JP4830296B2 - Method for manufacturing liquid crystal device, liquid crystal device, and electronic apparatus - Google Patents
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Description
本発明は、液晶装置の製造方法、液晶装置、及び電子機器に関するものである。 The present invention relates to a method for manufacturing a liquid crystal device, a liquid crystal device, and an electronic apparatus.
携帯電話等の電子機器におけるカラー画像表示部には、液晶装置等の電気光学装置が使用されている。液晶装置は、一対の透明基板の間に液晶層が挟持されて構成されている。
この液晶装置を形成するには、まず一方の基板の表面周縁部にシール材(封止材)を塗布する。その際、シール材の一部に液晶の注入口を形成しておく。次に、シール材の内側にスペーサを散布し、シール材を介して他方の基板を貼り合わせる。これにより、一対の基板とシール材とによって囲まれた領域に液晶セルが形成される。次に、真空中で液晶セル内を脱気し、液晶注入口を液晶槽内に浸漬した状態で、全体を大気圧下に戻す。すると、液晶セルと外部との圧力差および表面張力によって、液晶セル内に液晶が充填される。しかしながら、上述した方法で液晶を充填した場合には、充填時間が非常に長くなる。特に、対角1m以上の大型の基板を使用する場合には、液晶の充填に1日以上を要することになる。
An electro-optical device such as a liquid crystal device is used for a color image display unit in an electronic device such as a mobile phone. The liquid crystal device is configured by sandwiching a liquid crystal layer between a pair of transparent substrates.
In order to form this liquid crystal device, first, a sealing material (sealing material) is applied to the peripheral surface of one substrate. At that time, a liquid crystal injection port is formed in a part of the sealing material. Next, a spacer is sprayed inside the sealing material, and the other substrate is bonded through the sealing material. Thereby, a liquid crystal cell is formed in a region surrounded by the pair of substrates and the sealing material. Next, the inside of the liquid crystal cell is deaerated in a vacuum, and the whole is returned to atmospheric pressure in a state where the liquid crystal inlet is immersed in the liquid crystal tank. Then, the liquid crystal is filled in the liquid crystal cell by the pressure difference between the liquid crystal cell and the outside and the surface tension. However, when the liquid crystal is filled by the above-described method, the filling time becomes very long. In particular, when a large substrate having a diagonal of 1 m or more is used, it takes one day or more to fill the liquid crystal.
そこで、上記液晶注入口を有しない枠状のシール材を設けた基板上に液晶を滴下し、基板の貼り合わせを行う滴下組立法が提案されている。この方法は、まず一方の基板の表面周縁部に、熱硬化性樹脂等からなるシール材を塗布する。次に、そのシール材の内側に、液滴吐出装置により所定量の液晶を滴下する。最後に、シール材を介して他方の基板を真空雰囲気にて貼り合わせ、大気圧雰囲気に解放、シール材に紫外線を照射したり加熱処理をしたりすることで、液晶装置を形成するというものである。そのため、従来の液晶注入方法とは異なり、シール材は注入口が無い環状に形成される。 Therefore, a dropping assembly method has been proposed in which liquid crystal is dropped onto a substrate provided with a frame-shaped sealing material that does not have the liquid crystal inlet, and the substrates are bonded together. In this method, first, a sealing material made of a thermosetting resin or the like is applied to the peripheral edge of the surface of one substrate. Next, a predetermined amount of liquid crystal is dropped inside the sealing material by a droplet discharge device. Finally, the other substrate is bonded in a vacuum atmosphere via a sealing material, released to an atmospheric pressure atmosphere, and the sealing material is irradiated with ultraviolet rays or heat-treated to form a liquid crystal device. is there. Therefore, unlike the conventional liquid crystal injection method, the sealing material is formed in an annular shape without an injection port.
このような方法によれば、両基板を貼り合わせた後に、大気圧雰囲気に解放することで両基板表面から均一な圧力がかかり所定のセルギャップを得ることが可能となる。また、セルギャップは液晶の滴下量により決定することが可能となる。例えば、液晶の滴下量が少な過ぎるとセルギャップが薄くなって気泡等が発生し易くなり、また、滴下量が多過ぎるとセルギャップが厚くなってセルギャップムラが発生し易くなる。そこで、液晶の滴下量を最適に設定することにより、均一なセルギャップを得ることが可能となる。更に、このような方法は、従来の液晶注入法とは異なり、液晶の使用量削減、注入・封止工程省略によるタクトタイム短縮が可能となる。 According to such a method, it is possible to obtain a predetermined cell gap by applying a uniform pressure from the surfaces of both substrates by releasing them to an atmospheric pressure atmosphere after bonding the both substrates. The cell gap can be determined by the amount of liquid crystal dropped. For example, if the amount of liquid crystal dropped is too small, the cell gap becomes thin and bubbles are likely to be generated, and if the amount of dropped liquid is too large, the cell gap becomes thick and cell gap unevenness is likely to occur. Therefore, a uniform cell gap can be obtained by optimally setting the liquid crystal dropping amount. Furthermore, unlike the conventional liquid crystal injection method, such a method can reduce the amount of liquid crystal used and shorten the tact time by omitting the injection / sealing process.
また、シール材の形成方法としては、ディスペンサを用いる方法が提案されている(例えば、特許文献1〜3。)。この方法は、ディスペンサと基板とを相対移動させながら、基板上にシール材を所定のパターンに吐出形成する方法である。ここで、基板上に吐出されたシール材が環状パターンとなるように、パターンの外周部の一部において先に吐出されたシール材と、後に吐出されたシール材とを重合させている。これにより、液晶を滴下した後に基板を貼り合わせた場合に、液晶がシール材の環状パターンの外部に漏れるのを抑制している。
しかしながら、本発明者らは、上記の特許文献に記載された液晶装置においては、シール材を安定して形成することが困難であること、隣接するパネルとの間にダミースペースを設ける必要があるということ、1回の描画動作で一つのパターンを形成するために描画開始及び描画終了の際にディスペンサを制御する必要があること、を見出した。更に、一般的にディスペンサを用いてシール材を形成する方法においては、セルギャップ不良が生じ易いことを見出した。
本発明は、上記課題を解決するためになされたものであり、均一なセルギャップを実現できる液晶装置の製造方法、液晶装置、及び電子機器を提供することを目的としている。
However, the present inventors have difficulty in stably forming the sealing material in the liquid crystal device described in the above patent document, and it is necessary to provide a dummy space between adjacent panels. That is, it has been found that it is necessary to control the dispenser at the start and end of drawing in order to form one pattern in one drawing operation. Furthermore, it has been found that a cell gap defect is likely to occur in a method of forming a sealing material using a dispenser.
SUMMARY An advantage of some aspects of the invention is that it provides a method of manufacturing a liquid crystal device, a liquid crystal device, and an electronic apparatus that can realize a uniform cell gap.
本発明者らは、ディスペンサを利用したシール材の吐出方法に関し、以下の知見を見出した。
このような吐出方法においては、図35(a)、(b)に示すようにシール材の描画開始部500、及び描画終了部510の部材の太さを、その他の部分と同じ太さに形成する必要がある。その理由は、太すぎるとセルギャップが厚くなり表示ムラが発生してしまい、また、細いとその部分から液晶が漏れ易くなり、信頼性が低下してしまうためである。ところが、ディスペンサにてシール材を描画する場合、一般に図35(a)、(b)に示すように描画開始部500及び描画終了部510でシールの太り(飛び)、もしくは細りが発生しやすい傾向があり、接合部520を均一な太さにするためには、図35(c)に示すように描画開始部500と描画終了部510とを重ねることが多い。この場合、重なり部分の長さは4mm程度必要となり、シール材の粘度ばらつき等により、その部分の幅W2が所定の狙い幅W1より、0.1〜0.2mm程度(ΔW=W2−W1=0.1〜0.2mm)太くなることが確認されている。
The present inventors have found the following knowledge regarding a discharge method of a sealing material using a dispenser.
In such a discharge method, as shown in FIGS. 35 (a) and 35 (b), the thicknesses of the members of the drawing start portion 500 and the drawing end portion 510 of the sealing material are formed to the same thickness as other portions. There is a need to. The reason is that if it is too thick, the cell gap becomes thick and display unevenness occurs, and if it is too thin, the liquid crystal is liable to leak from that portion and the reliability is lowered. However, when drawing a sealing material with a dispenser, generally, as shown in FIGS. 35A and 35B, the drawing start part 500 and the drawing end part 510 tend to easily become thicker (jumped) or thinner. In order to make the joint portion 520 uniform in thickness, the drawing start unit 500 and the drawing end unit 510 are often overlapped as shown in FIG. In this case, the length of the overlapping portion needs to be about 4 mm, and the width W2 of the portion is about 0.1 to 0.2 mm (ΔW = W2−W1 = from the predetermined target width W1) due to variations in the viscosity of the sealing material. 0.1 to 0.2 mm) has been confirmed to be thick.
また、TFD(Thin Film Transistor)駆動の液晶装置や、STN(Super Twisted Nematic)液晶をパッシブ駆動で動作させる液晶装置等においては、図36及び図37に示すようにドライバIC600、610を備える回路基板の表面に形成された引き回し配線601と、対向基板に形成されたコモン電極(以下、COM電極と称する。)602とを、導通パッド603において電気的に接続(導通)させる必要がある。この場合、スペーサ表面にメッキ処理を施した導通粒子をシール材に分散させ、当該シール材を導通パッド603上に配置することにより、当該導通粒子を介して引き回し配線601と、COM電極602とが導通し、ドライバIC600の出力電位が対向基板の配線に付与される。
一方、ドライバIC610から表示エリア620まで引き回されたセグメント電極(以下、SEG電極と称する。)604や、ドライバIC600から導通パッド603まで引き回された引き回し配線601においては、シール材を横断させる必要がある。この場合、引き回し配線601及びSEG電極604における各々の電極が互いに短絡してしまうのを防止するために、導通粒子を含有しないシール材を引き回し配線601及びSEG電極604上に横断させている。
ところで、このように導通粒子を含有するシール材、及び非導通性のシール材の両者を用いる場合には、導通パッド603の端(図37中A)から、COM電極601がシール材を横断する最も端の部分(図37中B)までの間で、当該両シール材を接続する必要がある。TFD液晶装置や、STN液晶装置においては、この部分の距離Lを2mm以下に設定することが多い。このため、単純に図35(c)に示す重なり部分の長さ4mmよりも短くすると、図35(d)のように接合部520の重なり部分の長さが1mmとなり、幅W3が所定の狙い幅W1より、0.5〜0.6mm程度(ΔW=W3−W1=0.5〜0.6mm)太くなり、これに起因してセルギャップ不良が生じ易くなってしまうことが確認されている。
Further, in a liquid crystal device driven by TFD (Thin Film Transistor), a liquid crystal device that operates STN (Super Twisted Nematic) liquid crystal by passive drive, etc., a circuit board including driver ICs 600 and 610 as shown in FIGS. It is necessary to electrically connect (conduct) the lead wiring 601 formed on the surface of the lead wire 601 and the common electrode (hereinafter referred to as a COM electrode) 602 formed on the counter substrate at the conduction pad 603. In this case, the conductive particles plated on the spacer surface are dispersed in the sealing material, and the sealing material is disposed on the conductive pad 603, whereby the routing wiring 601 and the COM electrode 602 are connected via the conductive particles. Conduction is performed, and the output potential of the driver IC 600 is applied to the wiring of the counter substrate.
On the other hand, in the segment electrode (hereinafter referred to as SEG electrode) 604 routed from the driver IC 610 to the display area 620 and the lead wiring 601 routed from the driver IC 600 to the conductive pad 603, it is necessary to cross the sealing material. There is. In this case, in order to prevent each electrode in the routing wiring 601 and the SEG electrode 604 from being short-circuited with each other, a sealing material not containing conductive particles is traversed on the wiring 601 and the SEG electrode 604.
By the way, when both the sealing material containing conductive particles and the non-conductive sealing material are used, the COM electrode 601 crosses the sealing material from the end of the conductive pad 603 (A in FIG. 37). It is necessary to connect both the sealing materials up to the end portion (B in FIG. 37). In the TFD liquid crystal device and the STN liquid crystal device, the distance L of this portion is often set to 2 mm or less. Therefore, if the length of the overlapping portion shown in FIG. 35C is simply shorter than 4 mm, the length of the overlapping portion of the joint portion 520 becomes 1 mm as shown in FIG. 35D, and the width W3 is a predetermined target. It has been confirmed that the width W1 becomes thicker by about 0.5 to 0.6 mm (ΔW = W3−W1 = 0.5 to 0.6 mm), and this is likely to cause a cell gap defect. .
また、特許文献1は、シールラインを形成する始端と終端の重なり部分の幅寸法をシールライン幅の0.4〜0.6倍に設定するものであるが、この方法ではディスペンサの制御が非常に複雑になり、描画に多くの時間を要し、ディスペンサの中に残存するシール材の量のばらつきや、シール材のロット間の粘度ばらつきに起因して、シール形状がばらつきやすく、管理が非常に困難であるという問題を有している。
また、特許文献2は、閉ループ状シール部材の外のいずれかの部分から描画を開始し、かつ描画を開始した部分と異なる閉ループ状シール部材の外の箇所で描画を終了しているが、この方法では隣接するパネルとの間にダミースペースを設ける必要があるという問題がある。また、特許文献1〜3のいずれの方法も、1回の描画動作で一つの部材を形成するため、描画開始及び描画終了の際にディスペンサを制御するのに時間を要し、タクトが長くなるという問題もある。
そこで、本発明者らは、上記に基づいて以下の手段を有する本発明を想到した。
Further, Patent Document 1 sets the width dimension of the overlapping portion of the start end and the end forming the seal line to 0.4 to 0.6 times the seal line width. However, in this method, the dispenser is extremely controlled. Due to variations in the amount of sealing material remaining in the dispenser and variations in viscosity between lots of sealing materials, the seal shape tends to vary and management is extremely difficult. Have the problem of being difficult.
Further, Patent Document 2 starts drawing from any part outside the closed-loop seal member, and finishes drawing at a location outside the closed-loop seal member different from the part from which drawing has started. This method has a problem that it is necessary to provide a dummy space between adjacent panels. Further, in any of the methods of Patent Documents 1 to 3, since one member is formed by one drawing operation, it takes time to control the dispenser at the start and end of drawing, and the tact time becomes long. There is also a problem.
Therefore, the present inventors have arrived at the present invention having the following means based on the above.
即ち、本発明の液晶装置の製造方法は、液晶層を挟持して対向配置された第1基板及び第2基板と、当該両基板の周縁部に形成され、前記液晶層をシールする第1シール部材と前記第1シール部材とは個別の第2シール部材とで構成された環状部を含むシール部材と、を具備する液晶装置の製造方法であって、両端部に第1シール層を有する前記第1シール部材と両端部に第2シール層を有する前記第2シール部材とを、当該第1シール部材及び第2シール部材とによって囲まれる領域が内側に形成されるように、対向させた位置に形成する工程と、前記第1シール部材及び前記第2シール部材により囲まれる領域の内側に前記液晶層を形成する工程と、前記第1基板と前記第2基板とを貼り合せる際、前記第1シール部材及び前記第2シール部材を押圧することで、前記第1シール層と前記第2シール層とが接合された接合部を、前記環状部の対向した二辺の外側にそれぞれ形成するとともに、前記接合部を介して前記第1シール部材と前記第2シール部材とを接続させる工程と、を有することを特徴とする。
That is, according to the method for manufacturing a liquid crystal device of the present invention, a first substrate and a second substrate which are disposed to face each other with a liquid crystal layer interposed therebetween, and a first seal which is formed on the peripheral edge of both the substrates and seals the liquid crystal layer. A liquid crystal device manufacturing method comprising: a sealing member including an annular portion formed of a member and the first sealing member, each of which includes an individual second sealing member, wherein the first sealing layer is provided at both ends. A position where the first seal member and the second seal member having the second seal layer at both ends are opposed to each other so that a region surrounded by the first seal member and the second seal member is formed inside. Forming the liquid crystal layer inside a region surrounded by the first seal member and the second seal member, and bonding the first substrate and the second substrate to each other. 1 seal member and the second seat By pressing the member, the joint between the first sealing layer and the second seal layer are joined, thereby forming respective outside the two sides facing the annular portion, the through the joint A step of connecting the first seal member and the second seal member.
ここで、第1シール層及び第2シール層とは、シール部材形成工程によって形成されて、貼り合わせ工程の前から互いに重なり合って一時的に接合された状態となる部位である。更に、貼り合わせ工程によって当該第1シール層及び第2シール層は互いの接合面積が広がりながら、接合部となる部位である。従って、換言すれば、第1シール層及び第2シール層は接合部の前形状となるものである。
また、接合部とは、基板上に形成されたシール材料が相互に接合している部位であり、また、環状部の内側の液晶層が外部に漏れるのを防ぐために当該環状部を閉塞させている部位である。また、当該接合部は、基板の鉛直方向にシール材料が重なって接合された状態や、基板の水平方向にシール材料が隣接して接合された状態を含むものである。また、当該接合部は、その一部が環状部の外側に形成されていることから、当該接合部は環状部を接合させている部分から環状部の外側に向けて形成されたものとなっている。従って、環状部上に全ての接合部が重なって形成されたものではなく、接合部の一部のみが環状部を接合させ、その他の部分が環状部の外側に向けて形成されたものとなっている。
また、シール部材形成工程においては、シール材料が充填されたディスペンサと第1基板又は第2基板とを相対移動させながら、ディスペンサのノズルからシール材料を吐出する吐出方法が利用される。
Here, the first seal layer and the second seal layer are portions that are formed by the seal member forming step and are overlapped with each other and temporarily joined before the bonding step. Further, the first seal layer and the second seal layer are portions that become a joint portion while the mutual joint area is widened by the bonding process. Therefore, in other words, the first seal layer and the second seal layer are the front shape of the joint.
The bonding portion is a portion where the sealing materials formed on the substrate are bonded to each other, and the annular portion is closed to prevent the liquid crystal layer inside the annular portion from leaking to the outside. It is a part. Moreover, the said junction part includes the state where the sealing material overlapped and joined in the vertical direction of the substrate, and the state where the sealing material joined adjacently in the horizontal direction of the substrate. Moreover, since the said junction part is formed in the outer side of the annular part, the said junction part becomes what was formed toward the outer side of the annular part from the part which joined the annular part. Yes. Therefore, not all the joining portions are formed on the annular portion, but only a part of the joining portion is joined to the annular portion, and the other portions are formed toward the outside of the annular portion. ing.
Further, in the seal member forming step, a discharge method is used in which the seal material is discharged from the nozzle of the dispenser while relatively moving the dispenser filled with the seal material and the first substrate or the second substrate.
このようにすれば、接合部の一部によって環状部を閉塞させるので、接合部からの液晶層の漏れを抑制でき、液晶装置の信頼性を向上させることができる。また、接合部は環状部の外側に向けて形成されているので、貼り合わせ工程を施した際には環状部の外側において接合部の幅が広がるだけで済み、環状部の内部にシール部材が突出するのを抑制できる。また、環状部の内部のセルギャップに影響を与えることがなく、当該セルギャップを均一に保持できる。ここで、具体的に説明すれば、環状部の内部にシールが突出した場合では、例えば液晶装置の表示領域内のカラーフィルタにシールが乗り上げる場合があり、セルギャップに影響を与え易くなる。これに対して、本発明では、環状部の外側、即ち、カラーフィルタが形成されていない領域にシール部材が形成されているので、カラーフィルタにシールが乗り上がることがない。従って、セルギャップを均一に保持できる。
また、従来技術と比較して、環状部及び接合部の各々の部材幅を調整する必要がなく、同一幅の部材で環状部及び接合部を形成することができ、容易にシール部材を形成できる。従って、ディスペンサの制御が容易になり、シール部材の描画を短時間で終了させることができる。また、ディスペンサの中に残存するシール材料の量のばらつきや、シール材料のロット間の粘度ばらつきを問題視する必要がなく、シール部材の形状の管理を容易にできる。
In this way, since the annular portion is closed by a part of the joint, leakage of the liquid crystal layer from the joint can be suppressed, and the reliability of the liquid crystal device can be improved. In addition, since the joining portion is formed toward the outside of the annular portion, when the bonding process is performed, it is only necessary to widen the joining portion on the outside of the annular portion, and the sealing member is provided inside the annular portion. Protruding can be suppressed. In addition, the cell gap can be kept uniform without affecting the cell gap inside the annular portion. More specifically, when the seal protrudes inside the annular portion, for example, the seal may run on a color filter in the display area of the liquid crystal device, which easily affects the cell gap. On the other hand, in the present invention, since the seal member is formed outside the annular portion, that is, in the region where the color filter is not formed, the seal does not run over the color filter. Therefore, the cell gap can be kept uniform.
Further, compared to the prior art, it is not necessary to adjust the member width of each of the annular portion and the joint portion, and the annular portion and the joint portion can be formed with a member having the same width, and the seal member can be easily formed. . Therefore, it becomes easy to control the dispenser, and drawing of the seal member can be completed in a short time. Further, it is not necessary to consider the variation in the amount of the sealing material remaining in the dispenser and the viscosity variation between lots of the sealing material, and the shape of the sealing member can be easily managed.
また、本発明の液晶装置の製造方法においては、前記シール部材形成工程は、前記環状部の第1辺を前記シール部材が延在する直線上に形成し、前記第1シール層又は前記第2シール層のうちいずれか一方を、前記第1辺と連続して形成すること、を特徴としている。
このようにすれば、上記の製造方法と同様の効果が得られるだけでなく、シール部材が延在する直線上に環状部の第1辺を形成することができる。また、当該第1辺と連続させて第1シール層又は第2シール層を形成することができる。
In the method for manufacturing a liquid crystal device of the present invention, in the sealing member forming step, the first side of the annular portion is formed on a straight line extending from the sealing member, and the first sealing layer or the second sealing layer is formed. One of the sealing layers is formed continuously with the first side.
If it does in this way, not only the effect similar to said manufacturing method will be acquired, but the 1st edge of an annular part can be formed on the straight line where a seal member extends. Further, the first seal layer or the second seal layer can be formed continuously with the first side.
また、本発明の液晶装置の製造方法においては、前記シール部材形成工程は、前記環状部における前記第1辺の軸方向に直交する軸方向において、第2辺を形成し、前記第1シール層又は前記第2シール層のうち、一方を前記第1辺と連続して形成し、他方を前記第2辺と曲線部を介して連続して形成すること、を特徴としている。
このようにすれば、上記の製造方法と同様の効果が得られるだけでなく、第2シール層又は第1シール層の一方と第2辺とを、曲線部を介して接続することができる。
Moreover, in the manufacturing method of the liquid crystal device of the present invention, the sealing member forming step forms a second side in an axial direction perpendicular to the axial direction of the first side in the annular portion, and the first sealing layer Alternatively, one of the second seal layers is formed continuously with the first side, and the other is formed continuously with the second side via a curved portion.
If it does in this way, not only the effect similar to said manufacturing method will be acquired, but one side and the 2nd side of the 2nd seal layer or the 1st seal layer can be connected via a curvilinear part.
また、本発明の液晶装置の製造方法においては、前記貼り合わせ工程を施した後の前記環状部における前記シール部材の線幅をw3、前記第1シール層の中心線と前記第2シール層の中心線との間の距離をd3、前記曲線部の半径をR3とすると、
このようにすれば、上記の製造方法と同様の効果が得られるだけでなく、シール部材の太さに依らず、環状部から液晶層が漏れるのを防止することができる。
また、従来の方法では、接合部においてシール部材の太りが発生したり、太りを最小限に抑制するために重ね部分の距離を長くしたりする必要があり、また、装置の制御も複雑になってシール部材の描画時間が長くなるという課題があった。これに対し、本発明の方法によれば、シール部材を全ての部分において同一のスピードで描画することが可能であり、また、書き始め部分や、書き終わり部分も液晶装置から十分離れた部分であるため複雑な制御も必要なくなる。これらの効果により描画時間は従来の1/2〜1/3と大幅な短縮ができ、且つシール部材の接合部での液晶装置の内側方向へのシール部材の太りも解消できる。
In this way, not only the same effects as in the above manufacturing method can be obtained, but also the liquid crystal layer can be prevented from leaking from the annular portion regardless of the thickness of the seal member.
In addition, in the conventional method, the seal member is thickened at the joint, or the distance between the overlapping portions needs to be increased in order to minimize the thickness, and the control of the apparatus becomes complicated. Thus, there is a problem that the drawing time of the seal member becomes long. On the other hand, according to the method of the present invention, it is possible to draw the seal member at the same speed in all portions, and the writing start portion and the writing end portion are also portions sufficiently away from the liquid crystal device. This eliminates the need for complicated control. Due to these effects, the drawing time can be significantly shortened to 1/2 to 1/3 of the conventional one, and the thickness of the sealing member toward the inside of the liquid crystal device at the joint portion of the sealing member can be eliminated.
また、本発明の液晶装置の製造方法においては、前記シール部材形成工程は、前記環状部における前記第1辺の軸方向に直交する軸方向において、第2辺を形成し、前記第1シール層又は前記第2シール層のうち、一方を前記第1辺と連続して形成し、他方を前記第2辺と傾斜部を介して連続して形成すること、を特徴としている。
このようにすれば、上記の製造方法と同様の効果が得られるだけでなく、第2シール層又は第1シール層の一方と第2辺とを、傾斜部を介して接続することができる。
Moreover, in the manufacturing method of the liquid crystal device of the present invention, the sealing member forming step forms a second side in an axial direction perpendicular to the axial direction of the first side in the annular portion, and the first sealing layer Alternatively, one of the second seal layers is formed continuously with the first side, and the other is formed continuously with the second side through an inclined portion.
If it does in this way, not only the same effect as the above-mentioned manufacturing method will be acquired, but either the 2nd seal layer or the 1st seal layer, and the 2nd side can be connected via an inclined part.
また、本発明の液晶装置の製造方法においては、前記貼り合わせ工程を施した後の前記環状部における前記シール部材の線幅をw3、前記第1シール層の中心線と前記第2シール層の中心線との間の距離をd3、前記傾斜部の面取り量をc3とすると、
このようにすれば、上記の製造方法と同様の効果が得られるだけでなく、シール部材の太さに依らず、環状部から液晶層が漏れるのを防止することができる。
また、シール部材を全ての部分において同一のスピードで描画することが可能であり、また、書き始め部分や、書き終わり部分も液晶装置から十分離れた部分であるため複雑な制御も必要なくなる。これらの効果により描画時間は従来の1/2〜1/3と大幅な短縮ができ、且つシール部材の接合部での液晶装置の内側方向へのシール部材の太りも解消できる。
In this way, not only the same effects as in the above manufacturing method can be obtained, but also the liquid crystal layer can be prevented from leaking from the annular portion regardless of the thickness of the seal member.
In addition, the seal member can be drawn at the same speed in all portions, and the writing start portion and the writing end portion are portions sufficiently away from the liquid crystal device, so that complicated control is not necessary. Due to these effects, the drawing time can be significantly shortened to 1/2 to 1/3 of the conventional one, and the thickness of the sealing member toward the inside of the liquid crystal device at the joint portion of the sealing member can be eliminated.
また、本発明の液晶装置の製造方法においては、前記第1基板は、複数の第1素子領域を有する第1母材を、当該複数の第1素子領域の相互境界部において分割して、前記第1素子領域毎に得られたものであり、前記第2基板は、複数の第2素子領域を有する第2母材を、当該複数の第2素子領域の相互境界部において分割して、前記第2素子領域毎に得られたものであること、を特徴としている。
このようにすれば、上記の製造方法と同様の効果が得られるだけでなく、第1母材及び第2母材から複数の第1素子領域及び第2素子領域を分割して取り出すことにより第1基板及び第2基板からなる液晶装置を複数取り出すことができる。従って、生産性が優れた製造方法を実現できる。
In the method for manufacturing a liquid crystal device according to the present invention, the first substrate may be formed by dividing a first base material having a plurality of first element regions at a mutual boundary portion of the plurality of first element regions, and The second substrate is obtained for each first element region, and the second substrate is obtained by dividing a second base material having a plurality of second element regions at mutual boundary portions of the plurality of second element regions, and It is obtained for each second element region.
In this way, not only the same effect as the manufacturing method described above can be obtained, but also the first element region and the second element region can be divided and taken out from the first base material and the second base material. A plurality of liquid crystal devices composed of one substrate and a second substrate can be taken out. Therefore, a manufacturing method with excellent productivity can be realized.
また、本発明の液晶装置の製造方法においては、前記シール部材形成工程は、前記第1シール層と前記第2シール層とのうちの一方、かつ、前記環状部の一部、となる第1シール部材を形成する第1シール部材形成工程と、当該第1シール部材形成工程の後に、前記第1シール層と前記第2シール層とのうちの他方、かつ、前記環状部の残部、となる第2シール部材を形成する第2シール部材形成工程と、を含むこと、を特徴としている。
このようにすれば、上記の製造方法と同様の効果が得られるだけでなく、第1シール部材及び第2シール部材で形成されたシール部材を有する液晶装置を製造できる。また、シール部材が一の部材のみからなる場合では、シール材料を異ならせて環状部や接合部を形成することが困難であるが、本発明によれば第1シール部材と第2シール部材の各々についてシール材料を選択できる。これにより、シール部材が形成される部位のうち、特定の部位のみに対して第1シール部材又は第2シール部材のいずれか一方を選択して形成できる。
In the method for manufacturing a liquid crystal device according to the present invention, the sealing member forming step may be one of the first seal layer and the second seal layer and a part of the annular portion. After the first seal member forming step for forming the seal member and the first seal member forming step, the other of the first seal layer and the second seal layer, and the remaining portion of the annular portion. And a second seal member forming step for forming the second seal member.
In this way, not only the same effects as in the above manufacturing method can be obtained, but also a liquid crystal device having a seal member formed by the first seal member and the second seal member can be manufactured. Further, in the case where the seal member is composed of only one member, it is difficult to form the annular portion or the joint portion by using different seal materials. However, according to the present invention, the first seal member and the second seal member A seal material can be selected for each. Thereby, either a 1st seal member or a 2nd seal member can be selected and formed only with respect to a specific site | part among the site | parts in which a seal member is formed.
また、本発明の液晶装置の製造方法においては、前記第1シール部材形成工程は、前記第1母材における前記複数の第1素子領域及び前記相互境界部に対し、前記第1素子領域が配列する方向に向けて、又は、前記第2母材における前記複数の第2素子領域及び前記相互境界部に対し、前記第2素子領域が配列する方向に向けて、前記第1シール部材を連続して一括に形成すること、を特徴としている。
また、前記第2シール部材形成工程は、前記第1シール部材形成工程を施した後に、前記第1母材における前記複数の第1素子領域及び前記相互境界部に対し、前記第1素子領域が配列する方向に向けて、又は、前記第2母材における前記複数の第2素子領域及び前記相互境界部に対し、前記第2素子領域が配列する方向に向けて、前記第2シール部材を連続して一括に形成すること、を特徴としている。
In the method for manufacturing a liquid crystal device of the present invention, in the first seal member forming step, the first element regions are arranged with respect to the plurality of first element regions and the mutual boundary portions in the first base material. The first seal member is continuously directed toward the direction in which the second element regions are arranged with respect to the plurality of second element regions and the mutual boundary portions in the second base material. It is characterized in that it is formed in a batch.
Further, in the second seal member forming step, after the first seal member forming step is performed, the first element region is formed with respect to the plurality of first element regions and the mutual boundary portions in the first base material. The second seal member is continuously directed in the direction in which the second element regions are arranged with respect to the arrangement direction or with respect to the plurality of second element regions and the mutual boundary portions in the second base material. And forming them in a lump.
このようにすれば、第1シール部材の描画開始から描画終了までの単工程、及び第2シール部材の描画開始から描画終了までの単工程によって、複数の第1素子領域又は複数の第2素子領域の配列方向に対してシール部材を一括形成できる。これにより、容易かつ迅速にシール部材を形成することができ、生産性が優れた製造方法を実現できる。
一方、複数の第1素子領域や複数の第2素子領域の各々にシール部材を形成する場合では、各領域に対してシール部材の描画開始と描画終了を行わなければならず、従って、複数の第1素子領域や複数の第2素子領域に対して描画開始と描画終了を繰り返さなければならない。これにより、シール材料の吐出、非吐出が連続して生じるので、ディスペンサ内においてシール材料を安定して流動させることが困難となり、吐出するシール材料の量のばらつきが生じやすくなる。また、ディスペンサを第1母材上又は第2母材上を走査しなければならず、ディスペンサの動作が煩雑化してしまう。
これに対して、本発明は、第1素子領域又は第2素子領域の配列方向に向けて連続して一括に第1シール部材及び第2シール部材を形成しているので、第1素子領域又は第2素子領域の列又は行毎に描画開始と描画終了を行うだけでよく、従って、描画開始数と描画終了数を少なくすることができる。これにより、ディスペンサ内のシール材料を安定して流動させながら、第1シール部材及び第2シール部材を連続かつ一括に形成できる。また、短時間でシール部材を形成することができる。また、ディスペンサが非吐出状態で第1素子領域上又は第2素子領域上を走査することがないので、ディスペンサに充填されたシール材料が不用意に滴下するのを防止できる。従って、ディスペンサの動作を簡素化でき、シール材料の粘度ばらつきや、吐出量ばらつきを抑制できる。
また、このような方法によって形成された第1素子領域及び第2素子領域の各々のシール部材は、接合部を介して接続されているので、隣接する領域間において液晶材料が漏れるのを防止できる。
In this way, a plurality of first element regions or a plurality of second elements are obtained by a single process from the start of drawing the first seal member to the end of drawing and a single process from the start of drawing the second seal member to the end of drawing. Seal members can be collectively formed in the arrangement direction of the regions. Thereby, a sealing member can be formed easily and rapidly, and the manufacturing method excellent in productivity is realizable.
On the other hand, in the case of forming the seal member in each of the plurality of first element regions and the plurality of second element regions, drawing start and drawing end of the seal member must be performed for each region. Drawing start and drawing end must be repeated for the first element region and the plurality of second element regions. Accordingly, since the discharge and non-discharge of the sealing material occur continuously, it becomes difficult to stably flow the sealing material in the dispenser, and the amount of the sealing material to be discharged tends to vary. Further, the dispenser must be scanned on the first base material or the second base material, and the operation of the dispenser becomes complicated.
On the other hand, the present invention forms the first seal member and the second seal member collectively in a continuous manner in the arrangement direction of the first element region or the second element region. It is only necessary to start and end drawing for each column or row of the second element region, and therefore the number of drawing start and the number of drawing end can be reduced. Thereby, the 1st seal member and the 2nd seal member can be formed continuously and collectively, making the seal material in a dispenser flow stably. Further, the seal member can be formed in a short time. In addition, since the dispenser does not scan the first element region or the second element region in the non-ejection state, it is possible to prevent the sealing material filled in the dispenser from dripping inadvertently. Therefore, the operation of the dispenser can be simplified, and variations in the viscosity of the sealing material and variations in the discharge amount can be suppressed.
Further, since the seal members of the first element region and the second element region formed by such a method are connected via the joint portion, the liquid crystal material can be prevented from leaking between adjacent regions. .
また、本発明の液晶装置の製造方法においては、前記第1母材又は前記第2母材のいずれか一方の母材に前記第1シール部材形成工程を施し、他方の母材に前記第2シール部材形成工程を施すこと、を特徴としている。また、前記第1母材又は前記第2母材の一方のみに前記第1シール部材形成工程及び前記第2シール部材形成工程を施すこと、を特徴としている。
このようにすれば、上記の製造方法と同様の効果が得られる。
In the method for manufacturing a liquid crystal device of the present invention, the first seal member forming step is performed on one of the first base material and the second base material, and the second base material is subjected to the second base material. A sealing member forming step is performed. Further, the first seal member forming step and the second seal member forming step are performed only on one of the first base material and the second base material.
If it does in this way, the effect similar to said manufacturing method will be acquired.
また、本発明の液晶装置は、液晶層を挟持して対向配置された第1基板及び第2基板と、当該両基板の周縁部に形成されたシール部材とを具備する液晶装置であって、先に記載
の製造方法によって製造されたことを特徴とする。
このようにすれば、接合部の一部によって環状部を閉塞させるので、接合部からの液晶材料の漏れを抑制でき、液晶装置の信頼性を向上させることができる。また、環状部を閉塞させている部分を除き、環状部の外側に接合部が形成されるので、第1基板と第2基板との貼り合わせによって接合部の幅が太くなったとしても、環状部の外側において幅が広がるだけで済み、環状部の内部にシール部材が突出するのを抑制できる。従って、環状部の内部のセルギャップに影響を与えることがなく、当該セルギャップを均一に保持できる。また、従来技術と比較して、環状部及び接合部の各々の部材幅を調整する必要がなく、同一幅の部材で環状部及び接合部を形成できる。
The liquid crystal device of the present invention is a liquid crystal device comprising a first substrate and a second substrate opposed to the liquid crystal layer is sandwiched, and a sealing member formed on the periphery of the two substrates, Listed first
It was manufactured by the manufacturing method of .
In this way, since the annular portion is closed by a part of the joint, leakage of the liquid crystal material from the joint can be suppressed, and the reliability of the liquid crystal device can be improved. In addition, since the joined portion is formed outside the annular portion except for the portion that closes the annular portion, even if the width of the joined portion is increased by bonding the first substrate and the second substrate, It is only necessary to widen the width outside the portion, and the seal member can be prevented from protruding inside the annular portion. Therefore, the cell gap can be kept uniform without affecting the cell gap inside the annular portion. Moreover, compared with the prior art, it is not necessary to adjust the member width of each of the annular portion and the joint portion, and the annular portion and the joint portion can be formed with members having the same width.
また、本発明の液晶装置においては、前記シール部材は、一の部材からなり、前記環状部は、前記一の部材によって環状に囲まれた部分に前記液晶層を保持し、前記接合部は、前記一の部材の一端と他端とを1箇所で接合させていること、を特徴としている。
ここで、「シール部材は、一の部材からなり」とは、後述する第1シール部材及び第2シール部材によって形成されたものとは異なり、始端から終端に向けてシール材料を連続吐出して形成したもの、所謂一筆書きでシール材料を吐出して形成したものを意味する。
このようにすれば、上記の液晶装置と同様の効果が得られるだけでなく、シール材料が一の部材で形成されたシール部材を有する液晶装置を実現できる。また、シール部材の一端と他端とを1箇所で接合させた接合部によって環状部が閉塞するので、接合部を最小数にすることができ、接合部が複数設けられた場合と比較して、セルギャップ不良がより確実に抑制された液晶装置を実現できる。
In the liquid crystal device according to the aspect of the invention, the seal member may be a single member, the annular portion may hold the liquid crystal layer in a portion that is annularly surrounded by the one member, and the joint portion may be One end and the other end of the one member are joined at one place.
Here, “the seal member is composed of one member” means that the seal material is continuously discharged from the start end to the end, unlike the case formed by the first seal member and the second seal member described later. It means that formed by discharging a sealing material by so-called one-stroke writing.
In this way, not only the same effect as the liquid crystal device described above can be obtained, but also a liquid crystal device having a seal member in which the seal material is formed of one member can be realized. In addition, since the annular portion is closed by a joint portion where one end and the other end of the seal member are joined at one place, the number of joint portions can be minimized, as compared with the case where a plurality of joint portions are provided. Thus, it is possible to realize a liquid crystal device in which cell gap defects are more reliably suppressed.
また、本発明の液晶装置においては、前記シール部材は、第1シール部材と第2シール部材とからなり、前記環状部は、前記第1シール部材及び前記第2シール部材によって環状に囲まれた部分に前記液晶層を保持し、前記接合部は、前記第1シール部材及び前記第2シール部材の一端を接合させ、かつ、前記第1シール部材及び前記第2シール部材の他端を接合させていること、を特徴としている。
このようにすれば、上記の液晶装置と同様の効果が得られるだけでなく、第1シール部材及び第2シール部材で形成されたシール部材を有する液晶装置を実現できる。また、シール部材が一の部材のみからなる場合では、シール材料を異ならせて環状部や接合部を形成することが困難であるが、本発明によれば第1シール部材と第2シール部材の各々についてシール材料を選択できる。これにより、シール部材が形成される部位のうち、特定の部位のみに対して第1シール部材又は第2シール部材のいずれか一方を選択して形成できる。
In the liquid crystal device according to the aspect of the invention, the seal member includes a first seal member and a second seal member, and the annular portion is annularly surrounded by the first seal member and the second seal member. The liquid crystal layer is held in a portion, and the joining portion joins one end of the first seal member and the second seal member and joins the other end of the first seal member and the second seal member. It is characterized by that.
In this way, not only the same effects as the above-described liquid crystal device can be obtained, but also a liquid crystal device having a seal member formed by the first seal member and the second seal member can be realized. Further, in the case where the seal member is composed of only one member, it is difficult to form the annular portion or the joint portion by using different seal materials. However, according to the present invention, the first seal member and the second seal member A seal material can be selected for each. Thereby, either a 1st seal member or a 2nd seal member can be selected and formed only with respect to a specific site | part among the site | parts in which a seal member is formed.
また、本発明の電子機器は、先に記載の液晶装置を具備すること、を特徴としている。
本発明によれば、信頼性に優れ、高品質の表示が得られる表示部を備えた電子機器が提供される。
According to another aspect of the invention, an electronic apparatus includes the liquid crystal device described above.
ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the electronic device provided with the display part which is excellent in reliability and can obtain a high quality display is provided.
以下、本発明の液晶装置、液晶装置の製造方法、及び電子機器の実施形態について、図面を参照して説明する。なお、以下の説明に用いた各図においては、各層や各部材を図面上で認識可能な程度の大きさとするため、各層や各部材毎に縮尺を異ならせてある。 Hereinafter, embodiments of a liquid crystal device, a method for manufacturing a liquid crystal device, and an electronic apparatus according to the present invention will be described with reference to the drawings. In each drawing used in the following description, the scale is different for each layer and each member so that each layer and each member can be recognized on the drawing.
(第1実施形態)
まず、本発明の第1実施形態に係る液晶装置について説明する。
以下に示す本実施形態の液晶装置は、スイッチング素子として薄膜ダイオード(Thin Film Diode、以下、TFDと略記する)を用いたアクティブマトリクス型の液晶装置の例であり、透過表示を可能にした透過型の液晶装置である。
図1は本実施形態に係る液晶装置の各構成要素を対向基板側から見た平面図であり、図2は図1のH−H’線に沿う断面図である。また、図3は図1の符号Cの領域を拡大して示した平面図であり、図4はシール部材の構成を詳述するための平面図である。図5は液晶装置の画像表示領域4においてマトリクス状に形成された複数の画素における各種素子、配線等の等価回路図であり、図6は各種素子の電極平面構造(画素構造)を説明するための図である。
(First embodiment)
First, the liquid crystal device according to the first embodiment of the present invention will be described.
The liquid crystal device of the present embodiment shown below is an example of an active matrix liquid crystal device using a thin film diode (hereinafter abbreviated as TFD) as a switching element, and is a transmissive type that enables transmissive display. This is a liquid crystal device.
FIG. 1 is a plan view of each component of the liquid crystal device according to the present embodiment as viewed from the counter substrate side, and FIG. 2 is a cross-sectional view taken along the line HH ′ of FIG. 3 is an enlarged plan view showing a region C in FIG. 1, and FIG. 4 is a plan view for explaining the configuration of the seal member in detail. FIG. 5 is an equivalent circuit diagram of various elements and wirings in a plurality of pixels formed in a matrix in the image display region 4 of the liquid crystal device. FIG. 6 is a diagram for explaining an electrode planar structure (pixel structure) of the various elements. FIG.
図1〜図3に示すように、本実施形態の液晶装置100は、TFD基板(第1基板)10、対向基板(第2基板)20、シール部材52、及び液晶層50を主な構成要素として備えている。また、シール部材52は、TFD基板10及び対向基板20の周縁部に形成され、当該両基板によって挟持されている。更に、TFD基板10及び対向基板20の間、かつ、シール部材52の内側に液晶層50が封入、保持されている。
次に、各構成要素について詳述する。
As shown in FIGS. 1 to 3, the liquid crystal device 100 of this embodiment includes a TFD substrate (first substrate) 10, a counter substrate (second substrate) 20, a seal member 52, and a liquid crystal layer 50 as main components. As prepared. Further, the seal member 52 is formed on the peripheral edge portions of the TFD substrate 10 and the counter substrate 20 and is sandwiched between the two substrates. Further, the liquid crystal layer 50 is sealed and held between the TFD substrate 10 and the counter substrate 20 and inside the seal member 52.
Next, each component will be described in detail.
TFD基板10は、ガラス基板等の透明性部材からなるものであり、その表面に画像表示領域4、シール部材52、周辺見切り部材53、導通パッド(第1導通部、導通領域)54、走査信号駆動回路110、及びデータ信号駆動回路120を備えている。
画像表示領域4においては、複数のドットがマトリクス状に形成され、当該ドット毎に画素電極31及びTFD素子40が形成されている。画素電極31は、ITO(インジウム錫酸化物)を主体とする透明電極にて構成されたものである。TFD素子40はSEG電極56を介して走査信号駆動回路110と接続されており、走査信号駆動回路110の駆動信号が電位として画素電極31に付与されるようになっている。画素電極31の表層にはポリイミドを主体として構成される膜に対してラビング処理が施された配向膜が形成されており、電圧が印加されていない液晶層50の液晶分子の配向をラビング方向に揃えるようになっている。周辺見切り部材53は、遮光性材料からなるものであって、画像表示領域4とシール部材52との間に形成されている。導通パッド54は、図3に示すよう引き回し配線55を介してデータ信号駆動回路120と接続されており、後述する対向基板20に形成されたCOM電極(第2導通部、導通領域)57と導通接続するようになっている。走査信号駆動回路110及びデータ信号駆動回路120は、TFD基板10の一辺(紙面左側)に形成されている。そして、走査信号駆動回路110から延出するSEG電極56は、走査信号駆動回路110と画像表示領域4との間においてシール部材52(52a)と重なっている。また、データ信号駆動回路120から延出する引き回し配線55は、データ信号駆動回路120と導通パッド54との間においてシール部材52(52a)と重なっている。
なお、図3における引き回し配線55、導通パッド54、及びCOM電極57においては、各々の一部分のみを示している。実際には、引き回し配線55はデータ信号駆動回路120の端子数と同数の本数が形成されており、導通パッド54及びCOM電極57は図1の紙面左右方向に向けて複数配列して形成されている。
The TFD substrate 10 is made of a transparent member such as a glass substrate, and has an image display region 4, a seal member 52, a peripheral parting member 53, a conduction pad (first conduction portion, conduction region) 54, a scanning signal on the surface thereof. A driving circuit 110 and a data signal driving circuit 120 are provided.
In the image display area 4, a plurality of dots are formed in a matrix, and the pixel electrode 31 and the TFD element 40 are formed for each dot. The pixel electrode 31 is composed of a transparent electrode mainly composed of ITO (indium tin oxide). The TFD element 40 is connected to the scanning signal driving circuit 110 via the SEG electrode 56, and the driving signal of the scanning signal driving circuit 110 is applied to the pixel electrode 31 as a potential. The surface layer of the pixel electrode 31 is formed with an alignment film in which a film mainly composed of polyimide is rubbed, and the alignment of liquid crystal molecules of the liquid crystal layer 50 to which no voltage is applied is aligned in the rubbing direction. It is designed to align. The peripheral parting member 53 is made of a light shielding material, and is formed between the image display region 4 and the seal member 52. As shown in FIG. 3, the conductive pad 54 is connected to the data signal driving circuit 120 via the lead wiring 55, and is connected to a COM electrode (second conductive portion, conductive region) 57 formed on the counter substrate 20 described later. It comes to connect. The scanning signal driving circuit 110 and the data signal driving circuit 120 are formed on one side (left side of the paper) of the TFD substrate 10. The SEG electrode 56 extending from the scanning signal driving circuit 110 overlaps with the seal member 52 (52a) between the scanning signal driving circuit 110 and the image display region 4. Further, the routing wiring 55 extending from the data signal driving circuit 120 overlaps with the seal member 52 (52a) between the data signal driving circuit 120 and the conductive pad 54.
Note that only part of each of the routing wiring 55, the conductive pad 54, and the COM electrode 57 in FIG. 3 is shown. Actually, the number of the lead wirings 55 is the same as the number of terminals of the data signal driving circuit 120, and a plurality of conductive pads 54 and COM electrodes 57 are arranged in the horizontal direction in FIG. Yes.
対向基板20は、TFD基板10上の画素電極9の境界領域と対向する領域に、ブラックマトリクスまたはブラックストライプと称せられる遮光膜23が形成され、その上層側にはITO膜からなる画素電極9が形成されている。また、画素電極9の上層側には、ポリイミドを主体として構成される膜に対してラビング処理が施された配向膜が形成されている。また、図3に示すように画像表示領域4の外部においては、画素電極9が延在する位置にCOM電極57が形成されている。当該COM電極57は、導通パッド54と対向して形成されていると共に、導通性粒子が含有されたシール部材52b(後述)をCOM電極57と導通パッド54とによって挟持した状態となっている。従って、データ信号駆動回路120の駆動信号は、引き回し配線55、導通パッド54、導電性粒子、及びCOM電極57を介して、画素電極9に電位として付与するようになっている。 In the counter substrate 20, a light shielding film 23 called a black matrix or black stripe is formed in a region facing the boundary region of the pixel electrode 9 on the TFD substrate 10, and the pixel electrode 9 made of an ITO film is formed on the upper layer side. Is formed. Further, on the upper layer side of the pixel electrode 9, an alignment film is formed by rubbing a film mainly composed of polyimide. Further, as shown in FIG. 3, a COM electrode 57 is formed outside the image display area 4 at a position where the pixel electrode 9 extends. The COM electrode 57 is formed so as to face the conductive pad 54, and a sealing member 52 b (described later) containing conductive particles is sandwiched between the COM electrode 57 and the conductive pad 54. Therefore, the drive signal of the data signal drive circuit 120 is applied as a potential to the pixel electrode 9 through the lead wiring 55, the conductive pad 54, the conductive particles, and the COM electrode 57.
シール部材52は、絶縁性シール部材(第2シール部材)52aと導電性シール部材(第1シール部材)52bとによって形成されている。
ここで、絶縁性シール部材52aは電気絶縁性を有するシール部材であり、導電性シール部材52bは導電性を有するシール部材である。絶縁性シール部材52aは、引き回し配線55及びSEG電極56の表面上の非導通領域に形成されており、引き回し配線55及びSEG電極56の各々における複数の配線間や電極間を非導通状態にするものである。一方、導電性シール部材52bは、導通パッド54やCOM電極57の表面上の導通領域に形成されており、当該導通パッド54及びCOM電極57を導通状態にするものである。
The seal member 52 is formed of an insulating seal member (second seal member) 52a and a conductive seal member (first seal member) 52b.
Here, the insulating seal member 52a is a seal member having electrical insulation, and the conductive seal member 52b is a seal member having conductivity. The insulating seal member 52a is formed in a non-conduction region on the surface of the routing wiring 55 and the SEG electrode 56, and makes the plurality of wirings and the electrodes in the routing wiring 55 and the SEG electrode 56 non-conductive. Is. On the other hand, the conductive seal member 52b is formed in a conductive region on the surface of the conductive pad 54 and the COM electrode 57, and makes the conductive pad 54 and the COM electrode 57 conductive.
また、導電性シール部材52bには導電性粒子が含有されているのに対し、絶縁性シール部材52aには当該導電性粒子が含有されていない。このような導電性粒子としては、金属粒子等の導電性材料を有する粒子や、樹脂表面にメッキ処理が施された粒子等が採用される。当該導電性粒子は、弾性を有していることから、TFD基板10及び対向基板20が貼り合わされることによって、導通パッド54及びCOM電極57が導電性粒子を押圧し、弾性力によって導通パッド54及びCOM電極57を導通させることが可能となっている。
また、絶縁性シール部材52a及び導電性シール部材52bのいずれにおいても、主体となるシール材料は、熱硬化性や紫外線硬化性の樹脂材料、又は、硬化工程に応じて熱硬化と紫外線硬化の両者の特性を有する樹脂材料が採用される。本実施形態においては、ワールドロックNo.717(協立化学製)をシール部材52の採用している。当該材料の粘度は400,000mPa・s、貼り合わせ後のシール部材52の厚みは8μmとなるようにしている。
In addition, the conductive seal member 52b contains conductive particles, whereas the insulating seal member 52a does not contain the conductive particles. As such conductive particles, particles having a conductive material such as metal particles, particles having a resin surface plated, and the like are employed. Since the conductive particles have elasticity, when the TFD substrate 10 and the counter substrate 20 are bonded, the conductive pads 54 and the COM electrodes 57 press the conductive particles, and the conductive pads 54 are elastically applied. The COM electrode 57 can be made conductive.
In either of the insulating seal member 52a and the conductive seal member 52b, the main seal material is a thermosetting or ultraviolet curable resin material, or both thermosetting and ultraviolet curing depending on the curing process. A resin material having the following characteristics is employed. In this embodiment, World Lock No. 717 (manufactured by Kyoritsu Chemical) is used for the seal member 52. The viscosity of the material is 400,000 mPa · s, and the thickness of the seal member 52 after bonding is 8 μm.
更に、当該絶縁性シール部材52a及び導電性シール部材52bが図4に示すようなパターンに形成されることによって、液晶層50を内側で保持する一重の環状部58と、絶縁性シール部材52aと導電性シール部材52bとが接合されている接合部59と、が構成される。このようなパターンで形成されたシール部材52は、TFD基板10の面内の領域において閉ざされた枠状に形成されたものであり、液晶注入口を備えないものとなっている。また、シール部材52は、後述するようにディスペンサからTFD基板10や対向基板20に向けてシール材料を吐出形成した後に、TFD基板10及び対向基板20によって押圧されることによって押し潰されると共に、所定のセルギャップを維持するものである。 Further, the insulating seal member 52a and the conductive seal member 52b are formed in a pattern as shown in FIG. 4, so that a single annular portion 58 for holding the liquid crystal layer 50 inside, the insulating seal member 52a, And a joint portion 59 to which the conductive seal member 52b is joined. The seal member 52 formed in such a pattern is formed in a closed frame shape in a region within the surface of the TFD substrate 10 and does not include a liquid crystal injection port. Further, the seal member 52 is crushed by being pressed by the TFD substrate 10 and the counter substrate 20 after discharging a seal material from the dispenser toward the TFD substrate 10 and the counter substrate 20 as will be described later. The cell gap is maintained.
環状部58においては、絶縁性シール部材52aは図4中の点RSTOを通過するように形成されており、また、導電性シール部材52bは図4中の点OPQRを通過するように形成されている。
接合部59においては、絶縁性シール部材52aと導電性シール部材52bが点O、Rで接合されている。従って、接合部59は環状部の辺TPの側に一箇所、及び辺SQの側に一箇所、各々形成されている。換言すれば、環状部58の対向する辺の各々に形成されている。
また、接合部59は、環状部58に連設して形成されており、点O、Rにおいて環状部58を閉塞させている。これによって、環状部58の内側に保持される液晶層50がシール部材52の外部に漏れるのを防止することが可能となる。また、接合部59の一部分は当該点O、Rにおいて、環状部58と一体となっており、接合部59の他の部分は環状部58の外側に形成されている。また、換言すれば、接合部59は、環状部58を閉塞させている部分(点O、R)から、環状部58の外側に向けて形成されたものとなっている。従って、環状部58に対して接合部59が重なって形成されたものではなく、接合部59の一部のみが環状部58を接合させ、その他の部分が環状部58の外側に向けて形成されたものとなっている。
また、接合部59は、図3に示すように、導通パッド54の端(符号A)から、引き回し配線55がシール部材52を横断する最も端の部分(符号B)までの間、即ち符号Lに示す部分の中に形成される。本実施形態の液晶装置100においては、符号Lの距離が2mm以下に設定されている。
また、接合部59は、後述するように、絶縁性シール部材52a及び導電性シール部材52bの各々が重なるようにディスペンサから吐出し、その後に、貼り合わせ工程によって当該シール部材52a、52bを押圧し、接合させて形成されたものである。
In the annular portion 58, the insulating seal member 52a is formed so as to pass through the point RSTO in FIG. 4, and the conductive seal member 52b is formed so as to pass through the point OPQR in FIG. Yes.
In the joint portion 59, the insulating seal member 52a and the conductive seal member 52b are joined at points O and R. Accordingly, the joint portion 59 is formed at one place on the side TP side of the annular portion and at one place on the side SQ side. In other words, it is formed on each of the opposing sides of the annular portion 58.
Further, the joint portion 59 is formed continuously with the annular portion 58 and closes the annular portion 58 at points O and R. As a result, it is possible to prevent the liquid crystal layer 50 held inside the annular portion 58 from leaking to the outside of the seal member 52. Further, a part of the joint part 59 is integrated with the annular part 58 at the points O and R, and the other part of the joint part 59 is formed outside the annular part 58. In other words, the joint portion 59 is formed from the portion (points O and R) blocking the annular portion 58 toward the outside of the annular portion 58. Accordingly, the joining portion 59 is not formed so as to overlap the annular portion 58, but only a part of the joining portion 59 joins the annular portion 58 and the other portion is formed toward the outside of the annular portion 58. It has become.
Further, as shown in FIG. 3, the joint portion 59 extends from the end (reference A) of the conductive pad 54 to the end portion (reference B) where the routing wiring 55 crosses the seal member 52, that is, the reference L Is formed in the portion shown in FIG. In the liquid crystal device 100 of the present embodiment, the distance of the symbol L is set to 2 mm or less.
Further, as will be described later, the joint portion 59 discharges from the dispenser so that each of the insulating seal member 52a and the conductive seal member 52b overlaps, and then presses the seal members 52a and 52b through a bonding process. , Formed by bonding.
液晶層50は、環状部58の内側に位置するものである。例えば、インクジェット法(液滴吐出法)やディスペンサ法によって吐出形成されている。また、液晶層50の層厚は、シール部材52の厚さにも関係して、所定のセルギャップを有するように決定される。また、液晶層50は、液晶装置100の動作モードによって、例えば、TN(Twisted Nematic)モード、STN(Super Twisted Nematic)モード等の動作モードや、ノーマリホワイトモード/ノーマリブラックモードの別に応じて適宜材料が選択される。 The liquid crystal layer 50 is located inside the annular portion 58. For example, ejection is formed by an ink jet method (droplet ejection method) or a dispenser method. Further, the layer thickness of the liquid crystal layer 50 is determined so as to have a predetermined cell gap in relation to the thickness of the seal member 52. Further, the liquid crystal layer 50 depends on the operation mode of the liquid crystal device 100, for example, depending on the operation mode such as TN (Twisted Nematic) mode, STN (Super Twisted Nematic) mode, or normally white mode / normally black mode. A material is appropriately selected.
次に、液晶装置100の画像表示領域4について詳述する。
図5の等価回路に示すように、液晶装置100は、複数の走査線13と、該走査線13と交差する複数のデータ線(画素電極)9とが設けられ、走査線13は走査信号駆動回路110により、データ線9はデータ信号駆動回路120により駆動される。ここで、走査線13は、画像表示領域4の外部においてSEG電極56と接続しているものである。そして、各画素領域150において、走査線13とデータ線9との間にTFD素子40と液晶表示要素160(液晶層50)とが直列に接続されている。なお、図5では、TFD素子40が走査線13側に接続され、液晶表示要素160がデータ線9側に接続されているが、これとは逆にTFD素子40をデータ線9側に、液晶表示要素160を走査線13側に設ける構成としてもよい。
Next, the image display area 4 of the liquid crystal device 100 will be described in detail.
As shown in the equivalent circuit of FIG. 5, the liquid crystal device 100 is provided with a plurality of scanning lines 13 and a plurality of data lines (pixel electrodes) 9 intersecting the scanning lines 13, and the scanning lines 13 are driven by scanning signals. The data line 9 is driven by the data signal driving circuit 120 by the circuit 110. Here, the scanning line 13 is connected to the SEG electrode 56 outside the image display region 4. In each pixel region 150, the TFD element 40 and the liquid crystal display element 160 (liquid crystal layer 50) are connected in series between the scanning line 13 and the data line 9. In FIG. 5, the TFD element 40 is connected to the scanning line 13 side and the liquid crystal display element 160 is connected to the data line 9 side. On the contrary, the TFD element 40 is connected to the data line 9 side and the liquid crystal display element 160 is connected to the data line 9 side. The display element 160 may be provided on the scanning line 13 side.
また、図6の電極平面構造図に示すように、液晶装置100では、走査線13にTFD素子40を介して接続された平面視矩形状の画素電極31がマトリクス状に設けられており、該画素電極31と紙面垂直方向に対向して画素電極9が短冊状(ストライプ状)に設けられている。画素電極9はデータ線からなり走査線13と交差する形のストライプ形状を有している。本実施形態において、各画素電極31が形成された個々の領域が1つのドット領域であり、マトリクス状に配置された各ドット領域にTFD素子40が具備され、該ドット領域毎に表示が可能な構造になっている。 Further, as shown in the electrode plan view of FIG. 6, in the liquid crystal device 100, the pixel electrodes 31 having a rectangular shape in plan view connected to the scanning lines 13 via the TFD elements 40 are provided in a matrix. The pixel electrode 9 is provided in a strip shape (stripe shape) so as to face the pixel electrode 31 in the direction perpendicular to the paper surface. The pixel electrode 9 is formed of a data line and has a stripe shape that intersects the scanning line 13. In the present embodiment, each region in which each pixel electrode 31 is formed is one dot region, and each dot region arranged in a matrix is provided with a TFD element 40, and display is possible for each dot region. It has a structure.
ここで、TFD素子40は走査線13と画素電極31とを接続するスイッチング素子であって、TFD素子40は、Taを主成分とする第1導電膜と、第1導電膜の表面に形成され、Ta2O3を主成分とする絶縁膜と、絶縁膜の表面に形成され、Crを主成分とする第2導電膜とを含むMIM構造を具備して構成されている。そして、TFD素子40の第1導電膜が走査線13に接続され、第2導電膜が画素電極31に接続されている。 Here, the TFD element 40 is a switching element that connects the scanning line 13 and the pixel electrode 31, and the TFD element 40 is formed on the surface of the first conductive film having Ta as a main component and the first conductive film. And an MIM structure including an insulating film containing Ta 2 O 3 as a main component and a second conductive film formed on the surface of the insulating film and containing Cr as a main component. The first conductive film of the TFD element 40 is connected to the scanning line 13 and the second conductive film is connected to the pixel electrode 31.
なお、走査信号駆動回路110及びデータ信号駆動回路120をTFD基板10の上に形成する代わりに、例えば、駆動用LSIが実装されたTAB(Tape Automated Bonding)基板とTFD基板10の周辺部に形成された端子群とを異方性導電膜を介して電気的及び機械的に接続するようにしてもよい。なお、液晶装置100においては、使用する液晶層50の種類、すなわち、TN(Twisted Nematic)モード、STN(Super Twisted Nematic)モード等の動作モードや、ノーマリホワイトモード/ノーマリブラックモードの別に応じて、位相差板、偏光板等が所定の向きに配置されるが、ここでは図示を省略する。また、液晶装置100をカラー表示用として構成する場合には、対向基板20において、TFD基板10の後述する各画素電極に対向する領域に、例えば、赤(R)、緑(G)、青(B)のカラーフィルタと、当該カラーフィルタを保護する保護膜とが形成される。 Instead of forming the scanning signal driving circuit 110 and the data signal driving circuit 120 on the TFD substrate 10, for example, a TAB (Tape Automated Bonding) substrate on which a driving LSI is mounted and a peripheral portion of the TFD substrate 10 are formed. The terminal group thus formed may be electrically and mechanically connected via an anisotropic conductive film. In the liquid crystal device 100, depending on the type of the liquid crystal layer 50 to be used, that is, depending on the operation mode such as TN (Twisted Nematic) mode, STN (Super Twisted Nematic) mode, or normally white mode / normally black mode. A retardation plate, a polarizing plate, and the like are arranged in a predetermined direction, but the illustration is omitted here. In the case where the liquid crystal device 100 is configured for color display, for example, red (R), green (G), blue ( A color filter B) and a protective film for protecting the color filter are formed.
次に、本発明の第1実施形態に係る液晶装置の製造方法について説明する。
まず、以下の説明では、(1)液晶装置の製造方法の概略説明、(2)デバイス製造装置、(3)液晶装置の製造方法の詳細説明について順次説明する。
Next, a manufacturing method of the liquid crystal device according to the first embodiment of the present invention will be described.
First, in the following description, (1) a schematic description of a manufacturing method of a liquid crystal device, (2) a device manufacturing device, and (3) a detailed description of a manufacturing method of a liquid crystal device will be sequentially described.
(1)液晶装置の製造方法の概略説明
図7は、液晶装置の製造方法を概略して説明するための図である。
まず、図7(a)に示すように、TFD基板用マザー基板(第1母材)10’と、対向基板用マザー基板(第2母材)20’を用意する。
TFD基板用マザー基板(第1母材)10’においては、複数のTFD形成領域(第1素子領域)11を区画して形成する。また、区画されたTFD形成領域11の周囲は、相互境界部12となる。そして、TFD基板用マザー基板10’に対して、公知のフォトリソグラフィ技術を含む半導体製造工程を施すことにより、TFD形成領域11にTFD40、画素電極31、導通パッド54、引き回し配線55、SEG電極56、配向膜等、が形成される。なお、走査信号駆動回路110、及びデータ信号駆動回路120をTFD形成領域11内に同時に作り込んでもよい。
(1) Schematic Description of Manufacturing Method of Liquid Crystal Device FIG. 7 is a diagram for schematically explaining a manufacturing method of a liquid crystal device.
First, as shown in FIG. 7A, a mother substrate (first base material) 10 ′ for a TFD substrate and a mother substrate (second base material) 20 ′ for a counter substrate are prepared.
In the mother substrate (first base material) 10 ′ for the TFD substrate, a plurality of TFD formation regions (first element regions) 11 are defined and formed. Further, the periphery of the partitioned TFD formation region 11 becomes a mutual boundary portion 12. Then, by performing a semiconductor manufacturing process including a well-known photolithography technique on the mother substrate 10 ′ for the TFD substrate, the TFD 40, the pixel electrode 31, the conductive pad 54, the lead wiring 55, and the SEG electrode 56 are formed in the TFD formation region 11. , An alignment film, and the like are formed. Note that the scanning signal driving circuit 110 and the data signal driving circuit 120 may be simultaneously formed in the TFD formation region 11.
一方、対向基板用マザー基板20’においては、複数の対向電極形成領域(第2素子領域)21を区画して形成する。また、区画された対向電極形成領域21の周囲は、相互境界部22となる。そして、対向基板用マザー基板20’に対して、公知のフォトリソグラフィ技術を含む半導体製造工程を施すことにより、対向電極形成領域21に画素電極9、COM電極57、配向膜等、を形成する。
ここで、TFD形成領域11及び対向電極形成領域21の各々の個数は同数となっている。また、TFD基板用マザー基板10’と対向基板用マザー基板20’とが貼り合わされた際に、各領域11、21は互いに高精度に位置合わさるようになっている。
On the other hand, the counter substrate mother substrate 20 ′ is formed by partitioning a plurality of counter electrode formation regions (second element regions) 21. Further, the periphery of the partitioned counter electrode forming region 21 is a mutual boundary portion 22. Then, by performing a semiconductor manufacturing process including a known photolithography technique on the counter substrate mother substrate 20 ′, the pixel electrode 9, the COM electrode 57, the alignment film, and the like are formed in the counter electrode formation region 21.
Here, the number of each of the TFD formation region 11 and the counter electrode formation region 21 is the same. In addition, when the TFD substrate mother substrate 10 ′ and the counter substrate mother substrate 20 ′ are bonded together, the regions 11 and 21 are aligned with each other with high accuracy.
次に、図7(b)に示すように、TFD基板用マザー基板10’と対向基板用マザー基板20’とを貼り合わせる。ここでは、後述するシール部材52や液晶層50を狭持させた状態で、TFD基板用マザー基板10’及び対向基板用マザー基板20’を貼り合わせている。
次に、図7(c)に示すように、マザー基板10’、20’が貼り合わされた状態で、相互境界部12、22においてマザー基板10’、20’を分割して切り出すことにより、複数の液晶装置100が形成される。
Next, as shown in FIG. 7B, the mother substrate 10 ′ for the TFD substrate and the mother substrate 20 ′ for the counter substrate are bonded together. Here, the mother substrate 10 ′ for the TFD substrate and the mother substrate 20 ′ for the counter substrate are bonded together in a state where the seal member 52 and the liquid crystal layer 50 described later are sandwiched.
Next, as shown in FIG. 7C, in a state where the mother substrates 10 ′ and 20 ′ are bonded together, the mother substrates 10 ′ and 20 ′ are divided and cut out at the mutual boundary portions 12 and 22, so The liquid crystal device 100 is formed.
(2)デバイス製造装置
次に、液晶装置100の製造のうち、シール部材52の形成から、液晶滴下による液晶層50の形成、基板貼合わせ、シール部材52の硬化に至る工程を行うデバイス製造装置について説明する。
(2) Device Manufacturing Device Next, in the manufacturing of the liquid crystal device 100, a device manufacturing device that performs processes ranging from the formation of the sealing member 52 to the formation of the liquid crystal layer 50 by liquid crystal dropping, substrate bonding, and curing of the sealing member 52. Will be described.
図8は、デバイス製造装置61の概略構成図である。
図8に示すように、デバイス製造装置61は、基板の給材及び除材を行う基板給除部62と材料供給部63と基板貼り合わせ部64と精密アライメント部164とを主体に構成されている。
FIG. 8 is a schematic configuration diagram of the device manufacturing apparatus 61.
As shown in FIG. 8, the device manufacturing apparatus 61 mainly includes a substrate supply / removal unit 62 that supplies and removes substrates, a material supply unit 63, a substrate bonding unit 64, and a precision alignment unit 164. Yes.
図9は、基板給除部62および材料供給部63の概略構成図である。なお、以下の説明では、基板の表面に沿う方向をX方向(例えば図9中、左右方向)及びY方向(例えば図9中、紙面と垂直な方向)とし、XY平面と直交する方向をZ方向として説明する。
材料供給部63は、図9に示すように、基板を保持してX方向、Y方向及びθ方向(Z軸と平行な軸周りの回転方向)に移動自在なテーブル65と、テーブル65の上方に配設され液晶材料(電気光学材料)を吐出、滴下する液滴吐出ヘッド66と、液滴吐出ヘッド66の近傍に配設されシール材料を塗布するシール材塗布部67a、67bとを主体に構成されている。
FIG. 9 is a schematic configuration diagram of the substrate supply / removal unit 62 and the material supply unit 63. In the following description, the direction along the surface of the substrate is defined as the X direction (for example, the left-right direction in FIG. 9) and the Y direction (for example, the direction perpendicular to the paper surface in FIG. 9), and the direction orthogonal to the XY plane is Z. This will be described as a direction.
As shown in FIG. 9, the material supply unit 63 holds a substrate and is movable in the X direction, the Y direction, and the θ direction (rotation direction around an axis parallel to the Z axis), and an upper portion of the table 65. A liquid droplet discharge head 66 that discharges and drops a liquid crystal material (electro-optical material), and seal material application portions 67a and 67b that are provided in the vicinity of the liquid droplet discharge head 66 and apply a seal material. It is configured.
シール材塗布部67a、67bから塗布されるシール材料には、略球形状のギャップ制御材が含まれており、ギャップ制御材の直径は、基板のセルギャップを所定厚さ(例えば3μm)に保持できる寸法(例えば直径8μm)に形成されている。このようなギャップ制御材の直径(約8μm)は、表示領域内のカラーフィルタ等の厚さ(約5μm)とセルギャップ(3μm)を保持するために設定されたものである。
また、シール材塗布部67aは、上記の絶縁性シール部材52aを塗布するものであり、シール材塗布部67bは上記の導電性シール部材52bを塗布するものである。
なお、液晶材料を滴下させるのに液滴吐出ヘッド66の他に、精密薬液吐出機(計量型ディスペンサ)など、滴下する液晶材料量を制御できるものであればどのような装置を用いてもよい。また、ギャップ制御材は略球形状に形成され、シール材料に含まれるものに限られることなく、繊維形状に形成されシール材料に含まれるものや、シール材料に含まれず基板から柱状に突出して形成されたもの等さまざまなものを使用することができるが、基板の所定位置に固定され、基板の貼り合わせ時等において基板上を移動しないものを用いることが好ましい。
The sealing material applied from the sealing material applying portions 67a and 67b includes a substantially spherical gap control material, and the diameter of the gap control material maintains the cell gap of the substrate at a predetermined thickness (for example, 3 μm). It is formed to a dimension that can be formed (for example, a diameter of 8 μm). The diameter of the gap control material (about 8 μm) is set to maintain the thickness (about 5 μm) and the cell gap (3 μm) of the color filter or the like in the display area.
The sealing material application part 67a applies the insulating sealing member 52a, and the sealing material application part 67b applies the conductive sealing member 52b.
In addition to the droplet discharge head 66, any device that can control the amount of liquid crystal material to be dropped, such as a precision chemical dispenser (measuring dispenser), may be used to drop the liquid crystal material. . In addition, the gap control material is formed in a substantially spherical shape, and is not limited to that included in the sealing material, but is formed in a fiber shape and included in the sealing material, or is not included in the sealing material and protrudes in a columnar shape from the substrate. However, it is preferable to use one that is fixed at a predetermined position on the substrate and does not move on the substrate when the substrates are bonded together.
また、基板給除部62は、材料供給部63と基板貼り合わせ部64との間、および基板貼り合わせ部64と精密アライメント部164との間で基板を搬送するキャリアを主な構成要素としている。
なお、基板給除部62は、図9に示した構成の他に、搬送ロボットや、材料供給部63と基板貼り合わせ部64と精密アライメント部164とを接続する搬送機能を有したユニットを含んで構成されていてもよい。
Further, the substrate supply / removal unit 62 includes a carrier for transporting the substrate between the material supply unit 63 and the substrate bonding unit 64 and between the substrate bonding unit 64 and the precision alignment unit 164 as main components. .
In addition to the configuration shown in FIG. 9, the substrate supply / removal unit 62 includes a transfer robot and a unit having a transfer function for connecting the material supply unit 63, the substrate bonding unit 64, and the precision alignment unit 164. It may be comprised.
図10は、基板貼り合わせ部64の概略構成図である。
基板貼り合わせ部64は、図10に示すように、基板を保持してX方向、Y方向及びθ方向に移動自在なテーブル68と、テーブル68上に設置された下チャック部69と、下チャック部69の上方に配置された真空チャンバ70と、真空チャンバ70内に下チャック部69と対向配置された上チャック部71と、上チャック部71をZ方向に移動自在に支持し、且つ下チャック部69に向けて加圧する下降機構72とを備えて構成されている。
真空チャンバ70の壁面には、覗き窓70aと排気部76とが配設されている。覗き窓70aの上方には、覗き窓70aを介して基板上のアライメントマークを拡大、観測する貼り合わせ用顕微鏡74と、拡大観測されたアライメントマークの画像を取り込むCCDカメラ81とを備えた光学測定手段が設けられている。排気部76には、収容空間70b内の気体を排気(真空引き)するための真空ポンプ等を備えた吸引装置78が接続されている。
FIG. 10 is a schematic configuration diagram of the substrate bonding portion 64.
As shown in FIG. 10, the substrate bonding unit 64 includes a table 68 that holds the substrate and is movable in the X direction, the Y direction, and the θ direction, a lower chuck unit 69 installed on the table 68, and a lower chuck. A vacuum chamber 70 disposed above the portion 69, an upper chuck portion 71 disposed in the vacuum chamber 70 so as to face the lower chuck portion 69, and the upper chuck portion 71 movably supported in the Z direction. A lowering mechanism 72 that pressurizes the portion 69 is provided.
On the wall surface of the vacuum chamber 70, a viewing window 70a and an exhaust part 76 are disposed. Optical measurement provided with a bonding microscope 74 for enlarging and observing the alignment mark on the substrate via the sighting window 70a and a CCD camera 81 for capturing an image of the alignment mark observed under the sighting window 70a. Means are provided. A suction device 78 having a vacuum pump or the like for exhausting (evacuating) the gas in the accommodation space 70b is connected to the exhaust unit 76.
また、真空チャンバ70には、UV照射ユニット82が備えられている。UV照射ユニット82には、シール部材52を仮硬化させるための紫外線を放射する水銀ランプ等のUVランプが備えられ、必要に応じて、ファイバなどの導光手段が備えられる。
なお、UV照射ユニット82は、シール部材52の粘度を高める程度のエネルギーを供給できればよい。また、シール部材52にエネルギーを与える手段は、UVランプに限られることなく、加熱・冷却装置や、可視光照射装置など、シール部材52の性質によりさまざまな装置を用いることができる。
Further, the vacuum chamber 70 is provided with a UV irradiation unit 82. The UV irradiation unit 82 is provided with a UV lamp such as a mercury lamp that emits ultraviolet rays for temporarily curing the seal member 52, and is provided with a light guide means such as a fiber as necessary.
The UV irradiation unit 82 only needs to supply energy that increases the viscosity of the seal member 52. The means for applying energy to the seal member 52 is not limited to the UV lamp, and various devices such as a heating / cooling device and a visible light irradiation device can be used depending on the properties of the seal member 52.
更に、基板貼り合わせ部64には、CCDカメラ81により取り込まれた画像を処理する画像処理部83と、画像処理部83により処理された画像情報に基づいてテーブル68と下降機構72とを制御する制御部84が設けられている。 Further, the substrate bonding unit 64 controls the image processing unit 83 that processes the image captured by the CCD camera 81, and the table 68 and the lowering mechanism 72 based on the image information processed by the image processing unit 83. A control unit 84 is provided.
また、下チャック部69及び上チャック部71には、互いに対向する保持面69a、71aでそれぞれ基板を保持するための保持機構(図示せず)が備えられている。
なお、下チャック部69及び上チャック部71には、静電気力や粘着力を用いたチャック機構、または機械的に基板を保持する機械的保持機構など、略真空雰囲気においても基板を保持できる機構であればどのような機構が備えられていてもよい。また、接着力、分子間力、真空力、機械式保持等の保持方法を用いてもよい。
Further, the lower chuck portion 69 and the upper chuck portion 71 are provided with holding mechanisms (not shown) for holding the substrates by holding surfaces 69a and 71a facing each other.
The lower chuck portion 69 and the upper chuck portion 71 are mechanisms that can hold the substrate even in a substantially vacuum atmosphere, such as a chuck mechanism using electrostatic force or adhesive force, or a mechanical holding mechanism that mechanically holds the substrate. Any mechanism may be provided as long as it is present. Also, a holding method such as adhesive force, intermolecular force, vacuum force, or mechanical holding may be used.
図11は、精密アライメント部164の概略構成図である。
精密アライメント部164は、基板を保持してX方向、Y方向及びθ方向に移動自在なテーブル168と、テーブル168上に設置された下チャック部169と、下チャック部169と対向配置された上チャック部171と、上チャック部171をZ方向に移動自在に支持し、且つ下チャック部169に向けて加圧する加圧機構172と、基板上のアライメントマークを拡大、観測するアライメント用顕微鏡174と、シール部材52を硬化させる紫外線を照射する水銀ランプ等のUVランプ182とから概略構成されている。アライメント用顕微鏡174は、拡大観測されたアライメントマークの画像を取り込むCCDカメラ181とともに本装置の光学測定手段を構成している。
更に、精密アライメント部164には、CCDカメラ181により取り込まれた画像を処理する画像処理部183と、画像処理部183により処理された画像情報に基づいてテーブル168を制御する制御部184が設けられている。
FIG. 11 is a schematic configuration diagram of the precision alignment unit 164.
The precision alignment unit 164 includes a table 168 that holds the substrate and is movable in the X direction, the Y direction, and the θ direction, a lower chuck unit 169 that is installed on the table 168, and an upper surface that faces the lower chuck unit 169. A chuck unit 171, a pressurizing mechanism 172 that supports the upper chuck unit 171 so as to be movable in the Z direction and pressurizes the lower chuck unit 169, and an alignment microscope 174 that expands and observes the alignment mark on the substrate. , And a UV lamp 182 such as a mercury lamp that irradiates ultraviolet rays for curing the sealing member 52. The alignment microscope 174 constitutes the optical measurement means of the present apparatus together with the CCD camera 181 that captures the image of the alignment mark that has been observed in an enlarged manner.
Further, the precision alignment unit 164 is provided with an image processing unit 183 that processes an image captured by the CCD camera 181 and a control unit 184 that controls the table 168 based on the image information processed by the image processing unit 183. ing.
下チャック部169及び上チャック部171には、互いに対向する保持面169a、171aでそれぞれ基板を真空吸着するための吸着機構(図示せず)が備えられている。
なお、下チャック部169及び上チャック部171には、静電気力や粘着力を用いたチャック機構、または機械的に基板を保持する機械的保持機構など、貼り合わされた基板をX軸、Y軸方向に動かすのに十分な保持力を発揮できる機構であれば、どのような機構が備えられていてもよい。
また、精密アライメント部164には、上チャック部171を下チャック部169に向けて加圧する加圧機構172が設けられていなくてもよい。
また、UVランプ182は、シール部材52を硬化させることができればよく、UVランプ182の他に、例えば加熱・冷却装置や、可視光照射装置など、シール部材52の性質によりさまざまな装置を用いることができる。
The lower chuck portion 169 and the upper chuck portion 171 are provided with suction mechanisms (not shown) for vacuum-sucking the substrate with the holding surfaces 169a and 171a facing each other.
Note that the lower chuck portion 169 and the upper chuck portion 171 are formed by attaching a bonded substrate such as a chuck mechanism using electrostatic force or adhesive force, or a mechanical holding mechanism that mechanically holds the substrate in the X-axis and Y-axis directions. Any mechanism may be provided as long as the mechanism can exhibit a sufficient holding force to move it.
The precision alignment unit 164 may not include the pressurizing mechanism 172 that pressurizes the upper chuck unit 171 toward the lower chuck unit 169.
The UV lamp 182 only needs to cure the seal member 52. In addition to the UV lamp 182, various devices such as a heating / cooling device and a visible light irradiation device may be used depending on the properties of the seal member 52. Can do.
図9に示した液滴吐出ヘッド66としては、例えば図12に示す構成の液滴吐出ヘッドを用いることができる。液滴吐出ヘッド66のヘッド本体90には、リザーバ95および複数のインク室(圧力発生室)93が形成されている。リザーバ95は、各インク室93に液晶等の電気光学材料を含むインクを供給するための流路になっている。また、ヘッド本体90の一方端面には、インク吐出面66Pを構成するノズルプレートが装着されている。そのノズルプレートには、各インク室93に対応して、インクを吐出する複数のノズル91が開口されている。そして、各インク室93から対応するノズル91に向かって流路が形成されている。一方、ヘッド本体90の他方端面には振動板94が装着されている。
この振動板94はインク室93の壁面を構成している。その振動板94の外側には、各インク室93に対応して、ピエゾ素子(圧力発生手段)92が設けられている。ピエゾ素子92は、水晶等の圧電材料を一対の電極(図示せず)で挟持したものである。
As the droplet discharge head 66 shown in FIG. 9, for example, a droplet discharge head having the configuration shown in FIG. 12 can be used. A reservoir 95 and a plurality of ink chambers (pressure generation chambers) 93 are formed in the head main body 90 of the droplet discharge head 66. The reservoir 95 is a flow path for supplying ink containing an electro-optic material such as liquid crystal to each ink chamber 93. In addition, a nozzle plate constituting the ink ejection surface 66P is attached to one end surface of the head body 90. In the nozzle plate, a plurality of nozzles 91 for discharging ink are opened corresponding to each ink chamber 93. A flow path is formed from each ink chamber 93 toward the corresponding nozzle 91. On the other hand, a diaphragm 94 is attached to the other end surface of the head body 90.
This diaphragm 94 constitutes the wall surface of the ink chamber 93. Piezo elements (pressure generating means) 92 are provided outside the vibration plate 94 so as to correspond to the ink chambers 93. The piezo element 92 is obtained by sandwiching a piezoelectric material such as quartz with a pair of electrodes (not shown).
図13は、ピエゾ素子の駆動電圧波形W1と、その駆動電圧に対応した液滴吐出ヘッド66の動作を示す概略図である。以下には、ピエゾ素子92を構成する一対の電極に対して、波形W1の駆動電圧が印加された場合について説明する。まず正勾配部a1,a3では、ピエゾ素子92が収縮してインク室93の容積が増加し、リザーバ95からインク室93内にインクが流入する。また負勾配部a2では、ピエゾ素子92が膨張してインク室93の容積が減少し、加圧されたインク99がノズル91から吐出される。そして、この駆動電圧波形W1の振幅および印加回数等により、インクの塗布量が決定される。 FIG. 13 is a schematic diagram showing the drive voltage waveform W1 of the piezoelectric element and the operation of the droplet discharge head 66 corresponding to the drive voltage. Below, the case where the drive voltage of the waveform W1 is applied with respect to a pair of electrode which comprises the piezo element 92 is demonstrated. First, in the positive gradient portions a 1 and a 3, the piezo element 92 contracts to increase the volume of the ink chamber 93, and ink flows from the reservoir 95 into the ink chamber 93. In the negative gradient portion a <b> 2, the piezo element 92 expands to reduce the volume of the ink chamber 93, and the pressurized ink 99 is ejected from the nozzle 91. The amount of ink applied is determined by the amplitude of the drive voltage waveform W1 and the number of applications.
なお、液滴吐出ヘッド66の駆動方式として、ピエゾ素子92を用いたピエゾジェットタイプに限られず、例えば熱膨張を利用したサーマルインクジェットタイプなどを採用してもよい。また液晶の塗布手段として、インクジェットヘッド以外の塗布手段を採用することも可能である。インクジェットヘッド以外の液晶塗布手段として、たとえばディスペンサを採用することができる。ディスペンサは、インクジェットヘッドに比べて大口径のノズルを有しているので、粘度が高い状態の液晶を吐出することも可能である。 The driving method of the droplet discharge head 66 is not limited to the piezo jet type using the piezo element 92, and for example, a thermal ink jet type using thermal expansion may be adopted. It is also possible to employ a coating means other than an ink jet head as the liquid crystal coating means. For example, a dispenser can be employed as the liquid crystal application means other than the inkjet head. Since the dispenser has a nozzle having a larger diameter than that of the ink jet head, it is possible to discharge liquid crystal having a high viscosity.
(3)液晶装置の製造方法の詳細説明
次に、上記のデバイス製造装置61により液晶装置100を製造する手順について図14〜図18を参照して説明する。
以下では、TFD基板用マザー基板10’及び対向基板用マザー基板20’には、図7(a)にて説明した画素電極9、31等が既に形成されているものとして説明する。
(3) Detailed Description of Manufacturing Method of Liquid Crystal Device Next, a procedure for manufacturing the liquid crystal device 100 by the device manufacturing apparatus 61 will be described with reference to FIGS.
In the following description, it is assumed that the pixel electrodes 9 and 31 described with reference to FIG. 7A are already formed on the mother substrate 10 ′ for the TFD substrate and the mother substrate 20 ′ for the counter substrate.
まず、図14(a)に示すように、画素電極31等が形成されたTFD基板用マザー基板10’は、基板給除部62により運搬され、封止面10’aを上側に向けて材料供給部63のテーブル65上に給材される。その後、テーブル65を移動させつつ、TFD基板用マザー基板10’上にシール材塗布部67aからシール材料が塗布され、更に、シール材塗布部67bからシール材料が塗布されることによって、TFD基板用マザー基板10’上にシール部材52が形成される(シール部材形成工程)。ここで、当該シール部材52は、上記の絶縁性シール部材52aと導電性シール部材52bとによって形成される。絶縁性シール部材52aは、シール材塗布部67aによって塗布されるものであり、導電性シール部材52bは、シール材塗布部67bによって塗布されるものである。
ここで、シール部材52の形成方法について詳述する。
First, as shown in FIG. 14A, the mother substrate 10 ′ for the TFD substrate on which the pixel electrodes 31 and the like are formed is transported by the substrate supply / removal unit 62, and the material is placed with the sealing surface 10′a facing upward. The material is supplied onto the table 65 of the supply unit 63. Thereafter, while the table 65 is moved, the sealing material is applied from the sealing material application portion 67a onto the TFD substrate mother substrate 10 ', and further, the sealing material is applied from the sealing material application portion 67b, thereby the TFD substrate. A seal member 52 is formed on the mother substrate 10 '(seal member forming step). Here, the seal member 52 is formed by the insulating seal member 52a and the conductive seal member 52b. The insulating seal member 52a is applied by the seal material application part 67a, and the conductive seal member 52b is applied by the seal material application part 67b.
Here, a method for forming the seal member 52 will be described in detail.
図17はシール部材52の形成方法を説明するための平面図である。図18はマザー基板上に形成されたシール部材52を示す平面図であり、図18(a)はマザー基板の外観を示す図、図18(b)は図18(a)における符号Eを拡大した図、図18(c)は図18(b)における符号Fを拡大した図である。 FIG. 17 is a plan view for explaining a method for forming the seal member 52. 18 is a plan view showing the sealing member 52 formed on the mother substrate, FIG. 18A is an external view of the mother substrate, and FIG. 18B is an enlarged view of the symbol E in FIG. 18A. FIG. 18C is an enlarged view of the symbol F in FIG.
図17(a)に示すように、TFD基板用マザー基板10’上に絶縁性シール部材52aを符号Uに示す方向に塗布する(第2シール部材形成工程)。ここで、上記のようにTFD基板用マザー基板10’上には予め複数のTFD形成領域11と相互境界部12が形成されており、これらを跨ぐように絶縁性シール部材52aが連続かつ一括して塗布される。また、符号Uが示す方向とは、複数のTFD形成領域11が配列する方向と同一方向を示している。
ここで、絶縁性シール部材52aが塗布形成されることにより、TFD形成領域11の側方に環状部58の一部となる第1辺58aが形成され、相互境界部12には、第1辺58aに連続して形成される第1シール層59aが形成される。ここで、第1シール層59aは、相互境界部12において第1辺58aの延在軸方向(符号U)よりもTFD形成領域11の側に凹んでいる凹部Wに形成されたものとなっている。当該凹部Wは、所謂「コの字」状となっている。
As shown in FIG. 17A, an insulating seal member 52a is applied in the direction indicated by the symbol U on the mother substrate 10 'for a TFD substrate (second seal member forming step). Here, as described above, a plurality of TFD formation regions 11 and mutual boundary portions 12 are formed in advance on the TFD substrate mother substrate 10 ', and the insulating seal member 52a is continuously and collectively straddling them. Applied. Further, the direction indicated by the symbol U indicates the same direction as the direction in which the plurality of TFD formation regions 11 are arranged.
Here, by applying and forming the insulating seal member 52a, a first side 58a that becomes a part of the annular portion 58 is formed on the side of the TFD forming region 11, and the mutual boundary portion 12 includes the first side 58a. A first seal layer 59a formed continuously with 58a is formed. Here, the first seal layer 59a is formed in the recess W that is recessed toward the TFD formation region 11 with respect to the extending axis direction (reference symbol U) of the first side 58a in the mutual boundary portion 12. Yes. The concave portion W has a so-called “U” shape.
次に、図17(b)に示すように、TFD基板用マザー基板10’上に導電性シール部材52bを符号Vに示す方向に塗布する(第1シール部材形成工程)。この工程においても、先と同様に複数のTFD形成領域11及び相互境界部12を跨ぐように導電性シール部材52bが連続かつ一括して塗布される。また、符号Vが示す方向とは、複数のTFD形成領域11が配列する方向と同一方向を示している。
ここで、導電性シール部材52bが塗布形成されることにより、第1辺58aの延在軸(符号V)に直交する軸方向に向けて、環状部58の一部となる第2辺58bが形成され、TFD形成領域11の側方に第1辺58aと対向する第3辺58cが形成される。また、相互境界部12には、第2辺58bに連続して形成される第2シール層59bが形成される。ここで、第2シール層59bは、相互境界部12において第3辺58cの延在軸方向よりもTFD形成領域11の側に凹んでいる凹部Xに形成されたものとなっている。当該凹部Xは、所謂「コの字」状となっている。
Next, as shown in FIG. 17B, a conductive seal member 52b is applied in the direction indicated by the reference symbol V on the TFD substrate mother substrate 10 '(first seal member forming step). Also in this step, the conductive seal member 52b is continuously and collectively applied so as to straddle the plurality of TFD formation regions 11 and the mutual boundary portions 12 in the same manner as described above. Further, the direction indicated by the reference sign V indicates the same direction as the direction in which the plurality of TFD formation regions 11 are arranged.
Here, when the conductive seal member 52b is applied and formed, the second side 58b which becomes a part of the annular portion 58 is formed in the axial direction orthogonal to the extending axis (reference numeral V) of the first side 58a. A third side 58c that is formed and is opposite to the first side 58a is formed on the side of the TFD formation region 11. Further, a second seal layer 59b formed continuously from the second side 58b is formed at the mutual boundary portion 12. Here, the second seal layer 59b is formed in the recess X that is recessed toward the TFD formation region 11 with respect to the extending axis direction of the third side 58c in the mutual boundary portion 12. The concave portion X has a so-called “U” shape.
そして、コの字状に形成された凹部W、Xにおいては、第1シール層59a及び第2シール層59bは互いに重なるように形成される。また、上記のように形成された絶縁性シール部材52aは環状部58の一部を構成し、導電性シール部材52bは、環状部58の残部を構成するものとなる。更に、第1シール層59a及び第2シール層59bは、後述する貼り合わせ工程が施されることによって、相互境界部12に形成される接合部59となるものである。 And in the recessed parts W and X formed in U shape, the 1st seal layer 59a and the 2nd seal layer 59b are formed so that it may mutually overlap. Further, the insulating seal member 52 a formed as described above constitutes a part of the annular portion 58, and the conductive seal member 52 b constitutes the remaining portion of the annular portion 58. Further, the first seal layer 59a and the second seal layer 59b are to be joined portions 59 formed in the mutual boundary portion 12 by performing a bonding process described later.
なお、本実施形態においては、符号Uが示す方向に絶縁性シール部材52aを塗布し、当該符号Uとは反対方向の符号Vが示す方向に導電性シール部材52bを塗布したが、これを限定するものではない。同一の方向に絶縁性シール部材52a及び導電性シール部材52bを塗布形成してもよい。
また、本実施形態においては、符号U、Vに示すように、紙面上下方向に絶縁性シール部材52a及び導電性シール部材52bを形成したが、紙面左右方向にこれらを形成してもよい。いずれにしても、複数のTFD形成領域11が配列する方向に向けて、絶縁性シール部材52a及び導電性シール部材52bを形成している。
また、本実施形態においては、上記のシール部材52a、52bの線幅は、いずれも線幅が同一となっているが、各シール部材52a、52bが形成される部位に応じて、又は、貼り合わせによって形成される接合部59の形状に応じて、各々の線幅を異ならせてもよい。
また、本実施形態においては、先に第1辺58aと第1シール層59aとを形成し、その後に、第2辺58bと第2シール層59bとを形成しているが、これを限定するものではない。先に第2辺58bと第2シール層59bとを形成し、その後に、第1辺58aと第1シール層59aとを形成してもよい。
In the present embodiment, the insulating seal member 52a is applied in the direction indicated by the reference symbol U, and the conductive seal member 52b is applied in the direction indicated by the reference symbol V opposite to the reference symbol U. Not what you want. The insulating seal member 52a and the conductive seal member 52b may be applied and formed in the same direction.
Further, in this embodiment, as indicated by the symbols U and V, the insulating seal member 52a and the conductive seal member 52b are formed in the vertical direction on the paper surface, but these may be formed in the horizontal direction on the paper surface. In any case, the insulating seal member 52a and the conductive seal member 52b are formed in the direction in which the plurality of TFD formation regions 11 are arranged.
Further, in the present embodiment, the line widths of the seal members 52a and 52b are the same, but depending on the portion where the seal members 52a and 52b are formed or pasted. Each line width may be varied depending on the shape of the joint portion 59 formed by the alignment.
In the present embodiment, the first side 58a and the first seal layer 59a are formed first, and then the second side 58b and the second seal layer 59b are formed. However, this is limited. It is not a thing. The second side 58b and the second seal layer 59b may be formed first, and then the first side 58a and the first seal layer 59a may be formed.
このようなシール部材52の形成方法によって、図18(a)に示すTFD基板用マザー基板10’上に、絶縁性シール部材52a及び導電性シール部材52bが塗布形成された複数のTFD形成領域11が形成される。更に、図18(b)に示すように、TFD形成領域11の一部が絶縁性シール部材52aによって形成され、その残部が導電性シール部材52bによって形成される。これによって当該シール部材52a、52bからなる上記の環状部58が形成される。また、図18(c)に示すように、絶縁性シール部材52a及び導電性シール部材52bの各々は、凹部W、Xにおいて互いに重なり合う第1シール層59a及び第2シール層59bを有している。第1シール層59a及び第2シール層59bは、左右対称の曲線部59cを有している。後に説明するように、TFD基板用マザー基板10’と対向基板用マザー基板20’とが貼り合わされることによって、第1シール層59a及び第2シール層59bが押し潰されて接合し、上記の図4に示す接合部59が形成されるようになっている。 By such a method of forming the seal member 52, a plurality of TFD formation regions 11 in which the insulating seal member 52a and the conductive seal member 52b are applied and formed on the mother substrate 10 'for a TFD substrate shown in FIG. Is formed. Further, as shown in FIG. 18B, a part of the TFD formation region 11 is formed by the insulating seal member 52a, and the remaining part is formed by the conductive seal member 52b. As a result, the annular portion 58 including the seal members 52a and 52b is formed. Further, as shown in FIG. 18C, each of the insulating seal member 52a and the conductive seal member 52b has a first seal layer 59a and a second seal layer 59b that overlap each other in the recesses W and X. . The first seal layer 59a and the second seal layer 59b have symmetrical left and right curved portions 59c. As will be described later, the first seal layer 59a and the second seal layer 59b are crushed and joined by bonding the mother substrate 10 ′ for the TFD substrate and the mother substrate 20 ′ for the counter substrate, and the above-mentioned A joint portion 59 shown in FIG. 4 is formed.
次に、図18(c)を参照して、第1シール層59a及び第2シール層59bの形状寸法について説明する。以下では、
R3:曲線部59cの半径
d3:第1シール層59a及び第2シール層59bの中心線間の距離
w3:貼り合わせ工程の後のシール部材52a、52bの幅
と定義する。すると、
本実施形態においては、
R3: radius d3 of the curved portion 59c: distance w3 between the center lines of the first seal layer 59a and the second seal layer 59b: defined as the width of the seal members 52a, 52b after the bonding step. Then
In this embodiment,
このようにすることにより、後述の実施例で検証するように、シール部材52a、52bの太さのばらつきが生じていたとしても、第1シール層59a及び第2シール層59bとを確実に接合して接合部59を形成することができる。また、シール部材52a、52bを全ての部分において同一のスピードで描画することが可能であり、また、書き始め部分や、書き終わり部分も液晶装置から十分離れた部分であるため複雑な制御も必要なくなる。これらの効果により描画時間は従来の1/2〜1/3と大幅な短縮ができ、且つ接合部59での液晶装置100の内側方向へのシール部材52a、52bの太りも解消できる。 In this way, as will be verified in the examples described later, even if the thickness of the seal members 52a and 52b varies, the first seal layer 59a and the second seal layer 59b are reliably bonded. Thus, the joint portion 59 can be formed. In addition, it is possible to draw the seal members 52a and 52b at the same speed in all the parts, and the writing start part and the writing end part are parts sufficiently away from the liquid crystal device, so that complicated control is required. Disappear. With these effects, the drawing time can be significantly shortened to 1/2 to 1/3 of the conventional one, and the thickness of the sealing members 52a and 52b in the inner direction of the liquid crystal device 100 at the joint portion 59 can be eliminated.
次に、図14に戻り、液晶装置の製造方法について続けて説明する。
図14(b)に示すように、材料供給部63においてTFD基板用マザー基板10’がテーブル65上に給材されている状態で、液滴吐出ヘッド66から液晶50を滴下する。具体的には、封止面10’aを上側に向け、テーブル65を移動させつつ、液滴吐出ヘッド66から液晶を吐出、滴下して、封止面10’a上の所定位置に液晶50を配置する。当該液晶50は、複数のTFD形成領域11毎の環状部58に滴下される。
また、本実施形態において、TFD基板用マザー基板10’の封止面10’aに滴下する液晶50の粘度は、130Pa・s〜250Pa・sとすることが好ましい。液晶50の粘度を上記範囲とすることで、液晶50がシール部材52a、52bとTFD基板用マザー基板10’との接着領域にまで濡れ広がるのを効果的に防止することができ、マザー基板10’,20’の貼り合わせを確実に行えるようになる。
Next, returning to FIG. 14, the manufacturing method of the liquid crystal device will be described.
As shown in FIG. 14B, the liquid crystal 50 is dropped from the droplet discharge head 66 in a state where the TFD substrate mother substrate 10 ′ is supplied on the table 65 in the material supply unit 63. Specifically, liquid crystal 50 is discharged and dropped from the droplet discharge head 66 while moving the table 65 with the sealing surface 10′a facing upward, and the liquid crystal 50 is placed at a predetermined position on the sealing surface 10′a. Place. The liquid crystal 50 is dropped on the annular portion 58 for each of the plurality of TFD formation regions 11.
Moreover, in this embodiment, it is preferable that the viscosity of the liquid crystal 50 dropped on the sealing surface 10′a of the mother substrate 10 ′ for the TFD substrate is 130 Pa · s to 250 Pa · s. By setting the viscosity of the liquid crystal 50 within the above range, it is possible to effectively prevent the liquid crystal 50 from spreading to the adhesion region between the sealing members 52a and 52b and the TFD substrate mother substrate 10 ′. ', 20' can be securely bonded.
次に、図14(c)に示すように、対向基板用マザー基板20’は基板給除部62により運搬されるとともに上下面を反転され、基板貼り合わせ部64の上チャック部71に給材される。そして、保持機構により保持面71aに保持される。
一方、シール部材52a、52b及び液晶50が配置されたTFD基板用マザー基板10’は基板給除部62により運搬され、基板貼り合わせ部64のチャック部69に給材され、保持機構により保持面69aに保持される。
Next, as shown in FIG. 14 (c), the counter substrate mother substrate 20 ′ is transported by the substrate supply / removal unit 62 and the upper and lower surfaces thereof are inverted, and the material is supplied to the upper chuck unit 71 of the substrate bonding unit 64. Is done. Then, it is held on the holding surface 71a by the holding mechanism.
On the other hand, the mother substrate 10 ′ for the TFD substrate on which the sealing members 52a and 52b and the liquid crystal 50 are arranged is transported by the substrate feeding / unloading unit 62, supplied to the chuck unit 69 of the substrate bonding unit 64, and held by the holding mechanism. 69a.
本実施形態の場合、上記対向基板用マザー基板20’の基板貼り合わせ部64への給材を、TFD基板用マザー基板10’の給材に先立って行うようになっている。これにより、TFD基板用マザー基板10’及び対向基板用マザー基板20’の封止面10’a、20’aにおける清浄性を保持しつつ、両マザー基板10’,20’の貼り合わせを行えるようになっている。下チャック部69に保持されるTFD基板用マザー基板10’の基板貼り合わせ部64への給材を先に行うと、上チャック部71への対向基板用マザー基板20’の給材時に、既に配置されているTFD基板用マザー基板10’上、及びその封止面10’aに配置された液晶50に対し異物が堆積するおそれがあり好ましくない。 In the case of the present embodiment, the material supply to the substrate bonding portion 64 of the counter substrate mother substrate 20 ′ is performed prior to the material supply of the TFD substrate mother substrate 10 ′. Accordingly, the mother substrates 10 ′ and 20 ′ can be bonded together while maintaining the cleanliness of the sealing surfaces 10′a and 20′a of the mother substrate 10 ′ for the TFD substrate and the mother substrate 20 ′ for the counter substrate. It is like that. If the TFD substrate mother substrate 10 ′ held by the lower chuck portion 69 is supplied to the substrate bonding portion 64 first, the supply of the counter substrate mother substrate 20 ′ to the upper chuck portion 71 is already performed. This is not preferable because foreign substances may accumulate on the liquid crystal 50 disposed on the mother substrate 10 ′ for the TFD substrate and the sealing surface 10′a.
なお、本実施形態では、単一の材料供給部63によりTFD基板用マザー基板10’上へのシール部材52a、52bの配置工程、液晶50の配置工程を行うこととしているが、2台の材料供給部63を用いて上記シール部材52a、52b及び液晶50の配置工程を行うこともできる。この場合、上記2工程を並行して行うことができるため、スループットを向上させることができる。
また、本実施形態においては、TFD基板用マザー基板10’にシール部材52a、52bを形成しているが、対向基板用マザー基板20’にシール部材52a、52bを形成してもよい。この場合、シール部材52a、52bの各々は、複数の対向電極形成領域21と相互境界部22とを跨ぐように連続かつ一括に形成される。また、この場合、基板給除部62による対向基板用マザー基板20’の反転動作は、材料供給部63からの基板排出後、直ちに行うことが好ましい。シール部材52a、52bは、塗布後の時間経過とともに対向基板用マザー基板20’上で広がり、塗布高さが低くなる。特に、シール部材52の粘度が20万cps以下である場合、上記塗布高さの変化が顕著になる。そこで、シール部材52a、52bの塗布後に直ちに対向基板用マザー基板20’を反転させて保持しておくことで、シール部材52a、52bの広がりを抑え、シール材料の「だれ」を低減することができる。その結果、対向基板用マザー基板20’とTFD基板用マザー基板10’との貼り合わせ強度を保持することができ、信頼性に優れた液晶装置を製造することが可能になる。
また、シール部材52a、52bのうち一方をTFD基板用マザー基板10’に形成し、他方を対向基板用マザー基板20’に形成してもよい。この場合においても、上記のようにシール材料の「だれ」を低減させつつ、TFD基板用マザー基板10’と対向基板用マザー基板20’とが貼り合わされる。また、当該貼り合わせの際には、シール部材52a、52bの位置が合うよう位置決めが施された後に行われる。
In the present embodiment, the single material supply unit 63 performs the placement process of the seal members 52a and 52b and the placement process of the liquid crystal 50 on the mother substrate 10 'for the TFD substrate. An arrangement process of the sealing members 52 a and 52 b and the liquid crystal 50 can be performed using the supply unit 63. In this case, since the two steps can be performed in parallel, the throughput can be improved.
In this embodiment, the seal members 52a and 52b are formed on the mother substrate 10 ′ for the TFD substrate, but the seal members 52a and 52b may be formed on the mother substrate 20 ′ for the counter substrate. In this case, each of the sealing members 52 a and 52 b is continuously and collectively formed so as to straddle the plurality of counter electrode forming regions 21 and the mutual boundary portion 22. In this case, it is preferable that the reversing operation of the counter substrate mother substrate 20 ′ by the substrate supply / removal unit 62 is performed immediately after the substrate is discharged from the material supply unit 63. The sealing members 52a and 52b spread on the mother substrate 20 ′ for the counter substrate with the lapse of time after application, and the application height decreases. In particular, when the viscosity of the seal member 52 is 200,000 cps or less, the change in the coating height becomes significant. Therefore, the counter substrate mother substrate 20 ′ is inverted and held immediately after the application of the seal members 52a and 52b, thereby suppressing the spread of the seal members 52a and 52b and reducing the “sag” of the seal material. it can. As a result, the bonding strength between the counter substrate mother substrate 20 ′ and the TFD substrate mother substrate 10 ′ can be maintained, and a liquid crystal device with excellent reliability can be manufactured.
Further, one of the seal members 52a and 52b may be formed on the mother substrate 10 ′ for the TFD substrate, and the other may be formed on the mother substrate 20 ′ for the counter substrate. Also in this case, the TFD substrate mother substrate 10 ′ and the counter substrate mother substrate 20 ′ are bonded together while reducing the “sag” of the sealing material as described above. In addition, the bonding is performed after the sealing members 52a and 52b are positioned so as to be aligned.
その後、図15(a)に示すように、真空チャンバ70を下降させて下チャック部69に当接させ、収容空間70bを密封状態に閉塞する。収容空間70bが密封状態となったら、排気部76から負圧吸引して収容空間70b内を略真空状態(1.33Pa〜1.33×10−2Pa)とする。 Thereafter, as shown in FIG. 15A, the vacuum chamber 70 is lowered and brought into contact with the lower chuck portion 69 to close the housing space 70b in a sealed state. When the accommodation space 70b is in a sealed state, negative pressure is sucked from the exhaust part 76 to make the inside of the accommodation space 70b substantially vacuum (1.33 Pa to 1.33 × 10 −2 Pa).
収容空間70b内が略真空状態となったら、図15(b)に示すように、対向基板用マザー基板20’とTFD基板用マザー基板10’とに形成されたアライメントマーク(図示せず)を貼り合わせ用顕微鏡74、74を用いて拡大してCCDカメラ81に取り込む。CCDカメラ81に取り込まれたアライメントマークの画像データは、画像処理部83に入力され、画像処理部83にて対向基板用マザー基板20’とTFD基板用マザー基板10’との相対位置が検出される。制御部84は、画像処理部83により検出された相対位置に基づきテーブル68を駆動して対向基板用マザー基板20’を水平移動させ、TFD基板用マザー基板10’との相対位置のズレが±10μm以内になるように粗位置決めする。 When the inside of the accommodation space 70b is in a substantially vacuum state, as shown in FIG. 15B, alignment marks (not shown) formed on the counter substrate mother substrate 20 ′ and the TFD substrate mother substrate 10 ′ are provided. The image is magnified using the bonding microscopes 74 and 74 and taken into the CCD camera 81. The image data of the alignment mark captured by the CCD camera 81 is input to the image processing unit 83, and the image processing unit 83 detects the relative position between the counter substrate mother substrate 20 ′ and the TFD substrate mother substrate 10 ′. The The control unit 84 drives the table 68 based on the relative position detected by the image processing unit 83 to horizontally move the counter substrate mother substrate 20 ′, and the deviation of the relative position with respect to the TFD substrate mother substrate 10 ′ is ±. Rough positioning is performed so that the distance is within 10 μm.
なお、上記収容空間70b内の真空引きと、マザー基板10’、20’の粗位置決めとは、同時に併行して実施してもよいし、粗位置決めを先に実施して真空引きを後から実施してもよい。真空引きと粗位置決めとを同時に実施した場合は、製造時間を短縮することができる。
また、上チャック部71には、貼り合わせ用顕微鏡74及び覗き窓70aの直下の位置に貫通孔71bが形成されており、この貫通孔71bを介して各マザー基板10’,20’のアライメントマークを検出するようになっている。
Note that the evacuation in the housing space 70b and the rough positioning of the mother substrates 10 ′ and 20 ′ may be performed simultaneously, or the rough positioning is performed first and the evacuation is performed later. May be. When evacuation and rough positioning are performed at the same time, the manufacturing time can be shortened.
Further, a through hole 71b is formed in the upper chuck portion 71 at a position directly below the bonding microscope 74 and the observation window 70a, and alignment marks of the mother substrates 10 ′ and 20 ′ are formed through the through hole 71b. Is supposed to be detected.
マザー基板10’、20’が粗位置決めされたら、図15(c)に示すように、下降機構72により上チャック部71を下降(相対移動)させて対向するマザー基板10’,20’を貼り合わせる。更に、上チャック部71を下チャック部69に向けて下降させ、マザー基板10’,20’に加圧してシール部材52を所定厚さまで圧縮する。
マザー基板10’,20’の貼り合わせが完了すると、UV照射ユニット82により紫外線を照射してシール部材52を仮硬化させ、シール材料の粘度を高める。
When the mother substrates 10 ′ and 20 ′ are roughly positioned, as shown in FIG. 15C, the lower chuck 72 lowers (relatively moves) the upper chuck portion 71 and attaches the opposing mother substrates 10 ′ and 20 ′. Match. Further, the upper chuck portion 71 is lowered toward the lower chuck portion 69, and pressurizes the mother substrates 10 'and 20' to compress the seal member 52 to a predetermined thickness.
When the bonding of the mother substrates 10 ′ and 20 ′ is completed, the UV irradiation unit 82 irradiates ultraviolet rays to temporarily cure the seal member 52, thereby increasing the viscosity of the seal material.
なお、マザー基板10’、20’を貼り合わせた後の加圧は、製造のプロセスおよびシール部材52a、52bなどの選択によっては実施しなくてもよい。また、UV照射ユニット82によるシール部材52の仮硬化も同様にシール部材52によっては実施しなくてもよい。
また、貼り合わせ後から後述する精密位置合わせまでの間に、両基板の位置ズレの発生が予想され、そのズレ幅、方向が統計的に予想される場合には、位置ズレ発生後のマザー基板10’,20’の位置関係が上述した範囲内に収まるように、あらかじめオフセットさせて粗位置決めしてもよい。
The pressurization after bonding the mother substrates 10 ′ and 20 ′ may not be performed depending on the manufacturing process and the selection of the seal members 52a and 52b. Similarly, the temporary curing of the sealing member 52 by the UV irradiation unit 82 may not be performed depending on the sealing member 52.
In addition, if the occurrence of positional deviation between the two substrates is expected between the pasting and the precise alignment described later, and the deviation width and direction are statistically expected, the mother substrate after the positional deviation has occurred Rough positioning may be performed by offsetting in advance so that the positional relationship of 10 ′ and 20 ′ falls within the above-described range.
この後、収容空間70b内に大気が導入され、略真空状態から大気圧に戻される。真空チャンバ70の収容空間70bが大気圧になると、圧力差により両マザー基板10’、20’は押圧されてシール部材52は更に圧縮される。その後、上チャック部71と下チャック部69との保持を解除し、図16(a)に示すように、真空チャンバ70を上昇させる。そして、下チャック部69に非保持状態で載置されている基板(この場合はマザー基板10’,20’が貼り合わされた液晶装置100)を基板給除部62により除材する。 Thereafter, the atmosphere is introduced into the accommodation space 70b, and the pressure is returned from the substantially vacuum state to the atmospheric pressure. When the accommodating space 70b of the vacuum chamber 70 becomes atmospheric pressure, the mother substrates 10 'and 20' are pressed by the pressure difference, and the seal member 52 is further compressed. Thereafter, the holding of the upper chuck portion 71 and the lower chuck portion 69 is released, and the vacuum chamber 70 is raised as shown in FIG. Then, the substrate (in this case, the liquid crystal device 100 on which the mother substrates 10 ′ and 20 ′ are bonded together) placed in the non-holding state on the lower chuck portion 69 is removed by the substrate supply / removal unit 62.
貼り合わされた両マザー基板10’、20’は基板給除部62により精密アライメント部164へ運搬され、図16(b)に示すように、対向基板用マザー基板20’が上チャック部171側に、TFD基板用マザー基板10’が下チャック部169側になるように給材される。上チャック部171と下チャック部169とは、それぞれ設けられた吸着機構により対向基板用マザー基板20’とTFD基板用マザー基板10’とを真空吸着する。
TFD基板用マザー基板10’と対向基板用マザー基板20’との保持が完了すると、大気圧下において、両マザー基板10’、20’に形成されたアライメントマーク(図示せず)をアライメント用顕微鏡174、174を介してCCDカメラ181、181に取り込む。CCDカメラ181に取り込まれたアライメントマークの画像データは、画像処理部183に入力され、対向基板用マザー基板20’とTFD基板用マザー基板10’との相対位置が検出される。制御部184は、画像処理部183により検出された相対位置に基づき、テーブル168を駆動して対向基板用マザー基板20’とTFD基板用マザー基板10’との相対位置のズレが±1μm以内になるように精密位置決めする。
また、上チャック部171には、アライメント用顕微鏡174の直下の位置に貫通孔171bが形成されており、この貫通孔171bを介して各マザー基板10’,20’のアライメントマークを検出するようになっている。
The bonded mother substrates 10 ′ and 20 ′ are conveyed to the precision alignment unit 164 by the substrate supply / removal unit 62, and the counter substrate mother substrate 20 ′ is moved to the upper chuck unit 171 side as shown in FIG. The TFD substrate mother substrate 10 ′ is fed so as to be on the lower chuck portion 169 side. The upper chuck portion 171 and the lower chuck portion 169 vacuum-suck the counter substrate mother substrate 20 ′ and the TFD substrate mother substrate 10 ′ by a suction mechanism provided respectively.
When the holding of the mother substrate 10 'for the TFD substrate and the mother substrate 20' for the counter substrate is completed, alignment marks (not shown) formed on both the mother substrates 10 'and 20' are subjected to an alignment microscope under atmospheric pressure. The images are taken into the CCD cameras 181 and 181 via 174 and 174, respectively. The image data of the alignment mark captured by the CCD camera 181 is input to the image processing unit 183, and the relative position between the counter substrate mother substrate 20 ′ and the TFD substrate mother substrate 10 ′ is detected. The control unit 184 drives the table 168 based on the relative position detected by the image processing unit 183 so that the deviation of the relative position between the counter substrate mother substrate 20 ′ and the TFD substrate mother substrate 10 ′ is within ± 1 μm. Precise positioning so that
Further, a through hole 171b is formed in the upper chuck portion 171 at a position directly below the alignment microscope 174, and the alignment marks of the mother substrates 10 ′ and 20 ′ are detected via the through hole 171b. It has become.
両マザー基板10’、20’が精密位置決めされたら、加圧機構172により上チャック部171を更に下降(相対移動)させて対向配置されているマザー基板10’,20’を加圧する。すると、シール部材52は更に圧縮され、シール部材52a、52bに含まれるギャップ制御材52cがマザー基板10’,20’に当接し、両マザー基板10’、20’の間隔が略3μm以下になるように調節される。
なお、加圧機構172による加圧方法は、一括して押圧力を加える加圧方法や、段階的に押圧力を上げる加圧方法、連続的に押圧力を上げる加圧方法、押圧してその押圧力を一時保持しその後押し圧力を上げるS字加圧など、さまざまな加圧方法で加圧してもよい。
When both the mother substrates 10 ′ and 20 ′ are precisely positioned, the upper chuck portion 171 is further lowered (relatively moved) by the pressurizing mechanism 172 to pressurize the mother substrates 10 ′ and 20 ′ that are opposed to each other. Then, the seal member 52 is further compressed, and the gap control member 52c included in the seal members 52a and 52b comes into contact with the mother substrates 10 ′ and 20 ′, so that the distance between the mother substrates 10 ′ and 20 ′ becomes approximately 3 μm or less. Adjusted as follows.
Note that the pressurizing method by the pressurizing mechanism 172 includes a pressurizing method that applies a pressing force in a lump, a pressurizing method that increases the pressing force stepwise, a pressurizing method that continuously increases the pressing force, Pressurization may be performed by various pressurization methods such as S-shaped pressurization in which the pressing force is temporarily held and then the pressing force is increased.
また、上チャック部171と下チャック部169とが対向基板用マザー基板20’とTFD基板用マザー基板10’と接触して押圧する領域は、接触している面全体で押圧してもよいし、シール部材52に含まれているギャップ制御材52cが配置されている領域のみに接触して押圧してもよい。ギャップ制御材52cが配置されている領域のみを押圧する方法では、ギャップ制御材52cが配置されていない領域を押圧しないので、両マザー基板10’、20’の撓みによる基板の狭ギャップ化や、基板上に配置されたスペーサによる構成部材の破損を防ぐことができる。 In addition, the region where the upper chuck portion 171 and the lower chuck portion 169 are in contact with and press against the mother substrate 20 ′ for the counter substrate and the mother substrate 10 ′ for the TFD substrate may be pressed over the entire contact surface. Alternatively, only the region where the gap control member 52c included in the seal member 52 is disposed may be contacted and pressed. In the method of pressing only the region where the gap control material 52c is disposed, the region where the gap control material 52c is not disposed is not pressed, so that the gap between the substrates is reduced due to the bending of both the mother substrates 10 ′ and 20 ′, It is possible to prevent the structural members from being damaged by the spacers arranged on the substrate.
両マザー基板10’、20’のギャップが調節されると、UVランプ182により紫外線をシール部材52に照射して硬化させ、両マザー基板10’、20’のギャップを保持させる。
なお、UVランプ182の照射は、加圧機構172の押圧力が所定圧力に到達した直後から照射したり、所定時間放置し、液晶50がTFD形成領域11のすみずみまで行き渡るまで待ってから照射したりするなど、さまざまなタイミングで照射を行ってもよい。また、使用するシール材料によっては、必要な接着力を得るために、シール部材硬化の工程を更に追加してもよい。
When the gap between the two mother substrates 10 ′ and 20 ′ is adjusted, the UV lamp 182 irradiates the sealing member 52 with ultraviolet rays to be cured, and holds the gap between the two mother substrates 10 ′ and 20 ′.
Note that the UV lamp 182 is irradiated immediately after the pressing force of the pressurizing mechanism 172 reaches a predetermined pressure, or left for a predetermined time, and waits until the liquid crystal 50 reaches every corner of the TFD formation region 11. Irradiation may be performed at various timings. Further, depending on the seal material used, a process for curing the seal member may be further added in order to obtain a necessary adhesive force.
シール部材52a、52bの硬化が完了すると、上チャック部171と下チャック部169とによる保持を上下順次または同時に開放し、下チャック部69に非保持状態で載置されている液晶装置100を基板給除部62により除材する。
そして、図7(c)のようにマザー基板10’、20’を切り出すことにより、液晶装置100の製造が完了する。
When the curing of the seal members 52a and 52b is completed, the holding by the upper chuck portion 171 and the lower chuck portion 169 is sequentially released vertically or simultaneously, and the liquid crystal device 100 placed in the non-holding state on the lower chuck portion 69 is mounted on the substrate. The material is removed by the feeding / dispensing unit 62.
Then, as shown in FIG. 7C, the mother substrates 10 ′ and 20 ′ are cut out to complete the manufacture of the liquid crystal device 100.
なお、本実施形態においては、デバイス製造装置61を利用して、次の[1]〜[8]に示す貼り合わせ工程を行っている。
[1]マザー基板10’、20’をテーブルにセット
[2]収容空間70bにおいて真空引き
[3]マザー基板10’、20’を粗位置決め
[4]UV照射による仮固定
[5]収容空間70bを大気開放
[6]精密アライメント部164へ移載
[7]マザー基板10’、20’を精密位置決め
[8]UV照射による固定
また、本発明は、このような貼り合わせ工程を限定するものではない。例えば、次の[1]〜[11]に示す貼り合わせ工程を行ってもよい。
[1]マザー基板10’、20’をテーブルにセット
[2]収容空間70bにおいて真空引き
[3]一定の位置まで上チャック部71を下降
[4]マザー基板10’、20’を粗位置決め
[5]更に上チャック部71を下降
[6]マザー基板10’、20’を精密位置決め
[7]加圧固定
[8]UV照射による仮固定
[9]静電チャックOFF、上チャック部71を上昇
[10]収容空間70bを大気開放
[11]UV照射による固定
このような[1]〜[11]の貼り合わせ工程においては、大気中で精密アライメントを行っていないが、確実にマザー基板10’、20’を貼り合わせることが可能となる。
In the present embodiment, the bonding process shown in the following [1] to [8] is performed using the device manufacturing apparatus 61.
[1] Mother boards 10 ′ and 20 ′ are set on a table [2] Vacuum is drawn in the accommodation space 70b [3] Mother boards 10 ′ and 20 ′ are roughly positioned [4] Temporary fixing by UV irradiation [5] Accommodation space 70b [6] The mother substrates 10 ′ and 20 ′ are fixed by precise positioning [8] UV irradiation. The present invention does not limit such a bonding step. Absent. For example, you may perform the bonding process shown to following [1]-[11].
[1] Set the mother substrates 10 ′ and 20 ′ on the table [2] Vacuum in the accommodation space 70b [3] Lower the upper chuck portion 71 to a certain position [4] Roughly position the mother substrates 10 ′ and 20 ′ [ 5] Lower upper chuck 71 [6] Precise positioning of mother boards 10 'and 20' [7] Pressure fixing [8] Temporary fixing by UV irradiation [9] Electrostatic chuck OFF, upper chuck 71 raised [10] Opening the accommodation space 70b to the atmosphere [11] Fixing by UV irradiation In such a bonding process of [1] to [11], precise alignment is not performed in the atmosphere, but the mother substrate 10 ′ is surely formed. 20 ′ can be bonded together.
上述したように、本実施形態の液晶装置100、及びその製造方法においては、シール部材52a、52bは、環状部58と接合部59とを構成するので、接合部59の一部によって環状部58を閉塞し、接合部59からの液晶層50の漏れを抑制でき、液晶装置100の信頼性を向上させることができる。また、接合部59は環状部58の外側に向けて形成されているので、貼り合わせ工程を施した際に環状部58の外側において接合部59の幅が広がるだけで済み、環状部58の内部にシール部材52a、52bが突出するのを抑制できる。また、環状部58の内部のセルギャップに影響を与えることがなく、当該セルギャップを均一に保持できる。
また、従来技術と比較して、環状部58及び接合部59の各々の部材幅を調整する必要がなく、同一幅の部材で環状部58及び接合部59を形成することができ、容易にシール部材52a、52bを形成できる。従って、ディスペンサの制御が容易になり、シール部材52a、52bの描画を短時間で終了させることができる。また、ディスペンサの中に残存するシール材料の量のばらつきや、シール材料のロット間の粘度ばらつきを問題視する必要がなく、シール部材52a、52bの形状の管理を容易にできる。
As described above, in the liquid crystal device 100 according to the present embodiment and the manufacturing method thereof, the seal members 52a and 52b constitute the annular portion 58 and the joint portion 59. Therefore, the annular portion 58 is formed by a part of the joint portion 59. And the leakage of the liquid crystal layer 50 from the joint portion 59 can be suppressed, and the reliability of the liquid crystal device 100 can be improved. Further, since the joint portion 59 is formed toward the outer side of the annular portion 58, it is only necessary to widen the width of the joint portion 59 outside the annular portion 58 when the bonding process is performed. Further, the protrusion of the seal members 52a and 52b can be suppressed. In addition, the cell gap can be kept uniform without affecting the cell gap inside the annular portion 58.
Further, compared to the prior art, it is not necessary to adjust the member width of each of the annular portion 58 and the joint portion 59, and the annular portion 58 and the joint portion 59 can be formed of members having the same width, and can be easily sealed The members 52a and 52b can be formed. Accordingly, the dispenser can be easily controlled, and the drawing of the seal members 52a and 52b can be completed in a short time. Further, it is not necessary to consider the variation in the amount of the sealing material remaining in the dispenser and the variation in the viscosity between lots of the sealing material, and the shape of the sealing members 52a and 52b can be easily managed.
また、導電性シール部材52bは、導通パッド54とCOM電極57とを導通させているので、環状部58の内側に液晶層50を保持するだけでなく、導通パッド54とCOM電極57とを導通させることができる。また、絶縁性シール部材52aは、引き回し配線55及びSEG電極56の表面上の非導通領域に形成されているので、環状部58の内側に液晶層50を保持するだけでなく、当該非導通領域において電気的絶縁性を得ることができる。 In addition, since the conductive seal member 52b conducts the conduction pad 54 and the COM electrode 57, it not only holds the liquid crystal layer 50 inside the annular portion 58 but also conducts the conduction pad 54 and the COM electrode 57. Can be made. Further, since the insulating seal member 52a is formed in the non-conductive region on the surface of the routing wiring 55 and the SEG electrode 56, not only the liquid crystal layer 50 is held inside the annular portion 58 but also the non-conductive region. In this case, electrical insulation can be obtained.
また、絶縁性シール部材52aと導電性シール部材52bとによって、導電性と電気絶縁性を有する環状部58を形成することができ、導電性と電気絶縁性の部材が接合された接合部59を形成できる。また、この場合、導通領域と非導通領域との間に接合部59が形成されることとなるが、当該接合部59は環状部58の外側に向けて形成されているので、貼り合わせ工程を施した際に環状部58の外側において接合部59の幅が広がるだけで済み、環状部58の内部にシール部材52a、52bが突出するのを抑制できる。また、環状部58の内部のセルギャップに影響を与えることがなく、当該セルギャップを均一に保持できる。 In addition, the insulating seal member 52a and the conductive seal member 52b can form an annular portion 58 having conductivity and electrical insulation, and a joint 59 where the conductive and electrical insulation members are joined is formed. Can be formed. In this case, the joint portion 59 is formed between the conducting region and the non-conducting region. Since the joint portion 59 is formed toward the outside of the annular portion 58, the bonding step is performed. When applied, it is only necessary to widen the width of the joint portion 59 outside the annular portion 58, and the seal members 52a and 52b can be prevented from protruding inside the annular portion 58. In addition, the cell gap can be kept uniform without affecting the cell gap inside the annular portion 58.
また、上記の(数7)〜(数9)の関係が成立していることから、シール部材52a、52bの太さのばらつきに関係なく、第1シール層59a及び第2シール層59bとを確実に接合して接合部59を形成することができる。また、従来の方法では、接合部59においてシール部材52a、52bの太りが発生したり、太りを最小限に抑制するために重ね部分の距離を長くしたりする必要があり、また、装置の制御も複雑になってシール部材の描画時間が長くなるという課題があった。これに対して、本実施形態においては、シール部材52a、52bを全ての部分において同一のスピードで描画することができる。また、書き始め部分や、書き終わり部分も液晶装置100から十分離れた部分であるため複雑な制御も不要にすることができる。従って、描画時間を大幅に短縮でき、且つ接合部59での液晶装置100の内側方向への52a、52bの太りも解消できる。 Further, since the relationship of the above (Equation 7) to (Equation 9) is established, the first seal layer 59a and the second seal layer 59b are connected regardless of variations in the thickness of the seal members 52a and 52b. The joint portion 59 can be formed by reliably joining. Further, in the conventional method, it is necessary to increase the thickness of the seal members 52a and 52b at the joint portion 59, or to increase the distance between overlapping portions in order to suppress the thickness to a minimum. However, there is a problem that the drawing time of the seal member becomes longer due to the complexity. On the other hand, in this embodiment, the seal members 52a and 52b can be drawn at the same speed in all portions. Further, since the writing start portion and the writing end portion are portions sufficiently separated from the liquid crystal device 100, complicated control can be eliminated. Therefore, the drawing time can be greatly shortened, and the thickness of 52a and 52b in the inner direction of the liquid crystal device 100 at the joint portion 59 can be eliminated.
また、液晶装置100は、TFD基板用マザー基板10’と、対向基板用マザー基板20’とを貼り合せた後に切り出して製造されるので、液晶装置100を複数取り出すことができ、生産性が優れた製造方法を実現できる。
また、液晶装置100の製造方法において、TFD形成領域11及び相互境界部12を跨ぐように絶縁性シール部材52aが連続かつ一括して塗布し、更に、導電性シール部材52bも連続かつ一括して塗布しているので、従来よりも優れた効果が得られる。
具体的には、導電性シール部材52bの描画開始から描画終了までの単工程、絶縁性シール部材52aの描画開始から描画終了までの単工程によって、複数のTFD形成領域11の配列方向に対してシール部材52a、52bを一括形成できる。これにより、容易かつ迅速にシール部材52a、52bを形成することができ、生産性が優れた製造方法を実現できる。
一方、従来のように複数のTFD形成領域11の各々にシール部材52a、52bを形成する場合では、各TFD形成領域11に対してシール部材52a、52bの描画開始と描画終了を行わなければならず、従って、より多くの描画開始と描画終了を繰り返さなければならない。これにより、シール材料の吐出、非吐出が連続して生じるので、ディスペンサ内においてシール材料を安定して流動させることが困難となり、吐出するシール材料の量のばらつきが生じやすくなる。また、ディスペンサをTFD基板用マザー基板10’上に走査しなければならず、ディスペンサの動作が煩雑化してしまう。
これに対して、本実施形態においては、TFD形成領域11の配列方向に向けて連続して一括に、導電性シール部材52b及び絶縁性シール部材52aを形成しているので、TFD形成領域11の列又は行毎に描画開始と描画終了を行うだけでよく、従って、描画開始数と描画終了数を少なくすることができる。これにより、ディスペンサ内のシール材料を安定して流動させながら、導電性シール部材52b及び絶縁性シール部材52aを連続かつ一括に形成できる。また、短時間でシール部材52a、52bを形成することができる。また、ディスペンサが非吐出状態でTFD基板用マザー基板10’上を走査することがないので、ディスペンサに充填されたシール材料が不用意に滴下するのを防止できる。従って、ディスペンサの動作を簡素化でき、シール材料の粘度ばらつきや、吐出量ばらつきを抑制できる。
また、このような方法によって形成されたTFD形成領域11の各々のシール部材52a、52bは、接合部59を介して接続されているので、相互境界部12において液晶50が漏れるのを防止できる。
Further, the liquid crystal device 100 is manufactured by cutting out the mother substrate 10 ′ for the TFD substrate and the mother substrate 20 ′ for the counter substrate, and thus, a plurality of liquid crystal devices 100 can be taken out, and the productivity is excellent. Manufacturing method can be realized.
In the manufacturing method of the liquid crystal device 100, the insulating seal member 52a is continuously and collectively applied so as to straddle the TFD forming region 11 and the mutual boundary portion 12, and the conductive seal member 52b is also continuously and collectively applied. Since it is applied, an effect superior to the conventional one can be obtained.
Specifically, with respect to the arrangement direction of the plurality of TFD formation regions 11, a single process from the start of drawing of the conductive seal member 52b to the end of drawing and a single process from the start of drawing of the insulating seal member 52a to the end of drawing. The seal members 52a and 52b can be collectively formed. Thereby, the sealing members 52a and 52b can be formed easily and quickly, and a manufacturing method with excellent productivity can be realized.
On the other hand, when the seal members 52a and 52b are formed in each of the plurality of TFD formation regions 11 as in the prior art, drawing start and drawing end of the seal members 52a and 52b must be performed for each TFD formation region 11. Therefore, more drawing start and drawing end must be repeated. Accordingly, since the discharge and non-discharge of the sealing material occur continuously, it becomes difficult to stably flow the sealing material in the dispenser, and the amount of the sealing material to be discharged tends to vary. In addition, the dispenser must be scanned on the TFD substrate mother substrate 10 ', which complicates the operation of the dispenser.
On the other hand, in this embodiment, since the conductive seal member 52b and the insulating seal member 52a are formed continuously and collectively in the arrangement direction of the TFD formation region 11, the TFD formation region 11 It is only necessary to start and end drawing for each column or row, and therefore the number of drawing start and end of drawing can be reduced. Accordingly, the conductive seal member 52b and the insulating seal member 52a can be formed continuously and collectively while the seal material in the dispenser is stably flowed. Further, the seal members 52a and 52b can be formed in a short time. Further, since the dispenser is not ejected and does not scan the TFD substrate mother substrate 10 ', it is possible to prevent the sealing material filled in the dispenser from dripping inadvertently. Therefore, the operation of the dispenser can be simplified, and variations in the viscosity of the sealing material and variations in the discharge amount can be suppressed.
Further, since the seal members 52a and 52b of the TFD formation region 11 formed by such a method are connected via the joint portion 59, the liquid crystal 50 can be prevented from leaking at the mutual boundary portion 12.
次に、液晶装置の製造方法の第2実施形態について説明する。
以下の説明においては、上記の実施形態と異なる部分について説明し、同一構成や同一工程については同一符号を付して説明を省略している。
Next, a second embodiment of a method for manufacturing a liquid crystal device will be described.
In the following description, a different part from said embodiment is demonstrated, the same code | symbol is attached | subjected about the same structure and the same process, and description is abbreviate | omitted.
(第2実施形態)
図19は、本発明の第2実施形態に係る液晶装置の製造方法を説明するための図である。また、当該図19は、シール部材52の形成方法を説明するための平面図である。また、当該図19は、図18は図18(b)における符号Fを拡大した図である。
(Second Embodiment)
FIG. 19 is a view for explaining the method for manufacturing the liquid crystal device according to the second embodiment of the invention. FIG. 19 is a plan view for explaining a method for forming the seal member 52. FIG. 19 is an enlarged view of the symbol F in FIG. 18B.
上記の第1実施形態においては、第1シール層59a及び第2シール層59bが曲線部59cを有する構成となっているが、これに対して本実施形態は、第1シール層59a及び第2シール層59bが傾斜部59dを有する構成となっている。そして、上記に説明したように、TFD基板用マザー基板10’と対向基板用マザー基板20’とが貼り合わされることによって、第1シール層59a及び第2シール層59bが押し潰されて接合し、上記の図4に示す接合部59が形成されるようになっている。 In the first embodiment, the first seal layer 59a and the second seal layer 59b have a curved portion 59c. On the other hand, in the present embodiment, the first seal layer 59a and the second seal layer 59b are provided. The seal layer 59b has an inclined portion 59d. Then, as described above, the first seal layer 59a and the second seal layer 59b are crushed and joined by bonding the mother substrate 10 ′ for the TFD substrate and the mother substrate 20 ′ for the counter substrate. The joint portion 59 shown in FIG. 4 is formed.
次に、図19を参照して、第1シール層59a及び第2シール層59bの形状寸法について説明する。以下では、
c3:傾斜部59dの面取り量
d3:第1シール層59a及び第2シール層59bの中心線間の距離
w3:貼り合わせ工程の後のシール部材52a、52bの幅
と定義する。すると、
本実施形態においては、
c3: Chamfering amount of the inclined portion 59d d3: distance between center lines of the first seal layer 59a and the second seal layer 59b w3: defined as the width of the seal members 52a and 52b after the bonding step. Then
In this embodiment,
このようにすることにより、後述の実施例で検証するように、シール部材52a、52bの太さのばらつきが生じていたとしても、第1シール層59a及び第2シール層59bとを確実に接合して接合部59を形成することができる。また、シール部材52a、52bを全ての部分において同一のスピードで描画することが可能であり、また、書き始め部分や、書き終わり部分も液晶装置から十分離れた部分であるため複雑な制御も必要なくなる。これらの効果により描画時間は従来の1/2〜1/3と大幅な短縮ができ、且つ接合部59での液晶装置100の内側方向へのシール部材52a、52bの太りも解消できる。 In this way, as will be verified in the examples described later, even if the thickness of the seal members 52a and 52b varies, the first seal layer 59a and the second seal layer 59b are reliably bonded. Thus, the joint portion 59 can be formed. In addition, it is possible to draw the seal members 52a and 52b at the same speed in all the parts, and the writing start part and the writing end part are parts sufficiently away from the liquid crystal device, so that complicated control is required. Disappear. With these effects, the drawing time can be significantly shortened to 1/2 to 1/3 of the conventional one, and the thickness of the sealing members 52a and 52b in the inner direction of the liquid crystal device 100 at the joint portion 59 can be eliminated.
なお、本実施形態においては、面取り量c3によって傾斜部59dが形成されている。換言すれば、傾斜部59dは、第2シール層59bの中心線方向に対して45°の角度で傾斜して形成されているものである。本発明は、このように45°の角度で傾斜部59dを形成することを限定するものではない。45°よりも鋭角側又は鈍角側に角度を振って傾斜部59dを形成してもよい。 In the present embodiment, the inclined portion 59d is formed by the chamfering amount c3. In other words, the inclined portion 59d is formed to be inclined at an angle of 45 ° with respect to the center line direction of the second seal layer 59b. The present invention does not limit the formation of the inclined portion 59d at an angle of 45 ° in this way. The inclined portion 59d may be formed by swinging the angle to an acute angle side or an obtuse angle side from 45 °.
また、上記の実施形態においては、シール部材52a、52bの太さを同じにしているが、これを異ならせてもよい。例えば、絶縁性シール部材52aを0.5mm、また、導電性シール部材52bを0.7mmとし、導電性シール部材52bを絶縁性シール部材52aよりも太くしてもよい。 Moreover, in said embodiment, although the thickness of the sealing members 52a and 52b is made the same, you may make this different. For example, the insulating seal member 52a may be 0.5 mm, the conductive seal member 52b may be 0.7 mm, and the conductive seal member 52b may be thicker than the insulating seal member 52a.
次に、液晶装置の第3〜第7実施形態について説明する。
以下の説明においては、上記の実施形態と異なる部分について説明し、同一構成には同一符号を付して説明を省略している。なお、第3〜第7実施形態に示す液晶装置は、上記の第1又は第2実施形態のいずれかの製造方法を利用して製造されたものである。
Next, third to seventh embodiments of the liquid crystal device will be described.
In the following description, a different part from said embodiment is demonstrated, the same code | symbol is attached | subjected to the same structure and description is abbreviate | omitted. Note that the liquid crystal devices shown in the third to seventh embodiments are manufactured using the manufacturing method of any one of the first and second embodiments.
(第3実施形態)
まず、本発明の第3実施形態に係る液晶装置について説明する。
図20は、本実施形態に係る液晶装置の各構成要素を対向基板側から見た平面図である。本実施形態においては、画像表示領域4と走査信号駆動回路110との間に導電性シール部材52bが形成され、接合部59を介して導電性シール部材52bの反対側に絶縁性シール部材52aが形成された構成となっている。即ち、上記の第1実施形態と比較すると、絶縁性シール部材52aと導電性シール部材52bとの位置が反対となった構成となっている。
(Third embodiment)
First, a liquid crystal device according to a third embodiment of the invention will be described.
FIG. 20 is a plan view of each component of the liquid crystal device according to the present embodiment as viewed from the counter substrate side. In the present embodiment, a conductive seal member 52b is formed between the image display region 4 and the scanning signal drive circuit 110, and an insulating seal member 52a is provided on the opposite side of the conductive seal member 52b via the joint portion 59. It has a formed configuration. That is, as compared with the first embodiment, the positions of the insulating seal member 52a and the conductive seal member 52b are opposite to each other.
また、TFD基板10上においては、導通パッド54は、データ信号駆動回路120の側方に形成され、引き回し配線55を介してデータ信号駆動回路120と接続されている。一方、対向基板20においては、COM電極57は、画像表示領域4の外部に形成されていると共に、導通パッド54に向けて延在している。そして、導電性シール部材52bは、COM電極57と導通パッド54とによって挟持されることにより、導電性粒子がCOM電極57と導通パッド54とを電気的に接続させている。ここで、導電性シール部材52bがSEG電極56の配線上に形成されるので、SEG電極56の配線の隣接配線とのショートが配慮されたものとなっている。
このように、画像表示領域4と走査信号駆動回路110との間に導電性シール部材52bが形成された場合においても、上記の実施形態と同様の効果が得られる。
On the TFD substrate 10, the conductive pad 54 is formed on the side of the data signal driving circuit 120 and is connected to the data signal driving circuit 120 through the lead wiring 55. On the other hand, in the counter substrate 20, the COM electrode 57 is formed outside the image display area 4 and extends toward the conductive pad 54. The conductive sealing member 52 b is sandwiched between the COM electrode 57 and the conductive pad 54, so that the conductive particles electrically connect the COM electrode 57 and the conductive pad 54. Here, since the conductive seal member 52b is formed on the wiring of the SEG electrode 56, a short circuit with the adjacent wiring of the wiring of the SEG electrode 56 is considered.
As described above, even when the conductive seal member 52b is formed between the image display region 4 and the scanning signal drive circuit 110, the same effect as the above-described embodiment can be obtained.
(第4実施形態)
次に、本発明の第4実施形態に係る液晶装置について説明する。
図21は、本実施形態に係る液晶装置の各構成要素を対向基板側から見た平面図である。本実施形態は、第3実施形態と同様に、画像表示領域4と走査信号駆動回路110との間に導電性シール部材52bが形成され、接合部59を介して導電性シール部材52bの反対側に絶縁性シール部材52aが形成された構成となっている。
(Fourth embodiment)
Next, a liquid crystal device according to a fourth embodiment of the invention is described.
FIG. 21 is a plan view of each component of the liquid crystal device according to the present embodiment as viewed from the counter substrate side. In the present embodiment, similarly to the third embodiment, a conductive seal member 52b is formed between the image display region 4 and the scanning signal drive circuit 110, and the opposite side of the conductive seal member 52b via the joint portion 59. The insulating seal member 52a is formed on the surface.
また、本実施形態は、第1〜第3実施形態とは異なり、対向基板20に走査信号駆動回路110とデータ信号駆動回路120とが形成されている。従って、走査信号駆動回路110は、接続パッド54を介してSEG電極56に接続されたものとなっている。
従って、対向基板20においては、導通パッド54は、走査信号駆動回路110の側方に形成され、引き回し配線60を介して走査信号駆動回路110と接続されている。また、データ信号駆動回路120は、COM電極57を介して画素電極9に接続されている。一方、TFD基板10においては、SEG電極56は、画像表示領域4の外部に形成されていると共に、導通パッド54に向けて延在している。そして、導電性シール部材52bは、SEG電極56と導通パッド54とによって挟持されることにより、導電性粒子がSEG電極56と導通パッド54とを電気的に接続させている。ここで、導電性シール部材52bがCOM電極57の配線上に形成されるので、COM電極57の配線の隣接配線とのショートに配慮されたものとなっている。
このように、画像表示領域4と走査信号駆動回路110との間に導電性シール部材52bが形成された場合においても、上記の実施形態と同様の効果が得られる。
なお、上記の第1及び第2実施形態に示した液晶装置は、TFD素子40をスイッチング素子として備えたアクティブマトリクス型であるが、本発明はこれを限定することなく、パッシブ型の液晶装置においても適用できる。
In the present embodiment, unlike the first to third embodiments, the scanning signal driving circuit 110 and the data signal driving circuit 120 are formed on the counter substrate 20. Therefore, the scanning signal driving circuit 110 is connected to the SEG electrode 56 via the connection pad 54.
Accordingly, in the counter substrate 20, the conductive pad 54 is formed on the side of the scanning signal driving circuit 110 and is connected to the scanning signal driving circuit 110 through the lead wiring 60. Further, the data signal driving circuit 120 is connected to the pixel electrode 9 through the COM electrode 57. On the other hand, in the TFD substrate 10, the SEG electrode 56 is formed outside the image display region 4 and extends toward the conductive pad 54. The conductive seal member 52 b is sandwiched between the SEG electrode 56 and the conductive pad 54, so that the conductive particles electrically connect the SEG electrode 56 and the conductive pad 54. Here, since the conductive seal member 52b is formed on the wiring of the COM electrode 57, the short circuit between the wiring of the COM electrode 57 and the adjacent wiring is considered.
As described above, even when the conductive seal member 52b is formed between the image display region 4 and the scanning signal drive circuit 110, the same effect as the above-described embodiment can be obtained.
The liquid crystal device shown in the first and second embodiments is an active matrix type provided with the TFD element 40 as a switching element. However, the present invention is not limited to this and is a passive type liquid crystal device. Is also applicable.
(第5実施形態)
次に、本発明の第5実施形態に係る液晶装置について説明する。
本実施形態の液晶装置は、スイッチング素子として薄膜トランジスタ(Thin Film Transistor、以下、TFTと略記する)を用いたアクティブマトリクス型の液晶装置である。図22は、本実施形態に係る液晶装置の各構成要素を対向基板側から見た平面図である。
(Fifth embodiment)
Next, a liquid crystal device according to a fifth embodiment of the invention is described.
The liquid crystal device of this embodiment is an active matrix type liquid crystal device using a thin film transistor (hereinafter abbreviated as TFT) as a switching element. FIG. 22 is a plan view of each component of the liquid crystal device according to the present embodiment as viewed from the counter substrate side.
ここで、第1及び第2実施形態に示したTFDを備えた液晶装置においては、TFD基板10のSEG電極56から画素電極31に電位が付与され、かつ、対向基板20のCOM電極57から画素電極9に電位が付与されることによって、画素電極31、9の間の液晶層50に電圧を印加させている。即ち、TFDは、2端子素子からなるものである。
一方、本実施形態に示すTFTを備えた晶装置においては、TFT基板に形成されたデータ線及びゲート線から付与される信号によって画素電極に電位を付与し、全面に電極が形成された対向電極との間に生じる電圧を液晶層50に印加させている。即ち、TFTは、3端子素子からなるものである。
Here, in the liquid crystal device having the TFD shown in the first and second embodiments, a potential is applied from the SEG electrode 56 of the TFD substrate 10 to the pixel electrode 31, and the pixel is applied from the COM electrode 57 of the counter substrate 20. By applying a potential to the electrode 9, a voltage is applied to the liquid crystal layer 50 between the pixel electrodes 31 and 9. That is, the TFD is composed of a two-terminal element.
On the other hand, in the crystal device including the TFT shown in this embodiment, a counter electrode in which a potential is applied to the pixel electrode by a signal applied from the data line and the gate line formed on the TFT substrate and the electrode is formed on the entire surface. Is applied to the liquid crystal layer 50. That is, the TFT is composed of a three-terminal element.
図22に示すように、液晶装置101は、TFT基板102上にデータ引き回し配線85、ゲート引き回し配線86、絶縁性シール部材52a、導電性シール部材52b、及び打点導通部(第1導通部、導通領域)87を備えている。ここで、絶縁性シール部材52aは符号Yに示す部分よりも左側に形成されたものであり、また、導電性シール部材52bは符号Yに示す部分よりも右側に形成されたものである。そして、これらのシール部材52a、52bによって囲まれた環状部58の内側に液晶層50が保持され、画像表示領域4が形成さされている。また、符号Yの線上に接合部59が形成されている。更に、導電性シール部材52bは、打点導通部87上を延在している。即ち、TFT基板102と対向基板とが貼り合わされることによって、TFT基板102は打点導通部87を介して対向基板と電気的に接続される。
このように、TFTを用いた液晶装置101においては、打点導通部87上に導電性シール部材52bを形成することにより、従来まで用いられていた上下基板の導通用の打点シールを不要にすることができる。
As shown in FIG. 22, the liquid crystal device 101 includes a data routing wiring 85, a gate routing wiring 86, an insulating seal member 52a, a conductive seal member 52b, and a dot conduction portion (first conduction portion, conduction) on the TFT substrate 102. Area) 87. Here, the insulating seal member 52a is formed on the left side of the portion indicated by the symbol Y, and the conductive seal member 52b is formed on the right side of the portion indicated by the symbol Y. The liquid crystal layer 50 is held inside the annular portion 58 surrounded by the seal members 52a and 52b, and the image display region 4 is formed. In addition, a joint 59 is formed on the line Y. Further, the conductive seal member 52b extends on the spot conduction portion 87. That is, the TFT substrate 102 and the counter substrate are bonded to each other, so that the TFT substrate 102 is electrically connected to the counter substrate through the spot conduction portion 87.
As described above, in the liquid crystal device 101 using the TFT, by forming the conductive seal member 52b on the spot conduction portion 87, the conventionally used spot seal for conduction between the upper and lower substrates is eliminated. Can do.
(液晶装置の第5実施形態の変形例)
図23は、上記の第5実施形態の変形例を示す図であって、液晶装置の各構成要素を対向基板側から見た平面図である。
本変形例においては、図23に示すように画像表示領域4の一方の側部のみゲート引き回し配線86が形成されている。
このような構成においても、上記の第5実施形態と同様の効果が得られる。
(Modification of the fifth embodiment of the liquid crystal device)
FIG. 23 is a diagram showing a modification of the fifth embodiment, and is a plan view of each component of the liquid crystal device as viewed from the counter substrate side.
In this modification, as shown in FIG. 23, the gate routing wiring 86 is formed only on one side of the image display area 4.
Even in such a configuration, the same effects as those of the fifth embodiment can be obtained.
(第6実施形態)
次に、本発明の第6実施形態に係る液晶装置について説明する。
図24は、本実施形態に係る液晶装置の各構成要素を対向基板側から見た平面図である。また、本実施形態の液晶装置は、上記の第5実施形態と同様にTFTを備えるものである。
図24に示すように液晶装置101は、環状部58において、絶縁性シール部材52aと導電性シール部材52bの長さが等しくなっている。また、他の構成は、上記の第5実施形態と同様となっている。具体的には、接合部59は環状部58の一辺の略中央部に配置しており、符号Zに示す部分より右側に導電性シール部材52bが形成され、その左側に絶縁性シール部材52aが形成されている。これによって、絶縁性シール部材52aと導電性シール部材52bとの長さが等しくなっている。
(Sixth embodiment)
Next, a liquid crystal device according to a sixth embodiment of the invention will be described.
FIG. 24 is a plan view of each component of the liquid crystal device according to the present embodiment as viewed from the counter substrate side. In addition, the liquid crystal device of the present embodiment includes a TFT as in the fifth embodiment.
As shown in FIG. 24, in the liquid crystal device 101, in the annular portion 58, the lengths of the insulating seal member 52a and the conductive seal member 52b are equal. Other configurations are the same as those in the fifth embodiment. Specifically, the joint portion 59 is disposed at a substantially central portion of one side of the annular portion 58, and the conductive seal member 52b is formed on the right side of the portion indicated by the symbol Z, and the insulating seal member 52a is formed on the left side thereof. Is formed. Thereby, the lengths of the insulating seal member 52a and the conductive seal member 52b are equal.
このような構成においては、シール部材52a、52bの各々を別のディスペンサで描画する際、装置のタクトタイムを揃えることができ、効率的に液晶装置101を生産することができる。また、TFT基板102と対向基板とは、打点導通部87上に形成された導電性シール部材52bによって電気的に接続される。 In such a configuration, when each of the seal members 52a and 52b is drawn with another dispenser, the tact time of the apparatus can be made uniform, and the liquid crystal device 101 can be produced efficiently. Further, the TFT substrate 102 and the counter substrate are electrically connected by a conductive seal member 52 b formed on the spot conduction portion 87.
(第7実施形態)
次に、本発明の第7実施形態に係る液晶装置について説明する。
図25は、本実施形態に係る液晶装置の各構成要素を対向基板側から見た平面図である。また、本実施形態の液晶装置は、上記の第5実施形態と同様にTFTを備えるものであり、更に、大型テレビ等の大型ディスプレイに用いることが可能となるものである。
図25に示すように、液晶装置103は、一のシール部材52を備えている。具体的には、第1〜第6実施形態においては、導電性シール部材と絶縁性シール部材の両者によってシール部材52が形成されていたが、本実施形態においては全て絶縁性シール部材によって形成されたものとなっている。
(Seventh embodiment)
Next, a liquid crystal device according to a seventh embodiment of the invention will be described.
FIG. 25 is a plan view of each component of the liquid crystal device according to the present embodiment as viewed from the counter substrate side. In addition, the liquid crystal device of the present embodiment includes a TFT as in the fifth embodiment, and can be used for a large display such as a large TV.
As shown in FIG. 25, the liquid crystal device 103 includes one seal member 52. Specifically, in the first to sixth embodiments, the seal member 52 is formed by both the conductive seal member and the insulating seal member. However, in this embodiment, the seal member 52 is entirely formed by the insulating seal member. It has become.
また、液晶層103においては、環状部58はその内側に液晶層50を有し、接合部59は一箇所において環状部58を閉塞させている。これら環状部58及び接合部59は、連続かつ一括に形成されたものであり、所謂「一筆書き」でシール部材52を塗布することによって形成されたものである。また、換言すれば、シール部材52は、一の部材の一端から他端に向けて形成したものであり、当該一端と他端とを接合して接合部59を形成している。更に、一の部材によって囲まれた環状部58の内側に液晶層50を保持している。ここで、接合部59は、環状部58の外側に向けて形成されており、環状部58の経路上において重ね合って形成されたものではない。
また、打点導通部87には、シール部材52とは異なる部材である導通性部材が形成されており、当該打点導通部87においてTFT基板102と対向基板との導通が得られている。
このようにすれば、シール部材52の一端と他端とを1箇所で接合させた接合部59によって環状部58が閉塞するので、接合部59を最小数にすることができ、接合部59が複数設けられた場合と比較して、セルギャップ不良がより確実に抑制された液晶装置を実現できる。更に、接合部59は環状部58の外側に向けて形成されているので、貼り合わせ工程を施した際に環状部58の外側において接合部59の幅が広がるだけで済み、環状部58の内部にシール部材52a、52bが突出するのを抑制できる。また、環状部58の内部のセルギャップに影響を与えることがなく、当該セルギャップを均一に保持できる。
Further, in the liquid crystal layer 103, the annular portion 58 has the liquid crystal layer 50 inside thereof, and the joint portion 59 closes the annular portion 58 at one place. The annular portion 58 and the joint portion 59 are formed continuously and collectively, and are formed by applying the seal member 52 by so-called “one-stroke writing”. In other words, the seal member 52 is formed from one end of one member toward the other end, and the one end and the other end are joined to form a joint portion 59. Further, the liquid crystal layer 50 is held inside the annular portion 58 surrounded by one member. Here, the joint portion 59 is formed toward the outside of the annular portion 58, and is not formed so as to overlap on the path of the annular portion 58.
In addition, a conductive member which is a member different from the seal member 52 is formed in the hit point conducting portion 87, and conduction between the TFT substrate 102 and the counter substrate is obtained in the hit point conducting portion 87.
In this way, since the annular portion 58 is closed by the joint portion 59 in which one end and the other end of the seal member 52 are joined at one place, the number of the joint portions 59 can be minimized. Compared with the case where a plurality of liquid crystal devices are provided, a liquid crystal device in which cell gap defects are more reliably suppressed can be realized. Further, since the joint portion 59 is formed toward the outer side of the annular portion 58, it is only necessary to widen the width of the joint portion 59 outside the annular portion 58 when the bonding process is performed. Further, the protrusion of the seal members 52a and 52b can be suppressed. In addition, the cell gap can be kept uniform without affecting the cell gap inside the annular portion 58.
次に、本発明の実施例について説明する。
本実施例においては、次の<1>及び<2>に示した、第1シール層59a及び第2シール層59bの形状について、貼り合わせ工程によって形成された接合部59の形状、くぼみ深さとシール部材の幅の比、及びパネルの状態、を検証した結果を示している。
<1> 凹部W、Xにおいて、第1シール層59a及び第2シール層59bが曲線部59cを有する場合(図18(c)、上記の第1実施形態)
<2> 凹部W、Xにおいて、第1及び第2シール層59a、59bが傾斜部59dを有する場合(図19、上記の第2実施形態)
Next, examples of the present invention will be described.
In this embodiment, the shape of the first seal layer 59a and the second seal layer 59b shown in the following <1> and <2>, the shape of the bonding portion 59 formed by the bonding step, the depth of the depression, The result of having verified the ratio of the width of a sealing member, and the state of a panel is shown.
<1> When the first seal layer 59a and the second seal layer 59b have curved portions 59c in the recesses W and X (FIG. 18C, the first embodiment described above).
<2> In the recesses W and X, the first and second seal layers 59a and 59b have inclined portions 59d (FIG. 19, the second embodiment described above).
<1> 凹部W、Xにおいて、第1シール層59a及び第2シール層59bが曲線部59cを有する場合(図18(c)、上記の第1実施形態)
表1は、第1実施形態における第1シール層及び第2シール層59a、59bの形状について、貼り合わせ後のシール部材の幅w3を0.5mmに固定し、曲線部59cの半径R3とシール部材の中心線距離d3を変化させたときの、くぼみの深さh3(図26)、シール部材の幅w3の比h3/w3、及びパネル状態、を調査した結果を示している。
<1> When the first seal layer 59a and the second seal layer 59b have curved portions 59c in the recesses W and X (FIG. 18C, the first embodiment described above).
Table 1 shows the shape of the first seal layer and the second seal layers 59a and 59b in the first embodiment, the width w3 of the seal member after bonding is fixed to 0.5 mm, the radius R3 of the curved portion 59c and the seal The result of investigating the depth h3 of the dent (FIG. 26), the ratio h3 / w3 of the width w3 of the seal member, and the panel state when the center line distance d3 of the member is changed is shown.
表1において、※1の部分は接合部59のくぼみ深さh3とシール部材の幅w3との比(h3/w3)が1.0以下であり、パネルの信頼性を確保できる範囲である。また、※2の部分は、接合部59において実用上問題となるレベルではないが、シール部材が凹にならず、若干の盛り上がり(図27)が生じてしまう範囲である。また、※3の部分は、h3/w3が0.1より大きく、0.5以下となり、理想的な範囲である。 In Table 1, the portion marked with * 1 has a ratio (h3 / w3) of the indentation depth h3 of the joint portion 59 to the width w3 of the seal member of 1.0 or less, which is a range in which the reliability of the panel can be secured. Further, the portion * 2 is a level where there is no practical problem in the joint portion 59, but the seal member is not recessed and a slight rise (FIG. 27) occurs. Further, in the portion * 3, h3 / w3 is larger than 0.1 and 0.5 or less, which is an ideal range.
また、表1において、信頼性を確保できる境界、及び接合部で凸が発生する境界のd3/w3、R3/w3をプロットすると、図28のようになり、略直線に乗る。ここで、境界となるh3/w3が0.1、0.5、及び1.0となるときのR3/w3の値は補間により求めた。 Further, in Table 1, when d3 / w3 and R3 / w3 of the boundary where the reliability can be ensured and the boundary where the protrusion is generated are plotted, the result is as shown in FIG. Here, the value of R3 / w3 when h3 / w3 serving as the boundary is 0.1, 0.5, and 1.0 was obtained by interpolation.
次に、表2は、第1実施形態における第1シール層及び第2シール層59a、59bの形状について、貼り合わせ後のシール部材の幅w3を0.7mmに固定し、曲線部59cの半径R3と、シール部材の中心線距離d3を変化させたときの、くぼみの深さh3、シール部材の幅w3の比h3/w3、及びパネル状態、を調査した結果を示している。 Next, Table 2 shows the shapes of the first seal layer and the second seal layers 59a and 59b in the first embodiment, the width w3 of the seal member after bonding is fixed to 0.7 mm, and the radius of the curved portion 59c. The result of investigating the depth h3 of the dent, the ratio h3 / w3 of the width w3 of the seal member, and the panel state when the center line distance d3 of the seal member is changed is shown.
表2において、※1の部分は接合部59のくぼみ深さh3とシール部材の幅w3との比(h3/w3)が1.0以下であり、パネルの信頼性を確保できる範囲である。また、※2の部分は、接合部59において実用上問題となるレベルではないが、シール部材が凹にならず、若干の盛り上がり(図27)が生じてしまう範囲である。また、※3の部分は、h3/w3がh3/w3が0.1より大きく、0.5以下となり、理想的な範囲である。 In Table 2, the ratio * 1 is a range (h3 / w3) of the indentation depth h3 of the joint portion 59 and the width w3 of the seal member being 1.0 or less, which is a range in which the reliability of the panel can be secured. Further, the portion * 2 is a level where there is no practical problem in the joint portion 59, but the seal member is not recessed and a slight rise (FIG. 27) occurs. Further, in the portion * 3, h3 / w3 is larger than 0.1 and smaller than 0.5, which is an ideal range.
また、表2において、信頼性を確保できる境界、及び接合部で凸が発生する境界のd3/w3、R3/w3をプロットすると、図29のようになり、略直線に乗る。
ここで、シール部材の幅w3が0.5mmの場合と、0.7mmの場合において、信頼性を確保できる境界と、接合部で凸が発生する境界について、d3/w3、R3/w3の境界(図28、図29)を同一グラフ上にプロットすると、図30のようになる。
図30に示すように、貼り合わせ後のシール部材の幅w3が0.5mmの場合でも、0.7mmの場合でも、同一線に乗ることから当該w3がそれ以外の幅であっても、図30の線上に乗る。
Further, in Table 2, when d3 / w3 and R3 / w3 of the boundary where the reliability can be ensured and the boundary where the protrusion is generated are plotted, the result is as shown in FIG.
Here, in the case where the width w3 of the seal member is 0.5 mm and 0.7 mm, the boundary where the reliability can be ensured and the boundary where the convex portion is generated at the joint portion are the boundaries between d3 / w3 and R3 / w3. When FIG. 28 and FIG. 29 are plotted on the same graph, FIG. 30 is obtained.
As shown in FIG. 30, even when the width w3 of the sealing member after bonding is 0.5 mm or 0.7 mm, even if the width w3 is other than that, Get on the 30th line.
図30より、d3/w3、R3/w3の関係をプロットするとシール部材の幅によらず同一直線上に乗ることが分かる。
これより、シール部材の太さによらずに信頼性を確保するためには、
From this, in order to ensure reliability regardless of the thickness of the seal member,
また、接合部におけるシール部材の凸(太り)は、シール部材の幅に対して2割以下のため実用上問題となるレベルではない。しかし、シール部材の太さのばらつきを含めて接合部の膨らみを完全に無くすためには、
このように第1シール層及び第2シール層59a、59bの形状を規定することにより、上記の実施形態と同様の効果が得られる。一方、従来の方法では、接合部においてシール部材の太りが発生したり、太りを最小限に抑制するために重ね部分の距離を長くしたりする必要があり、また、装置の制御も複雑になってシール部材の描画時間が長くなるという課題があった。これに対し、本実施例の方法では全ての部分において同一のスピードでシール部材の描画が可能であり、また、書き始め部分や、書き終わり部分もパネルから十分離れた部分であるため複雑な制御も必要なくなる。これら効果により描画時間は従来の1/2〜1/3と大幅な短縮ができ、且つシール部材の接合部でのパネル内側方向へのシール部材の太りも解消できた。 By defining the shapes of the first seal layer and the second seal layers 59a and 59b in this way, the same effect as the above embodiment can be obtained. On the other hand, in the conventional method, it is necessary to increase the thickness of the sealing member at the joint, or to increase the distance between the overlapping portions in order to suppress the thickness to a minimum, and the control of the apparatus becomes complicated. Thus, there is a problem that the drawing time of the seal member becomes long. On the other hand, in the method of this embodiment, it is possible to draw the seal member at the same speed in all parts, and the writing start part and the writing end part are parts sufficiently away from the panel, so that complicated control is performed. Is no longer necessary. With these effects, the drawing time can be greatly shortened to 1/2 to 1/3 of the conventional one, and the thickness of the sealing member toward the inner side of the panel at the joint portion of the sealing member can be eliminated.
<2> 凹部W、Xにおいて、第1及び第2シール層59a、59bが傾斜部59dを有する場合(図19、上記の第2実施形態)
表3は、第2実施形態における第1シール層及び第2シール層59a、59bの形状について、貼り合わせ後のシール部材の幅w3を0.5mmに固定し、傾斜部59dの面取り量c3とシール部材の中心線距離d3を変化させたときの、くぼみの深さh3、シール部材の幅w3の比h3/w3、及びパネル状態、を調査した結果を示している。
<2> In the recesses W and X, the first and second seal layers 59a and 59b have inclined portions 59d (FIG. 19, the second embodiment described above).
Table 3 shows the shape of the first seal layer and the second seal layers 59a and 59b in the second embodiment, the width w3 of the seal member after bonding is fixed to 0.5 mm, and the chamfering amount c3 of the inclined portion 59d. The result of investigating the depth h3 of the dent, the ratio h3 / w3 of the width w3 of the seal member, and the panel state when the center line distance d3 of the seal member is changed is shown.
表3において、※1の部分は接合部59のくぼみ深さh3とシール部材の幅w3との比(h3/w3)が1.0以下であり、パネルの信頼性を確保できる範囲である。また、※2の部分は、接合部59において実用上問題となるレベルではないが、シール部材が凹にならず、若干の盛り上がり(図27)が生じてしまう範囲である。また、※3の部分は、h3/w3が0.1より大きく、0.5以下となり、理想的な範囲である。 In Table 3, the portion marked with * 1 has a ratio (h3 / w3) of the recess depth h3 of the joint portion 59 to the width w3 of the seal member of 1.0 or less, which is a range in which the reliability of the panel can be secured. Further, the portion * 2 is a level where there is no practical problem in the joint portion 59, but the seal member is not recessed and a slight rise (FIG. 27) occurs. Further, in the portion * 3, h3 / w3 is larger than 0.1 and 0.5 or less, which is an ideal range.
また、表3において、信頼性を確保できる境界、及び接合部で凸が発生する境界のd3/w3、c3/w3をプロットすると、図31のようになり、略直線に乗る。ここで、境界となるh3/w3が0.5、及び1.0となるときのc3/w3の値は補間により求めた。 In Table 3, when d3 / w3 and c3 / w3 of the boundary where the reliability can be ensured and the boundary where the protrusion is generated are plotted, the result is as shown in FIG. Here, the value of c3 / w3 when h3 / w3 serving as the boundary is 0.5 and 1.0 is obtained by interpolation.
次に、表4は、第2実施形態における第1シール層及び第2シール層59a、59bの形状について、貼り合わせ後のシール部材の幅w3を0.7mmに固定し、傾斜部59dの面取り量c3と、シール部材の中心線距離d3を変化させたときの、くぼみの深さh3の変化と、パネル状態を調査した結果を示している。 Next, Table 4 shows the shape of the first seal layer and the second seal layers 59a and 59b in the second embodiment, the width w3 of the seal member after bonding is fixed to 0.7 mm, and the chamfering of the inclined portion 59d. The change of the depth c3 of the dent when changing the amount c3 and the center line distance d3 of the seal member and the result of investigating the panel state are shown.
表4において、※1の部分は接合部59のくぼみ深さh3とシール部材の幅w3との比(h3/w3)が1.0以下であり、パネルの信頼性を確保できる範囲である。また、※2の部分は、接合部59において実用上問題となるレベルではないが、シール部材が凹にならず、若干の盛り上がり(図27)が生じてしまう範囲である。また、※3の部分は、h3/w3がh3/w3が0.1より大きく、0.5以下となり、理想的な範囲である。 In Table 4, the portion indicated by * 1 has a ratio (h3 / w3) between the recess depth h3 of the joint portion 59 and the width w3 of the seal member of 1.0 or less, and is within a range where the reliability of the panel can be secured. Further, the portion * 2 is a level where there is no practical problem in the joint portion 59, but the seal member is not recessed and a slight rise (FIG. 27) occurs. Further, in the portion * 3, h3 / w3 is larger than 0.1 and smaller than 0.5, which is an ideal range.
また、表4において、信頼性を確保できる境界、及び接合部で凸が発生する境界のd3/w3、c3/w3をプロットすると、図32のようになり、略直線に乗る。ここで、境界となるh3/w3が0.1、0.5、及び1.0となるときのc3/w3の値は補間により求めた。
ここで、シール部材の幅w3が0.5mmの場合と、0.7mmの場合において、信頼性を確保できる境界のd3/w3、c3/w3の境界(図31、図32)を同一グラフ上にプロットすると、図33のようになる。
図33に示すように、貼り合わせ後のシール部材の幅w3が0.5mmの場合でも、0.7mmの場合でも、同一線に乗ることから当該w3がそれ以外の幅であっても、図33の線上に乗る。
Also, in Table 4, when d3 / w3 and c3 / w3 of the boundary where the reliability can be ensured and the boundary where the protrusion is generated are plotted, the result is as shown in FIG. Here, the value of c3 / w3 when h3 / w3 serving as the boundary is 0.1, 0.5, and 1.0 was obtained by interpolation.
Here, in the case where the width w3 of the seal member is 0.5 mm and 0.7 mm, the boundaries of d3 / w3 and c3 / w3 that can ensure reliability (FIGS. 31 and 32) on the same graph. Is plotted as shown in FIG.
As shown in FIG. 33, even when the width w3 of the seal member after bonding is 0.5 mm or 0.7 mm, even if the width w3 is other than that, Get on line 33.
図33より、d3/w3、c3/w3の関係をプロットするとシール部材の幅によらず同一直線上に乗ることが分かる。
これより、シール部材の太さによらずに信頼性を確保するためには、
From this, in order to ensure reliability regardless of the thickness of the seal member,
また、接合部におけるシール部材の凸(太り)は、シール部材の幅に対して2割以下のため実用上問題となるレベルではない。しかし、シール部材の太さのばらつきを含めて接合部の膨らみを完全に無くすためには、
このように、第1シール層及び第2シール層59a、59bの形状を規定することにより、上記の実施形態と同様の効果が得られる。即ち、全ての部分において同一のスピードでシール部材の描画が可能であり、また、書き始め部分や、書き終わり部分もパネルから十分離れた部分であるため複雑な制御も必要なくなる。これら効果により描画時間は従来の1/2〜1/3と大幅な短縮ができ、且つシール部材の接合部でのパネル内側方向へのシール部材の太りも解消できた。 Thus, by defining the shapes of the first seal layer and the second seal layers 59a and 59b, the same effects as those of the above-described embodiment can be obtained. That is, the seal member can be drawn at the same speed in all the parts, and since the writing start part and the writing end part are sufficiently away from the panel, complicated control is not required. With these effects, the drawing time can be greatly shortened to 1/2 to 1/3 of the conventional one, and the thickness of the sealing member toward the inner side of the panel at the joint portion of the sealing member can be eliminated.
(電子機器)
次に、本発明の電子機器の具体例について説明する。
図34(a)は、携帯電話の一例を示した斜視図である。図34(a)において、700は携帯電話本体を示し、701は上記実施形態の液晶装置を備えた液晶表示部を示している。
図34(b)は、ワープロ、パソコンなどの携帯型情報処理装置の一例を示した斜視図である。図34(b)において、800は情報処理装置、801はキーボードなどの入力部、803は情報処理本体、802は上記実施形態の液晶装置を備えた液晶表示部を示している。
図34(c)は、腕時計型電子機器の一例を示した斜視図である。図34(c)において、900は時計本体を示し、901は上記実施形態の液晶装置を備えた液晶表示部を示している。
図34(a)〜(c)に示す電子機器は、上記実施形態の液晶装置を備えたものであるので、信頼性に優れ、高品質の表示が得られる表示部を有する電子機器となる。
(Electronics)
Next, specific examples of the electronic device of the present invention will be described.
FIG. 34A is a perspective view showing an example of a mobile phone. In FIG. 34A, reference numeral 700 denotes a mobile phone main body, and reference numeral 701 denotes a liquid crystal display unit provided with the liquid crystal device of the above embodiment.
FIG. 34B is a perspective view showing an example of a portable information processing apparatus such as a word processor or a personal computer. In FIG. 34B, reference numeral 800 denotes an information processing device, 801 denotes an input unit such as a keyboard, 803 denotes an information processing body, and 802 denotes a liquid crystal display unit including the liquid crystal device of the above embodiment.
FIG. 34C is a perspective view showing an example of a wristwatch type electronic device. In FIG. 34C, reference numeral 900 denotes a watch body, and reference numeral 901 denotes a liquid crystal display unit including the liquid crystal device of the above embodiment.
Since the electronic devices shown in FIGS. 34A to 34C are provided with the liquid crystal device of the above-described embodiment, they are electronic devices having a display portion that is excellent in reliability and can display a high quality display.
10 TFD基板(第1基板)、 10’ TFD基板用マザー基板(第1母材)、 11 TFD形成領域(第1素子領域)、 12、22 相互境界部、 20 対向基板(第2基板)、 20’ 対向基板用マザー基板(第2母材)、 21 対向電極形成領域(第2素子領域)、 50 液晶層、 52 シール部材、 52a 絶縁性シール部材(第2シール部材)、 52b 導電性シール部材(第1シール部材)、 58 環状部、 59 接合部、 59a 第1シール層、 59b 第2シール層、 58a 第1辺、 58b 第2辺、 59c 曲線部、 59d 傾斜部、100、101、103 液晶装置、 700、800、900 電子機器
10 TFD substrate (first substrate), 10 ′ mother substrate for TFD substrate (first base material), 11 TFD formation region (first element region), 12, 22 mutual boundary portion, 20 counter substrate (second substrate), 20 'mother substrate for opposing substrate (second base material), 21 counter electrode forming region (second element region), 50 liquid crystal layer, 52 sealing member, 52a insulating sealing member (second sealing member), 52b conductive seal Member (first seal member), 58 annular portion, 59 joint portion, 59a first seal layer, 59b second seal layer, 58a first side, 58b second side, 59c curved portion, 59d inclined portion, 100, 101, 103 Liquid crystal device, 700, 800, 900 Electronic equipment
Claims (2)
当該両基板の周縁部に形成され、前記液晶層をシールする第1シール部材と前記第1シール部材とは個別の第2シール部材とで構成された環状部を含むシール部材と、
を具備する液晶装置の製造方法であって、
両端部に第1シール層を有する前記第1シール部材と両端部に第2シール層を有する前記第2シール部材とを、当該第1シール部材及び第2シール部材とによって囲まれる領域が内側に形成されるように、対向させた位置に形成する工程と、
前記第1シール部材及び前記第2シール部材により囲まれる領域の内側に前記液晶層を形成する工程と、
前記第1基板と前記第2基板とを貼り合せる際、前記第1シール部材及び前記第2シール部材を押圧することで、前記第1シール層と前記第2シール層とが接合された接合部を、前記環状部の対向した二辺の外側にそれぞれ形成するとともに、前記接合部を介して前記第1シール部材と前記第2シール部材とを接続させる工程と、
を有することを特徴とする液晶装置の製造方法。 A first substrate and a second substrate disposed opposite to each other with a liquid crystal layer interposed therebetween;
A sealing member formed on a peripheral portion of the two substrates, a first sealing member that seals the liquid crystal layer, and a sealing member that includes an annular portion that is configured by an individual second sealing member;
A method of manufacturing a liquid crystal device comprising:
A region surrounded by the first seal member and the second seal member is formed on the inner side of the first seal member having the first seal layer at both ends and the second seal member having the second seal layer at both ends. Forming at opposite positions so as to be formed;
Forming the liquid crystal layer inside a region surrounded by the first seal member and the second seal member;
When the first substrate and the second substrate are bonded together, the first seal layer and the second seal layer are pressed together to join the first seal layer and the second seal layer. Are formed on the outer sides of the two opposite sides of the annular portion, and the first seal member and the second seal member are connected via the joint portion;
A method for manufacturing a liquid crystal device, comprising:
を特徴とする液晶装置。A liquid crystal device characterized by the above.
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