Nothing Special   »   [go: up one dir, main page]

JP4412138B2 - 発光検出装置 - Google Patents

発光検出装置 Download PDF

Info

Publication number
JP4412138B2
JP4412138B2 JP2004285959A JP2004285959A JP4412138B2 JP 4412138 B2 JP4412138 B2 JP 4412138B2 JP 2004285959 A JP2004285959 A JP 2004285959A JP 2004285959 A JP2004285959 A JP 2004285959A JP 4412138 B2 JP4412138 B2 JP 4412138B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
image
light
filter
ultraviolet
discharge
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2004285959A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2005241624A (ja
Inventor
清佳 末長
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
JFE Steel Corp
Original Assignee
JFE Steel Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by JFE Steel Corp filed Critical JFE Steel Corp
Priority to JP2004285959A priority Critical patent/JP4412138B2/ja
Publication of JP2005241624A publication Critical patent/JP2005241624A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4412138B2 publication Critical patent/JP4412138B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Testing Relating To Insulation (AREA)
  • Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)

Description

本発明は、発光による紫外線発生位置を検出するための発光検出装置に係り、特に送電線用鉄塔などの電気設備などにおける、コロナ放電の発生を検出するのに有効な発光検出装置に関する。
電気設備においては、電気絶縁の劣化に伴い微小なコロナ放電を発生する場合がある。すなわち、コロナ放電を検出することで、電気的な絶縁劣化を早期に検出することができる。
このコロナ放電を検出する装置としては、例えば特許文献1に記載されている検出装置がある。この検出装置では、コロナ放電が発生する際の超音波音を検出し、その検出に基づき音響の発生方向を特定してコロナ放電の有無及び位置を検出する。
特開平9−233679号公報
しかし、上記放電時の音による検出方法では、検査する被写体に対し音響検出部をスキャニングするように移動させる必要があるため、被写体が大きいほど検査に時間が掛かる。
また、磁歪振動音等が放電音に近似することから、コロナ放電が無いにもかかわらずコロナ放電を検出したと誤検出することがある。
本発明は、上記のような点に着目してなされたもので、より正確に且つより簡易な構成でコロナ放電等による異常発光の検出が可能な発光検出装置を提供することを課題としている。
上記課題を解決するために、本発明のうち請求項1に記載した発明は、鏡筒と、その鏡筒に入射した光を反射する凹面鏡と、その凹面鏡と対面配置されたUV−C領域の紫外線だけを通過させる光学フィルタと、光学フィルタ通過後の紫外線像を可視化する可視化変換手段と、その可視化変換手段が可視化した紫外線像を取得する第1画像取得手段と、上記光学フィルタで反射した光による可視像を取得する第2画像取得手段と、を備えることを特徴とする発光検出装置を提供するものである。
次に、請求項2に記載した発明は、請求項1に記載した構成に対し、上記2つの画像取得手段で取得した画像に基づきコロナ放電の有無及び位置を特定することを特徴とするものである。
次に、請求項3に記載した発明は、請求項1または2に記載した発光検出装置において、前記光学フィルタは、波長240nm〜280nmの範囲に存在する1または2以上のNe(ネオン)の輝線を通過させる狭帯域通過フィルタであることを特徴とするものである。
本発明によれば、反射鏡で集光することで、紫外線に感度を有する高価なUVレンズ(UV−Cだけを通過させるレンズ)の使用枚数を抑えることができる。また、同一の光軸からの入射光によって可視像と紫外線像とを取得することができる。つまり、上記可視像及び紫外線像に、被写体との距離によるずれの発生を抑えられる。
以下に、本発明の実施形態について図面を参照しつつ説明する。
まず、放電現象と紫外線について説明する。
放電現象は、電磁波や超音波のほかに紫外線の放出を伴うことが知られている。放電は電界の影響を受けて励起状態になった気体の原子が自由電子を放出しイオン化されることによって引き起こされる。この時、イオン化された原子が自由電子を受け取って励起状態から基底状態に戻る過程で光が放射される。
ここで、電子の軌道がn=iからn=jに遷移した場合に放射される光の波長は次の式(1)で与えられる。
ただし、λ:放射される光の波長、m:電子の運動質量、e:電子の電荷(1.602×10−19C)、ε:真空の誘電率(8.854×10−12F/m)、h:プランクの定数(6.624×10−34J・sec)、c:光速(3×10m/sec)
ここで、本願発明者は、各原子のイオン化電圧は、下記式(2)で与えられることに着目し、式(1)と式(2)からイオン化電圧が既知の気体の発光波長は下記式(3)で求めることができると考えた。
図1に式(3)で求めた代表的な気体の発光スペクトルを示す。同図から、放電で生じる光の波長は400nm以下の紫外線領域に離散的に分布することがわかる。一方、紫外線はその波長によって400nm〜315nmがUV−A、315nm〜280nmがUV−B、280nm〜100nmがUV−Cに分類される。
ところで、紫外線は、太陽及び高輝度ランプなどの人工照明から放射される、波長400nm以下の短波長の電磁波であるが、特に地表に届く太陽光放射の場合は、図2に示される発光分布のように、波長が短いほど太陽光放射中の専有割合が小さく、特に、UV−C領域の電磁波は大気中のオゾン層で吸収されるため地表にはほとんど到達しない。一方、コロナ放電による発光分布は、同図2に示すようになっており、紫外線全域に亘って放射している。したがって、地表に届く太陽光放射には存在しない、UV−C領域の紫外線を検出することで、太陽光放射に影響を受けることなく、微弱な放電光でも太陽光に影響されずコロナ放電等の発生による被写体自体からの発光に伴う紫外線を検出することができる。
次に、本発明の第1実施形態について図面を参照しつつ説明する。
なお、以下の全実施形態では、紫外線発光の検出による発光検出装置の例として、コロナ放電の検出を行う放電検出装置を説明する。もちろん、何らかの不具合によって紫外線発光を発生する部位の検出であれば、コロナ放電の検出に限定されない。
まず、本実施形態の放電検出装置の構造について説明する。図3は、本装置の構成概要図である。
筒状の鏡筒1内に、同軸に凹面鏡2が配置されている。その凹面鏡2と対面且つ同軸にUVフィルタ3が配設されている。そのUVフィルタ3の後側には同軸にICCDカメラ4が配設されている。このICCDカメラ4は、イメージインテンシファイア4Aと、第1画像取得手段を構成するCCDカメラ本体4Bとから構成され、CCDカメラ本体4Bで撮像された画像データは、画像処理部5に出力される。なお、上記UVフィルタ3及びICCDカメラ4は、不図示のスパイダによって鏡筒1に支持される。
イメージインテンシファイア4Aは、可視化変換手段を構成し、微弱な紫外線像を検知・増倍してコントラストのついた像、つまり可視化した像に変換する装置である。なお、通常のCCDカメラは紫外線に対する感度を持っていないため放電現象を撮像することはできない。
イメージインテンシファイア4Aは、受光した光を電子に変換する受光面と、直径25mm、厚さ0.48mmの薄いガラスの板にφ12μmの細い穴(チャンネル)を無数に加工し光電子を倍増するMCP(マルチチャンネルプレート)と、倍増した電子を再度光に変換し後段に伝えるファイバプレートとを備えて構成されている。本実施形態では、イメージインテンシファイア4Aの受光面に、紫外線に感度を持つCe−Teを材料に選定した。Ce−Te受光面は320nm以上の波長の光に対する感度が抑制され250nm付近に最大感度を有している。そして、MCPは微弱な放電光を考えて2段にすることで電子倍増率を10倍とした。ここで、イメージインテンシファイア4Aは増幅率が高いため、僅かな光でも結像し本来観測したい放電光の弁別を阻害する。そこでイメージインテンシファイア4Aの前段にUV−C光のみを通過させるUVフィルタ3を設置し、不要な光を遮断している。
ところで、通常、フィルタには、特定の波長帯を通過させる帯域通過フィルタと、特定の波長のみ通過させる狭帯域通過フィルタがある(例えば図1参照)が、上記UVフィルタ3には、波長240〜280nmの範囲のUV−C紫外線だけを通過させるフィルタが好適である。特に、本実施形態でのフィルタ選定では5種類の狭帯域通過フィルタにてラボ試験を行った結果、図4に示す通り、249.7nmを通過させる狭帯域通過フィルタが最もS/N比が良好で放電の可視化に適していた。なお、同図の例では画面中央下で放電が発生しているが、260BPおよび249.7NB7以外のフィルタでは放電光と背景の太陽光との弁別が困難であることがわかる。
ここで、図4に示す249.7NB7フィルタを通した画像は、図1を参照してわかる様に、主にNe(ネオン)の輝線を観測していることになる。ネオンは窒素(大気中の容積比78.088%)、酸素(同20.949%)、アルゴン(同0.93%)に次いで大気中の容積比が大きな気体(同1.8×10−3%)であり、UV−C領域に輝線を持つ気体の中では最も容積比が大きい。そのため、Ne(ネオン)の輝線を観測すれば発光量が多いことから弁別する上で好ましい。さらに、本実施形態では、波長240〜280nmの範囲に存在するUV−C紫外線のうち、特に、この249.7nm、すなわちNe(ネオン)の1または2以上の輝線を通過させる狭帯域通過フィルタをUVフィルタ3として採用している。そのため、このような狭帯域通過フィルタを採用することによって放電光と背景の太陽光との弁別をより確実なものとすることができる。
そして、UVフィルタ3の前面(入射面)と対向する位置に、当該UVフィルタ3表面から反射した光による可視像を撮像する可視光CCDカメラ6が配設されている。この可視光CCDカメラ6は第2画像取得手段を構成する。可視光CCDカメラ6は撮像した可視化画像データを画像処理部5に出力する。ここで、可視光CCDカメラ6は、凹面鏡2から光フィルタに至る光路を遮らない位置及び大きさのものを使用する。この可視光CCDカメラ6は、UVフィルタ3のケース、若しくは鏡筒1に支持されている。ここで、上記可視光CCDカメラで取得した可視像は、図5(a)のイメージのような画像となり、ICCDカメラで取得した紫外線像は、図5(b)のイメージのような画像となる。なお、紫外線像は、紫外線の部分だけが白っぽくなっているので、図5(b)は、実際には、コロナ放電による発光部分Aだけが白っぽく、その背景が黒くなった画像となる。
上記画像処理部5は、同期して入力された、つまり、同一の入射光に基づく、ICCDカメラ4からの紫外線像と、可視光CCDカメラ6からの可視化像(被写体10の可視像)とを重ねるように合成処理を行い、表示部7に出力する。なお、可視光CCDカメラ6からの可視化像とICCDカメラ4からの紫外線像との合成は、ビデオミキサーで、ミキシングのレベルを任意に調整することで放電画像の視認性が向上できる様にしている。
次に、上記構成の放電検出装置の動作や作用・効果などについて説明する。
本装置は、被写体10に鏡筒1の開口部を向け、その状態で2つのカメラ4,6の同期をとって作動させることで使用される。
被写体10からの光が鏡筒1に入射されると、その入射光は主反射鏡である凹面鏡2で反射し、対面配置されたUVフィルタ3の入射面に集中する。UVフィルタ3の入射面に入射した光のうち、UV−C領域の紫外線だけはUVフィルタ3を通過してICCDカメラ4で受光され、当該ICCDカメラ4で撮像された紫外線像は、画像処理部5に供給される。ここで、UV−C領域の紫外線は、地上に届いた太陽光には存在していないので、UVフィルタ3を通過した上記紫外線は、被写体10の発光による紫外線だけである。すなわち、ICCDカメラ4から出力される画像は、コロナ放電に対応した紫外線だけを表示する画像となる。
そして、画像処理部5で同期をとって入力した2つの画像が合成されて表示部7に表示される。なお、表示部7の代わりに記録部に記録して、後で再生して確認するようにしても良い。
上記表示部7に表示される画像は、被写体10にコロナ放電の発生が無ければ、被写体10の可視像と真っ黒な画像との合成であるので、全体が均一的に若干薄暗くなった被写体10の画像である。一方、被写体10の一部で微小なコロナ放電が発生している場合には、紫外線像は、黒背景に対しそのコロナ放電が発生している部分だけが白っぽくなった画像となっているので、合成後の表示される画像にあっては、コロナ放電部分だけが白っぽく(明るく)表示される合成像となることで、コロナ放電の発生の有無及び位置を検出することができる。
また、本実施形態では、凹面鏡2によって像の倍率を稼いでいるので、高価なUVレンズ(例えば、UV用石英レンズ)の使用枚数を減らすことができて、装置がその分だけ安価となる。なお、適宜、紫外線像の可視化の具合に応じてUVレンズを使用する。また、通常のレンズでは紫外線を吸収してまう。
また、光軸が同一となっている同一の入射した光から、上記紫外線像及び可視像を取得しているので、両画像と被写体10との間の距離によるずれがないので、合成がしやすい。なお、画像処理部5に入力される紫外線像と可視像との倍率が異なる場合には、等倍率となるように画像処理を行うが、同一視点からの像であるので、単に倍率を変更すればよい。
ここで、上記実施形態では、UVフィルタ3の入射面が平面仕上となっているので、UVフィルタ3で反射した光の焦点が凹面鏡2の前に位置する。このため、可視光CCDカメラ6を凹面鏡2の前方に配設したが、これに限定されない。凹面鏡2と同位置若しくはそれよりも後方位置に可視光CCDカメラ6を配設し、UVフィルタ3からの反射光を、光学的要素(凸レンズや凹レンズ、反射鏡、プリズムなど)を介して光CCDの受光面まで導くように設定しても良い。
また、画像処理によって、コロナ放電による紫外線像についてだけ色変換処理を行い、つまり白色部分を赤色などに変換して、コロナ放電部分を更に強調するようにしても良い。
また、上記実施形態では、紫外線像と可視像とを画像処理部5で合成して表示部2に表示するようにしているが、これに限定されない。たとえば、紫外線像と可視像とを画像処理部5で等倍の大きさにして(画像処理部5への入力時点で等倍の場合には、この処理は不要である)、両画像を並べて表示部7に表示するようにしても良い。コロナ放電の位置の精度は若干劣るものの、コロナ放電の有無及びコロナ放電のだいたいの位置が特定可能となる。
また、上記実施形態では、鏡筒1に対し、当該鏡筒1の軸上で凹面鏡2及びUVフィルタ3を同軸に配置させているが、これに限定されない。例えば図6のように、凹面鏡2の軸を鏡筒1の軸に対し傾斜させて、凹面鏡2からの反射光を凹面鏡2に向かう光路外に集光させ、その集光部近傍にUVフィルタ3を配置しても良い。
また、上記実施形態の例では、UVフィルタ3には、249.7nmのNe(ネオン)の輝線を通過させる狭帯域通過フィルタを採用したが、これに限定されず、狭帯域通過フィルタは、波長240〜280nmの範囲に存在するUV−C紫外線のうち、他の波長のの1または2以上のNe(ネオン)の輝線を通過させる狭帯域通過フィルタによって観測してもよい。
次に、第2実施形態について図面を参照して説明する。なお、上記実施形態と同様な部品などについては、同一の符号を付して説明を省略する。
本実施形態の基本構成は、図7に示すように、上記第1実施形態と同様であるが、上記UVフィルタ3の入射側表面3aを凸面仕上にした点が異なる。
凸面仕上にすることで、UVフィルタ3の表面で反射した光の焦点を凹面鏡2の後方位置に設定し、可視光CCDカメラ6を凹面鏡2の後に配設した例である。
図7中、符号8はUVレンズを表し、紫外線像の倍率をさらに高めている例である。符号9は通常のレンズである。
その他の構成や作用・効果などは上記実施形態と同様である。
次に、第3実施形態を図面を参照しつつ説明する。なお、上記各実施形態と同様な部品については同一の符号を付して説明する。
本実施形態では、図8に示すように、UVフィルタ3の位置に副反射鏡としての凸面鏡11を配設し、当該凸面鏡11で反射した光を凹面鏡2の後方に集光させている。そして、上記凸面鏡11で反射した光を分光器12で2つの光路に分光し、一方の分光した光をUVフィルタ3に送り、他方を可視光CCDカメラ6に送っている。UVフィルタ3の後方には、上記第2実施形態のように、UVレンズ8を介してICCDカメラ4が配設されている。
他の構成は、上記各実施形態と同様である。
本実施形態では、凹面鏡2で入射した光を反射して凸面鏡11(副反射鏡)に集光させ、その凸面鏡11で反射させた光を分光器12に送っている。続いて、分光器12で分光させて、それぞれのカメラ4,6に光が送られる。
その他の構成や、作用・効果は同様である。
次に、本発明の実施例について説明する。
上記第1実施形態の発光検出装置を、発電機の開放点検に持ち込み、部分放電の撮影を行なった。
この例の発電機は、約15年間に渡って稼働している発電機であり、近年、部分放電の上昇が認められたため、上記第1実施形態の発光検出装置で開放点検を実施した。点検に先立ち、発光検出装置で監視しながら部分放電試験を実施し、放電部位の特定を試みたところ、コイルエンドで発生していた部分放電を捉える事ができた。部分放電はコイルエンドのスロット出口付近でスポット的に発生していた。
部分放電試験終了後、発生部位を点検したところコイルとスロットの間に約0.2mmの隙間が生じていた。そこで、スロットに生じた空隙に導電性の材料を挿入し樹脂で固める補修を行ったところ、補修後に行った部分放電試験では、放電の可視像は認められなかった。
このように、本発明の発光検出装置は、例えば、発電機・電動機等の部分放電試験に適用することで、放電部位の特定が容易にできると共に、補修が成功したか否かの確認も容易に行うことができることが確認された。
代表的な気体の発光スペクトルを示す説明図である。 発光分布を説明する図である。 本発明に基づく第1実施形態に係る放電検出装置の構成概要図である。 フィルタ選定のためのラボ試験の結果を説明する図である。 2種類の紫外線像のイメージを説明する図である。 本発明に基づく第1実施形態に係る放電検出装置の別の配置の構成概要図である。 本発明に基づく第2実施形態に係る放電検出装置の構成概要図である。 本発明に基づく第3実施形態に係る放電検出装置の構成概要図である。
符号の説明
1 鏡筒
2 凹面鏡
3 UVフィルタ
4 ICCDカメラ
4A イメージインデンシファイア
4B カメラ本体
5 画像処理部
6 可視光CCDカメラ
7 表示部
8 UVレンズ
9 レンズ
10 被写体
11 凸面鏡(副反射鏡)
12 分光器

Claims (3)

  1. 鏡筒と、その鏡筒に入射した光を反射する凹面鏡と、その凹面鏡と対面配置されてUV−C領域の紫外線だけを通過させる光学フィルタと、光学フィルタ通過後の紫外線像を可視化する可視化変換手段と、その可視化変換手段が可視化した紫外線像を取得する第1画像取得手段と、上記光学フィルタで反射した光による可視像を取得する第2画像取得手段と、を備えることを特徴とする発光検出装置。
  2. 上記2つの画像取得手段で取得した画像に基づきコロナ放電の有無及び位置を特定することを特徴とする請求項1に記載した発光検出装置。
  3. 前記光学フィルタは、波長240nm〜280nmの範囲に存在する1または2以上のNe(ネオン)の輝線を通過させる狭帯域通過フィルタであることを特徴とする請求項1または2に記載した発光検出装置。
JP2004285959A 2004-01-27 2004-09-30 発光検出装置 Expired - Fee Related JP4412138B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004285959A JP4412138B2 (ja) 2004-01-27 2004-09-30 発光検出装置

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004018476 2004-01-27
JP2004285959A JP4412138B2 (ja) 2004-01-27 2004-09-30 発光検出装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2005241624A JP2005241624A (ja) 2005-09-08
JP4412138B2 true JP4412138B2 (ja) 2010-02-10

Family

ID=35023479

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004285959A Expired - Fee Related JP4412138B2 (ja) 2004-01-27 2004-09-30 発光検出装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4412138B2 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005241623A (ja) * 2004-01-27 2005-09-08 Jfe Steel Kk 放電検出装置

Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101242936B1 (ko) 2010-08-03 2013-03-12 주식회사 포스코 스파크 위치 측정 기능을 구비한 발광분광분석기 및 발광분광분석기의 스파크 위치 측정 방법
CN102749545A (zh) * 2012-07-23 2012-10-24 广东电网公司佛山供电局 500kV带电水冲洗安全检测方法及装置
CN103135042B (zh) * 2013-02-05 2015-10-28 宁波光之瞳光电科技有限公司 带翻转反光镜的电晕紫外探测仪
CN103135043B (zh) * 2013-02-05 2015-09-09 宁波工程学院 带翻转反光镜的电晕紫外探测仪
JP6178197B2 (ja) * 2013-09-30 2017-08-09 株式会社東芝 放射線検出装置および放射線検出方法
GB2522095A (en) * 2014-01-10 2015-07-15 Ofil Ltd Viewing device
WO2017100173A1 (en) * 2015-12-07 2017-06-15 Cooper Technologies Company Occupancy detection
JP6508436B1 (ja) * 2018-08-10 2019-05-08 中国電力株式会社 コロナ放電の発生箇所特定装置、コロナ放電の発生箇所特定方法
JP2020099016A (ja) * 2018-12-19 2020-06-25 株式会社オーケー社鹿児島 微弱放電撮像システム
JP7442848B2 (ja) * 2022-03-30 2024-03-05 華晋グローバル株式会社 撮像装置、撮像装置の制御方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005241623A (ja) * 2004-01-27 2005-09-08 Jfe Steel Kk 放電検出装置
JP4529624B2 (ja) * 2004-01-27 2010-08-25 Jfeスチール株式会社 放電検出装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP2005241624A (ja) 2005-09-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4412138B2 (ja) 発光検出装置
JP5269879B2 (ja) サンプル表面を検査する分光画像形成方法及びシステム
TWI597486B (zh) Evaluation method, evaluation device and evaluation program
US7023954B2 (en) Optical alignment of X-ray microanalyzers
US20130258324A1 (en) Surface defect detecting apparatus and method of controlling the same
JP4696197B2 (ja) カソードルミネッセンス検出装置
CN201707530U (zh) 紫外激光成像装置
US4630925A (en) Compact temporal spectral photometer
US7732782B2 (en) Corona detection device
US6323491B1 (en) Corona discharge imaging system for outdoor daylight use
CN114486840B (zh) 一种阴极荧光光谱与高衬度成像装置及其成像方法
JP2007115669A (ja) 着脱可能に結合されたイメージインテンシファイアおよびイメージセンサ
US5393976A (en) Apparatus for displaying a sample image
JP4529624B2 (ja) 放電検出装置
JP2015158433A (ja) 漏油確認方法および漏油確認用スコープ
JP4140490B2 (ja) X線分析装置とその焦点合わせ装置
JP2010190776A (ja) 撮像装置および表面検査装置
US6730901B1 (en) Sample imaging
JP4725087B2 (ja) 顕微鏡
JP6599018B2 (ja) 画像取得システム及び画像取得方法
TW201142275A (en) X-ray measuring device of micro-portion
JP3125045B2 (ja) 電子線強度測定装置および電子顕微鏡
JP2006098270A (ja) 交流回転機の保全方法
JPH05312735A (ja) X線断層撮影方法及びその装置
CN210665931U (zh) 一种紫外成像仪

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20070808

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20090721

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20090804

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20090928

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20091027

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20091109

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121127

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4412138

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131127

Year of fee payment: 4

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees