JP6788401B2 - comparator - Google Patents
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Description
本発明は、コンパレータに係り、特に、高速応答特性、電圧依存性の向上等を図ったものに関する。 The present invention relates to a comparator, and particularly relates to a comparator having improved high-speed response characteristics, voltage dependence, and the like.
電子機器の多様化に伴い、コンパレータは、同相入力電圧が広く、入力に対する高速応答性が良好なことが理想とされることは勿論、さらには、幅広い電源電圧で使用可能で、電源電圧に対して応答特性などの諸特性が変動しないことが望しい。このような観点から、同相入力電圧を負電源電圧から正電源電圧まで印加可能としたコンパレータの回路構成が様々提案、実用化されている(例えば、特許文献1等参照。)
With the diversification of electronic devices, it is ideal that the comparator has a wide common-mode input voltage and good high-speed response to the input, and it can be used in a wide range of power supply voltages. It is hoped that various characteristics such as response characteristics will not change. From this point of view, various circuit configurations of comparators capable of applying in-phase input voltage from negative power supply voltage to positive power supply voltage have been proposed and put into practical use (see, for example,
図8にはそのような従来のコンパレータの回路構成例が示されており以下、この従来回路について同図を参照しつつ説明する。
このコンパレータは、トランジスタM1,M2、及び、第2の定電流源CS2により構成された第1の差動対DEF1と、トランジスタM3,M4、及び、第1の定電流源CS1により構成された第2の差動対DEF2と、トランジスタM5〜M8を用いて構成されたフォールデットカスコード回路CASと、出力トランジスタM9による出力段PAとに大別されて構成されたものとなっている。
An example of a circuit configuration of such a conventional comparator is shown in FIG. 8, and the conventional circuit will be described below with reference to the same figure.
This comparator includes a first differential pair DEF1 composed of transistors M1 and M2 and a second constant current source CS2, and a first differential pair DEF1 composed of transistors M3 and M4 and a first constant current source CS1. The differential pair DEF2 of 2 is roughly divided into a folded cascode circuit CAS configured by using the transistors M5 to M8 and an output stage PA by the output transistor M9.
このコンパレータにおいては、第1の差動対DEF1を構成するトランジスタM1,M2には、NMOSFET(NチャンネルMOS電界効果トランジスタ)が、第2の差動対DEF2を構成するトランジスタM3,M4には、PMOSFET(PチャンネルMOS電界効果トランジスタ)が、それぞれ用いられている。
フォールデットカスコード回路CASは、第1の差動対DEF1と第2の差動対DEF2繋ぐ機能を有するもので、トランジスタM5,M6には、PMOSFETが、トランジスタM7,M8には、NMOSFETが、それぞれ用いられている。
また、出力トランジスタM9には、NMOSFETが用いられている。
In this comparator, NMOSFETs (N-channel MOS field effect transistors) are used for the transistors M1 and M2 that form the first differential pair DEF1, and the transistors M3 and M4 that form the second differential pair DEF2 are used for the transistors M3 and M4. PMOSFETs (P-channel MOS field effect transistors) are used respectively.
The fold-out cascode circuit CAS has a function of connecting the first differential pair DEF1 and the second differential pair DEF2, and the transistors M5 and M6 have PMOSFETs and the transistors M7 and M8 have NMOSFETs, respectively. It is used.
Further, an N MOSFET is used for the output transistor M9.
上述の構成を有する従来のコンパレータにおける応答特性は、以下に説明するように求められるものとなっている。
先ず、以下に説明する応答特性は、コンパレータの出力電圧がLowからHighに変化するときの伝搬遅延時間のことであり、この伝搬遅延時間は、以下の説明においては、トランジスタM9のゲート電位VM9の変動時間が主であることを前提とする。
The response characteristics of the conventional comparator having the above-described configuration are required as described below.
First, the response characteristic to be described below is that the propagation delay time when the output voltage of the comparator is changed to High from Low, the propagation delay time, in the following description, the gate potential V M9 of the transistor M9 It is assumed that the fluctuation time of is the main.
最初に、出力電圧がLowの状態、すなわち、出力電圧がほぼ負電源電圧に近い値となっている場合の回路の主要な各ノード電位は、以下の通りとなる。
まず、反転入力端子INMの電位は非反転入力端子INPの電位よりも高く、そのため、第2の差動対DEF2のトランジスタM3よりトランジスタM4の方に定電流源CS1からの電流がより多く流れ、第4の抵抗器R4での電圧降下が増加する。
First, the main node potentials of the circuit when the output voltage is Low, that is, when the output voltage is a value close to the negative power supply voltage, are as follows.
First, the potential of the inverting input terminal INM is higher than the potential of the non-inverting input terminal INP, so that more current from the constant current source CS1 flows toward the transistor M4 than at the transistor M3 of the second differential pair DEF2. The voltage drop at the fourth resistor R4 increases.
そのため、トランジスタM8のゲート・ソース間電圧差VgsM8が、トランジスM7のゲート・ソース間電位差VgsM7よりも小さくなる。そして、ゲート・ソース間電位差VgsM8が小さい状態であるため、トランジスタM8のドレイン電位は上昇し、それに伴いトランジスタM9のゲート電位VgM9が上昇する。 Therefore, the gate-source voltage difference Vgs M8 of the transistor M8 is smaller than the gate-source potential difference Vgs M7 of the transistor M7. Since the potential difference Vgs M8 between the gate and the source is small, the drain potential of the transistor M8 rises, and the gate potential Vg M9 of the transistor M9 rises accordingly.
一方、第1の差動対DEF1においては、トランジスタM2よりもトランジスタM1の方に第2の定電流源CS2の電流がより多く流れ、第1の抵抗器R1での電圧降下が増加し、第2の抵抗器R2での電圧降下が減少する。
その結果、トランジスタM6のゲート・ソース間電圧差VgsM6が大きくなり、トランジスタM6のドレイン電位が上昇すると共に、トランジスタM9のゲート電位VgM9が上昇する。
On the other hand, in the first differential pair DEF1, the current of the second constant current source CS2 flows more in the transistor M1 than in the transistor M2, the voltage drop in the first resistor R1 increases, and the first is The voltage drop in the resistor R2 of 2 is reduced.
As a result, the voltage difference Vgs M6 between the gate and source of the transistor M6 becomes large, the drain potential of the transistor M6 rises, and the gate potential Vg M9 of the transistor M9 rises.
このトランジスタM9のゲート電位VgM9の上昇により、トランジスタM9のドレイン電位であるコンパレータの出力端子OUTの電位は、Lowとなる。
先に述べたように、トランジスタM8のゲート・ソース間電位差VgsM8は小さいが、このVgsM8が、例えば、トランジスタM8の閾値電圧VthM8より小さい場合、つまり、トランジスタM8のドレイン電流がほぼ流れない場合、トランジスタM9のゲート電位VgM9は、ほぼ正電源電圧VDDと同電位となる。
As the gate potential Vg M9 of the transistor M9 rises, the potential of the output terminal OUT of the comparator, which is the drain potential of the transistor M9, becomes Low.
As described above, the potential difference between the gate and the source of the transistor M8 Vgs M8 is small, but when this Vgs M8 is smaller than the threshold voltage Vth M8 of the transistor M8, that is, the drain current of the transistor M8 hardly flows. In this case, the gate potential Vg M9 of the transistor M9 has substantially the same potential as the positive power supply voltage VDD.
一方、トランジスタM6において、ゲート・ソース間電位差VgsM6は、ドレイン電流IM6を流すような大きな値となるが、上述のように、トランジスタM9のゲート電位VgM9が、ほぼ正電源電圧VDDに等しい値となることで、トランジスタM6のドレイン・ソース間の電位差VdsM6が零になり、トランジスタM6のドレイン電流IM6は流れなくなる。
したがって、コンパレータの出力電圧がLowの場合、出力トランジスタM9のゲート電位VgM9は、ほぼ正電源電圧VDDとなる。
On the other hand, in the transistor M6, the potential difference Vgs M6 between the gate and the source has a large value such that the drain current IM6 flows, but as described above, the gate potential Vg M9 of the transistor M9 is substantially equal to the positive power supply voltage VDD. When it becomes a value, the potential difference Vds M6 between the drain and the source of the transistor M6 becomes zero, and the drain current I M6 of the transistor M6 does not flow.
Therefore, when the output voltage of the comparator is Low, the gate potential Vg M9 of the output transistor M9 becomes substantially the positive power supply voltage VDD.
ここで、改めて出力電圧がLowの場合のトランジスタM9のゲート電位をVgM9Lと定義すると、VgM9Lは下記する式1により表される。
Here, if the gate potential of the transistor M9 when the output voltage is Low is defined as Vg M9L , Vg M9L is represented by the following
VgM9L≒VDD・・・式1 Vg M9L ≒ VDD ・ ・ ・ Equation 1
次に、コンパレータの出力電圧がLowからHighに変化する場合の動作、すなわち、出力電圧がほぼ負電源電位からほぼ正電源電位になる場合の動作について説明する。
かかる状態において、非反転入力端子INPの電位は、反転入力端子INMの電位よりも高く、そのため、第2の差動対DEF2のトランジスタM4よりトランジスタM3の方に定電流源CS1からの電流がより多く流れ、第3の抵抗器R3での電圧降下が増加する。
Next, the operation when the output voltage of the comparator changes from Low to High, that is, the operation when the output voltage changes from a substantially negative power supply potential to a substantially positive power supply potential will be described.
In such a state, the potential of the non-inverting input terminal INP is higher than the potential of the inverting input terminal INM, so that the current from the constant current source CS1 is higher in the transistor M3 than in the transistor M4 of the second differential pair DEF2. A large amount of current flows, and the voltage drop at the third resistor R3 increases.
そのため、トランジスタM8のゲート・ソース間電圧差VgsM8が、トランジスタM7のゲート・ソース間電位差VgsM7よりも大きくなる。そして、ゲート・ソース間電位差VgsM8が大きい状態であるため、トランジスタM8にドレイン電流が流れ、トランジスタM8のドレイン電位は低下し、それに伴いトランジスタM9のゲート電位VgM9が低下する。 Therefore, the gate-source voltage difference Vgs M8 of the transistor M8 becomes larger than the gate-source potential difference Vgs M7 of the transistor M7. Since the potential difference Vgs M8 between the gate and the source is large, a drain current flows through the transistor M8, the drain potential of the transistor M8 decreases, and the gate potential Vg M9 of the transistor M9 decreases accordingly.
この際、トランジスタM9のゲートと負電源電圧VSSとの間の寄生容量Ccにチャージされていた電荷が電流Icxとなって放電され、その一部は、トランジスタM8のドレイン電流となる。 At this time, the electric charge charged in the parasitic capacitance Cc between the gate of the transistor M9 and the negative power supply voltage VSS becomes a current Icx and is discharged, and a part of the electric charge becomes a drain current of the transistor M8.
一方、第1の差動対DEF1においては、トランジスタM1よりトランジスタM2の方に第2の定電流源CS2の電流がより多く流れ、第2の抵抗器R2での電圧降下が増加する。なお、「R2」の表記は、以下の説明において、必要に応じて第2の抵抗器の抵抗値として用いるものとする。 On the other hand, in the first differential pair DEF1, a larger current of the second constant current source CS2 flows in the transistor M2 than in the transistor M1, and the voltage drop in the second resistor R2 increases. The notation "R2" shall be used as the resistance value of the second resistor as necessary in the following description.
第2の抵抗器R2に流れる電流は、トランジスタM5,M6のゲートに印加される基準電圧VrefとトランジスタM6のゲート・ソース間の電位差VgsM6と、第2の抵抗器R2における電圧降下によって定まり、第2の抵抗器の抵抗値R2とトランジスタM6の電流IM6と基準電圧Vrefの関係は下記する式2で表される。
The current flowing through the second resistor R2 is determined by the potential difference Vgs M6 between the reference voltage Vref applied to the gates of the transistors M5 and M6 and the gate source of the transistor M6, and the voltage drop in the second resistor R2. relationship between the current I M6 and the reference voltage Vref of the second resistor resistance value R2 and the transistor M6 is expressed by
R2×(IM2+IM6)+(2×IM6×LP/k´P×WP)1/2+VthM6=VDD −Vref・・・式2
R2 × (I M2 + I M6 ) + (2 × I M6 × L P / k'P × W P) 1/2 + Vth M6 = VDD -Vref ···
なお、ここで、IM2は、トランジスタM2のドレイン電流、IM6は、第6のトランジスタM6のドレイン電流、k´Pは、トランジスタM6の移動度と単位面積当たりのゲート酸化膜容量の積、WPは、トランジスタM6のゲート幅、LPは、トランジスタM6のゲート長、VthM6は、トランジスタM6の閾値電圧である。 Note that, I M2, the drain current, I M6 of the transistor M2, the drain current of the transistor M6 of the 6, k'P is the gate oxide capacitance mobility and per unit area of the transistor M6 product, W P, the gate width of the transistor M6, L P is the gate length, Vth M6 transistor M6 is the threshold voltage of the transistor M6.
このような関係の下、第2の抵抗器R2に流れる電流の一部である電流IM6の大きさが定まることとなる。
第6のトランジスタM6には、ドレイン電流IM6は流れるが、VgsM6は第2の抵抗器R2で生ずる電圧降下のために低い値となる。そのため、第6のトランジスタM6においては、ドレインとソース間の電位差が大きくなり、電流IM6が流れ、その結果、第9のトランジスタM9のゲート電位VgsM9は低下することとなる。
Under such a relationship, the magnitude of the current IM6 , which is a part of the current flowing through the second resistor R2, is determined.
The drain current I M6 flows through the sixth transistor M6, but the Vgs M6 has a low value due to the voltage drop caused by the second resistor R2. Therefore, in the sixth transistor M6, the potential difference between the drain and the source becomes large, and the current IM6 flows, and as a result, the gate potential Vgs M9 of the ninth transistor M9 decreases.
以上、出力電圧がLowからHighに変化する際の第1及び第2の差動対DEF1,DEF2の動作を説明したが、結局、トランジスタM9のゲート電位VgM9が低下し、トランジスタM9にドレイン電流が流れなくなり、コンパレータの出力電圧がHighになる。したがって、出力電圧がHighになるときのトランジスタM9のゲート電位VgM9は、トランジスタM9の閾値電圧VthM9まで低下することになる。 The operation of the first and second differential pairs DEF1 and DEF2 when the output voltage changes from Low to High has been described above, but in the end, the gate potential Vg M9 of the transistor M9 drops, and the drain current in the transistor M9. Stops flowing, and the output voltage of the comparator becomes High. Therefore, the gate potential Vg M9 of the transistor M9 when the output voltage becomes High drops to the threshold voltage Vth M9 of the transistor M9.
ここで、改めて、出力電圧がHighの場合のトランジスタM9のゲート電圧をVgM9Hと定義すると、VgM9Hは、下記する式3により表される。
Here, if the gate voltage of the transistor M9 when the output voltage is High is defined as Vg M9H , Vg M9H is expressed by the following
VgM9H=VthM9・・・式3
Vg M9H = Vth M9 ...
したがって、出力電圧がLowからHighに変化する際のトランジスタM9のゲート電圧変化量ΔVgM9は、先の式1と式3を用いて、下記する式4により表される。
Therefore, the gate voltage change amount ΔVg M9 of the transistor M9 when the output voltage changes from Low to High is expressed by the following
ΔVgM9=VgM9L−VgM9H≒VDD−VthM9・・・式4
ΔVg M9 = Vg M9L -Vg M9H ≒ VDD-Vth M9 ···
さらに、この式4を用いて、出力電圧がLowからHighに変化する際のゲート電位VgM9の変動時間tLHは、下記する式5により表される。
Further, using this
tLH=ΔVgM9×Cx/Icx=(VDD−VthM9)×Cx/Icx・・・式5
t LH = ΔVg M9 × Cx / Icx = (VDD-Vth M9 ) × Cx / Icx ・ ・ ・
ここで、Cxは、トランジスタM9のゲートと負電源電圧VSS間における寄生容量、Icxは、寄生容量Cxの放電電流である。 Here, Cx is the parasitic capacitance between the gate of the transistor M9 and the negative power supply voltage VSS, and Icx is the discharge current of the parasitic capacitance Cx.
上述のように、出力電圧がLowからHighに変化する際のトランジスタM9の応答時間は、正電源電圧VDDが高いほど長くなるということが言える。
これをコンパレータにおける伝搬時間の変化で見ると図7に示されたように、正電源電圧VDDが高いほど、伝搬時間が増大していることが確認できる。すなわち、従来回路にあっては、電源電圧の増大と共に応答時間が劣化するという問題があり、電源電圧の影響を受けることなく安定した応答特性のコンパレータが所望されている。
As described above, it can be said that the response time of the transistor M9 when the output voltage changes from Low to High becomes longer as the positive power supply voltage VDD becomes higher.
Looking at this in terms of the change in propagation time in the comparator, as shown in FIG. 7, it can be confirmed that the higher the positive power supply voltage VDD, the longer the propagation time. That is, the conventional circuit has a problem that the response time deteriorates as the power supply voltage increases, and a comparator having a stable response characteristic without being affected by the power supply voltage is desired.
本発明は、上記実状に鑑みてなされたもので、応答特性の電源電圧依存性を確実に抑制可能なコンパレータを提供するものである。 The present invention has been made in view of the above circumstances, and provides a comparator capable of reliably suppressing the dependence of the response characteristic on the power supply voltage.
上記本発明の目的を達成するため、本発明に係るコンパレータは、
第1及び第2のMOSトランジスタを用いてなる第1の差動対と、第3及び第4のMOSトランジスタを用いてなる第2の差動対とによって構成される入力段と、前記第1の差動対の差動出力を出力可能とするフォールデットカスコード回路と、前記フォールデットカスコード回路の出力段と接続されて出力信号を出力する出力回路とを具備し、
前記フォールデットカスコード回路の出力段は、PチャンネルMOSトランジスタを用いた第6のMOSトランジスタとNチャンネルMOSトランジスタを用いた第8のMOSトランジスタとが正電源電圧と負電源電圧との間に、前記第6のMOSトランジスタが前記正電源電圧側に位置するように直列接続されてなり、
前記フォールデットカスコード回路の出力段を構成すると共に前記出力回路の入力段と接続され、前記出力回路がLow出力状態の場合に、ゲート・ソース間の電位が上昇する前記第6のMOSトランジスタに対して、当該第6のMOSトランジスタに流れる電流を分流する分流用MOSトランジスタが設けられ、
前記分流用MOSトランジスタは、前記フォールデットカスコード回路の前記第6のMOSトランジスタに流れる電流を負電源電圧側に流入せしめ得るように、前記フォールデットカスコード回路の出力段と前記出力回路の入力段との相互の接続点と前記負電源電圧との間に、直列接続されて設けられてなるコンパレータにおいて、
前記分流用MOSトランジスタの前記負電源電圧側の一端と前記負電源電圧側との間に抵抗器が設けられ、当該抵抗器に前記第2の差動対を構成する抵抗器が用いられ、前記フォールデットカスコード回路の出力段と前記出力回路の入力段との相互の接続点と前記負電源電圧との間に前記分流用MOSトランジスタが前記抵抗器を介して直列接続されて設けられ、
前記第3及び第4のMOSトランジスタは、PチャンネルMOSトランジスタであって、前記第3及び第4のMOSトランジスタのソースは相互に接続され、その接続点と前記正電源電圧との間に、第1の定電流源が設けられ、前記第3のMOSトランジスタのドレインは第3の抵抗器を介して、前記第4のMOSトランジスタは第4の抵抗器を介して、それぞれ前記負電源電圧が印加され、前記第3のMOSトランジスタのゲートは、NチャンネルMOSトランジスタを用いた前記第1のMOSトランジスタのゲートに、前記第4のMOSトランジスタのゲートはNチャンネルMOSトランジスタを用いた前記第2のMOSトランジスタのゲートに、それぞれ接続される一方、
前記フォールデットカスコード回路は、前記第6及び第8のMOSトランジスタに加えて、PチャンネルMOSトランジスタを用いた第5のMOSトランジスタとNチャンネルMOSトランジスタを用いた第7のMOSトランジスタとを有し、前記第5及び第6のMOSトランジスタは、ゲートが相互に接続される一方、前記第5のMOSトランジスタのソースは、前記第1のMOSトランジスタのドレインに、前記第6のMOSトランジスタのソースは、前記第2のMOSトランジスタのドレインに、それぞれ接続され、
前記第7及び第8のMOSトランジスタは、各々のゲートと前記第7のMOSトランジスタのドレインとが相互に接続されると共に、前記第5のMOSトランジスタのドレインに接続され、前記第5のMOSトランジスタのドレイン及び前記第7のMOSトランジスタのドレインは分流用MOSトランジスタのゲートに接続され、
前記第8のMOSトランジスタのドレインは、前記第6のMOSトランジスタのドレインに接続され、
前記第7のMOSトランジスタのソースは、前記第3のMOSトランジスタのドレインに、前記第8のトランジスタのソースは、前記第4のMOSトランジスタのドレインに、それぞれ接続され、
前記分流用MOSトランジスタの前記負電源電圧側の一端と前記負電源電圧側との間に設けられる前記第2の差動対を構成する抵抗器は、前記第4の抵抗器又は前記第3の抵抗器であるものである。
In order to achieve the above object of the present invention, the comparator according to the present invention is
An input stage composed of a first differential pair made up of first and second MOS transistors and a second differential pair made up of third and fourth MOS transistors, and the first differential pair. It is provided with a folded cascode circuit capable of outputting the differential output of the differential pair of the above, and an output circuit connected to the output stage of the folded cascode circuit to output an output signal.
In the output stage of the folded cascode circuit, the sixth MOS transistor using the P-channel MOS transistor and the eighth MOS transistor using the N-channel MOS transistor are placed between the positive power supply voltage and the negative power supply voltage. The sixth MOS transistor is connected in series so as to be located on the positive power supply voltage side.
For the sixth MOS transistor that constitutes the output stage of the folded cascode circuit and is connected to the input stage of the output circuit and the potential between the gate and the source rises when the output circuit is in the Low output state. Therefore, a diversion MOS transistor for dividing the current flowing through the sixth MOS transistor is provided.
The diversion MOS transistor includes an output stage of the folded cascode circuit and an input stage of the output circuit so that the current flowing through the sixth MOS transistor of the folded cascode circuit can flow into the negative power supply voltage side. In a comparator provided in series between the mutual connection points of the above and the negative power supply voltage.
A resistor is provided between one end of the flow dividing MOS transistor on the negative power supply voltage side and the negative power supply voltage side, and a resistor forming the second differential pair is used for the resistor. The diversion MOS transistor is provided in series between the output stage of the folded cascode circuit and the input stage of the output circuit and the negative power supply voltage via the resistor.
The third and fourth MOS transistors are P-channel MOS transistors, and the sources of the third and fourth MOS transistors are connected to each other, and a third is connected between the connection point and the positive power supply voltage. The constant current source of 1 is provided, and the negative power supply voltage is applied to the drain of the third MOS transistor via the third resistor and the fourth MOS transistor via the fourth resistor. The gate of the third MOS transistor is the gate of the first MOS transistor using an N-channel MOS transistor, and the gate of the fourth MOS transistor is the gate of the second MOS using an N-channel MOS transistor. While each connected to the gate of the transistor,
The folded cascode circuit has, in addition to the sixth and eighth MOS transistors, a fifth MOS transistor using a P-channel MOS transistor and a seventh MOS transistor using an N-channel MOS transistor. The gates of the fifth and sixth MOS transistors are connected to each other, while the source of the fifth MOS transistor is the drain of the first MOS transistor, and the source of the sixth MOS transistor is the source of the sixth MOS transistor. Each connected to the drain of the second MOS transistor,
In the seventh and eighth MOS transistors, the respective gates and the drain of the seventh MOS transistor are connected to each other, and the drain of the fifth MOS transistor is connected to the fifth MOS transistor. And the drain of the 7th MOS transistor are connected to the gate of the diversion MOS transistor.
The drain of the eighth MOS transistor is connected to the drain of the sixth MOS transistor.
The source of the 7th MOS transistor is connected to the drain of the 3rd MOS transistor, and the source of the 8th transistor is connected to the drain of the 4th MOS transistor.
The resistor constituting the second differential pair provided between one end of the flow dividing MOS transistor on the negative power supply voltage side and the negative power supply voltage side is the fourth resistor or the third resistor. It is a resistor.
本発明によれば、フォールデットカスコード回路のMOSトランジスタに流れる電流を分流できるようにすることで、出力回路を構成する出力トランジスタのゲート電位の不要な上昇を抑圧できるため、出力トランジスタの応答時間の電源電圧に対する依存性をほぼ無くすことができ、高電源電圧使用時における伝搬遅延時間が改善され、応答特性の安定性、信頼性の高いコンパレータを提供することができるという効果を奏するものである。 According to the present invention, by making it possible to divide the current flowing through the MOS transistor of the folded cascode circuit, it is possible to suppress an unnecessary increase in the gate potential of the output transistor constituting the output circuit, so that the response time of the output transistor can be reduced. The dependence on the power supply voltage can be almost eliminated, the propagation delay time when a high power supply voltage is used is improved, the response characteristics are stable, and a highly reliable comparator can be provided.
以下、本発明の実施の形態について、図1乃至図6を参照しつつ説明する。
なお、以下に説明する部材、配置等は本発明を限定するものではなく、本発明の趣旨の範囲内で種々改変することができるものである。
最初に、本発明の実施の形態におけるコンパレータの第1の実施例における回路構成について、図1を参照しつつ説明する。
この第1の実施例におけるコンパレータは、第1の差動対101と、第2の差動対102と、フォールデットカスコード回路103と、出力回路104とに大別されて構成されたものとなっている。
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to FIGS. 1 to 6.
The members, arrangements, etc. described below are not limited to the present invention, and can be variously modified within the scope of the gist of the present invention.
First, the circuit configuration in the first embodiment of the comparator according to the embodiment of the present invention will be described with reference to FIG.
The comparator in the first embodiment is roughly divided into a first
第1の差動対101は、第1及び第2のトランジスタ(図1においては、それぞれ「M1」、「M2」と表記)1,2と第2の定電流源(図1においては「CS2」と表記)22とを主たる構成要素として構成されたものとなっている。
この第1の実施例において、第1の差動対101を構成する第1及び第2のトランジスタ1,2には、NMOSFET(NチャンネルMOS電界効果トランジスタ)が用いられている。
The first
In this first embodiment, N MOSFETs (N-channel MOS field effect transistors) are used for the first and
第1のトランジスタ1のドレインは、第1の抵抗器(図1においては「R1」と表記)31を介して、第2のトランジスタ2のドレインは、第2の抵抗器(図1においては「R2」と表記)32を介して共に、正電源電圧VDDが印加されるようになっている一方、各々のソースと負電源電圧VSSとの間には、第2の定電流源22が直列接続されて設けられている。
また、第1のトランジスタ1のゲートは、反転入力端子(図1においては「INM」と表記)41に、第2のトランジスタ2のゲートは、非反転入力端子(図1においては「INP」と表記)42に、それぞれ接続されている。
The drain of the
Further, the gate of the
次に、第2の差動対102においては、第3及び第4のトランジスタ3,4には、PMOSFET(PチャンネルMOS電界効果トランジスタ)が用いられて第3及び第4のトランジスタ3,4のソースは相互に接続され、その接続点と正電源電圧端子43との間には、第1の定電流源(図1においては「CS1」と表記)21が接続されている。
Next, in the second
また、第3のトランジスタ3のドレインは第3の抵抗器(図1においては「R3」と表記)33を介して、また、第4のトランジスタ4のドレインは、第4の抵抗器(図1においては「R4」と表記)34を介して、共に、負電源電圧端子44に接続されて負電源電圧VSSが印加されるようになっている。
さらに、第3のトランジスタ3のゲートは、先の第1のトランジスタ1のゲートに第4のトランジスタ4のゲートは先の第2のトランジスタ2のゲートに、それぞれ接続されている。
Further, the drain of the
Further, the gate of the
フォールデットカスコード回路103は、第1の差動対101と第2の差動対102繋ぐ機能を有するもので、第5及び第6のトランジスタ5,6には、PMOSFETが、第7及び第8のトランジスタ7,8には、NMOSFETが、それぞれ用いられている。
第5及び第6のトランジスタ5,6は、各々のゲートが相互に接続されると共に、基準電圧端子45に接続される一方、第5のトランジスタ5のソースは、第1のトランジスタ1のドレインに、第6のトランジスタ6のソースは、第2のトランジスタ2のドレインに、それぞれ接続されている。
The folded
The fifth and
一方、第7及び第8のトランジスタ7,8は、各々のゲートと第7のトランジスタ7のドレインとが相互に接続されると共に、第5のトランジスタ5のドレインに接続されている。
第8のトランジスタ8のドレインは、第6のトランジスタ6のドレインに接続されている。
On the other hand, in the seventh and
The drain of the
そして、第7のトランジスタ7のソースは、第3のトランジスタ3のドレインに、第8のトランジスタ8のソースは、第4のトランジスタ4のドレインに、それぞれ接続されている。
また、第8のトランジスタ8のドレインにソースが、第7のトランジスタ7のドレインにゲートが、それぞれ接続されたPMOSFETを用いた第101のトランジスタ(図1においては「M101」と表記)16が設けられており、そのドレインには、負電源電圧VSSが印加されれるようになっている。
The source of the
Further, a 101st transistor (denoted as "M101" in FIG. 1) 16 using a MOSFET in which a source is connected to the drain of the
出力回路104は、NMOSFETである第9のトランジスタ(図1においては「M9」と表記)9を用いて構成されており、そのドレインと正電源電圧端子43との間には、第3の定電流源(図1においては「CS3」と表記)23が直列接続されて設けられると共にドレインには出力端子46が接続されている。
そして、第9のトランジスタ9のソースは、負電源電圧端子44に接続されて負電源電圧VSSが印加されるようになっている一方、ゲートは、第5及び第8のトランジスタ5,8のドレインに接続されたものとなっている。
The
The source of the
次に、上述の構成を有するコンパレータの応答特性について説明する。
以下に説明する応答特性は、コンパレータの出力電圧がLowからHighに変化するときの伝搬遅延時間のことであり、この伝搬遅延時間は、第9のトランジスタ9のゲート電位VgM9の変動時間が主であることを前提とする。
最初に、出力電圧がLowの状態、すなわち、出力電圧がほぼ負電源電圧となっている場合の回路の主要な各ノード電位は、以下の通りとなる。
Next, the response characteristics of the comparator having the above configuration will be described.
The response characteristic described below is the propagation delay time when the output voltage of the comparator changes from Low to High, and this propagation delay time is mainly the fluctuation time of the gate potential Vg M9 of the
First, the main node potentials of the circuit when the output voltage is Low, that is, when the output voltage is substantially a negative power supply voltage, are as follows.
まず、反転入力端子41の電位は、非反転入力端子42の電位よりも高く、そのため、第2の差動対102の第3のトランジスタ3より第4のトランジスタ4の方に第1の定電流源21からの電流がより多く流れ、第4の抵抗器34での電圧降下が増加する。
First, the potential of the inverting
そして、第8トランジスタ8のゲート・ソース間電圧差VgsM8が、第7のトランジスタ7のゲート・ソース間電位差VgsM7よりも小さくなる。
第8のトランジスタ8のゲート・ソース間電位差VgsM8が小さい状態であるため、第8のトランジスタ8のドレイン電位は上昇し、それに伴い第9のトランジスタ9のゲート電位VgM9が上昇する。
Then, the gate-source voltage difference Vgs M8 of the
Since the potential difference Vgs M8 between the gate and source of the
例えば、先に図8に示した従来のコンパレータにおいては、先の式1で示したように、図8の回路におけるトランジスタM9のゲート電位VgM9は正電源電圧VDD付近まで上昇したが、本発明の実施の形態におけるコンパレータにおいて、第9のトランジスタ9のゲート電位VgM9の上昇は、下記する式6で表されるように抑制されるものとなっている。
For example, in the conventional comparator shown in FIG. 8 above, as shown in
VgM9L=R3×(IM3+IM7)+VgsM7+VgsM101・・・式6
Vg M9L = R3 × (I M3 + I M7 ) + Vgs M7 + Vgs M101 ...
ここで、IM3は、第3のトランジスタ3のドレイン電流、IM7は、第7のトランジスタ7のドレイン電流、VgsM7は、第7のトランジスタ7のゲートとソース間の電位差、VgsM101は、第101のトランジスタ16のゲートとソース間の電位差である。
Here, IM3 is the drain current of the
次に、出力電圧がLowの状態での第1の差動対101の動作について説明する。第1の差動対101においては、第2のトランジスタ2より第1のトランジスタ1の方に第2の定電流源22の電流がより多く流れて第1の抵抗器31での電圧降下が増加する一方、第2の抵抗器32での電圧降下が減少する。
Then, the output voltage that describes for the first
その結果、第6のトランジスタ6のゲートとソース間の電位差VgsM6が大きくなり、第6のトランジスタ6にはドレイン電流が流れ、ドレイン電位が上昇するため、第9のトランジスタ9のゲート電位VgM9が上昇する。
この場合の第9のトランジスタ9のゲート電位VgM9は、先の式6に表される値となる。
また、この際、第6のトランジスタ6のドレイン電流IM6は第101のトランジスタ16を通して負電源電圧VSS側に流れ込むこととなる。
As a result, the potential difference Vgs M6 between the gate and the source of the
In this case, the gate potential Vg M9 of the
At this time, the drain current IM6 of the
上述のように、出力電圧がLowの場合、第9のトランジスタ9のゲート電位VgM9は、先の式6で表され、図8に示されたような従来回路と異なり、本発明の実施の形態においては、出力電圧がLowの場合の第9のトランジスタ9のゲート・ソース間電位VgsM9が正電源電圧VDDに依存することがない。
As described above, when the output voltage is Low, the gate potential Vg M9 of the
次に、コンパレータの出力電圧がLowからHighに変化する場合の動作、すなわち、出力電圧がほぼ負電源電位からほぼ正電源電位になる場合の動作について説明する。
かかる状態において、非反転入力端子42の電位は、反転入力端子41の電位よりも高く、そのため、第2の差動対102の第4のトランジスタ4より第3のトランジスタ3の方に第1の定電流源21からの電流がより多く流れ、第3の抵抗器33での電圧降下が増加する。
Next, the operation when the output voltage of the comparator changes from Low to High, that is, the operation when the output voltage changes from a substantially negative power supply potential to a substantially positive power supply potential will be described.
In such a state, the potential of the
そのため、第8のトランジスタ8のゲート・ソース間電圧差VgsM8が、第7のトランジスタ7のゲート・ソース間電位差VgsM7よりも大きくなる。そして、第8のトランジスタ8のゲート・ソース間電位差VgsM8が大きい状態であるため、第8のトランジスタ8にドレイン電流が流れると共に、そのドレイン電位は低下し、それに伴い第9のトランジスタ9のゲート電位VgM9が低下する。
Therefore, the gate-source voltage difference Vgs M8 of the
この際、第9のトランジスタ9のゲートと負電源電圧VSSとの間の寄生容量Ccにチャージされていた電荷が電流Icxとなって放電され、その一部は、第8のトランジスタ8のドレイン電流となる。
At this time, the electric charge charged in the parasitic capacitance Cc between the gate of the
一方、第1の差動対101においては、第1のトランジスタ1より第2のトランジスタ2の方に第2の定電流源22の電流がより多く流れ、第2の抵抗器32での電圧降下が増加する。なお「R2」の表記は、以下の説明において、必要に応じて第2の抵抗器32の抵抗値として用いるものとする。
On the other hand, in the first
第2の抵抗器32に流れる電流は、第5及び第6のトランジスタ5,6のゲートに印加される基準電圧Vrefと、第6のトランジスタ6のゲート・ソース間の電位差VgsM6と、第2の抵抗器32における電圧降下によって定まり、第2の抵抗器32の抵抗値R2と第6のトランジスタ6の電流IM6と基準電圧Vrefの関係は下記する式7で表される。
The current flowing through the
R2×(IM2+IM6)+(2×IM6×LP/k´P×WP)1/2+VthM6=VDD−Vref・・・式7
R2 × (I M2 + I M6 ) + (2 × I M6 × L P / k'P × W P) 1/2 + Vth M6 = VDD-Vref ···
なお、ここで、IM2は、第2のトランジスタ2のドレイン電流、IM6は、第6のトランジスタ6のドレイン電流、k´Pは、第6のトランジスタ6の移動度と単位面積当たりのゲート酸化膜容量の積、WPは、第6のトランジスタ6のゲート幅、LPは、第6のトランジスタ6のゲート長、VthM6は、第6のトランジスタ6の閾値電圧である。
このような関係の下、第2の抵抗器R2に流れる電流の一部である電流IM6の大きさが定まることとなる。
Note that, I M2, a second drain current of the transistor 2, I M6 is the drain current of the
Under such a relationship, the magnitude of the current IM6 , which is a part of the current flowing through the second resistor R2, is determined.
第6のトランジスタ6には、ドレイン電流IM6は流れるが、VgsM6は第2の抵抗器32で生ずる電圧降下のために低い値となる。そのため、第6のトランジスタ6においては、ドレインとソース間の電位差が大きくなり、電流IM6が流れ、それによって、第9のトランジスタ9のゲート電位VgsM9は低下することとなる。
A drain current I M6 flows through the
以上、出力電圧がLowからHighに変化する際の第1及び第2の差動対101,102の動作を説明したが、結局、第9のトランジスタ9のゲート電位VgM9が低下し、第9のトランジスタ9にドレイン電流が流れなくなり、コンパレータの出力電圧がHighになる。したがって、出力電圧がHighになるときの第9のトランジスタ9のゲート電位VgM9は、第9のトランジスタ9の閾値電圧VthM9まで低下することになる。
ここで、改めて、出力電圧がHighの場合のトランジスタM9のゲート電圧をVgM9Hと定義すると、VgM9Hは、下記する式8により表される。
The operation of the first and second differential pairs 101 and 102 when the output voltage changes from Low to High has been described above, but in the end, the gate potential Vg M9 of the
Here, if the gate voltage of the transistor M9 when the output voltage is High is defined as Vg M9H , Vg M9H is expressed by the
VgM9H=VthM9・・・式8
Vg M9H = Vth M9 ...
したがって、出力電圧がLowからHighに変化する際の第9のトランジスタ9のゲート電圧変化量ΔVgM9は、先の式6と式8を用いて、下記する式9により表される。
Therefore, the gate voltage change amount ΔVg M9 of the
ΔVgM9=VgM9L−VgM9H=R3×(IM3+IM7)+VgsM7+VgsM101−VthM9 ・・・式9
ΔVg M9 = Vg M9L -Vg M9H = R3 × (I M3 + I M7) + Vgs M7 + Vgs M101 -Vth M9 ···
さらに、この式9を用いて、出力電圧がLowからHighに変化する際のゲート電位VgM9の変動時間tLHは、下記する式10により表される。
Further, using this
tLH=ΔVgM9×Cx/Icx={R3×(IM3+IM7)+VgsM7+VgsM101−VthM9}×Cx/Icx・・・式10 t LH = ΔVg M9 × Cx / Icx = {R3 × (I M3 + I M7) + Vgs M7 + Vgs M101 -Vth M9} × Cx / Icx ··· Equation 10
ここで、Cxは、第9のトランジスタ9のゲートと負電源電圧VSS間における寄生容量、Icxは、寄生容量Cxの放電電流である。
上述の式10により、出力電圧がLowからHighに変化する際の第9のトランジスタ9の応答時間は、先に式5に示された従来回路における応答時間と異なり、電源電圧に依存しないものであることが理解できる。
Here, Cx is the parasitic capacitance between the gate of the
According to the above equation 10, the response time of the
したがって、本発明の実施の形態におけるコンパレータは、図6に示されたように、電源電圧の変化に対する伝搬遅延時間がほぼ一定に維持され、従来と異なり、電源電圧に対する応答特性の依存性が極めて小さく、安定性の高いものとなっている。 Therefore, as shown in FIG. 6, the comparator according to the embodiment of the present invention keeps the propagation delay time with respect to the change of the power supply voltage substantially constant, and unlike the conventional case, the dependence of the response characteristic with respect to the power supply voltage is extremely high. It is small and highly stable.
次に、第2の実施例について、図2を参照しつつ説明する。
なお、図1に示された回路における構成要素と同一の構成要素については、同一の符号を付してその詳細な説明を省略し以下異なる点を中心に説明する。
この第2の実施例におけるコンパレータは、図1に示された第1の実施例における第101のトランジスタ16に代えて、第102のトランジスタ(図2においては「M102」と表記)17が次述するよう設けられた点が、第1の実施例と異なるものである。
Next, the second embodiment will be described with reference to FIG.
The same components as the components in the circuit shown in FIG. 1 are designated by the same reference numerals, detailed description thereof will be omitted, and the differences will be mainly described below.
In the comparator in the second embodiment, the 102nd transistor (denoted as "M102" in FIG. 2) 17 is described below instead of the 101st transistor 16 in the first embodiment shown in FIG. It is different from the first embodiment in that it is provided so as to do so.
第102のトランジスタ17は、PMOSFETであり、そのソースが第6及び第8のトランジスタ6,8のドレインに接続される一方、ドレインが第8のトランジスタ8のソースに接続され、ゲートが第5及び第7のトランジスタ5,7のドレインに接続されたものとなっている。
The 102nd transistor 17 is a MOSFET whose source is connected to the drains of the 6th and
かかる構成における回路動作は、次述する点を除けば、基本的には、第1の実施例と同様である。
すなわち、先の第1の実施例においては、第101のトランジスタ16に流れる電流は負電源電圧VSS側に流れ込むのに対して、この第2の実施例における第102のトランジスタ17に流れる電流は、第4の抵抗器34に流れ込むものとなっている。
The circuit operation in such a configuration is basically the same as that of the first embodiment except for the following points.
That is, in the first embodiment, the current flowing through the 101st transistor 16 flows into the negative power supply voltage VSS side, whereas the current flowing through the 102nd transistor 17 in the second embodiment is. It flows into the
このような回路動作にあっても、出力電圧がLowからHighに変化する際の第9のトランジスタ9のゲート電位VgM9の変動時間tLHは、先の第1の実施例同様、先の式10により表される。
したがって、出力電圧がLowからHighに変化する際の第9のトランジスタ9の応答時間は、電源電圧に依存しなくなる。
Even in such a circuit operation, the fluctuation time t LH of the gate potential Vg M9 of the
Therefore, the response time of the
しかして、この第2の実施例におけるコンパレータも、図6に示されたように電源電圧の変化に対する伝搬遅延時間がほぼ一定に維持され従来と異なり、電源電圧に対する応答特性の依存性が極めて小さく、安定性の高いものとなっている。 As shown in FIG. 6, the comparator in the second embodiment also maintains a substantially constant propagation delay time with respect to a change in the power supply voltage, and unlike the conventional comparator, the dependence of the response characteristic on the power supply voltage is extremely small. , It is highly stable.
次に、第3の実施例について、図3を参照しつつ説明する。
なお、図1に示された回路における構成要素と同一の構成要素については、同一の符号を付してその詳細な説明を省略し以下異なる点を中心に説明する。
この第3の実施例におけるコンパレータは、図1に示された第1の実施例における第101のトランジスタ16に代えて、第103のトランジスタ(図3においては「M103」と表記)18が次述するよう設けられた点が、第1の実施例と異なるものである。
Next, a third embodiment will be described with reference to FIG.
The same components as the components in the circuit shown in FIG. 1 are designated by the same reference numerals, detailed description thereof will be omitted, and the differences will be mainly described below.
In the comparator according to the third embodiment, the 103rd transistor (denoted as "M103" in FIG. 3) 18 is described below in place of the 101st transistor 16 in the first embodiment shown in FIG. It is different from the first embodiment in that it is provided so as to do so.
第103のトランジスタ18は、PMOSFETであり、そのソースが第6及び第8のトランジスタ6,8のドレインに接続される一方、ドレインが第7のトランジスタ7のソースに接続され、ゲートが第5及び第7のトランジスタ5,7のドレインに接続されたものとなっている。
The
かかる構成における回路動作は、次述する点を除けば、基本的には、第1の実施例と同様である。
すなわち、先の第1の実施例においては、第101のトランジスタ16に流れる電流は負電源電圧VSS側に流れ込むのに対して、この第3の実施例における第103のトランジスタ18に流れる電流は、第3の抵抗器33に流れ込むものとなっている。
The circuit operation in such a configuration is basically the same as that of the first embodiment except for the following points.
That is, in the first embodiment, the current flowing through the 101st transistor 16 flows into the negative power supply voltage VSS side, whereas the current flowing through the
このように、出力電圧がLowからHighに変化する際における第103のトランジスタ18に流れる電流の流入先が、第1の実施例と異なるが、第9のトランジスタ9のゲート電位VgM9の変動時間tLHは、下記する式11により表さる。
As described above, the inflow destination of the current flowing through the
tLH=ΔVgM9×Cx/Icx={R3×(IM3+IM7+IM6)+VgsM7+VgsM101−VthM9}×Cx/Icx・・・式11 t LH = ΔVg M9 × Cx / Icx = {R3 × (I M3 + I M7 + I M6) + Vgs M7 + Vgs M101 -Vth M9} × Cx / Icx ··· formula 11
結局、この第3の実施例においても、式11により、出力電圧がLowからHighに変化する際の第9のトランジスタ9の応答時間は、電源電圧に依存しないものであることが理解できる。
したがって、この第3の実施例のコンパレータも、図6に示されたように、電源電圧の変化に対する伝搬遅延時間がほぼ一定に維持され、従来と異なり、電源電圧に対する応答特性の依存性が極めて小さく安定性の高いものとなっている。
After all, also in this third embodiment, it can be understood from the equation 11 that the response time of the
Therefore, as shown in FIG. 6, the comparator of the third embodiment also keeps the propagation delay time with respect to the change of the power supply voltage substantially constant, and unlike the conventional case, the dependence of the response characteristic with respect to the power supply voltage is extremely high. It is small and highly stable.
次に、第4の実施例について、図4を参照しつつ説明する。
なお、図1に示された回路における構成要素と同一の構成要素については、同一の符号を付してその詳細な説明を省略し以下異なる点を中心に説明する。
この第4の実施例におけるコンパレータは、図1に示された第1の実施例における第101のトランジスタ16に代えて、第104のトランジスタ(図4においては「M104」と表記)19が次述するよう設けられた点が、第1の実施例と異なるものである。
Next, a fourth embodiment will be described with reference to FIG.
The same components as the components in the circuit shown in FIG. 1 are designated by the same reference numerals, detailed description thereof will be omitted, and the differences will be mainly described below.
In the comparator according to the fourth embodiment, the 104th transistor (denoted as "M104" in FIG. 4) 19 is described below instead of the 101st transistor 16 in the first embodiment shown in FIG. It is different from the first embodiment in that it is provided so as to do so.
第104のトランジスタ19は、PMOSFETであり、そのソースが第6及び第8のトランジスタ6,8のドレインに接続される一方、ドレイン及びゲートが、第7のトランジスタ7のドレイン及びゲートに接続されたものとなっていかかる構成における回路動作は、次述する点を除けば、基本的には、先の第3の実施例と同様である。
The
すなわち、先の第3の実施例においては、第103のトランジスタ18に流れる電流は第3の抵抗器33に流れ込むのに対して、この第4の実施例における第104のトランジスタ19に流れる電流は、第7のトランジスタ7に流れ込むものとなっている。
しかして、出力電圧がLowからHighに変化する際の第9のトランジスタ9のゲート電位VgM9の変動時間tLHは、第3の実施例の場合と同様に、先の式11により表される。
That is, in the third embodiment, the current flowing through the
Thus, the fluctuation time t LH of the gate potential Vg M9 of the
結局、この第4の実施例においても、式11により、出力電圧がLowからHighに変化する際の第9のトランジスタ9の応答時間は、電源電圧に依存しないものであることが理解できる。
したがって、この第4の実施例のコンパレータも、図6に示されたように、電源電圧の変化に対する伝搬遅延時間がほぼ一定に維持され、従来と異なり、電源電圧に対する応答特性の依存性が極めて小さく安定性の高いものとなっている。
After all, also in this fourth embodiment, it can be understood from the equation 11 that the response time of the
Therefore, as shown in FIG. 6, the comparator of the fourth embodiment also keeps the propagation delay time with respect to the change of the power supply voltage substantially constant, and unlike the conventional case, the dependence of the response characteristic with respect to the power supply voltage is extremely high. It is small and highly stable.
次に、第5の実施例について、図5を参照しつつ説明する。
なお、図1に示された回路における構成要素と同一の構成要素については、同一の符号を付してその詳細な説明を省略し以下異なる点を中心に説明する。
この第5の実施例におけるコンパレータは、図1に示された第1の実施例における第101のトランジスタ16に代えて、第105のトランジスタ(図5においては「M105」と表記)20が次述するよう設けられた点が、第1の実施例と異なるものである。
Next, a fifth embodiment will be described with reference to FIG.
The same components as the components in the circuit shown in FIG. 1 are designated by the same reference numerals, detailed description thereof will be omitted, and the differences will be mainly described below.
In the comparator according to the fifth embodiment, the 105th transistor (denoted as "M105" in FIG. 5) 20 is described below in place of the 101st transistor 16 in the first embodiment shown in FIG. It is different from the first embodiment in that it is provided so as to do so.
第105のトランジスタ20は、NMOSFETであり、そのドレイン及びゲートが第6及び第8のトランジスタ6,8のドレインに接続される一方、ソースが第7のトランジスタ7のドレイン及びゲートに接続されたものとなっている。
かかる構成における回路動作は、基本的に、先の第4の実施例と同様である。
しかして、出力電圧がLowからHighに変化する際の第9のトランジスタ9のゲート電位VgM9の変動時間tLHは、第4の実施例の場合と同様に、先の式11により表される。
The
The circuit operation in such a configuration is basically the same as that of the fourth embodiment.
Thus, the fluctuation time t LH of the gate potential Vg M9 of the
結局、この第5の実施例においても、式11により、出力電圧がLowからHighに変化する際の第9のトランジスタ9の応答時間は、電源電圧に依存しないものであることが理解できる。
したがって、この第5の実施例のコンパレータも、図6に示されたように、電源電圧の変化に対する伝搬遅延時間がほぼ一定に維持され、従来と異なり、電源電圧に対する応答特性の依存性が極めて小さく安定性の高いものとなっている。
After all, also in this fifth embodiment, it can be understood from the equation 11 that the response time of the
Therefore, as shown in FIG. 6, the comparator of the fifth embodiment also keeps the propagation delay time with respect to the change of the power supply voltage substantially constant, and unlike the conventional case, the dependence of the response characteristic with respect to the power supply voltage is extremely high. It is small and highly stable.
電源電圧の変化に対する応答特性の変化が確実に抑制でき、さらなる安定性、
信頼性が所望されるコンパレータに適用できる。
Changes in response characteristics to changes in power supply voltage can be reliably suppressed, further stability,
It can be applied to comparators for which reliability is desired.
101…第1の差動対
102…第2の差動対
103…フォールデットカスコード回路
104…出力回路
101 ... 1st
Claims (2)
前記フォールデットカスコード回路の出力段は、PチャンネルMOSトランジスタを用いた第6のMOSトランジスタとNチャンネルMOSトランジスタを用いた第8のMOSトランジスタとが正電源電圧と負電源電圧との間に、前記第6のMOSトランジスタが前記正電源電圧側に位置するように直列接続されてなり、
前記フォールデットカスコード回路の出力段を構成すると共に前記出力回路の入力段と接続され、前記出力回路がLow出力状態の場合に、ゲート・ソース間の電位が上昇する前記第6のMOSトランジスタに対して、当該第6のMOSトランジスタに流れる電流を分流する分流用MOSトランジスタが設けられ、
前記分流用MOSトランジスタは、前記フォールデットカスコード回路の前記第6のMOSトランジスタに流れる電流を負電源電圧側に流入せしめ得るように、前記フォールデットカスコード回路の出力段と前記出力回路の入力段との相互の接続点と前記負電源電圧との間に、直列接続されて設けられてなるコンパレータにおいて、
前記分流用MOSトランジスタの前記負電源電圧側の一端と前記負電源電圧側との間に抵抗器が設けられ、当該抵抗器に前記第2の差動対を構成する抵抗器が用いられ、前記フォールデットカスコード回路の出力段と前記出力回路の入力段との相互の接続点と前記負電源電圧との間に前記分流用MOSトランジスタが前記抵抗器を介して直列接続されて設けられ、
前記第3及び第4のMOSトランジスタは、PチャンネルMOSトランジスタであって、前記第3及び第4のMOSトランジスタのソースは相互に接続され、その接続点と前記正電源電圧との間に、第1の定電流源が設けられ、前記第3のMOSトランジスタのドレインは第3の抵抗器を介して、前記第4のMOSトランジスタは第4の抵抗器を介して、それぞれ前記負電源電圧が印加され、前記第3のMOSトランジスタのゲートは、NチャンネルMOSトランジスタを用いた前記第1のMOSトランジスタのゲートに、前記第4のMOSトランジスタのゲートはNチャンネルMOSトランジスタを用いた前記第2のMOSトランジスタのゲートに、それぞれ接続される一方、
前記フォールデットカスコード回路は、前記第6及び第8のMOSトランジスタに加えて、PチャンネルMOSトランジスタを用いた第5のMOSトランジスタとNチャンネルMOSトランジスタを用いた第7のMOSトランジスタとを有し、前記第5及び第6のMOSトランジスタは、ゲートが相互に接続される一方、前記第5のMOSトランジスタのソースは、前記第1のMOSトランジスタのドレインに、前記第6のMOSトランジスタのソースは、前記第2のMOSトランジスタのドレインに、それぞれ接続され、
前記第7及び第8のMOSトランジスタは、各々のゲートと前記第7のMOSトランジスタのドレインとが相互に接続されると共に、前記第5のMOSトランジスタのドレインに接続され、前記第5のMOSトランジスタのドレイン及び前記第7のMOSトランジスタのドレインは分流用MOSトランジスタのゲートに接続され、
前記第8のMOSトランジスタのドレインは、前記第6のMOSトランジスタのドレインに接続され、
前記第7のMOSトランジスタのソースは、前記第3のMOSトランジスタのドレインに、前記第8のトランジスタのソースは、前記第4のMOSトランジスタのドレインに、それぞれ接続され、
前記分流用MOSトランジスタの前記負電源電圧側の一端と前記負電源電圧側との間に設けられる前記第2の差動対を構成する抵抗器は、前記第4の抵抗器又は前記第3の抵抗器であることを特徴とするコンパレータ。 An input stage composed of a first differential pair made up of first and second MOS transistors and a second differential pair made up of third and fourth MOS transistors, and the first differential pair. It is provided with a folded cascode circuit capable of outputting the differential output of the differential pair of the above, and an output circuit connected to the output stage of the folded cascode circuit to output an output signal.
In the output stage of the folded cascode circuit, the sixth MOS transistor using the P-channel MOS transistor and the eighth MOS transistor using the N-channel MOS transistor are placed between the positive power supply voltage and the negative power supply voltage. The sixth MOS transistor is connected in series so as to be located on the positive power supply voltage side.
For the sixth MOS transistor that constitutes the output stage of the folded cascode circuit and is connected to the input stage of the output circuit and the potential between the gate and the source rises when the output circuit is in the Low output state. Therefore, a diversion MOS transistor for dividing the current flowing through the sixth MOS transistor is provided.
The diversion MOS transistor includes an output stage of the folded cascode circuit and an input stage of the output circuit so that the current flowing through the sixth MOS transistor of the folded cascode circuit can flow into the negative power supply voltage side. In a comparator provided in series between the mutual connection points of the above and the negative power supply voltage.
A resistor is provided between one end of the flow dividing MOS transistor on the negative power supply voltage side and the negative power supply voltage side, and a resistor forming the second differential pair is used for the resistor. The diversion MOS transistor is provided in series between the output stage of the folded cascode circuit and the input stage of the output circuit and the negative power supply voltage via the resistor.
The third and fourth MOS transistors are P-channel MOS transistors, and the sources of the third and fourth MOS transistors are connected to each other, and a third is connected between the connection point and the positive power supply voltage. The constant current source of 1 is provided, and the negative power supply voltage is applied to the drain of the third MOS transistor via the third resistor and the fourth MOS transistor via the fourth resistor. The gate of the third MOS transistor is the gate of the first MOS transistor using an N-channel MOS transistor, and the gate of the fourth MOS transistor is the gate of the second MOS using an N-channel MOS transistor. While each connected to the gate of the transistor,
The folded cascode circuit has, in addition to the sixth and eighth MOS transistors, a fifth MOS transistor using a P-channel MOS transistor and a seventh MOS transistor using an N-channel MOS transistor. The gates of the fifth and sixth MOS transistors are connected to each other, while the source of the fifth MOS transistor is the drain of the first MOS transistor, and the source of the sixth MOS transistor is the source of the sixth MOS transistor. Each connected to the drain of the second MOS transistor,
In the seventh and eighth MOS transistors, the respective gates and the drain of the seventh MOS transistor are connected to each other, and the drain of the fifth MOS transistor is connected to the fifth MOS transistor. And the drain of the 7th MOS transistor are connected to the gate of the diversion MOS transistor.
The drain of the eighth MOS transistor is connected to the drain of the sixth MOS transistor.
The source of the 7th MOS transistor is connected to the drain of the 3rd MOS transistor, and the source of the 8th transistor is connected to the drain of the 4th MOS transistor.
The resistor constituting the second differential pair provided between one end of the flow dividing MOS transistor on the negative power supply voltage side and the negative power supply voltage side is the fourth resistor or the third resistor. A comparator characterized by being a resistor.
前記分流用MOSトランジスタがNチャンネルMOSトランジスタである場合には、そのドレイン及びゲートが前記第6及び第8のMOSトランジスタのドレインに接続される一方、前記分流用MOSトランジスタのソースは、前記第7のトランジスタのドレイン及びゲートに接続されて、前記分流用MOSトランジスタと前記第3の抵抗器との間に、前記第7のMOSトランジスタが直列接続されて設けられてなることを特徴とする請求項1記載のコンパレータ。 When the diversion MOS transistor is a P-channel MOS transistor, its source is connected to the drains of the sixth and eighth MOS transistors, while the drain and gate of the diversion MOS transistor are the seventh. The seventh MOS transistor is connected in series between the diversion MOS transistor and the third resistor so as to be connected to the drain and gate of the transistor.
When the diversion MOS transistor is an N-channel MOS transistor, its drain and gate are connected to the drains of the sixth and eighth MOS transistors, while the source of the diversion MOS transistor is the seventh. The seventh MOS transistor is connected in series between the diversion MOS transistor and the third resistor so as to be connected to the drain and the gate of the transistor. 1. The comparator according to 1.
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