JP4588414B2 - 内部欠陥検査方法および装置 - Google Patents
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Description
2 内部欠陥抽出手段
3 関連要素収集手段
4 特徴量計測手段
25 領域分割設定手段
26 関連要素収集手段
27 密度計測手段
Claims (2)
- 対象物のX線CT値データに基づいて前記対象物における中実部の内部欠陥を検査する内部欠陥検査方法において、
前記X線CT値データから内部欠陥抽出手段により前記内部欠陥を抽出するステップ、前記内部欠陥抽出手段で抽出された内部欠陥の部位およびその周囲に所定の広がりで設定される近傍範囲に含まれるX線CT値データを関連要素収集手段により収集するステップ、および前記内部欠陥の特徴量としての前記内部欠陥の大きさを前記関連要素収集手段で収集された前記X線CT値データに基づいて算出するステップを含み、前記内部欠陥の大きさは、内部欠陥の大きさ=内部欠陥の体積=(中実部のX線CT値×収集された全X線CT値データの数−収集された全X線CT値の合計)/(中実部のX線CT値−内部欠陥部位のX線CT値)として求めるようにされていることを特徴とする内部欠陥検査方法。 - 対象物のX線CT値データに基づいて前記対象物における中実部の内部欠陥を検査する内部欠陥検査装置において、
前記X線CT値データから前記内部欠陥を抽出する内部欠陥抽出手段、前記内部欠陥抽出手段で抽出された内部欠陥の部位およびその周囲に所定の広がりで設定される近傍範囲に含まれる前記X線CT値データを収集する関連要素収集手段、および前記内部欠陥の特徴量としての前記内部欠陥の大きさを前記関連要素収集手段で収集された前記X線CT値データに基づいて計測する特徴量計測手段を備え、前記内部欠陥の大きさは、内部欠陥の大きさ=内部欠陥の体積=(中実部のX線CT値×収集された全X線CT値データの数−収集された全X線CT値の合計)/(中実部のX線CT値−内部欠陥部位のX線CT値)として求めるようにされていることを特徴とする内部欠陥検査装置。
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