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JP5120320B2 - Package structure, printed circuit board on which the package structure is mounted, and electronic apparatus having the printed circuit board - Google Patents

Package structure, printed circuit board on which the package structure is mounted, and electronic apparatus having the printed circuit board Download PDF

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JP5120320B2 JP2009094475A JP2009094475A JP5120320B2 JP 5120320 B2 JP5120320 B2 JP 5120320B2 JP 2009094475 A JP2009094475 A JP 2009094475A JP 2009094475 A JP2009094475 A JP 2009094475A JP 5120320 B2 JP5120320 B2 JP 5120320B2
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Description

本発明は、一般には、基板の固定に係り、特に、放熱機構を有するパッケージ基板の固定に関する。本発明は、例えば、ヒートシンクとBGA(Ball Grid Array)パッケージの固定に好適である他、LGA(Land Grid Array)やPGA(Pin Grid Array)等のパッケージの固定に対しても好適である。また、本発明は、かかるパッケージ基板を搭載したプリント基板(例えば、マザーボードなど)やそれを備えた電子機器(例えば、サーバーなど)にも関する。   The present invention generally relates to fixing a substrate, and more particularly to fixing a package substrate having a heat dissipation mechanism. The present invention is suitable not only for fixing a heat sink and a BGA (Ball Grid Array) package, but also for fixing a package such as an LGA (Land Grid Array) or PGA (Pin Grid Array). The present invention also relates to a printed circuit board (for example, a mother board) on which such a package substrate is mounted and an electronic device (for example, a server) including the printed circuit board.

近年の電子機器の普及により、高性能で小型な電子機器を供給する需要が益々高まっている。かかる要求を満足するために、BGAパッケージが従来から提案されている。BGAパッケージは、ハンダ付けによってプリント基板(「システム基板」や「マザーボード」と呼ばれる場合もある。)に接続するパッケージ基板の一種である。BGAパッケージは、4辺にガルウィング型のリードを有するQFP(Quad Flat Package)に比較して、パッケージのサイズを大きくせずにリードの狭ピッチ化及び多ピン化(多リード化)を実現し、パッケージの高密度化により電子機器の高性能化及び小型化を達成するものである。   With the recent spread of electronic devices, the demand for supplying high-performance and small electronic devices is increasing. In order to satisfy such a requirement, a BGA package has been conventionally proposed. A BGA package is a type of package substrate that is connected to a printed circuit board (sometimes called a "system board" or "motherboard") by soldering. Compared to QFP (Quad Flat Package) with Gullwing type leads on four sides, the BGA package realizes a narrower lead pitch and multiple pins (multiple leads) without increasing the package size, It is intended to achieve high performance and miniaturization of electronic devices by increasing the package density.

BGAパッケージは、一般にCPUとして機能するICやLSIを搭載し、CPUの性能向上に伴ってその発熱量も増加する。そこで、CPUを熱的に保護するために、CPUには、ヒートシンクと呼ばれる冷却装置がヒートスプレッダを介して熱的に接続されている。ヒートシンクは、冷却フィンを含み、CPUに近接して自然冷却によってCPUの放熱を行う。   A BGA package generally includes an IC or LSI that functions as a CPU, and the amount of heat generated increases as the performance of the CPU improves. Therefore, in order to thermally protect the CPU, a cooling device called a heat sink is thermally connected to the CPU via a heat spreader. The heat sink includes cooling fins, and dissipates the CPU by natural cooling in the vicinity of the CPU.

以下、第12図を参照して、従来のBGAパッケージについて説明する。ここで、第12図は、従来のBGAパッケージ1000を説明するための概略断面図である。第12図に示すように、バンプ1200及びアンダーフィル1300を介してLSI1100を搭載したセラミック製のパッケージ基板1400をBGA1500を介してプリント基板1600に搭載すると共に蓋(Lid)構造のヒートスプレッダ1700を介して図示しないヒートシンクを熱的に接続する。LSI1100とヒートスプレッダ1700とは接合層1800によって接着される。   Hereinafter, a conventional BGA package will be described with reference to FIG. Here, FIG. 12 is a schematic cross-sectional view for explaining a conventional BGA package 1000. As shown in FIG. 12, a ceramic package substrate 1400 on which an LSI 1100 is mounted via a bump 1200 and an underfill 1300 is mounted on a printed circuit board 1600 via a BGA 1500, and via a heat spreader 1700 having a lid (Lid) structure. A heat sink (not shown) is thermally connected. The LSI 1100 and the heat spreader 1700 are bonded by a bonding layer 1800.

このように、従来のBGAパッケージ1000においては、セラミック製のパッケージ基板1400にLSI1100を搭載していた。これは、LSI1100とセラミックの熱膨張率が近いため、LSI1100搭載時にLSI1100やパッケージ基板1400に反りを発生させないためである。なお、パッケージ基板1400に直接接触しているのはアンダーフィル1300であるが、アンダーフィル1300の厚さが薄いためにLSI1100とパッケージ基板1400の間の熱膨張差が支配的になる。このような構成においては、熱膨張率がほぼ同等なパッケージ基板1400とLSI1100を使用していたため、熱膨張、熱収縮に伴いそれらの間で発生する応力は非常に小さいものとなる。   Thus, in the conventional BGA package 1000, the LSI 1100 is mounted on the ceramic package substrate 1400. This is because the LSI 1100 and the ceramic have a thermal expansion coefficient close to each other, so that the LSI 1100 and the package substrate 1400 are not warped when the LSI 1100 is mounted. Note that the underfill 1300 is in direct contact with the package substrate 1400, but the difference in thermal expansion between the LSI 1100 and the package substrate 1400 becomes dominant because the thickness of the underfill 1300 is thin. In such a configuration, since the package substrate 1400 and the LSI 1100 having substantially the same coefficient of thermal expansion are used, the stress generated between them due to thermal expansion and contraction is very small.

一方、LSI1100の背面には、接合層1800を介してヒートスプレッダ1700が取り付けられているが、幾ら熱伝導性の高い材料(Cu等)をヒートスプレッダ1700に用いてもパッケージ全体としての伝熱効率を上げることができなかった。それは、LSI1100とヒートスプレッダ1700の間の接合層1800に熱伝導性の低い樹脂やシリコン系の接着剤、あるいは、シート又はペースト状の接合材を使用しなければならない場合が多く、接合層1800が温度ギャップになってしまうためである。接合層1800にハンダ等の熱伝導性の高い金属を用いることも考えられるが、LSI1100とヒートスプレッダ1700との熱膨張率の差がLSI1100の温度上昇に伴い両者間に強力な熱応力を生み、接合層1800及び/又はLSI1100を破壊してしまうため容易にはできない。   On the other hand, a heat spreader 1700 is attached to the back surface of the LSI 1100 via a bonding layer 1800. However, even if a material having a high thermal conductivity (Cu or the like) is used for the heat spreader 1700, the heat transfer efficiency of the entire package is improved. I could not. In many cases, the bonding layer 1800 between the LSI 1100 and the heat spreader 1700 must be made of a resin having a low thermal conductivity, a silicon-based adhesive, or a bonding material in the form of a sheet or paste. This is because it becomes a gap. Although it is conceivable to use a metal having high thermal conductivity such as solder for the bonding layer 1800, the difference in coefficient of thermal expansion between the LSI 1100 and the heat spreader 1700 causes a strong thermal stress between the two as the temperature of the LSI 1100 rises. Since the layer 1800 and / or the LSI 1100 is destroyed, it cannot be easily performed.

そこで、接合層1800に液体金属等の熱伝導性の高い液体を用いることでLSI1100とヒートスプレッダとの間に生じる熱応力を回避し、伝熱効率の高いBGAパッケージを提供する提案がされている(例えば、特許文献1参照。)。第13図は、接合層に液体金属を用いたBGAパッケージ2000の製造を説明するための概略断面図である。BGAパッケージ2000は、第13図(a)に示すLSI2100にエッチング加工を施し、第13図(b)に示すような、凹部2200を形成する。次いで、かかる凹部2200に液体金属2300を注入し、熱伝導性被膜2400で封止することで製造される。液体金属2300の化学的な性質で水酸化や酸化等の化学反応を起こし易く腐食してしまうため、熱伝導性被膜2400によって空気や基板から完全に分離させた状態にする。   In view of this, a proposal has been made to provide a BGA package having high heat transfer efficiency by avoiding thermal stress generated between the LSI 1100 and the heat spreader by using a liquid having high thermal conductivity such as a liquid metal for the bonding layer 1800 (for example, , See Patent Document 1). FIG. 13 is a schematic cross-sectional view for explaining the manufacture of the BGA package 2000 using a liquid metal for the bonding layer. In the BGA package 2000, the LSI 2100 shown in FIG. 13 (a) is etched to form a recess 2200 as shown in FIG. 13 (b). Next, the liquid metal 2300 is injected into the recess 2200 and sealed with the heat conductive coating 2400. Since the chemical properties of the liquid metal 2300 are likely to cause chemical reactions such as hydroxylation and oxidation, the liquid metal 2300 is corroded, so that it is completely separated from the air and the substrate by the heat conductive coating 2400.

また、その他の従来技術としては、LSIの上面に冷媒を接触させ、かかる冷媒を循環させる構造のBGAパッケージ構造もある。   As another conventional technique, there is a BGA package structure in which a coolant is brought into contact with the upper surface of the LSI and the coolant is circulated.

特開昭60−84848号公報JP-A-60-84848

BGAパッケージは、更なる高性能化のために、パッケージ基板にセラミックの代わりに樹脂を使用することが検討されている。樹脂基板は、セラミック基板よりも薄いため、セラミック基板よりも改善された電気特性を有することが期待できる。   In order to further improve the performance of the BGA package, it is considered to use a resin instead of ceramic for the package substrate. Since the resin substrate is thinner than the ceramic substrate, it can be expected to have improved electrical characteristics than the ceramic substrate.

しかし、樹脂製のパッケージ基板とLSIとの熱膨張率が異なることから、LSIの温度上昇に伴い両者間に熱応力が発生してしまう。特に、樹脂基板は、LSIとの熱膨張率の差が大きいため、LSIの反りが発生し、LSI背面に接着されるヒートスプレッダもパッケージ基板とLSIの接合で発生する反りの影響を受けて、同様に反りが発生する。すると、第14図及び第15図に示すように、接合層1800の剥離が発生し、LSI1100と図示しないヒートシンクとの熱的な接続が切断され、熱によってLSI1100が破損してしまう。勿論、LSI1100の反りに起因する物理的なLSI1100、接合層1800及びヒートスプレッダ1700の破損の可能性もある。ここで、第14図は、従来の問題を説明するためのBGAパッケージの概略断面図であり、第14図(a)は、LSIが高温の場合、第14図(b)は、LSIが低温の場合を示している。第15図は、接合層の剥離によってLSIとヒートスプレッダとの熱的な接続が切断された状態を示す拡大断面図である。   However, since the thermal expansion coefficients of the resin package substrate and the LSI are different, thermal stress is generated between the two as the LSI temperature rises. In particular, since the resin substrate has a large difference in thermal expansion coefficient from the LSI, the LSI warps, and the heat spreader bonded to the back of the LSI is also affected by the warp generated at the bonding of the package substrate and the LSI. Warping occurs. Then, as shown in FIGS. 14 and 15, the bonding layer 1800 is peeled off, the thermal connection between the LSI 1100 and a heat sink (not shown) is cut, and the LSI 1100 is damaged by heat. Of course, the physical LSI 1100, the bonding layer 1800, and the heat spreader 1700 may be damaged due to warpage of the LSI 1100. Here, FIG. 14 is a schematic cross-sectional view of a BGA package for explaining a conventional problem. FIG. 14 (a) shows a case where the LSI is hot, and FIG. 14 (b) shows a case where the LSI is cold. Shows the case. FIG. 15 is an enlarged cross-sectional view showing a state in which the thermal connection between the LSI and the heat spreader is cut by peeling off the bonding layer.

一方、接合層に液体金属を用いるBGAパッケージは、エッチング等の微細加工技術や熱伝導性被膜の成膜及び液体金属の封止等の高度な加工技術を必要とすることに加えて、LSIに対して同等サイズの熱伝導性被膜では熱拡散能力はなく、性能向上に伴って発熱量も増加するLSIに対して冷却性能の向上を望むことはできない。また、上述したのと同様に、樹脂性のパッケージ基板とLSIとの熱膨張率の差によってLSIの反りが発生し、熱伝導性被膜にダメージを与えてしまう場合がある。更に、液体金属の膨張によって熱伝導性被膜にダメージを与えてしまう場合もある。そこで、BGAパッケージ2000は、第16図に示すように、熱伝導性被膜2400で液体金属2300を封止したLSI2100を冷却フィン2500で囲うように一体構造としてパッケージ基板2600に搭載し、熱伝導性被膜2400へのダメージを軽減することも考えられるが、構造が大型複雑化してしまう。また、熱伝導性被膜2400とヒートシンク2500間の接合部の熱伝導性についても課題が残る。   On the other hand, BGA packages that use liquid metal for the bonding layer require fine processing technology such as etching and advanced processing technology such as thermal conductive film deposition and liquid metal sealing. On the other hand, a thermally conductive coating of the same size does not have a heat diffusing capability, and an improvement in cooling performance cannot be desired for an LSI that generates more heat as the performance improves. In addition, as described above, the LSI warpage may occur due to the difference in thermal expansion coefficient between the resinous package substrate and the LSI, which may damage the thermally conductive coating. Furthermore, the thermal conductive film may be damaged by the expansion of the liquid metal. Therefore, as shown in FIG. 16, the BGA package 2000 is mounted on the package substrate 2600 as an integrated structure so that the LSI 2100 in which the liquid metal 2300 is sealed with the heat conductive coating 2400 is surrounded by the cooling fins 2500. Although it is conceivable to reduce damage to the film 2400, the structure becomes large and complicated. Further, there remains a problem with respect to the thermal conductivity of the joint between the heat conductive coating 2400 and the heat sink 2500.

そこで、本発明は、簡易な構成でありながらパッケージ基板とLSIとの接合部やLSIとヒートスプレッダの接合部の破壊を防止して信頼性を向上することができるパッケージ構造、それを搭載したプリント基板、並びに、かかるプリント基板を有する電子機器を提供することを例示的な目的とする。   Therefore, the present invention provides a package structure capable of improving the reliability by preventing the breakage of the joint portion between the package substrate and the LSI and the joint portion between the LSI and the heat spreader with a simple configuration, and a printed board on which the same is mounted. An exemplary object is to provide an electronic apparatus having such a printed circuit board.

本発明の一側面としてのパッケージ構造は、外部のプリント基板に搭載可能なパッケージ構造であって、発熱性回路素子を搭載したパッケージ基板と、前記発熱性回路素子からの熱を、前記発熱性回路素子を放熱するためのヒートシンクに伝達するヒートスプレッダと、前記発熱性回路素子と前記ヒートスプレッダとの間を封止し、前記発熱性回路素子及び前記ヒートスプレッダと協同して封止空間を形成する接合部材と、前記封止空間に封止される液体金属と、を有し、前記接合部材は、前記発熱性回路素子の外周において前記発熱性回路素子と前記ヒートスプレッダとを接続する銅又は窒化アルミニウムからなる材料で構成され、前記ヒートスプレッダは、前記封止空間を形成する面に、前記接合部材と接続する面よりも大きな凹凸形状を有することを特徴とする。かかるパッケージ構造によれば、発熱性回路素子、ヒートスプレッダ及び接合部材が形成した封止空間に封止された液体金属と、接合部材によって発熱性回路素子とヒートスプレッダを熱的に接続しており、発熱性回路素子の発熱に起因する熱応力を遮断すると共に高い熱伝導性を実現することができる。また、接合部材にかかる熱応力を最小限に抑えることができる。また、液体金属に接触するヒートスプレッダの表面積を大きくすることができる。前記ヒートスプレッダは、前記接合部材に接続している第1の部材と、前記第1の部材とは分割されている第2の部材とから構成される。前記ヒートスプレッダは、前記接合部材と接続する底部を有する第1の部材と、前記第1の部材に嵌合すると共に、前記発熱性回路素子側に凸部を有する断面凸形状の第2の部材とを有してもよい。これにより、簡易な構成でありながら、液体金属を封止する封止構造を形成することができる。前記第1の部材の底部は、板バネの機能を有するために、200μm以上1mm以下の厚さを有することが好ましい。前記ヒートスプレッダは、弾性部材で構成されてもよい。前記パッケージ基板は、複数の前記発熱性回路素子を搭載してもよい。前記パッケージ基板は、樹脂製であることを特徴とする。上述したように、樹脂基板は、セラミック基板よりも低価格、高性能、加工容易性をもたらすが、発熱性回路素子との熱膨張率に差があるため、本発明の構成は特に好ましいからである。 A package structure according to one aspect of the present invention is a package structure that can be mounted on an external printed circuit board, and includes a package substrate on which a heat generating circuit element is mounted, and heat from the heat generating circuit element. A heat spreader that transmits to a heat sink for radiating the element, and a joining member that seals between the heat-generating circuit element and the heat spreader, and forms a sealed space in cooperation with the heat-generating circuit element and the heat spreader. the anda liquid metal sealed in the sealing space, the joining member is made of copper or aluminum nitride to connect the heat spreader and the heat generating resistance circuit elements in the outer periphery of the exothermic circuit element material The heat spreader has a concavo-convex shape larger than the surface connected to the bonding member on the surface forming the sealing space. Characterized in that it has. According to such a package structure, the exothermic circuit element, the heat spreader, and the liquid metal sealed in the sealing space formed by the joining member, and the exothermic circuit element and the heat spreader are thermally connected by the joining member, It is possible to block the thermal stress caused by the heat generation of the conductive circuit element and realize high thermal conductivity. Further, the thermal stress applied to the joining member can be minimized. Further, the surface area of the heat spreader that contacts the liquid metal can be increased. The heat spreader includes a first member connected to the joining member and a second member that is divided from the first member. The heat spreader includes a first member having a bottom connected to the joining member, a second member having a convex cross section having a convex portion on the heat-generating circuit element side while being fitted to the first member. You may have. Thereby, it is possible to form a sealing structure for sealing the liquid metal with a simple configuration. The bottom of the first member preferably has a thickness of 200 μm or more and 1 mm or less in order to function as a leaf spring . Before SL spreader may be formed of an elastic member. The package substrate may include a plurality of the exothermic circuit elements. The package substrate is made of resin. As described above, the resin substrate provides lower cost, higher performance, and easier processing than the ceramic substrate, but the configuration of the present invention is particularly preferable because of the difference in thermal expansion coefficient with the exothermic circuit element. is there.

上述のパッケージ構造を有するプリント基板やかかるプリント基板を有する電子機器も本発明の一側面を構成する。   A printed circuit board having the above-described package structure and an electronic device having such a printed circuit board also constitute one aspect of the present invention.

本発明の別の側面としてのパッケージ構造の製造方法は、パッケージ基板に搭載された発熱性回路素子からの熱を、前記発熱性回路素子を放熱するためのヒートシンクに伝達するヒートスプレッダであって、接合部材を介して前記発熱性素子と接続する第1の部材と、前記第1の部材に嵌合し、前記発熱性回路素子との間に封止空間を形成する第2の部材とを有し、前記封止空間を形成する面に、前記接合部材と接続する面よりも大きな凹凸形状を有するヒートスプレッダを有し、外部のプリント基板に搭載可能なパッケージ構造の製造方法であって、前記発熱性回路素子の外周において前記発熱性回路素子と前記第1の部材とを銅又は窒化アルミニウムからなる材料で構成される前記接合部材を介して接続するステップと、前記接続ステップで接続された前記発熱性回路素子と前記第1の部材との間に液体金属を注入するステップと、前記第2の部材を前記第1の部材に嵌合し、前記注入ステップで注入された前記液体金属を前記封止空間に封止するステップとを有することを特徴とする。かかる製造方法によれば、高度な加工技術を必要とせずに、液体金属の封止構造を形成することができると共に、かかる封止構造の大型化を防止することができる。 According to another aspect of the present invention, there is provided a package structure manufacturing method , comprising: a heat spreader that transfers heat from a heat generating circuit element mounted on a package substrate to a heat sink for dissipating the heat generating circuit element, a first member connected to said heating element through a member fitted to said first member, have a second member forming a sealed space between the exoergic circuit elements the surface which is to form the sealing space has a heat spreader to have a large unevenness than the surface to be connected to the joining member, a manufacturing method of a mountable package structure to an external printed circuit board, the heating and connecting through the joint member consists of said first member and said heat generating resistance circuit elements in the outer periphery of the sexual circuit elements of a material made of copper or aluminum nitride, wherein the connection step A step of injecting a liquid metal between the exothermic circuit element and the first member connected in the step, and a step of fitting the second member into the first member and injecting in the injection step. Sealing the liquid metal in the sealing space. According to this manufacturing method, it is possible to form a liquid metal sealing structure without requiring an advanced processing technique, and it is possible to prevent an increase in the size of the sealing structure.

本発明の更なる目的又はその他の特徴は、以下、添付図面を参照して説明される好ましい実施例によって明らかにされるであろう。   Further objects and other features of the present invention will become apparent from the preferred embodiments described below with reference to the accompanying drawings.

本発明によれば、簡易な構成でありながらパッケージ基板とLSIとの接合部やLSIとヒートスプレッダの接合部の破壊を防止して信頼性を向上することができるパッケージ構造、それを搭載したプリント基板、並びに、かかるプリント基板を有する電子機器を提供することができる。   ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the package structure which can prevent the destruction of the junction part of a package board | substrate and LSI, and the junction part of LSI and a heat spreader, although it is a simple structure, can improve reliability, and a printed circuit board carrying the same In addition, an electronic device having such a printed circuit board can be provided.

本発明の電子機器の概略斜視図である。It is a schematic perspective view of the electronic device of this invention. 図1に示す電子機器の内部構成を示す概略斜視図である。It is a schematic perspective view which shows the internal structure of the electronic device shown in FIG. 図2に示すパッケージモジュールの概略断面図である。It is a schematic sectional drawing of the package module shown in FIG. 図3に示すパッケージモジュールにおいて、ヒートスプレッダとの接続状態を示すLSIの概略上視図である。FIG. 4 is a schematic top view of an LSI showing a connection state with a heat spreader in the package module shown in FIG. 3. 図2に示すパッケージモジュールの一例を示す概略断面図である。It is a schematic sectional drawing which shows an example of the package module shown in FIG. 図2に示すパッケージモジュールの一例を示す概略断面図である。It is a schematic sectional drawing which shows an example of the package module shown in FIG. 図4に示すLSIとヒートスプレッダとの別の接続状態を示すLSIの概略上視図である。FIG. 5 is a schematic top view of an LSI showing another connection state between the LSI shown in FIG. 4 and a heat spreader. 図2に示すパッケージモジュールの一例を示す概略断面図である。It is a schematic sectional drawing which shows an example of the package module shown in FIG. 図2に示すパッケージモジュールの一例を示す概略断面図である。It is a schematic sectional drawing which shows an example of the package module shown in FIG. マルチチップ型のパッケージ基板を有するパッケージモジュールの概略断面図である。It is a schematic sectional drawing of the package module which has a multichip type package substrate. 本発明のパッケージモジュールの製造方法を説明するためのフローチャートである。It is a flowchart for demonstrating the manufacturing method of the package module of this invention. 従来のBGAパッケージを説明するための概略断面図である。It is a schematic sectional drawing for demonstrating the conventional BGA package. 接合層に液体金属を用いたBGAパッケージの製造を説明するための概略断面図である。It is a schematic sectional drawing for demonstrating manufacture of the BGA package which used the liquid metal for the joining layer. 従来のBGAパッケージの問題を示す概略断面図である。It is a schematic sectional drawing which shows the problem of the conventional BGA package. 接合層の剥離によってLSIとヒートスプレッダとの熱的な接続が切断された状態を示す拡大断面図である。It is an expanded sectional view showing the state where the thermal connection of LSI and heat spreader was cut off by peeling of the bonding layer. 冷却フィンと一体構造とした第13図に示すBGAパッケージの概略断面図である。FIG. 14 is a schematic cross-sectional view of the BGA package shown in FIG. 13 integrated with a cooling fin.

以下、添付図面を参照して、本発明のパッケージ構造の一実施形態であるパッケージモジュール100、パッケージモジュール100を搭載したプリント基板200、プリント基板200を搭載した電子機器300について説明する。ここで、第1図は、電子機器300の概略斜視図である。第2図は、電子機器300に搭載されるプリント基板200としてのシステムボードの外観斜視図である。なお、以下の説明では、参照番号に大文字のアルファベットを付したものはアルファベットのない参照番号によって総括されるものとする。   Hereinafter, a package module 100, a printed circuit board 200 on which the package module 100 is mounted, and an electronic device 300 on which the printed circuit board 200 is mounted will be described with reference to the accompanying drawings. Here, FIG. 1 is a schematic perspective view of the electronic apparatus 300. FIG. 2 is an external perspective view of a system board as a printed circuit board 200 mounted on the electronic device 300. In the following description, the reference numbers with uppercase alphabets are summarized by reference numbers without alphabets.

第1図に示すように、本実施形態の電子機器300は、例示的に、ラックマウント型のUNIXサーバーとして具体化されている。電子機器300は、一対の取り付け部302によって図示しないラックにネジ止めされ、第2図に示すプリント基板200を筐体310内に搭載している。   As shown in FIG. 1, the electronic apparatus 300 of the present embodiment is illustratively embodied as a rack-mount type UNIX server. The electronic device 300 is screwed to a rack (not shown) by a pair of mounting portions 302, and the printed circuit board 200 shown in FIG.

筐体310にはファンモジュール320が設けられている。ファンモジュール320は、内蔵する冷却ファンが回転して空気流を発生することによって後述するヒートスプレッダ150が接続するヒートシンク190を強制的に冷却する。ファンモジュール320は、図示しない動力部と、動力部に固定される図示しないプロペラ部とを有する。動力部は、典型的に、回転軸と、回転軸の周りに設けられたベアリングと、ベアリングハウスと、モーターを構成する磁石など、当業界で周知のいかなる構造も使用することができるので、ここでは詳細な説明は省略する。プロペラ部は、所望の角度に形成された所望の数の回転翼を有する。回転翼は、等角的又は非等角的に配置され、所望の寸法を有する。動力部とプロペラ部とは分割可能でも分割不能でもよい。   The housing 310 is provided with a fan module 320. The fan module 320 forcibly cools the heat sink 190 connected to the heat spreader 150 (described later) by rotating an internal cooling fan to generate an air flow. The fan module 320 has a power unit (not shown) and a propeller unit (not shown) fixed to the power unit. Since the power unit typically can use any structure known in the art, such as a rotating shaft, a bearing provided around the rotating shaft, a bearing house, and a magnet constituting a motor, Then, detailed explanation is omitted. The propeller portion has a desired number of rotor blades formed at a desired angle. The rotor blades are arranged conformally or non-equally and have a desired dimension. The power unit and the propeller unit may be split or not split.

第2図に示すように、プリント基板200は、パッケージモジュール100と、パッケージモジュール100周辺のLSIモジュール210と、メモリカード240を挿入するための複数のブロックプレート220と、ハードディスクやLANなどの外部機器とのコネクタ230とを有する。   As shown in FIG. 2, the printed circuit board 200 includes a package module 100, an LSI module 210 around the package module 100, a plurality of block plates 220 for inserting a memory card 240, and external devices such as a hard disk and a LAN. And a connector 230.

パッケージモジュール100は、LSI102を搭載してプリント基板200とBGA120を介して接続するBGAパッケージとして機能する。より詳細には、パッケージモジュール100は、第2図及び第3図に示すように、パッケージ基板110と、BGA120と、補強金属130と、接合部材140と、ヒートスプレッダ150と、液体金属160と、ヒートシンク190とを有する。ここで、第3図は、第2図に示すパッケージモジュール100の概略断面図である。但し、第3図においては、第2図に示すヒートシンク190は省略している。   The package module 100 functions as a BGA package on which the LSI 102 is mounted and connected to the printed circuit board 200 via the BGA 120. More specifically, as shown in FIGS. 2 and 3, the package module 100 includes a package substrate 110, a BGA 120, a reinforcing metal 130, a joining member 140, a heat spreader 150, a liquid metal 160, and a heat sink. 190. Here, FIG. 3 is a schematic sectional view of the package module 100 shown in FIG. However, in FIG. 3, the heat sink 190 shown in FIG. 2 is omitted.

パッケージ基板110は、厚みが500μm乃至1mm程度で樹脂から構成される。樹脂基板は、厚みが約2mm乃至3mm程度のセラミック基板と比較して、厚みが薄いために電気特性に優れ、セラミックよりも安価で、加工も容易であるという長所を有する。   The package substrate 110 has a thickness of about 500 μm to 1 mm and is made of resin. Compared with a ceramic substrate having a thickness of about 2 mm to 3 mm, the resin substrate has the advantages of being excellent in electrical characteristics because it is thin, cheaper than ceramic, and easy to process.

パッケージ基板110は、CPUとして機能するLSI102を上面に搭載し、BGA120及びコンデンサーその他の回路部品108を底面に搭載している。本実施形態のパッケージ基板110は、一のLSI102が搭載されたシングルチップ型である。   The package substrate 110 has an LSI 102 functioning as a CPU mounted on the top surface, and a BGA 120 and a capacitor and other circuit components 108 mounted on the bottom surface. The package substrate 110 of this embodiment is a single chip type on which one LSI 102 is mounted.

パッケージ基板110の厚さは約500μmであるのに対して、後述するアンダーフィル106の厚さは約100μmであるので、パッケージ基板110とアンダーフィル106との間の熱膨張差よりもパッケージ基板110とLSI102との間の熱膨張差が支配的になる。   While the thickness of the package substrate 110 is about 500 μm, the thickness of the underfill 106 described later is about 100 μm. Therefore, the package substrate 110 is more than the difference in thermal expansion between the package substrate 110 and the underfill 106. And the thermal expansion difference between the LSI 102 becomes dominant.

LSI102は、発熱性回路素子であり、端子としてのバンプ104によってパッケージ基板110にハンダ付けされ、LSI102とパッケージ基板110との間には、バンプ104の接続信頼性を保証するためにフリップチップ(バンプを有するチップ)に対して一般に使用される樹脂製のアンダーフィル106が充填され、バンプ104を封止している。   The LSI 102 is a heat-generating circuit element, and is soldered to the package substrate 110 by bumps 104 as terminals. A flip chip (bump) is provided between the LSI 102 and the package substrate 110 in order to guarantee the connection reliability of the bumps 104. The resin underfill 106 that is generally used for the chip) is filled, and the bumps 104 are sealed.

BGA120は、ボール状のハンダバンプ(ハンダボール)として構成され、パッケージ基板110の底面のプリント基板200との接続箇所に格子状に配列される。換言すれば、BGA120は端子として機能し、ハンダボール(ハンダ付け)によってプリント基板200に強固に接続する。QFPパッケージのように4辺に設けられたリードで接続されるのではなく、BGA120によって接続するので、BGAパッケージは、端子間のピッチを狭め、且つ、多くの端子を配置することが可能であり、パッケージのサイズを大きくすることなく高密度化を達成して高性能化及び小型化に寄与する。BGA120は、本実施形態のように、パッケージ基板110の底面に回路部品108がある場合は、略正方形状の中空を有する略正方形状にハンダバンプを配置してもよいし、回路部品108がない場合は、パッケージ基板110の底面の全体にハンダバンプを配置してもよい。   The BGA 120 is configured as a ball-shaped solder bump (solder ball), and is arranged in a grid pattern at a connection portion with the printed circuit board 200 on the bottom surface of the package substrate 110. In other words, the BGA 120 functions as a terminal and is firmly connected to the printed circuit board 200 by solder balls (soldering). The BGA package is not connected by leads provided on four sides as in the QFP package, but is connected by the BGA 120. Therefore, the BGA package can reduce the pitch between terminals and arrange many terminals. This achieves higher density without increasing the size of the package and contributes to higher performance and smaller size. When the circuit component 108 is present on the bottom surface of the package substrate 110 as in the present embodiment, the BGA 120 may have solder bumps arranged in a substantially square shape having a substantially square hollow shape, or when the circuit component 108 is not present. The solder bump may be disposed on the entire bottom surface of the package substrate 110.

補強金属130は、パッケージ基板110の上面に設けられ、パッケージ基板110を補強する機能を有する。具体的には、補強金属130は、パッケージ基板110のねじれを矯正する。補強金属130は、例えば、アルミニウム、銅などから構成され、略正方形状の中空を有する略正方形状を有する。但し、補強金属130を設けるかどうかは選択的である。   The reinforcing metal 130 is provided on the upper surface of the package substrate 110 and has a function of reinforcing the package substrate 110. Specifically, the reinforcing metal 130 corrects the twist of the package substrate 110. The reinforcing metal 130 is made of, for example, aluminum or copper, and has a substantially square shape having a substantially square hollow. However, whether to provide the reinforcing metal 130 is optional.

接合部材140は、LSI102と後述するヒートスプレッダ150との間を封止し、LSI102及びヒートスプレッダ150と協同して封止空間CAを形成する機能を有する。接合部材140は、LSI102の外形に従った略四角形形状を有し、中空形状を有する。接合部材140は、高さ20μm乃至200μm及び幅2mm乃至6mm程度の寸法を有する。   The bonding member 140 has a function of sealing between the LSI 102 and a heat spreader 150 to be described later and forming a sealing space CA in cooperation with the LSI 102 and the heat spreader 150. The joining member 140 has a substantially rectangular shape according to the outer shape of the LSI 102 and has a hollow shape. The joining member 140 has dimensions of about 20 μm to 200 μm in height and about 2 mm to 6 mm in width.

接合部材140は、例えば、熱伝導率の高い窒化アルミニウムなどの固体金属で構成され、LSI102の外周においてLSI102と後述するヒートスプレッダ150とを接続する。換言すれば、接合部材140は、LSI102とヒートスプレッダ150とを固体接合(金属接合)している。接合部材140を設置する位置をLSI102の外周に限定することで、LSI102にかかる熱応力の負荷を最小限に抑えることができる。また、熱伝導率の高い材料から構成されるため、接合部材140がLSI102とヒートスプレッダ150との温度ギャップになることはなく、優れた熱伝導性を実現することができる。 The joining member 140 is made of, for example, a solid metal such as aluminum nitride or copper having high thermal conductivity, and connects the LSI 102 and a heat spreader 150 described later on the outer periphery of the LSI 102. In other words, the bonding member 140 solid-bonds (metal bonds) the LSI 102 and the heat spreader 150. By limiting the position where the bonding member 140 is installed to the outer periphery of the LSI 102, it is possible to minimize the load of thermal stress applied to the LSI 102. Further, since the material is made of a material having high thermal conductivity, the bonding member 140 does not become a temperature gap between the LSI 102 and the heat spreader 150, and excellent thermal conductivity can be realized.

接合部材140は、接着シート又は接着剤であってもよい。但し、接着シート又は接着剤は、LSI102の発熱量が小さい場合や2つの接着される部材(ここでは、パッケージ基板110とヒートスプレッダ150)の熱膨張率が近い場合に使用される。熱膨張率に差があると反りによって接着機能が失われる(封止空間CAの封止が損なわれる)場合があるからである。   The joining member 140 may be an adhesive sheet or an adhesive. However, the adhesive sheet or adhesive is used when the calorific value of the LSI 102 is small or when the thermal expansion coefficients of the two members to be bonded (here, the package substrate 110 and the heat spreader 150) are close. This is because if there is a difference in thermal expansion coefficient, the bonding function may be lost due to warping (sealing of the sealing space CA may be impaired).

ヒートスプレッダ150は、パッケージ基板110とヒートシンク190との間に配置され、LSI102に接合部材140によって接続されている。ヒートスプレッダ150は、LSI102からの熱をヒートシンク190に伝達する機能を有し、熱伝導率の高い銅、炭化アルミニウム、アルミニウム、アルミシリコンカーバイト(シリコン含有アルミニウム)、炭化シリコンなどから構成される。ヒートスプレッダ150は、第3図に示すように、接合部材140と接続している第1の部材152と、第1の部材152とは分割されている第2の部材154とから構成される2分割構造を有する。これにより、後述する液体金属160を封止する封止空間CAを形成することが可能となり、封止構造の大型化を防ぐことができる。   The heat spreader 150 is disposed between the package substrate 110 and the heat sink 190, and is connected to the LSI 102 by the bonding member 140. The heat spreader 150 has a function of transferring heat from the LSI 102 to the heat sink 190, and is made of copper, aluminum carbide, aluminum, aluminum silicon carbide (silicon-containing aluminum), silicon carbide, or the like having high thermal conductivity. As shown in FIG. 3, the heat spreader 150 is divided into two parts including a first member 152 connected to the joining member 140 and a second member 154 that is divided from the first member 152. It has a structure. Thereby, it becomes possible to form the sealing space CA which seals the liquid metal 160 which will be described later, and the enlargement of the sealing structure can be prevented.

第1の部材152は、接合部材140と接合する底部152aが、パッケージ基板110の形状と類似の略正方形状で中空部152bを有する。中空部152bの形状も接合部材140(LSI102)の外形に従った略正方形状であり、後述する第2の部材154の凸部154aを収納する。但し、中空部152bは、第2の部材154の凸部154aを密着して収納するのではなく、凸部154aとの間に間隙を有して収納し、かかる間隙が封止空間CAの一部を構成する。   In the first member 152, the bottom 152 a that is joined to the joining member 140 has a substantially square shape similar to the shape of the package substrate 110 and has a hollow portion 152 b. The shape of the hollow portion 152b is also substantially square according to the outer shape of the bonding member 140 (LSI 102), and accommodates a convex portion 154a of the second member 154 described later. However, the hollow portion 152b does not store the convex portion 154a of the second member 154 in close contact, but stores it with a gap between the convex portion 154a. Parts.

第1の部材152の底部152aには、第2の部材154が嵌合する嵌合部152cが設けられている。嵌合部152cは、底部152aから突出するように設けられており、第2の部材154が嵌合した際に、底部152aと第2の部材154との間に間隙を形成し、かかる間隙が封止空間CAの一部を構成する。これにより、封止空間CAの表面積(体積)が広がり、熱伝導効率を上げることができる。なお、封止空間CAは、100μm程度の厚さを必要とするため、嵌合部152cは、底部152aから100μm程度突出するように設けることが好ましい。   A fitting portion 152 c into which the second member 154 is fitted is provided on the bottom portion 152 a of the first member 152. The fitting portion 152c is provided so as to protrude from the bottom portion 152a. When the second member 154 is fitted, a gap is formed between the bottom portion 152a and the second member 154, and the gap is formed. A part of the sealing space CA is configured. As a result, the surface area (volume) of the sealed space CA increases, and the heat conduction efficiency can be increased. Since the sealing space CA needs to have a thickness of about 100 μm, the fitting portion 152c is preferably provided so as to protrude from the bottom portion 152a by about 100 μm.

第2の部材154は、LSI102側に凸部154aを有し、断面凸形状を有する。なお、第2の部材154の凸部154aは、0.5mm乃至2.0mm程度の高さを有する。第2の部材154は、凸部154aが中空部152bに収納するように第1の部材152に嵌合する。換言すれば、第2の部材154は、第1の部材152に対して蓋のような機能を有して封止空間CAを規定し、液体金属160を封止する。これにより、後述するように、高度な加工技術を必要とせず、封止空間CAに液体金属160を封止する封止構造を簡易な構成で実現することができる。   The second member 154 has a convex portion 154a on the LSI 102 side and has a convex cross section. The convex portion 154a of the second member 154 has a height of about 0.5 mm to 2.0 mm. The second member 154 is fitted to the first member 152 such that the convex portion 154a is housed in the hollow portion 152b. In other words, the second member 154 has a function like a lid with respect to the first member 152 to define the sealing space CA and seal the liquid metal 160. Thereby, as will be described later, it is possible to realize a sealing structure for sealing the liquid metal 160 in the sealing space CA with a simple configuration without requiring an advanced processing technique.

なお、ヒートスプレッダ150は、第9図に示すように、封止空間CAを形成する第1の部材152及び第2の部材154の面(即ち、液体金属160を内包する面)に凹凸形状152d及び154bを形成することで、後述する液体金属160と接触する表面積を大きくし、熱伝導効率を向上させることもできる。ここで、第9図は、凹凸形状152d及び154bが形成されたヒートスプレッダ150を有するパッケージモジュール100の概略断面図である。   As shown in FIG. 9, the heat spreader 150 has an uneven shape 152d on the surfaces of the first member 152 and the second member 154 forming the sealing space CA (that is, the surface containing the liquid metal 160). By forming 154b, the surface area in contact with the liquid metal 160 described later can be increased, and the heat conduction efficiency can be improved. Here, FIG. 9 is a schematic sectional view of the package module 100 having the heat spreader 150 in which the uneven shapes 152d and 154b are formed.

液体金属160は、LSI102、接合部材140及びヒートスプレッダ150が協同して形成した封止空間CAに封止される。液体金属160は、例えば、インジウムやカリウムなどの常温で液体の金属であり、LSI102とヒートスプレッダ150、及び、ヒートスプレッダ150における第1の部材152と第2の部材154を高い熱伝導性で接続する機能を有する。   The liquid metal 160 is sealed in a sealing space CA formed in cooperation with the LSI 102, the bonding member 140, and the heat spreader 150. The liquid metal 160 is a metal that is liquid at room temperature, such as indium or potassium, for example, and has a function of connecting the LSI 102, the heat spreader 150, and the first member 152 and the second member 154 in the heat spreader 150 with high thermal conductivity. Have

液体金属160は、パッケージ基板110や外気(空気)から完全に分離され、化学的な性質に起因する水酸化や酸化等の化学反応を防止することができる。これにより、液体金属160の腐食による熱伝導性の低下を防止し、高い熱伝導率を維持することができる。   The liquid metal 160 is completely separated from the package substrate 110 and the outside air (air), and can prevent chemical reactions such as hydroxylation and oxidation due to chemical properties. Thereby, the heat conductivity fall by corrosion of the liquid metal 160 can be prevented, and high heat conductivity can be maintained.

また、液体金属160は、流動性を有するために、LSI102とヒートスプレッダ150との熱膨張率の差によって生じる熱応力を吸収することができる。換言すれば、液体金属160は、LSI102の熱応力を遮断する機能を有する。例えば、LSI102とパッケージ基板110の熱膨張率の差によってLSI102に反りが発生した場合であっても、流動性を有する液体金属160によってかかる反りがヒートスプレッダ150に伝達することなく、ヒートスプレッダ150の破損を防止することができる。また、LSI102の反りによって液体金属160が破損することがなく、ヒートスプレッダ150(及びヒートシンク)との熱的な接続が維持される。   Further, since the liquid metal 160 has fluidity, it can absorb thermal stress generated by the difference in thermal expansion coefficient between the LSI 102 and the heat spreader 150. In other words, the liquid metal 160 has a function of blocking the thermal stress of the LSI 102. For example, even when the LSI 102 is warped due to the difference in thermal expansion coefficient between the LSI 102 and the package substrate 110, the warping of the heat spreader 150 is not transmitted to the heat spreader 150 by the liquid metal 160 having fluidity. Can be prevented. Further, the liquid metal 160 is not damaged by the warp of the LSI 102, and the thermal connection with the heat spreader 150 (and the heat sink) is maintained.

ヒートシンク190は、基部と冷却フィンとを有する。基部は、例えば、アルミニウム、銅、窒化アルミニウム、人工ダイヤモンド、プラスチック等の高熱伝導性材料から構成される平板であり、ヒートスプレッダ150に接合される。ヒートシンク190は、板金加工、アルミダイキャスト、その他の方法によって製造され、プラスチック製であれば、例えば、射出成形によって形成されてもよい。冷却フィンは、例えば、整列した多数の板状フィンから構成される。冷却フィンは、凸形状を有して表面積を増加させることで放熱効果を増加させる。もっとも冷却フィンの形状は板状に限定されず、ピン状、湾曲形状など任意の配置形状を採用することができる。また、冷却フィンは、一定間隔で横に整列する必要はなく、放射状に配置されたり、基部に対して傾斜して配置されたりしてもよい。冷却フィンの数も任意に設定することができる。冷却フィンは、アルミニウム、銅、窒化アルミニウム、人工ダイヤモンド、プラスチックなどの高熱伝導性材料で形成されることが好ましい。冷却フィンは、金型成形、圧入、ロウ付け、溶接、射出成形などによって形成される。   The heat sink 190 has a base and cooling fins. The base is a flat plate made of a highly thermally conductive material such as aluminum, copper, aluminum nitride, artificial diamond, or plastic, and is joined to the heat spreader 150. The heat sink 190 is manufactured by sheet metal processing, aluminum die casting, or other methods, and may be formed by, for example, injection molding if it is made of plastic. A cooling fin is comprised from many plate-shaped fins which aligned, for example. The cooling fin has a convex shape and increases the surface area, thereby increasing the heat dissipation effect. However, the shape of the cooling fin is not limited to a plate shape, and an arbitrary arrangement shape such as a pin shape or a curved shape can be adopted. Further, the cooling fins do not have to be aligned horizontally at regular intervals, and may be arranged radially or inclined with respect to the base. The number of cooling fins can also be set arbitrarily. The cooling fin is preferably formed of a highly thermally conductive material such as aluminum, copper, aluminum nitride, artificial diamond, or plastic. The cooling fin is formed by molding, press-fitting, brazing, welding, injection molding, or the like.

パッケージモジュール100は、第12図に示す従来のBGAパッケージ1000における蓋構造のヒートスプレッダ1700とは異なり、パッケージ基板110に接合していない。また、パッケージモジュール100は、第4図に示すように、接合部材140及び液体金属160によってLSI102とヒートスプレッダ150と接続しているため、固体接合と液体接合の弱点を補いながら、両者の優れた特性である高い熱伝導性を最大限に活用することができる。これにより、パッケージモジュール100は、第14図及び第15図に示したように、接合層の剥離によってLSIとヒートスプレッダとの熱的な接続が切断されることなく、熱的及び構造的に良好な接合状態を維持することができる。例えば、従来のBGAパッケージでは、接合部の熱抵抗が0.2℃/W程度であったが、本実施形態のパッケージモジュール100では、接合部の熱抵抗を1/10の0.02℃/W程度まで低減させて伝熱効率を向上させることができる。ここで、第4図は、第3図に示すパッケージモジュール100において、ヒートスプレッダ150との接続状態を示すLSI102の概略上視図である。   Unlike the heat spreader 1700 having a lid structure in the conventional BGA package 1000 shown in FIG. 12, the package module 100 is not bonded to the package substrate 110. Further, as shown in FIG. 4, since the package module 100 is connected to the LSI 102 and the heat spreader 150 by the joining member 140 and the liquid metal 160, the excellent characteristics of both are obtained while compensating for the weak points of the solid joining and the liquid joining. High thermal conductivity that can be utilized to the maximum. Thereby, as shown in FIGS. 14 and 15, the package module 100 has good thermal and structural characteristics without disconnecting the thermal connection between the LSI and the heat spreader due to peeling of the bonding layer. The joined state can be maintained. For example, in the conventional BGA package, the thermal resistance of the junction is about 0.2 ° C./W, but in the package module 100 of the present embodiment, the thermal resistance of the junction is 1/10 of 0.02 ° C. / The heat transfer efficiency can be improved by reducing to about W. Here, FIG. 4 is a schematic top view of the LSI 102 showing the connection state with the heat spreader 150 in the package module 100 shown in FIG.

また、液体金属160は、LSI102の発熱によって熱膨張を起こす場合がある。熱膨張した液体金属160は、LSI102、接合部材140及びヒートスプレッダ150を押圧して、破損及び熱的な接続を切断させてしまう。そこで、パッケージモジュール100に液体金属160の熱膨張を許容する許容部170を設ける。   Further, the liquid metal 160 may cause thermal expansion due to heat generated by the LSI 102. The thermally expanded liquid metal 160 presses the LSI 102, the bonding member 140, and the heat spreader 150, and breaks and breaks the thermal connection. In view of this, the package module 100 is provided with a tolerance portion 170 that allows thermal expansion of the liquid metal 160.

許容部170の一例として、第5図に示すように、封止空間CAに封止された気体(気層)170Aとして具現化される。気体170Aは、弾力性を有しているため、液体金属160の熱膨張を緩衝することができる。これにより、熱膨張した液体金属160が、LSI102、接合部材140及びヒートスプレッダ150を押圧することによる破損及び熱的な接続の切断を防止することができる。なお、第5図においては、第1の部材152の嵌合部152cの近傍に気体170Aが存在しているが、気体170Aは、液体金属160中を移動することができ、液体金属160の熱膨張を緩衝することができれば、封止空間CAのどこに存在してもよいことは言うまでもない。ここで、第5図は、許容部170Aを有するパッケージモジュール100の概略断面図である。   As an example of the allowing part 170, as shown in FIG. 5, it is embodied as a gas (gas layer) 170A sealed in a sealing space CA. Since the gas 170A has elasticity, the thermal expansion of the liquid metal 160 can be buffered. Thereby, the thermally expanded liquid metal 160 can prevent breakage and thermal disconnection due to pressing of the LSI 102, the bonding member 140, and the heat spreader 150. In FIG. 5, the gas 170 </ b> A exists in the vicinity of the fitting portion 152 c of the first member 152, but the gas 170 </ b> A can move in the liquid metal 160, and the heat of the liquid metal 160 Needless to say, the expansion space CA may exist anywhere as long as expansion can be buffered. Here, FIG. 5 is a schematic cross-sectional view of the package module 100 having the allowing portion 170A.

気体170Aは、例えば、不活性ガスの一である窒素、アルゴン、ヘリウムなどから構成される。従って、気体170Aを封止空間CAに封止しても液体金属160に酸化及び水酸化等の化学反応が発生することがなく、高い熱伝導性は維持される。なお、そのために必要な気体170Aの量(体積)は、3cc程度である。   The gas 170A is made of, for example, nitrogen, argon, helium, etc., which are inert gases. Therefore, even if the gas 170A is sealed in the sealed space CA, a chemical reaction such as oxidation and hydroxylation does not occur in the liquid metal 160, and high thermal conductivity is maintained. In addition, the amount (volume) of the gas 170A required for that is about 3 cc.

また、許容部170の別の例として、第6図に示すように、封止空間CAに設けられた弾性部材170Bとして具現化される。弾性部材170Bは、弾性力を有しているため、液体金属160の熱膨張を緩衝することができる。これにより、熱膨張した液体金属160が、LSI102、接合部材140及びヒートスプレッダ150を押圧することによる破損及び熱的な接続の切断を防止することができる。なお、第6図においては、第1の部材152の嵌合部152cの近傍に弾性部材170Bが配置されているが、液体金属160の熱膨張を緩衝することができれば、封止空間CAのどこに存在してもよいことは言うまでもない。弾性部材170Bは、例えば、Oリング等の緩衝ゴム又はゲルで構成される。弾性部材170Bは、直径φが20mm乃至30mm程度、断面φが0.5mm乃至1.0mm程度の寸法を有する。なお、弾性部材170Bをハロゲン系の物質で構成することで、封止空間CAに設置しても液体金属160に酸化及び水酸化の化学反応が発生することがなく、高い熱伝導性は維持される。ここで、第6図は、許容部170Bを有するパッケージモジュール100の概略断面図である。   Further, as another example of the allowance portion 170, as shown in FIG. 6, it is embodied as an elastic member 170B provided in the sealing space CA. Since the elastic member 170B has an elastic force, the thermal expansion of the liquid metal 160 can be buffered. Thereby, the thermally expanded liquid metal 160 can prevent breakage and thermal disconnection due to pressing of the LSI 102, the bonding member 140, and the heat spreader 150. In FIG. 6, the elastic member 170B is disposed in the vicinity of the fitting portion 152c of the first member 152. However, as long as the thermal expansion of the liquid metal 160 can be buffered, anywhere in the sealed space CA is present. Needless to say, it may exist. The elastic member 170B is made of, for example, a buffer rubber such as an O-ring or a gel. The elastic member 170B has dimensions of a diameter φ of about 20 mm to 30 mm and a cross section φ of about 0.5 mm to 1.0 mm. In addition, by configuring the elastic member 170B with a halogen-based material, even when it is installed in the sealed space CA, the liquid metal 160 does not undergo oxidation and hydroxylation chemical reactions, and high thermal conductivity is maintained. The Here, FIG. 6 is a schematic cross-sectional view of the package module 100 having the allowance portion 170B.

更に、許容部170の別の例として、第7図に示すように、第2の部材154の凸部154aに設けられた円弧状の切り欠き170Cとして具現化される。切り欠き170Cは、液体金属160の熱膨張を緩衝することができる。これにより、熱膨張した液体金属160が、LSI102、接合部材140及びヒートスプレッダ150を押圧することによる破損及び熱的な接続の切断を防止することができる。切り欠き170Cは、直径φ2mm乃至4mm程度を必要とする。なお、切り欠き170Cを第2の部材154の凸部154aの外周角(四隅)に形成することにより、液体金属160による集中応力を緩和させることができる。ここで、第7図は、第4図に示すLSI102とヒートスプレッダ150との別の接続状態を示すLSI102の概略上視図である。   Furthermore, as another example of the permissible portion 170, as shown in FIG. 7, it is embodied as an arc-shaped notch 170C provided on the convex portion 154a of the second member 154. The notch 170 </ b> C can buffer the thermal expansion of the liquid metal 160. Thereby, the thermally expanded liquid metal 160 can prevent breakage and thermal disconnection due to pressing of the LSI 102, the bonding member 140, and the heat spreader 150. The notch 170C requires a diameter of about 2 mm to 4 mm. In addition, the concentrated stress due to the liquid metal 160 can be relieved by forming the notches 170 </ b> C at the outer peripheral angles (four corners) of the convex portion 154 a of the second member 154. Here, FIG. 7 is a schematic top view of the LSI 102 showing another connection state between the LSI 102 and the heat spreader 150 shown in FIG.

一方、LSI102及びパッケージ基板110が熱応力により変形(歪み)を起こす場合もある。LSI102及びパッケージ基板110に変形が生じると、接合部材140が剥離したり、ヒートスプレッダ150が破損したりするなどして熱的な接続が切断されてしまう。そこで、第8図に示すように、第1の部材152の底部152aを箔板状にすることで、LSI102及びパッケージ基板110の熱応力による変形に対応することができる。換言すれば、第1の部材152の底部152aに板バネの機能を持たせることで、LSI102及びパッケージ基板110の変形を吸収し、接合部材140の剥離、ヒートスプレッダ150の破損を防止することができる。板バネの機能を第1の部材152の底部152aに持たせるためには、底部152aを200μm以上1mm以下の厚さで構成することが好ましい。底部152aの厚さが200μmより小さいと液体金属160の圧力によって封止空間CAを十分に封止することができず、1mmより大きいと板バネの機能を持たせることができないからである。ここで、第8図は、板バネの機能を有する第1の部材152の底部152aがLSI102及びパッケージ基板110の変形を吸収している状態を示すパッケージモジュール100の概略断面図である。   On the other hand, the LSI 102 and the package substrate 110 may be deformed (strained) due to thermal stress. When the LSI 102 and the package substrate 110 are deformed, the joining member 140 is peeled off or the heat spreader 150 is damaged, so that the thermal connection is disconnected. Therefore, as shown in FIG. 8, the bottom portion 152a of the first member 152 is formed into a foil plate shape, so that deformation due to thermal stress of the LSI 102 and the package substrate 110 can be dealt with. In other words, by imparting a leaf spring function to the bottom 152a of the first member 152, the deformation of the LSI 102 and the package substrate 110 can be absorbed, and the peeling of the bonding member 140 and the damage of the heat spreader 150 can be prevented. . In order to give the bottom part 152a of the first member 152 the function of the leaf spring, the bottom part 152a is preferably configured with a thickness of 200 μm or more and 1 mm or less. This is because if the thickness of the bottom 152a is smaller than 200 μm, the sealing space CA cannot be sufficiently sealed by the pressure of the liquid metal 160, and if it is larger than 1 mm, the function of a leaf spring cannot be provided. Here, FIG. 8 is a schematic cross-sectional view of the package module 100 showing a state in which the bottom 152a of the first member 152 having the function of a leaf spring absorbs deformation of the LSI 102 and the package substrate 110.

更に、ヒートスプレッダ150を弾性部材から構成することで、液体金属160の熱膨張や、LSI102及びパッケージ基板110が熱応力により変形に対応することも可能である。   Furthermore, by configuring the heat spreader 150 from an elastic member, it is possible to cope with thermal expansion of the liquid metal 160 and deformation of the LSI 102 and the package substrate 110 due to thermal stress.

なお、これまでは、一のLSI102を搭載したシングルチップ型のパッケージ基板110を例に説明してきたが、本発明は、第10図に示すように、複数のLSI102が搭載されたマルチチップ型のパッケージ基板110Aを排除するものではない。かかる場合には、複数のLSI102に応じて、第1の部材152の中空部152b及び第2の部材154の凸部154aを設ければよい。ここで、第10図は、マルチチップ型のパッケージ基板110Aを有するパッケージモジュールの概略断面図である。   Up to now, the single-chip package substrate 110 on which one LSI 102 is mounted has been described as an example. However, as shown in FIG. 10, the present invention is a multi-chip type on which a plurality of LSIs 102 are mounted. The package substrate 110A is not excluded. In such a case, the hollow portion 152b of the first member 152 and the convex portion 154a of the second member 154 may be provided according to the plurality of LSIs 102. Here, FIG. 10 is a schematic cross-sectional view of a package module having a multi-chip type package substrate 110A.

以下、第11図を参照して、パッケージモジュール100の製造方法800について説明する。ここで、第11図は、本発明のパッケージモジュール100の製造方法800を説明するためのフローチャートである。   Hereinafter, a manufacturing method 800 of the package module 100 will be described with reference to FIG. Here, FIG. 11 is a flowchart for explaining the manufacturing method 800 of the package module 100 of the present invention.

まず、LSI102をバンプ104によってパッケージ基板110にハンダ付けし、LSI102とパッケージ基板110との間にアンダーフィル106を充填する(ステップ802)。次に、LSI102とヒートスプレッダ150としての第1の部材152とを接合部材140を介して接続する(ステップ804)。この際、接合部材140をLSI102の外周に設けることは上述した通りである。   First, the LSI 102 is soldered to the package substrate 110 with the bumps 104, and the underfill 106 is filled between the LSI 102 and the package substrate 110 (step 802). Next, the LSI 102 and the first member 152 as the heat spreader 150 are connected via the bonding member 140 (step 804). At this time, the bonding member 140 is provided on the outer periphery of the LSI 102 as described above.

次いで、ステップ804で接続されたLSI102と第1の部材152との間に液体金属160を注入する(ステップ806)。この際、形成される封止空間CAを満たす量(即ち、封止空間CAの体積量)の液体金属160を注入する。そして、ヒートスプレッダ150としての第2の部材154を第1の部材152に嵌合し、ステップ806で注入された液体金属160を封止空間CAに封止する(ステップ808)。   Next, the liquid metal 160 is injected between the LSI 102 connected in step 804 and the first member 152 (step 806). At this time, the liquid metal 160 in an amount that fills the sealing space CA to be formed (that is, the volume of the sealing space CA) is injected. Then, the second member 154 as the heat spreader 150 is fitted into the first member 152, and the liquid metal 160 injected in step 806 is sealed in the sealing space CA (step 808).

かかる製造方法800によれば、エッチング等の微細加工技術などの高度な加工技術を必要とすることなく、液体金属160を封止空間CAに封止したパッケージモジュール100を製造することができる。また、LSI102、接合部材140及びヒートスプレッダ150が協同して封止空間CAを形成するため、封止構造が大型化することなく、電子機器300の小型化に寄与する。   According to the manufacturing method 800, the package module 100 in which the liquid metal 160 is sealed in the sealing space CA can be manufactured without requiring advanced processing technology such as fine processing technology such as etching. In addition, since the LSI 102, the bonding member 140, and the heat spreader 150 cooperate to form the sealing space CA, the sealing structure does not increase in size and contributes to downsizing of the electronic device 300.

動作において、電子機器300は、樹脂製のパッケージ基板110を使用しているので安価であると共に、その厚さが薄いのでノイズなどの少ない高い電気特性を提供することができる。接合部材140とLSI102、接合部材140及びヒートスプレッダ150が形成する封止空間CAに封止された液体金属160とにより、熱応力によってLSI102とヒートスプレッダ150との熱的な接続が切断することを防止し、高い熱伝導性を達成することができるので、LSI102で発生した熱はヒートシンク190によって適切に放熱される。ヒートシンク190の冷却フィンは、ファンモジュール320に内蔵された冷却ファンによって冷却される。従って、電子機器300は、LSI102の動作の安定性を維持することができる。また、ヒートスプレッダ150を2分割構造とすることで、簡易、且つ、小型でありながら、液体金属160を封止する封止構造を実現することができる。   In operation, the electronic device 300 is inexpensive because it uses the resin package substrate 110, and since it is thin, it can provide high electrical characteristics such as noise. The bonding member 140 and the LSI 102, and the liquid metal 160 sealed in the sealing space CA formed by the bonding member 140 and the heat spreader 150 prevent the thermal connection between the LSI 102 and the heat spreader 150 from being cut by thermal stress. Since high thermal conductivity can be achieved, the heat generated in the LSI 102 is appropriately radiated by the heat sink 190. The cooling fins of the heat sink 190 are cooled by a cooling fan built in the fan module 320. Therefore, the electronic device 300 can maintain the stability of the operation of the LSI 102. In addition, by making the heat spreader 150 into a two-part structure, it is possible to realize a sealing structure that seals the liquid metal 160 while being simple and small.

以上、本発明の好ましい実施態様及びその変形をここで詳細に説明してきたが、本発明はこれらの実施態様及び変形に正確に限定されるものではなく、添付の請求の範囲で画定される発明の本旨及び範囲を逸脱せずに、様々な変形及び変更が可能である。例えば、本発明の電子機器は、ラックマウント型のサーバーに限定されず、ブックシェルフ型にも適用可能であり、また、サーバーに限定されず、パーソナルコンピューター、ネットワーク機器、PDA、その他の周辺装置にも適用可能である。また、本発明のパッケージモジュールは、ハンダ付けせずにLGA(Land Grid Array)ソケットを介してプリント基板に接続するLGAパッケージにも適用可能である。更に、本発明のパッケージモジュールは、チップセットなどCPUとして機能しない発熱性回路素子にも適用可能である。   Although preferred embodiments of the present invention and variations thereof have been described in detail hereinabove, the present invention is not limited to these embodiments and variations, and is defined by the appended claims. Various modifications and changes can be made without departing from the spirit and scope of the present invention. For example, the electronic device of the present invention is not limited to a rack mount type server but can be applied to a bookshelf type, and is not limited to a server, and is not limited to a personal computer, network device, PDA, or other peripheral device. Is also applicable. The package module of the present invention is also applicable to an LGA package that is connected to a printed circuit board via an LGA (Land Grid Array) socket without soldering. Furthermore, the package module of the present invention can be applied to a heat-generating circuit element that does not function as a CPU, such as a chip set.

100 パッケージモジュール
102 LSI
104 バンプ
106 アンダーフィル
108 回路部品
110 パッケージ基板
120 BGA
130 補強金属
140 接合部材
150 ヒートスプレッダ
152 第1の部材
154 第2の部材
160 液体金属
170 許容部
190 ヒートシンク
200 プリント基板
300 電子機器
CA 封止空間
100 package module 102 LSI
104 Bump 106 Underfill 108 Circuit component 110 Package substrate 120 BGA
130 Reinforcing metal 140 Joining member 150 Heat spreader 152 First member 154 Second member 160 Liquid metal 170 Allowable portion 190 Heat sink 200 Printed circuit board 300 Electronic device CA Sealing space

Claims (10)

外部のプリント基板に搭載可能なパッケージ構造であって、
発熱性回路素子を搭載したパッケージ基板と、
前記発熱性回路素子からの熱を、前記発熱性回路素子を放熱するためのヒートシンクに伝達するヒートスプレッダと、
前記発熱性回路素子と前記ヒートスプレッダとの間を封止し、前記発熱性回路素子及び前記ヒートスプレッダと協同して封止空間を形成する接合部材と、
前記封止空間に封止される液体金属と、
を有し、
前記接合部材は、前記発熱性回路素子の外周において前記発熱性回路素子と前記ヒートスプレッダとを接続する銅又は窒化アルミニウムからなる材料で構成され、
前記ヒートスプレッダは、前記封止空間を形成する面に、前記接合部材と接続する面よりも大きな凹凸形状を有することを特徴とするパッケージ構造。
A package structure that can be mounted on an external printed circuit board,
A package substrate having a heat generating circuit element mounted thereon;
A heat spreader that transfers heat from the exothermic circuit element to a heat sink for dissipating the exothermic circuit element;
A sealing member that seals between the heat-generating circuit element and the heat spreader, and forms a sealed space in cooperation with the heat-generating circuit element and the heat spreader;
A liquid metal sealed in the sealing space;
Have
The joining member is made of a material made of copper or aluminum nitride that connects the exothermic circuit element and the heat spreader at the outer periphery of the exothermic circuit element ,
The package structure , wherein the heat spreader has a larger uneven shape on a surface forming the sealing space than a surface connected to the joining member .
前記ヒートスプレッダは、
前記接合部材に接続している第1の部材と、
前記第1の部材とは分割されている第2の部材と、
を有することを特徴とする請求項1記載のパッケージ構造。
The heat spreader is
A first member connected to the joining member;
A second member divided from the first member;
The package structure according to claim 1, wherein:
前記ヒートスプレッダは、
前記接合部材と接続する底部を有する第1の部材と、
前記第1の部材に嵌合すると共に、前記発熱性回路素子側に凸部を有する断面凸形状の第2の部材と、
を有することを特徴とする請求項1記載のパッケージ構造。
The heat spreader is
A first member having a bottom connected to the joining member;
A second member having a convex cross section having a convex portion on the exothermic circuit element side while being fitted to the first member,
The package structure according to claim 1, wherein:
前記第1の部材の底部は、200μm以上1mm以下の厚さを有することを特徴とする請求項3記載のパッケージ構造。   The package structure according to claim 3, wherein the bottom of the first member has a thickness of 200 μm to 1 mm. 前記ヒートスプレッダは、弾性部材で構成されることを特徴とする請求項1記載のパッケージ構造。   The package structure according to claim 1, wherein the heat spreader is formed of an elastic member. 前記パッケージ基板は、複数の前記発熱性回路素子を搭載することを特徴とする請求項1記載のパッケージ構造。   The package structure according to claim 1, wherein the package substrate includes a plurality of the heat generating circuit elements. 前記パッケージ基板は、樹脂製であることを特徴とする請求項1記載のパッケージ構造。   The package structure according to claim 1, wherein the package substrate is made of resin. パッケージ構造を搭載したプリント基板であって、
前記パッケージ構造は、
発熱性回路素子を搭載したパッケージ基板と、
前記発熱性回路素子からの熱を、前記発熱性回路素子を放熱するためのヒートシンクに伝達するヒートスプレッダと、
前記発熱性回路素子と前記ヒートスプレッダとの間を封止し、前記発熱性回路素子及び前記ヒートスプレッダと協同して封止空間を形成する接合部材と、
前記封止空間に封止される液体金属と、
を有し、
前記接合部材は、前記発熱性回路素子の外周において前記発熱性回路素子と前記ヒートスプレッダとを接続する銅又は窒化アルミニウムからなる材料で構成され、
前記ヒートスプレッダは、前記封止空間を形成する面に、前記接合部材と接続する面よりも大きな凹凸形状を有することを特徴とするプリント基板。
A printed circuit board with a package structure,
The package structure is
A package substrate having a heat generating circuit element mounted thereon;
A heat spreader that transfers heat from the exothermic circuit element to a heat sink for dissipating the exothermic circuit element;
A sealing member that seals between the heat-generating circuit element and the heat spreader, and forms a sealed space in cooperation with the heat-generating circuit element and the heat spreader;
A liquid metal sealed in the sealing space;
Have
The joining member is made of a material made of copper or aluminum nitride that connects the exothermic circuit element and the heat spreader at the outer periphery of the exothermic circuit element ,
The printed board according to claim 1, wherein the heat spreader has a larger uneven shape on a surface forming the sealing space than a surface connected to the bonding member .
パッケージ構造を搭載したプリント基板を有する電子機器であって、
前記パッケージ構造は、
発熱性回路素子を搭載したパッケージ基板と、
前記発熱性回路素子からの熱を、前記発熱性回路素子を放熱するためのヒートシンクに伝達するヒートスプレッダと、
前記発熱性回路素子と前記ヒートスプレッダとの間を封止し、前記発熱性回路素子及び前記ヒートスプレッダと協同して封止空間を形成する接合部材と、
前記封止空間に封止される液体金属と、
を有し、
前記接合部材は、前記発熱性回路素子の外周において前記発熱性回路素子と前記ヒートスプレッダとを接続する銅又は窒化アルミニウムからなる材料で構成され、
前記ヒートスプレッダは、前記封止空間を形成する面に、前記接合部材と接続する面よりも大きな凹凸形状を有することを特徴とする電子機器。
An electronic device having a printed circuit board mounted with a package structure ,
The package structure is
A package substrate having a heat generating circuit element mounted thereon;
A heat spreader that transfers heat from the exothermic circuit element to a heat sink for dissipating the exothermic circuit element;
A sealing member that seals between the heat-generating circuit element and the heat spreader, and forms a sealed space in cooperation with the heat-generating circuit element and the heat spreader;
A liquid metal sealed in the sealing space;
Have
The joining member is made of a material made of copper or aluminum nitride that connects the exothermic circuit element and the heat spreader at the outer periphery of the exothermic circuit element ,
The electronic apparatus according to claim 1, wherein the heat spreader has a larger uneven shape on a surface forming the sealing space than a surface connected to the bonding member .
パッケージ基板に搭載された発熱性回路素子からの熱を、前記発熱性回路素子を放熱するためのヒートシンクに伝達するヒートスプレッダであって、接合部材を介して前記発熱性素子と接続する第1の部材と、前記第1の部材に嵌合し、前記発熱性回路素子との間に封止空間を形成する第2の部材とを有し、前記封止空間を形成する面に、前記接合部材と接続する面よりも大きな凹凸形状を有するヒートスプレッダを有し、外部のプリント基板に搭載可能なパッケージ構造の製造方法であって、
前記発熱性回路素子の外周において前記発熱性回路素子と前記第1の部材とを銅又は窒化アルミニウムからなる材料で構成される前記接合部材を介して接続するステップと、
前記接続ステップで接続された前記発熱性回路素子と前記第1の部材との間に液体金属を注入するステップと、
前記第2の部材を前記第1の部材に嵌合し、前記注入ステップで注入された前記液体金属を前記封止空間に封止するステップとを有することを特徴とする製造方法。
A heat spreader for transferring heat from a heat generating circuit element mounted on a package substrate to a heat sink for dissipating the heat generating circuit element, the first member being connected to the heat generating element via a joining member When fitted to the first member, on a surface have a second member forming the sealing space, to form the sealed space between the exoergic circuit elements, and the joining member has a heat spreader to have a large unevenness of the connection surfaces, a method for producing a mountable package structure to an external printed circuit board,
And connecting through the joint member consists of said first member and said heat generating resistance circuit elements in the outer periphery of the exothermic circuit element of a material made of copper or aluminum nitride,
Injecting a liquid metal between the exothermic circuit element and the first member connected in the connection step;
And a step of fitting the second member into the first member and sealing the liquid metal injected in the injection step in the sealing space.
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JPH05102354A (en) * 1991-10-11 1993-04-23 Hitachi Ltd Electronic circuit device
JP3113400B2 (en) * 1992-07-28 2000-11-27 株式会社日立製作所 Electronic circuit device
JPH08213521A (en) * 1995-02-06 1996-08-20 Shin Etsu Polymer Co Ltd Cooling structure of semiconductor device
JP3570329B2 (en) * 2000-02-29 2004-09-29 日本電気株式会社 Sealed housing with pressure adjustment function
JP2002349710A (en) * 2001-05-25 2002-12-04 Sanyo Electric Co Ltd Packing and hydrogen desorption device using the same
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