JP5739115B2 - X線診断装置 - Google Patents
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Description
前記X線画像を表示する表示手段と、を備えたことを特徴とする。
本発明の実施例におけるX線診断装置の構成と機能につき図1乃至図8を用いて説明する。尚、図1は、X線診断装置の全体構成を示すブロック図であり、図5は、このX線診断装置が備える画像データ生成部の具体的な構成を示すブロック図である。
次に、ハイブリッド検出器21を用いた本実施例における診断用画像データの生成手順につき図9のフローチャートを用いて説明する。
次に、本実施例におけるハイブリッド検出器の変形例につき図10を用いて説明する。この変形例におけるハイブリッド検出器21cは、図10(a)に示すように微小な複数の検出素子が列方向及びライン方向に対して所定間隔で2次元配列された平面検出器211cと、微小な複数の検出素子が平面検出器211cの配列間隔より狭い間隔で2次元配列された高精細平面検出器212cによって構成される。そして、平面検出器211cの中央部を縦断するように高精細平面検出器212cを配置することにより円形状のハイブリッド検出器21cが形成され、その中央部には回転中心213cが設けられている。
本実施例のX線診断装置につき図11及び図12を用いて説明する。尚、このX線診断装置の全体構成を示す図11のブロック図において、図1に示したX線診断装置100の各ユニットと同一の構成及び機能を有するユニットは同一の符号を付加し詳細な説明は省略する。
次に、ハイブリッド検出器21を用いた本実施例における高精細画像データの生成手順につき図13のフローチャートを用いて説明する。
11…X線照射部
111…X線管
112…X線絞り器
12…高電圧発生部
121…高電圧制御部
122…高電圧発生器
2…X線検出部
21…ハイブリッド検出器
211…検出器(平面検出器)
212…高精細検出器(高精細平面検出器)
22…投影データ生成部
23…高精細投影データ生成部
3、3a…画像データ生成部
4…画像データ合成部
5、5a…表示部
6…天板
7…保持部
8、8a…移動機構部
81、81a…検出器移動機構
82…保持部移動機構
83…天板移動機構
84、84a…機構制御部
9、9a…入力部
91…撮影モード選択機能
92…高分解能領域設定機能
10、10a…システム制御部
100、200…X線診断装置
Claims (13)
- 被検体に対してX線を照射するX線管と、
前記被検体を透過したX線を検出する検出器及び前記検出器より高い空間分解能を有した高精細検出器を有するハイブリッド検出器と、
前記ハイブリッド検出器の略中心を通り検出面に垂直な軸を回転軸として前記ハイブリッド検出器を回動させる検出器移動手段と、
前記ハイブリッド検出器を用いて検出されたX線に基づいてX線画像を生成する画像生成手段と、
前記X線画像を表示する表示手段と、
を備えたことを特徴とするX線診断装置。 - 診断対象領域に対して高分解能領域を設定する高分解能領域設定手段を更に備え、
前記検出器移動手段は、前記高分解能領域設定手段から供給される設定情報に基づいて前記ハイブリッド検出器を回動させ前記高精細検出器の撮影領域を前記診断対象領域に対応する位置に配置することを特徴とする請求項1記載のX線診断装置。 - 前記高分解能領域設定手段は、前記画像生成手段によって予め生成された位置決め用画像に基づいて前記高分解能領域の設定を行なうことを特徴とする請求項2に記載のX線診断装置。
- 前記ハイブリッド検出器の回動に伴って得られた高分解能領域の位置が異なる複数のX線画像の各々から抽出した前記高分解能領域のデータを合成して高精細画像を生成する画像合成手段を更に備えることを特徴とする請求項1乃至3のうちいずれか一項に記載のX線診断装置。
- 前記画像合成手段は、前記ハイブリッド検出器の位置情報に基づいて前記高分解能領域のデータを合成することを特徴とする請求項4に記載のX線診断装置。
- 前記ハイブリッド検出器は、一体化された前記検出器及び前記高精細検出器を有することを特徴とする請求項1乃至5のうちいずれか一項に記載したX線診断装置。
- 前記画像生成手段は、前記検出器によって取得された投影データ及び前記高精細検出器によって取得された高精細投影データの位置ずれを補正し、補正後の投影データ及び高精細投影データを合成することによって前記X線画像を生成することを特徴とする請求項1乃至6のうちいずれか一項に記載したX線診断装置。
- 前記検出器は、X線を直接電荷に変換する直接変換方式によってX線検出を行なうことを特徴とする請求項1乃至7のうちいずれか一項に記載のX線診断装置。
- 前記検出器は、X線を光に変換した後電荷に変換する間接変換方式によってX線検出を行なうことを特徴とする請求項1乃至7のうちいずれか一項に記載のX線診断装置。
- 前記高精細検出器は、X線を直接電荷に変換する直接変換方式によってX線検出を行なうことを特徴とする請求項1乃至9のうちいずれか一項に記載のX線診断装置。
- 前記高精細検出器は、X線を光に変換した後電荷に変換する間接変換方式によってX線検出を行なうことを特徴とする請求項1乃至9のうちいずれか一項に記載のX線診断装置。
- 前記高精細検出器の中心が前記検出面の中心と一致しない位置に設けられる請求項1乃至11のうちいずれか一項に記載のX線診断装置。
- 前記高精細検出器の中心が前記検出面の中心と略一致する位置に設けられる請求項1乃至11のうちいずれか一項に記載のX線診断装置。
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