JP7249373B2 - 研磨パッド洗浄装置 - Google Patents
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Description
図3は、第1実施例に係る研磨パッド洗浄装置を示した平面図であり、図4は、第1実施例に係る研磨パッド洗浄装置を示した側面図である。
図8は、第2実施例に係る研磨パッド洗浄装置を示した平面図である。
図12は、第3実施例に係る研磨パッド洗浄装置を示した平面図である。
(付記1)
研磨パッドのポアに気体を噴射する第1気体ノズルと、
前記研磨パッドのポアに液体を噴射する第1液体ノズルと、
を含む、研磨パッド洗浄装置。
前記研磨パッドのポアに液体を噴射するために、前記第1液体ノズルに隣接して配置される第2液体ノズルをさらに含む、付記1に記載の研磨パッド洗浄装置。
前記第1液体ノズルと前記第2液体ノズルの間の離隔距離は、前記研磨パッドのポアの入口の直径より大きい、付記2に記載の研磨パッド洗浄装置。
前記研磨パッドのポアに液体を噴射するために、前記第1液体ノズルと前記第2液体ノズルの間に配置される第3液体ノズルをさらに含む、付記2に記載の研磨パッド洗浄装置。
前記第1~第3液体ノズルのそれぞれは、多方向噴射されるように前記研磨パッドの表面に垂直な垂直軸を中心に回転可能である、付記4に記載の研磨パッド洗浄装置。
前記第1液体ノズルは、前記研磨パッドの表面に対して第1傾斜角で配置され、
前記第2液体ノズルは、前記研磨パッドの表面に対して第2傾斜角で配置され、
前記第3液体ノズルは、前記研磨パッドの表面に対して垂直に配置される、
付記5に記載の研磨パッド洗浄装置。
前記研磨パッドのポアに気体を噴射する第2気体ノズルをさらに含む、付記4に記載の研磨パッド洗浄装置。
前記第2気体ノズルは、前記第1気体ノズルよりも前記第1~第3液体ノズルのうちの1つに近く配置される、付記7に記載の研磨パッド洗浄装置。
前記第3液体ノズルは、前記第1気体ノズルと前記第2気体ノズルの間に配置される、付記4に記載の研磨パッド洗浄装置。
前記第1気体ノズルと前記第2気体ノズルの間に前記第1~第3液体ノズルが配置される、付記7に記載の研磨パッド洗浄装置。
前記第1~第3液体ノズルの配置方向は、前記第1及び第2気体ノズルの配置方向と異なる、付記7に記載の研磨パッド洗浄装置。
前記第1及び第2気体ノズル、そして前記第1~第3液体ノズルを支持する少なくとも1つ以上のアームをさらに含む、付記4に記載の研磨パッド洗浄装置。
前記研磨パッドの表面をドレッシングするブラシをさらに含む、付記4に記載の研磨パッド洗浄装置。
前記ブラシは、前記第1気体ノズル及び前記第2気体ノズルのうち少なくとも1つの気体ノズルに隣接して配置される、付記13に記載の研磨パッド洗浄装置。
前記気体は、空気であり、
前記液体は、洗浄水である、
付記1に記載の研磨パッド洗浄装置。
前記第1気体ノズルによって前記気体が噴射されて前記ポア内部が拡張し、
前記第1液体ノズルによって前記液体が拡張された前記ポア内部に噴射され、拡張された前記ポア内部に残留する異物やスラリーが排出される、
付記1に記載の研磨パッド洗浄装置。
定盤と、
前記定盤の上に配置された研磨パッドと、
前記研磨パッドの上に位置する研磨ヘッドであって、当該研磨ヘッドの下部にウェハーが吸着された状態で前記研磨パッドを加圧する研磨ヘッドと、
前記研磨パッドの上にスラリーを噴射するスラリー噴射ノズルと、
研磨パッド洗浄装置と、
を含み、
前記研磨パッド洗浄装置は、
前記研磨パッドのポアに気体を噴射する第1気体ノズルと、
前記研磨パッドのポアに液体を噴射する第1液体ノズルと、
を含む、研磨装置。
Claims (9)
- 研磨パッドのポアに気体を噴射する第1気体ノズルと、
前記第1気体ノズルの後方に設けられ、前記研磨パッドのポアに液体を噴射する第1液体ノズルと、
前記研磨パッドのポアに液体を噴射するために、前記第1液体ノズルに隣接して配置される第2液体ノズルと、
前記研磨パッドのポアに液体を噴射するために、前記第1液体ノズルと前記第2液体ノズルの間に配置される第3液体ノズルと、
前記研磨パッドのポアに気体を噴射する第2気体ノズルと、
前記第1及び第2気体ノズル、そして前記第1~第3液体ノズルを支持する少なくとも1つ以上のアームと、
を含み、
前記第1気体ノズルは、前記気体を噴射して前記ポア内部を拡張させ、
前記第1液体ノズルは、拡張された前記ポア内部に、前記液体を噴射して、拡張された前記ポア内部に残留する異物やスラリーを排出させ、
前記第1~第3液体ノズルは、前記第1気体ノズルと前記第2気体ノズルの間に配置され、前記少なくとも1つ以上のアームは、前記第1気体ノズル、前記第2気体ノズル、前記第1~第3液体ノズルが配置された方向に移動され、
前記少なくとも1つ以上のアームが、前記研磨パッドの第1の側部から第2の側部に移動するとき、前記第1気体ノズルと前記第1から第3液体ノズルにより前記研磨パッドの洗浄が実行され、
前記少なくとも1つ以上のアームが、前記研磨パッドの前記第2の側部から前記第1の側部に移動するとき、前記第2気体ノズルと前記第1から第3液体ノズルにより前記研磨パッドの洗浄が実行される、
研磨パッド洗浄装置。 - 前記第1液体ノズルと前記第2液体ノズルの間の離隔距離は、前記研磨パッドのポアの入口の直径より大きい、請求項1に記載の研磨パッド洗浄装置。
- 前記第1~第3液体ノズルのそれぞれは、多方向噴射されるように前記研磨パッドの表面に垂直な垂直軸を中心に回転可能である、請求項1に記載の研磨パッド洗浄装置。
- 前記第1液体ノズルは、前記研磨パッドの表面に対して第1傾斜角で配置され、
前記第2液体ノズルは、前記研磨パッドの表面に対して第2傾斜角で配置され、
前記第3液体ノズルは、前記研磨パッドの表面に対して垂直に配置される、
請求項3に記載の研磨パッド洗浄装置。 - 前記第2気体ノズルは、前記第1気体ノズルよりも前記第1~第3液体ノズルのうちの1つに近く配置される、請求項1に記載の研磨パッド洗浄装置。
- 前記第1~第3液体ノズルの配置方向は、前記第1及び第2気体ノズルの配置方向と異なる、請求項1に記載の研磨パッド洗浄装置。
- 前記研磨パッドの表面をドレッシングするブラシをさらに含む、請求項1に記載の研磨パッド洗浄装置。
- 前記ブラシは、前記第1気体ノズル及び前記第2気体ノズルのうち少なくとも1つの気体ノズルに隣接して配置される、請求項7に記載の研磨パッド洗浄装置。
- 前記気体は、空気であり、
前記液体は、洗浄水である、
請求項1に記載の研磨パッド洗浄装置。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR10-2020-0161048 | 2020-11-26 | ||
KR1020200161048A KR20220073192A (ko) | 2020-11-26 | 2020-11-26 | 연마 패드 세정 장치 및 연마 장치 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2022084507A JP2022084507A (ja) | 2022-06-07 |
JP7249373B2 true JP7249373B2 (ja) | 2023-03-30 |
Family
ID=81658001
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2021054761A Active JP7249373B2 (ja) | 2020-11-26 | 2021-03-29 | 研磨パッド洗浄装置 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US11780050B2 (ja) |
JP (1) | JP7249373B2 (ja) |
KR (1) | KR20220073192A (ja) |
CN (1) | CN114536213B (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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- 2020-11-26 KR KR1020200161048A patent/KR20220073192A/ko unknown
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- 2021-03-11 US US17/199,163 patent/US11780050B2/en active Active
- 2021-03-15 CN CN202110277797.XA patent/CN114536213B/zh active Active
- 2021-03-29 JP JP2021054761A patent/JP7249373B2/ja active Active
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---|---|
CN114536213B (zh) | 2024-03-08 |
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JP2022084507A (ja) | 2022-06-07 |
KR20220073192A (ko) | 2022-06-03 |
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