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JP6831178B2 - Overcurrent protection device and power distribution device - Google Patents

Overcurrent protection device and power distribution device Download PDF

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JP6831178B2 JP2016030681A JP2016030681A JP6831178B2 JP 6831178 B2 JP6831178 B2 JP 6831178B2 JP 2016030681 A JP2016030681 A JP 2016030681A JP 2016030681 A JP2016030681 A JP 2016030681A JP 6831178 B2 JP6831178 B2 JP 6831178B2
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Description

本発明は、過電流保護装置、電力分配装置、及び制御方法に関するものである。 The present invention relates to an overcurrent protection device, a power distribution device, and a control method.

直流電源の出力電圧が予め設定した閾値電圧よりも低下した場合に、負荷駆動用の回路の電子スイッチをオフとし、所定の待機時間が経過した後に、当該電子スイッチを再度オンとするリトライ動作を実行して、デッドショート以外の原因により出力電圧が低下したものを定常状態に復帰させる一方、リトライ動作の発生回数が所定のカウント閾値に達した場合に、電子スイッチのオフ状態を保持する過電流保護回路が知られている(たとえば、特許文献1参照)。 When the output voltage of the DC power supply drops below the preset threshold voltage, the electronic switch of the load drive circuit is turned off, and after a predetermined standby time has elapsed, the electronic switch is turned on again. This is executed to restore the output voltage that has dropped due to a cause other than dead short to the steady state, while the overcurrent that keeps the electronic switch off when the number of times the retry operation occurs reaches a predetermined count threshold. A protection circuit is known (see, for example, Patent Document 1).

特開2011−166872号公報Japanese Unexamined Patent Publication No. 2011-166872

上記過電流保護回路では、容量成分を含む外部負荷に初めて電力が供給された時に生じる突入電流による過電流に対しても、デッドショートによる過電流と同様、電子スイッチをオフとするように動作してしまうことがある。たとえば、外部負荷が容量成分としてキャパシタを含む場合、未充電のキャパシタのインピーダンスが極めて小さいことに起因して突入電流による過電流が発生することがある。キャパシタの充電が完了すれば突入電流は収束するが、突入電流に対して電子スイッチが動作するためキャパシタの充電が完了する前に電力の供給が停止してしまい、また、再度電子スイッチをオンとするまでにキャパシタに蓄えられたエネルギが放出されてしまい、キャパシタを十分に充電することができない。結果として、突入電流による過電流が収束せず、その後も電子スイッチが誤動作してオフ状態となってしまうおそれがある、という問題がある。 In the above overcurrent protection circuit, the electronic switch is turned off even for the overcurrent due to the inrush current that occurs when the power is first supplied to the external load including the capacitance component, as in the case of the overcurrent due to the dead short circuit. It may end up. For example, when the external load includes a capacitor as a capacitance component, an overcurrent due to an inrush current may occur due to the extremely small impedance of the uncharged capacitor. When the charging of the capacitor is completed, the inrush current converges, but since the electronic switch operates in response to the inrush current, the power supply stops before the charging of the capacitor is completed, and the electronic switch is turned on again. By the time this is done, the energy stored in the capacitor is released, and the capacitor cannot be fully charged. As a result, there is a problem that the overcurrent due to the inrush current does not converge, and the electronic switch may malfunction and turn off after that.

また、突入電流による過電流は許容する一方、デッドショートによる過電流は遮断するように過電流保護回路を構築すると、電力線の線径を大きくしたり、高い遮断特性を有する電子スイッチを用いる必要があるため、コストの増大を招く、という問題がある。 In addition, if an overcurrent protection circuit is constructed so as to allow overcurrent due to inrush current while interrupting overcurrent due to dead short circuit, it is necessary to increase the wire diameter of the power line or use an electronic switch with high breaking characteristics. Therefore, there is a problem that the cost increases.

本発明が解決しようとする課題は、突入電流に対する半導体スイッチの誤動作の発生を抑制すると共に、コストを低減できる過電流保護装置、電力分配装置、及び制御方法を提供することである。 An object to be solved by the present invention is to provide an overcurrent protection device, a power distribution device, and a control method capable of suppressing the occurrence of malfunction of a semiconductor switch due to an inrush current and reducing the cost.

[1]本発明に係る過電流保護装置は、電源と、等価的に抵抗成分と容量成分とを含む外部負荷に対して、前記電源から電力を供給する電力線と、前記電力線に設けられ、前記電力線を導通するオン状態と、前記電力線を遮断するオフ状態と、を切り替え可能な半導体スイッチと、前記半導体スイッチを制御する制御装置と、を備え、前記制御装置は、前記半導体スイッチに流れる電流又は前記半導体スイッチの温度を検出する検出部と、前記検出部により検出された検出値に基づき、前記半導体スイッチに過電流が流れているか否かを判定する判定部と、前記判定部により前記半導体スイッチに過電流が流れていると判定された場合に、前記半導体スイッチの前記オン状態と前記オフ状態を繰り返し行うリトライ動作を実行するリトライ実行部と、前記半導体スイッチが最初に前記オン状態となってからの経過時間を計測するタイマと、を有し、前記リトライ動作は、第1の間隔に亘り前記半導体スイッチの前記オン状態が維持される第1の動作と、第2の間隔に亘り前記半導体スイッチの前記オフ状態が維持される第2の動作と、を交互に含み、前記リトライ実行部は、前記第1の動作中に前記容量成分に蓄えられたエネルギ量に対して、前記第1の動作の直後の前記第2の動作中に前記容量成分から放出されるエネルギ量が相対的に小さくなるように前記第2の間隔を設定し、前記タイマが計測する計測値と予め設定された第1の閾値とを比較し、前記計測値が前記第1の閾値以下のときに前記判定部により半導体スイッチに過電流が流れていると判定された場合、前記リトライ動作を実行し、前記計測値と前記第1の閾値に対して相対的に大きい第2の閾値とを比較し、前記計測値が前記第2の閾値以上となった場合に前記リトライ動作を終了し、前記第2の間隔は、下記(1)式を満たすように設定されている過電流保護装置である。

Figure 0006831178
但し、上記(1)式において、t 10 は前記第1の間隔であり、t 20 は前記第2の間隔であり、Cは前記容量成分の電気容量であり、R は前記抵抗成分の電気抵抗値であり、R は前記電力線の電気抵抗値であり、T は前記第2の閾値である。
[1] The overcurrent protection device according to the present invention is provided on the power supply, a power line for supplying power from the power supply to an external load including a resistance component and a capacitance component equivalently, and the power line. A semiconductor switch capable of switching between an on state in which the power line is conducted and an off state in which the power line is cut off and a control device for controlling the semiconductor switch are provided, and the control device includes a current flowing through the semiconductor switch or a control device. A detection unit that detects the temperature of the semiconductor switch, a determination unit that determines whether or not an overcurrent is flowing in the semiconductor switch based on the detection value detected by the detection unit, and the semiconductor switch by the determination unit. When it is determined that an overcurrent is flowing through the semiconductor switch, the retry execution unit that executes the retry operation that repeatedly repeats the on state and the off state of the semiconductor switch and the semiconductor switch are first brought into the on state. The retry operation includes a first operation in which the on state of the semiconductor switch is maintained for a first interval, and the semiconductor for a second interval. The second operation in which the off state of the switch is maintained is alternately included, and the retry execution unit performs the first operation with respect to the amount of energy stored in the capacitance component during the first operation. The second interval is set so that the amount of energy released from the capacitance component during the second operation immediately after the operation is relatively small, and the measured value measured by the timer is set in advance. When the measurement value is equal to or less than the first threshold value and the determination unit determines that an overcurrent is flowing in the semiconductor switch by comparing with the threshold value of 1, the retry operation is executed and the measurement value is determined. Is compared with a second threshold value that is relatively large with respect to the first threshold value, and when the measured value becomes equal to or greater than the second threshold value, the retry operation is terminated and the second interval is set. , An overcurrent protection device set to satisfy the following equation (1).
Figure 0006831178
However, in the above equation (1), t 10 is the first interval, t 20 is the second interval, C is the electric capacity of the capacitance component, and RL is the electricity of the resistance component. It is a resistance value, RI is an electric resistance value of the power line, and T 2 is the second threshold value.

[2]上記発明において、前記リトライ動作は、複数の前記第2の動作を含み、前記リトライ実行部は、前記複数の第2の動作のそれぞれついて、前記第2の間隔を相互に異なる値に設定してもよい。 [2] In the above invention, the retry operation includes a plurality of the second operations, and the retry execution unit sets the second intervals to different values for each of the plurality of second operations. It may be set.

[3]本発明に係る電力分配装置は、上記過電流保護装置を備え、2つの外部負荷に対して電力を分配して供給するものであり、前記2つの外部負荷は、並列に接続されており、前記第1の過電流保護装置は、前記2つの外部負荷の一方に対応しており、前記第2の過電流保護装置は、前記2つの外部負荷の他方に対応しており、前記第1の過電流保護装置の前記電源と、前記第2の過電流保護装置の前記電源と、は同一の電源であり、前記第1の過電流保護装置の前記リトライ実行部及び前記第2の過電流保護装置の前記リトライ実行部は、前記第2の動作を行う期間が互いに重ならないように、前記リトライ動作を実行する電力分配装置である。 [3] The power distribution device according to the present invention includes the above-mentioned overcurrent protection device and distributes and supplies power to two external loads, and the two external loads are connected in parallel. The first overcurrent protection device corresponds to one of the two external loads, and the second overcurrent protection device corresponds to the other of the two external loads. The power supply of the overcurrent protection device 1 and the power supply of the second overcurrent protection device are the same power supply, and the retry execution unit and the second overcurrent of the first overcurrent protection device are used. The retry execution unit of the current protection device is a power distribution device that executes the retry operation so that the periods during which the second operation is performed do not overlap with each other.

[4]上記発明において、前記抵抗成分は、電気抵抗体とし、前記容量成分は、キャパシタとしてもよい。 [4] In the above invention, the resistance component may be an electric resistor, and the capacitance component may be a capacitor.

[5]本発明に係る制御方法は、電源と、等価的に抵抗成分と容量成分とを含む外部負荷に対して、前記電源から電力を供給する電力線と、前記電力線に設けられ、前記電力線を導通するオン状態と、前記電力線を遮断するオフ状態と、を切り替え可能な半導体スイッチと、を備える過電流保護装置の制御方法であり、前記半導体スイッチに流れる電流又は前記半導体スイッチの温度を検出する第1のステップと、前記第1のステップの検出結果に基づいて、前記半導体スイッチに過電流が流れているか否かを判定する第2のステップと、前記第2のステップにおいて前記半導体スイッチに過電流が流れていると判定された場合に、前記半導体スイッチの前記オン状態と前記オフ状態を繰り返し行うリトライ動作を実行する第3のステップと、タイマを用いて、前記半導体スイッチが最初に前記オン状態となってからの経過時間を計測する第4のステップと、を備え、前記リトライ動作は、第1の間隔に亘り前記半導体スイッチの前記オン状態が維持される第1の動作と、第2の間隔に亘り前記半導体スイッチの前記オフ状態が維持される第2の動作と、を交互に含み、前記第3のステップは、前記第1の動作中に前記容量成分に蓄えられたエネルギ量に対して、前記第1の動作の直後の前記第2の動作中に前記容量成分から放出されるエネルギ量が相対的に小さくなるように前記第2の間隔を設定し、前記タイマが計測する計測値と予め設定された第1の閾値とを比較し、前記計測値が前記第1の閾値以下のときに前記判定部により半導体スイッチに過電流が流れていると判定された場合、前記リトライ動作を実行し、前記計測値と前記第1の閾値に対して相対的に大きい第2の閾値とを比較し、前記計測値が前記第2の閾値以上となった場合に前記リトライ動作を終了し、前記第2の間隔は、上記(1)式を満たすように設定されている。 [5] The control method according to the present invention is provided on a power supply, a power line for supplying power from the power supply to an external load including a resistance component and a capacitance component equivalently, and the power line provided on the power line. It is a control method of an overcurrent protection device including a semiconductor switch capable of switching between an on state of conducting and an off state of cutting off the power line, and detects a current flowing through the semiconductor switch or the temperature of the semiconductor switch. In the first step, the second step of determining whether or not an overcurrent is flowing in the semiconductor switch based on the detection results of the first step, and the semiconductor switch in the second step. When it is determined that a current is flowing, the semiconductor switch is first turned on by using a third step of executing a retry operation of repeating the on state and the off state of the semiconductor switch and a timer. A fourth step of measuring the elapsed time from the state is provided, and the retry operation includes a first operation in which the on state of the semiconductor switch is maintained for a first interval, and a second operation. The second operation in which the off state of the semiconductor switch is maintained for the interval of the above is alternately included, and the third step is the amount of energy stored in the capacitance component during the first operation. On the other hand, the measurement measured by the timer by setting the second interval so that the amount of energy released from the capacitance component during the second operation immediately after the first operation is relatively small. When the value is compared with the preset first threshold value and the determination unit determines that an overcurrent is flowing in the semiconductor switch when the measured value is equal to or less than the first threshold value, the retry operation is performed. Is executed, the measured value is compared with the second threshold value which is relatively large with respect to the first threshold value, and when the measured value becomes equal to or larger than the second threshold value, the retry operation is terminated. , The second interval is set so as to satisfy the above equation (1).

本発明に係る過電流保護装置によれば、リトライ動作において、第1の動作中に外部負荷の容量成分に蓄えられたエネルギ量に対して、第1の動作の直後の第2の動作中に容量成分から放出されるエネルギ量を相対的に小さくできるので、突入電流による過電流を収束させることができる。これにより、半導体スイッチの誤動作の発生を抑制することができる。 According to the overcurrent protection device according to the present invention, in the retry operation, the amount of energy stored in the capacitance component of the external load during the first operation is during the second operation immediately after the first operation. Since the amount of energy emitted from the capacitive component can be made relatively small, the overcurrent due to the inrush current can be converged. As a result, it is possible to suppress the occurrence of malfunction of the semiconductor switch.

また、半導体スイッチの誤動作の発生の抑制を図るに際し、電力線の線径を大きくしたり、高い遮断特性を有する半導体スイッチを用いる必要がないため、過電流保護装置のコストを低減できる。 Further, in order to suppress the occurrence of malfunction of the semiconductor switch, it is not necessary to increase the wire diameter of the power line or use a semiconductor switch having a high breaking characteristic, so that the cost of the overcurrent protection device can be reduced.

図1は、本発明の一実施の形態に係る過電流保護装置を示すブロック図である。FIG. 1 is a block diagram showing an overcurrent protection device according to an embodiment of the present invention. 図2は、本発明の一実施の形態に係る過電流保護装置による制御を示すタイムチャートである。FIG. 2 is a time chart showing control by the overcurrent protection device according to the embodiment of the present invention. 図3(a)は、本発明の一実施の形態に係るキャパシタが充電を行っている状態を説明するための図であり、図3(b)は、本発明の一実施の形態に係るキャパシタが放電を行っている状態を説明するための図であり、図3(c)は、本発明の一実施の形態に係るキャパシタの充電が完了した状態を説明するための図である。FIG. 3A is a diagram for explaining a state in which the capacitor according to the embodiment of the present invention is charging, and FIG. 3B is a diagram for explaining a state in which the capacitor according to the embodiment of the present invention is being charged. Is a diagram for explaining a state in which is being discharged, and FIG. 3 (c) is a diagram for explaining a state in which charging of the capacitor according to the embodiment of the present invention is completed. 図4は、本発明の一実施の形態に係る閾値時間T1と閾値時間T2とを説明するためのグラフである。FIG. 4 is a graph for explaining the threshold time T1 and the threshold time T2 according to the embodiment of the present invention. 図5は、(7)式を説明するためのグラフである。FIG. 5 is a graph for explaining the equation (7). 図6は、本発明の一実施の形態に係る過電流保護装置の制御手順を示すフローチャート(その1)である。FIG. 6 is a flowchart (No. 1) showing a control procedure of the overcurrent protection device according to the embodiment of the present invention. 図7は、本発明の一実施の形態に係る過電流保護装置の制御手順を示すフローチャート(その2)である。FIG. 7 is a flowchart (No. 2) showing a control procedure of the overcurrent protection device according to the embodiment of the present invention. 図8は、本発明の一実施の形態に係る電力分配装置を示すブロック図である。FIG. 8 is a block diagram showing a power distribution device according to an embodiment of the present invention. 図9は、本発明の一実施の形態に係る電力分配装置による制御を示すタイムチャートである。FIG. 9 is a time chart showing control by the power distribution device according to the embodiment of the present invention. 図10は、本発明の他の実施形態に係る過電流保護装置を示すブロック図である。FIG. 10 is a block diagram showing an overcurrent protection device according to another embodiment of the present invention. 図11は、本発明の他の実施形態に係る抵抗を等価的に示した熱回路モデルである。FIG. 11 is a thermal circuit model that equivalently shows the resistance according to another embodiment of the present invention.

以下、本発明の実施形態を図面に基づいて説明する。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.

図1は本発明の一実施の形態に係る過電流保護装置を示すブロック図、図2は本発明の一実施の形態に係る過電流保護装置による制御を示すタイムチャート、図3(a)は本発明の一実施の形態に係るキャパシタが充電を行っている状態を説明するための図、図3(b)は本発明の一実施の形態に係るキャパシタが放電を行っている状態を説明するための図、図3(c)は本発明の一実施の形態に係るキャパシタの充電が完了した状態を説明するための図、図4は本発明の一実施の形態に係る閾値時間T1と閾値時間T2とを説明するためのグラフ、図5は(7)式を説明するためのグラフである。なお、図1において、実線は電力線を示し、一点鎖線は信号線を示している。 FIG. 1 is a block diagram showing an overcurrent protection device according to an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a time chart showing control by an overcurrent protection device according to an embodiment of the present invention, and FIG. 3A is a time chart. A diagram for explaining a state in which the capacitor according to the embodiment of the present invention is charging, FIG. 3B describes a state in which the capacitor according to the embodiment of the present invention is discharging. 3 (c) is a diagram for explaining a state in which charging of the capacitor according to the embodiment of the present invention is completed, and FIG. 4 is a threshold time T1 and a threshold according to the embodiment of the present invention. A graph for explaining the time T2 and FIG. 5 is a graph for explaining the equation (7). In FIG. 1, the solid line indicates the power line, and the alternate long and short dash line indicates the signal line.

本実施形態における過電流保護装置10は、外部スイッチ200からの駆動要求信号に基づいて、車輌に搭載されるランプやモータ等の外部負荷100に対して電力を供給する負荷駆動用回路に搭載されるものである。このような、過電流保護装置10は、図1に示すように、電源20と、半導体スイッチ30と、制御装置40と、を備えている。 The overcurrent protection device 10 in the present embodiment is mounted on a load drive circuit that supplies electric power to an external load 100 such as a lamp or a motor mounted on a vehicle based on a drive request signal from the external switch 200. It is a thing. As shown in FIG. 1, such an overcurrent protection device 10 includes a power supply 20, a semiconductor switch 30, and a control device 40.

本実施形態における「過電流保護装置10」が本発明における「過電流保護装置」の一例に相当し、本実施形態における「電源20」が本発明における「電源」の一例に相当し、本実施形態における「外部負荷100」が本発明における「外部負荷」の一例に相当し、本実施形態における「半導体スイッチ30」が本発明における「半導体スイッチ」の一例に相当し、本実施形態における「制御装置40」が本発明における「制御装置」の一例に相当する。 The "overcurrent protection device 10" in the present embodiment corresponds to an example of the "overcurrent protection device" in the present invention, and the "power supply 20" in the present embodiment corresponds to an example of the "power supply" in the present invention. The "external load 100" in the embodiment corresponds to an example of the "external load" in the present invention, the "semiconductor switch 30" in the present embodiment corresponds to an example of the "semiconductor switch" in the present invention, and the "control" in the present embodiment. The "device 40" corresponds to an example of the "control device" in the present invention.

電源20は、たとえば、車輌に搭載される直流電源である。このような電源20としては、鉛電池、ニッケル水素電池、リチウムイオン電池等の2次電池(バッテリ)や、電気二重層キャパシタ等を用いることができる。 The power source 20 is, for example, a DC power source mounted on a vehicle. As such a power source 20, a secondary battery (battery) such as a lead battery, a nickel hydrogen battery, or a lithium ion battery, an electric double layer capacitor, or the like can be used.

電源20は、電力線Pを介して外部負荷100に対して電力を供給している。外部負荷100は、等価的に電気抵抗成分と電気容量成分とを含んで構成されている。本実施形態の外部負荷100は、抵抗成分として抵抗110を有し、容量成分としてキャパシタ120を有している。本実施形態における「電力線P」が本発明における「電力線」の一例に相当し、本実施形態における「抵抗110」が本発明における「抵抗成分」及び「電気抵抗体」の一例に相当し、本実施形態における「キャパシタ120」が本発明における「容量成分」及び「キャパシタ」の一例に相当する。 The power source 20 supplies electric power to the external load 100 via the power line P. The external load 100 is configured to substantially include an electric resistance component and an electric capacity component. The external load 100 of the present embodiment has a resistor 110 as a resistance component and a capacitor 120 as a capacitance component. The "power line P" in the present embodiment corresponds to an example of the "power line" in the present invention, the "resistance 110" in the present embodiment corresponds to an example of the "resistance component" and the "electric resistor" in the present invention. The "capacitor 120" in the embodiment corresponds to an example of the "capacitive component" and the "capacitor" in the present invention.

抵抗110は、ランプ等の灯火系、ワイパ、ウォッシャ、又はその他ECU等の車載機器である。この抵抗110は、一端が電力線P及び半導体スイッチ30を介して電源20に接続されており、他端が接地されている。キャパシタ120は、たとえば、電源20から送られる直流電流を平滑化する平滑キャパシタや、ノイズ吸収用キャパシタである。このキャパシタ120は、一端が電力線P及び半導体スイッチ30を介して電源20に接続されており、他端が接地されている。電源20に対して、抵抗110とキャパシタ120は、並列に接続されている。なお、図1において、Rは動力線Pの電気抵抗値であり、Rは抵抗110の電気抵抗値であり、Cはキャパシタ120の電気容量である。なお、抵抗110やキャパシタ120の一端と、電源20との間には、電力線Pや半導体スイッチ30以外の構成要素が介在していてもよい。また、本実施形態では、抵抗110やキャパシタ120の他端は、いずれも接地されているが、特に上述に限定されない。つまり、等価的に示した電気回路モデルにおいて抵抗成分と容量成分とが存在していれば、当該抵抗成分や容量成分の接続先は特に限定されない。 The resistor 110 is a lighting system such as a lamp, a wiper, a washer, or other in-vehicle device such as an ECU. One end of the resistor 110 is connected to the power supply 20 via the power line P and the semiconductor switch 30, and the other end is grounded. The capacitor 120 is, for example, a smoothing capacitor for smoothing a direct current sent from the power supply 20 or a noise absorbing capacitor. One end of the capacitor 120 is connected to the power supply 20 via a power line P and a semiconductor switch 30, and the other end is grounded. The resistor 110 and the capacitor 120 are connected in parallel with respect to the power supply 20. In FIG. 1, RI is the electric resistance value of the power line P, RL is the electric resistance value of the resistor 110, and C is the electric capacity of the capacitor 120. A component other than the power line P or the semiconductor switch 30 may be interposed between one end of the resistor 110 or the capacitor 120 and the power supply 20. Further, in the present embodiment, the other end of the resistor 110 and the capacitor 120 are both grounded, but are not particularly limited to the above. That is, as long as the resistance component and the capacitance component are present in the equivalently shown electric circuit model, the connection destination of the resistance component and the capacitance component is not particularly limited.

電力線Pには、半導体スイッチ30が設けられている。この半導体スイッチ30としては、たとえば、MOSFET(Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor)やIGBT(Insulated Gate Bipolar Transistor)等の半導体素子を用いることができる。本実施形態の半導体スイッチ30は、ドレイン電極31と、ソース電極32と、ゲート電極33と、を有している。 A semiconductor switch 30 is provided on the power line P. As the semiconductor switch 30, for example, a semiconductor element such as a MOSFET (Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor) or an IGBT (Insulated Gate Bipolar Transistor) can be used. The semiconductor switch 30 of the present embodiment has a drain electrode 31, a source electrode 32, and a gate electrode 33.

半導体スイッチ30のドレイン電極31は、電力線P(具体的には、第1の区間Pa)を介して電源20と接続されている。半導体スイッチ30のソース電極32は、電力線P(具体的には、第2の区間Pb)を介して外部負荷100と接続されている。ゲート電極33は、信号線S2を介して制御装置40のゲート駆動部90(後述)と接続されている。この半導体スイッチ30は、ゲート駆動部90からゲート電極33に出力される駆動信号によりオン/オフの切り替えが可能となっている。 The drain electrode 31 of the semiconductor switch 30 is connected to the power supply 20 via a power line P (specifically, the first section Pa). The source electrode 32 of the semiconductor switch 30 is connected to the external load 100 via a power line P (specifically, a second section Pb). The gate electrode 33 is connected to the gate drive unit 90 (described later) of the control device 40 via the signal line S2. The semiconductor switch 30 can be switched on / off by a drive signal output from the gate drive unit 90 to the gate electrode 33.

なお、半導体スイッチ30に代えて、半導体素子を含み、当該半導体素子の制御回路、加熱保護回路、及び/又は電流検出回路等を含むIPD(Intelligent Power Device)等のICパッケージを用いてもよい。 Instead of the semiconductor switch 30, an IC package such as an IPD (Intelligent Power Device) that includes a semiconductor element and includes a control circuit, a heat protection circuit, and / or a current detection circuit of the semiconductor element may be used.

ゲート電極33に駆動信号が入力されると、半導体スイッチ30は、ドレイン電極31とソース電極32との間が導通するオン状態となる。これにより、電力線Pは導通し、電源20による外部負荷100に対する電力の供給が行われる。一方、ゲート電極33に対する駆動信号が停止すると、半導体スイッチ30は、ドレイン電極31とソース電極32との間が遮断するオフ状態となる。これにより、電力線Pが遮断し、電源20から外部負荷100に対する電力の供給が停止する。 When a drive signal is input to the gate electrode 33, the semiconductor switch 30 is turned on so that the drain electrode 31 and the source electrode 32 are conductive. As a result, the power line P becomes conductive, and the power source 20 supplies electric power to the external load 100. On the other hand, when the drive signal for the gate electrode 33 is stopped, the semiconductor switch 30 is turned off to cut off between the drain electrode 31 and the source electrode 32. As a result, the power line P is cut off, and the power supply from the power source 20 to the external load 100 is stopped.

制御装置40は、CPU、ROM、RAM、A/D変換器予備入出力インタフェース等を含んで構成されるマイクロコンピュータから構成されている。この制御装置40は、外部スイッチ200からの駆動要求信号に応じて、半導体スイッチ30のオン状態とオフ状態との切り替えを行う。また、制御装置40は、突入電流による過電流を抑えるため、半導体スイッチ30の状態に応じて、リトライ動作を実行する。 The control device 40 is composed of a microcomputer including a CPU, a ROM, a RAM, an A / D converter spare input / output interface, and the like. The control device 40 switches between an on state and an off state of the semiconductor switch 30 in response to a drive request signal from the external switch 200. Further, the control device 40 executes a retry operation according to the state of the semiconductor switch 30 in order to suppress an overcurrent due to the inrush current.

次に、本実施形態の過電流保護装置10の制御部40について、図1〜図5を参照しながら、詳細に説明する。 Next, the control unit 40 of the overcurrent protection device 10 of the present embodiment will be described in detail with reference to FIGS. 1 to 5.

制御装置40は、図1に示すように、状態検出部50と、異常判定部60と、タイマ70と、リトライ実行部80と、ゲート駆動部90と、を有している。本実施形態における「状態検出部50」が本発明における「検出部」の一例に相当し、本実施形態における「異常判定部60」が本発明における「判定部」の一例に相当し、本実施形態における「タイマ70」が本発明における「タイマ」の一例に相当し、本実施形態における「リトライ実行部80」が本発明における「リトライ実行部」の一例に相当する。 As shown in FIG. 1, the control device 40 includes a state detection unit 50, an abnormality determination unit 60, a timer 70, a retry execution unit 80, and a gate drive unit 90. Corresponds to an example of a "detection unit", "the state detecting unit 50" in the present invention in this embodiment, "the abnormality determination unit 60" in this embodiment corresponds to an example of "determine tough" in the present invention, The "timer 70" in the present embodiment corresponds to an example of the "timer" in the present invention, and the "retry execution unit 80" in the present embodiment corresponds to an example of the "retry execution unit" in the present invention.

本実施形態の状態検出部50は、半導体スイッチ30を流れる電流値を検出する電流センサである。この状態検出部50は、検出した電流値(検出結果)を、信号線S3を介して異常判定部60に出力している。なお、本実施形態では、半導体スイッチ30の状態を検出するため、半導体スイッチ30を流れる電流値を用いているが、特にこれに限定されない。たとえば、半導体スイッチ30を流れる電流値の単位時間当たりの変化量を用いてもよい。また、半導体スイッチ30の温度を用いてもよい。また、半導体スイッチ30の温度の単位時間当たりの変化量を用いてもよい。また、半導体スイッチ30の温度と当該半導体スイッチ30の外部の温度を検出し、これらの温度の差分値を用いてもよい。半導体スイッチの温度を検出する場合、状態検出部50としては、サーミスタ等を用いることができる。なお、半導体スイッチに代えて、IPD等のICパッケージを用いる場合、当該ICパッケージに含まれる電流検出回路等を状態検出部として用いてもよい。 The state detection unit 50 of the present embodiment is a current sensor that detects the current value flowing through the semiconductor switch 30. The state detection unit 50 outputs the detected current value (detection result) to the abnormality determination unit 60 via the signal line S3. In this embodiment, the current value flowing through the semiconductor switch 30 is used in order to detect the state of the semiconductor switch 30, but the present embodiment is not particularly limited to this. For example, the amount of change in the current value flowing through the semiconductor switch 30 per unit time may be used. Further, the temperature of the semiconductor switch 30 may be used. Further, the amount of change in the temperature of the semiconductor switch 30 per unit time may be used. Further, the temperature of the semiconductor switch 30 and the temperature outside the semiconductor switch 30 may be detected and the difference value between these temperatures may be used. When detecting the temperature of the semiconductor switch, a thermistor or the like can be used as the state detection unit 50. When an IC package such as an IPD is used instead of the semiconductor switch, the current detection circuit or the like included in the IC package may be used as the state detection unit.

異常判定部60は、状態検出部50の検出結果に基づいて、半導体スイッチ30が異常であるか否かを判定する。この異常判定部60には、半導体スイッチ30の特性情報として、閾値電流Iが予め保存されている。この閾値電流Iとしては、たとえば、半導体スイッチ30を流れる電流値として正常な範囲の上限値等を用いることができる。なお、状態検出部が半導体スイッチの温度を用いて当該半導体スイッチの状態を検出している場合、半導体スイッチの特性情報として、閾値温度を用いる。この閾値温度としては、たとえば、半導体スイッチのオン状態における温度として正常な範囲の上限値を用いることができる。 The abnormality determination unit 60 determines whether or not the semiconductor switch 30 is abnormal based on the detection result of the state detection unit 50. A threshold current I 0 is stored in advance in the abnormality determination unit 60 as characteristic information of the semiconductor switch 30. As the threshold current I 0 , for example, an upper limit value in a normal range can be used as the current value flowing through the semiconductor switch 30. When the state detection unit detects the state of the semiconductor switch using the temperature of the semiconductor switch, the threshold temperature is used as the characteristic information of the semiconductor switch. As the threshold temperature, for example, an upper limit value in a normal range can be used as the temperature in the on state of the semiconductor switch.

本実施形態の異常判定部60は、予め保存された閾値電流Iと、状態検出部50により検出された電流値とを比較して、これらの大小関係に基づいて、半導体スイッチ30が異常であるか否かを判定する。異常判定部60は、半導体スイッチ30が異常であると判定した場合、判定結果を、信号線S4を介してリトライ実行部80に出力する。 The abnormality determination unit 60 of the present embodiment compares the threshold current I 0 stored in advance with the current value detected by the state detection unit 50, and the semiconductor switch 30 is abnormal based on the magnitude relationship between them. Determine if it exists. When the abnormality determination unit 60 determines that the semiconductor switch 30 is abnormal, the abnormality determination unit 60 outputs the determination result to the retry execution unit 80 via the signal line S4.

タイマ70は、半導体スイッチ30が最初にオン状態となってからの経過時間を計測しており、ゲート駆動部90から駆動信号が入力された時にカウントを開始する。また、このタイマ70は、ゲート駆動部90から駆動信号が入力されることで、カウントをリセットするようになっている。ここで計測した経過時間tは、信号線S5を介してリトライ実行部80に出力される。 The timer 70 measures the elapsed time since the semiconductor switch 30 was first turned on, and starts counting when a drive signal is input from the gate drive unit 90. Further, the timer 70 resets the count when a drive signal is input from the gate drive unit 90. The elapsed time t measured here is output to the retry execution unit 80 via the signal line S5.

なお、本明細書において、「半導体スイッチ30が最初にオン状態となる」とは、外部スイッチ200からの駆動要求信号に応じてゲート駆動部90から出力された駆動信号により、半導体スイッチ30がオン状態となることをいう。 In the present specification, "the semiconductor switch 30 is first turned on" means that the semiconductor switch 30 is turned on by a drive signal output from the gate drive unit 90 in response to a drive request signal from the external switch 200. It means to be in a state.

リトライ実行部80は、異常判定部60により半導体スイッチ30の異常が判定された場合に、リトライ動作を実行する信号をゲート駆動部90に出力する。ここで、リトライ動作とは、図2に示すように、半導体スイッチ30のオン状態とオフ状態とを繰り返し行う動作のことをいう。このリトライ動作は、維持時間t10に亘り半導体スイッチ30のオン状態が維持されるオン動作と、維持時間t20に亘り半導体スイッチ30のオフ状態が維持されるオフ動作と、を交互に含んでいる。なお、本明細書においてt10は、図2のt12,t13,t14,及びt15の総称である。また、本明細書においてt20は、図2のt21,t22,t23,及びt24の総称である。 The retry execution unit 80 outputs a signal for executing the retry operation to the gate drive unit 90 when the abnormality determination unit 60 determines that the semiconductor switch 30 is abnormal. Here, the retry operation refers to an operation in which the semiconductor switch 30 is repeatedly turned on and off, as shown in FIG. The retry operation is the on operation of the on-state of the semiconductor switch 30 over the maintenance time t 10 is maintained, and off operation of the OFF state of the semiconductor switch 30 over the maintenance time t 20 is maintained comprise alternately There is. In this specification, t 10 is a general term for t 12 , t 13 , t 14 , and t 15 in FIG. Further, in the present specification, t 20 is a general term for t 21 , t 22 , t 23 , and t 24 in FIG.

本実施形態における「オン動作」が本発明における「第1の動作」の一例に相当し、本実施形態における「オフ動作」が本発明における「第2の動作」の一例に相当し、本実施形態における「維持時間t10」が本発明における「第1の間隔」の一例に相当し、本実施形態における「維持時間t20」が本発明における「第2の間隔」の一例に相当する。 The "on operation" in the present embodiment corresponds to an example of the "first operation" in the present invention, and the "off operation" in the present embodiment corresponds to an example of the "second operation" in the present invention. The "maintenance time t 10 " in the embodiment corresponds to an example of the "first interval" in the present invention, and the "maintenance time t 20 " in the present embodiment corresponds to an example of the "second interval" in the present invention.

維持時間t10は、オフ動作からオン動作への切り替えが行われた時に開始し、その後、異常判定部60が半導体スイッチ30の異常を判定した時に終了する値である。なお、維持時間t10は、特に上述に限定されず、予め設定された値を用いてもよい。 The maintenance time t 10 is a value that starts when the off operation is switched to the on operation and then ends when the abnormality determination unit 60 determines the abnormality of the semiconductor switch 30. The maintenance time t 10 is not particularly limited to the above, and a preset value may be used.

維持時間t20は、リトライ実行部80により、一度のオン動作中にキャパシタ120が蓄えた電荷量に対して、当該オン動作の直後の一度のオフ動作中にキャパシタ120から放出される電荷量が相対的に小さくなるように設定されている。 The maintenance time t 20 is such that the amount of electric charge released from the capacitor 120 during one off operation immediately after the on operation is equal to the amount of electric charge stored by the capacitor 120 during one on operation by the retry execution unit 80. It is set to be relatively small.

本実施形態では、図3(a)に示すように、リトライ実行部80によりオン動作が実行されると、半導体スイッチ30がオン状態となり、電源20が外部負荷100に対して電力を供給する。このとき、外部負荷100のキャパシタ120に電荷が蓄えられる。一方、リトライ実行部80によりオフ動作が実行されると、図3(b)に示すように、半導体スイッチ30がオフ状態となり、電源20による外部負荷100に対する電力供給が停止する。このとき、外部負荷100のキャパシタ120は、蓄えた電荷を抵抗110に向けて放出する。 In the present embodiment, as shown in FIG. 3A, when the retry execution unit 80 executes the on operation, the semiconductor switch 30 is turned on and the power supply 20 supplies electric power to the external load 100. At this time, electric charges are stored in the capacitor 120 of the external load 100. On the other hand, when the retry execution unit 80 executes the off operation, as shown in FIG. 3B, the semiconductor switch 30 is turned off, and the power supply to the external load 100 by the power supply 20 is stopped. At this time, the capacitor 120 of the external load 100 discharges the stored electric charge toward the resistor 110.

本実施形態では、リトライ実行部80が上述の通り維持時間t20を設定することで、キャパシタ120における充放電を制御して、当該キャパシタ120に電荷を徐々に蓄えることができる(図2参照)。キャパシタ120の充電が完了すると、図3(c)に示すように、抵抗110が電源20からの電力供給を受けて安定した動作を開始する。 In the present embodiment, by setting the maintenance time t 20 as described above, the retry execution unit 80 can control the charge and discharge in the capacitor 120 and gradually store the electric charge in the capacitor 120 (see FIG. 2). .. When the charging of the capacitor 120 is completed, as shown in FIG. 3C, the resistor 110 receives the power supply from the power source 20 and starts stable operation.

本実施形態のリトライ実行部80による維持時間t20の設定方法について、さらに詳しく説明する。本実施形態において、一度のオン動作中にキャパシタ120に蓄えられる電荷量q(t10)は、下記(2)式で表すことができる。

Figure 0006831178
The method of setting the maintenance time t 20 by the retry execution unit 80 of the present embodiment will be described in more detail. In the present embodiment, the amount of electric charge q (t 10 ) stored in the capacitor 120 during one on operation can be expressed by the following equation (2).
Figure 0006831178

但し、上記(2)式において、Cはキャパシタ120の電気容量であり、Eは電源20の出力電圧であり、Rは電力線Pの電気抵抗値である。 However, in the above (2), C is the capacitance of capacitor 120, E is the output voltage of the power supply 20, R I is the electrical resistance of the power lines P.

また、オン動作とオフ動作を各一度ずつ行った後にキャパシタ120に残存する電荷量q(t20)は、下記(3)式で表すことができる。

Figure 0006831178
Further, the amount of charge q (t 20 ) remaining in the capacitor 120 after each of the on operation and the off operation is performed once can be expressed by the following equation (3).
Figure 0006831178

但し、上記(3)式において、Qはキャパシタ120が電荷を放出する前に当該キャパシタ120に蓄えられていた電荷量であり、Rは抵抗110の電気抵抗値である。なお、本実施形態では、Qはオフ動作の直前のオン動作中にキャパシタ120に蓄えられた電荷量q(t10)である。 However, in the above equation (3), Q 0 is the amount of electric charge stored in the capacitor 120 before the capacitor 120 emits the electric charge, and RL is the electric resistance value of the resistor 110. In the present embodiment, Q 0 is the amount of electric charge q (t 10 ) stored in the capacitor 120 during the on operation immediately before the off operation.

上記(2)式及び(3)式に基づくと、一度のオン動作と、直後の一度のオフ動作とが実行された後にキャパシタ120に残存する電荷量q(t10,t20)は、下記(4)式で表すことができる。

Figure 0006831178
Based on the above equations (2) and (3), the amount of electric charge q (t 10 , t 20 ) remaining in the capacitor 120 after one on operation and one immediately off operation are executed is as follows. It can be expressed by the equation (4).
Figure 0006831178

本実施形態のリトライ実行部80は、一度のオン動作中にキャパシタ120が蓄えた電荷量に対して、当該オン動作の直後の一度のオフ動作中にキャパシタ120から放出される電荷量が相対的に小さくなるように、下記(5)式の演算式に基づいて維持時間t20を設定する。

Figure 0006831178
In the retry execution unit 80 of the present embodiment, the amount of electric charge discharged from the capacitor 120 during one off operation immediately after the on operation is relative to the amount of electric charge stored by the capacitor 120 during one on operation. The maintenance time t 20 is set based on the calculation formula of the following equation (5) so as to be as small as.
Figure 0006831178

なお、図2に示すように、最初に実行されるオフ動作の維持時間t21は、半導体スイッチ30の最初のオン状態の間にキャパシタ120に蓄えられた電荷量に対して、当該最初に実行されるオフ動作中にキャパシタ120から放出される電荷量が相対的に小さくなるように設定する。 As shown in FIG. 2, the maintenance time t 21 of the first off operation is executed first with respect to the amount of electric charge stored in the capacitor 120 during the first on state of the semiconductor switch 30. The amount of charge emitted from the capacitor 120 during the off operation is set to be relatively small.

本明細書中の電荷量q(t10,t20)は、図2のq(t11,t21),q(t12,t22),q(t13,t23),及びq(t14,t24)の総称である。 The charge amounts q (t 10 , t 20 ) in the present specification are q (t 11 , t 21 ), q (t 12 , t 22 ), q (t 13 , t 23 ), and q (t 13 ) in FIG. t 14, is a generic name of t 24).

本実施形態のリトライ実行部80には、閾値時間Tと、閾値時間Tとが予め保存されている。本実施形態における「閾値時間T」が本発明における「第1の閾値」の一例に相当し、本実施形態における閾値時間T」が本発明における「第2の閾値」の一例に相当する。 In the retry execution unit 80 of the present embodiment, the threshold time T 1 and the threshold time T 2 are stored in advance. The "threshold time T 1 " in the present embodiment corresponds to an example of the "first threshold" in the present invention, and the "threshold time T 2 " in the present embodiment corresponds to an example of the "second threshold" in the present invention. ..

閾値時間Tは、図4に示すように、リトライ動作を行わない場合において、半導体スイッチ30が最初にオン状態となってから突入電流が収束するまでの推定時間であり、電源20から外部負荷100に対して電力が供給された際に、突入電流による過電流が生じているか否かを判定するために用いられる。この閾値時間Tは、キャパシタ120の電気容量に応じて、予め実験的に求める。 As shown in FIG. 4, the threshold time T 1 is an estimated time from when the semiconductor switch 30 is first turned on to when the inrush current converges when the retry operation is not performed, and is an external load from the power source 20. It is used to determine whether or not an overcurrent due to an inrush current has occurred when power is supplied to 100. This threshold time T 1 is experimentally obtained in advance according to the electric capacity of the capacitor 120.

リトライ実行部80は、異常判定部60により半導体スイッチ30の異常が判定されたら、その判定結果が入力されたときの経過時間tをタイマ70から取得し、当該タイマ70が計測した計測値と、閾値時間Tとを比較する。そして、リトライ実行部80は、これらの大小関係に基づいて、リトライ動作を実行するか否かを判定する。ここでは、タイマ70による計測値が閾値時間Tよりも小さいときに異常判定部60により半導体スイッチ30の異常が判定された場合、リトライ実行部80はリトライ動作を開始する。 When the abnormality determination unit 60 determines that the semiconductor switch 30 is abnormal, the retry execution unit 80 acquires the elapsed time t when the determination result is input from the timer 70, and sets the measured value measured by the timer 70 as well. and compares the threshold time T 1. Then, the retry execution unit 80 determines whether or not to execute the retry operation based on these magnitude relationships. Here, when the abnormality determination unit 60 determines an abnormality of the semiconductor switch 30 when the value measured by the timer 70 is smaller than the threshold time T 1 , the retry execution unit 80 starts the retry operation.

閾値時間Tは、図4に示すように、リトライ動作を行う場合において、半導体スイッチ30が最初にオン状態となってから突入電流が収束するまでの推定時間であり、発生している過電流が突入電流によるものか否かを判定するために用いられる。リトライ動作が実行される分だけ、閾値時間Tは閾値時間Tに対して相対的に大きい値となる。この閾値時間Tは、外部負荷100の抵抗110の種類に応じて、予め実験的に求める。特に限定しないが、たとえば、抵抗の種類が灯火系、ワイパ系、ウォッシャ系の場合、閾値時間T2は200msに設定される。抵抗の種類がECUの場合、閾値時間T2は100msに設定される。 As shown in FIG. 4, the threshold time T 2 is an estimated time from when the semiconductor switch 30 is first turned on to when the inrush current converges when the retry operation is performed, and the generated overcurrent is generated. Is used to determine if is due to an inrush current. The threshold time T 2 becomes a relatively large value with respect to the threshold time T 1 by the amount that the retry operation is executed. This threshold time T 2 is experimentally obtained in advance according to the type of the resistor 110 of the external load 100. Although not particularly limited, for example, when the type of resistor is a lighting system, a wiper system, or a washer system, the threshold time T2 is set to 200 ms. When the type of resistance is ECU, the threshold time T2 is set to 100 ms.

リトライ実行部80は、リトライ動作を実行している間、タイマ70から経過時間tを取得して、タイマ70が計測した計測値と、閾値時間Tとを比較する。そして、リトライ実行部80は、これらの大小関係に基づいて、リトライ動作を終了するか否かを判定する。ここでは、タイマ70が計測した計測値が閾値時間Tよりも大きい場合、リトライ実行部80はリトライ動作を終了する。一方、タイマ70が計測した計測値が閾値時間T以下の場合、リトライ実行部80はリトライ動作を継続する。 The retry execution unit 80 acquires the elapsed time t from the timer 70 while executing the retry operation, and compares the measured value measured by the timer 70 with the threshold time T 2 . Then, the retry execution unit 80 determines whether or not to end the retry operation based on these magnitude relationships. Here, when the measured value measured by the timer 70 is larger than the threshold time T 2 , the retry execution unit 80 ends the retry operation. On the other hand, when the measured value measured by the timer 70 is the threshold time T 2 or less, the retry execution unit 80 continues the retry operation.

また、本実施形態のリトライ実行部80は、当該リトライ動作が終了するまでにキャパシタ120の充電をより確実に完了させる観点から、下記(6)式の演算式を満たすように、オフ動作の維持時間t20を設定している。

Figure 0006831178
Further, the retry execution unit 80 of the present embodiment maintains the off operation so as to satisfy the calculation formula of the following equation (6) from the viewpoint of more reliably completing the charging of the capacitor 120 by the end of the retry operation. The time t 20 is set.
Figure 0006831178

上記(6)式の右辺は、一度のオン動作と、直後の一度のオフ動作とが実行された後にキャパシタ120に残存する電荷量であって、タイマ70が計測した計測値が閾値時間Tのときに、キャパシタ120の充電が完了しているために必要な値である。 The right side of the above equation (6) is the amount of electric charge remaining in the capacitor 120 after one on operation and one off operation immediately after are executed, and the measured value measured by the timer 70 is the threshold time T 2 At this time, it is a value required for the charging of the capacitor 120 to be completed.

上記(6)式を整理すると、下記(7)式として表すことができる。

Figure 0006831178
The above equation (6) can be summarized as the following equation (7).
Figure 0006831178

上記(7)式をグラフに示すと、図5のとおりとなる。本実施形態のリトライ実行部80は、図5に示すように、下記(8)式を満たす範囲で維持時間t20を設定することができる。これにより、突入電流による過電流を収束させつつ、リトライ動作が終了するまでにキャパシタ120の充電をより確実に完了させることができる。
0<t20<Tz・・・(8)
The above equation (7) is shown in a graph as shown in FIG. As shown in FIG. 5, the retry execution unit 80 of the present embodiment can set the maintenance time t 20 within a range satisfying the following equation (8). As a result, it is possible to more reliably complete the charging of the capacitor 120 by the end of the retry operation while converging the overcurrent due to the inrush current.
0 <t 20 <Tz ... (8)

また、本実施形態のリトライ実行部80は、リトライ動作に含まれる複数のオフ動作の維持時間t20が、相互に異なる値となるように設定している。具体的には、図2に示すt21,t22,t23,及びt24を、相互に異なる値となるように設定する。この場合、リトライ実行部80は、各オフ動作の維持時間t20を予め設定された線形合同法等の乱数発生アルゴリズムを用いてランダムに設定してもよい。なお、各オフ動作の維持時間t20をランダムに設定する場合でも、リトライ実行部80は、上記(8)式の範囲内において、各維持時間t20を設定することが好ましい。 Further, the retry execution unit 80 of the present embodiment is set so that the maintenance times t 20 of the plurality of off operations included in the retry operation are different from each other. Specifically, t 21 , t 22 , t 23 , and t 24 shown in FIG. 2 are set so as to have different values from each other. In this case, the retry execution unit 80 may randomly set the maintenance time t 20 of each off operation by using a random number generation algorithm such as a preset linear congruential method. Even when the maintenance time t 20 of each off operation is randomly set, it is preferable that the retry execution unit 80 sets each maintenance time t 20 within the range of the above equation (8).

ゲート駆動部90には、信号線S1を介して外部スイッチ200から駆動要求信号が入力される。ゲート駆動部90は、駆動要求信号が入力されると、駆動信号をゲート電極33に出力する。これにより、半導体スイッチ30がオン状態となる。外部スイッチ200からの駆動要求信号が停止すると、ゲート駆動部90は、ゲート電極33に対する駆動信号を停止する。これにより、半導体スイッチ30はオフ状態となる。なお、ゲート駆動部90は、外部スイッチ200から駆動要求信号が入力された場合、信号線S6を介して、駆動信号をタイマ70に出力する。 A drive request signal is input to the gate drive unit 90 from the external switch 200 via the signal line S1. When the drive request signal is input, the gate drive unit 90 outputs the drive signal to the gate electrode 33. As a result, the semiconductor switch 30 is turned on. When the drive request signal from the external switch 200 is stopped, the gate drive unit 90 stops the drive signal for the gate electrode 33. As a result, the semiconductor switch 30 is turned off. When a drive request signal is input from the external switch 200, the gate drive unit 90 outputs the drive signal to the timer 70 via the signal line S6.

また、ゲート駆動部90には、信号線S7を介してリトライ実行部80からリトライ動作を実行する指令が入力される。ゲート駆動部90は、リトライ動作を実行する指令に合わせて、ゲート電極33に駆動信号の入力と停止とを交互に行う。 Further, a command to execute the retry operation is input from the retry execution unit 80 to the gate drive unit 90 via the signal line S7. The gate drive unit 90 alternately inputs and stops a drive signal to the gate electrode 33 in response to a command to execute the retry operation.

次に、図2及び図6を参照して、本実施形態に係る過電流保護装置10の制御手順を説明する。以下の処理は過電流保護装置10の制御装置40内にインストールされた当該過電流保護装置10の制御プログラムによって実行される。図6は本発明の一実施の形態に係る過電流保護装置の制御手順を示すフローチャート(その1)である。 Next, the control procedure of the overcurrent protection device 10 according to the present embodiment will be described with reference to FIGS. 2 and 6. The following processing is executed by the control program of the overcurrent protection device 10 installed in the control device 40 of the overcurrent protection device 10. FIG. 6 is a flowchart (No. 1) showing a control procedure of the overcurrent protection device according to the embodiment of the present invention.

図6に示す制御ルーチンは、外部負荷100のキャパシタ120の充電が完了していない状態で実行される。まず、ステップST1にて、外部スイッチ200の駆動要求信号がゲート駆動部90に入力されると、ステップST2にてゲート駆動部90が駆動信号をゲート電極33に出力する。これにより、半導体スイッチ30がオン状態となり、電源20による外部負荷100に対する電力供給が開始される。 The control routine shown in FIG. 6 is executed in a state where charging of the capacitor 120 of the external load 100 is not completed. First, in step ST1, when the drive request signal of the external switch 200 is input to the gate drive unit 90, the gate drive unit 90 outputs the drive signal to the gate electrode 33 in step ST2. As a result, the semiconductor switch 30 is turned on, and the power supply 20 starts supplying electric power to the external load 100.

ステップST3では、ゲート駆動部90は、駆動信号をタイマ70に出力する。これにより、タイマ70がカウントをリセットする共に、半導体スイッチ30が最初にオン状態となってからの経過時間tの計測を開始する。このタイムカウントは、ステップST6又はステップST78(図7参照)で過電流保護装置10の制御が終了するまで行われる。なお、図2のタイムチャートにおけるtが、半導体スイッチ30が最初にオン状態となった時に相当する。 In step ST3, the gate drive unit 90 outputs a drive signal to the timer 70. As a result, the timer 70 resets the count and starts measuring the elapsed time t since the semiconductor switch 30 is first turned on. This time count is performed until the control of the overcurrent protection device 10 is completed in step ST6 or step ST78 (see FIG. 7). Note that t 0 in the time chart of FIG. 2 corresponds to the time when the semiconductor switch 30 is first turned on.

ステップST4では、リトライ実行部80がタイマ70により計測された計測値と閾値時間Tとを比較する。計測値が閾値時間Tよりも小さい場合、ステップST5に進む。計測値が閾値時間T以上の場合、ステップST6に進む。ステップST6では、過電流保護装置10は、突入電流による過電流が発生していないと判定して、その制御を終了する。なお、計測値が閾値時間T以上のときに半導体スイッチに過電流が流れている場合は、デッドショート等の突入電流以外の原因によるものと推定される。 In step ST4, the retry execution unit 80 compares the been the measured value and the threshold time T 1 measured by the timer 70. If the measured value is smaller than the threshold time T 1 , the process proceeds to step ST5. If the measured value is the threshold time T 1 or more, the process proceeds to step ST6. In step ST6, the overcurrent protection device 10 determines that an overcurrent due to the inrush current has not occurred, and ends the control thereof. If an overcurrent is flowing in the semiconductor switch when the measured value is the threshold time T 1 or more, it is presumed that the cause is other than the inrush current such as dead short circuit.

ステップST5では、半導体スイッチ30が異常であるか否かを判定する。具体的には、異常判定部60は、状態検出部50により検出された半導体スイッチ30を流れる電流値Iを取得して、当該電流値Iと、予め設定された閾値電流Iとを比較する。電流値Iが、閾値電流Iよりも大きい場合、ステップST7に進む。ステップST7では、リトライ実行部80は、突入電流による過電流が発生しているものと判定して、リトライ動作を開始する。このステップST7については、後に詳細に説明する。電流値Iが、閾値電流Iよりも小さい場合、ステップST4に戻り、ステップST4〜ステップST5を繰り返す。なお、図2のタイムチャートにおけるtが、リトライ実行部80がリトライ動作を開始した時に相当する。 In step ST5, it is determined whether or not the semiconductor switch 30 is abnormal. Specifically, the abnormality determination unit 60 acquires the current value I flowing through the semiconductor switch 30 detected by the state detection unit 50, and compares the current value I with the preset threshold current I 0. .. If the current value I is larger than the threshold current I 0 , the process proceeds to step ST7. In step ST7, the retry execution unit 80 determines that an overcurrent due to the inrush current has occurred, and starts the retry operation. This step ST7 will be described in detail later. When the current value I is smaller than the threshold current I 0 , the process returns to step ST4, and steps ST4 to ST5 are repeated. Note that t 1 in the time chart of FIG. 2 corresponds to when the retry execution unit 80 starts the retry operation.

次に、図2及び図7を参照しながら、リトライ実行部80がリトライ動作を実行するときの制御ルーチンについて説明する。図7は本発明の一実施の形態に係る過電流保護装置の制御手順を示すフローチャート(その2)である。 Next, the control routine when the retry execution unit 80 executes the retry operation will be described with reference to FIGS. 2 and 7. FIG. 7 is a flowchart (No. 2) showing a control procedure of the overcurrent protection device according to the embodiment of the present invention.

まず、ステップST71では、リトライ実行部80が半導体スイッチ30をオフ状態にする指令をゲート駆動部90に出力する。ゲート駆動部90は、半導体スイッチ30に対する駆動信号を停止し、半導体スイッチ30をオフ状態にする。これにより、リトライ動作のオフ動作が開始される。 First, in step ST71, the retry execution unit 80 outputs a command to turn off the semiconductor switch 30 to the gate drive unit 90. The gate drive unit 90 stops the drive signal for the semiconductor switch 30 and turns off the semiconductor switch 30. As a result, the off operation of the retry operation is started.

次に、ステップST72では、リトライ実行部80は、ステップST71で開始されたオフ動作の維持時間t20を算出するため、直前のオン動作の維持時間t10を求める。具体的には、リトライ実行部80は、オフ動作からオン動作へ切り替わった時の経過時間tをタイマ70から取得し、その後に異常判定部60が半導体スイッチ30の異常を判定した時の経過時間tをタイマ70から取得し、これらを減算処理することで維持時間t10を求める。なお、最初のオフ動作の維持時間t21を算出する場合、リトライ実行部80は、半導体スイッチ30の最初のオン状態が維持された時間t11を求める。 Next, in step ST72, the retry execution unit 80 obtains the maintenance time t 10 of the immediately preceding on operation in order to calculate the maintenance time t 20 of the off operation started in step ST 71. Specifically, the retry execution unit 80 acquires the elapsed time t when switching from the off operation to the on operation from the timer 70, and then the abnormality determination unit 60 determines the abnormality of the semiconductor switch 30. The maintenance time t 10 is obtained by acquiring t from the timer 70 and subtracting them. When calculating the maintenance time t 21 of the first off operation, the retry execution unit 80 obtains the time t 11 in which the first on state of the semiconductor switch 30 is maintained.

次に、ステップST73では、リトライ実行部80は、オフ動作の維持時間t20を設定する。ここでは、リトライ実行部80は、まず、ステップST72で求めた維持時間t10と、予め保存された上記(7)式の演算式とを用いて維持時間t20の設定可能な範囲(すなわち、上記(8)式の範囲)を算出する。そして、リトライ実行部80は、上記(8)式の範囲内において、維持時間t20をランダムに設定する。 Next, in step ST73, the retry execution unit 80 sets the maintenance time t 20 of the off operation. Here, the retry execution unit 80 first sets a settable range of the maintenance time t 20 using the maintenance time t 10 obtained in step ST72 and the calculation formula of the above equation (7) saved in advance (that is,). The range of the above equation (8)) is calculated. Then, the retry execution unit 80 randomly sets the maintenance time t 20 within the range of the above equation (8).

次に、リトライ実行部80は、オフ動作を開始してから設定した維持時間t20が経過するまで、ステップST74を繰り返し、オフ動作を開始してから維持時間t20が経過したら、ステップST75に進む。 Then, the retry execution unit 80 until the lapse of maintaining time t 20 which is set from the start of the OFF operation, repeat steps ST74, after a lapse of maintaining time t 20 from the start of off-operation, in step ST75 move on.

次に、ステップST75では、リトライ実行部80は、半導体スイッチ30をオン状態にする指令をゲート駆動部90に出力する。ゲート駆動部90は、半導体スイッチ30に対する駆動信号を出力し、半導体スイッチ30をオン状態とする。これにより、リトライ動作のオフ動作が終了すると共に、オン動作が開始される。 Next, in step ST75, the retry execution unit 80 outputs a command to turn on the semiconductor switch 30 to the gate drive unit 90. The gate drive unit 90 outputs a drive signal to the semiconductor switch 30 to turn on the semiconductor switch 30. As a result, the off operation of the retry operation ends and the on operation starts.

次に、ステップST76では、リトライ実行部80がタイマ70により計測された計測値と閾値時間Tとを比較する。計測値が閾値時間Tよりも小さい場合、ステップST77に進む。計測値が閾値時間T以上の場合、ステップST78に進む。ステップST78では、時間経過により突入電流による過電流は収束したものとして、リトライ実行部80はリトライ動作を終了する。なお、計測値が閾値時間T以上のときに半導体スイッチ30に過電流が流れている場合は、デッドショート等の突入電流以外の原因によるものと推定される。なお、図2のタイムチャートにおけるtが、リトライ実行部80がリトライ動作を終了した時に相当する。 Next, in step ST76, the retry execution unit 80 compares the measured value measured by the timer 70 with the threshold time T 2 . If the measured value is smaller than the threshold time T 2 , the process proceeds to step ST77. If the measured value is the threshold time T 2 or more, the process proceeds to step ST78. In step ST78, the retry execution unit 80 ends the retry operation, assuming that the overcurrent due to the inrush current has converged with the passage of time. If an overcurrent is flowing through the semiconductor switch 30 when the measured value is the threshold time T 2 or more, it is presumed that the cause is a cause other than the inrush current such as a dead short circuit. Note that t 2 in the time chart of FIG. 2 corresponds to when the retry execution unit 80 finishes the retry operation.

次に、ステップST77では、半導体スイッチ30が異常であるか否かを判定する。リトライ動作を実行している間でも、キャパシタ120の充電が完了していなければ、半導体スイッチ30を再度オン状態となった場合に、半導体スイッチ30に突入電流が流れる。ここでは、異常判定部60により半導体スイッチ30の異常が判定されると、突入電流が収束していないものとして、リトライ動作を継続する。 Next, in step ST77, it is determined whether or not the semiconductor switch 30 is abnormal. Even while the retry operation is being executed, if the charging of the capacitor 120 is not completed, an inrush current flows through the semiconductor switch 30 when the semiconductor switch 30 is turned on again. Here, when the abnormality determination unit 60 determines that the semiconductor switch 30 is abnormal, it is assumed that the inrush current has not converged, and the retry operation is continued.

このステップST77では、異常判定部60は、状態検出部50により検出された半導体スイッチ30を流れる電流値Iを取得して、当該電流値Iと、予め設定された閾値電流Iとを比較する。電流値Iが、閾値電流Iよりも大きい場合、ステップST71に戻り、ステップST71〜ステップST77を繰り返す。一方、電流値Iが、閾値電流I以下の場合、ステップST76に戻り、ステップST76〜ステップST77を繰り返す。ここでは、キャパシタ120の充電が完了していれば、経過時間tが閾値時間Tに達した後、リトライ動作が終了する(ステップST78)。 In this step ST77, the abnormality determination unit 60 acquires the current value I flowing through the semiconductor switch 30 detected by the state detection unit 50, and compares the current value I with the preset threshold value I 0. .. When the current value I is larger than the threshold current I 0 , the process returns to step ST71, and steps ST71 to ST77 are repeated. On the other hand, when the current value I is equal to or less than the threshold current I 0 , the process returns to step ST76, and steps ST76 to ST77 are repeated. Here, if the charging of the capacitor 120 is completed, the retry operation ends after the elapsed time t reaches the threshold time T 2 (step ST78).

ステップST77において、状態検出部50が検出した電流値Iが、閾値電流I以上の場合、ステップST71に戻り、リトライ実行部80は、半導体スイッチ30をオフ状態にする指令をゲート駆動部90に出力する。これにより、リトライ動作のうち2回目のオフ動作が開始される。そして、リトライ実行部80は、2回目のオフ動作の直前のオン動作の維持時間t12を求めた後(ステップST72)、2回目のオフ動作の維持時間t22を設定する(ステップST73)。この場合、リトライ実行部80は、維持時間t22を最初のオフ動作の維持時間t21とは異なる値となるようにランダムに設定する。 If the current value I detected by the state detection unit 50 in step ST77 is equal to or greater than the threshold current I 0 , the process returns to step ST71, and the retry execution unit 80 issues a command to the gate drive unit 90 to turn off the semiconductor switch 30. Output. As a result, the second off operation of the retry operation is started. Then, the retry execution unit 80 obtains the maintenance time t 12 of the on operation immediately before the second off operation (step ST72), and then sets the maintenance time t 22 of the second off operation (step ST73). In this case, the retry execution unit 80 randomly sets the maintenance time t 22 to a value different from the maintenance time t 21 of the first off operation.

ステップST78において、リトライ実行部80がリトライ動作を終了したら、図2に示すように、過電流保護装置10は、半導体スイッチ30のオン状態を保持する。そして、外部200からの駆動要求信号が停止されると、半導体スイッチ30をオフ状態に切り替えて、電源20による外部負荷100への電力供給を停止する。なお、図2のタイムチャートにおけるtが、電源20による外部負荷100への電力供給を停止した時に相当する。 In step ST78, when the retry execution unit 80 finishes the retry operation, the overcurrent protection device 10 keeps the semiconductor switch 30 in the ON state as shown in FIG. Then, when the drive request signal from the external 200 is stopped, the semiconductor switch 30 is switched to the off state, and the power supply to the external load 100 by the power source 20 is stopped. Incidentally, the t 3 in the time chart of FIG. 2, corresponding to when it stops the power supply to the external load 100 by power supply 20.

本実施形態の過電流保護装置10及び制御方法は、以下の効果を奏する。 The overcurrent protection device 10 and the control method of the present embodiment have the following effects.

従来の過電流保護装置としては、機械式のヒューズを用いたものが一般的であった。この機械式ヒューズは過電流によって溶断してしまうので、その都度交換が必要であったり、対象とする電圧帯に応じたヒューズを用いる必要がある等、コストの増大を招いていた。このため、近年では、機械式ヒューズに代わり、半導体スイッチを用いて、当該半導体スイッチのオン状態とオフ状態により電力線の導通・遮断を切り替える過電流保護装置が用いられている。このような半導体スイッチを用いた過電流保護装置では、機械式ヒューズのような交換作業が不要であり、対象とする電圧帯も設定可能であるため、コストを低減することができる。 As a conventional overcurrent protection device, a device using a mechanical fuse has been generally used. Since this mechanical fuse blows due to an overcurrent, it has been necessary to replace it each time, or to use a fuse according to the target voltage band, resulting in an increase in cost. For this reason, in recent years, an overcurrent protection device has been used in which a semiconductor switch is used instead of a mechanical fuse to switch the continuity / cutoff of a power line depending on whether the semiconductor switch is on or off. An overcurrent protection device using such a semiconductor switch does not require replacement work such as a mechanical fuse, and the target voltage band can be set, so that the cost can be reduced.

ここで、外部負荷がキャパシタを含む場合、未充電のキャパシタのインピーダンスが極めて小さいことに起因して突入電流による過電流が発生することがある。従来の半導体スイッチを用いた過電流保護装置では、上述のような場合に生じる突入電流に対しても半導体スイッチがオフとなるように動作してしまうことがあった。この場合、キャパシタを十分に充電することができず、また、再度半導体スイッチをオンとするまでにキャパシタに蓄えられた電荷が放出されてしまうため、突入電流による過電流が収束し難い。このため、その後も半導体スイッチが誤動作してオフ状態となってしまうおそれがある、という問題があった。 Here, when the external load includes a capacitor, an overcurrent due to an inrush current may occur due to the extremely small impedance of the uncharged capacitor. In the overcurrent protection device using the conventional semiconductor switch, the semiconductor switch may operate so as to be turned off even with respect to the inrush current generated in the above case. In this case, the capacitor cannot be sufficiently charged, and the electric charge stored in the capacitor is released by the time the semiconductor switch is turned on again, so that the overcurrent due to the inrush current is difficult to converge. Therefore, there is a problem that the semiconductor switch may malfunction and be turned off even after that.

また、突入電流による過電流は許容する一方、デッドショートによる過電流は遮断するように過電流保護回路を構築すると、電力線の線径を大きくしたり、高い遮断特性を有する半導体スイッチを用いる必要があるため、コストの増大を招く、という問題もあった。 In addition, if an overcurrent protection circuit is constructed so as to allow overcurrent due to inrush current while interrupting overcurrent due to dead short circuit, it is necessary to increase the wire diameter of the power line or use a semiconductor switch having high breaking characteristics. Therefore, there is also a problem that the cost increases.

これに対し、本実施形態の過電流保護装置10は、突入電流が発生した場合に行われるリトライ動作において、オン動作中に外部負荷100のキャパシタ120に蓄えられた電荷量に対して、当該オン動作の直後のオフ動作中にキャパシタ120から放出される電荷量を相対的に小さくなるように、当該オフ動作の維持時間t20を設定している。このため、突入電流による過電流を収束させることができるので、突入電流による過電流に対する半導体スイッチ30の誤動作の発生を抑制することができる。 On the other hand, the overcurrent protection device 10 of the present embodiment is turned on with respect to the amount of electric charge stored in the capacitor 120 of the external load 100 during the on operation in the retry operation performed when the inrush current is generated. The maintenance time t 20 of the off operation is set so that the amount of electric charge emitted from the capacitor 120 during the off operation immediately after the operation is relatively small. Therefore, since the overcurrent due to the inrush current can be converged, it is possible to suppress the occurrence of malfunction of the semiconductor switch 30 due to the overcurrent due to the inrush current.

また、半導体スイッチ30の誤動作の発生の抑制を図るに際し、電力線Pの線径を大きくしたり、高い遮断特性を有する半導体スイッチを用いる必要がないため、過電流保護装置10のコストを低減できる。 Further, in order to suppress the occurrence of malfunction of the semiconductor switch 30, it is not necessary to increase the wire diameter of the power line P or use a semiconductor switch having a high breaking characteristic, so that the cost of the overcurrent protection device 10 can be reduced.

また、本実施形態では、タイマ70が計測した計測値が閾値時間T以下のときに半導体スイッチ30の異常が検出された場合に、リトライ実行部80がリトライ動作を実行する。この閾値時間Tを基準として、電源20から外部負荷100に対して電力が供給された際に、突入電流による過電流が生じているか否かを判定することで、突入電流による過電流に対する半導体スイッチ30の誤動作の発生をさらに抑制することができる。 Further, in the present embodiment, when an abnormality of the semiconductor switch 30 is detected when the measured value measured by the timer 70 is equal to or less than the threshold time T 1 , the retry execution unit 80 executes the retry operation. With this threshold time T 1 as a reference, when power is supplied from the power supply 20 to the external load 100, it is determined whether or not an overcurrent due to an inrush current has occurred, so that the semiconductor against the overcurrent due to the inrush current The occurrence of malfunction of the switch 30 can be further suppressed.

また、本実施形態では、タイマ70が計測した計測値が閾値時間T以上となった場合に、リトライ実行部80がリトライ動作を終了する。これにより、発生している過電流が突入電流によるものか否かを判定することができるので、突入電流による過電流に対して、半導体スイッチ30の誤動作の発生をより確実に抑制することができる。 Further, in the present embodiment, when the measured value measured by the timer 70 becomes the threshold time T 2 or more, the retry execution unit 80 ends the retry operation. As a result, it is possible to determine whether or not the overcurrent generated is due to the inrush current, so that the occurrence of malfunction of the semiconductor switch 30 can be more reliably suppressed against the overcurrent due to the inrush current. ..

また、本実施形態では、リトライ実行部80が上記(7)式を満たすように、維持時間t20を設定することで、当該リトライ動作が終了するまでにキャパシタ120の充電をより確実に完了させることができる。 Further, in the present embodiment, by setting the maintenance time t 20 so that the retry execution unit 80 satisfies the above equation (7), the charging of the capacitor 120 is more reliably completed by the end of the retry operation. be able to.

また、リトライ動作において、複数のオフ動作の各維持時間が相互に同一の値に設定すると、周期的な電圧降下が生じてしまうおそれがある。この場合、電源20に接続された他の外部負荷(不図示)に対する電源電圧も周期的に振動してしまい、当該他の外部負荷の性能を損ねるおそれがある。これに対し、本実施形態では、リトライ実行部80は、複数のオフ動作のそれぞれついて、維持時間t20を相互に異なる値に設定することで、周期的な電圧降下が生じるのを抑制することができる。 Further, in the retry operation, if each maintenance time of the plurality of off operations is set to the same value, a periodic voltage drop may occur. In this case, the power supply voltage for another external load (not shown) connected to the power supply 20 also oscillates periodically, which may impair the performance of the other external load. On the other hand, in the present embodiment, the retry execution unit 80 suppresses the occurrence of a periodic voltage drop by setting the maintenance time t 20 to different values for each of the plurality of off operations. Can be done.

以上に説明した過電流保護装置10を複数備え、一つの電源から複数の外部負荷に対して電力を分配して供給する電力分配装置1について、図8を参照しながら説明する。図8は本発明の一実施の形態に係る電力分配装置を示すブロック図である。 A power distribution device 1 including a plurality of overcurrent protection devices 10 described above and distributing and supplying power from one power source to a plurality of external loads will be described with reference to FIG. FIG. 8 is a block diagram showing a power distribution device according to an embodiment of the present invention.

本実施形態の電力分配装置1は、図8に示すように、2つの外部負荷100A,100Bに対して電力を分配して供給する装置である。本実施形態における「電力分配装置1」が本発明における「電力分配装置」の一例に相当する。 As shown in FIG. 8, the power distribution device 1 of the present embodiment is a device that distributes and supplies power to two external loads 100A and 100B. The "power distribution device 1" in the present embodiment corresponds to an example of the "power distribution device" in the present invention.

本実施形態の外部負荷100A,100Bは、いずれも上述の車載機器である。この外部負荷100A,100Bは、共通の電源20Aに対して並列に接続されている。電源20Aと外部負荷100Aとは、電力線P1を介して接続されている。電源20Aと外部負荷100Bとは、電力線P2を介して接続されている。 The external loads 100A and 100B of this embodiment are both the above-mentioned in-vehicle devices. The external loads 100A and 100B are connected in parallel to the common power supply 20A. The power supply 20A and the external load 100A are connected via a power line P1. The power supply 20A and the external load 100B are connected via a power line P2.

本実施形態の電力分配装置1は、第1の過電流保護装置10Aと、第2の過電流保護装置10Bとを備えている。本実施形態では、第1の過電流保護装置10Aの電源と、第2の過電流保護装置10Bの電源とは、同一の電源20Aとなっている。 The power distribution device 1 of the present embodiment includes a first overcurrent protection device 10A and a second overcurrent protection device 10B. In the present embodiment, the power supply of the first overcurrent protection device 10A and the power supply of the second overcurrent protection device 10B are the same power supply 20A.

第1の過電流保護装置10Aは、外部負荷100Aに対応している。具体的には、第1の過電流保護装置10Aの半導体スイッチ30Aが電力線P1に設けられており、当該半導体スイッチ30Aのオン/オフを切り替えて、電源20Aによる外部負荷100Aに対する電力の供給/停止を制御している。この第1の過電流保護装置10Aには、外部スイッチ200Aから外部負荷100Aの駆動要求信号が入力される。 The first overcurrent protection device 10A corresponds to an external load of 100A. Specifically, the semiconductor switch 30A of the first overcurrent protection device 10A is provided on the power line P1, and the semiconductor switch 30A is switched on / off to supply / stop power to the external load 100A by the power supply 20A. Is in control. A drive request signal of an external load 100A is input from the external switch 200A to the first overcurrent protection device 10A.

第2の過電流保護装置10Bは、外部負荷100Bに対応している。具体的には、第2の過電流保護装置10Bの半導体スイッチ30Bが電力線P2に設けられており、当該半導体スイッチ30Bのオン/オフを切り替えて、電源20Aによる外部負荷100Bに対する電力の供給/停止を制御している。この第2の過電流保護装置10Bには、外部スイッチ200Bから外部負荷100Bの駆動要求信号が入力される。 The second overcurrent protection device 10B corresponds to an external load of 100B. Specifically, the semiconductor switch 30B of the second overcurrent protection device 10B is provided on the power line P2, and the semiconductor switch 30B is switched on / off to supply / stop power to the external load 100B by the power supply 20A. Is in control. A drive request signal for an external load 100B is input to the second overcurrent protection device 10B from the external switch 200B.

本実施形態では、第1の過電流保護装置10Aのリトライ実行部80Aは、異常判定部60Aの判定結果に応じて、リトライ動作を実行する指令をゲート駆動部90Aに出力すると共に、第2の過電流保護装置10Bのリトライ実行部80Bにも同じ指令を出力する。 In the present embodiment, the retry execution unit 80A of the first overcurrent protection device 10A outputs a command to execute the retry operation to the gate drive unit 90A according to the determination result of the abnormality determination unit 60A, and the second The same command is output to the retry execution unit 80B of the overcurrent protection device 10B.

第2の過電流保護装置10Bのリトライ実行部80Bは、異常判定部60Bの判定結果に応じて、リトライ動作を実行する指令をゲート駆動部90Bに出力すると共に、第1の過電流保護装置10Aのリトライ実行部80Aにも同じ指令を出力する。リトライ実行部80Aとリトライ実行部80Bとは、信号線S8を介して、相互に信号の送受をすることができる。 The retry execution unit 80B of the second overcurrent protection device 10B outputs a command to execute the retry operation to the gate drive unit 90B according to the determination result of the abnormality determination unit 60B, and the first overcurrent protection device 10A. The same command is output to the retry execution unit 80A of. The retry execution unit 80A and the retry execution unit 80B can send and receive signals to and from each other via the signal line S8.

次に、本実施形態の電力分配装置1における制御手順について、図9を参照しながら説明する。図9は本発明の一実施の形態に係る電力分配装置による制御を示すタイムチャートである。 Next, the control procedure in the power distribution device 1 of the present embodiment will be described with reference to FIG. FIG. 9 is a time chart showing control by the power distribution device according to the embodiment of the present invention.

第1の過電流保護装置10Aは、外部スイッチ200Aから駆動要求信号を受け取ると、半導体スイッチ30Aをオン状態に切り替える。そして、状態検出部50Aにより、半導体スイッチ30Aの状態を監視して、異常判定部60Aにより半導体スイッチ30Aの異常が判定されたら、リトライ実行部80Aがリトライ動作を実行する。 Upon receiving the drive request signal from the external switch 200A, the first overcurrent protection device 10A switches the semiconductor switch 30A to the on state. Then, the state detection unit 50A monitors the state of the semiconductor switch 30A, and when the abnormality determination unit 60A determines the abnormality of the semiconductor switch 30A, the retry execution unit 80A executes the retry operation.

一方、第2の過電流保護装置10Bは、外部スイッチ200Bから駆動要求信号を受け取ると、半導体スイッチ30Bをオン状態に切り替える。ここでは、外部スイッチ200Bからの駆動要求信号の入力タイミングが、外部スイッチ200Aからの駆動要求信号の入力タイミングに対して遅れている。そして、状態検出部50Bにより、半導体スイッチ30Bの状態を監視して、異常判定部60Bにより半導体スイッチ30Bの異常が判定されたら、リトライ実行部80Bがリトライ動作を実行する。 On the other hand, when the second overcurrent protection device 10B receives the drive request signal from the external switch 200B, the second overcurrent protection device 10B switches the semiconductor switch 30B to the ON state. Here, the input timing of the drive request signal from the external switch 200B is delayed with respect to the input timing of the drive request signal from the external switch 200A. Then, the state detection unit 50B monitors the state of the semiconductor switch 30B, and when the abnormality determination unit 60B determines the abnormality of the semiconductor switch 30B, the retry execution unit 80B executes the retry operation.

このとき、リトライ実行部80Aは、第2の過電流保護装置10Bにおいてオフ動作を実行している場合、第1の過電流保護装置10Aにおいてオフ動作を行うのを禁止する。すなわち、リトライ実行部80Aは、リトライ動作中において、半導体スイッチ30Aのオフ状態が、半導体スイッチ30Bのオフ状態と重なるのを禁止している。 At this time, when the retry execution unit 80A is executing the off operation in the second overcurrent protection device 10B, it is prohibited to perform the off operation in the first overcurrent protection device 10A. That is, the retry execution unit 80A prohibits the off state of the semiconductor switch 30A from overlapping with the off state of the semiconductor switch 30B during the retry operation.

一方、リトライ実行部80Bは、第1の過電流保護装置10Aにおいてオフ動作を実行している場合、第2の過電流保護装置10Bにおいてオフ動作を行うのを禁止する。すなわち、リトライ実行部80Bは、リトライ動作中において、半導体スイッチ30Bのオフ状態が、半導体スイッチ30Aのオフ状態と重なるのを禁止している。 On the other hand, the retry execution unit 80B prohibits the second overcurrent protection device 10B from performing the off operation when the first overcurrent protection device 10A is executing the off operation. That is, the retry execution unit 80B prohibits the off state of the semiconductor switch 30B from overlapping with the off state of the semiconductor switch 30A during the retry operation.

図9のタイムチャートを用いて、具体的に説明すると、第1の過電流保護装置10Aでは、経過時間t4の時に半導体スイッチ30Aの異常が判定され、リトライ実行部80Aによりリトライ動作が開始されている。そして、リトライ実行部80Aは、経過時間t4から経過時間t6までオフ動作を行う。 More specifically, using the time chart of FIG. 9, in the first overcurrent protection device 10A, an abnormality of the semiconductor switch 30A is determined at the elapsed time t4, and the retry operation is started by the retry execution unit 80A. There is. Then, the retry execution unit 80A performs an off operation from the elapsed time t4 to the elapsed time t6.

第2の過電流保護装置10Bでは、経過時間t5の時に半導体スイッチ30Bの異常が判定され、リトライ実行部80Bによりリトライ動作が開始されている。この場合、リトライ実行部80Bは、第1の過電流保護装置10Aにおいてオフ動作が行われているから、第2の過電流保護装置10Bにおいてオフ動作を行わない。リトライ実行部80Bは、第1の過電流保護装置10Aにおいてオフ動作が終了(図9の経過時間t6に相当)するまで、半導体スイッチ30Bのオン状態を保持する。 In the second overcurrent protection device 10B, an abnormality of the semiconductor switch 30B is determined at the elapsed time t5, and the retry operation is started by the retry execution unit 80B. In this case, since the retry execution unit 80B is turned off in the first overcurrent protection device 10A, it is not turned off in the second overcurrent protection device 10B. The retry execution unit 80B keeps the semiconductor switch 30B on until the off operation of the first overcurrent protection device 10A ends (corresponding to the elapsed time t6 in FIG. 9).

そして、リトライ実行部80Bは、第1の過電流保護装置10Aにおいてオフ動作が終了したら、第2過電流保護装置10Bにおいてオフ動作を開始する。その後、第1及び第2の過電流保護装置10A,10Bは、オフ動作が重ならないように、リトライ動作を実行する。 Then, when the retry execution unit 80B finishes the off operation in the first overcurrent protection device 10A, the retry execution unit 80B starts the off operation in the second overcurrent protection device 10B. After that, the first and second overcurrent protection devices 10A and 10B execute the retry operation so that the off operations do not overlap.

このように、本実施形態の電力分配装置1では、リトライ実行部80Aは、第2の過電流保護装置10Bにおいてオフ動作が行われている場合に、第1の過電流保護装置においてオフ動作を行うことを禁止している。また、リトライ実行部80Bは、第1の過電流保護装置10Aにおいてオフ動作が行われている場合に、第2の過電流保護装置においてオフ動作を行うことを禁止している。これにより、共通の電源20Aから外部負荷100Aに対する電力供給と、外部負荷100Bに対する電力供給と、を分散して行うことができる。この場合、電力分配装置1において、電源20Aから複数の外部負荷に対して供給される電力に共振が生じて、過大な電圧降下が生じることを防ぐことができる。この結果、他の外部負荷の動作の安定性を損ねるのを抑制することができる。 As described above, in the power distribution device 1 of the present embodiment, the retry execution unit 80A performs the off operation in the first overcurrent protection device when the off operation is performed in the second overcurrent protection device 10B. It is forbidden to do. Further, the retry execution unit 80B prohibits the second overcurrent protection device from performing the off operation when the first overcurrent protection device 10A is performing the off operation. As a result, the power supply from the common power source 20A to the external load 100A and the power supply to the external load 100B can be distributed. In this case, in the power distribution device 1, it is possible to prevent the power supplied from the power supply 20A to the plurality of external loads from resonating and causing an excessive voltage drop. As a result, it is possible to suppress impairing the operational stability of other external loads.

なお、以上説明した実施形態は、本発明の理解を容易にするために記載されたものであって、本発明を限定するために記載されたものではない。したがって、上記の実施形態に開示された各要素は、本発明の技術的範囲に属する全ての設計変更や均等物をも含む趣旨である。 It should be noted that the embodiments described above are described for facilitating the understanding of the present invention, and are not described for limiting the present invention. Therefore, each element disclosed in the above embodiment is intended to include all design changes and equivalents belonging to the technical scope of the present invention.

たとえば、上記の実施形態では、電気容量成分を有するキャパシタ120における電気エネルギ量の増減を制御しているが、熱容量成分を有する発熱抵抗体における熱エネルギ量の増減を制御してもよい。以下に、等価的に示した熱回路モデルにおいて、熱抵抗成分と熱容量成分とを含む外部負荷100Cを備える過電流保護装置10Cについて説明する。 For example, in the above embodiment, the increase / decrease in the amount of electric energy in the capacitor 120 having the electric capacity component is controlled, but the increase / decrease in the amount of thermal energy in the heat generating resistor having the heat capacity component may be controlled. The overcurrent protection device 10C including the external load 100C including the thermal resistance component and the heat capacity component will be described below in the equivalently shown thermal circuit model.

図10は、本発明の他の実施形態に係る過電流保護装置10Cを示すブロック図である。なお、上述の実施形態と同様の構成には同一の符号を付し、繰り返しの説明は省略して、上述の実施形態においてした説明を援用する。 FIG. 10 is a block diagram showing an overcurrent protection device 10C according to another embodiment of the present invention. The same reference numerals are given to the same configurations as those in the above-described embodiment, the repeated description is omitted, and the description in the above-described embodiment is incorporated.

本例の外部負荷100Cは、図10に示すように、抵抗110Cを有している。この抵抗110Cは、発熱抵抗体であり、たとえば、ランプ等の車載機器である。本例の抵抗110Cでは、その一端が電力線P及び半導体スイッチ30を介して電源20に接続されており、他端が接地されている。なお、抵抗110Cの一端及び他端の接続先は、特に上述に限定されない。なお、本例において、外部負荷が電気容量成分を含んでいてもよい。 The external load 100C of this example has a resistor 110C as shown in FIG. The resistor 110C is a heat generating resistor, and is, for example, an in-vehicle device such as a lamp. In the resistor 110C of this example, one end thereof is connected to the power supply 20 via the power line P and the semiconductor switch 30, and the other end is grounded. The connection destinations of one end and the other end of the resistor 110C are not particularly limited to the above. In this example, the external load may include an electric capacity component.

抵抗110Cは、通電される(すなわち、電源20から電力の供給を受ける)ことで自己発熱する。図11は、抵抗110Cを等価的に示した熱回路モデルである。
図11におけるΔTは、自己発熱により上昇した抵抗110Cの温度であり、Cthは、抵抗110Cの熱容量であり、Rthは、抵抗110Cの熱抵抗であり、Toutは、抵抗110Cの外部環境温度である。抵抗110Cの熱容量Cthや抵抗110Cの熱抵抗Rthは、予め実験的に求める。抵抗110Cにおける自己発熱は、ゲート駆動部90からゲート電極33に駆動信号が出力され、半導体スイッチ30がオン状態になると同時に開始する。
The resistor 110C self-heats when it is energized (that is, it receives power from the power source 20). FIG. 11 is a thermal circuit model showing the resistor 110C equivalently.
ΔT in Figure 11, the temperature of the resistor 110C was increased by self-heating, C th is the heat capacity of the resistor 110C, R th is the thermal resistance of the resistor 110C, T out, the resistance 110C of the external environment The temperature. Thermal resistance R th of the heat capacity C th and resistance 110C resistor 110C is previously experimentally determined. The self-heating in the resistor 110C starts at the same time when the drive signal is output from the gate drive unit 90 to the gate electrode 33 and the semiconductor switch 30 is turned on.

ここで、抵抗発熱体のインピーダンスと、当該抵抗発熱体の温度とは、正の相関を有することが知られている。抵抗発熱体の温度が高いほど、当該抵抗発熱体のインピーダンスは増大し、抵抗発熱体の温度が低いほど、当該抵抗発熱体のインピーダンスは減少する。つまり、抵抗発熱体の温度が低い場合、当該抵抗発熱体が低インピーダンスであることに起因して、当該抵抗発熱体を含む回路に突入電流による過電流が発生するおそれがある。 Here, it is known that the impedance of the resistance heating element and the temperature of the resistance heating element have a positive correlation. The higher the temperature of the resistance heating element, the higher the impedance of the resistance heating element, and the lower the temperature of the resistance heating element, the lower the impedance of the resistance heating element. That is, when the temperature of the resistance heating element is low, an overcurrent due to an inrush current may occur in the circuit including the resistance heating element due to the low impedance of the resistance heating element.

本例の制御装置40Cは、図10に示すように、リトライ実行部80Cを有している。このリトライ実行部80Cは、温度検出部81を有している。この温度検出部81は、抵抗110Cの温度を検出する機能を有している。温度検出部81は、信号線S9を介して抵抗110Cの温度(検出結果)をリトライ実行部80Cに出力している。このような温度検出部81としては、たとえば、サーミスタ等を用いることができる。 As shown in FIG. 10, the control device 40C of this example has a retry execution unit 80C. The retry execution unit 80C has a temperature detection unit 81. The temperature detection unit 81 has a function of detecting the temperature of the resistor 110C. The temperature detection unit 81 outputs the temperature (detection result) of the resistor 110C to the retry execution unit 80C via the signal line S9. As such a temperature detection unit 81, for example, a thermistor or the like can be used.

本例の過電流保護装置1Cの制御方法について説明する。本例における制御ルーチンは、外部負荷100Cの抵抗110Cが昇温されていない状態で実行する。まず、半導体スイッチ30がオン状態となり、外部負荷100Cに電力が供給される。この際、半導体スイッチ30が最初にオン状態となった直後では、抵抗110Cの温度が十分に低いため、当該抵抗110Cの低インピーダンスに起因して過大な電流が半導体スイッチ30に流れる。異常判定部60は、半導体スイッチ30を流れる電流値を監視して、半導体スイッチ30が異常であると判定したら、判定結果をリトライ実行部80Cに出力する。リトライ実行部80Cは、異常判定部60が半導体スイッチ30の異常を判定した場合、リトライ動作を実行する。 The control method of the overcurrent protection device 1C of this example will be described. The control routine in this example is executed in a state where the resistor 110C of the external load 100C is not heated. First, the semiconductor switch 30 is turned on, and power is supplied to the external load 100C. At this time, immediately after the semiconductor switch 30 is first turned on, the temperature of the resistor 110C is sufficiently low, so that an excessive current flows through the semiconductor switch 30 due to the low impedance of the resistor 110C. The abnormality determination unit 60 monitors the current value flowing through the semiconductor switch 30, and if it determines that the semiconductor switch 30 is abnormal, outputs the determination result to the retry execution unit 80C. When the abnormality determination unit 60 determines an abnormality in the semiconductor switch 30, the retry execution unit 80C executes a retry operation.

ここで、抵抗110Cは、通電することで自己発熱する。一方、抵抗110Cは、通電されていない状態では、当該抵抗110Cの温度が外部環境温度TOUTと一致するまで放熱する。つまり、リトライ動作におけるオン動作中では、抵抗110Cの自己発熱により当該抵抗110Cの熱容量成分に熱量が蓄えられる(図11参照)。一方、リトライ動作におけるオフ動作中では、当該抵抗110Cの熱容量成分に蓄えられた熱量が発散される。 Here, the resistor 110C self-heats when energized. On the other hand, in the non-energized state, the resistor 110C dissipates heat until the temperature of the resistor 110C coincides with the external environmental temperature T OUT . That is, during the on operation in the retry operation, the amount of heat is stored in the heat capacity component of the resistor 110C due to the self-heating of the resistor 110C (see FIG. 11). On the other hand, during the off operation in the retry operation, the amount of heat stored in the heat capacity component of the resistor 110C is dissipated.

この場合、本例のリトライ実行部80Cは、リトライ動作において、オフ動作の維持時間t20を、直前のオン動作中に抵抗110Cに蓄えられた熱量に対して、当該オフ動作中に抵抗110Cから発散される熱量が相対的に小さくなるように設定する。具体的には、リトライ実行部80Cは、温度検出部81から取得した抵抗110Cの温度から、オン動作中に抵抗110Cに蓄えられた熱量を求め、当該求めた熱量よりもオフ動作中に発散される熱量が相対的に小さくなるようにオフ動作の維持時間t20を設定する。なお、ここでいう温度検出部81から取得した抵抗110Cの温度とは、異常判定部60が半導体スイッチ30の異常を判定した時の抵抗110Cの温度である。 In this case, the retry execution unit 80C of the present embodiment, the retry operation, the hold time t 20 off operation, with respect to the amount of heat stored in the resistor 110C during the last ON operation, the resistor 110C during the OFF operation Set so that the amount of heat dissipated is relatively small. Specifically, the retry execution unit 80C obtains the amount of heat stored in the resistor 110C during the on operation from the temperature of the resistor 110C acquired from the temperature detection unit 81, and dissipates more heat than the obtained heat amount during the off operation. The maintenance time t 20 of the off operation is set so that the amount of heat generated is relatively small. The temperature of the resistor 110C acquired from the temperature detection unit 81 here is the temperature of the resistor 110C when the abnormality determination unit 60 determines the abnormality of the semiconductor switch 30.

本例において、維持時間t20を上述のように設定することで、一度のオン動作と、直後の一度のオフ動作とが実行された後に抵抗110Cに残存する熱量は正となる。このため、リトライ実行部80Cがリトライ動作を継続することで、抵抗110Cが徐々に昇温する。そして、抵抗110Cが十分に昇温したら、当該抵抗110Cが電源20からの電力供給を受けて安定した動作を開始する。 In this example, by setting the maintenance time t 20 as described above, the amount of heat remaining in the resistor 110C becomes positive after one on operation and one immediately off operation are executed. Therefore, as the retry execution unit 80C continues the retry operation, the resistance 110C gradually rises in temperature. Then, when the temperature of the resistor 110C rises sufficiently, the resistor 110C receives power from the power source 20 and starts stable operation.

ここで、従来の過電流保護装置では、抵抗発熱体の温度が低い場合における当該抵抗発熱体の低インピーダンスに起因して突入電流による過電流が発生することがあり、この過電流により電子スイッチがオフ状態となるように動作してしまうことがあった。電子スイッチがオフ状態となると、抵抗発熱体を通電できず、当該抵抗発熱体が自己発熱できない。このため、抵抗発熱体が昇温せず、当該抵抗発熱体の低インピーダンス状態が持続してしまい、突入電流による過電流が収束しない。これにより、電子スイッチが誤動作を繰り返すおそれがあった。 Here, in the conventional overcurrent protection device, an overcurrent due to an inrush current may occur due to the low impedance of the resistance heating element when the temperature of the resistance heating element is low, and this overcurrent causes the electronic switch to operate. Sometimes it worked to turn it off. When the electronic switch is turned off, the resistance heating element cannot be energized and the resistance heating element cannot self-heat. Therefore, the temperature of the resistance heating element does not rise, the low impedance state of the resistance heating element continues, and the overcurrent due to the inrush current does not converge. As a result, the electronic switch may repeatedly malfunction.

これに対し、本例の過電流保護装置1Cでは、リトライ動作において、オン動作中に抵抗110Cの熱容量成分に蓄えられた熱量に対して、当該オン動作の直後のオフ動作中に熱容量成分から発散される熱量を相対的に小さくできるので、当該抵抗110Cが徐々に昇温し、突入電流による過電流を収束させることができる。これにより、半導体スイッチ30の誤動作の発生を抑制することができる。 On the other hand, in the overcurrent protection device 1C of this example, in the retry operation, the amount of heat stored in the heat capacity component of the resistor 110C during the on operation is diverged from the heat capacity component during the off operation immediately after the on operation. Since the amount of heat generated can be made relatively small, the resistance 110C can be gradually heated to converge the overcurrent due to the inrush current. As a result, it is possible to suppress the occurrence of malfunction of the semiconductor switch 30.

なお、本例においても、リトライ実行部80Cに閾値時間T、Tが予め保存されていてもよい。この場合、閾値時間Tは、抵抗110Cの熱容量Cthに応じて、予め実験的に求める。また、閾値時間Tは、抵抗110Cの種類に応じて、予め実験的に求める。 In this example as well, the threshold times T 1 and T 2 may be stored in advance in the retry execution unit 80C. In this case, the threshold time T 1 is experimentally obtained in advance according to the heat capacity C th of the resistor 110C. Further, the threshold time T 2 is experimentally obtained in advance according to the type of the resistor 110C.

1…電力供給装置
10,10A,10B,10C…過電流保護装置
20,20A…直流電源
30,30A,30B…半導体スイッチ
31…ソース電極
32…ドレイン電極
33…ゲート電極
40,40C…制御装置
50…状態検出部
60…異常判定部
70…タイマ
80,80A,80B,80C…リトライ実行部
81…温度検出部
90…ゲート駆動部
P1…動力線
P11…第1の区間
P12…第2の区間
S1〜S9…信号線
100,100A,100B…外部負荷
110,110A,110B,110C…抵抗
120…キャパシタ
200,200A,200B…外部スイッチ
1 ... Power supply device 10, 10A, 10B, 10C ... Overcurrent protection device 20, 20A ... DC power supply 30, 30A, 30B ... Semiconductor switch 31 ... Source electrode 32 ... Drain electrode 33 ... Gate electrode 40, 40C ... Control device 50 ... Status detection unit 60 ... Abnormality determination unit 70 ... Timer 80, 80A, 80B, 80C ... Retry execution unit 81 ... Temperature detection unit 90 ... Gate drive unit P1 ... Power line P11 ... First section P12 ... Second section
S1 to S9 ... Signal lines 100, 100A, 100B ... External load 110, 110A, 110B, 110C ... Resistance 120 ... Capacitor 200, 200A, 200B ... External switch

Claims (4)

電源と、
等価的に抵抗成分と容量成分とを含む外部負荷に対して、前記電源から電力を供給する電力線と、
前記電力線に設けられ、前記電力線を導通するオン状態と、前記電力線を遮断するオフ状態と、を切り替え可能な半導体スイッチと、
前記半導体スイッチを制御する制御装置と、を備え、
前記制御装置は、
前記半導体スイッチに流れる電流又は前記半導体スイッチの温度を検出する検出部と、
前記検出部により検出された検出値に基づき、前記半導体スイッチに過電流が流れているか否かを判定する判定部と、
前記判定部により前記半導体スイッチに過電流が流れていると判定された場合に、前記半導体スイッチの前記オン状態と前記オフ状態を繰り返し行うリトライ動作を実行するリトライ実行部と、
前記半導体スイッチが最初に前記オン状態となってからの経過時間を計測するタイマと、を有し、
前記リトライ動作は、
第1の間隔に亘り前記半導体スイッチの前記オン状態が維持される第1の動作と、
第2の間隔に亘り前記半導体スイッチの前記オフ状態が維持される第2の動作と、を交互に含み、
前記リトライ実行部は、
前記第1の動作中に前記容量成分に蓄えられたエネルギ量に対して、前記第1の動作の直後の前記第2の動作中に前記容量成分から放出されるエネルギ量が相対的に小さくなるように前記第2の間隔を設定し、
前記タイマが計測する計測値と予め設定された第1の閾値とを比較し、前記計測値が前記第1の閾値以下のときに前記判定部により半導体スイッチに過電流が流れていると判定された場合、前記リトライ動作を実行し、
前記計測値と前記第1の閾値に対して相対的に大きい第2の閾値とを比較し、前記計測値が前記第2の閾値以上となった場合に前記リトライ動作を終了し、
前記第2の間隔は、下記(1)式を満たすように設定されている過電流保護装置。
Figure 0006831178
但し、上記(1)式において、t10は前記第1の間隔であり、t20は前記第2の間隔であり、Cは前記容量成分の電気容量であり、Rは前記抵抗成分の電気抵抗値であり、Rは前記電力線の電気抵抗値であり、Tは前記第2の閾値である。
Power supply and
A power line that supplies power from the power supply to an external load that equivalently includes a resistance component and a capacitance component.
A semiconductor switch provided on the power line and capable of switching between an on state in which the power line is conducted and an off state in which the power line is cut off.
A control device for controlling the semiconductor switch is provided.
The control device is
A detector that detects the current flowing through the semiconductor switch or the temperature of the semiconductor switch,
Based on the detection value detected by the detection unit, a determination unit that determines whether or not an overcurrent is flowing in the semiconductor switch, and a determination unit.
When the determination unit determines that an overcurrent is flowing through the semiconductor switch, a retry execution unit that executes a retry operation that repeatedly repeats the on state and the off state of the semiconductor switch.
It has a timer for measuring the elapsed time since the semiconductor switch was first turned on.
The retry operation is
The first operation in which the on state of the semiconductor switch is maintained for the first interval, and
A second operation in which the semiconductor switch is maintained in the off state for a second interval is alternately included.
The retry execution unit
The amount of energy released from the capacitance component during the second operation immediately after the first operation is relatively smaller than the amount of energy stored in the capacitance component during the first operation. The second interval is set so as to
The measured value measured by the timer is compared with a preset first threshold value, and when the measured value is equal to or less than the first threshold value, the determination unit determines that an overcurrent is flowing through the semiconductor switch. If so, the retry operation is executed.
The measured value is compared with a second threshold value that is relatively large with respect to the first threshold value, and when the measured value becomes equal to or greater than the second threshold value, the retry operation is terminated.
The second interval is an overcurrent protection device set to satisfy the following equation (1).
Figure 0006831178
However, in the above equation (1), t 10 is the first interval, t 20 is the second interval, C is the electric capacity of the capacitance component, and RL is the electricity of the resistance component. It is a resistance value, RI is an electric resistance value of the power line, and T 2 is the second threshold value.
請求項1に記載の過電流保護装置であって、
前記リトライ動作は、複数の前記第2の動作を含み、
前記リトライ実行部は、前記複数の第2の動作のそれぞれついて、前記第2の間隔を相互に異なる値に設定する過電流保護装置。
The overcurrent protection device according to claim 1.
The retry operation includes a plurality of the second operations.
The retry execution unit is an overcurrent protection device that sets the second intervals to different values for each of the plurality of second operations.
請求項1又は2に記載の第1及び第2の過電流保護装置を備え、2つの前記外部負荷に対して電力を分配して供給する電力分配装置であって、
前記2つの外部負荷は、並列に接続されており、
前記第1の過電流保護装置は、前記2つの外部負荷の一方に対応しており、
前記第2の過電流保護装置は、前記2つの外部負荷の他方に対応しており、
前記第1の過電流保護装置の前記電源と、前記第2の過電流保護装置の前記電源と、は同一の電源であり、
前記第1の過電流保護装置の前記リトライ実行部及び前記第2の過電流保護装置の前記リトライ実行部は、前記第2の動作を行う期間が互いに重ならないように、前記リトライ動作を実行する電力分配装置。
A power distribution device including the first and second overcurrent protection devices according to claim 1 or 2, which distributes and supplies power to the two external loads.
The two external loads are connected in parallel and
The first overcurrent protection device corresponds to one of the two external loads.
The second overcurrent protection device corresponds to the other of the two external loads.
The power supply of the first overcurrent protection device and the power supply of the second overcurrent protection device are the same power supply.
The retry execution unit of the first overcurrent protection device and the retry execution unit of the second overcurrent protection device execute the retry operation so that the periods during which the second operation is performed do not overlap with each other. Power distribution device.
請求項1又は2に記載の過電流保護装置であって、
前記抵抗成分は、電気抵抗体であり、
前記容量成分は、キャパシタである過電流保護装置。
The overcurrent protection device according to claim 1 or 2.
The resistance component is an electric resistor.
The capacitance component is an overcurrent protection device that is a capacitor.
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