データ38に含まれる1以上の特徴量データの傾向が正常時の特徴量データの傾向から外れているか否かを判定する判定部34と、判定部34により正常時の特徴量データの傾向から外れていると判定された特徴量データに対応する部品実装ラインL1を構成する少なくとも1以上のデバイスが不調であると通知する通知部(通知処理部35、表示部45)と、を備える、不調検知システムである。これによって、部品実装ラインL1で実装基板を製造中にデバイスの不調を検知することができる。 As described above, the management computer 3 of the present embodiment includes the data collection unit 31 that collects the operational status data 38 from the component mounting line L1 including the component mounting apparatuses M1 to M3, and the collected operational status data 38. a judgment unit 34 for judging whether or not the tendency of one or more included feature amount data deviates from the tendency of the feature amount data in the normal state; and a notification unit (notification processing unit 35, display unit 45) that notifies that at least one or more devices constituting a component mounting line L1 corresponding to determined feature amount data is malfunctioning. . As a result, it is possible to detect a malfunction of the device during manufacturing of the mounting board on the component mounting line L1.

なお、不調検知システムは、上位コンピュータ5がデータ収集部31、学習データセット作成部32、検知モデル作成部33を備える構成であってもよい。すなわち、上位コンピュータ5が部品実装ラインL1~L3から稼働状況データ38を収集し、デバイス状況データ40(学習データセット)を作成し、検知モデル42を作成する。そして、作成された検知モデル42は部品実装ラインL1~L3が備える管理コンピュータ3に送信され、管理コンピュータ3がデバイスの不調を検出する構成であってもよい。これによって、複数の部品実装ラインL1~L3の稼働状況データ38に基づいて、より詳細な検知モデル42を作成することができ、不調の検知の精度を向上させることができる。 The malfunction detection system may be configured such that the host computer 5 includes the data collection unit 31 , the learning data set creation unit 32 , and the detection model creation unit 33 . That is, the host computer 5 collects the operating status data 38 from the component mounting lines L1 to L3, creates device status data 40 (learning data set), and creates a detection model 42. FIG. Then, the created detection model 42 may be sent to the management computer 3 provided for the component mounting lines L1 to L3, and the management computer 3 may detect malfunction of the device. As a result, it is possible to create a more detailed detection model 42 based on the operating status data 38 of the plurality of component mounting lines L1 to L3, and improve the accuracy of malfunction detection.

本発明の不調検知システムおよび部品実装ラインの不調検知方法は、部品実装ラインで実装基板を製造中にデバイスの不調を検知することができるという効果を有し、部品を基板に実装する分野において有用である。 INDUSTRIAL APPLICABILITY The malfunction detection system and the malfunction detection method for a component mounting line of the present invention have the effect of being able to detect a malfunction of a device during the manufacture of a mounting substrate on a component mounting line, and are useful in the field of mounting components on substrates. is.

3 管理コンピュータ(不調検知システム)
14 実装ヘッド(デバイス)
15 吸着ノズル(デバイス)
16 テープフィーダ(デバイス)
L1 部品実装ライン
M1~M3 部品実装装置
3 Management computer (malfunction detection system)
14 mounting head (device)
15 adsorption nozzle (device)
16 tape feeder (device)
L1 Component mounting line M1~M3 Component mounting equipment

Claims (8)

部品実装装置を含む部品実装ラインを構成するデバイスの稼働状況に関するデータを収集するデータ収集部と、
前記データ収集部により収集されたデータに含まれる1以上の特徴量データの傾向が正常時の特徴量データの傾向から外れているか否かを判定する判定部と、
前記判定部により前記正常時の特徴量データの傾向から外れていると判定された前記特徴量データに対応する少なくとも1以上の前記デバイスが不調であって近いうちに前記デバイスが不良になる可能性があることを通知する通知部と、を備え、
前記デバイスは実装ヘッドまたは吸着ノズルであり、前記判定部は前記特徴量データである真空度と真空度の増加率に基づき判定する、不調検知システム。
a data collection unit that collects data on the operating status of devices that make up a component mounting line including component mounting equipment;
a determination unit that determines whether or not the tendency of one or more feature amount data included in the data collected by the data collection unit deviates from the tendency of the feature amount data in a normal state;
Possibility that at least one or more of the devices corresponding to the feature amount data determined by the determination unit to deviate from the trend of the feature amount data in the normal state are malfunctioning and the devices will become defective in the near future. and a notification unit that notifies that there is
The malfunction detection system , wherein the device is a mounting head or a suction nozzle, and the judgment unit judges based on the degree of vacuum and an increase rate of the degree of vacuum, which are the feature amount data.
前記判定部は、少なくとも正常時の特徴量データおよび不調時の特徴量データを含む学習データセットを用いて作成される検知モデルに基づいて判定を行う、請求項1に記載の不調検知システム。 2. The malfunction detection system according to claim 1, wherein the determination unit performs determination based on a detection model created using a learning data set including at least feature amount data in normal state and feature amount data in malfunction state. 前記データ収集部により収集されたデータによって、前記検知モデルの作成に用いられる前記学習データセットの内容を更新する更新部をさらに備える、請求項2に記載の不調検知システム。 3. The malfunction detection system according to claim 2, further comprising an updating section that updates the content of said learning data set used for creating said detection model, with the data collected by said data collecting section. 前記デバイスは、フィーダ、実装ヘッド及びノズルの少なくともいずれか一つを含む、請求項1から3のいずれかに記載の不調検知システム。 4. The malfunction detection system according to any one of claims 1 to 3, wherein the device includes at least one of a feeder, a mounting head and a nozzle. 部品実装装置を含む部品実装ラインを構成するデバイスの不調を検知する部品実装ラインの不調検知方法であって、
前記部品実装ラインから前記デバイスの稼働状況に関するデータを収集するデータ収集工程と、
前記データ収集工程において収集されたデータに含まれる1以上の特徴量データの傾向が正常時の特徴量データの傾向から外れているか否かを判定する判定工程と、
前記判定工程において前記正常時の特徴量データの傾向から外れていると判定された前記特徴量データに対応する少なくとも1以上の前記デバイスが不調であって近いうちに前記デバイスが不良になる可能性があることを通知する通知工程と、を含み、
前記デバイスは実装ヘッドまたは吸着ノズルであり、前記判定工程において前記特徴量データである真空度と真空度の増加率に基づき判定する、部品実装ラインの不調検知方法。
A malfunction detection method for a component mounting line for detecting a malfunction of a device constituting a component mounting line including a component mounting apparatus, comprising:
a data collection step of collecting data on the operation status of the device from the component mounting line;
a determination step of determining whether or not the trend of one or more feature amount data included in the data collected in the data collection step deviates from the trend of the feature amount data in a normal state;
Possibility that at least one or more of the devices corresponding to the feature amount data determined to deviate from the trend of the feature amount data in the normal state in the determination step is malfunctioning and the device will become defective in the near future. and a notification step for notifying that there is
A malfunction detection method for a component mounting line, wherein the device is a mounting head or a suction nozzle, and in the determination step, determination is made based on the degree of vacuum and an increase rate of the degree of vacuum, which are the feature data.
前記判定工程において、少なくとも正常時の特徴量データおよび不調時の特徴量データを含む学習データセットを用いて作成される検知モデルに基づいて判定が行われる、請求項5に記載の部品実装ラインの不調検知方法。 6. The component mounting line according to claim 5, wherein in the determination step, the determination is performed based on a detection model created using a learning data set including at least feature amount data during normal operation and feature amount data during malfunction. fault detection method. 前記データ収集工程において収集されたデータによって前記検知モデルを更新する更新工程をさらに含む、請求項6に記載の部品実装ラインの不調検知方法。 7. The malfunction detection method for a component mounting line according to claim 6, further comprising an update step of updating said detection model with the data collected in said data collection step. 前記デバイスは、フィーダ、実装ヘッド及びノズルの少なくともいずれか一つを含む、請求項5から7のいずれかに記載の部品実装ラインの不調検知方法。 8. The malfunction detection method for a component mounting line according to claim 5, wherein said device includes at least one of a feeder, a mounting head and a nozzle.
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