JP4848166B2 - 三次元計測用投影装置及びシステム - Google Patents
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Description
このように構成すると、測定対象物の形状等に応じて計測パターンを最適化できるので、最適化された計測パターンを用いて、標定や三次元測定を効率化できる。また、計測パターンの投影から検出までを自動化できるので、標定や三次元測定の自動化を促進できる。
このように構成すると、測定対象物の形状等に応じて計測パターンを最適化できるので、最適化された計測パターンを用いて、標定や三次元測定を効率化できる。また、計測パターンの投影から検出までを自動化できるので、標定や三次元測定の自動化を促進できる。
このように構成すると、計測パターンを最適化できるので、最適化された計測パターンを用いて、標定や三次元測定を効率化できる。また、計測パターンの投影から検出までを自動化できるので、標定や三次元測定の自動化を促進できる。
このように構成すると、計測パターンを最適化できるので、最適化された計測パターンを用いて、標定や三次元測定を効率化できる。また、計測パターンの投影から検出までを自動化できるので、標定や三次元測定の自動化を促進できる。
ここにおいて、リファレンスポイントは第2の計測パターン又は第3の計測パターンに追加され、投影されてそのまま撮影に使用されても良く、測定対象物の投影された点に貼り付けて撮影に使用されても良い。このように構成すると、標定工程又は三次元計測工程において、順次リファレンスポイントを増やして精密標定又は精密測定に移行できる。
以下に、図面に基づき本発明の第1の実施の形態について説明する。本実施の形態は、計測前準備としての計測パターン(標定パターンを含む)の投影を活用し、標定又は三次元計測に用いる計測パターンを再構成する例、また、計測パターンを構成するターゲット(標識)としてカラーコード付きターゲットを用いる例を示す。
図1に本実施の形態による投影装置80の基本構成例のブロック図を示す。図1において、12は計測パターン等の各種投影パターンを投影する投影部としてのプロジェクター、10は投影されたパターンを撮影する撮像部としてのステレオカメラ、49は計算処理部であり、撮像部10で撮影した撮影画像から測定対象物1の特徴点、計測点、標識(ターゲット)などを検出するパターン検出部491、各種投影パターンやこれらの投影パターンに用いるカラーコード付きターゲットCT、リファレンスポイントRF等のパターン要素を形成するパターン形成部492、パターン形成部492で形成された投影パターンを投影部12に投影させるパターン投影制御部493を有する。また、投影パターンの色彩を修正する色彩修正部494を有する。色彩修正部494は、例えば、テクスチャー照明モードで得られた撮影画像の彩色に基づいて投影パターン内のカラーコード付きターゲットCTの彩色を修正する。
図2に本実施の形態における三次元計測システム100の全体構成例のブロック図を示す。三次元計測装置100は、撮像部10、投影部12、撮影画像データ記憶部13、対応部40、計算処理部49、表示画像形成部50、表示装置60を備える。このうち、撮影画像データ記憶部13、対応部40、計算処理部49、表示画像形成部50は例えばコンピュータで構成されている。測定対象物1は、施工対象物・製作対象物となる有体物で、例えば建築物、工場等の各種工作物や人物・風景等が該当する。
図3にカラーコード付きターゲットの例を示す。図3(a)はカラーコードの単位領域が3個、図3(b)は6個、図3(c)は9個のカラーコード付きターゲットである。図3(a)〜(c)のカラーコード付きターゲットCT(CT1〜CT3)は、位置検出用パターン(レトロターゲット部)P1、基準色パターン(基準色部)P2、カラーコードパターン(カラーコード部)P3、空パターン(白色部)P4で構成されている。これら、位置検出用パターンP1、基準色パターンP2、カラーコードパターンP3、空パターンP4はカラーコード付きターゲットCT1内の所定の位置に配置される。すなわち、基準色パターンP2、カラーコードパターンP3、空パターンP4は位置検出用パターンP1に対して所定の位置関係に配置される。
レトロターゲットグループ化処理部は120は、探索処理部110で検出したレトロターゲットが同じカラーコード付きターゲットCTに属すると判断されたもの(例えば座標がカラーコード付きターゲットCT内にあるもの)を同一グループに属する候補としてグループ化する。
図5に、三次元計測システムの動作を説明するフローチャート例を示す。ここでは基本フローとして各種パターン投影に係るフローを除いたものを示し、各種パターン投影に係るフローは図14で後述する。
まず、撮影対象物1にカラーコード付きターゲットを貼付する(S01)。投影を行なう場合には貼付に代えて又は貼付と併用して投影が行なわれる。カラーコード付きターゲットを貼付した位置は、計測点Qとして標定や三次元計測に使用される。次に、デジタルカメラ等の撮像部10を用いて撮影した測定対象物1の画像(典型的にはステレオ画像)を撮影し(S10)、撮影した画像を撮影画像データ記憶部13に画像登録する(S11)。
次に、ステレオペアの設定に移行する。識別コードを利用して撮影画像データ記憶部13に登録された画像のうち、ステレオペアとなる左右画像の組を設定する(S16)。
つぎに、標定部44によって、標定を行なう(S30)。撮影画像データ記憶部13に記憶された測定対象物1のステレオ画像の相互標定を行い、ステレオ画像のモデル画像に対する対応点関係を求める。
ここで、2枚以上の画像のそれぞれの対応点(同一点)を各画像上で基準点設定部42と対応点探索部43により、操作者がマウスカーソルなどで基準画像上で指示した指示点に対して、特徴点に適合する基準点と対応する対応点の画像座標を読み取る。この対応点は通常画像毎に6点以上必要である。予め測定対象物1について図示しない三次元位置測定装置で別途測定した三次元座標データを三次元座標データ記憶部53に記憶されていれば、基準点座標と画像の対応付けして、絶対標定を実行する。記憶されていなければ相対標定を実行する。
なお、標定処理は、自動、マニュアル、もしくは半自動によっても可能である。半自動では、カラーコード付きターゲットCT内の位置検出用パターンP1の近辺をマウスでクリックすれば、自動位置検出が行なえる。
図5に戻り、次に、対応部40にてマッチングエリアの決定(三次元計測範囲の決定)(S45)を行い、三次元座標演算部51にて三次元計測(ステレオ計測)を行い(S50)、三次元座標データ記憶部53にステレオ画像の対応点の三次元座標を登録する。マッチングエリアの決定(S45)には、マニュアル計測、半自動計測、自動計測が可能である。半自動では、カラーコード付きターゲットCT内の位置検出用パターンP1の近辺をマウスでクリックすれば、自動位置検出が行なえる。
このようにして、撮影(S10)〜三次元計測(S50)までは自動計測が可能であり、測定対象物1の三次元座標が求められ、立体的画像が表示装置60に表示される。(特許文献2参照)
本実施の形態では、この基本処理フローに投影部(プロジェクター)12を利用することにより、次の処理を可能とするものである。
(a)プロジェクター12でカメラで撮影する範囲を照明し、ステレオカメラ10でその範囲を撮影するように調整する。
また、カラーコード付きターゲットCTを投影パターンの4隅に配置して撮影範囲(重複撮影範囲)を表示すると共に、隣接画像の接続に用いるようにすることも可能である。
(b)プロジェクター12でテクスチャー用照明(照明のみ)を投影し、カメラ10では、1つのモデル画像のテクスチャー用の画像(測定対象物の画像)としてステレオペア画像を撮影する。
なお、以上の処理を全自動化することも可能である。その場合、貼り付け作業は行わず、すべてプロジェクターからの投影パターンを用いて、計測前準備、標定及び三次元計測を行なう。
まず、撮影コンディションを入力する(S200)。撮像部10は、焦点距離可変の光学系で構成される。撮影コンディションは、撮像部10のカメラパラメータとして、使用するデジタルカメラの画素数、概略ピクセルサイズ、焦点距離、撮影距離、基線長、オーバラップ率のいずれか一つを入力すれば、平面分解能、奥行き分解能、画角、計測領域などを計算できる。すなわち、撮像部10における撮影範囲に応じて、投影部12は投影されるパターン範囲を設定することができる。これにより予備測定用パターンの計測点の配置、パターン密度を調整可能である。加えて、サイドラップ率、計測したい領域の大きさ等を入力すれば、撮影枚数が計算できる。あるいは、カメラパラメータと必要精度(画素分解能)などを入れてカメラの撮影距離、基線長などを計算することも可能である。
平面分解能、奥行き分解能の計算式は以下のとおりである(*は乗算演算子)。
Δxy(平面分解能)=δp(ピクセルサイズ)*H(撮影距離)/f(焦点距離)
Δz(奥行き分解能)=δp*H*H/(f*B(基線長:カメラ間距離))
次に、撮像部10のカメラパラメータの計算結果に合致するように、プロジェクター12の位置、投影条件を設定する(S220)。
なお、以上の工程は、図5の処理フローの前に、少なくとも撮影(S10)の前に行われる。
このように、計測前準備を行うことにより、パターン変形点を事前に見出し、リファレンスポイントとして測定対象物1にターゲットを貼り付けたり、リファレンスポイントを追加した投影パターンを作成する、また、変形点付近のリファレンスポイントを増加する。これにより、標定や三次元計測を効果的に行うことができる。リファレンスポイントを追加した投影パターンを作成する場合には、これにより、パターン検出部491で検出された第1の計測パターンにおける計測点の変位に基づいて、パターン形成部492で計測点を追加した第2の計測パターンを形成することとなる。
この設置位置で計測が行われたら、つぎの撮影位置に移動する(S298)。すなわち、S220に戻って(場合によりS200に戻って)、測定対象物全体の三次元データを得るまで、撮影が繰り返される。
図14の処理を全自動化することも可能である。その場合、ターゲットの貼り付けは行わず、すべてプロジェクターからの投影パターンを用いて計測準備、標定及び三次元計測を行なう。また、図5の処理フローにおいて投影装置の利用によりカラーコード付き標識貼り付け(S01)がカラーコード付き標識投影に代えられれば、このフローの全自動化も可能である)。
次に、カラーコード付きターゲットの検出フローについて説明する。カラーコード付きターゲットの検出はマニュアルもしくは自動処理で行う。自動処理の場合、カラーコード付きターゲットCTの色識別数もしくは撮影方法により異なったものとなる。まず最初に、カラーコード付きターゲットCTの色識別数が多い場合について説明する。この場合、撮影の順番に制約はなく、全自動処理が可能となる。
まず、処理対象のカラー画像(撮影画像又はモデル画像)を抽出部41の読込画像記憶部141に読み込む(S500)。次に、読込まれた各画像よりカラーコード付きターゲットCTを抽出する(S510)。
xg={Σx*f(x、y)}/Σf(x、y) −−−−(式1)
yg={Σy*f(x、y)}/Σf(x、y) −−−−(式2)
ここに、(xg、yg)は重心位置の座標、f(x、y)は(x、y)座標上の濃度値である。
なお、図18(B1)に表記されたレトロターゲット200の場合は、明度がしきい値To以下のx、y方向の点について、(式1)、(式2)を演算する。
これにより、レトロターゲット200の重心位置が求まる。
(3)カラーコード付きターゲットCTに使用している3隅のレトロターゲットに異なる色をもたせ、それぞれのレトロターゲットが反射する色を異なるものにする。3隅のレトロターゲットに異なる色をもたせているため、1つのカラーコード付きターゲットに属する各レトロターゲットを判別しやすい。レトロターゲットグループ化処理において、多数のレトロターゲットを使用する場合にも、異なる色のレトロターゲットで一番距離が近いものをグループ候補として選択することにより、処理が簡単になる。
次に、レトロターゲットグループ化処理部120は、読込画像記憶部141に保存されたレトロターゲットの座標から、探索処理部110で検出したレトロターゲットが同じカラーコード付きターゲットCTに属すると判断されたもの(例えば座標がカラーコード付きターゲットCT内にあるもの)を同一グループに属する候補としてグループ化し、読込画像記憶部141にその候補の組み合わせ(3個1組)をグループとして保存する(S520)。確認は、例えば、検出したカラーコード付きターゲットCT内の3個のレトロターゲット間の距離及び3個のレトロターゲットを結ぶ三角形の頂角を計測することにより可能である(S530参照)。
さらに、検出したカラーコード付きターゲットCTのパターンをカラーコード付きターゲット対応表142と照合することにより、どの種別のカラーコード付きターゲットであるかを確認する。
カラーコード付きターゲットCT1からコードを読み込むには、カラーコード付きターゲットCT1の領域と方向を知る必要があるため、3つの位置検出用レトロターゲットの重心点をR1,R2,R3にラベリングする(図21(a)参照)。
次に、それぞれの重心点を通る辺をラベリングする。T1とT2を通る辺をL12、T2とT3を通る辺をL23、T3とT1を通る辺をL31とする(S614、図22(a)参照)。
重心点T1では、L12からL31を時計回りに、重心点T2では、L23からL12を時計回りに、重心点T3では、L31からL23を時計回りにスキャンをする(S620〜S625)。
半径の決め方は、スキャンをする角度に応じて画像上でレトロターゲットのサイズに倍率をかけて決める。レトロターゲットを斜め方向から撮影された場合は楕円になるため、スキャン範囲も楕円形状になる。倍率は、レトロターゲットのサイズと、レトロターゲット重心位置と基準色部P2の距離によって決められる。
上記のラベリング方法は、図3(a)のカラーコード付きターゲットCT1を例に説明したが、他の、カラーコード付きターゲットCTについても、一部の処理を変えることにより同様の処理ができる。
図17に戻り、識別コード判別部46は、抽出部41で抽出されたカラーコード付きターゲットCT1について、座標変換処理部321においてグループ化されたレトロターゲットの重心位置に基づいて、カラーコード付きターゲットCT1の設計値にあうように座標変換し、次に、コード変換処理部322において、カラーコードを識別し(S535)、コード変換してカラーコード付きターゲットCT1の識別コードを求め(S540)、読込画像記憶部141に保存する(S545)。
カラーコード部P3は、その各単位領域への配色の組み合わせによってコードを表現する。例えば、コード色数がnで単位領域が3個の場合、n×n×nのコードを表せ、他の単位領域に使用されている色を重複して使用しないという条件を課した場合は、n×(n−1)×(n−2)のコードを表せる。コード色数がn、単位領域がn個で、色を重複して使用しないという条件を課した場合は、nの階乗通りのコードを表現できる。
識別コード判別部46は、コード変換処理部322において、カラーコード部P3における単位領域の配色の組み合わせを、カラーコード付きターゲット対応表142の配色の組み合わせと比較・照合して識別コードを判別する。
そして画像ごとに、当該画像に含まれるカラーコード付きターゲットCT1の番号をパターン情報記憶部47に登録する(図17のS545)。パターン情報記憶部47に登録されたデータは、標定や三次元計測で使用され、効率化が図られる。
図23に本実施の形態における三次元計測用パターンの投影方法(計測前準備を行なう)の処理フロー例を示す。本実施の形態は、プロジェクター12で第1の計測パターン(予備測定用パターン等)を投影し、投影されたパターンの変形に基づき第2の計測パターン(精密測定用パターン等)を形成して投影するものである。
まず、パターン記憶部495に測定対象物表面に計測点を表示する計測パターンを複数記憶する(パターン記憶工程:S710)。次に、パターン投影制御部493は投影部12に複数の計測パターンのうちの1つを第1の計測パターンとして投影させる(第1の投影工程:S720)。次に、撮像部10は投影工程で投影された第1の計測パターンを撮影する(撮像工程:S730)。次に、パターン検出部491は撮像工程により撮影された第1の計測パターンの撮影画像から計測点を検出する(パターン検出工程:S740)。次に、パターン検出部491はパターン検出工程で検出された第1の計測パターンにおける計測点の変位を検出する(変位検出工程:S750)。次に、パターン形成部492は検出された第1の計測パターンにおける計測点の変位に基づいて計測点を追加、削除又は変更した第2の計測パターンを形成する(パターン形成工程:S760)。次に、パターン投影制御部493は投影部12に第2の計測パターンを投影させる(第2の投影工程:S770)。
このように、投影装置を活用して、計測前準備を行い、標定又は三次元計測に用いるターゲットパターンを再構成することにより、様々な対象に対して非接触三次元測定を適切化かつ自動化することができる。
まず、パターン形成部492において、計測位置を示すための位置検出用パターンP1と標識を識別するための複数の色彩が施されたカラーコードパターンP3とを有するカラーコード付き標識CTを含む計測パターンを形成する(パターン形成工程:S810)。次に、パターン投影制御部493は投影部12にパターン形成工程で形成された計測パターンを投影する(投影工程:S840)。次に、撮像部10は投影工程により投影された計測パターンを撮影する(撮像工程:S850)。次に、パターン検出部492は撮像工程により撮影された計測パターンの撮影画像から位置検出用パターンP1とカラーコードパターンP3を検出し、カラーコードを識別する(パターン検出工程:S860)。
第1の実施の形態では、計測パターンをパターン形成部で形成する例を説明したが、多数の計測パターンをパターン記憶部に記憶しておき、その中から条件に応じて最も適切な計測パターンをパターン選択部で選択して投影する例を説明する。またパターン形成部で形成した計測パターンをパターン記憶部に記憶することも可能な構成とする。
まず、パターン記憶部495に測定対象物表面に計測点を表示する計測パターンを複数記憶する(パターン記憶工程:S710)。次に、パターン投影制御部493は投影部12に複数の計測パターンのうちの1つを第1の計測パターンとして投影させる(第1の投影工程:S720)。次に、撮像部10は投影工程で投影された第1の計測パターンを撮影する(撮像工程:S730)。次に、パターン検出部491は撮像工程により撮影された第1の計測パターンの撮影画像から計測点を検出する(パターン検出工程:S740)。次に、パターン検出部491はパターン検出工程で検出された第1の計測パターンにおける計測点の変位を検出する(変位検出工程:S750)。次に、パターン選択部496は検出された第1の計測パターンにおける計測点の変位に基づいて、パターン記憶部495に記憶された計測パターンから計測点を追加、削除又は変更した第3の計測パターンを選択する(パターン選択工程:S780)。次に、パターン投影制御部493は投影部12に第3の計測パターンを投影させる(第3の投影工程:S790)。
まず、パターン記憶部495において、計測位置を示すための位置検出用パターンP1と標識を識別するための複数の色彩が施されたカラーコードパターンP3とを有するカラーコード付き標識CTを含む計測パターンを複数記憶する(パターン記憶工程:S820)。次に、パターン選択部496はパターン記憶工程で記憶された複数の計測パターンから投影する計測パターンを選択する(パターン選択工程:S830)。次に、パターン投影制御部493は投影部12にパターン選択工程で選択された計測パターンを投影する(投影工程:S840)。次に、撮像部10は投影工程により投影された計測パターンを撮影する(撮像工程:S850)。次に、パターン検出部492は撮像工程により撮影された計測パターンの撮影画像から位置検出用パターンP1とカラーコードパターンP3を検出し、カラーコードを識別する(パターン検出工程:S860)。
本実施の形態はカラーコード付きターゲットを用いずに、通常のリファレンスポイント(レトロターゲットやテンプレート)のみを用いる例を示す。これらのリファランスポイントは位置検出用パターンのみからなるもので、通常図18のような白黒のレトロターゲットが使用されるが、単色ターゲットパターンを用いても良い。パターン形成部492はこれらリファレンスポイントのみからなる、計測パターンを含む各種投影パターンを形成し、パターン記憶部495はこれら各種投影パターンを記憶し、パターン選択部496はこれら各種投影パターンから投影するパターンを選択し、パターン投影制御部493は投影部12を制御してこれら各種投影パターンを投影させ、パターン検出部491はこれらの投影パターンの撮影画像からリファレンスポイント検出する。レトロターゲットやテンプレートを用いても、その重心点を検出でき、ステレオ画像において基準点及び対応点として対応させることができるので、計測前準備だけでなく、標定及び三次元計測も可能である。図14の処理フロー全体を行うことも可能である。
本実施の形態のシステム構成としては、第1、第2の実施の形態に比して、図4において抽出部の構成が検索処理部110だけで良く、簡略化でき、また、識別コード判別部46を省略できる。なお、カラーコード付きターゲットを使用しない場合は、広角プロジェクターによって測定対象物の座標が明確なポイントを複数含む撮影画像を撮影するのが良い。
本実施の形態では計測前準備(S255)の段階で概略測定又は測定まで行う方法を説明する。本実施の形態のシステム構成は、第1又は第2の実施の形態と同様である。
図29に、概略測定の処理フローを示す。まず、投影モードを計測モードとして投影部12から測定対象物1に計測準備用パターンを投影し、この投影パターンを撮像部10により撮影して、撮影画像を抽出部41(パターン検出部491)に送信する(S311)。次に、抽出部41(パターン検出部491)にて撮影画像上の計測点の重心位置を検出する(S312)。次に、ステレオ画像の一方(基準画像)において検出された計測点の重心位置を基準点設定部42で基準点として設定し、ステレオ画像の他方(探索画像)において基準点に対応する対応点を求める(S313)。次に、標定部44で標定計算をする(S314)。標定は基準点と対応点のペアが6以上あれば可能である。標定結果から、精度の悪い点があった場合には(S315aでNo)、その点を取り除いて(S315)、6点以上のペアを選んで再度、標定計算をしなおす(S314)。悪い点がなくなるまで、S314,S315を繰り返す。悪い点がなくなれば(S315aでYes)、標定によりカメラ画像とモデル画像との対応関係が定まると共に、悪い点を取り除いた点をリファレンスポイントRFとしてパターン情報記憶部47に登録する。次に、登録したリファレンスポイントRFから変形点付近のものを抽出して、測定対象物1の変形点に対応する位置にリファレンスポイントRFを貼り付ける、もしくは、計測準備用パターンにリファレンスポイントRFを追加して新たな計測パターンPを形成する(S316)。
ここで、タイポイント(接続用:カラーコード化ターゲット)が先に貼ってあれば、計測前準備の処理フロー(S300〜S320)を繰り返すことで、計測前処理でなく、この領域の計測を完了させることも可能である。
本実施の形態は、パターン投影の回数を増やすものである。本実施の形態のシステム構成は、第1又は第3の実施の形態と同様である。例えば、標定点投影を複数回行なっても良く、計測点投影を複数回行なっても良い。また、計測によりミスマッチングが生じた場合には、標定点を増加して再度標定点投影を行い、さらに計測を行なっても良い。
10 撮像部
12 投影部
13 撮影画像データ記憶部
40 対応部
41 抽出部
42 基準点設定部
43 対応点探索部
44 標定部
45 対応点指示部
46 識別コード判別部
47 パターン情報記憶部
48 撮影・モデル画像表示部
48A モデル画像形成部
48B モデル画像記憶部
49 計算処理部
50 表示画像形成部
51 三次元座標データ演算部
53 三次元座標データ記憶部
54 立体的二次元画像形成部
55 立体的二次元画像記憶部
57 立体的二次元画像表示部
60 表示装置
70 マッチング処理部
80、80A 三次元計測用投影装置
100、100A 三次元計測システム
110 探索処理部
111 レトロターゲット検出処理部
120 レトロターゲットグループ化処理部
130 カラーコード付きターゲット検出処理部
131 カラーコード付きターゲット領域方向検出処理部
140 画像・カラーパターン記憶部
141 読込画像記憶部
142 カラーコード付きターゲット対応表
200 レトロターゲット
204 内部円
206 外部円
311 色彩検出処理部
312 色彩補正部
313 確認処理部
321 座標変換処理部
322 コード変換処理部
491 パターン検出部
492 パターン形成部
493 パターン投影制御部
494 色彩修正部
495 パターン記憶部
496 パターン選択部
CT、CT1〜CT3 カラーコード付きターゲット
EP エピポーラライン
L12、L23、L31 辺
P 計測パターン
P1 位置検出用パターン(レトロターゲット部)
P2 基準色パターン(基準色部)
P3 カラーコードパターン(カラーコード部)
P4 空パターン(白色部)
Q 計測点
R1〜R3 重心点
RF リファレンスポイント
To 閾値
T1〜T3 仮のラベル
Claims (12)
- 計測点を表示する計測パターンを測定対象物に投影する投影部と、
前記投影部を制御して、前記計測パターンを投影させるパターン投影制御部と、
前記投影部により投影された前記計測パターンを撮影する撮像部と、
前記投影部により投影された前記計測パターンの撮影画像から前記計測点を検出するパターン検出部と、
前記パターン検出部で検出された第1の計測パターンにおける計測点の変位に基づいて計測点を追加、削除又は変更した第2の計測パターンを形成するパターン形成部とを備え;
前記パターン検出部は、前記撮像部により撮影された前記計測パターンの撮影画像から前記計測点を検出する;
三次元計測用投影装置。 - 計測点を表示する計測パターンを測定対象物に投影する投影部と、
前記計測パターンを複数記憶するパターン記憶部と、
前記パターン記憶部に記憶された複数の計測パターンから、投影する計測パターンを選択するパターン選択部と、
前記投影部を制御して、前記パターン選択部で選択された計測パターンを投影させるパターン投影制御部と、
前記投影部により投影された前記計測パターンを撮影する撮像部と、
前記投影部により投影された計測パターンの撮影画像から前記計測点を検出するパターン検出部とを備え、
前記パターン選択部は、前記パターン検出部で検出された第1の計測パターンにおける計測点の変位に基づいて、前記パターン記憶部に記憶された複数の計測パターンから、計測点を追加、削除又は変更した第3の計測パターンを選択し、
前記パターン検出部は、前記撮像部により撮影された前記計測パターンの撮影画像から前記計測点を検出する;
三次元計測用投影装置。 - 前記撮像部は、焦点距離可変に構成され、
前記投影部は、前記撮像部に設定された撮影可能な範囲に対応して、投影される計測パターンの投影範囲を設定可能である;
請求項1又は請求項2に記載の三次元計測用投影装置。 - 前記パターン投影制御部は、前記投影部に一様な照明光で対象物を照明するテクスチャー取得用の照明を行なわせる;
請求項1又は請求項2に記載の三次元計測用投影装置。 - 前記パターン投影制御部は、前記撮像部に係る焦点距離、撮影距離、基線長、オーバーラップ率のいずれか一つを入力することにより、前記計測パターンの計測点の配置、パターン密度を調整可能である;
請求項1又は請求項2に記載の三次元計測用投影装置。 - 前記撮影画像は対をなすステレオ画像であり、
前記ステレオ画像について標定を行なう標定部を備え;
前記標定部は、前記第2の計測パターン又は前記第3の計測パターンを用いて標定を行う;
請求項1又は請求項2に記載の三次元計測用投影装置を有する三次元計測システム。 - 測定対象物の三次元座標を演算する三次元座標データ演算部を備え;
前記三次元座標データ演算部は、前記第2の計測パターン又は前記第3の計測パターンを用いて三次元座標を演算する;
請求項1又は請求項2に記載の三次元計測用投影装置を有する三次元計測システム。 - 前記撮影画像は対をなすステレオ画像であり、
前記ステレオ撮影画像のパターンマッチング処理を行うマッチング処理部を備え;
前記マッチング処理部は、投影された前記第1の計測パターンの撮影画像を用いてマッチング処理を行い;
前記パターン形成部は、前記マッチング処理において検出された前記撮影画像上の不良領域に対応する前記第1の計測パターンの領域に計測点を追加して前記第2の計測パターン又は前記第3の計測パターンを形成する;
請求項1又は請求項2に記載の三次元計測用投影装置を有する三次元計測システム。 - 請求項1乃至請求項5のいずれか1項に記載の三次元計測用投影装置を有する三次元計測システム。
- 計測点を表示する計測パターンを複数記憶するパターン記憶工程と、
複数の前記計測パターンのうちの第1の計測パターンを測定対象物に投影する第1の投影工程と、
前記第1の投影工程により投影された前記第1の計測パターンを撮影する撮像工程と、
前記撮像工程により撮影された前記第1の計測パターンの撮影画像から前記計測点を検出するパターン検出工程と、
前記パターン検出工程で検出された前記第1の計測パターンにおける計測点の変位に基づいて計測点を追加、削除又は変更した第2の計測パターンを形成するパターン形成工程と、
前記第2の計測パターンを前記測定対象物に投影する第2の投影工程とを備える;
三次元計測用パターン投影方法。 - 計測点を表示する計測パターンを複数記憶するパターン記憶工程と、
複数の前記計測パターンのうちの第1の計測パターンを測定対象物に投影する第1の投影工程と、
前記第1の投影工程により投影された前記第1の計測パターンを撮影する撮像工程と、
前記撮像工程により撮影された前記第1の計測パターンの撮影画像から前記計測点を検出するパターン検出工程と、
前記パターン検出工程で検出された前記第1の計測パターンにおける計測点の変位に基づいて、前記パターン記憶部に記憶された計測パターンから、計測点を追加、削除又は変更した第3の計測パターンを選択するパターン選択工程と、
前記第3の計測パターンを前記測定対象物に投影する第3の投影工程とを備える;
三次元計測用パターン投影方法。 - 前記撮像工程において、撮影画像は対をなすステレオ画像であり、
前記ステレオ画像について標定を行なう標定工程と、
前記測定対象物の三次元形状を計測する三次元計測工程とを備え、
前記第2の計測パターン又は前記第3の計測パターンに追加される計測点は、前記標定工程又は前記三次元計測工程においてリファレンスポイントとして投影される;
請求項10又は請求項11に記載の三次元計測用パターン投影方法。
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