JP7179722B2 - 製造プロセスの監視方法、系統的依存性の間接的な推定方法、品質の適合方法、製造プロセスの開始方法、押出製品の製造方法、および押出製品の製造システム - Google Patents
製造プロセスの監視方法、系統的依存性の間接的な推定方法、品質の適合方法、製造プロセスの開始方法、押出製品の製造方法、および押出製品の製造システム Download PDFInfo
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- G05B23/0227—Qualitative history assessment, whereby the type of data acted upon, e.g. waveforms, images or patterns, is not relevant, e.g. rule based assessment; if-then decisions
- G05B23/0235—Qualitative history assessment, whereby the type of data acted upon, e.g. waveforms, images or patterns, is not relevant, e.g. rule based assessment; if-then decisions based on a comparison with predetermined threshold or range, e.g. "classical methods", carried out during normal operation; threshold adaptation or choice; when or how to compare with the threshold
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Description
2 製造設備
3 データ取得および評価ユニット
4 データベース
5 設定パラメータ測定システム
6 プロセス変数測定システム
7 特性測定システム
8 押出製品
9 データ接続
10 データ接続
11 データ接続
12 データ接続
20 設定パラメータ
21 設定パラメータ
22 設定パラメータ
23 設定パラメータセンサおよび設定パラメータエンコーダ
24 データ接続
25 設定パラメータセンサおよび設定パラメータエンコーダ
26 データ接続
27 設定パラメータセンサおよび設定パラメータエンコーダ
28 データ接続
30 プロセス変数
31 プロセス変数
32 プロセス変数
33 プロセス変数センサ
34 データ接続
35 プロセス変数センサ
36 データ接続
37 プロセス変数センサ
38 データ接続
40 プロセス変数気温
41 プロセス変数空気湿度
42 プロセス変数気圧
43 プロセス変数センサ
44 データ接続
45 プロセス変数センサ
46 データ接続
47 プロセス変数センサ
48 データ接続
50 特性
51 特性
52 特性
53 特性センサ
54 データ接続
55 特性センサ
56 データ接続
57 特性センサ
58 データ接続
60 データ接続
61 データ接続
62 データ接続
Claims (20)
- 製造設備によって押出製品の製造プロセスを監視する方法であって、
測定値の一つである前記製造プロセスのプロセス変数は、センサによって決定され、このようにして取得された測定値は、測定値のあらかじめ定義された目標値と比較される方法において、
設定パラメータは、決定され、前記押出製品の製造からの前記製造設備のこのように取得された設定パラメータ実際値は、あらかじめ定義された設定パラメータの目標値と比較され、
設定パラメータの目標値からの設定パラメータ実際値の偏差、および測定値の目標値からの測定値の偏差は、指示され、
設定パラメータの目標値および測定値のズレ目標値は、正常範囲、警告範囲、および警報範囲の形で規定され、警告範囲は、正常範囲よりも大きく、かつ警報範囲は、警告範囲よりも大きく、
設定パラメータの目標値からの少なくとも設定パラメータ実際値の偏差、および測定値の目標値からの測定値の偏差の指示は、設定パラメータの目標値の範囲、および測定値の目標値の範囲に対応し、正常状態は、設定パラメータ実際値および測定された実際値が正常範囲内にある場合に指示され、警告状態は、設定パラメータ実際値および測定された実際値が警告範囲内にかつ正常範囲外にある場合に指示され、警報状態は、設定パラメータ実際値および測定された実際値が警報範囲内にかつ警告範囲外である場合に指示されることを特徴とする、方法。 - 設定パラメータの目標値および測定値の目標値は、製造プロセス開発パラメータに基づいて規定されることを特徴とする、請求項1に記載の方法。
- 測定値の一つである前記製造プロセスのプロセス値は、センサによって決定され、このようにして取得された測定値の一つであるプロセス値は、あらかじめ定義されたプロセス目標値と比較され、
設定パラメータは、決定され、前記押出製品の製造からの前記製造設備のこのように取得された設定パラメータ実際値は、あらかじめ定義された設定パラメータの目標値と比較されることができ、
設定パラメータの目標値からの少なくとも設定パラメータ実際値の偏差、および測定値の目標値からの測定値の偏差は、指示され、
設定パラメータの目標値、および定常もしくは準定常的な製造プロセスの測定値の目標値は、規定され、かつ設定パラメータの目標値または測定値の目標値は、前記製造プロセスの始動後に同時に前記製造プロセス中に規定されることを特徴とする、請求項1に記載の方法。 - 設定パラメータの目標値および測定値のズレ目標値は、機械のオペレータによって前記製造プロセス中にあらかじめ規定されることを特徴とする、請求項1から3のいずれか一項に記載の方法。
- 設定パラメータの目標値および測定値のズレ目標値は、データ処理および評価ユニットによってあらかじめ規定されることを特徴とする、請求項1から4のいずれか一項に記載の方法。
- 設定パラメータの目標値および測定値のズレ目標値は、前記押出製品の配合を用いて選択されることを特徴とする、請求項1から5のいずれか一項に記載の方法。
- 設定パラメータの実際値および測定値および特性値および設定パラメータの目標値および測定値の目標値および特性目標値、および正常範囲、設定パラメータの目標値の範囲および測定値の目標値のおよび特性目標値の範囲、および警告範囲、設定パラメータの目標値の範囲および測定値の目標値のおよび特性目標値の範囲、および警報範囲、設定パラメータの目標値の範囲および測定値の目標値のおよび特性目標値の範囲は、データ処理および評価ユニットに、およびデータベースに格納されることを特徴とする、請求項1から6のいずれか一項に記載の方法。
- 設定パラメータの実際値および測定値および特性値および設定パラメータの目標値および測定値の目標値および特性目標値、および正常範囲、設定パラメータの目標値の範囲および測定値の目標値のおよび特性目標値の範囲、および警告範囲、設定パラメータの目標値の範囲および測定値の目標値のおよび特性目標値の範囲、および警報範囲、設定パラメータの目標値の範囲および測定値の目標値のおよび特性目標値の範囲は、データベースに格納され、既存のデータベースは、連続的に拡張されることを特徴とする、請求項1から7のいずれか一項に記載の方法。
- 設定パラメータの実際値および測定値および特性値および設定パラメータの目標値および測定値の目標値および特性目標値、および正常範囲、設定パラメータの目標値の範囲および測定値の目標値のおよび特性目標値の範囲、および警告範囲、設定パラメータの目標値の範囲および測定値の目標値のおよび特性目標値の範囲、および警報範囲、設定パラメータの目標値の範囲および測定値の目標値のおよび特性目標値の範囲は、データベースに格納され、前記データベースは、1つの押出製品を製造するための特定の製造設備のデータのみを含むことを特徴とする、請求項1から8のいずれか一項に記載の方法。
- 設定パラメータの実際値および測定値および特性値および設定パラメータの目標値および測定値の目標値および特性目標値、および正常範囲、設定パラメータの目標値の範囲および測定値の目標値のおよび特性目標値の範囲、および警告範囲、設定パラメータの目標値の範囲および測定値の目標値のおよび特性目標値の範囲、および警報範囲、設定パラメータの目標値の範囲および測定値の目標値のおよび特性目標値の範囲は、データベースに格納され、前記データベースは、同種の押出製品を製造するための複数の製造設備からのデータを含むことを特徴とする、請求項1から9のいずれか一項に記載の方法。
- 設定パラメータの実際値および測定値および特性値および設定パラメータの目標値および測定値の目標値および特性目標値、および正常範囲、設定パラメータの目標値の範囲および測定値の目標値のおよび特性目標値の範囲、および警告範囲、設定パラメータの目標値の範囲および測定値の目標値のおよび特性目標値の範囲、および警報範囲、設定パラメータの目標値の範囲および測定値の目標値のおよび特性目標値の範囲は、データベースに格納され、前記データベースは、異なる種類の押出製品を製造するための複数の製造設備からのデータを含むことを特徴とする、請求項1から10のいずれか一項に記載の方法。
- 設定パラメータの実際値および測定値および特性値および設定パラメータの目標値および測定値の目標値および特性目標値、および正常範囲、設定パラメータの目標値の範囲および測定値の目標値のおよび特性目標値の範囲、および警告範囲、設定パラメータの目標値の範囲および測定値の目標値のおよび特性目標値の範囲、および警報範囲、設定パラメータの目標値の範囲および測定値の目標値のおよび特性目標値の範囲は、データベースに格納され、前記データベースは、一人の生産者からのおよび多くの生産者からの押出製品を製造するための製造設備のデータを含むことを特徴とする、請求項1から11のいずれか一項に記載の方法。
- 設定パラメータの実際値および測定値および特性値および設定パラメータの目標値および測定値の目標値および特性目標値、および正常範囲、設定パラメータの目標値の範囲および測定値の目標値のおよび特性目標値の範囲、および警告範囲、設定パラメータの目標値の範囲および測定値の目標値のおよび特性目標値の範囲、および警報範囲、設定パラメータの目標値の範囲および測定値の目標値のおよび特性目標値の範囲は、データベースに格納され、前記データベースは、データをサイトから独立したストレージと同期させることを特徴とする、請求項1から12のいずれか一項に記載の方法。
- 設定パラメータの目標値は、請求項7から13のいずれか一項に記載の方法によってあらかじめ規定されることを特徴とする、方法。
- 押出成形機は、熱可塑性材料の可塑化のために運転され、請求項1から14のいずれか一項に記載の方法は、製造中に実施される、押出製品を製造する方法。
- 押出製品を製造するためのプラントであって、熱可塑性材料の可塑化のための押出成形機、およびプラスチックの出口のためのノズルと有するプラントにおいて、
前記プラントは、データ処理および評価ユニットを有し、前記データ処理および評価ユニットは、プログラミングシステムを有し、前記プログラミングシステムは、請求項1から15のいずれか一項に記載の方法の実施に適合していることを特徴とする、プラント。 - 前記プラントは、前記製造プロセスの設定パラメータを決定するための設定パラメータ測定システムを有することを特徴とする、請求項16に記載のプラント。
- 前記プラントは、前記製造プロセスの測定値の一つであるプロセス変数を決定するための測定値測定システムを有することを特徴とする、請求項16または17に記載のプラント。
- 前記プラントは、押出製品の特性の強度をインラインで決定するための特性測定システムを有することを特徴とする、請求項16から18のいずれか一項に記載のプラント。
- 前記プラントは、セグメント化された作動ゾーンを持つ前記押出製品の品質にインラインで影響を及ぼすためのアクチュエータを有することを特徴とする、請求項16から19のいずれか一項に記載のプラント。
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