JP7021540B2 - 自覚式検眼装置 - Google Patents

Description

本開示は、被検眼の光学特性を自覚的に測定する自覚式検眼装置に関する。

自覚式検眼装置としては、被検者の眼前に光学部材（例えば、球面レンズ、円柱レンズ、等）を配置し、この光学部材を介した検査視標を呈示することによって、被検眼の光学特性（眼屈折力）を測定するものが知られている（特許文献１参照）。

特開平５－１７６８９３号公報

ところで、自覚式測定においては、自覚式検眼装置を構成する各部材から光学収差が発生する。発生した光学収差は、測定条件（例えば、眼屈折力、検査距離、輻輳角度、等）によって変化する。また、被検眼がもつ眼屈折力（光学特性）によっても、光学収差が発生する。このため、複雑な光学収差が発生し、被検眼の光学測定を精度よく測定できない場合があった。

本開示は、上記従来技術に鑑み、光学収差を補正して、被検眼の光学特性を精度よく測定できる自覚式検眼装置を提供することを技術課題とする。

上記課題を解決するために、本発明は以下の構成を備えることを特徴とする。

本開示に係る自覚式検眼装置は、視標光束を被検眼に向けて投影する投光光学系と、前記投光光学系の光路中に配置され、前記視標光束の光学特性を変化する矯正光学系と、前記矯正光学系によって矯正された前記視標光束を前記被検眼に導光する光学部材と、を有し、前記被検眼の光学特性を自覚的に測定する自覚式測定手段を備える自覚式検眼装置であって、前記自覚式測定手段によって発生する第１光学収差成分と、前記被検眼の光学特性によって発生する第２光学収差成分と、に基づいた第３光学収差成分を補正するための補正量を設定する設定手段と、前記補正量に基づいて前記第３光学収差成分を補正する補正手段と、前記補正手段が前記第３光学収差成分を補正したことによって発生する前記視標光束の歪を補正する歪補正手段と、を備えることを特徴とする。

本実施例に係る自覚式検眼装置の外観図である。 測定手段の構成について説明する図である。 自覚式検眼装置の内部を正面方向から見た概略構成図である。 自覚式検眼装置の内部を側面方向から見た概略構成図である。 自覚式検眼装置の内部を上面方向から見た概略構成図である。 自覚式検眼装置の制御系を示す図である。 被検眼の前眼部画像を示す図である。 アライメント制御について説明する図である。 合成非点収差成分を補正するための補正量を説明する図である。 円柱レンズの相対角度及び回転角度を説明する図である。 視標光束の歪について説明する図である。 視標光束の歪の補正について説明する図である。 合成非点収差成分を補正するために設定される補正量の変化を表す図である。

＜概要＞
本開示の実施形態に係る自覚式検眼装置について説明する。以下において、自覚式検眼装置の奥行き方向（被検者の前後方向）はＺ方向、奥行き方向に垂直な平面上の水平方向（被検者の左右方向）はＸ方向、奥行き方向に垂直な平面上の鉛直方向（被検者の上下方向）はＹ方向として説明する。また、以下において、符号に付したＬ及びＲは、それぞれ左被検眼用（左眼用）及び右被検眼用（右眼用）を示すものとして説明する。なお、＜＞にて分類された項目は、独立または関連して利用されうる。

例えば、自覚式検眼装置（例えば、自覚式検眼装置１）は、被検眼の光学特性を自覚的に測定する自覚式測定手段を備えていてもよい。また、例えば、自覚式検眼装置は、被検眼の光学特性を他覚的に測定する他覚式測定手段を備えていてもよい。もちろん、自覚式検眼装置は、自覚式測定手段と、他覚式測定手段と、をどちらも備えた構成であってもよい。例えば、被検眼の光学特性としては、眼屈折力（例えば、球面度数、円柱度数、乱視軸角度、等の少なくともいずれか）、コントラスト感度、両眼視機能（例えば、斜位量、立体視機能、等の少なくともいずれか）等の少なくともいずれかであってもよい。

例えば、自覚式検眼装置１は投光光学系（例えば、投光光学系３０）を備えていてもよい。例えば、投光光学系は、視標光束を被検眼に向けて投光して視標を被検眼に投影する。また、例えば、自覚式検眼装置は、矯正光学系（例えば、矯正光学系６０、自覚式測定光学系２５）を備えていてもよい。例えば、矯正光学系は、投光光学系の光路中に配置され、視標光束の光学特性を変化する。また、例えば、自覚式検眼装置は、矯正光学系によって矯正された視標光束を被検眼に導光する光学部材（例えば、凹面ミラー８５）を備えていてもよい。

例えば、自覚式検眼装置１において、視標光束は、光学部材の光軸に一致する光路を通過して被検眼に導光されてもよい。すなわち、自覚式測定手段は、光学部材の光軸に一致する光路を通過した視標光束を被検眼に導光することによって、被検眼の光学特性を自覚的に測定する構成であってもよい。また、例えば、自覚式検眼装置１において、視標光束は、光学部材の光軸から外れた経路を通過して被検眼に導光されてもよい。すなわち、自覚式測定手段は、光学部材の光軸から外れた経路を通過した視標光束を被検眼に導光することによって、被検眼の光学特性を自覚的に測定する構成であってもよい。

＜投光光学系＞
例えば、投光光学系は、視標光束を照射する光源（例えば、ディスプレイ３１）を有する。また、例えば、投光光学系は、視標光束を照射する光源から投影された視標光束を被検眼に向けて導光する少なくとも１つ以上の光学部材等を有してもよい。例えば、視標光束を投影する光源としては、ディスプレイを用いる構成であってもよい。例えば、ディスプレイとしては、ＬＣＤ（Liquid Crystal Display）や有機ＥＬ（Electro Luminescence）等が用いられる。例えば、ディスプレイには、ランドルト環視標等の検査視標等が表示される。また、例えば、視標光束を投影する光源としては、光源とＤＭＤ（Digital Micromirror Device）を用いてもよい。一般的に、ＤＭＤは反射率が高く明るい。このため、偏光を用いる液晶ディスプレイを用いた場合と比べ、視標光束の光量を維持することができる。

例えば、視標光束を投影する光源としては、視標呈示用可視光源と、視標板と、を有する構成であってもよい。この場合、例えば、視標板は回転可能なディスク板であり、複数の視標をもつ。例えば、複数の視標は、自覚測定時に使用される視力検査用視標等を含む。例えば、視力検査用視標としては、視力値毎の視標（視力値０．１、０．３、・・・、１．５）が用意されている。例えば、視標板はモータ等によって回転され、被検眼に視標光束が導光される光路上において視標が切り換え配置される。もちろん、視標光束を投影する光源としては、上記構成以外の光源を用いてもよい。

例えば、投光光学系は、左右一対に設けられた左眼用投光光学系と右眼用投光光学系を有するようにしてもよい。例えば、左眼用投光光学系と右眼用投光光学系は、左眼用投光光学系を構成する部材と、右眼用投光光学系を構成する部材と、が同一の部材で構成されていてもよい。また、例えば、左眼用投光光学系と右眼用投光光学系は、左眼用投光光学系を構成する部材と、右眼用投光光学系を構成する部材と、において少なくとも一部の部材が異なる部材で構成されていてもよい。また、例えば、左眼用投光光学系と右眼用投光光学系は、左眼用投光光学系を構成する部材と、右眼用投光光学系を構成する部材と、において少なくとも一部の部材が兼用される構成であってもよい。また、例えば、左眼用投光光学系と右眼用投光光学系は、左眼用投光光学系を構成する部材と、右眼用投光光学系を構成する部材と、が別途それぞれ設けられる構成であってもよい。

＜矯正光学系＞
例えば、矯正光学系は、視標光束の光学特性（例えば、球面度数、円柱度数、乱視軸角度、偏光特性、及び光学収差、等の少なくともいずれか）を変更する構成であればよい。例えば、視標光束の光学特性を変更する構成としては、光学素子を制御する構成であってもよい。例えば、光学素子としては、球面レンズ、円柱レンズ、クロスシリンダレンズ、ロータリプリズム、波面変調素子、等の少なくともいずれかを用いる構成であってもよい。もちろん、例えば、光学素子としては、上記記載の光学素子とは異なる光学素子を用いるようにしてもよい。

例えば、矯正光学系は、被検眼に対する視標の呈示位置（呈示距離）を光学的に変えることにより、被検眼の球面度数を矯正する構成であってもよい。この場合、例えば、視標の呈示位置（呈示距離）を光学的に変更する構成としては、光源（例えば、ディスプレイ）を光軸方向に移動させる構成であってもよい。また、例えば、視標の呈示位置（呈示距離）を光学的に変更する構成としては、光路中に配置された光学素子（例えば、球面レンズ）を光軸方向に移動させる構成であってもよい。もちろん、矯正光学系は、光学素子を制御する構成と、光路中に配置された光学素子を光軸方向に移動させる構成と、を組み合わせた構成であってもよい。

例えば、矯正光学系としては、投光光学系から視標光束を被検眼に向けて導光するための光学部材と、投光光学系の光源と、の間に光学素子を配置して、光学素子を制御することによって、視標光束の光学特性を変更する構成であってもよい。すなわち、矯正手段としては、ファントムレンズ屈折計（ファントム矯正光学系）の構成であってもよい。この場合、例えば、矯正光学系によって矯正された視標光束が、光学部材を介して被検眼に導光される。

例えば、矯正光学系は、左右一対に設けられた左眼用矯正光学系と右眼用矯正光学系を有するようにしてもよい。例えば、左眼用矯正光学系と右眼用矯正光学系は、左眼用矯正光学系を構成する部材と、右眼用矯正光学系を構成する部材と、が同一の部材で構成されていてもよい。また、例えば、左眼用矯正光学系と右眼用矯正光学系は、左眼用矯正光学系を構成する部材と、右眼用矯正光学系を構成する部材と、において少なくとも一部の部材が異なる部材で構成されていてもよい。また、例えば、左眼用矯正光学系と右眼用矯正光学系は、左眼用矯正光学系を構成する部材と、右眼用矯正光学系を構成する部材と、において少なくとも一部の部材が兼用される構成であってもよい。また、例えば、左眼用矯正光学系と右眼用矯正光学系は、左眼用矯正光学系を構成する部材と、右眼用矯正光学系を構成する部材と、が別途それぞれ設けられる構成であってもよい。

＜光学部材＞
例えば、矯正光学系によって矯正された視標光束を被検眼に導光する光学部材は、視標光束あるいは視標光束の像を光学的に所定の検査距離となるように被検眼に導光する光学部材であってもよい。例えば、光学部材としては、凹面ミラーを用いてもよい。もちろん、光学部材としては、視標光束あるいは視標光束の像を光学的に所定の検査距離となるように被検眼に導光する構成であればよく、凹面ミラーに限定されない。例えば、この場合には、光学部材として、レンズ、平面ミラー、等の少なくともいずれかを用いるようにしてもよい。

＜光学収差成分の補正＞
例えば、自覚式検眼装置は、設定手段（例えば、制御部７０）を備えていてもよい。例えば、設定手段は、自覚式測定手段によって発生する第１光学収差成分と、被検眼の光学特性によって発生する第２光学収差成分と、に基づいた第３光学収差成分を補正するための補正量を設定する。例えば、本実施例においては、第３光学収差成分として、第１光学収差成分と、第２光学収差成分と、が合成された合成光学収差成分を補正するための補正量が設定されてもよい。また、例えば、本実施例においては、第３光学収差成分として、第１光学収差成分と、第２光学収差成分と、をそれぞれ補正するための補正量が設定されてもよい。例えば、このような光学収差は、球面収差、非点収差、コマ収差、像面湾曲、歪曲収差、色収差、等の少なくともいずれかであってもよい。また、例えば、このような光学収差成分としては、光学収差の方向、光学収差の量（大きさ）、等の少なくともいずれかであってもよい。

例えば、本実施形態における自覚式検眼装置では、自覚式測定手段によって発生する非点収差成分（例えば、第１非点収差成分１１１）と、被検眼の光学特性によって発生する非点収差成分（例えば、第２非点収差成分２２２）と、に基づいた非点収差成分（例えば、第３非点収差成分３３３）を補正するための補正量が設定される。また、例えば、本実施形態における自覚式検眼装置では、非点収差成分の方向と、非点収差成分の量と、がそれぞれ補正される。

例えば、設定手段は、予めメモリ（例えば、メモリ７５）に記憶された、第３光学収差成分を補正するための補正量を取得するための補正テーブルを用いることによって、補正量を設定する構成であってもよい。また、例えば、設定手段は、予めメモリに記憶された、第３光学収差成分を補正するための補正量を演算する演算式を用いることによって、補正量を設定する構成であってもよい。例えば、このような補正テーブル及び演算式は、予め実験やシミュレーションを行うことで作成されていてもよい。

例えば、自覚式検眼装置は、補正手段（例えば、乱視矯正光学系６３）を備えていてもよい。例えば、補正手段は、第３光学収差成分を補正するための補正量に基づいて、第３光学収差成分を補正する。これによって、自覚式測定の際に発生した光学収差成分を軽減させ、被検眼の光学特性を精度よく測定することができる。

＜第３光学収差成分として合成光学収差成分を補正する場合＞
例えば、設定手段は、第３光学収差成分を補正するための補正量として、第１光学収差成分と第２光学収差成分とが合成された合成光学収差成分を補正するための補正量を設定してもよい。この場合、補正手段は、合成光学収差成分を補正するための補正量に基づいて合成光学収差成分を補正することによって、第３光学収差成分を補正する。これによって、各光学収差成分に対してそれぞれの補正量を設定しなくてもよく、第３光学収差成分を容易に補正できるようになる。

例えば、このような構成である場合、補正手段は矯正光学系を兼用し、矯正光学系の矯正度数を変化させることによって、第３光学収差成分が補正されてもよい。言い換えると、矯正光学系によって、第３光学収差成分が補正されてもよい。これによって、複雑な制御を必要とせず、簡易的な構成で第３光学収差成分を補正できる。なお、補正手段は矯正光学系を兼用する構成に限定されず、第３光学収差成分を補正することが可能な構成であればよい。すなわち、例えば、補正手段は、矯正光学系を兼用するのではなく、補正光学系（例えば、補正光学系９０）を兼用する構成であってもよい。また、例えば、補正手段は、矯正光学系あるいは補正光学系を兼用するのではなく、第３光学収差成分を補正するための光学系を別途設ける構成であってもよい。

＜第３光学収差成分として第１光学収差成分と第２光学収差成分をそれぞれ補正する場合＞
例えば、設定手段は、第３光学収差成分を補正するための補正量として、第１光学収差成分を補正するための補正量と、第２光学収差成分を補正するための補正量と、をそれぞれ設定してもよい。これによって、各光学収差成分に応じた補正量を設定できるようになる。すなわち、第１光学収差成分と、第２光学収差成分と、のそれぞれに対して補正量を設定できるようになる。このような構成であれば、例えば、第１光学収差成分に対しては補正量を設定し、第２光学収差成分に対しては補正量を設定しない、等の設定も可能である。

例えば、設定手段が第１光学収差成分と第２光学収差成分のそれぞれに対する補正量を設定することによって、第３光学収差成分を補正するための補正量を設定する場合、補正手段は、第１光学収差成分を補正するための補正量と、第２光学収差成分を補正するための補正量と、の双方に基づいた補正を行うことによって、第３光学収差成分を補正するようにしてもよい。この場合、補正手段は矯正光学系を兼用してもよい。すなわち、１つの補正ユニット（例えば、乱視矯正光学系）を用いて、第１光学収差成分を補正するための補正量と、第２光学収差成分を補正するための補正量と、に基づいた補正を行ってもよい。これによって、複数の補正ユニットを用いる場合に比べて、装置の構成を容易にすることができる。

もちろん、補正手段は、補正光学系を兼用し、補正光学系を用いることによって、第１光学収差成分を補正するための補正量と、第２光学収差成分を補正するための補正量と、に基づいた補正を行ってもよい。また、補正手段は、第１光学収差成分及び第２光学収差成分を補正するために別途設けられた光学系を兼用し、この光学系を用いることによって、第１光学収差成分を補正するための補正量と、第２光学収差成分を補正するための補正量と、に基づいた補正を行ってもよい。

また、例えば、設定手段が第１光学収差成分と第２光学収差成分のそれぞれに対する補正量を設定することによって、第３光学収差成分を補正するための補正量を設定する場合、補正手段は、第１光学収差成分を補正するための補正量に基づいた補正を行う第１補正手段（例えば、乱視矯正光学系）と、第２光学収差成分を補正するための補正量に基づいた補正を行う第２補正手段（例えば、補正光学系）と、をそれぞれ備え、第１補正手段と第２補正手段によって、第３光学収差成分を補正するようにしてもよい。すなわち、２つの補正ユニットを用いることで、第１光学収差成分を補正するための補正量と、第２光学収差成分を補正するための補正量と、に基づいた補正が行われてもよい。これによって、各光学収差成分に対して別々に補正を行うことができる。例えば、第１光学収差成分は補正し、第２光学収差成分は補正しない、等の補正ができるようになる。

なお、このような構成である場合、第１光学収差成分と第２光学収差成分は別々の補正手段を用いて補正可能であればよく、第１補正手段と第２補正手段とは本実施形態に例示した組み合わせに限定されない。例えば、第１補正手段として補正光学系を用い、第２補正手段として乱視矯正光学系を用いる構成であってもよい。また、例えば、第１光学収差成分を補正するための光学系と、第２光学収差成分を補正するための光学系と、を別途設け、それぞれを第１補正手段及び第２補正手段として用いる構成であってもよい。もちろん、第１補正手段として乱視矯正光学系を用い、第２補正手段として別途設けた光学系を用いる、等の構成であってもよい。

＜視標光束における歪の補正＞
例えば、自覚式検眼装置は、歪補正手段（例えば、制御部７０）を備えていてもよい。例えば、歪補正手段は、補正手段が第３光学収差成分を補正したことによって発生する視標光束の歪を補正する。これによって、視標光束の歪を軽減させた状態で自覚式測定を行い、被検眼の光学特性を精度よく取得することができる。

例えば、歪補正手段は、視標光束の歪の少なくとも一部を補正してもよいし、視標光束の歪の全体を補正してもよい。例えば、歪補正手段は、ディスプレイ（例えば、ディスプレイ３１）に表示される視標を変形することで、視標光束の歪を補正する構成であってもよい。この場合、例えば、投光光学系はディスプレイを有し、ディスプレイに視標が表示されることで、視標光束が出射される構成であればよい。

ディスプレイを用いた補正を行う場合、例えば、補正手段は、ディスプレイに表示される視標における縦方向のサイズを変更してもよい。また、例えば、補正手段は、ディスプレイに表示される視標における横方向のサイズを変更してもよい。また、例えば、補正手段は、ディスプレイに表示される視標における視標を移動させてもよい。すなわち、補正手段は、ディスプレイに表示される視標における縦方向のサイズの変更と、横方向のサイズの変更と、視標の移動と、の少なくともいずれかの処理を行う構成であればよい。例えば、ディスプレイに表示する視標を変形させる構成によって、視標光束の歪を容易に補正することができる。

また、例えば、歪補正手段は、駆動手段を制御して光学部材を移動することで、視標光束の歪を補正する構成であってもよい。この場合、例えば、投光光学系は、投光光学系の光路において移動可能な移動光学部材と、移動光学部材を投光光学系の光路において移動させる駆動手段と、を備える構成であればよい。例えば、移動光学部材としては、レンズ、プリズム、ミラー等を用いてもよい。また、例えば、移動光学部材としては、投光光学系のいずれかの光学部材を用いてもよいし、投光光学系の光学部材とは別途設けられた異なる部材を用いてもよい。例えば、駆動手段を制御して光学部材を移動する構成によって、視標光束の歪を精度よく補正することができる。

＜実施例＞
本開示の実施例について、図１～図１３を参照して説明する。図１は本実施例に係る自覚式検眼装置１の外観図である。例えば、自覚式検眼装置１は、筐体２、呈示窓３、モニタ（ディスプレイ）４、顎台５、基台６、前眼部撮像光学系１００等を備える。例えば、筐体２は、その内部に測定手段７を備える（詳細については後述する）。例えば、呈示窓３は、被検者に視標を呈示するために用いる。例えば、被検者の被検眼Ｅには、測定手段７からの視標光束が呈示窓３を介して投影される。

例えば、モニタ４は、被検眼Ｅの光学特性結果（例えば、球面度数、円柱度数、乱視軸角度、等）を表示する。例えば、モニタ４はタッチパネルである。すなわち、本実施例においては、モニタ４が操作部（コントローラ）として機能する。例えば、モニタ４から入力された操作指示に応じた信号は、後述する制御部７０に出力される。なお、モニタ４はタッチパネル式でなくてもよいし、モニタ４と操作部とを別に設ける構成であってもよい。例えば、この場合には、操作部として、マウス、ジョイスティック、キーボード等の操作手段の少なくともいずれかを用いる構成が挙げられる。

例えば、モニタ４は、筐体２に搭載されたモニタであってもよいし、筐体２に接続されたモニタであってもよい。例えば、この場合には、パーソナルコンピュータのモニタを用いる構成としてもよい。また、複数のモニタを併用してもよい。

例えば、顎台５によって、被検眼Ｅと自覚式検眼装置１との距離が一定に保たれる。なお、本実施例では、被検眼Ｅと自覚式検眼装置１との距離を一定に保つために顎台５を用いる構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。例えば、本実施例においては、被検眼Ｅと自覚式検眼装置１との距離を一定に保つために、額当てや顔当て等を用いる構成であってもよい。例えば、基台６には、顎台５と筐体２が固定されている。

例えば、前眼部撮像光学系１００は、図示なき撮像素子とレンズによって構成される。例えば、前眼部撮像光学系１００は、被検者の顔を撮像するために用いる。

＜測定手段＞
例えば、測定手段７は、左眼用測定手段７Ｌと右眼用測定手段７Ｒを備える。すなわち、本実施例における自覚式検眼装置１は、左右一対の自覚式測定手段と左右一対の他覚式測定手段を有する。例えば、本実施例における左眼用測定手段７Ｌと右眼用測定手段７Ｒは、同一の部材を備えている。もちろん、左眼用測定手段７Ｌと右眼用測定手段７Ｒは、少なくとも一部の部材が異なる構成であってもよい。

図２は、測定手段７の構成について説明する図である。例えば、本実施例においては、左眼用測定手段７Ｌを例に挙げて説明する。なお、右眼用測定手段７Ｒは、左眼用測定手段７Ｌと同様の構成であるため、その説明を省略する。例えば、左眼用測定手段７Ｌは、自覚式測定光学系２５、他覚式測定光学系１０、第１指標投影光学系４５、第２指標投影光学系４６、観察光学系５０等を備える。

＜自覚式光学系＞
例えば、自覚式測定光学系２５は、被検眼Ｅの光学特性を自覚的に測定する自覚式測定手段の構成の一部として用いられる（詳細は後述する）。例えば、被検眼Ｅの光学特性としては、眼屈折力、コントラスト感度、両眼視機能（例えば、斜位量、立体視機能等）等が挙げられる。なお、本実施例においては、被検眼Ｅの眼屈折力を測定する自覚式測定手段を例に挙げて説明する。例えば、自覚式測定光学系２５は、投光光学系（視標投光系）３０と、矯正光学系６０と、補正光学系９０とで構成される。

例えば、投光光学系３０は、視標光束を被検眼Ｅに向けて投影する。例えば、投光光学系３０は、ディスプレイ３１、投光レンズ３３、投光レンズ３４、反射ミラー３６、ダイクロイックミラー３５、ダイクロイックミラー２９、対物レンズ１４等を備える。例えば、ディスプレイ３１から投影された視標光束は、投光レンズ３３、投光レンズ３４、反射ミラー３６、ダイクロイックミラー３５、ダイクロイックミラー２９、対物レンズ１４の順に光学部材を経由して、被検眼Ｅに投影される。

例えば、ディスプレイ３１には、ランドルト環視標等の検査視標、被検眼Ｅを固視させるための固視標、等が表示される。例えば、ディスプレイ３１からの視標光束が、被検眼Ｅに向けて投影される。例えば、本実施例においては、ディスプレイ３１として、ＬＣＤ（Liquid Crystal Display）が用いられる。なお、ディスプレイとしては、有機ＥＬ（Electro Luminescence）ディスプレイやプラズマディスプレイを用いることもできる。

例えば、矯正光学系６０は、投光光学系３０の光路中に配置される。例えば、矯正光学系６０は、視標光束の光学特性を変化させる。例えば、矯正光学系６０は、乱視矯正光学系６３と駆動機構３９を備える。例えば、乱視矯正光学系６３は、投光レンズ３３と投光レンズ３４との間に配置されている。例えば、乱視矯正光学系６３は、被検眼Ｅの円柱度数や乱視軸を矯正するために用いられる。例えば、乱視矯正光学系６３は、焦点距離の等しい、２枚の正の円柱レンズ６１ａと６１ｂから構成される。円柱レンズ６１ａと円柱レンズ６１ｂは、それぞれ回転機構６２ａと６２ｂの駆動によって、光軸Ｌ２を中心として各々が独立に回転される。なお、本実施例においては、乱視矯正光学系６３として、２枚の正の円柱レンズ６１ａと６１ｂを用いる構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。乱視矯正光学系６３は、円柱度数、乱視軸、等を矯正できる構成であればよい。この場合には、例えば、矯正レンズを投光光学系３０の光路に出し入れする構成でもよい。

例えば、駆動機構３９は、モータ及びスライド機構からなる。例えば、駆動機構３９によって、ディスプレイ３１は光軸Ｌ２の方向に一体的に移動される。例えば、自覚測定時においては、ディスプレイ３１が移動することによって、被検眼Ｅに対する視標の呈示位置（呈示距離）が光学的に変えられ、被検眼Ｅの球面屈折力が矯正される。すなわち、ディスプレイ３１の移動によって、球面度数の矯正光学系が構成される。また、例えば、他覚測定時においては、ディスプレイ３１が移動することによって、被検眼Ｅに雲霧が掛けられる。なお、球面度数の矯正光学系としてはこれに限定されない。例えば、球面度数の矯正光学系は、多数の光学素子を有し、光路中に光学素子が配置されることによって矯正を行う構成であってもよい。また、例えば、球面度数の矯正光学系は、光路中に配置されたレンズを光軸方向に移動させる構成であってもよい。

なお、本実施例においては、球面度数、円柱度数、乱視軸を矯正する矯正光学系を例に挙げて説明しているがこれに限定されない。例えば、プリズム値を矯正する矯正光学系を設けてもよい。プリズム値の矯正光学系を設けることによって、被検者が斜位眼であっても、視標光束が被検眼Ｅに投影されるように矯正することができる。

なお、本実施例においては、円柱度数及び円柱軸（乱視軸）を矯正するための乱視矯正光学系６３と、球面度数を矯正するための矯正光学系（例えば、駆動機構３９）と、を別途設ける構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。例えば、矯正光学系としては、球面度数、円柱度、乱視軸を矯正する矯正光学系を備える構成であればよい。すなわち、本実施例における矯正光学系は、波面を変調させる光学系であってもよい。また、例えば、矯正光学系としては、球面度数、円柱度数、乱視軸等を矯正する光学系であってもよい。この場合には、例えば、矯正光学系が、同一円周上に多数の光学素子（球面レンズ、円柱レンズ、分散プリズム等）を配置したレンズディスクを備える構成が挙げられる。レンズディスクは駆動部（アクチュエータ、ステッピングモータ等）によって回転制御され、検者が所望する光学素子（例えば、円柱レンズ、クロスシリンダレンズ、ロータリプリズム等）が、検者が所望する回転角度にて、光軸Ｌ２に配置される。例えば、光軸Ｌ２に配置される光学素子の切換え等は、モニタ４等の操作によって行われてもよい。

レンズディスクは、１つのレンズディスク、又は複数のレンズディスクからなる。複数のレンズディスクが配置された場合、各レンズディスクに対応する駆動部がそれぞれ設けられる。例えば、レンズディスク群として、各レンズディスクが開口（又は０Ｄのレンズ）及び複数の光学素子を備える。各レンズディスクの種類としては、度数の異なる複数の球面レンズを有する球面レンズディスク、度数の異なる複数の円柱レンズを有する円柱レンズディスク、複数種類の補助レンズを有する補助レンズディスクが代表的である。補助レンズディスクには、赤フィルタ／緑フィルタ、プリズム、クロスシリンダレンズ、偏光板、マドックスレンズ、オートクロスシリンダレンズの少なくともいずれかが配置される。また、円柱レンズは、駆動部により光軸Ｌ２を中心に回転可能に配置され、ロータリプリズム及びクロスシリンダレンズは、駆動部により各光軸を中心に回転可能に配置されてもよい。

例えば、補正光学系９０は、対物レンズ１４と後述する偏向ミラー８１の間に配置される。例えば、補正光学系９０は、自覚測定において生じる光学収差（例えば、非点収差等）を補正するために用いられる。例えば、補正光学系９０は、焦点距離の等しい、２枚の正の円柱レンズ９１ａと９１ｂから構成される。例えば、補正光学系９０は、円柱度数と乱視軸を調整することによって、非点収差を補正する。円柱レンズ９１ａと円柱レンズ９１ｂは、それぞれ回転機構９２ａと９２ｂの駆動によって、光軸Ｌ３を中心として各々が独立に回転される。なお、本実施例では、補正光学系９０として、２枚の正の円柱レンズ９１ａと９１ｂを用いる構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。補正光学系９０は、非点収差を矯正できる構成であればよい。この場合には、例えば、補正レンズを光軸Ｌ３に出し入れする構成でもよい。

なお、本実施例においては、矯正光学系６０とは別に補正光学系９０を配置する構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。例えば、矯正光学系６０が補正光学系９０を兼用する構成であってもよい。この場合には、被検眼Ｅの円柱度数と円柱軸（乱視軸）が非点収差量に応じて補正される。すなわち、矯正光学系６０が、非点収差量を考慮した（補正した）円柱度数や乱視軸に矯正するように駆動される。例えば、矯正光学系６０と補正光学系９０とを兼用することによって、複雑な制御を必要としないため、簡易的な構成で光学収差を補正することができる。また、例えば、矯正光学系６０と補正光学系９０とを兼用することによって、光学収差用の補正光学系を別途設ける必要がないため、簡易的な構成で光学収差を補正することができる。

＜他覚式光学系＞
例えば、他覚式測定光学系１０は、被検眼の光学特性を他覚的に測定する他覚式測定手段の構成の一部として用いられる（詳細は後述する）。例えば、被検眼Ｅの光学特性としては、眼屈折力、眼軸長、角膜形状等が挙げられる。本実施例においては、被検眼Ｅの眼屈折力を測定する他覚式測定手段を例に挙げて説明する。例えば、他覚式測定光学系１０は、投影光学系１０ａ、受光光学系１０ｂ、補正光学系９０、で構成される。

例えば、投影光学系（投光光学系）１０ａは、被検眼Ｅの瞳孔中心部を介して被検眼Ｅの眼底にスポット状の測定指標を投影する。例えば、受光光学系１０ｂは、眼底から反射された眼底反射光を、瞳孔周辺部を介してリング状に取り出し、撮像素子２２にリング状の眼底反射像を撮像させる。

例えば、投影光学系１０ａは、他覚式測定光学系１０の光軸Ｌ１上に配置された光源１１、リレーレンズ１２、ホールミラー１３、プリズム１５、駆動部（モータ）２３、ダイクロイックミラー３５、ダイクロイックミラー２９、及び対物レンズ１４を含む。例えば、プリズム１５は光束偏向部材である。例えば、駆動部２３は、光軸Ｌ１を中心としてプリズム１５を回転駆動させる。例えば、光源１１は被検眼Ｅの眼底と共役な関係となっている。また、ホールミラー１３のホール部は、被検眼Ｅの瞳孔と共役な関係となっている。例えば、プリズム１５は被検眼Ｅの瞳孔と共役な位置から外れた位置に配置されており、通過する光束を光軸Ｌ１に対して偏心させる。なお、プリズム１５に代えて、光束偏向部材として平行平面板を光軸Ｌ１上に斜めに配置する構成でもよい。

例えば、ダイクロイックミラー３５は、自覚式測定光学系２５の光路と、他覚式測定光学系１０の光路と、を共通にする。すなわち、例えば、ダイクロイックミラー３５は、自覚式測定光学系２５の光軸Ｌ２と、他覚式測定光学系１０の光軸Ｌ１と、を同軸にする。例えば、光路分岐部材であるダイクロイックミラー２９は、自覚式測定光学系２５による光束及び投影光学系１０ａによる測定光を反射して、被検眼Ｅに導く。

例えば、受光光学系１０ｂは、投影光学系１０ａの対物レンズ１４、ダイクロイックミラー２９、ダイクロイックミラー３５、プリズム１５、ホールミラー１３を共用し、ホールミラー１３の反射方向の光路に配置されたリレーレンズ１６、ミラー１７、ミラー１７の反射方向の光路に配置された受光絞り１８、コリメータレンズ１９、リングレンズ２０、ＣＣＤ等の撮像素子２２を備える。例えば、受光絞り１８及び撮像素子２２は、被検眼Ｅの眼底と共役な関係となっている。例えば、リングレンズ２０は、リング状に形成されたレンズ部と、レンズ部以外の領域に遮光用のコーティングを施した遮光部と、から構成され、被検眼Ｅの瞳孔と光学的に共役な位置関係となっている。例えば、撮像素子２２からの出力は、制御部７０に入力される。

例えば、ダイクロイックミラー２９は、被検眼Ｅの眼底に導かれた投影光学系１０ａからの測定光の反射光を受光光学系１０ｂに向けて反射する。また、例えば、ダイクロイックミラー２９は、前眼部観察光及びアライメント光を透過して、観察光学系５０に導く。例えば、ダイクロイックミラー３５は、被検眼Ｅの眼底に導かれた投影光学系１０ａからの測定光の反射光を受光光学系１０ｂに向けて反射する。

なお、他覚式測定光学系１０は上記のものに限らず、瞳孔周辺部から眼底にリング状の測定指標を投影して瞳孔中心部から眼底反射光を取り出し、撮像素子２２にリング状の眼底反射像を受光させる構成等、周知のものが使用できる。

なお、他覚式測定光学系１０は上記のものに限らず、被検眼Ｅの眼底に向けて測定光を投光する投光光学系と、眼底における測定光の反射によって取得される反射光を受光素子によって受光する受光光学系と、を有する測定光学系であればよい。例えば、眼屈折力測定光学系は、シャックハルトマンセンサーを備えた構成であってもよい。もちろん、他の測定方式を備えた装置を利用してもよい（例えば、スリットを投影する位相差方式の装置）。

例えば、投影光学系１０ａの光源１１と、受光光学系１０ｂの受光絞り１８、コリメータレンズ１９、リングレンズ２０、撮像素子２２は、光軸方向に一体的に移動可能となっている。本実施例において、例えば、投影光学系１０ａの光源１１と、受光光学系１０ｂの受光絞り１８、コリメータレンズ１９、リングレンズ２０、撮像素子２２は、ディスプレイ３１を駆動させる駆動機構３９により、光軸Ｌ１の方向に一体的に移動される。すなわち、ディスプレイ３１、投影光学系１０ａの光源１１、受光光学系１０ｂの受光絞り１８、コリメータレンズ１９、リングレンズ２０、撮像素子２２は、駆動ユニット９５として同期し、一体的に移動する。もちろん、別途、それぞれが駆動される構成としてもよい。

例えば、駆動ユニット９５は、外側のリング光束が各経線方向に関して撮像素子２２上に入射するように、他覚式測定光学系１０の一部を光軸方向に移動させる。すなわち、他覚式測定光学系１０の一部を被検眼Ｅの球面屈折誤差（球面屈折力）に応じて光軸Ｌ１方向に移動させることで、球面屈折誤差を補正し、被検眼Ｅの眼底に対して光源１１、受光絞り１８及び撮像素子２２が光学的に共役になるようにする。例えば、駆動機構３９の移動位置は、図示なきポテンショメータによって検出される。なお、ホールミラー１３とリングレンズ２０は、駆動ユニット９５の移動量に拘わらず、被検眼Ｅの瞳と一定の倍率で共役になるように配置されている。

上記の構成において、光源１１から出射された測定光束は、リレーレンズ１２、ホールミラー１３、プリズム１５、ダイクロイックミラー３５、ダイクロイックミラー２９、対物レンズ１４、を経て被検眼Ｅの眼底上にスポット状の点光源像を形成する。このとき、光軸周りに回転するプリズム１５によって、ホールミラー１３におけるホール部の瞳投影像（瞳上での投影光束）は高速に偏心回転される。眼底に投影された点光源像は、反射・散乱されて被検眼Ｅから射出し、対物レンズ１４によって集光され、ダイクロイックミラー２９、ダイクロイックミラー３５、高速回転するプリズム１５、ホールミラー１３、リレーレンズ１６、ミラー１７を介して受光絞り１８の位置に再び集光され、コリメータレンズ１９とリングレンズ２０とによって撮像素子２２にリング状の像が結像する。

例えば、プリズム１５は、投影光学系１０ａと受光光学系１０ｂの共通光路に配置されている。例えば、眼底からの反射光束は投影光学系１０ａと同じプリズム１５を通過するため、それ以降の光学系では、あたかも瞳孔上における投影光束・反射光束（受光光束）の偏心がなかったかのように逆走査される。

例えば、補正光学系９０は、自覚式測定光学系２５と兼用される。もちろん、別途、他覚式測定光学系１０で用いる補正光学系を設ける構成としてもよい。

＜第１指標投影光学系及び第２指標投影光学系＞
例えば、本実施例においては、第１指標投影光学系４５及び第２指標投影光学系４６が、補正光学系９０と、偏向ミラー８１との間に配置される。もちろん、第１指標投影光学系４５及び第２指標投影光学系４６の配置位置は、これに限定されない。例えば、第１指標投影光学系４５と第２指標投影光学系４６は、筐体２のカバーに備えられていてもよい。例えば、この場合には、第１指標投影光学系４５及び第２指標投影光学系４６が、呈示窓３の周囲に配置される構成が挙げられる。

例えば、第１指標投影光学系４５は、光軸Ｌ３を中心として同心円上に４５度間隔で赤外光源が複数個配置されており、光軸Ｌ３を通る垂直平面を挟んで左右対称に配置されている。例えば、第１指標投影光学系４５は、被検眼Ｅの角膜にアライメント指標を投影するための近赤外光を発する。例えば、第２指標投影光学系４６は、第１指標投影光学系４５とは異なる位置に配置された６つの赤外光源を備える。この場合、第１指標投影光学系４５は、被検眼Ｅの角膜に無限遠の指標を左右方向から投影し、第２指標投影光学系４６は被検眼Ｅの角膜に有限遠の指標を上下方向もしくは斜め方向から投影する構成となっている。なお、便宜上、図２には第１指標投影光学系４５と第２指標投影光学系４６の一部のみを図示している。なお、第２指標投影光学系４６は、被検眼Ｅの前眼部を照明する前眼部照明としても用いられる。また、第２指標投影光学系４６は、角膜形状測定用の指標としても利用できる。なお、第１指標投影光学系４５及び第２指標投影光学系４６は、点状光源に限定されない。例えば、リング状の光源やライン状の光源であってもよい。

＜観察光学系＞
例えば、観察光学系（撮像光学系）５０は、自覚式測定光学系２５及び他覚式測定光学系１０における対物レンズ１４とダイクロイックミラー２９を共用し、撮像レンズ５１及び撮像素子５２を備える。例えば、撮像素子５２は、被検眼Ｅの前眼部と略共役な位置に配置された撮像面をもつ。例えば、撮像素子５２からの出力は、制御部７０に入力される。これによって、被検眼Ｅの前眼部画像は撮像素子５２により撮像され、モニタ４上に表示される。なお、この観察光学系５０は、第１指標投影光学系４５及び第２指標投影光学系４６によって、被検眼Ｅの角膜に形成されるアライメント指標像を検出する光学系を兼ね、制御部７０によってアライメント指標像の位置が検出される。

＜自覚式検眼装置内部構成＞
以下、自覚式検眼装置１の内部構成について説明する。図３は、本実施例に係る自覚式検眼装置１の内部を正面方向（図１のＡ方向）から見た概略構成図である。図４は、本実施例に係る自覚式検眼装置１の内部を側面方向（図１のＢ方向）から見た概略構成図である。図５は、本実施例に係る自覚式検眼装置１の内部を上面方向（図１のＣ方向）から見た概略構成図である。なお、図４及び図５では、説明の便宜上、左眼用測定手段７Ｌの光軸のみを示している。

例えば、自覚式検眼装置１は、自覚式測定手段と、他覚式測定手段と、を備える。例えば、自覚式測定手段及び他覚式測定手段において、測定手段７からの視標光束は、光学部材（例えば、後述する凹面ミラー８５）の光軸Ｌに一致する光路を通過して被検眼Ｅに導光されてもよい。また、例えば、自覚式測定手段及び他覚式測定手段において、測定手段７からの視標光束は、光学部材（例えば、後述する凹面ミラー８５）の光軸Ｌから外れた光路を通過して被検眼Ｅに導光されてもよい。例えば、本実施例において、光軸Ｌは凹面ミラー８５の球中心に向かう軸である。なお、以下では、測定手段７からの視標光束が凹面ミラー８５の光軸Ｌから外れた経路を通過する構成を例に挙げる。すなわち、測定手段７からの視標光束が凹面ミラー８５の光軸Ｌに対して斜め方向から照射され、その反射光束が被検眼Ｅに導光される。

例えば、自覚式測定手段は、測定手段７、偏向ミラー８１、駆動機構８２、駆動手段８３、反射ミラー８４、凹面ミラー８５で構成される。なお、自覚式測定手段はこの構成に限定されない。例えば、反射ミラー８４を有しない構成であってもよい。この場合には、測定手段７からの視標光束が、偏向ミラー８１を介した後に凹面ミラー８５の光軸Ｌに対して斜め方向から照射されてもよい。また、例えば、ハーフミラーを有する構成であってもよい。この場合には、測定手段７からの視標光束を、ハーフミラーを介して凹面ミラー８５の光軸Ｌに対して斜め方向に照射し、その反射光束を被検眼Ｅに導光してもよい。なお、本実施例では凹面ミラー８５を配置しているが、凹面ミラー８５ではなく、凸レンズを配置した構成であってもよい。

例えば、他覚式測定手段は、測定手段７、偏向ミラー８１、反射ミラー８４、凹面ミラー８５で構成される。なお、他覚式測定手段はこの構成に限定されない。例えば、反射ミラー８４を有しない構成であってもよい。この場合には、測定手段７からの視標光束が、偏向ミラー８１を介した後に凹面ミラー８５の光軸Ｌに対して斜め方向から照射されてもよい。また、例えば、ハーフミラーを有する構成であってもよい。この場合には、測定手段７からの視標光束を、ハーフミラーを介して凹面ミラー８５の光軸Ｌに対して斜め方向に照射し、その反射光束を被検眼Ｅに導光してもよい。なお、本実施例では凹面ミラー８５を配置しているが、凹面ミラー８５ではなく凸レンズを配置した構成であってもよい。

例えば、自覚式検眼装置１は、左眼用駆動手段９Ｌと右眼用駆動手段９Ｒとを有し、左眼用測定手段７Ｌ及び右眼用測定手段７ＲをそれぞれＸ方向に移動することができる。例えば、左眼用測定手段７Ｌ及び右眼用測定手段７Ｒが移動されることによって、偏向ミラー８１と測定手段７との間の距離が変更され、Ｚ方向における視標光束の呈示位置が変更される。これによって、矯正光学系６０によって矯正された視標光束を被検眼Ｅに導光し、矯正光学系６０によって矯正された視標光束の像が被検眼Ｅの眼底に形成されるように、測定手段７をＺ方向に調整することができる。

例えば、偏向ミラー８１は、左右一対にそれぞれ設けられた、右眼用の偏向ミラー８１Ｒと左眼用の偏向ミラー８１Ｌとを有する。例えば、偏向ミラー８１は、矯正光学系６０と被検眼Ｅとの間に配置される。すなわち、本実施例における矯正光学系６０は、左右一対に設けられた左眼用矯正光学系と右眼用矯正光学系とを有しており、左眼用の偏向ミラー８１Ｌは左眼用矯正光学系と左眼ＥＲの間に配置され、右眼用の偏向ミラー８１Ｒは右眼用矯正光学系と右眼ＥＲの間に配置される。例えば、偏向ミラー８１は、瞳の共役位置に配置されることが好ましい。

例えば、左眼用の偏向ミラー８１Ｌは、左眼用測定手段７Ｌから投影される光束を反射し、左被検眼ＥＬに導光する。また、例えば、左眼用の偏向ミラー８１Ｌは、左被検眼ＥＬで反射された反射光を反射し、左眼用測定手段７Ｌに導光する。例えば、右眼用の偏向ミラー８１Ｒは、右眼用測定手段７Ｒから投影される光束を反射し、右被検眼ＥＲに導光する。また、例えば、右眼用の偏向ミラー８１Ｒは、右被検眼ＥＲで反射された反射光を反射し、右眼用測定手段７Ｒに導光する。なお、本実施例においては、測定手段７から投影される光束を反射し、被検眼Ｅに導光する偏向部材として、偏向ミラー８１を用いる構成を例に挙げて説明しているがこれに限定されない。偏向部材は、測定手段７から投影される光束を反射し、被検眼Ｅに導光する偏向部材であればよい。例えば、偏向部材としては、プリズムやレンズ等が挙げられる。

例えば、駆動機構８２は、モータ（駆動部）等からなる。例えば、駆動機構８２は、左眼用の偏向ミラー８１Ｌを駆動するための駆動機構８２Ｌと、右眼用の偏向ミラー８１Ｒを駆動するための駆動機構８２Ｒと、を有する。例えば、駆動機構８２の駆動によって、偏向ミラー８１は回転移動する。例えば、駆動機構８２は、水平方向（Ｘ方向）の回転軸、及び鉛直方向（Ｙ方向）の回転軸に対して偏向ミラー８１を回転させる。すなわち、駆動機構８２は偏向ミラー８１をＸＹ方向に回転させる。なお、偏向ミラー８１の回転は、水平方向又は鉛直方向の一方であってもよい。

例えば、駆動手段８３は、モータ（駆動部）等からなる。例えば、駆動手段８３は、左眼用の偏向ミラー８１Ｌを駆動するための駆動手段８３Ｌと、右眼用の偏向ミラー８１Ｒを駆動するための駆動手段８３Ｒと、を有する。例えば、駆動手段８３の駆動によって、偏向ミラー８１はＸ方向に移動する。例えば、左眼用の偏向ミラー８１Ｌ及び右眼用の偏向ミラー８１Ｒが移動されることによって、左眼用の偏向ミラー８１Ｌ及び右眼用の偏向ミラー８１Ｒとの間の距離が変更され、被検眼Ｅの瞳孔間距離にあわせて、左眼用光路と右眼用光路との間のＸ方向における距離を変更することができる。

なお、例えば、偏向ミラー８１は、左眼用光路と右眼用光路とのそれぞれにおいて複数設けられてもよい。例えば、左眼用光路と右眼用光路とのそれぞれにおいて、２つの偏向ミラーが設けられる（例えば、左眼用光路で２つの偏向ミラー等）構成が挙げられる。この場合、一方の偏向ミラーがＸ方向に回転され、他方の偏向ミラーがＹ方向に回転されてもよい。例えば、偏向ミラー８１が回転移動されることによって、矯正光学系６０の像を被検眼の眼前に形成するためのみかけの光束を偏向させることにより、像の形成位置を光学的に補正することができる。

例えば、凹面ミラー８５は、右眼用測定手段７Ｒと左眼用測定手段７Ｌとで共有される。例えば、凹面ミラー８５は、右眼用矯正光学系を含む右眼用光路と、左眼用矯正光学系を含む左眼用光路と、で共有される。すなわち、凹面ミラー８５は、右眼用矯正光学系を含む右眼用光路と、左眼用矯正光学系を含む左眼用光路と、を共に通過する位置に配置されている。もちろん、凹面ミラー８５は、右眼用光路と左眼用光路とで共有される構成でなくてもよい。すなわち、右眼用矯正光学系を含む右眼用光路と、左眼用矯正光学系を含む左眼用光路と、でそれぞれ凹面ミラーが設けられる構成であってもよい。例えば、凹面ミラー８５は、矯正光学系を通過した視標光束を被検眼Ｅに導光し、矯正光学系を通過した視標光束の像を被検眼Ｅの眼前に形成する。なお、本実施例においては凹面ミラー８５を用いる構成を例に挙げて説明したが、これに限定されず、種々の光学部材を用いることができる。例えば、光学部材としては、レンズや平面ミラー等を用いることができる。

例えば、凹面ミラー８５は、自覚式測定手段と、他覚式測定手段と、で兼用される。例えば、自覚式測定光学系２５から投影された視標光束は、凹面ミラー８５を介して、被検眼Ｅに投影される。例えば、他覚式測定光学系１０から投影された測定光は、凹面ミラー８５を介して、被検眼Ｅに投影される。また、例えば、他覚式測定光学系１０から投影された測定光の反射光は、凹面ミラー８５を介して、他覚式測定光学系１０の受光光学系１０ｂに導光される。なお、本実施例においては、他覚式測定光学系１０による測定光の反射光が、凹面ミラー８５を介して、他覚式測定光学系１０の受光光学系１０ｂに導光される構成を例に挙げているがこれに限定されない。例えば、他覚式測定光学系１０による測定光の反射光は、凹面ミラー８５を介さない構成であってもよい。

より詳細には、例えば、本実施例においては、自覚式測定手段における凹面ミラー８５から被検眼Ｅまでの間の光軸と、他覚式測定手段における凹面ミラー８５から被検眼Ｅまでの間の光軸と、が少なくとも同軸で構成されている。例えば、本実施例においては、ダイクロイックミラー３５によって、自覚式測定光学系２５の光軸Ｌ２と他覚式測定光学系１０の光軸Ｌ１とが合成され、同軸となっている。

＜自覚測定手段の光路＞
以下、自覚測定手段の光路について説明する。例えば、自覚測定手段は、矯正光学系６０を通過した視標光束を、凹面ミラー８５によって被検眼方向に反射することで被検眼Ｅに視標光束を導光し、矯正光学系６０を通過した視標光束の像を光学的に所定の検査距離となるように被検眼Ｅの眼前に形成する。例えば、このとき、矯正光学系６０を通過した視標光束は、凹面ミラー８５の光軸Ｌから外れた光路を通過して凹面ミラー８５へ入射し、凹面ミラー８５の光軸Ｌから外れた光路を通過するように反射されて、被検眼Ｅに導光される。例えば、被検者から見た視標像は、被検眼Ｅからディスプレイ３１までの実際の距離よりも遠方にあるように見える。すなわち、凹面ミラー８５を用いることで被検眼Ｅに対する視標の呈示距離を延長し、所定の検査距離の位置に視標光束の像が見えるように、被検者に視標像を呈示することができる。

より詳細に説明する。なお、以下の説明においては左眼用光路を例に挙げて説明するが、右眼用光路においても左眼用光路と同様の構成となっている。例えば、左眼用の自覚測定手段において、左眼用測定手段７Ｌのディスプレイ３１から投影された視標光束は、投光レンズ３３を介して、乱視矯正光学系６３に入射する。乱視矯正光学系６３を通過した視標光束は、反射ミラー３６、ダイクロイックミラー３５、ダイクロイックミラー２９、対物レンズ１４を経由して、補正光学系９０に入射する。補正光学系９０を通過した視標光束は、左眼用測定手段７Ｌから左眼用の偏向ミラー８１Ｌに向けて導光される。左眼用測定手段７Ｌから出射されて左眼用の偏向ミラー８１で反射された視標光束は、反射ミラー８４により凹面ミラー８５に向けて反射される。例えば、ディスプレイ３１から出射した視標光束は、このように光学部材を経由することで左被検眼ＥＬに到達する。

これによって、左被検眼ＥＬの眼鏡装用位置（例えば、角膜頂点位置から１２ｍｍ程度）を基準として、矯正光学系６０により矯正された視標像が左被検眼ＥＬの眼底上に形成される。従って、乱視矯正光学系６３があたかも眼前に配置されたことと、球面度数の矯正光学系（本実施例においては、駆動機構３９の駆動）による球面度数の調整が眼前で行われたことと、が等価になっており、被検者は凹面ミラー８５を介して自然な状態で視標の像を視準することができる。なお、本実施例においては、右眼用光路においても、左眼用光路と同様の構成であり、左被検眼ＥＬ及び右被検眼ＥＲの眼鏡装用位置（例えば、角膜頂点位置から１２ｍｍ程度）を基準として、左右一対の矯正光学系６０により矯正された視標像が、両被検眼の眼底上に形成されるようになっている。このようにして、被検者は自然視の状態で視標を直視しつつ検者に対する応答を行い、検査視標が適正に見えるまで矯正光学系６０による矯正を図り、その矯正値に基づいて自覚的に被検眼の光学特性の測定を行う。

＜他覚測定手段の光路＞
次いで、他覚測定手段の光路について説明する。なお、以下の説明においては左眼用光路を例に挙げて説明するが、右眼用光路においても左眼用光路と同様の構成となっている。例えば、左眼用の他覚測定手段において、他覚式測定光学系１０における投影光学系１０ａの光源１１から出射された測定光は、リレーレンズ１２から対物レンズ１４までを介して補正光学系９０に入射する。補正光学系９０を通過した測定光は、左眼用測定手段７Ｌから左眼用の偏向ミラー８１Ｌに向けて投影される。左眼用測定手段７Ｌから出射されて左眼用の偏向ミラー８１で反射された測定光は、反射ミラー８４によって凹面ミラー８５に向けて反射される。凹面ミラーによって反射された測定光は、反射ミラー８４を透過して左被検眼ＥＬに到達し、左被検眼ＥＬの眼底上にスポット状の点光源像を形成する。このとき、光軸周りに回転するプリズム１５によって、ホールミラー１３のホール部の瞳投影像（瞳上での投影光束）は高速に偏心回転される。

左被検眼ＥＬの眼底上に形成された点光源像の光は、反射・散乱されて被検眼Ｅを射出し、測定光が通過した光路を経由して対物レンズ１４により集光され、ダイクロイックミラー２９、ダイクロイックミラー３５、プリズム１５、ホールミラー１３、リレーレンズ１６、ミラー１７までを介する。ミラー１７までを介した反射光は、受光絞り１８の開口上で再び集光され、コリメータレンズ１９にて略平行光束（正視眼の場合）とされ、リングレンズ２０によってリング状光束として取り出され、リング像として撮像素子２２に受光される。受光したリング像を解析することによって、他覚的に被検眼Ｅの光学特性を測定することができる。

＜制御部＞
図６は、本実施例に係る自覚式検眼装置１の制御系を示す図である。例えば、制御部７０には、モニタ４、不揮発性メモリ７５（以下、メモリ７５）、測定手段７が備える測定光源１１、撮像素子２２、ディスプレイ３１、撮像素子５２等の各種部材が電気的に接続されている。また、例えば、制御部７０には、駆動手段９、駆動機構３９、回転機構６２ａと６２ｂ、駆動手段８３、回転機構９２ａと９２ｂがそれぞれ備える図示なき駆動部が電気的に接続されている。

例えば、制御部７０は、ＣＰＵ（プロセッサ）、ＲＡＭ、ＲＯＭ等を備える。例えば、ＣＰＵは、自覚式検眼装置１における各部材の制御を司る。例えば、ＲＡＭは、各種の情報を一時的に記憶する。例えば、ＲＯＭには、自覚式検眼装置１の動作を制御するための各種プログラム、各種検査のための視標データ、初期値等が記憶されている。なお、制御部７０は、複数の制御部（つまり、複数のプロセッサ）によって構成されてもよい。

例えば、メモリ７５は、電源の供給が遮断されても記憶内容を保持できる非一過性の記憶媒体である。例えば、メモリ７５としては、ハードディスクドライブ、フラッシュＲＯＭ、及び自覚式検眼装置１に着脱可能に装着されるＵＳＢメモリ等を使用することができる。例えば、メモリ７５には、自覚式測定手段及び他覚式測定手段を制御するための制御プログラムが記憶されている。

＜制御動作＞
上記の構成を備える自覚式検眼装置１の制御について説明する。例えば、本実施例においては、自覚式検眼装置１を用いて、被検眼Ｅの遠用時における光学特性が測定される場合を例に挙げる。もちろん、自覚式検眼装置１を用いて、被検眼Ｅの近用時における光学特性が測定されてもよい。

＜被検眼のアライメント＞
検者は被検者に、顎台５に顎を載せて、ディスプレイ３１に表示された固視標を呈示窓３から観察するよう指示する。被検者の被検眼Ｅには、第１指標投影光学系４５及び第２指標投影光学系４６の光源が点灯することによって、アライメント指標像（以下、指標像）が投影される。また、被検眼Ｅの前眼部は、前眼部撮像光学系１００によって検出される。制御部７０は、被検眼Ｅの前眼部が検出されると、被検眼Ｅと測定手段７との位置合わせを開始する。すなわち、制御部７０は自動アライメントを開始する。

図７は被検眼Ｅの前眼部画像を示す図である。例えば、アライメント状態を検出する際には、第１指標投影光学系４５及び第２指標投影光学系４６が備える光源が点灯する。これによって、被検眼Ｅには指標像Ｍａ～Ｍｈがリング状に投影される。例えば、制御部７０は、指標像Ｍａ～ＭｈにおけるＸＹ中心座標（図７に示す十字マーク）を略角膜頂点位置Ｋとして検出する。例えば、指標像Ｍａ及びＭｅは無限遠であり、指標像Ｍｈ及びＭｆは有限遠である。

例えば、被検眼Ｅの左右方向（Ｘ方向）及び上下方向（Ｙ方向）におけるアライメント状態は、予め設定されたアライメント基準位置Ｎ（図８参照）を用いて判定される。例えば、本実施例においては、このようなアライメント基準位置Ｎが、被検眼Ｅの角膜頂点位置と、凹面ミラー８５に反射されて被検眼Ｅへと向かう視標光束の光軸Ｌ４ＬまたはＬ４Ｒと、が一致する位置に設定されている。また、例えば、アライメント基準位置Ｎを中心とした所定の領域は、アライメントの適否を判定するためのアライメント許容範囲Ａ１（図８参照）として設定されている。

図８はアライメント制御について説明する図である。例えば、制御部７０は、検出した被検眼Ｅの略角膜頂点位置Ｋと、アライメント基準位置Ｎと、の偏位量Δｄを求めることによって、被検眼Ｅに対する視標光束のＸＹ方向における位置ずれを検出する。例えば、被検眼Ｅに対する視標光束の位置ずれが検出されると、制御部７０はその検出結果に基づいて測定手段７を移動する。例えば、本実施例では、偏向ミラー８１及び測定手段７をＸ方向に一体的に移動させることによって、被検眼ＥのＸ方向（左右方向）におけるアライメントを行うことができる。また、例えば、本実施例においては、偏向ミラー８１及び測定手段７をＺ方向に一体的に移動させることによって、被検眼ＥのＹ方向（上下方向）におけるアライメントを行うことができる。なお、偏向ミラー８１と測定手段７は、一体的でなく、それぞれが別に移動する構成であってもよい。例えば、制御部７０は、偏位量Δｄがアライメント許容範囲Ａ１におさまるように、Ｘ方向及びＹ方向のアライメントを調整する。

また、例えば、制御部７０は、無限遠の指標像Ｍａ及びＭｅの像間隔ａと、有限遠の指標像Ｍｈ及びＭｆの像間隔ｂとの像比率（つまり、ａ／ｂ）を比較することによって、被検眼Ｅに対する視標光束のＺ方向における位置ずれを検出する。例えば、被検眼Ｅに対する視標光束の位置ずれが検出されると、制御部７０はその検出結果に基づいて測定手段７を移動する。例えば、本実施例では、偏向ミラー８１及び測定手段７をＹ方向に一体的に移動させることによって、被検眼ＥのＺ方向（前後方向）におけるアライメントを行うことができる。なお、Ｚ方向についても、アライメントの適否を判定するためのアライメント許容範囲が設定されていてもよい。

例えば、制御部７０は、被検眼ＥのＸＹＺ方向におけるアライメント偏位量が許容範囲内におさまると、偏向ミラー８１及び測定手段７の駆動を停止させるとともに、アライメント完了信号を出力する。なお、制御部７０は、アライメントが完了してもアライメント偏位量を常に検出しており、アライメント偏位量が許容範囲を超えた場合には、自動アライメントを再開してもよい。すなわち、制御部７０は、アライメント偏位量が許容範囲内におさまるように、被検眼Ｅに対して前眼部撮像光学系１００の撮影部を追尾させるトラッキング制御を行う。

＜他覚式測定＞
被検眼Ｅのアライメントが完了すると、制御部７０は、他覚式測定光学系１０が備える光源１１から測定光束を照射させる。測定光束は、偏向ミラー８１Ｌと凹面ミラー８５を介して左被検眼ＥＬの眼底に到達し、眼底で反射された後に、凹面ミラー８５と偏向ミラー８１Ｌを介して撮像素子２２に到達する。同様に、測定光束は、偏向ミラー８１Ｒと凹面ミラー８５を介して右被検眼ＥＲの眼底に到達し、眼底で反射された後に、凹面ミラー８５と偏向ミラー８１Ｒを介して撮像素子２２に到達する。なお、他覚式測定は、左右被検眼において同時に実施されてもよいし、左右被検眼において異なるタイミングにて実施されてもよい。

例えば、他覚式測定においては、はじめに他覚眼屈折力の予備測定が行われ、予備測定の結果に基づいてディスプレイ３１が光軸Ｌ２方向に移動されることで、被検眼Ｅに対して雲霧がかけられてもよい。すなわち、被検眼Ｅのピントが合う位置にディスプレイ３１が一旦移動された後、適当な雲霧量となる位置にディスプレイ３１が移動されることによって、被検眼Ｅに対して雲霧がかけられてもよい。なお、雲霧量の算出についての詳細は、例えば特開２０１７－９９６４０号公報を参照されたい。

また、例えば、他覚式測定においては、雲霧がかけられた被検眼Ｅに対して他覚眼屈折力の本測定が行われてもよい。本測定では、測定画像（すなわち、前述のリング像）が撮像素子２２により撮像され、メモリ７５に記憶される。例えば、制御部７０は、リング像を画像解析することで各経線方向の眼屈折力を求め、この眼屈折力に対して所定の処理を行うことで、他覚式測定によって測定された被検眼Ｅの光学特性（つまり、他覚式測定によって測定された球面度数と、円柱度数と、乱視軸角度と、の少なくともいずれか）を取得する。また、制御部７０は、取得した他覚式測定における光学特性をメモリ７５に記憶する。

＜自覚式測定＞
他覚式測定が完了すると、検者は、モニタ４を操作して測定モードを切り換え、被検眼Ｅに対する自覚式測定を行う。制御部７０は、他覚式測定で取得された被検眼Ｅの光学特性（他覚値）に基づいて、被検眼Ｅの眼屈折力が０Ｄに矯正されるように、矯正光学系６０と投光光学系３０との少なくともいずれかを制御する。この場合、制御部７０は、円柱レンズ６１ａと６１ｂを回転させることで、円柱度数と乱視軸角度との少なくともいずれかを矯正してもよい。また、この場合、制御部７０は、ディスプレイ３１を移動させることで、球面度数を矯正してもよい。これによって、被検眼Ｅの眼屈折力が０Ｄとなる矯正度数を取得することができる。なお、制御部７０は、被検眼Ｅの眼屈折力が０Ｄ以外（例えば、－１Ｄ等）に矯正されるように、矯正光学系６０と投光光学系３０との少なくともいずれかを制御してもよい。また、制御部７０は、検査視標として、ディスプレイ３１に所要の視力値視標（例えば、視力値１．０の視標等）を表示する。

検者は、他覚式測定における光学特性に基づいて設定された矯正度数が、被検者にとって適切であるかを判断するために、モニタ４に表示された所定のスイッチを選択し、被検者の回答に応じて、ディスプレイ３１に表示する視力値視標を切り換える。例えば、検者は、被検者の回答が正答の場合には１段階高い視力値視標に切り換え、被検者の回答が誤答の場合には１段階低い視力値視標に切り換える。つまり、制御部７０は、モニタ４からの視力値視標を変更する信号に基づいて、ディスプレイ３１に表示する視標を切り換える。

なお、上記の矯正度数が被検者にとって適切でなかった場合等、検者はモニタ４を操作して矯正光学系６０及び投光光学系３０の矯正度数を変更し、変更後の矯正度数が被検者にとって適切であるかを判断してもよい。例えば、制御部７０は、検者が適切と判断した場合の矯正度数を、自覚式測定により測定された被検眼Ｅの光学特性（つまり、自覚式測定により測定された球面度数と、円柱度数と、乱視軸角度と、の少なくともいずれか）として取得する。また、制御部７０は、取得した自覚式測定における光学特性をメモリ７５に記憶する。

なお、自覚式測定は、左右被検眼において同時に実施されてもよいし、左右被検眼において異なるタイミングで実施されてもよい。異なるタイミングである場合には、非測定眼側のディスプレイ３１に視力値視標を表示しない構成であってもよいし、矯正光学系６０によってフォグ（例えば、他覚眼屈折力に対して一定の屈折度数が付加される）を行う構成であってもよい。

＜光学収差成分の発生＞
ここで、例えば、自覚式検眼装置１を用いて被検眼Ｅに対する自覚式測定を行う際には、自覚式測定手段によって発生する第１光学収差成分と、被検眼Ｅがもつ光学特性によって発生する第２光学収差成分と、に基づいた第３光学収差成分が発生する。例えば、光学収差成分は、光学収差の方向、光学収差の量（大きさ）、等の少なくともいずれかであってもよい。また、例えば、光学収差は、球面収差、非点収差、コマ収差、像面湾曲、歪曲収差、色収差、等の少なくともいずれかであってもよい。

例えば、自覚式測定手段によって発生する第１光学収差成分は、被検眼Ｅのアライメント状態、矯正光学系６０にて設定される矯正度数（すなわち、球面度数、円柱度数、乱視軸角度、等）、視標光束の輻輳角度、等の少なくともいずれかによって変化する。例えば、これらの少なくともいずれかが変化すると、自覚式測定手段が備える凹面ミラー８５に向かって照射された視標光束の、凹面ミラー８５上における反射位置または反射面積（つまり、視標光束の光束径）が変化する。一例としては、矯正光学系６０にて設定される矯正度数が変化することで、凹面ミラー８５に照射された視標光束の反射面積が変化する。つまり、矯正光学系６０にて設定される矯正度数によって、凹面ミラー８５に対する視標光束の集光状態が変化する。例えば、矯正度数が０Ｄの場合、視標光束は、無限遠から平行光束で凹面ミラー８５に入射する。例えば、矯正度数がプラス側に強いほど、視標光束は強い拡散光束として凹面ミラー８５に入射する。このため、視標光束の反射面積は大きくなり、第１光学収差成分が大きくなる。また、例えば、矯正度数がマイナス側に強いほど、視標光束は強い収束光束として凹面ミラー８５に入射する。このため、反射面積が小さくなり、第１光学収差成分は小さくなる。

例えば、矯正光学系６０にて設定される矯正度数は、被検眼Ｅがもつ球面度数、円柱度数、及び乱視軸角度の少なくともいずれかによって変化する。すなわち、本実施例において、矯正光学系６０にて設定された矯正度数により発生する光学収差成分は、第２光学収差成分に応じて変化する。

なお、本実施例においては、矯正光学系６０にて設定される矯正度数の変化で発生する光学収差成分と、自覚式測定手段の光学部材を移動させることで変化する光学収差成分と、によって発生する光学収差成分を第１光学収差成分としてもよい。例えば、この場合、第１光学収差成分は、矯正光学系６０にて設定される矯正度数の変化で発生する光学収差成分と、被検眼Ｅのアライメント状態の変化で発生する光学収差成分と、によって発生する光学収差成分であってもよい。また、例えば、この場合、第１光学収差成分は、矯正光学系６０にて設定される矯正度数の変化で発生する光学収差成分と、視標光束の輻輳角度の変化で発生する光学収差成分と、によって発生する光学収差成分であってもよい。

例えば、被検眼Ｅがもつ光学特性（眼屈折力）によって発生する第２光学収差成分（言い換えると、被検眼Ｅの眼球収差成分）は、被検眼Ｅの球面度数、円柱度数、及び乱視軸角度の少なくともいずれかによって決定される。以下、第２光学収差成分について、被検眼Ｅが正常眼の場合（被検眼Ｅの眼屈折力が０Ｄの場合）と、被検眼Ｅが乱視眼の場合と、を例に挙げて説明する。なお、以下では、被検眼Ｅに向けて視標光束が正円形状で照射される場合を例示する。

例えば、被検眼Ｅが正常眼であれば、正円形状で照射された視標光束は、正円形状のままで被検眼Ｅの眼底に到達する。しかし、例えば、被検眼Ｅが乱視眼であれば、正円形状で照射された視標光束は、正円形状から楕円形状に変形した状態で、被検眼Ｅの眼底に到達する。楕円形状がどの程度変形するか（例えば、楕円形状の短軸の長さの変化等）は、被検眼Ｅがもつ円柱度数に応じて変化する。また、例えば、被検眼Ｅが乱視眼であれば、楕円形状に変形した視標光束は、視標光束の中心を軸として回転した状態となって、被検眼Ｅの眼底に到達する。楕円形状がどの程度回転するかは、被検眼Ｅが乱視軸角度に応じて変化する。

例えば、上記では乱視眼を例示したが、近視眼や遠視眼である場合にも視標光束は変形する。この場合には、正円形状で照射された視標光束が、正常眼よりも拡大あるいは縮小されて、被検眼Ｅの眼底に到達する。視標光束がどの程度拡大または縮小されるかは、被検眼Ｅの球面度数に応じて変化する。なお、第２光学収差成分は、このような被検眼Ｅに特有の光学収差成分であるため、矯正光学系６０にて設定される矯正度数等の変化等によっては変動しない。

例えば、本実施例における自覚式検眼装置１では、第１光学収差成分と、第２光学収差成分と、が合成された合成光学収差成分が、第３光学収差成分として発生する。この場合には、例えば、第３光学収差成分は、第１光学収差成分としての光学収差の方向と、第２光学収差成分としての光学収差の方向と、が合成された合成光学収差の方向であってもよい。また、例えば、この場合、第３光学収差成分は、第１光学収差成分としての光学収差の量と、第２光学収差成分としての光学収差の量と、が合成された合成光学収差の量であってもよい。もちろん、例えば、第３光学収差成分は、第１光学収差成分としての光学収差の方向及び量と、第２光学収差成分としての光学収差の方向及び量と、が合成された合成光学収差の方向及び量であってもよい。

＜光学収差成分を補正するための補正量の設定＞
例えば、制御部７０は、自覚式測定手段によって発生する第１光学収差成分と、被検眼Ｅがもつ光学特性によって発生する第２光学収差成分と、に基づいた第３光学収差成分を補正するための補正量を設定する。例えば、本実施例において、制御部７０は、第３光学収差成分を補正するための補正量として、第１光学収差成分と、第２光学収差成分と、が合成された合成光学収差成分を補正するための補正量を設定してもよい。

なお、例えば、本実施例においては、矯正光学系６０にて設定される矯正度数の変化毎に発生する第１光学収差成分が、予めメモリ７５に記憶されていてもよい。もちろん、被検眼Ｅに対する測定手段７の位置（すなわち、アライメント状態）の変化毎に発生する第１光学収差成分が、予めメモリ７５に記憶されていてもよい。また、偏向ミラー８１の角度（すなわち、視標光束の輻輳角度）の変化毎に発生する第１光学収差成分が、予めメモリ７５に記憶されていてもよい。また、例えば、本実施例においては、被検眼Ｅがもつ光学特性毎に発生する第２光学収差成分が、予めメモリ７５に記憶されていてもよい。

例えば、制御部７０は、自覚式測定手段における光学部材の状態（つまり、矯正光学系６０の矯正状態、測定手段７の位置、偏向ミラー８１の角度、等の少なくともいずれか）及び被検眼Ｅの光学特性に基づいて、メモリ７５に記憶された各光学収差成分を取得してもよい。また、例えば、制御部７０は、各光学収差成分に基づいて、これらの光学収差成分を合成した合成光学収差成分を取得してもよい。この場合、第１光学収差成分と、第２光学収差成分と、に基づいた合成光学収差成分が予めメモリ７５に記憶されていてもよい。もちろん、予め実験やシミュレーションを行うことで作成されたテーブルや演算式を用いて、合成光学収差成分を取得してもよい。また、例えば、制御部７０は、取得した合成光学収差成分に基づいて、合成光学収差成分を補正するための補正量を設定してもよい。

以下、合成光学収差成分を補正するための補正量の設定について詳細に説明する。例えば、本実施例では、光学収差として非点収差が発生する場合を例に挙げる。すなわち、第１光学収差成分として、自覚式測定手段によって発生する第１非点収差成分が発生し、第２光学収差成分として、被検眼Ｅがもつ乱視成分（すなわち、被検眼Ｅの円柱度数及び乱視軸角度）によって発生する第２非点収差成分が発生する。例えば、自覚式検眼装置１では、これらの第１非点収差成分及び第２非点収差成分が合成された合成非点収差成分が発生している。例えば、制御部７０は、合成非点収差の方向と量を考慮した補正量を設定する。

図９は合成非点収差成分を補正するための補正量を説明する図である。なお、図９は、ベクトルの長さｒを非点収差の量として、ベクトルの角度θを非点収差の方向として表す極座標を、仮想的な直交座標に変換した概念図である。例えば、極座標を直交座標に変換する際には、以下の数式１及び数式２を用いる。数式１のｘは、直交座標におけるｘ座標の位置である。数式２のｙは、直交座標におけるｙ座標の位置である。

例えば、第１非点収差成分１１１の極座標が（ｒ，θ）＝（１，３０°）である場合、第１非点収差成分１１１の直交座標は、上記の数式により（ｘ，ｙ）＝（０．８６，０．５）と表すことができる。また、例えば、第２非点収差成分２２２の極座標が（ｒ，θ）＝（２，６０°）である場合、第２非点収差成分２２２の直交座標は、上記の数式により（ｘ，ｙ）＝（１，１．７３）と表すことができる。例えば、合成非点収差成分３３３は、第１非点収差成分１１１と第２非点収差成分２２２とが合成された非点収差成分であり、これらのベクトルの和で表すことができる。すなわち、合成非点収差成分３３３の直交座標は、（ｘ，ｙ）＝（１．８６，２．２３）となる。

例えば、制御部７０は、合成非点収差成分３３３とベクトルの方向が逆であり、かつ第３非点収差成分３３３とベクトルの長さが同一となる第４非点収差成分４４４を付加するような補正量を、合成非点収差成分を補正するための補正量として設定する。すなわち、制御部７０は、合成非点収差成分３３３を打ち消すような補正量を、合成光学収差成分を補正するための補正量として設定する。例えば、図９において、第４非点収差成分４４４の直交座標は、（ｘ，ｙ）＝（－１．８６，－２．２３）となる。

例えば、制御部７０は、第４非点収差成分４４４の直交座標を極座標に変換することで、第４非点収差成分４４４の方向と量を求めることができる。つまり、制御部７０は、第４非点収差成分４４４の極座標に変換することで、合成非点収差成分を補正するための補正量を設定する。例えば、制御部７０は、直交座標におけるｘ座標の位置及びｙ座標の位置を以下の数式３に代入することで、第４非点収差成分４４４のベクトルの長さｒ（すなわち、第４非点収差の量）を求める。

また、例えば、制御部７０は、数式３により求めた第４非点収差成分４４４のベクトルの長さｒを、数式１または数式２のいずれかに代入することによって、第４非点収差成分４４４のベクトルの角度θ（すなわち、第４非点収差の方向）を求める。

例えば、これによって、第４非点収差成分４４４の極座標は、（ｒ，θ）＝（２．９１，２３０．１°）と表すことができる。例えば、制御部７０は、合成非点収差の量（言い換えると、円柱度数）を補正するための補正量として２．９１（２．９１Ｄ）を設定し、合成非点収差の方向（言い換えると、乱視軸角度）を補正するための補正量として２３０．１°を設定する。なお、乱視軸角度は０°～１８０°で表され、例えば乱視軸角度９０°は乱視軸角度２７０°と同義であるため、本実施例では補正量として５０．１°が設定されてもよい。また、図９は概念図であり、極座標で表される数値が実際に設定される補正量になるとは限らない。

例えば、上記では、概念図を用いて合成非点収差成分（第３非点収差成分）を補正するための補正量を計算したが、メモリ７５には、合成非点収差成分を補正するための補正量を取得するための補正テーブルが記憶されていてもよい。また、メモリ７５には、合成非点収差成分を補正するための補正量を演算する演算式が記憶されていてもよい。例えば、このような補正テーブル及び演算式は、予め実験やシミュレーションを行うことで作成されていてもよい。例えば、制御部７０は、補正テーブルまたは演算式の少なくともいずれかに基づいて、合成非点収差成分を補正するための補正量を設定する。例えば、本実施例では、合成非点収差の量を補正するための補正量と、合成非点収差の方向を補正するための補正量と、がそれぞれ設定される。

なお、例えば、本実施例において、合成非点収差成分４４４は、被検眼Ｅの円柱度数が同一であっても、被検眼Ｅの乱視軸角度が異なる場合には、被検眼ごとに変化する。これについて、合成非点収差の量を補正するための補正量の変化を例に挙げて説明する。図１３は、被検眼Ｅの乱視軸角度が異なる場合に、合成非点収差成分４４４を補正するために設定される補正量の変化を表す図である。例えば、図１３において、横軸は被検眼Ｅの乱視軸角度を示している。また、例えば、図１３において、縦軸は合成非点収差の量を補正するための補正量を示している。例えば、被検眼Ｅが正常眼（０Ｄ）の場合には、点線で示すように補正量が所定の値となるが、被検眼Ｅが乱視眼（例えば、－５Ｄ等）の場合には、実線で示すように補正量が乱視軸角度毎に変化する。

＜光学収差成分の補正＞
続いて、制御部７０は、設定された補正量に基づいて第３非点収差成分を補正する。例えば、本実施例において、制御部７０は、合成非点収差成分を補正するための補正量に基づいて合成非点収差成分を補正することによって、第３非点収差成分を補正する。この場合、制御部７０は、矯正光学系６０の矯正度数を変化させることによって、第３非点収差成分を補正してもよい。

例えば、本実施例では、乱視矯正光学系６３が備える２枚の円柱レンズ６１ａと６１ｂを用いて、合成非点収差の量と、合成非点収差の方向と、がどちらも補正される。例えば、制御部７０は、円柱レンズ６１ａと６１ｂの相対角度αを変更することで、合成非点収差の量を補正することができる。また、例えば、制御部７０は、円柱レンズ６１ａと６１ｂの回転角度βを変更することで、合成非点収差の方向を補正することができる。

図１０は円柱レンズの相対角度α及び回転角度βを説明する図である。図１０（ａ）は円柱レンズの相対角度を示している。図１０（ｂ）は円柱レンズの回転角度を示している。例えば、円柱レンズの相対角度αは、円柱レンズ６１ａの軸Ｓａと、円柱レンズ６１ｂの軸Ｓｂと、のなす角度として表される。例えば、制御部７０は、上記のように設定された合成非点収差の量を補正するための補正量に基づいて、回転機構６２ａと６２ｂとの少なくともいずれかを駆動させ、円柱レンズ６１ａと円柱レンズ６１ｂの相対角度αを変更する。例えば、各相対角度αに設定したときに発生する非点収差の量（すなわち、円柱度数）は、円柱レンズ６１ａ及び６１ｂがもつ屈折力等から計算され、予め各相対角度に対応付けられている。例えば、制御部７０は、円柱レンズの相対角度αを変更することで、設定された合成非点収差の量を発生させることができる。これによって、所定の光学収差の量をもった視標光束が被検眼Ｅに向けて入射されるようになる。

また、例えば、円柱レンズの回転角度βは、２枚の円柱レンズ６１ａと６１ｂが、相対角度αを維持して回転した角度として表される。例えば、図１０（ｂ）において、点線で示す軸の位置は円柱レンズを回転させる前の軸の位置であり、実線で示す軸の位置は円柱レンズを回転させた後の軸の位置である。例えば、制御部７０は、上記のように設定された合成非点収差の方向を補正するための補正量に基づいて、回転機構６２ａと６２ｂを駆動させ、円柱レンズ６１ａと円柱レンズ６１ｂの回転角度βを変更する。なお、本実施例では、円柱レンズ６１ａの軸Ｓａが回転した角度を回転角度βとしているが、円柱レンズ６１ｂの軸Ｓｂが回転した角度を回転角度βとして考えてもよい。例えば、制御部７０は、円柱レンズの回転角度βを変更することで、設定された合成非点収差の方向（すなわち、乱視軸角度）を発生させることができる。これによって、所定の光学収差の方向をもった視標光束が被検眼Ｅに向けて入射されるようになる。

例えば、このように、自覚式検眼装置１を用いて被検眼Ｅに対する自覚式測定を行う際に発生する合成非点収差成分を補正することによって、非点収差を打ち消して軽減させることができ、被検眼Ｅに対して自覚式測定を精度よく行うことができる。

なお、上記においては、乱視矯正光学系６３が備える２枚の円柱レンズ６１ａと６１ｂを用いて、合成非点収差の量と、合成非点収差の方向と、をどちらも補正する構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。例えば、補正光学系９０が備える２枚の円柱レンズ９１ａと９１ｂを用いて、合成非点収差の量と、合成非点収差の方向と、をどちらも補正する構成であってもよい。また、例えば、乱視矯正光学系６３が備える２枚の円柱レンズ６１ａと６１ｂを用いて、合成非点収差の量と合成非点収差の方向とのいずれかを補正し、補正光学系９０が備える２枚の円柱レンズ９１ａと９１ｂを用いて、合成非点収差の量と合成非点収差の方向とのいずれかを補正する構成としてもよい。これらの構成であっても、２枚の円柱レンズの相対角度α及び回転角度βを変更することで、自覚式測定を行う際に発生する合成非点収差成分を補正することができる。

＜光学収差成分の補正により発生した視標光束の歪補正＞
例えば、第３非点収差成分を補正することによって、被検眼Ｅの眼底に投影される視標光束には歪が発生する。そこで、例えば、制御部７０は、第３非点収差成分を補正することによって発生した視標光束の歪を補正するようにしてもよい。言い換えると、被検眼Ｅの眼底に投影される視標光束の歪が補正されてもよい。例えば、本実施例では、合成非点収差成分を補正することによって発生した視標光束の歪が補正される。

例えば、本実施例において、視標光束の歪はディスプレイ３１に表示させる視標を変形させることによって補正することができる。より詳細には、ディスプレイ３１に表示される視標の縦方向のサイズの変更と、横方向のサイズの変更と、視標の移動と、の少なくともいずれかの処理を行って視標を変形させることで、視標光束の歪を補正することができる。以下、これについて説明する。

図１１は視標光束の歪について説明する図である。本実施例においては、説明の便宜上、縦方向のサイズ及び横方向のサイズが同一な基本形状のグリッドＢＦが視標としてディスプレイ３１に表示され、被検眼Ｅに導光されるものとして説明する。例えば、視標光束に歪が生じると、ディスプレイ３１に点線で示す基本形状のグリッドＢＦを表示しても、被検眼Ｅには実線で示す変形形状のグリッドＴＦが投影されているようにみえる。すなわち、被検眼Ｅには、視標光束の歪によって、縦方向のサイズや横方向のサイズが変形したグリッドが投影されているようにみえる。また、被検眼Ｅには、視標の中心Ｐを軸として回転方向に移動したグリッドが投影されているようにみえる。例えば、図１１においては、基本形状のグリッドＢＦよりも縦方向のサイズが小さく、横方向のサイズが大きく、さらに視標の中心Ｐを軸として反時計回りに回転移動した変形形状のグリッドＴＦがディスプレイ３１に表示されているようにみえる。なお、被検眼Ｅに投影されるグリッド（視標）は、必ずしも縦方向、横方向、及び回転方向のすべてにおいて変形するのではなく、少なくともそのいずれかが変形する。

このため、例えば、制御部７０は、視標光束の歪を補正するための補正量を設定する。例えば、メモリ７５には、視標光束の歪を補正するための補正量を取得するための補正テーブルが記憶されていてもよい。また、例えば、メモリ７５には、視標光束の歪を補正するための補正量を演算する演算式が記憶されていてもよい。例えば、このような補正テーブル及び演算式は、予め実験やシミュレーションを行うことで作成されていてもよい。例えば、制御部７０は、補正テーブルまたは演算式の少なくともいずれかに基づいて、視標光束の歪を補正するための補正量を設定する。

また、例えば、制御部７０は、設定された補正量に基づいて、視標光束の歪を補正する。図１２は視標光束の歪の補正について説明する図である。なお、図１２では、ディスプレイ３１に表示されたグリッド（視標）を点線で表し、被検眼Ｅに投影されるグリッド（視標）を実線で表している。例えば、図１１を用いて説明したように、ディスプレイ３１に基本形状のグリッドＢＦを表示しても、視標光束が歪むため、被検眼Ｅには変形形状のグリッドＴＦが投影される。例えば、制御部７０は、設定された補正量に基づいて、合成非点収差成分を補正したことによって変化する視標光束の歪を打ち消すための視標をディスプレイ３１に表示する。例えば、本実施例においては、制御部７０が基本形状のグリッドＢＦよりも縦方向のサイズを大きく、横方向のサイズを小さく、さらに視標の中心Ｐを軸として時計回りに回転移動させた補正グリッドＲＦを予めディスプレイ３１に表示する。これによって、被検眼Ｅに向けて導光される視標光束の歪が補正される。つまり、ディスプレイ３１に表示した補正グリッドＲＦは、その視標光束に歪が生じるが、被検眼Ｅには基本形状のグリッドＢＦが投影されるようになる。

なお、本実施例においては説明していないが、視標の縦方向、横方向、及び回転方向に変形する歪だけでなく、糸巻き型や樽型に変形する歪を考慮した補正グリッドＲＦをディスプレイ３１に表示するようにしてもよい。

以上説明したように、例えば、本実施例における自覚式検眼装置は、自覚式測定手段によって発生する第１光学収差成分と、被検眼の光学特性によって発生する第２光学収差成分と、に基づいた第３光学収差成分を補正するための補正量を設定し、補正量に基づいて第３光学収差成分を補正する。これによって、自覚式測定の際に発生した光学収差成分を軽減させ、被検眼の光学特性を精度よく測定することができる。

例えば、本実施例においては、第３光学収差成分を補正するための補正量として、第１光学収差成分と第２光学収差成分とが合成された合成光学収差成分を補正するための補正量が設定される。また、例えば、本実施例においては、合成光学収差成分を補正するための補正量に基づいて合成光学収差成分を補正することによって、第３光学収差成分が補正される。このため、各光学収差成分に対してそれぞれの補正量を設定しなくてもよく、第３光学収差成分を容易に補正できるようになる。

例えば、本実施例においては、第３光学収差成分を補正するための補正量として、第１光学収差成分を補正するための補正量と、第２光学収差成分を補正するための補正量と、がそれぞれ設定される。これによって、各光学収差成分に応じて補正量を設定できるようになる。すなわち、例えば、第１光学収差成分に対しては補正量を設定し、第２光学収差成分に対しては補正量を設定しない、等の設定ができるようになる。

例えば、本実施例においては、第１光学収差成分を補正するための補正量と、第２光学収差成分を補正するための補正量と、の双方に基づいた補正を行うことによって、第３光学収差成分が補正される。すなわち、１つの補正ユニットを用いて、第１光学収差成分を補正するための補正量と、第２光学収差成分を補正するための補正量とに基づいた補正が行われる。これによって、複数の補正ユニットを用いる場合に比べて、装置の構成を容易にすることができる。

例えば、本実施例においては、第１光学収差成分を補正するための補正量に基づいた補正を行う第１補正ユニットと、第２光学収差成分を補正するための補正量に基づいた補正を行う第２補正ユニットによって、第３光学収差成分が補正される。すなわち、２つの補正ユニットを用いて第３光学収差成分が補正される。これによって、各光学収差成分に対して別々に補正を行うことができる。例えば、第１光学収差成分は補正し、第２光学収差成分は補正しない、等の補正ができるようになる。

例えば、本実施例においては、第３光学収差成分を補正したことによって発生する視標光束の歪が補正される。これによって、視標光束の歪を軽減させた状態で自覚式測定を行い、被検眼の光学特性を精度よく取得することができる。

＜変容例＞
なお、本実施例においては、第３光学収差成分を補正するための補正量として、第１光学収差成分と第２光学収差成分とが合成された合成光学収差成分を補正するための補正量が設定される構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。例えば、第３光学収差成分を補正するための補正量として、第１光学収差成分を補正するための補正量と、第２光学収差成分を補正するための補正量と、がそれぞれ設定される構成であってもよい。

例えば、この場合には、１つの補正ユニットを用いて、第１光学収差成分を補正するための補正量と、第２光学収差成分を補正するための補正量と、の双方に基づいた第３光学収差成分の補正が行われてもよい。例えば、本実施例において、１つの補正ユニットとしては、乱視矯正光学系６３または補正光学系９０のいずれかを用いることができる。もちろん、これらの光学系を兼用するのではなく、補正ユニットを別途設ける構成としてもよい。例えば、これによって、自覚式測定手段によって発生する第１光学収差成分と、被検眼Ｅの光学特性によって発生する第２光学収差成分と、をそれぞれ補正することができる。

また、例えば、この場合には、第１光学収差成分を補正するための補正量に基づいた補正を行う第１補正ユニットと、第２光学収差成分を補正するための補正量に基づいた補正を行う第２補正ユニットと、を用いて、第３光学収差成分の補正が行われてもよい。例えば、本実施例においては、第１補正ユニットとして乱視矯正光学系６３を用い、第２補正ユニットとして補正光学系９０を用いることができる。もちろん、第１補正ユニットとして補正光学系９０を用い、第２補正ユニットとして乱視矯正光学系６３を用いることもできる。もちろん、これらの光学系を兼用するのではなく、補正ユニットを別途設ける構成としてもよい。例えば、これによっても、自覚式測定手段によって発生する第１光学収差成分と、被検眼Ｅの光学特性によって発生する第２光学収差成分と、をそれぞれ補正することができる。

例えば、本実施例においては、矯正光学系６０の矯正度数によって凹面ミラー８５に照射される視標光束が変化し、第１光学収差成分が発生する場合を例に挙げて説明したがこれに限定されない。例えば、本実施例において、被検眼Ｅのアライメント状態が変化すると（すなわち、被検眼ＥがＸ方向、Ｙ方向、Ｚ方向の少なくともいずれかの方向に位置ずれすると）、偏向ミラー８１及び測定手段７が一体的に移動することでアライメントが調整されるので、凹面ミラー８５上における視標光束の反射位置または反射面積が変化する。また、例えば、本実施例において、視標光束の輻輳角度が変化すると（すなわち、左右被検眼の輻輳角度が変更されると）、偏向ミラー８１の反射角度が調整されるので、凹面ミラー８５上における視標光束の反射位置または反射面積が変化する。このため、例えば、メモリ７５には、被検眼Ｅのアライメント状態によって発生する第１光学収差成分と、被検眼Ｅの第２光学収差成分と、に基づいた第３光学収差成分を補正するための補正テーブルあるいは演算式が記憶されていてもよい。また、例えば、メモリ７５には、視標光束の輻輳角度によって発生する第１光学収差成分と、被検眼Ｅの第２光学収差成分と、に基づいた第３光学収差成分を補正するための補正テーブルあるいは演算式が記憶されていてもよい。例えば、制御部７０は、これらの補正テーブルを用いることによって、様々な条件に合わせて補正量を適宜変更することができる。

なお、本実施例では、図９のような概念図を用いて第３光学収差成分を求め、その補正量を設定する構成を例に挙げたがこれに限定されない。もちろん、第３光学収差成分は、概念図とは異なる方法で求めるようにしてもよい。

なお、本実施例においては、光学収差成分として非点収差成分を例に挙げて説明したがこれに限定されない。例えば、光学収差成分は、球面収差成分であってもよい。この場合には、自覚式測定手段にて発生する第１球面収差成分と、被検眼Ｅの球面度数によって発生する第２球面収差成分と、に基づいた第３球面収差成分を補正するための補正量を設定し、これに基づいて第３球面収差成分が補正される。例えば、球面収差成分の補正は、ディスプレイ３１を光軸Ｌ２方向に移動させることによって行われてもよい。

なお、本実施例においては、第３光学収差成分を補正するための補正量を設定して、第３光学収差成分を補正する構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。例えば、設定される補正量は、発生した光学収差成分を打ち消すことができる補正量であることが好ましいが、発生した光学収差成分を軽減させることができる補正量であってもよい。また、測定に支障が現れない程度の第３光学収差成分であれば、必ずしもこれを補正しなくてもよい。例えば、この場合、制御部７０は、第３光学収差成分を補正するか否かを判定するようにしてもよい。

なお、本実施例においては、ディスプレイ３１に表示する視標を予め変形させることによって、視標光束の歪を補正する構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。例えば、本実施例では、設定された補正量に基づいて光学部材を移動させることで、視標光束の歪を補正してもよい。例えば、この場合には、投光光学系３０が備える光学部材を利用してもよいし、光学部材を別途設けてもよい。例えば、投光光学系３０が備える光学部材を利用して視標光束の歪を補正する場合には、投光レンズ３３、投光レンズ３４、対物レンズ１４等のいずれかを傾斜させる構成であってもよいし、複数を組み合わせて傾斜させる構成であってもよい。また、例えば、光学部材を別途設けることによって視標光束の歪を補正する場合には、視標光束が通過する光軸上に、レンズ（凸レンズ、凹レンズ）、プリズム、ミラー等を挿脱する構成としてもよい。例えば、このように設定した補正量に基づいて、制御部７０が光学部材を傾斜させたり、挿脱したりすることで、視標光束の歪が補正されてもよい。

なお、本実施例では、自覚式測定を行う際に、第１光学収差成分と第２光学収差成分とに基づいた第３光学収差成分を補正する構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。例えば、他覚式測定を行う際に、第１光学収差成分と第２光学収差成分とに基づいた第３光学収差成分を補正する構成であってもよい。例えば、他覚式測定は、他覚式測定手段を備える自覚式検眼装置を用いて行われてもよいし、他覚式測定手段を備える他覚式検眼装置を用いて行われてもよい。

この場合には、視標光束を被検眼に向けて投影する投光光学系と、視標光束を被検眼に導光する光学部材と、を有し、被検眼の光学特性を他覚的に測定する他覚式測定手段を備える検眼装置であって、他覚式測定手段によって発生する第１光学収差成分と、被検眼の光学特性によって発生する第２光学収差成分と、に基づいた第３光学収差成分を補正するための補正量を設定する設定手段と、補正量に基づいて前記第３光学収差成分を補正する補正手段と、を備えるようにしてもよい。例えば、これによって、他覚式測定において検眼装置を構成する各部材から発生した光学収差と、被検眼がもつ眼屈折力（光学特性）によって発生する光学収差と、によって発生する複雑な光学収差を補正して、被検眼の光学測定を精度よく測定できるようになる。

例えば、他覚式測定では、被検眼の眼底上に形成された点光源像の光がリング像として取り出され、リング像が画像解析されることにより、被検眼Ｅの他覚的な光学特性が測定される。このため、例えば、検眼装置が備えるメモリには、第１光学収差成分と第２光学収差成分とによって、リング像の形状がどのように変形するかを予めシミュレーションして記憶しておいてもよい。例えば、検眼装置が備える制御部は、他覚式測定にて撮像素子に受光されたリング像の形状と、メモリに記憶されたリング像の形状と、を比較することで、被検眼の他覚的な光学特性を取得することができる。また、例えば、制御部は、他覚式測定にて撮像素子に受光されたリング像の形状と、メモリに記憶されたリング像の形状と、を比較することで、第１光学収差成分と第２光学収差成分とに基づいた第３光学収差成分を取得してもよい。

さらに、例えば、検眼装置は、投光光学系の光路中に、視標光束の光学特性を変化させることが可能な光学系を備えていてもよい。例えば、このような構成としては、投光光学系の光路中にレンズを挿抜する構成、回転可能な焦点距離の等しい２枚の正の円柱レンズを配置する構成、等が挙げられる。例えば、制御部は、第１光学収差成分と第２光学収差成分とに基づいた第３光学収差成分を打ち消すように（あるいは、軽減するように）、このような光学系を制御して、随時補正を行うようにしてもよい。

なお、本開示においては、本実施例に記載した装置に限定されない。例えば、下記実施形態の機能を行う端末制御ソフトウェア（プログラム）を、ネットワークまたは各種記憶媒体等を介してシステムあるいは装置に供給し、システムあるいは装置の制御装置（例えば、ＣＰＵ等）がプログラムを読み出して実行することも可能である。

１ 自覚式検眼装置
７ 測定手段
１０ 他覚式測定光学系
２５ 自覚式測定光学系
３０ 投光光学系
６０ 矯正光学系
７０ 制御部
７５ メモリ
８１ 偏向ミラー
８４ 反射ミラー
８５ 凹面ミラー
９０ 補正光学系
１００ 前眼部撮像光学系
１１１ 第１非点収差成分
２２２ 第２非点収差成分
３３３ 第３非点収差成分

Claims (5)

1. 視標光束を被検眼に向けて投影する投光光学系と、
   前記投光光学系の光路中に配置され、前記視標光束の光学特性を変化する矯正光学系と、
   前記矯正光学系によって矯正された前記視標光束を前記被検眼に導光する光学部材と、
   を有し、前記被検眼の光学特性を自覚的に測定する自覚式測定手段を備える自覚式検眼装置であって、
   前記自覚式測定手段によって発生する第１光学収差成分と、前記被検眼の光学特性によって発生する第２光学収差成分と、に基づいた第３光学収差成分を補正するための補正量を設定する設定手段と、
   前記補正量に基づいて前記第３光学収差成分を補正する補正手段と、
   前記補正手段が前記第３光学収差成分を補正したことによって発生する前記視標光束の歪を補正する歪補正手段と、
   を備えることを特徴とする自覚式検眼装置。
2. 請求項１の自覚式検眼装置において、
   前記設定手段は、前記第３光学収差成分を補正するための補正量として、前記第１光学収差成分と前記第２光学収差成分とが合成された合成光学収差成分を補正するための補正量を設定することを特徴とする自覚式検眼装置。
3. 請求項２の自覚式検眼装置において、
   前記補正手段は、前記合成光学収差成分を補正するための補正量に基づいて前記合成光学収差成分を補正することによって、前記第３光学収差成分を補正することを特徴とする自覚式検眼装置。
4. 請求項１の自覚式検眼装置において、
   前記設定手段は、前記第３光学収差成分を補正するための補正量として、前記第１光学収差成分を補正するための補正量と、前記第２光学収差成分を補正するための補正量と、をそれぞれ設定することを特徴とする自覚式検眼装置。
5. 請求項４の自覚式検眼装置において、
   前記補正手段は、前記第１光学収差成分を補正するための補正量と、前記第２光学収差成分を補正するための補正量と、の双方に基づいた補正を行うことによって、前記第３光学収差成分を補正することを特徴とする自覚式検眼装置。

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