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JP6289355B2 - 高周波回路及びアンテナ装置 - Google Patents

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Description

この発明は、例えば、無線通信機器やレーダー装置などに搭載され、マイクロ波帯やミリ波帯で用いられる高周波回路と、その高周波回路を搭載しているアンテナ装置とに関するものである。
従来は、薄型なタイル形状のモジュールの上平面部に対してアンテナ素子が配置された素子一体モジュール、または、サブアレー化モジュールを配列することで、素子数が大規模な薄型のフェーズドアレーアンテナ(アンテナ装置)を実現している。
例えば、以下の特許文献1に開示されているフェーズドアレーアンテナでは、制御モジュールが多層積層基板で構成され、複数の高周波モジュールがセラミック多層基板パッケージで構成されている。
複数の高周波モジュールは、制御モジュール上に載置されており、高周波モジュールは、セラミック多層基板パッケージの制御モジュールと反対側である第1の面に導体パターンで形成された複数のアンテナ素子を有すると共に、制御モジュール側である第2の面に複数のキャビティ及び平面実装用の接続電極を有している。
複数のキャビティの内部には、個片化された半導体チップが配設されており、高周波モジュールには、第1の面のアンテナ素子がない部分に熱伝導性の高い放熱板が設けられ、半導体チップと放熱板は、セラミック多層基板パッケージを貫通して設けられたサーマルバイアホールで接続されている。
このため、このフェーズドアレーアンテナでは、必要な部品の数が多く、部品の製作に要する費用や実装に要する費用が高価格になる。
また、サブアレー化されたセラミック多層基板パッケージの実装や配列の際に、パッケージ間に隙間が生じるため、アンテナ素子を等間隔に配列することができない。また、アンテナ素子のグラウンドを同一面に形成することができない。このため、アレーアンテナの特性が劣化してしまうことがある。
また、主な熱源となる半導体チップが、セラミック多層基板パッケージのキャビティの内部に配設され、セラミック多層基板パッケージが制御モジュールに実装されているため、半導体チップが制御モジュールに実装されている場合と比べて排熱が問題になる。
さらに、接続電極における特性が高周波になるにつれて劣化するため、アンテナシステムの高周波化が難しくなる。具体的には、ミキサー回路の出力又は増幅器の出力であるRF(高周波)信号をミリ波帯にした場合、接続電極におけるLO(ローカル)信号やIF(中間周波数)信号の特性を維持するのが難しくなる。
以下の非特許文献1に開示されているフェーズドサブアレーアンテナは、13.6mm×13.6mm程度のタイル形状のモジュールを用いて構成されており、そのモジュールより一回り小さくダイシングされた単一のレティクル(回路が半導体ウェハに露光されたエリア)を持つ半導体チップ上に積層誘電体が形成されている。
タイル形状のモジュールの上部に4×4のアンテナ素子が配置されることで、16素子のフェーズドサブアレーアンテナが構成されている。
このため、このフェーズドアレーアンテナでは、素子数が16素子を超える大規模アレーアンテナを構成する場合、サブアレーアンテナを配列する必要がある。
サブアレーアンテナを配列する際、サブアレーアンテナ間には、実装の都合上、空隙が必要であり、または、配線用のスペースが必要となる。
つまり、アンテナ素子を等間隔に配列することができず、また、アンテナ素子のグラウンドを同一面に形成することができないため、アレーアンテナの特性が劣化することがある。
さらには、サブアレーアンテナを複数配列する際、RF信号、あるいは、LO信号及びIF信号を、全てのサブアレーアンテナに個別に給電する必要があり、サブアレーアンテナの数だけ、それら信号線の数が必要となる。この場合、サブアレーアンテナの間には、実装の都合上、空隙又は配線用のスペースが必要となる。また、この場合、アレーアンテナ装置と外部回路基板との接続端子数が増加する。
このため、アンテナ素子を等間隔に配列することができなくなり、また、外部回路基板との接続端子数が増加するため接続領域の自由度が低くなる。より具体的には、接続端子数が増加すると、外部回路基板のデザインルールに則った接続パッドを配置することが困難となる。さらには、RF信号、あるいは、LO信号及びIF信号を、それぞれサブアレーアンテナの数だけ分配する回路が必要となり、分配させる機能を外部回路基板に持たせるため、外部回路基板の大型化を招くようになる。即ち、アレーアンテナ装置の大型化を招くようになる。
また、このフェーズドアレーアンテナでは、サブアレーアンテナへの配線用パターンがパッケージの外周に設けられるが、これらをアンテナ素子形成面と反対側の面に設けた場合においても、パッケージ間に隙間が必要であり、また、排熱には課題が残る。
また、半導体チップは13.6mm×13.6mmよりも一回り小さい大きさに個片化されているが、一般的には、レティクルを超えるような半導体チップは製造することができない。半導体製造装置のレティクルの最大は20mm×20mm程度である。
即ち、20mm×20mmを超えるようなアレーアンテナを一括で製造することができない。よって、非特許文献1に開示されているフェーズドサブアレーアンテナを用いて、大規模なフェーズドアレーアンテナを構成することは困難である。
特開平11−340724号公報
Jonathan Hacker,Chris Hillman,Alex Papavasiliou,Chong Gon Kim,Abbas Abbaspour-Tamijani,Choul Young Kim,Dong Woo Kang,Babriel Rebeiz,"A 16-Element Transmit / Receive Q-Band Electronically Steerable Subarray Tile,"Microwave Symposium Digest(MTT),2012 IEEE MTT-S International,2012.
従来のアンテナ装置は以上のように構成されているので、アンテナ素子を等間隔に配列することができず、また、アンテナ素子のグラウンドを同一面に形成することができない。このため、アレーアンテナの特性が劣化してしまう課題があった。
また、排熱が困難であることに伴う熱の影響や、ミリ波帯などの高周波化に伴って特性が劣化し、大規模なフェーズドアレーアンテナの構築が困難である課題があった。
また、サブアレーアンテナの数だけ配線が必要であり、外部回路基板に全ての配線数に応じた分配機能を持たせる必要があるため、アレーアンテナ装置の大型化を招いてしまう課題があった。
この発明は上記のような課題を解決するためになされたもので、アレーアンテナ特性の劣化を招くことなく、大規模なフェーズドアレーアンテナの構築を実現することができる小型のアンテナ装置と、そのアンテナ装置に用いる高周波回路とを得ることを目的とする。
この発明に係る高周波回路は、半導体ウェハと、絶縁膜と導体パターンのうち、少なくとも1つを含んでいる再配線層と、その再配線層に形成され、外部回路と接続される外部回路接続端子とを備え、その再配線層は半導体ウェハの上に形成され、その半導体ウェハは半導体プロセスにおける露光単位で形成されるレティクル回路を複数備え、複数のレティクル回路の中のいずれか1つのレティクル回路と外部回路接続端子の接続を行う第1の接続手段を再配線層に備え、複数のレティクル回路の中のいずれか1つのレティクル回路と、もう1つのレティクル回路の接続を行う第2の接続手段を再配線層に備え、第1の接続手段及び第2の接続手段のうち、少なくとも1つの接続手段は、複数のレティクル回路の中のいずれか1つのレティクル回路を跨ぐように接続を行う第3の接続手段を含んでいるようにしたものである。
この発明によれば、半導体ウェハと、絶縁膜と導体パターンのうち、少なくとも1つを含んでいる再配線層と、その再配線層に形成され、外部回路と接続される外部回路接続端子とを備え、その再配線層は半導体ウェハの上に形成され、その半導体ウェハは半導体プロセスにおける露光単位で形成されるレティクル回路を複数備え、複数のレティクル回路の中のいずれか1つのレティクル回路と外部回路接続端子の接続を行う第1の接続手段を再配線層に備え、複数のレティクル回路の中のいずれか1つのレティクル回路と、もう1つのレティクル回路の接続を行う第2の接続手段を再配線層に備え、第1の接続手段及び第2の接続手段のうち、少なくとも1つの接続手段は、複数のレティクル回路の中のいずれか1つのレティクル回路を跨ぐように接続を行う第3の接続手段を含んでいるように構成したので、アレーアンテナ特性の劣化を招くことなく、大規模なフェーズドアレーアンテナの構築を実現することができる小型のアンテナ装置が得られる効果がある。
この発明の実施の形態1による高周波回路を示す上面透過図である。 図1におけるA−A’断面図である。 従来の高周波回路を示す側面透過図である。 従来の高周波回路を示す側面透過図である。 従来の高周波回路が2×1実装された場合の上面透過図である。 この発明の実施の形態1による他の高周波回路を示す上面透過図である。 この発明の実施の形態2による高周波回路を示す上面透過図である。 図7におけるA−A’断面図である。 図7におけるB−B’断面図である。 図7におけるC−C’断面図である。 従来の高周波回路が3×3実装された場合の上面透過図である。 この実施の形態2の高周波回路が3×3実装された場合の上面透過図である。 この発明の実施の形態2による他の高周波回路を示す上面透過図である。 この発明の実施の形態3によるアンテナ装置を示す上面透過図である。 図14におけるA−A’断面図である。 この発明の実施の形態4によるアンテナ装置を示す上面透過図である。 図16におけるA−A’断面図である。 この実施の形態4のアンテナ装置が5×4実装された場合の上面透過図である。 この実施の形態4のアンテナ装置が5×4実装された場合の側面透過図である。 この発明の実施の形態5によるアンテナ装置を示す断面図である。 この発明の実施の形態6によるアンテナ装置を示す断面図である。 この発明の実施の形態7によるアンテナ装置を示す上面図である。 この発明の実施の形態7によるアンテナ装置を示す断面図である。 この発明の実施の形態7によるアンテナ装置のうち、半導体ウェハ2と再配線層6を示す上面ブロック図である。
実施の形態1.
図1はこの発明の実施の形態1による高周波回路を示す上面透過図であり、図2は図1におけるA−A’断面図である。
図1及び図2において、外部高周波回路1は、例えば、ローカル信号を発振するローカル信号源や、中間周波数信号を発振する中間周波数信号源などが設けられている外部回路である。
半導体ウェハ2は複数のレティクル5が残るようにダイシング加工が施されたウェハであり、外部高周波回路1の上に載せられている。
半導体ウェハ2の上部には回路形成層3が形成されており、その回路形成層3の表面が回路形成面4である。
レティクル(レティクル回路)5は半導体プロセスにおける露光単位で形成される回路であって、レティクル5は回路が半導体ウェハ2に露光されたエリア(回路露光領域)であり、半導体ウェハ2における回路形成層3に形成されている。図1及び図2の例では、2個(1×2)のレティクル5が形成されているが、3個以上のレティクル5が形成されていてもよい。
レティクル5の中にはアクティブ回路が形成されている。アクティブ回路としては、例えば、外部高周波回路1におけるローカル信号源(図示せず)から発振されたローカル信号と中間周波数信号源(図示せず)から発振された中間周波数信号を混合するミキサー回路のほか、増幅器、位相器、逓倍器やスイッチ回路などが考えられる。
再配線層6は回路形成層3の表面である回路形成面4に形成されている積層誘電体であり、絶縁膜と導体パターンのうち、少なくとも1つを含んでいる。
入出力端子7は再配線層6に形成されている外部回路接続端子である。
入出力端子8はレティクル5に形成されている端子である。
配線9は再配線層6の中で入出力端子7と入出力端子8間を電気的に接続し、配線10は入出力端子7と外部高周波回路1間を電気的に接続している。
なお、配線9は第1の接続手段を構成している。
この実施の形態1の高周波回路は、1×2のレティクルが残るようにダイシング加工が施された半導体ウェハ2の回路形成面4に再配線層6が形成されており、1個のレティクル5のサイズを超える規模の半導体集積回路となっている。
なお、配線9が入出力端子7と入出力端子8間を電気的に接続し、配線10が入出力端子7と外部高周波回路1間を電気的に接続することで、レティクル5と外部高周波回路1が電気的に接続されている。
この実施の形態1の高周波回路の構造を明確にするために、従来の高周波回路の構造を説明する。
図3及び図4は従来の高周波回路を示す側面透過図であり、図5は従来の高周波回路が2×1実装された場合の上面透過図である。
ただし、図3から図5において、図1及び図2に相当する部材は同一の符号を付している。
従来の高周波回路では、図3に示すように、半導体集積回路20の回路形成層3に単一のレティクル5が形成されており、レティクル5に形成された入出力端子8は、配線10によって外部高周波回路1と接続されている。
また、従来の高周波回路では、図4に示すように、半導体集積回路20の回路形成層3に単一のレティクル5が形成されており、半導体集積回路20の回路形成面4に再配線層6が形成されている。また、再配線層6に形成された入出力端子7とレティクル5に形成された入出力端子8が、再配線層6の中の配線9で接続されており、また、その入出力端子7と外部高周波回路1が、配線10で接続されている。
従来の高周波回路が2×1実装される場合、図5に示すように、半導体集積回路20の実装のハンドリング、あるいは、配線10のためのスペース30が必要になる。
これに対して、この実施の形態1の高周波回路では、半導体ウェハ2が、2×1のレティクル5が残るようにダイシング加工が施されているので、半導体ウェハ2の実装のハンドリング等のためのスペース30が不要である。このため、大規模な回路を形成する場合、高密度なレティクル5の配置が可能になり、装置の小形化を図ることができる。
なお、レティクル5の露光可能な最大サイズは、通常、20mm□程度であるが、この実施の形態1では、半導体ウェハ2が、2×1のレティクル5が残るようにダイシング加工が施されているので、20mm□を超える大規模な半導体集積回路を一括で形成することが可能である。
一括で形成する場合には、実装の数や部品の数の削減が可能であるため低価格化を図ることができる。
以上で明らかなように、この実施の形態1によれば、半導体ウェハ2と、絶縁膜と導体パターンのうち、少なくとも1つを含んでいる再配線層6と、その再配線層6に形成され、外部高周波回路1と接続される入出力端子7とを備え、その再配線層6は半導体ウェハ2の上に形成され、その半導体ウェハ2は半導体プロセスにおける露光単位で形成されるレティクル5を複数備え、複数のレティクル5の中のいずれか1つのレティクル5と入出力端子7を接続する配線9を再配線層6に備えるように構成したので、アレーアンテナ特性の劣化を招くことなく、大規模なフェーズドアレーアンテナの構築を実現することができるアンテナ装置が得られる効果を奏する。
この実施の形態1では、1×2のレティクル5のサイズが同じ20mm□であるものを示したが、サイズが異なるレティクル5が半導体ウェハ2に形成されるものであってもよく、同様の効果を得ることができる。
また、この実施の形態1では、1×2のレティクル5(直線状に配置されている複数のレティクル5が)が半導体ウェハ2に形成されている例を示したが、図6に示すように、N×2(Nは自然数)のレティクル5(格子状に等間隔で周期的に配置されている複数のレティクル5が)が半導体ウェハ2に形成されるものであってもよく、同様の効果を得ることができる。
実施の形態2.
図7はこの発明の実施の形態2による高周波回路を示す上面透過図である。
図8は図7におけるA−A’断面図であり、図9は図7におけるB−B’断面図であり、図10は図7におけるC−C’断面図である。
図7から図10において、図1及び図2と同一符号は同一または相当部分を示すので説明を省略する。
配線11は再配線層6の中で、図中左側のレティクル5に形成されている入出力端子8と図中右側のレティクル5に形成されている入出力端子8間を電気的に接続している。なお、配線11は第2の接続手段を構成している。
配線12は再配線層6の中で、図中左側のレティクル5を跨ぐように、再配線層6に形成されている入出力端子7と図中右側のレティクル5に形成されている入出力端子8間を電気的に接続している。なお、配線12は第3の接続手段を構成している。
この実施の形態2では、半導体ウェハ2に形成されている1×2のレティクル5間を電気的に接続するために、配線11が、再配線層6の中で、図中左側のレティクル5に形成されている入出力端子8と、図中右側のレティクル5に形成されている入出力端子8とを電気的に接続している。
また、図中右側のレティクル5を外部高周波回路1と電気的に接続するために、配線12が、再配線層6の中で、図中左側のレティクル5を跨ぐように、再配線層6に形成されている入出力端子7と、図中右側のレティクル5に形成されている入出力端子8とを電気的に接続している。
図7の例では、半導体ウェハ2に形成されているレティクル5の数が2個であるため、配線11が、図中左側のレティクル5に形成されている入出力端子8と、図中右側のレティクル5に形成されている入出力端子8とを電気的に接続しているが、例えば、半導体ウェハ2に直線状に形成されているレティクル5の数が3個である場合、配線11が、真ん中のレティクル5を跨ぐように、左端のレティクル5に形成されている入出力端子8と、右端のレティクル5に形成されている入出力端子8とを電気的に接続するようにしてもよい。
この実施の形態2では、半導体ウェハ2に形成されている1×2のレティクル5間を電気的に接続する場合、再配線層6の中の配線11で入出力端子8間を接続するため、半導体ウェハ2の実装のハンドリング等のためのスペース30が不要である。
また、図中右側のレティクル5を外部高周波回路1と電気的に接続する場合、再配線層6の中で、図中左側のレティクル5を跨ぐように、再配線層6の中の配線12で入出力端子7と入出力端子8を接続するため、外部高周波回路1との接続部である入出力端子7を片側に集約させることができる。図7の例では、図中左側に入出力端子7を集約させている。
したがって、上記実施の形態1の高周波回路よりも更に、高密度な実装が可能なる効果が得られる。
ここで、図11は従来の高周波回路が3×3実装された場合の上面透過図である。
従来の高周波回路では、半導体集積回路20の実装のハンドリング、あるいは、配線10のためのスペース30が必要になる。
また、内側の半導体集積回路20(図中、真ん中の半導体集積回路20)から外側へ導く配線13のためのスペース31が必要になる。
また、外部高周波回路1の内層への配線14のためのスペースや、スルーホール15のためのスペース32が必要になる。
図12はこの実施の形態2の高周波回路が3×3実装された場合の上面透過図である。
この実施の形態2の高周波回路では、半導体ウェハ2が、3×3のレティクル5が残るようにダイシング加工が施されているので、図12に示すように、従来の高周波回路で必要となる半導体集積回路20の実装のハンドリング、外側へ導く配線13のためのスペース31、配線14のためのスペースや、スルーホール15のためのスペース32が不要である。このため、大規模な回路を形成する場合、高密度なレティクル5の配置が可能になり、装置の小形化を図ることができる。
レティクル5の露光可能な最大サイズは、通常、20mm□程度であるが、この実施の形態2では、半導体ウェハ2が、3×3のレティクル5が残るようにダイシング加工が施されているので、20mm□を超える大規模な半導体集積回路(図12では、60mm□を超える半導体集積回路)を一括で形成することが可能である。
一括で形成する場合には、実装の数や部品の数の削減が可能であるため低価格化を図ることができる。
この実施の形態2では、3×3のレティクル5のサイズが同じ20mm□であるものを示したが、サイズが異なるレティクル5が半導体ウェハ2に形成されるものであってもよく、同様の効果を得ることができる。
また、図6に示した例と同様に、N×2のレティクル5が半導体ウェハ2に形成された場合や、M×M(Mは3以上の自然数)のレティクル5が半導体ウェハ2に形成された場合においても同様の効果を得ることができる。
図13はこの発明の実施の形態2による他の高周波回路を示す上面透過図である。
再配線層6における配線12が分岐を有する場合(図13の例では、図中左側のレティクル5を跨ぐ配線12が分岐部16で2つの分岐されている)、再配線層6の中で、一方の分岐配線(第4の接続手段)が図中右側のレティクル5に形成されている入出力端子8と接続されるとともに、他方の分岐配線(第4の接続手段)が図中左側のレティクル5に形成されている入出力端子8と接続される。
この場合、外部高周波回路1と接続する接続手段や、再配線層6における入出力端子の数を分岐の数だけ減らすことができるようになり、更に省面積な高周波回路や、高密度な高周波回路を実現することが可能になる。
ここでは、再配線層6における配線12が分岐を有する例を示しているが、配線9又は配線11が分岐を有し、配線9又は配線11の分岐配線が2つ以上のレティクル5に形成されている入出力端子8と接続されているようにしてもよい。
実施の形態3.
図14はこの発明の実施の形態3によるアンテナ装置を示す上面透過図であり、図15は図14におけるA−A’断面図である。
図14及び図15において、図1及び図2と同一符号は同一または相当部分を示すので説明を省略する。
この実施の形態3では、上記実施の形態1の高周波回路を実装しているアンテナ装置について説明するが、アンテナ装置が、上記実施の形態2の高周波回路を実装しているものであってもよい。
アンテナ放射素子40は再配線層6の上部に形成されている。
入出力端子41はレティクル5内のアクティブ回路に形成されており、RF信号(高周波信号)を入出力する端子である。
配線42は再配線層6の中で、アンテナ放射素子40とアクティブ回路の入出力端子41を電気的に接続している。
なお、入出力端子41及び配線42はアンテナ結合手段を構成している。
この実施の形態3のアンテナ装置では、上記実施の形態1の高周波回路と同様の理由により、大規模なアンテナ装置を形成する場合、高密度なレティクル5及びアンテナ放射素子40の配置が可能になり、装置の小形化を図ることができる。
また、レティクル5の露光可能な最大サイズは、通常、20mm□程度であるが、この実施の形態3では、半導体ウェハ2が、2×1のレティクル5が残るようにダイシング加工が施されているので、20mm□を超える大規模なアンテナ装置を一括で形成することが可能である。
一括で形成する場合には、実装の数や部品の数の削減が可能であるため低価格化を図ることができる。
図5に示している従来の高周波回路を実装するアンテナ装置では、アンテナの接地導体がレティクル5又は再配線層6に形成されるため、アンテナの接地導体が同一面に形成されない。
この実施の形態3のアンテナ装置では、アンテナ放射素子40の接地導体を再配線層6において同一面に形成することができる。
このため、複数のアンテナ放射素子40がアレー配置される場合、この実施の形態3では、アレーアンテナ特性が向上する。
なお、アンテナ放射素子40の接地導体をレティクル5に形成する場合でも、再配線層6の厚みが、半導体ウェハ2の厚みと比べ十分に小さく、レティクル5に設けられた接地導体を再配線層6で接続することは容易である。したがって、アンテナ放射素子40から見てほぼ同一面に接地導体が形成されるため、アレーアンテナ特性が良くなる。
この実施の形態3では、1×2のレティクル5のサイズが同じ20mm□であるものを示したが、サイズが異なるレティクル5が半導体ウェハ2に形成されるものであってもよく、同様の効果を得ることができる。
また、図12に示す3×3のレティクル5や、図6に示すN×2のレティクル5や、M×M(Mは3以上の自然数)のレティクル5が半導体ウェハ2に形成された場合においても同様の効果を得ることができる。
この実施の形態3では、配線42が、再配線層6の中で、アンテナ放射素子40とアクティブ回路の入出力端子41を電気的に接続しているものを示したが、接続手段である配線9及び配線10によって、外部高周波回路1におけるローカル信号源(図示せず)及び中間周波数信号源(図示せず)と、レティクル5内のアクティブ回路に形成されているミキサー回路とを電気的に接続し、そのミキサー回路が、そのローカル信号源から発振されたローカル信号と、その中間周波数信号源から発振された中間周波数信号とを混合し、その混合した信号(高周波信号)を配線を介してアンテナ放射素子40に出力するようにしてもよい。
ローカル信号源から発振されたローカル信号及び中間周波数信号源から発振された中間周波数信号は、入出力端子41から入力されるRF信号よりも周波数が低いため、配線10において、より低損失に信号を通すことができるようになり、アンテナ装置の高周波化や低損失化を図ることができる。
なお、再配線層6の層数を増やし、再配線層6において、アンテナ放射素子40とレティクル5の回路を電気的に遮蔽するグラウンドを設けた場合、アンテナ放射素子40とレティクル5の回路のアイソレーションを確保することができる。
この実施の形態3では、ミキサー回路から出力された高周波信号を配線を介してアンテナ放射素子40に出力するものを示したが、レティクル5が、そのミキサー回路から出力された高周波信号を増幅させる高周波信号増幅回路を備え、そのミキサー回路とアンテナ放射素子40が、その高周波信号増幅回路を介して接続されていてもよい。
また、レティクル5が、ローカル信号を増幅させるローカル信号増幅回路を備え、そのミキサー回路と外部回路接続端子である入出力端子7が、そのローカル信号増幅回路を介して接続されていてもよい。
あるいは、レティクル5が、中間周波数信号を増幅させる中間周波数信号増幅回路を備え、そのミキサー回路と外部回路接続端子である入出力端子7が、その中間周波数信号増幅回路を介して接続されていてもよい。
実施の形態4.
図16はこの発明の実施の形態4によるアンテナ装置を示す上面透過図であり、図17は図16におけるA−A’断面図である。
図16及び図17において、図14及び図15と同一符号は同一または相当部分を示すので説明を省略する。
誘電体基板51は再配線層6の上部に形成されており、誘電体基板51には複数のアンテナ放射素子40が配列されている。
なお、複数のアンテナ放射素子は一括で誘電体基板51に形成されている。
アンテナ放射素子40とレティクル5内のアクティブ回路との間において、アンテナ放射素子40が設けられた領域を包含する大きさの領域内に接地導体52が連続的に形成されている。
接地導体52には結合孔53(アンテナ放射素子40とレティクル5内のアクティブ回路を電気的に接続する抜きパターン)が施されている。
54はアンテナ放射素子40とアクティブ回路の結合を表している。
この実施の形態4のアンテナ装置では、上記実施の形態3と同様の理由により、大規模なアンテナ装置を形成する場合、高密度なレティクル5及びアンテナ放射素子40の配置が可能になり、装置の小形化を図ることができる。
また、接地導体52が同一面に形成されるため、接地導体が同一面に形成されない従来のアンテナ装置よりも、アレーアンテナ特性が向上する。
また、特許文献1や非特許文献1に開示されているフェーズドアレーアンテナが複数配列されている従来のアンテナ装置では、半導体集積回路やレティクルが個片化されており、実装スペースや配線スペースが必要であるが、この実施の形態4のアンテナ装置は、そのような実装スペースや配線スペースが不要であるため、従来のアンテナ装置よりも高密度な実装が可能である。
この実施の形態4では、1×2のレティクル5のサイズが同じ20mm□であるものを示したが、サイズが異なるレティクル5が半導体ウェハ2に形成されるものであってもよく、同様の効果を得ることができる。
また、図12に示す3×3のレティクル5や、図6に示すN×2のレティクル5や、M×M(Mは3以上の自然数)のレティクル5が半導体ウェハ2に形成された場合においても同様の効果を得ることができる。
特に、レティクル5のアレー配置が自然数行×偶数列である場合、例えば、図18及び図19に示すように、レティクル5のアレー配置が5×4である場合、中心面100で対称の構造となり、行毎に同一の構造とすることができるため、領域110を同一構造とすることができる。
このため、配線やアンテナの特性ばらつきを小さく抑えることができるため、アンテナ装置におけるアレーアンテナ特性のばらつきを小さく抑えることができる。
この実施の形態4では、配線42が、再配線層6の中で、アンテナ放射素子40とアクティブ回路の入出力端子41を電気的に接続しているものを示したが、接続手段である配線9及び配線10によって、外部高周波回路1におけるローカル信号源(図示せず)及び中間周波数信号源(図示せず)と、レティクル5内のアクティブ回路に形成されているミキサー回路とを電気的に接続し、そのミキサー回路が、そのローカル信号源から発振されたローカル信号と、その中間周波数信号源から発振された中間周波数信号とを混合し、その混合した信号(高周波信号)を配線を介してアンテナ放射素子40に出力するようにしてもよい。
ローカル信号源から発振されたローカル信号及び中間周波数信号源から発振された中間周波数信号は、入出力端子41から入力されるRF信号よりも周波数が低いため、配線10において、より低損失に信号を通すことができるようになり、アンテナ装置の高周波化や低損失化を図ることができる。
なお、再配線層6の層数を増やし、再配線層6において、アンテナ放射素子40とレティクル5の回路を電気的に遮蔽するグラウンドを設けた場合、アンテナ放射素子40とレティクル5の回路のアイソレーションを確保することができる。
この実施の形態4では、誘電体基板51が再配線層6の上部に形成されており、複数のアンテナ放射素子40が誘電体基板51に形成されているものを示したが、誘電体基板51の代わりに、金属ブロック、または、金属処理が施された誘電体ブロックが再配線層6の上部に形成されており、複数のアンテナ放射素子40が金属ブロック、または、金属処理が施された誘電体ブロックに形成されているものであってもよく、同様の効果を得ることができる。
なお、複数のアンテナ放射素子40は一括で金属ブロック、または、金属処理が施された誘電体ブロックに形成される。即ち、複数のアンテナ放射素子40が金属ブロック又は金属処理が施された誘電体ブロックに一体に形成される。
実施の形態5.
図20はこの発明の実施の形態5によるアンテナ装置を示す断面図であり、図において、図17と同一符号は同一または相当部分を示すので説明を省略する。
ステージ61は放熱構造62が設けられた金属ブロックであり、半導体ウェハ2の高さと外部高周波回路1の高さが同一平面になるように、半導体ウェハ2と外部高周波回路1を載せている。
フレキシブル誘電体基板63は一端が半導体ウェハ2の上に載せられ、他端が外部高周波回路1の上に載せられており、その両端が異方導電性接着剤である異方導電性フィルム64によって、半導体ウェハ2及び外部高周波回路1と電気的に接続されている。
上記実施の形態1〜4では、半導体ウェハ2が外部高周波回路1の上に載せられているものを示したが、この実施の形態5では、半導体ウェハ2を外部高周波回路1の上ではなく、外部高周波回路1の側方に配置しているので、放熱構造62が設けられているステージ61の上に、半導体ウェハ2を直接設置することができる。このため、半導体ウェハ2の排熱の効果を高めることができる。
また、この実施の形態5では、フレキシブル誘電体基板63と異方導電性フィルム64を用いて、半導体ウェハ2と外部高周波回路1を接続しているので、実装の際に、一括かつ密に配線を行うことができるようになり、低価格化や小形化を容易に図ることができる。
実施の形態6.
図21はこの発明の実施の形態6によるアンテナ装置を示す断面図であり、図21において、図20と同一符号は同一または相当部分を示すので説明を省略する。
アンテナ装置の高周波回路には複数のレティクルが実装されているが、この実施の形態6では、外部回路接続端子である入出力端子7が上側に配置されていないレティクルと、入出力端子7が上側に配置されているレティクルとが混在しており、入出力端子7が上側に配置されていないレティクルをレティクル5(第1のレティクル回路)、入出力端子7が上側に配置されているレティクルをレティクル5b(第2のレティクル回路)として区別している。ただし、レティクル5とレティクル5bは同一のものである。
レティクル5の入出力端子8は、第3の接続手段である配線12を介して、入出力端子7と接続されているが、レティクル5bの入出力端子8bは、入出力端子7と接続されていない。また、レティクル5bのアンテナ結合手段である入出力端子41bもアンテナ放射素子40と結合されていない。
上記実施の形態1〜5では、入出力端子7がレティクル5の上側、あるいは、レティクル5の近傍に配置されている例を示しているが、この実施の形態6では、入出力端子7がレティクル5bの上側、あるいは、レティクル5bの近傍に配置されているものについて説明する。
この実施の形態6におけるレティクル5bは、実際に回路としての機能を果たすものではなく、配線領域を拡張する目的で形成されている。このため、誘電体基板51と入出力端子7、または、誘電体基板51とフレキシブル誘電体基板63のレイアウト自由度を高くすることができる。特に、入出力端子7のサイズを、接続や実装に必要な分だけ領域を十分に大きくすることができる。また、入出力端子7とフレキシブル誘電体基板63を実装するために必要な領域(例えば、プレス機)の確保も容易になる。
これら領域は、アンテナ放射素子40の素子間隔を維持したまま容易に確保することができる。なお、レティクル5とレティクル5bは同一のものであるため、レティクルを形成するために必要なマスク製造費の観点で低価格になる。
実施の形態7.
図22はこの発明の実施の形態7によるアンテナ装置を示す上面図であり、図23はこの発明の実施の形態7によるアンテナ装置を示す断面図であり、図24はこの発明の実施の形態7によるアンテナ装置のうち、半導体ウェハ2と再配線層6を示す上面ブロック図である。
図22から図24において、図21と同一符号は同一または相当部分を示すので説明を省略する。
レティクル5には、内部回路として、入力された信号の電力を分配する電力分配回路21bが形成され、レティクル5bには、内部回路として、入力された信号の電力を分配する電力分配回路21が形成されている。
ただし、レティクル5に形成されている電力分配回路21bは、再配線層6と接続されておらず、また、レティクル5に形成されている他の回路とも直接接続されていない。
一方、レティクル5bに形成されている電力分配回路21は、配線9bを介して、入出力端子7と接続され、かつ、配線9cを介して、レティクル5に形成されている入出力端子8と接続されている。
レティクル5bに形成されている入出力端子8bは、他の接続端子あるいは他の回路と接続されていない。
したがって、レティクル5bに形成されている電力分配回路21は、LO信号及びIF信号のうち、少なくとも1つの信号の電力を2つに分配するが、レティクル5に形成されている電力分配回路21bは、実際には信号の電力を分配する機能を果たしていない。マスク製造費を抑える目的で、レティクル5とレティクル5bを同一にしているため、電力分配回路21と同一の電力分配回路21bがレティクル5に形成されている。
また、外部高周波回路1の領域111には、入力された信号の電力を4つに分配する4電力分配回路120が配置されており、フレキシブル誘電体基板63の領域112には、4電力分配回路120により電力が分配された信号を伝送する4本の信号線が配線されている。4本の信号線は、入出力端子7とそれぞれ接続されている。
なお、上記の信号線は、LO信号、IF信号及びRF信号のうち、いずれか1つの信号の場合を示したものであり、ミキサー回路をレティクル5に含む場合は、LO信号及びIF信号の配線が必要であり、ミキサー回路をレティクル5に含まない場合は、RF信号の配線が必要である。
上記実施の形態1〜5では、選択的に接続される回路がレティクル5に配置されていない例を示しているが、この実施の形態7では、選択的に接続される回路として、電力分配回路21,21bをレティクル5,5bに備えている。
この実施の形態7では、選択的に接続される電力分配回路21,21bを備えているため、外部高周波回路1の電力分配回路の数を減らして、領域111の大きさを小さくすることができる。また、入出力端子7の数を外部高周波回路1における電力分配回路の分配数に応じて減らすことができる。
さらには、外部高周波回路1から入出力端子7への配線数が減るため、領域112における配線数を減らすことができる。
この実施の形態7のように、選択的に接続される電力分配回路21,21bを備えていない場合、外部高周波回路1の領域111には、入力された信号の電力を8つに分配する8電力分配回路を配置する必要であり、フレキシブル誘電体基板63の領域112には、8電力分配回路により電力が分配された信号を伝送する8本の信号線の配線が必要になる。
この実施の形態7では、選択的に接続される回路が電力分配回路21,21bである例を示しているが、選択的に接続される回路は電力分配回路21,21bに限るものではなく、例えば、配線引き回し損失分の利得を得る増幅器、経路間の配線引き回し損失差を補正する減衰器や、経路間の配線引き回し位相差を補正する位相器などでもよい。
電力分配回路21bは、上述したように、レティクル5における他の回路と接続しないため、レティクル5における配置の自由度が高いものとなる。特に空いた領域に電力分配回路21bを配置するようにすると、領域の有効活用を図ることができる。
この実施の形態7では、配線領域を拡張したレティクル5bにおいて、電力分配回路21を選択的に接続している例を示しているが、この電力分配回路21が他のレティクル5,5bに配置されている電力分配回路21又は電力分配回路21bと選択的に接続するようにしてもよい。
ここで、ウィルキンソン型分配器はアイソレーション用の抵抗器が必要となるため、再配線層6のみでは実現することができない。電力分配回路21,21bは、アイソレーション特性を有するウィルキンソン型分配器であるとなお良い。
電力分配回路21,21bは、半導体ウェハ2に形成されているため、集中乗数型の電力分配回路を実現することができ、より小形化を図ることができる。
この実施の形態7では、電力分配回路21,21bが2分配器である例を示しているが、電力分配回路21,21bが2分配器であるものに限るものではなく、例えば、3分配器や4分配器など、他の分配器であってもよい。
この実施の形態7では、アンテナ放射素子40を増やすことは容易である。この実施の形態7では、アンテナ放射素子40が4×4配列された場合について示しているが、これ以上のアンテナ放射素子40を配列する場合であってもよい。
なお、本願発明はその発明の範囲内において、各実施の形態の自由な組み合わせ、あるいは各実施の形態の任意の構成要素の変形、もしくは各実施の形態において任意の構成要素の省略が可能である。
1 外部高周波回路(外部回路)、2 半導体ウェハ、3 回路形成層、4 回路形成面、5 レティクル(レティクル回路、第1のレティクル回路)、5b レティクル(第2のレティクル回路)、6 再配線層(積層誘電体)、7 入出力端子(外部回路接続端子)、8 入出力端子、8b 入出力端子、9 配線(第1の接続手段)、9b,9c 配線、10 配線、11 配線(第2の接続手段)、12 配線(第3の接続手段)、13,14 配線、15 スルーホール、16 分岐部、20 半導体集積回路、21,21b 電力分配回路(内部回路)、、30,31,32 スペース、40 アンテナ放射素子、41,41b 入出力端子(アンテナ結合手段)、42 配線(アンテナ結合手段)、51 誘電体基板、52 接地導体、53 結合孔、54 アンテナ放射素子とアクティブ回路の結合、61 ステージ(金属ブロック)、62 放熱構造、63 フレキシブル誘電体基板、64 異方導電性フィルム(異方導電性接着剤)、100 中心面、110 領域、111 外部高周波回路1の領域、112 フレキシブル誘電体基板63の領域、120 4電力分配回路。

Claims (31)

  1. 半導体ウェハと、
    絶縁膜と導体パターンのうち、少なくとも1つを含んでいる再配線層と、
    前記再配線層に形成され、外部回路と接続される外部回路接続端子とを備え、
    前記再配線層は、前記半導体ウェハの上に形成され、
    前記半導体ウェハは、半導体プロセスにおける露光単位で形成されるレティクル回路を複数備え、
    前記複数のレティクル回路の中のいずれか1つのレティクル回路と前記外部回路接続端子の接続を行う第1の接続手段を前記再配線層に備え
    前記複数のレティクル回路の中のいずれか1つのレティクル回路と、もう1つのレティクル回路の接続を行う第2の接続手段を前記再配線層に備え、
    前記第1の接続手段及び前記第2の接続手段のうち、少なくとも1つの接続手段は、前記複数のレティクル回路の中のいずれか1つのレティクル回路を跨ぐように接続を行う第3の接続手段を含んでいることを特徴とする高周波回路。
  2. 半導体ウェハと、
    絶縁膜と導体パターンのうち、少なくとも1つを含んでいる再配線層と、
    前記再配線層に形成され、外部回路と接続される外部回路接続端子とを備え、
    前記再配線層は、前記半導体ウェハの上に形成され、
    前記半導体ウェハは、半導体プロセスにおける露光単位で形成され、内部回路が形されるレティクル回路を複数備え、
    前記複数のレティクル回路の中のいずれか1つのレティクル回路と前記外部回路接続端子の接続を行う第1の接続手段を前記再配線層に備え、
    前記複数のレティクル回路に形成されている内部回路の中に、前記再配線層と接続されている内部回路と、前記再配線層と接続されていない内部回路とが混在していることを特徴とする高周波回路。
  3. 半導体ウェハと、
    絶縁膜と導体パターンのうち、少なくとも1つを含んでいる再配線層と、
    前記再配線層に形成され、外部回路と接続される外部回路接続端子とを備え、
    前記再配線層は、前記半導体ウェハの上に形成され、
    前記半導体ウェハは、半導体プロセスにおける露光単位で形成されるレティクル回路を複数備え、
    前記複数のレティクル回路の中のいずれか1つのレティクル回路と前記外部回路接続端子の接続を行う第1の接続手段を前記再配線層に備え、
    前記外部回路接続端子と前記外部回路の接続手段は、フレキシブル誘電体基板及び異方導電性接着剤を用いて接続されていることを特徴とする高周波回路。
  4. 前記複数のレティクル回路の中のいずれか1つのレティクル回路と、もう1つのレティクル回路の接続を行う第2の接続手段を前記再配線層に備えることを特徴とする請求項2または請求項3記載の高周波回路。
  5. 前記第1の接続手段及び前記第2の接続手段のうち、少なくとも1つの接続手段は、前記複数のレティクル回路の中のいずれか1つのレティクル回路を跨ぐように接続を行う第3の接続手段を含んでいることを特徴とする請求項記載の高周波回路。
  6. 前記第1から第3の接続手段のうち、少なくとも1つの接続手段は、配線が複数に分岐されている分岐配線から構成されており、前記分岐配線が前記複数のレティクル回路の中の2つ以上のレティクル回路と接続されている第4の接続手段を含んでいることを特徴とする請求項1または請求項記載の高周波回路。
  7. 前記複数のレティクル回路が全て同一の回路であることを特徴とする請求項1から請求項のうちのいずれか1項記載の高周波回路。
  8. 前記複数のレティクル回路のうち、前記外部回路接続端子が上側に配置されていないレティクル回路が第1のレティクル回路で、前記外部回路接続端子が上側に配置されているレティクル回路が第2のレティクル回路であり、
    前記外部回路接続端子と前記第2のレティクル回路に形成されている入出力端子が接続されておらず、前記外部回路接続端子と前記第1のレティクル回路に形成されている入出力端子が接続されていることを特徴とする請求項から請求項のうちのいずれか1項記載の高周波回路。
  9. 前記複数のレティクル回路のうち、前記外部回路接続端子が上側に配置されていないレティクル回路が第1のレティクル回路で、前記外部回路接続端子が上側に配置されているレティクル回路が第2のレティクル回路であり、
    前記第1のレティクル回路に形成されている内部回路は、前記再配線層と接続されておらず、
    前記第2のレティクル回路に形成されている内部回路は、前記外部回路接続端子と接続され、かつ、前記第1のレティクル回路に形成されている入出力端子と接続されていることを特徴とする請求項1または請求項記載の高周波回路。
  10. 前記複数のレティクル回路に形成されている内部回路は、入力された信号の電力を分配する電力分配回路であることを特徴とする請求項または請求項記載の高周波回路。
  11. 前記半導体ウェハのサイズが、前記レティクル回路の露光可能なサイズより大きいことを特徴とする請求項1から請求項10のうちのいずれか1項記載の高周波回路。
  12. 前記複数のレティクル回路が直線状、または、格子状に等間隔で周期的に配置されていることを特徴とする請求項1から請求項11のうちのいずれか1項記載の高周波回路。
  13. 自然数行×偶数列に配置されている複数のレティクル回路が前記格子状に等間隔で周期的に配置されていることを特徴とする請求項12記載の高周波回路。
  14. 前記半導体ウェハと前記外部回路が金属ブロックの上に設置されていることを特徴とする請求項から請求項13のうちのいずれか1項記載の高周波回路。
  15. 前記外部回路接続端子と前記外部回路の接続手段は、フレキシブル誘電体基板及び異方導電性接着剤を用いて接続されていることを特徴とする請求項1、請求項2、請求項4から請求項14のうちのいずれか1項記載の高周波回路。
  16. 半導体ウェハと、
    絶縁膜と導体パターンのうち、少なくとも1つを含んでいる再配線層と、
    前記再配線層に形成され、外部回路と接続される外部回路接続端子とを備え、
    前記再配線層は、前記半導体ウェハの上に形成され、
    前記半導体ウェハは、半導体プロセスにおける露光単位で形成されるレティクル回路を複数備え、
    前記複数のレティクル回路の中のいずれか1つのレティクル回路と前記外部回路接続端子の接続を行う第1の接続手段を前記再配線層に備えた高周波回路と、
    一体で形成された複数のアンテナ放射素子と、
    前記アンテナ放射素子と前記高周波回路における前記レティクル回路とを接続するアンテナ結合手段と
    を備えたアンテナ装置。
  17. 半導体ウェハと、
    絶縁膜と導体パターンのうち、少なくとも1つを含んでいる再配線層と、
    前記再配線層に形成され、外部回路と接続される外部回路接続端子とを備え、
    前記再配線層は、前記半導体ウェハの上に形成され、
    前記半導体ウェハは、半導体プロセスにおける露光単位で形成されるレティクル回路を複数備え、
    前記複数のレティクル回路の中のいずれか1つのレティクル回路と前記外部回路接続端子の接続を行う第1の接続手段を前記再配線層に備えた高周波回路と、
    前記複数のレティクル回路の中のいずれか1つのレティクル回路と、もう1つのレティクル回路の接続を行う第2の接続手段を前記再配線層に備え、
    前記第1の接続手段及び前記第2の接続手段のうち、少なくとも1つの接続手段は、前記複数のレティクル回路の中のいずれか1つのレティクル回路を跨ぐように接続を行う第3の接続手段を含んでおり、
    前記第1から第3の接続手段のうち、少なくとも1つの接続手段は、配線が複数に分岐されている分岐配線から構成されており、前記分岐配線が前記複数のレティクル回路の中の2つ以上のレティクル回路と接続されている第4の接続手段を含み、
    アンテナ放射素子と、
    前記アンテナ放射素子と前記高周波回路における前記レティクル回路とを接続するアンテナ結合手段と
    を備えたアンテナ装置。
  18. 半導体ウェハと、
    絶縁膜と導体パターンのうち、少なくとも1つを含んでいる再配線層と、
    前記再配線層に形成され、外部回路と接続される外部回路接続端子とを備え、
    前記再配線層は、前記半導体ウェハの上に形成され、
    前記半導体ウェハは、半導体プロセスにおける露光単位で形成されるレティクル回路を複数備え、
    前記複数のレティクル回路の中のいずれか1つのレティクル回路と前記外部回路接続端子の接続を行う第1の接続手段を前記再配線層に備えた高周波回路と、
    アンテナ放射素子と、
    前記アンテナ放射素子と前記高周波回路における前記レティクル回路とを接続するアンテナ結合手段とを備え、
    前記アンテナ放射素子と前記レティクル回路の間において、前記アンテナ放射素子が設けられた領域を包含する大きさの領域内に接地導体が連続的に形成され、
    前記接地導体には、前記アンテナ結合手段のための抜き穴が施されていることを特徴とするアンテナ装置。
  19. 半導体ウェハと、
    絶縁膜と導体パターンのうち、少なくとも1つを含んでいる再配線層と、
    前記再配線層に形成され、外部回路と接続される外部回路接続端子とを備え、
    前記再配線層は、前記半導体ウェハの上に形成され、
    前記半導体ウェハは、半導体プロセスにおける露光単位で形成されるレティクル回路を複数備え、
    前記複数のレティクル回路の中のいずれか1つのレティクル回路と前記外部回路接続端子の接続を行う第1の接続手段を前記再配線層に備えた高周波回路と、
    アンテナ放射素子と、
    前記アンテナ放射素子と前記高周波回路における前記レティクル回路とを接続するアンテナ結合手段と
    を備え、
    前記外部回路接続端子と前記外部回路の接続手段は、フレキシブル誘電体基板及び異方導電性接着剤を用いて接続されていることを特徴とするアンテナ装置。
  20. 前記アンテナ放射素子を複数備え、
    前記複数のアンテナ放射素子が一体で形成されていることを特徴とする請求項17から請求項19のいずれかに記載のアンテナ装置。
  21. 前記複数のレティクル回路の中のいずれか1つのレティクル回路と、もう1つのレティクル回路の接続を行う第2の接続手段を前記再配線層に備え、
    前記第1の接続手段及び前記第2の接続手段のうち、少なくとも1つの接続手段は、前記複数のレティクル回路の中のいずれか1つのレティクル回路を跨ぐように接続を行う第3の接続手段を含んでおり、
    前記第1から第3の接続手段のうち、少なくとも1つの接続手段は、配線が複数に分岐されている分岐配線から構成されており、前記分岐配線が前記複数のレティクル回路の中の2つ以上のレティクル回路と接続されている第4の接続手段を含んでいることを特徴とする請求項18または請求項19に記載のアンテナ装置。
  22. 前記外部回路は、ローカル信号を発振するローカル信号源と、中間周波数信号を発振する中間周波数信号源とを備え、
    前記レティクル回路は、前記ローカル信号源から発振されたローカル信号と前記中間周波数信号源から発振された中間周波数信号を混合して高周波信号を出力するミキサー回路を備え、
    前記第1から第4の接続手段のうち、少なくとも1つの接続手段を用いて、前記ミキサー回路と、前記ローカル信号源及び前記中間周波数信号源とが接続されており、
    前記アンテナ結合手段を用いて、前記ミキサー回路と、前記アンテナ放射素子とが接続されていることを特徴とする請求項17または請求項21記載のアンテナ装置。
  23. 前記複数のレティクル回路のうち、前記外部回路接続端子が上側に配置されていないレティクル回路が第1のレティクル回路で、前記外部回路接続端子が上側に配置されているレティクル回路が第2のレティクル回路であり、
    前記外部回路接続端子と前記第2のレティクル回路に形成されている入出力端子が接続されておらず、前記外部回路接続端子と前記第1のレティクル回路に形成されている入出力端子が接続されていることを特徴とする請求項22記載のアンテナ装置。
  24. 前記複数のレティクル回路には内部回路がそれぞれ形成されており、
    前記複数のレティクル回路に形成されている内部回路の中に、前記再配線層と接続されている内部回路と、前記再配線層と接続されていない内部回路とが混在していることを特徴とする請求項22または請求項23記載のアンテナ装置。
  25. 前記複数のレティクル回路のうち、前記外部回路接続端子が上側に配置されていないレティクル回路が第1のレティクル回路で、前記外部回路接続端子が上側に配置されているレティクル回路が第2のレティクル回路であり、
    前記第1のレティクル回路に形成されている内部回路は、前記再配線層と接続されておらず、
    前記第2のレティクル回路に形成されている内部回路は、前記外部回路接続端子と接続され、かつ、前記第1のレティクル回路に形成されている入出力端子と接続されていることを特徴とする請求項22記載のアンテナ装置。
  26. 前記複数のレティクル回路に形成されている内部回路は、前記ローカル信号及び前記中間周波数信号のうち、少なくとも一方の信号の電力を分配する電力分配回路であることを特徴とする請求項24または請求項25記載のアンテナ装置。
  27. 前記レティクル回路は、前記高周波信号を増幅させる高周波信号増幅回路を備え、
    前記ミキサー回路と前記アンテナ放射素子は、前記高周波信号増幅回路を介して、前記アンテナ結合手段によって接続されていることを特徴とする請求項22から請求項26のうちのいずれか1項記載のアンテナ装置。
  28. 前記レティクル回路が前記ローカル信号を増幅させるローカル信号増幅回路を備え、前記ミキサー回路と前記外部回路接続端子が、前記ローカル信号増幅回路を介して、前記第1から第4の接続手段のうち、少なくとも1つの接続手段によって接続、
    あるいは、
    前記レティクル回路が前記中間周波数信号を増幅させる中間周波数信号増幅回路を備え、前記ミキサー回路と前記外部回路接続端子が、前記中間周波数信号増幅回路を介して、前記第1から第4の接続手段のうち、少なくとも1つの接続手段によって接続されていることを特徴とする請求項22から請求項27のうちのいずれか1項記載のアンテナ装置。
  29. 前記アンテナ放射素子と前記レティクル回路の間において、前記アンテナ放射素子が設けられた領域を包含する大きさの領域内に接地導体が連続的に形成され、
    前記接地導体には、前記アンテナ結合手段のための抜き穴が施されていることを特徴とする請求項16、請求項17、請求項19から請求項28のうちのいずれか1項記載のアンテナ装置。
  30. 前記半導体ウェハと前記外部回路が金属ブロックの上に設置されていることを特徴とする請求項16から請求項29のうちのいずれか1項記載のアンテナ装置。
  31. 前記外部回路接続端子と前記外部回路の接続手段は、フレキシブル誘電体基板及び異方導電性接着剤を用いて接続されていることを特徴とする請求項16から請求項18、請求項20から請求項30のうちのいずれか1項記載のアンテナ装置。
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