JP4686589B2 - Level shift circuit - Google Patents
Level shift circuit Download PDFInfo
- Publication number
- JP4686589B2 JP4686589B2 JP2008293185A JP2008293185A JP4686589B2 JP 4686589 B2 JP4686589 B2 JP 4686589B2 JP 2008293185 A JP2008293185 A JP 2008293185A JP 2008293185 A JP2008293185 A JP 2008293185A JP 4686589 B2 JP4686589 B2 JP 4686589B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- level shift
- circuit
- source
- gate
- resistor
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 101150090280 MOS1 gene Proteins 0.000 description 24
- 101100401568 Saccharomyces cerevisiae (strain ATCC 204508 / S288c) MIC10 gene Proteins 0.000 description 24
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 13
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 11
- 101100286980 Daucus carota INV2 gene Proteins 0.000 description 7
- 102100030393 G-patch domain and KOW motifs-containing protein Human genes 0.000 description 7
- 101100397045 Xenopus laevis invs-b gene Proteins 0.000 description 7
- 229910052982 molybdenum disulfide Inorganic materials 0.000 description 7
- 101100102849 Saccharomyces cerevisiae (strain ATCC 204508 / S288c) VTH1 gene Proteins 0.000 description 6
- 101100478187 Arabidopsis thaliana MOS4 gene Proteins 0.000 description 4
- 101100461812 Arabidopsis thaliana NUP96 gene Proteins 0.000 description 3
- 101100262446 Arabidopsis thaliana UBA1 gene Proteins 0.000 description 3
- 230000008054 signal transmission Effects 0.000 description 3
- 101100508840 Daucus carota INV3 gene Proteins 0.000 description 2
- 230000003071 parasitic effect Effects 0.000 description 2
- 101001051799 Aedes aegypti Molybdenum cofactor sulfurase 3 Proteins 0.000 description 1
- 101150070189 CIN3 gene Proteins 0.000 description 1
- 101150110971 CIN7 gene Proteins 0.000 description 1
- 101150110298 INV1 gene Proteins 0.000 description 1
- 101150088150 VTH2 gene Proteins 0.000 description 1
- 101100397044 Xenopus laevis invs-a gene Proteins 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K19/00—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
- H03K19/0175—Coupling arrangements; Interface arrangements
- H03K19/0185—Coupling arrangements; Interface arrangements using field effect transistors only
- H03K19/018507—Interface arrangements
- H03K19/018521—Interface arrangements of complementary type, e.g. CMOS
- H03K19/018528—Interface arrangements of complementary type, e.g. CMOS with at least one differential stage
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K19/00—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
- H03K19/0008—Arrangements for reducing power consumption
- H03K19/0013—Arrangements for reducing power consumption in field effect transistor circuits
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K19/00—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
- H03K19/003—Modifications for increasing the reliability for protection
- H03K19/00369—Modifications for compensating variations of temperature, supply voltage or other physical parameters
- H03K19/00384—Modifications for compensating variations of temperature, supply voltage or other physical parameters in field effect transistor circuits
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K3/00—Circuits for generating electric pulses; Monostable, bistable or multistable circuits
- H03K3/02—Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses
- H03K3/353—Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses by the use, as active elements, of field-effect transistors with internal or external positive feedback
- H03K3/356—Bistable circuits
- H03K3/356104—Bistable circuits using complementary field-effect transistors
- H03K3/356113—Bistable circuits using complementary field-effect transistors using additional transistors in the input circuit
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Computing Systems (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Logic Circuits (AREA)
- Power Conversion In General (AREA)
- Inverter Devices (AREA)
- Electronic Switches (AREA)
Description
本発明は、入力信号のレベルをシフトするレベルシフト回路に関するものである。 The present invention relates to a level shift circuit that shifts the level of an input signal.
インバータ装置において、ハーフブリッジ回路、フルブリッジ回路、三相ブリッジ回路などが用いられる。これらの回路は、入力信号のレベルをシフトするレベルシフト回路を備えている(例えば、特許文献1参照)。 In the inverter device, a half bridge circuit, a full bridge circuit, a three-phase bridge circuit, or the like is used. These circuits include a level shift circuit that shifts the level of an input signal (see, for example, Patent Document 1).
特許文献1の図1に記載されたレベルシフト回路において、MOSトランジスタQ1,Q2のソース側に設けられた定電流源CC1,CC2は常に動作状態にある。このため、入力信号がハイ又はローを維持している待機時にも、MOSトランジスタQ1,Q2の一方のドレイン電流が流れる。ここで、高速動作時のRC時定数を減らすために抵抗R1,R2の抵抗値を10kΩより小さくしているので、定電流源CC1,CC2の電流値は1mAより大きい。従って、特許文献1の回路では、常に1mA以上の回路電流を消耗している。 In the level shift circuit described in FIG. 1 of Patent Document 1, the constant current sources CC1 and CC2 provided on the source side of the MOS transistors Q1 and Q2 are always in an operating state. For this reason, one drain current of the MOS transistors Q1 and Q2 flows even during standby when the input signal is maintained high or low. Here, since the resistance values of the resistors R1 and R2 are made smaller than 10 kΩ in order to reduce the RC time constant during high-speed operation, the current values of the constant current sources CC1 and CC2 are larger than 1 mA. Therefore, the circuit of Patent Document 1 always consumes a circuit current of 1 mA or more.
また、レベルシフト回路では、信号伝達に必要な電源電圧を低減することが求められている。さらに、従来のレベルシフト回路では、電源電圧が揺れて低下すると、正確に信号を伝達することができない場合があった。 In the level shift circuit, it is required to reduce the power supply voltage necessary for signal transmission. Further, in the conventional level shift circuit, when the power supply voltage fluctuates and drops, it may not be possible to accurately transmit a signal.
本発明は、上述のような課題を解決するためになされたもので、その目的は、消費電流を低減することができ、信号伝達に必要な電源電圧を低減することができ、電源電圧が揺れても正確に信号を伝達することができるレベルシフト回路を得るものである。 The present invention has been made in order to solve the above-described problems, and its purpose is to reduce current consumption, reduce power supply voltage necessary for signal transmission, and swing power supply voltage. Even so, a level shift circuit capable of accurately transmitting a signal is obtained.
本発明は、入力信号を反転して出力するインバータ回路と、前記インバータ回路の出力信号をゲート信号として動作するレベルシフト素子と、一端が前記インバータ回路の出力に接続された第1の抵抗と、前記第1の抵抗を介して前記インバータ回路の出力から入力した電流に対応する電流を前記レベルシフト素子のソースから接地点に流すカレントミラー回路とを備えることを特徴とするレベルシフト回路である。 The present invention includes an inverter circuit that inverts and outputs an input signal, a level shift element that operates using the output signal of the inverter circuit as a gate signal, a first resistor having one end connected to the output of the inverter circuit, A level shift circuit comprising: a current mirror circuit configured to flow a current corresponding to a current input from an output of the inverter circuit through the first resistor from a source of the level shift element to a ground point.
本発明により、消費電流を低減することができ、信号伝達に必要な電源電圧を低減することができ、電源電圧が揺れても正確に信号を伝達することができる。 According to the present invention, current consumption can be reduced, a power supply voltage necessary for signal transmission can be reduced, and a signal can be accurately transmitted even if the power supply voltage fluctuates.
実施の形態1.
[ハーフブリッジ回路]
図1は、本発明の実施の形態に係るハーフブリッジ回路を示す図である。マイコンやCPUなどの制御回路10からの指示に応じて、ハイ側ドライバ12とロー側ドライバ14は、それぞれIGBT16,18をON/OFFする。IGBT16のコレクタは電源20に接続され、エミッタはモーターやランプなどの負荷22に接続されている。IGBT18のコレクタは負荷22に接続され、エミッタは接地されている。
Embodiment 1 FIG.
[Half bridge circuit]
FIG. 1 is a diagram showing a half-bridge circuit according to an embodiment of the present invention. In response to an instruction from the
ハイ側ドライバ12について更に詳細に説明する。制御回路10から入力端子INHを介して入力された入力信号は、抵抗24とシュミット回路26を介してワンショットパルス回路28に入力される。ダイオード30のアノードは接地され、カソードは入力端子INHに接続されている。抵抗32は入力端子INHと接地点との間に接続されている。ダイオード34のアノードはシュミット回路26の入力に接続され、カソードは電源に接続されている。
The
ワンショットパルス回路28は、入力信号の立ち上がり時にワンショットONパルスを出力し、入力信号の立ち下がり時にワンショットOFFパルスを出力する。レベルシフト回路36,38は、それぞれワンショットONパルスとワンショットOFFパルスのレベルをシフトする。このレベルシフト回路36,38の構成については後に詳細に説明する。レベルシフト回路36,38の出力と電源VBの間にそれぞれ抵抗40,42が接続されている。ダイオード44,46のアノードは電源VSに接続され、ダイオード44,46のカソードはそれぞれレベルシフト回路36,38の出力に接続されている。
The one-
レベルシフト回路36,38の出力信号は、それぞれインバータ48,50を介してRS型フリップフロップ回路52のセット端子Sとリセット端子Rに入力される。RS型フリップフロップ回路52の出力信号は、インバータ54,56を介して、それぞれPMOSトランジスタ58のゲートとNMOSトランジスタ60のゲートに入力される。PMOSトランジスタ58のソースは電源VBに接続され、NMOSトランジスタ60のソースは電源VSに接続され、PMOSトランジスタ58のドレイン及びNMOSトランジスタ60のドレインは出力端子OUTHを介してIGBT16のゲートに接続されている。
The output signals of the
図2は、図1の回路の動作を示すタイミングチャートである。ワンショットパルス回路28は、入力端子INHから入力された入力信号の立ち上がり時にワンショットONパルスを出力し、入力信号の立ち下がり時にワンショットOFFパルスを出力する。この結果、出力端子OUTHから出力される出力信号は、入力信号INのハイ/ロー変化に応じて、ON/OFFが変わる。
FIG. 2 is a timing chart showing the operation of the circuit of FIG. The one-
[レベルシフト回路]
図3は、本発明の実施の形態1に係るレベルシフト回路を示す図である。このレベルシフト回路は、図1のハーフブリッジ回路におけるレベルシフト回路36,38に対応する。
[Level shift circuit]
FIG. 3 is a diagram showing the level shift circuit according to the first embodiment of the present invention. This level shift circuit corresponds to the
インバータ回路INV1は入力端子INから入力した入力信号を反転し、それをインバータ回路INV2が反転して出力する。NMOSトランジスタであるレベルシフト素子MOS1は、インバータ回路INV2の出力信号をゲート信号として動作する。第1の抵抗R1の一端がインバータ回路INV2の出力に接続されている。カレントミラー回路CM1は、第1の抵抗R1を介してインバータ回路INV2の出力から入力した電流ICに対応する電流IDをレベルシフト素子MOS1のソースから接地点に流す。 The inverter circuit INV1 inverts the input signal input from the input terminal IN, and the inverter circuit INV2 inverts and outputs it. The level shift element MOS1, which is an NMOS transistor, operates using the output signal of the inverter circuit INV2 as a gate signal. One end of the first resistor R1 is connected to the output of the inverter circuit INV2. The current mirror circuit CM1 causes the current ID corresponding to the current IC input from the output of the inverter circuit INV2 to flow from the source of the level shift element MOS1 to the ground point via the first resistor R1.
レベルシフト素子MOS1のドレインは、抵抗R2を介して電源VBに接続され、かつインバータ回路INV3,INV4,INV5を介して出力端子OUTに接続されている。ダイオードD1のアノードは電源VSに接続され、カソードはレベルシフト素子MOS1のドレインに接続されている。レベルシフト素子MOS1の閾値電圧はVTH1であり、インバータINV3の閾値電圧はVTH2である。 The drain of the level shift element MOS1 is connected to the power supply VB through the resistor R2, and is connected to the output terminal OUT through the inverter circuits INV3, INV4, and INV5. The anode of the diode D1 is connected to the power supply VS, and the cathode is connected to the drain of the level shift element MOS1. The threshold voltage of the level shift element MOS1 is VTH1, and the threshold voltage of the inverter INV3 is VTH2.
インバータ回路INV2は、PMOSトランジスタMOS2とNMOSトランジスタMOS3を有する。PMOSトランジスタMOS2は、ゲートから入力信号を入力し、ソースが電源VCCに接続され、ドレインがレベルシフト素子MOS1のゲートに接続されている。NMOSトランジスタMOS3は、ゲートから入力信号を入力し、ソースが接地され、ドレインがレベルシフト素子MOS1のゲートに接続されている。 The inverter circuit INV2 includes a PMOS transistor MOS2 and an NMOS transistor MOS3. The PMOS transistor MOS2 receives an input signal from the gate, the source is connected to the power supply VCC, and the drain is connected to the gate of the level shift element MOS1. The NMOS transistor MOS3 receives an input signal from the gate, the source is grounded, and the drain is connected to the gate of the level shift element MOS1.
カレントミラー回路CM1は、第1のバイポーラトランジスタTr1と第2のバイポーラトランジスタTr2とを有する。第1のバイポーラトランジスタTr1は、ベース及びコレクタが第1の抵抗R1の他端に接続され、エミッタが接地されている。第2のバイポーラトランジスタTr2は、ベースが第1のバイポーラトランジスタTr1のベースに接続され、コレクタがレベルシフト素子MOS1のソースに接続され、エミッタが接地されている。即ち、実施の形態1のカレントミラー回路CM1は、ワイドラー型カレントミラーである。 The current mirror circuit CM1 includes a first bipolar transistor Tr1 and a second bipolar transistor Tr2. The first bipolar transistor Tr1 has a base and a collector connected to the other end of the first resistor R1, and an emitter grounded. The second bipolar transistor Tr2 has a base connected to the base of the first bipolar transistor Tr1, a collector connected to the source of the level shift element MOS1, and an emitter grounded. That is, the current mirror circuit CM1 according to the first embodiment is a wideler type current mirror.
[効果1]
実施の形態1に係るレベルシフト回路の効果について、参考例と比較しながら説明する。図4は、参考例に係るレベルシフト回路を示す図である。図3の回路とは異なり、第1の抵抗R1の代わりに、PMOSトランジスタMOS2のドレインとレベルシフト素子MOS1のゲートとの間に抵抗R1´が接続されている。また、第1のバイポーラトランジスタTr1は、コレクタが抵抗R1´の他端に接続され、エミッタが接地されている。第2のバイポーラトランジスタTr2は、ベース及びコレクタが第1のバイポーラトランジスタTr1のベースとレベルシフト素子MOS1のソースに接続され、エミッタが接地されている。即ち、参考例のカレントミラー回路CM2は、ウィルソンカレントミラー回路である。
[Effect 1]
The effect of the level shift circuit according to the first embodiment will be described in comparison with a reference example. FIG. 4 is a diagram illustrating a level shift circuit according to a reference example. Unlike the circuit of FIG. 3, instead of the first resistor R1, a resistor R1 ′ is connected between the drain of the PMOS transistor MOS2 and the gate of the level shift element MOS1. The first bipolar transistor Tr1 has a collector connected to the other end of the resistor R1 ′ and an emitter grounded. The second bipolar transistor Tr2 has a base and a collector connected to the base of the first bipolar transistor Tr1 and the source of the level shift element MOS1, and an emitter grounded. That is, the current mirror circuit CM2 of the reference example is a Wilson current mirror circuit.
図5は、実施の形態1の回路の動作を示すタイミングチャートであり、図6は、参考例の回路の動作を示すタイミングチャートである。また、図7は、実施の形態1及び参考例の回路の電源電圧依存性を示す図である。例えばVTH1>1V、VBE=0.7V、VDS<1Vである。なお、電流IDが大きくなるほど閾値電圧VTH1が上昇する。 FIG. 5 is a timing chart showing the operation of the circuit of the first embodiment, and FIG. 6 is a timing chart showing the operation of the circuit of the reference example. FIG. 7 is a diagram illustrating the power supply voltage dependency of the circuits of the first embodiment and the reference example. For example, VTH1> 1V, VBE = 0.7V, and VDS <1V. Note that the threshold voltage VTH1 increases as the current ID increases.
カレントミラー回路CM1,CM2が動作するためには、実施の形態1では条件VCC>VBE+VDSを満たす必要があり、参考例では条件VCC>VTH1+VBE+VDSを満たす必要がある。従って、実施の形態1は、参考例に比べて、信号を伝達するために必要な電源電圧VCC(許容電圧)を低減することができる。 In order for the current mirror circuits CM1 and CM2 to operate, the condition VCC> VBE + VDS needs to be satisfied in the first embodiment, and the condition VCC> VTH1 + VBE + VDS needs to be satisfied in the reference example. Therefore, the first embodiment can reduce the power supply voltage VCC (allowable voltage) necessary for transmitting a signal as compared with the reference example.
[効果2]
参考例では、ID=(VCC−(VTH1+VBE+VDS))/R3となる。一方、実施の形態1では、ID=(VCC−(VBE+VDS))/R1となる。即ち、実施の形態1では電流IDは閾値電圧VTH1に依存しない。従って、同じ大きさの電流IDを得る場合に、実施の形態1の抵抗R1の抵抗値を参考例の抵抗R1´の抵抗値よりも大きくすることができる。このため、実施の形態1は、電源電圧VCCの揺れ(電源電圧低下)に対して、電流IDの変動を小さくすることができる。
[Effect 2]
In the reference example, ID = (VCC− (VTH1 + VBE + VDS)) / R3. On the other hand, in the first embodiment, ID = (VCC− (VBE + VDS)) / R1. That is, in Embodiment 1, the current ID does not depend on the threshold voltage VTH1. Therefore, when obtaining the same current ID, the resistance value of the resistor R1 of the first embodiment can be made larger than the resistance value of the resistor R1 ′ of the reference example. Therefore, the first embodiment can reduce the fluctuation of the current ID with respect to the fluctuation of the power supply voltage VCC (power supply voltage drop).
参考例では、電源電圧VCCの揺れに対する電流IDの変動が大きいため、条件ID*R2>VBS−VTH2を満たさなくなり、レベルシフト回路が正常動作せず、信号を伝達できない場合がある。これに対し、実施の形態1は、電源電圧VCCの揺れに対する電流IDの変動が小さいため、電源電圧が揺れても正確に信号を伝達することができる。 In the reference example, since the variation of the current ID with respect to the fluctuation of the power supply voltage VCC is large, the condition ID * R2> VBS−VTH2 may not be satisfied, the level shift circuit may not operate normally, and the signal may not be transmitted. On the other hand, in the first embodiment, since the fluctuation of the current ID with respect to the fluctuation of the power supply voltage VCC is small, the signal can be accurately transmitted even if the power supply voltage fluctuates.
表1は、電源電圧VCCが変動した場合のIC,IDのバラツキΔIC,ΔIDを計算した結果である。ここで、カレントミラー回路CM1,CM2のバイポーラバイポーラトランジスタTr1,Tr2の電流倍増係数は十分に大きいとした。また、バイポーラトランジスタTr1,Tr2のベース電流の影響が無視できる程小さく、ID=IC×2とした。また、標準時(VCC=15V)における両者の電流IC,IDが同じであるとした。この計算結果から、バラツキΔIC,ΔIDは、実施の形態1の方が参考例より小さくなることが確認された。
[効果3]
実施の形態1のレベルシフト回路では、入力信号に合わせて、レベルシフト素子MOS1とカレントミラー回路CM1を同時にON/OFFさせている。従って、入力信号がローの場合は、レベルシフト素子MOS1とカレントミラー回路CM1がOFF状態となり、VCC−GND間及びVB−GND間の回路電流はほとんど消費されない。従って、実施の形態1は、消費電流を低減することができる。カレントミラー比によって効果は若干異なるが、ID=IC×2の場合、実施の形態1では、参考例と比べてVCC−GND間の回路電流を3mA程度、VB−GND間の回路電流を6mA程度低減することができる。
[Effect 3]
In the level shift circuit of the first embodiment, the level shift element MOS1 and the current mirror circuit CM1 are simultaneously turned ON / OFF according to the input signal. Therefore, when the input signal is low, the level shift element MOS1 and the current mirror circuit CM1 are turned off, and the circuit current between VCC-GND and between VB-GND is hardly consumed. Therefore, Embodiment 1 can reduce current consumption. Although the effect is slightly different depending on the current mirror ratio, in the case of ID = IC × 2, in the first embodiment, the circuit current between VCC and GND is about 3 mA and the circuit current between VB and GND is about 6 mA as compared with the reference example. Can be reduced.
なお、VCC−GND間の回路電流を減らすため、トランジスタTr1のコレクタ電流に対するトランジスタTr2のコレクタ電流の比(カレントミラー比)を大きくする(例えば10にする)ことも考えられる。しかし、この場合、回路面積の増大や、ベース電流の影響でカレントミラー電流値の設定が狂うなどの問題がある。実施の形態1では、このような問題は生じない。 In order to reduce the circuit current between VCC and GND, it is also conceivable to increase the ratio (current mirror ratio) of the collector current of the transistor Tr2 to the collector current of the transistor Tr1 (for example, 10). However, in this case, there are problems such as an increase in circuit area and the setting of the current mirror current value out of order due to the influence of the base current. In the first embodiment, such a problem does not occur.
実施の形態2.
図8は、本発明の実施の形態2に係るレベルシフト回路を示す図である。PMOSトランジスタMOS2のドレインとレベルシフト素子MOS1のゲートとの間に第2の抵抗R3が接続されている。第1の抵抗R1の一端は、PMOSトランジスタMOS2のドレインと第2の抵抗R3の接続点に接続されている。その他の構成は実施の形態1と同様である。
Embodiment 2. FIG.
FIG. 8 is a diagram showing a level shift circuit according to the second embodiment of the present invention. A second resistor R3 is connected between the drain of the PMOS transistor MOS2 and the gate of the level shift element MOS1. One end of the first resistor R1 is connected to a connection point between the drain of the PMOS transistor MOS2 and the second resistor R3. Other configurations are the same as those of the first embodiment.
図9は、図8の回路の動作を示すタイミングチャートである。第2の抵抗R3とレベルシフト素子MOS1の寄生容量の組み合わせ(RCフィルター効果)により、レベルシフト素子MOS1をソフトONさせる。即ち、ON動作時は、カレントミラー回路CM1をレベルシフト素子MOS1より先に立ち上げる。これにより、電流IDが緩やかに立ち上がるため、高速スイッチングに伴うトランジスタTr2のコレクタ・エミッタ間のサージ電流・電圧の発生を防ぐことができる。一方、OFF動作時は、レベルシフト素子MOS1をカレントミラー回路CM1より先に立ち下げる。 FIG. 9 is a timing chart showing the operation of the circuit of FIG. The level shift element MOS1 is softly turned on by the combination of the second resistor R3 and the parasitic capacitance of the level shift element MOS1 (RC filter effect). That is, during the ON operation, the current mirror circuit CM1 is started up before the level shift element MOS1. Thereby, since the current ID rises gently, it is possible to prevent the occurrence of surge current / voltage between the collector and emitter of the transistor Tr2 due to high-speed switching. On the other hand, during the OFF operation, the level shift element MOS1 is lowered before the current mirror circuit CM1.
実施の形態3.
図10は、本発明の実施の形態3に係るレベルシフト回路を示す図である。アノードが接地され、カソードがレベルシフト素子MOS1のソースに接続されたツェナーダイオードD2が設けられている。その他の構成は実施の形態1と同様である。
Embodiment 3 FIG.
FIG. 10 is a diagram showing a level shift circuit according to the third embodiment of the present invention. A Zener diode D2 having an anode grounded and a cathode connected to the source of the level shift element MOS1 is provided. Other configurations are the same as those of the first embodiment.
高耐圧のレベルシフト回路(VB>VCC)において、レベルシフト素子MOS1の高速スイッチング、電源VB又は電源VSの電位変動、電源VBが電源VCCより先に起動した場合などに、トランジスタTr2のコレクタ・エミッタ間に素子耐圧規格を超える程のサージが発生する場合がある。これに対し、トランジスタTr2に対してツェナーダイオードD2を並列に接続することで、コレクタ・エミッタ間のサージ電圧を吸収し、トランジスタTr2のコレクタ電位(=レベルシフト素子MOS1のソース電位)を一定電圧以下にクランプすることができる。 In the high voltage level shift circuit (VB> VCC), the collector / emitter of the transistor Tr2 when the level shift element MOS1 is switched at high speed, the potential of the power supply VB or the power supply VS is changed, or the power supply VB is started before the power supply VCC There may be a surge that exceeds the device withstand voltage standard. On the other hand, by connecting a Zener diode D2 in parallel to the transistor Tr2, the collector-emitter surge voltage is absorbed, and the collector potential of the transistor Tr2 (= source potential of the level shift element MOS1) is below a certain voltage. Can be clamped to.
実施の形態4.
図11は、本発明の実施の形態4に係るレベルシフト回路を示す図である。アノードがレベルシフト素子MOS1のソースに接続され、カソードがインバータ回路INV2の出力に接続されたダイオードD3が設けられている。その他の構成は実施の形態1と同様である。
Embodiment 4 FIG.
FIG. 11 is a diagram showing a level shift circuit according to the fourth embodiment of the present invention. A diode D3 having an anode connected to the source of the level shift element MOS1 and a cathode connected to the output of the inverter circuit INV2 is provided. Other configurations are the same as those of the first embodiment.
トランジスタTr2のコレクタ・エミッタ間に発生したサージは、ダイオードD3を通って4つの経路I1〜I4で放電される。ここで、経路I1,I2は、カレントミラー動作で放電する経路である。経路I3は、サージ電圧がVCCより大きい場合に、MOS2の寄生ダイオード(PN順方向動作)を介して放電する経路である。経路I4は、入力信号がLの場合に、MOS3をターンオンさせて放電する経路である。これにより、実施の形態3と同様の効果を得ることができる。 The surge generated between the collector and the emitter of the transistor Tr2 is discharged through the diode D3 through the four paths I1 to I4. Here, the paths I1 and I2 are paths that are discharged by the current mirror operation. The path I3 is a path that discharges through the parasitic diode (PN forward operation) of the MOS2 when the surge voltage is higher than VCC. The path I4 is a path for turning on the MOS 3 to discharge when the input signal is L. Thereby, the same effect as Embodiment 3 can be acquired.
実施の形態5.
図12は、本発明の実施の形態5に係るレベルシフト回路を示す図である。アノードがレベルシフト素子MOS1のソースに接続され、カソードが電源VCCに接続されたダイオードD4が設けられている。その他の構成は実施の形態1と同様である。このようにダイオードD4を介して第2のバイポーラトランジスタTr2のコレクタ電位を電源VCCに直接にクランプすることで、実施の形態3と同様の効果を得ることができる。
Embodiment 5 FIG.
FIG. 12 is a diagram showing a level shift circuit according to the fifth embodiment of the present invention. A diode D4 having an anode connected to the source of the level shift element MOS1 and a cathode connected to the power supply VCC is provided. Other configurations are the same as those of the first embodiment. Thus, by clamping the collector potential of the second bipolar transistor Tr2 directly to the power supply VCC via the diode D4, the same effect as in the third embodiment can be obtained.
実施の形態6.
図13は、本発明の実施の形態6に係るレベルシフト回路を示す図である。ゲートが第1のバイポーラトランジスタTr1のドレインに接続され、ソースが第1,2のバイポーラトランジスタTr1,Tr2のゲートに接続され、ドレインが電源Vccに接続された第3のバイポーラトランジスタTr3が設けられている。第3のバイポーラトランジスタTr3のドレインと接地点との間に抵抗R4が接続されている。即ち、実施の形態6のカレントミラー回路CM1は、ベース電流補償型カレントミラーである。その他の構成は実施の形態1と同様である。
Embodiment 6 FIG.
FIG. 13 is a diagram showing a level shift circuit according to the sixth embodiment of the present invention. A third bipolar transistor Tr3 having a gate connected to the drain of the first bipolar transistor Tr1, a source connected to the gates of the first and second bipolar transistors Tr1 and Tr2, and a drain connected to the power supply Vcc is provided. Yes. A resistor R4 is connected between the drain of the third bipolar transistor Tr3 and the ground point. That is, the current mirror circuit CM1 of the sixth embodiment is a base current compensation type current mirror. Other configurations are the same as those of the first embodiment.
参考例では、電流IDを電流IR1に近づけるためにはhfeの高いバイポーラトランジスタTr1,Tr2を用いる必要がある。一方、実施の形態6では、バイポーラトランジスタTr1,Tr2のベース電流は主にバイポーラトランジスタTr3が供給するので、少ないバラツキでIR1=IDに設定することができる。ただし、バイポーラトランジスタTr1,Tr2が同じ仕様の素子であり、バイポーラトランジスタTr3のベース電流が電流IR1に与える影響が無視できる程小さいことが必要である。 In the reference example, in order to bring the current ID close to the current IR1, it is necessary to use bipolar transistors Tr1 and Tr2 having high hfe. On the other hand, in the sixth embodiment, the base current of the bipolar transistors Tr1 and Tr2 is mainly supplied from the bipolar transistor Tr3, so that IR1 = ID can be set with little variation. However, the bipolar transistors Tr1 and Tr2 are elements having the same specifications, and it is necessary that the influence of the base current of the bipolar transistor Tr3 on the current IR1 is so small that it can be ignored.
実施の形態7.
図14は、本発明の実施の形態7に係るレベルシフト回路を示す図である。カレントミラー回路CM1は、第1のMOSトランジスタMOS4と第2のMOSトランジスタMOS5とを有する。第1のMOSトランジスタMOS4は、ゲート及びドレインが第1の抵抗R1の他端に接続され、ソースが接地されている。第2のMOSトランジスタMOS5は、ゲートが第1のMOSトランジスタMOS4のゲートに接続され、ドレインがレベルシフト素子MOS1のソースに接続され、ソースが接地されている。即ち、実施の形態7のカレントミラー回路CM1は、MOS型カレントミラー回路である。その他の構成は実施の形態1と同様である。MOS型カレントミラー回路では、実施の形態6で説明したバイポーラトランジスタを用いたカレントミラー回路の問題点が無いため、少ないばらつきでIR1=IDに設定することができる。
Embodiment 7 FIG.
FIG. 14 is a diagram showing a level shift circuit according to the seventh embodiment of the present invention. The current mirror circuit CM1 includes a first MOS transistor MOS4 and a second MOS transistor MOS5. The first MOS transistor MOS4 has a gate and a drain connected to the other end of the first resistor R1, and a source grounded. The second MOS transistor MOS5 has a gate connected to the gate of the first MOS transistor MOS4, a drain connected to the source of the level shift element MOS1, and a source grounded. That is, the current mirror circuit CM1 of the seventh embodiment is a MOS type current mirror circuit. Other configurations are the same as those of the first embodiment. In the MOS type current mirror circuit, there is no problem of the current mirror circuit using the bipolar transistor described in the sixth embodiment, so that IR1 = ID can be set with little variation.
実施の形態8.
図15は、本発明の実施の形態8に係るレベルシフト回路を示す図である。実施の形態2と同様に第2の抵抗R3が設けられ、実施の形態3と同様にツェナーダイオードD2が設けられている。その他の構成は実施の形態7と同様である。これにより、実施の形態2,3,7と同様の効果を得ることができる。
FIG. 15 is a diagram showing a level shift circuit according to the eighth embodiment of the present invention. A second resistor R3 is provided as in the second embodiment, and a Zener diode D2 is provided as in the third embodiment. Other configurations are the same as those of the seventh embodiment. Thereby, the same effects as those of the second, third, and seventh embodiments can be obtained.
実施の形態9.
図16は、本発明の実施の形態9に係るレベルシフト回路を示す図である。実施の形態2と同様に第2の抵抗R3が設けられ、実施の形態4と同様にダイオードD3が設けられている。その他の構成は実施の形態7と同様である。これにより、実施の形態2,4,7と同様の効果を得ることができる。
Embodiment 9 FIG.
FIG. 16 is a diagram showing a level shift circuit according to the ninth embodiment of the present invention. The second resistor R3 is provided as in the second embodiment, and the diode D3 is provided as in the fourth embodiment. Other configurations are the same as those of the seventh embodiment. Thereby, the same effects as those of the second, fourth, and seventh embodiments can be obtained.
実施の形態10.
図17は、本発明の実施の形態10に係るレベルシフト回路を示す図である。実施の形態2と同様に第2の抵抗R3が設けられ、実施の形態5と同様にダイオードD4が設けられている。その他の構成は実施の形態7と同様である。これにより、実施の形態2,5,7と同様の効果を得ることができる。
FIG. 17 is a diagram showing a level shift circuit according to the tenth embodiment of the present invention. The second resistor R3 is provided as in the second embodiment, and the diode D4 is provided as in the fifth embodiment. Other configurations are the same as those of the seventh embodiment. Thereby, the same effect as Embodiments 2, 5, and 7 can be obtained.
CM1 カレントミラー回路
D2 ツェナーダイオード
D3,D4 ダイオード
INV2 インバータ回路
MOS1 レベルシフト素子
MOS2 PMOSトランジスタ
MOS3 NMOSトランジスタ
MOS4 第1のMOSトランジスタ
MOS5 第2のMOSトランジスタ
R1 第1の抵抗
R3 第2の抵抗
Tr1 第1のバイポーラトランジスタ
Tr2 第2のバイポーラトランジスタ
Tr3 第3のバイポーラトランジスタ
CM1 Current mirror circuit D2 Zener diodes D3 and D4 Diode INV2 Inverter circuit MOS1 Level shift element MOS2 PMOS transistor MOS3 NMOS transistor MOS4 First MOS transistor MOS5 Second MOS transistor R1 First resistor R3 Second resistor Tr1 First resistor Tr1 Bipolar transistor Tr2 Second bipolar transistor Tr3 Third bipolar transistor
Claims (9)
前記インバータ回路の出力信号をゲート信号として動作するレベルシフト素子と、
一端が前記インバータ回路の出力に接続された第1の抵抗と、
前記第1の抵抗を介して前記インバータ回路の出力から入力した電流に対応する電流を前記レベルシフト素子のソースから接地点に流すカレントミラー回路とを備えることを特徴とするレベルシフト回路。 An inverter circuit that inverts and outputs an input signal; and
A level shift element that operates using the output signal of the inverter circuit as a gate signal;
A first resistor having one end connected to the output of the inverter circuit;
A level shift circuit comprising: a current mirror circuit for flowing a current corresponding to a current input from the output of the inverter circuit through the first resistor from a source of the level shift element to a ground point.
ベース及びコレクタが前記第1の抵抗の他端に接続され、エミッタが接地された第1のバイポーラトランジスタと、
ベースが前記第1のバイポーラトランジスタのベースに接続され、コレクタが前記レベルシフト素子のソースに接続され、エミッタが接地された第2のバイポーラトランジスタとを有することを特徴とする請求項1に記載のレベルシフト回路。 The current mirror circuit is:
A first bipolar transistor having a base and a collector connected to the other end of the first resistor and an emitter grounded;
2. The second bipolar transistor having a base connected to a base of the first bipolar transistor, a collector connected to a source of the level shift element, and an emitter grounded. Level shift circuit.
ゲート及びドレインが前記第1の抵抗の他端に接続され、ソースが接地された第1のMOSトランジスタと、
ゲートが前記第1のMOSトランジスタのゲートに接続され、ドレインが前記レベルシフト素子のソースに接続され、ソースが接地された第2のMOSトランジスタとを有することを特徴とする請求項1に記載のレベルシフト回路。 The current mirror circuit is:
A first MOS transistor having a gate and a drain connected to the other end of the first resistor and a source grounded;
2. The second MOS transistor according to claim 1, further comprising: a second MOS transistor having a gate connected to a gate of the first MOS transistor, a drain connected to a source of the level shift element, and a source grounded. Level shift circuit.
ゲートから前記入力信号を入力し、ソースが電源に接続され、ドレインが前記レベルシフト素子のゲートに接続されたPMOSトランジスタと、
ゲートから前記入力信号を入力し、ソースが接地され、ドレインが前記レベルシフト素子のゲートに接続されたNMOSトランジスタとを有することを特徴とする請求項1〜3に記載のレベルシフト回路。 The inverter circuit is
A PMOS transistor that receives the input signal from a gate, has a source connected to a power source, and a drain connected to the gate of the level shift element;
4. The level shift circuit according to claim 1, further comprising: an NMOS transistor that receives the input signal from a gate, has a source grounded, and has a drain connected to the gate of the level shift element.
前記第1の抵抗の一端は、前記PMOSトランジスタのドレインと前記第2の抵抗の接続点に接続されていることを特徴とする請求項4に記載のレベルシフト回路。 A second resistor connected between the drain of the PMOS transistor and the gate of the level shift element;
5. The level shift circuit according to claim 4, wherein one end of the first resistor is connected to a connection point between the drain of the PMOS transistor and the second resistor.
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008293185A JP4686589B2 (en) | 2008-11-17 | 2008-11-17 | Level shift circuit |
KR1020090019679A KR101106662B1 (en) | 2008-11-17 | 2009-03-09 | Level-shift circuit |
JP2011027476A JP4715976B1 (en) | 2008-11-17 | 2011-02-10 | Level shift circuit |
JP2011053210A JP2011139529A (en) | 2008-11-17 | 2011-03-10 | Level shift circuit |
KR1020110073609A KR101149902B1 (en) | 2008-11-17 | 2011-07-25 | Level-shift circuit |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008293185A JP4686589B2 (en) | 2008-11-17 | 2008-11-17 | Level shift circuit |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2011027476A Division JP4715976B1 (en) | 2008-11-17 | 2011-02-10 | Level shift circuit |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010124032A JP2010124032A (en) | 2010-06-03 |
JP4686589B2 true JP4686589B2 (en) | 2011-05-25 |
Family
ID=42279812
Family Applications (3)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008293185A Active JP4686589B2 (en) | 2008-11-17 | 2008-11-17 | Level shift circuit |
JP2011027476A Active JP4715976B1 (en) | 2008-11-17 | 2011-02-10 | Level shift circuit |
JP2011053210A Pending JP2011139529A (en) | 2008-11-17 | 2011-03-10 | Level shift circuit |
Family Applications After (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2011027476A Active JP4715976B1 (en) | 2008-11-17 | 2011-02-10 | Level shift circuit |
JP2011053210A Pending JP2011139529A (en) | 2008-11-17 | 2011-03-10 | Level shift circuit |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
JP (3) | JP4686589B2 (en) |
KR (2) | KR101106662B1 (en) |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4686589B2 (en) * | 2008-11-17 | 2011-05-25 | 三菱電機株式会社 | Level shift circuit |
JP5530669B2 (en) * | 2009-07-01 | 2014-06-25 | 三菱電機株式会社 | Semiconductor circuit |
JP5333339B2 (en) * | 2010-04-30 | 2013-11-06 | 三菱電機株式会社 | Gate drive circuit |
JP5810973B2 (en) * | 2012-03-05 | 2015-11-11 | 株式会社デンソー | Switching element drive circuit |
KR101475569B1 (en) * | 2012-10-16 | 2014-12-23 | 한양대학교 산학협력단 | Dual Step Level Shifter |
CN104320118B (en) * | 2014-11-06 | 2017-12-12 | 无锡普雅半导体有限公司 | A kind of driving circuit structure |
CN105897246B (en) * | 2014-12-26 | 2020-10-02 | 恩智浦美国有限公司 | Voltage level shifter for high voltage applications |
JP7276749B2 (en) * | 2019-12-26 | 2023-05-18 | 株式会社東海理化電機製作所 | input circuit |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH11186884A (en) * | 1997-12-22 | 1999-07-09 | Matsushita Electric Works Ltd | Level shift circuit |
JP2005202658A (en) * | 2004-01-15 | 2005-07-28 | Mitsubishi Electric Corp | Output circuit |
JP2006129331A (en) * | 2004-11-01 | 2006-05-18 | Mitsubishi Electric Corp | Level shift circuit |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TWI237947B (en) * | 2001-07-12 | 2005-08-11 | Sanyo Electric Co | Level transducing circuit |
KR100566395B1 (en) * | 2003-12-17 | 2006-03-31 | 삼성전자주식회사 | Level shifter and method of shifting a level using the same |
KR100795694B1 (en) | 2006-08-28 | 2008-01-17 | 삼성전자주식회사 | Low power level shifer and method thereof |
JP5095184B2 (en) | 2006-11-22 | 2012-12-12 | フリースケール セミコンダクター インコーポレイテッド | Level shifter circuit |
JP4686589B2 (en) * | 2008-11-17 | 2011-05-25 | 三菱電機株式会社 | Level shift circuit |
-
2008
- 2008-11-17 JP JP2008293185A patent/JP4686589B2/en active Active
-
2009
- 2009-03-09 KR KR1020090019679A patent/KR101106662B1/en active IP Right Grant
-
2011
- 2011-02-10 JP JP2011027476A patent/JP4715976B1/en active Active
- 2011-03-10 JP JP2011053210A patent/JP2011139529A/en active Pending
- 2011-07-25 KR KR1020110073609A patent/KR101149902B1/en active IP Right Grant
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH11186884A (en) * | 1997-12-22 | 1999-07-09 | Matsushita Electric Works Ltd | Level shift circuit |
JP2005202658A (en) * | 2004-01-15 | 2005-07-28 | Mitsubishi Electric Corp | Output circuit |
JP2006129331A (en) * | 2004-11-01 | 2006-05-18 | Mitsubishi Electric Corp | Level shift circuit |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2011135603A (en) | 2011-07-07 |
KR20100055312A (en) | 2010-05-26 |
KR101149902B1 (en) | 2012-06-11 |
JP2010124032A (en) | 2010-06-03 |
KR20110090875A (en) | 2011-08-10 |
JP4715976B1 (en) | 2011-07-06 |
KR101106662B1 (en) | 2012-01-18 |
JP2011139529A (en) | 2011-07-14 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4715976B1 (en) | Level shift circuit | |
JP5148537B2 (en) | Power supply voltage detection circuit | |
JP2006270382A (en) | Level shifting circuit and power supply device | |
KR101069485B1 (en) | Motor drive circuit | |
JP4792636B2 (en) | Inductive load drive circuit | |
JP2008220056A (en) | Rush current prevention circuit and method | |
US8773040B2 (en) | Indicator drive circuit | |
JP2004260730A (en) | Pulse generating circuit, and high-side driver circuit using the same | |
JP2015208111A (en) | gate drive circuit | |
JP2006295326A (en) | Switching circuit with protective function, and protection circuit | |
US20150288171A1 (en) | Overcurrent protection circuit | |
CA2646524A1 (en) | Load controller | |
JPWO2017169057A1 (en) | Sensor device | |
CN114204926A (en) | Semiconductor device with a plurality of semiconductor chips | |
JP2010028522A (en) | Semiconductor device | |
JP5961944B2 (en) | Gate drive circuit | |
JP4821394B2 (en) | Semiconductor device drive circuit | |
JP4887111B2 (en) | Schmidt circuit | |
JP2007116388A (en) | Semiconductor device | |
JP4744909B2 (en) | Hysteresis comparator | |
JP7131700B2 (en) | semiconductor equipment | |
JP5687091B2 (en) | Power supply voltage detection circuit | |
JP7199325B2 (en) | switch circuit | |
JP2009060226A (en) | Semiconductor device | |
JP2006157400A (en) | Driver circuit |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20101020 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20110118 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20110214 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140218 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 4686589 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |