JP7092248B1 - 硫化物系固体電解質及びその製造方法、固体電解質層並びにリチウムイオン二次電池 - Google Patents
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Abstract
Description
(1)ドライエアー雰囲気下において、以下の試験方法で着火試験を行った際に、着火時間が5秒以上または不着火である、硫化物系固体電解質。
(試験方法)
温度20±5℃、露点-30℃で大気圧下の、熱線式風速計で測定した際の風速が0.05m/s以下である試験場所において、下記1~7を実施する。
1.3cm3程度の硫化物系固体電解質を厚さ10mm以上の無機質断熱板の上に置く。
2.ガスバーナーの拡散炎の長さを上部に向けた状態で70mmとなるように調整する。
3.炎と硫化物系固体電解質の接触面積が1~2cm2、接触角度が約30°となるように接触させる。
4.炎を硫化物系固体電解質に接触させてから10秒後に炎を離す。
5.炎を硫化物系固体電解質に接触させてから硫化物系固体電解質に着火するまでの時間を測定し、硫化物系固体電解質が燃焼を継続するか否かを観察する。10秒間接触させて着火しない場合は不着火とする。
6.1~5を5回繰り返す。
7.燃焼を継続した場合に測定された着火するまでの時間のうち、最も短いものを着火時間とする。
(2)X線光電子分光法により測定される、表面からの深さ5nmにおける硫黄(S)の元素比率をS5nm、表面からの深さ100nmにおける硫黄(S)の元素比率をS100nmとして、S5nm/S100nmの値が0.6以下である、前記(1)に記載の硫化物系固体電解質。
(3)Li、P及びSを含む硫化物系固体電解質であって、X線光電子分光法により測定される、表面からの深さ5nmにおける硫黄(S)の元素比率をS5nm、表面からの深さ100nmにおける硫黄(S)の元素比率をS100nmとして、S5nm/S100nmの値が0.6以下である、硫化物系固体電解質。
(4)Li、P、S及びHaを含み、前記Haはハロゲン元素から選ばれる少なくとも1種の元素である、前記(1)~(3)のいずれか1に記載の硫化物系固体電解質。
(5)X線光電子分光法により測定される表面からの深さ5nmにおける前記Haの元素比率をHa5nm、表面からの深さ100nmにおける前記Haの元素比率をHa100nmとして、Ha5nm/Ha100nmの値が0.9よりも大きい、前記(4)に記載の硫化物系固体電解質。
(6)比表面積が3m2/g以上である、前記(1)~(5)のいずれか1に記載の硫化物系固体電解質。
(7)結晶相を含む、前記(1)~(6)のいずれか1に記載の硫化物系固体電解質。
(8)アルジロダイト型の結晶を含む、前記(1)~(7)のいずれか1に記載の硫化物系固体電解質。
(9)前記(1)~(8)のいずれか1に記載の硫化物系固体電解質の製造方法であって、硫化物系固体電解質の表面を、Sを可溶な有機溶媒に曝すことを含む、硫化物系固体電解質の製造方法。
(10)前記有機溶媒は、極性率が0.1~4.0である、前記(9)に記載の硫化物系固体電解質の製造方法。
(11)前記(1)~(8)のいずれか1に記載の硫化物系固体電解質の製造方法であって、硫化物系固体電解質の表面を酸化することを含む、硫化物系固体電解質の製造方法。
(12)前記(1)~(8)のいずれか1に記載の硫化物系固体電解質の製造方法であって、硫化物系固体電解質の表面を水分に曝すことを含む、硫化物系固体電解質の製造方法。
(13)前記(1)~(8)のいずれか1に記載の硫化物系固体電解質を含む固体電解質層。
(14)前記(1)~(8)のいずれか1に記載の硫化物系固体電解質を含むリチウムイオン二次電池。
本発明の実施形態に係る硫化物系固体電解質(以下、本固体電解質ともいう。)において、硫化物系固体電解質の種類や組成は特に限定されず、用途や所望の物性等に応じて適宜選択できる。硫化物系固体電解質としては、例えばLi、P及びSを含む硫化物系固体電解質、Li、P、S及びHaを含む硫化物系固体電解質等が挙げられる。ここで、Haはハロゲン元素から選ばれる少なくとも1種の元素を表す。Haは、具体的には、例えば、F、Cl、Br及びIからなる群より選ばれる少なくとも1種の元素である。アルジロダイト型の結晶構造を取るためには、Haとして、Cl及びBrの少なくとも一方を含むことがより好ましく、Clを含むことがさらに好ましく、Cl単体又はCl及びBrの混合体がよりさらに好ましい。
ここでa、b及び(c1+c2)は、上述のa、b及びcと同様の関係を満たすことが好ましい。
結晶子サイズは、XRDパターンのピークの半値幅とシェラーの式を用いることにより算出できる。
(試験方法)
温度20±5℃、露点-30℃で大気圧下の無風に近い状態の試験場所において、下記1~7を実施する。
1.3cm3程度の硫化物系固体電解質を厚さ10mm以上の無機質断熱板の上に置く。
2.ガスバーナーの拡散炎の長さを上部に向けた状態で70mmとなるように調整する。
3.炎と硫化物系固体電解質の接触面積が1~2cm2、接触角度が約30°となるように接触させる。
4.炎を硫化物系固体電解質に接触させてから10秒後に炎を離す。
5.炎を硫化物系固体電解質に接触させてから硫化物系固体電解質に着火するまでの時間を測定し、硫化物系固体電解質が燃焼を継続するか否かを観察する。10秒間接触させて着火しない場合は「不着火」とする。
6.1~5を5回繰り返す。
7.燃焼を継続した場合に測定された着火するまでの時間のうち、最も短いものを着火時間とする。
パスエネルギー:93.9eV、ステップエネルギー:0.8eV、分析エリア:直径800μm、検出角度:試料面に対して45°、X線源:Al線、モノクロ14kV、300W、スパッタ種:C60イオン、スパッタレート:0.74nm/min(熱酸化膜SiO2換算)
Ha5nm及びHa100nmはそれぞれ、XPSによりS5nm及びS100nmと同様の方法で測定できる。また、例えばHa5nm/Ha100nmの値が0.9よりも大きい場合、STEM-EDX分析により、表面近傍および内部(バルク部分)の組成を比べ、表面近傍のHaが多いことでも判断できる。Haの値はSTEM-EDXで得られるHa元素由来のシグナル強度で比較できる。
固体電解質層全体に対して、本固体電解質の含有量は80質量%以上が好ましく、90質量%以上がより好ましい。
また、湿式成形ではなく、固体電解質粉末等を、正極又は負極等の表面上において乾式でプレス成形することで固体電解質層を形成してもよい。その他に、他の基材上に固体電解質層を形成し、これを、正極又は負極等の表面上に転写してもよい。
リチウムイオン二次電池の外装体の材料も、従来公知の物を使用できる。リチウムイオン二次電池の形状も従来公知の物を使用できるが、例えば、コイン型、シート状(フィルム状)、折り畳み状、巻回型有底円筒型、ボタン型等が挙げられ、用途に応じて適宜選択できる。
本実施形態に係る硫化物系固体電解質の製造方法(以下、本製造方法ともいう。)は特に限定されないが、例えば以下の(i)~(iii)の少なくとも1つを含む方法が好ましい。(i)~(iii)はそれぞれ、硫化物系固体電解質表面のS-S結合やS2-を欠乏させ得る工程である。
(i)硫化物系固体電解質の表面を、Sを可溶な有機溶媒に曝す工程。
(ii)硫化物系固体電解質の表面を酸化する工程。
(iii)硫化物系固体電解質の表面を水分に曝す工程。
まず、(i)を含む方法について説明する。(i)を含む方法において、硫化物系固体電解質の表面を、Sを可溶な有機溶媒に曝す工程(以下、単に有機溶媒に曝す工程ともいう。)により、硫化物系固体電解質表面の硫黄元素(S)が有機溶媒に溶出するため、表面のS-S結合やS2-を欠乏させられる。
(ii)を含む方法について説明する。(ii)を含む方法において、硫化物系固体電解質の表面を酸化する工程(以下、単に酸化する工程ともいう。)により、硫化物系固体電解質表面のS-S結合やS2-を欠乏させられる。硫化物系固体電解質の表面を酸化することで、表面のS-S結合やS2-は単体Sや、SO2となり、揮発していくため、硫化物系固体電解質表面のS-S結合やS2-の量が少なくなると考えられる。
(iii)を含む方法について説明する。(iii)を含む方法において、硫化物系固体電解質の表面を水分に曝す工程(以下、単に水分に曝す工程ともいう。)により、硫化物系固体電解質表面のS-S結合やS2-を欠乏させられる。硫化物系固体電解質の表面を水分に曝すことで、表面のS-S結合やS2-はH2Sとなり揮発するため、硫化物系固体電解質表面のS-S結合やS2-の量が少なくなると考えられる。
硫化物系固体電解質粉末について、比表面積・細孔分布測定装置(マイクロメリティクス社製、細孔分布測定装置ASAP-2020)を用いてクリプトン吸着BET多点法により測定を行い、比表面積を求めた。サンプリングから測定を含め、大気に触れないようにして測定を実施した。
具体的には、前処理として、室温にて12時間以上減圧を行った。試料重量は0.15gとし、分析温度-196℃で、相対圧(P/P0)が0.1~0.25の範囲で5点以上測定を行い、BETプロットを作成した。得られたプロットから比表面積を算出した。
Microtrac社製 レーザー回折粒度分布測定機 MT3300EXIIを用いて粒度分布を測定し、得られた体積基準粒度分布のチャートから求められるメジアン径(D50)を平均粒子径とした。
リチウムイオン伝導率は、測定対象の硫化物系固体電解質粉末を380MPaの圧力で圧粉体として測定サンプルとし、交流インピーダンス測定装置(Bio-Logic Sciences Instruments社製、ポテンショスタット/ガルバノスタット VSP)を用いて測定した。
測定条件は、測定周波数:100Hz~1MHz、測定電圧:100mV、測定温度:25℃とした。
S-S結合の有無は下記(1)の方法により評価した。あわせて、XPSを用いて評価する場合の評価条件例を(2)に示す。
(1)ラマン分光法による方法
硫化物系固体電解質表面にS-S結合が存在することは、ラマンスペクトル測定(装置名:株式会社堀場製作所製LabRAM HR Evolution)を行い、ラマンシフト140~170cm-1、205~235cm-1および460~490cm-1の少なくとも1以上にピークを有することで判定した。
(2)XPSによる方法
硫化物系固体電解質表面にS-S結合が存在することは、トランスファーベッセルを使用して光電子分光装置(アルバック・ファイ社製、ESCA5500)を用いたワイドスキャン分析によるXPS分析を下記の条件で行い、深さ5nmを分析することで判定可能である。具体的には、163.5±0.5eVの位置にピークが見られることで判定できる。
(条件)パスエネルギー:93.9eV、ステップエネルギー:0.8eV、分析エリア:直径800μm、検出角度:試料面に対して45°、X線源:Al線、モノクロ14kV、300W、スパッタ種:C60イオン、スパッタレート:0.74nm/min(熱酸化膜SiO2換算)
硫化物系固体電解質粉末を混合し、撹拌しながら保持した後の溶媒について、上澄み液を回収し、0.45μmのメンブレンろ過フィルター(メルクミリポア製)でろ過して固形分を除去した。得られたろ液について、ICP発光分光分析(装置:日立ハイテクサイエンス社製、型番PS3520UVDDII)を行い、濾液中のSの含有率(質量ppm)を測定し、「S溶出量」とした。
X線光電分子光法により、以下の条件で測定し、S5nm/S100nm及びHa5nm/Ha100nmを求めた。なお、試験例1では、試料が含有するハロゲン元素はClのみであるため、Ha5nm/Ha100nmはCl5nm/Cl100nmとした。具体的には、硫化物系固体電解質に対し、トランスファーベッセルを使用して光電子分光装置(アルバック・ファイ社製、ESCA5500)を用いたワイドスキャン分析によるXPS分析を行い、深さ5nm及び100nmについて元素比率を求めた。条件は下記のとおりとした。
パスエネルギー:93.9eV、ステップエネルギー:0.8eV、分析エリア:直径800μm、検出角度:試料面に対して45°、X線源:Al線、モノクロ14kV、300W、スパッタ種:C60イオン、スパッタレート:0.74nm/min(熱酸化膜SiO2換算)
ドライエアー雰囲気下において、以下の試験方法で着火試験を行い、以下の評価基準で評価した。
(試験方法)
温度20℃、露点-30℃で大気圧下、3面を覆われた、熱線式風速計で測定される風速が0.05m/s以下である試験場所において、下記1~7を実施した。
1.3cm3の硫化物系固体電解質を厚さ10mmの無機質断熱板(ITM社製ファイバーエクセルボード1300H)の上に半球状になるように堆積させた。
2.ガスバーナーの拡散炎の長さを上部に向けた状態で70mmとなるように調整した。
3.炎と硫化物系固体電解質の接触面積が1~2cm2、接触角度が約30°となるように接触させた。
4.炎を硫化物系固体電解質に接触させてから10秒後に炎を離した。
5.炎を硫化物系固体電解質に接触させてから硫化物系固体電解質に着火するまでの時間を測定し、硫化物系固体電解質が燃焼を継続するか否かを観察した。10秒間接触させて着火しない場合は「不着火」とした。
6.1~5を5回繰り返した。
7.燃焼を継続した場合に測定された着火するまでの時間のうち、最も短いものを着火時間とした。
(評価基準)
A:炎を10秒間接触させても着火せず、「不着火」であった。
B:着火時間が5秒以上であった。
C:着火時間が5秒未満であった。
(製造例1)
Li2S、P2S5、LiClの各原料粉末を1.85:0.475:1.6(mol比)になるように調合した。この原料粉末を耐熱性の容器に入れ、30g試験炉に入れ、露点-50℃の窒素ガス雰囲気下、圧力:1気圧、温度:300℃(昇温速度5℃/分)の条件で0.5時間保持することで加熱処理し、中間体を得た。
得られた中間体を耐熱性の容器に入れ、露点-60℃の雰囲気下において、圧力:1気圧、温度:730℃の条件で0.5時間加熱溶融した。
その後、冷却速度10~1000℃/secで冷却し、結晶相の割合が90質量%以上のアルジロダイト型の結晶を含む硫化物系固体電解質としてLi5.6PS4.6Cl1.7を得た。得られた硫化物系固体電解質をミキサーで粉砕し、粉砕助剤としてトルエンを少量添加して遊星ボールミルにより乾式粉砕を実施した。得られた粉末を解砕し、メッシュに通して平均粒子径が1.5μmの硫化物系固体電解質粉末A(粉末A)を得た。
なお、結晶相は、XRD測定(装置名:株式会社リガク製SmartLab)により同定した。XRD測定の結果、結晶相はアルジロダイト型の結晶の単一相であった。
粉末Aをそのまま試料として使用した。
(例1-2)
溶媒Aとしてトルエンとへプタンの混合溶媒(混合比1:1、体積比、水分濃度20体積ppm未満)を用いた。溶媒Aに粉末Aを混合し、撹拌しながら6時間保持した。このとき、粉末Aが、溶媒Aと粉末Aの合計量の10質量%となるように混合した。
その後、露点-50℃、200℃、酸素濃度5体積ppm未満の条件で2時間乾燥させ、試料を用意した。
(例1-3)
粉末Aに対し、硫黄を除去する工程として、不活性雰囲気中、350℃の条件で2時間加熱処理した。その後、温度を室温に下げて、露点-50±5℃のドライエアー雰囲気下で6時間、撹拌しながら保持した。得られた粉末を解砕し、メッシュに通し、平均粒子径が1.5μmから変化していないことを確認し、これを試料とした。
(例1-4)
粉末Aに対し、硫黄を除去する工程として、不活性雰囲気中、350℃の条件で2時間加熱処理した。その後、温度を室温に下げて、露点-35±5℃の窒素ガス雰囲気下で6時間、撹拌しながら保持した。得られた粉末を解砕し、メッシュに通し、平均粒子径が1.5μmから変化していないことを確認し、これを試料とした。
例2-1~例2-4の通り試料を作製し、各評価を行った。具体的には、各試料について表面のS-S結合の有無、S5nm/S100nm、Ha5nm/Ha100nm、比表面積、着火性及びリチウムイオン伝導率を評価した。試験例2の結果を表2に示す。
例1-2と同じ試料を使用した。
ミキサーによる粉砕前の組成が表2に記載の通りとなるよう原料粉末の混合比を変更し、かつ、加熱溶融後の冷却速度を大きくした以外は製造例1と同様にして、Li、P、S及びClを含む非晶質の硫化物系固体電解質を作製した。これを製造例1と同様に粉砕して平均粒子径が1.5μmの硫化物系固体電解質粉末を得た。得られた粉末に対し、例1-2と同様の手順で溶媒Aによる処理及び乾燥を行うことで、試料を用意した。
ミキサーによる粉砕前の組成が表2に記載の通りとなるよう原料粉末の混合比を変更した以外は製造例1と同様にして、アルジロダイト型の結晶を含む硫化物系固体電解質を作製した。これを製造例1と同様に粉砕して平均粒子径が1.5μmの硫化物系固体電解質粉末を得た。得られた粉末に対し、溶媒Bを用いた以外は例1-2と同様の手順で処理及び乾燥を行うことで、試料を用意した。ここで、溶媒Bとしては、イソプロピルアルコールを単独で使用した。
ミキサーによる粉砕前の組成が表2に記載の通りとなるよう原料粉末の混合比を変更した以外は製造例1と同様にして、アルジロダイト型の結晶を含む硫化物系固体電解質を作製した。なお、原料粉末において、Br源としてLiBr粉末を使用した。得られた硫化物系固体電解質を製造例1と同様に粉砕して平均粒子径が1.5μmの硫化物系固体電解質粉末を得た。得られた粉末に対し、例1-2と同様の手順で溶媒Aによる処理及び乾燥を行うことで、試料を用意した。
(製造例2)
製造例1と同様の方法でアルジロダイト型の結晶を含む硫化物系固体電解質(Li5.6PS4.6Cl1.7)を作製し、ミキサーで粉砕して粉末状にした。その後、得られた粉末をメッシュに通し、平均粒子径が5μmの硫化物系固体電解質粉末B(粉末B)を得た。
伝導率変化=(各例で得られた試料のリチウムイオン伝導率)/(各例において、粉末Bを溶媒A~Gにそれぞれ混合する前のリチウムイオン伝導率)
粉末Bをそのまま試料として使用した。
(例3-2~例3-8)
粉末Bに対し表3に示す溶媒A~G(水分濃度50体積ppm未満)をそれぞれ用いた以外は例1-2と同様の手順で処理及び乾燥を行うことで、各試料を用意した。
Claims (11)
- Li、P、S及びHaを含む硫化物系固体電解質であって、前記Haはハロゲン元素から選ばれる少なくとも1種の元素であり、X線光電子分光法により測定される、表面からの深さ5nmにおける硫黄(S)の元素比率をS5nm、表面からの深さ100nmにおける硫黄(S)の元素比率をS100nmとして、S5nm/S100nmの値が0.6以下であり、X線光電子分光法により測定される表面からの深さ5nmにおける前記Haの元素比率をHa 5nm 、表面からの深さ100nmにおける前記Haの元素比率をHa 100nm として、Ha 5nm /Ha 100nm の値が0.9よりも大きい、硫化物系固体電解質。
- 比表面積が3m2/g以上である、請求項1に記載の硫化物系固体電解質。
- 結晶相を含む、請求項1又は2に記載の硫化物系固体電解質。
- アルジロダイト型の結晶を含む、請求項1~3のいずれか1項に記載の硫化物系固体電解質。
- 請求項1~4のいずれか1項に記載の硫化物系固体電解質の製造方法であって、硫化物系固体電解質の表面を、Sを可溶な有機溶媒に曝すことを含む、硫化物系固体電解質の製造方法。
- 前記有機溶媒は、極性率が0.1~4.0である、請求項5に記載の硫化物系固体電解質の製造方法。
- 請求項1~4のいずれか1項に記載の硫化物系固体電解質の製造方法であって、硫化物系固体電解質の表面を酸化することを含む、硫化物系固体電解質の製造方法。
- 請求項1~4のいずれか1項に記載の硫化物系固体電解質の製造方法であって、硫化物系固体電解質の表面を水分に曝すことを含む、硫化物系固体電解質の製造方法。
- 前記硫化物系固体電解質の表面を酸化すること又は水分に曝すことの前に、硫化物系固体電解質を200℃以上で加熱処理することをさらに含む、請求項7又は8に記載の硫化物系固体電解質の製造方法。
- 請求項1~4のいずれか1項に記載の硫化物系固体電解質を含む固体電解質層。
- 請求項1~4のいずれか1項に記載の硫化物系固体電解質を含むリチウムイオン二次電池。
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