JP5493767B2 - センサーユニットおよびその製造方法 - Google Patents
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- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 25
- 239000011347 resin Substances 0.000 claims description 61
- 229920005989 resin Polymers 0.000 claims description 61
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims description 42
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims description 42
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 38
- 238000007789 sealing Methods 0.000 claims description 37
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 36
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 18
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 16
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 13
- 239000011521 glass Substances 0.000 claims description 13
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 claims description 12
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 claims description 11
- 238000005304 joining Methods 0.000 claims description 9
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 claims description 8
- 239000009719 polyimide resin Substances 0.000 claims description 8
- 239000007769 metal material Substances 0.000 claims description 6
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 4
- 150000003376 silicon Chemical class 0.000 claims description 4
- 238000013007 heat curing Methods 0.000 claims description 2
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 7
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 5
- UMIVXZPTRXBADB-UHFFFAOYSA-N benzocyclobutene Chemical compound C1=CC=C2CCC2=C1 UMIVXZPTRXBADB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 4
- 239000004925 Acrylic resin Substances 0.000 description 3
- 229920000178 Acrylic resin Polymers 0.000 description 3
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 description 3
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 3
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 3
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000000708 deep reactive-ion etching Methods 0.000 description 3
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 description 3
- 239000010408 film Substances 0.000 description 3
- 230000001771 impaired effect Effects 0.000 description 3
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 description 3
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 3
- 238000001039 wet etching Methods 0.000 description 3
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 2
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 2
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 2
- 238000001312 dry etching Methods 0.000 description 2
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 2
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 2
- 238000001020 plasma etching Methods 0.000 description 2
- 238000005488 sandblasting Methods 0.000 description 2
- ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N Boron Chemical compound [B] ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910001374 Invar Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910000990 Ni alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- NRTOMJZYCJJWKI-UHFFFAOYSA-N Titanium nitride Chemical compound [Ti]#N NRTOMJZYCJJWKI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 1
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 1
- 229910052796 boron Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 1
- 238000001723 curing Methods 0.000 description 1
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 239000012777 electrically insulating material Substances 0.000 description 1
- 230000005496 eutectics Effects 0.000 description 1
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000012447 hatching Effects 0.000 description 1
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 1
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 1
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 1
- 238000005468 ion implantation Methods 0.000 description 1
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 238000000059 patterning Methods 0.000 description 1
- 230000035515 penetration Effects 0.000 description 1
- 229910052698 phosphorus Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011574 phosphorus Substances 0.000 description 1
- 238000000206 photolithography Methods 0.000 description 1
- 238000005268 plasma chemical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 1
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 1
- 230000002265 prevention Effects 0.000 description 1
- 235000012239 silicon dioxide Nutrition 0.000 description 1
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 1
- 229920002050 silicone resin Polymers 0.000 description 1
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010944 silver (metal) Substances 0.000 description 1
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
- 239000011135 tin Substances 0.000 description 1
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011800 void material Substances 0.000 description 1
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/10—Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/15—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
- H01L2224/16—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L2224/81—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a bump connector
- H01L2224/8112—Aligning
- H01L2224/81136—Aligning involving guiding structures, e.g. spacers or supporting members
- H01L2224/81138—Aligning involving guiding structures, e.g. spacers or supporting members the guiding structures being at least partially left in the finished device
- H01L2224/8114—Guiding structures outside the body
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
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- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L2224/81—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a bump connector
- H01L2224/8119—Arrangement of the bump connectors prior to mounting
- H01L2224/81191—Arrangement of the bump connectors prior to mounting wherein the bump connectors are disposed only on the semiconductor or solid-state body
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- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
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- H01L2924/146—Mixed devices
- H01L2924/1461—MEMS
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Description
また、センサー内蔵モジュールと能動素子内蔵モジュールとを重ね合わせて接合し、樹脂で封止したセンサーユニットが開発されている(特許文献2)。
一方、物体に作用する圧力、あるいは加速度を検出するセンサーとして種々のセンサーが開発されている(特許文献3、4)。
本発明は、上記のような実情に鑑みてなされたものであり、小型で信頼性の高いセンサーユニットと、このようなセンサーユニットを簡便に製造するための製造方法を提供することを目的とする。
本発明の他の態様として、前記能動素子モジュールは、貫通電極と、該貫通電極と前記コンタクト電極を接続する配線とを有し、該配線と該貫通電極が前記堰部材よりも外側に位置している部位を前記封止樹脂が被覆しているような構成、あるいは、前記能動素子モジュールは、貫通電極と、該貫通電極と能動素子の電極を接続するボンディングワイヤとを有し、前記封止樹脂は前記ボンディングワイヤと前記貫通電極と前記電極を被覆しているような構成とした。
本発明の他の態様として、前記センサーの前記バンプは、スタッドバンプであるような構成とした。
本発明の他の態様として、前記センサーは、前記SOI基板からなるセンサー本体であって、枠部と、該枠部から内側方向に突出する複数の梁部と、該梁部により支持される錘部と、前記梁部に位置するピエゾ抵抗素子と、該ピエゾ抵抗素子に電気的に接続し前記枠部に位置する複数の前記バンプと、を有するセンサー本体と、前記錘部との間に所定の間隙を形成するように前記センサー本体の枠部の前記バンプが位置する面と反対側の面に接合している保護用蓋部材と、を有し、前記梁部と前記錘部が前記可動機能領域にあるような構成とした。
本発明の他の態様として、前記バンプの先端に導電性ペーストを付着させ、該導電性ペーストを介して前記能動素子モジュールのコンタクト電極に接続し、接続時の前記導電性ペーストの加熱温度は250〜300℃の範囲内とするような構成とした。
本発明の他の態様として、前記センサー本体を前記SOIウエハの各面付けに作製する工程では、枠部と、該枠部から内側方向に突出する複数の梁部と、該梁部により支持される錘部と、前記梁部に配設されたピエゾ抵抗素子と、該ピエゾ抵抗素子に電気的に接続され前記枠部に位置する前記バンプと、を有するセンサー本体を作製するような構成とし、また、多面付けの前記センサー本体をダイシングする前に、ガラスウエハを多面付けに区画し、面付け毎に所望の加工を施して、保護用蓋部材を、前記ガラスウエハの各面付けに作製する工程と、前記SOIウエハに作製された前記センサー本体の枠部に、前記ガラスウエハに作製された保護用蓋部材を接合する工程と、を有するような構成とした。
本発明の他の態様として、前記能動素子の作製は、別途作製した能動素子を前記能動素子モジュール用ウエハに埋設するような構成とした。
[センサーユニット]
図1は、本発明のセンサーユニットの一実施形態を示す概略断面図である。図1において、本発明のセンサーユニット1は、センサー2と能動素子モジュール5とが封止樹脂8を介して接合されたものである。図2は、センサーユニット1を構成するセンサー2の能動素子モジュール5との対向面を示す図であり、図3は、センサーユニット1を構成する能動素子モジュール5のセンサー2との対向面を示す図である。そして、図1は、図2のI−I線、図3のII−II線における断面を示している。また、図4は、図1に示されるセンサーユニット1の鎖線で囲まれた部位の拡大図である。
尚、上記の弾性率は、動的粘弾性測定装置(レオメトリックサイエンスエフイー社製 RDAIII)を用いて測定した曲げ弾性率であり、封止樹脂8に用いる樹脂材料を短冊状(50mm×5mm、厚み0.5mm)に硬化状態としてサンプルとし、このサンプルに対してトーション治具を用い、温度25℃、角速度10rad/sで測定する。
図7は、図1に示されるセンサー2の一例を示す図であり、能動素子モジュール5との対向面を示す平面図である。また、図8は、図7に示されるセンサー2のIII−III線での縦断面図であり、図9は、図7に示されるセンサー2のIV−IV線での縦断面図である。図7〜図9に示されるように、センサー2は、センサー本体3と、これに接合された保護用蓋部材4を備えており、センサー本体3は酸化シリコン層13をシリコン層12(活性層シリコン)とシリコン層14(基板シリコン)で挟持した3層構造を有するSOI(Silicon On Insulator)基板11からなる。
センサー2を構成する保護用蓋部材4は、例えば、ガラス、シリコン、SUS板、インバー(Fe−36%Ni合金)等の金属板、絶縁性樹脂板等を用いることができ、厚みは50〜1000μm程度の範囲で適宜設定することができる。尚、本発明においてセンサー2は、センサー本体3からなり、保護用蓋部材4を備えていないものであってもよい。
ピエゾ抵抗素子29X,29Y,29Zは、例えば、梁部22(シリコン層12(活性層シリコン))に、ボロン、リン等の不純物をイオン注入あるいは熱拡散して形成したP型拡散層あるいはN型拡散層であり、長さ、幅は適宜設定することができる。また、ピエゾ抵抗素子29X,29Y,29Zの形状は、図示のようなストライプ形状に限定されるものではなく、例えば、折り返し部を有するような形状であってもよい。
尚、ピエゾ抵抗素子29X,29Y,29Zと端子30とを電気的に接続する配線は、例えば、アルミニウム、アルミニウムを主とした合金、銅、チタン、窒化チタン、および、これらの積層膜等の金属材料を用いて形成することができる。また、このような配線は、例えば、端子30とピエゾ抵抗素子29X,29Y,29Zとがブリッジ回路を構成するように形成することができる。
センサーユニット1を構成する能動素子モジュール5は、上述のように、能動素子51と、能動素子51に穿設された複数の微細貫通孔52と、これらの微細貫通孔52内に配設された貫通電極53とを備えている。微細貫通孔52は、開口径が1〜100μm、好ましくは5〜60μm程度であり、開口径が1μm未満であると、細貫通孔52への貫通電極53の形成が難しく断線が生じ易く、また、100μmを超えると、細貫通孔52への材料充填が難しくなり好ましくない。また、微細貫通孔52の形状は、図示例では厚み方向で内径がほぼ一定のストレート形状であるが、これに限定されず、一方の開口径が広いテーパー形状をなすもの、厚み方向のほぼ中央で内径が狭くなっているような形状等であってもよい。
能動素子モジュール5のセンサー2との対向面には、上述のように、配線56を介して所定の貫通電極53に接続されている複数のコンタクト電極54が配設されている。また、コンタクト電極54が形成されている面と反対側の能動素子51の面には、能動素子51の端子や貫通電極53にバンプが形成されていてもよい。
また、上述の実施形態では、バンプ6とコンタクト電極54との接続は、導電性ペースト55を介しているが、図11に示されるように、バンプ6とコンタクト電極54とが当接し、導電性ペースト55がバンプ6の周囲に存在するものであってもよい。また、この場合、導電性ペースト55の代わりに絶縁性ペーストを使用してもよい。
次に、本発明のセンサーユニットの製造方法について、上述の図1に示すセンサーユニット1、図7〜図9に示すセンサー2を例として説明する。
図12および図13は、本発明のセンサーユニットの製造方法の一実施形態を説明するための工程図である。本発明では、まず、多面付けでセンサー2を作製する。すなわち、シリコン層12(活性層シリコン)、酸化シリコン層13、シリコン層14(基板シリコン)の3層構造を有するSOI(Silicon On Insulator)ウエハ11′と、1枚のガラスウエハ4′とを多面付け(各面付け部を1Aで示す)に区画する(図12(A))。
そして、SOIウエハ11′に形成されたセンサー本体3の枠部27に、ガラスウエハ4′に形成された保護用蓋部材4を接合して、センサー2を多面付けで作製する(図12(C))。その後、ダイシングすることにより、図1に示すセンサー2が得られる(図13(A))。
上記の微細貫通孔52の形成は、例えば、マスクパターンを介してICP−RIE法により行うことができる。また、サンドブラスト法、ウエットエッチング法、フェムト秒レーザ法により微細貫通孔52を形成することもできる。さらに、能動素子モジュール用ウエハ5′に、上述のいずれかの方法により、一方の面から所定の深さで微細孔を形成し、その後、能動素子モジュール用ウエハ5′の反対面を研磨して微細孔を露出させることにより、微細貫通孔52を形成してもよい。この微細貫通孔52の開口径は、1〜100μm、好ましくは5〜60μmの範囲で設定することができる。
また、コンタクト電極54、配線56の形成は、例えば、マスクパターンを介して真空成膜法により、Cu/Cr積層、Cu/Ti積層等のいずれかからなるパターンを形成することにより行うことができる。
また、堰部材7(7a,7b)は、ポリイミド樹脂、ベンゾシクロブテン(BCB)、エポキシ樹脂、アクリル樹脂等の樹脂材料、めっき形成が可能な金属材料等の材料を用いて形成することができる。例えば、感光性のポリイミド樹脂を塗布し、露光、現像し、その後、加熱硬化(例えば、300〜350℃の範囲)して形成することができる。このような堰部材7(7a,7b)の形成時の加熱温度が350℃を超えると、能動素子51に悪影響が及ぶことがあり好ましくない。
次いで、多面付けのセンサーユニット1をダイシングすることにより、図1に示されるようなセンサーユニット1が得られる。
図14において、シリコン層12(活性層シリコン)、酸化シリコン層13、シリコン層14(基板シリコン)の3層構造を有するSOIウエハ11′に多面付けで加工が行われる。まず、各面付け1Aに、梁部22、枠部23、錘接合部24を形成する部位を設定し、梁部22となるシリコン層12(活性層シリコン)の所定箇所に熱拡散法あるいはイオン注入法を用いてピエゾ抵抗素子29X,29Y,29Z(図示せず)を形成する。そして、ピエゾ抵抗素子を被覆するように絶縁層28を形成し、この絶縁層28上に配線(図示せず)でピエゾ抵抗素子29X,29Y,29Z(図示せず)に電気的に接続された端子30を形成する(図14(A))。
このようなセンサーを構成する枠部、梁部、錘部の形成と、上述のようなピエゾ抵抗素子、配線、端子の形成、バンプの形成の工程順序は特に制限はない。
そして、ピエゾ抵抗素子が形成されたセンサー本体3に保護用蓋部材4を接合することにより上述のセンサー2が得られる。センサー本体3と保護用蓋部材4との接合は、例えば、陽極接合、直接接合、共晶接合、接着剤を用いた接合等により行うことができる。
尚、上述のセンサーユニットの製造方法は例示であり、本発明はこれらの実施形態に限定されるものではない。
2…センサー
2A…可動機能領域
3…センサー本体
4…保護用蓋部材
5…能動素子モジュール
6…バンプ
7,7a,7b…堰部材
8…封止樹脂
9…間隙
11…SOI基板
21…錘部
22…梁部
23…枠部
24…錘接合部
26…錘
27…枠部
29X,29Y,29Z…ピエゾ抵抗素子
30…端子
53…貫通電極
54…コンタクト電極
4′…ガラスウエハ
5′…能動素子モジュール用ウエハ
11′…SOIウエハ
Claims (13)
- シリコン層/酸化シリコン層/シリコン層の3層構造を有するSOI基板とピエゾ抵抗素子を用いたセンサーと、該センサーに接合した能動素子モジュールとを備えたセンサーユニットにおいて、
前記センサーは、可動機能領域内に位置するピエゾ抵抗素子と、該ピエゾ抵抗素子に電気的に接続し前記可動機能領域の外側に位置する複数のバンプを有し、
前記能動素子モジュールは、前記センサーとの対向面に複数のコンタクト電極を有し、該コンタクト電極は対応する前記バンプと接続しており、
前記センサーと前記能動素子モジュールとの間隙には、前記可動機能領域を囲むように枠形状の堰部材が位置し、該堰部材の外側の前記間隙には弾性率が1〜10GPaの範囲内にある封止樹脂が存在し、
前記堰部材は樹脂材料あるいは金属材料で形成されて前記能動素子モジュールに固着され、前記センサーには固着されておらず、前記堰部材の高さH(μm)と前記間隙の大きさG(μm)との間には、0≦G−H≦5の関係が成立することを特徴とするセンサーユニット。 - 前記堰部材は、前記可動機能領域からみて前記コンタクト電極の内側および/または外側に位置することを特徴とする請求項1に記載のセンサーユニット。
- 前記能動素子モジュールは、貫通電極と、該貫通電極と前記コンタクト電極を接続する配線とを有し、該配線と該貫通電極が前記堰部材よりも外側に位置している部位を前記封止樹脂が被覆していることを特徴とする請求項1または請求項2に記載のセンサーユニット。
- 前記能動素子モジュールは、貫通電極と、該貫通電極と能動素子の電極を接続するボンディングワイヤとを有し、前記封止樹脂は前記ボンディングワイヤと前記貫通電極と前記電極を被覆していることを特徴とする請求項1または請求項2に記載のセンサーユニット。
- 前記堰部材は、ポリイミド樹脂であることを特徴とする請求項1乃至請求項4のいずれかに記載のセンサーユニット。
- 前記センサーの前記バンプは、スタッドバンプであることを特徴とする請求項1乃至請求項5のいずれかに記載のセンサーユニット。
- 前記センサーは、前記SOI基板からなるセンサー本体であって、枠部と、該枠部から内側方向に突出する複数の梁部と、該梁部により支持される錘部と、前記梁部に位置するピエゾ抵抗素子と、該ピエゾ抵抗素子に電気的に接続し前記枠部に位置する複数の前記バンプと、を有するセンサー本体と、前記錘部との間に所定の間隙を形成するように前記センサー本体の枠部の前記バンプが位置する面と反対側の面に接合している保護用蓋部材と、を有し、前記梁部と前記錘部が前記可動機能領域にあることを特徴とする請求項1乃至請求項6のいずれかに記載のセンサーユニット。
- シリコン層/酸化シリコン層/シリコン層の3層構造を有するSOIウエハを多面付けに区画し、面付け毎に所望の加工を施して、可動機能領域内にピエゾ抵抗素子を備え、該ピエゾ抵抗素子に電気的に接続された複数のバンプを前記可動機能領域の外側に有するセンサー本体を、前記SOIウエハの各面付けに作製し、その後、ダイシングする工程と、
能動素子モジュール用ウエハを多面付けに区画し、各面付け毎に、能動素子を作製し、複数のコンタクト電極を前記センサー本体の前記バンプに対応するように形成するとともに、前記センサー本体の前記可動機能領域を囲めるように樹脂材料あるいは金属材料を用いて枠形状で堰部材を前記コンタクト電極が形成された同じ面に配設して、能動素子モジュールを多面付けで作製する工程と、
多面付けの各能動素子モジュールに、能動素子モジュールのコンタクト電極にバンプが接続するように前記センサー本体を搭載し、センサー本体の周囲に溶融樹脂を供給してセンサー本体と能動素子モジュールとが対向する間隙に溶融樹脂を侵入させて封止樹脂とすることによりセンサー本体と能動素子モジュールとを接合するとともに、前記間隙を密封して、多面付けのセンサーユニットとする工程と、
多面付けのセンサーユニットをダイシングする工程と、を有し、前記堰部材の高さH(μm)を前記間隙の大きさG(μm)との間に0≦G−H≦5の関係が成立するように設定することを特徴とするセンサーユニットの製造方法。 - 前記堰部材は、感光性のポリイミド樹脂を露光、現像し、300〜350℃の範囲内で加熱硬化して形成することを特徴とする請求項8に記載のセンサーユニットの製造方法。
- 前記バンプの先端に導電性ペーストを付着させ、該導電性ペーストを介して前記能動素子モジュールのコンタクト電極に接続し、接続時の前記導電性ペーストの加熱温度は250〜300℃の範囲内とすることを特徴とする請求項8または請求項9に記載のセンサーユニットの製造方法。
- 前記センサー本体を前記SOIウエハの各面付けに作製する工程では、枠部と、該枠部から内側方向に突出する複数の梁部と、該梁部により支持される錘部と、前記梁部に配設されたピエゾ抵抗素子と、該ピエゾ抵抗素子に電気的に接続され前記枠部に位置する前記バンプと、を有するセンサー本体を作製することを特徴とする請求項8乃至請求項10のいずれかに記載のセンサーユニットの製造方法。
- 多面付けの前記センサー本体をダイシングする前に、ガラスウエハを多面付けに区画し、面付け毎に所望の加工を施して、保護用蓋部材を、前記ガラスウエハの各面付けに作製する工程と、前記SOIウエハに作製された前記センサー本体の枠部に、前記ガラスウエハに作製された保護用蓋部材を接合する工程と、を有することを特徴とする請求項11に記載のセンサーユニットの製造方法。
- 前記能動素子の作製は、別途作製した能動素子を前記能動素子モジュール用ウエハに埋設することを特徴とする請求項8乃至請求項12のいずれかに記載のセンサーユニットの製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009267217A JP5493767B2 (ja) | 2009-11-25 | 2009-11-25 | センサーユニットおよびその製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009267217A JP5493767B2 (ja) | 2009-11-25 | 2009-11-25 | センサーユニットおよびその製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2011114054A JP2011114054A (ja) | 2011-06-09 |
JP5493767B2 true JP5493767B2 (ja) | 2014-05-14 |
Family
ID=44236176
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009267217A Expired - Fee Related JP5493767B2 (ja) | 2009-11-25 | 2009-11-25 | センサーユニットおよびその製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5493767B2 (ja) |
Families Citing this family (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2977369B1 (fr) * | 2011-06-30 | 2013-06-28 | Commissariat Energie Atomique | Procede d'hybridation flip-chip pour la formation de cavites hermetiques et systemes obtenus par un tel procede |
JP5708376B2 (ja) * | 2011-08-30 | 2015-04-30 | 株式会社デンソー | センサ装置 |
WO2013141091A1 (ja) * | 2012-03-23 | 2013-09-26 | オリンパス株式会社 | 積層型半導体装置およびその製造方法 |
US8736045B1 (en) * | 2012-11-02 | 2014-05-27 | Raytheon Company | Integrated bondline spacers for wafer level packaged circuit devices |
JP2014179391A (ja) * | 2013-03-14 | 2014-09-25 | Honda Motor Co Ltd | 電子基板の保護構造 |
KR101603010B1 (ko) * | 2014-04-24 | 2016-03-11 | 주식회사 스탠딩에그 | 구조물 제조 방법 및 이를 이용하여 제조한 구조물 |
FR3029013A1 (fr) * | 2014-11-21 | 2016-05-27 | Stmicroelectronics (Grenoble 2) Sas | Dispositif electronique comprenant des puces empilees |
US9773740B2 (en) | 2014-11-26 | 2017-09-26 | Stmicroelectronics (Grenoble 2) Sas | Stacked electronic device including a protective wafer bonded to a chip by an infused adhesive |
WO2017104103A1 (ja) * | 2015-12-17 | 2017-06-22 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | 接続構造体 |
JP7247698B2 (ja) * | 2019-03-26 | 2023-03-29 | Tdk株式会社 | センサーモジュールの製造方法 |
JP7252048B2 (ja) * | 2019-04-25 | 2023-04-04 | 日清紡マイクロデバイス株式会社 | センサ装置およびセンサ装置の製造方法 |
KR102766938B1 (ko) * | 2023-04-14 | 2025-02-13 | (주)와이솔 | 패키징 소자 |
Family Cites Families (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0513667A (ja) * | 1991-07-04 | 1993-01-22 | Fujitsu Ltd | 半導体装置 |
JP3207222B2 (ja) * | 1991-08-29 | 2001-09-10 | 株式会社東芝 | 電子部品装置 |
JPH05259633A (ja) * | 1992-03-12 | 1993-10-08 | Hitachi Ltd | 電子回路装置 |
US5969461A (en) * | 1998-04-08 | 1999-10-19 | Cts Corporation | Surface acoustic wave device package and method |
US6400009B1 (en) * | 1999-10-15 | 2002-06-04 | Lucent Technologies Inc. | Hermatic firewall for MEMS packaging in flip-chip bonded geometry |
JP2003092312A (ja) * | 2001-01-11 | 2003-03-28 | Hitachi Ltd | 電子装置及び光伝送モジュール |
JP2003303946A (ja) * | 2002-04-12 | 2003-10-24 | Sony Corp | 固体撮像装置およびその製造方法 |
JP3912324B2 (ja) * | 2003-05-15 | 2007-05-09 | エプソントヨコム株式会社 | 弾性表面波デバイスの製造方法 |
JP2005093645A (ja) * | 2003-09-17 | 2005-04-07 | Sony Corp | 電子デバイス装置及び電子デバイス装置の製造方法 |
US7183622B2 (en) * | 2004-06-30 | 2007-02-27 | Intel Corporation | Module integrating MEMS and passive components |
JP2006080350A (ja) * | 2004-09-10 | 2006-03-23 | Denso Corp | 半導体装置およびその実装構造 |
JP4957123B2 (ja) * | 2006-08-25 | 2012-06-20 | 大日本印刷株式会社 | センサーユニットおよびその製造方法 |
JP5172254B2 (ja) * | 2007-09-11 | 2013-03-27 | ローム株式会社 | 半導体装置 |
-
2009
- 2009-11-25 JP JP2009267217A patent/JP5493767B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2011114054A (ja) | 2011-06-09 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20120918 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20130221 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20130305 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20130412 |
|
A02 | Decision of refusal |
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|
A521 | Written amendment |
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|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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|
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