JP6208356B2 - 自動分析装置 - Google Patents
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Description
本発明は、血漿や血清などのサンプルに含まれる成分量を分析する自動分析装置であって、特に血液凝固時間項目が測定可能な自動分析装置に関する。
サンプルと試薬とが混合した反応液に、光源からの光を照射して得られる単一又は複数の波長の透過光量または散乱光量を測定して、光量と濃度の関係からサンプルに含まれる成分量を算出する自動分析装置が知られている。
自動分析装置には、血液の凝固能を測定するものも存在する。血液は血管内部では流動性を保持して流れているが、一旦出血すると、血漿や血小板中に存在する凝固因子が連鎖的に活性化され、血漿中のフィブリノーゲンがフィブリンに変換され析出することで止血に至る。
このような、血液凝固能には血管外に漏れ出した血液が凝固する外因性のものと、血管内で血液が凝固する内因性のものが存在する。外因系、内因系、共に最終的には、フィブリノーゲンがフィブリンに転化する共通系の血液凝固反応に集約される。血液凝固能に関する測定項目としては、外因系のプロトロンビン時間（ＰＴ）、内因系の活性化部分トロ
ンボプラスチン時間（ＡＰＴＴ）と、共通系のフィブリノーゲン量（Ｆｂｇ）等が存在する。
ンボプラスチン時間（ＡＰＴＴ）と、共通系のフィブリノーゲン量（Ｆｂｇ）等が存在する。
これらの項目は、いずれも凝固を開始させる試薬を添加することにより析出するフィブリンを、光学的、物理的、電気的手法で検出することによっている。光学的手段を用いる方法としては、反応液に光を照射し、反応液中に析出してくるフィブリンを透過光や散乱光の経時的な強度変化をとらえることで、フィブリンが析出し始める時間（凝固時間）を算出する方法が知られている。
透過光を用いて凝固時間を測定する装置として、特許文献１のような自動分析装置が存在する。特許文献１の自動分析装置は、複数波長の光を反応液に照射して、通常は短波長（主波長）を用いた高感度な測光から得られた反応曲線から凝固時間を算出し、サンプルにヘモグロビン、ビリルビン、乳び等の干渉物質の影響がある場合は透過性が高い長波長（副波長）による反応曲線から凝固時間を算出している。ＰＴ、ＡＰＴＴにおいては、主波長は６６０ｎｍ、副波長は８００ｎｍであり、Ｆｂｇにおいては、主波長は４０５ｎｍ
、副波長は６６０ｎｍを用いている。透過光測定であるため、測定前の光源光量はリアルタイムにチェックできるシステムとなっている。
、副波長は６６０ｎｍを用いている。透過光測定であるため、測定前の光源光量はリアルタイムにチェックできるシステムとなっている。
散乱光を用いて凝固時間を測定する装置としては、特許文献２のような自動分析装置が知られている。特許文献２の自動分析装置は、干渉物質のうちヘモグロビンとビリルビンの影響が少なく、比較的波長が短い６６０ｎｍの光源を使用している。単一波長の測定ではあるが、透過光計測と比較して高感度な散乱光計測を採用しているため、高感度とダイナミックレンジを両立している。しかしながら、測定前の光源光量をチェックするためには、測定用の検出器以外に検出器を設置する必要がある。
特許文献３の光学系は散乱光測定のものであるが、測定用の検出器のほかにリファレンス光量測定のための検出器が備わっている。
特許文献２の自動分析装置のように、高感度な散乱光計測により凝固時間項目の測定を行うような構成にすれば、単一波長にて高感度とダイナミックレンジの両立が可能となり
、光学系のシステムを簡略化できることから装置コストの低減が実現できる。しかしながら、信頼性の高い測定を保証するために測定前に光源光量のチェックを実施するためには
、特許文献３のように新たに検出器を追加する必要があり、そのために増幅器やＡ／Ｄ変換回路の追加が必要となり、装置コストが上昇してしまう。
、光学系のシステムを簡略化できることから装置コストの低減が実現できる。しかしながら、信頼性の高い測定を保証するために測定前に光源光量のチェックを実施するためには
、特許文献３のように新たに検出器を追加する必要があり、そのために増幅器やＡ／Ｄ変換回路の追加が必要となり、装置コストが上昇してしまう。
本願の代表的な発明を挙げれば以下のとおりである。
底部にレンズ構造を備えた反応容器と、反応容器を移送する反応容器移送機構と、反応容器にサンプルを分注するサンプル分注機構と、試薬を反応容器に分注する試薬昇温機能付きの試薬分注機構と、反応容器中の反応液に反応容器底方向から光を照射するための光源と、光が照射された反応液からの散乱光を検出する検出器を備えた測定ポートと、を備える自動分析装置において、前記反応容器を前記測定ポートに設置しない場合は、前記光源からの一部の光が前記検出部に入射され、前記反応容器を前記測定ポートに設置した場合は、前記光源からの光が前記検出部に入射されない光学構成を備える自動分析装置である。
底部にレンズ構造を備えた反応容器が検出器に設置されたときのみ、レンズ構造により光源からの光が反応液に集光されるため、散乱光計測による凝固時間測定光学系でありながら、反応容器が設置されていない測定前に光源の光量チェックが可能となる。本構成によれば、光量チェックのための新たな検出器や回路を追加する必要が無いため、装置コストの上昇を抑制しつつ、光量チェックが行え、信頼性の高い凝固時間測定が可能となる。
本発明の目的は、装置価格の上昇を抑制しつつ、光量チェックが行え、信頼性の高い凝固時間測定が可能な自動分析装置を提供することである。
以下、本発明の実施の形態を図面に基づいて詳細に説明する。なお、本実施の形態を説明するための全図において同一機能を有するものは原則として同一の符号を付すようにし
、その繰り返しの説明は可能な限り省略するようにしている。
、その繰り返しの説明は可能な限り省略するようにしている。
図１は、本発明の一実施例である自動分析装置の概略図である。図１に示すように、本願発明の自動分析装置は、サンプル容器１を円周上に配置したサンプルディスク２と、反応容器７にサンプルを分注するサンプル分注機構３と、試薬ボトル４が設置された試薬ディスク５と、試薬を反応容器に分注する昇温機能付きの試薬分注機構６と、測定に使用される反応容器７が複数個ストックされている反応容器収容部８と、反応容器７を移送するための反応容器移送機構９と、サンプルを分注するためサンプル分注ポート１０と、測定ポート１１を複数個備えた温調ブロック１２と、測定が終了した反応容器７を廃棄する反応容器廃棄部１３と、制御部１４と、記憶部１５と、画面表示するための表示部１６と、操作指令等を入力するための入力部１７から構成されている。
図１の自動分析装置における制御系及び信号処理系について簡単に説明する。制御部１４は主に、機構動作の制御、温調の制御、測定シーケンスの制御を行っている。記憶部１５には、各操作者のパスワード、各画面の表示レベル、分析パラメータ、分析項目依頼内容、キャリブレーション結果、分析結果等の情報が記憶される。
次に、図１の自動分析装置におけるサンプルの分析動作を説明する。本実施例の自動分析装置によって分析可能な項目に関する分析パラメータは、予め入力部１７を介して入力されておリ、記憶部１５に記憶されている。操作者は、表示部１６の操作機能画面を用いて各サンプルに依頼されている検査項目を選択する。この際に、患者ＩＤなどの情報も入力部１７から入力される。
サンプルディスク２上には、血漿、血清等の生体サンプルを収容する多数のサンプル容器１が、図示の例では二重に、周方向に沿って載置されている。また、サンプルディスク２の近傍には、サンプル分注機構３が配置されている。このサンプル分注機構３は、可動アームと、これに取り付けられたピペットノズルとから主に構成されている。サンプル分注機構３は、各サンプルに対して指示された検査項目を分析するために、ピペットノズルを可動アームにより分注位置に適宜移動して、サンプルディスク２の吸入位置に位置する検体容器１から、分析パラメータにしたがって所定量のサンプルを吸入し、反応容器移送機構９により予めサンプル分注ポート１０に設置された反応容器７内にサンプルを吐出する。
サンプルが分注された反応容器７は、反応容器移送機構９により測定ポート１１に設置される。複数の測定ポート１１を備える温調ブロック１２は、制御部１４により一定温度（例えば３７℃）に制御されている。温調ブロック１２により反応容器７内のサンプルが所定の温度になるタイミングで、昇温機能付き試薬分注機構６により、該当する検査項目の分析パラメータにしたがって試薬ディスク５に設置されている既定の試薬ボトル４から試薬が吸引され、吸引された試薬は既定温度（例えば３９℃）に昇温された後、反応容器７内に吐出される。このとき、試薬吐出勢いによりサンプルと試薬の攪拌も実施され、血液凝固反応が開始する。反応が終了した反応容器７は、反応容器移送機構９により反応容器廃棄部１３に廃棄される。各検査項目の分析結果としての成分濃度データは、表示部１６に出力される。
凝固時間測定に関して、以下に説明する。測定ポート１１に反応容器７が設置される前に、光源のチェック光量Icが確認される。チェック光量Icが既定範囲内にあった場合、当該測定ポート１１での測定が開始される。反応容器移送機構９により、サンプルが分注された反応容器７が当該測定ポート１１に設置され、その後昇温機構付き試薬分注機構６により当該反応容器７に試薬が分注される。サンプルと試薬が分注された反応容器７に光源から光が照射され、測定ポート１１の検出器１９により散乱光が受光される。受光量の信号は増幅器により増幅され、Ａ／Ｄ変換器により光量に比例した数値に変換され、制御部１４を経由して記憶部１５に取り込まれる。この変換された数値を用い、検査項目毎に指定された分析法により凝固時間が算出される。検査項目によっては、算出された凝固時間から、検査項目毎に指定された分析法により予め測定しておいた検量線に基づき、濃度データ等が算出される。
図２ａは、本発明の一実施の形態である自動分析装置における、底部にレンズ構造を備えた反応容器７の断面図を示す。また、図２ｂは、底部に凸形状の外形を形成するレンズ構造を備えた反応容器７の断面図である。反応容器７の材料としては、透明な材質が望ましいが、半透明な材料でも適用可能である。また、円筒形の反応容器の底部にレンズ構造を配置した構成が望ましいが、多角形の反応容器や、レンズ構造を反応容器側面に配置する実施例も考えられる。しかしながら、多角形の反応容器や、レンズ構造を反応容器側面に配置した場合では、反応容器７を測定ポート１１に設置するときに反応容器７の設置方向を考慮する必要がある。
図３に、反応容器７を測定ポート１１に設置した状態の温調ブロック１２の断面図を示す。温調ブロック１２は測定ポート１１を複数含み、夫々の測定ポートは、主に、反応容器中の反応液に反応容器底方向から光を照射するための光源１８と、光が照射された反応液からの散乱光を検出する検出器１９からなる。なお、温度調節機構の図示は省略している。光源１８により反応容器７の底部方向から光が照射され、反応容器７の底部レンズ構造により集光され、散乱光を２方向に設置された検出器１９で受光する構成となっている
。光源１８から照射される光、検出器１９により受光される光は、それぞれ投光絞り部、受光絞り部により制限される。反応容器７を測定ポート１１に設置するとき、反応容器７の底部レンズ構造の凸形状が投光絞り部開口部に適合する形状となっているため、レンズ構造の位置決め、反応容器７の測定ポート１１への位置決めが可能となる。このように、凸形状が投光絞り部開口部に適合することで反応容器７が位置決めされることで、より高精度で信頼性の高い散乱光計測が可能となる。
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図４に、反応容器７を設置していない状態の測定ポート１１での、光源１８からの光の照射状態を示す。光源１８から照射される光は、反応容器７の底部レンズ構造がないために広がりを持ち、一部の照射光が検出器１９に入射される構成となっている。これにより
、光源光量のチェック指標としてのチェック光量Icを測定することができる。このように
、自動分析装置１は、 反応容器７を測定ポート１１に設置しない場合は、光源１８からの一部の光が検出部１９に入射され、反応容器７を測定ポート１１に設置した場合は、光源１８からの光が検出部１９に入射されない光学構成を備えている。
、光源光量のチェック指標としてのチェック光量Icを測定することができる。このように
、自動分析装置１は、 反応容器７を測定ポート１１に設置しない場合は、光源１８からの一部の光が検出部１９に入射され、反応容器７を測定ポート１１に設置した場合は、光源１８からの光が検出部１９に入射されない光学構成を備えている。
図５に、反応容器７を設置した状態の測定ポート１１での、光源１８からの光の照射状態を示す。光源１８から照射される光は、反応容器７の底部レンズ構造により集光され、検出器１９に入射されない構成となっている。このように、光源の光を集光することで、散乱光によるシグナルを増大することができる。また、焦点を反応液内の液面付近に設定することで、反応液面への直接光の照射範囲を制限でき、反応液面と反応容器７の内壁に生ずるメニスカスや気泡による反射光や散乱光の影響を低減することができる。従い、光学構成およびレンズ構造は、反応容器７の底部のレンズ構造による光源１８の光の焦点が
、反応容器中の反応液内の液面付近に設定されるように設計されることが望ましい。
、反応容器中の反応液内の液面付近に設定されるように設計されることが望ましい。
図６に、基準散乱物質２０が分注された反応容器７を設置した状態の測定ポート１１での、光源１８からの光の照射と反応液からの散乱光の発生状態を示す。光源１８から照射された光は、反応容器７の底部レンズ構造で集光され、基準散乱物質２０に照射され、散乱光が発生する。その散乱光を検出器１９が受光し、光源光量チェックの基準散乱光量Iｓが測定される。基準散乱物質２０は、例えば、ラテックス粒子の混濁液などが考えられるが、安定した散乱光を発するものであれば、特に限定はされない。半透明な高分子材料からなる固体の散乱体でも適用可能である。
図７に、半透明な高分子材料からなる光量チェック用部材２１の断面図を示す。光量チェック用部材２１は、反応容器７を模した形状となっており、反応容器移送機構９により測定ポート１１に移送可能である。当該光量チェック部材２１の収容ポートを温調ブロック１２に設けることで温度的に安定とすることができ、熱変形等による基準散乱光量Isのばらつきを低減することができる。また、光量チェック部材２１の光源照射光の受光部や
、検出器１９への投光部を外形から凹ませた形状とすることにより、測定ポート１１との摩擦傷による光量変動を防止することができる。従い、光量チェック部材２１の光源光受光部及び散乱光投光部は、周辺外形に対し凹形状をなすことが望ましい。光量チェック用部材２１は、繰り返し使用できるため基準散乱物質２０を使用する場合と比較して、ライフサイクルコストを低減することが可能である。
、検出器１９への投光部を外形から凹ませた形状とすることにより、測定ポート１１との摩擦傷による光量変動を防止することができる。従い、光量チェック部材２１の光源光受光部及び散乱光投光部は、周辺外形に対し凹形状をなすことが望ましい。光量チェック用部材２１は、繰り返し使用できるため基準散乱物質２０を使用する場合と比較して、ライフサイクルコストを低減することが可能である。
図８に、装置立ち上げ時の光量チェックのフローチャートを示す。このフローチャートにおける内容は制御部１４によって実行される。制御部１４は、装置立ち上げ時の光源１８の光量チェックを実施する。
装置電源を立ち上げ、光源１８からの光量が安定したタイミングで、自動的に光量チェックが開始される（図８ａ）。反応容器移送機構９により反応容器７が測定ポート１１に
設置され、試薬ディスク５に設置されている試薬ボトル４の一つに入れられている基準散乱物質２０を、昇温機能付き試薬分注機構６が規定量吸引し、当該反応容器７に吐出される（図８ｂ）。これにより、測定ポート１１には基準散乱物質が収容される反応容器が設
置されたことになる。
設置され、試薬ディスク５に設置されている試薬ボトル４の一つに入れられている基準散乱物質２０を、昇温機能付き試薬分注機構６が規定量吸引し、当該反応容器７に吐出される（図８ｂ）。これにより、測定ポート１１には基準散乱物質が収容される反応容器が設
置されたことになる。
基準散乱物質２０の温度が安定したタイミングで、基準散乱光量Isが測定される(図８ｃ)。基準散乱光量Isが、あらかじめ設定された既定範囲内にあるか確認され(図８ｄ)、
範囲内にない場合は基準散乱光量Is異常アラームが付加され（図８ｅ）、光源状態確認依
頼が表示部１６に表示される（図８ｎ）。基準散乱光量Isが既定範囲内にある場合は、前
回値からの変動が計算され、変動が既定範囲内であるか確認される（図８ｆ）。変動が既
定範囲内でない場合は、基準散乱光量Is変動アラームが付加され（図８ｇ）、光源状態確
認依頼が表示部１６に表示される（図８ｎ）。基準散乱光量Isの変動が既定範囲内にある
場合は、測定された基準散乱光量Isが記憶部１５に記憶される（図８ｈ）。１つの測定ポ
ートにおける基準散乱光量Isの測定が終了した基準散乱物質２０が入った反応容器７は、反応容器移送機構９により次の測定ポート１１に移動され（図８ｉ）、同様に基準散乱光
量Isの測定が実施される。このようにして、制御部１４は、測定ポート１１に設置された基準散乱物質による散乱光測定結果による光量チェックのステップを行う（第１の光量チェックのステップ）。上記は一例であり、散乱基準物質による散乱光測定結果を用いた光
量チェックが行われれば、必ずしも上記具体例でなくともよい。
範囲内にない場合は基準散乱光量Is異常アラームが付加され（図８ｅ）、光源状態確認依
頼が表示部１６に表示される（図８ｎ）。基準散乱光量Isが既定範囲内にある場合は、前
回値からの変動が計算され、変動が既定範囲内であるか確認される（図８ｆ）。変動が既
定範囲内でない場合は、基準散乱光量Is変動アラームが付加され（図８ｇ）、光源状態確
認依頼が表示部１６に表示される（図８ｎ）。基準散乱光量Isの変動が既定範囲内にある
場合は、測定された基準散乱光量Isが記憶部１５に記憶される（図８ｈ）。１つの測定ポ
ートにおける基準散乱光量Isの測定が終了した基準散乱物質２０が入った反応容器７は、反応容器移送機構９により次の測定ポート１１に移動され（図８ｉ）、同様に基準散乱光
量Isの測定が実施される。このようにして、制御部１４は、測定ポート１１に設置された基準散乱物質による散乱光測定結果による光量チェックのステップを行う（第１の光量チェックのステップ）。上記は一例であり、散乱基準物質による散乱光測定結果を用いた光
量チェックが行われれば、必ずしも上記具体例でなくともよい。
次に、測定ポート１１に反応容器７が無い状態で基準チェック光量Icsを測定し（図８
ｊ）、基準チェック光量Icsが既定範囲内にあるか確認される(図８K)。基準チェック光量
Icsが既定範囲内にない場合、基準チェック光量Ics異常アラームが付加され、光源状態確認依頼が表示部１６に表示される（図８ｎ）。基準チェック光量Icsが既定範囲内の場合
、基準チェック光量Icsが記憶部１５に記憶され（図８ｍ）、装置立ち上げ時の光量チェ
ックが終了となる。このようにして、制御部１４は、測定ポートが空きの状態で光源からの光の一部を測定した結果による光量チェックのステップを行う（第２の光量チェックのステップ）。上記は一例であり、測定ポートが空きの状態で光源からの光の一部を測定し
た結果を用いた光量チェックが行われれば、必ずしも上記具体例でなくてもよい。
ｊ）、基準チェック光量Icsが既定範囲内にあるか確認される(図８K)。基準チェック光量
Icsが既定範囲内にない場合、基準チェック光量Ics異常アラームが付加され、光源状態確認依頼が表示部１６に表示される（図８ｎ）。基準チェック光量Icsが既定範囲内の場合
、基準チェック光量Icsが記憶部１５に記憶され（図８ｍ）、装置立ち上げ時の光量チェ
ックが終了となる。このようにして、制御部１４は、測定ポートが空きの状態で光源からの光の一部を測定した結果による光量チェックのステップを行う（第２の光量チェックのステップ）。上記は一例であり、測定ポートが空きの状態で光源からの光の一部を測定し
た結果を用いた光量チェックが行われれば、必ずしも上記具体例でなくてもよい。
このようなフローで、基準散乱物質２０での散乱光量測定結果である基準散乱光量Isと
、直後に測定する基準チェック光量Icsを記憶部１５に記憶することで、測定前の光量チ
ェックの基準として使用することができる。基準散乱物質２０の代わりに光量チェック部材２１を用いた場合も、図８で示したフローが適用できる。
、直後に測定する基準チェック光量Icsを記憶部１５に記憶することで、測定前の光量チ
ェックの基準として使用することができる。基準散乱物質２０の代わりに光量チェック部材２１を用いた場合も、図８で示したフローが適用できる。
図９に、測定前の光量チェックのフローチャートを示す。このフローチャートにおける内容は制御部１４によって実行される。制御部１４は、測定前の光源１８の光量チェックを実施する。
凝固時間測定が開始される直前の測定ポート１１に反応容器７が存在しないタイミングで、測定前光量チェックが開始される（図９ａ）。測定ポート１１に反応容器７が設置さ
れていない状態で、チェック光量Icが測光され（図９ｂ）、測定されたチェック光量Icが
既定範囲内か確認される(図９ｃ)。チェック光量Icが既定範囲外であった場合、チェック光量Ic異常アラームが付加され（図９ｄ）、当該測定ポート１１が使用不可としてマスク
され(図９ｇ)、光源状態確認依頼が表示部１６に表示される（図９ｈ）。チェック光量Icが既定範囲内であった場合、基準チェック光量Icsからのチェック光量Icの変動が既定範
囲内であるかチェックされる（図９ｅ）。チェック光量Icの変動量が既定範囲外であった
場合、チェック光量Ic変動アラームが付加され、当該測定ポート１１が使用不可としてマスクされ(図９ｇ)、光源状態確認依頼が表示部１６に表示される（図９ｈ）。チェック光
量Icの変動が既定範囲内であった場合、測定前光量テックは正常に終了され(図９ｉ)、その後当該測定ポート１１での凝固時間測定が開始される。このようにして、制御部１４は
、 記憶部に記憶された測定ポートが空きの状態で光源からの光の一部を測定した結果（
基準チェック光量Ics）と、測定直前に測定ポートが空の状態で光源からの光の一部を測
定した結果（チェック光量Ic）とを比較することで、光源の光量チェックを実施する。
れていない状態で、チェック光量Icが測光され（図９ｂ）、測定されたチェック光量Icが
既定範囲内か確認される(図９ｃ)。チェック光量Icが既定範囲外であった場合、チェック光量Ic異常アラームが付加され（図９ｄ）、当該測定ポート１１が使用不可としてマスク
され(図９ｇ)、光源状態確認依頼が表示部１６に表示される（図９ｈ）。チェック光量Icが既定範囲内であった場合、基準チェック光量Icsからのチェック光量Icの変動が既定範
囲内であるかチェックされる（図９ｅ）。チェック光量Icの変動量が既定範囲外であった
場合、チェック光量Ic変動アラームが付加され、当該測定ポート１１が使用不可としてマスクされ(図９ｇ)、光源状態確認依頼が表示部１６に表示される（図９ｈ）。チェック光
量Icの変動が既定範囲内であった場合、測定前光量テックは正常に終了され(図９ｉ)、その後当該測定ポート１１での凝固時間測定が開始される。このようにして、制御部１４は
、 記憶部に記憶された測定ポートが空きの状態で光源からの光の一部を測定した結果（
基準チェック光量Ics）と、測定直前に測定ポートが空の状態で光源からの光の一部を測
定した結果（チェック光量Ic）とを比較することで、光源の光量チェックを実施する。
本実施例では、基準散乱物質２０または光量チェック部材２１による基準散乱光量Isの測定を装置立ち上げ毎に実施する形態としたが、装置製造時にのみ基準散乱光量Isと基準チェック光量Iｃｓを測定し記憶部１５に記憶しておくことで、以降の測定前光量チェッ
クに使用する形態も考えられる。
クに使用する形態も考えられる。
基準チェック光量Icsおよびチェック光量Icの測光のためのその他の方法について、以
下に記述する。
下に記述する。
図１０に、反応容器７を測定ポート１１に設置するときに一旦停止して、反応容器７の底部で反射した光により、光量チェックを実施する動作の一例を示す。反応容器移送機構９に備わる反応容器把持部２２により反応容器７が測定ポート１１に設置される際に、反応容器７の底部における反射光が検出器１９に受光される高さで一旦停止し、基準チェック光量Icsやチェック光量Icを測定できる。このとき、合わせて反応容器７の設置の確認
も実施することができる。
も実施することができる。
このように、 反応容器移送機構９が反応容器７を測定ポート１１に設置する際に、反応容器底部からの光源反射光が検出部１９に入射する位置において反応容器７を把持したまま反応容器移送機構９は一定時間停止し、制御部１４は、第２の光量チェックのステップにおける測定を実施することが望ましい。
図１１に、遮光用シャッター２３による光源１８の反射光により、測定前の光量チェックを実施する一例を示す。遮光用シャッター２３による反射光は大きな光量は期待できないが、遮光用シャッター２３の位置変動を小さくできるため、再現性のよい光量チェックが可能となる。さらには、遮光用シャッター２３に反射板を設けることで測定ポート１１上部に反射板を設けることもできる。
このように、測定ポート１１上部に配置された反射板２３からの光源反射光により、制御部１４は、第２の光量チェックのステップにおける測定を実施することが望ましい。また、このように、反射板が測定用の遮光用シャッター２３、すなわち外部光遮光板の機能を兼ね備えることが望ましい。少なくとも遮光用シャッター２３の測定ポート側に反射板が設けられていればよい。
図１２に、反射板付きの反応容器固定ばねを備えた測定ポートの正面断面図（ａ）と、側面断面図（ｂ）と、当該測定ポートに反応容器７を設置した状態（ｃ）を示す。反射板付き反応容器固定ばね２４は、測定ポート１１に反応容器７が無い場合に大きくせり出し
、ばねに先端に配置される反射板による光源１８の反射光を用いて、十分な光量による光量チェックを実施することができる。また、反射板付き反応容器固定ばね２４は、反応容器７の設置時には反応容器固定ばね収納部２５に収納され、かつ反応容器７を固定するため安定した測定が実現できる。なお、反射板は安定した位置にせり出すことができれば、ばねの先端でなくてもよい。
、ばねに先端に配置される反射板による光源１８の反射光を用いて、十分な光量による光量チェックを実施することができる。また、反射板付き反応容器固定ばね２４は、反応容器７の設置時には反応容器固定ばね収納部２５に収納され、かつ反応容器７を固定するため安定した測定が実現できる。なお、反射板は安定した位置にせり出すことができれば、ばねの先端でなくてもよい。
このように、測定ポート１１は、反射板を備えた、反応容器７の固定用の板ばねを備え
、反応容器７が測定ポート１１に設置されていない場合に、当該反射板は光源からの光を検出部に向けて反射できる位置に位置づけられ、制御部１４は、第２の光量チェックのステップにおける測定を実施することが望ましい。
、反応容器７が測定ポート１１に設置されていない場合に、当該反射板は光源からの光を検出部に向けて反射できる位置に位置づけられ、制御部１４は、第２の光量チェックのステップにおける測定を実施することが望ましい。
なお、上記図１０〜１２で説明した例においては、反応容器を測定ポートに設置しない場合、光源からの光が検出部に入射されないような光学構成においても適用することができる。また、反応容器にレンズ構造がない反応容器に対しても適用することができる。
１ サンプル容器
２ サンプルディスク
３ サンプル分注機構
４ 試薬ボトル
５ 試薬ディスク
６ 昇温機構付き試薬分注機構
７ 反応容器
８ 反応容器収容部
９ 反応容器移送機構
１０ サンプル分注ポート
１１ 測定ポート
１２ 温調ブロック
１３ 反応容器廃棄部
１４ 制御部
１５ 記憶部
１６ 表示部
１７ 入力部
１８ 光源
１９ 検出器
２０ 基準散乱物質
２１ 光量チェック部材
２２ 反応容器把持部
２３ 遮光用シャッター
２４ 反射板付き反応容器固定ばね
２５ 反応容器固定ばね収納部
２ サンプルディスク
３ サンプル分注機構
４ 試薬ボトル
５ 試薬ディスク
６ 昇温機構付き試薬分注機構
７ 反応容器
８ 反応容器収容部
９ 反応容器移送機構
１０ サンプル分注ポート
１１ 測定ポート
１２ 温調ブロック
１３ 反応容器廃棄部
１４ 制御部
１５ 記憶部
１６ 表示部
１７ 入力部
１８ 光源
１９ 検出器
２０ 基準散乱物質
２１ 光量チェック部材
２２ 反応容器把持部
２３ 遮光用シャッター
２４ 反射板付き反応容器固定ばね
２５ 反応容器固定ばね収納部
Claims (12)
- 底部にレンズ構造を備えた反応容器と、反応容器を移送する反応容器移送機構と、反応容器にサンプルを分注するサンプル分注機構と、試薬を反応容器に分注する試薬昇温機能付きの試薬分注機構と、反応容器中の反応液に反応容器底方向から光を照射するための光源と、光が照射された反応液からの散乱光を検出する検出器を備えた測定ポートと、を備える自動分析装置において、
前記反応容器を前記測定ポートに設置しない場合は、前記光源からの一部の光が前記検出器に入射され、前記反応容器を前記測定ポートに設置した場合は、前記光源からの光が前記検出器に入射されない光学構成を備えることを特徴とする自動分析装置。 - 請求項１に記載の自動分析装置において、
前記反応容器のレンズ構造は底部にて凸形状の外形を形成しており、前記凸形状が前記光源の投光絞り部開口部に適合する形状であり、前記凸形状が前記投光絞り部開口部に適合することで前記反応容器が位置決めされることを特徴とする自動分析装置。 - 請求項１または２に記載の自動分析装置において、
前記光学構成及び前記レンズ構造は、前記反応容器の底部のレンズ構造による前記光源の光の焦点が、前記反応容器中の反応液内の液面付近に設定されるよう設計されていることを特徴とする自動分析装置。 - 請求項１〜３のいずれかに記載の自動分析装置において、
さらに、前記光源の光量チェックを実施する制御部を備え、
前記測定ポートには基準散乱物質が収容される前記反応容器が設置され、
前記制御部は、
前記測定ポートに設置された前記基準散乱物質による散乱光測定結果による第１の光量チェックのステップと、前記測定ポートが空の状態で光源からの光の一部を測定した結果による第２の光量チェックのステップにより、前記光源の光量チェックを実施することを特徴とする自動分析装置。 - 請求項４に記載の自動分析装置において、
前記基準散乱物質は半透明な高分子材料からなる光量チェック部材であり、前記反応容器移送機構により移送可能であることを特徴とする自動分析装置。 - 請求項５に記載の自動分析装置において、
前記光量チェック部材の光源光受光部及び散乱光投光部は、周辺外形に対し凹形状をなすことを特徴とする自動分析装置。 - 請求項４に記載の自動分析装置において、
前記基準散乱物質による散乱光測定結果と前記測定ポートが空の状態で光源からの光の一部を測定した結果を記憶する記憶部を備え、
前記制御部は、前記記憶部に記憶されたこれらの結果から、前記光源の光量チェックを実施することを特徴とする自動分析装置。 - 請求項７に記載の自動分析装置において、
前記制御部は、前記記憶部に記憶された前記測定ポートが空きの状態で光源からの光の一部を測定した結果と、測定直前に前記測定ポートが空の状態で光源からの光の一部を測定した結果とを比較することで、前記光源の光量チェックを実施することを特徴とする自動分析装置。 - 請求項４に記載の自動分析装置において、
前記反応容器移送機構が前記反応容器を前記測定ポートに設置する際に、反応容器底部からの光源反射光が前記検出器に入射する位置において前記反応容器を把持したまま前記反応容器移送機構は一定時間停止し、
前記制御部は、前記第２の光量チェックのステップにおける測定を実施することを特徴とする自動分析装置。 - 請求項４に記載の自動分析装置において、
前記測定ポート上部に配置された反射板からの光源反射光により、
前記制御部は、前記第２の光量チェックのステップにおける測定を実施することを特徴とする自動分析装置。 - 請求項１０に記載の自動分析装置において、
前記反射板は測定用の外部光遮光板の機能を兼ね備えることを特徴とする自動分析装置。 - 請求項４に記載の自動分析装置において、
前記測定ポートは、反射板を備えた、前記反応容器の固定用の板ばねを備え、
反応容器が前記測定ポートに設置されていない場合に、当該反射板は光源からの光を前記検出器に向けて反射できる位置に位置づけられ、
前記制御部は、前記第２の光量チェックのステップにおける測定を実施することを特徴とする自動分析装置。
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| JP2014139275 | 2014-07-07 | ||
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|---|---|
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