Nothing Special   »   [go: up one dir, main page]

JP4799172B2 - Exposure apparatus, exposure method, and manufacturing method of display panel substrate - Google Patents

Exposure apparatus, exposure method, and manufacturing method of display panel substrate Download PDF

Info

Publication number
JP4799172B2
JP4799172B2 JP2005374290A JP2005374290A JP4799172B2 JP 4799172 B2 JP4799172 B2 JP 4799172B2 JP 2005374290 A JP2005374290 A JP 2005374290A JP 2005374290 A JP2005374290 A JP 2005374290A JP 4799172 B2 JP4799172 B2 JP 4799172B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
chuck
vacuum
air
exposure
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2005374290A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2007180125A (en
Inventor
聡 高橋
和幸 中野
隆悟 佐藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi High Tech Corp
Original Assignee
Hitachi High Technologies Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi High Technologies Corp filed Critical Hitachi High Technologies Corp
Priority to JP2005374290A priority Critical patent/JP4799172B2/en
Publication of JP2007180125A publication Critical patent/JP2007180125A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP4799172B2 publication Critical patent/JP4799172B2/en
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Description

本発明は、液晶ディスプレイ装置等の表示用パネル基板の製造において、基板の露光を行う露光装置、露光方法、及びそれらを用いた表示用パネル基板の製造方法に関する。   The present invention relates to an exposure apparatus that performs exposure of a substrate, an exposure method, and a method of manufacturing a display panel substrate using the same in manufacturing a display panel substrate such as a liquid crystal display device.

表示用パネルとして用いられる液晶ディスプレイ装置のTFT(Thin Film Transistor)基板やカラーフィルタ基板、プラズマディスプレイパネル用基板、有機EL(Electroluminescence)表示パネル用基板等の製造は、露光装置を用いて、フォトリソグラフィー技術により基板上にパターンを形成して行われる。一般に、露光装置は、基板を真空吸着して保持するチャックを備え、チャックに保持された基板の表面へフォトマスクを透過した光を照射して露光を行う。   Manufacturing of TFT (Thin Film Transistor) substrates, color filter substrates, plasma display panel substrates, organic EL (Electroluminescence) display panel substrates, and the like of liquid crystal display devices used as display panels is performed using photolithography using an exposure apparatus. This is performed by forming a pattern on the substrate by a technique. In general, an exposure apparatus includes a chuck that holds a substrate by vacuum suction, and performs exposure by irradiating the surface of the substrate held by the chuck with light transmitted through a photomask.

チャックには、従来、基板保持面が平らなものと、基板保持面にピン形状の凸部を複数設けたものとがあった。後者は、ピン形状の凸部により複数の点で基板を支持し、ピン形状の凸部以外の部分と基板との空間を真空引きすることにより、基板を真空吸着して保持する。この様なチャックでは、大型の基板を均等に真空吸着するために、ピン形状の凸部以外の部分と基板との空間を複数の真空区画に分けて真空引きを行っていた。このため、基板保持面には、複数の真空区間を形成するための土手(ライン)が設けられていた。   Conventionally, there are chucks having a flat substrate holding surface and those having a plurality of pin-shaped convex portions on the substrate holding surface. In the latter, the substrate is supported at a plurality of points by pin-shaped convex portions, and the space between the portion other than the pin-shaped convex portions and the substrate is evacuated to hold the substrate by vacuum suction. In such a chuck, in order to vacuum-suck a large substrate evenly, the space between the substrate and the portion other than the pin-shaped convex portion and the substrate is divided into a plurality of vacuum compartments for evacuation. For this reason, a bank (line) for forming a plurality of vacuum sections has been provided on the substrate holding surface.

チャックへの基板の搭載は、通常、チャックに設けた複数の突き上げピンを介して行われる。突き上げピンは、チャックの表面より上昇して、基板をロボット等のハンドリングアームから受け取った後、再び下降して、基板をチャックの表面に載せる。   The substrate is normally mounted on the chuck through a plurality of push-up pins provided on the chuck. The push-up pin rises from the surface of the chuck, receives the substrate from a handling arm such as a robot, and then descends again to place the substrate on the surface of the chuck.

なお、関連技術として、特許文献1には、ウエハ保持面に溝を設けた半導体ウエハ用真空チャックが開示されている。また、特許文献2には、複数の吸着ピンを備えたレチクルホルダが開示されている。
特開平9−321127号公報 特開2000−286191号公報
As a related technique, Patent Document 1 discloses a semiconductor wafer vacuum chuck in which a groove is provided on a wafer holding surface. Patent Document 2 discloses a reticle holder including a plurality of suction pins.
JP-A-9-32127 JP 2000-286191 A

ガラス基板等の様に光が透過する基板では、露光時に基板を透過した光がチャックで反射し、再び基板を透過して基板の表面に達することにより、チャックの表面形状等が基板の表面に焼き付けられる現象が発生することがある。この現象は、「裏面転写」と呼ばれている。従来の基板保持面が平らなチャックでは、基板の裏面の汚れがチャックに堆積し、この汚れにより裏面転写が発生していた。これに対し、基板保持面にピン形状の凸部を設けたチャックでは、汚れの堆積による裏面転写の発生が少ない。   In a substrate that transmits light, such as a glass substrate, the light transmitted through the substrate during exposure is reflected by the chuck, passes through the substrate again, and reaches the surface of the substrate. The phenomenon of burning may occur. This phenomenon is called “backside transfer”. In a conventional chuck with a flat substrate holding surface, dirt on the back surface of the substrate accumulates on the chuck, and back surface transfer occurs due to this dirt. On the other hand, in the chuck in which the pin-shaped convex portion is provided on the substrate holding surface, the back surface transfer due to the accumulation of dirt is small.

基板保持面にピン形状の凸部を設けたチャックにおいて、基板を保持する吸着力は、土手により分けられた真空区画内の空気の圧力で決まる。真空区画内の空気の圧力を下げて吸着力を強くしすぎると、基板がたわんで基板保持面の形状にならい、裏面転写が発生し易くなる。裏面転写が発生してチャックの表面形状が基板の表面に焼き付けられたとき、ピン形状の凸部は小さくて人間の目で認識され難いので問題とならないが、真空区画を形成する土手は、人間の目で認識され易く不良の原因となる。裏面転写を抑制するためには、吸着力を適度に制御して、基板を平坦に保持する必要があった。   In a chuck in which a pin-shaped convex portion is provided on the substrate holding surface, the suction force for holding the substrate is determined by the air pressure in the vacuum compartment divided by the bank. If the air pressure in the vacuum compartment is lowered to increase the adsorption force too much, the substrate will bend and follow the shape of the substrate holding surface, and backside transfer will easily occur. When backside transfer occurs and the surface shape of the chuck is baked onto the surface of the substrate, the pin-shaped protrusions are small and difficult to recognize by the human eye, but this is not a problem. It is easily recognized by the eyes and causes defects. In order to suppress the back surface transfer, it is necessary to appropriately control the adsorption force and hold the substrate flat.

一方、露光装置でタクトタイムを短縮するために、チャックへの基板の搭載を迅速に行いたいという要求がある。基板の搭載を迅速に行うためには、基板を載せた突き上げピンを高速で下降させる必要がある。しかしながら、基板が大型化すると、突き上げピンを高速で下降させた場合、基板とチャックとの間の空気が逃げ切れずに基板の中央部に残り、基板の中央部が逃げ残った空気によって盛り上がる現象が発生する。従来のチャックでこの様に逃げ残った空気を真空引きによって抜くと、基板の周辺部は既に真空吸着によって固定されているため、基板に歪みが発生し、露光時の焼付け精度が低下して不良が発生するという問題があった。   On the other hand, in order to reduce the tact time in the exposure apparatus, there is a demand for quickly mounting the substrate on the chuck. In order to quickly mount the substrate, it is necessary to lower the push-up pin on which the substrate is placed at a high speed. However, when the size of the substrate increases, when the push-up pin is lowered at a high speed, the air between the substrate and the chuck does not escape and remains in the center of the substrate, and the center of the substrate swells due to the remaining air. appear. If the air left in this way with a conventional chuck is removed by vacuuming, the peripheral part of the substrate is already fixed by vacuum suction, causing distortion in the substrate and poor printing accuracy during exposure. There was a problem that occurred.

従来、基板とチャックとの間の空気の排出を促進するため、チャックの表面に溝を設けることが考えられている。しかしながら、基板が大型化する程、空気の排出量を多くするために溝の断面積を大きくする必要があり、溝の断面積を大きくするために溝の幅や深さを大きくすると、裏面転写が発生するという問題があった。   Conventionally, in order to promote the discharge of air between the substrate and the chuck, it has been considered to provide a groove on the surface of the chuck. However, as the substrate becomes larger, the groove cross-sectional area needs to be increased in order to increase the amount of air discharged. If the groove width and depth are increased in order to increase the groove cross-sectional area, the rear surface transfer There was a problem that occurred.

また、基板とチャックとの間の空気の排出を促進するため、チャックによる真空吸着の吸着力を強くすることも考えられる。しかしながら、従来の基板保持面にピン形状の凸部を設けたチャックを用いた露光装置では、吸着力を強くすると、基板がたわんで基板保持面の形状にならい、裏面転写が発生し易くなるという問題があった。   Further, in order to promote the discharge of air between the substrate and the chuck, it is conceivable to increase the suction force of the vacuum suction by the chuck. However, in a conventional exposure apparatus using a chuck having a pin-shaped convex portion provided on a substrate holding surface, if the adsorption force is increased, the substrate is bent and follows the shape of the substrate holding surface, so that backside transfer is likely to occur. There was a problem.

本発明の課題は、基板のチャックへの搭載を迅速に行い、かつ基板の歪み及び裏面転写による不良を少なくすることである。また、本発明の課題は、表示用パネル基板を短いタクトタイムで歩留まり良く製造することである。   It is an object of the present invention to quickly mount a substrate on a chuck and reduce defects due to substrate distortion and back surface transfer. Another object of the present invention is to manufacture a display panel substrate with a short tact time and high yield.

本発明の露光装置は、光が透過する基板を保持するチャックを備えた露光装置であって、チャックが、基板保持面に、基板への裏面転写が問題とならない直径4mm以下の大きさであって、基板をチャックへ搭載する際に基板とチャックとの間の空気をチャックの裏面へ排出する複数の空気孔を有するものである。 The exposure apparatus of the present invention is an exposure apparatus provided with a chuck for holding a substrate through which light is transmitted , and the chuck has a diameter of 4 mm or less on the substrate holding surface so that back surface transfer to the substrate does not become a problem. Thus, when the substrate is mounted on the chuck, it has a plurality of air holes for discharging air between the substrate and the chuck to the back surface of the chuck.

また、本発明の露光方法は、光が透過するチャックに保持された基板を露光する露光方法であって、チャックの基板保持面に、基板への裏面転写が問題とならない直径4mm以下の大きさの複数の空気孔を設け、基板をチャックへ搭載する際に、基板とチャックとの間の空気を空気孔を介してチャックの裏面へ排出するものである。 The exposure method of the present invention is an exposure method for exposing a substrate held by a chuck through which light is transmitted , and has a diameter of 4 mm or less so that back surface transfer to the substrate does not cause a problem on the substrate holding surface of the chuck. When the substrate is mounted on the chuck, the air between the substrate and the chuck is discharged to the back surface of the chuck through the air hole.

基板をチャックへ搭載する際に、基板とチャックとの間の空気を空気孔を介してチャックの裏面へ排出するので、基板とチャックとの間の空気が、チャックの厚さ分の短い経路で効率良く排出される。空気孔は、直径4mm以下の大きさであって、基板への裏面転写が起こっても、人間の目で認識され難いので問題とならない。 When the substrate is mounted on the chuck, the air between the substrate and the chuck is discharged to the back surface of the chuck through the air holes, so that the air between the substrate and the chuck passes along a short path corresponding to the thickness of the chuck. Efficiently discharged. Air hole is a size smaller than the diameter 4 mm, even going on backside transfer to the substrate, not a problem because hardly recognized by the human eye.

さらに、本発明の露光装置は、チャックが、裏面に、空気孔へ通じる空気孔より広い空気通路を有するものである。また、本発明の露光方法は、チャックの裏面に、チャックの基板保持面に設けた空気孔へ通じる空気孔より広い空気通路を設けるものである。チャックの裏面に、チャックの基板保持面に設けた空気孔へ通じる空気孔より広い空気通路を設けるので、基板をチャックへ搭載する際、基板とチャックとの間の空気が、空気孔から空気孔より広い空気通路を通ってさらに効率良く排出される。   Further, in the exposure apparatus of the present invention, the chuck has an air passage wider on the back surface than the air hole leading to the air hole. In the exposure method of the present invention, an air passage wider than an air hole communicating with an air hole provided on the substrate holding surface of the chuck is provided on the back surface of the chuck. Since the back surface of the chuck is provided with an air passage wider than the air hole leading to the air hole provided on the chuck substrate holding surface, when the substrate is mounted on the chuck, the air between the substrate and the chuck is moved from the air hole to the air hole. It is discharged more efficiently through a wider air passage.

さらに、本発明の露光装置は、チャックが、基板保持面に、基板を支持する複数の凸部と、凸部以外の部分と基板との空間を複数の真空区画に分ける土手と、各真空区画に配置された基板を真空吸着する複数の吸着手段とを有し、基板をチャックへ搭載する際、吸着手段に第1の吸着力を発生させ、基板の露光時、吸着手段に第1の吸着力より弱い第2の吸着力を発生させる吸着力発生手段を備えたものである。 Further, in the exposure apparatus of the present invention, the chuck includes a plurality of convex portions that support the substrate on the substrate holding surface, a bank that divides a space between the portion other than the convex portions and the substrate into a plurality of vacuum compartments, and each vacuum compartment. A plurality of suction means that vacuum-suck the substrate disposed on the substrate, and when the substrate is mounted on the chuck, a first suction force is generated in each suction means, and the first suction force is applied to each suction means when the substrate is exposed. It is provided with a suction force generating means for generating a second suction force weaker than the suction force.

また、本発明の露光方法は、チャックの基板保持面に、基板を支持する複数の凸部と、凸部以外の部分と基板との空間を複数の真空区画に分ける土手と、各真空区画に配置された基板を真空吸着する複数の吸着手段とを設け、基板をチャックへ搭載する際に、基板とチャックとの間の空気を空気孔を介してチャックの裏面へ排出しながら、各吸着手段により第1の吸着力で基板を吸着し、基板の露光時、吸着手段により第1の吸着力より弱い第2の吸着力で基板を吸着するものである。 Further, the exposure method of the present invention includes a plurality of convex portions that support the substrate on the substrate holding surface of the chuck, a bank that divides the space between the portion other than the convex portions and the substrate into a plurality of vacuum compartments, and each vacuum compartment. A plurality of suction means for vacuum-sucking the disposed substrate, and when the substrate is mounted on the chuck, each suction means is discharged while discharging air between the substrate and the chuck to the back surface of the chuck through the air holes. the first adsorbing the substrate with suction force, during exposure of the substrate, it is to adsorb the substrate at a first weak second suction force than the suction force of the respective suction unit.

基板をチャックへ搭載する際は、比較的強い第1の吸着力で基板を真空吸着する。これにより、基板とチャックとの間の空気を吸着手段により効率良く排出することが可能となる。一方、基板の露光を行う際は、第1の吸着力より弱く基板がたわまない程度の第2の吸着力で基板を真空吸着する。基板がチャックに平坦に保持されるので、裏面転写の発生が抑制される。   When the substrate is mounted on the chuck, the substrate is vacuum-sucked with a relatively strong first suction force. Thereby, the air between the substrate and the chuck can be efficiently discharged by the adsorption means. On the other hand, when the substrate is exposed, the substrate is vacuum-sucked with a second suction force that is weaker than the first suction force and does not bend. Since the substrate is held flat on the chuck, the occurrence of back surface transfer is suppressed.

さらに、本発明の露光装置は、チャックが、基板保持面に非真空区画を有し、複数の空気孔を当該非真空区画に有するものである。また、本発明の露光方法は、チャックの基板保持面に非真空区画を設け、複数の空気孔を当該非真空区画に設けるものである。チャックの基板保持面に非真空区画を設け、空気孔を非真空区画に設けるので、基板をチャックへ搭載する際、基板とチャックとの間の空気が、非真空区画を通ってチャックの側面へ排出されると共に、非真空区画から空気孔を通ってチャックの裏面へ排出される。一方、真空区画内の空気は、吸着手段により排出される。従って、基板とチャックとの間の空気が、さらに効率良く排出される。 Further, the exposure apparatus of the present invention, the chuck has a non-vacuum section on the substrate holding surface, and has a plurality of air holes in the non-vacuum zone. In the exposure method of the present invention, a non-vacuum section is provided on the substrate holding surface of the chuck, and a plurality of air holes are provided in the non-vacuum section. Since a non-vacuum section is provided on the substrate holding surface of the chuck and an air hole is provided in the non-vacuum section, when the substrate is mounted on the chuck, air between the substrate and the chuck passes through the non-vacuum section to the side surface of the chuck. In addition to being discharged, it is discharged from the non-vacuum compartment to the back surface of the chuck through the air hole. On the other hand, the air in each vacuum compartment is discharged by each adsorption means. Therefore, the air between the substrate and the chuck is discharged more efficiently.

本発明の表示用パネル基板の製造方法は、上記のいずれかの露光装置又は露光方法を用いて基板の露光を行うものである。上記の露光装置又は露光方法を用いることにより、基板をチャックへ搭載する際に、基板とチャックとの間の空気が効率良く排出されるので、基板の搭載を迅速に行うことができ、かつ基板の歪み及び裏面転写により不良とされる基板が少なくなる。   The method for producing a display panel substrate according to the present invention involves exposing the substrate using any one of the above exposure apparatuses or exposure methods. By using the above exposure apparatus or exposure method, when the substrate is mounted on the chuck, the air between the substrate and the chuck is efficiently discharged, so that the substrate can be mounted quickly, and the substrate The number of substrates that are defective due to the distortion and back surface transfer is reduced.

本発明の露光装置及び露光方法によれば、チャックの基板保持面に、基板への裏面転写が問題とならない直径4mm以下の大きさの複数の空気孔を設けることによって、基板をチャックへ搭載する際に、基板とチャックとの間の空気を効率良く排出することができるので、基板のチャックへの搭載を迅速に行い、かつ基板の歪み及び裏面転写による不良を少なくすることができる。 According to the exposure apparatus and the exposure method of the present invention, the substrate is mounted on the chuck by providing a plurality of air holes with a diameter of 4 mm or less on the substrate holding surface of the chuck, where transfer of the back surface to the substrate is not a problem. At this time, since the air between the substrate and the chuck can be efficiently discharged, the substrate can be quickly mounted on the chuck, and defects due to the distortion of the substrate and the back surface transfer can be reduced.

さらに、チャックの裏面に、チャックの基板保持面に設けた空気孔へ通じる空気孔より広い空気通路を設けることにより、基板とチャックとの間の空気をさらに効率良く排出することができるので、基板のチャックへの搭載をさらに迅速に行うことができ、かつ基板の歪みによる不良をさらに少なくすることができる。   Furthermore, by providing a wider air passage on the back surface of the chuck than the air holes leading to the air holes provided on the chuck substrate holding surface, the air between the substrate and the chuck can be discharged more efficiently. Can be mounted on the chuck more quickly, and defects due to distortion of the substrate can be further reduced.

さらに、基板をチャックへ搭載する際、各真空区画に配置された各吸着手段により第1の吸着力で基板を吸着し、基板の露光時、各真空区画に配置された各吸着手段により第1の吸着力より弱い第2の吸着力で基板を吸着することにより、基板とチャックとの間の空気を吸着手段により効率良く排出することができ、かつ裏面転写の発生を抑制することができるので、基板のチャックへの搭載をさらに迅速に行うことができ、かつ基板の歪み及び裏面転写による不良をさらに少なくすることができる。 Further, when the substrate is mounted on the chuck, the substrate is adsorbed by the first adsorbing means by each adsorbing means arranged in each vacuum compartment, and the first adsorbing means arranged in each vacuum compartment is exposed by the first adsorbing force when the substrate is exposed. By adsorbing the substrate with a second adsorbing force that is weaker than the adsorbing force, the air between the substrate and the chuck can be efficiently discharged by the adsorbing means, and the occurrence of back surface transfer can be suppressed. In addition, the substrate can be mounted on the chuck more quickly, and defects due to substrate distortion and back surface transfer can be further reduced.

さらに、チャックの基板保持面に非真空区画を設け、複数の空気孔を当該非真空区画に設けることにより、基板とチャックとの間の空気をさらに効率良く排出することができるので、基板のチャックへの搭載をさらに迅速に行うことができ、かつ基板の歪みによる不良をさらに少なくすることができる。 Furthermore, the non-vacuum zone provided on the substrate holding surface of the chuck, by providing a plurality of air holes in the non-vacuum zone, it is possible to more efficiently discharge the air between the substrate and the chuck, the substrate chuck Can be mounted more quickly, and defects due to substrate distortion can be further reduced.

本発明の表示用パネル基板の製造方法によれば、基板の露光を行う際、基板のチャックへの搭載に要する時間を短縮し、かつ基板の歪み及び裏面転写による不良を少なくすることができる。従って、表示用パネル基板を短いタクトタイムで歩留まり良く製造することができる。   According to the method for manufacturing a display panel substrate of the present invention, when the substrate is exposed, the time required for mounting the substrate on the chuck can be shortened, and defects due to substrate distortion and back surface transfer can be reduced. Therefore, the display panel substrate can be manufactured with a short tact time and a high yield.

図1は、本発明の一実施の形態による露光装置の概略構成を示す図である。本実施の形態は、マスクと基板との間に微小な間隙(プロキシミティギャップ)を設けてマスクのパターンを基板へ転写するプロキシミティ方式の露光装置の例を示している。露光装置は、ベース3、Xガイド4、Xステージ5、Yガイド6、Yステージ7、θステージ8、Z−チルト機構9、チャック10、及びマスクホルダ20を含んで構成されている。なお、露光装置は、これらの他に、露光用光源、チャック10へ基板1を供給する供給ユニット、チャック10から基板1を回収する回収ユニット、装置内の温度管理を行う温度制御ユニット等を備えているが、本実施の形態では発明に直接関係しない部分は省略してある。   FIG. 1 is a view showing the schematic arrangement of an exposure apparatus according to an embodiment of the present invention. This embodiment shows an example of a proximity type exposure apparatus that provides a minute gap (proximity gap) between a mask and a substrate and transfers the mask pattern to the substrate. The exposure apparatus includes a base 3, an X guide 4, an X stage 5, a Y guide 6, a Y stage 7, a θ stage 8, a Z-tilt mechanism 9, a chuck 10, and a mask holder 20. In addition to the above, the exposure apparatus includes an exposure light source, a supply unit that supplies the substrate 1 to the chuck 10, a recovery unit that recovers the substrate 1 from the chuck 10, a temperature control unit that manages the temperature in the apparatus, and the like. However, in this embodiment, portions not directly related to the invention are omitted.

図1において、チャック10は、基板1の受け渡しを行う受け渡し位置にある。受け渡し位置において、図示しない供給ユニットによって基板1がチャック10へ供給され、また図示しない回収ユニットによって基板1がチャック10から回収される。チャック10への基板1の搭載は、チャック10に設けた複数の突き上げピンを介して行われる。突き上げピンは、チャック10の表面より上昇して、基板1を供給ユニットのハンドリングアームから受け取った後、再び下降して、基板1をチャック10の基板保持面に載せる。基板1の露光を行う露光位置の上空には、マスクホルダ20によってマスク2が保持されている。   In FIG. 1, the chuck 10 is in a delivery position for delivering the substrate 1. At the delivery position, the substrate 1 is supplied to the chuck 10 by a supply unit (not shown), and the substrate 1 is recovered from the chuck 10 by a recovery unit (not shown). The substrate 1 is mounted on the chuck 10 via a plurality of push-up pins provided on the chuck 10. The push-up pin rises from the surface of the chuck 10, receives the substrate 1 from the handling arm of the supply unit, and then descends again to place the substrate 1 on the substrate holding surface of the chuck 10. A mask 2 is held by a mask holder 20 above the exposure position where the substrate 1 is exposed.

チャック10は、Z−チルト機構9を介してθステージ8に搭載されており、θステージ8の下にはYステージ7及びXステージ5が設けられている。Xステージ5は、ベース3に設けられたXガイド4に沿ってX方向(図面横方向)へ移動する。Xステージ5のX方向への移動によって、チャック10は、受け渡し位置と露光位置との間を移動する。なお、駆動手段としてはリニアモータ等が用いられるが、図示は省略する。Yステージ7は、Xステージ5に設けられたYガイド6に沿ってY方向(図面奥行き方向)へ移動する。θステージ8はθ方向へ回転し、Z−チルト機構9はZ方向(図面縦方向)へ移動及びチルトする。   The chuck 10 is mounted on the θ stage 8 via a Z-tilt mechanism 9, and a Y stage 7 and an X stage 5 are provided below the θ stage 8. The X stage 5 moves in the X direction (the horizontal direction in the drawing) along the X guide 4 provided on the base 3. As the X stage 5 moves in the X direction, the chuck 10 moves between the delivery position and the exposure position. In addition, although a linear motor etc. are used as a drive means, illustration is abbreviate | omitted. The Y stage 7 moves in the Y direction (the drawing depth direction) along the Y guide 6 provided on the X stage 5. The θ stage 8 rotates in the θ direction, and the Z-tilt mechanism 9 moves and tilts in the Z direction (vertical direction in the drawing).

露光位置において、Xステージ5のX方向への移動、Yステージ7のY方向への移動、及びθステージ8のθ方向への回転によって、露光時の基板1の位置決めが行われる。また、Z−チルト機構9のZ方向への移動及びチルトによって、マスク2と基板1とのギャップ制御が行われる。   At the exposure position, the substrate 1 is positioned during exposure by moving the X stage 5 in the X direction, moving the Y stage 7 in the Y direction, and rotating the θ stage 8 in the θ direction. Further, the gap control between the mask 2 and the substrate 1 is performed by the movement and tilt of the Z-tilt mechanism 9 in the Z direction.

図2は、本発明の一実施の形態による露光装置のチャックの上面図である。チャック10の基板保持面には、凸部11、土手12、吸着孔13、及び空気孔14が設けられている。また、チャック10の裏面には、破線で示した空気通路15が設けられている。突き上げピン16は、チャック10の裏面から基板保持面へ貫通する貫通孔に挿入されている。   FIG. 2 is a top view of the chuck of the exposure apparatus according to the embodiment of the present invention. Protrusions 11, banks 12, suction holes 13, and air holes 14 are provided on the substrate holding surface of the chuck 10. An air passage 15 indicated by a broken line is provided on the back surface of the chuck 10. The push-up pin 16 is inserted into a through hole penetrating from the back surface of the chuck 10 to the substrate holding surface.

凸部11は、ピン形状であり、チャック10の基板保持面に所定の間隔で複数設けられている。チャック10に基板1が搭載されたとき、凸部11は、基板1を複数の点で支持する。このとき、基板保持面の凸部11以外の部分と基板1との間には、空間が形成される。   The convex portion 11 has a pin shape, and a plurality of convex portions 11 are provided on the substrate holding surface of the chuck 10 at a predetermined interval. When the substrate 1 is mounted on the chuck 10, the convex portion 11 supports the substrate 1 at a plurality of points. At this time, a space is formed between the portion of the substrate holding surface other than the convex portion 11 and the substrate 1.

土手12は、所定の幅の連続した壁であり、基板保持面の凸部11以外の部分と基板1との間に形成された空間を複数の真空区画及び非真空区画に分ける。図3は、図2に示したチャックの真空区画及び非真空区画を説明する図である。本実施の形態では、チャック10の基板保持面が、土手12によって、9つの真空区画10aと、6つの真空区画10bと、6つの真空区画10cと、1つの非真空区画10dとに分けられている。   The bank 12 is a continuous wall having a predetermined width, and divides a space formed between a portion other than the convex portion 11 of the substrate holding surface and the substrate 1 into a plurality of vacuum compartments and non-vacuum compartments. FIG. 3 is a diagram illustrating a vacuum section and a non-vacuum section of the chuck shown in FIG. In the present embodiment, the substrate holding surface of the chuck 10 is divided by the bank 12 into nine vacuum compartments 10a, six vacuum compartments 10b, six vacuum compartments 10c, and one non-vacuum compartment 10d. Yes.

なお、本実施の形態では、9つの真空区画10a、6つの真空区画10b及び6つの真空区画10cがそれぞれ矩形に構成され、1つの非真空区画10dが井桁状に構成されているが、真空区画及び非真空区画の数及び形状はこれらに限定されるものではない。   In the present embodiment, nine vacuum compartments 10a, six vacuum compartments 10b, and six vacuum compartments 10c are each formed in a rectangular shape, and one non-vacuum compartment 10d is formed in a cross-beam shape. The number and shape of the non-vacuum compartments are not limited thereto.

図4及び図5は、図2に示したチャックに基板を搭載した状態を示す図である。図4に示す様に、長方形の基板1を横長に搭載した場合、チャック10は、基板1を9つの真空区画10aと6つの真空区画10bとによって真空吸着して保持する。図5に示す様に、長方形の基板1を縦長に搭載した場合、チャック10は、基板1を9つの真空区画10aと6つの真空区画10cとによって真空吸着して保持する。   4 and 5 are views showing a state in which a substrate is mounted on the chuck shown in FIG. As shown in FIG. 4, when the rectangular substrate 1 is mounted horizontally, the chuck 10 holds the substrate 1 by vacuum suction using nine vacuum compartments 10a and six vacuum compartments 10b. As shown in FIG. 5, when the rectangular substrate 1 is mounted vertically, the chuck 10 holds the substrate 1 by vacuum suction using nine vacuum compartments 10a and six vacuum compartments 10c.

図6(a)は図2のA−A部の一部の断面図、図6(b)は同B−B部の一部の断面図である。なお、図6(a)及び図6(b)は、図4に示す様に基板1をチャック10に横長に搭載した状態を示している。空気孔14は、図6(a)及び図6(b)に示す様に、チャック10の基板保持面から裏面へ抜ける貫通孔であり、非真空区画10dに所定の間隔で複数設けられている。空気孔14は、例えば直径4mm以下の大きさであって、基板1への裏面転写が起こっても、人間の目で認識され難いので問題とならない。   6A is a partial cross-sectional view of the AA portion in FIG. 2, and FIG. 6B is a partial cross-sectional view of the BB portion. 6A and 6B show a state in which the substrate 1 is mounted horizontally on the chuck 10 as shown in FIG. As shown in FIGS. 6A and 6B, the air holes 14 are through-holes extending from the substrate holding surface of the chuck 10 to the back surface, and a plurality of air holes 14 are provided in the non-vacuum compartment 10d at predetermined intervals. . The air hole 14 has a diameter of, for example, 4 mm or less, and even if the back surface transfer to the substrate 1 occurs, it does not cause a problem because it is difficult to be recognized by human eyes.

基板1の裏面には、空気孔14へ通じる空気通路15が設けられている。空気通路15は、空気孔14より広く構成されている。本実施の形態では、空気通路15は円形の所定の深さの穴であって、1つの空気通路15が4つの空気孔14へ通じている。   An air passage 15 leading to the air hole 14 is provided on the back surface of the substrate 1. The air passage 15 is configured wider than the air hole 14. In the present embodiment, the air passage 15 is a circular hole having a predetermined depth, and one air passage 15 communicates with the four air holes 14.

基板1をチャック10へ搭載する際、基板1とチャック10との間の空気が、非真空区画10dを通ってチャック10の側面へ排出されると共に、非真空区画10dから空気孔14及び空気通路15を通ってチャック10の裏面へ効率良く排出される。   When the substrate 1 is mounted on the chuck 10, air between the substrate 1 and the chuck 10 is discharged to the side surface of the chuck 10 through the non-vacuum section 10 d, and the air holes 14 and the air passages from the non-vacuum section 10 d. 15 is efficiently discharged to the back surface of the chuck 10.

なお、図2では、合計144個の空気孔14が設けられているが、空気孔14の数及びそれらの配置は、基板の大きさに応じて適宜決定される。また、空気通路15の形状は、円形に限らず、例えば基板1の裏面に設けた溝の様なものであってもよい。   In FIG. 2, a total of 144 air holes 14 are provided, but the number of air holes 14 and their arrangement are appropriately determined according to the size of the substrate. Further, the shape of the air passage 15 is not limited to a circular shape, and may be, for example, a groove provided on the back surface of the substrate 1.

図7は、図2のC−C部の断面と空気圧回路の構成を示す図である。なお、図7は、図4に示す様に基板1をチャック10に横長に搭載した状態を示している。吸着孔13は、図7に示す様に、チャック10の基板保持面から裏面へ抜ける貫通孔であり、真空区画10a、真空区画10b及び真空区画10cに所定の間隔で複数設けられている。チャック10の裏面で、真空区画10aに設けられた吸着孔13には、管継手30aを介して配管40aが接続されている。また、真空区画10bに設けられた吸着孔13には、管継手30bを介して配管40bが接続されている。   FIG. 7 is a diagram illustrating a cross-section of the CC section of FIG. 2 and a configuration of a pneumatic circuit. 7 shows a state in which the substrate 1 is mounted horizontally on the chuck 10 as shown in FIG. As shown in FIG. 7, the suction holes 13 are through holes extending from the substrate holding surface of the chuck 10 to the back surface, and a plurality of suction holes 13 are provided at predetermined intervals in the vacuum compartment 10a, the vacuum compartment 10b, and the vacuum compartment 10c. A pipe 40a is connected to the suction hole 13 provided in the vacuum section 10a on the back surface of the chuck 10 via a pipe joint 30a. A pipe 40b is connected to the suction hole 13 provided in the vacuum compartment 10b via a pipe joint 30b.

配管40aは二股に分岐しており、その一方には、電磁弁41aを介して高真空の真空設備が接続されている。他方には、電磁弁42aを介して、低真空の真空設備が接続されている。同様に、配管40bは二股に分岐しており、その一方には、電磁弁41bを介して高真空の真空設備が接続されている。他方には、電磁弁42bを介して、低真空の真空設備が接続されている。   The pipe 40a is bifurcated, and one of the pipes 40a is connected to a high-vacuum vacuum facility via an electromagnetic valve 41a. The other is connected to a low-vacuum vacuum facility via an electromagnetic valve 42a. Similarly, the pipe 40b is bifurcated, and one of the pipes 40b is connected to a high-vacuum vacuum facility via an electromagnetic valve 41b. The other is connected to a low-vacuum vacuum facility via an electromagnetic valve 42b.

受け渡し位置において基板1をチャック10に搭載する際は、まず、電磁弁42aを閉じた状態で、電磁弁41aを開く。真空区画10a内の空気は、吸着孔13から管継手30a、配管40a及び電磁弁41aを介して、高真空の真空設備へ吸引される。続いて、電磁弁42bを閉じた状態で電磁弁41bを開く。真空区画10b内の空気は、吸着孔13から管継手30b、配管40b及び電磁弁41bを介して、高真空の真空設備へ吸引される。これらにより、真空区画10a内及び真空区画10b内の空気が排出され、基板1が比較的強い第1の吸着力でチャック10に真空吸着される。   When the substrate 1 is mounted on the chuck 10 at the delivery position, first, the electromagnetic valve 41a is opened with the electromagnetic valve 42a closed. The air in the vacuum compartment 10a is sucked from the suction hole 13 to the high-vacuum vacuum facility through the pipe joint 30a, the pipe 40a, and the electromagnetic valve 41a. Subsequently, the electromagnetic valve 41b is opened with the electromagnetic valve 42b closed. The air in the vacuum compartment 10b is sucked from the suction hole 13 to the high-vacuum vacuum facility through the pipe joint 30b, the pipe 40b, and the electromagnetic valve 41b. As a result, the air in the vacuum compartment 10a and the vacuum compartment 10b is discharged, and the substrate 1 is vacuum-sucked to the chuck 10 with a relatively strong first suction force.

本実施の形態では、真空区画10a,10bのうち、まず真空区画10a内の空気を抜いて基板1の中央部を真空吸着し、次に真空区画10b内の空気を抜いて基板1の周辺部を真空吸着することにより、基板1の周辺部よりも基板1の中央部から空気を早く排出することができる。従って、基板1の中央部に空気が残るのを防止することができる。   In the present embodiment, out of the vacuum compartments 10a and 10b, first, the air in the vacuum compartment 10a is extracted to vacuum-suck the central portion of the substrate 1, and then the air in the vacuum compartment 10b is extracted to remove the peripheral portion of the substrate 1. Can be discharged from the central portion of the substrate 1 faster than the peripheral portion of the substrate 1. Accordingly, it is possible to prevent air from remaining in the central portion of the substrate 1.

なお、本実施の形態では、複数の真空区画10aについて、吸着孔13を全て同じ配管40aに接続して、真空引きを同時に行っている。しかしながら、複数の真空区画10aをさらに基板1の中心付近とその周りとに分けて、それぞれ別々の配管を接続することにより、中心付近の真空区画からその周りの真空区画へと順番に真空引きを開始してもよい。   In the present embodiment, all the suction holes 13 are connected to the same pipe 40a for a plurality of vacuum compartments 10a, and evacuation is performed simultaneously. However, the plurality of vacuum compartments 10a are further divided into the vicinity of the center of the substrate 1 and the periphery thereof, and separate pipes are connected to each other, so that the vacuum suction is sequentially performed from the vacuum compartment near the center to the surrounding vacuum compartments. You may start.

基板1を搭載した後、チャック10は受け渡し位置から露光位置へ移動される。露光位置において基板1の露光を行う時は、電磁弁41a,41bを閉じて電磁弁42a,42bを開く。真空区画10a内の空気は、吸着孔13から管継手30a、配管40a及び電磁弁42aを介して、低真空の真空設備へ吸引される。同様に、真空区画10b内の空気は、吸着孔13から管継手30b、配管40b及び電磁弁42bを介して、低真空の真空設備へ吸引される。これらにより、基板1が、第1の吸着力より弱く基板1がたわまない程度の第2の吸着力でチャック10に真空吸着される。これにより、基板1がチャック10に平坦に保持されるので、裏面転写の発生が抑制される。   After mounting the substrate 1, the chuck 10 is moved from the delivery position to the exposure position. When the substrate 1 is exposed at the exposure position, the electromagnetic valves 41a and 41b are closed and the electromagnetic valves 42a and 42b are opened. The air in the vacuum compartment 10a is sucked from the suction hole 13 through the pipe joint 30a, the pipe 40a, and the electromagnetic valve 42a to a low-vacuum vacuum facility. Similarly, the air in the vacuum section 10b is sucked from the suction hole 13 to the vacuum equipment having a low vacuum through the pipe joint 30b, the pipe 40b, and the electromagnetic valve 42b. Thus, the substrate 1 is vacuum-sucked to the chuck 10 with a second suction force that is weaker than the first suction force and does not bend. Thereby, since the substrate 1 is held flat on the chuck 10, the occurrence of back surface transfer is suppressed.

露光位置において基板1の露光を行った後、チャック1は再び受け渡し位置へ移動される。受け渡し位置において基板1を回収する際、基板1の真空吸着を解除し、突き上げピンを上昇させて基板1をチャック10から持ち上げる。このとき、チャック10の側面から非真空区画10d内へ、並びにチャック10の裏面から空気通路15及び空気孔14を介して非真空区画10d内へ空気が導入されるので、基板1をチャック10から容易に持ち上げることができ、基板1に余計な力が掛からない。   After the substrate 1 is exposed at the exposure position, the chuck 1 is moved again to the delivery position. When the substrate 1 is recovered at the delivery position, the vacuum suction of the substrate 1 is released, the push-up pin is raised, and the substrate 1 is lifted from the chuck 10. At this time, air is introduced into the non-vacuum compartment 10d from the side surface of the chuck 10 and into the non-vacuum compartment 10d from the back surface of the chuck 10 through the air passage 15 and the air hole 14, so that the substrate 1 is removed from the chuck 10. It can be easily lifted, and no extra force is applied to the substrate 1.

以上説明した実施の形態によれば、チャック10の基板保持面に、基板1への裏面転写が問題とならない大きさの複数の空気孔14を設けることによって、基板1をチャック10へ搭載する際に、基板1とチャック10との間の空気を効率良く排出することができるので、基板1のチャック10への搭載を迅速に行い、かつ基板1の歪み及び裏面転写による不良を少なくすることができる。   According to the embodiment described above, when the substrate 1 is mounted on the chuck 10 by providing the plurality of air holes 14 having such a size that the back surface transfer to the substrate 1 does not cause a problem on the substrate holding surface of the chuck 10. In addition, since the air between the substrate 1 and the chuck 10 can be discharged efficiently, the substrate 1 can be quickly mounted on the chuck 10 and defects due to distortion of the substrate 1 and back surface transfer can be reduced. it can.

さらに、チャック10の裏面に、チャック10の基板保持面に設けた空気孔14へ通じる空気孔14より広い空気通路15を設けることにより、基板1とチャック10との間の空気をさらに効率良く排出することができるので、基板1のチャック10への搭載をさらに迅速に行うことができ、かつ基板1の歪みによる不良をさらに少なくすることができる。   Further, by providing an air passage 15 wider than the air holes 14 communicating with the air holes 14 provided on the substrate holding surface of the chuck 10 on the back surface of the chuck 10, the air between the substrate 1 and the chuck 10 is discharged more efficiently. Therefore, the substrate 1 can be mounted on the chuck 10 more quickly, and defects due to distortion of the substrate 1 can be further reduced.

さらに、基板1をチャック10へ搭載する際、吸着孔13により第1の吸着力で基板1を吸着し、基板1の露光時、吸着孔13により第1の吸着力より弱い第2の吸着力で基板1を吸着することにより、基板1とチャック10との間の空気を吸着孔13により効率良く排出することができ、かつ裏面転写の発生を抑制することができるので、基板1のチャック10への搭載をさらに迅速に行うことができ、かつ基板1の歪み及び裏面転写による不良をさらに少なくすることができる。   Further, when the substrate 1 is mounted on the chuck 10, the substrate 1 is adsorbed by the adsorption hole 13 with the first adsorption force, and when the substrate 1 is exposed, the second adsorption force is weaker than the first adsorption force by the adsorption hole 13. By adsorbing the substrate 1, the air between the substrate 1 and the chuck 10 can be efficiently discharged through the adsorption holes 13, and the occurrence of backside transfer can be suppressed. The substrate 1 can be mounted more rapidly, and defects due to distortion and back surface transfer of the substrate 1 can be further reduced.

さらに、チャック10の基板保持面に非真空区画10dを設け、吸着孔13を真空区画10a、10b、10cに設け、空気孔14を非真空区画10dに設けることにより、基板1とチャック10との間の空気をさらに効率良く排出することができるので、基板1のチャック10への搭載をさらに迅速に行うことができ、かつ基板1の歪みによる不良をさらに少なくすることができる。   Further, the non-vacuum section 10d is provided on the substrate holding surface of the chuck 10, the suction holes 13 are provided in the vacuum sections 10a, 10b, and 10c, and the air holes 14 are provided in the non-vacuum section 10d. Since the air can be discharged more efficiently, the substrate 1 can be mounted on the chuck 10 more quickly, and defects due to distortion of the substrate 1 can be further reduced.

本発明の露光装置又は露光方法を用いて基板の露光を行うことにより、基板のチャックへの搭載に要する時間を短縮し、かつ基板の歪み及び裏面転写による不良を少なくすることができる。従って、表示用パネル基板を短いタクトタイムで歩留まり良く製造することができる。   By exposing the substrate using the exposure apparatus or exposure method of the present invention, the time required for mounting the substrate on the chuck can be shortened, and defects due to substrate distortion and backside transfer can be reduced. Therefore, the display panel substrate can be manufactured with a short tact time and a high yield.

例えば、図8は、液晶ディスプレイ装置のTFT基板の製造工程の一例を示すフローチャートである。薄膜形成工程(ステップ101)では、スパッタ法やプラズマ化学気相成長(CVD)法等により、ガラス基板上に液晶駆動用の透明電極となる導電体膜や絶縁体膜等の薄膜を形成する。レジスト塗布工程(ステップ102)では、ロール塗布法等により感光樹脂材料(フォトレジスト)を塗布して、薄膜形成工程(ステップ101)で形成した薄膜上にフォトレジスト膜を形成する。露光工程(ステップ103)では、プロキシミティ露光装置や投影露光装置等を用いて、マスクのパターンをフォトレジスト膜に転写する。現像工程(ステップ104)では、シャワー現像法等により現像液をフォトレジスト膜上に供給して、フォトレジスト膜の不要部分を除去する。エッチング工程(ステップ105)では、ウエットエッチングにより、薄膜形成工程(ステップ101)で形成した薄膜の内、フォトレジスト膜でマスクされていない部分を除去する。剥離工程(ステップ106)では、エッチング工程(ステップ105)でのマスクの役目を終えたフォトレジスト膜を、剥離液によって剥離する。これらの各工程の前又は後には、必要に応じて、基板の洗浄/乾燥工程が実施される。これらの工程を数回繰り返して、ガラス基板上にTFTアレイが形成される。   For example, FIG. 8 is a flowchart showing an example of the manufacturing process of the TFT substrate of the liquid crystal display device. In the thin film formation step (step 101), a thin film such as a conductor film or an insulator film, which becomes a transparent electrode for driving liquid crystal, is formed on a glass substrate by sputtering, plasma chemical vapor deposition (CVD), or the like. In the resist coating process (step 102), a photosensitive resin material (photoresist) is applied by a roll coating method or the like to form a photoresist film on the thin film formed in the thin film forming process (step 101). In the exposure step (step 103), the mask pattern is transferred to the photoresist film using a proximity exposure apparatus, a projection exposure apparatus, or the like. In the development step (step 104), a developer is supplied onto the photoresist film by a shower development method or the like to remove unnecessary portions of the photoresist film. In the etching process (step 105), a portion of the thin film formed in the thin film formation process (step 101) that is not masked by the photoresist film is removed by wet etching. In the stripping step (step 106), the photoresist film that has finished the role of the mask in the etching step (step 105) is stripped with a stripping solution. Before or after each of these steps, a substrate cleaning / drying step is performed as necessary. These steps are repeated several times to form a TFT array on the glass substrate.

また、図9は、液晶ディスプレイ装置のカラーフィルタ基板の製造工程の一例を示すフローチャートである。ブラックマトリクス形成工程(ステップ201)では、レジスト塗布、露光、現像、エッチング、剥離等の処理により、ガラス基板上にブラックマトリクスを形成する。着色パターン形成工程(ステップ202)では、染色法、顔料分散法、印刷法、電着法等により、ガラス基板上に着色パターンを形成する。この工程を、R、G、Bの着色パターンについて繰り返す。保護膜形成工程(ステップ203)では、着色パターンの上に保護膜を形成し、透明電極膜形成工程(ステップ204)では、保護膜の上に透明電極膜を形成する。これらの各工程の前、途中又は後には、必要に応じて、基板の洗浄/乾燥工程が実施される。   FIG. 9 is a flowchart showing an example of the manufacturing process of the color filter substrate of the liquid crystal display device. In the black matrix forming step (step 201), a black matrix is formed on the glass substrate by processes such as resist coating, exposure, development, etching, and peeling. In the colored pattern forming step (step 202), a colored pattern is formed on the glass substrate by a dyeing method, a pigment dispersion method, a printing method, an electrodeposition method, or the like. This process is repeated for the R, G, and B coloring patterns. In the protective film forming step (step 203), a protective film is formed on the colored pattern, and in the transparent electrode film forming step (step 204), a transparent electrode film is formed on the protective film. Before, during or after each of these steps, a substrate cleaning / drying step is performed as necessary.

図8に示したTFT基板の製造工程では、露光工程(ステップ103)において、図9に示したカラーフィルタ基板の製造工程では、ブラックマトリクス形成工程(ステップ201)及び着色パターン形成工程(ステップ202)の露光処理において、本発明の露光装置又は露光方法を適用することができる。   In the TFT substrate manufacturing process shown in FIG. 8, in the exposure process (step 103), in the color filter substrate manufacturing process shown in FIG. 9, in the black matrix forming process (step 201) and the colored pattern forming process (step 202). In this exposure process, the exposure apparatus or the exposure method of the present invention can be applied.

本発明の一実施の形態による露光装置の概略構成を示す図である。1 is a diagram showing a schematic configuration of an exposure apparatus according to an embodiment of the present invention. 本発明の一実施の形態による露光装置のチャックの上面図である。It is a top view of the chuck | zipper of the exposure apparatus by one Embodiment of this invention. 図2に示したチャックの真空区画及び非真空区画を説明する図である。It is a figure explaining the vacuum division and non-vacuum division of the chuck | zipper shown in FIG. 図2に示したチャックに基板を搭載した状態を示す図である。It is a figure which shows the state which mounted the board | substrate in the chuck | zipper shown in FIG. 図2に示したチャックに基板を搭載した状態を示す図である。It is a figure which shows the state which mounted the board | substrate in the chuck | zipper shown in FIG. 図6(a)は図2のA−A部の一部の断面図、図6(b)は同B−B部の一部の断面図である。6A is a partial cross-sectional view of the AA portion in FIG. 2, and FIG. 6B is a partial cross-sectional view of the BB portion. 図2のC−C部の断面と空気圧回路の構成を示す図である。It is a figure which shows the cross section of CC section of FIG. 2, and the structure of a pneumatic circuit. 液晶ディスプレイ装置のTFT基板の製造工程の一例を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows an example of the manufacturing process of the TFT substrate of a liquid crystal display device. 液晶ディスプレイ装置のカラーフィルタ基板の製造工程の一例を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows an example of the manufacturing process of the color filter board | substrate of a liquid crystal display device.

符号の説明Explanation of symbols

1 基板
2 マスク
3 ベース
4 Xガイド
5 Xステージ
6 Yガイド
7 Yステージ
8 θステージ
9 Z−チルト機構
10 チャック
10a,10b,10c 真空区画
10d 非真空区画
11 凸部
12 土手
13 吸着孔
14 空気孔
15 空気通路
16 突き上げピン
20 マスクホルダ
30a,30b 管継手
40a,40b 配管
41a,41b,42a,42b 電磁弁
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Substrate 2 Mask 3 Base 4 X guide 5 X stage 6 Y guide 7 Y stage 8 θ stage 9 Z-tilt mechanism 10 Chuck 10a, 10b, 10c Vacuum section 10d Non-vacuum section 11 Convex part 12 Bank 13 Adsorption hole 14 Air hole 15 Air passage 16 Push-up pin 20 Mask holder 30a, 30b Pipe joint 40a, 40b Piping 41a, 41b, 42a, 42b Solenoid valve

Claims (8)

光が透過する基板を保持するチャックを備えた露光装置であって、
前記チャックは、基板保持面に、基板への裏面転写が問題とならない直径4mm以下の大きさであって、基板をチャックへ搭載する際に基板とチャックとの間の空気をチャックの裏面へ排出する複数の空気孔と、基板を支持する複数の凸部と、該凸部以外の部分と基板との空間を複数の真空区画に分ける土手と、各真空区画に配置された基板を真空吸着する複数の吸着手段とを有し、
基板を前記チャックへ搭載する際、各吸着手段に第1の吸着力を発生させ、基板の露光時、各吸着手段に前記第1の吸着力より弱い第2の吸着力を発生させる吸着力発生手段を備えたことを特徴とする露光装置。
An exposure apparatus having a chuck for holding a substrate through which light is transmitted ,
The chuck has a diameter of 4 mm or less on the substrate holding surface where transfer of the back surface to the substrate is not a problem. When the substrate is mounted on the chuck, air between the substrate and the chuck is discharged to the back surface of the chuck. A plurality of air holes , a plurality of protrusions that support the substrate, a bank that divides the space between the portion other than the protrusions and the substrate into a plurality of vacuum compartments, and a substrate disposed in each vacuum compartment is vacuum-adsorbed A plurality of adsorption means,
When the substrate is mounted on the chuck, a first suction force is generated in each suction means, and a suction force generation that causes each suction means to generate a second suction force that is weaker than the first suction force when the substrate is exposed. exposure apparatus comprising the means.
前記チャックは、裏面に、前記空気孔へ通じる前記空気孔より広い空気通路を有することを特徴とする請求項1に記載の露光装置。   The exposure apparatus according to claim 1, wherein the chuck has an air passage wider on the back surface than the air hole communicating with the air hole. 前記チャックは、基板保持面に非真空区画を有し、前記複数の空気孔を当該非真空区画に有することを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の露光装置。 The chuck has a non-vacuum section on the substrate holding surface, the exposure apparatus according to the plurality of air holes to claim 1 or claim 2 characterized in that it has on the non-vacuum zone. 光が透過するチャックに保持された基板を露光する露光方法であって、
チャックの基板保持面に、基板への裏面転写が問題とならない直径4mm以下の大きさの複数の空気孔と、基板を支持する複数の凸部と、凸部以外の部分と基板との空間を複数の真空区画に分ける土手と、各真空区画に配置された基板を真空吸着する複数の吸着手段とを設け、
板をチャックへ搭載する際に、基板とチャックとの間の空気を空気孔を介してチャックの裏面へ排出しながら、各吸着手段により第1の吸着力で基板を吸着し、
基板の露光時、各吸着手段により第1の吸着力より弱い第2の吸着力で基板を吸着することを特徴とする露光方法。
An exposure method for exposing a substrate held by a chuck through which light passes ,
On the substrate holding surface of the chuck, there are a plurality of air holes with a diameter of 4 mm or less, a plurality of convex portions that support the substrate, and a space between the substrate and the portion other than the convex portions so that the back surface transfer to the substrate is not a problem. A bank that divides into a plurality of vacuum compartments, and a plurality of suction means for vacuum-sucking the substrate disposed in each vacuum compartment ,
When mounting the base plate to the chuck, the air between the substrate and the chuck while discharging to the rear surface of the chuck through the air hole, to adsorb the substrate at a first suction force by the suction means,
An exposure method comprising: adsorbing a substrate with a second suction force that is weaker than the first suction force by each suction means during exposure of the substrate .
チャックの裏面に、チャックの基板保持面に設けた空気孔へ通じる空気孔より広い空気通路を設けることを特徴とする請求項4に記載の露光方法。 5. The exposure method according to claim 4 , wherein an air passage wider than an air hole communicating with an air hole provided on a substrate holding surface of the chuck is provided on the back surface of the chuck. チャックの基板保持面に非真空区画を設け、複数の空気孔を当該非真空区画に設けることを特徴とする請求項4又は請求項5に記載の露光方法。 6. The exposure method according to claim 4 , wherein a non-vacuum section is provided on the substrate holding surface of the chuck, and a plurality of air holes are provided in the non-vacuum section. 請求項1乃至請求項3のいずれか一項に記載の露光装置を用いて基板の露光を行うことを特徴とする表示用パネル基板の製造方法。 A method for manufacturing a display panel substrate, wherein the substrate is exposed using the exposure apparatus according to any one of claims 1 to 3 . 請求項4乃至請求項6のいずれか一項に記載の露光方法を用いて基板の露光を行うことを特徴とする表示用パネル基板の製造方法。 A method for manufacturing a display panel substrate, wherein the substrate is exposed using the exposure method according to any one of claims 4 to 6 .
JP2005374290A 2005-12-27 2005-12-27 Exposure apparatus, exposure method, and manufacturing method of display panel substrate Active JP4799172B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005374290A JP4799172B2 (en) 2005-12-27 2005-12-27 Exposure apparatus, exposure method, and manufacturing method of display panel substrate

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005374290A JP4799172B2 (en) 2005-12-27 2005-12-27 Exposure apparatus, exposure method, and manufacturing method of display panel substrate

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2007180125A JP2007180125A (en) 2007-07-12
JP4799172B2 true JP4799172B2 (en) 2011-10-26

Family

ID=38305048

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2005374290A Active JP4799172B2 (en) 2005-12-27 2005-12-27 Exposure apparatus, exposure method, and manufacturing method of display panel substrate

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4799172B2 (en)

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009212344A (en) * 2008-03-05 2009-09-17 Nsk Ltd Work chuck, aligner, and process for producing flat panel
JP2009212345A (en) * 2008-03-05 2009-09-17 Nsk Ltd Work chuck, aligner, and process for producing flat panel
JP5219599B2 (en) * 2008-04-14 2013-06-26 株式会社日立ハイテクノロジーズ Proximity exposure apparatus, substrate adsorption method for proximity exposure apparatus, and display panel substrate manufacturing method
JP5133271B2 (en) * 2009-01-08 2013-01-30 株式会社日立ハイテクノロジーズ Proximity exposure apparatus, substrate support method for proximity exposure apparatus, and display panel substrate manufacturing method
JP2011093081A (en) * 2009-10-30 2011-05-12 Sun Yueh Way Suction apparatus
JP5371859B2 (en) * 2010-03-30 2013-12-18 株式会社日立ハイテクノロジーズ Proximity exposure apparatus, substrate support method for proximity exposure apparatus, and display panel substrate manufacturing method
JP2012038874A (en) * 2010-08-06 2012-02-23 Hitachi High-Technologies Corp Liquid crystal exposure apparatus
FR2974943A1 (en) * 2011-05-03 2012-11-09 S E T COMPONENT SUPPORT BY AIR LOW PRESSURE AND MACHINE FOR THE ASSEMBLY OF CORRESPONDING COMPONENTS
WO2018224218A1 (en) * 2017-06-06 2018-12-13 Asml Netherlands B.V. Method of unloading an object from a support table

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0414848A (en) * 1990-05-09 1992-01-20 Shibayama Kikai Kk Semiconductor wafer chuck for ic manufacturing process
JPH0774234A (en) * 1993-06-28 1995-03-17 Tokyo Electron Ltd Electrode structure of electrostatic chuck, its assembly method, its assembly jig and treatment apparatus
JPH0722496A (en) * 1993-06-29 1995-01-24 Nikon Corp Device for sucking and holding substrate
JPH088173A (en) * 1994-06-16 1996-01-12 Nikon Corp Exposure system
JP2002057209A (en) * 2000-06-01 2002-02-22 Tokyo Electron Ltd Single-wafer processing apparatus and single-wafer processing method
JP3960429B2 (en) * 2003-06-27 2007-08-15 日本精工株式会社 Work chuck

Also Published As

Publication number Publication date
JP2007180125A (en) 2007-07-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5219599B2 (en) Proximity exposure apparatus, substrate adsorption method for proximity exposure apparatus, and display panel substrate manufacturing method
JP2010128079A (en) Proximity exposing apparatus, method of supporting the substrate of the same, and manufacturing method of display panel substrate
US20080068580A1 (en) Substrate-retaining unit
JP4799172B2 (en) Exposure apparatus, exposure method, and manufacturing method of display panel substrate
JP4579004B2 (en) Exposure apparatus, exposure method, and manufacturing method of display panel substrate
JP5334536B2 (en) Proximity exposure apparatus, mask transfer method for proximity exposure apparatus, and method for manufacturing display panel substrate
JP2010093265A (en) Unit for supplying treatment liquid, and apparatus and method for treating substrate using the unit
JP5334675B2 (en) Proximity exposure apparatus, method for preventing mask misalignment of proximity exposure apparatus, and method for manufacturing display panel substrate
JP4812422B2 (en) Exposure apparatus, exposure method, and manufacturing method of display panel substrate
JP5142818B2 (en) Proximity exposure apparatus, method for adjusting chuck height of proximity exposure apparatus, and method for manufacturing display panel substrate
JP5052438B2 (en) Proximity exposure apparatus, substrate transfer method for proximity exposure apparatus, and display panel substrate manufacturing method
JP5392946B2 (en) Proximity exposure apparatus, mask transfer method for proximity exposure apparatus, and method for manufacturing display panel substrate
JP2013205709A (en) Exposure device
JP5320551B2 (en) Proximity exposure apparatus, substrate positioning method for proximity exposure apparatus, and display panel substrate manufacturing method
JP5334674B2 (en) Proximity exposure apparatus, mask mounting method for proximity exposure apparatus, and display panel substrate manufacturing method
KR100904694B1 (en) Apparatus and Method for manufacturing a Master Roll, and Method for forming a Display Device using the same
JP2009036925A (en) Exposure device, exposure method, and manufacturing method of display panel substrate
JP5371859B2 (en) Proximity exposure apparatus, substrate support method for proximity exposure apparatus, and display panel substrate manufacturing method
JP5320552B2 (en) Proximity exposure apparatus, mask holding method of proximity exposure apparatus, and display panel substrate manufacturing method
JP5878821B2 (en) Pattern forming device
JP5977044B2 (en) Printing apparatus and printing method
JP2005332910A (en) Substrate chuck, and method of manufacturing display panel substrate
JP2010176079A (en) Proximity exposure apparatus, method for protecting mask in proximity exposure apparatus, and method for manufacturing display panel substrate
JP5133271B2 (en) Proximity exposure apparatus, substrate support method for proximity exposure apparatus, and display panel substrate manufacturing method
JP2008191352A (en) Exposure device and method of exchanging top plate of negative pressure chamber in exposure device

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20080307

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20100405

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110125

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20110325

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20110802

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20110802

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140812

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4799172

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250