JP5439049B2 - 吐出装置及び吐出方法 - Google Patents
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Description
ヘッド移動方式に対し、台座に対して静止したヘッド保持部が複数の吐出口を有し、その下を通過する基板にインクを吐出するヘッド据え置き方式は、上記の課題を解決している。
基板の大型化に伴って基板移動部の移動の制御が難しくなり、基板をヘッドの下方に進入させる前に基板とヘッドの位置合わせをしても、位置合わせ位置から吐出位置まで前記第一の方向に移動させる間に、基板移動部の向きに各レール上での移動量の差による基準面に平行な回転方向の傾き(基準面に平行な面上での第一の方向又は第二の方向に対する傾き)が生じる恐れがある。
つまり、各着弾位置に吐出口からインクを吐出させるには、ヘッドの下を通過させる間に生じる基板移動部の前記傾きを検出し、補正しながら吐出する作業が必要である。
本発明は吐出装置であって、前記制御装置は、前記第一、第二の主距離の差の設定された値に基づいて、前記第一、第二の移動機構を制御して、前記基板移動部を前記二本のレールに沿って移動させるように構成された吐出装置である。
本発明は吐出装置であって、前記制御装置は、前記基板移動部の前記第二の方向の位置と前記ヘッドの前記第二の方向の位置の差の設定された値に基づいて、前記ヘッド移動機構を制御して、前記基板移動部を前記二本のレールに沿って移動させるように構成された吐出装置である。
本発明は、水平な台座上のヘッドを間に挟んで互いに逆側に位置する始点と終点の間を、前記始点から前記終点へ二本のレールに沿って第一の方向に移動する基板移動部上に基板を載置し、前記基板移動部を前記終点に向かって移動させ、前記基板が前記ヘッドの下方を通過する間に、吐出口から前記基板へ吐出液を吐出し、前記基板移動部が前記終点に到着した後、前記基板を乾燥させ、前記基板移動部上から前記基板を取り外す吐出方法であって、前記基板移動部の移動前に、前記基板移動部の基準面に平行な面上での前記第一の方向又は前記第二の方向に対する傾きを測定しておき、前記基板移動部の移動中に、前記基板移動部の前記傾きを測定し、前記基板移動部の前記傾きの移動中に生じた誤差をゼロにするように前記二本のレール上の各移動量をそれぞれ変え、前記基板移動部の前記傾きを移動前の前記傾きと同じにしながら前記基板を前記ヘッドの下方を通過させる吐出方法において、前記基板移動部と、前記台座のうちいずれか一方に、第一、第二の主測定光が照射されると反射して、第一、第二の主反射光を返光する第一、第二の主鏡装置が配置され、他方に前記第一の主測定光と前記第一の主反射光を受光し、前記第一の主測定光と前記第一の主反射光の第一の主干渉結果を検出する第一の主干渉装置と、前記第二の主測定光と前記第二の主反射光を受光し、前記第二の主測定光と前記第二の主反射光の第二の主干渉結果を検出する第二の主干渉装置が配置され、前記第一、第二の主干渉結果から前記第一、第二の主干渉装置と前記第一、第二の主鏡装置の間の第一、第二の主距離が求められ、前記第一、第二の主距離から前記基板移動部の前記傾きを測定し、前記基板移動部と、前記台座のうちいずれか一方に、第一、第二の副測定光が照射されると反射して、第一、第二の副反射光を返光する副鏡装置が配置され、他方に前記第一の副測定光と前記第一の副反射光を受光し、前記第一の副測定光と前記第一の副反射光の第一の副干渉結果を検出する第一の副干渉装置と、前記第二の副測定光と前記第二の副反射光を受光し、前記第二の副測定光と前記第二の副反射光の第二の副干渉結果を検出する第二の副干渉装置が配置され、前記第一、第二の副干渉結果から前記第一、第二の副干渉装置と前記副鏡装置の間の第一、第二の副距離が求められ、前記第一、第二の副距離のいずれか一方又は両方から前記基板移動部の前記第二の方向の位置を測定する吐出方法である。
本発明は吐出方法であって、前記基板移動部の移動前に、前記基板移動部の前記第二の方向の位置を測定しておき、前記基板移動部の移動中に、前記基板移動部の前記傾きを移動開始前の前記傾きと同じにしてから、前記基板移動部の前記第二の方向の位置を測定し、前記基板移動部の前記第二の方向の位置と前記ヘッドの前記第二の方向の位置の差が移動開始前と同じになるように前記ヘッドを移動して、前記基板移動部と前記ヘッドとの間の前記第二の方向の相対位置関係を移動前の相対位置関係と同じにしながら前記基板を前記ヘッドの下方を通過させる吐出方法である。
本発明は吐出方法であって、前記基板移動部上に前記基板を載置してから前記基板移動部を移動させ、前記基板が前記ヘッドの下方に進入する前に、前記ヘッドの手前の位置で一端静止させ、前記基板上の各着弾位置が前記ヘッドに設けられた吐出口の真下を通過するように位置合わせする吐出方法である。
本発明はRGBカラーフィルターの製造に限定されるものではなく、例えばEL(エレクトロルミネッセンス)表示素子や液晶表示装置の製造も含まれる。
図1は本発明で用いる吐出装置10の側面図を示しており、図2は平面図を示している。
吐出装置10は、水平な基準面に対して静止された台座70と、長い第一、第二のレール71a、71bと、基板移動部20と、ヘッド保持部30を有している。第一、第二のレール71a、71bは台座70上に、それぞれの長手方向が互いに平行に固定されている。基板移動部20は第一、第二のレール71a、71b上に配置されている。ヘッド保持部30は、台座70に固定された支柱72に支えられて、第一、第二のレール71a、71b上の基板移動部20の高さより高い位置に固定されている。
レール上移動機構41は第一、第二のレール71a、71b上にそれぞれ第一、第二の移動機構48a、48bを有している。第一、第二の移動機構48a、48bはそれぞれ制御装置92から伝送される信号を受けると、基板移動部20に第一、第二のレール71a、71bに対する第一、第二の移動力をそれぞれ印加し、基板移動部20を第一、第二のレール71a、71bに沿って移動させる。
第一、第二の移動機構48a、48bは、それぞれ別々に制御装置92から伝送される信号を受けると、それぞれ複数の第一、第二の固定電磁石46a、46bの磁極を各レールの長手方向にわたって変化させ、それぞれ第一、第二の可動電磁石45a、45bが取り付けられた基板移動部20に、第一、第二のレール71a、71bに対する第一、第二の移動力を印加することができる。第一、第二のレール71a、71bは台座70上に固定されているので、基板移動部20は第一、第二の移動力が印加されると、第一、第二のレール71a、71b上を移動することになる。
本発明の吐出装置10は、2本のレール(第一、第二のレール71a、71b)上で基板移動部20を移動させることにより、1本のレール上で基板移動部20を移動させる場合に比べて、基板移動部が大型化しても安定して移動可能にされている。
以後、第一、第二のレール71a、71bに沿って移動する基板移動部20の移動方向(第一の方向)をy軸方向、それと垂直で基準面に平行な方向(第二の方向)をx軸方向と呼ぶ。
図4はヘッド32と吐出口35の配置を説明する模式図である。
各ヘッド32は、吐出口35を複数有している。一個のヘッド32の複数の吐出口35は、そのヘッド32の一面に、一列に並んで吐出口列を形成し、又は、互いに平行な複数列に並んで、互いに平行な複数の吐出口列を形成している。
一個のヘッド32中の吐出口35は一の方向に等間隔で配置されており、その間隔を吐出口間隔(吐出口の中心間距離)Dとすると、各ヘッド32の吐出口間隔D同士も同じ値にされている。
ここでは、各ヘッド32は、前記一の方向がx軸方向と平行になるような向きで取付板33に取り付けられている。
所定の数nのヘッド組38はヘッドグループを構成し、1個のヘッドグループ中では、1つのヘッド組中の隣接する2個の吐出口35の間に、他のヘッド組の吐出口35が、x軸方向に等間隔D/nになるように1個ずつ配置されている。
各吐出口35はそれぞれ内部にインク(吐出液)の詰まったインク室を有し、各インク室には圧力発生装置がそれぞれ配置される。各圧力発生装置は外部の制御装置92から電送される信号を受けて、インク室に所定の圧力を発生させ、吐出口35から所定の量のインクを吐出させる。
基板移動部20は第一、第二の載置台24a、24bを有している。第一の載置台24aは第二の載置台24bより大きく、第一の載置台24aは基板移動部20上に配置され、第二の載置台24bは第一の載置台24a上に配置される。
第二の載置台24bの上方を向いた面は、第一の載置台24aの上方を向いた面と同じ高さになるように形成されている。
基板50と第一、第二の基板50a、50b上には、R、G、Bの各色が着弾されるべき領域(着弾位置)がそれぞれ定められている。基板50と第一、第二の基板50a、50bは一の方向に対して平行な方向と垂直な方向に格子状をしたブラックマトリクスをそれぞれ有し、各着弾位置はブラックマトリクスで区画された領域に配置されている。
第一、第二の主干渉装置62a、62bと、第一、第二の主鏡装置61a、61bのうちいずれか一方の装置は基板移動部20に配置され、他方の装置は基準面に対して静止した台座70上に固定されている。
第一、第二の主干渉結果は第二の測定装置93bに伝送され、第一、第二の主干渉装置62a、62bと第一、第二の主鏡装置61a、61bとの間の第一、第二の主距離が求められる。
制御装置92には第一、第二の主距離の差ΔLを設定することができる。
さらに、基板移動部20の正確な移動量が検出できるので、正確な移動制御が可能である。
基板移動部20の移動開始直前には、後述するように、基板移動部20上に載置された基板50が回転され、基板50上の着弾位置のx軸方向の並びが吐出口35のx軸方向の並びと平行になるように角度の位置合わせがされており、基板移動部20の進行方向に対する向きが、基板50と吐出口35の角度の位置合わせ時と同じ向きを維持すると、基板移動部20は、基板50が吐出口35に対して角度の位置合わせをされた状態で、y軸方向に移動されることになる。
ここでは、基板移動部20は、基板移動部20上に基板50を載置する位置である始点から移動を開始し、ヘッド保持部30の下方を通過した後、インクが吐出された基板50を基板移動部20上から取り外す位置である終点に到達して移動を終了するものとする。
第一の副干渉結果は第二の測定装置93bに伝送され、第一の副干渉装置62cと副鏡装置61cとの間の第一の副距離が求められる。
従って、移動中の基板移動部20とヘッド32との間のx軸方向の相対位置関係は、移動開始前と同じに維持することができる。
基板移動部20が移動すると、第一の副干渉装置62cが副鏡装置61cの鏡面と対面している間に、第二の副干渉装置62dが副鏡装置61cとの対面を開始し、基板移動部20が移動して副鏡装置61cの鏡面の始点側の端部が第一の副干渉装置62cよりも終点側に移動して、第一の副干渉装置62cと副鏡装置61cの鏡面との対面による第一の副距離の測定が終了したとき、第二の副干渉装置62dと副鏡装置61cの鏡面との対面により、第二の副干渉装置62dと副鏡装置61cとの間の第二の副距離の測定が開始されることになる。
従って、第一の副干渉装置62cと副鏡装置61cの鏡面との対面が開始された後、基板50の最も始点に近い着弾位置が最も終点に近い吐出口35よりも終点に近い位置に到達するまでは、第一、第二の副干渉装置62c、62dのいずれか一方又は両方と副鏡装置61cの鏡面との対面が継続して行われ、基板移動部20とヘッド32との間のx軸方向の相対位置関係を、x軸方向の位置合わせをしたときの状態で維持することができる。
従って、基板移動部20が始点から移動を開始し、基板50の最も終点に近い着弾位置が最も始点に近い吐出口35よりも始点に近い位置に到達する前に、第一の副干渉装置62cと副鏡装置61cの鏡面との対面が開始され、基板50の最も始点に近い部分が最も終点に近い吐出口35よりも終点に近い位置に到達するまでは、第一の副干渉装置62c又は第二の副干渉装置62dと副鏡装置61cの鏡面との対面が継続して行われ、基板移動部20とヘッド32との間のx軸方向の相対位置関係を、x軸方向の位置合わせしたときの状態で維持することができる。
基板50上へのインク(吐出液)の吐出工程を説明する。
以下では、吐出前に基板移動部20上に基板50を載置する位置を始点とし、吐出後に基板移動部20上から基板50を取り外す位置を終点と呼ぶ。始点と終点はy軸上でヘッド保持部30を間に挟んで互いに逆側に位置している。
後述する第一の位置合わせ工程での位置合わせ作業により、各ヘッド32は基準位置に対して位置合わせされているものとする。
次いで、基板移動部20と共に基板50を終点に向かって移動させ、ヘッド保持部30の手前の基板50上の各着弾位置と所定の吐出口35との位置合わせを行う位置で一旦静止させる。
第一、第二の主距離の測定結果から、第一、第二の移動機構48a、48bが制御され、第一、第二の主距離の差、又は第一、第二の主距離の差から求めた基板移動部20のxy平面上でのx軸方向(又はy軸方向)に対する傾きが、移動開始前の値と同じになるように第一、第二のレール71a、71b上の移動量がそれぞれ変えられて、基板移動部20の進行方向に対する向きが移動開始前に位置合わせした向きと同じにされる。
基板移動部20が終点に到着すると、基板50上の各着弾位置には吐出液が着弾しており、取り外し位置で乾燥させた後、真空吸着を解除して第一、第二の載置台24a、24b上から基板50を取り外す。
以下では原点位置合わせ作業と、ヘッドアレイ位置合わせ作業と、固定カメラのカメラ基準点の位置測定作業とから成る第一の位置合わせ工程を説明する。
基板移動部20は、移動カメラ21を有している。移動カメラ21は、基板移動部20のy軸方向の端に配置されている。移動カメラ21は上端にレンズを有し、移動カメラ21で撮影された画像は外部の制御装置92で画像処理される。制御装置92には例えばコンピュータが使用される。
先ず、移動カメラ21によって撮影した画像上の一点の基準面に対するxy座標が分かるように、移動カメラ21と原点との位置合わせを行う。
外部の測定装置93には、移動カメラ21のx座標上の移動量を±符号付きで測定するx軸方向距離測定装置と、y座標上の移動量を±符号付きで測定するy軸方向距離測定装置が設けられており、移動カメラ21が二点間を移動したときに、移動の始点と終点を結ぶベクトルのx成分とy成分が分かるようになっている。測定する距離は符号付きであるから、往復移動して始点に戻った場合の測定値はゼロである。
この吐出装置10では、基準面に対して静止したxy座標の原点が定められている。
その状態から移動カメラ21が移動すると、移動カメラ21で撮影した画像上の、移動基準点と重なる位置の基準面に対するxy座標が分かることになる。
次に、基板移動部20のy軸方向の移動と、移動カメラ21のX方向の移動により、移動カメラ21を1つの吐出口35の下に位置させる。
移動カメラ21の画像を見て、移動基準点と、その吐出口35の画像の中心が一致したとき、測定装置93の値から、その吐出口35の基準面に対するxy座標が求まる。
このような吐出口35の基準面に対するxy座標の測定作業を、全ての吐出口35で繰り返す。
ヘッド保持部30は、第一、第二、第三、第四の固定カメラ31a、31b、31c、31dを有している。第一、第二、第三、第四の固定カメラ31a、31b、31c、31dは、ヘッド保持部30のy軸方向の一端に固定されている。第一、第二、第三、第四の固定カメラ31a、31b、31c、31dは、下端にレンズを有しているので、下を移動する基板50と第一、第二の基板50a、50bを撮影することができる。
ただし実際は、第一、第二、第三、第四の固定カメラ31a、31b、31c、31dは、ヘッド保持部30に固定される際の取付誤差のために、設計値からズレた位置に取付られている。
以下では、基板50又は第一の基板50aのいずれか一方(以下の説明では第一の基板50aで代表する)がヘッド保持部30の下方を通過する間に、基板上の各着弾位置が少なくとも一個の吐出口35の真下を通過するように位置合わせ作業を行う第二の位置合わせ工程を説明する。
先ず、基板移動部20をy軸方向に移動させて、第一の基板50aが有する第一、第二の基板基準点51a、51bを、第一、第二の固定カメラ31a、31bの下にそれぞれ位置させる。
図3(a)の符号81a、81bは第一、第二の固定カメラ31a、31bのカメラ基準点を示し、符号82a、82bはそれぞれの設計値(第一、第二の設計値)を示している。符号83a、83bは第一、第二の固定カメラ31a、31bがそれぞれ撮影した第一、第二の基板基準点51a、51bの画像を示している。
制御装置92は画像内のx軸方向又はy軸方向が分かるので、第一、第二の基板基準点の画像83a、83bの2点を通る直線とx軸方向又はy軸方向との成す角度を計算により求めてもよい。
第一の基板回転機構42は、制御装置92から伝送される信号を受けると、第一の載置台24aと、第一の載置台24a上に保持された第一、第二の基板50a、50bを、基板移動部20に対して基準面に平行に所定角度だけ回転させる。
回転移動後の第一、第二の基板基準点51a、51bは、制御装置92で画像処理されて、それぞれの基準面に対するxy座標が制御装置92に記憶される。
各吐出口35は、前述の第一の位置合わせ工程により位置合わせされていて、基準面に対するxy座標は制御装置92に記憶されている。
ヘッド移動機構49は、制御装置92から伝送される信号を受けると、取付板33と、取付板33に取り付けられたヘッド32を、ヘッド保持部30に対してx軸方向に所定距離だけ移動させる。
以下では、第二の基板50bがヘッド保持部30の下方を通過する間に、第二の基板50b上の各着弾位置が少なくとも一個の吐出口35の真下を通過するように位置合わせ作業を行う第三の位置合わせ工程を説明する。
第三、第四の固定カメラ31c、31dで撮影された画像は制御装置92で画像処理され、画像内の所望位置の座標が分かるようになっている。
図3(b)の符号81c、81dは第三、第四の固定カメラ85c、85dのカメラ基準点を示し、符号82c、82dはそれぞれの設計値(第三、第四の設計値)を示している。符号83c、83dは第三、第四の固定カメラ85c、85dがそれぞれ撮影した第三、第四の基板基準点51c、51dの画像を示している。
制御装置92は画像内のx軸方向又はy軸方向が分かるので、第三、第四の基板基準点の画像83c、83dの2点を通る直線とx軸方向又はy軸方向との成す角度を計算により求めてもよい。
回転移動後の第三、第四の基板基準点51c、51dは、制御装置92で画像処理されて、それぞれの基準面に対するxy座標が制御装置92に記憶される。
制御装置92は、第二の基板50b上の第三、第四の基板基準点51c、51dのx座標と、所定の吐出口35のx座標とから誤差を求め、誤差がゼロになるように第二の載置台24bをx軸方向に所定距離だけ移動させる信号を、第二の基板位置合わせ機構80に伝送する。
20……基板移動部
30……ヘッド保持部
32……ヘッド
35……吐出口
41……レール上移動機構
48a、48b……第一、第二の移動機構
49……ヘッド移動機構
50……基板
61a、61b……第一、第二の主鏡装置
61c……副鏡装置
62a、62b……第一、第二の主干渉装置
62c、62d……第一、第二の副干渉装置
70……台座
71a、71b……第一、第二のレール
92……制御装置
93a、93b……第一、第二の測定装置
Claims (6)
- 基準面に対して静止された台座と、
前記台座上に第一の方向に沿って配置された二本のレールと、
前記台座に固定され、それぞれ複数の吐出口が設けられたヘッドを保持するヘッド保持部と、
前記二本のレールに載せられ、基板が配置可能な基板移動部と、
前記基板移動部を前記二本のレールに沿って前記第一の方向に移動させ、前記ヘッド保持部の下を通過可能にしたレール上移動機構と、
を有し、前記吐出口から前記基板移動部上に配置された基板に向かって吐出液を吐出し、前記吐出液の液滴を前記基板に着弾させる吐出装置であって、
前記第一の方向に第一、第二の主測定光をそれぞれ送光する第一、第二の主送光装置と、
前記第一の方向に垂直で前記基準面に平行な第二の方向に離間して設置され、前記第一、第二の主測定光が照射されると、反射して第一、第二の主反射光を返光する第一、第二の主鏡装置と、
前記第一の主測定光と前記第一の主反射光を受光し、前記第一の主測定光と前記第一の主反射光の第一の主干渉結果を検出する第一の主干渉装置と、
前記第二の主測定光と前記第二の主反射光を受光し、前記第二の主測定光と前記第二の主反射光の第二の主干渉結果を検出する第二の主干渉装置と、
前記第一、第二の主干渉結果から、前記第一の主干渉装置と前記第一の主鏡装置との間の第一の主距離と、前記第二の主干渉装置と前記第二の主鏡装置との間の第二の主距離とをそれぞれ求める測定装置と、
前記測定装置の測定結果が伝送される制御装置と、
を有し、
前記第一、第二の主干渉装置と、前記第一、第二の主鏡装置のうちいずれか一方の装置は前記基板移動部に配置され、他方の装置は前記台座に対して静止され、
前記第一、第二の主干渉装置は、前記第一、第二の主鏡装置と前記第一、第二の主送光装置との間に配置され、
前記レール上移動機構は、前記基板移動部に前記第一のレールに対する第一の移動力を印加する第一の移動機構と、前記基板移動部に前記第二のレールに対する第二の移動力を印加する第二の移動機構と、
前記ヘッドを前記第二の方向に移動可能にしたヘッド移動機構と、
第一、第二の副測定光を送光する第一、第二の副送光装置と、
前記第一、第二の副測定光が照射されると、反射して第一、第二の副反射光を返光する副鏡装置と、
前記第一、第二の副測定光と前記第一、第二の副反射光を受光し、前記第一、第二の副測定光と前記第一、第二の副反射光の干渉結果を検出する第一、第二の副干渉装置と、
前記第一、第二の副干渉結果から、前記副鏡装置と前記第一、第二の副干渉装置との間の距離を求める測定装置と、
を有し、
前記制御装置は、前記第一、第二の主距離から前記第一、第二の移動力の大きさを決定するように構成され、
前記第一、第二の副干渉装置と、前記副鏡装置のうちいずれか一方の装置は前記基板移動部に配置され、他方の装置は前記台座に対して静止され、
前記制御装置は、前記副鏡装置と前記第一の副干渉装置との間の距離と、前記副鏡装置と前記第二の副干渉装置との間の距離のいずれか一方又は両方から前記基板移動部の前記第二の方向の位置を求め、前記基板移動部の前記第二の方向の位置と前記ヘッドの前記第二の方向の位置との差から、前記ヘッド移動機構が前記ヘッドを移動する移動量を決定するように構成された吐出装置。 - 前記制御装置は、前記第一、第二の主距離の差の設定された値に基づいて、前記第一、第二の移動機構を制御して、前記基板移動部を前記二本のレールに沿って移動させるように構成された請求項1記載の吐出装置。
- 前記制御装置は、前記基板移動部の前記第二の方向の位置と前記ヘッドの前記第二の方向の位置の差の設定された値に基づいて、前記ヘッド移動機構を制御して、前記基板移動部を前記二本のレールに沿って移動させるように構成された請求項1又は請求項2のいずれか1項記載の吐出装置。
- 水平な台座上のヘッドを間に挟んで互いに逆側に位置する始点と終点の間を、前記始点から前記終点へ二本のレールに沿って第一の方向に移動する基板移動部上に基板を載置し、
前記基板移動部を前記終点に向かって移動させ、
前記基板が前記ヘッドの下方を通過する間に、吐出口から前記基板へ吐出液を吐出し、
前記基板移動部が前記終点に到着した後、前記基板を乾燥させ、前記基板移動部上から前記基板を取り外す
吐出方法であって、
前記基板移動部の移動前に、前記基板移動部の基準面に平行な面上での前記第一の方向又は前記第二の方向に対する傾きを測定しておき、
前記基板移動部の移動中に、
前記基板移動部の前記傾きを測定し、前記基板移動部の前記傾きの移動中に生じた誤差をゼロにするように前記二本のレール上の各移動量をそれぞれ変え、前記基板移動部の前記傾きを移動前の前記傾きと同じにしながら
前記基板を前記ヘッドの下方を通過させる吐出方法において、
前記基板移動部と、前記台座のうちいずれか一方に、第一、第二の主測定光が照射されると反射して、第一、第二の主反射光を返光する第一、第二の主鏡装置が配置され、他方に前記第一の主測定光と前記第一の主反射光を受光し、前記第一の主測定光と前記第一の主反射光の第一の主干渉結果を検出する第一の主干渉装置と、前記第二の主測定光と前記第二の主反射光を受光し、前記第二の主測定光と前記第二の主反射光の第二の主干渉結果を検出する第二の主干渉装置が配置され、
前記第一、第二の主干渉結果から前記第一、第二の主干渉装置と前記第一、第二の主鏡装置の間の第一、第二の主距離が求められ、
前記第一、第二の主距離から前記基板移動部の前記傾きを測定し、
前記基板移動部と、前記台座のうちいずれか一方に、第一、第二の副測定光が照射されると反射して、第一、第二の副反射光を返光する副鏡装置が配置され、他方に前記第一の副測定光と前記第一の副反射光を受光し、前記第一の副測定光と前記第一の副反射光の第一の副干渉結果を検出する第一の副干渉装置と、前記第二の副測定光と前記第二の副反射光を受光し、前記第二の副測定光と前記第二の副反射光の第二の副干渉結果を検出する第二の副干渉装置が配置され、
前記第一、第二の副干渉結果から前記第一、第二の副干渉装置と前記副鏡装置の間の第一、第二の副距離が求められ、
前記第一、第二の副距離のいずれか一方又は両方から前記基板移動部の前記第二の方向の位置を測定する吐出方法。 - 請求項4記載の吐出方法であって、
前記基板移動部の移動前に、前記基板移動部の前記第二の方向の位置を測定しておき、
前記基板移動部の移動中に、
前記基板移動部の前記傾きを移動開始前の前記傾きと同じにしてから、前記基板移動部の前記第二の方向の位置を測定し、前記基板移動部の前記第二の方向の位置と前記ヘッドの前記第二の方向の位置の差が移動開始前と同じになるように前記ヘッドを移動して、
前記基板移動部と前記ヘッドとの間の前記第二の方向の相対位置関係を移動前の相対位置関係と同じにしながら前記基板を前記ヘッドの下方を通過させる吐出方法。 - 請求項4又は請求項5のいずれか1項記載の吐出方法であって、
前記基板移動部上に前記基板を載置してから前記基板移動部を移動させ、前記基板が前記ヘッドの下方に進入する前に、前記ヘッドの手前の位置で一端静止させ、前記基板上の各着弾位置が前記ヘッドに設けられた吐出口の真下を通過するように位置合わせする吐出方法。
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