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JP6297146B2 - Process variable transmitter with variable frequency clock circuit to avoid clock synchronous noise - Google Patents

Process variable transmitter with variable frequency clock circuit to avoid clock synchronous noise Download PDF

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JP6297146B2 JP2016523751A JP2016523751A JP6297146B2 JP 6297146 B2 JP6297146 B2 JP 6297146B2 JP 2016523751 A JP2016523751 A JP 2016523751A JP 2016523751 A JP2016523751 A JP 2016523751A JP 6297146 B2 JP6297146 B2 JP 6297146B2
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Description

本発明は、プロセス制御・監視システムで用いられるプロセス変数伝送器に関する。より詳細には本発明は、クロック同期ノイズを避けるためにクロック周波数を変化させることに関する。   The present invention relates to a process variable transmitter used in a process control / monitoring system. More particularly, the present invention relates to changing the clock frequency to avoid clock synchronization noise.

プロセス変数伝送器はプロセス制御・監視システムにおいてプロセスのパラメータを測定するのに用いられている。よくあるマイクロプロセッサベースの伝送器は、センサと、当該センサからの出力をデジタル形式に変換するアナログ・デジタル変換器と、当該デジタル出力を補償するマイクロプロセッサと、当該補償された出力を伝送する出力回路と、を含んで構成されている。現在のところ、当該伝送は通常、4−20mA制御ループといったようなプロセス制御ループを用いて、あるいは無線によって、行われている。   Process variable transmitters are used in process control and monitoring systems to measure process parameters. A common microprocessor-based transmitter is a sensor, an analog-to-digital converter that converts the output from the sensor into a digital format, a microprocessor that compensates for the digital output, and an output that transmits the compensated output. And a circuit. At present, the transmission is usually performed using a process control loop such as a 4-20 mA control loop or wirelessly.

こうしたシステムにより測定されるパラメータの一例として圧力があり、当該圧力は静電容量方式の差圧センサの容量を測定することによって検知される。もちろん、当該種類の圧力センサは例示に過ぎず、その他の種類のものを用いてもよい。同様に、圧力は一例としてのプロセス変数に過ぎず、その他の多種多様なプロセス制御パラメータを測定するようにしてもよい。その他のパラメータの例として、pH、温度、水位(レベル)などがある。従って、目下の説明は圧力センサに関して行うこととするが、当該説明は全く同様に容易に、その他の種類のセンサに関しても成立するものであることが理解されるはずである。   One example of a parameter measured by such a system is pressure, which is detected by measuring the capacitance of a capacitive differential pressure sensor. Of course, this type of pressure sensor is merely an example, and other types of pressure sensors may be used. Similarly, pressure is only an example process variable and a variety of other process control parameters may be measured. Examples of other parameters include pH, temperature, and water level (level). Thus, while the current description will be with respect to pressure sensors, it should be understood that the description is equally easy and valid for other types of sensors.

"Spread-Spectrum Clocking" http://www.ni.com/tutorial/4154/en/ 2009年11月2日"Spread-Spectrum Clocking" http://www.ni.com/tutorial/4154/en/ November 2, 2009

プロセス変数伝送器はしばしば、様々な種類のノイズを受けることがあり、これによって測定回路の精度に影響が出てしまうことがある。アナログ・デジタル(A/D)コンバータにおける大きなノイズ源として、同期ノイズがある。同期ノイズは、繰り返し実施される変換過程としての、A/D変換の過程の時間間隔と相対的に同じ時間間隔で発生するノイズである。こうした種類の外乱の例としてマイクロプロセッサの発生するバスノイズがある。A/Dコンバータがプロセッサバスと同期する場合、こうした種類のノイズによってA/Dコンバータの出力にオフセット誤差が発生することがある。   Process variable transmitters are often subject to various types of noise, which can affect the accuracy of the measurement circuit. Synchronous noise is a large noise source in an analog / digital (A / D) converter. Synchronous noise is noise that occurs at a time interval that is relatively the same as the time interval of the A / D conversion process as a conversion process that is repeatedly performed. An example of this type of disturbance is bus noise generated by a microprocessor. When the A / D converter is synchronized with the processor bus, this type of noise may cause an offset error at the output of the A / D converter.

様々な種類のプロセス伝送器は、電磁両立性(EMC)試験手順を受ける。当該試験手順においては、伝導高周波(RF)イミュニティ試験で発生させた外乱に対する感受性(susceptibility)が検査される。同期ノイズは、プロセス伝送器がこうした種類の外乱に感受性があることの一つのメカニズムとなっている。   Various types of process transmitters undergo electromagnetic compatibility (EMC) test procedures. In this test procedure, the susceptibility to disturbances generated in the conducted radio frequency (RF) immunity test is examined. Synchronous noise is one mechanism by which process transmitters are sensitive to these types of disturbances.

こうした種類のEMC試験手順では、コモンモードの電圧ノイズが伝送器のモジュールハウジングに関連したループ配線に加えられる。当該電圧は、ハウジングとセンサとの間にある寄生容量の結果として、測定回路に現れる。A/Dコンバータがセンサ信号をサンプリングする際には、当該寄生容量を通じて結合したノイズもサンプリングしてしまうため、サンプリング周波数における、あるいはその高調波周波数付近におけるノイズがベースバンドに現れ、測定誤差として現れてしまう。こうした種類のノイズのある入力に対するプロセス変数伝送器のシステム応答は、2つの異なるカテゴリとして現れる。第1は広帯域誤差であり、第2は狭帯域誤差である。狭帯域誤差は、次のような場合に発生する。すなわち、センササンプリング周波数又は高調波周波数に一致したものとして、あるいはこれら周波数の近辺周波数におけるものとして、センサのサンプリング回路に対して干渉が入ってくる場合である。この結果として、ベースバンドの非常に低い周波数域(直流に近いあるいは直流)に折り返し誤差が発生する。   In these types of EMC test procedures, common mode voltage noise is added to the loop wiring associated with the transmitter module housing. This voltage appears in the measurement circuit as a result of the parasitic capacitance between the housing and the sensor. When the A / D converter samples the sensor signal, the noise coupled through the parasitic capacitance is also sampled, so that noise at the sampling frequency or near its harmonic frequency appears in the baseband and appears as a measurement error. End up. The system response of process variable transmitters to these types of noisy inputs appears in two different categories. The first is a wideband error, and the second is a narrowband error. Narrowband errors occur in the following cases. That is, this is a case where interference enters the sampling circuit of the sensor as being matched with the sensor sampling frequency or the harmonic frequency, or as being in the vicinity of these frequencies. As a result, a folding error occurs in a very low frequency band (close to DC or DC) of the baseband.

プロセス変数伝送器において、センサのサンプリング周波数に一致するクロック信号を用いて、センサ信号をサンプリングする。干渉もまた、センサのサンプリング周波数においてサンプリングする。当該センサのサンプリング周波数における、あるいは当該センサのサンプリング周波数の高調波周波数における干渉が、閾値レベルを超えるか否かの比較判定を行う。超えるとの判定であるならば、クロック信号を変更して、センサのサンプリング周波数が干渉の周波数から離れたものとなるように調整する。   In the process variable transmitter, the sensor signal is sampled using a clock signal that matches the sampling frequency of the sensor. Interference is also sampled at the sensor sampling frequency. A comparison determination is made as to whether interference at the sampling frequency of the sensor or at a harmonic frequency of the sampling frequency of the sensor exceeds a threshold level. If so, the clock signal is changed and adjusted so that the sampling frequency of the sensor is away from the interference frequency.

産業プロセス制御システムを示す簡略化されたブロック図である。1 is a simplified block diagram illustrating an industrial process control system. FIG. 図1の伝送器をより詳細に示すブロック図である。FIG. 2 is a block diagram illustrating the transmitter of FIG. 1 in more detail. 図1,2に示した高調波エネルギー検出器と可変周波数クロック回路との全体的な動作の一実施形態に係るフローチャートである。3 is a flowchart according to an embodiment of the overall operation of the harmonic energy detector and variable frequency clock circuit shown in FIGS. 一実施形態に係る可変周波数クロック回路を示すブロック図である。1 is a block diagram illustrating a variable frequency clock circuit according to an embodiment. 図1の伝送器を示すブロック図であって、A/Dコンバータをより詳細に示した図である。FIG. 2 is a block diagram showing the transmitter of FIG. 1 and showing the A / D converter in more detail. 試験結果の例示としての2つの周波数掃引の様子を示す図である。It is a figure which shows the mode of two frequency sweeps as an example of a test result.

図1は、産業プロセス制御システム5の簡略化されたブロック図である。図1にて、プロセス配管7はプロセス流体を輸送している。プロセス変数伝送器10は、プロセス配管7に接続されている。伝送器10はプロセス変数センサ18を備え、一実施形態において、プロセス変数センサ18は圧力センサとして構成される。しかし、当該圧力センサとして構成されることは一例に過ぎない。伝送器10は、例えばプロセス制御室6といったような遠隔地(リモートロケーション)へと、情報を伝送する。当該伝送は2線式制御ループ11といったようなプロセス制御ループによって行うことができる。当該プロセス制御ループは任意の所望の形式に即したものとすることができる。当該形式の例として例えば、4−20mAプロセス制御ループや、デジタル信号を伝送するプロセス制御ループや、無線のプロセス制御ループが挙げられる。図1に示す例では、制御室6にある電源6Aによってプロセス制御ループ11は電力供給される。当該電力によって、プロセス変数伝送器10に電力供給がなされる。検出抵抗6Bを用いてループ11を流れる電流を検出することができるが、この他の機構によって電流検出してもよい。   FIG. 1 is a simplified block diagram of an industrial process control system 5. In FIG. 1, a process pipe 7 transports a process fluid. The process variable transmitter 10 is connected to the process pipe 7. The transmitter 10 includes a process variable sensor 18, and in one embodiment, the process variable sensor 18 is configured as a pressure sensor. However, the configuration as the pressure sensor is merely an example. The transmitter 10 transmits information to a remote location (remote location) such as the process control room 6. The transmission can be performed by a process control loop such as a two-wire control loop 11. The process control loop can be in any desired form. Examples of the format include a 4-20 mA process control loop, a process control loop for transmitting a digital signal, and a wireless process control loop. In the example shown in FIG. 1, the process control loop 11 is supplied with power by a power source 6 </ b> A in the control room 6. The electric power is supplied to the process variable transmitter 10 by the electric power. Although the current flowing through the loop 11 can be detected using the detection resistor 6B, the current may be detected by another mechanism.

図2は、図1に示す産業プロセス制御システム5の一部分を示すブロック図であり、ここでは伝送器10の詳細が示されている。一例として、伝送器10は測定回路22、プロセッサ32、高調波エネルギー検出器34及び可変周波数クロック回路52を含む。測定回路22はさらに、一例として、サンプリング部24、アナログ・デジタル(A/D)コンバータ26及び調整部28(例えば、ローパスフィルタ)を含む。高調波エネルギー検出器34はさらに、サンプリング部36、調整部38及びコンパレータ40を含む。   FIG. 2 is a block diagram showing a portion of the industrial process control system 5 shown in FIG. 1, in which details of the transmitter 10 are shown. As an example, the transmitter 10 includes a measurement circuit 22, a processor 32, a harmonic energy detector 34, and a variable frequency clock circuit 52. The measurement circuit 22 further includes, as an example, a sampling unit 24, an analog / digital (A / D) converter 26, and an adjustment unit 28 (for example, a low-pass filter). The harmonic energy detector 34 further includes a sampling unit 36, an adjustment unit 38 and a comparator 40.

図2にて、センサ18は一例においてプロセス変数センサであり、センシングされる対象であるプロセスから入力14を受け取る。入力14は一例において(図1に示されている)配管7を流れるプロセス流体であり、センサ18は一例において圧力センサである。しかし、センサ18は他の種類のセンサであってもよく、例えばpHや、流量や、温度その他を検知するものであってよい。これらセンサ種類のいずれの実施形態においても、センサ18は一例として、検知されたパラメータを表しているアナログ出力信号20を、伝送器10の測定回路22へと出力する。   In FIG. 2, sensor 18 is a process variable sensor in one example and receives input 14 from the process being sensed. Input 14 is in one example process fluid flowing through pipe 7 (shown in FIG. 1), and sensor 18 is in one example a pressure sensor. However, the sensor 18 may be another type of sensor, for example, a sensor that detects pH, flow rate, temperature, and the like. In any of these sensor type embodiments, the sensor 18 by way of example outputs an analog output signal 20 representing the detected parameter to the measurement circuit 22 of the transmitter 10.

一実施形態において、信号20はさらにサンプリング部24へと送られる。サンプリング部24は一例において、クロック信号30で与えられるサンプリング周波数にてセンサ信号20をサンプリングする。サンプリングされたアナログ信号20はA/Dコンバータ26に送られてデジタル出力へと変換され、当該デジタル出力は調整部28へと送られ、最終的にはプロセッサ32へと送られる。調整部28から出力されるデジタル出力は一例において、センサ18により出力されたアナログ信号20のデジタル表現である。プロセッサ32は連想メモリ及びクロック回路を有し、当該デジタル表現を補償してプロセス制御ループにおいて検知されたパラメータに関する情報を出力することができる。ここで、次のことに注意されたい。すなわち、プロセッサ32は入力/出力(I/O)回路を含んでいてもよく、あるいはI/O回路が個別に設けられていてもよく、当該I/O回路がループ11にデジタル形式又はアナログ形式により、例えばループ11を流れる電流を制御することによって又はアナログ電圧出力によって、情報を伝送するようにしてもよい。   In one embodiment, the signal 20 is further sent to the sampling unit 24. In one example, the sampling unit 24 samples the sensor signal 20 at a sampling frequency given by the clock signal 30. The sampled analog signal 20 is sent to the A / D converter 26 and converted into a digital output. The digital output is sent to the adjustment unit 28 and finally sent to the processor 32. In one example, the digital output output from the adjustment unit 28 is a digital representation of the analog signal 20 output by the sensor 18. The processor 32 includes an associative memory and a clock circuit that can compensate for the digital representation and output information about parameters detected in the process control loop. Note the following. That is, the processor 32 may include an input / output (I / O) circuit, or an I / O circuit may be provided separately, and the I / O circuit is provided in the loop 11 in a digital format or an analog format. Thus, for example, information may be transmitted by controlling the current flowing through the loop 11 or by analog voltage output.

背景技術の箇所において説明したように、伝送器10のハウジングから伝送器10の回路へと混入した干渉によって狭帯域誤差が発生することがある。特に、当該干渉は、(その周波数においてセンサ信号20がサンプリングされるところの)クロック信号30の周波数の近く又は当該クロック周波数の高調波の近くにおいて、発生するものである。このことから、図2に示す一実施形態においては、伝送器10は高調波エネルギー検出器34も含むような構成となっている。   As described in the background section, narrowband errors may occur due to interference mixed from the housing of the transmitter 10 into the circuit of the transmitter 10. In particular, the interference occurs near the frequency of the clock signal 30 (where the sensor signal 20 is sampled at that frequency) or near the harmonics of the clock frequency. Thus, in one embodiment shown in FIG. 2, the transmitter 10 is configured to include the harmonic energy detector 34.

高調波エネルギー検出器34はさらに、サンプリング部36、調整部38及びコンパレータ40を含む。サンプリング部36は、(ブロック42として示されている)機器ハウジングからの干渉信号46を受信するように接続されており、センサ信号20が測定回路22によってサンプリングされる際の周波数と同一の周波数において、当該干渉信号46をサンプリングする。また、図示されているように、サンプリング部36は、サンプリング部24へと入力されているのと同一のクロック信号30を受け取る。当該サンプリングされた干渉信号46は、サンプリング部36から調整部38へと渡される。調整部38は、一例において増幅及びフィルタリングすることで、あるいはその他の手法によって、干渉信号46を調整したうえでコンパレータ40へと出力する。一実施形態では、センサ信号のサンプリング周波数の高調波周波数と同一又はこれに近い周波数における干渉に対して、結果として現れるエイリアス周波数は、5Hz未満となる。この場合、調整部38はローパスフィルタとして構成することで、5Hz未満の周波数の干渉のみを通過させることができる。ただしこれは例示に過ぎず、任意のその他の種類のフィルタや調整回路として構成されてもよい。調整部38は、干渉が大きな狭帯域誤差を引き起こさないような周波数及び振幅のものである場合には、低い電圧を出力する。また、調整部38は、干渉が大きな狭帯域誤差を引き起こすような周波数及び振幅のものである場合には、高い電圧を出力する。   The harmonic energy detector 34 further includes a sampling unit 36, an adjustment unit 38 and a comparator 40. The sampling unit 36 is connected to receive an interference signal 46 from the equipment housing (shown as block 42) and is at the same frequency as when the sensor signal 20 is sampled by the measurement circuit 22. The interference signal 46 is sampled. As shown, the sampling unit 36 receives the same clock signal 30 that is input to the sampling unit 24. The sampled interference signal 46 is passed from the sampling unit 36 to the adjustment unit 38. The adjusting unit 38 amplifies and filters in one example, or adjusts the interference signal 46 by other methods and outputs the adjusted signal to the comparator 40. In one embodiment, the resulting alias frequency is less than 5 Hz for interference at frequencies that are the same as or close to the harmonic frequency of the sampling frequency of the sensor signal. In this case, the adjustment unit 38 is configured as a low-pass filter, so that only interference with a frequency of less than 5 Hz can be passed. However, this is merely an example, and any other type of filter or adjustment circuit may be configured. The adjustment unit 38 outputs a low voltage when the interference is of a frequency and amplitude that does not cause a large narrowband error. The adjustment unit 38 outputs a high voltage when the frequency and amplitude are such that the interference causes a large narrowband error.

コンパレータ40は、調整部38から入力された電圧を参照電圧と比較する。当該入力電圧が当該参照電圧を超える場合には、コンパレータ40はトリガ信号を生成して可変周波数クロック回路52へと出力する。こうして、たとえ干渉が高調波周波数に非常に近いものである場合であっても、コンパレータ40での当該比較判定をパスさせる(すなわち、コンパレータ40をトリップさせる)だけの充分な振幅を干渉が持ち合わせていない限りは、コンパレータ40はクロック回路52をトリガしない。一実施形態において、干渉が充分な振幅を有しており、且つ、干渉の周波数が高調波周波数から30Hz以内にある場合に、コンパレータ40はトリップされる。干渉が当該条件を満たす場合には、当該干渉は伝送器10の出力において問題を引き起こすものである可能性がある。従って、コンパレータ40が干渉信号に充分なエネルギーを検出し、且つ、当該干渉が高調波周波数のうちの一つに近い周波数で発生している場合(例えば、高調波周波数のうちの一つから30Hz以内のものである場合)、コンパレータ40は可変周波数クロック回路52のラッチ50にトリガ信号48を送信する。ラッチ50がトリガ信号48によって駆動されると、一例では可変周波数クロック回路52はクロック信号30のクロック周波数を変えて、別のサンプリング周波数へと切り替える。当該別のサンプリング周波数は、当初のセンサのサンプリング周波数から少なくとも所与の幅だけは離れたものである。当該切り替え前後の2つの周波数の差は、各サンプリング周波数における測定対象の狭帯域(narrow band of sensitivity;すなわち、測定可能な感度を有することで、測定対象である狭帯域)がオーバーラップしないように選ばれる。例を挙げると、狭帯域の幅が20Hzであるものとして、可変周波数クロック回路52がクロック信号30の周波数を変更する際に、当初のクロック信号30の周波数から50Hz離れた周波数となるように変更する。このように変更すると、20Hzの幅を幾分かのマージンを持って超えることとなる。しかし、これは例示に過ぎない。   The comparator 40 compares the voltage input from the adjustment unit 38 with the reference voltage. When the input voltage exceeds the reference voltage, the comparator 40 generates a trigger signal and outputs it to the variable frequency clock circuit 52. Thus, even if the interference is very close to the harmonic frequency, the interference has sufficient amplitude to pass the comparison determination at the comparator 40 (ie, to trip the comparator 40). Unless otherwise, the comparator 40 does not trigger the clock circuit 52. In one embodiment, the comparator 40 is tripped when the interference has sufficient amplitude and the frequency of the interference is within 30 Hz from the harmonic frequency. If the interference satisfies the condition, the interference may cause a problem in the output of the transmitter 10. Accordingly, when the comparator 40 detects sufficient energy in the interference signal and the interference is generated at a frequency close to one of the harmonic frequencies (for example, from one of the harmonic frequencies to 30 Hz). The comparator 40 transmits a trigger signal 48 to the latch 50 of the variable frequency clock circuit 52. When the latch 50 is driven by the trigger signal 48, in one example, the variable frequency clock circuit 52 changes the clock frequency of the clock signal 30 and switches to another sampling frequency. The additional sampling frequency is at least a given width away from the original sensor sampling frequency. The difference between the two frequencies before and after the switching is such that the narrow band of the measurement target at each sampling frequency (that is, the narrow band that is the measurement target by having a measurable sensitivity) does not overlap. To be elected. For example, assuming that the width of the narrow band is 20 Hz, when the variable frequency clock circuit 52 changes the frequency of the clock signal 30, the frequency is changed to be 50 Hz away from the frequency of the original clock signal 30. To do. This change would exceed the 20 Hz width with some margin. However, this is only an example.

より詳細な例示が理解に役立つと考えられ、それは次の通りである。ここで、可変周波数クロック回路52は2つの個別のクロック周波数の間のみで周波数スイッチングを行うものとする。第1の周波数が460kHzであるものとすると、一例ではクロック信号30のサンプリング周波数を(例えば20で割ったクロック周波数として)23.0kHzとすることができる。また、第2の周波数が462kHzであるものとすると、一例ではサンプリング周波数を(例えば20で割ったクロック周波数として)23.1kHzとすることができる。ここで、当該2つのサンプリング周波数は100Hzだけ離れているので、可変周波数クロック回路52が出力する当該2つのサンプリング周波数においては、少なくとも互いに50Hzは離れているという基準が満たされていることとなる。   A more detailed illustration is considered to be helpful in understanding: Here, it is assumed that the variable frequency clock circuit 52 performs frequency switching only between two individual clock frequencies. Assuming that the first frequency is 460 kHz, in one example, the sampling frequency of the clock signal 30 may be 23.0 kHz (for example, as a clock frequency divided by 20). Also, assuming that the second frequency is 462 kHz, in one example, the sampling frequency can be 23.1 kHz (for example, as a clock frequency divided by 20). Here, since the two sampling frequencies are separated by 100 Hz, the two sampling frequencies output by the variable frequency clock circuit 52 satisfy the criterion that at least 50 Hz is separated from each other.

図3は、高調波エネルギー検出器34と可変周波数クロック回路52との全体的な動作の一実施形態に係るフローチャートであり、これらの動作として、干渉信号をサンプリングすることで、センサ信号20をサンプリングするのに用いる周波数を変更することを示す図である。最初に、サンプリング部36は干渉信号をセンサのサンプリング周波数(センサ信号20をサンプリングするのに用いるのと同一周波数)においてサンプリングする。これは図3のブロック60として示されている通りである。   FIG. 3 is a flow chart according to one embodiment of the overall operation of the harmonic energy detector 34 and the variable frequency clock circuit 52, which samples the sensor signal 20 by sampling the interference signal. It is a figure which shows changing the frequency used for doing. First, the sampling unit 36 samples the interference signal at a sensor sampling frequency (the same frequency used to sample the sensor signal 20). This is as shown as block 60 in FIG.

次に、コンパレータ40は、干渉信号のうちセンサのサンプリング周波数(又はその複数の高調波周波数)に充分に近い要素の値が閾値レベルを超えるか否かを判定する。これはブロック62として示されている通りである。否定の判定であった場合、当該処理の流れはブロック60へと戻り、ブロック60においてサンプリング部36の次の処理が継続される。すなわち、サンプリング部36がセンサ信号20をサンプリングする際の周波数と同一周波数において、干渉信号46から干渉をサンプリングするという処理である。   Next, the comparator 40 determines whether or not the value of an element sufficiently close to the sampling frequency (or a plurality of harmonic frequencies thereof) of the interference signal exceeds the threshold level. This is as shown as block 62. If the determination is negative, the process flow returns to block 60, and the next process of the sampling unit 36 is continued in block 60. That is, it is a process of sampling interference from the interference signal 46 at the same frequency as the frequency at which the sampling unit 36 samples the sensor signal 20.

また一方で、ブロック62において、干渉信号のうちセンサのサンプリング周波数(又は高調波周波数のうちの一つ)と同一の要素(又は当該周波数に近い周波数の要素)の値が閾値レベルを超えるという判断をコンパレータ40が下した場合には、コンパレータ40はトリガ信号48を生成して可変周波数クロック回路52へと出力する。図2に示す実施形態においては、当該トリガがラッチ50を稼働させ(ラッチさせ)るが、これによって回路52に対してクロック周波数を変更すべきである旨が指示されることとなる。可変周波数クロック回路52は代替のクロック周波数への変更を行うことで、信号30はセンサに対する新規なサンプリング周波数の信号となり、当該信号30は当該新規な周波数において再び、サンプリング部24及びサンプリング部36の両者へと出力されることとなる。従って、サンプリング部36(ここで干渉信号46のサンプリングが行われる)は再び、サンプリング部24(ここでセンサ信号20のサンプリングが行われる)がサンプリングする際の周波数と同一の周波数において、サンプリングを行うこととなる。以上のようにクロック周波数を変更してセンサのサンプリング周波数を調整することは、図3においてブロック64として示されている。   On the other hand, at block 62, a determination is made that the value of the same element (or an element having a frequency close to that frequency) as the sampling frequency (or one of the harmonic frequencies) of the sensor in the interference signal exceeds the threshold level. The comparator 40 generates the trigger signal 48 and outputs it to the variable frequency clock circuit 52. In the embodiment shown in FIG. 2, the trigger activates (latches) the latch 50, which instructs the circuit 52 that the clock frequency should be changed. By changing the variable frequency clock circuit 52 to an alternative clock frequency, the signal 30 becomes a signal of a new sampling frequency for the sensor, and the signal 30 is again transmitted to the sampling unit 24 and the sampling unit 36 at the new frequency. It will be output to both. Therefore, the sampling unit 36 (where the interference signal 46 is sampled) again samples at the same frequency as the sampling unit 24 (here, the sensor signal 20 is sampled). It will be. Adjusting the sampling frequency of the sensor by changing the clock frequency as described above is shown as block 64 in FIG.

図4は、一実施形態に係る可変周波数クロック回路52をより詳細に示したブロック図である。図4では一実施形態として、一例では可変周波数クロック回路52が論理処理部66(当該論理処理部66は、ラッチ50と同じであってもよいし、別の論理回路要素であってもよい)、電圧制御発振器68、クロック分周器70、抵抗器R1及びR2並びにスイッチS1を含んでいることが示されている。図4に示す実施形態では、可変周波数クロック回路52は2つの異なるクロック周波数の間だけで周波数スイッチングを行う。しかしながら、次の点も理解されるはずである。すなわち、様々な異なる3つ以上(among:3つ以上の間で)のクロック周波数の間で選択可能なように、回路52を構成することも当該示す構成と同様に容易に可能であるという点である。   FIG. 4 is a block diagram showing the variable frequency clock circuit 52 according to the embodiment in more detail. 4, in one example, the variable frequency clock circuit 52 is a logic processing unit 66 (the logic processing unit 66 may be the same as the latch 50 or may be another logic circuit element). , A voltage controlled oscillator 68, a clock divider 70, resistors R1 and R2, and a switch S1. In the embodiment shown in FIG. 4, the variable frequency clock circuit 52 performs frequency switching only between two different clock frequencies. However, the following points should also be understood. That is, the circuit 52 can be easily configured in the same manner as the configuration shown so that it can be selected between three or more different (among: three or more) clock frequencies. It is.

上述のいずれの構成にせよ、論理処理部66は高調波エネルギー検出器34からトリガ信号48を受け取る。当該受け取りがあることは、次のことを意味している。すなわち、信号46に反映されている干渉がセンサのサンプリング周波数又は高調波周波数のうちの1つに充分に近いものであり、且つ、閾値レベルを超えるものであり、従って、当該干渉は伝送器10の出力に対して問題を起こすものであると考えられる、ということを意味している。従って、論理処理部66は、スイッチS1に対して、スイッチS1の状態を変更させるための信号を出力する。当該時点でスイッチS1が開(オープン)状態であれば、スイッチS1は閉じられることとなる。また、当該時点でスイッチS1が閉(クローズ)状態であれば、スイッチS1は開かれることとなる。こうして、抵抗器R1及びR2によって構成される抵抗回路網の構成が変更されることとなり、電圧制御発振器68へと入力される電圧レベルが変更されることとなる。従って、電圧制御発振器68の出力信号74の周波数も変化することとなる。つまり、スイッチS1が閉じられている場合には、抵抗器R2はバイパスされることとなり、電圧制御発振器68は第1の周波数で出力信号74を出力することとなる。一方、スイッチS2が開いている場合には、抵抗器R2は抵抗回路網を構成する一部となり、電圧制御発振器68は第2の周波数で出力信号74を出力することとなる。ここで、第2の周波数は第1の周波数よりも少なくとも閾値分の間隔だけ離れたものである。一実施形態では、当該閾値分の間隔を約50Hzとすることができるが、他の値を用いてもよい。   Regardless of the configuration described above, the logic processor 66 receives the trigger signal 48 from the harmonic energy detector 34. The receipt means the following. That is, the interference reflected in the signal 46 is close enough to one of the sensor's sampling frequency or harmonic frequency and exceeds a threshold level, so that the interference is transmitted to the transmitter 10. This is considered to cause problems for the output of. Therefore, the logic processing unit 66 outputs a signal for changing the state of the switch S1 to the switch S1. If the switch S1 is in an open state at that time, the switch S1 is closed. If the switch S1 is in a closed state at the time, the switch S1 is opened. Thus, the configuration of the resistor network constituted by the resistors R1 and R2 is changed, and the voltage level input to the voltage controlled oscillator 68 is changed. Accordingly, the frequency of the output signal 74 of the voltage controlled oscillator 68 also changes. That is, when the switch S1 is closed, the resistor R2 is bypassed, and the voltage controlled oscillator 68 outputs the output signal 74 at the first frequency. On the other hand, when the switch S2 is open, the resistor R2 becomes part of the resistor network, and the voltage controlled oscillator 68 outputs the output signal 74 at the second frequency. Here, the second frequency is separated from the first frequency by an interval of at least a threshold value. In one embodiment, the interval for the threshold can be about 50 Hz, but other values may be used.

図4に示す実施形態において、可変周波数クロック回路52はさらに分周器70を含んでいてもよい。当該分周器70は、電圧制御発振器68からの出力信号を除算することで、クロック信号30としてサンプリング部24及び26(図2に示す)へと出力する。一実施形態では、分周器70は電圧制御発振器68からの出力信号74の周波数を20で割る。なお、分周器70は当該20以外のその他の任意の値で当該出力信号74の周波数を割るようにしてもよいし、また、分周器70は省略されていてもよい。   In the embodiment shown in FIG. 4, the variable frequency clock circuit 52 may further include a frequency divider 70. The frequency divider 70 divides the output signal from the voltage controlled oscillator 68 and outputs it to the sampling units 24 and 26 (shown in FIG. 2) as the clock signal 30. In one embodiment, divider 70 divides the frequency of output signal 74 from voltage controlled oscillator 68 by 20. The frequency divider 70 may divide the frequency of the output signal 74 by any other value other than 20, or the frequency divider 70 may be omitted.

以上より、次のことも理解される。すなわち、以上の説明では可変周波数クロック回路52がクロック30に関して、選択可能な2つの異なる周波数のものを出力していたが、当該回路52は同様にして容易に、3つの又はこれより多い異なる周波数を出力するようなものとしても設計可能である。つまり、図4に示す抵抗回路網に単に抵抗器及びスイッチを追加することにより、及び、論理処理部66から複数個の出力を得るようにすることにより、又は、複数のロジック回路要素を設けておくことにより(及び例えば、高調波エネルギー検出器34において複数のコンパレータを設けておくことにより)、電圧制御発振器68を3つあるいはそれ以上の個別の周波数から選択可能なものとして構成することも可能である。これにより、複数の周波数で構成された干渉信号に起因する誤差を防ぐことを可能とするオプションが提供される。   From the above, the following is also understood. That is, in the above description, the variable frequency clock circuit 52 outputs two different selectable frequencies with respect to the clock 30. However, the circuit 52 can easily and easily output three or more different frequencies. Can also be designed to output. That is, by simply adding resistors and switches to the resistor network shown in FIG. 4 and obtaining a plurality of outputs from the logic processing unit 66, or providing a plurality of logic circuit elements. (And, for example, by providing multiple comparators in the harmonic energy detector 34), the voltage controlled oscillator 68 can be configured to be selectable from three or more individual frequencies. It is. This provides an option that makes it possible to prevent errors caused by interference signals composed of multiple frequencies.

図5は、図2で示したのと類似の伝送器10のブロック図であり、同様の項目には同様の番号が付与されている。ただし、図5では一実施形態として、A/Dコンバータ26が差動増幅器80及びシグマデルタ変換器82を有する構成が示されている。シグマデルタ変換器82は例として示しているものであり、その他の変換機構を用いるようにしてもよい。   FIG. 5 is a block diagram of a transmitter 10 similar to that shown in FIG. 2, and like items are given like numbers. However, FIG. 5 shows a configuration in which the A / D converter 26 includes a differential amplifier 80 and a sigma delta converter 82 as an embodiment. The sigma delta converter 82 is shown as an example, and other conversion mechanisms may be used.

図5ではまた、センサ18が一例において2つの導線84及び86を有し、当該導線84及び86がそれぞれ入力端子88及び90へと接続可能であることが示されている。一実施形態では、端子88及び90の間の電圧はセンサ18によって検知された温度を示すものである。また、次のことも注意されたい。すなわち、センサ18は一例では追加の端子へと接続される追加の導線を有することで4端子センサであってもよい、ということである。あるいは、これら端子(88及び90)に追加の複数のセンサが接続されており、マルチプレクサを用いて測定用の入力信号を選択するようにすることも可能である。しかしながら、当該図示している例に即して、以降の説明においては、センサ18が2つの導線を有し、それぞれ端子88及び90に接続されている場合を例として用いる。   FIG. 5 also shows that the sensor 18 in one example has two conductors 84 and 86 that can be connected to input terminals 88 and 90, respectively. In one embodiment, the voltage between terminals 88 and 90 is indicative of the temperature sensed by sensor 18. Also note the following: That is, the sensor 18 may be a four-terminal sensor by having an additional lead connected to an additional terminal in one example. Alternatively, a plurality of additional sensors may be connected to these terminals (88 and 90), and an input signal for measurement may be selected using a multiplexer. However, in the following description, the case where the sensor 18 has two conductors and is connected to the terminals 88 and 90, respectively, will be used as an example in accordance with the illustrated example.

図5ではさらに、一例においてプロセッサ32がセンサ信号の表現に相当する信号をI/O回路92へと出力することが示されている。I/O回路92は、ループ11上においてデジタル形式により、又は、ループ11を流れる電流を制御することによるアナログ形式により、情報の伝送を行う。こうして、(センサ18が検知することによって)検知されたパラメータに関する情報は、伝送器10によりプロセス制御ループ11上に伝送されることとなる。   FIG. 5 further shows that in one example, the processor 32 outputs a signal corresponding to the representation of the sensor signal to the I / O circuit 92. The I / O circuit 92 transmits information in a digital format on the loop 11 or in an analog format by controlling the current flowing through the loop 11. Thus, information regarding the detected parameters (by sensing by the sensor 18) will be transmitted by the transmitter 10 onto the process control loop 11.

以上より、次のことがわかる。すなわち、可変周波数クロック回路52は、システムにおけるサンプリング周波数を、外部からシステムに加わる干渉によっても出力に大きな誤差が発生しないような周波数に設定することができる。ここで、閉ループのフィードバックシステムがシステムのサンプリング周波数を制御するのに用いられている。また、高調波エネルギー検出器34は、システムにおけるサンプリング周波数におけるのと同一のクロックを用いて、干渉信号をサンプリングする。そして、高調波エネルギー検出器34は、次の場合にトリガ信号を可変周波数クロック回路52へと送信する。すなわち、干渉における高調波エネルギーの値が、測定値に大きな誤差を発生させうるような値に到達した場合である。可変周波数クロック回路52は当該トリガ信号を受け取ると、出力周波数を次のような新しい周波数へと変更する。すなわち、変更前の周波数から充分に間隔が離れており、干渉によってももはや、高調波エネルギー検出器(34)がトリガ信号48を発生させることがないような、新しい周波数である。一実施形態では、可変周波数クロック回路52は、2つの互いに離れた周波数の間で切り替えるようにすることができる。一方、当該切り替える周波数の数は2つよりも多数へと拡張することもでき、これによって、好ましくない干渉を防ぐことのできる可能性をより高くすることができる。   From the above, the following can be understood. That is, the variable frequency clock circuit 52 can set the sampling frequency in the system to a frequency that does not cause a large error in output due to interference applied to the system from the outside. Here, a closed loop feedback system is used to control the sampling frequency of the system. The harmonic energy detector 34 also samples the interference signal using the same clock at the sampling frequency in the system. The harmonic energy detector 34 transmits a trigger signal to the variable frequency clock circuit 52 in the following case. That is, the value of the harmonic energy in the interference reaches a value that can cause a large error in the measured value. When the variable frequency clock circuit 52 receives the trigger signal, the variable frequency clock circuit 52 changes the output frequency to the following new frequency. That is, a new frequency that is sufficiently spaced from the frequency before the change, such that the harmonic energy detector (34) no longer generates the trigger signal 48 due to interference. In one embodiment, the variable frequency clock circuit 52 can be switched between two separate frequencies. On the other hand, the number of frequencies to be switched can be expanded to more than two, thereby increasing the possibility that undesirable interference can be prevented.

図6は、次の試験結果を示すものである。すなわち、ベースライン(基準)のシステム(システムのクロックとして単一のサンプリング周波数のみが使われている)と、修正されたシステムとして、高調波エネルギー検出器34がセンササンプリング周波数において好ましくない干渉を検出した場合に、可変周波数クロック回路52を用いてセンサのサンプリング周波数を変更するシステムと、の試験結果を示すものである。図6では、誤差が周波数の非常に狭い帯域で発生していることが示されている。EMC試験を実際する場合、周波数は広範囲にわたって掃引される。当該掃引の際には、誤差の大きな狭帯域においても非常に短い時間しか費やされない。しかしながら、フィールドアプリケーション(フィールド用途)においては、干渉が周波数の狭帯域において常に存在していることがある。このため、誤差を時間に対してプロットしたものは、非常にゆっくりと変化するオフセット誤差に見えてしまうことがあり、全く狭帯域の誤差には見えないことがある。   FIG. 6 shows the following test results. That is, as a baseline system (only a single sampling frequency is used as the system clock) and a modified system, the harmonic energy detector 34 detects unwanted interference at the sensor sampling frequency. In this case, the test results of the system that changes the sampling frequency of the sensor using the variable frequency clock circuit 52 are shown. FIG. 6 shows that the error occurs in a very narrow frequency band. When performing an EMC test, the frequency is swept over a wide range. In the sweep, only a very short time is spent even in a narrow band with a large error. However, in field applications (field applications), interference may always be present in a narrow band of frequencies. Thus, a plot of error against time may appear as an offset error that changes very slowly, and may not appear as a narrow band error at all.

図6では2つのプロット100及び102が示されている。プロット100はベースラインシステムのものであり、プロット102は可変周波数クロックのシステムのものである。当該図示する一実施形態では、センサのサンプリング周波数は23.5kHzである。干渉周波数は200秒の時間窓(タイムウィンドウ)を用いて23.44kHzから23.71kHzまで掃引される。プロット100においては2つの線104及び106が示されているが、これらの線は±1パーセント範囲での誤差のある周波数帯を示すものとなっている。最も高いアナログ誤差は約23.49kHzの周波数において発生しているが、当該周波数は基本サンプリング周波数である23.5kHzに近いものである。このような場合、誤差は非常に大きく、4−20mAプロセス伝送器の出力を飽和させてしまうこととなる。   In FIG. 6, two plots 100 and 102 are shown. Plot 100 is for a baseline system and plot 102 is for a variable frequency clock system. In the illustrated embodiment, the sensor sampling frequency is 23.5 kHz. The interference frequency is swept from 23.44 kHz to 23.71 kHz using a 200 second time window. In the plot 100, two lines 104 and 106 are shown, which indicate frequency bands with errors in the range of ± 1 percent. The highest analog error occurs at a frequency of about 23.49 kHz, which is close to the basic sampling frequency of 23.5 kHz. In such a case, the error is very large and will saturate the output of the 4-20 mA process transmitter.

プロット102の周波数範囲の掃引を行う前の段階では、センサのサンプリング周波数は23.5kHzとなっていた。ここで、高調波エネルギー検出器34がサンプリング周波数(又は高調波周波数)においてエネルギーを検出すると、可変周波数クロック回路52はサンプリング周波数を23.7kHzへと変更し、結果として当該被検体(device under test)に関して、アナログ誤差の大きさは±1パーセント範囲以内に収まることとなる。50パーセントを超える範囲で測定値が得られてしまったベースラインのシステムに比べて、クロック周波数可変である当該被検体は1パーセント未満の範囲となる。この結果は、狭帯域におけるEMCの伝導高周波の機器感度(device sensitivity)において比率50:1を超える誤差低減の効果があることを意味している。   Before the sweep of the frequency range of the plot 102, the sensor sampling frequency was 23.5 kHz. When the harmonic energy detector 34 detects energy at the sampling frequency (or harmonic frequency), the variable frequency clock circuit 52 changes the sampling frequency to 23.7 kHz, and as a result, the subject (device under test). ), The magnitude of the analog error is within a range of ± 1 percent. Compared to a baseline system in which measurements have been obtained in a range exceeding 50 percent, the subject whose clock frequency is variable falls within a range of less than 1 percent. This result means that there is an effect of reducing the error exceeding a ratio of 50: 1 in the device sensitivity of the conduction frequency of EMC in a narrow band.

本発明は好ましい実施形態に関して説明してきたが、本発明の考え方及び範囲から逸脱することなく、形式及び詳細に変更を加えうることは当業者であれば理解できるはずである。   Although the present invention has been described with reference to preferred embodiments, workers skilled in the art will recognize that changes may be made in form and detail without departing from the spirit and scope of the invention.

10…プロセス変数伝送器、22…測定回路、34…高調波エネルギー検出器、52…可変周波数クロック回路、32…プロセッサ   DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 ... Process variable transmitter, 22 ... Measurement circuit, 34 ... Harmonic energy detector, 52 ... Variable frequency clock circuit, 32 ... Processor

Claims (26)

第1のサンプリング周波数におけるサンプリングクロック信号を受け取り、前記第1のサンプリング周波数において、アナログのセンサ信号であって検知されたプロセス変数を示しているものをサンプリングし、当該サンプリングされたアナログのセンサ信号をデジタル信号へと変換する測定回路と、
前記デジタル信号を受け取り、前記検知されたプロセス変数を表す出力を与えるプロセッサと、を備え、さらに、
前記サンプリングクロック信号を受け取り、前記第1のサンプリング周波数において干渉信号をサンプリングし、当該干渉信号が干渉閾値の条件を満たす場合にトリガ信号を発生する高調波エネルギー検出器と、
前記トリガ信号受け取り、当該トリガ信号に応答して、前記サンプリングクロック信号の周波数を前記第1のサンプリング周波数とは異なる代替サンプリング周波数へと変更する可変周波数クロック回路と、を備えることを特徴とするプロセス変数伝送器。
Receiving a sampling clock signal at a first sampling frequency, sampling an analog sensor signal indicative of a detected process variable at the first sampling frequency, and obtaining the sampled analog sensor signal A measurement circuit that converts it into a digital signal;
A processor that receives the digital signal and provides an output representative of the sensed process variable;
A harmonic energy detector that receives the sampling clock signal, samples an interference signal at the first sampling frequency, and generates a trigger signal when the interference signal satisfies an interference threshold condition;
A variable frequency clock circuit that receives the trigger signal and changes the frequency of the sampling clock signal to an alternative sampling frequency different from the first sampling frequency in response to the trigger signal. Process variable transmitter.
前記可変周波数クロック回路が、前記サンプリングクロック信号の周波数を、前記代替サンプリング周波数であって前記第1のサンプリング周波数から閾値の周波数間隔だけ離れたものへと変更するよう構成されていることを特徴とする請求項1に記載のプロセス変数伝送器。   The variable frequency clock circuit is configured to change the frequency of the sampling clock signal to the alternative sampling frequency which is separated from the first sampling frequency by a threshold frequency interval. The process variable transmitter according to claim 1. 前記閾値の周波数間隔が前記第1のサンプリング周波数に対応する測定対象の狭帯域の幅(a narrow band of sensitivity)を超えていることを特徴とする請求項2に記載のプロセス変数伝送器。   3. The process variable transmitter according to claim 2, wherein the threshold frequency interval exceeds a narrow band of sensitivity of a measurement object corresponding to the first sampling frequency. 前記高調波エネルギー検出器が、前記サンプリングされた干渉信号が前記干渉閾値の条件を満たすか否かを、前記第1のサンプリング周波数から又は当該第1のサンプリング周波数の高調波周波数から、閾値範囲内にある周波数において判断するよう構成されていることを特徴とする請求項1に記載のプロセス変数伝送器。 The harmonic energy detector determines whether the sampled interference signal satisfies the condition of the interference threshold from the first sampling frequency or from the harmonic frequency of the first sampling frequency within a threshold range. The process variable transmitter of claim 1, wherein the process variable transmitter is configured to determine at a certain frequency. 前記高調波エネルギー検出器がさらに、
前記サンプリングされた干渉信号が閾値条件を満たすエネルギーレベルを、前記第1のサンプリング周波数の高調波周波数であって測定対象の狭帯域(a narrow band of sensitivity)内にある周波数において有する場合に、前記トリガ信号を発生するコンパレータを備えることを特徴とする請求項4に記載のプロセス変数伝送器。
The harmonic energy detector further comprises:
When the sampled interference signal has an energy level that satisfies a threshold condition at a frequency that is a harmonic frequency of the first sampling frequency and within a narrow band of sensitivity of the measurement target; 5. The process variable transmitter according to claim 4, further comprising a comparator that generates a trigger signal.
前記可変周波数クロック回路が、前記トリガ信号に応答して、前記サンプリングクロックの周波数を複数の代替サンプリング周波数のうちの1つに変更するよう構成されていることを特徴とする請求項1に記載のプロセス変数伝送器。   The variable frequency clock circuit is configured to change the frequency of the sampling clock to one of a plurality of alternative sampling frequencies in response to the trigger signal. Process variable transmitter. 前記可変周波数クロック回路が、
電圧入力信号を受け取り、当該電圧入力信号の関数として発振器出力信号を与える電圧制御発振器であって、当該発振器出力信号から前記サンプリングクロック信号が生成されるという関係がある電圧制御発振器と、
一連のスイッチを有する抵抗器網であって、当該一連のスイッチが前記電圧入力信号の値を制御するように構成されている抵抗器網と、
前記トリガ信号を受け取り、前記一連のスイッチを制御して前記電圧入力信号を変化させる論理回路と、を備えることを特徴とする請求項1に記載のプロセス変数伝送器。
The variable frequency clock circuit is
A voltage controlled oscillator that receives a voltage input signal and provides an oscillator output signal as a function of the voltage input signal, wherein the sampling clock signal is generated from the oscillator output signal; and
A resistor network having a series of switches, the series of switches configured to control a value of the voltage input signal; and
The process variable transmitter of claim 1, further comprising: a logic circuit that receives the trigger signal and controls the series of switches to change the voltage input signal.
前記プロセッサからの前記出力を受け取り、ループを制御して前記検知されたプロセス変数を示す情報を与えるようにする入力/出力(I/O)回路をさらに備える請求項1に記載のプロセス変数伝送器。   The process variable transmitter of claim 1, further comprising an input / output (I / O) circuit that receives the output from the processor and controls a loop to provide information indicative of the sensed process variable. . 前記ループが4−20mAプロセス制御ループを備えることを特徴とする請求項8に記載のプロセス変数伝送器。   The process variable transmitter of claim 8, wherein the loop comprises a 4-20 mA process control loop. 前記第1のサンプリング周波数においてサンプリングされる前記干渉信号は、前記アナログのセンサ信号であって検知されたプロセス変数を示しているものとは別のものとして、干渉を含んで得られるものであることを特徴とする請求項1ないし9のいずれかに記載のプロセス変数伝送器。The interference signal sampled at the first sampling frequency is obtained by including interference as a separate sensor signal from the analog sensor signal indicating the detected process variable. 10. A process variable transmitter according to any one of claims 1 to 9. 前記第1のサンプリング周波数においてサンプリングされる前記干渉信号は、前記プロセス変数伝送器のハウジングから得られるものであることを特徴とする請求項1ないし10のいずれかに記載のプロセス変数伝送器。11. The process variable transmitter according to claim 1, wherein the interference signal sampled at the first sampling frequency is obtained from a housing of the process variable transmitter. プロセス変数伝送器を制御する方法であって、
検知されたプロセス変数を示しているアナログのセンサ信号を第1のセンササンプリング周波数においてサンプリングすることと、
前記サンプリングされたセンサ信号をデジタル値へと変換することと、
プロセス制御ループに前記デジタル値を示す出力を与えることと、を備え、さらに、
前記第1のセンササンプリング周波数において干渉信号をサンプリングすることと、
前記サンプリングされた干渉信号が干渉閾値の条件を満たすことを判断することに応答して、前記第1のセンササンプリング周波数を、代替センササンプリング周波数であって前記第1のセンササンプリング周波数から異なるものへと変更することと、を備えることを特徴とする方法。
A method for controlling a process variable transmitter, comprising:
Sampling an analog sensor signal indicative of the sensed process variable at a first sensor sampling frequency;
Converting the sampled sensor signal into a digital value;
Providing an output indicative of the digital value to a process control loop, and
Sampling an interference signal at the first sensor sampling frequency;
In response to determining that the sampled interference signal satisfies an interference threshold condition, the first sensor sampling frequency is an alternative sensor sampling frequency that is different from the first sensor sampling frequency. And changing the method.
前記第1のセンササンプリング周波数から前記代替センササンプリング周波数へと変更することが、
前記サンプリングされた干渉信号が干渉閾値の値を、前記第1のセンササンプリング周波数から又は当該第1のセンササンプリング周波数の高調波周波数から、閾値範囲内にある周波数において、超えているか否かを判断することを備えることを特徴とする請求項12に記載の方法。
Changing from the first sensor sampling frequency to the alternative sensor sampling frequency;
Determine whether the sampled interference signal exceeds an interference threshold value at a frequency within the threshold range from the first sensor sampling frequency or from a harmonic frequency of the first sensor sampling frequency. 13. The method of claim 12 , comprising:
前記閾値範囲が、前記第1のセンササンプリング周波数に対応する測定対象の帯域(a band of sensitivity)にあることを特徴とする請求項13に記載の方法。 14. The method of claim 13 , wherein the threshold range is in a band of sensitivity corresponding to the first sensor sampling frequency. 前記第1のセンササンプリング周波数を変更することが、
前記第1のセンササンプリング周波数を、前記代替センササンプリング周波数であって、前記第1のセンササンプリング周波数から少なくとも最小距離だけ離れており、且つ、前記閾値範囲を超えているものへと変更することを備えることを特徴とする請求項13に記載の方法。
Changing the first sensor sampling frequency;
Changing the first sensor sampling frequency to the alternative sensor sampling frequency that is at least a minimum distance away from the first sensor sampling frequency and exceeds the threshold range. 14. The method of claim 13 , comprising.
前記最小距離が前記閾値範囲にマージンを加えたものとして構成されていることを特徴とする請求項15に記載の方法。 The method of claim 15 , wherein the minimum distance is configured as the threshold range plus a margin. 前記第1のセンササンプリング周波数を変更することが、
前記第1のセンササンプリング周波数を、複数の代替センササンプリング周波数のうちの一つへと変更することを備えることを特徴とする請求項12に記載の方法。
Changing the first sensor sampling frequency;
The method of claim 12 , comprising changing the first sensor sampling frequency to one of a plurality of alternative sensor sampling frequencies.
前記出力をプロセス制御ループへと与えることが、
前記出力を4−20mAプロセス制御ループへと与えることを備えることを特徴とする請求項12に記載の方法。
Providing the output to a process control loop;
The method of claim 12 , comprising providing the output to a 4-20 mA process control loop.
前記第1のセンササンプリング周波数においてサンプリングされる前記干渉信号は、前記検知されたプロセス変数を示しているアナログのセンサ信号とは別のものとして、干渉を含んで得られるものであることを特徴とする請求項12ないし18のいずれかに記載の方法。The interference signal sampled at the first sensor sampling frequency is obtained by including interference as a separate from the analog sensor signal indicating the detected process variable. The method according to any one of claims 12 to 18. 前記第1のセンササンプリング周波数においてサンプリングされる前記干渉信号は、前記プロセス変数伝送器のハウジングから得られるものであることを特徴とする請求項12ないし19のいずれかに記載の方法。20. A method according to any of claims 12 to 19, wherein the interference signal sampled at the first sensor sampling frequency is obtained from a housing of the process variable transmitter. サンプリングクロック信号を受け取り、第1のサンプリングクロック周波数においてアナログセンサ信号をサンプリングするサンプリング部と、
前記サンプリング部に接続されており、前記サンプリングされたアナログセンサ信号をデジタル値へと変換するアナログ・デジタルコンバータと、
前記デジタル値を示す出力信号を与えるプロセッサと、
干渉信号における干渉が前記出力信号において狭帯域誤差を発生させているか否かを検出し、当該発生させていることを検出した場合の応答として、干渉検出出力信号を与える干渉検出器と、
前記干渉検出出力信号を受け取り、前記第1のサンプリングクロック周波数を代替サンプリングクロック周波数へと変更する可変周波数クロック回路と、を備えることを特徴とするプロセス変数伝送器。
A sampling unit that receives the sampling clock signal and samples the analog sensor signal at a first sampling clock frequency;
An analog-to-digital converter connected to the sampling unit for converting the sampled analog sensor signal into a digital value;
A processor for providing an output signal indicative of the digital value;
An interference detector that detects whether interference in an interference signal is causing a narrowband error in the output signal, and provides an interference detection output signal as a response when detecting that it is occurring;
And a variable frequency clock circuit that receives the interference detection output signal and changes the first sampling clock frequency to an alternative sampling clock frequency.
前記可変周波数クロック回路が、前記第1のサンプリングクロック周波数を、複数の異なる代替サンプリングクロック周波数のうちの一つへと変更することを特徴とする請求項21に記載のプロセス変数伝送器。 The process variable transmitter of claim 21 , wherein the variable frequency clock circuit changes the first sampling clock frequency to one of a plurality of different alternative sampling clock frequencies. 前記干渉検出器が干渉サンプリング部を備え、
前記干渉検出器が、当該干渉サンプリング部によって前記干渉信号をサンプリングすることで、前記干渉が前記狭帯域誤差を、前記サンプリング部が前記アナログセンサ信号をサンプリングする際の周波数と同じ周波数において発生させているか否かを検出することを特徴とする請求項21に記載のプロセス変数伝送器。
The interference detector comprises an interference sampling unit;
The interference detector samples the interference signal by the interference sampling unit, so that the interference generates the narrowband error at the same frequency as the frequency at which the sampling unit samples the analog sensor signal. 22. The process variable transmitter according to claim 21 , wherein it is detected whether or not there is any.
前記干渉サンプリング部が、前記サンプリングクロック信号を用いて前記干渉信号をサンプリングすることを特徴とする請求項23に記載のプロセス変数伝送器。 The process variable transmitter according to claim 23 , wherein the interference sampling unit samples the interference signal using the sampling clock signal. 前記干渉信号は、前記アナログセンサ信号とは別のものとして、干渉を含んで得られるものであることを特徴とする請求項21ないし24のいずれかに記載のプロセス変数伝送器。25. The process variable transmitter according to claim 21, wherein the interference signal is obtained by including interference as a separate signal from the analog sensor signal. 前記干渉信号は、前記プロセス変数伝送器のハウジングから得られるものであることを特徴とする請求項21ないし25のいずれかに記載のプロセス変数伝送器。26. The process variable transmitter according to claim 21, wherein the interference signal is obtained from a housing of the process variable transmitter.
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