JP6538721B2 - レーザー・コンプトンx線源を用いた二色放射線撮影の方法 - Google Patents
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Description
本願は、US仮出願番号61/990、642「レーザー・コンプトンX線源を用いた二色放射線撮影システムおよび方法」(出願日:2014年5月8日)に基づく優先権を主張するものであり、当該仮出願は参照によって本明細書に含まれる。本願はUS特許出願番号14/274、348「効率的な狭帯域レーザー・コンプトンX線およびガンマ線源の調節された方法」(出願日:2014年5月9日)の部分継続出願であり、当該出願は参照によって本明細書に含まれる。US特許出願番号14/274、348は、US仮出願番号61/821、813「効率的な狭帯域レーザー・コンプトンX線およびガンマ線源の調節された長パルスの方法」(出願日:2013年5月10日)に基づく優先権を主張するものであり、当該仮出願は参照によって本願に含まれる。US特許出願番号14/274、348は、US仮出願番号61/990、637「レーザー・コンプトンX線またはガンマ線源を用いた超低線量フィードバック撮像システムおよび方法」(出願日:2014年5月8日)に基づく優先権を主張するものであり、当該仮出願は参照によって本明細書に含まれる。US特許出願番号14/274、348は、US仮出願番号61/990、642「レーザー・コンプトンX線源を用いた2色放射線撮影システムおよび方法」(出願日:2014年5月8日)に基づく優先権を主張するものであり、当該仮出願は参照によって本明細書に含まれる。
〔連邦政府資金による研究または開発に関する表明〕
合衆国政府は、合衆国エネルギー省とローレンス・リバモア・ナショナル・セキュリティ、エルエルシーとのあいだで、ローレンス・リバモア・ナショナル・ラボラトリーの運営に関して締結された契約番号DE‐AC52‐07NA27344に基づき、本発明に対する権利を有する。
〔背景技術〕
〔技術分野〕
本発明は、レーザー・コンプトン散乱によるX線およびガンマ線発生に関する。より詳しくは、本発明は、レーザー・コンプトンX線源を用いたサブトラクション放射線医学に関する。
〔背景技術〕
従来の二次元X線/ガンマ線撮影では、患者または対象は広域のX線またはガンマ線を照射され、送られた信号が二次元フィルムまたは検出器アレイに記録される。対象内の物質の密度のばらつきは、貫通放射のためにビーム伝達におけるばらつきを引き起こし、こうしたばらつきはフィルムまたは検出器アレイ上で影として現れる。この撮像技術のダイナミック・レンジは、検出器システムの応答反応、および対象の厚みと対象によるX線の二次散乱によって決まる。さらに、対象のすべての部位は、同じ入力束(単位面積当たりの光子)を受け、対象に衝突する総線量は、対象の面積および対象の最も密度の高い領域を貫通するのに必要な束、すなわち、対象内の対象構造を決定するのに必要な束によって設定される。この撮像の様相では、対象全体が高い線量を受ける。
〔発明の概要〕
対象の高コントラストサブトラクションX線画像をレーザー・コンプトンX線源によるスキャン照射で生成する新たな方法を記載する。本発明はレーザー・コンプトン散乱プロセスのスペクトルと角度の相関関係および特別に設計した開口部および/または検出器を用いて、細いX線ビームを生成/記録する。当該ビームのスペクトルは、高エネルギーX線の軸上領域と、その周辺のわずかに低いエネルギーX線の領域とからなる。レーザー・コンプトン源の終端エネルギーは、高エネルギーX線領域が、対象内の特定の造影剤または特定物質のK殻吸収端(K端)を超える光子を含み、一方、その外側の領域が、同じ造影剤または特定物質のK端より小さいエネルギーを有する光子からなるように設定される。対象をこのビームで照射することで、当該ビームのそれぞれの部分で照射された領域について、当該対象のK端を超える吸収反応とK端未満の吸収反応とを同時に記録する。ビームをスキャンするかあるいはビームに対して対象をスキャンすることで、当該対象のK端を超える空間反応およびK端未満の空間反応を構築することができる。これらの空間反応は、適切に標準化され互いからサブトラクトされると、対象内の特定の造影剤または特定物質の存在または不在に対する感度を有するマップを生成する。それゆえ、サブトラクション画像は、対象内の造影剤または特定物質の存在を示す高コントラスト放射線写真となる。
〔図面の簡単な説明〕
添付の図面は、本開示に組み込まれその一部を成すものであり、本発明の実施形態を示し、明細書とともに本発明の本質を説明するものである。
〔発明を実施するための形態〕
本発明では、レーザー・コンプトン散乱プロセスを用いてX線ビームを生成する。このX線ビームは、二つの異なるX線スペクトルを有する二つの異なる空間的領域から成っている。一方の領域は軸上にあり、より高いエネルギーの光子を有する。他方の領域は上記一方の領域を取り巻き、より低いエネルギーの光子を有する。このビームはそれから、スキャン撮像の様相で用いられて、対象の二色サブトラクションX線画像を生成する。レーザー・コンプトンX線ビームエネルギーを適切に設定しているので、このサブトラクション画像は、放射線撮影された対象内の特定の物質の存在に対してのみ高い感度を有する。この高コントラスト低線量の画像は、レーザー・コンプトンX線源の終端エネルギーを調整することなしに、つまり、X線源を調整することなしに、得られる。
Claims (30)
- 試験要素のK殻吸収端より大きなエネルギーを有する第一ビーム領域を含むX線ビームを供給する工程であって、当該X線ビームはさらに、当該試験要素のK殻吸収端より小さなエネルギーを有する第二ビーム領域を含む、工程と、
前記第一ビーム領域と前記第二ビーム領域とが重複しないように前記X線ビームを対象上の第一の位置に向ける工程と、
前記第一ビーム領域の第一エネルギーと前記第二ビーム領域の第二エネルギーそれぞれの部分が前記第一の位置を通過したあと、前記第一エネルギーと前記第二エネルギーとを検出する工程と、
前記第一エネルギーのパターンと前記第二エネルギーのパターンとの差異を計算する工程と、
前記差異を表示する工程と、を含む方法。 - 前記X線ビームをレーザー・コンプトンX線源で生成する工程をさらに含む、請求項1に記載の方法。
- 前記差異を表示する工程は、前記差異をデータまたは画像として表示する工程を含む、請求項1に記載の方法。
- 請求項1に記載の諸工程を異なる位置で複数回繰り返す工程をさらに含む、請求項1に記載の方法。
- 前記対象と前記X線ビームそれぞれの相対的位置を互いにラスターすることにより、請求項1に記載の諸工程を複数回繰り返す工程をさらに含む、請求項1に記載の方法。
- 前記X線ビームは前記源と前記対象とのあいだの開口部を通され、前記X線ビームの前記第一ビーム領域と前記第二ビーム領域のみが前記対象へと伝搬する、請求項1に記載の方法。
- 前記第一ビーム領域または前記第二ビーム領域のうち一度に一方しか前記位置に伝搬できず、その後、他方が前記位置に伝搬する、請求項6に記載の方法。
- 前記対象によって散乱されたX線の少なくとも一部を、高Zチューブを用いて検出されないようにする、請求項1に記載の方法。
- 前記検出する工程は、前記第一エネルギーを検出する内側領域および前記第二エネルギーを検出する外側領域を有するX線検出器を用いて行われる、請求項1に記載の方法。
- 前記検出する工程は、二次元X線検出器アレイを用いて行われる、請求項1に記載の方法。
- 前記二次元検出器アレイの画素のうち、前記第一エネルギーに完全に覆われた画素だけを用いて前記第一エネルギーを計算し、前記二次元検出器アレイの画素のうち、前記第二エネルギーに完全に覆われた画素だけを用いて前記第二エネルギーを計算する、請求項10に記載の方法。
- 前記X線ビームをスリットに通すことで、前記第一ビーム領域の一つの寸法と前記第二ビーム領域の一つの寸法とを同じにする、請求項1に記載の方法。
- 前記X線ビームを開口部に通すことで、前記第一ビーム領域と前記第二ビーム領域とのあいだに、どちらの領域の光子も存在しない異なる領域を存在させる、請求項1に記載の方法。
- 前記検出する工程は、面積が小さいので前記第一エネルギーと前記第二エネルギーのうち一方しか一度に検出できないX線検出器を用いて行われ、当該方法はさらに、前記検出器を前記第一ビーム領域と前記第二ビーム領域とのあいだでディザリングする工程を含む、請求項1に記載の方法。
- 前記第一領域と前記第二領域は開口部を通されることでほぼ同じ面積を有する、請求項1に記載の方法。
- 前記第二領域のサイズは、前記第二ビーム領域に含まれる光子の数が前記第一領域に含まれる光子の数に等しくなるように設定される、請求項1に記載の方法。
- 前記ビームの通路内で前記対象より前に開口部が設けられ、当該開口部は前記第一ビーム領域と前記第二ビーム領域のうち一方だけが通るように構成されており、当該方法はさらに、前記開口部をディザリングして、まず一方のビーム領域を、続いて他方のビーム領域を通す、請求項1に記載の方法。
- 試験要素のK殻吸収端より大きなエネルギーを有する第一ビーム領域を含むX線ビームを供給する源であって、当該X線ビームはさらに、当該試験要素のK殻吸収端より小さなエネルギーを有する第二ビーム領域を含む、源と、
前記第一ビーム領域の第一エネルギーと前記第二ビーム領域の第二エネルギーそれぞれの部分が対象の第一の位置を通過したあと(ここで、前記第一ビーム領域と前記第二ビーム領域とは、前記対象上の第一の位置に向ける際に重複しない)、前記第一エネルギーと前記第二エネルギーとを検出するよう構成された検出器と、
前記第一エネルギーのパターンと前記第二エネルギーのパターンとの差異を計算するよう構成された処理装置と、
前記差異を表示するよう構成された表示装置と、を備える装置。 - 前記源はレーザー・コンプトンX線源を含んでいる、請求項18に記載の装置。
- 前記源と前記対象とのあいだに位置する第一開口部をさらに備え、当該開口部は、前記第一ビーム領域と前記第二ビーム領域のみを前記対象へと伝搬させる、請求項18に記載の装置。
- 前記第一ビーム領域または前記第二ビーム領域のうち一度に一方しか前記位置に伝搬できず、その後、他方が前記位置に伝搬する、請求項20に記載の装置。
- 前記対象と前記検出器との間に位置する高Zチューブをさらに備え、前記高Zチューブは、前記対象によって散乱されたX線の少なくとも一部を検出されないようにする、請求項18に記載の装置。
- 前記検出器は、前記第一エネルギーを検出する内側領域および前記第二エネルギーを検出する外側領域を有する、請求項18に記載の装置。
- 前記検出器は二次元X線検出器アレイを含む、請求項18に記載の装置。
- 前記源と前記対象とのあいだに位置するスリット開口部をさらに備え、前記スリットは、前記第一ビーム領域の一つの寸法と前記第二ビーム領域の一つの寸法とをほぼ同じにする、請求項18に記載の装置。
- 前記ビーム内に位置する環をさらに備え、当該環は、前記X線ビームを開口部に通すことで、前記第一ビーム領域と前記第二ビーム領域とのあいだに、どちらの領域の光子も存在しない異なる領域を存在させる、請求項18に記載の装置。
- 前記検出器は面積が小さいので前記第一エネルギーと前記第二エネルギーのうち一方しか一度に検出できず、当該装置はさらに、前記検出器を前記第一ビーム領域と前記第二ビーム領域とのあいだでディザリングする手段を備えている、請求項18に記載の装置。
- 前記ビーム内に位置する開口部を有し、当該開口部は、(i)前記第一領域と前記第二領域がほぼ同じ面積を持つよう設定すること、(ii)前記第二領域のサイズを、前記第二ビーム領域に含まれる光子の数が前記第一領域に含まれる光子の数に等しくなるように設定すること、(iii)前記第一ビーム領域と前記第二ビーム領域のうち一方だけを通すこと、から成る群から選ばれる一つの機能を果たし、当該装置はさらに、前記開口部をディザリングして、まず一方のビーム領域を、続いて他方のビーム領域を通させる手段を備えている、請求項18に記載の装置。
- レーザー・コンプトンX線源により生成されたX線ビームを用いた二色放射線撮影の方法であって、当該方法は、
レーザー・コンプトンX線源からX線ビームを供給する工程であって、当該X線ビームは、試験要素のK殻吸収端より大きなエネルギーを有する第一ビーム領域と、当該試験要素のK殻吸収端より小さなエネルギーを有する第二ビーム領域とを含む、工程と、
前記第一ビーム領域を対象の第一の位置に向ける工程と(ここで、前記第一ビーム領域と前記第二ビーム領域とは重複しない)、
前記対象を前記第一の位置で通過した前記第一ビーム領域からの任意の光子の一部分の第一エネルギー測定値を取得する工程と、
前記第二ビーム領域を前記第一の位置に向ける工程と、
前記対象を前記第一の位置で通過した前記第二ビーム領域からの任意の光子の一部分の第二エネルギー測定値を取得する工程と、
前記第一エネルギー測定値と前記第二エネルギー測定値との差異を計算する工程と、
前記差異を表示する工程と、を含む方法。 - レーザー・コンプトンX線源により生成されたX線ビームを用いた二色放射線撮影の装置であって、当該装置は、
X線ビームを供給するレーザー・コンプトンX線源であって、当該X線ビームは、試験要素のK殻吸収端より大きなエネルギーを有する第一ビーム領域と、当該試験要素のK殻吸収端より小さなエネルギーを有する第二ビーム領域とを含む、レーザー・コンプトンX線源と、
第一エネルギー測定値と第二エネルギー測定値とを取得するよう構成され位置している検出器であって、当該第一エネルギー測定値は、対象を当該対象上の第一の位置で通過した前記第一ビーム領域からの任意の光子の一部分の測定値であり、当該第二エネルギー測定値は、前記対象を前記第一の位置で通過した前記第二ビーム領域からの任意の光子の一部分の測定値である、検出器と(ここで、前記第一ビーム領域と前記第二ビーム領域とは、前記対象を通過して伝播する際に重複しない)、
前記第一エネルギー測定値と前記第二エネルギー測定値との差異を計算する手段と、
前記差異を表示する手段と、を備える装置。
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