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JP7017893B2 - 積層セラミックコンデンサ - Google Patents

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Description

本発明は、複数の内部電極層が誘電体層を介して積層された容量部を有する略直方体状のコンデンサ本体と、コンデンサ本体の相対する2つの端部の一方に設けられ、かつ、複数の内部電極層の一部が接続された第1外部電極と、コンデンサ本体の相対する2つの端部の他方に設けられ、かつ、複数の内部電極層の残部が接続された第2外部電極とを備えた積層セラミックコンデンサに関する。
スマートフォンやタブレットPC等の電子機器の薄型化に伴い、これら電子機器に内蔵される積層セラミックコンデンサにも薄型化が強く求められている。前掲の如き構成の積層セラミックコンデンサを薄型にするには、コンデンサ本体を薄型にすることに加え、第1外部電極および第2外部電極それぞれを後記特許文献1の図5および図6に示されるような2面タイプ、すなわち、縦向き部分と横向き部分とが連続した縦断面略L字形を成すタイプとすることが有効であるが、このようにすると以下のような懸念が生じる。
(懸念1)積層セラミックコンデンサの各外部電極を回路基板の導体パッドにハンダ付けするときには、対応する導体パッドそれぞれにクリームハンダを塗布し、塗布されたクリームハンダそれぞれに各外部電極の横向き部分を押し付けて積層セラミックコンデンサを回路基板に搭載した後、積層セラミックコンデンサが搭載された回路基板をリフロー炉に投入してクリームハンダを溶融し硬化させる方法(リフローハンダ付け)が一般に採用されている。
導体パッドそれぞれに塗布されたクリームハンダは各外部電極の横向き部分が接触した状態のままで溶融するため、溶融ハンダの一部は各導体パッドと各外部電極の横向き部分との間、ならびに、各外部電極の横向き部分の周囲に流動し、溶融ハンダの残部は各外部電極の他の部分に濡れ上がろうとする。2面タイプの外部電極の場合にはこの濡れ上がり先が各外部電極の縦向き部分しかないため、必然的に当該縦向き部分に溶融ハンダの残部が大きく濡れ上がることになる。また、溶融ハンダの残部の量は先に述べた溶融ハンダの一部の流動量に支配されるため、溶融ハンダの残部の量は外部電極それぞれで異なることになる。すなわち、各外部電極の縦向き部分それぞれにおけるハンダの濡れ上がりを同じようにすることは極めて難しく、そのため、この濡れ上がりの違いに基づいて積層セラミックコンデンサに浮き上がりや立ち上がり等の現象をハンダ付け時に生じる虞もある。
(懸念2)回路基板の導体パッドそれぞれに塗布されたクリームハンダに各外部電極の横部分を押し付けて積層セラミックコンデンサを回路基板に搭載するときには、マウンターの搬送器具等からの押圧力によって積層セラミックコンデンサに3次元的な撓みが生じる。2面タイプの外部電極は縦向き部分と横向き部分とが縦断面略L字形を成すように連続したものであるため、前記搭載時に積層セラミックコンデンサに生じる3次元的な撓みを各外部電極で抑制することは難しい。すなわち、各外部電極を構成する縦向き部分と横向き部分は積層セラミックコンデンサの撓み抑制にさほど貢献するものではないため、薄型にすると撓みを原因としてコンデンサ本体にクラックが生じる虞もある。
特開2015-228481号公報
本発明が解決しようとする課題は、2面タイプの外部電極が抱える懸念を極力解消できる積層セラミックコンデンサを提供することにある。
前記課題を解決するため、本発明に係る積層セラミックコンデンサは、複数の内部電極層が誘電体層を介して積層された容量部を有する略直方体状のコンデンサ本体と、前記コンデンサ本体の相対する2つの端部の一方に設けられ、かつ、前記複数の内部電極層の一部が接続された第1外部電極と、前記コンデンサ本体の相対する2つの端部の他方に設けられ、かつ、前記複数の内部電極層の残部が接続された第2外部電極とを備えた積層セラミックコンデンサであって、前記コンデンサ本体の相対する2つの面の対向方向を第1方向、他の相対する2つの面の対向方向を第2方向、残りの相対する2つの面の対向方向を第3方向とし、各方向に沿う寸法をそれぞれ第1方向寸法、第2方向寸法、第3方向寸法としたとき、前記第1外部電極は、前記コンデンサ本体の第1方向の一端面に存する第1面状部と、前記コンデンサ本体の第3方向の一端面に存する第2面状部と、前記コンデンサ本体の第2方向の両端面に存する補助面状部とを連続して有しており、前記第2外部電極は、前記コンデンサ本体の第1方向の他端面に存する第1面状部と、前記コンデンサ本体の第3方向の一端面に存する第2面状部と、前記コンデンサ本体の第2方向の両端面に存する補助面状部とを連続して有しており、前記第1外部電極の前記補助面状部それぞれの最大の第3方向寸法は前記第1外部電極の前記第1面状部の第3方向寸法よりも小さく、かつ、当該補助面状部それぞれの第1方向寸法は前記第1外部電極の前記第2面状部の第1方向寸法よりも小さく、前記第2外部電極の前記補助面状部それぞれの最大の第3方向寸法は前記第2外部電極の前記第1面状部の第3方向寸法よりも小さく、かつ、当該補助面状部それぞれの第1方向寸法は前記第2外部電極の前記第2面状部の第1方向寸法よりも小さく、前記コンデンサ本体の第1方向寸法と第2方向寸法と第3方向寸法は第3方向寸法<第1方向寸法<第2方向寸法の寸法関係を有している、積層セラミックコンデンサ。
本発明に係る積層セラミックコンデンサによれば、2面タイプの外部電極が抱える懸念を極力解消することができる。
図1(A)は本発明を適用した積層セラミックコンデンサの正面図、図1(B)は同平面図、図1(C)は同底面図、図1(D)は同右側面図である。 図2は図1(B)のS1-S1線拡大断面図である。 図3は図1(B)のS2-S2線拡大断面図である。 図4は図1に示した外部電極の作製方法の説明図である。 図5は図1に示した外部電極の作製方法の説明図である。 図6は図1に示した外部電極の作製方法の説明図である。 図7は図1に示した外部電極の作製方法の説明図である。 図8(A)および図8(B)は図1に示した積層セラミックコンデンサの各外部電極を回路基板の導体パッドにハンダ付けするときの溶融ハンダの濡れ上がり等を説明するための図である。 図9は図1に示した外部電極の他の作製方法の説明図である。 図10は図1に示した外部電極の他の作製方法の説明図である。 図11(A)および図11(B)は図1に示した外部電極の第2面状部の他の形状をそれぞれ示す図である。
以下の説明では、便宜上、後記コンデンサ本体11の相対する2つの面の対向方向(図1(A)~図1(C)の左右方向に相当、後記外部電極12が向き合う方向に相当)を「第1方向d1」、他の相対する2つの面の対向方向(図1(B)および図1(C)の上下方向と図1(D)の左右方向に相当)を「第2方向d2」、残りの相対する2つの面の対向方向(図1(A)および図1(D)の上下方向に相当、後記内部電極層11aが積層される方向に相当)を「第3方向d3」と表記する。また、各構成要素の第1方向d1に沿う寸法を「第1方向寸法D1[構成要素の符号]」、第2方向d2に沿う寸法を「第2方向寸法D2[構成要素の符号]」、第3方向d3に沿う寸法を「第3方向寸法D3[構成要素の符号]」と表記する。なお、各寸法D1[構成要素の符号]~D3[構成要素の符号]として例示した数値は設計上の基準寸法を意味するものであって、製造上の寸法公差を含むものではない。
まず、図1~図3を用いて、本発明を適用した積層セラミックコンデンサ10の構成について説明する。
積層セラミックコンデンサ10は、複数(図2および図3では計8層)の内部電極層11aが誘電体層11b(図2および図3では計7層)を介して積層された容量部(符号省略)を有する略直方体状のコンデンサ本体11と、コンデンサ本体11の第1方向d1の一端部に設けられ、かつ、複数の内部電極層11a一部(図2および図3では計4層)が接続された第1外部電極12と、コンデンサ本体11の第1方向d1の他端部に設けられ、かつ、複数の内部電極層の残部(図2および図3では計4層)が接続された第2外部電極12とを備えている。コンデンサ本体11は全ての稜および角に丸み部RN(図4、図6および図7を参照)を有している。なお、第1外部電極12と第2外部電極12は構成が同じであるため同一符号で示してある。
参考までに、図1~図3の基になっている試作品におけるコンデンサ本体11の第1方向寸法D1[11]は500μm、第2方向寸法D2[11]は1000μm、第3方向寸法D3[11]は70μmであり、丸み部RNの曲率半径は10μmである。すなわち、コンデンサ本体11の第1方向寸法D1[11]と第2方向寸法D2[11]と第3方向寸法D3[11]は、第3方向寸法D3[11]<第1方向寸法D1[11]<第2方向寸法D2[11]の寸法関係を有している。
各内部電極層11aはいずれも矩形状で、各々の第1方向寸法D1[11a]と第2方向寸法D2[11a]と第3方向寸法D3[11a]は略同じである。誘電体層11bの層数は内部電極層11aの層数から1を減じた数であり、各誘電体層11bの第3方向寸法D3[11b]は略同じである。また、複数の内部電極層11aと複数の誘電体層11bとによって構成された容量部(符号省略)は、図2および図3に示したように、第3方向d3両側の誘電体マージン部11cと第2方向d2両側の誘電体マージン部11dによって囲まれている。複数の内部電極層11aは第1方向d1に交互にずれており、第1外部電極12には図2および図3の上から奇数番目の内部電極層11aの第1方向d1の端縁が接続され、第2外部電極12には図2および図3の上から偶数番目の内部電極層11aの第1方向d1の端縁が接続されている。
参考までに、前記試作品における各内部電極層11aの第1方向寸法D1[11a]は420μm、第2方向寸法D2[11a]は940μmであり、各誘電体マージン部11cの第3方向寸法D3[11c]は20μmであり、各誘電体マージン部11dの第2方向寸法D2[11d]は30μmである。図2および図3には、図示の便宜上、計8層の内部電極層11aと計7層の誘電体層11bを描いているが、内部電極層11aの層数および第3方向寸法D3[11a]と誘電体層11bの第3方向寸法D3[11b]は、各内部電極層11aの第1方向寸法D1[11a]および第2方向寸法D2[11a]を含め、目標容量値に応じて任意に変更することができる。目標容量値にもよるが、内部電極層11aの第3方向寸法D3[11a]と誘電体層11bの第3方向寸法D3[11b]の数値範囲としては、好ましくは0.3~2.0μmを例示することができる。
内部電極層11a等の材料について補足すると、コンデンサ本体11の各内部電極層11aの主成分は、好ましくはニッケル、銅、パラジウム、白金、銀、金、これらの合金等から選択した金属である。また、コンデンサ本体11の各誘電体層11bと各誘電体マージン部11cと各誘電体マージン部11dの主成分は、好ましくはチタン酸バリウム、チタン酸ストロンチウム、チタン酸カルシウム、チタン酸マグネシウム、ジルコン酸カルシウム、チタン酸ジルコン酸カルシウム、ジルコン酸バリウム、酸化チタン等から選択した誘電体セラミックスである。なお、各誘電体層11bの主成分と各誘電体マージン部11cおよび各誘電体マージン部11dの主成分とを異ならせることも可能であり、各誘電体層11bの主成分と各誘電体マージン部11cの主成分と各誘電体マージン部11dの主成分とを異ならせることも可能である。
第1外部電極12は、コンデンサ本体11の第1方向d1の一端面(図1(B)の左端面)に存する第1面状部12aと、コンデンサ本体11の第3方向d3の一端面(図1(A)の下端面)に存する第2面状部12bと、コンデンサ本体11の第2方向d2の両端面(図1(B)の上端面と下端面)に存する補助面状部12cとを連続して有している。先に述べたようにコンデンサ本体11は全ての稜および角に丸み部RN(図4、図6および図7を参照)を有しているため、第1外部電極12の第1面状部12aと第2面状部12bと補助面状部12cそれぞれは丸み部RN上にて連続している。
第2外部電極12は、コンデンサ本体11の第1方向d1の他端面(図1(B)の右端面)に存する第1面状部12aと、コンデンサ本体11の第3方向d3の一端面(図1(A)の下端面)に存する第2面状部12bと、コンデンサ本体11の第2方向d2の両端面(図1(B)の上下端面)に存する補助面状部12cとを連続して有している。先に述べたようにコンデンサ本体11は全ての稜および角に丸み部RN(図4、図6および図7を参照)を有しているため、第2外部電極12の第1面状部12aと第2面状部12bと補助面状部12cそれぞれは丸み部RN上にて連続している。
ここで、各外部電極12の第1面状部12aの寸法と第2面状部12bの寸法と各補助面状部12cの寸法との関係等について説明する。なお、以下の説明における第1面状部12aの第2方向寸法D2[12a]および第3方向寸法D3[12a]は、図1(D)に示したように当該第1面状部12aの前記丸み部RNに対応する部分を除く領域の寸法を便宜上捉えている。また、第2面状部12bの第1方向寸法D1[12b1、12b2]および第2方向寸法D3[12b]は、図1(C)に示したように当該第2面状部12bの前記丸み部RNに対応する部分を除く領域の寸法を便宜上捉えている。さらに、各補助面状部12cの第1方向寸法D1[12c]および最大の第3方向寸法D3[12c]は、図1(A)に示したように当該各補助面状部12cの前記丸み部RNに対応する部分を除く領域の寸法を便宜上捉えている。このような捉え方をした理由は、コンデンサ本体11が全ての稜および角に丸み部RNを有しており、第1面状部12aと第2面状部12bと各補助面状部12との境界を丸み部RN上において定めることが難しいこと、換言すれば、丸み部RN上の部分が第1面状部12aと第2面状部12bと各補助面状部12との共有部分となっている場合があることに基づいている。
各外部電極12の補助面状部12cそれぞれの最大の第3方向寸法D3[12c]は各外部電極12の第1面状部12aの第3方向寸法D3[12a]よりも小さく、かつ、当該補助面状部12cそれぞれの第1方向寸法D1[12c]は各外部電極12の第2面状部12bの第1方向寸法D1[12b]よりも小さくなっている。また、各外部電極12の補助面状部12cそれぞれの最大の第3方向寸法D3[12c]は当該補助面状部12cそれぞれの第2方向寸法D2[12c]よりも小さくなっている。なお、図1(A)には各外部電極12の各補助面状部12cの外郭を凸曲線で描いているが(図7および図8も同様)、似たような外郭を形成していれば必ずしもこのような凸曲線状である必要はなく、波線状や折れ線状や直線状や凹曲線状等であってもよい。
さらに、各外部電極12の第2面状部12bはコンデンサ本体11の第2方向d2の端面それぞれ向かって第1方向寸法D1[12b2]が小さくなる端部部分12b2を第2方向d2の両端部に有しており、当該端部部分12b2それぞれの最小の第1方向寸法D1[12b2]は各外部電極12の補助面状部12cそれぞれの第1方向寸法D1[12c]と対応している。なお、各外部電極12の第2面状部12bにおいて2つの端部部分12b2の間の中央部分12b1は矩形状である。
参考までに、各外部電極12の第1面状部12aの寸法と第2面状部12bの寸法と各補助面状部12cの寸法を前記のように捉えたとき、前記試作品における各外部電極12の第1面状部12aの第2方向寸法D2[12a]は980μm、第3方向寸法D3[12a]は50μmである。また、各外部電極12の第2面状部12bの中央部分12b1の第1方向寸法D1[12b1]は170μm、各端部部分12b2の最小の第1方向寸法D1[12b2]は80μmであり、第2面状部12bの第2方向寸法D2[12b]は980μmであり、第1外部電極12の第2面状部12bの中央部分12b1と第2外部電極12の第2面状部12bの中央部分12b1との第1方向d1の間隔は140μmである。さらに、各外部電極12の各補助面状部12cの第1方向寸法D1[12c]は80μm、最大の第3方向寸法D3[12c]は30μmである。
ちなみに、各外部電極12は、図2および図3に示したように、コンデンサ本体11の第1方向d1の各端面(図1(B)の左端面と右端面)に付された第1導体膜CF1と、第1導体膜CF1の一部とコンデンサ本体11の第3方向d3の一端面(図1(A)の下端面)とコンデンサ本体11の第2方向d2の両端面(図1(B)の上端面と下端面)とに連続して付された第2導体膜CF2と、第1導体膜CF1と第2導体膜CF2の表面に付された第3導体膜CF3とを有している。
第1導体膜CF1等の材料について補足すると、第1導体膜CF1の主成分は、好ましくはニッケル、銅、パラジウム、白金、銀、金、これらの合金等から選択した金属である。また、第2導体膜CF2の主成分は、好ましくは銅、スズ、ニッケル、金、亜鉛、これらの合金等から選択した金属で第1導体膜CF1の主成分とは異なる金属である。さらに、第3導体膜CF3の主成分は、好ましくは銅、スズ、ニッケル、金、亜鉛、これらの合金等から選択した金属で第1導体膜CF1の主成分とは異なる金属である。
次に、図4~図7を用いて、各外部電極12の作製方法、具体的には第1導体膜CF1の主成分がニッケルで、第2導体膜CF2および第3導体膜CF3の主成分が銅の場合の作製方法について説明する。なお、ここで説明する作製方法は好適例の1つであって、各外部電極12の作製方法を制限するものではない。
この場合には、各外部電極12の作製する前に、未焼成コンデンサ本体11、あるいは、焼成済コンデンサ本体11を準備する。未焼成コンデンサ本体11は、公知の方法、例えばセラミックグリーンシートと内部電極層パターン付きセラミックグリーンシートを適宜積み重ねて圧着する工程と、同工程で得た未焼成積層シートを切断する工程と、同工程で得た未焼成チップをバレル研磨等によって研磨する工程を行うことによって準備することができ、一方、焼成済コンデンサ本体11は、前記研磨工程の後に、未焼成コンデンサ本体11を焼成炉に投入して多数個一括で焼成(脱バインダ処理と焼成処理を含む)する工程を行うことによって準備することができる。
出発点が未焼成コンデンサ本体11の場合には、図4に示したように、未焼成コンデンサ本体11の第1方向d1の各端面(図1(B)の左端面と右端面)にディップや印刷等の手法によってニッケル粉末含有の導体ペーストを付着させ、これを未焼成コンデンサ本体11と同時焼成することによってニッケル製の第1導体膜CF1を形成する。一方、出発点が焼成済コンデンサ本体11の場合には、図4に示したように、焼成済コンデンサ本体11の第1方向d1の各端面(図1(B)の左端面と右端面)にディップや印刷等の手法によってニッケル粉末含有の導体ペーストを付着させ、これに焼き付け処理を施してニッケル製の第1導体膜CF1を形成する。いずれの場合も、第1導体膜CF1を形成するときには、図4に示したように、第1導体膜CF1の外周部分がコンデンサ本体11の第1方向d1の各端面の周囲にある丸み部RNを乗り越えないようにすることが望ましい。ちなみに、ここで形成される第1導体膜CF1の膜厚は好ましくは4μm前後である。
第1導体膜CF1を形成した後は、図5に示したように、コンデンサ本体11の第3方向d3の一端面(図1(A)の下端面)に各外部電極12の第2面状部12bの外郭に対応した形状のマスクMAを設け、そして、図6に矢印で示したように、コンデンサ本体11の第3方向d3の一端面(図1(A)の下端面)に向かってスパッタリングや真空蒸着等の乾式メッキ法を施して銅製の第2導体膜CF2を形成する。コンデンサ本体11の第2方向d2の各端面の周囲に丸み部RNがあり、かつ、第1導体膜CF1の周囲にも丸み部RNに準じた丸みがあるが故に、図6に示したように、第2導体膜CF2はコンデンサ本体11の第3方向d3の一端面(図1(A)の下端面)にマスクMAに対応した形状で形成されるとともに、コンデンサ本体11の第2方向d2の両端面(図1(B)の上端面と下端面)と第1導体膜CF1の一部に及ぶように形成される(図6の延長部分CF2aを参照)。参考までに、コンデンサ本体11の第3方向寸法D3[11]が70μmで丸み部RNの曲率半径が10μmの場合には、各延長部分CF2aの最大の第3方向寸法D3[CF2a]は第1導体膜CF1の第3方向寸法D3[CF1]の概ね1/3~3/5に収まる。ちなみに、ここで形成される第2導体膜CF2の膜厚は好ましくは1μm前後である。
第2導体膜CF2を形成した後は、図7に示したように、コンデンサ本体11に電解メッキ等の湿式メッキ法を施して銅製の第3導体膜CF3を形成する。この第3導体膜CF3は第1導体膜CF1と第2導体膜CF2の表面を覆うように形成されるが、第1導体膜CF1の外周部分がコンデンサ本体11の第1方向d1の各端面の周囲にある丸み部RNを乗り越えないようにしておけば(図4を参照)、当該第1導体膜CF1を覆う第3導体膜CF3の外周部分がコンデンサ本体11の第1方向d1の各端面の周囲にある丸み部RNを乗り越えないようにすることが可能である。換言すれば、第1導体膜CF1を覆う第3導体膜CF3の外周部分がコンデンサ本体11の第1方向d1の各端面の周囲にある丸み部RNを乗り越えてしまうと、乗り越えた分によって積層セラミックコンデンサ10の薄型化が阻害されてしまうが、乗り越えがなければこのような阻害が生じることはない。ちなみに、ここで形成される第3導体膜CF3の膜厚は好ましくは2μm前後である。
次に、図8を用いて、図1~図3に示した積層セラミックコンデンサ10の各外部電極12を回路基板CBの導体パッドCBaにハンダ付けするときの溶融ハンダの濡れ上がり等について説明する。
リフローハンダ付けの場合、図8(A)に示したように、積層セラミックコンデンサ10の各外部電極12に対応する回路基板CBの導体パッドCBaそれぞれに、スクリーン印刷等によってクリームハンダSOを塗布する。そして、積層セラミックコンデンサ10を矢印方向に移動させ、塗布されたクリームハンダSOそれぞれに各外部電極12の第2面状部12bを押し付けて積層セラミックコンデンサ10を回路基板CBに搭載する。そして、積層セラミックコンデンサ10が搭載された回路基板CBをリフロー炉に投入し、クリームハンダを溶融・硬化させて所期のハンダ付けが行われる。
導体パッドCBaそれぞれに塗布されたクリームハンダSOは各外部電極12の第2面状部12bが接触した状態のままで溶融するため、溶融ハンダSOの一部は各導体パッドCBaと各外部電極12の第2面状部12bとの間、ならびに、各外部電極12の第2面状部12bの周囲に流動し、溶融ハンダSOの残部は各外部電極12の第1面状部12aに濡れ上がろうとする。
ところが、各外部電極12はコンデンサ本体11の第2方向d2の両端面(図1(B)の上端面と下端面)に存する補助面状部12cを第1面状部12aおよび第2面状部12bと連続して有しているため、溶融ハンダSOの残部は、図8(B)に示したように、各外部電極12の第1面状部12aに濡れ上がると同時に、当該第1面状部12aと連続した補助面状部12cそれぞれにも濡れ上がる。すなわち、溶融ハンダSOの残部の濡れ上がりを第1面状部12aと補助面状部12cそれぞれに分散できるため、第1面状部12aのみに濡れ上がりが生じることを抑制できる。
また、各外部電極12の補助面状部12cそれぞれの最大の第3方向寸法D3[12c]が各外部電極12の第1面状部12aの第3方向寸法D3[12a]よりも小さくなっているため、補助面状部12cそれぞれへの溶融ハンダSOの濡れ上がりに制限をかけることができるとともに、この制限によって第1面状部12aへの溶融ハンダSOの濡れ上がりにも制限がかかるようにして第1面状部12a全体への溶融ハンダSOの濡れ上がりを抑制できる。
さらに、各外部電極12の補助面状部12cそれぞれの第1方向寸法D1[12c]が各外部電極12の第2面状部12bの第1方向寸法D1[12b]よりも小さくなっているため、補助面状部12cそれぞれへの溶融ハンダSOの濡れ上がりによって、溶融ハンダSOの一部の各導体パッドCBaと各外部電極12の第2面状部12bとの間への流動と各外部電極12の第2面状部12bの周囲への流動が阻害されることを抑制できる。
つまり、各外部電極12の第1面状部12aへの溶融ハンダSOの濡れ上がりを偏りなく略同じようにすることが可能となるため、積層セラミックコンデンサ10(コンデンサ本体11)が薄型であっても、濡れ上がりの違いに基づいて積層セラミックコンデンサ10に浮き上がりや立ち上がり等の現象をハンダ付け時に生じることを極力防止できる。
一方、回路基板CBの導体パッドCBaそれぞれに塗布されたクリームハンダSOに各外部電極12の第2面状部12bを押し付けて積層セラミックコンデンサ10を回路基板CBに搭載するときには、マウンターの搬送器具等からの押圧力によって積層セラミックコンデンサ10に撓み(図8(B)では下向きの撓み)が生じる。
ところが、各外部電極12はコンデンサ本体11の第2方向d2の両端面(図1(B)の上端面と下端面)に存する補助面状部12cを第1面状部12aおよび第2面状部12bと連続して有しているため、前記搭載時に積層セラミックコンデンサ10に生じる3次元的な撓みを各外部電極12で抑制できる。
つまり、積層セラミックコンデンサ10を回路基板CBに搭載するときには、補助面状部12cそれぞれによって積層セラミックコンデンサ10の撓み抑制が行えるため、薄型になっても撓みを原因としてコンデンサ本体11にクラックが生じることも極力防止できる。
次に、図1~図3に示した積層セラミックコンデンサ10によって得られる作用効果について説明する。
(作用効果1)各外部電極12がコンデンサ本体11の第2方向d2の両端面(図1(B)の上端面と下端面)に存する補助面状部12cを第1面状部12aおよび第2面状部12bと連続して有しているため、積層セラミックコンデンサ10の各外部電極12を回路基板CBの導体パッドCBaにハンダ付けするときに、溶融ハンダSOの残部の濡れ上がりを第1面状部12aと補助面状部12cそれぞれに分散して、第1面状部12aのみに濡れ上がりが生じることを抑制できる。また、補助面状部12cそれぞれの最大の第3方向寸法D3[12c]が各外部電極12の第1面状部12aの第3方向寸法D3[12a]よりも小さくなっているため、補助面状部12cそれぞれへの溶融ハンダSOの濡れ上がりに制限をかけることができるとともに、この制限によって第1面状部12aへの溶融ハンダSOの濡れ上がりにも制限がかかるようにして第1面状部12a全体への溶融ハンダSOの濡れ上がりを抑制できる。さらに、補助面状部12cそれぞれの第1方向寸法D1[12c]が各外部電極12の第2面状部12bの第1方向寸法D1[12b]よりも小さくなっているため、補助面状部12cそれぞれへの溶融ハンダSOの濡れ上がりによって、溶融ハンダSOの一部の各導体パッドCBaと各外部電極12の第2面状部12bとの間への流動と各外部電極12の第2面状部12bの周囲への流動が阻害されることを抑制できる。すなわち、各外部電極12の第1面状部12aへの溶融ハンダSOの濡れ上がりを同じようにすることが可能となるため、積層セラミックコンデンサ10(コンデンサ本体11)が薄型であっても、濡れ上がりの違いに基づいて積層セラミックコンデンサ10に浮き上がりや立ち上がり等の現象をハンダ付け時に生じることを極力防止できる。
また、各外部電極12はコンデンサ本体11の第2方向d2の両端面(図1(B)の上端面と下端面)に存する補助面状部12cを第1面状部12aおよび第2面状部12bと連続して有しているため、回路基板CBの導体パッドCBaそれぞれに塗布されたクリームハンダSOに各外部電極12の第2面状部12bを押し付けて積層セラミックコンデンサ10を回路基板CBに搭載するときに積層セラミックコンデンサ10に生じる3次元的な撓みを各外部電極12で抑制できる。すなわち、積層セラミックコンデンサ10を回路基板CBに搭載するときには、補助面状部12cそれぞれによって積層セラミックコンデンサ10の撓み抑制が行えるため、薄型になっても撓みを原因としてコンデンサ本体11にクラックが生じることも極力防止できる。
(作用効果2)各外部電極12の補助面状部12cそれぞれの第3方向寸法D3[12c]が当該補助面状部12cそれぞれの第2方向寸法D2[12c]よりも小さくなっているため、積層セラミックコンデンサ10(コンデンサ本体11)が薄型であっても、前記作用効果1を効果的に得られる。
(作用効果3)各外部電極12の第2面状部12bがコンデンサ本体11の第2方向d2の端面それぞれ向かって第1方向寸法D1[12b2]が小さくなる端部部分12b2を第2方向d2の両端部に有しており、当該端部部分12b2それぞれの最小の第1方向寸法D1[12b2]は補助面状部12cそれぞれの第1方向寸法D1[12c]と対応しているため、補助面状部12cそれぞれの作製を容易に行える。
(作用効果4)コンデンサ本体11が全ての稜および角に丸み部RNを有しており、各外部電極12の第1面状部12aと第2面状部12bと補助面状部12cそれぞれは丸み部RN上にて連続しているため、この丸み部RNを利用して第1面状部12aの第3方向寸法D3[12a]を極力小さくして積層セラミックコンデンサ10の薄型化に貢献できる。
(作用効果5)各外部電極12が第1導体膜CF1と第2導体膜CF2と第3導体膜CF3との組み合わせによって構成され、特に第2面状部12bが第2導体膜CF2と第3導体膜CF3によって構成されているので、当該第2面状部12bを薄く形成して積層セラミックコンデンサ10の薄型化に貢献できる。
(作用効果6)コンデンサ本体11の第1方向寸法D1[11]と第2方向寸法D2[11]と第3方向寸法D3[11]が、第3方向寸法D3[11]<第1方向寸法D1[11]<第2方向寸法D2[11]の寸法関係を有しているので、積層セラミックコンデンサ10の低ESL化にも貢献できる。
次に、図1~図3に示した積層セラミックコンデンサ10と略同様の作用効果を得ることができる変形例について説明する。
(変形例1)コンデンサ本体11の参考寸法として、第1方向寸法D1[11]が500μm、第2方向寸法D2[11]が1000μm、第3方向寸法D3[11]が70μmのものを例示したが、コンデンサ本体11の第1方向寸法D1[11]と第2方向寸法D2[11]に特段の制限はない。ちなみに、薄型の積層セラミックコンデンサ10では、コンデンサ本体11の第1方向寸法D1[11]の数値範囲として200~500μmを例示することができ、コンデンサ本体11の第2方向寸法D2[11]の数値範囲として400~1000μmを例示することができる。また、コンデンサ本体11の第3方向寸法D3[11]にも特段の制限はない。ちなみに、薄型の積層セラミックコンデンサ10では、コンデンサ本体11の第3方向寸法D3[11]の数値範囲として65~120μm、または、これよりも小さな35~65μmを例示することができる。
(変形例2)各外部電極12として、3つの導体膜CF1~CF3とから成るものを例示したが、図9および図10に示したように各外部電極12を2つの導体膜(第1導体膜CF11および第2導体膜CF12)によって構成することも可能である。以下に、第1導体膜CF11の主成分がニッケルで、第2導体膜CF12の主成分が銅の場合の作製方法について説明する。なお、ここで説明する作製方法は好適例の1つであって、各外部電極12の作製方法を制限するものではない。
この場合には、各外部電極12の作製する前に、先に述べた焼成済コンデンサ本体11を準備する。そして、コンデンサ本体11の第3方向d3の一端面(図1(A)の下端面)に各外部電極12の第2面状部12bの外郭に対応した形状のマスクMA(図5を参照)を設けた後、図9に矢印で示したように、コンデンサ本体11の第3方向d3の一端面(図1(A)の下端面)と第1方向d1の一端面(図1(B)の左端面)との稜、ならびに、コンデンサ本体11の第3方向d3の一端面(図1(A)の下端面)と第1方向d1の他端面(図1(B)の右端面)との稜に向かってスパッタリングや真空蒸着等の乾式メッキ法を施してニッケル製の第1導体膜CF11を形成する。コンデンサ本体11の第2方向d2の各端面の周囲に丸み部RNがあり、かつ、第1方向d1の各端面の周囲にも丸み部RNがあるが故に、図9に示したように、第1導体膜CF11はコンデンサ本体11の第3方向d3の一端面(図1(A)の下端面)にマスクMAに対応した形状で形成されるとともに、コンデンサ本体11の第2方向d2の両端面(図1(B)の上端面と下端面)と第1方向d1の各端面(図1(A)の左端面と右端面)にも及ぶように形成される(図9の延長部分CF11aおよび11bを参照)。参考までに、コンデンサ本体11の第3方向寸法D3[11]が70μmで丸み部RNの曲率半径が10μmの場合には、延長部分CF11aの最大の第3方向寸法D3[CF11a]はコンデンサ本体11の第3方向寸法D3[11]の概ね1/3~3/5に収まり、延長部分CF11bの最大の第3方向寸法D3[CF2a]はコンデンサ本体11の第3方向寸法D3[11]の概ね4/5前後に収まる。ちなみに、ここで形成される第1導体膜CF11の膜厚は好ましくは1μm前後である。
第1導体膜CF11を形成した後は、図10に示したように、コンデンサ本体11に電解メッキ等の湿式メッキ法を施して銅製の第2導体膜CF12を形成する。この第2導体膜CF12は第1導体膜CF11の表面を覆うように形成されるが、第1導体膜CF11の延長部分CF11bがコンデンサ本体11の第1方向d1の各端面の周囲にある丸み部RNを乗り越えないようにしておけば(図9を参照)、当該第1導体膜CF11の延長部分CF11bを覆う第2導体膜CF12の外周部分がコンデンサ本体11の第1方向d1の各端面の周囲にある丸み部RNを乗り越えないようにすることが可能である。換言すれば、第1導体膜CF11の延長部分CF11bを覆う第2導体膜CF12の外周部分がコンデンサ本体11の第1方向d1の各端面の周囲にある丸み部RNを乗り越えてしまうと、乗り越えた分によって積層セラミックコンデンサ10の薄型化が阻害されてしまうが、乗り越えがなければこのような阻害が生じることはない。ちなみに、ここで形成される第2導体膜CF12の膜厚は好ましくは1μm前後である。
このようにして作製された各外部電極12は、コンデンサ本体11の第1方向d1の各端面(図1(B)の左端面と右端面)とコンデンサ本体11の第3方向d3の一端面(図1(A)の下端面)とコンデンサ本体11の第2方向d2の両端面(図1(B)の上端面と下端面)とに連続して付された第1導体膜CF11と、第1導体膜CF11の表面に付された第2導体膜CF12とを有しており、各々の外観は図1~図3に示した各外部電極12と略同じようになる。
(変形例3)各外部電極12として、3つの導体膜CF1~CF3から成るもの(図2~図7を参照)を例示し、その代替として2つの導体膜CF11およびCF12から成るもの(図9および図10を参照)を例示したが、前者にあっては第3導体膜CF3の表面にさらに1または2以上の導体膜を湿式メッキ法または乾式メッキ法によって付してもよいし、後者にあっては第2導体膜CF12の表面にさらに1または2以上の導体膜を湿式メッキ法または乾式メッキ法によって付してもよい。これら追加の導体膜の主成分には、好ましくは銅、スズ、ニッケル、金、亜鉛、これらの合金等から選択した金属を用いることができる。
(変形例4)各外部電極12の第2面状部12bとして、コンデンサ本体11の第2方向d2の端面それぞれ向かって第1方向寸法D1[12b2]が小さくなる端部部分12b2を第2方向d2の両端部に有するものを示したが(図1(C)を参照)、図11(A)に示したように各端部部分12b2の第2方向寸法D2[12b2]は図1(C)に示したものより多少大きくしてもよいし、図示を省略したが小さくしてもよい。また、各端部部分12b2の外郭として直線状のものを示したが(図1(C)を参照)、図5に示したマスクMAの形状を変えることによって、当該外郭を図11(B)に示した凸曲線状とすることも可能である。
(変形例5)コンデンサ本体11として、第3方向寸法D3[11]<第1方向寸法D1[11]<第2方向寸法D2[11]の寸法関係を有するものを例示したが、コンデンサ本体11を第3方向寸法D3[11]<第1方向寸法D1[11]=第2方向寸法D2[11]の寸法関係を有するものとしてもよいし、コンデンサ本体11を第3方向寸法D3[11]<第2方向寸法D2[11]<第1方向寸法D1[11]の寸法関係を有するものとしてもよい。
10…積層セラミックコンデンサ、11…コンデンサ本体、11a…内部電極層、11b…誘電体層、RN…丸み部、12…外部電極、12a…第1面状部、12b…第2面状部、12b1…中央部分、12b2…端部部分、12c…補助面状部、CF1…第1導体膜、CF2…第2導体膜、CF3…第3導体膜、CF11…第1導体膜、CF12…第2導体膜。

Claims (10)

  1. 複数の内部電極層が誘電体層を介して積層された容量部を有する略直方体状のコンデンサ本体と、前記コンデンサ本体の相対する2つの端部の一方に設けられ、かつ、前記複数の内部電極層の一部が接続された第1外部電極と、前記コンデンサ本体の相対する2つの端部の他方に設けられ、かつ、前記複数の内部電極層の残部が接続された第2外部電極とを備えた積層セラミックコンデンサであって、
    前記コンデンサ本体の相対する2つの面の対向方向を第1方向、他の相対する2つの面の対向方向を第2方向、残りの相対する2つの面の対向方向を第3方向とし、各方向に沿う寸法をそれぞれ第1方向寸法、第2方向寸法、第3方向寸法としたとき、
    前記第1外部電極は、前記コンデンサ本体の第1方向の一端面に存する第1面状部と、前記コンデンサ本体の第3方向の一端面に存する第2面状部と、前記コンデンサ本体の第2方向の両端面に存する補助面状部とを連続して有しており、
    前記第2外部電極は、前記コンデンサ本体の第1方向の他端面に存する第1面状部と、前記コンデンサ本体の第3方向の一端面に存する第2面状部と、前記コンデンサ本体の第2方向の両端面に存する補助面状部とを連続して有しており、
    前記第1外部電極の前記補助面状部それぞれの最大の第3方向寸法は前記第1外部電極の前記第1面状部の第3方向寸法よりも小さく、かつ、当該補助面状部それぞれの第1方向寸法は前記第1外部電極の前記第2面状部の第1方向寸法よりも小さく、
    前記第2外部電極の前記補助面状部それぞれの最大の第3方向寸法は前記第2外部電極の前記第1面状部の第3方向寸法よりも小さく、かつ、当該補助面状部それぞれの第1方向寸法は前記第2外部電極の前記第2面状部の第1方向寸法よりも小さく、
    前記コンデンサ本体の第1方向寸法と第2方向寸法と第3方向寸法は第3方向寸法<第1方向寸法<第2方向寸法の寸法関係を有している、
    積層セラミックコンデンサ。
  2. 前記第1外部電極の前記補助面状部それぞれの最大の第3方向寸法は当該補助面状部それぞれの第1方向寸法よりも小さく、
    前記第2外部電極の前記補助面状部それぞれの第3方向寸法は当該補助面状部それぞれの第1方向寸法よりも小さい、
    請求項1に記載の積層セラミックコンデンサ。
  3. 前記第1外部電極の前記第2面状部は前記コンデンサ本体の第2方向の端面それぞれ向かって第1方向寸法が小さくなる端部部分を第2方向の両端部に有しており、当該端部部分それぞれの最小の第1方向寸法は前記第1外部電極の前記補助面状部それぞれの第1方向寸法と対応しており、
    前記第2外部電極の前記第2面状部は前記コンデンサ本体の第2方向の端面それぞれ向かって第1方向寸法が小さくなる端部部分を第2方向の両端部に有しており、当該端部部分それぞれの最小の第1方向寸法は前記第2外部電極の前記補助面状部それぞれの第1方向寸法と対応している、
    請求項1または2に記載の積層セラミックコンデンサ。
  4. 前記コンデンサ本体は全ての稜および角に丸み部を有しており、
    前記第1外部電極の前記第1面状部と前記第2面状部と前記補助面状部それぞれは前記丸み部上にて連続しており、
    前記第2外部電極の前記第1面状部と前記第2面状部と前記補助面状部それぞれは前記丸み部上にて連続している、
    請求項1~3のいずれか1項に記載の積層セラミックコンデンサ。
  5. 前記第1外部電極は、前記コンデンサ本体の第1方向の一端面に付された第1導体膜と、当該第1導体膜の一部と前記コンデンサ本体の第3方向の一端面と前記コンデンサ本体の第2方向の両端面とに連続して付された第2導体膜と、前記第1導体膜と前記第2導体膜の表面に付された第3導体膜とを少なくとも有しており、
    前記第2外部電極は、前記コンデンサ本体の第1方向の他端面に付された第1導体膜と、当該第1導体膜の一部と前記コンデンサ本体の第3方向の一端面と前記コンデンサ本体の第2方向の両端面とに連続して付された第2導体膜と、前記第1導体膜と前記第2導体膜の表面に付された第3導体膜とを少なくとも有している、
    請求項1~4のいずれか1項に記載の積層セラミックコンデンサ。
  6. 前記第1外部電極が有する前記第1導体膜、前記第2導体膜及び前記第3導体膜は、いずれも金属で形成されるとともに、前記第2外部電極が有する前記第1導体膜、前記第2導体膜及び前記第3導体膜は、いずれも金属で形成された請求項5に記載の積層セラミックコンデンサ。
  7. 前記第1外部電極は、前記コンデンサ本体の第1方向の一端面と前記コンデンサ本体の第3方向の一端面と前記コンデンサ本体の第2方向の両端面とに連続して付された第1導体膜と、前記第1導体膜の表面に付された第2導体膜とを少なくとも有しており、
    前記第2外部電極は、前記コンデンサ本体の第1方向の他端面と前記コンデンサ本体の第3方向の一端面と前記コンデンサ本体の第2方向の両端面とに連続して付された第1導体膜と、前記第1導体膜の表面に付された第2導体膜とを少なくとも有している、
    請求項1~4のいずれか1項に記載の積層セラミックコンデンサ。
  8. 前記コンデンサ本体の第3方向寸法は、65~120μmの範囲内で設定されている、
    請求項1~7のいずれか1項に記載の積層セラミックコンデンサ。
  9. 前記コンデンサ本体の第3方向寸法は、35~65μmの範囲内で設定されている、
    請求項1~7のいずれか1項に記載の積層セラミックコンデンサ。
  10. 前記第1外部電極の前記第2面状部は前記コンデンサ本体の第2方向の端面それぞれ向かって第1方向寸法が小さくなる端部部分を第2方向の両端部に有するとともに、当該端部部分の間に矩形状の中央部分を有し、
    前記第2外部電極の前記第2面状部は前記コンデンサ本体の第2方向の端面それぞれ向かって第1方向寸法が小さくなる端部部分を第2方向の両端部に有するとともに、当該端部部分の間に矩形状の中央部分を有する、
    請求項1~8のいずれか1項に記載の積層セラミックコンデンサ。
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Families Citing this family (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102561932B1 (ko) * 2018-08-29 2023-08-01 삼성전기주식회사 커패시터 부품
JP7178886B2 (ja) * 2018-11-27 2022-11-28 太陽誘電株式会社 積層セラミック電子部品及び実装基板
JP7408975B2 (ja) * 2019-09-19 2024-01-09 Tdk株式会社 セラミック電子部品
JP7611683B2 (ja) 2020-12-07 2025-01-10 太陽誘電株式会社 セラミック電子部品、実装基板およびセラミック電子部品の製造方法
JP7571699B2 (ja) * 2021-09-27 2024-10-23 株式会社村田製作所 積層セラミックコンデンサ
JP7567757B2 (ja) * 2021-11-16 2024-10-16 株式会社村田製作所 積層セラミックコンデンサ
KR20230103058A (ko) * 2021-12-31 2023-07-07 삼성전기주식회사 적층형 전자 부품
KR20230103096A (ko) * 2021-12-31 2023-07-07 삼성전기주식회사 적층형 전자 부품
KR20230103097A (ko) * 2021-12-31 2023-07-07 삼성전기주식회사 적층형 전자 부품
KR20230103352A (ko) * 2021-12-31 2023-07-07 삼성전기주식회사 적층형 전자 부품
KR20230103546A (ko) * 2021-12-31 2023-07-07 삼성전기주식회사 적층형 전자 부품
KR20230103495A (ko) * 2021-12-31 2023-07-07 삼성전기주식회사 적층형 커패시터
KR20230114068A (ko) * 2022-01-24 2023-08-01 삼성전기주식회사 적층형 전자 부품
KR20230120835A (ko) * 2022-02-10 2023-08-17 삼성전기주식회사 적층형 전자 부품 및 그 제조방법
WO2024111219A1 (ja) * 2022-11-22 2024-05-30 株式会社村田製作所 積層セラミック電子部品

Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002198229A (ja) 2000-12-25 2002-07-12 Fdk Corp チップ部品およびその製造方法
JP2006173270A (ja) 2004-12-14 2006-06-29 Tdk Corp チップ型電子部品
JP2008153310A (ja) 2006-12-14 2008-07-03 Shin Etsu Polymer Co Ltd 保持治具、電極形成装置及び電極形成方法
JP2012028457A (ja) 2010-07-21 2012-02-09 Murata Mfg Co Ltd セラミック電子部品及び配線基板
JP2012164966A (ja) 2011-01-21 2012-08-30 Murata Mfg Co Ltd セラミック電子部品
JP2012235080A (ja) 2011-04-29 2012-11-29 Samsung Electro-Mechanics Co Ltd チップ型コイル部品
JP2015201612A (ja) 2014-04-03 2015-11-12 サムソン エレクトロ−メカニックス カンパニーリミテッド. 積層セラミックキャパシタ及び積層セラミックキャパシタの実装基板
JP2017022304A (ja) 2015-07-14 2017-01-26 太陽誘電株式会社 インダクタ及びプリント基板
JP2018041761A (ja) 2016-09-05 2018-03-15 株式会社村田製作所 チップ状電子部品
JP2018142671A (ja) 2017-02-28 2018-09-13 株式会社村田製作所 インダクタ
JP2018157030A (ja) 2017-03-16 2018-10-04 Tdk株式会社 電子部品

Family Cites Families (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3301564B2 (ja) * 1993-08-12 2002-07-15 日立金属株式会社 積層チップインダクタ
JP4475294B2 (ja) * 2007-05-30 2010-06-09 Tdk株式会社 積層コンデンサ
JP4479747B2 (ja) * 2007-05-30 2010-06-09 Tdk株式会社 積層コンデンサ
KR100925624B1 (ko) * 2008-02-21 2009-11-06 삼성전기주식회사 적층형 칩 커패시터
JP4835686B2 (ja) * 2008-12-22 2011-12-14 Tdk株式会社 積層コンデンサ
JP5276137B2 (ja) * 2011-04-13 2013-08-28 太陽誘電株式会社 積層型コンデンサ
KR101862422B1 (ko) * 2013-06-14 2018-05-29 삼성전기주식회사 적층 세라믹 커패시터 및 그 실장 기판
JP6380162B2 (ja) 2014-05-09 2018-08-29 株式会社村田製作所 積層セラミック電子部品
KR101659153B1 (ko) * 2014-07-07 2016-09-22 삼성전기주식회사 적층 세라믹 커패시터, 적층 세라믹 커패시터의 제조방법 및 적층 세라믹 커패시터의 실장 기판
JP2014222783A (ja) * 2014-08-13 2014-11-27 株式会社村田製作所 積層コンデンサ及び積層コンデンサの実装構造体
JP2014220528A (ja) * 2014-08-13 2014-11-20 株式会社村田製作所 積層コンデンサ
JP2016058719A (ja) * 2014-09-09 2016-04-21 株式会社村田製作所 積層セラミックコンデンサ
JP2015053495A (ja) * 2014-10-07 2015-03-19 株式会社村田製作所 セラミック電子部品およびその製造方法
JP6550737B2 (ja) * 2014-12-09 2019-07-31 Tdk株式会社 積層セラミックコンデンサ
JP6503943B2 (ja) * 2015-07-10 2019-04-24 株式会社村田製作所 複合電子部品および抵抗素子
JP6302455B2 (ja) * 2015-12-07 2018-03-28 太陽誘電株式会社 積層セラミックコンデンサ
JP6405329B2 (ja) * 2016-02-26 2018-10-17 太陽誘電株式会社 積層セラミックコンデンサ
JP6577906B2 (ja) * 2016-05-30 2019-09-18 太陽誘電株式会社 積層セラミックコンデンサ
KR101843269B1 (ko) * 2016-07-13 2018-03-28 삼성전기주식회사 적층형 커패시터 및 그 실장 기판
JP6972592B2 (ja) * 2017-03-16 2021-11-24 Tdk株式会社 電子部品及び電子部品装置
JP2019083254A (ja) * 2017-10-30 2019-05-30 Tdk株式会社 電子部品

Patent Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002198229A (ja) 2000-12-25 2002-07-12 Fdk Corp チップ部品およびその製造方法
JP2006173270A (ja) 2004-12-14 2006-06-29 Tdk Corp チップ型電子部品
JP2008153310A (ja) 2006-12-14 2008-07-03 Shin Etsu Polymer Co Ltd 保持治具、電極形成装置及び電極形成方法
JP2012028457A (ja) 2010-07-21 2012-02-09 Murata Mfg Co Ltd セラミック電子部品及び配線基板
JP2012164966A (ja) 2011-01-21 2012-08-30 Murata Mfg Co Ltd セラミック電子部品
JP2012235080A (ja) 2011-04-29 2012-11-29 Samsung Electro-Mechanics Co Ltd チップ型コイル部品
JP2015201612A (ja) 2014-04-03 2015-11-12 サムソン エレクトロ−メカニックス カンパニーリミテッド. 積層セラミックキャパシタ及び積層セラミックキャパシタの実装基板
JP2017022304A (ja) 2015-07-14 2017-01-26 太陽誘電株式会社 インダクタ及びプリント基板
JP2018041761A (ja) 2016-09-05 2018-03-15 株式会社村田製作所 チップ状電子部品
JP2018142671A (ja) 2017-02-28 2018-09-13 株式会社村田製作所 インダクタ
JP2018157030A (ja) 2017-03-16 2018-10-04 Tdk株式会社 電子部品

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