JP5486712B1 - Substrate transport box and substrate transport device - Google Patents
Substrate transport box and substrate transport device Download PDFInfo
- Publication number
- JP5486712B1 JP5486712B1 JP2013077669A JP2013077669A JP5486712B1 JP 5486712 B1 JP5486712 B1 JP 5486712B1 JP 2013077669 A JP2013077669 A JP 2013077669A JP 2013077669 A JP2013077669 A JP 2013077669A JP 5486712 B1 JP5486712 B1 JP 5486712B1
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- substrate
- transport box
- box
- substrate transport
- standby
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims abstract description 486
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 claims abstract description 43
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 claims description 100
- 230000004308 accommodation Effects 0.000 claims description 51
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 24
- 229910001873 dinitrogen Inorganic materials 0.000 claims description 24
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 10
- 238000003860 storage Methods 0.000 claims description 8
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 claims description 4
- 239000011347 resin Substances 0.000 claims description 3
- 229920005989 resin Polymers 0.000 claims description 3
- 238000001179 sorption measurement Methods 0.000 abstract description 13
- 230000032258 transport Effects 0.000 description 120
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 18
- NJPPVKZQTLUDBO-UHFFFAOYSA-N novaluron Chemical compound C1=C(Cl)C(OC(F)(F)C(OC(F)(F)F)F)=CC=C1NC(=O)NC(=O)C1=C(F)C=CC=C1F NJPPVKZQTLUDBO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 5
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 4
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 3
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 3
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 3
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 3
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 3
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 2
- 230000007723 transport mechanism Effects 0.000 description 2
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 1
- 238000007664 blowing Methods 0.000 description 1
- 239000000356 contaminant Substances 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 1
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 1
- 238000003892 spreading Methods 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
Abstract
【課題】処理室の位置等に拘束されない汎用性の高い基板搬送装置を提供する。
【解決手段】基板搬送装置1は、搬入ポート50に配置されたキャリア30から取り出した基板を不活性ガスの噴出によりベルヌーイ吸着するフォーク板11を備える基板搬送ボックス10と、基板搬送ボックス10から搬入される基板を不活性ガスの噴出によりベルヌーイ吸着する待機テーブル21aを備える基板待機室20と、基板待機室20の待機テーブル21aにベルヌーイ吸着された基板を、当該基板に対して所定の処理を行う処理室2に搬送する搬送アーム27と、を備える。基板搬送ボックス10内には、ベルヌーイ吸着に用いられる不活性ガスが充満し、基板待機室20内には、ベルヌーイ吸着に用いられる不活性ガスが充満する。不活性ガスにより、基板搬送ボックス10及び基板待機室20の内圧は、外部の気圧に対して陽圧となる。
【選択図】図1A highly versatile substrate transfer apparatus that is not restricted by the position of a processing chamber or the like is provided.
A substrate transfer apparatus includes a substrate transfer box having a fork plate that adsorbs a substrate taken out from a carrier disposed at a carry-in port by suction of an inert gas and a substrate transfer box from the substrate transfer box. The substrate standby chamber 20 provided with a standby table 21a for adsorbing a substrate to be formed by the ejection of an inert gas and the substrate adsorbed on the standby table 21a of the substrate standby chamber 20 are subjected to predetermined processing on the substrate. A transfer arm 27 for transferring to the processing chamber 2. The substrate transport box 10 is filled with an inert gas used for Bernoulli adsorption, and the substrate standby chamber 20 is filled with an inert gas used for Bernoulli adsorption. Due to the inert gas, the internal pressure of the substrate transfer box 10 and the substrate standby chamber 20 becomes a positive pressure with respect to the external atmospheric pressure.
[Selection] Figure 1
Description
この発明は、半導体ウエハ又はガラス基板等を、大気から遮断して複数の処理装置間を搬送するための基板搬送ボックス及び基板搬送装置に関する。 The present invention relates to a substrate transfer box and a substrate transfer apparatus for transferring a semiconductor wafer, a glass substrate, or the like from a plurality of processing apparatuses while blocking them from the atmosphere.
半導体デバイス等の製造工程では、ある工程の処理室で処理された半導体ウエハ又はガラス基板(以下、これらを単に「基板」と称する)をキャリアに収納し、次の工程の処理室の搬入ポートまで搬送した後、搬送アームによりキャリアから基板を取り出して当該処理室に渡すことが行われている。さらに後続の工程がある場合は、処理を終了した基板を再びキャリアに収容し、上記と同様の手順で、後続の処理室まで搬送される。 In the manufacturing process of semiconductor devices and the like, semiconductor wafers or glass substrates (hereinafter simply referred to as “substrates”) processed in a processing chamber of a certain process are accommodated in a carrier, and then to the loading port of the processing chamber of the next process. After the transfer, the substrate is taken out of the carrier by the transfer arm and transferred to the processing chamber. Further, when there is a subsequent process, the processed substrate is accommodated in the carrier again and is transported to the subsequent processing chamber in the same procedure as described above.
上記のような製造工程では、各処理室間を搬送する過程で処理後の基板が大気に晒されるため、自然酸化膜が形成されるという問題がある。このような問題を解決する従来技術として、特許文献1には、上記キャリアとして、FOUP(Front Opening Unified Pod:SEMI(Semiconductor Equipment and Materials Institute)規格に準拠しているウエハ用搬送容器)のような密閉型の容器を用い、このような容器から処理室に基板を搬送するための基板移送モジュールが開示されている。
特許文献1に記載された基板移送モジュールでは、キャリア内の基板がロボットを介して基板移送チャンバに取り込まれ、その後、処理室へと搬送される。基板移送チャンバの内部には、不活性ガスが供給され、循環されている。そのため、搬送中の基板が大気その他の汚染物質に晒され、反応することを抑制することができる。
In the manufacturing process as described above, there is a problem that a natural oxide film is formed because the substrate after processing is exposed to the atmosphere in the process of transporting between the processing chambers. As a conventional technique for solving such a problem,
In the substrate transfer module described in
特許文献1に開示された基板移送モジュールの基板移送チャンバは、不活性ガス雰囲気の中でキャリアから取り出した基板を処理室を移送するためのロボット(搬送アーム)をチャンバ内に備えている。そのため、チャンバサイズが大きく、チャンバ内の構成も複雑になりがちである。
また、特許文献1に開示された基板移送モジュールは、チャンバ内に充満させる不活性ガスが、基板への有害物質の付着を防止する目的で使用される。そのため、循環時にそれをクリーンなものにする機構を備えており、モジュール全体の構成としても大がかりなものとなる。このような構成の基板移送モジュールでは、処理室の位置に合わせて搬送機構を変えるなどの汎用性を持たせることができない。
The substrate transfer chamber of the substrate transfer module disclosed in
In addition, in the substrate transfer module disclosed in
本発明は、処理室の位置等に拘束されない汎用性の高い、簡易な構造の基板搬送装置を提供することを主たる課題とする。 It is a main object of the present invention to provide a highly versatile and simple substrate transport apparatus that is not restricted by the position of a processing chamber or the like.
上記課題を解決するため、本発明は、基板搬送装置及びこの基板搬送装置に用いられる基板搬送ボックスを提供する。
本発明の基板搬送ボックスは、表裏面部を有する基板を搬送するための移動可能な基板搬送ボックスであって、その内部に収容空間が形成された箱状の筐体を有し、前記収容空間には、それぞれ前記基板を非接触で支持する支持板が所定の間隔で複数段重ねて配置されている。各支持板には、前記基板の位置決め機構と、前記基板をベルヌーイ吸着させるために当該基板の裏面部に向けて不活性ガスを噴射する不活性ガス噴出機構とが形成されている。前記不活性ガスは、前記支持板と前記基板の裏面部との間隙を通って当該基板の周縁部から表面部及び他の支持板に支持された基板の表面部に回り込み、前記収容空間に滞留して、当該収容空間を前記筐体の外部に対して陽圧とするように構成される。
In order to solve the above problems, the present invention provides a substrate transfer device and a substrate transfer box used in the substrate transfer device.
The substrate transport box of the present invention is a movable substrate transport box for transporting a substrate having front and back surfaces, and has a box-shaped housing in which a housing space is formed. the support plate for supporting each of said substrate in a non-contact is arranged to overlap a plurality of stages at predetermined intervals. Each support plate is formed with a positioning mechanism for the substrate and an inert gas ejection mechanism for injecting an inert gas toward the back surface of the substrate in order to adsorb the substrate with Bernoulli. The inert gas passes through the gap between the support plate and the back surface portion of the substrate, wraps around the surface portion of the substrate supported by the surface portion and other support plates, and stays in the accommodation space. And it is comprised so that the said storage space may be made into a positive pressure with respect to the exterior of the said housing | casing.
本発明の基板搬送装置は、それぞれ表裏面部を有する複数の基板を収容する容器が配置される第1ポートと、前記第1ポートに配置された前記容器から前記複数の基板を取り出し、取り出した複数の基板を収容する第1基板搬送ボックスと、前記第1基板搬送ボックスを前記第1ポートから離れた第2ポートまで移送させる移送機構と、前記第2ポートまで移送された前記第1基板搬送ボックスから取り出された複数の基板を収容する第2基板搬送ボックスと、前記第2基板搬送ボックスに収容された複数の基板を取り出し、取り出した複数の基板を、当該基板に対して所定の処理を行う処理室まで案内する案内機構とを備えている。
前記第1基板搬送ボックス及び前記第2基板搬送ボックスは、その内部に収容空間が形成された箱状の筐体を有する。前記収容空間には、前記基板を非接触で支持する支持板が所定の間隔で複数段重ねて配置されている。各支持板には、前記基板の位置決め機構と、前記基板をベルヌーイ吸着させるために当該基板の裏面部に向けて不活性ガスを噴射する不活性ガス噴出機構とが形成されている。前記不活性ガスは、前記支持板と前記基板の裏面部との間隙を通って当該基板の周縁部から表面部及び他の支持板に支持された基板の表面部に回り込み、前記収容空間に滞留して、当該収容空間を前記筐体の外部に対して陽圧とするように構成される。
The substrate transfer apparatus according to the present invention includes a first port in which a container for storing a plurality of substrates each having front and back surfaces is disposed, and a plurality of the plurality of substrates that are taken out from the container disposed in the first port. A first substrate transport box that accommodates the substrate, a transport mechanism that transports the first substrate transport box to a second port away from the first port, and the first substrate transport box transported to the second port A second substrate transport box for storing a plurality of substrates taken out from the substrate, and a plurality of substrates stored in the second substrate transport box, and performing a predetermined process on the plurality of substrates that have been taken out And a guide mechanism for guiding to the processing chamber.
Each of the first substrate transport box and the second substrate transport box has a box-shaped housing in which an accommodation space is formed. In the accommodation space, support plates that support the substrate in a non-contact manner are arranged in a plurality of stages at predetermined intervals. Each support plate is formed with a positioning mechanism for the substrate and an inert gas ejection mechanism for injecting an inert gas toward the back surface of the substrate in order to adsorb the substrate with Bernoulli. The inert gas passes through the gap between the support plate and the back surface portion of the substrate, wraps around the surface portion of the substrate supported by the surface portion and other support plates, and stays in the accommodation space. Thus, the housing space is configured to be positive with respect to the outside of the housing.
本発明によれば、基板を搬送する基板搬送ボックスの収容空間が不活性ガスで充満され、かつ、収容空間が筐体の外部に対して陽圧に維持されているため、基板を基板搬送ボックス間、あるいは基板搬送ボックスと処理室との間で移しかえる際に、大気に晒される時間が短くなり、自然酸化膜の形成等の汚染を抑制することができる。
また、不活性ガスは、基板をベルヌーイ吸着する際に用いたものをそのまま流用できるため、収容空間を陽圧にするための機構を殊更複雑なものにする必要がない。
このような基板搬送ボックスを介して基板を処理室まで搬送することができるので、処理室に位置に合わせた、汎用性の高い基板搬送装置を実現することができる。
According to the present invention, since the housing space of the substrate transport box for transporting the substrate is filled with the inert gas and the housing space is maintained at a positive pressure with respect to the outside of the housing, the substrate is transported to the substrate transport box. When transferring between or between the substrate transfer box and the processing chamber, exposure time to the atmosphere is shortened, and contamination such as formation of a natural oxide film can be suppressed.
Further, since the inert gas used when adsorbing the substrate to Bernoulli can be used as it is, it is not necessary to make the mechanism for making the accommodation space positive pressure particularly complicated.
Since the substrate can be transported to the processing chamber through such a substrate transport box, a highly versatile substrate transporting device that matches the position of the processing chamber can be realized.
以下、本発明を適用した基板搬送装置の実施の形態例を説明する。基板搬送装置は、半導体ウエハやガラス基板のような、表裏面部を有する基板を搬送対象とし、基板を収容するキャリアから基板を取り出して処理を行うための処理室に搬入する。処理が終了すると、基板搬送装置は、処理室から処理後の基板を搬出してキャリアに収容する。 Embodiments of the substrate transfer apparatus to which the present invention is applied will be described below. The substrate transfer apparatus targets a substrate having front and back surfaces, such as a semiconductor wafer and a glass substrate, and takes the substrate out of a carrier that accommodates the substrate and carries it into a processing chamber for processing. When the processing is completed, the substrate transfer apparatus carries out the processed substrate from the processing chamber and stores it in the carrier.
[基板搬送装置の構成]
図1は、本実施形態の基板搬送装置1の構成の上面図である。この基板搬送装置1は、それぞれ基板を収容可能な2種類の基板搬送ボックスを組み合わせて構成される。一方の種類の基板搬送ボックスは、搬入ポート50と搬出ポート51との間の移送機構40上に備えられ、ガイド41に沿って移動する基板搬送ボックス10として用いる。
もう一種類の基板搬送ボックスは、基板搬送ボックス10の移送機構40と処理室2との間の基板待機室20に収容される半固定式の基板待機ボックス21,24として用いる。基板待機ボックス21は、基板搬送ボックス10から取り出した基板を処理室2に渡す際に一時的に待機させる。基板待機ボックス24は、処理室2から取り出された基板を一時的に待機させる。基板待機室20は、処理室2への基板の搬入、搬出時の前室であり、外気が進入しない構造、例えば処理室2に密着して設けられる。
[Configuration of substrate transfer device]
FIG. 1 is a top view of the configuration of the
Another type of substrate transfer box is used as semi-fixed
キャリア30は、外気の進入を防止する密閉度の高い容器であり、その一面が開口される。この開口面は、搬入ポート50にセットされたときに基板搬送ボックス10を指向する面部に形成され、図示しない制御装置に制御された開閉機構32により開閉される。開閉機構32は、基板が基板搬送ボックス10に取り出されるときに開口面を開放させる。キャリア30の収容空間には、基板の外周部を把持するための溝又は突起が鉛直方向に所定の間隔で複数段形成されたスタッカ31が備えられている。本例では、スタッカ31に25枚の基板が同時に収容されているものとする。
The
基板搬送ボックス10は、一面が開口された箱状の筐体を有する。筐体の内部には、基板の収容空間が形成されている。この筐体の開口面にはゲートバルブ等の開閉機構12が設けられている。この開閉機構12は、キャリア30が搬入ポート50にセットされたときに、キャリア30の開閉機構32と対向するように配置される。基板搬送ボックス10は、また、筐体を所定角度、例えば180度旋回させる旋回機構も備えている。
The
基板搬送ボックス10の収容空間には、台座13の上面に、基板を非接触で支持するためのフォーク板11が、鉛直方向に所定の間隔で複数段重ねて配置されている。本実施形態では、キャリア30のスタッカ31の溝又は突起の形成間隔に合わせて25段配置の例を示すが、段数は任意であってもよい。
In the accommodation space of the
各フォーク板11は、それぞれ基板をベルヌーイ吸着により非接触で支持する支持板の一例となるものであり、基板の位置決め機構と、当該基板の裏面部に向けて不活性ガスを噴射する不活性ガス噴出機構とが形成されている。これにより、基板搬送ボックス10の収容空間に不活性ガスが充填され、基板が不用意に化学反応を起こすことを防止している。位置決め機構及び不活性噴出機構については、後述する。
各フォーク板11は、制御装置により駆動制御されることにより、台座13上をスライドする基台と共に、キャリア30のスタッカ31に収容されている基板の裏面部に向けて一斉に進入する。そして、収容空間31に収容されている基板をベルヌーイ吸着により支持しながら取り出し、基台と共にそのまま収容空間に戻る。25段のフォーク板11により最大で25枚の基板をキャリア30から1度に取り出すことができるので、効率のよい取り出し及び収容が可能となり、搬送過程で基板が大気に触れる時間を短くすることができる。
基板の取り出し及び収容の動作の詳細については後述する。
Each
Each
Details of the operation of taking out and housing the substrate will be described later.
基板待機室20に設けられる2つの基板待機ボックス21、24について説明する。基板待機ボックス21,24は、それぞれ二面が開口された箱状の筐体を有している点が、基板搬送ボックス10と異なっている。開口される二面には、それぞれゲートバルブ等の開閉機構22、23、25、26が設けられている。開閉機構22は、基板待機室20の供給口の開閉を行い、基板搬送ボックス10から基板が供給されるときに開放される。開閉機構23は、処理室2への基板の搬送を開始するときに開放される。開閉機構25は、基板待機室20の搬出口の開閉を行い、基板搬送ボックス10へ基板を搬出するときに開放される。開閉機構26は、処理室2から基板を搬出するときに開放される。
The two
基板待機ボックス21、24もまた、基板を非接触で支持する支持板を備えている。本実施形態では、この支持板を待機ステージ21a、24aと呼ぶ。待機ステージ21aは、処理室2へ搬入される前の基板をベルヌーイ吸着により非接触で支持する。待機ステージ24aは、基板搬送ボックス10へ搬出される前の基板をベルヌーイ吸着により非接触で支持する。待機ステージ21a、24aは、基板搬送ボックス10のフォーク板11と同じ段数で配置される。つまり、フォーク板11と同じ間隔で25段重ねて配置される。
待機ステージ21a、24aもまた、フォーク板11と同様、基板の位置決め機構と、当該基板の裏面部に向けて不活性ガスを噴射する不活性ガス噴出機構とが形成されている。これにより、基板待機ボックス21,24の収容空間に不活性ガスが充填され、基板が不用意に化学反応を起こすことを防止している。
The
Similarly to the
基板待機ボックス21、24の処理室2側には、ダブルアームロボットである搬送アーム27が設けられている。この搬送アーム27は、基板待機ボックス21の待機ステージ21aから基板を取り出して処理室2に搬送するとともに、処理室2で処理が終了した基板を基板待機ボックス24に収容する案内機構の例である。
搬送アーム27は、ガイド271上に設けられ、基板の処理室2への搬入時には基板待機ボックス21側に移動し、基板の処理室2からの搬出時には基板待機ボックス24側に移動する。ガイド271は、基板待機室20から処理室2に延びる二本のレール272上に設けられる。搬送アーム27は、ガイド271と共にレール272上を移動して、基板の基板待機ボックス21から処理室2への移送及び基板の処理室2から基板待機ボックス24への移送を行う。搬送アーム27は、ダブルアームの各々にフォーク板273を備える。フォーク板273は、基板をベルヌーイ吸着により非接触で支持する支持板であり、基板搬送ボックス10のフォーク板11と同じ構造を有する。また、フォーク板11と同じ間隔で25段重ねて配置され、一度にすべての基板を基板待機ボックス21から取り出すことができるようになっている。
On the
The
[基板搬送ボックスの詳細]
図2は、基板搬送ボックス10の側面方向の構造を示す説明図である。
基板搬送ボックス10は、動作時に水平面と平行となる台座13と、この台座13上で、開閉機構12に対向する端部と開閉機構12との間を往復動作する上述した基台141とを備えている。基台141には、柱状の支持部材14が固定的に設けられている。支持部材14からは、複数のフォーク板11が、開閉機構12側に延びるように設けられる。各フォーク板11は平板状であり、それぞれが台座13の座面に平行になるように設けられる。各フォーク板11は、基板Wの支持位置を決めるための位置決め機構の一例となるエッジクランプ111を備えている。支持部材14及び各フォーク板11には、内部にガス供給路15が設けられる。ガス供給路15からは不活性ガスが供給される。本例では、不活性ガスの一例として窒素ガスを用いる。
[Details of substrate transport box]
FIG. 2 is an explanatory view showing the structure of the
The
各フォーク板11の基板の支持位置には、不活性ガス噴出機構が設けられている。不活性ガス噴出機構は、基台141の移動に追随するガス供給路15により供給される窒素ガスをフォーク板11の面に対して所定角度、例えば45度の角度に噴射する噴出ノズルにより構成される。
フォーク板11の基板Wの裏面部を指向する面部は、導電性樹脂で形成されており、窒素ガスの噴出供給により生じる静電気の拡散や帯電防止が図られている。
An inert gas ejection mechanism is provided at the substrate support position of each
The surface portion of the
基板Wは、窒素ガスの噴出により一枚ずつ各フォーク板11にベルヌーイ吸着により非接触の状態で支持される。図2中の矢印は、窒素ガスの流路を表す。フォーク板11の噴出ノズルから噴出された窒素ガスは、フォーク板11と基板Wの裏面部との間隙を通って、基板Wの周縁部から基板Wの表面部及び他のフォーク板11に支持された基板Wの表面部に回り込む。この回り込んだ窒素ガスが、基板搬送ボックス10内の収容空間に滞留して、収容空間内に充満する。これにより、窒素ガスによる基板搬送ボックス10の収容空間内の気圧は、基板搬送ボックス10の筐体の外部の気圧に対して陽圧になる。陽圧にすることで、開閉機構12が開放されたときに、外気が基板搬送ボックス10の収容空間内に流入することを防止する。
基板搬送ボックス10は、収容空間内の内圧を調整するベント16を備える。ベント16を開くことで、基板搬送ボックス10内が高圧になりすぎた場合などに、基板搬送ボックス10内の気圧を調整することが可能である。そのために、基板搬送ボックス10は、内圧を測定する気圧計を備えていてもよい。
The substrates W are supported one by one on each
The
図3は、基板搬送ボックス10がキャリア30から基板Wを取り出す際の説明図である。基板Wは、キャリア30の収容空間31内に設けられるティース33により、収容空間31内で水平に支持される。
FIG. 3 is an explanatory diagram when the
基板Wの取り出し時には、キャリア30の収容空間の開口面と基板搬送ボックス10の開閉機構12とが密着して配置される。開閉機構32、12の双方が開放されることで基板Wの取り出しが可能になる。開閉機構32、12の双方が開放された場合でも、キャリア30と基板搬送ボックス10とが密着するために、外気が基板搬送ボックス10内に流入しない。この状態で、基板搬送ボックス10の基台141、支持部材14、及びフォーク板11は、一体となって収容空間31内に進入する。複数のフォーク板11は、収容空間31内で水平に支持される基板Wの間に進入するように配置される。各フォーク板11からは窒素ガスが噴出したままなので、進入したフォーク板11は、収容空間31内で支持される基板Wをベルヌーイ吸着する。
When the substrate W is taken out, the opening surface of the accommodation space of the
ベルヌーイ吸着した後に、基板搬送ボックス10の基台141、支持部材14、及びフォーク板11は、キャリア30の収容空間31から、基板搬送ボックス10の筐体のもとの位置まで、台座13上をスライドして戻る。このようにして基板搬送ボックス10は、収容空間31内に収容された複数の基板Wを一度にすべて取り出すことができる。この動作は、基板待機ボックス24から基板Wを取り出すときも同様である。台座13上の基台141及びその変位機構は、支持部材14に設けられたフォーク板11をキャリア30の収容空間31内に進入させ、基板Wの吸着後にフォーク板11を基板搬送ボックス10の収容空間に収容する支持板変位機構となる。
After the Bernoulli adsorption, the base 141, the
基板Wのキャリア30への搬出時にも、基板搬送ボックス10は、同様に、基台141、支持部材14、及びフォーク板11を収容空間31に進入させる。キャリア30への搬出時には、基板Wの縁部を収容空間31内のティース33に支持させた後に、例えば窒素ガスの噴出量を減らすなどしてベルヌーイ吸着による吸着力を小さくすることで、収容空間31内に基板Wを搬出する。この動作は、基板待機ボックス21に基板を搬入するときも同様である。
Similarly, when the substrate W is carried out to the
図4は、基板搬送ボックス10及び移送機構40の構成の説明図である。
基板搬送ボックス10は、移送機構40のガイド41に立てられる円柱形の支軸42上に設けられる。支軸42は、ガイド41に沿って移動可能である。支軸42は、軸を中心に回転可能である。支軸42の回転に伴って、基板搬送ボックス10が旋回する。支軸42の内部には、例えば中心軸に沿ってガス供給路43が設けられる。ガス供給路43には、外部の窒素ガス供給装置から窒素ガスが供給される。窒素ガスは、ガス供給路43を経由して基板搬送ボックス10に供給される。中心軸に沿ってガス供給路43が設けられるために、支軸42の回転時にも窒素ガスを基板搬送ボックス10に供給可能である。
FIG. 4 is an explanatory diagram of the configuration of the
The
基板搬送ボックス10は、支軸42のガス供給路43を介して供給される窒素ガスを支持部材14内のガス供給路15に供給するための、チューブ等の可撓性管17を備える。上述の通り、基板搬送ボックス10の台座13上の基台141、支持部材14、及びフォーク板11は、基板Wの取り出しの際に一体に移動する。移動時にも窒素ガスを供給する必要があるために、可撓性管17を用いて、支持部材14の移動に対応する。
The
[基板待機ボックスの詳細]
図5は、基板待機ボックス21の構成の説明図である。基板待機ボックス21及び基板待機ボックス24は同じ構成であるため、ここでは基板待機ボックス21の説明のみを行い、基板待機ボックス21の構成の説明については省略する。
[Details of board standby box]
FIG. 5 is an explanatory diagram of the configuration of the
基板待機ボックス21は、複数の待機ステージ21aを支持するための柱状の支持部材21cを備える。支持部材21cは、基板Wの搬送に支障がない位置に設けられる。待機ステージ21aは、平板状であり、それぞれが基板待機ボックス21の底面に平行になるように設けられる。各待機ステージ21aは、基板Wの支持位置を決めるための位置決め機構となるエッジクランプ21bを備える。支持部材21c及び各待機ステージ21aには、内部にガス供給路21dが設けられる。ガス供給路21dからは不活性ガスとして本実施形態では窒素ガスが供給される。
The
各待機ステージ21aには、基板の支持位置に不活性ガス噴出機構が設けられる。不活性ガス噴出機構は、ガス供給路21dと、このガス供給路21dにより供給される窒素ガスを待機ステージ21aの面に対して所定角度、例えば45度の角度に噴射する不活性ガス噴出機構である噴出ノズルで構成される。待機ステージ21aの基板Wの裏面を指向する面部は、導電性樹脂で形成されており、窒素ガスの噴出供給により生じる静電気の拡散や帯電防止が図られている。 Each standby stage 21a is provided with an inert gas ejection mechanism at the substrate support position. The inert gas ejection mechanism is an inert gas ejection mechanism that injects the nitrogen gas supplied through the gas supply path 21d and the gas supply path 21d at a predetermined angle, for example, 45 degrees with respect to the surface of the standby stage 21a. It consists of a certain jet nozzle. The surface portion of the standby stage 21a that faces the back surface of the substrate W is formed of a conductive resin, and diffusion of static electricity caused by the supply of nitrogen gas and supply of the static electricity are prevented.
基板Wは、窒素ガスの噴出により待機ステージ21aに一枚ずつベルヌーイ吸着により非接触で支持される。図5中の矢印は、窒素ガスの流路を表す。待機ステージ21aの噴出ノズルから噴出された窒素ガスは、待機ステージ21aと基板Wの裏面との間隙を通って、基板Wの周縁部から基板Wの表面部及び他の待機ステージ21aに支持された基板Wの表面部に回り込む。この回り込んだ窒素ガスが、基板待機ボックス21内の収容空間に滞留して、収容空間内に充満する。これにより、基板待機ボックス21の収容空間内の気圧は、基板待機ボックス21の筐体の外部の気圧に対して陽圧になる。陽圧にすることで、開閉機構22、23が開放されたときに、外気が基板待機ボックス21の収容空間内に流入することを防止する。
基板待機ボックス21もまた、収容空間内の内圧を調整するベント28を備える。ベント28を開くことで、基板待機ボックス21内が高圧になりすぎた場合などに、基板待機ボックス21内の気圧を調整することが可能である。そのために、基板待機ボックス21は、内部の気圧を測定する気圧計を備えていてもよい。
The substrates W are supported in a non-contact manner by Bernoulli adsorption one by one on the standby stage 21a by blowing out nitrogen gas. The arrow in FIG. 5 represents the flow path of nitrogen gas. The nitrogen gas ejected from the ejection nozzle of the standby stage 21a passes through the gap between the standby stage 21a and the back surface of the substrate W, and is supported from the peripheral portion of the substrate W to the surface portion of the substrate W and the other standby stage 21a. It goes around the surface of the substrate W. The circulated nitrogen gas stays in the accommodation space in the
The
<基板搬送装置の動作>
次に、上記のように構成される基板搬送装置1の動作を説明する。基板搬送装置1は、制御用プログラムを読み込んで実行するコンピュータを搭載した制御装置(図示省略)により、以下のように動作する。図6は、基板をキャリア30から基板待機室20に搬入する場合に制御装置が行う制御の手順説明図である。図7、図8は、搬入時の基板搬送装置1の状態を表す図である。
<Operation of substrate transfer device>
Next, the operation of the
[基板搬入時の動作]
基板の搬入は、キャリア30が搬入ポート50に配置され、制御装置から基板処理の開始が指示されることで開始される(S10)。キャリア30は例えばオペレータの手により開閉機構32が開放されて、搬入ポート50に配置される。
基板搬送ボックス10が、キャリア30に対向する位置まで、ガイド41に沿って移動すると(S11)、基板搬送ボックス10とキャリア30とが、開閉機構12を介して密着する。その後、基板搬送ボックス10の開閉機構12を開放させる(S12)。開閉機構12が開放されることで、キャリア30の開閉機構32が設けられた開口面と、この開口面を指向する基板搬送ボックス10の開閉機構12が設けられた開口面とが密着する。また、各開口面を介して、キャリア30の収容空間31と基板搬送ボックス10内部とが連通する。密着したままキャリア30の収容空間31と基板搬送ボックス10内部とが連通するため、収容空間31及び基板搬送ボックス10内部に外気が侵入することはない。もし、外気に触れることがあっても、基板搬送ボックス10内が外気に対して陽圧になっているために、外気が侵入することはない。
[Operation when board is loaded]
The substrate loading is started when the
When the
キャリア30の収容空間31と基板搬送ボックス10内部とが連通した状態で、図3に示すように、基板搬送ボックス10の台座13に沿って、基台141、支持部材14、及び複数のフォーク板11が一体となって収容空間31内に進入し、基板を収容空間31から取り出す(S13)。基台141、支持部材14、及び複数のフォーク板11がキャリア30の収容空間31から基板搬送ボックス10のもとの位置に戻り、基板の取り出しが終了すると、基板搬送ボックス10の開閉機構12が閉鎖される(S14)。以上により、基板がキャリア30から基板搬送ボックス10に取り出される。
As shown in FIG. 3, the base 141, the
基板搬送ボックス10は、基板を取り出した後に、ガイド41に沿って、基板待機室20側に移動する。基板搬送ボックス10は、図7に示すように、キャリア30及び基板待機室20のいずれにも干渉しない位置で、180度旋回する(S15)。旋回により、基板搬送ボックス10の開閉機構12が基板待機室20側に向く。旋回後も基板搬送ボックス10はガイド41に沿って移動する。基板搬送ボックス10は、図8に示すように、基板待機室20の基板待機ボックス21の開閉機構22と、基板搬送ボックス10の開閉機構12とが密着する位置で停止する。この密着する位置を「供給ポート」という。
The
供給ポートにおいて、基板搬送ボックス10の開閉機構12及び基板待機ボックス21の開閉機構22は、密着した状態で開放される(S16)。開閉機構12、22がともに開放されることで、基板搬送ボックス10の開閉機構12が設けられた開口面と、この開口面を指向する基板待機ボックス21の開閉機構22が設けられた開口面とが密着する。各開口面を介して、基板搬送ボックス10内部と基板待機ボックス21内部とが連通する。密着したまま基板搬送ボックス10内部と基板待機ボックス21内部とが連通するために、基板搬送ボックス10内部及び基板待機ボックス21内部に外気が侵入することはない。もし、外気に触れることがあっても、基板搬送ボックス10内及び基板待機ボックス21内の気圧が外気圧よりも高く設定されているために、外気が侵入することはない。
In the supply port, the opening /
基板搬送ボックス10内部と基板待機ボックス21内部とが連通した状態で、基板搬送ボックス10の台座13に沿って、基台141、支持部材14、及び複数のフォーク板11が一体となって基板待機ボックス21内に進入し、基板を待機ステージ21a上に搬出する(S17)。基台141、支持部材14、及び複数のフォーク板11が基板待機ボックス21から基板搬送ボックス10のもとの位置に戻り、基板の基板待機室20への搬送が終了すると、基板搬送ボックス10の開閉機構12及び基板待機室20の開閉機構22が閉鎖される(S18)。これにより、基板が基板搬送ボックス10から基板待機室20へ搬送される。
In a state where the inside of the
以上のようにして基板待機室20の基板待機ボックス21に搬入された基板は、開閉機構23が開放された後に搬送アーム27により複数枚、例えば5枚ずつ取り出されて、処理室2へ搬送される。すべての基板が基板待機ボックス21から処理室2へ搬送されると、開閉機構23が閉鎖される。
The substrates carried into the
処理室2で処理された基板は、搬送アーム27により開閉機構26が開放された基板待機ボックス24の待機ステージ24aに支持される。すべての基板の処理が終了すると、基板は、基板待機ボックス24の待機ステージ24aにすべて支持され、開閉機構26が閉鎖される。この状態から基板搬送装置1は、基板をキャリア30へ搬出する。
The substrate processed in the
[基板搬出時の動作]
図9は、基板を基板待機室20からキャリア30に搬出する場合に制御装置が行う制御の手順説明図である。図10〜図12は、搬出時の基板搬送装置1の状態を表す図である。なお、オペレータは、搬出開始前に、キャリア30を搬出ポート51に配置する。キャリア30は例えばオペレータの手により開閉機構32が開放されて、搬出ポート51にセットされる。
[Operation when carrying out board]
FIG. 9 is an explanatory diagram of a control procedure performed by the control device when the substrate is carried out from the
図8の位置で停止していた基板搬送ボックス10は、基板が基板待機ボックス24の待機ステージ21aにすべて支持されると、基板待機ボックス24に対向する位置にガイド41に沿って移動する(S20)。基板搬送ボックス10は、図10に示すように、基板待機室20の基板待機ボックス24の開閉機構25と、基板搬送ボックス10の開閉機構12とが密着する位置で停止する。
The
基板搬送ボックス10の開閉機構12及び基板待機ボックス24の開閉機構25は、密着した状態で開放される(S21)。開閉機構12、25がともに開放されることで、基板搬送ボックス10の開閉機構12が設けられた開口面と、この開口面を指向する基板待機ボックス24の開閉機構25が設けられた開口面とが密着する。各開口面を介して、基板搬送ボックス10内部と基板待機ボックス24内部とが連通する。密着したまま基板搬送ボックス10内部と基板待機ボックス24内部とが連通するために、基板搬送ボックス10内部及び基板待機ボックス24内部に外気が侵入することはない。もし、外気に触れることがあっても、基板搬送ボックス10内及び基板待機ボックス24内の気圧が外気圧よりも高く設定されているために、外気が侵入することはない。
The opening /
基板搬送ボックス10内部と基板待機ボックス24内部とが連通した状態で、基板搬送ボックス10の台座13に沿って、基台141、支持部材14、及び複数のフォーク板11が一体となって基板待機ボックス24内に進入し、基板を待機ステージ24a上から取り出す(S22)。基台141、支持部材14、及び複数のフォーク板11が基板待機ボックス24から基板搬送ボックス10のもとの位置に戻り、基板の取り出しが終了すると、基板搬送ボックス10の開閉機構12及び基板待機ボックス24の開閉機構25が閉鎖される(S23)。これにより、基板が基板待機室20から基板搬送ボックス10に取り出される。
In a state where the inside of the
基板搬送ボックス10は、基板を取り出した後に、ガイド41に沿って、搬出ポート51に配置されたキャリア30側に移動する。基板搬送ボックス10は、図11に示すように、基板待機室20及びキャリア30のいずれにも干渉しない位置で、180度旋回する(S24)。旋回により、基板搬送ボックス10の開閉機構12がキャリア30側に向く。旋回後も基板搬送ボックス10はガイド41に沿って移動する。基板搬送ボックス10は、図12に示すように、キャリア30の開閉機構32と、基板搬送ボックス10の開閉機構12とが密着する位置で停止する。
After the substrate is taken out, the
移動後に、基板搬送ボックス10の開閉機構12が開放される(S25)。開閉機構12が開放されることで、基板搬送ボックス10内部とキャリア30の収容空間31とが連通する。開閉機構12が開放されることで、キャリア30の開閉機構32が設けられた開口面と、この開口面を指向する基板搬送ボックス10の開閉機構12が設けられた開口面とが密着する。各開口面を介して、キャリア30の収容空間31と基板搬送ボックス10内部とが連通する。密着したまま基板搬送ボックス10内部とキャリア30の収容空間31とが連通するために、基板搬送ボックス10内部及び収容空間31に外気が侵入することはない。もし、外気に触れることがあっても、基板搬送ボックス10内の気圧が外気圧よりも高く設定されているために、外気が侵入することはない。
After the movement, the opening /
基板搬送ボックス10内部とキャリア30の収容空間31とが連通した状態で、基板搬送ボックス10の台座13に沿って、基台141、支持部材14、及び複数のフォーク板11が一体となって収容空間31内に進入し、基板を収容空間31へ搬出する(S26)。基台141、支持部材14、及び複数のフォーク板11がキャリア30の収容空間31から基板搬送ボックス10のもとの位置に戻り、基板の搬出が終了すると、基板搬送ボックス10の開閉機構12が閉鎖される(S27)。これにより、基板が基板搬送ボックス10からキャリア30に搬出される。
The base 141, the
以上のようにして、基板の搬入から処理、搬出までが行われる。キャリア30と基板搬送ボックス10との間の基板の搬送、基板搬送ボックス10と基板待機室20との間の基板の搬送は、それぞれ密着して行うため、外気による基板への影響を低減することができる。また、基板搬送ボックス10及び基板待機ボックス21、24の各々の内圧を外気圧よりも高く(つまり陽圧に)することで、外気が搬送時に基板に触れることを防止している。外気の影響を低減することで、基板の自然酸化等の汚染を抑制することができる。
As described above, the process from carrying in the substrate to processing and carrying out is performed. Since the transfer of the substrate between the
また、基板待機室20を設けることで、搬入後で処理前の基板を、不活性ガス雰囲気中に待機させることができるし、処理後で搬出前の基板も、不活性ガス雰囲気中で待機させることができる。そのため、待機時の基板の汚染を抑制できる。また、不活性ガスは、基板待機ボックス21、24を充填する量ですむために、従来のように大量に使用する必要がない。不活性ガスの循環等も行わないために、循環のための装置も不要となり、基板搬送装置1全体が大型化することもない。
In addition, by providing the
なお、上記の構成では、基板待機室20が2つの基板待機ボックス21、24を備えた構成としているが、これは1つであってもよい。基板待機ボックス21のみを備えた構成として、基板搬送ボックス10が基板待機ボックス21に対して基板を搬入、搬出する構成であっても上記の効果は得ることができる。また、搬入ポート50と搬出ポート51とを分けて設けず、一つのポートにキャリア30を配置して、基板の搬入、搬出を行う構成としてもよい。この場合、基板搬送装置1の全体構成を小さくすることができる。
In the above configuration, the
また、本実施形態では、基板の取り出し後に基板待機室20側に移動する途中で180度旋回する場合の例を説明したが、基板待機室20が搬入ポート50に並んで設けられる場合、移動時に旋回する必要はない。
Further, in the present embodiment, an example in which the
さらに、本実施形態では、基板表面に酸化膜が形成されるのを防止するため、基板をベルヌーイ吸着するとともに、基板の収容空間(基板待機室20等)に滞留させるガスとして不活性ガスを用いた場合の例を示したが、収容空間への外気への侵入(基板と外気との接触)を抑制するために収容空間を陽圧にするという点に主眼のある用途では、必ずしも不活性ガスである必要はない。例えば、希ガス、所定の圧力に調整された乾燥空気その他基板との間で化学反応を起こさない或いは起こしにくいガスを、ベルヌーイ吸着及び収容空間に滞留させるガス用いることができる。
Furthermore, in this embodiment, in order to prevent the formation of an oxide film on the substrate surface, an inert gas is used as a gas that adsorbs the substrate to Bernoulli and stays in the substrate accommodation space (the
1…基板搬送装置、2…処理室、10…基板搬送ボックス、11,273…フォーク板、111,21b…エッジクランプ、12,22,23,25,26,32…開閉機構、13…台座、14,21c…支持部材、141…基台、15,21d,43…ガス供給路、16,28…ベント、17…可撓性管20…基板待機室、21,24…基板待機ボックス、21a,24a…待機ステージ、27…搬送アーム、271,41…ガイド、272…レール、30…キャリア、31…収容空間、33…ティース、40…移送機構、42…支軸、50…搬入ポート、51…搬出ポート。
DESCRIPTION OF
Claims (9)
その内部に収容空間が形成された箱状の筐体を有し、
前記収容空間には、それぞれ前記基板を非接触で支持する支持板が所定の間隔で複数段重ねて配置されており、
各支持板には、前記基板の位置決め機構と、前記基板をベルヌーイ吸着するために当該基板の裏面部に向けて不活性ガスを噴射する不活性ガス噴出機構とが形成されており、
前記不活性ガスは、前記支持板と前記基板の裏面部との間隙を通って当該基板の周縁部から表面部及び他の支持板に支持された基板の表面部に回り込み、前記収容空間に滞留して、当該収容空間を前記筐体の外部に対して陽圧とするように構成されている、
基板搬送ボックス。 A movable substrate transport box for transporting a substrate having front and back surfaces,
It has a box-shaped housing with a storage space inside it,
The said receiving space, supporting plate for supporting each non contacting said substrate are arranged to overlap a plurality of stages at predetermined intervals,
Each support plate is formed with a positioning mechanism for the substrate and an inert gas ejection mechanism for injecting an inert gas toward the back surface of the substrate to adsorb the substrate to Bernoulli,
The inert gas passes through a gap between the support plate and the back surface portion of the substrate, wraps around the surface portion of the substrate supported by the surface portion and the other support plate, and stays in the accommodation space. Then, the housing space is configured to be a positive pressure with respect to the outside of the housing.
Board transfer box.
請求項1記載の基板搬送ボックス。 Of the support plate, at least a surface portion facing the back surface portion of the substrate is formed of a conductive resin.
The substrate transport box according to claim 1.
請求項1又は2記載の基板搬送ボックス。 The housing is provided with a vent for adjusting the internal pressure of the housing space.
The substrate transport box according to claim 1 or 2.
請求項1、2又は3記載の基板搬送ボックス。 The inert gas is either nitrogen gas or dry air adjusted to a predetermined pressure,
The board | substrate conveyance box of Claim 1, 2, or 3.
前記第1ポートに配置された前記容器から前記複数の基板を取り出し、取り出した複数の基板を収容する第1基板搬送ボックスと、
前記第1基板搬送ボックスを前記第1ポートから離れた第2ポートまで移送させる移送機構と、
前記第2ポートまで移送された前記第1基板搬送ボックスから取り出された複数の基板を収容する第2基板搬送ボックスと、
前記第2基板搬送ボックスに収容された複数の基板を取り出し、取り出した複数の基板を、当該基板に対して所定の処理を行う処理室まで案内する案内機構と、を備えており、
前記第1基板搬送ボックス及び前記第2基板搬送ボックスは、
その内部に収容空間が形成された箱状の筐体を有し、
前記収容空間には、前記基板を非接触で支持する支持板が所定の間隔で複数段重ねて配置されており、
各支持板には、前記基板の位置決め機構と、前記基板をベルヌーイ吸着させるために当該基板の裏面部に向けて不活性ガスを噴射する不活性ガス噴出機構とが形成されており、
前記不活性ガスは、前記支持板と前記基板の裏面部との間隙を通って当該基板の周縁部から表面部及び他の支持板に支持された基板の表面部に回り込み、前記収容空間に滞留して、当該収容空間を前記筐体の外部に対して陽圧とするように構成されている、
基板搬送装置。 A first port in which a container for accommodating a plurality of substrates each having front and back portions is disposed;
A first substrate transport box for taking out the plurality of substrates from the container disposed in the first port and storing the taken out substrates;
A transfer mechanism for transferring the first substrate transfer box to a second port separated from the first port;
A second substrate transport box for accommodating a plurality of substrates taken out from the first substrate transport box transferred to the second port;
A guide mechanism for taking out a plurality of substrates accommodated in the second substrate transport box and guiding the taken out substrates to a processing chamber for performing a predetermined process on the substrates;
The first substrate transport box and the second substrate transport box are
It has a box-shaped housing with a storage space inside it,
In the accommodation space, support plates that support the substrate in a non-contact manner are arranged in a plurality of stages at a predetermined interval,
Each support plate is formed with a positioning mechanism for the substrate and an inert gas ejection mechanism for injecting an inert gas toward the back surface of the substrate in order to adsorb the substrate to Bernoulli,
The inert gas passes through the gap between the support plate and the back surface portion of the substrate, wraps around the surface portion of the substrate supported by the surface portion and other support plates, and stays in the accommodation space. Then, the housing space is configured to be a positive pressure with respect to the outside of the housing.
Substrate transfer device.
前記第1基板搬送ボックス内の複数段の前記支持板を一度に前記容器に進入させて、前記基板を一つの支持板に一枚ずつベルヌーイ吸着させながら当該第1基板搬送ボックスの収容空間に収容させる支持板変位機構をさらに備えている、
請求項5記載の基板搬送装置。 In the container, the substrate is accommodated in a plurality of layers at a predetermined interval,
The plurality of stages of the support plates in the first substrate transport box are made to enter the container at a time, and the substrates are stored in the storage space of the first substrate transport box while adsorbing the substrates one by one to Bernoulli. A support plate displacement mechanism for allowing
The substrate transfer apparatus according to claim 5.
前記案内機構は、複数段の前記支持板を一度に前記第2基板搬送ボックスの収容空間に進入させて、前記基板を一つの支持板に一枚ずつベルヌーイ吸着させながら前記処理室に案内する、
請求項6記載の基板搬送装置。 The support plate displacement mechanism is configured to cause the plurality of stages of the support plates to enter the accommodation space of the second substrate transport box at a time and transport the second substrate while adsorbing the substrates one by one on one support plate. In the storage space of the box,
The guide mechanism guides the substrate to the processing chamber while allowing the plurality of stages of the support plates to enter the accommodation space of the second substrate transport box at a time and adsorbing the substrates one by one on one support plate.
The substrate transfer apparatus according to claim 6.
前記第1基板搬送ボックスは、前記筐体のうち前記容器の開口面を指向する面部を、前記容器の開口面に密着した状態で開放させる開閉機構を備えおり、
前記第2基板搬送ボックスは、前記筐体のうち前記第2ポートまで移送された前記第1基板搬送ボックスの開口面を指向する面部を、当該第1基板搬送ボックスの開口面に密着した状態で開放させる開閉機構を備えている、
請求項7記載の基板搬送装置。 In the container, a surface portion facing the first substrate transport box is opened in the first port,
The first substrate transport box includes an opening / closing mechanism that opens a surface portion of the housing that faces the opening surface of the container in a state of being in close contact with the opening surface of the container,
The second substrate transport box is in a state in which a surface portion of the housing that is directed to the opening surface of the first substrate transport box transferred to the second port is in close contact with the opening surface of the first substrate transport box. Equipped with an opening and closing mechanism to open,
The substrate transfer apparatus according to claim 7.
請求項5〜8のいずれかの項記載の基板搬送装置。 A third substrate transport box having the same configuration as the second substrate transport box, which accommodates the substrate processed in the processing chamber;
The board | substrate conveyance apparatus in any one of Claims 5-8.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013077669A JP5486712B1 (en) | 2013-04-03 | 2013-04-03 | Substrate transport box and substrate transport device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013077669A JP5486712B1 (en) | 2013-04-03 | 2013-04-03 | Substrate transport box and substrate transport device |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP5486712B1 true JP5486712B1 (en) | 2014-05-07 |
JP2014203918A JP2014203918A (en) | 2014-10-27 |
Family
ID=50792192
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2013077669A Active JP5486712B1 (en) | 2013-04-03 | 2013-04-03 | Substrate transport box and substrate transport device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5486712B1 (en) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN108138304A (en) * | 2015-10-25 | 2018-06-08 | 应用材料公司 | For equipment vacuum-deposited on substrate and the method for the masking substrate during vacuum deposition |
JP7136612B2 (en) * | 2018-07-13 | 2022-09-13 | ローツェ株式会社 | Conveyor with local purge function |
JP7209503B2 (en) * | 2018-09-21 | 2023-01-20 | 株式会社Screenホールディングス | SUBSTRATE PROCESSING APPARATUS AND SUBSTRATE PROCESSING METHOD |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01245537A (en) * | 1988-03-28 | 1989-09-29 | Canon Inc | Wafer carrier |
-
2013
- 2013-04-03 JP JP2013077669A patent/JP5486712B1/en active Active
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01245537A (en) * | 1988-03-28 | 1989-09-29 | Canon Inc | Wafer carrier |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2014203918A (en) | 2014-10-27 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR101840552B1 (en) | Load lock apparatus and substrate processing system | |
JP5617708B2 (en) | Lid opening / closing device | |
CN101728238B (en) | Processing apparatus and processing method | |
JP2015023037A (en) | Efem and load port | |
JP2015170623A (en) | transfer method and substrate processing apparatus | |
WO2017154639A1 (en) | Substrate processing device | |
JP2014093489A (en) | Substrate processing device | |
US20190096702A1 (en) | Substrate processing apparatus, substrate processing method, and computer storage medium | |
JP6014982B2 (en) | Side load port, EFEM | |
CN110164794B (en) | Substrate conveying device and substrate processing system | |
US20140075774A1 (en) | Semiconductor apparatus with inner wafer carrier buffer and method | |
JP5486712B1 (en) | Substrate transport box and substrate transport device | |
JP2015142008A (en) | load port device | |
JP2024023874A (en) | Substrate processing device and storage method for substrate storage container | |
JP2008060513A (en) | Treating device and treating method | |
TWI606536B (en) | Substrate processing apparatus and substrate processing method | |
JP6275824B2 (en) | Substrate processing apparatus, semiconductor device manufacturing method, and program | |
KR101817216B1 (en) | Apparatus and method for treating a substrate | |
TWI306641B (en) | ||
JP2000058619A (en) | Device and method for treating substrate | |
JP2014103298A (en) | Load lock chamber | |
US20180033663A1 (en) | Carrier transport device and carrier transport method | |
JP5920981B2 (en) | Substrate processing system | |
US9070727B2 (en) | Substrate processing system, substrate transfer method and storage medium | |
JP5090291B2 (en) | Substrate processing equipment |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20140204 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20140221 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5486712 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |