JP5001681B2 - Inline automatic inspection device and inline automatic inspection system - Google Patents
Inline automatic inspection device and inline automatic inspection system Download PDFInfo
- Publication number
- JP5001681B2 JP5001681B2 JP2007061846A JP2007061846A JP5001681B2 JP 5001681 B2 JP5001681 B2 JP 5001681B2 JP 2007061846 A JP2007061846 A JP 2007061846A JP 2007061846 A JP2007061846 A JP 2007061846A JP 5001681 B2 JP5001681 B2 JP 5001681B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- inspection
- unit
- upstream
- liquid crystal
- work table
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000007689 inspection Methods 0.000 title claims description 195
- 230000032258 transport Effects 0.000 claims description 85
- 238000011144 upstream manufacturing Methods 0.000 claims description 66
- 238000012546 transfer Methods 0.000 claims description 42
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 claims description 28
- 238000011179 visual inspection Methods 0.000 claims description 9
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 87
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 19
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 15
- 230000003028 elevating effect Effects 0.000 description 7
- 230000007723 transport mechanism Effects 0.000 description 5
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 4
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 4
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 3
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 3
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 229920002379 silicone rubber Polymers 0.000 description 2
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/1306—Details
- G02F1/1309—Repairing; Testing
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8803—Visual inspection
-
- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
- G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
- G09G3/006—Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/677—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
- H01L21/67739—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations into and out of processing chamber
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Pathology (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Liquid Crystal (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
Description
本発明は、検査対象物を製造ライン等の搬送経路を搬送している間に検査するインライン自動検査装置及びインライン自動検査システムに関する。 The present invention relates to an in-line automatic inspection apparatus and an in-line automatic inspection system that inspects an inspection object while it is being transported on a transport path such as a production line.
液晶パネルの点灯検査等の検査対象物の検査をする装置としては、特許文献1や特許文献2に記載のものがある。特許文献1は、液晶パネルを受けるパネル受けを設け、液晶パネルの種類の変更に伴って開口の大きさが変更して、液晶パネルを検査するものである。
As apparatuses for inspecting an inspection object such as a lighting inspection of a liquid crystal panel, there are apparatuses described in
また、特許文献2は、4つの板状のベースで矩形の開口を共同して形成してその寸法を調整することで、大きさが異なる液晶パネルの検査をするものである。
しかし、このような従来の検査装置の場合、例えば搬送経路の横に設置することになるが、その検査装置のための特別のスペースが必要となり、嵩張ってしまう。特に、種々の装置が製造ラインに沿って設置されている場合には、検査装置のための設置スペースを充分に確保することができない場合もある。さらに、検査装置を搬送経路の横に設置する場合、ロボットハンド等のパネル移載装置が必要となり、この装置のための設置スペースも必要となる。 However, in the case of such a conventional inspection device, for example, it is installed beside the transport path, but a special space for the inspection device is required and becomes bulky. In particular, when various apparatuses are installed along the production line, there may be a case where a sufficient installation space for the inspection apparatus cannot be secured. Further, when the inspection apparatus is installed beside the conveyance path, a panel transfer apparatus such as a robot hand is required, and an installation space for this apparatus is also required.
また、検査装置は、製造ライン等の搬送経路から離れた位置にあるため、液晶パネル1枚1枚を搬送経路から一旦取り出して、前記検査装置で検査してまた搬送経路に戻す必要がある。これにより、液晶パネルの検査をすることができるが、検査に時間がかかるため、大量に検査する必要がある場合には不向きである。 Further, since the inspection apparatus is located at a position away from the conveyance path such as a production line, it is necessary to take out each of the liquid crystal panels from the conveyance path, inspect it with the inspection apparatus, and return it to the conveyance path. As a result, the liquid crystal panel can be inspected, but the inspection takes time and is not suitable when a large amount of inspection is required.
ものによっては全量検査が必要な場合もあるが、この場合は、液晶パネルを搬送経路から一旦取り出して、1枚ずつ検査して元に戻していては時間が係り過ぎて検査効率が悪いため、短時間で効率的に検査できる検査装置が望まれている。 Depending on the thing, it may be necessary to inspect the entire quantity, but in this case, taking out the liquid crystal panel from the transport path, inspecting one by one and returning it to the original, it takes too much time and the inspection efficiency is poor, An inspection apparatus that can efficiently inspect in a short time is desired.
本発明は、上述した課題に鑑みてなされたもので、本発明のインライン自動検査装置は、検査対象物を搬送経路に沿って搬送する上流側搬送部と、当該上流側搬送部の下流側に連なるように互いに近接して配置され、前記検査対象物を支持して傾斜させて目視検査を行うと共にその下側での検査対象物の通過を許容する検査部と、当該検査部の下流側に連なるように互いに近接して配置されて検査後の前記検査対象物を搬送経路に沿って下流側へ搬送する下流側搬送部と、前記検査対象物を前記上流側搬送部から前記検査部に移し替える上流側移載部と、前記検査対象物を前記検査部から前記下流側搬送部に移し替える下流側移載部とを備えて構成され、前記検査部が、回動可能にかつ昇降可能に設置されて前記検査対象物を支持するワークテーブルと、前記検査対象物の検査のために当該ワークテーブルを上昇させた位置で前記上流側搬送部及び下流側搬送部と協働して搬送径路を構成する内部搬送部と、前記ワークテーブルを目視検査のために傾斜させる回動機構とを備えて構成されたことを特徴とする。 The present invention has been made in view of the above-described problems, and the in-line automatic inspection apparatus of the present invention is provided on an upstream side transport unit that transports an inspection object along a transport path, and on the downstream side of the upstream side transport unit. An inspection unit that is arranged close to each other so as to be continuous, supports and inclines the inspection object, performs visual inspection, and allows the inspection object to pass therethrough, and on the downstream side of the inspection unit A downstream transport unit that is arranged close to each other so as to be transported and transports the inspection target after inspection downstream along a transport path, and the inspection target is moved from the upstream transport unit to the inspection unit. An upstream transfer unit for switching, and a downstream transfer unit for transferring the inspection object from the inspection unit to the downstream transport unit, and the inspection unit can be rotated and moved up and down. Work that is installed and supports the inspection object A table, an internal transport unit that forms a transport path in cooperation with the upstream transport unit and the downstream transport unit at a position where the work table is raised for inspection of the inspection object, and the work table. And a rotation mechanism that is inclined for visual inspection .
前記検査対象物を前記上流側搬送部から前記検査部に移し替える動作と、前記検査部から前記下流側搬送部に移し替える動作とは、前記上流側移載部と下流側移載部とが連動して同時に行うことが望ましい。前記上流側搬送部には、前記検査部のワークテーブルに前記上流側移載部で移し替える前記検査対象物の粗位置を調整する粗アライメントユニット装置を備えることが望ましい。前記検査部は、前記ワークテーブルに臨ませて設けられたカメラと、当該カメラを内部に収納すると共に、前記ワークテーブルをその上側から覆って当該ワークテーブルに支持された前記検査対象物を前記カメラで撮影するための暗室を構成する昇降可能な筐体とを備えることが望ましい。 An act of transferring the pre-Symbol test object from the upstream transport unit to the inspection unit, the operation of transferring from the measurement part to the downstream transport section, said upstream transfer portion and the downstream transfer unit It is desirable to be performed simultaneously in conjunction. It is preferable that the upstream transport unit includes a rough alignment unit device that adjusts a rough position of the inspection object to be transferred to the work table of the inspection unit by the upstream transfer unit. The inspection unit includes a camera provided facing the work table, and stores the camera inside, and covers the work table from above and supports the inspection object supported by the work table. It is desirable to provide a housing that can be moved up and down and that constitutes a dark room for taking pictures.
また、本発明のインライン自動検査システムは、請求項1に記載のインライン自動検査装置を、前記搬送経路に複数配設されたことを特徴とする。
An in-line automatic inspection system according to the present invention is characterized in that a plurality of in- line automatic inspection devices according to
前記インライン自動検査装置では、当該インライン自動検査装置が搬送経路上に設置されるため、このインライン自動検査装置のための特別の設置スペースを必要とせず、大幅な省スペース化を図ることができる。また、移載装置を特別に設ける必要がないため、スペースの有効利用やランニングコストの低減等により全体としてコスト低減を図ることができる。 In the in-line automatic inspection apparatus, since the in-line automatic inspection apparatus is installed on the transport path, a special installation space for the in-line automatic inspection apparatus is not required, and a significant space saving can be achieved. In addition, since there is no need to provide a transfer device in particular, the cost can be reduced as a whole by effective use of space and reduction of running costs.
また、インライン自動検査装置に回動機構を備えたので、搬送経路において目視検査を行うことが可能になる。 In addition, since the inline automatic inspection apparatus includes the rotation mechanism, it is possible to perform a visual inspection in the conveyance path.
また、インライン自動検査システムでは、前記搬送経路に複数配設されたインライン自動検査装置のうち、先頭のインライン自動検査装置で前記検査対象物の検査が開始されると、次の検査対象物は先頭のインライン自動検査装置の内部搬送部を通過して次のインライン自動検査装置に流れ、このインライン自動検査装置で前記検査対象物の検査が開始される。次の検査対象物は2番目のインライン自動検査装置の内部搬送部を通過して次のインライン自動検査装置に流れ、前記同様にして検査が開始され、多数の検査対象物を効率的に検査することができる。 Further, in the in-line automatic inspection system, when inspection of the inspection object is started by the first in-line automatic inspection apparatus among a plurality of in-line automatic inspection apparatuses arranged on the transport path, the next inspection object is the first The in-line automatic inspection apparatus passes through the internal conveyance section and flows to the next in-line automatic inspection apparatus, and the inspection of the inspection object is started by the in-line automatic inspection apparatus. The next inspection object passes through the internal conveyance part of the second inline automatic inspection apparatus and flows to the next inline automatic inspection apparatus, and inspection is started in the same manner as described above, thereby efficiently inspecting a large number of inspection objects. be able to.
以下、本発明の実施形態に係るインライン自動検査装置について、添付図面を参照しながら説明する。図1は本発明の実施形態に係るインライン自動検査装置を示す斜視図、図2は本発明の実施形態に係るインライン自動検査装置を示す側面図、図3は本発明の実施形態に係るインライン自動検査装置をそのワークテーブルを傾斜させた状態で示す側面図、図4は本発明の実施形態に係るインライン自動検査装置をそのワークテーブルを傾斜させた状態で示す斜視図、図5は本発明の実施形態に係るインライン自動検査装置を示す正面断面図(図6のA−A線矢視断面図)、図6は本発明の実施形態に係るインライン自動検査装置を示す平面図、図7は本発明の実施形態に係るインライン自動検査装置を示す正面断面図、図8は本発明の実施形態に係るインライン自動検査装置の回動機構を示す斜視図、図9は本発明の実施形態に係るインライン自動検査装置の粗アライメントユニット装置を示す斜視図、図10は本発明の実施形態に係るインライン自動検査装置の粗アライメントユニット装置を上流側搬送部に組み込んだ状態を示す斜視図、図11は本発明の実施形態に係るインライン自動検査装置の粗アライメントユニット装置を上流側搬送部に組み込んだ状態を示す平面図、図12は本発明の実施形態に係るインライン自動検査装置を製造ラインに複数組み込んだインライン自動検査システムである。 Hereinafter, an in-line automatic inspection apparatus according to an embodiment of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings. FIG. 1 is a perspective view showing an inline automatic inspection apparatus according to an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a side view showing the inline automatic inspection apparatus according to the embodiment of the present invention, and FIG. 3 is an inline automatic according to the embodiment of the present invention. 4 is a side view showing the inspection apparatus with the work table tilted, FIG. 4 is a perspective view showing the in-line automatic inspection apparatus according to the embodiment of the present invention with the work table tilted, and FIG. FIG. 6 is a plan view showing the inline automatic inspection apparatus according to the embodiment of the present invention, and FIG. FIG. 8 is a perspective view showing a turning mechanism of the inline automatic inspection apparatus according to the embodiment of the present invention, and FIG. 9 is an inline view according to the embodiment of the present invention. FIG. 10 is a perspective view showing a state in which the coarse alignment unit device of the in-line automatic inspection device according to the embodiment of the present invention is incorporated in the upstream transport unit, and FIG. FIG. 12 is a plan view showing a state in which the rough alignment unit device of the inline automatic inspection apparatus according to the embodiment of the present invention is incorporated in the upstream conveyance section, and FIG. 12 incorporates a plurality of inline automatic inspection apparatuses according to the embodiment of the present invention into the production line. Inline automatic inspection system.
インライン自動検査装置1は、検査対象物の搬送経路に組み込まれる装置である。インライン自動検査装置1は、種々の検査対象物の搬送経路において、当該検査対象物の検査を行う。検査対象物の搬送経路としてここでは、液晶パネルの製造ラインを例に説明する。液晶パネルの製造ラインは、通常、コンベアで構成されているため、インライン自動検査装置1は、このコンベアの途中において、このコンベアの一部を取り除いて組み込まれることになる。
The in-line
インライン自動検査装置1は図1〜8に示すように、上流側搬送部2と、検査部3と、下流側搬送部4と、上流側移載部5と、下流側移載部6とから構成されている。
As shown in FIGS. 1 to 8, the inline
上流側搬送部2は、前記コンベアを搬送されてきた液晶パネル8を搬送経路に沿って検査部3まで搬送するための装置である。上流側搬送部2は、前記コンベアの一部を取り除いた位置に、当該コンベアの上流側に連なるように互いに近接して配置されている。この上流側搬送部2は、ローラーコンベアによって構成されている。上流側搬送部2は具体的には、一定間隔を空けて平行に配設されたローラー9と、各ローラー9をその両側から回転可能に支持する側壁10と、液晶パネル8の大まかな位置(粗位置)を調整する粗アライメントユニット装置11(図10参照)と、前記ローラー9を回転駆動する駆動部(図示せず)とから構成されている。側壁10には前記コンベアの高さに合わせた脚部(図示せず)が設けられる。前記駆動部は、後述する下流側移載部6の駆動部及び後述する検査部3の内部搬送部47の駆動部と連動して制御され、液晶パネル8をスムーズに搬送できるようになっている。
The
粗アライメントユニット装置11は、液晶パネル8を上流側搬送部2から後述する検査部3のワークテーブル45に上流側移載部5で移し替える際に、液晶パネル8の粗位置を調整するための装置である。粗アライメントユニット装置11は、図9〜11に示すように、縦位置決め部13と、横位置決め部14と、昇降部15とから構成されている。なお、図9〜11に示す上流側搬送部2の全体的構成は、図1に示す上流側搬送部2とその寸法が少し違うが、機能が同様である。
The coarse
縦位置決め部13は、上流側搬送部2の下流側端部に搬送された液晶パネル8を検査部3に移し替える際に、液晶パネル8の縦方向の位置を調整するための装置である。縦位置決め部13は、レール17と、スライダ18と、シリンダ19と、支持部材20と、パネル検知センサ21とから構成されている。レール17は、前記搬送経路に沿って配設され、スライダ18を搬送経路に沿う縦方向に移動可能に支持している。レール17は、上流側搬送部2側に固定されている。スライダ18は、レール17にスライド可能に嵌合されて、前記搬送経路に沿う縦方向に移動可能支持されている。シリンダ19は、支持部材20を支持して昇降させるための装置である。このシリンダ19は、エアシリンダ、油圧シリンダ等の既存のシリンダを用いることができる。シリンダ19には、空気圧又は油圧を供給するための装置(図示せず)が接続されている。シリンダ19は、スライダ18に取り付けられて、搬送経路に沿う縦方向に移動できるようになっている。支持部材20は、液晶パネル8にその下側から直接に接触して支持するための部材である。この支持部材20は、シリコンゴム等で構成されている。パネル検知センサ21は、液晶パネル8が粗アライメントユニット装置11の直上に位置していることを検知するためのセンサである。これ以外に、液晶パネル8の縦横の位置を検知するセンサが適宜配設される。
The
横位置決め部14は、上流側搬送部2の下流側端部に搬送された液晶パネル8を検査部3に移し替える際に、液晶パネル8の横方向の位置を調整するための装置である。横位置決め部14は、レール23と、スライダ24と、シリンダ25と、支持部材26とから構成されている。レール23は、前記搬送経路に直交する横方向に配設され、スライダ24を横方向に移動可能に支持している。レール23は、前記縦位置決め部13のレール17と一体的に、上流側搬送部2側に固定されている。スライダ24は、レール23にスライド可能に嵌合されて、横方向に移動可能に支持されている。シリンダ25は、スライダ24に2つ設けられている。各シリンダ25は、支持部材26を支持して昇降させるための装置である。各シリンダ25は、エアシリンダ、油圧シリンダ等の既存のシリンダを用いることができる。シリンダ25には、空気圧又は油圧を供給するための装置(図示せず)が接続されている。シリンダ25は、スライダ24に取り付けられて、横方向に移動できるようになっている。支持部材26は、液晶パネル8にその下側から直接に接触して支持するための部材である。この支持部材26は、シリコンゴム等で構成されている。
The
昇降部15は、前記縦位置決め部13及び横位置決め部14で粗位置が調整された後の液晶パネル8を昇降させるための装置である。昇降部15は、パネルリフタ28と、シリンダ29とから構成されている。
The elevating
パネルリフタ28は、液晶パネル8の裏面に直接に接触して液晶パネル8を持ち上げるための部材である。パネルリフタ28は、支持板31と、この支持板31の下側に4本配設されたガイド棒32と、支持板31の上側に4本配設された支持棒33と、各支持棒33の上端部に設けられた支持部材34とから構成されている。4本のガイド棒32は、案内板35の4つのガイド穴36に挿入されて、上下方向にスライド可能に支持されている。案内板35は、上流側搬送部2のフレーム37に固定されている。
The
シリンダ29は、パネルリフタ28を昇降させるための部材である。このシリンダ29は、案内板35の裏面に固定されて、シリンダロッド(図示せず)が支持板31に連結されている。これにより、シリンダ29がシリンダロッドを延出させることで、パネルリフタ28が上昇して、支持棒33の上端の支持部材34で支持された液晶パネル8を上方へ持ち上げるようになっている。持ち上げられた液晶パネル8は、上流側移載部5に渡されて検査部3に移し替えられる。
The
検査部3は、上流側搬送部2の下流側に連なるように互いに近接して配置され、前記液晶パネル8を支持して傾斜させたり上方へ持ち上げたりして検査を行うと共にその下側での液晶パネル8の通過を許容するための装置である。検査部3は図1〜8に示すように主に、XYZθステージ40(図7参照)と、検査ステージ41と、画像処理部42とから構成されている。
The
XYZθステージ40は、検査ステージ41をXYZ軸方向及び回転方向に微調整するための装置である。このXYZθステージ40には、Zステージ部とは別に、検査ステージ41を大きく昇降させるための昇降機構(図示せず)が組み込まれている。検査ステージ41は、この昇降機構によって前記搬送経路にその下側からせり出して液晶パネル8を支持して上方へ持ち上げるようになっている。これにより、検査ステージ41が上方へ大きく上昇されて、検査が行われる。
The
検査ステージ41は、液晶パネル8を正確に支持して、その背面から照明するための装置である。検査ステージ41は、ワークテーブル45と、バックライト46と、内部搬送部47と、回動機構48とから構成されている。
The
ワークテーブル45は、液晶パネル8を直接に支持するための部材である。ワークテーブル45は、XYZθステージ40で昇降可能に支持されて、液晶パネル8を正確な位置に支持する。バックライト46は、ワークテーブル45に支持された液晶パネル8をその背面(下側面)から照明するための部材である。バックライト46で液晶パネル8を背面から照明して、液晶パネル8の点灯検査が行われる。
The work table 45 is a member for directly supporting the
内部搬送部47は、液晶パネル8の検査のためにワークテーブル45を上昇させたときに、上流側搬送部2及び下流側搬送部4と協働して前記搬送経路を構成するための装置である。内部搬送部47は、XYZθステージ40とバックライト46との間に設けられたローラーコンベアによって構成されている。このローラーコンベアは、XYZθステージ40の昇降機構によって検査ステージ41が上昇された状態で、上流側搬送部2及び下流側搬送部4とその高さが一致するように設定されている。内部搬送部47には、その内部のローラー9を駆動するための駆動部(図示せず)が設けられている。この駆動部は、上流側搬送部2及び下流側搬送部4の駆動部と同期して各ローラー9を駆動するようになっている。
The
回動機構48は、ワークテーブル45を目視検査のために傾斜させるための機構である。この回動機構48は、ベース板49と、回転軸50と、軸受け51と、回転駆動部52とから構成されている。
The
ベース板49は、ワークテーブル45を支持するための板材である。ワークテーブル45は、このベース板49に支持された状態でベース板49と共に回動される。ベース板49の基端部には、回転軸50に連結する連結ブロック49Aが設けられている。この連結ブロック49Aと回転軸50とは、互いに堅固に結合されている。
The
回転軸50は、ベース板49を回動するための軸である。軸受け51は回転軸50を回転可能に支持するための部材である。軸受け51は、XYZθステージ40側に支持された状態で、回転軸50の両端部を回転可能に支持している。回転駆動部52は、回転軸50を介してベース板49を回動するための装置である。この回転駆動部52は、軸受け51に固定された状態で回転軸50に連結されている。回転駆動部52は具体的には、駆動モータ(図示せず)と、必要に応じて設置される減速機構(図示せず)とを備えて構成されている。ワークテーブル45やベース板49が重い場合は、減速機構を備え、その重さの程度に応じて減速比を設定する。前記駆動モータは、インライン自動検査システム全体を制御する制御部(図示せず)に接続され、上流側搬送部2、下流側搬送部4等と共に制御されている。
The
ワークテーブル45の上部にはプローブユニット(図示せず)が設けられている。このプローブユニットは、そのプローブが液晶パネル8の電極に接触して検査信号を印加し、液晶パネル8にテストパターン等を表示させる。
A probe unit (not shown) is provided on the work table 45. In this probe unit, the probe contacts an electrode of the
画像処理部42は、液晶パネル8の表面を撮影して画像処理により、液晶パネル8の欠陥等の検査を行うための装置である。画像処理部42は主に、カメラ53と、カメラ駆動機構54と、処理装置55と、暗室用筐体56とから構成されている。
The
カメラ53は、ワークテーブル45に臨ませて設けられている。このカメラ53によって、液晶パネル8が撮影されて、その映像データが処理装置55に送信される。カメラ駆動機構54は、カメラ53を支持してその位置を調整するための装置である。このカメラ駆動機構54によってカメラ53が上下、前後左右に移動されて位置合わせが行われるようになっている。処理装置55は、カメラ53で撮影した画像を処理するための装置である。
The
暗室用筐体56は、カメラ53をカメラ駆動機構54と共に内部に収納して、ワークテーブル45をその上側から覆って暗室を構成するための筐体である。暗室用筐体56は、昇降可能に設けられ、ワークテーブル45をその上側から適宜覆って暗室を構成する。これにより、ワークテーブル45に支持された液晶パネル8をバックライト46で照明してカメラ53で撮影し、処理装置55で画像処理を行って液晶パネル8の検査を行う。
The
下流側搬送部4は、検査後の液晶パネル8を搬送経路に沿って下流側へ搬送するための装置である。下流側搬送部4は、検査部3の下流側に連なるように互いに近接して配置されている。下流側搬送部4の全体構成は、粗アライメントユニット装置11を有しない点を除いて、前記上流側搬送部2と対称に構成されている。
The
上流側移載部5は、液晶パネル8を上流側搬送部2から検査部3に移し替えるための装置である。上流側移載部5は、パネル吸着部57と、パネル搬送アーム58と、パネル搬送機構59とから構成されている。
The
パネル吸着部57は、液晶パネル8を吸着して支持するための部材である。パネル吸着部57は、液晶パネル8の表面に吸着する吸着パッド61と、パネル昇降機構62とを備えて構成されている。この吸着パッド61は吸引装置(図示せず)に接続されている。パネル昇降機構62は、パネル搬送アーム58に固定された状態で、吸着パッド61を支持してこの吸着パッド61で吸着された液晶パネル8を昇降させる。
The
パネル搬送アーム58は、上流側搬送部2の側部から液晶パネル8を支持するための棒材である。パネル搬送アーム58の先端にパネル吸着部57が取り付けられ、このパネル吸着部57で吸着された液晶パネル8をパネル搬送アーム58で上流側搬送部2の側部から支持するようになっている。パネル搬送機構59は、液晶パネル8を上流側搬送部2から検査部3へ移動させるための装置である。パネル搬送機構59は、直接的にはパネル搬送アーム58を支持することで、このパネル搬送アーム58及びパネル吸着部57を介して液晶パネル8を支持して、上流側搬送部2から検査部3へ移動させるようになっている。
The
下流側移載部6は、液晶パネル8を検査部3から下流側搬送部4に移し替えるための装置である。下流側移載部6は、前記上流側移載部5と同様に、パネル吸着部65と、パネル搬送アーム66と、パネル搬送機構67とから構成されている。これら各部の機能は、左右対称になっている点の違いを除いて、上流側移載部5の各部の機構と同様である。
The
前記上流側移載部5と下流側移載部6とは互いに連動して制御され、液晶パネル8を上流側搬送部2から検査部3に移し替える動作と、検査部3から下流側搬送部4に移し替える動作とを、同時に行うように設定されている。
The
[動作]
以上のように構成されたインライン自動検査装置1は、次のように動作する。
[Operation]
The inline
液晶パネル8の製造ラインにおいては、ガラス基板の状態から、種々の処理工程を経て液晶パネル8が製造される。
In the production line of the
この製造ラインの製造工程において、検査工程が組み込まれる場合がある。この場合は、製造ラインの途中に、インライン自動検査装置1が設置される。このインライン自動検査装置1では、製造ラインを搬送されてきた液晶パネル8が、その搬送経路に沿って流れながらインライン自動検査装置1に搬入され、検査終了後に搬送経路に戻される。このインライン自動検査装置1の動作を次に示す。
An inspection process may be incorporated in the manufacturing process of this manufacturing line. In this case, the inline
製造ラインを搬送されてきた液晶パネル8は、まず上流側搬送部2に流れてくる。上流側搬送部2では、粗アライメントユニット装置11で液晶パネル8のあらかたの位置合わせがされる。具体的には、粗アライメントユニット装置11の縦位置決め部13で液晶パネル8の縦方向が、横位置決め部14で横方向が位置あわせされる。スライダ18で液晶パネル8を検出すると、シリンダ19で支持部材20が上昇されて液晶パネル8が持ち上げられ、スライダ18がレール17をスライドすることで、液晶パネル8の縦方向が位置合わせされる。次いで、シリンダ25で支持部材26が上昇されて液晶パネル8が持ち上げられ、スライダ24がレール23をスライドすることで、液晶パネル8の横方向が位置合わせされる。
The
次いで、昇降部15の支持部材34が上昇して液晶パネル8を持ち上げて、上流側移載部5のパネル吸着部57に受け渡す。上流側移載部5では、パネル吸着部57が液晶パネル8に吸着して液晶パネル8を支持し、パネル搬送機構59で検査部3のワークテーブル45に搬送される。このとき、ワークテーブル45上に既に液晶パネル8が存在する場合は、その検査が終了してから搬送が行われる。このとき、上流側移載部5と下流側移載部6は連動して同時に移し替える。
Next, the
次いで、XYZθステージ40内の昇降機構によって液晶パネル8が上昇され、カメラ53に近づく。次いで、画像処理部42で画像処理が行われる。具体的には、カメラ53で撮影した液晶パネル8の表面の画像データが処理装置55に送信され、この処理装置55で画像処理が行われて、液晶パネル8の点灯検査が行われる。
Next, the
このとき、次の液晶パネル8は、上流側搬送部2から内部搬送部47を通って下流側搬送部4に流される。複数のインライン自動検査装置1が設置されている場合は、後方のインライン自動検査装置1に流される。
At this time, the next
一方、作業者により目視検査を行う場合は、暗室用筐体56を上昇させて、ワークテーブル45を傾斜させる。具体的には、回転駆動部52で回転軸50を介してベース板49を回動させて、ワークテーブル45を図2から図3又は図4の状態に傾斜させる。
On the other hand, when visual inspection is performed by an operator, the
作業者は、傾斜したワークテーブル45の正面に位置して、傾斜したワークテーブル45に支持されて背面から照明された液晶パネル8を目視で検査する。検査が終了したら、回転駆動部52によってワークテーブル45が水平に戻され、上流側搬送部2、下流側搬送部4等と連動して液晶パネル8が移し替えられる。
An operator visually inspects the
次いで、回転駆動部52でワークテーブル45を傾斜させて、上記処理を繰り返す。このときも、次の液晶パネル8は、上流側搬送部2から内部搬送部47を通って下流側搬送部4に流される。
Next, the work table 45 is tilted by the
[効果]
以上のように、インライン自動検査装置1では、このインライン自動検査装置1が搬送経路上に設置されるため、このインライン自動検査装置1のための特別の設置スペースを必要とせず、製造ラインの周囲の大幅な省スペース化を図ることができる。
[effect]
As described above, in the inline
インライン自動検査装置1に回動機構48を備えたので、搬送経路において目視検査を行うことが可能になり、検査効率が向上する。
Since the
また、移載装置を特別に設ける必要がなく、スペースの有効利用やランニングコストの低減により、全体としてコスト低減を図ることができる。 Further, it is not necessary to provide a transfer device in particular, and the cost can be reduced as a whole by effectively using the space and reducing the running cost.
[変形例]
前記実施形態では、1つのインライン自動検査装置1を設置した場合を例に説明したが、図12に示すように、製造ラインに複数のインライン自動検査装置1を設けてもよい。この場合、複数のインライン自動検査装置1が互いに連携して液晶パネル8の検査を行う。具体的には、前記搬送経路に複数配設されたインライン自動検査装置1のうち、先頭のインライン自動検査装置1で液晶パネル8の検査が開始されると、次の液晶パネル8は先頭のインライン自動検査装置1の内部搬送部47を通過して次のインライン自動検査装置1に流れ、このインライン自動検査装置1で液晶パネル8の検査が開始される。次の液晶パネル8は2番目のインライン自動検査装置1の内部搬送部47を通過して次のインライン自動検査装置1に流れ、前記同様にして検査が開始され、多数の液晶パネル8を効率的に検査することができる。
[Modification]
In the embodiment, the case where one inline
さらに、自動検査と目視検査とを選択的に、又は複数のインライン自動検査装置1で両方の検査を同時に行うことができるようになり、検査効率が大幅に向上する。
Furthermore, both the automatic inspection and the visual inspection can be performed selectively, or both inspections can be performed simultaneously by the plurality of in-line
また、前記実施形態では、検査対象物として液晶パネル8を例に説明したが、液晶パネル8以外の検査対象物でも適用可能であり、前記同様の作用、効果を奏する。
In the above embodiment, the
1:インライン自動検査装置、2:上流側搬送部、3:検査部。4:下流側搬送部、5:上流側移載部、6:下流側移載部、8:液晶パネル、9:ローラー、10:側壁、11:粗アライメントユニット装置、13:縦位置決め部、14:横位置決め部、15:昇降部、17:レール、18:スライダ、19:シリンダ、20:支持部材、21:パネル検知センサ、23:レール、24:スライダ、25:シリンダ、26:支持部材、28:パネルリフタ、29:シリンダ、31:支持板、32:ガイド棒、33:支持棒、34:支持部材、35:案内板、36:ガイド穴、37:フレーム、40XYZθステージ、41:検査ステージ、42:画像処理部、45:ワークテーブル、46:バックライト、47:内部搬送部、48:回動機構、49:ベース板、50:回転軸、51:軸受け、52:回転駆動部、53:カメラ、54:カメラ駆動機構、55:処理装置、56:暗室用筐体、57:パネル吸着部、58:パネル搬送アーム、59:パネル搬送機構、61:吸着パッド、62:パネル昇降機構、65:パネル吸着部、66:パネル搬送アーム、67:パネル搬送機構。 1: In-line automatic inspection device, 2: upstream transport section, 3: inspection section. 4: Downstream transport unit, 5: Upstream transfer unit, 6: Downstream transfer unit, 8: Liquid crystal panel, 9: Roller, 10: Side wall, 11: Coarse alignment unit device, 13: Vertical positioning unit, 14 : Lateral positioning part, 15: lifting part, 17: rail, 18: slider, 19: cylinder, 20: support member, 21: panel detection sensor, 23: rail, 24: slider, 25: cylinder, 26: support member, 28: Panel lifter, 29: Cylinder, 31: Support plate, 32: Guide rod, 33: Support rod, 34: Support member, 35: Guide plate, 36: Guide hole, 37: Frame, 40XYZθ stage, 41: Inspection stage, 42: image processing unit, 45: work table, 46: backlight, 47: internal transfer unit, 48: rotating mechanism, 49: base plate, 50: rotating shaft, 51: bearing, 52: rotating drive Part, 53: camera, 54: camera drive mechanism, 55: processing device, 56: darkroom casing, 57: panel suction part, 58: panel transport arm, 59: panel transport mechanism, 61: suction pad, 62: panel Elevating mechanism, 65: panel suction unit, 66: panel transport arm, 67: panel transport mechanism.
Claims (5)
当該上流側搬送部の下流側に連なるように互いに近接して配置され、前記検査対象物を支持して傾斜させて目視検査を行うと共にその下側での検査対象物の通過を許容する検査部と、
当該検査部の下流側に連なるように互いに近接して配置されて検査後の前記検査対象物を搬送経路に沿って下流側へ搬送する下流側搬送部と、
前記検査対象物を前記上流側搬送部から前記検査部に移し替える上流側移載部と、
前記検査対象物を前記検査部から前記下流側搬送部に移し替える下流側移載部とを備えて構成され、
前記検査部が、回動可能にかつ昇降可能に設置されて前記検査対象物を支持するワークテーブルと、前記検査対象物の検査のために当該ワークテーブルを上昇させた位置で前記上流側搬送部及び下流側搬送部と協働して搬送径路を構成する内部搬送部と、前記ワークテーブルを目視検査のために傾斜させる回動機構とを備えて構成されたことを特徴とするインライン自動検査装置。 An upstream conveyance unit that conveys the inspection object along the conveyance path;
An inspection unit that is arranged close to each other so as to be connected to the downstream side of the upstream conveyance unit, supports the inspection object, inclines and performs a visual inspection, and allows the inspection object to pass therethrough. When,
A downstream transport unit that is arranged close to each other so as to be connected to the downstream side of the inspection unit and that transports the inspection object after the inspection to the downstream side along the transport path;
An upstream transfer section for transferring the inspection object from the upstream transport section to the inspection section;
A downstream transfer unit configured to transfer the inspection object from the inspection unit to the downstream transport unit;
The inspection unit is installed so as to be rotatable and movable up and down to support the inspection object, and the upstream conveying unit at a position where the work table is raised for inspection of the inspection object And an in-line automatic inspection apparatus comprising an internal conveyance section that forms a conveyance path in cooperation with the downstream conveyance section, and a rotation mechanism that inclines the work table for visual inspection. .
前記検査対象物を前記上流側搬送部から前記検査部に移し替える動作と、前記検査部から前記下流側搬送部に移し替える動作とを、前記上流側移載部と下流側移載部とが連動して同時に行うことを特徴とするインライン自動検査装置。 In the in-line automatic inspection apparatus according to claim 1 ,
An operation of transferring the inspection object from the upstream transport unit to the inspection unit, and an operation of transferring the inspection object from the inspection unit to the downstream transport unit include the upstream transfer unit and the downstream transfer unit. An in-line automatic inspection device characterized by being performed simultaneously in conjunction.
前記上流側搬送部に、前記検査部のワークテーブルに前記上流側移載部で移し替える前記検査対象物の粗位置を調整する粗アライメントユニット装置を備えたことを特徴とするインライン自動検査装置。 In the in-line automatic inspection apparatus according to claim 1 or 2 ,
An in-line automatic inspection apparatus comprising a rough alignment unit device for adjusting a rough position of the inspection object to be transferred to the work table of the inspection unit by the upstream transfer unit in the upstream transport unit.
前記検査部が、前記ワークテーブルに臨ませて設けられたカメラと、当該カメラを内部に収納すると共に、前記ワークテーブルをその上側から覆って当該ワークテーブルに支持された前記検査対象物を前記カメラで撮影するための暗室を構成する昇降可能な筐体とを備えたことを特徴とするインライン自動検査装置。 The in-line automatic inspection apparatus according to any one of claims 1 to 3 ,
The inspection unit is provided with a camera provided facing the work table, the camera is housed therein, and the inspection object supported by the work table is covered with the work table from above the work table. An in-line automatic inspection apparatus comprising a casing that can be moved up and down to constitute a dark room for photographing with a camera.
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007061846A JP5001681B2 (en) | 2007-03-12 | 2007-03-12 | Inline automatic inspection device and inline automatic inspection system |
KR1020080016778A KR100909601B1 (en) | 2007-03-12 | 2008-02-25 | Inline automatic inspection device and inline automatic inspection system |
TW097107675A TWI378234B (en) | 2007-03-12 | 2008-03-05 | Inline automatic insepction apparatus and inline automatic detection system |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007061846A JP5001681B2 (en) | 2007-03-12 | 2007-03-12 | Inline automatic inspection device and inline automatic inspection system |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008224371A JP2008224371A (en) | 2008-09-25 |
JP5001681B2 true JP5001681B2 (en) | 2012-08-15 |
Family
ID=39843183
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007061846A Active JP5001681B2 (en) | 2007-03-12 | 2007-03-12 | Inline automatic inspection device and inline automatic inspection system |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5001681B2 (en) |
KR (1) | KR100909601B1 (en) |
TW (1) | TWI378234B (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN101749234B (en) * | 2008-12-10 | 2012-09-05 | 日立空调·家用电器株式会社 | Scroll compressor |
Families Citing this family (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100994305B1 (en) | 2009-11-10 | 2010-11-12 | 엘지디스플레이 주식회사 | Inspection device for display device and inspecting method thereof |
JP5291665B2 (en) * | 2010-05-07 | 2013-09-18 | 株式会社日本マイクロニクス | Panel processing system and panel processing method |
JP2012237594A (en) * | 2011-05-10 | 2012-12-06 | Micronics Japan Co Ltd | Insulation measuring probe unit and insulation measuring apparatus |
CN102540515B (en) * | 2012-01-12 | 2015-07-08 | 北京凌云光视数字图像技术有限公司 | Quality detection system for thin film transistor (TFT) liquid crystal display screen |
CN204422430U (en) * | 2014-12-25 | 2015-06-24 | 日东电工株式会社 | Visual inspection apparatus |
CN105607318B (en) * | 2016-04-08 | 2019-06-04 | 深圳市升达康科技有限公司 | A kind of automatic detection device of LCD display |
CN108534915A (en) * | 2018-05-23 | 2018-09-14 | 江苏禾兴泰触控科技有限公司 | A kind of PC panel detection devices |
US11313807B2 (en) * | 2018-08-30 | 2022-04-26 | Riso Kagaku Corporation | Image inspection device |
CN112198166A (en) * | 2019-07-08 | 2021-01-08 | 夏普株式会社 | Inspection apparatus |
CN111693542A (en) * | 2020-06-03 | 2020-09-22 | 宿州市迎盛科技有限公司 | Mobile phone screen detection device and detection method |
WO2022081370A1 (en) * | 2020-10-15 | 2022-04-21 | Applied Materials, Inc. | In-line metrology systems, apparatus, and methods for optical devices |
CN113406342B (en) * | 2021-06-11 | 2023-11-07 | 上海金翌生物科技有限公司 | Blood cancer of pan kind screening device |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0762653B2 (en) * | 1987-07-06 | 1995-07-05 | 日立電子エンジニアリング株式会社 | Conveyance scanning mechanism of printed circuit board inspection device |
JP3365781B2 (en) * | 1991-10-15 | 2003-01-14 | オリンパス光学工業株式会社 | Board appearance inspection device |
JP3414427B2 (en) * | 1993-01-29 | 2003-06-09 | オリンパス光学工業株式会社 | Substrate transfer device and substrate inspection device |
JP2001091474A (en) * | 1999-09-22 | 2001-04-06 | Olympus Optical Co Ltd | Defect inspection system |
JP2001194311A (en) * | 1999-10-25 | 2001-07-19 | Olympus Optical Co Ltd | Substrate inspecting device |
KR100490952B1 (en) | 2002-11-29 | 2005-05-19 | (주)넥스트인스트루먼트 | Display panel conveyer for multipurpose optics test having stage type |
JP2004271268A (en) | 2003-03-06 | 2004-09-30 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Lighting inspection apparatus of display panel |
JP2006138634A (en) * | 2004-10-15 | 2006-06-01 | Micronics Japan Co Ltd | Electrical connection apparatus used for inspection device of panel for display |
JP4570930B2 (en) * | 2004-10-22 | 2010-10-27 | 株式会社日本マイクロニクス | Electrical connection device used in panel inspection equipment |
KR100715160B1 (en) | 2004-11-09 | 2007-05-07 | 태산엘시디 주식회사 | Device detecting automatically defect of backlight unit using image processing techniques |
JP2007107973A (en) | 2005-10-12 | 2007-04-26 | Micronics Japan Co Ltd | Inspection device |
-
2007
- 2007-03-12 JP JP2007061846A patent/JP5001681B2/en active Active
-
2008
- 2008-02-25 KR KR1020080016778A patent/KR100909601B1/en active IP Right Grant
- 2008-03-05 TW TW097107675A patent/TWI378234B/en active
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN101749234B (en) * | 2008-12-10 | 2012-09-05 | 日立空调·家用电器株式会社 | Scroll compressor |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20080083567A (en) | 2008-09-18 |
KR100909601B1 (en) | 2009-07-27 |
TWI378234B (en) | 2012-12-01 |
JP2008224371A (en) | 2008-09-25 |
TW200900681A (en) | 2009-01-01 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5001681B2 (en) | Inline automatic inspection device and inline automatic inspection system | |
TWI333544B (en) | Substrate inspection apparatus | |
JP5269328B2 (en) | Inline automatic inspection device and inline automatic inspection system | |
TW200906695A (en) | Substrate adsorption device, substrate transportation device and external inspection equipment | |
KR20110011535A (en) | Wafer prober for semiconductor inspection and inspection method | |
JP2000009661A (en) | Flat panel inspection device | |
CN109521017B (en) | Inline gantry with AOI theta axis alignable transport apparatus | |
KR200341202Y1 (en) | Automatic inspection system for industrial printed circuit board | |
JP5722049B2 (en) | Board inspection system | |
JP2009085865A (en) | Substrate inspection device | |
JP2012094711A (en) | Inspection equipment | |
JP3999863B2 (en) | Substrate inspection device | |
KR101610316B1 (en) | Blu inspect apparatus | |
JP3958852B2 (en) | Substrate inspection device | |
KR200452846Y1 (en) | Vision inspection apparatus for printed circuit board | |
JP2007015789A (en) | In-line buffer device | |
JP2011199218A (en) | Substrate conveyance device and substrate inspection system using the same | |
KR100490952B1 (en) | Display panel conveyer for multipurpose optics test having stage type | |
TW202127003A (en) | Carrier device, optical inspection apparatus and optical inspection method | |
JP2009022823A (en) | Inspection apparatus and substrate treatment system | |
KR20060077176A (en) | Automatic transport system of tray transport for backlight unit | |
JP5928771B2 (en) | Substrate inspection apparatus and substrate inspection method | |
JP2007114146A (en) | Lighting inspection device of display panel | |
KR102634944B1 (en) | Apparatus and method for inspecting surface of substrate | |
CN210128944U (en) | Substrate surface detection device |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20091027 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20110812 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20111011 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20120515 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20120518 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Ref document number: 5001681 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150525 Year of fee payment: 3 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |