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JP4412180B2 - レーザー超音波探傷法、及びレーザー超音波探傷装置 - Google Patents

レーザー超音波探傷法、及びレーザー超音波探傷装置 Download PDF

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Description

本発明は、レーザー超音波による金属部品表面等の探傷法に関するものであり、より詳しくは、被検査面とレーザー照射部の距離に応じた最適な探傷を実施するための技術に関するものである。
従来、プレス加工された金属部品表面に発生するプレス割れや、シワ等の欠陥の検出は目視検査にて行われているが、この検査方法には潜在的に見逃し等の問題があり、検査方法の機械化、オートメーション化が急務となっている。例えば、自動車の製造ラインにおいては、検査すべき部品点数も多く、また、部品によっては検査対象面積も大きくなるため、目視検査の作業負担が大きいという現状がある。
他方、近年、水や油(グリセリン)等の接触媒体なしで金属部品表面のプレス不良等の欠陥を検出可能とするレーザー超音波探傷法が開発され、このレーザー超音波探傷法を用いた非破壊検査技術の実用化も進められており(例えば、特許文献1参照。)、上記の目視検査の代替手段として注目を浴びている。
特開平11−248638号公報
前記レーザー超音波探傷法においては、送信プローブにより被検査面に発生させた超音波を受信プローブで検出して探傷を行うものであるが、被検査面が平らな2次元形状でなく、大きな段差を有する等の複雑な3次元形状である場合には、前記送信プローブ及び受信プローブから被検査面までの距離が一定にならないため、所定の安定したレーザー超音波を励起させることができず、探傷の精度が低くならざるを得なかった。
そこで、本発明は、複雑な3次元形状を有する被検査面についても、精度のよいレーザー超音波探傷が行える技術を提案する。
本発明の解決しようとする課題は以上のごとくであり、次にこの課題を解決するための手段を説明する。
即ち、請求項1に記載のごとく、被検査面に対し送信プローブからレーザー光を照射させて超音波を励起させるとともに、被検査面に対し受信プローブからレーザー光を照射させて前記超音波を受信し、受信された超音波のデータから被検査面に存在する欠陥を検出するレーザー超音波探傷法であって、距離計測手段にて前記送信プローブ及び前記受信プローブから被検査面までの距離を計測しつつ、前記距離に基づいて、前記送信プローブから照射させる前記レーザー光の出力設定を調整するとともに、前記送信プローブ及び前記受信プローブの可変集光レンズの焦点距離を調整することで、前記レーザー光の照射条件を逐次補正しつつ、前記被検査面に存在するプレス不良等の欠陥を検出することとする。
また、請求項2に記載のごとく、前記レーザー光の出力設定の調整は、前記被検査面と前記送信プローブの間の距離において、前記距離が短い場合には、前記レーザー光の出力は、弱く設定され、前記距離が長い場合には、前記レーザー光の出力は、強く設定されることで行われ、前記各可変集光レンズの焦点距離の調整は、前記被検査面と前記送信プローブ及び前記受信プローブの間の各距離において、前記距離が短い場合には、可変集光レンズの厚さは、厚く設定され、前記距離が長い場合には、可変集光レンズの厚さは、薄く設定されることで行われることとする。
また、請求項3に記載のごとく、前記距離計測手段は、赤外線センサとする。
また、請求項4に記載のごとく、前記被検査面に励起される超音波は、表面波超音波とする。
また、請求項5に記載のごとく、被検査面に対し送信プローブからレーザー光を照射させて超音波を励起させるとともに、被検査面に対し受信プローブからレーザー光を照射させて前記超音波を受信し、受信された超音波のデータから被検査面に存在する欠陥を検出する構成とするレーザー超音波探傷装置であって、前記送信プローブ及び前記受信プローブには、それぞれ、距離計測手段が設けられ、前記距離計測手段によって、前記送信プローブ及び前記受信プローブから被検査面までの距離が計測され、前記距離に基づいて、レーザー超音波探傷装置に設けられる出力調整手段により、前記レーザー光の出力が調整され、前記送信プローブ及び前記受信プローブには、それぞれ、可変集光レンズが設けられ、前記距離に基づいて、レーザー超音波探傷装置に設けられる焦点距離調整手段により、前記送信プローブ及び前記受信プローブからそれぞれ出力されるレーザー光の焦点距離が調整される、構成とする。
また、請求項6に記載のごとく、前記レーザー光の出力設定の調整は、前記被検査面と前記送信プローブの間の距離において、前記距離が短い場合には、前記レーザー光の出力は、弱く設定され、前記距離が長い場合には、前記レーザー光の出力は、強く設定されることで行われ、前記各可変集光レンズの焦点距離の調整は、前記被検査面と前記送信プローブ及び前記受信プローブの間の各距離において、前記距離が短い場合には、可変集光レンズの厚さは、厚く設定され、前記距離が長い場合には、可変集光レンズの厚さは、薄く設定されることで行われることとする。
また、請求項7に記載のごとく、前記距離計測手段は、赤外線センサとする。
また、請求項8に記載のごとく、前記被検査面に励起される超音波は、表面波超音波とする。
以上の請求項1、2、5、6に記載の発明では、走査する過程において、送信プローブ及び受信プローブから被検査面までの距離が変化する場合においても、前記距離が常時計測されてレーザー光の照射条件が逐次補正されるため、安定したレーザー超音波の励起が可能となるとともに、安定した超音波の受信が可能となり、高精度で安定した探傷が可能となる。
また、請求項3及び請求項7に記載の発明では、表面波超音波との干渉による不具合の発生を防止することができる。
また、請求項4及び請求項8に記載の発明では、一度に広い範囲を検査することができる。また、発生される超音波の出力レベルは弱いことから安全であり、また、超音波による表面の損傷を最小限に抑えることができる。
図1に示すごとく、本発明にかかるレーザー超音波探傷装置1は、送信レーザーを生成する送信レーザー光源11、表面波超音波を送信する送信プローブ12、表面波超音波を受信する受信プローブ13、受信レーザーを生成する受信レーザー光源14、表面波超音波の変位量、速度等を検出するレーザー干渉計15、前記レーザー干渉計15にて検出した値を電気信号に変換する光検出器16、を具備して構成されている。
前記光検出器16は、データ処理装置3と接続されており、レーザー干渉計15にて検出した値を電気信号に変換し、データ処理装置3へと送信するようにしている。
また、前記送信プローブ12及び受信プローブ13は、図示せぬ可動アーム等の動作装置に取り付けられており、被検査体5の被検査面5a・5bと所定の距離を保ちつつ移動し、被検査体5の被検査面5a・5bを表面波超音波によって走査する。この送信プローブ12及び受信プローブ13の移動は、前記データ処理装置3によって制御されており、図2に示すごとく、所定の走査ピッチPにて移動するようになっている。
また、検査表面に超音波を垂直に当てる(垂直法)、若しくは斜めに当てる(斜角法)のではなく、検査表面に略水平移動する表面波超音波(線状パルスレーザー)を使用することにより、送信プローブ12と受信プローブ13の間に存在する被検査面5a・5bの欠陥2を検出することができ、一度に広い範囲を検査することができる。また、発生される超音波の出力レベルは弱いことから安全であり、また、超音波による表面の損傷を最小限に抑えることができる。
そして、以上の構成において、表面波超音波の通過する線上にプレス割れや、シワ等の欠陥2が存在した場合には、前記データ処理装置3は、光検出器16からの電気信号に基づいて欠陥2の存在を認識するとともに、その欠陥2を認識したときの前記送信プローブ12と受信プローブ13の位置情報から、欠陥2の発生位置を2次元座標情報(X、Y座標位置)として特定するようにしている。
以上の基本的な構成に加え、本発明にかかるレーザー超音波探傷法は、図3に示すごとく、被検査面5a・5bの間に段差5cがあり、走査する行程Mにおいて、送信プローブ12及び受信プローブ13から被検査面5a・5bまでの距離が変化する場合においても、レーザー光の照射条件を補正して、安定した超音波6a・6bの励起を可能とするとともに、安定した超音波の受信を可能とすることにより、欠陥2a・2bを確実に検出できる高精度で安定した探傷を可能とするものである。
尚、ここでいうレーザー光の照射条件とは、送信プローブ12から照射させるレーザー光22の出力と、送信プローブ12及び受信プローブ13の可変集光レンズ12a・13aの厚みの変更によるレーザー光22・23の焦点距離の調整(フォーカス)等をいうものである。
そして、以上の高精度で安定した探傷を可能とすべく、本発明では、図1に示すごとく、距離計測手段12b・13bにて送信プローブ12及び受信プローブ13から被検査面5a・5bまでの距離L2・L3を計測しつつ、前記送信プローブ12から照射させるレーザー光22の出力を前記距離L2・L3に対応する値に調整するとともに、計測された距離L2・L3に基づいて、前記送信プローブ12及び受信プローブ13の可変集光レンズ12a・13aの焦点距離を前記距離L2・L3に対応する値に調整することとするものである。
図1に示すごとく、前記送信プローブ12及び受信プローブ13には、それぞれ、距離計測手段12b・13bが設けられており、送信プローブ12及び受信プローブ13から被検査面5a・5bまでの距離L2・L3の計測が可能となっている。
前記距離計測手段12b・13bは、それぞれ、前記データ処理装置3と接続されており、データ処理装置3では、距離計測手段12b・13bから送信されるデータに基づいて前記距離L2・L3を算出する。
尚、距離計測手段12b・13bの構成については特に限定されるものではないが、表面波超音波との干渉による不具合の発生を考慮すると、赤外線センサが好適である。
また、前記送信プローブ12から照射されるレーザー光22の出力は、前記データ処理装置3により、被検査面5a・5bと送信プローブ12及び受信プローブ13の間の距離L2・L3に応じた値に調整されるようになっている。
このレーザー光22の出力の調整は、レーザー超音波探傷装置1に構成される出力調整手段にて行われるものであり、本実施例では、データ処理装置3にて前記送信レーザー光源11を制御する形態により、出力調整手段が構成されている。
そして、この出力調整手段(データ処理装置3及び送信レーザー光源11)により、図4に示すごとく、被検査面5aと送信プローブ12の間の距離L2が短い場合には、レーザー光22の出力は弱く設定されるようになっている。一方、被検査面5bと送信プローブ12の間の距離L2が長い場合には、レーザー光22の出力は強く設定されるようになっている。
また、前記送信プローブ12及び受信プローブ13には、それぞれ、可変集光レンズ12a・13aが設けられており、図4に示すごとく、各可変集光レンズ12a・13aの厚みを変更することによって、レーザー光22・23の焦点距離の調整(フォーカス)が行われる。
本実施例では、前記データ処理装置3にて前記可変集光レンズ12a・13aの厚みを調整することとしており、データ処理装置3を焦点距離調整手段として機能させることとしている。
そして、この焦点距離調整手段(データ処理装置3)により、図4に示すごとく、被検査面5aと送信プローブ12及び受信プローブ13の間の距離L2・L3が短い場合には、可変集光レンズ12a・13aの厚さは、前記データ処理装置3により厚く設定されるようになっている。一方、被検査面5bと送信プローブ12及び受信プローブ13の間の距離L2・L3が長い場合には、可変集光レンズ12a・13aの厚さは、前記データ処理装置3により薄く設定されるようになっている。
また、前記データ処理装置3には、前記距離L2・L3の値に対応する可変集光レンズ12a・13aの焦点距離(レンズの厚さ)、及び、レーザー光22の出力が記憶されており、データ処理装置3では、変化する前記距離L2・L3の値に応じ、可変集光レンズ12a・13aの厚さ、レーザー光22の出力を設定することとしている。このようにして、レーザー光の照射条件が逐次補正されるようになっている。
以上のように、被検査面5a・5bに対し送信プローブ12からレーザー光22を照射させて超音波を励起させ、被検査面5a・5bに対し受信プローブ13からレーザー光23を照射させて前記超音波を受信し、受信された超音波のデータから被検査面に存在する欠陥を検出する構成とするレーザー超音波探傷装置であって、前記送信プローブ12及び受信プローブ13には、それぞれ、距離計測手段12b・13bが設けられ、前記距離計測手段12b・13bによって、送信プローブ12及び受信プローブ13から被検査面5a・5bまでの距離L2・L3が計測され、前記距離L2・L3に基づいて、レーザー超音波探傷装置に設けられる出力調整手段(データ処理装置3及び送信レーザー光源11)により、前記レーザー光22の出力が調整され、前記送信プローブ12及び受信プローブ13には、それぞれ、可変集光レンズ12a・13aが設けられ、前記距離L2・L3に基づいて、レーザー超音波探傷装置に設けられる焦点距離調整手段(データ処理装置3)により、前記送信プローブ12及び受信プローブ13からそれぞれ出力されるレーザー光22・23の焦点距離の調整が行われる構成としている。
この構成によれば、走査する過程において、送信プローブ12及び受信プローブ13から被検査面5a・5bまでの距離L2・L3が変化する場合においても、前記距離L2・L3が常時計測されてレーザー光の照射条件が逐次補正されるため、安定したレーザー超音波の励起が可能となるとともに、安定した超音波の受信が可能となり、高精度で安定した探傷が可能となる。
そして、以上のようにして検出される欠陥2に関する情報を利用し、製品の合否判定等を行うことができる。
例えば、前記データ処理装置3により、欠陥2の有無情報や、2次元座標情報を表示機器に表示させることや、予め設定された合否判定条件をクリアできないような大きな欠陥2が発見された場合には、不合格判定を行うとともに、製造ラインから除去(ラインオフ)する等である。
また、本発明にかかるレーザー超音波探傷法によれば、被検査面5a・5bの形状が複雑であることを理由としてレーザー超音波探傷法が適用できなかった分野にも適用することが可能となり、さらなる幅広い分野にてレーザー超音波探傷法が活用できる。
例えば、図5に示すごとくの立体形状のプレス成型品40については、送信プローブ12及び受信プローブ13を、上面40aから前面40bにかけて形状に沿わせるように走査させるべく、送信プローブ12及び受信プローブ13の支持機構、移動機構を構成し、プログムによって動作制御することによれば、箱型状のプレス成型品40についてもレーザー超音波探傷法にて検査を行うことができる。また、被検査面に凸部40cや凹部40dが存在する場合でも、上記のように、レーザー光の照射条件を補正することにより、高精度で安定した探傷を行うことができる。
さらに、上記のレーザー超音波探傷にて、欠陥を特定するための粗探傷を実施することとし、検出された欠陥の発生箇所のみを別途赤外線検査装置(パルス式赤外線検査装置等)にて精密探傷することとしてもよい。
即ち、レーザー超音波探傷装置にて被検査体の表面の粗探傷を実施して、被検査体の表面に存在する欠陥の存在する位置を特定し、パルス式赤外線検査装置にて欠陥の精密探傷を実施して、欠陥の赤外線撮影画像を取得し、データ処理装置にて前記赤外線撮影画像を解析して、欠陥のサイズを特定し、欠陥のサイズに基づいてプレス加工品質の合否判定を行う等である。
この場合、レーザー超音波探傷装置による粗探傷では、欠陥の形状やサイズの特定が目的ではなく、欠陥の発生位置の検出が目的であるから、前記走査ピッチP(図2参照)を広く設定することが可能であり(ラップ率Rを低く設定することが可能であり)、粗探傷を高速、かつ、短時間で行うことができ、さらに、パルス式赤外線検査装置では、必要な箇所だけ精密探傷を行うこととするため、検査を短時間で実施することができ、既存の製造工程の維持や、既存の製造ラインへの実装(インライン化)も可能となる。
本発明にかかるレーザー超音波探傷法を実施する装置構成について示す図。 レーザー超音波探傷装置の走査ピッチについて示す図。 走査行程において、送信プローブ及び受信プローブから被検査面までの距離が変化する場合を示す図。 レーザー光の照射条件の補正について示す図。 立体形状のプレス成型品へのレーザー超音波探傷法の適用について示す図。
符号の説明
1 レーザー超音波探傷装置
2 欠陥
3 データ処理装置
5 被検査体
5a・5b 被検査面
11 レーザー光源
12 送信プローブ
12a 可変集光レンズ
12b 距離計測手段
13 受信プローブ
13a 可変集光レンズ
13b 距離計測手段

Claims (8)

  1. 被検査面に対し送信プローブからレーザー光を照射させて超音波を励起させるとともに、被検査面に対し受信プローブからレーザー光を照射させて前記超音波を受信し、受信された超音波のデータから被検査面に存在する欠陥を検出するレーザー超音波探傷法であって、
    距離計測手段にて前記送信プローブ及び前記受信プローブから被検査面までの距離を計測しつつ、
    前記距離に基づいて、
    前記送信プローブから照射させる前記レーザー光の出力設定を調整するとともに、
    前記送信プローブ及び前記受信プローブの可変集光レンズの焦点距離を調整することで、
    前記レーザー光の照射条件を逐次補正しつつ、前記被検査面に存在するプレス不良等の欠陥を検出することとする、レーザー超音波探傷法。
  2. 前記レーザー光の出力設定の調整は、
    前記被検査面と前記送信プローブの間の距離において、
    前記距離が短い場合には、前記レーザー光の出力は、弱く設定され、
    前記距離が長い場合には、前記レーザー光の出力は、強く設定されることで行われ、
    前記各可変集光レンズの焦点距離の調整は、
    前記被検査面と前記送信プローブ及び前記受信プローブの間の各距離において、
    前記距離が短い場合には、可変集光レンズの厚さは、厚く設定され、
    前記距離が長い場合には、可変集光レンズの厚さは、薄く設定されることで行われる、
    ことを特徴とする、請求項1に記載のレーザー超音波探傷法。
  3. 前記距離計測手段は、赤外線センサとする、
    ことを特徴とする、請求項1又は請求項2に記載のレーザー超音波探傷法。
  4. 前記被検査面に励起される超音波は、表面波超音波とする、
    ことを特徴とする、請求項1乃至請求項3のいずれか一項に記載のレーザー超音波探傷法。
  5. 被検査面に対し送信プローブからレーザー光を照射させて超音波を励起させるとともに、被検査面に対し受信プローブからレーザー光を照射させて前記超音波を受信し、受信された超音波のデータから被検査面に存在する欠陥を検出する構成とするレーザー超音波探傷装置であって、
    前記送信プローブ及び前記受信プローブには、それぞれ、距離計測手段が設けられ、
    前記距離計測手段によって、前記送信プローブ及び前記受信プローブから被検査面までの距離が計測され、
    前記距離に基づいて、レーザー超音波探傷装置に設けられる出力調整手段により、前記レーザー光の出力が調整され、
    前記送信プローブ及び前記受信プローブには、それぞれ、可変集光レンズが設けられ、
    前記距離に基づいて、レーザー超音波探傷装置に設けられる焦点距離調整手段により、前記送信プローブ及び前記受信プローブからそれぞれ出力されるレーザー光の焦点距離が調整される、構成とするレーザー超音波探傷装置。
  6. 前記出力調整手段による前記レーザー光の出力設定の調整は、
    前記被検査面と前記送信プローブの間の距離において、
    前記距離が短い場合には、前記レーザー光の出力は、弱く設定され、
    前記距離が長い場合には、前記レーザー光の出力は、強く設定されることで行われ、
    前記焦点距離調整手段による前記各可変集光レンズの焦点距離の調整は、
    前記被検査面と前記送信プローブ及び前記受信プローブの間の各距離において、
    前記距離が短い場合には、可変集光レンズの厚さは、厚く設定され、
    前記距離が長い場合には、可変集光レンズの厚さは、薄く設定されることで行われる、
    ことを特徴とする、請求項5に記載のレーザー超音波探傷装置。
  7. 前記距離計測手段は、赤外線センサとする、
    ことを特徴とする、請求項5又は請求項6に記載のレーザー超音波探傷装置。
  8. 前記被検査面に励起される超音波は、表面波超音波とする、
    ことを特徴とする、請求項5乃至請求項7のいずれか一項に記載のレーザー超音波探傷装置。
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US9217731B2 (en) 2010-05-21 2015-12-22 Kabushiki Kaisha Toshiba Welding inspection method and apparatus thereof
JP5721985B2 (ja) * 2010-09-17 2015-05-20 株式会社東芝 レーザ超音波検査装置及びレーザ超音波検査方法
US11674933B2 (en) * 2018-03-27 2023-06-13 National Institutes For Quantum And Radiological Science And Technology Measuring device, measuring system, moving body, and measuring method
CN109387568A (zh) * 2018-12-21 2019-02-26 西安增材制造国家研究院有限公司 一种激光超声检测装置及增材制造、检测一体设备
CN110954542A (zh) * 2019-12-11 2020-04-03 深圳先进技术研究院 增材制造的缺陷检测装置、缺陷检测系统及缺陷检测方法
JP7476057B2 (ja) * 2020-09-11 2024-04-30 キオクシア株式会社 欠陥検査装置

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