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JP6625215B2 - 駆動回路およびそれを用いたパワーモジュール - Google Patents

駆動回路およびそれを用いたパワーモジュール Download PDF

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Description

この発明は駆動回路およびそれを用いたパワーモジュールに関し、特に、パワートランジスタを駆動させる駆動回路と、それを用いたパワーモジュールとに関する。
特許文献1には、パワートランジスタを駆動させる駆動回路、特に、ノイズ低減に関する駆動回路が開示されている。この駆動回路は、パワートランジスタをオンさせるとき、ゲート抵抗を介してパワートランジスタのゲートに電圧を印加した際にパワートランジスタのゲート端子に流入する電流を検出し、その検出値が上昇から下降に転じたことに応じてゲート抵抗の抵抗値を増大させる。これにより、パワートランジスタのスイッチング速度を低減させてノイズの発生を抑制する。
特開2008−022451号公報
しかし、特許文献1では、ゲート電流が上昇から下降に転じるタイミングを高精度で検出する必要があり、ゲート電流の検出精度によってはゲート抵抗の抵抗値を増大させるタイミングが所望のタイミングにならず、ノイズが発生する虞があった。
それゆえに、この発明の主たる目的は、ノイズの発生を容易に抑制することが可能な駆動回路と、それを用いたパワーモジュールとを提供することである。
この発明に係る駆動回路は、制御信号に応答してパワートランジスタを駆動させる駆動回路であって、制御信号のターンオン指令から予め定められた第1の時間が経過したことに応じて、ゲート駆動力を低下させる制御回路を備えたものである。
この発明に係る駆動回路では、制御信号のターンオン指令から予め定められた第1の時間が経過したことに応じてゲート駆動力を低下させる。したがって、パワートランジスタのスイッチング速度を容易に低下させることができ、ノイズの発生を容易に抑制することができる。
この発明の実施の形態1による駆動回路の構成を示す回路ブロック図である。 図1に示した制御回路1〜3の動作を示す波形図である。 図1に示した駆動回路の動作を示す波形図である。 図1に示した駆動回路の動作を示す他の波形図である。 実施の形態1の変更例を示す回路ブロック図である。 この発明の実施の形態2による駆動回路の構成を示す回路ブロック図である。 実施の形態2の変更例を示す回路ブロック図である。 この発明の実施の形態3による駆動回路の構成を示す回路ブロック図である。 図8に示したパワートランジスタのゲート電荷量とゲート・ソース間電圧との関係を示す図である。 この発明の実施の形態4による駆動回路の構成を示す回路ブロック図である。 この発明の実施の形態5による駆動回路の構成を示す回路ブロック図である。 この発明の実施の形態6による駆動回路の構成を示す回路ブロック図である。
実施の形態1.
図1は、この発明の実施の形態1による駆動回路の構成を示す回路ブロック図である。図1において、この駆動回路は、パワートランジスタ51を駆動させる回路であって、制御回路1〜3、NPNトランジスタ5、PNPトランジスタ6、オンゲート抵抗7、オフゲート抵抗8、PチャネルMOSトランジスタ9、およびNチャネルMOSトランジスタ10を備える。
パワートランジスタ51は、MOSFET(Metal Oxide Semiconductor Field Effect Transistor)でもよいし、IGBT(Insulated Gate Bipolar Transistor)でもよい。図1では、パワートランジスタ51がMOSFETである場合が示されている。パワートランジスタ51は、直流電力を交流電力に変換する逆変換器、交流電力を直流電力に変換する順変換器などの電力変換器に含まれている。パワートランジスタ51は、ゲート51g、ソース(第1の電極)51s、およびドレイン(第2の電極)51dを備えている。パワートランジスタ51には、ダイオード52が逆並列に接続される。ダイオード52は、フライホイールダイオードとして使用される。
制御回路1は、制御信号CNT1を出力する。制御回路1は、パワートランジスタ51をオンさせる場合は制御信号CNT1を「H」レベルにし、パワートランジスタ51をオフさせる場合は制御信号CNT1を「L」レベルにするものとして説明される。
制御回路2は、制御信号CNT1に応答して制御信号CNT2を出力する。制御回路2は、制御信号CNT1が「L」レベルから「H」レベルに立ち上げられたことに応じて制御信号CNT2を「H」レベルから「L」レベルに立ち下げ、予め定められた時間T1の経過後に制御信号CNT2を「L」レベルから「H」レベルに立ち上げる。すなわち、制御信号CNT2は、制御信号CNT1のターンオン指令に応答して、予め定められた時間T1だけ「L」レベルにされる。
制御回路3は、制御信号CNT1に応答して制御信号CNT3を出力する。制御回路3は、制御信号CNT1が「H」レベルから「L」レベルに立ち下げられたことに応じて制御信号CNT3を「L」レベルから「H」レベルに立ち上げ、予め定められた時間T2の経過後に制御信号CNT3を「H」レベルから「L」レベルに立ち下げる。すなわち、制御信号CNT3は、制御信号CNT1のターンオフ指令に応答して、予め定められた時間T2だけ「H」レベルにされる。
図2(a)〜(c)は、制御回路1〜3の動作を示すタイムチャートである。図2(a)は制御信号CNT1の波形を示し、図2(b)は制御信号CNT2の波形を示し、図2(c)は制御信号CNT3の波形を示している。図2(a)〜(c)において、初期状態では制御信号CNT1,CNT3はともに「L」レベルに、制御信号CNT2は「H」レベルにされている。
ある時刻t1において、制御信号CNT1が「L」レベルから「H」レベルに立ち上げられると、制御信号CNT2が「H」レベルから「L」レベルに立ち下げられ、予め定められた時間T1後の時刻t2において制御信号CNT2が「L」レベルから「H」レベルに立ち上げられる。
次に、ある時刻t3において、制御信号CNT1が「H」レベルから「L」レベルに立ち下げられると、制御信号CNT3が「L」レベルから「H」レベルに立ち上げられ、予め定められた時間T2後の時刻t4において制御信号CNT3が「H」レベルから「L」レベルに立ち下げられる。
図1に戻って、NPNトランジスタ5およびオンゲート抵抗7は、パワートランジスタ51のゲート・ソース間に正バイアス電圧を印加する正極側電圧VPのラインと、パワートランジスタ51のゲート51gとの間に直列接続される。NPNトランジスタ5は、制御信号CNT1が「H」レベルである場合はオンし、制御信号CNT1が「L」レベルである場合はオフする。PチャネルMOSトランジスタ9は、オンゲート抵抗7に並列接続される。PチャネルMOSトランジスタ9は、制御信号CNT2が「L」レベルである場合はオンし、制御信号CNT2が「H」レベルである場合はオフする。
制御信号CNT1が「L」レベルから「H」レベルに立ち上げられると、制御信号CNT2が「H」レベルから「L」レベルに立ち下げられ、NPNトランジスタ5およびPチャネルMOSトランジスタ9がともにオンする。これにより、パワートランジスタ51のゲート・ソース間電圧が負バイアス電圧から正バイアス電圧に向って上昇すべく、正極側電圧VPのラインからNPNトランジスタ5と、オンゲート抵抗7およびPチャネルMOSトランジスタ9の並列接続体とを介してパワートランジスタ51のゲート51gに電流が流れる。
パワートランジスタ51のゲート・ソース間電圧がパワートランジスタ51のしきい値電圧Vthを超えると、パワートランジスタ51がターンオンする。制御信号CNT1のターンオン指令から予め定められた時間T1後に制御信号CNT2が「L」レベルから「H」レベルに立ち上げられると、PチャネルMOSトランジスタ9がオフし、正極側電圧VPのラインとパワートランジスタ51のゲート51gとの間の抵抗値が増大する。これにより、パワートランジスタ51のスイッチング速度が低減されてノイズの発生が抑制される。
オンゲート抵抗7およびPチャネルMOSトランジスタ9は、第1の可変抵抗を構成する。PチャネルMOSトランジスタ9がオンすると、第1の可変抵抗の抵抗値の減少に伴いゲート駆動力が向上し、スイッチング速度が上昇する。PチャネルMOSトランジスタ9がオフすると、第1の可変抵抗の抵抗値の増大に伴いゲート駆動力が低下し、スイッチング速度が低下する。
なお、本願明細書において、「ゲート駆動力」とは、パワートランジスタ51のゲート容量(ゲート・ソース間容量およびドレイン・ゲート間容量)を充放電する能力を意味する。パワートランジスタ51をターンオンする場合には、正極側電圧VPのラインからNPNトランジスタ5と、第1の可変抵抗(オンゲート抵抗7およびPチャネルMOSトランジスタ9)とを介してパワートランジスタ51のゲート51gに流入する電流がゲート容量を充電することにより、パワートランジスタ51のゲート・ソース間電圧が上昇する。
PチャネルMOSトランジスタ9がオンすると、第1の可変抵抗の抵抗値が減少するため、ゲート51gに流入する電流が増大し、結果的にゲート容量を充電する能力(ゲート駆動力)が向上する。一方、PチャネルMOSトランジスタ9がオフすると、第1の可変抵抗の抵抗値が増加するため、ゲート51gに流入する電流が減少し、結果的にゲート容量を充電する能力(ゲート駆動力)が低下する。
オフゲート抵抗8およびPNPトランジスタ6は、パワートランジスタ51のゲート51gと、パワートランジスタ51のゲート・ソース間に負バイアス電圧を印加する負極側電圧VNのラインとの間に直列接続される。PNPトランジスタ6は、制御信号CNT1が「L」レベルである場合はオンし、制御信号CNT1が「H」レベルである場合はオフする。NチャネルMOSトランジスタ10は、オフゲート抵抗8に並列接続される。NチャネルMOSトランジスタ10は、制御信号CNT3が「H」レベルである場合はオンし、制御信号CNT3が「L」レベルである場合はオフする。
制御信号CNT1が「H」レベルから「L」レベルに立ち下げられると、制御信号CNT3が「L」レベルから「H」レベルに立ち上げられ、PNPトランジスタ6およびNチャネルMOSトランジスタ10がともにオンする。これにより、パワートランジスタ51のゲート・ソース間電圧が正バイアス電圧から負バイアス電圧に向って下降すべく、パワートランジスタ51のゲート51gからオフゲート抵抗8およびNチャネルMOSトランジスタ10の並列接続体と、PNPトランジスタ6とを介して負極側電圧VNのラインに電流が流れる。
パワートランジスタ51のゲート・ソース間電圧がパワートランジスタ51のしきい値電圧Vthよりも低くなると、パワートランジスタ51がターンオフする。制御信号CNT1のターンオフ指令から予め定められた時間T2後に制御信号CNT3が「H」レベルから「L」レベルに立ち下げられると、NチャネルMOSトランジスタ10がオフし、パワートランジスタ51のゲート51gと負極側電圧VNのラインとの間の抵抗値が増大する。これにより、パワートランジスタ51のスイッチング速度が低減されてノイズの発生が抑制される。
オフゲート抵抗8およびNチャネルMOSトランジスタ10は、第2の可変抵抗を構成する。NチャネルMOSトランジスタ10がオンすると、第2の可変抵抗の抵抗値の減少に伴いゲート駆動力が向上し、スイッチング速度が上昇する。NチャネルMOSトランジスタ10がオフすると、第2の可変抵抗の抵抗値の増大に伴いゲート駆動力が低下し、スイッチング速度が低下する。
このように、パワートランジスタ51をターンオフする場合には、パワートランジスタ51のゲート51gから第2の可変抵抗(オフゲート抵抗8およびNチャネルMOSトランジスタ10)とPNPトランジスタ6とを介して負極側電圧VNのラインに電流が流れ、ゲート容量が放電されることにより、パワートランジスタ51のゲート・ソース間電圧が下降する。
NチャネルMOSトランジスタ10がオンすると、第2の可変抵抗の抵抗値が減少するため、ゲート51gから流出する電流が増大し、結果的にゲート容量を放電する能力(ゲート駆動力)が向上する。一方、NチャネルMOSトランジスタ10がオフすると、第2の可変抵抗の抵抗値が増加するため、ゲート51gから流出する電流が減少し、結果的にゲート容量を放電する能力(ゲート駆動力)が低下する。
図3(a)〜(c)は、パワートランジスタ51をオフ状態からオン状態に変化させる場合における駆動回路の動作を示すタイムチャートである。特に、図3(a)はパワートランジスタ51のゲート・ソース間電圧Vgsの波形を示し、図3(b)はゲート電流Igの波形を示し、図3(c)はドレイン・ソース間電圧Vdsの波形を示している。図3(a)〜(c)において、太い実線は本願発明の波形を示し、細い実線は比較例の波形を示している。比較例では、図1の駆動回路のトランジスタ9,10が実装されておらず、ゲート駆動力は変化しない。
初期状態では、パワートランジスタ51はオフ状態にされており、ゲート・ソース間電圧Vgsは負バイアス電圧値であり、ドレイン・ソース間電圧Vdsは電源電圧(直流リンク電圧)値になっている。ある時刻において制御信号CNT1が「L」レベルから「H」レベルに立ち上げられると、パワートランジスタ51のゲート・ソース間容量が充電されてゲート・ソース間電圧Vgsが上昇する。
ゲート・ソース間電圧Vgsがパワートランジスタ51のしきい値電圧Vthを超えると、パワートランジスタ51のドレイン電流が流れ始める。ドレイン電流が所定のドレイン電流値に到達すると、ドレイン・ソース間電圧Vdsが下降し始める。ドレイン・ソース間電圧Vdsの低下とともにドレイン・ゲート間容量は増大するので、ゲート電流Igはドレイン・ゲート間容量を流れるようになる。その結果、ゲート・ソース間電圧Vgsが略一定となる期間(第1のミラー期間)が出現する。ドレイン・ソース間電圧Vdsが低下し始めるタイミングは、ミラー期間が出現するタイミングと等しい。
そこで、制御信号CNT1のターンオン指令に応答して制御信号CNT2が「L」レベルにされる時間T1は、制御信号CNT1のターンオン指令からミラー期間が出現するまでの時間に設定される。これにより、ドレイン・ソース間電圧Vdsが低下し始めるタイミングでパワートランジスタ51のスイッチング速度(ドレイン・ソース間電圧Vdsの下降速度)を遅くすることができ、ターンオン動作時におけるノイズの発生を容易に抑制することができる。これに対して比較例では、パワートランジスタ51がターンオンすると、ドレイン・ソース間電圧Vdsの下降速度が本願発明と比較して急峻であるため、発生するノイズレベルが高い。
図4(a)〜(c)は、パワートランジスタ51をオン状態からオフ状態に変化させる場合における駆動回路の動作を示すタイムチャートである。特に、図4(a)はパワートランジスタ51のゲート・ソース間電圧Vgsの波形を示し、図4(b)はゲート電流Igの波形を示し、図4(c)はドレイン・ソース間電圧Vdsの波形を示している。図4(a)〜(c)において、太い実線は本願発明の波形を示し、細い実線は比較例の波形を示している。
初期状態では、パワートランジスタ51はオン状態にされており、ゲート・ソース間電圧Vgsは正バイアス電圧値であり、ドレイン・ソース間電圧Vdsはオン電圧値になっている。ある時刻において制御信号CNT1が「H」レベルから「L」レベルに立ち下げられると、パワートランジスタ51のゲート・ソース間容量が放電され、ゲート・ソース間電圧Vgsが下降する。
ゲート・ソース間電圧Vgsの下降に伴ってドレイン・ソース間電圧Vdsが徐々に上昇し、ドレイン・ゲート間容量は減少していく。ドレイン・ソース間電圧Vdsの上昇とともにドレイン・ゲート間容量が放電される期間、ゲート・ソース間電圧Vgsは略一定となる。この期間がターンオフ時のミラー期間(第2のミラー期間)である。ミラー期間が終わり、ドレイン・ソース間電圧Vdsが電源電圧(直流リンク電圧)に達すると、パワートランジスタ51を流れるドレイン電流は減少し始める。
そこで、制御信号CNT1のターンオフ指令に応答して制御信号CNT3が「H」レベルになる時間T2は、制御信号CNT1のターンオフ指令から第2のミラー期間が出現するまでの時間に設定される。これにより、ドレイン・ソース間電圧Vdsが急上昇するタイミングでパワートランジスタ51のスイッチング速度(ドレイン・ソース間電圧Vdsの上昇速度)を遅くすることができ、ターンオフ動作時におけるノイズの発生を容易に抑制することができる。また、ドレイン電流が減少するのはドレイン・ソース間電圧Vdsが電源電圧(直流リンク電圧)に達するときであるので、スイッチング速度は既に緩やかになっており、サージ電圧を抑制することができる。これに対して比較例では、パワートランジスタ51がターンオフすると、ドレイン・ソース間電圧Vdsの上昇速度が本願発明と比較して急峻であるため、発生するノイズレベルが高い。
以上のように、この実施の形態1では、ドレイン・ソース間電圧Vdsが低下し始めるタイミングでパワートランジスタ51のターンオン速度を容易に低下させることができ、ターンオン動作時におけるノイズの発生を容易に抑制することができる。
同様に、ドレイン・ソース間電圧Vdsが急上昇するタイミングでパワートランジスタ51のターンオフ速度を容易に低下させることができ、ターンオフ動作時におけるノイズの発生を容易に抑制することができる。ドレイン電流が減少するときにはスイッチング速度は既に低下しているので、サージ電圧を抑制することができる。
図5は、実施の形態1の変更例を示す回路ブロック図であって、図1と対比される図である。図5を参照して、この変更例が図1の駆動回路と異なる点は、抵抗素子11,12が追加されている点である。抵抗素子11およびPチャネルMOSトランジスタ9は直列接続され、オンゲート抵抗7に並列接続される。同様に、抵抗素子12およびNチャネルMOSトランジスタ10は直列接続され、オフゲート抵抗8に並列接続される。
この変更例では、実施の形態1と同じ効果が得られる他、オンゲート抵抗7および抵抗素子11、あるいはオフゲート抵抗8および抵抗素子12の組み合わせでそれぞれターンオン速度およびターンオフ速度を決定することができる。スイッチング速度がスイッチング損失に直結するため、ノイズと損失とのトレードオフの関係の中で、最適なスイッチング速度を設定することが可能となる。
なお、PチャネルMOSトランジスタ9のドレインとオンゲート抵抗7の負電圧側端子との間に抵抗素子をさらに接続し、NチャネルMOSトランジスタ10のドレインとオフゲート抵抗8の正電圧側端子との間に抵抗素子をさらに接続してもよい。PチャネルMOSトランジスタ9と抵抗素子11の位置を入れ替えて、オンゲート抵抗7に並列接続してもよい。同様に、NチャネルMOSトランジスタ10と抵抗素子12の位置を入れ替えて、オフゲート抵抗8に並列接続してもよい。
また、半導体スイッチング素子として、PチャネルMOSトランジスタおよびNチャネルMOSトランジスタ、あるいは、PNPトランジスタおよびNPNトランジスタに関して記載しているが、半導体スイッチング素子であればMOSFETあるいはトランジスタに限定されるものではない。
実施の形態2.
図6は、この発明の実施の形態2による駆動回路の構成を示す回路ブロック図であって、図1と対比される図である。図6を参照して、この駆動回路が図1の駆動回路と異なる点は、電流検出器15が追加され、制御回路2,3がそれぞれ制御回路16,17で置換されている点である。
電流検出器15は、パワートランジスタ51のゲート電流Igの瞬時値を検出し、その検出値を示す信号を制御回路16,17に出力する。電流検出器15は、どのような方法でゲート電流Igを検出してもよいが、たとえばCT等の電流センサをゲート配線に挿入することでゲート電流Igを検出する。制御回路16は、電流検出器15の出力信号に基づいて制御信号CNT2を出力する。制御回路16は、パワートランジスタ51のゲート51gに正電流が流れ始めるタイミングで、制御信号CNT2を「H」レベルから「L」レベルに立ち下げてPチャネルMOSトランジスタ9をオンさせる。これにより、パワートランジスタ51のゲート・ソース間電圧が負バイアス電圧から正バイアス電圧に向って上昇すべく、正極側電圧VPのラインからNPNトランジスタ5と、オンゲート抵抗7と、抵抗素子11とPチャネルMOSトランジスタ9との並列接続体とを介してパワートランジスタ51のゲート51gに電流が流れる。
ここで、パワートランジスタ51のゲート51gへの正電流の供給を開始してからミラー期間が出現するまでに必要な電荷量は、パワートランジスタ51の特性として事前に把握することができる。電荷量はゲート電流Igを積分することによって求められるため、駆動回路の回路定数が決まれば、ゲート電流Igと、ゲート電流Igが流れる時間とを用いて電荷量を概算することができる。したがって、パワートランジスタ51のゲート電流Igが予め定められた正の値Ipに到達してから予め定められた時間Tpの経過後に制御信号CNT2を「L」レベルから「H」レベルに立ち上げることにより、ミラー期間が開始するタイミングでPチャネルMOSトランジスタ9をオフさせてパワートランジスタ51のスイッチング速度を低下させることができる。
そこで、制御回路16は、電流検出器15の出力信号に基づいて、パワートランジスタ51のゲート電流Igが予め定められた正の値Ipに到達してから予め定められた時間Tpの経過後に制御信号CNT2を「L」レベルから「H」レベルに立ち上げ、パワートランジスタ51のスイッチング速度を低下させる。予め定められた時間Tpは、ゲート電流Igが予め定められた正の値Ipに到達してからミラー期間が開始されるまでの時間に設定される。
制御回路17は、パワートランジスタ51のゲート51gから負極側電圧VNのラインに電流が流れ始めるタイミングで、制御信号CNT3を「L」レベルから「H」レベルに立ち上げてNチャネルMOSトランジスタ10をオンさせる。このとき、パワートランジスタ51のゲート・ソース間電圧Vgsが下降すべく、パワートランジスタ51のゲート51gからオフゲート抵抗8と、抵抗素子12とNチャネルMOSトランジスタ10との並列接続体と、PNPトランジスタ6とを介して負極側電圧VNのラインに電流Igが流れる。
ここで、パワートランジスタ51のゲート・ソース間電圧Vgsの低下に伴い、パワートランジスタ51のゲート51gから引き抜かれる電荷量は、パワートランジスタ51の特性として事前に把握することができる。電荷量はゲート電流Igを積分することによって求められるため、駆動回路の回路定数が決まれば、ゲート電流Igと、ゲート電流Igが流れる時間とを用いて電荷量を概算することができる。したがって、パワートランジスタ51のゲート電流Igが予め定められた負の値Inに到達してから予め定められた時間Tnの経過後に制御信号CNT3を「H」レベルから「L」レベルに立ち下げることにより、ミラー期間が開始するタイミングでNチャネルMOSトランジスタ10をオフさせてパワートランジスタ51のスイッチング速度を低下させることができる。
そこで、制御回路17は、電流検出器15の出力信号に基づいて、パワートランジスタ51のゲート電流Igが予め定められた負の値Inに到達してから予め定められた時間Tnの経過後に制御信号CNT3を「H」レベルから「L」レベルに立ち下げ、パワートランジスタ51のスイッチング速度を低下させる。予め定められた時間Tnは、ゲート電流Igが予め定められた負の値Inに到達してからミラー期間が開始するまでの時間に設定される。
この実施の形態2でも、実施の形態1と同じ効果が得られる。なお、ゲート電流Igを検出する手段としてCT等の電流センサをゲート配線に挿入する例を示したが、たとえばゲート抵抗両端の電圧を検出する方法でも同じ効果が得られることは言うまでもない。
図7は、実施の形態2の変更例を示す回路ブロック図であって、図6と対比される図である。図7を参照して、この変更例が図6の駆動回路と異なる点は、電流検出器15が電流検出器20,21で置換されている点である。電流検出器20は、オンゲート抵抗7の端子間電圧に基づいて、正極側電圧VPのラインからパワートランジスタ51のゲート51gに流れる正電流を検出し、その検出値を示す信号を制御回路16に出力する。制御回路16は、電流検出器20の出力信号に基づいて制御信号CNT2を生成する。電流検出器21は、オフゲート抵抗8の端子間電圧に基づいて、パワートランジスタ51のゲート51gから負極側電圧VNのラインに流れる負電流を検出し、その検出値を示す信号を制御回路17に出力する。制御回路17は、電流検出器21の出力信号に基づいて制御信号CNT3を生成する。この変更例では、実施の形態2と同じ効果が得られる他、パワートランジスタ51のゲート51gに流れる正電流と負電流を容易かつ正確に検出することができる。
実施の形態3.
図8は、この発明の実施の形態3による駆動回路の構成を示す回路ブロック図であって、図6と対比される図である。図8を参照して、この駆動回路が図6の駆動回路と異なる点は、電流検出器15が電荷量検出器25で置換され、制御回路16,17がそれぞれ制御回路28,29で置換されている点である。
電荷量検出器25は、電流検出器26および積分器27を含む。電流検出器26は、パワートランジスタ51のゲート電流Igの瞬時値を検出し、その検出値を示す信号を積分器27に出力する。積分器27は、電流検出器26によって検出されたパワートランジスタ51のゲート電流Igを積分し、その積分値を示す信号を制御回路28,29に出力する。積分器27の出力信号は、パワートランジスタ51のゲート容量に蓄えられた電荷量を示しており、電荷量検出器25の出力信号となる。
制御回路28は、積分器27の出力信号に基づいて制御信号CNT2を出力する。制御回路28は、パワートランジスタ51のゲート51gの電荷量が増大し始めるタイミングで、制御信号CNT2を「H」レベルから「L」レベルに立ち下げてPチャネルMOSトランジスタ9をオンさせる。これにより、パワートランジスタ51のゲート・ソース間電圧が負バイアス電圧から正バイアス電圧に向って上昇すべく、正極側電圧VPのラインからNPNトランジスタ5と、オンゲート抵抗7と、抵抗素子11とPチャネルMOSトランジスタ9との並列接続体とを介してパワートランジスタ51のゲート51gに電流が流れる。
図9は、パワートランジスタ51のゲート51gの電荷量Qgとゲート・ソース間電圧Vgsとの関係を示す図である。ターンオン動作を例に説明する。図9において、パワートランジスタ51のゲート・ソース間に正バイアス電圧を印加することでゲート・ソース間電圧は上昇するとともに、ゲート・ソース間容量に電荷が蓄積されていく。第1のミラー期間に到達するとゲート・ソース間電圧は略一定となるが、この間、主としてドレイン・ゲート間容量に電荷が蓄積されていく。その後、ゲート・ソース間電圧は再び上昇し、蓄積される電荷量は増大していく。このように、電荷量Qgとミラー期間の間には図9に示すような相関関係があるので、第1のミラー期間が出現する際の電荷量Qgの値Q1を事前に把握することができる。
そこで制御回路28は、電荷量検出器25の出力信号に基づいて、パワートランジスタ51のゲート51gの電荷量Qgが予め定められた値Q1になったことに応じて(すなわち第1のミラー期間が開始されたことに応じて)、制御信号CNT2を「L」レベルから「H」レベルに立ち上げ、パワートランジスタ51のスイッチング速度を低下させる。予め定められた値Q1は、第1のミラー期間の開始時に検出されるべきゲート電荷量Qgに設定される。
制御回路29は、電荷量検出器25の出力信号に基づいて制御信号CNT3を出力する。制御回路29は、パワートランジスタ51のゲート51gの電荷量が減少し始めるタイミングで、制御信号CNT3を「L」レベルから「H」レベルに立ち上げてNチャネルMOSトランジスタ10をオンさせる。これにより、パワートランジスタ51のゲート・ソース間電圧Vgsが下降すべく、パワートランジスタ51のゲート51gからオフゲート抵抗8と、抵抗素子12とNチャネルMOSトランジスタ10との並列接続体と、PNPトランジスタ6とを介して負極側電圧VNのラインに電流Igが流れる。
パワートランジスタ51のゲート・ソース間に負バイアス電圧を印加することでゲート・ソース間電圧は下降するとともに、電荷が引き抜かれていく。第2のミラー期間に到達するとゲート・ソース間電圧は略一定となるが、この間、主としてドレイン・ゲート間容量から電荷が引き抜かれていく。その後、ゲート・ソース間電圧は再び下降し、蓄積される電荷量は減少していく。このように、電荷量Qgとミラー期間の間には図9に示すような相関関係があるので、第2のミラー期間が出現する際の電荷量Qgの値Q2を事前に把握することができる。
そこで制御回路29は、電荷量検出器25の出力信号に基づいて、パワートランジスタ51のゲート51gの電荷量Qgが予め定められた値Q2になったことに応じて(すなわち第2のミラー期間が出現したことに応じて)、制御信号CNT3を「H」レベルから「L」レベルに立ち下げ、パワートランジスタ51のスイッチング速度を低下させる。
この実施の形態3でも、実施の形態1と同じ効果が得られる他、積分器27を設けたので、実施の形態2よりも精度よく駆動回路を制御することができる。
実施の形態4.
図10は、この発明の実施の形態4による駆動回路の構成を示す回路ブロック図であって、図6と対比される図である。図10を参照して、この駆動回路が図6の駆動回路と異なる点は、NPNトランジスタ5、PNPトランジスタ6がPNPトランジスタ32、NPNトランジスタ31、抵抗素子33〜36、PNPバイポーラトランジスタ37,38、およびNPNバイポーラトランジスタ39,40で置換されている点である。
抵抗素子35、PNPバイポーラトランジスタ37、オンゲート抵抗7、およびNPNトランジスタ31は、正極側電圧VPのラインと負極側電圧VNのラインとの間に直列接続され、抵抗素子34およびPNPバイポーラトランジスタ38は、正極側電圧VPのラインとパワートランジスタ51のゲート51gとの間に直列接続されている。また、PNPバイポーラトランジスタ37,38のベースは、ともにPNPバイポーラトランジスタ37のコレクタに接続されており、カレントミラー回路が構成されている。
NPNトランジスタ31は、制御信号CNT1が「H」レベルである場合にオンし、制御信号CNT1が「L」レベルである場合にオフする。NPNトランジスタ31がオンすると、正極側電圧VPのラインから抵抗素子35、PNPバイポーラトランジスタ37、オンゲート抵抗7、およびNPNトランジスタ31を介して負極側電圧VNのラインに電流が流れる。PNPバイポーラトランジスタ37に電流が流れると、その電流に応じた値の電流がPNPバイポーラトランジスタ38にも流れる。したがって、NPNトランジスタ31がオンすると、正極側電圧VPのラインから抵抗素子34およびPNPバイポーラトランジスタ38を介してパワートランジスタ51のゲート51gに正の定電流が流れ、パワートランジスタ51がターンオンする。
PNPトランジスタ32、オフゲート抵抗8、NPNバイポーラトランジスタ39、および抵抗素子36は、正極側電圧VPのラインと負極側電圧VNのラインとの間に直列接続され、NPNトランジスタ40および抵抗素子33は、パワートランジスタ51のゲート51gと負極側電圧VNのラインとの間に直列接続されている。また、NPNトランジスタ39,40のベースは、ともにNPNトランジスタ39のコレクタに接続されており、カレントミラー回路が構成されている。
PNPトランジスタ32は、制御信号CNT1が「L」レベルである場合にオンし、制御信号CNTが「H」レベルである場合にオフする。PNPトランジスタ32がオンすると、正極側電圧VPのラインからPNPトランジスタ32、オフゲート抵抗8、NPNバイポーラトランジスタ39、および抵抗素子36を介して負極側電圧VNのラインに電流が流れる。NPNバイポーラトランジスタ39に電流が流れると、その電流に応じた値の電流がNPNバイポーラトランジスタ40にも流れる。したがって、PNPトランジスタ32がオンすると、パワートランジスタ51のゲート51gからNPNバイポーラトランジスタ40および抵抗素子33を介して負極側電圧VNのラインに定電流が流出し、パワートランジスタ51はターンオフする。
次に、この駆動回路の動作について説明する。制御信号CNT1が「L」レベルから「H」レベルに立ち上げられると、PNPトランジスタ32がオフするとともにNPNトランジスタ31がオンする。また、制御回路16は、電流検出器15の出力信号に基づいて制御信号CNT2を出力する。制御回路16は、パワートランジスタ51のゲート51gに正電流が流れ始めるタイミングで、制御信号CNT2を「H」レベルから「L」レベルに立ち下げてPチャネルMOSトランジスタ9をオンさせる。これにより、正極側電圧VPのラインから抵抗素子35、PNPバイポーラトランジスタ37、オンゲート抵抗7、およびNPNトランジスタ31を介して負極側電圧VNのラインに電流が流れるとともに、正極側電圧VPのラインから抵抗素子34およびPチャネルMOSトランジスタ9の並列接続体と、PNPバイポーラトランジスタ38を介してパワートランジスタ51のゲート51gに電流Igが流れる。制御回路16の作用により、ゲート電流Igが予め定められた正の値Ipになってから予め定められた時間Tpの経過後にPチャネルMOSトランジスタ9がオフされて、パワートランジスタ51のスイッチング速度が抑制される。
制御信号CNT1が「H」レベルから「L」レベルに立ち下げられると、PNPトランジスタ32がオンするとともにNPNトランジスタ31がオフする。また、制御回路17は、パワートランジスタ51のゲート51gから負極側電圧VNのラインに電流が流れ始めるタイミングで、制御信号CNT3を「L」レベルから「H」レベルに立ち上げてNチャネルMOSトランジスタ10をオンさせる。これにより、正極側電圧VPのラインからPNPトランジスタ32、オフゲート抵抗8、NPNバイポーラトランジスタ39、および抵抗素子36を介して負極側電圧VNのラインに電流が流れるとともに、パワートランジスタ51のゲート51gからNPNバイポーラトランジスタ40と、抵抗素子33およびNチャネルMOSトランジスタ10の並列接続体とを介して負極側電圧VNのラインに電流Igが流れる。制御回路17の作用により、ゲート電流Igが予め定められた負の値Inになってから予め定められた時間Tnの経過後にNチャネルMOSトランジスタ10がオフされて、パワートランジスタ51のスイッチング速度が抑制される。
この実施の形態4でも、実施の形態2と同じ効果が得られる。
実施の形態5.
図11は、この発明の実施の形態5による駆動回路の構成を示す回路ブロック図であって、図6と対比される図である。図11を参照して、この駆動回路が図6の駆動回路と異なる点は、トランジスタ9,10、抵抗素子11,12および制御回路16,17が除去され、抵抗素子41、制御回路42、コンデンサ43およびNチャネルMOSトランジスタ44が追加されている点である。
抵抗素子41は、オンゲート抵抗7,オフゲート抵抗8間のノードとパワートランジスタ51のゲート51gとの間に接続される。電流検出器15は、パワートランジスタ51のゲート電流Igを検出し、その検出値を示す信号を制御回路42に出力する。コンデンサ43およびNチャネルMOSトランジスタ44は、パワートランジスタ51のゲート51gとソース51sとの間に直列接続される。NチャネルMOSトランジスタ44のゲートは、制御回路42からの制御信号CNT4を受ける。
制御回路42は、電流検出器15の出力信号に基づいて制御信号CNT4を生成する。制御信号CNT4は、パワートランジスタ51のゲート電流Igが予め定められた正の値Ipに到達してから予め定められた時間Tpの経過後に「H」レベルにされる。制御信号CNT4は、パワートランジスタ51のゲート51gに流れる電流が予め定められた正の値Ipより小さくなると「L」レベルにされる。制御信号CNT4は、パワートランジスタ51のゲート電流Igが予め定められた負の値Inに到達してから予め定められた時間Tnの経過後に「L」レベルにされる。制御信号CNT4は、パワートランジスタ51のゲート51gに流れる電流が予め定められた負の値Inより大きくなると「H」レベルにされる。
次に、この駆動回路の動作について説明する。制御信号CNT1が「L」レベルから「H」レベルに立ち上げられると、NPNトランジスタ5がオンするとともにPNPトランジスタ6がオフする。これにより、正極側電圧VPのラインからNPNトランジスタ5、オンゲート抵抗7および抵抗素子41を介してパワートランジスタ51のゲート・ソース間に正バイアス電圧が印加される。
パワートランジスタ51のゲート51gに流入するゲート電流Igが予め定められた正の値Ipに到達すると予め定められた時間Tpの経過後(すなわち第1のミラー期間が出現するとき)に、制御信号CNT4が「L」レベルから「H」レベルに立ち上げられてNチャネルMOSトランジスタ44がオンする。これにより、パワートランジスタ51のゲート51gおよびソース51s間にコンデンサ43が接続され、ゲート・ソース間電圧Vgsの上昇速度が抑制されてパワートランジスタ51のスイッチング速度が抑制される。
制御信号CNT1が「H」レベルから「L」レベルに立ち下げられると、NPNトランジスタ5がオフするとともにPNPトランジスタ6がオンする。これにより、負極側電圧VNのラインからPNPトランジスタ6、オフゲート抵抗8および抵抗素子41を介してパワートランジスタ51のゲート・ソース間に負バイアス電圧が印加される。
パワートランジスタ51のゲート51gから流出するゲート電流Igが予め定められた負の値Inに到達すると予め定められた時間Tnの経過後(すなわち第2のミラー期間が出現するとき)に、制御信号CNT4が「H」レベルから「L」レベルに立ち下げられてNチャネルMOSトランジスタ44がオフする。これにより、パワートランジスタ51のゲート51gおよびソース51s間のコンデンサ43が解放され、ゲート・ソース間電圧Vgsの下降速度が抑制されてパワートランジスタ51のスイッチング速度が抑制される。
この実施の形態5でも、実施の形態2と同じ効果が得られる。
なお、制御信号CNT1が制御回路42に与えられ、制御回路42は、制御信号CNT1のターンオン指令に応答して制御信号CNT4を「L」レベルから「H」レベルに立ち上げてもよく、また、ターンオフ指令に応答して制御信号CNT4を「H」レベルから「L」レベルに立ち下げてもよい。
実施の形態6.
図12は、この発明の実施の形態6による駆動回路の構成を示す回路ブロック図であって、図11と対比される図である。図12を参照して、この駆動回路が図11の駆動回路と異なる点は、抵抗素子45が追加されている点である。抵抗素子45は、NチャネルMOSトランジスタ44とパワートランジスタ51のソース51sとの間に接続される。
制御回路42の動作により、パワートランジスタ51のゲート51gに流入するゲート電流Igが予め定められた正の値Ipに到達すると、予め定められた時間Tpの経過後(すなわち第1のミラー期間が出現するとき)に、制御信号CNT4が「L」レベルから「H」レベルに立ち上げられてNチャネルMOSトランジスタ44がオンする。これにより、パワートランジスタ51のゲート51gおよびソース51s間にコンデンサ43および抵抗素子45が接続されるため、ゲート・ソース間電圧Vgsの上昇速度が抑制され、結果的にパワートランジスタ51のスイッチング速度が抑制される。抵抗素子45を挿入することで時定数の調整が容易となるため、スイッチング速度抑制の制御が容易となる。
また、制御回路42の動作により、パワートランジスタ51のゲート51gから流出するゲート電流Igが予め定められた負の値Inに到達すると、予め定められた時間Tnの経過後(すなわち第2のミラー期間が出現するとき)に、制御信号CNT4が「H」レベルから「L」レベルに立ち下げられてNチャネルMOSトランジスタ44がオフする。これにより、パワートランジスタ51のゲート51gおよびソース51s間のコンデンサ43が解放されるため、ゲート・ソース間電圧Vgsの下降速度が抑制され、結果的にパワートランジスタ51のスイッチング速度が抑制される。抵抗素子45を挿入することで、スイッチング速度を抑制する時定数の調整が容易となる。
なお、以上の実施の形態1〜6および複数の変更例を適宜組み合わせてもよいことはいうまでもない。
また、実施の形態1〜6のいずれかの実施の形態で示した駆動回路と、パワートランジスタ51とを1つのパッケージに収容してパワーモジュールを構成してもよい。複数組の駆動回路、パワートランジスタ51、およびダイオード52を含む電力変換器を1つのパッケージに搭載してパワーモジュールを構成してもよい。
また、珪素よりバンドギャップが大きいワイドバンドギャップ半導体をパワートランジスタ51として用いる場合、珪素を用いる場合よりも高速なスイッチング動作が可能となるため、スイッチング動作時に発生するノイズが一層大きくなる虞がある。そのため、上述した実施の形態1〜6は、パワートランジスタ51としてワイドバンドギャップ半導体を用いる場合において好適である。ワイドバンドギャップ半導体は、炭化珪素、窒化ガリウム、酸化ガリウム、ダイヤモンドのうちのいずれか一つである。
今回開示された実施の形態はすべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は上記した説明ではなくて請求の範囲によって示され、請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。
1〜3,16,17,28,29,42 制御回路、5 NPNトランジスタ、6 PNPトランジスタ、31,32 スイッチ、7 オンゲート抵抗、8 オフゲート抵抗、11,12,33〜36,41,45 抵抗素子、9 PチャネルMOSトランジスタ、10,44 NチャネルMOSトランジスタ、15,20,21,26 電流検出器、25 電荷量検出器、27 積分器、37,38 PNPバイポーラトランジスタ、39,40 NPNバイポーラトランジスタ、43 コンデンサ、51 パワートランジスタ、52 ダイオード。

Claims (11)

  1. 制御信号に応答してパワートランジスタを駆動させる駆動回路であって、
    前記パワートランジスタのゲート電流を検出する電流検出器と、
    前記電流検出器の検出結果に基づいて動作し、前記ゲート電流が予め定められた第1の電流値に到達してから第1のミラー期間が現れるまでの時間が経過したことに応じて前記駆動回路のゲート駆動力を低下させる制御回路とを備える、駆動回路。
  2. 前記制御回路は、前記ゲート電流が予め定められた第2の電流値に到達してから第2のミラー期間が現われるまでの時間が経過したことに応じて前記駆動回路の前記ゲート駆動力を低下させる、請求項に記載の駆動回路。
  3. 前記電流検出器は、前記ゲート電流が流れる電流経路にある抵抗素子の端子間電圧に基づいて前記ゲート電流を検出する、請求項またはに記載の駆動回路。
  4. 前記制御回路は、前記ゲート電流が前記第1の電流値に到達してから前記第1のミラー期間が現われるまでの時間を、前記電流検出器の出力信号を積分することで得られる前記パワートランジスタのゲート電荷量が、前記第1のミラー期間に現れたときに検出されるべきゲート電荷量に到達したことに応じて判定する、請求項1から3のいずれか1項に記載の駆動回路。
  5. 前記制御回路は、さらに、前記ゲート電流が前記第2の電流値に到達してから前記第2のミラー期間が現われるまでの時間を、前記電流検出器の出力信号を積分することで得られる前記パワートランジスタのゲート電荷量が、前記第2のミラー期間に現れたときに検出されるべきゲート電荷量に到達したことに応じて判定する、請求項に記載の駆動回路。
  6. 前記パワートランジスタのゲートに正バイアス電圧を印加する正極側電圧と前記ゲートとの間に接続されるオンゲート抵抗と、
    前記ゲートに負バイアス電圧を印加する負極側電圧と前記ゲートとの間に接続されるオフゲート抵抗と、
    前記オンゲート抵抗および前記オフゲート抵抗の少なくとも一方に並列に接続される半導体スイッチとをさらに備える、請求項1からのいずれか1項に記載の駆動回路。
  7. 前記パワートランジスタのゲート、第1の電極および第2の電極のうちの前記ゲートおよび前記第1の電極の間に直列に接続されるコンデンサおよびスイッチをさらに備える、請求項1からのいずれか1項に記載の駆動回路。
  8. 前記パワートランジスタのゲート、第1の電極および第2の電極のうちの前記ゲートおよび前記第1の電極の間に直列に接続されるコンデンサ、スイッチおよび抵抗をさらに備える、請求項1からのいずれか1項に記載の駆動回路。
  9. 請求項1から請求項のいずれか1項に記載の駆動回路と、
    前記パワートランジスタとを備える、パワーモジュール。
  10. 前記パワートランジスタは、珪素よりバンドギャップが大きいワイドバンドギャップ半導体で構成されている、請求項に記載のパワーモジュール。
  11. 前記ワイドバンドギャップ半導体は、炭化珪素、窒化ガリウム、酸化ガリウム、ダイヤモンドのうちのいずれか一つである、請求項10に記載のパワーモジュール。
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