JP7123737B2 - 画像処理装置、画像処理方法及びプログラム - Google Patents
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Description
(システム構成図)
図1は、本実施形態に係る、印刷システムの構成の一例を示すブロック図である。図1に示す印刷システム100は、クライアント端末としてのPC110と、画像形成装置としてのプリンタ120とで構成され、LAN等のネットワーク130で相互に接続されている。
図2(a)は、プリンタ100が備える画像処理部125の内部構成の一例を示すブロック図である。画像処理部125は、色変換部201、超低濃度細線補正部202、ガンマ補正部203、スクリーン処理部204、細線用スクリーン処理部205、ハーフトーン画像選択部206を有する。画像処理部125には、レンダリングによって得られたBMPデータとその各画素に対応した属性データが入力される。
次に、印刷システム100におけるPDLデータの作成からレンダリングまでの処理の流れを説明する。図4は、印刷システム100における処理の流れを示すフローチャートである。図4のフローに示す各ステップのうち、S401及びS402はPC110における処理であり、S403~S410はプリンタ120における処理である。
ここで、上述のS407のレンダリング時に起こる本発明の課題、すなわち、ユーザの意図しない超低濃度細線が発生するケースについて確認しておく。ユーザの意図しない超低濃度細線が発生する場合としては、大きく分けて2つのケースがある。
ここでは、前述の図5(a)及び(b)に示した2つの黒矩形オブジェクトの描画を指定するPDLデータがプリンタ120に入力されたとの仮定の下で説明を行うものとする。図6は、図5(b)における破線の枠504で囲まれた範囲に対応する、用紙600上の領域を拡大した図である。この場合、一方の黒矩形オブジェクト501の黒く塗られる部分501’と他方の黒矩形オブジェクト502の黒く塗られる部分502’とが隣合わせに用紙600上に描画され、白い細線503’が形成されることになる。いま、この白い細線503’は、その幅が1画素未満であるものとする。プリンタ120では、上述のとおり、PDLデータを解釈し、アプリケーション上の論理座標からデバイス依存の物理座標に変換する。図7の(a)と(b)は、上記PDLデータを描画したときの結果の上に物理座標を重ねて示した図であり、図5(b)における破線の枠504で囲まれた範囲に対応している。両図において、点線で囲まれた最小単位の正方形が物理座標における1画素を表す。図7(a)では、上述の白い細線503に対応する隙間700は、物理座標における画素境界を表す点線上に存在している。一方、図7(b)において、上述の白い細線503に対応する隙間700’は、画素境界を表す平行な2本の点線の間に存在している。このように、論理座標が僅かでも異なっていると、変換後の物理座標上の位置が変わってしまうことがある。例えば、GDI塗りルールでは、直交する点線同士の交点が、PDLデータによって塗り指定された領域(ここでは黒の矩形領域)に含まれていれば、当該交点が含まれる右下方向の1画素がその塗り値で塗られることになる。言い換えると、物理座標における1画素の左上の頂点が、PDLデータによって塗指定された領域に含まれる場合には、当該画素を塗るという処理を行う。当該画素を例えば、図7(a)における交点701は、塗り指定された黒の矩形領域に含まれていないので、その右下方向の画素702は塗られない。一方、交点701の直下にある交点703は、塗り指定された黒の矩形領域に含まれているので、その右下方向の画素704はPDLデータで指定された塗り値(例えば255)で塗られることになる。以上の塗りルールに基づき、図7(a)及び(b)では、塗り指定された黒の矩形領域に含まれない交点に対し×印、含まれる交点に対し○印が付されている。図7(a)を見ると、隙間700は点線上に存在し、その点線上にある交点705を含む縦に並んだ交点はすべて、PDLデータで塗り指定された黒の矩形領域に含まれていないため、×印が付されている。一方、図7(b)を見ると、隙間700’は点線上には存在せず、上記交点705に対応する交点705’もPDLデータで塗り指定された黒の矩形領域に含まれるため、○印が付されている。図8(a-1)及び(b-1)は、上記図7(a)及び(b)にそれぞれ対応する、物理座標に従ったレンダリング後の画像データを示している。いずれも、○印が付された交点の画素を黒で塗り、×印が付された交点の画素を塗らないという処理を行った結果である。そして、図8(a-2)及び(b-2)はレンダリング時に同時に生成される属性データであり、図8(a-2)は図8(a-1)に対応し、図8(b-2)は図8(b-1)に対応する。なお、図8(a-2)及び(b-2)におけるアルファベットの意味は、N=非描画オブジェクト(背景)、G=図形オブジェクトである。ここでは、説明のためアルファベットで記載しているが、実際の属性データでは、例えば、Nは“0”、Gは“1”といった具合に数値化されて保持される。前述のとおり、PDLデータにおいて2つの黒矩形オブジェクト501及び502は隣合わせで配置され、2つのオブジェクトの間には1画素幅未満の極僅かな隙間があった。しかし、図8(a-1)のレンダリング結果では、当該隙間の幅がデバイス最小解像度である1画素幅にまで拡大している。一方で、図8(b-1)のレンダリング結果では、当該隙間がなくなっている。このように、論理座標が僅かに異なるだけでレンダリング結果に違いが生じることがあるが、同じPDLデータであれば、本来は同じレンダリング結果となることが望ましいといえる。
前述の図9のケースと同様、ページ内に2つの黒矩形オブジェクトを1画素分だけ離して並べて配置し、さらにその隙間部分を埋めるようにLine属性の1画素幅の白い線オブジェクトを配置して描画するPDLデータがプリンタ120に入力された場合を考える。ただし、前述の図9のケースとは、白の線オブジェクトの位置が右方向にわずかにずれており、オブジェクト間の隙間が完全には埋まらない配置となっている点で相違する。図12は、前述の図9に相当する図である。この場合も、一方の黒矩形オブジェクト1201の黒く塗られる部分1201’と他方の黒矩形オブジェクト1202の黒く塗られる部分1202’とが隣合わせに描画され、その隙間部分に、線オブジェクト1203の白く塗られる部分1203’が上書き描画される。ただし、ここでは図示のとおり、僅かに隙間が残るように描画される。なお、図12では、隙間を僅かに残した状態で描画されることが認識しやすいよう、白く塗られる部分1203’を網掛けで表している。
次に、本実施形態の特徴である、超低濃度細線補正部202で実行する超低濃度細線の補正処理(太らせ処理)について、図14のフローチャートに沿って詳しく説明する。ここでは、入力CMYKデータのうちK版についての処理を例に説明を行うものとする。そして、処理対象であるK版のBMPデータ(以下、「Kデータ」と表記)とその属性データが、前述の図8と図11で示したレンダリング結果であったものとする。いま、図15(a-1)が前述の図8(a-1)に対応するKデータであり、同(a-2)が前述の図8(a-2)に対応する属性データである。図8(a-1)における黒画素の部分が図15(a-1)ではK=255、図8(a-1)における白画素の部分が図15(a-1)ではK=0で表されている。説明の便宜上、図15(a-1)及び(a-2)では、図8(a-1)及び(a-2)よりも少し広い範囲を図示している。同様に、図15(b-1)が前述の図8(b-1)に対応するKデータであり、同(b-2)が前述の図8(b-2)に対応する属性データである。さらに、図15(c-1)が前述の図11(a-1)に対応するKデータであり、同(c-2)が前述の図11(a-2)に対応する属性データである。
非描画オブジェクトの細線(背景)であるので、補正対象から除外するべく細線隣接フラグをキャンセル(フラグ値を“0”に変更)
描画オブジェクトの細線であるので、補正対象とするべく細線隣接フラグを維持(フラグ値は“1”のまま)
非描画フラグの値に関係なく、細線隣接フラグを維持(フラグ値は“0”のまま)
なお、本実施形態では、隣接画素補正部216において処理対象画像の各画素値を補正しておき(S1406)、画素選択部217にて細線隣接フラグが“1”の画素についてのみ補正後の画素値を出力するようにしていた(S1407でYes、S1408)。しかし、このような構成に限定されない。例えば、隣接画素補正部216が、細線隣接フラグが“1”の画素についてのみ画素値を補正するような構成を採用してもよい。この場合、画素選択部217を省略することができる。
実施形態1では、超低濃度の細線に隣接する画素のみを太らせ処理における濃度補正の対象画素としていた。次に、超低濃度の細線を構成する画素についても濃度補正の対象とする態様を実施形態2として説明する。なお、実施形態1と共通の内容については説明を省略することとし、以下では、差異点である超低濃度細線補正部の処理について説明を行うものとする。
非描画オブジェクトの超低濃度細線なので、非描画細線フラグの値として肯定を意味する“1”を設定
描画オブジェクトの超低濃度細線なので、非描画細線フラグの値として否定を意味する“0”を設定
非描画フラグの値に関係なく、非描画細線フラグの値として否定を意味する“0”を設定
次に、S2111では、フラグ統合部2003が、注目画素に対し、細線隣接フラグ(S2105)と非描画細線フラグ(S2109)とに基づき、両フラグを統合したフラグ(以下、「統合フラグ」と呼ぶ。)を設定する。この統合フラグでは、非描画の超低濃度細線画素の場合に“2”、超低濃度細線隣接画素の場合に“1”、その他の画素の場合に“0”が、以下の基準に従って設定される。
超低濃度細線隣接画素であり、非描画細線フラグの値に関係なく、統合フラグの値を“1”に設定。
非描画の超低濃度細線画素であり、統合フラグの値を“2”に設定
いずれの補正も必要のない画素であり、統合フラグの値を“0”に設定
本発明は、上述の実施形態の1以上の機能を実現するプログラムを、ネットワーク又は記憶媒体を介してシステム又は装置に供給し、そのシステム又は装置のコンピュータにおける1つ以上のプロセッサーがプログラムを読出し実行する処理でも実現可能である。また、1以上の機能を実現する回路(例えば、ASIC)によっても実現可能である。
Claims (15)
- 画像データから、所定幅以下の幅を有し且つ所定濃度以下の濃度を有する細線を検出する検出手段と、
前記検出手段が検出した細線が、描画指示に従って描画される描画オブジェクトの細線であるか、描画指示がなされていない非描画領域において検出された細線であるかを判定する判定手段と、
前記検出手段が検出した細線が、描画指示に従って描画される描画オブジェクトの細線であると前記判定手段によって判定された場合には該細線の幅を拡げる処理である太らせ処理を行い、前記検出手段が検出した細線が、描画指示がなされていない非描画領域において検出された細線であると前記判定手段によって判定された場合には該細線に対する前記太らせ処理を行わない処理手段と
を有することを特徴とする画像処理装置。 - 画像データを構成する各画素のうち、所定幅以下の幅を有し且つ所定濃度以下の濃度を有する細線に隣接する隣接画素を特定する特定手段と、
特定された前記隣接画素の濃度を下げる第1の補正処理を行う第1の補正手段と、
を備え、
前記細線が非描画領域の細線である場合には、前記隣接画素について前記第1の補正処理を行う前の前記画像データが出力される
ことを特徴とする画像処理装置。 - 前記画像データはビットマップ形式の多値画像データであり、
前記多値画像データから、その濃度が前記所定濃度以下の領域と前記所定濃度を超える領域とを示す2値画像データを生成する二値化手段をさらに備え、
前記特定手段は、前記2値画像データを用いて、前記隣接画素を特定することを特徴とする請求項2に記載の画像処理装置。 - 前記特定手段は、前記2値画像データに対し、前記所定濃度以下の濃度を持つ画素と前記所定濃度を超える濃度を持つ画素との組み合わせからなる所定のパターンとのマッチング処理を行なって、前記隣接画素を特定することを特徴とする請求項3に記載の画像処理装置。
- 前記特定手段は、
前記マッチング処理において一致したパターンの情報に基づき、細線を構成する細線画素を特定し、
特定した前記細線画素の位置情報、及び、前記各画素のオブジェクト属性を示す属性データに基づいて、前記非描画領域の細線を特定する
ことを特徴とする請求項4に記載の画像処理装置。 - 前記第1の補正手段は、前記多値画像データの各画素に対して前記第1の補正処理を行い、
前記細線が非描画オブジェクトの細線である場合、前記隣接画素については、前記第1の補正処理を行った後の多値画像データに代えて、前記第1の補正処理を行う前の多値画像データが出力される
ことを特徴とする請求項3乃至5のいずれか1項に記載の画像処理装置。 - 前記特定手段は、
前記多値画像データの各画素について、前記隣接画素であるか否かを示す第1のフラグを設定し、
前記多値画像データの各画素が前記細線を構成する細線画素である場合、当該画素が非描画領域の画素であるか否かを示す第2のフラグを設定し、
前記隣接画素について、
前記第1のフラグ及び前記第2のフラグがいずれも肯定を意味する値を有している場合は、前記第1の補正処理を行う前の多値画像データが出力され、
前記第1のフラグが肯定を意味する値を有し、かつ、前記第2のフラグが否定を意味する値を有している場合は、前記第1の補正処理を行った後の多値画像データが出力される、
ことを特徴とする請求項6に記載の画像処理装置。 - 前記第1の補正手段は、前記細線が非描画領域の細線である場合、前記隣接画素についての前記第1の補正処理を行わないことを特徴とする請求項3乃至5のいずれか1項に記載の画像処理装置。
- 前記特定手段によって特定された前記非描画領域の前記細線を構成する前記細線画素に対し、濃度を上げる第2の補正処理を行う第2の補正手段をさらに備えることを特徴とする、請求項5に記載の画像処理装置。
- PDLデータを解釈して、前記画像データを生成するレンダリング手段と、
前記PDLデータが所定のPDL種である場合に働く線幅調整機能を有効にするかどうかを設定する設定手段と、
をさらに備え、
前記特定手段及び前記第1の補正手段は、前記設定手段にて前記線幅調整機能が有効に設定されている場合に動作する
ことを特徴とする請求項2乃至9のいずれか1項に記載の画像処理装置。 - PDLデータを解釈して、前記画像データを生成するレンダリング手段をさらに備え、 前記特定手段及び前記第1の補正手段は、所定のPDL種である場合に働く線幅調整機能が前記PDLデータに含まれるPDLコマンドにて有効に設定されている場合に動作する
ことを特徴とする請求項2乃至9のいずれか1項に記載の画像処理装置。 - PDLデータを解釈して、前記画像データを生成するレンダリング手段と、
前記PDLデータが所定のPDL種である場合に働く線幅調整機能を有効にするかどうかを設定する設定手段と、
をさらに備え、
前記検出手段、前記判定手段及び前記処理手段は、前記設定手段にて前記線幅調整機能が有効に設定されている場合に動作する
ことを特徴とする請求項1に記載の画像処理装置。 - PDLデータを解釈して、前記画像データを生成するレンダリング手段をさらに備え、
前記検出手段、前記判定手段及び前記処理手段は、所定のPDL種である場合に働く線幅調整機能が前記PDLデータに含まれるPDLコマンドにて有効に設定されている場合に動作する
ことを特徴とする請求項1に記載の画像処理装置。 - 画像データから、所定幅以下の幅を有し且つ所定濃度以下の濃度を有する細線を検出する検出ステップと、
前記検出ステップで検出された細線が、描画指示に従って描画される描画オブジェクトの細線であるか、描画指示がなされていない非描画領域において検出された細線であるかを判定する判定ステップと、
前記検出ステップで検出された細線が、描画指示に従って描画される描画オブジェクトの細線であると前記判定ステップで判定された場合には該細線の幅を拡げる処理である太らせ処理を行い、前記検出ステップで検出された細線が、描画指示がなされていない非描画領域において検出された細線であると前記判定ステップで判定された場合には該細線に対する前記太らせ処理を行わない処理ステップと
を有することを特徴とする画像処理方法。 - コンピュータを、請求項1乃至13のいずれか1項に記載の画像処理装置として機能させるためのプログラム。
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