Nothing Special   »   [go: up one dir, main page]

JP5020407B2 - アンプルのための加熱式バルブマニホールド - Google Patents

アンプルのための加熱式バルブマニホールド Download PDF

Info

Publication number
JP5020407B2
JP5020407B2 JP2011500907A JP2011500907A JP5020407B2 JP 5020407 B2 JP5020407 B2 JP 5020407B2 JP 2011500907 A JP2011500907 A JP 2011500907A JP 2011500907 A JP2011500907 A JP 2011500907A JP 5020407 B2 JP5020407 B2 JP 5020407B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
ampoule
valve
assembly
channel
coupled
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2011500907A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2011516724A5 (ja
JP2011516724A (ja
Inventor
ケンリック チョイ,
サン, ティー. グエン,
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Applied Materials Inc
Original Assignee
Applied Materials Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Applied Materials Inc filed Critical Applied Materials Inc
Publication of JP2011516724A publication Critical patent/JP2011516724A/ja
Publication of JP2011516724A5 publication Critical patent/JP2011516724A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5020407B2 publication Critical patent/JP5020407B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/44Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
    • C23C16/448Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for generating reactive gas streams, e.g. by evaporation or sublimation of precursor materials
    • C23C16/4481Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for generating reactive gas streams, e.g. by evaporation or sublimation of precursor materials by evaporation using carrier gas in contact with the source material
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/44Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
    • C23C16/455Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for introducing gases into reaction chamber or for modifying gas flows in reaction chamber
    • C23C16/45523Pulsed gas flow or change of composition over time
    • C23C16/45525Atomic layer deposition [ALD]
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/44Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
    • C23C16/455Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for introducing gases into reaction chamber or for modifying gas flows in reaction chamber
    • C23C16/45561Gas plumbing upstream of the reaction chamber
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67017Apparatus for fluid treatment

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Chemical Vapour Deposition (AREA)

Description

本発明の実施形態は、化学前駆物質を貯蔵および送出するための機器および方法に関し、より詳細には、加熱式バルブマニホールドおよびその方法に関する。
集積回路は、単一のチップ上に何百万ものトランジスタ、コンデンサ、およびレジスタを含む複合デバイスへと発展してきた。チップ設計の発展には、より高速の回路構成およびますます精密な製作プロセスを要求するより高い回路密度が継続して必要とされている。基板を精密処理するには、処理中使用される流体の送出における温度、速さ、および圧力を精密に制御することが必要とされる。
化学気相堆積(CVD)および原子層堆積(ALD)は、基板上にさまざまな材料を形成または堆積するために使用される気相堆積法である。一般にCVDおよびALDプロセスは、基板表面にガス状の反応物質を送出することを含み、ここで化学反応が、反応の熱力学に好ましい温度および圧力条件下で行われる。CVDプロセスまたはALDプロセスを用いて形成され得る層のタイプおよび組成は、化学反応物質または前駆物質を基板表面に送出する能力によって限定される。CVDおよびALD適用中、液体前駆物質をキャリヤガス内に送出することによって、さまざまな液体前駆物質が成功裏に使用されてきた。
一部のケースでは、キャリヤガスは、前駆物質の気化を導く条件下で揮発性の液体前駆物質を含有する、アンプルまたはバブラなどの加熱された容器またはキャニスタを通過する。他のケースでは、キャリヤガスは、固体前駆物質の昇華を導く条件下で固体前駆物質を含有する加熱された容器を通過する。昇華プロセスは、典型的には固体前駆物質が装填または充填された容器内で実施され、容器の壁が加熱されて、固体前駆物質材料を昇華させながら、ガス状の前駆物質を生成する。いずれのケースも、キャリヤガスは、気化した前駆物質と組み合わさってプロセスガスを形成し、このプロセスガスは、専用の導管またはガスラインを介して容器から反応チャンバまで引き込まれる。
固体前駆物質を利用する気相堆積プロセスは、いくつかの問題に悩まされることがある。固体前駆物質には、ガス状の状態に昇華させるよう十分な加熱が提供されなければならないが、固体前駆物質は、過度の加熱に晒されると分解することがある。たいてい非常に高価である有機金属の固体前駆物質は、特に熱分解を受けやすく、通常、昇華プロセス中、狭い温度範囲および圧力範囲内で維持される必要がある。固体前駆物質は、分解されると、容器内の残りの前駆物質、導管およびバルブの送出システム、処理チャンバ、ならびに基板を汚染することがある。さらに、固体前駆物質を過熱することにより、プロセスガス内に過度の高さの前駆物質濃度をもたらすことがあり、それによって、使用されない無駄な前駆物質を生じさせる、あるいは送出ライン内または基板上での前駆物質の凝縮に至ることがある。
あるいは、固体前駆物質は、過少の加熱に晒された場合、昇華しないことがある。キャリヤガスが容器を通り抜けて流され、固体前駆物質と衝突するとき、固体前駆物質からの粒子状物質が、キャリヤガス中に同伴され、プロセスチャンバに伝達されることがある。これらの望ましくない固体または液体の粒子状物質は、送出システム、処理チャンバ、または基板に対する汚染源となり得る。粒子状物質汚染の問題は、固体前駆物質と混合した液体キャリヤ材料を含むことによって当技術分野で対処されてきた。しかし、液体キャリヤ材料は、送出システム、処理チャンバ内または基板上で蒸発し、汚染物質となることがあるため、液体キャリヤ材料および固体前駆物質の混合物は、限定された温度および圧力の範囲内でしか助けとならない。
したがって、アンプルまたはバブラ内でプロセスガスを形成し、プロセスガスを処理チャンバに提供するための改良された機器および方法が必要とされている。
本発明の実施形態は、気相堆積処理システムにおいて使用され得るガス状の化学前駆物質を発生させるための機器および方法を提供する。1つの実施形態では、機器はバルブマニホールド組立体であり、このバルブマニホールド組立体は、バルブ組立体本体と、バルブ組立体本体内の少なくとも1つの内蔵された電気加熱器と、バルブ組立体本体を通り抜け、第1の入口および第1の出口を含有する入口チャネルと、バルブ組立体本体に結合され、入口チャネル内の流体の流れを制御するように配置された第1の空気バルブおよび第1の手動バルブと、バルブ組立体本体を通り抜け、第2の入口および第2の出口を含有する出口チャネルと、バルブ組立体本体に結合され、出口チャネル内の流体の流れを制御するように配置された第2の空気バルブおよび第2の手動バルブとを含む。バルブマニホールド組立体は、さらに、バイパスチャネルであって、バイパスチャネルの第1の端部が入口チャネルに結合され、バイパスチャネルの第2の端部が出口チャネルに結合されたバイパスチャネルと、バルブ組立体本体に結合され、バイパスチャネル内で流体の流れを制御するように配置されたバイパスバルブとを含有する。1つの例では、バイパスバルブは空気バルブである。
別の実施形態では、気相堆積処理システムにおいて使用される化学前駆物質を発生させるための機器が提供され、この機器は、中の内部容積を取り囲む側壁、上部、および底部を含有するキャニスタと、内部容積と流体連通する入口ポートおよび出口ポートと、入口ポートおよび出口ポートに結合され、それらと流体連通する加熱式バルブ組立体であって、加熱器、バイパスチャネル、および少なくとも5個のバルブを含有する加熱式バルブ組立体とを含む。
別の実施形態では、気相堆積処理システムにおいて使用される化学前駆物質を発生させるための機器が提供され、機器は、アンプルに結合され、それと流体連通する加熱式バルブ組立体を含み、この加熱式バルブ組立体は、さらに、少なくとも1つの加熱器と、アンプルに結合され、それと流体連通する入口チャネルと、加熱式バルブ組立体に結合され、入口チャネル内の流体の流れを制御するように配置された第1の空気バルブおよび第1の手動バルブと、アンプルに結合され、それと流体連通する出口チャネルと、加熱式バルブ組立体に結合され、出口チャネル内の流体の流れを制御するように配置された第2の空気バルブおよび第2の手動バルブと、バイパスチャネルであって、バイパスチャネルの第1の端部が入口チャネルに結合され、バイパスチャネルの第2の端部が出口チャネルに結合されるバイパスチャネルと、加熱式バルブ組立体に結合され、バイパスチャネル内の流体の流れを制御するように配置されたバイパスバルブとを含む。
一部の例では、加熱源は、加熱式バルブ組立体内に少なくとも1つの内蔵された電気加熱器を含有する。加熱式バルブ組立体は、たとえば3つ、4つまたそれ以上などの複数の内蔵された電気加熱器を含有することができる。加熱式バルブ組立体は、内蔵された電気加熱器に結合され、所定の温度に維持または限定をもたらすために、内蔵された電気加熱器への電力を低減または切断するように事前にプログラムされた温度過昇防止センサまたはサーモスタットを含有することができる。
一部の実施形態では、加熱式バルブ組立体は、入口ポートに結合され、それと流体連通する入口チャネルと、出口ポートに結合され、それと流体連通する出口チャネルとを含有する。第1の空気バルブおよび第1の手動バルブは、加熱式バルブ組立体に取り付けられ、入口チャネル内の流体の流れを制御するように配置され得る。入口チャネルは、バイパスチャネルの第1の端部に結合され、それと流体連通することができる。第2の空気バルブおよび第2の手動バルブは、加熱式バルブ組立体に取り付けられ、出口チャネル内の流体の流れを制御するように配置され得る。出口チャネルは、バイパスチャネルの第2の端部に結合され、それと流体連通することができる。加えて、バイパスチャネルは、さらに、たとえば空気バルブなどの少なくとも1つのバイパスバルブを含有する。
さまざまな例では、アンプルは、少なくとも部分的に内部容積を充填する化学前駆物質を含有し、この化学前駆物質は、周囲条件(たとえば温度および圧力)において固定状態を有する。1つの例では、固体の化学前駆物質は、四塩化ハフニウムを含有する。別の例では、固体の化学前駆物質は、ペンタキス(ジメチルアミド)タンタルを含有する。
別の実施形態では、気相堆積処理システムにおいて使用される化学前駆物質を発生させるための方法が提供され、この方法は、バルブ組立体を約150℃から約225℃の範囲内の温度に加熱するステップであって、バルブ組立体が、四塩化ハフニウムを含有するアンプルに結合され、それと流体連通しており、バルブ組立体が、少なくとも1つの内蔵された加熱器と、アンプルに結合され、それと流体連通する入口チャネルとを含有する、ステップを含む。バルブ組立体は、さらに、バルブ組立体に結合され、入口チャネル内の流体の流れを制御するように配置された第1の空気バルブおよび第1の手動バルブと、アンプルに結合され、それと流体連通する出口チャネルと、バルブ組立体に結合され、出口チャネル内の流体の流れを制御するように配置された第2の空気バルブおよび第2の手動バルブと、バイパスチャネルであって、バイパスチャネルの第1の端部が入口チャネルに結合され、バイパスチャネルの第2の端部が出口チャネルに結合されたバイパスチャネルと、バルブ組立体に結合され、バイパスチャネル内の流体の流れを制御するように配置されたバイパスバルブとを含有する。方法は、さらに、四塩化ハフニウムを含有する堆積ガスを形成するために、キャリヤガスをガス源から入口チャネルを通り抜けてアンプル内へと流すステップと、四塩化ハフニウムを含有する堆積ガスをアンプルから出口チャネルを通り抜けて処理システムに流すステップとを提供する。
他の実施形態では、方法は、さらに、キャリヤガスの流れを停止させるステップと、アンプルを約40℃またはそれ以下の温度に冷却するステップと、第1および第2の空気バルブならびに第1および第2の手動バルブを閉じるステップと、アンプルを処理システムから取り外すステップとを含む。1つの例では、アンプルは、約25℃またはそれ以下の温度に冷却される。他の例では、バルブ組立体は、約175℃から約200℃の範囲内の温度に加熱される。バイパスバルブは空気バルブでよい。
別の実施形態では、気相堆積処理システムにおいて使用される化学前駆物質を発生させるための方法が提供され、この方法は、バルブ組立体を約100℃から約350℃の範囲内の温度に加熱するステップであって、バルブ組立体が、金属を含有する前駆物質を含有するアンプルに結合され、それと流体連通し、バルブ組立体が、少なくとも1つの内蔵された加熱器と、アンプルに結合され、それと流体連通する入口チャネルとを含有する、ステップを含む。バルブ組立体は、さらに、バルブ組立体に結合され、入口チャネル内の流体の流れを制御するように配置された第1の空気バルブおよび第1の手動バルブと、アンプルに結合され、それと流体連通する出口チャネルと、バルブ組立体に結合され、出口チャネル内の流体の流れを制御するように配置された第2の空気バルブおよび第2の手動バルブと、バイパスチャネルであって、バイパスチャネルの第1の端部が入口チャネルに結合され、バイパスチャネルの第2の端部が出口チャネルに結合されたバイパスチャネルと、バルブ組立体に連結され、バイパスチャネル内の流体の流れを制御するように配置されたバイパスバルブとを含有する。方法は、さらに、金属を含有する前駆物質を含有する堆積ガスを形成するために、キャリヤガスをガス源から入口チャネルを通り抜けてアンプル内に流すステップと、金属を含有する前駆物質を含有する堆積ガスをアンプルから出口チャネルを通り抜けて処理システムに流すステップとを提供する。一部の例では、バルブ組立体は、約150℃から約275℃、好ましくは約175℃から約200℃の範囲内の温度に加熱されてよい。
別の例では、方法は、さらに、キャリヤガスの流れを停止するステップと、アンプルを約40℃またはそれ以下の温度に冷却するステップと、第1および第2の空気バルブならびに第1および第2の手動バルブを閉じるステップと、アンプルを処理システムから取り外すステップとを含む。アンプルは、約25℃またはそれ以下の温度に冷却されてよい。
別の実施形態では、気相堆積処理システムにおいて使用される化学前駆物質を発生させるための方法が提供され、この方法は、バルブマニホールド組立体を含有するアンプルアセンブルを処理システムに取り付けるステップであって、バルブマニホールド組立体が、化学前駆物質を含有するアンプルに結合され、それと流体連通し、バルブマニホールド組立体が、少なくとも1つの内蔵された加熱器と、アンプルに結合され、それと流体連通する入口チャネルとを含有する、ステップを含む。バルブマニホールド組立体は、さらに、バルブマニホールド組立体に結合され、入口チャネル内の流体の流れを制御するように配置された第1の空気バルブおよび第1の手動バルブと、アンプルに結合され、それと流体連通する出口チャネルと、バルブマニホールド組立体に結合され、出口チャネル内の流体の流れを制御するように配置された第2の空気バルブおよび第2の手動バルブと、バイパスチャネルであって、バイパスチャネルの第1の端部が入口チャネルに結合され、バイパスチャネルの第2の端部が出口チャネルに結合されたバイパスチャネルと、バルブマニホールド組立体に結合され、バイパスチャネル内の流体の流れを制御するように配置されたバイパスバルブとを含有する。方法は、さらに、第1および第2の空気バルブを閉じた状態に維持しながら、第1および第2の手動バルブならびにバイパスバルブを開くステップと、バイパスチャネルならびに入口および出口のチャネルの上側部分を真空化するステップと、パージガスをバイパスチャネルならびに入口および出口のチャネルの上側部分を通り抜けるように流すステップと、バイパスバルブを閉じるステップと、続いて第1および第2の空気バルブを開くステップとを提供する。
バイパスチャネルならびに入口および出口チャネルの上側部分は、その中を通してパージガスを流しながら、真空化することができる。方法は、さらに、化学前駆物質を含有する堆積ガスを形成するために、キャリヤガスをガス源から入口チャネルを通り抜けてアンプル内に流すステップを提供する。パージガスおよびキャリヤガスは、窒素などの同じガスでよい。方法は、さらに、化学前駆物質を含有する堆積ガスをアンプルから出口チャネルを通って処理システム内に流すステップを提供する。バルブマニホールド組立体およびアンプルは、独立した所定の温度に独立的に加熱されてよい。
本発明の上記で引用した特徴が詳細に理解され得るように、上記で簡潔に要約した本発明のより具体的な説明は、実施形態を参照することができ、その実施形態の一部は付属の図に示されている。しかし、本発明は、他の同等に効果的な実施形態を認めることができるため、付属の図は、本発明の代表的な実施形態を示すにすぎず、したがってその範囲を限定すると考えるものではない。
従来のアンプル組立体を採用するプロセスガス送出システムの簡略図である。 本明細書の実施形態において説明するように、アンプル組立体が流体的に結合された流体送出システムの概略図である。 本明細書の実施形態において説明するように、アンプル組立体が流体的に結合された流体送出システムの概略図である。 本明細書の実施形態において説明するように、アンプル組立体が流体的に結合された流体送出システムの概略図である。 本明細書の実施形態において説明するように、化学物質を含有するコンテナの概略図である。 本明細書の実施形態において説明するように、化学物質を含有するコンテナの概略図である。 本明細書の実施形態において説明するように、化学物質を含有するコンテナの概略図である。 本明細書の実施形態において説明するように、化学物質を含有するコンテナの概略図である。 本明細書の実施形態において説明するように、化学物質を含有するコンテナの概略図である。 本明細書の実施形態において説明するように、化学物質を含有するコンテナの概略図である。 本明細書の実施形態において説明するように、化学物質を含有するコンテナの概略図である。 本明細書の実施形態において説明するように、化学物質を含有するコンテナの概略図である。 本明細書の実施形態において説明するように、図3Aの化学物質を含有するコンテナの別の斜視図である。 本明細書の実施形態において説明するように、図3Bの化学物質を含有するコンテナの別の斜視図である。 本明細書の実施形態において説明するように、アンプル組立体をポンプパージするためのプロセス順序を示す図である。 A〜Bは、本明細書の実施形態において説明するように、容易に保守可能な遮断バルブを備えたアンプル組立体の1つの実施形態を概略的に示す図である。 A〜Dは、本明細書の実施形態によって説明するような、他の前駆物質アンプルの断面概略図である。 本明細書の別の実施形態によって説明するような、前駆物質アンプルの断面概略図である。 本明細書の代替の実施形態によって説明するような、入口ステム用の一のチップの簡略図である。 本明細書の代替の実施形態によって説明するような、入口ステム用の別のチップの簡略図である。 本明細書の代替の実施形態によって説明するような、入口ステム用のまた別のチップの簡略図である。 本明細書の代替の実施形態によって説明するような、入口ステム用のまた別のチップの簡略図である。 本明細書の実施形態によって説明するような、他の前駆物質アンプルの断面概略図である。 本明細書の実施形態によって説明するような、他の前駆物質アンプルの断面概略図である。 本明細書の実施形態において説明するように、バルブマニホールド組立体を概略的に描く図である。 本明細書の実施形態において説明するように、バルブマニホールド組立体を概略的に描く図である。 本明細書の実施形態において説明するように、バルブマニホールド組立体を概略的に描く図である。 本明細書の実施形態において説明するように、バルブマニホールド組立体を概略的に描く図である。 本明細書の実施形態において説明するように、バルブマニホールド組立体を概略的に描く図である。 本明細書の実施形態において説明するように、バルブマニホールド組立体を概略的に描く図である。 本明細書の実施形態において説明するように、バルブマニホールド組立体を概略的に描く図である。 本明細書の実施形態において説明するように、バルブマニホールド組立体を概略的に描く図である。 本明細書の実施形態において説明するように、バルブマニホールド組立体を概略的に描く図である。 本明細書の実施形態において説明するように、バルブマニホールド組立体を概略的に描く図である。 本明細書の実施形態において説明するように、バルブマニホールド組立体を概略的に描く図である。 本明細書の実施形態において説明するように、バルブマニホールド組立体を概略的に描く図である。 本明細書の実施形態において説明するように、バルブマニホールド組立体を概略的に描く図である。 本明細書の他の実施形態で説明するように、別のバルブマニホールド組立体を概略的に描く図である。 本明細書の他の実施形態で説明するように、別のバルブマニホールド組立体を概略的に描く図である。 本明細書の他の実施形態で説明するように、別のバルブマニホールド組立体を概略的に描く図である。 本明細書の他の実施形態で説明するように、別のバルブマニホールド組立体を概略的に描く図である。 本明細書の他の実施形態で説明するように、別のバルブマニホールド組立体を概略的に描く図である。 本明細書の他の実施形態で説明するように、別のバルブマニホールド組立体を概略的に描く図である。 本明細書の実施形態で説明するように、バルブマニホールド組立体を含有するアンプル組立体を概略的に描く図である。 本明細書の実施形態で説明するように、バルブマニホールド組立体を含有するアンプル組立体を概略的に描く図である。 本明細書の実施形態で説明するように、バルブマニホールド組立体を含有するアンプル組立体を概略的に描く図である。 本明細書の実施形態で説明するように、バルブマニホールド組立体を含有するアンプル組立体を概略的に描く図である。
図1は、プロセスガス送出システム102の簡略図であり、プロセスガス送出システム102は、化学前駆物質を含有するプロセスガスを生成するのに適しており、通常、プロセスチャンバ106と、ガスパネル104に結合されたキャリヤガス源105とを含み、ガスパネル104の構成要素が制御器150によって制御される。ガスパネル104は、通常、さまざまなプロセスガスおよびキャリヤガスがプロセスチャンバ106に送出される速さおよび圧力を制御する。プロセスチャンバ106は、液体、ガス状またはプラズマ状態の気化した化学前駆物質を含有する気相堆積プロセスまたは熱プロセスを行うチャンバでよい。プロセスチャンバ106は、通常、化学気相堆積(CVD)チャンバ、原子層堆積(ALD)チャンバ、またはその派生物である。プロセスチャンバ106の例としては、カリフォルニア州、サンタクララ所在のApplied Materials、Inc社からいずれも入手可能である、PRODUCER(登録商標)CVDチャンバおよびDZX(登録商標)CVDチャンバ、または本明細書においてその全体が参照によって組み込まれる、本願の譲受人に譲渡された米国特許第6,916,398号で説明されるものなどのALDチャンバが挙げられる。
図1に示す構成では、制御器150は、中央処理ユニット(CPU)152、メモリ154、および支援回路156を含む。中央処理ユニット152は、さまざまなチャンバおよびサブプロセッサを制御するために工業環境で使用され得るコンピュータプロセッサの任意の形態の1つでよい。メモリ154は、CPU152に結合され、ランダムアクセスメモリ(RAM)、読取専用メモリ(ROM)、フラッシュメモリ、コンパクトディスク、フロッピーディスク、ハードディスク、またはローカルまたはリモートのデジタル記憶装置の任意の他の形態のものなどの容易に入手可能なメモリの1つまたは複数でよい。支援回路156は、CPU152を従来の方法で支援するためにCPU152に結合される。これらの回路は、キャッシュ、電源、時計回路、入力/出力回路、サブシステムなどを含む。
流体送出回路136は、通常、プロセスチャンバ106の作動の必要に応じて、キャリヤガス源105、アンプル100、およびプロセスチャンバ106を流体的に結合することが意図されている。キャリヤガス源105は、ローカル容器、リモート容器、または設備全体にわたってキャリヤガスを供給する集中型供給設備(たとえばインハウスガス供給)でよい。キャリヤガス源105は、典型的には、窒素、水素、アルゴン、ヘリウム、またはその組合せなどのキャリヤガスを供給する。パージ液体などの特殊なパージ流体の使用が必要とされるときには、追加のパージ流体源(図示せず)もまた、流体送出回路136に流体的に結合されてよい。流体送出回路136は、典型的には、キャリヤガス源105と接合部130の間に配設された流量制御器120を含み、流体送出回路136を通り抜けるキャリヤガスまたは他の流体の流速を調節するように適合されている。流量制御器120は、比例バルブ、調節器、ニードルバルブ、調整バルブ、質量流量制御器(MFC)などでよい。接合部130は、流体送出回路136をガス発生ライン138とバイパスライン140に分離する。接合部132は、プロセスチャンバ106に連結する前にガス発生ライン138およびバイパスライン140を再び接合させる。
ガス発生ライン138は、アンプル入口レッグ138aと、アンプル出口レッグ138bと、バルブ108、110、112と、センサ126、128と、ディスコネクト継手162、163と、加熱器122とを含む。アンプル入口レッグ138aは、アンプル100の入口をキャリヤガス源105およびバイパスライン140に流体的に結合させる。アンプル出口レッグ138bは、アンプル組立体100の出口をプロセスチャンバ106およびバイパスライン140に流体的に結合させる。バルブ108、110および112は、典型的には、流体送出回路136内の流体の流れを転換させるように働く、ならびに/あるいはセンサ126、128、加熱器122、およびアンプル組立体100を含む絶縁された構成要素の取り外し、取り換えおよび/または保守を容易にするために、流体送出回路136内のさまざまな構成要素を選択的に絶縁するために使用される遠隔的に制御可能な遮断バルブである。(バイパスライン140と併用して以下で説明する)バルブ108、110、112ならびにバルブ114、116、118は、通常、空気圧でまたは電気的に制御され、その内部の接液面は、流体送出回路136によって取り扱われるプロセスおよび他の流体と互換性のある材料から製作される。典型的には、バルブ108、110、112、114、116、および118は、流体送出回路136を通り抜けるガスの送出と連動する制御器150からの信号に応答して動作させる。ガス発生ライン138の導管に接して配設された熱電対などのセンサ126、128は、通常、ガス発生ライン138を通り抜けるプロセス、キャリヤ、および/またはパージ流体の温度を検出するように適合されている。
バイパスライン140は、通常、バルブ114、116および加熱器124を含み、ガス発生ライン138またはアンプル組立体100を使用せずに、プロセスチャンバ106とキャリヤガス源105を流体的に結合させるように働く。バルブ118は、通常、接合部132とプロセスチャンバ106の間に結合され、プロセスチャンバ106を流体送出回路136から絶縁するために使用され得る。加熱器122、124は、抵抗加熱要素、またはガス発生ライン138およびバイパスライン140をそれぞれ通り抜けて流れるキャリヤガスなどの流体の流れを加熱するように適合された他の熱源である。
アンプル組立体100は、通常、アンプル、または本体170と、入口ライン164と、出口ライン165と、ディスコネクト継手162b、163bと、入口ライン164、165それぞれに配設された手動遮断バルブ、手動バルブ160、161とを含有する。デッドレッグ導管セグメント171bは、入口ライン164内の手動バルブ160とディスコネクト継手162の間に配設され、デッドレッグ導管セグメント172bは、出口ライン165内の手動バルブ161とディスコネクト継手163の間に配設される。アンプル組立体100はまた、バブラ、キャニスタ、および化学前駆物質を貯蔵、運搬、および分配するように設計され、使用されるコンテナを説明するための当技術分野で知られている他の用語として表すことができる。入口ライン164は、ディスコネクト継手162においてアンプル入口レッグ138aに結合され、出口ライン165は、ディスコネクト継手163においてアンプル出口レッグ138bに結合される。ディスコネクト継手162、163は、典型的には、ガス発生ライン138およびその構成部分などのガスパネル104のすべての他の構成要素を所定の位置に残しながら、ガスパネル104内でのアンプル組立体100の取り外しおよび取り換えを容易にするように適合されている。この目的のため、ディスコネクト継手162、163は、典型的には、対合するディスコネクト継手162a、162bおよび163a、163bをそれぞれ含み、この場合、ディスコネクト継手162b、163bは、アンプル組立体100に内在しており、対応するディスコネクト継手162a、163aは、流体送出回路136に含有される。用途に応じて、ディスコネクト継手162a、162bおよび163a、163bは、クイックディスコネクトタイプの継手、VCR継手などの再封止可能な真空気密継手、または他の適切なディスコネクト継手でよい。
アンプル組立体100は、多様なサイズおよびジオメトリを有することができる。アンプル組立体100は、約0.5Lから約10L、より典型的には約1.2Lから約4Lの範囲内の化学前駆物質の容積容量を有することができる。1つの例では、アンプル組立体100は、約2.5Lの化学前駆物質の容積容量を有する。アンプル組立体100内に入り得る化学前駆物質としては、好ましくは所定の温度および/または圧力において液体または流体様の状態の、液体、固体、およびガス状の前駆物質が挙げられる。たとえば、化学前駆物質は、室温において固定状態で存在し得るが、アンプル内で所定の温度に加熱された際、溶解して液体状態になる。別の例では、化学前駆物質の大部分は、アンプル内で固体状態のままになり得るが、処理中、高温に加熱され、それにより、固体前駆物質の少量が昇華して直接蒸気になる。別の例では、化学前駆物質は、周囲圧力においてガス状の状態で存在し得るが、アンプル内で所定の圧力に加圧された際、凝縮して液体状態になる。
プロセスガスを形成するために使用され得る固体化学前駆物質としては、ペンタキス(ジメチルアミド)タンタル(PDMAT;Ta(NMe)、ペンタキス(ジエチルアミド)ターシャリーアミルイミド−トリス(ジメチルアミド)タンタル(TAIMATA、(AmylN)Ta(NMe、この場合Amylは、ターシャリーアミル基(C11−またはCHCHC(CH−)である、またはそれらの誘導体などのタンタル前駆物質が挙げられる。1つの実施形態では、PDMATは、低ハロゲン含有量(たとえばCl、F、I、またはBr)を有する。PDMATは、約100ppm未満のハロゲン濃度を有することができる。たとえば、PDMATは、約100ppm未満、好ましくは約20ppm未満、より好ましくは約5ppm未満、より好ましくは約100ppbまたはそれ以下などの約1ppm未満の塩素濃度を有することができる。
昇華プロセスによってプロセスガスを形成するために使用され得る他の固体化学前駆物質としては、四塩化ハフニウム(HfCl)、二フッ化キセノン、ニッケルカルボニル、およびタングステンヘキサカルボニルまたはそれらの誘導体が挙げられる。他の実施形態では、液体化学前駆物質を蒸発させて本明細書で説明したアンプル内でプロセスガスを形成することができる。プロセスガスを形成するために使用され得る他の化学前駆物質としては、六フッ化タングステン(WF)などのタングステン前駆物質、タンタル(PDEAT;Ta(NEt)、ペンタキス(メチルエチルアミド)タンタル(PMEAT;Ta(NMeEt))、t−ブチルイミノ−トリス(ジメチルアミノ)タンタル(TBTDMT、BuNTa(NMe)、t−ブチルイミノ−トリス(ジエチルアミノ)タンタル(TBTDET、BuNTa(NEt)、t−ブチルイミノ−トリス(メチルエチルアミノ)タンタル(TBTMET、BuNTa(NMeEt))、またはそれらの誘導体などのタンタル前駆物質、四塩化チタン(TiCl)、テトラキス(ジメチルアミノ)チタン(TDMAT、(MeN)Ti))、テトラキス(ジエチルアミノ)チタン(TEMAT、(EtN)Ti))またはそれらの誘導体などのチタン前駆物質、ビス(エチルシクロペンタジエニル)ルテニウム((EtCp)Ru)などのルテニウム前駆物質、テトラキス(ジメチルアミノ)ハフニウム(TDMAH、(MeN)Hf))、テトラキス(ジエチルアミノ)ハフニウム(TDEAH、(EtN)Hf))、テトラキス(メチルエチルアミノ)ハフニウム(TMEAH、(MeEtN)Hf))またはそれらの誘導体などのハフニウム前駆物質、および1−メチルピロリドラジン:アラン(MPA、MeCN:AlH)、ピリジン:アラン(CN:AlH)、アルキルアミンアラン複合体(たとえばトリメチルアミン:アラン(MeN:AlH)、トリエチルアミン:アラン(EtN:AlH)、ジメチルエチルアミン:アラン(MeEtN:AlH))、トリメチルアルミニウム(TMA、MeAl)、トリエチルアルミニウム(TEA、EtAl)、トリブチルアルミニウム(BuAl)、塩化ジメチルアルミニウム(MeAlCl)、塩化ジエチルアルミニウム(EtAlCl)、水素化ジブチルアルミニウム(BuAlH)、塩化ジブチルアルミニウム(BuAlCl)またはそれらの誘導体などのアルミニウム前駆物質が挙げられる。
処理中、キャリヤガスは、キャリヤガス源105から流体送出回路136を通り抜けてアンプル組立体100に流れる。キャリヤガスは、加熱器122によって加熱することができ、アンプル組立体100は、所望の温度に加熱することができ、あるいは、一部の用途では、キャリヤガスおよびアンプル組立体100の両方を加熱することができる。処理中、バルブ114および116は閉じられて、すべてのキャリヤガスをガス発生ライン138およびアンプル組立体100を介してプロセスチャンバ106に流れるように方向付ける。
アンプル組立体100の取り外しおよび取り換えの前に実施される最初のポンプパージ手順中、手動バルブ160、161は閉じられる。これによって、本体170がガス発生ライン138から絶縁される。ポンプパージ手順のポンプダウンセグメント中、キャリヤガス源105もまた、キャリヤガス源105と流体送出回路136の間に位置する遮断バルブ(図示せず)によって流体送出回路136から絶縁される。プロセスチャンバ106用の真空源が、典型的には、流体送出回路136およびアンプル組立体100のデッドレッグ導管セグメント171b、172bをポンプダウンするために使用される。あるいは、流体送出回路136に流体的に結合された真空ポンプなどの専用の真空源が使用されてよい。いずれのケースも、真空源から絶縁されていない流体送出回路136のすべての構成要素は、ガスパネル104内の必要なバルブを開くことにより、所望の真空レベル、たとえば低真空、中真空、高真空などにポンプダウンされる。たとえば、プロセスチャンバ106用の真空源が流体送出回路136をポンプダウンするために使用されるとき、プロセスチャンバ106を流体送出回路136に流体的に結合させるためにバルブ118が開かれ、バイパスライン140がアンプル入口レッグ138aを流体的に真空に結合させるようにバルブ114および116が開かれ、導管セグメント171、172およびデッドレッグ導管セグメント171b、172bを流体的に真空に結合させるためにバルブ110および112が開かれる。ポンプダウンセグメント中に目標とされる真空の所望のレベルは、それぞれの個々のCVDまたはALD用途によって決まり、前駆物質の蒸発圧力、除去される他の残留物、および流体送出ラインの長さなどの要因の関数となる。1つの実施形態では、アンプル組立体100の手動バルブ160、161を閉じるために、パージされていない流体送出ラインが存在するにもかかわらず、作業員がガスパネル104内に入ることがある。
ポンプパージ手順のパージセグメントに関しては、キャリヤガス源105などのパージ流体源が流体送出回路136に流体的に結合され、所望のパージ流体がその中に導入される。所望のパージ流体は、不活性ガスまたは他のキャリヤガスなどのガス、またはテトラヒドロフラン(THF)もしくはトリグライムなどの溶剤を含む液体でよい。パージ流体の組成は、パージされる対象の化学残留物の物理的状態および化学構造によって決まり、固体粒子および低蒸発圧力液体は、時に1つまたは複数の液体溶剤パージを必要とする。さらに、パージ流体はまた、不要な化学残留物の除去を助けるために、パージセグメント中、流体送出回路136内に導入される前または加熱器122、124によって加熱されてよい。1つの例ではプロセスチャンバ106などの真空源は、パージセグメント中に流体送出回路136から絶縁されてよく、あるいはこの真空源は、パージセグメント全体にわたってパージ流体を連続的に除去するために流体送出回路136に流体的に結合されてよい。パージ流体の活発な流れは、パージ手順中、主にバイパスライン140に沿って起こり得る。アンプル入口レッグ138aおよびアンプル出口レッグ138b内へのパージ流体の活発な流れは、流体送出回路のこれら2つのセクションがパージセグメントの開始時にパージ流体で逆充填されるときにだけ起こる。故に、アンプル入口レッグ138aおよびアンプル出口レッグ138bは、相当な長さの広範囲に及ぶデッドレッグとして作用し、数多くの流れを制限するエルボを含む可能性がある。さらに、アンプル取り換え中、大気に晒される流体送出回路136の領域、すなわち導管セグメント171、172、およびデッドレッグ導管セグメント171b、172bは汚染されやすくなることがあり、それに備えて全面的なパージになることがある。しかし、導管セグメント171、172およびデッドレッグ導管セグメント171b、172bは、上記で説明したデッドレッグの遠位端部に位置しており、効果的にパージすることが困難な流体送出回路136の領域である。
取り外し中、バルブ110および112は、導管セグメント171、172を流体送出回路136から流体的に絶縁するために閉じられ、ディスコネクト継手162、163は、アンプル組立体100の取り外しを可能にするために分離され、この場合、対合するディスコネクト継手162b、163bは、アンプル組立体100に内在し、これと共に取り外される。上記で留意したように、アンプル遮断バルブ、すなわち手動バルブ160、161は、アンプル組立体100内に含有される前駆物質化学物質に長い間晒された後、必ずしも完全に漏れないとは限らないことがある。単一の絶縁点が、入口ライン164および出口ライン165、すなわち手動バルブ160、161それぞれにおいてアンプル組立体100で使用されるため、消耗したアンプルをガスパネル104から取り外す間、アンプル組立体100内外に漏れが存在する可能性がある。新たに満たされたアンプルが、ディスコネクト継手162、163において流体送出回路136に再連結される。
新しいアンプル組立体100の設置後、すべての流体送出連結点またはアンプルの取り外し/取り換え中に破損した他の封止部、この例ではディスコネクト継手162、163の漏れが確認される。漏れ確認により、汚染物質が流体送出回路136内に引き込まれておらず、有毒な化学前駆物質が、処理中、アンプル組立体100から漏れ出ないことが確認される。ディスコネクト継手162、163のいずれもが真空気密でない場合、アンプル組立体100の化学内容物とデッドレッグ導管セグメント171b、172b内に漏れた可能性があるあらゆる汚染物質との間には、単一の絶縁点しか存在しない。
したがって、ガスラインをできるだけ完璧にパージし、ガスキャビネット内に入ることを最小限に抑えてポンプパージ手順を実施し、前駆物質を含有するアンプルの取り外しおよび設置の前、その間、およびその後にそのようなアンプル内外の漏れの可能性を低減するための機器およびプロセスが必要となる。
一部の実施形態では、前駆物質アンプルは、入口導管および出口導管を含有し、バイパスラインと、入口および出口導管を流体的に連結する遠隔的に制御可能なバルブとを含むようにも構成される。態様はまた、アンプルの入口および出口導管の両方上に直列に構成された1対の遮断バルブを企図し、この場合、バルブの各対は、1/4回転ボールバルブなどのポジティブ封止手動バルブ、および空気バルブなどの遠隔的に制御可能なバルブを含む。態様はさらに、前駆物質アンプルの一部またはすべての構成要素をHeなどの不活性ガスで満たすまたは逆充填することを企図する。1つの例では、前駆物質を含有するアンプル組立体の本体および入口および出口ラインが、大気圧を上回る不活性ガスで満たされる。別の例では、前駆物質を含有するアンプル組立体の入口および出口ラインのセグメントが、大気圧を上回る不活性ガスで満たされる。本発明の別の態様は、熱伝導性コーティングの1つまたは複数の層を介してその内容物のより均一な加熱をもたらすアンプル本体を企図する。
化学的互換性および機械的強度という理由のため、本体270は、典型的には、316ステンレス鋼(316 SST)などのステンレス鋼から作製される。高反応性材料などの化学前駆物質のさまざまなタイプが本体270内に貯蔵され得るので、本体270の材料は、極めて化学的に不活性であるべきである。かなりの大きさの機械的強度が、アンプル組立体200の本体270に対する望ましい特性となる。一部の実施形態では、本体270は、プロセス中、大気圧を下回って作動させることがあり、運搬および貯蔵に関しては大気圧を上回って加圧されることがある。故に、本体270は、真空チャンバとしてまたは圧力容器として利用されながらも、毒性の化学前駆物質用の信頼できる格納容器として作用しなければならない。
316 SSTは、熱伝導性に関しては不十分な媒体であるため、使用中、本体200内部に望ましくない温度勾配が生じることがある。たとえば、液体の化学前駆物質が本体200内部に含有されるとき、液体前駆物質が消耗されるにつれて、ますます多くの本体200の容積が蒸気充填されていき、本体200の不十分な熱伝導性の結果、アンプルの寿命の後期において液体前駆物質内に加熱むら(たとえばホットスポット)が生じることがある。別の例では、本体200が固体の化学前駆物質を含有する場合など、本体200の不十分な熱伝導性が、アンプルの全寿命にわたってホットスポットを生み出すことがある。いずれのケースにおいても、CVDプロセスまたはALDプロセスは、そのような温度の不均一性によって有害な影響が及ぼされ得る。
1つの実施形態では、アンプル組立体200に含有された化学前駆物質の温度の均一性は、図3Aおよび3G〜3Hに描くように、本体270全体にわたる熱伝導を改良するために本体270上に配設された熱伝導性材料を含有する熱伝導層350によって改良され得る。熱伝導層350は、簡易なコーティングでよく、あるいは316 SSTなどのより強度があるがより不十分な熱伝導性材料の内側層と外側層の間に挟まれた中間層でよい。図3Gは、本体270の部分的な断面概略図を示しており、熱伝導層350は、1つまたは複数の機械的により強度のある材料の2つの層352a、352bの間に挟まれる。図3Hは、本体270の部分的な断面概略図を示しており、この場合、複数の熱伝導層350が、1つまたは複数の機械的により強度のある材料の複数の層352c、352d、および352eの間に挟まれて層状構造を形成している。
別の実施形態では、図3Iに描くように、接着層354が、熱伝導層350を本体270上に堆積させる前に本体270上に配設され得る。接着層354は、単一層または複数層を含有することができ、電子ビーム(eビーム)スパッタプロセス、物理的気相堆積(PVD)プロセス、CVDプロセス、ALDプロセス、電気化学めっき(ECP)プロセスまたは無電解堆積プロセスなどのさまざまな堆積プロセスによって本体270上に堆積または形成され得る。接着層354は、チタン、タンタル、タングステン、ルテニウム、コバルト、それらの合金、またはそれらの組合せを含有することができる。1つの例では、接着層は、チタンまたはタンタルを含有し、eビームプロセス、PVDプロセス、またはECPプロセスによって本体270のステンレス鋼表面に対して堆積される。
熱伝導層350は、図3Aに描くように、アンプル組立体300aの本体270上のまたはそれを覆うコーティングとして示されている。しかし、熱伝導層350を、図3B〜3Fで図示する実施形態に容易に組み込むこともできる。熱伝導層350は、電気めっきまたは他のコーティング方法によって本体270に施与され得る。熱伝導層350用の材料候補の例としては、アルミニウム、窒化アルミニウム、銅、黄銅、銀、チタン、窒化ケイ素、それらの合金、それらの組合せ、または本体270の大半に含有される材料よりも実質的により多くの熱伝導を行う他の熱伝導性材料が挙げられる。熱伝導層350の厚さは、約2μmから約3mmの範囲内でよい。
熱伝導層350は、単一層または複数層を含有することができ、電子ビーム、PVD、CVD、ALD、ECPまたは無電解堆積プロセスなどのさまざまな堆積プロセスによって本体270または接着層354上に堆積または形成され得る。1つの例では、熱伝導層350は、アルミニウムまたはアルミニウム合金を含有し、eビームプロセス、PVDプロセス、またはECPプロセスによって本体270のステンレス鋼表面または接着層354に対して堆積される。別の例では、熱伝導層350は、銅または銅合金を含有し、eビームプロセス、PVDプロセス、またはECPプロセスによって本体270のステンレス鋼表面または接着層354に対して堆積される。
図3Aは、本発明の1つの態様の概略図であり、この場合、前駆物質アンプル、すなわちアンプル組立体300aは、遠隔的に制御可能なバルブ301が中に配置された内在するバイパスライン302を備えて構成される。図4Aは、アンプル組立体300aの斜視図である。バルブ301は、電気モータまたは任意の他の遠隔的に制御可能な手段によって空気圧で動作させることができる。アンプル組立体300a、バイパスライン302、バルブ301および手動バルブ260、261は、アンプル組立体300aの取り外しおよび取り換え中、一体的な組立体になるように適合されている。アンプル組立体300aは、ディスコネクト継手262bおよび263bを介して、図2Aに示すガスパネル204などのガスパネルに流体的に結合され得る。図2Aは、アンプル組立体300aが流体的に結合された流体送出システム235aの概略図である。アンプル組立体300aをアンプル組立体200の代わりに代用する以外は、流体送出システム235aは、図2Aを併用して上記で説明したように、機能および機構において流体送出システム202と実質的に同一である。
この態様は、ガス発生ライン238およびその構成部分をパージ流体がそこを活発に流れることによって効果的にポンプパージすることを可能にする。図2Aを参照すると、ポンプパージ手順中、バルブ214、216が閉じられて、すべてのパージ流体をアンプル入口レッグ238a、バイパスライン302、およびアンプル出口レッグ238bを通り抜けるように進めることができる。ポンプパージ手順中、流体送出回路236内に唯一残るデッドレッグは、1〜3mほどの短さになり得、さらにどのようなエルボもまたは流体の流れに対する他の障害物も有さない、デッドレッグ導管セグメント271b、272bである。故に、この態様では短く、真っすぐなデッドレッグであるデッドレッグ導管セグメント271b、272bを、アンプル組立体300aの取り換えの前後により効果的にパージすることができる。
図3Bは、本発明の別の態様の概略図であり、この場合、前駆物質アンプル、すなわちアンプル組立体300bは、2つの追加の遠隔的に制御可能な遮断バルブ、すなわちバルブ267、268ならびに遠隔的に制御可能なバルブ301が中に配設されたバイパスライン302を備えて構成される。図4Bは、アンプル組立体300bの斜視図である。バルブ267、268は、図3Aを併用してバルブ301に関して上記で詳述したようにいくつかの遠隔的に制御可能な手段によって作動させることができる。アンプル組立体300b、バイパスライン302、手動バルブ260、261、およびバルブ301、267、268は、アンプル組立体300bの取り外しおよび取り換え中、一体的な組立体になるように適合されている。アンプル組立体300bは、図2Bに示されるように、ガスパネル204に流体的に結合され得る。図2Bは、アンプル組立体300bが流体的に結合された流体送出システム235bの概略図である。アンプル組立体300をアンプル組立体200の代わりに代用する以外は、流体送出システム235bは、図2Aを併用して上記で説明したように、機能および機構において流体送出システム202と実質的に同一である。
この態様は、前述の態様において上記で説明したように、ガス発生ライン238およびその構成部分を、パージ流体がそこを活発に流れることによって効果的にポンプパージすることを可能にする。加えて、保守要員がガスパネル204に入ることなく、アンプルの取り換え前にポンプパージ手順を実施することができる。バルブ301およびバルブ267、268が、制御器250を介して遠隔的に閉じられて、アンプル入口レッグ238aおよびアンプル出口レッグ238bを、プロセスチャンバ206などの真空源およびキャリヤガス源205などのパージ流体源に流体的に結合させることができる。これは、ガスパネル204内への入室およびその中での手動バルブの操作が、流体送出回路236が安全にポンプパージされるまで必要とされないので、重要な安全上の利点である。普通、保安要員は、ポンプパージ手順を開始する前に手動バルブ260、261を閉じるためにガスパネル204に入らなければならない。さらに、アンプル組立体300bは、入口ライン264および出口ライン265のための、周囲汚染からの2つの絶縁地点、明確に言うと手動バルブ260、バルブ267および手動バルブ261、バルブ268をそれぞれ有する。この冗長性は、手動バルブ260、261が漏れている場合に、アンプル組立体300b内外の漏れのリスクを最小限に抑える。アンプルの取り外し、漏れ確認、およびポンプパージの間、アンプルの内容物に対する絶縁点は、1つだけ存在してよい。
図5は、アンプル組立体300bをポンプパージするためのプロセス順序500を示している。ステップ501では、バルブ267、268が制御器250を介して遠隔的に閉じられて、本体270をアンプル入口レッグ238aおよびアンプル出口レッグ238bから絶縁する。ステップ502では、バイパスバルブ301が制御器250を介して遠隔的に開かれて、アンプル入口レッグ238a、アンプル出口レッグ238b、ならびに入口ライン264および出口ライン265の大部分を流体的に結合させる。真空源は、プロセスチャンバ206に関連する真空源でよい。ステップ503では、流体送出回路236、バイパスライン302、入口ライン264、および出口ライン265が、所望の真空のレベルまでポンプダウンされる。ステップ504では、キャリヤガスなどのパージ流体、または一部のケースでは液体溶剤が、次いで、真空化されたラインを通り抜けて流される。所望であれば、加熱器222がパージ流体を加熱することができる。パージ流体源が、図2Bに示すように流体送出回路236に関連して構成されるとき、パージ流体は、アンプル入口レッグ238aを介してアンプル組立体300bに入り、バイパスライン302を通り抜けて流れ、アンプル出口レッグ238bを介してアンプル組立体300bから離れる。加えて、パージ流体は、バイパスライン302に流体的に結合された入口ライン264および出口ライン265の一部分を逆充填する。パージ流体がアンプル組立体300bを通り抜けて流れる持続時間および流速は、使用されるパージ流体、導管サイズ、不要な残留物の化学組成、およびライン内に存在するその量によって決まる。ステップ505では、ポンプパージ手順の完了が確認される。所望のラインのパージが完了した場合、プロセスはステップ506に続き、ここでは、アンプル組立体300bが、ガスパネル204から取り外される。さらなるポンプパージステップが望まれる場合、プロセスはステップ503に戻る。望まれるポンプパージの反復数は、使用されるパージ流体、導管サイズ、不要な残留物の化学組成およびライン内に存在し得るその量などの要因に応じて変わる。
図3Cは、本発明の別の態様の概略図である。この態様では、アンプル組立体300cは、図3Bに示すようなアンプル組立体300bのものに類似する内在するバルブ組立体を備えて構成される。中に配設された遠隔的に制御可能なバルブ301cを有する内在するバイパスライン302Cは、前述の2つの態様と同様にデッドレッグ導管セグメント271b、272bを流体的に結合させるが、この態様では、バイパスライン302Cとデッドレッグ導管セグメント271b、272bとの連結点は、接合部315、316それぞれに位置している。接合部315は、手動バルブ260とバルブ267の間に配設され、接合部316は、手動バルブ261とバルブ268の間に配設される。アンプル組立体300cは、図2Cに示されるように、ガスパネル204に流体的に結合され得る。図2Cは、アンプル組立体300cが流体的に結合された流体送出システム235cの概略図である。アンプル組立体300cをアンプル組立体200の代わりに代用する以外は、流体送出システム235cは、図2Aを併用して上記で説明したように、機能および機構において流体送出システム202と実質的に同一である。
この態様は、本発明の前述の態様に関して上記で説明したように、ガス発生ライン238およびその構成部分を効果的にポンプパージすることを可能にする。加えて、この態様は、ポンプパージ手順中、パージ流体を、活発に手動バルブ260、261を通過させる手段を提供する。図2C、3Cを参照すると、バルブ301cおよびバルブ267、268が、制御器250を介して遠隔的に閉じられて、アンプル組立体300cの取り外し前にバルブ267、268をより完璧にパージすることが可能になり得る。加えて、ポンプパージ手順中に存在するデッドレッグのサイズは、デッドレッグ導管セグメント271b、272b、すなわち接合部315とバルブ267の間に位置する導管セグメントおよび接合部316とバルブ268の間に位置する導管セグメントに縮小される。故にこの態様に関するデッドレッグ導管セグメント271b、272bは、図3Bに示す前述の態様に関するデッドレッグ導管セグメント271b、272bに比べて、長さにおいて実質的に縮小される。
図3Dは、本発明の別の態様の概略図である。この態様では、アンプル組立体300dは、図3Cに示すアンプル組立体300cのものに類似する内在するバルブ組立体を備えて構成される。中に配設された遠隔的に制御可能なバルブ301dを有する内在するバイパスライン302dは、前述の2つの態様と同様にデッドレッグ導管セグメント271b、272bを流体的に結合させるが、この態様では、第2のバイパスライン304dが、その中に配設された遠隔的に制御可能なバルブ303dを備えて構成される。アンプル組立体300dは、図2A〜2Cにおいてアンプル組立体300A〜300Cに関して示したように、ガスパネル204に流体的に結合され得る。
図3E〜3Fは、本発明の2つの他の態様を示している。アンプル組立体300e、300fは、それぞれ、図3Cにおいて上記で示したように、アンプル組立体300cのものに類似する内在するバルブ組立体を備えて構成される。図3Eに示す態様では、バイパスライン302eおよびその中に配設された遠隔的に制御可能なバルブ301eは、入口ライン264を出口ライン265に流体的に結合させる。バイパスライン302eは、手動バルブ260とバルブ267の間で入口ライン264に連結され、手動バルブ261とディスコネクト継手263bの間で出口ライン265に連結される。図3Fに示される態様では、バイパスライン302fおよびその中に配設された遠隔的に制御可能なバルブ301fは、入口ライン264を出口ライン265に流体的に結合させる。バイパスライン302fは、手動バルブ260とディスコネクト継手262bの間で入口ライン264に連結され、手動バルブ261とバルブ268の間で出口ライン265に連結される。
上記で留意したように、本発明の一部の態様では、前駆物質アンプルの一部またはすべての構成要素は、ヘリウムなどの不活性ガスで満たされる。この利点は、2点からなる。第1に、アンプル本体を不活性ガスの加圧雰囲気で満たすことにより、たとえばアンプル組立体内の封止部またはバルブのいずれかを通していくらかの漏れが起きた場合でも、アンプル本体内に含有された前駆物質が化学的に保護される。これは、固体前駆物質を含有するアンプル組立体に特に当てはまる。第2に、図2を併用して上記で説明したような漏れ確認手順中、入口ラインをヘリウムで満たすことにより、新しいアンプルの設置後、流体送出システム202外側からディスコネクト継手262、263内への漏れ(図2を参照)だけでなく、手動バルブ260、261などの入口ライン264および出口ライン265内に位置する最も外側の遮断バルブを通り抜ける漏れの漏れ確認が可能になる。手動バルブ260、261などの遮断バルブを通り抜ける一般的な漏れ速度は、外側、すなわちバルブの外側封止部を通り抜ける一般的な漏れ速度よりもかなり早くなり得るため、手動バルブ260、261を通り抜ける漏れの確認は重要な手順である。アンプル本体が不活性ガスで満たされることが望ましくない場合、これは特定の液体前駆物質のケースになり得るが、入口および出口ラインのあるセグメントだけに不活性ガスを満たすことができる。たとえば図2Bを参照すると、手動バルブ260とバルブ267の間に配設された入口ライン264のセグメントおよび手動バルブ261とバルブ268の間に配設された出口ライン265のセグメントが、不活性ガスで満たされたアンプル組立体300aの唯一の領域であり得る。
アンプル組立体300a〜300fに類似するアンプルの内部特徴のより詳細な説明が、特許請求された本発明と一致する程度までその全体が参照によって本明細書に組み込まれた、2005年10月7日に出願され、US2007−0079759として公開された、本願の譲受人に譲渡された米国特許出願第11/246,890号にさらに記載されている。
上記で留意したように、延長された期間、高反応性の化学前駆物質に晒される手動バルブ260、261(2A〜2Cに図示する)などの遮断バルブの封止表面は、損傷を受け、所望通りに封止しないことがある。これは、アンプル組立体が固体前駆物質を含有する場合に特に当てはまる。加熱されたキャリヤガスによって溶解した固体前駆物質は、必要な温度に維持されない場合、引き続いてキャリヤガスから沈殿し、遮断バルブの封止表面上で凝縮することがあり、それによって真空気密の封止が妨げられ、バルブの取り換えが必要とされる。アンプル組立体のバルブの取り換えは比較的頻繁に生じるため、容易な保守性もまた重要な考慮事項である。
図6A〜6Bは、容易に保守可能な遮断バルブを備えたアンプル組立体600の1つの実施形態を概略的に示している。図6Aは、概略側面図であり、図6Bは、概略頂面図である。アンプル組立体600は、バルブ組立体610と、アンプル本体270と、入口連結部620と、出口連結部621とを含む。1つの実施形態では、アンプル組立体600の設置および処理システムからの取り外しの繰り返しを容易にするために、入口連結部620は、好ましくは1/4インチ(6.35mm)VCR連結部であり、出口連結部621は、好ましくは1/2インチ(1.27cm)VCR連結部である。バルブ組立体610は、これもまた容易に取り外されるように構成された遮断バルブ611および612を含む。遮断バルブ611および612は、好ましくは、VCR継手(明確にするために図示せず)を介してバルブ組立体610に装着され、バルブ組立体610およびアンプル組立体600の他の構成要素から好適な間隔を有するように配置される。1つの例では、遮断バルブ611および612は、バルブ組立体610からの取り外しおよびそれへの設置のための適切なアクセスを可能にするために3.25インチ(8.26cm)離して配置される。
熱伝導性コーティングを含有する追加のアンプル
本発明の実施形態は、気相堆積処理システムにおいて使用される化学前駆物質を発生させるための機器およびプロセスを提供する。機器は、中の内部容積を取り囲む側壁、上部、および底部を有するキャニスタ(たとえばアンプルまたは容器)と、内部容積と流体連通する入口ポートおよび出口ポートと、キャニスタの外側表面を覆って配設された熱伝導性コーティングとを含む。熱伝導性コーティングは、鋼またはステンレス鋼でよいキャニスタの外側表面よりも高い熱伝導性のものである。熱伝導性コーティングは、アルミニウム、窒化アルミニウム、銅、黄銅、銀、チタン、窒化ケイ素、またはそれらの合金を含有することができる。一部の実施形態では、接着層(たとえばチタンまたはタンタル)が、キャニスタの外側表面と熱伝導性コーティングの間に配設され得る。他の実施形態では、キャニスタは、その中の固体前駆物質を均等に加熱するのを助けるために複数のバッフルまたは固体の熱伝達粒子を含有することができる。
別の実施形態では、アンプル組立体700は、図7A〜7Dに描くように、熱伝導性コーティング750をその上に含有するアンプル710を含む。アンプル710は、多様な構成を有することができるアンプル本体712、アンプル上部714、およびアンプル底部716を含有する。たとえば、アンプル710は、いずれも取り外し可能であるアンプル上部714およびアンプル底部716を備えたアンプル本体712(図7A)、一体型のアンプル本体712およびアンプル底部716ならびに取り外し可能なアンプル上部714(図7B)、一体型のアンプル本体712およびアンプル上部714ならびに取り外し可能なアンプル底部176(図7C)、または一体型のアンプル本体712、アンプル上部714、およびアンプル底部716(図7D)を含有することができる。
アンプル本体712、アンプル上部714、およびアンプル底部716の各々は、鋼、ステンレス鋼、ニッケル、クロム、アルミニウム、またはそれらの合金などの金属から独立的に作製される。たいてい、化学的互換性および機械的強度という理由のため、アンプル本体712、アンプル上部714、およびアンプル底部716の各々は、316ステンレス鋼(316 SST)などのステンレス鋼から独立的に作製される。高反応性材料などの化学前駆物質のさまざまなタイプがアンプル710内に貯蔵され得るので、アンプル710は、極めて化学的に不活性である材料から形成され得る。かなりの大きさの機械的強度が、アンプル組立体700のアンプル710に対する望ましい特性となる。一部の実施形態では、アンプル710は、プロセス中、大気圧を下回って作動させることがあり、運搬および貯蔵に関しては大気圧を上回って加圧されることがある。故に、アンプル710は、真空チャンバとしてまたは圧力容器として利用されながらも、毒性の化学前駆物質用の信頼できる格納容器として作用しなければならない。
316 SSTは、熱伝導性に関しては不十分な媒体であるため、使用中、アンプル710内部に望ましくない温度勾配が生じることがある。たとえば、固体の前駆物質がアンプル710内部に含有されるとき、アンプル710の不十分な熱伝導性の結果、固体の前駆物質内に加熱むら(たとえばホットスポット)が生じることがある。したがって、CVDプロセスまたはALDプロセスは、そのような温度の不均一性によって有害な影響が及ぼされ得る。
1つの実施形態では、アンプル組立体700に含有された化学前駆物質の温度の均一性は、図7A〜7Dに描くように、アンプル710全体にわたる熱伝導を改良するためにアンプル710上またはそれを覆って配設された熱伝導性材料を含有する熱伝導コーティング710によって改良され得る。熱伝導性コーティング750は、簡易なコーティングでよく、あるいは316 SSTなどのより強度があるがより不十分な熱伝導性材料の内側層と外側層の間に挟まれた中間層でよい。
アンプル710は、アンプル本体712、アンプル上部714、およびアンプル底部716の各々上のまたはそれを覆う熱伝導性コーティング750を含有する。熱伝導性コーティング750は、アンプル本体712上のまたはそれを覆う本体コーティング752と、アンプル上部714上のまたはそれを覆う上部コーティング754と、アンプル底部716上のまたはそれを覆う底部コーティング756とを含有することができる。本体コーティング752、上部コーティング754、および底部コーティング756の各々は、異なる材料または同じ材料でよい。好ましくは、各々の本体コーティング752、上部コーティング754、および底部コーティング756は、熱伝導材料を含有する。また、各々の本体コーティング752、上部コーティング754、および底部コーティング756は、アンプル本体712、アンプル上部714、およびアンプル底部716の表面上にそれぞれ直接的に堆積されてよく、あるいはアンプル本体712、アンプル上部714、およびアンプル底部716上に最初に堆積された接着層を覆って堆積されてよい。
接着層は、単一層または複数層を含有することができ、eビームプロセス、PVDプロセス、ECPプロセス、CVDプロセス、ALDプロセス、ECPプロセスまたは無電解堆積プロセスなどのさまざまな堆積プロセスによってアンプル本体712、アンプル上部714またはアンプル底部716上に堆積または形成され得る。接着層は、チタン、タンタル、タングステン、ルテニウム、コバルト、それらの合金またはそれらの組合せを含有することができる。接着層の厚さは、約1μmから約250μmの範囲内でよい。1つの例では、接着層は、チタンまたはタンタルを含有し、eビームプロセス、PVDプロセス、またはECPプロセスによってアンプル本体712、アンプル上部714、およびアンプル底部716のステンレス鋼表面に対して堆積される。
アンプル組立体700のアンプル710上のまたはそれを覆う熱伝導性コーティング750が、図7A〜7Dに示されている。熱伝導性コーティング750の候補材料の例としては、アルミニウム、窒化アルミニウム、銅、黄銅、銀、チタン、窒化ケイ素、それらの合金、それらの組合せ、またはステンレス鋼など、アンプル本体712、アンプル上部714、およびアンプル底部716内に含有される材料よりも実質的により多くの熱伝導を行う他の熱伝導性材料が挙げられる。熱伝導性コーティング750の厚さは、約2μmから約3mmの範囲内でよい。
熱伝導性コーティング750は、単一層または複数層を含有することができ、eビーム、PVD、CVD、ALD、ECP、または無電解堆積プロセスなどのさまざまな堆積プロセスによってアンプル710またはその上の接着層の上またはそれを覆って堆積または形成され得る。1つの実施形態では、熱伝導性コーティング750は、図3G〜3Iに描くように、複数層を含有することができる。1つの例では、熱伝導性コーティング750は、アルミニウムまたはアルミニウム合金を含有し、eビームプロセス、PVDプロセス、またはECPプロセスによってアンプル710のステンレス鋼表面または接着層に対して堆積される。別の例では、熱伝導コーティング750は、銅または銅合金を含有し、eビームプロセス、PVDプロセス、またはECPプロセスによってアンプル700のステンレス鋼表面またはその上の接着層に対して堆積される。
アンプル組立体700はまた、アンプル上部714に結合され、それと流体連通するバルブアセンブル780を含有することもできる。1つの実施形態では、バルブアセンブル780は、入口ライン782と、入口バルブ784と、出口ライン786と、出口バルブ788とを含有することができる。入口790は、アンプル710を化学前駆物質で充填するために使用され得る。1つの例では、入口790は、1/4インチ(6.35mm)VCR連結器または1/2インチ(1.27cm)VCR連結器などのVCR連結部でよい。
代替の実施形態では、図8Aおよび8F〜8Gは、多様な任意選択の特徴および構成を伴った底部801および蓋803を有する本体802を含有するアンプル組立体800の断面概略図を描いている。本体802は、内側の壁表面805および内側の底部表面806を含有し、一方で蓋803は、内側の蓋表面804を含有する。化学前駆物質816をアンプル組立体800内に維持し、空気がアンプル組立体800に入らないようにするために気密性の封止部を形成するために、蓋803と本体802の間に封止部830が配設される。封止部830は、内側の蓋表面804の一部またはすべてを覆うことができる。たとえば、封止部830は、内側の蓋表面804のかなりの部分を覆うことができ、締結具を受け入れるための穴を含有する。
図8Aおよび8F〜8Gに描くように、熱伝導性コーティング890が、アンプル組立体800の外側表面上またはそれを覆って配設される。アンプル組立体800の外側表面は、本体802、底部801、および蓋803などのアンプル本体、アンプル上部、およびアンプル底部を含む。熱伝導性コーティング890は、アンプル組立体800の表面上に直接的に堆積されてよく、あるいはアンプル組立体800上に最初に堆積された接着層を覆って堆積されてよい。
接着層は、単一層または複数層を含有することができ、eビームプロセス、PVDプロセス、ECPプロセス、CVDプロセス、ALDプロセス、ECPプロセスまたは無電解堆積プロセスなどのさまざまな堆積プロセスによってアンプル組立体800上にまたはそれを覆って堆積または形成され得る。接着層は、チタン、タンタル、タングステン、ルテニウム、コバルト、それらの合金またはそれらの組合せを含有することができる。接着層の厚さは、約1μmから約250μmの範囲内でよい。1つの例では、接着層は、チタンまたはタンタルを含有し、eビームプロセス、PVDプロセス、またはECPプロセスによってアンプル組立体800のステンレス鋼表面に対して堆積される。熱伝導性コーティング890の候補材料の例としては、アルミニウム、窒化アルミニウム、銅、黄銅、銀、チタン、窒化ケイ素、それらの合金、それらの組合せ、またはステンレス鋼などの、アンプル組立体800内に含有される材料よりも実質的により多くの熱伝導を行う他の熱伝導性材料が挙げられる。熱伝導性コーティング890の厚さは、約2μmから約3mmの範囲内でよい。
熱伝導性コーティング890は、単一層または複数層を含有することができ、eビーム、PVD、CVD、ALD、ECP、または無電解堆積プロセスなどのさまざまな堆積プロセスによってアンプル組立体800またはその上の接着層の上またはそれを覆って堆積または形成され得る。1つの実施形態では、熱伝導性コーティング890は、図3G〜3Iに描くように、複数層を含有することができる。1つの例では、熱伝導性コーティング890は、アルミニウムまたはアルミニウム合金を含有し、eビームプロセス、PVDプロセス、またはECPプロセスによってアンプル組立体800のステンレス鋼表面または接着層に対して堆積される。別の例では、熱伝導コーティング890は、銅または銅合金を含有し、eビームプロセス、PVDプロセス、またはECPプロセスによってアンプル組立体800のステンレス鋼表面またはその上の接着層に対して堆積される。
入口組立体821は、入口ポート840内にねじ込まれるなどして蓋803に取り付けられた入口チューブ810aを含有する。入口組立体821はまた、出口ポート841内にねじ込まれるなどして蓋803に取り付けられた出口チューブ812も含有する。入口チューブ810aは、内側の底部表面806の水平面に相対して先細にされた角度αを備えた出口端部811aを含有する。出口端部811aは、出口チューブ812に跳ね上げられる化学前駆物質816の量を最小限に抑えるために出口チューブ812の反対方向に角度付けされ得る。出口チューブ812は、内側の底部表面806の水平面に相対して先細にされた角度αを備えた入口端部813を含有する。
1つの実施形態では、角度αおよびαは、独立的に、約0°から約70°、好ましくは約30°から約60°、より好ましくは約45°などの約40°から約50°の範囲内でよい。1つの例では、図8Aおよび8Fに描くように、出口端部811aは、約45°の角度αを有し、入口端部813から離れるように配置され、入口端部813は、約45°の角度αを有し、出口端部811aに向かうように配置される。別の例では、図8Gに描くように、出口端部811aは、約45°の角度αを有し、入口端部813から離れるように配置され、入口端部813は、約45°の角度αを有し、出口端部811aから離れるように配置される。
アンプル組立体800は、さらに、内側の蓋表面804に取り付けられた跳ねよけ820を含有する。ボルト、ねじ、リベットなどの締結具822が、封止部830を通り抜けて内側の蓋表面804内に突出することができる。あるいは、跳ねよけ820は、接着または溶接を用いるなどの他の技術によって内側の蓋表面上に配置されてよい。また、跳ねよけ820は、内側の壁表面805または内側の底部表面806に取り付けられてよい。跳ねよけ820は、内側の底部表面806から相対して角度αで配置され得る。1つの実施形態では、跳ねよけ820は、入口端部813の角度αと等しい角度αで配置され得る。角度αは、約0°から約90°、好ましくは約30°から約60°、より好ましくは約45°などの約40°から約50°の範囲内でよい。
図8B〜8Eは、入口ステムのステム先端部の種類を示している。1つの態様では、図8Bは、出口端部811bを出るキャリヤガスの流れをアンプル組立体800内の内側の蓋表面804の方に方向付けるために「J」形状を有する出口端部811bを備えた入口チューブ810bを描いている。出口端部811bは、約135°から約180°、好ましくは約160°から約180°、より好ましくは約170°から約180°の範囲内の、入口チューブ810bの軸から相対する角度で配置され得る。別の態様では、図8Cは、入口チューブ810cの端部および少なくとも1つの開口部817を塞ぐキャップ815を有する出口端部811cを備えた入口チューブ810cを描いている。出口端部811cは、キャリヤガスの流れをアンプル組立体800全体にわたるように方向付けることができる。たいてい、開口部817を出るキャリヤガスは、典型的には、入口チューブ810cの軸から相対して垂直に方向付けられる。したがって、キャリヤガスの流れは、アンプル組立体800を通り抜ける直接的な(線形の)ガスの流れを防止し、化学前駆物質816の衝突または跳ね上げを最小限に抑えるために内側の壁表面805の方に方向付けられる。別の態様では、図8Dは、キャリヤガスの流れを内側の壁表面805の方に向けるために曲がり形状ステムを有する出口端部811dを備えた入口チューブ810dを描いている。出口端部811dもまた、化学前駆物質816の衝突または跳ね上げを最小限に抑えるためにアンプル組立体800を通り抜ける直接的なガスの流れを防止する。通常、出口端部811dは、約5°から約175°、好ましくは約45°から約135°、より好ましくはたとえば約90°などの約60°から約120°の範囲内の、入口チューブ810dの軸から相対する角度で配置され得る。別の態様では、図8Eは、入口チューブ810eから相対する直線または実質的に直線の出口端部811eを備えた入口チューブ810eを描いている。出口端部81leは、キャリヤガスの流れを内側の底部表面806の方に方向付けることができる。入口チューブ810eは、約0°から約20°、好ましくは約0°から約10°、より好ましくは約0°から約5°の範囲内の、入口チューブ810eの軸から相対する角度で配置され得る。
出口組立体823は、蓋803内にねじ込まれ、バルブ860bに結合された出口チューブ812を含有する。出口チューブ812は、内側の蓋表面804の水平面に対して先細にされた角度αを備えた入口端部813を含有する。角度αは、出口チューブ812内に跳ね上げられる化学前駆物質816の量を最小限に抑えるために、出口端部811aの反対方向に配置され得る。代替の実施形態では、出口チューブ812は、入口端部813をチューブ出口端部811b〜811eのいずれかで代用することができる。
アンプル組立体800の1つの実施形態では、出口組立体823は、ガス出口808で出口チューブ812に連結されたトラップ850を含有する。波立った(たとえば衝突したまたは跳ね上げられた)化学前駆物質816は、キャリヤガス中に同伴され、跳ねよけ820を迂回し、プロセスチャンバに向かって出口チューブ812内に運ばれる前駆物質の液滴を形成することがある。トラップ850は、任意選択で、化学前駆物質816のそのような前駆物質の液滴がプロセスチャンバに到達することを防止するためにガス出口808に結合される。トラップ850は、トラップ本体852の中央ライン856を超えて延び、アンプル組立体800に向かって少なくともわずかに下向きに角度付けされた複数の交互配置されたバッフル854を含有するトラップ本体852を含む。バッフル854は、ガスを、バッフル854周りの入り組んだ経路を流れるようにプロセスチャンバに向かって進める。バッフル854の表面区域は、流れるプロセスガス中に同伴され得る前駆物質の液滴を接着させるための露出区域を提供する。バッフル854の下向きの角度は、トラップ850内に蓄積されたどのような前駆物質の液滴も下向きに流れてアンプル組立体800内に戻ることを可能にする。
アンプル組立体800は、入口ポート840および入口チューブ810aを通り抜けるガスの流れを制御するためのバルブ860aと、出口ポート841および出口チューブ812を通り抜けるガスの流れを制御するためのバルブ860bとを含有する。バルブ860aおよび860bは、空気バルブまたは手動バルブでよい。バルブ860aは、入口チューブ810aに直接的に連結される、または蓋803、トラップ850、別のバルブ、導管または同様のもの(図示せず)を介して結合されるなどして、入口チューブ810aと単に流体連通するだけでよい。同様に、バルブ860bは、トラップ850に直接に連結され、導管、蓋、別のバルブ、または同様のもの(図示されず)を介して結合されるなどして、出口チューブ812と流体連通することができる。通常、バルブ860aは、キャリヤガス源とアンプル組立体800の間のどのような場所でもよく、一方でバルブ860bは、アンプル組立体800とプロセスチャンバの間のどのような場所でもよい。
雌型継手862a、862bおよび雄型継手864a、864bを含有する対合するディスコネクト継手が、図1に描くガス送出システム104などのガス送出システムへのおよびそこからのアンプル組立体800の取り外しおよび取り換えを容易にするために、バルブ860a、860bに結合され得る。バルブ860a、860bは、典型的には、アンプル組立体800を、効率的に装填され再循環されるガス送出システムから取り外すことを可能にしながら、充填、運搬、またはガス送出システムへの結合中、アンプル組立体800からの潜在的な漏れを最小限に抑えるボールバルブまたは他のポジティブ封止弁である。あるいは、アンプル組立体800は、図3Aに描く補給ポート218に類似する補給ポートを通して補給されてよい。
アンプル組立体800の別の実施形態では、少なくとも1つのサイロまたはバッフルが、入口チューブ810aと出口チューブ812の間に配設されてよい。バッフル842cおよび842dは、図8Aに描くように底部表面806などの本体802からアンプル組立体800の内部に延びることができる。バッフル842aおよび842bは、蓋表面804などの蓋803からアンプルの内部に延びることができる。バッフル842a〜842dは、延長された中間流路を生み出し、それによってキャリヤガスが入口チューブ810aおよび出口チューブ812から直接的に(たとえば直線ラインで)流れるのが防止される。延長された中間流路は、アンプル組立体800におけるキャリヤガスの平均滞留時間を増大させ、キャリヤガスによって運ばれる気化した前駆物質ガスの量を増大させる。加えて、バッフル842a〜842dは、キャリヤガスをアンプル組立体800内に配設された化学前駆物質816の露出面全体を覆うように方向付け、それによって、ガス発生特性の反復性および化学前駆物質816の効率的な消費が確実にされる。1つの実施形態では、バッフル844は、図8Fに描くように底部表面806に取り付けられ、それに結合され、またはそれから形成されてよい。別の実施形態では、バッフル844は、図8Gに描くように、底部表面806上に配設されたバッフル挿入体846に取り付けられ、それに結合され、またはそれから形成されてよい。
バッフル842a〜842dの数、間隔、および形状は、前駆物質ガスを最適に発生させるようにアンプル組立体800を合わせるように選択され得る。たとえば、より多くの数のバッフル842a〜842dが、より早いキャリヤガス速度を化学前駆物質816において付与するために選択されてよく、あるいはバッフル842a〜842dの形状が、前駆物質材料のより効率的な使用のために化学前駆物質816の消費を制御するように構成されてよい。1つの例では、アンプル組立体800内に配設されたバッフル842a〜842dは、ステンレス鋼から製作された4枚の矩形のプレートを含有する。バッフル842a〜842dは、底部表面806、蓋803、および/または内側の壁表面805に、互いに対して平行に、または実質的に平行に溶接または別の形で締め付けられ得る。バッフル842a〜842dは、図8Aに示すように、蛇行形の延長された中間流路を形成するために、交互になる形でキャニスタの両側に交互配置され、締め付けられる。
別の実施形態では、アンプル組立体800およびその中の化学前駆物質816はそれぞれ、所定の温度で調節され得る。図8Aは、アンプル組立体800の下側領域と上側領域の間に制御可能な温度勾配を生み出すように構成された熱媒体870に囲まれたアンプル組立体800の断面図を示している。1つの例では、熱媒体870は、その中に配設された加熱要素872を含有するキャニスタ加熱器である。別の例では、熱媒体870は、その中に配設された加熱要素872を含有する保温ジャケット加熱器である。加熱要素872は、アンプル組立体800の下側領域または上側領域などの特定の領域近くでより多くの熱を発生させるように構成され得る。制御器874は、加熱要素872に対するパワーレベルを調整することによってアンプル組立体800の温度を調節するために使用され得る。あるいは、冷却機器(図示せず)が、アンプル組立体800および化学前駆物質816の温度を調節するために使用され得る。
別の実施形態では、アンプル組立体800は、化学前駆物質816と接触する粒子状物質818を含有することができ、化学前駆物質816全体にわたって熱を伝達するのを助ける。粒子状物質818の材料は、好ましくは、高い熱伝導性および高い熱容量を備えたものである。粒子状物質818は、ステンレス鋼、アルミニウム、ニッケル、クロム、チタン、ジルコニウム、タングステン、タンタル、それらの合金またはそれらの組合せなどの金属から形成または製作され、かつそれらを含有することができる。粒子状物質818は、温度調節に有用な可変の表面区域を提供するために任意の多種多様な形状を有することができる。たとえば、粒子状物質818は、球状、円筒状、円錐状、楕円状、正多面体状、または不定形の多面体状、他のジオメトリ、それらの派生物、またはそれらの組合せでよい。粒子状物質818は、平滑な、起伏のある、またはパターン化された表面または質感を有することができる。起伏のある表面を含む粒子状物質818は、化学前駆物質816の温度調節を支援するのに利用可能なより大きな表面積を有する。粒子状物質818は、同じまたは異なる形状およびサイズを有することができ、粒子状物質818のジオメトリは、通常、粒子状物質818の密度、多孔性、組成、ならびにアンプル組立体800の内部容積および形状、化学前駆物質816のタイプ、および堆積プロセス中のプロセスガス発生の所望の量などの数多くのパラメータに応じて選択される。1つの例では、PDMATおよびステンレス鋼の粒子状物質818を含有するスラリーまたは混合物が、アンプル組立体800内に含有される。
したがって、アンプル組立体800は、本明細書で説明した実施形態の任意のものと並行して構成および利用され得る多くの任意選択の特徴を提供する。アンプル組立体800に類似するアンプルの内部特徴のより詳細な説明は、特許請求された本発明と一致する程度までその全体が参照によって本明細書に組み込まれた、2005年10月7日に出願され、US2007−0079759として公開された、本願の譲受人に譲渡された米国特許出願第11/246,890号にさらに記載されている。段階式先端部(入口および出口)、ディスコネクト継手(雄型および雌型)、トラップ、バッフル、加熱器、温度調節器などの任意選択のアンプルの付属品、または前駆物質の粒子状物質に関連するさらなる開示は、本願の譲受人に譲渡された米国特許第6,905,541号、同第6,915,592号、および同第7,186,385号、2002年10月25日に出願され、US2003−0121608号として公開された、米国特許出願第10/281,079号に記載されており、これらの文献はそれぞれ、本明細書の一部の実施形態において使用され得る任意選択のアンプル付属品および構成を説明するために、参照によって本明細書に組み込まれる。
加熱式バルブマニホールド
図9A〜9Mは、本明細書の実施形態において説明したバルブマニホールド組立体900を描いている。バルブマニホールド組立体900は、アンプル、バブラ、キャニスタ、または化学化合物を貯蔵、収集、分注する、または蒸発させるのに使用される類似のリザーバに装着または連結されてよい。バルブマニホールド本体902は、バルブマニホールド組立体900の中核であり、たいてい、鋼、ステンレス鋼、鉄、ニッケル、クロム、アルミニウムまたはそれらの誘導体またはそれらの合金などの金属を含有し、それから作製される。たいていは化学的互換性および機械的強度により、バルブマニホールド本体902は、316ステンレス鋼(316 SST)などのステンレス鋼から作製される。1つの実施形態では、バルブマニホールド900のバルブマニホールド本体902および他の部分は、塩素、フッ素、それらの化合物またはそれらの誘導体に対して耐性である、または実質的に耐性である。
図9A〜9Mに描くように、バルブマニホールド本体902は、前部912、背部914、側部916、側部917、上部918、および底部919を含有する。上側入口904は、側部916上に配置され、上側出口906は、上部918上に配置され、下側出口908および下側入口910の両方は、底部919上に配置される。しかし、入口および出口の配置に対する他の構成もまた、代替の実施形態で成功裏に実施されている。たとえば、図示しない構成では、上側入口904および上側出口906は、いずれも上部918上に配置されてよく、一方で下側出口908および下側入口910は、いずれも底部919上に配置されてよい。
1つの実施形態では、図9Cは、さまざまなチャネルまたは通路がバルブマニホールド本体902内に図示された図9Aの断面図を描いている。入口チャネル950は、上側入口904から下側出口908に延び、一方で出口チャネル952は、下側入口910から上側出口906に延びる。入口チャネル950の通路に沿って、手動バルブ920および空気バルブ924が、図9A〜9Mに描くように、バルブマニホールド本体902に取り付けられまたは結合され、入口チャネル950内の流体の流れを制御するように配置される。また、手動バルブ922および空気バルブ926が、出口チャネル952の通路に沿ってバルブマニホールド本体902に取り付けられまたは結合され、出口チャネル952内の流体の流れを制御するように配置される。本明細書では、チャネル、通路、導管、ライン、チューブ、管は、入口チャネル950、出口チャネル952、およびバイパスチャネル954を部分的にまたは全体的に説明するために使用され得る。1つの実施形態では、入口チャネル950および出口チャネル952は、バルブマニホールド本体902に連結された導管、管、またはチュービングを通り抜けて延びることができる。たとえば、入口チャネル950は、下側出口908を形成する導管907を通り抜けて延びることができ、出口チャネル952は、下側入口910を形成する導管909を通り抜けて延びることができる。一部の実施形態では、バルブマニホールド組立体用の流体流路および通路は、図3Cに描くアンプル組立体300cの流体流路に非常に類似している、または同一でさえある。
バイパスチャネル954は、入口チャネル950と出口チャネル952の間を延び、それらを流体連通するように連結する。バイパスバルブ928が、バイパスチャネル954の通路に沿ってバルブマニホールド本体902に取り付けられまたは結合され、バイパスチャネル954内の流体の流れを制御するように配置される。開位置にあるバイパスバルブ928は、バイパスチャネル954を介する入口チャネル950と出口チャネル952の間の流体連通をもたらす。あるいは、閉位置にあるバイパスバルブ928は、バイパスチャネル954を介する入口チャネル950と出口チャネル952の間の流体連通を止める。バイパスバルブ928は、手動バルブでよく、好ましくは空気バルブである。本明細書で説明した実施形態において有用な手動および空気バルブは、Swagelok Co.社から入手可能である。手動および空気バルブは、バルブマニホールド本体または他の本体に、バルブマニホールド本体内にねじ込むまたはボルト締めする主要シャフトを有することによって、またはバルブマニホールド本体上に取り付けられる(たとえばねじ込まれる、ボルト締めされる、リベット締めされる)基部を有することによってなど、多様な方法によって取り付けることができる。1つの実施形態では、空気バルブは、約0.1秒から約2秒の範囲内の期間続く開/閉サイクルで有効にされるALDまたはCVDバルブでよい。1つの例では、空気バルブは、約0.1秒続く開/閉サイクルで有効にされるALDバルブでよい。
別の実施形態では、図9E〜9Iは、バルブマニホールド組立体900およびバルブマニホールド本体902内のチャネルまたは通路のさまざまな図を描いている。入口チャネル950は、上側入口904から下側出口908に延び、一方で出口チャネル952は、下側入口910から上側出口906に延びる。入口チャネル950の通路に沿って、手動バルブ920および空気バルブ924は、図9A〜9Cに描くようにバルブマニホールド本体902に取り付けられまたは結合され、入口チャネル950内の流体の流れを制御するように配置される。また、手動バルブ922および空気バルブ926は、出口チャネル952の通路に沿ってバルブマニホールド本体902に取り付けられまたは結合され、出口チャネル952内の流体の流れを制御するように配置される。本明細書では、チャネル、通路、導管、ライン、チューブ、管は、入口チャネル950、出口チャネル952、およびバイパスチャネル954を部分的にまたは全体的に説明するために使用され得る。1つの実施形態では、入口チャネル950および出口チャネル952は、バルブマニホールド本体902に連結された導管、管、またはチュービングを通り抜けて延びることができる。たとえば、入口チャネル950は、下側出口908を形成する導管907を通り抜けて延びることができ、出口チャネル952は、下側入口910を形成する導管909を通り抜けて延びることができる。一部の実施形態では、バルブマニホールド組立体の流体流路および通路は、図3Cに描くアンプル組立体300c用の流体流路に非常に類似している、または同一でさえある。
バイパスチャネル954は、入口チャネル950と出口チャネル952の間を延び、それらの一部分を含む。バイパスバルブ928は、バイパスチャネル954の通路に沿ってバルブマニホールド本体902に取り付けられまたは結合され、バイパスチャネル954内の流体の流れを制御するように配置される。開位置にあるバイパスバルブ928は、バイパスチャネル954を介する入口チャネル950と出口チャネル952の間の流体連通をもたらす。あるいは、閉位置にあるバイパスバルブ928は、バイパスチャネル954を介する入口チャネル950と出口チャネル952の間の流体連通を止める。バイパスバルブ928は、手動バルブでよいが、好ましくは空気バルブである。本明細書で説明した実施形態において有用な手動および空気バルブは、Swagelok Co.社から入手可能である。手動および空気バルブは、バルブマニホールド本体または他の本体に、バルブマニホールド本体内にねじ込むまたはボルト締めする主要シャフトを有することによって、またはバルブマニホールド本体上に取り付けられる(たとえばねじ込まれる、ボルト締めされる、リベット締めされる)基部を有することによってなど、多様な方法によって取り付けることができる。
バルブマニホールド本体902は、バルブマニホールド本体902を所定の温度に加熱するために使用され得る少なくとも1つ、好ましくは複数の加熱器カートリッジ940、たとえば2つ、3つ、4つ、5つ、6つまたはそれ以上の加熱器カートリッジ940を含有する。加熱器カートリッジ940は、絶縁可能なカートリッジ内に含有された、および/またはバルブマニホールド本体902内に内蔵された抵抗加熱要素でよい。加熱器カートリッジ940は、バルブマニホールド本体902の金属組成の高い熱伝導性により、バルブマニホールド本体902を素早く均等に加熱する。したがって、加熱器カートリッジの具体的な数量は、熱を素早く均等に伝達する要望およびバルブマニホールド本体902に望ましい具体的な温度に基づいて選択され得る。
図9Bおよび9J〜9Kは、各々が個々の加熱器カートリッジポート938内にある4つの加熱器カートリッジ940を含有するバルブマニホールド組立体900を描いている。加熱器カートリッジポート938は、バルブマニホールド本体902のさまざまな表面を通り抜けてバルブマニホールド本体902内に形成され得る。たとえばバルブマニホールド本体902の側部916は、加熱器カートリッジポート938内に含有された2つの加熱器カートリッジ940を含有し、バルブマニホールド本体902の背部914は、加熱器カートリッジポート938内に含有された2つの加熱器カートリッジ940を含有する。1つの例では、加熱器カートリッジ940は、ステンレス鋼製シース内に電気加熱要素を含有する。バルブマニホールド本体902を加熱するために使用され得る加熱器カートリッジ940などの抵抗加熱要素または電気加熱器カートリッジは、ミズーリ州セントルイス所在のWatlow Electric Manf.Co社から入手可能である。
他の加熱源が、バルブマニホールド本体902、ならびにそこを通り抜けるガスまたは流体を加熱するように適合され得る。代替の実施形態では、熱伝達流体は、バルブマニホールド本体902内の独立した曲がりくねったチャネルを通り抜けて循環され得る(図示せず)。曲がりくねったチャネルは、液体、ガス、または流体などの被加熱源などの流体リザーバ(たとえば循環水槽)に各々が連結された入口および出口を有する。
熱電対930が、ポート935に取り付けられた入口934を通り抜けてバルブマニホールド本体902に挿入され、加熱プロセス中、バルブマニホールド本体902の温度を監視するために使用され得る。ポート935は、図9Eに描くようにバルブマニホールド本体902内に形成され得る。計測器932は、熱電対930によって測定されたバルブマニホールド本体902の温度を表示する。バルブマニホールド本体902の温度を測定し、監視するために使用され得る熱電対は、ミズーリ州セントルイス所在のWatlow Electric Manf.Co社から入手可能である。センサ942は、加熱器カートリッジ940に供給されるパワーをバルブマニホールド本体902の所定の温度に低減または止めるようにプログラムまたは事前設定されたサーモスタットまたは温度過昇防止センサでよい。センサ942は、各加熱器カートリッジ940に連結され、これを制御する。センサ942は、図9Bに描くように、バルブマニホールド本体902に取り付けられ得る。
別の実施形態では、図9Dおよび9L〜9Mは、アンプル1110に結合され、それと流体連通するバルブマニホールド組立体900を含有するアンプル組立体990を描いている。1つの例では、アンプル1110は、アンプル本体1112およびアンプル蓋1114を含有する。また、バルブマニホールド組立体900の入口チャネル950は、アンプル蓋1114上の入口に連結され、それと流体連通する下側出口908を形成する導管907を通り抜けて延びることができる。同様に、バルブマニホールド組立体900の出口チャネル952は、アンプル蓋1114上の出口に結合され、それと流体連通する下側入口910を形成する導管909を通り抜けて延びることができる。
冷却ループまたは冷却プレートなどの冷却デバイス1120が、図9L〜9Mに描くように、アンプル1110と物理的に接触し、温度を下げるために使用され得る。冷却デバイス1120は、熱を吸収するための液体、ガス、または他の熱伝達流体、たとえば窒素ガス、または清浄な乾燥空気(CDA)を流すことができる。1つの例では、アンプル1110の基部は、冷却ループに晒される。アンプル1110は、約40℃またはそれ以下、好ましくは室温または約20℃などの約25℃またはそれ以下の温度に冷却され得る。アンプル1110は、アンプル組立体990を送出システムまたはプロセスシステムから取り外す前に、アンプル内でガス状前駆物質を凝縮させるために冷却される。
図10A〜10Fは、本明細書の別の実施形態において説明したバルブマニホールド組立体1000を描いている。バルブマニホールド組立体1000は、アンプル、バブラ、キャニスタ、または化学化合物を貯蔵、収集、分注する、または蒸発させるのに使用される類似のリザーバに装着または連結され得る。バルブマニホールド本体1002は、バルブマニホールド組立体1000の中核であり、たいてい、鋼、ステンレス鋼、鉄、ニッケル、クロム、アルミニウム、それらの誘導体またはそれらの合金などの金属を含有し、それから作製される。たいていは化学的互換性および機械的強度により、バルブマニホールド本1002は、316 SSTなどのステンレス鋼から作製される。1つの実施形態では、バルブマニホールド1000のバルブマニホールド本体1002および他の部分は、塩素、フッ素、それらの化合物またはそれらの誘導体に対して耐性である、または実質的に耐性である。一部の例では、バルブマニホールド本体1002は、一片の金属から形成、製作、機械切削または成形されてよく、あるいは複数片の金属または他の材料から組み立てられてよい。
図10A〜10Fに描くように、バルブマニホールド本体1002は、前部1012、背部1014、側部1016、側部1017、上部1018、および底部1019を含有する。入口1004は、底部1019上に配置され、出口1006は、前部1012上に配置され、入口1008は、側部1016上に配置され、出口1010は、側部1017上に配置される。しかし、入口および出口の配置に対する他の構成もまた、代替の実施形態で成功裏に実施されている。たとえば、図示しない構成では、入口1004は、底部1019上に配置されてよく、一方で出口1006および入口1008は、いずれも上部1018上に配置されてよく、出口1010は、側部1017上に配置される。出口1006および入口1008は、VCR連結部を備えて示されているが、連結器の他のタイプも成功裏に使用されてきた。1つの例では、出口1006および入口1008の各々は、1/4インチ(6.35mm)VCR連結器または1/2インチ(1.27cm)VCR連結器などのVCR連結器を含有する。
1つの実施形態では、図10B〜10Fは、バルブマニホールド本体1002内のチャネルまたは通路の概略図を描いている。チャネル1050は、入口1004からチャネル1052までおよび出口1010まで内側に延びる。チャネル1052は、入口1008からチャネル1050および1054まで内側に延びる。チャネル1054は、チャネル1052から出口1006まで内側に延びる。
1つの実施形態では、ガス(たとえば堆積ガス)は、チャネル1050の通路に沿って(アンプルおよびまたはバルブ組立体900から入ってきて)入口1004に入ることができ、空気バルブ1026が、図10A〜10Fに描くようにバルブマニホールド本体1002に取り付けられまたは結合され、チャネル1050内の流体の流れを制御するように配置される。流体は、迂回部(divert)に向かう出口1006への、または処理チャンバに向かう出口1010への流れになり得る。空気バルブ1024が、チャネル1052の通路に沿ってバルブマニホールド本体1002に取り付けられまたは結合され、チャネル1052内の流体の流れを制御するように配置される。流体(たとえばパージガス)は、入口1008から、チャネル1052を通り抜けて、空気バルブ1024を過ぎ、空気バルブ1028およびチャネル1050に、その後迂回部に向かって出口1006に、あるいは処理チャンバに向かって出口1010まで流れることができる。空気バルブ1026が、チャネル1054の通路に沿ってバルブマニホールド本体1002に取り付けられまたは結合され、チャネル1054内の流体の流れを制御するように配置される。本明細書では、チャネル、通路、導管、ライン、チューブ、管が、チャネル1050、1052、および1054を部分的にまたは全体的に説明するために使用され得る。
1つの例では、空気バルブ1024および1026を開位置に維持し、空気バルブ1028を閉位置に維持することによって、バイパスチャネルまたは通路が、入口1008と出口1006の間に、チャネル1052および1054を介して、両方向性で形成され得る。別の例では、空気バルブ1024および1028を開位置に維持し、空気バルブ1026を閉位置に維持することによって、バイパスチャネルまたは通路が、入口1008と出口1010の間に、チャネル1052および1050を介して両方向性で形成され得る。
バルブマニホールド本体1002は、バルブマニホールド本体1002を所定の温度に加熱するために使用され得る少なくとも1つ、好ましくは複数の加熱器カートリッジ1040、たとえば2つ、3つ、4つ、5つ、6つまたはそれ以上の加熱器カートリッジ1040を含有する。加熱器カートリッジ1040は、絶縁可能なカートリッジ内に含有された、および/またはバルブマニホールド本体1002内に内蔵された抵抗加熱要素でよい。加熱器カートリッジ1040は、バルブマニホールド本体1002の金属組成の高い熱伝導性により、バルブマニホールド本体1002を素早く均等に加熱する。したがって、加熱器カートリッジの具体的な数は、熱を素早く均等に伝達する要望およびバルブマニホールド本体1002に望ましい具体的な温度に基づいて選択され得る。
図10Aは、各々が個々の加熱器カートリッジポート1040(図示せず)を含有するためのものである3つの加熱器カートリッジポート1038を含有するバルブマニホールド組立体1000を描いている。加熱器カートリッジポート1038は、バルブマニホールド本体1002のさまざまな表面を通り抜けてバルブマニホールド本体1002内に形成され得る。たとえば、バルブマニホールド本体1002の側部1016は、3つの加熱器カートリッジポート1038を含有し、これらは、加熱器カートリッジを含有するために使用される。1つの例では、加熱器カートリッジ1040は、ステンレス鋼シース内に電気加熱要素を含有する。バルブマニホールド本体1002を加熱するために使用され得る加熱器カートリッジ1040などの抵抗加熱要素または電気加熱器カートリッジは、ミズーリ州セントルイス所在のWatlow Electric Manf.Co社から入手可能である。
他の加熱源が、バルブマニホールド本体1002、ならびにそこを通り抜けるガスまたは流体を加熱するように適合され得る。代替の実施形態では、熱伝達流体は、バルブマニホールド本体1002内の独立した曲がりくねったチャネル(図示せず)を通り抜けて循環され得る。曲がりくねったチャネルは、液体、ガス、または流体の被加熱源などの流体リザーバに各々が連結された入口および出口を有する。
熱電対は、入口1034を通り抜けてバルブマニホールド本体1002内に挿入され、加熱プロセス中、バルブマニホールド本体1002の温度を監視するために使用され得る。計測器1032は、熱電対によって測定されたバルブマニホールド本体1002の温度を表示する。バルブマニホールド本体1002の温度を監視するために使用され得る熱電対は、ミズーリ州セントルイス所在のWatlow Electric Manf.Co社から入手可能である。センサ1042は、加熱器カートリッジ1040に供給されるパワーをバルブマニホールド本体1002の所定の温度に低減または止めるようにプログラムまたは事前設定されたサーモスタットまたは温度過昇防止センサでよい。センサ1042は、各加熱器カートリッジ1040に連結され、これを制御する。センサ1042は、図10Aに描くように、バルブマニホールド本体1002に取り付けられ得る。
別の実施形態では、図11A〜11Dは、アンプル1110に結合され、それと流体連通するバルブマニホールド組立体900上に配設された、バルブマニホールド組立体1000を含有するアンプル組立体1100を描いている。加熱器カートリッジ940および1040は、加熱器カートリッジポート938および1038の外側に示されており、バルブマニホールド組立体900および1000を独立した所定の温度に独立的に加熱するために使用され得る。1つの例では、アンプル1110は、アンプル本体1112およびアンプル蓋1114を含有する。バルブマニホールド組立体1000は、バルブマニホールド本体1002の入口1004に結合され、それと流体流通するバルブマニホールド本体902の出口906によって、バルブマニホールド組立体900と流体流通することができる。また、バルブマニホールド組立体900の入口チャネル950は、アンプル蓋1114上の入口に連結され、それと流体連通する下側出口908を形成する導管907を通り抜けて延びることができる。同様に、バルブマニホールド組立体900の出口チャネル952は、アンプル蓋1114上の出口に結合され、それと流体連通する下側入口910を形成する導管909を通り抜けて延びることができる。
アンプル本体1112およびアンプル蓋1114は、鋼、ステンレス鋼、鉄、ニッケル、クロム、アルミニウム、それらの誘導体またはそれらの合金などの金属を独立的に含有しており、それから作製され得る。たいていは化学的互換性(たとえば高い塩素耐性)および機械的強度により、アンプル本体1112およびアンプル蓋1114は、316 SSTなどのステンレス鋼から作製される。一部の実施形態では、アンプル蓋1114は、約1/8インチ(3.18mm)から約3/8インチ(9.53mm)の範囲内、たとえば約1/4インチ(6.35mm)の厚さを有することができる。他の実施形態では、アンプル蓋1114は、アンプル1110内の熱保持および熱安定を増大させるために、より厚いものである。したがって、アンプル蓋1114は、約3/8インチ(9.53mm)から約3/4インチ(1.91cm)、好ましくは約7/16インチ(1.11cm)から約9/16インチ(1.43cm)、たとえば約1/2インチ(1.27cm)の厚さを有することができる。
1つの実施形態では、アンプル1110は、アンプル本体1112がアンプル本体170、270、712、および802になり得るように、本明細書において説明した前述のアンプルでよい。アンプル1110は、加熱粒子状物質、バッフル、サイロ、ノズル、偏向プレート、加熱シェルフ、および他の付属品、ならびにアンプル内で使用される、または本明細書において説明したような構成要素を含有することができる。別の実施形態では、アンプル1110として使用され得るアンプルは、Advanced Technology Materials、Inc社から入手可能なPROE−VAP(商標)送出システムとして市販されている。
1つの例では、アンプル組立体1100は、アンプル本体1112内に四塩化ハフニウムを含有する。バルブマニホールド組立体900および1100は、約150℃から約225℃、好ましくは約175℃から約200℃の範囲内の温度に加熱され得る。アンプル1110は、四塩化ハフニウムを支持し、加熱するためにアンプル本体1112内に含有された複数の金属加熱シェルフを含有することができる。
代替の実施形態では、アンプル組立体1100は、図11Cに描くように、冷却デバイス1120と、入口904を含有するマニホールド1130とを含有する。冷却ループまたは冷却プレートなどの冷却デバイス1120は、アンプル1110と物理的に接触し、温度を下げるために使用され得る。マニホールド1130は、入口904から流入するガスを加熱または温かく保つために使用される加熱マニホールドでよい。マニホールド1130は、バルブマニホールド組立体900に結合され得る。マニホールド1130は、バルブおよび加熱器(図示せず)を含有しており、約150℃から約225℃の範囲内の温度に加熱され得る。
別の実施形態では、気相堆積処理システムにおいて使用される化学前駆物質を発生させるための方法が提供されており、この方法は、バルブ組立体を約150℃から約225℃の範囲内の温度に加熱するステップを含み、この場合、バルブ組立体は、四塩化ハフニウムを含有するアンプルに結合され、それと流体連通しており、バルブ組立体は、少なくとも1つの内蔵された加熱器と、アンプルに結合され、それと流体連通する入口チャネルとを含有する。バルブ組立体は、さらに、バルブ組立体に結合され、入口チャネル内の流体の流れを制御するように配置された第1の空気バルブおよび第1の手動バルブと、アンプルに結合され、それと流体連通する出口チャネルと、バルブ組立体に結合され、出口チャネル内の流体の流れを制御するように配置された第2の空気バルブおよび第2の手動バルブと、バイパスチャネルであって、バイパスチャネルの第1の端部が入口チャネルに結合され、バイパスチャネルの第2の端部が出口チャネルに結合されたバイパスチャネルと、バルブ組立体に結合され、バイパスチャネル内の流体の流れを制御するように配置されたバイパスバルブとを含有する。方法は、さらに、四塩化ハフニウムを含有する堆積ガスを形成するために、キャリヤガスをガス源から入口チャネルを通り抜けてアンプル内へと流すステップと、四塩化ハフニウムを含有する堆積ガスをアンプルから出口チャネルを通り抜けて処理システムに流すステップとを提供する。
他の実施形態では、方法は、さらに、キャリヤガスの流れを停止させるステップと、アンプルを約40℃またはそれ以下の温度に冷却するステップと、第1および第2の空気バルブならびに第1および第2の手動バルブを閉じるステップと、アンプルを処理システムから取り外すステップとを含む。1つの例では、アンプルは、約25℃またはそれ以下の温度に冷却される。他の例では、バルブ組立体は、約175℃から約200℃の範囲内の温度に加熱される。バイパスバルブは空気バルブでよい。
別の実施形態では、方法は、さらに、バルブ組立体を約100℃から約350℃の範囲内の温度に加熱するステップを含み、この場合、バルブ組立体は、金属を含有する前駆物質を含有するアンプルに結合され、それと流体連通し、バルブ組立体は、少なくとも1つの内蔵された加熱器と、アンプルに結合され、それと流体連通する入口チャネルとを含有する。バルブ組立体は、さらに、バルブ組立体に結合され、入口チャネル内の流体の流れを制御するように配置された第1の空気バルブおよび第1の手動バルブと、アンプルに結合され、それと流体連通する出口チャネルと、バルブ組立体に結合され、出口チャネル内の流体の流れを制御するように配置された第2の空気バルブおよび第2の手動バルブと、バイパスチャネルであって、バイパスチャネルの第1の端部が入口チャネルに結合され、バイパスチャネルの第2の端部が出口チャネルに結合されたバイパスチャネルと、バルブ組立体に連結され、バイパスチャネル内の流体の流れを制御するように配置されたバイパスバルブとを含有する。方法は、さらに、金属を含有する前駆物質を含有する堆積ガスを形成するために、キャリヤガスをガス源から入口チャネルを通り抜けてアンプル内に流すステップと、金属を含有する前駆物質を含有する堆積ガスをアンプルから出口チャネルを通り抜けて処理システムに流すステップとを提供する。一部の例では、バルブ組立体は、約150℃から約275℃、好ましくは約175℃から約200℃の範囲内の温度に加熱されてよい。金属を含有する前駆物質は、HfClまたはPDMATでよい。
別の実施形態では、方法は、さらに、キャリヤガスの流れを停止させるステップと、アンプルを約40℃またはそれ以下の温度に冷却するステップと、第1および第2の空気バルブならびに第1および第2の手動バルブを閉じるステップと、アンプルを処理システムから取り外すステップとを含む。アンプルは、室温または約20℃などの約25℃またはそれ以下の温度に冷却され得る。冷却ループまたは冷却プレートが、アンプルと接触し、温度を下げるために使用され得る。冷却ループまたは冷却プレートは、熱を吸収するための液体、ガス、または他の熱伝達流体、たとえば窒素ガス、または清浄な乾燥空気(CDA)を流すことができる。1つの例では、アンプルの基部は、冷却ループに晒される。アンプルは、化学前駆物質を昇華または蒸発させるために加熱され得る。アンプルは、加熱器ジャケット、または当技術分野で知られているまたは本明細書において説明された他の加熱源によって加熱されてよい。1つの例では、基部、上部、および側部は、電気加熱ジャケットで独立的に巻き付けられる。
別の実施形態では、気相堆積処理システムにおいて使用される化学前駆物質を発生させるための方法が提供され、この方法は、バルブマニホールド組立体を含有するアンプルアセンブルを処理システムに取り付けるステップを含み、この場合、バルブマニホールド組立体は、化学前駆物質を含有するアンプルに結合され、それと流体連通し、バルブマニホールド組立体は、少なくとも1つの内蔵された加熱器と、アンプルに結合され、それと流体連通する入口チャネルとを含有する。バルブマニホールド組立体は、さらに、バルブマニホールド組立体に結合され、入口チャネル内の流体の流れを制御するように配置された第1の空気バルブおよび第1の手動バルブと、アンプルに結合され、それと流体連通する出口チャネルと、バルブマニホールド組立体に結合され、出口チャネル内の流体の流れを制御するように配置された第2の空気バルブおよび第2の手動バルブと、バイパスチャネルであって、バイパスチャネルの第1の端部が入口チャネルに結合され、バイパスチャネルの第2の端部が出口チャネルに結合されたバイパスチャネルと、バルブマニホールド組立体に結合され、バイパスチャネル内の流体の流れを制御するように配置されたバイパスバルブとを含有する。方法は、さらに、第1および第2の空気バルブを閉じた状態に維持しながら、第1および第2の手動バルブならびにバイパスバルブを開くステップと、バイパスチャネルならびに入口および出口のチャネルの上側部分を真空化するステップと、パージガスをバイパスチャネルならびに入口および出口のチャネルの上側部分を通り抜けるように流すステップと、バイパスバルブを閉じるステップと、続いて第1および第2の空気バルブを開くステップとを提供する。
アンプル組立体100、200、300、300a〜300f、600、700、800、および1100は、ALDプロセスまたはCVDプロセス中、化学前駆物質として使用される固体または液体の化学前駆物質を含有することができる。プロセスガスを形成するために使用され得る固体の化学前駆物質としては、ペンタキス(ジメチルアミド)タンタル(PDMAT;Ta(NMe)、ペンタキス(ジエチルアミド)ターシャリーアミルイミド−トリス(ジメチルアミド)タンタル(TAIMATA、(AmylN)Ta(NMe、この場合Amylは、ターシャリーアミル基(C11−またはCHCHC(CH−)である、またはそれらの誘導体などのタンタル前駆物質が挙げられる。1つの実施形態では、PDMATは、低ハロゲン含有量(たとえばCl、F、I、またはBr)を有する。PDMATは、約100ppm未満のハロゲン濃度を有することができる。たとえば、PDMATは、約100ppm未満、好ましくは約20ppm未満、より好ましくは約5ppm未満、より好ましくは約100ppbまたはそれ以下などの約1ppm未満の塩素濃度を有することができる。
昇華プロセスによってプロセスガスを形成するために使用され得る他の固体化学前駆物質としては、四塩化ハフニウム、二フッ化キセノン、ニッケルカルボニル、およびタングステンヘキサカルボニルまたはそれらの誘導体が挙げられる。他の実施形態では、液体化学前駆物質を、本明細書で説明したアンプル内でプロセスガスを形成するために蒸発させることができる。プロセスガスを形成するために使用され得る他の化学前駆物質としては、六フッ化タングステン(WF)などのタングステン前駆物質、タンタル(PDEAT;Ta(NEt)、ペンタキス(メチルエチルアミド)タンタル(PMEAT;Ta(NMeEt))、t−ブチルイミノ−トリス(ジメチルアミノ)タンタル(TBTDMT、BuNTa(NMe)、t−ブチルイミノ−トリス(ジエチルアミノ)タンタル(TBTDET、BuNTa(NEt)、t−ブチルイミノ−トリス(メチルエチルアミノ)タンタル(TBTMET、BuNTa(NMeEt))、またはそれらの誘導体などのタンタル前駆物質、四塩化チタン(TiCl)、テトラキス(ジメチルアミノ)チタン(TDMAT、(MeN)Ti))、テトラキス(ジエチルアミノ)チタン(TEMAT、(EtN)Ti))またはそれらの誘導体などのチタン前駆物質、ビス(エチルシクロペンタジエニル)ルテニウム((EtCp)Ru)などのルテニウム前駆物質、テトラキス(ジメチルアミノ)ハフニウム(TDMAH、(MeN)Hf))、テトラキス(ジエチルアミノ)ハフニウム(TDEAH、(EtN)Hf))、テトラキス(メチルエチルアミノ)ハフニウム(TMEAH、(MeEtN)Hf))またはそれらの誘導体などのハフニウム前駆物質、および1−メチルピロリドラジン:アラン(MPA、MeCN:AlH)、ピリジン:アラン(CN:AlH)、アルキルアミンアラン複合体(たとえばトリメチルアミン:アラン(MeN:AlH)、トリエチルアミン:アラン(EtN:AlH)、ジメチルエチルアミン:アラン(MeEtN:AlH))、トリメチルアルミニウム(TMA、MeAl)、トリエチルアルミニウム(TEA、EtAl)、トリブチルアルミニウム(BuAl)、塩化ジメチルアルミニウム(MeAlCl)、塩化ジエチルアルミニウム(EtAlCl)、水素化ジブチルアルミニウム(BuAlH)、塩化ジブチルアルミニウム(BuAlCl)またはそれらの誘導体などのアルミニウム前駆物質が挙げられる。1つの例では、アンプル組立体1100は、アンプル本体1112内に四塩化ハフニウムを含有する。別の例では、アンプル組立体1100は、アンプル本体1112内にPDMATを含有する。
上述のものは、本発明の実施形態を対象としているが、本発明の他のおよびさらなる実施形態が、本発明の基本的範囲から逸脱することなく考案されよく、本発明の範囲は、後に続く特許請求の範囲によって決定される。

Claims (3)

  1. 気相堆積処理システムにおいて使用される化学前駆物質を発生させるための機器であって、
    アンプルに結合され、前記アンプルと流体連通する第1の加熱式バルブ組立体を備え、前記第1の加熱式バルブ組立体が、さらに、
    本体と、
    少なくとも部分的に前記本体内に収容される加熱源と、
    少なくとも部分的に前記本体内に収容される入口チャネルであって、前記入口チャネルの一端が前記アンプルに結合され、前記アンプルと流体連通する入口チャネルと、
    前記入口チャネルに沿って前記本体に結合され、前記入口チャネル内の流体の流れを制御するように配置された第1の空気バルブおよび第1の手動バルブと、
    少なくとも部分的に前記本体内に収容される出口チャネルであって、前記出口チャネルの一端が前記アンプルに結合され、前記アンプルと流体連通する出口チャネルと、
    前記出口チャネルに沿って前記本体に結合され、前記出口チャネル内の流体の流れを制御するように配置された第2の空気バルブおよび第2の手動バルブと、
    バイパスチャネルであって、前記バイパスチャネルの第1の端部が前記入口チャネルに結合され、前記バイパスチャネルの第2の端部が前記出口チャネルに結合された、バイパスチャネルと、
    前記本体に結合され、前記バイパスチャネル内の流体の流れを制御するように配置されたバイパスバルブであって、開位置にあるときは前記バイパスチャネルを介した入口チャネルと出口チャネルの間の流体連通をもたらすバイパスバルブ
    を備え、前記機器がさらに、
    前記第1の加熱式バルブ組立体に結合され当該組立体と流体連通する第2の加熱式バルブ組立体を備え、前記第1及び第2の加熱式バルブ組立体が独立的に所定の温度を得るように構成され、前記第2の加熱式バルブ組立体が、さらに、
    第2の本体と、
    少なくとも部分的に前記第2の本体内に収容される少なくとも1つの加熱源と、
    前記第2の本体に結合される、追加の少なくとも3つのバルブと
    を備える、前記機器。
  2. 前記第2の加熱式バルブ組立体の前記少なくとも1つの加熱源が、少なくとも1つの内蔵された電気加熱器を備える、請求項に記載の機器。
  3. 前記第2の加熱式バルブ組立体がさらに、前記少なくとも1つの加熱源に結合されたサーモスタットを備える、請求項1に記載の機器。
JP2011500907A 2008-03-17 2009-03-17 アンプルのための加熱式バルブマニホールド Active JP5020407B2 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US3727108P 2008-03-17 2008-03-17
US61/037,271 2008-03-17
PCT/US2009/037430 WO2009117440A1 (en) 2008-03-17 2009-03-17 Heated valve manifold for ampoule

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2011516724A JP2011516724A (ja) 2011-05-26
JP2011516724A5 JP2011516724A5 (ja) 2012-05-10
JP5020407B2 true JP5020407B2 (ja) 2012-09-05

Family

ID=41063327

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2011500907A Active JP5020407B2 (ja) 2008-03-17 2009-03-17 アンプルのための加熱式バルブマニホールド

Country Status (5)

Country Link
US (1) US8137468B2 (ja)
JP (1) JP5020407B2 (ja)
KR (1) KR101562180B1 (ja)
CN (1) CN101960564B (ja)
WO (1) WO2009117440A1 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8385474B2 (en) 2007-09-21 2013-02-26 Qualcomm Incorporated Signal generator with adjustable frequency
US8446976B2 (en) 2007-09-21 2013-05-21 Qualcomm Incorporated Signal generator with adjustable phase

Families Citing this family (32)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6878206B2 (en) * 2001-07-16 2005-04-12 Applied Materials, Inc. Lid assembly for a processing system to facilitate sequential deposition techniques
US8741062B2 (en) * 2008-04-22 2014-06-03 Picosun Oy Apparatus and methods for deposition reactors
KR20110123254A (ko) * 2009-03-04 2011-11-14 가부시키가이샤 호리바 에스텍 가스 공급장치
JP5650234B2 (ja) * 2009-11-16 2015-01-07 エフ・イ−・アイ・カンパニー ビーム処理システムに対するガス送達
KR102245759B1 (ko) * 2011-07-22 2021-04-27 어플라이드 머티어리얼스, 인코포레이티드 Ald/cvd 프로세스들을 위한 반응물 전달 시스템
US8728239B2 (en) * 2011-07-29 2014-05-20 Asm America, Inc. Methods and apparatus for a gas panel with constant gas flow
US20130089934A1 (en) * 2011-10-07 2013-04-11 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Material Delivery System and Method
US20130312663A1 (en) * 2012-05-22 2013-11-28 Applied Microstructures, Inc. Vapor Delivery Apparatus
US9598766B2 (en) 2012-05-27 2017-03-21 Air Products And Chemicals, Inc. Vessel with filter
KR101971927B1 (ko) 2012-08-10 2019-04-25 삼성디스플레이 주식회사 캐니스터, 이를 포함하는 기상 증착 장치, 이를 이용한 박막 형성 방법 및 유기 발광 표시 장치 제조 방법
JP2014053477A (ja) * 2012-09-07 2014-03-20 Philtech Inc 固体金属ガス供給装置
US20140137961A1 (en) * 2012-11-19 2014-05-22 Applied Materials, Inc. Modular chemical delivery system
US9447497B2 (en) * 2013-03-13 2016-09-20 Applied Materials, Inc. Processing chamber gas delivery system with hot-swappable ampoule
JP5548292B1 (ja) * 2013-05-30 2014-07-16 株式会社堀場エステック 加熱気化システムおよび加熱気化方法
JP5892113B2 (ja) * 2013-06-26 2016-03-23 株式会社ダイフク 物品保管設備
US9605346B2 (en) * 2014-03-28 2017-03-28 Lam Research Corporation Systems and methods for pressure-based liquid flow control
KR102387359B1 (ko) * 2014-04-18 2022-04-14 어플라이드 머티어리얼스, 인코포레이티드 자동-리필 앰풀 및 사용 방법들
US9857027B2 (en) * 2014-07-03 2018-01-02 Applied Materials, Inc. Apparatus and method for self-regulating fluid chemical delivery
US9970108B2 (en) * 2014-08-01 2018-05-15 Lam Research Corporation Systems and methods for vapor delivery in a substrate processing system
CN105714271B (zh) * 2014-12-22 2020-07-31 株式会社堀场Stec 汽化系统
US10752990B2 (en) 2016-03-28 2020-08-25 Applied Materials, Inc. Apparatus and methods to remove residual precursor inside gas lines post-deposition
US9869018B2 (en) * 2016-04-26 2018-01-16 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. Solid precursor delivery method using liquid solvent for thin film deposition
US11021792B2 (en) * 2018-08-17 2021-06-01 Lam Research Corporation Symmetric precursor delivery
JP7284265B2 (ja) * 2018-12-11 2023-05-30 アプライド マテリアルズ インコーポレイテッド アンプルの飛沫軽減
US11052347B2 (en) * 2018-12-21 2021-07-06 Entegris, Inc. Bulk process gas purification systems
KR102714917B1 (ko) * 2020-03-16 2024-10-11 세메스 주식회사 기판 처리 장치 및 기판 처리 방법
US20230147553A1 (en) * 2020-04-30 2023-05-11 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Processing build material
US11566327B2 (en) 2020-11-20 2023-01-31 Applied Materials, Inc. Methods and apparatus to reduce pressure fluctuations in an ampoule of a chemical delivery system
US20220411924A1 (en) * 2021-06-28 2022-12-29 Applied Materials, Inc. Ampoule for a semiconductor manufacturing precursor
CN118369753A (zh) * 2021-12-10 2024-07-19 朗姆研究公司 用于供给冷却剂至衬底处理系统的部件的歧管
TW202400828A (zh) * 2022-03-11 2024-01-01 美商蘭姆研究公司 選擇性沉積方法及化學品輸送系統
CN115046127A (zh) * 2022-06-24 2022-09-13 江苏南大光电材料股份有限公司 用于固体化合物供应的钢瓶结构

Family Cites Families (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2705285B2 (ja) * 1990-06-28 1998-01-28 富士通株式会社 集積型バルブ構成体
JP2000174005A (ja) * 1998-12-01 2000-06-23 Japan Pionics Co Ltd ヒーター内蔵バルブユニット
US6364956B1 (en) 1999-01-26 2002-04-02 Symyx Technologies, Inc. Programmable flux gradient apparatus for co-deposition of materials onto a substrate
JP2000345346A (ja) * 1999-05-31 2000-12-12 Japan Pionics Co Ltd 気化供給装置及び半導体製造装置の洗浄方法
US7186385B2 (en) * 2002-07-17 2007-03-06 Applied Materials, Inc. Apparatus for providing gas to a processing chamber
US6921062B2 (en) * 2002-07-23 2005-07-26 Advanced Technology Materials, Inc. Vaporizer delivery ampoule
US7300038B2 (en) * 2002-07-23 2007-11-27 Advanced Technology Materials, Inc. Method and apparatus to help promote contact of gas with vaporized material
JP4021721B2 (ja) * 2002-07-30 2007-12-12 アプライド マテリアルズ インコーポレイテッド 液体供給構造
US20050252449A1 (en) * 2004-05-12 2005-11-17 Nguyen Son T Control of gas flow and delivery to suppress the formation of particles in an MOCVD/ALD system
US7198056B2 (en) * 2005-02-10 2007-04-03 David James Silva High purity chemical delivery system
CN101495190B (zh) 2005-03-16 2013-05-01 高级技术材料公司 用于从固体源递送试剂的系统
US20070194470A1 (en) * 2006-02-17 2007-08-23 Aviza Technology, Inc. Direct liquid injector device
US8951478B2 (en) * 2006-03-30 2015-02-10 Applied Materials, Inc. Ampoule with a thermally conductive coating
US7562672B2 (en) * 2006-03-30 2009-07-21 Applied Materials, Inc. Chemical delivery apparatus for CVD or ALD
US20080241805A1 (en) * 2006-08-31 2008-10-02 Q-Track Corporation System and method for simulated dosimetry using a real time locating system
WO2008045972A2 (en) * 2006-10-10 2008-04-17 Asm America, Inc. Precursor delivery system

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8385474B2 (en) 2007-09-21 2013-02-26 Qualcomm Incorporated Signal generator with adjustable frequency
US8446976B2 (en) 2007-09-21 2013-05-21 Qualcomm Incorporated Signal generator with adjustable phase

Also Published As

Publication number Publication date
KR20100126507A (ko) 2010-12-01
US8137468B2 (en) 2012-03-20
CN101960564A (zh) 2011-01-26
WO2009117440A1 (en) 2009-09-24
US20090232986A1 (en) 2009-09-17
JP2011516724A (ja) 2011-05-26
KR101562180B1 (ko) 2015-10-21
CN101960564B (zh) 2012-11-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5020407B2 (ja) アンプルのための加熱式バルブマニホールド
US8951478B2 (en) Ampoule with a thermally conductive coating
KR102245759B1 (ko) Ald/cvd 프로세스들을 위한 반응물 전달 시스템
KR101070525B1 (ko) 화학적 증착 또는 원자 층 증착용 화학물 전달 장치
US7775508B2 (en) Ampoule for liquid draw and vapor draw with a continuous level sensor
KR101247824B1 (ko) 증기 이송 용기 및 소스 물질 이송 방법
US7699295B2 (en) Ampoule splash guard apparatus
US9469898B2 (en) Method and apparatus to help promote contact of gas with vaporized material
JP6228257B2 (ja) 前駆体材料の送達のための容器及び方法
CN101905126B (zh) 有助于增进气体与汽化材料接触的方法和装置

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20120316

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20120316

A871 Explanation of circumstances concerning accelerated examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A871

Effective date: 20120316

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20120515

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20120612

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5020407

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150622

Year of fee payment: 3

A975 Report on accelerated examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971005

Effective date: 20120508

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250