JP6312000B2 - 分光装置 - Google Patents
分光装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP6312000B2 JP6312000B2 JP2015527159A JP2015527159A JP6312000B2 JP 6312000 B2 JP6312000 B2 JP 6312000B2 JP 2015527159 A JP2015527159 A JP 2015527159A JP 2015527159 A JP2015527159 A JP 2015527159A JP 6312000 B2 JP6312000 B2 JP 6312000B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- wavelength
- target
- spectroscopic device
- unit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 87
- 239000007787 solid Substances 0.000 claims description 75
- 230000008859 change Effects 0.000 claims description 49
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 40
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 34
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 33
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 claims description 30
- 230000031700 light absorption Effects 0.000 claims description 14
- 230000010287 polarization Effects 0.000 claims description 13
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 10
- 238000009529 body temperature measurement Methods 0.000 claims description 6
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 claims description 5
- 238000004611 spectroscopical analysis Methods 0.000 claims 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 39
- 238000000034 method Methods 0.000 description 28
- 239000003921 oil Substances 0.000 description 18
- 238000000862 absorption spectrum Methods 0.000 description 16
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 12
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 11
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 10
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 9
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 9
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 6
- 238000002835 absorbance Methods 0.000 description 5
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 5
- 230000008569 process Effects 0.000 description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 230000006870 function Effects 0.000 description 4
- 230000004044 response Effects 0.000 description 4
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 3
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 3
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 3
- 238000007710 freezing Methods 0.000 description 3
- 230000008014 freezing Effects 0.000 description 3
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 3
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 3
- 230000002123 temporal effect Effects 0.000 description 3
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 3
- 238000004590 computer program Methods 0.000 description 2
- 238000009833 condensation Methods 0.000 description 2
- 230000005494 condensation Effects 0.000 description 2
- 239000002537 cosmetic Substances 0.000 description 2
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 2
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 2
- 230000003044 adaptive effect Effects 0.000 description 1
- 230000004075 alteration Effects 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 1
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 1
- 210000001061 forehead Anatomy 0.000 description 1
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002367 halogens Chemical class 0.000 description 1
- 230000036541 health Effects 0.000 description 1
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000003020 moisturizing effect Effects 0.000 description 1
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 230000003746 surface roughness Effects 0.000 description 1
- 238000010408 sweeping Methods 0.000 description 1
- 238000002366 time-of-flight method Methods 0.000 description 1
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 1
- 238000012800 visualization Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J3/42—Absorption spectrometry; Double beam spectrometry; Flicker spectrometry; Reflection spectrometry
- G01J3/427—Dual wavelengths spectrometry
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/02—Details
- G01J3/0205—Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows
- G01J3/0208—Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows using focussing or collimating elements, e.g. lenses or mirrors; performing aberration correction
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/02—Details
- G01J3/0205—Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows
- G01J3/021—Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows using plane or convex mirrors, parallel phase plates, or particular reflectors
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/02—Details
- G01J3/0205—Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows
- G01J3/0224—Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows using polarising or depolarising elements
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/02—Details
- G01J3/0205—Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows
- G01J3/0237—Adjustable, e.g. focussing
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/02—Details
- G01J3/0205—Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows
- G01J3/0243—Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows having a through-hole enabling the optical element to fulfil an additional optical function, e.g. a mirror or grating having a throughhole for a light collecting or light injecting optical fiber
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/02—Details
- G01J3/0278—Control or determination of height or angle information for sensors or receivers
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/02—Details
- G01J3/0289—Field-of-view determination; Aiming or pointing of a spectrometer; Adjusting alignment; Encoding angular position; Size of measurement area; Position tracking
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/02—Details
- G01J3/10—Arrangements of light sources specially adapted for spectrometry or colorimetry
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J3/2803—Investigating the spectrum using photoelectric array detector
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J3/30—Measuring the intensity of spectral lines directly on the spectrum itself
- G01J3/32—Investigating bands of a spectrum in sequence by a single detector
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J3/42—Absorption spectrometry; Double beam spectrometry; Flicker spectrometry; Reflection spectrometry
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J3/42—Absorption spectrometry; Double beam spectrometry; Flicker spectrometry; Reflection spectrometry
- G01J3/433—Modulation spectrometry; Derivative spectrometry
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/35—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
- G01N21/359—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light using near infrared light
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/42—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
- G01J2001/4242—Modulated light, e.g. for synchronizing source and detector circuit
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/02—Details
- G01J3/06—Scanning arrangements arrangements for order-selection
- G01J2003/064—Use of other elements for scan, e.g. mirror, fixed grating
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/02—Details
- G01J3/10—Arrangements of light sources specially adapted for spectrometry or colorimetry
- G01J2003/102—Plural sources
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/02—Details
- G01J3/10—Arrangements of light sources specially adapted for spectrometry or colorimetry
- G01J2003/102—Plural sources
- G01J2003/104—Monochromatic plural sources
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/02—Details
- G01J3/10—Arrangements of light sources specially adapted for spectrometry or colorimetry
- G01J2003/102—Plural sources
- G01J2003/106—Plural sources the two sources being alternating or selectable, e.g. in two ranges or line:continuum
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
図24は、特許文献1に記載された従来の液体漏洩検出装置301を用いた測定手法を説明する図である。図24において、液体漏洩検出装置301は、波長2μmから25μmの中間赤外光304を、油分封入設備302の表面に走査しながら照射する。さらに照射される中間赤外光304の波長は、油分303の吸収波長である3.6μmの波長を含んで掃引されている。油分封入設備302から油分303の一部が漏れ油分303aのように漏れ出していると、照射された中間赤外光304が漏れ油分303aで吸収されて反射散乱光の強度が3.6μm近傍で低下する。よって、従来の液体漏洩検出装置301では、反射散乱光の強度を測定する(吸収スペクトルを算出する)ことで、漏れ油分303aが有ることを検知していた。
そこで、本発明者らは、検出対象である物体における光吸収率が大きくなる特定の波長に着目し、この特定の波長に基づいて分光処理に用いる照射光の波長を設定することで、小型で安価な分光装置を新たに創案した。
この新たな創案に基づいた本発明の様々な態様は、次の通りである。
発明に基づいた本開示の一態様に係る分光装置は、特定の物体による所定の吸収率を持つ第1波長の光と、特定の物体による吸収率が第1波長よりも小さい第2波長の光とを、ターゲットに照射する光照射部と、第1波長の光がターゲットを透過又は反射した第1の散乱光、及び第2波長の光がターゲットを透過又は反射した第2の散乱光を、それぞれ受光する受光部と、受光部が受光した第1の散乱光と第2の散乱光との差異に基づいて、ターゲットにおける特定の物体の検出に利用される情報を生成する計測部とを備える。
例えば、特定の物体が水である場合、第1波長を1.4μm以上に、かつ、第2波長を1.3μm以下に設定することができる。
ここで、特定の物体が存在する場合に受光部が受光した第1の散乱光の強度と第2の散乱光の強度との比率が、10以上となるように第1波長及び第2波長を設定しておけば、判断の精度が向上する。また、第1波長及び第2波長に設定に関しては、特定の物体による第1波長の光の吸収率の温度変化量は、特定の物体による第2波長の光の吸収率の温度変化量よりも10倍以上大きくなるように第1波長及び第2波長を設定しておくと、第1の散乱光の強度と第2の散乱光の強度との比率から温度変化を把握することができる。
この一態様によれば、ターゲットにおける特定の物体の存在有無を二次元領域の情報として検出することができる。
この一態様によれば、特定の物体が存在するターゲット上の場所を二次元画像で視覚的に容易に把握することができる。
この場合、第2波長を、カメラが感度を有する波長範囲の不可視光の波長に設定しておくと、カメラの近くに居る人に影響を与えることがなくなる。
この一態様によれば、特定の物体が存在するターゲット上の場所を三次元形状で容易に把握することができる。
この一態様によれば、ターゲット上における特定の物体の存在有無の判断を温度によって適切に補正することができる。
なお、以下で説明する実施形態は、いずれも本発明の一具体例を示すものである。以下の実施形態で示される数値、形状、構成要素、ステップ、ステップの順序等は一例であり、本発明を限定する主旨ではない。また、以下の実施形態における構成要素のうち、最上位概念を示す独立請求項に記載されていない構成要素については、任意の構成要素として説明される。また、全ての実施形態において、各々の内容を組み合わせることもできる。
(第1の実施形態)
図1は、第1の実施形態における分光装置10の構成図である。本分光装置10は、検査箇所である被検体又は被検面(以下、ターゲットと称する)に所定の光を照射し、このターゲットから受ける散乱光(反射光又は透過光)に基づいて、検出すべき物体16がターゲットに存在するか否かの判断に役立つ情報を生成するものである。図1に示す分光装置10は、固体光源11a及び11bと、光源制御部12と、レンズ13a及び13bと、波長選択性光分岐素子14と、前光モニタ15と、受光部17と、計測部18とを備える。
固体光源11aは、波長λ1の光を直線偏光として出射する光源である。固体光源11bは、波長λ2の光を直線偏光として出射する光源である。この固体光源11a及び11bは、固体光源11aの出射光の偏光面と固体光源11bの出射光の偏光面とが平行になるように、配置されている。また、波長λ1と波長λ2とは異なる値であり、例えば物体16が吸収し易い(吸収率が大きい)波長を「λ1」に、波長λ1よりも物体16が吸収し難い(吸収率が小さい)波長を「λ2」に、それぞれ設定される。固体光源11a及び11bとしては、発光ダイオード、半導体レーザ、スーパールミネッセントダイオード等を用いることが可能である。発光ダイオードやスーパールミネッセントダイオードを用いる場合には、発光波長幅が広いのでフィルタを用いて波長を狭帯域化しても構わない。
なお、本実施形態では固体光源の数を2個として説明するが、これに限られない。本実施形態における分光装置10では、少なくとも2個の固体光源を用いればよく、3個以上の固体光源を用いてもよい。その場合は、後述する波長選択性光分岐素子14やレンズ13a及び13bを同様に追加すればよい。
図3では、上述した光源制御部12による駆動方法のうち、図2の(a)に例示した固体光源11aと固体光源11bとを交互に駆動する方法に基づいて、照射された光がターゲットで反射する光を測定する分光装置10の動作を説明する。
図4は、水の吸収波長を説明する図である。図4のように、水の光吸収ピークは1.94μm、1.45μm、0.98μm、及び0.74μmにある。そこで、例えば、固体光源11aに波長λ1=1.45μm近傍の光を用い、固体光源11bに吸収係数が一桁以上小さな波長λ2=1.2μm以下の光を用いる。
図5は、第2の実施形態における分光装置20の構成図である。本分光装置20は、固体光源11a及び11bと、光源制御部12と、レンズ13a及び13bと、波長選択性光分岐素子14と、前光モニタ15と、受光部17と、計測部18と、偏光ビームスプリッタ21とを備える。
本分光装置20は、上記分光装置10と比べて、偏光ビームスプリッタ21の構成が異なる。以下、この異なる構成を説明し、他の同じ構成については同じ符号を用い説明を省略する。
よって、ターゲットから散乱光として再び偏光ビームスプリッタ21に入力される光のうち、ターゲットの内部に入って吸収及び散乱反射されて生成されたS偏光成分は、偏光ビームスプリッタ21で反射されて受光部17で受光される。一方、ターゲットの表面で反射されたP偏光成分の光は、偏光ビームスプリッタ21で反射せず透過するため、受光部17で受光されない。
図6は、第3の実施形態における分光装置30の構成図である。本分光装置30は、固体光源11a及び11bと、光源制御部12と、レンズ13a及び13bと、波長選択性光分岐素子14と、前光モニタ15と、受光部17と、計測部18と、穴あきレンズ31と、ハーフミラー32とを備える。
本分光装置30は、上記分光装置10と比べて、穴あきレンズ31及びハーフミラー32の構成が異なる。以下、この異なる構成を説明し、他の同じ構成については同じ符号を用い説明を省略する。
なお、ハーフミラー32の代わりに、第2の実施形態で説明した偏光ビームスプリッタ21を用いることも可能である。
図7は、第4の実施形態における分光装置40の構成図である。本分光装置40は、固体光源11a及び11bと、光源制御部12と、レンズ13a及び13bと、波長選択性光分岐素子14と、前光モニタ15と、受光部17と、計測部18と、放物面鏡41とを備える。
本分光装置40は、上記分光装置10と比べて、放物面鏡41の構成が異なる。以下、この異なる構成を説明し、他の同じ構成については同じ符号を用い説明を省略する。
上述した第1〜第4の実施形態では、ターゲットについてワンポイントで離散的吸収スペクトルの算出や物体16の存在有無の検出を行う分光装置を説明した。
この第5の実施形態以降では、ターゲットにおける離散的吸収スペクトルの算出や物体16の存在有無の検出を、広い領域で二次元的に行う分光装置を説明する。
本分光装置50は、上記分光装置10と比べて、走査部51、走査駆動部52、及び出力部53の構成が異なる。これらの異なる構成は、クレームされた「光照射部」の一部となる。以下、この異なる構成を説明し、他の同じ構成については同じ符号を用い説明を省略する。
図9は、走査部51、走査駆動部52、及び出力部53を備えた分光装置50の動作フローチャートを示す図である。なお、図9も上記図3と同様に、固体光源11aと固体光源11bとを交互に駆動する方法に基づいて、照射された光がターゲットで反射する光を測定する分光装置50の動作を説明する。
しかしながら、2つの光路の位置ズレ(量や方向)が前もってわかるのであれば、走査制御或いは取得したデータを位置ズレの時間(タイミング)だけずらして演算することによってこの位置ズレを補正することで、2つの光路をターゲット上で略一致させることができる。よって、以降の実施形態における走査部51及び走査駆動部52の構成を備える分光装置では、走査制御もしくは演算によって位置ズレを吸収できる範囲内で2つの光路がズレていても構わない。
このように処理単位を小さくすることで、画像表示(比率算出)のために一時的に保持しておく画像データの量が、1つ又は複数の走査点分だけでよいので、メモリ容量が少なくて済むという効果が得られる。
なお、第1反射光量と第2反射光量との比率を閾値Xと比較する手法以外にも、物体16が吸収し易い波長λ1に関する第1反射光量を閾値Xと比較する手法も考えられる。この場合、閾値Xを、物体16による第1反射光量と物体16に近い特性を有した他の物質による第1反射光量との間に設定したり、物体16による第1反射光量と処理対象外領域における第1反射光量との間に設定したりすればよい。
また、図11に示した比率が閾値Xと比較される手順(ステップS1101)及び閾値X未満の比率だけが所定値Yに置換される手順(ステップS1102)は、図10に示した動作フローチャートの処理にも同様に適用可能である。
図12は、第6の実施形態における分光装置60の構成図である。本分光装置60は、固体光源11a及び11bと、光源制御部12と、レンズ13a及び13bと、波長選択性光分岐素子14と、前光モニタ15と、受光部17と、計測部18と、走査部51と、走査駆動部52と、出力部53と、ハーフミラー61とを備える。
本分光装置60は、上記分光装置50と比べて、ハーフミラー61の構成を備え、受光部17を固体光源11a及び11bと同じ側に配置したことが異なる。以下、この異なる構成を説明し、他の同じ構成については同じ符号を用い説明を省略する。
また、受光部17を固体光源11a及び11bと同じ側に配置することができるので、分光装置60を小型化することが可能となる。
図13は、第7の実施形態における分光装置70の構成図である。本分光装置70は、固体光源11a及び11bと、光源制御部12と、レンズ13a及び13bと、波長選択性光分岐素子14と、前光モニタ15と、受光部17と、計測部18と、走査部51と、走査駆動部52と、出力部53と、カメラ71とを備える。
本分光装置70は、上記分光装置60と比べて、カメラ71の構成が異なる。以下、この異なる構成を説明し、他の同じ構成については同じ符号を用い説明を省略する。
以下、分光装置70の応用例をさらに幾つか説明する。
図14は、分光装置70の応用例1を説明する図である。図14の応用例1では、分光装置70がディスプレイ141の上部に設けられている。ディスプレイ141は、分光装置70が取得した情報を画像で表示できる機能を備えた表示装置である。
図15は、分光装置70の応用例2を説明する図である。図15の応用例2では、分光装置70が壁面157の上部に設けられている。床面155に置かれた陳列棚154には、非液体容器152と液体容器153とが並べられている。物体16は、床面155に存在する液体、例えばこぼれた水である。
図16は、分光装置70の応用例3を説明する図である。図16の応用例3では、分光装置70が道路164の周縁に設けられた柱161の上部に設けられている。物体16は、道路164の上に存在する物質、例えば降雨や湧出等により発生した水やこぼれた油等である。
図17は、分光装置70の応用例4を説明する図である。図17の応用例4では、分光装置70が車両171の前方に取り付けられている。物体16は、道路174の上に存在する物質、例えば湧出した水、こぼれた油、凍結してできた氷等である。
波長λ1の光の物体16に対する吸収率の温度変化量が、波長λ2の光の物体16に対する吸収率の温度変化量の約10倍以上となるように、波長λ1及びλ2を選択している場合を考える。例えば、物体16が水の場合には、波長λ1として1.55μmを、波長λ2として0.98μmを用いることができる。膜厚1mmの水の吸光度は、14℃から63℃へ49度の温度変化をした場合、波長1.55μmの波長では0.15減少するのに対して、波長0.98μmの波長では0.01も変化しない。
図20は、分光装置70の応用例5を説明する図である。図20の応用例5では、分光装置70が道路204の周縁に設けられた柱201の上部に設けられている。ディスプレイ203は、分光装置70が取得した情報を画像やテキスト等で表示できる機能を備えた表示装置である。物体16は、道路204の上に存在する物質、例えば降雨や湧出等により発生した水やこぼれた油である。
なお、この応用例5の手法は、道路204上の水以外にも、室内の床にこぼれた水や、室内の結露、工場内の洗浄工程あるいは乾燥工程での水分布、水温の検知・表示、冷却設備での凍結の検知や表示等、種々の応用に用いることが可能である。
図21は、第8の実施形態における分光装置80の構成図である。本分光装置80は、固体光源11aと、光源制御部12と、レンズ13aと、波長選択性光分岐素子14と、前光モニタ15と、受光部17と、計測部18と、走査部51と、走査駆動部52と、出力部53と、ビームサンプラー81とを備える。
本分光装置80は、上記分光装置50と比べて、固体光源11b及びレンズ13bを省き、ビームサンプラー81を備えた構成が異なる。以下、この異なる構成を説明し、他の同じ構成については同じ符号を用い説明を省略する。
次に、第二の走査サイクルでは、走査部51によって走査されターゲットから散乱反射して受光部17で受光された光の強度が、計測部18において第一の走査サイクル時に記憶された同一走査位置の受光量と比較される。比較結果は、例えば受光量の比率が二次元の濃淡として出力部53に表示される。
また、走査位置毎の受光量の記憶先としては、計測部18以外に、ネットワークに接続された記憶部を利用することも可能である。記憶部と計測部とを分離することで、複数の分光装置をネットワークに接続して1つの記憶部を共有し、システムのメンテナンスを容易にしたりコストを下げたりすることが可能となる。
図22は、第9の実施形態における分光装置90の構成図である。本分光装置90は、固体光源11a及び11bと、光源制御部12と、レンズ13a及び13bと、波長選択性光分岐素子14と、前光モニタ15と、受光部17と、計測部18と、走査部51と、走査駆動部52と、出力部53と、距離計測部91とを備える。
本分光装置90は、上記分光装置50と比べて、距離計測部91の構成を備えることが異なる。以下、この異なる構成を説明し、他の同じ構成については同じ符号を用い説明を省略する。
なお、三次元形状から水平面や垂直面を抽出するには分光装置90自体の姿勢を知る必要があるが、これに関しては分光装置90に水準器を備えてもよいし、分光装置90の設置時に姿勢データを計測部18に記憶させてもよい。
図23は、第10の実施形態における分光装置100の構成図である。本分光装置100は、固体光源11a及び11bと、光源制御部12と、レンズ13a及び13bと、波長選択性光分岐素子14と、前光モニタ15と、受光部17と、計測部18と、走査部51と、走査駆動部52と、出力部53と、非接触温度計測部101と、波長選択性ミラー102とを備える。
本分光装置100は、上記分光装置50と比べて、非接触温度計測部101及び波長選択性ミラー102の構成を備えることが異なる。以下、この異なる構成を説明し、他の同じ構成については同じ符号を用い説明を省略する。
11a、11b、180 固体光源(光源部)
12 光源制御部
13a、13b レンズ
14 波長選択性光分岐素子
15 前光モニタ
16、183 物体
17、181 受光部
18 計測部
21 偏光ビームスプリッタ
31 穴あきレンズ
32、61 ハーフミラー
41 放物面鏡
51 走査部
52 走査駆動部
53 出力部
71 カメラ
81 ビームサンプラー
91 距離計測部
101 非接触温度計測部
102 波長選択性ミラー
141、203 ディスプレイ
142 利用者
143、151、162、172、202 走査線
152、153 容器
154 陳列棚
155 床面
157 壁面
161、201 柱
164、174、204 道路
171 車両
301 液体漏洩検出装置
302 油分封入設備
303、303a 油分
304 中間赤外光
Claims (21)
- 特定の物体による所定の吸収率を有する第1波長を持つ光と、当該特定の物体による吸収率が当該第1波長よりも小さい第2波長を持つ光とを用いた分光装置であって、
前記第1波長を持つ光が略平行となった第1波長の平行光と、前記第2波長を持つ光が略平行となった第2波長の平行光とを、ターゲットに照射する光照射部と、
前記第1波長の平行光が前記ターゲットを透過又は反射した第1の散乱光、及び前記第2波長の平行光が前記ターゲットを透過又は反射した第2の散乱光を、それぞれ受光する受光部と、
前記受光部が受光した前記第1の散乱光と前記第2の散乱光との差異に基づいて、前記ターゲットにおける前記特定の物体の検出に利用される情報を生成する計測部とを備え、
前記光照射部は、前記第1波長の平行光及び前記第2波長の平行光を、反射乃至、回折によって二次元方向に走査して直接に前記ターゲットに照射する走査処理部を含む、分光装置。 - 前記光照射部は、
前記第1波長を持つ光を出射する第1の固体光源と、
前記第2波長を持つ光を出射する第2の固体光源と、
前記受光部に前記第1波長の平行光と前記第2波長の平行光とを弁別して受光させるように、前記第1及び第2の固体光源を駆動する光源制御部とを含む、請求項1に記載の分光装置。 - 前記光源制御部は、前記第1の固体光源と前記第2の固体光源とを、出射タイミングをずらして駆動する、請求項2に記載の分光装置。
- 前記光源制御部は、前記第1の固体光源と前記第2の固体光源とを、異なる周波数で変調して駆動する、請求項2に記載の分光装置。
- 前記光照射部は、前記第1波長の平行光及び前記第2波長の平行光を前記ターゲットの同じ位置に照射する、請求項1に記載の分光装置。
- 前記計測部は、前記受光部が受光した前記第1の散乱光の強度と前記第2の散乱光の強度との比率に基づいて、前記ターゲットにおける前記特定の物体の存在有無を判断する、請求項1に記載の分光装置。
- 前記計測部は、前記第1の散乱光の強度に対して前記第2の散乱光の強度が大きければ前記ターゲットに前記特定の物体が存在すると判断する、請求項1に記載の分光装置。
- 前記特定の物体が存在する場合に前記受光部が受光した前記第1の散乱光の強度と前記第2の散乱光の強度との比率が、10以上となるように前記第1波長及び前記第2波長が設定される、請求項1に記載の分光装置。
- 前記特定の物体による前記第1波長を持つ光の吸収率の温度変化量は、前記特定の物体による前記第2波長を持つ光の吸収率の温度変化量よりも、10倍以上大きくなるように前記第1波長及び前記第2波長が設定される、請求項1に記載の分光装置。
- 前記走査処理部は、まず前記ターゲットの全体を空間的に粗く走査し、前記特定の物体
が存在すると判断すると、次に前記特定の物体が存在する領域を空間的に密に走査する、請求項1に記載の分光装置。 - 前記走査処理部は、まず前記ターゲットの全体を時間的に粗く走査し、前記特定の物体が存在すると判断すると、次に前記特定の物体が存在する領域を時間的に密に走査する、請求項1に記載の分光装置。
- 前記走査処理部による走査及び前記計測部で生成された情報に基づいて、前記ターゲットにおける前記特定の物体の存在有無を二次元領域の情報で出力する出力部をさらに備える、請求項1に記載の分光装置。
- 前記ターゲットを撮影するカメラをさらに備え、
前記出力部は、前記ターゲットにおける前記特定の物体の存在有無に関する二次元領域の情報を、前記カメラで撮影された前記ターゲットの二次元画像に重畳させて出力する、請求項12に記載の分光装置。 - 前記第2波長は、前記カメラが感度を有する波長範囲の不可視光の波長に設定される、請求項13に記載の分光装置。
- 前記ターゲットまでの距離を測定する距離計測部をさらに備え、
前記出力部は、前記ターゲットにおける前記特定の物体の存在有無に関する二次元領域の情報に、前記距離計測部で測定された距離情報を加えて、三次元領域の情報として出力する、請求項12に記載の分光装置。 - 前記ターゲットの温度を測定する温度計測部をさらに備え、
前記出力部は、前記ターゲットにおける前記特定の物体の存在有無に関する二次元領域の情報を、前記温度計測部で測定された温度情報に従って補正して出力する、請求項12に記載の分光装置。 - 前記特定の物体は水であり、前記第1波長は1.4μm以上、かつ、前記第2波長は1.3μm以下に設定される、請求項1に記載の分光装置。
- 前記光照射部は、
前記第1波長を持つ光を前記第1波長の平行光にして出力する第1のレンズと、
前記第2波長を持つ光を前記第2波長の平行光にして出力する第2のレンズと、
前記第1波長の平行光の光路と、前記第2波長の平行光の光路とを、略一致させる波長選択性光分岐素子とをさらに含む、請求項2に記載の分光装置。 - 前記第1の固体光源、前記第1のレンズ、前記波長選択性光分岐素子は、前記第1の固体光源から出射された前記第1波長を持つ光の光路である第1光路上に、前記第1の固体光源、前記第1のレンズ、前記波長選択性光分岐素子、の順に配置され、
前記第2の固体光源、前記第2のレンズ、前記波長選択性光分岐素子は、前記第2の固体光源から出射された前記第2波長を持つ光の光路である第2光路上に、前記第2の固体光源、前記第2のレンズ、前記波長選択性光分岐素子、の順に配置され、
前記第1光路と前記第2光路とはそれぞれ略垂直に交わる光路であり、
前記波長選択性光分岐素子は、前記第1波長の平行光を透過し、前記第2波長の平行光を反射することで、前記第1波長の平行光の光路と前記第2波長の平行光の光路とを、略一致させる、請求項18に記載の分光装置。 - 前記光照射部はさらに、
前記波長選択性光分岐素子にて光路が略一致した、前記第1波長の平行光および前記第2波長の平行光のうちP偏光成分の光を前記ターゲットへ出力する、偏光ビームスプリッタを備える、請求項18または19に記載の分光装置。 - 前記偏光ビームスプリッタは、前記ターゲットから反射された光のうち、S偏光成分の光のみを反射することで前記受光部に受光させ、P偏光成分の光は反射させない、請求項20に記載の分光装置。
Applications Claiming Priority (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013148888 | 2013-07-17 | ||
JP2013148888 | 2013-07-17 | ||
JP2014019552 | 2014-02-04 | ||
JP2014019552 | 2014-02-04 | ||
PCT/JP2014/003333 WO2015008435A1 (ja) | 2013-07-17 | 2014-06-20 | 分光装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2015008435A1 JPWO2015008435A1 (ja) | 2017-03-02 |
JP6312000B2 true JP6312000B2 (ja) | 2018-04-18 |
Family
ID=52345919
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2015527159A Active JP6312000B2 (ja) | 2013-07-17 | 2014-06-20 | 分光装置 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9829380B2 (ja) |
EP (2) | EP3023769B1 (ja) |
JP (1) | JP6312000B2 (ja) |
CN (2) | CN104641221A (ja) |
WO (1) | WO2015008435A1 (ja) |
Families Citing this family (30)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2016063665A1 (ja) * | 2014-10-20 | 2016-04-28 | ソニー株式会社 | 光造形装置、および造形物の製造方法 |
WO2016167758A1 (en) * | 2015-04-15 | 2016-10-20 | Halliburton Energy Services, Inc. | Optical computing devices comprising rotatable broadband angle-selective filters |
CN107923596B (zh) * | 2015-09-03 | 2020-12-04 | 株式会社小糸制作所 | 水加热装置以及使用了该水加热装置的灯具 |
JP6361631B2 (ja) * | 2015-10-29 | 2018-07-25 | Smk株式会社 | 車載センサ、車両用灯具及び車両 |
JP2017085414A (ja) * | 2015-10-29 | 2017-05-18 | Smk株式会社 | 撮像システム、車両用灯具及び車両 |
JP6884356B2 (ja) * | 2016-03-31 | 2021-06-09 | 国立研究開発法人産業技術総合研究所 | 観察装置、観察システム、データ処理装置及びプログラム |
DE102016221383A1 (de) * | 2016-10-31 | 2018-05-03 | Robert Bosch Gmbh | Verfahren und Steuergerät zum Betreiben eines Mikrospektrometers und Mikrospektrometersystem |
CN106769882B (zh) * | 2016-11-01 | 2021-12-03 | 深圳先进技术研究院 | 溢油监测仪及其监测方法 |
EP3330685A1 (de) * | 2016-12-05 | 2018-06-06 | Sick Ag | Messvorrichtung für absorptionsspektroskopie |
US10372996B2 (en) | 2016-12-15 | 2019-08-06 | Ford Global Technologies, Llc | Automatic vehicle leak detection |
US10296816B2 (en) | 2017-01-11 | 2019-05-21 | Ford Global Technologies, Llc | Generating training data for automatic vehicle leak detection |
FR3062210A1 (fr) * | 2017-01-20 | 2018-07-27 | Valeo Comfort And Driving Assistance | Procede d'evaluation de l'homogeneite optique apparente de deux surfaces d'affichage |
CN110312924B (zh) * | 2017-02-24 | 2021-11-23 | 松下知识产权经营株式会社 | 干燥度传感器 |
EP3677897B1 (en) * | 2017-08-29 | 2021-11-17 | Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. | Water content sensor and road surface state detection device |
DK3480571T3 (da) * | 2017-10-10 | 2023-05-01 | Poettinger Landtechnik Gmbh | Indretning til optisk at detektere genstande |
KR20190046112A (ko) * | 2017-10-25 | 2019-05-07 | 한국전자통신연구원 | 다면체 회전 거울과 텔레센트릭 f-세타 렌즈를 이용한 테라헤르츠 반사 영상 시스템 |
JP7077651B2 (ja) * | 2018-02-16 | 2022-05-31 | 横河電機株式会社 | 分光分析装置 |
JP6975901B2 (ja) * | 2018-02-26 | 2021-12-01 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | 成分検知センサ |
EP3598105A1 (en) * | 2018-07-20 | 2020-01-22 | Omya International AG | Method for detecting phosphate and/or sulphate salts on the surface of a substrate or within a substrate, use of a lwir detecting device and a lwir imaging system |
WO2020202887A1 (ja) * | 2019-03-29 | 2020-10-08 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | エアロゾル計測装置及びエアロゾル計測方法 |
FI128495B (en) * | 2019-05-21 | 2020-06-15 | Vaisala Oyj | Method for calibrating optical surface monitoring system, arrangement, device and computer readable memory |
DE102019207387A1 (de) * | 2019-05-21 | 2020-11-26 | Robert Bosch Gmbh | Optische Beleuchtungseinrichtung zum Beleuchten einer Probe, optische Analyseeinrichtung zum Beleuchten und Analysieren einer Probe und Verfahren zum Betreiben einer optischen Analyseeinrichtung |
EP3855162A1 (en) * | 2020-01-21 | 2021-07-28 | Omya International AG | Lwir imaging system for detecting an amorphous and/or crystalline structure of phosphate and/or sulphate salts on the surface of a substrate or within a substrate and use of the lwir imaging system |
CN111239170B (zh) * | 2020-02-11 | 2023-06-13 | 常州广为仪器科技有限公司 | 一种测量微量元素的x射线检测装置及检测方法 |
WO2021166403A1 (ja) * | 2020-02-18 | 2021-08-26 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | 水分検知装置 |
US20220187152A1 (en) * | 2020-12-10 | 2022-06-16 | Maarten Van Laere | Optical Hydrocarbon Leak Detection Sensor |
JPWO2022138464A1 (ja) * | 2020-12-23 | 2022-06-30 | ||
EP4267942A1 (en) * | 2020-12-23 | 2023-11-01 | Omya International AG | Method and apparatus for detecting an amorphous and/or crystalline structure of phosphate and/or sulphate salts on the surface of a substrate or within a substrate |
WO2023084666A1 (ja) * | 2021-11-11 | 2023-05-19 | 日本電信電話株式会社 | 紫外光照射システム |
DE102022213580A1 (de) * | 2022-12-13 | 2024-06-13 | It Inventor Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur Überwachung einer Anlage der Luft- und Klimatechnik |
Family Cites Families (34)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6288932A (ja) | 1985-10-16 | 1987-04-23 | Japan Sensor Corp:Kk | 容器の液体漏れ検出装置 |
JP2870965B2 (ja) | 1989-04-14 | 1999-03-17 | 三菱重工業株式会社 | 食品の成分測定装置 |
JPH04328449A (ja) | 1991-04-26 | 1992-11-17 | Kao Corp | 水分測定方法および測定装置 |
DE4133359C2 (de) * | 1991-10-09 | 1997-01-02 | Porsche Ag | Verfahren zur Messung der Dicke einer auf einer Fahrbahn vorhandenen Wasserschicht und Verwendung einer Vorrichtung hierfür |
JP2796906B2 (ja) * | 1992-02-03 | 1998-09-10 | 日立電子エンジニアリング株式会社 | 異物検査装置 |
JPH08128916A (ja) * | 1994-10-31 | 1996-05-21 | Mitsubishi Electric Corp | 油漏れ検出装置 |
US6281801B1 (en) * | 1997-06-04 | 2001-08-28 | Bechtel Bwxt Idaho, Llc | System and method for monitoring water content or other dielectric influences in a medium |
JPH11194089A (ja) | 1997-08-20 | 1999-07-21 | Daimler Benz Ag | 車道表面の状態を求める方法 |
US6263725B1 (en) * | 1998-09-18 | 2001-07-24 | Alberta Research Council Inc. | On-line sensor for colloidal substances |
JP2000009440A (ja) * | 1998-06-18 | 2000-01-14 | Kao Corp | 三次元物体の計測方法及び装置 |
US7158294B2 (en) * | 2001-12-18 | 2007-01-02 | Olympus Optical Co., Ltd. | Laser scanning confocal microscope apparatus, image recording method, and recording medium |
US7344082B2 (en) * | 2002-01-02 | 2008-03-18 | Metrologic Instruments, Inc. | Automated method of and system for dimensioning objects over a conveyor belt structure by applying contouring tracing, vertice detection, corner point detection, and corner point reduction methods to two-dimensional range data maps of the space above the conveyor belt captured by an amplitude modulated laser scanning beam |
JP3961300B2 (ja) | 2002-01-17 | 2007-08-22 | 株式会社日立メディコ | 生体光計測装置 |
JP3997183B2 (ja) * | 2003-06-20 | 2007-10-24 | 住友重機械工業株式会社 | 溶着状態検査方法 |
DE10356826B4 (de) * | 2003-12-05 | 2021-12-02 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Rastermikroskop |
JP4679962B2 (ja) * | 2005-05-13 | 2011-05-11 | 株式会社フジクラ | 光センシングシステム |
JP2007010584A (ja) | 2005-07-01 | 2007-01-18 | Shiseido Co Ltd | 対象における尿素の量を評価する方法及び装置、対象における尿素及び水分の量を評価する方法及び装置、プログラム、並びにコンピュータ読み取り可能な記録媒体 |
JP2008026036A (ja) | 2006-07-18 | 2008-02-07 | Aloka Co Ltd | 含有物測定装置 |
CA2566933C (en) * | 2006-10-17 | 2013-09-24 | Athena Industrial Technologies Inc. | Inspection apparatus and method |
JP5026854B2 (ja) * | 2007-04-27 | 2012-09-19 | 国立大学法人東京工業大学 | 領域抽出装置及び領域抽出方法 |
CN101194828B (zh) | 2007-12-24 | 2011-02-02 | 清华大学深圳研究生院 | 人眼房水葡萄糖浓度的无损光学检测装置 |
JP2009153654A (ja) * | 2007-12-26 | 2009-07-16 | Olympus Corp | 生体観察装置および生体観察方法 |
JP5072688B2 (ja) * | 2008-04-02 | 2012-11-14 | キヤノン株式会社 | 走査型撮像装置 |
JP2009257919A (ja) * | 2008-04-16 | 2009-11-05 | Panasonic Corp | 固体撮像装置、撮像システム及び検知装置 |
JP5647108B2 (ja) * | 2008-06-10 | 2014-12-24 | エックストラリス・テクノロジーズ・リミテッド | 粒子検出システムおよび粒子検出器を用いた粒子検出方法 |
JP2010025622A (ja) | 2008-07-16 | 2010-02-04 | Pola Chem Ind Inc | 皮膚水分量分布の鑑別法、その鑑別装置及びプログラム |
GB0821050D0 (en) * | 2008-11-18 | 2008-12-24 | Durham Scient Crystals Ltd | Detector apparatus and method |
US8085301B2 (en) | 2009-03-16 | 2011-12-27 | Southwest Research Institute | Compact handheld detector for greenhouse gasses |
US8477304B2 (en) * | 2009-07-08 | 2013-07-02 | Battelle Memorial Institute | System and method for high precision isotope ratio destructive analysis |
JP5298352B2 (ja) | 2009-09-16 | 2013-09-25 | 株式会社トプコン | 光構造像観察装置及び内視鏡装置 |
JP5508808B2 (ja) * | 2009-10-15 | 2014-06-04 | オリンパス株式会社 | 画像解析方法および画像解析装置 |
JP4973751B2 (ja) | 2009-11-26 | 2012-07-11 | 横河電機株式会社 | 生体成分測定装置 |
JP5946993B2 (ja) | 2011-01-27 | 2016-07-06 | 日本信号株式会社 | 液体油漏洩検出装置 |
US20130292571A1 (en) * | 2011-06-02 | 2013-11-07 | Infrasign, Inc. | Optically multiplexed mid-infrared laser systems and uses thereof |
-
2014
- 2014-06-20 EP EP14826966.5A patent/EP3023769B1/en active Active
- 2014-06-20 WO PCT/JP2014/003333 patent/WO2015008435A1/ja active Application Filing
- 2014-06-20 CN CN201480002361.8A patent/CN104641221A/zh active Pending
- 2014-06-20 US US14/427,481 patent/US9829380B2/en active Active
- 2014-06-20 CN CN202010111095.XA patent/CN111272681A/zh active Pending
- 2014-06-20 EP EP21159702.6A patent/EP3859310B1/en active Active
- 2014-06-20 JP JP2015527159A patent/JP6312000B2/ja active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP3859310A1 (en) | 2021-08-04 |
EP3023769B1 (en) | 2023-01-04 |
CN111272681A (zh) | 2020-06-12 |
EP3023769A4 (en) | 2016-07-27 |
WO2015008435A1 (ja) | 2015-01-22 |
CN104641221A (zh) | 2015-05-20 |
EP3023769A1 (en) | 2016-05-25 |
US9829380B2 (en) | 2017-11-28 |
US20150211928A1 (en) | 2015-07-30 |
EP3859310B1 (en) | 2023-08-23 |
JPWO2015008435A1 (ja) | 2017-03-02 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6312000B2 (ja) | 分光装置 | |
US9753140B2 (en) | Methods and apparatus for imaging in scattering environments | |
US10393657B2 (en) | SPR detection system and method | |
RU2484432C2 (ru) | Поляриметрический гиперспектральный формирователь изображения | |
EP2211219B1 (en) | Vibrational Microscopy Imaging System | |
KR102136401B1 (ko) | 다-파장 이미지 라이다 센서장치 및 이의 신호처리 방법 | |
US7583380B2 (en) | Spectroscopic analysis apparatus and method with excitation system and focus monitoring system | |
EP2530442A1 (en) | Methods and apparatus for thermographic measurements. | |
JP6394367B2 (ja) | 流体分析装置、流体分析方法、プログラム及び流体分析システム | |
WO2017168984A1 (ja) | 撮像装置、撮像方法 | |
WO2016059946A1 (ja) | 分光測定方法及び分光測定装置 | |
JP5895003B2 (ja) | ラマン散乱を観察し測定するための装置と方法 | |
KR20140096262A (ko) | 스마트폰에 장착된 광 간섭 단층 촬영 시스템 | |
WO2014089573A1 (en) | Variable wavelength lidar system | |
JP2010133934A (ja) | 2つの測定ユニットを有する表面測定装置 | |
US20190265179A1 (en) | Analysis system and analysis method | |
JP2012228544A5 (ja) | ||
US10900836B2 (en) | Reflectometer, electronic device and method | |
JP6702335B2 (ja) | 撮像素子、計測装置および計測方法 | |
TW201827914A (zh) | 觀察裝置及觀察方法 | |
US20130342849A1 (en) | Shape measurement device and shape measurement method | |
JP2023127897A (ja) | 情報処理装置、情報処理システム、情報処理方法、及びプログラム | |
US8743363B1 (en) | Detection and identification of surfaces and surface contaminants | |
YAM | Investigation on the effects and performance of underwater imaging target detection | |
US12099009B2 (en) | Method and apparatus for surface plasmon resonance imaging |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20150312 |
|
A524 | Written submission of copy of amendment under article 19 pct |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A527 Effective date: 20150312 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20161227 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20170829 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20171016 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20180306 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20180308 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 6312000 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |