JP6763526B2 - 非破壊検査装置、及び、非破壊検査方法 - Google Patents
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- 238000007689 inspection Methods 0.000 title claims description 90
- 230000001066 destructive effect Effects 0.000 title claims description 59
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 15
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 97
- 230000003014 reinforcing effect Effects 0.000 claims description 68
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 54
- 239000004567 concrete Substances 0.000 claims description 15
- 239000011150 reinforced concrete Substances 0.000 claims description 2
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 10
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 3
- 229910001385 heavy metal Inorganic materials 0.000 description 3
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 3
- 239000011295 pitch Substances 0.000 description 3
- 230000008569 process Effects 0.000 description 2
- 230000002194 synthesizing effect Effects 0.000 description 2
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 1
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
- 239000013585 weight reducing agent Substances 0.000 description 1
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
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- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
- G01N23/04—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
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- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
- G01N23/06—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption
- G01N23/18—Investigating the presence of flaws defects or foreign matter
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/03—Investigating materials by wave or particle radiation by transmission
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/10—Different kinds of radiation or particles
- G01N2223/101—Different kinds of radiation or particles electromagnetic radiation
- G01N2223/1016—X-ray
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/30—Accessories, mechanical or electrical features
- G01N2223/33—Accessories, mechanical or electrical features scanning, i.e. relative motion for measurement of successive object-parts
- G01N2223/3303—Accessories, mechanical or electrical features scanning, i.e. relative motion for measurement of successive object-parts object fixed; source and detector move
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/60—Specific applications or type of materials
- G01N2223/646—Specific applications or type of materials flaws, defects
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- Analytical Chemistry (AREA)
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- Measurement Of Radiation (AREA)
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Description
(非破壊検査装置10及び電柱2の構造)
図1は、実施形態1に係る非破壊検査装置10の断面図である。図2は、実施形態1に係る非破壊検査装置10の側面図である。図1に示す電柱2は、図2に示す電柱2の中心軸Zに直交する方向に切った断面を表している。
図1及び図2に示すように、非破壊検査装置10を用いて電柱2の非破壊検査を行う場合、まず、X線源11と、重ねた撮像パネル14及び遮蔽板15とを、電柱2を間に介在させて配置する(配置工程)。この配置工程では、さらに、それぞれフレキシブル性を有する撮像パネル14及び遮蔽板15を、電柱2の湾曲面に沿って湾曲させて電柱2の外側面に配置する。
図3は、電柱2内部の鉄筋3cとX線源11の出射面とが重なるように、X線源11、撮像パネル14及び遮蔽板15を配置した様子を表す図である。X線源11が出射するX線19は、X線源11から放射状に広がって、電柱2内部を透過し、撮像パネル14にて検出される。このため、X線源11の出射面と重なった鉄筋3cは、撮像パネル14の受光面と重なっている鉄筋3と比べて、像が拡大して撮像パネル14に投影されて撮像される。この結果、撮像パネル14の受光面と重なっている鉄筋3それぞれの像が、拡大された鉄筋3cの像と重なってしまい、鮮明な像を得られにくい場合がある。そして、その結果、鉄筋3の欠陥有無の検査を正確に判定できない場合がある。
本発明の実施形態2について、以下に説明する。なお、説明の便宜上、実施形態1にて説明した部材と同じ機能を有する部材については、同じ符号を付記し、その説明を繰り返さない。
本発明の実施形態3について、以下に説明する。なお、説明の便宜上、実施形態1、2にて説明した部材と同じ機能を有する部材については、同じ符号を付記し、その説明を繰り返さない。図7は、実施形態3に係る非破壊検査装置10の断面図である。図7に示すように、非破壊検査装置10は、複数のX線源である第1X線源(第1放射線源)11Aと、第2X線源(第2放射線源)11Bとを備えていてもよい。
本発明の実施形態4について、以下に説明する。なお、説明の便宜上、実施形態1〜3にて説明した部材と同じ機能を有する部材については、同じ符号を付記し、その説明を繰り返さない。図8は、実施形態4に係る非破壊検査装置10の側面図である。
2a 基部
2b 頭頂部
3、3a〜3c、3d1、3d2 鉄筋
4 コンクリート部
7 地面
10 非破壊検査装置
11 X線源(放射線源)
11A 第1X線源(第1放射線源)
11B 第2X線源(第2放射線源)
14 撮像パネル
15 遮蔽板
16 撮像装置
17 制御部(画像生成部)
18 表示部
19、19A、19B X線
AR1、AR2 撮像領域
Claims (10)
- 放射線源と、
前記放射線源から出射され、検査対象物を透過した放射線を検出する撮像パネルと、
前記撮像パネルに対し前記放射線源とは逆側に重ねて配置して前記撮像パネルから出射される放射線を遮蔽するための遮蔽板とを備え、
前記撮像パネル及び前記遮蔽板は、湾曲可能なフレキシブル性を有することを特徴とする非破壊検査装置。 - 前記放射線を検出した撮像パネルが出力する電気信号を取得し、当該電気信号から、前記放射線が透過した前記検査対象物の画像を生成する画像生成部を備えていることを特徴とする請求項1に記載の非破壊検査装置。
- 前記放射線源及び前記撮像パネルは、前記検査対象物を異なる角度から複数回撮像し、
前記画像生成部は、前記複数回撮像して得られた複数の画像に基づいて、前記検査対象物の内部の画像を再構成することを特徴とする請求項2に記載の非破壊検査装置。 - 前記放射線源は、第1放射線源と第2放射線源とを含むことを特徴とする請求項1〜3の何れか1項に記載の非破壊検査装置。
- 放射線源と、
前記放射線源から出射し、検査対象物を透過した放射線を検出する撮像パネルと、
前記撮像パネルに対し前記放射線源とは逆側に重ねて配置して前記撮像パネルから出射される放射線を遮蔽するための遮蔽板と、を備える非破壊検査装置を用いた非破壊検査方法であって、
前記放射線源と、重ねた前記撮像パネル及び前記遮蔽板とを、前記検査対象物を間に介在させて配置する配置工程を有し、
前記配置工程では、さらに、それぞれフレキシブル性を有する前記撮像パネル及び前記遮蔽板を、前記検査対象物の湾曲面に沿って湾曲させて配置することを特徴とする非破壊検査方法。 - 前記配置工程の後、前記放射線源及び前記撮像パネルを駆動させて前記検査対象物を撮像する撮像工程をさらに有することを特徴とする請求項5に記載の非破壊検査方法。
- 前記撮像工程の後、前記放射線源、前記撮像パネル及び前記遮蔽板を、前記検査態様物の中心軸に対して回転させる回転工程をさらに有することを特徴とする請求項6に記載の非破壊検査方法。
- 前記検査対象物は、コンクリート内に複数の鉄筋が埋設された鉄筋コンクリート構造体であって、
前記配置工程では、前記複数の鉄筋間の隙間と対向するように、前記放射線源を配置することを特徴とする請求項6〜7の何れか1項に記載の非破壊検査方法。 - 前記撮像工程の後、当該検査対象物と、前記放射線源、前記撮像パネル及び前記遮蔽板とを前記検査対象物の長軸方向に相対移動させる相対移動工程を有し、
前記相対移動工程の後、再度、前記配置工程及び前記撮像工程を行うことを特徴とする請求項6〜8の何れか1項に記載の非破壊検査方法。 - 前記相対移動工程では、相対移動前に前記撮像パネルが撮像した前記検査対象物の領域の一部と重なるように、前記撮像パネルを前記検査対象物に対して相対移動させることを特徴とする請求項9に記載の非破壊検査方法。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2018125227A JP6763526B2 (ja) | 2018-06-29 | 2018-06-29 | 非破壊検査装置、及び、非破壊検査方法 |
US16/454,635 US20200003702A1 (en) | 2018-06-29 | 2019-06-27 | Nondestructive inspection apparatus and nondestructive inspection method |
CN201910579946.0A CN110726739A (zh) | 2018-06-29 | 2019-06-28 | 无损检测装置及无损检测方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2018125227A JP6763526B2 (ja) | 2018-06-29 | 2018-06-29 | 非破壊検査装置、及び、非破壊検査方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2020003426A JP2020003426A (ja) | 2020-01-09 |
JP6763526B2 true JP6763526B2 (ja) | 2020-09-30 |
Family
ID=69008000
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2018125227A Active JP6763526B2 (ja) | 2018-06-29 | 2018-06-29 | 非破壊検査装置、及び、非破壊検査方法 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20200003702A1 (ja) |
JP (1) | JP6763526B2 (ja) |
CN (1) | CN110726739A (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR102481895B1 (ko) * | 2020-09-21 | 2022-12-27 | 고려검사주식회사 | 탱크 설비의 방사선투과검사에 사용하는 차폐체 시스템 |
Family Cites Families (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61288187A (ja) * | 1985-06-14 | 1986-12-18 | Nitsukouken Service Kk | 構造体の放射線透過測定方法 |
US5933473A (en) * | 1996-04-04 | 1999-08-03 | Hitachi, Ltd. | Non-destructive inspection apparatus and inspection system using it |
US5781606A (en) * | 1996-07-25 | 1998-07-14 | Analogic Corporation | X-ray tomography system with substantially continuous radiation detection zone |
JP2000352587A (ja) * | 1999-04-05 | 2000-12-19 | Toshiba Corp | X線平面検出装置 |
JP2003014862A (ja) * | 2001-07-02 | 2003-01-15 | Canon Inc | 放射線画像検出装置及び放射線遮蔽方法 |
US7078702B2 (en) * | 2002-07-25 | 2006-07-18 | General Electric Company | Imager |
JP5508831B2 (ja) * | 2009-12-17 | 2014-06-04 | 株式会社東芝 | X線画像検出器 |
JP2012057954A (ja) * | 2010-09-06 | 2012-03-22 | Hitachi Medical Corp | 放射線検出システム及びx線ct装置 |
JP5201515B2 (ja) * | 2011-01-06 | 2013-06-05 | つくばテクノロジー株式会社 | X線非破壊検査装置 |
JP2012173128A (ja) * | 2011-02-21 | 2012-09-10 | Fujifilm Corp | 放射線画像検出装置及び放射線撮影装置 |
JP3195776U (ja) * | 2012-01-27 | 2015-02-05 | アメリカン サイエンス アンド エンジニアリング,インコーポレイテッドAmerican Science and Engineering,Inc. | ハンドヘルド型後方散乱x線撮像装置 |
JP5848216B2 (ja) * | 2012-09-04 | 2016-01-27 | 株式会社リガク | X線ct装置 |
US8798230B2 (en) * | 2012-11-19 | 2014-08-05 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Radiation imaging apparatus, computed tomography apparatus, and radiation imaging method |
JP2014182108A (ja) * | 2013-03-21 | 2014-09-29 | Canon Inc | 放射線検出装置及び放射線検出システム |
US10413268B2 (en) * | 2014-02-26 | 2019-09-17 | Carestream Health, Inc. | Hybrid imaging apparatus and methods for interactive procedures |
WO2015138329A1 (en) * | 2014-03-13 | 2015-09-17 | General Electric Company | Curved digital x-ray detector for weld inspection |
US10483316B2 (en) * | 2016-01-13 | 2019-11-19 | mPower Technology, Inc. | Fabrication and operation of multi-function flexible radiation detection systems |
-
2018
- 2018-06-29 JP JP2018125227A patent/JP6763526B2/ja active Active
-
2019
- 2019-06-27 US US16/454,635 patent/US20200003702A1/en not_active Abandoned
- 2019-06-28 CN CN201910579946.0A patent/CN110726739A/zh active Pending
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN110726739A (zh) | 2020-01-24 |
US20200003702A1 (en) | 2020-01-02 |
JP2020003426A (ja) | 2020-01-09 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20190702 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20200518 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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|
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|
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|
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Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313117 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
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