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JP4476737B2 - Display device, display device inspection method, and display device inspection device - Google Patents

Display device, display device inspection method, and display device inspection device Download PDF

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JP4476737B2 JP2004231109A JP2004231109A JP4476737B2 JP 4476737 B2 JP4476737 B2 JP 4476737B2 JP 2004231109 A JP2004231109 A JP 2004231109A JP 2004231109 A JP2004231109 A JP 2004231109A JP 4476737 B2 JP4476737 B2 JP 4476737B2
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Description

この発明は、配線不良を検査するための検査用配線を備えた表示装置、この表示装置の検査用配線に入力した検査信号に基づき配線不良を検査する検査方法、及び、表示装置の検査用配線に入力する検査信号を生成する検査装置に関する。   The present invention relates to a display device provided with an inspection wiring for inspecting a wiring defect, an inspection method for inspecting a wiring defect based on an inspection signal input to the inspection wiring of the display device, and an inspection wiring for the display device The present invention relates to an inspection apparatus that generates an inspection signal to be input to the device.

液晶表示装置などの表示装置は、マトリクス状の表示画素によって構成された有効表示部を備えている。この有効表示部は、表示画素の行方向に沿って延在する複数の走査線、表示画素の列方向に沿って延在する複数の信号線、これら走査線と信号線との交差部付近に配置されたスイッチング素子、スイッチング素子に接続された画素電極などを備えている。   A display device such as a liquid crystal display device includes an effective display unit configured by matrix display pixels. The effective display section includes a plurality of scanning lines extending along the row direction of the display pixels, a plurality of signal lines extending along the column direction of the display pixels, and in the vicinity of an intersection between the scanning lines and the signal lines. A switching element arranged, a pixel electrode connected to the switching element, and the like are provided.

走査線駆動回路と各走査線との間を接続する配線群は、通常、有効表示部の一端側に配置されている。このため、奇数番走査線と偶数番走査線とにそれぞれ検査信号を入力することにより、配線群でのショートや断線、さらには有効表示部でのショートや断線などのパネル上での配線不良を検査することが可能である。   A wiring group that connects between the scanning line driving circuit and each scanning line is usually arranged on one end side of the effective display section. For this reason, by inputting inspection signals to the odd-numbered scan lines and even-numbered scan lines, wiring defects on the panel, such as short-circuits and disconnections in the wiring group, and short-circuits and disconnections in the effective display area, can be detected. It is possible to inspect.

これに対して、奇数番走査線にそれぞれ接続された配線からなる奇数番配線群が有効表示部の一端側に配置され、偶数番走査線にそれぞれ接続された配線からなる偶数番配線群が有効表示部の他端側に配置されるようなレイアウトが提案されている(例えば、特許文献1及び特許文献2参照。)。このようなレイアウトは、特に走査線駆動部及び信号線駆動部を一体化した単一の駆動ICチップを適用するような構成に最適である。   On the other hand, an odd-numbered wiring group consisting of wirings connected to odd-numbered scanning lines is arranged on one end side of the effective display section, and an even-numbered wiring group consisting of wirings connected to even-numbered scanning lines is effective. A layout that is arranged on the other end side of the display unit has been proposed (see, for example, Patent Document 1 and Patent Document 2). Such a layout is particularly suitable for a configuration in which a single driving IC chip in which a scanning line driving unit and a signal line driving unit are integrated is applied.

このようなレイアウトの場合、奇数番走査線と偶数番走査線とにそれぞれ検査信号を入力することにより、有効表示部での配線不良を検査することは可能であるが、各配線群での配線不良を検査することはできない。このため、配線群での配線不良を検出できなかったパネルが後工程に流出するおそれがある。この後工程では、駆動ICチップやフレキシブルプリント基板(FPC)などの高価な部品が実装されるため、不良パネルの流出は、製造歩留まりの低下を招く。
特開平06−160898号公報 特開2001−013892号公報
In such a layout, it is possible to inspect wiring defects in the effective display section by inputting inspection signals to the odd-numbered scanning lines and even-numbered scanning lines, respectively. The defect cannot be inspected. For this reason, there is a possibility that a panel in which a wiring failure in the wiring group cannot be detected flows out to a subsequent process. In this post-process, expensive components such as a driving IC chip and a flexible printed circuit board (FPC) are mounted. Therefore, the outflow of a defective panel causes a decrease in manufacturing yield.
Japanese Patent Laid-Open No. 06-160898 JP 2001-013892 A

この発明は、上述した問題点に鑑みなされたものであって、その目的は、パネル上の配線不良を確実に検出でき、しかも、製造歩留まりの低下を抑制することが可能な表示装置、表示装置の検査方法、及び、表示装置の検査装置を提供することにある。   The present invention has been made in view of the above-described problems, and an object of the present invention is to provide a display device and a display device that can reliably detect a wiring defect on a panel and can suppress a decrease in manufacturing yield. And an inspection apparatus for a display device.

この発明の第1の様態による表示装置は、
複数の表示画素によって構成された有効表示部を備えた表示装置であって、
前記有効表示部の外側に位置する外周部の一端側に配置され、奇数行目の前記表示画素をオン・オフさせるための駆動信号が供給される奇数番走査線にそれぞれ接続された配線からなる奇数番配線群と、
前記外周部の他端側に配置され、偶数行目の前記表示画素をオン・オフさせるための駆動信号が供給される偶数番走査線にそれぞれ接続された配線からなる偶数番配線群と、
前記奇数番配線群の第1配線及び前記偶数番配線群の第3配線に接続された第1検査用配線と、
前記奇数番配線群の前記第1配線に隣接する第2配線及び前記偶数番配線群の第3配線に隣接する第4配線に接続された第2検査用配線と、
を備えたことを特徴とする。
A display device according to a first aspect of the present invention includes:
A display device including an effective display unit configured by a plurality of display pixels,
It is arranged on one end side of the outer peripheral portion located outside the effective display portion, and includes wirings respectively connected to odd-numbered scanning lines to which drive signals for turning on / off the display pixels in odd-numbered rows are supplied. An odd-numbered wiring group;
An even-numbered wiring group consisting of wirings arranged on the other end side of the outer peripheral portion and connected to even-numbered scanning lines to which a drive signal for turning on and off the display pixels in even-numbered rows is supplied;
A first inspection wiring connected to the first wiring of the odd-numbered wiring group and the third wiring of the even-numbered wiring group;
A second wiring for inspection connected to the second wiring adjacent to the first wiring of the odd-numbered wiring group and the fourth wiring adjacent to the third wiring of the even-numbered wiring group;
It is provided with.

この発明の第2の様態による表示装置の検査方法は、
複数の表示画素によって構成された有効表示部を備え、
前記有効表示部の外側に位置する外周部の一端側に配置され、奇数行目の前記表示画素をオン・オフさせるための駆動信号が供給される奇数番走査線にそれぞれ接続された配線からなる奇数番配線群と、
前記外周部の他端側に配置され、偶数行目の前記表示画素をオン・オフさせるための駆動信号が供給される偶数番走査線にそれぞれ接続された配線からなる偶数番配線群と、を備えた表示装置の検査方法であって、
前記奇数番配線群の第1配線に接続された第1検査用配線に第1検査信号を入力し、前記第1配線に隣接する第2配線に接続された第2検査用配線に第2検査信号を入力し、前記偶数番配線群の第3配線に接続された第1検査用配線に第1検査信号を入力し、前記第3配線に隣接する第4配線に接続された第2検査用配線に第2検査信号を入力する工程と、
これら第1及び第2検査信号の入力に基づき、前記奇数番配線群における配線不良、前記偶数番配線群における配線不良、及び、前記有効表示部における前記奇数番走査線及び前記偶数番走査線の配線不良を検査する工程と、
を備えたことを特徴とする。
The inspection method of the display device according to the second aspect of the present invention is as follows:
Comprising an effective display part composed of a plurality of display pixels,
It is arranged on one end side of the outer peripheral portion located outside the effective display portion, and includes wirings respectively connected to odd-numbered scanning lines to which drive signals for turning on / off the display pixels in odd-numbered rows are supplied. An odd-numbered wiring group;
An even-numbered wiring group composed of wirings arranged on the other end side of the outer peripheral portion and connected to even-numbered scanning lines to which a drive signal for turning on / off the display pixels in the even-numbered rows is supplied. A display device inspection method comprising:
A first inspection signal is input to the first inspection wiring connected to the first wiring of the odd-numbered wiring group, and a second inspection wiring is connected to the second inspection wiring connected to the second wiring adjacent to the first wiring. A signal is input, a first inspection signal is input to the first inspection wiring connected to the third wiring of the even-numbered wiring group, and the second inspection is connected to the fourth wiring adjacent to the third wiring. Inputting a second inspection signal to the wiring;
Based on the input of the first and second inspection signals, the wiring defect in the odd-numbered wiring group, the wiring defect in the even-numbered wiring group, and the odd-numbered scanning line and the even-numbered scanning line in the effective display unit. A process for inspecting wiring defects;
It is provided with.

この発明の第3の様態による表示装置の検査装置は、
複数の表示画素によって構成された有効表示部を備え、
前記有効表示部の外側に位置する外周部の一端側に配置され、奇数行目の前記表示画素をオン・オフさせるための駆動信号が供給される奇数番走査線にそれぞれ接続された配線からなる奇数番配線群と、
前記外周部の他端側に配置され、偶数行目の前記表示画素をオン・オフさせるための駆動信号が供給される偶数番走査線にそれぞれ接続された配線からなる偶数番配線群と、を備えた表示装置の検査装置であって、
前記奇数番配線群の第1配線及び前記偶数番配線群の第3配線に接続された第1検査用配線に入力する第1検査信号を生成し、前記奇数番配線群の前記第1配線に隣接する第2配線及び前記偶数番配線群の第3配線に隣接する第4配線に接続された第2検査用配線に入力する第2検査信号を生成する信号生成手段を備えたことを特徴とする。
An inspection apparatus for a display device according to a third aspect of the present invention is:
Comprising an effective display part composed of a plurality of display pixels,
It is arranged on one end side of the outer peripheral portion located outside the effective display portion, and includes wirings respectively connected to odd-numbered scanning lines to which drive signals for turning on / off the display pixels in odd-numbered rows are supplied. An odd-numbered wiring group;
An even-numbered wiring group composed of wirings arranged on the other end side of the outer peripheral portion and connected to even-numbered scanning lines to which a drive signal for turning on / off the display pixels in the even-numbered rows is supplied. A display device inspection apparatus provided,
A first inspection signal to be input to a first inspection wiring connected to the first wiring of the odd-numbered wiring group and the third wiring of the even-numbered wiring group is generated, and the first inspection signal is input to the first wiring of the odd-numbered wiring group. And a signal generating means for generating a second inspection signal to be input to a second inspection wiring connected to an adjacent second wiring and a fourth wiring adjacent to the third wiring of the even-numbered wiring group. To do.

この発明によれば、パネル上の配線不良を確実に検出でき、しかも、製造歩留まりの低下を抑制することが可能な表示装置、表示装置の検査方法、及び、表示装置の検査装置を提供することができる。   According to the present invention, it is possible to provide a display device, a display device inspection method, and a display device inspection device capable of reliably detecting a wiring defect on a panel and suppressing a decrease in manufacturing yield. Can do.

以下、この発明の一実施の形態に係る表示装置、表示装置の検査方法、及び、表示装置の検査装置について図面を参照して説明する。   Hereinafter, a display device, a display device inspection method, and a display device inspection device according to an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.

図1に示すように、表示装置の一例としての液晶表示装置は、略矩形平板状の液晶表示パネル1を備えている。この液晶表示パネル1は、一対の基板すなわちアレイ基板3及び対向基板4と、これら一対の基板の間に光変調層として保持された液晶層5と、によって構成されている。この液晶表示パネル1は、画像を表示する矩形状の有効表示部6を備えている。この有効表示部6は、マトリクス状に配置された複数の表示画素PXによって構成されている。   As shown in FIG. 1, a liquid crystal display device as an example of a display device includes a liquid crystal display panel 1 having a substantially rectangular flat plate shape. The liquid crystal display panel 1 is composed of a pair of substrates, that is, an array substrate 3 and a counter substrate 4, and a liquid crystal layer 5 held as a light modulation layer between the pair of substrates. The liquid crystal display panel 1 includes a rectangular effective display unit 6 for displaying an image. The effective display unit 6 is composed of a plurality of display pixels PX arranged in a matrix.

アレイ基板3は、有効表示部6において、表示画素PXの行方向に沿って延在する複数の走査線Y(1、2、3、…、m)、表示画素PXの列方向に沿って延在する複数の信号線X(1、2、3、…、n)、これら走査線Yと信号線Xとの交差部付近において表示画素PX毎に配置されたスイッチング素子7、スイッチング素子7に接続された画素電極8などを備えている。   In the effective display section 6, the array substrate 3 extends along the column direction of the display pixels PX and a plurality of scanning lines Y (1, 2, 3,..., M) extending along the row direction of the display pixels PX. A plurality of existing signal lines X (1, 2, 3,..., N), connected to the switching elements 7 and switching elements 7 arranged for each display pixel PX in the vicinity of the intersection of the scanning lines Y and the signal lines X. The pixel electrode 8 and the like are provided.

スイッチング素子7は、薄膜トランジスタ(TFT)などで構成されている。このスイッチング素子7のゲート電極7Gは、対応する走査線Yに電気的に接続されている(あるいは走査線と一体に形成されている)。スイッチング素子7のドレイン電極7Dは、対応する信号線Xに電気的に接続されている(あるいは信号線と一体に形成されている)。スイッチング素子7のソース電極7Sは、対応する表示画素PXの画素電極8に電気的に接続されている。   The switching element 7 is composed of a thin film transistor (TFT) or the like. The gate electrode 7G of the switching element 7 is electrically connected to the corresponding scanning line Y (or formed integrally with the scanning line). The drain electrode 7D of the switching element 7 is electrically connected to the corresponding signal line X (or formed integrally with the signal line). The source electrode 7S of the switching element 7 is electrically connected to the pixel electrode 8 of the corresponding display pixel PX.

対向基板4は、有効表示部6において、全表示画素PXに共通の対向電極9などを備えている。これらアレイ基板3及び対向基板4は、画素電極8と対向電極9とを対向させた状態で配設され、これらの間にギャップを形成する。液晶層5は、アレイ基板3と対向基板4とのギャップに封止された液晶組成物によって形成されている。   The counter substrate 4 includes a counter electrode 9 and the like common to all the display pixels PX in the effective display unit 6. The array substrate 3 and the counter substrate 4 are arranged with the pixel electrode 8 and the counter electrode 9 facing each other, and a gap is formed between them. The liquid crystal layer 5 is formed of a liquid crystal composition sealed in the gap between the array substrate 3 and the counter substrate 4.

カラー表示タイプの液晶表示装置では、液晶表示パネル1は、複数種類の表示画素、例えば赤(R)を表示する赤色画素、緑(G)を表示する緑色画素、青(B)を表示する青色画素を有している。すなわち、赤色画素は、赤色の主波長の光を透過する赤色カラーフィルタを備えている。緑色画素は、緑色の主波長の光を透過する緑色カラーフィルタを備えている。青色画素は、青色の主波長の光を透過する青色カラーフィルタを備えている。これらカラーフィルタは、アレイ基板3または対向基板4の主面に配置される。   In the color display type liquid crystal display device, the liquid crystal display panel 1 includes a plurality of types of display pixels, for example, a red pixel that displays red (R), a green pixel that displays green (G), and a blue that displays blue (B). Has pixels. That is, the red pixel includes a red color filter that transmits light having a red main wavelength. The green pixel includes a green color filter that transmits light having a green dominant wavelength. The blue pixel includes a blue color filter that transmits light having a blue main wavelength. These color filters are arranged on the main surface of the array substrate 3 or the counter substrate 4.

液晶表示パネル1は、有効表示部6の外側に位置する外周部10に配置された駆動ICチップ11を備えている。図1に示した例では、駆動ICチップ11は、対向基板4の端部4Aより外方に延在したアレイ基板3の延在部10A上に配置されている。この駆動ICチップ11は、各信号線Xに駆動信号(映像信号)を供給する信号線駆動部11X、及び、各走査線Yに駆動信号(走査信号)を供給する走査線駆動部11Yを有している。   The liquid crystal display panel 1 includes a drive IC chip 11 disposed on an outer peripheral portion 10 located outside the effective display portion 6. In the example shown in FIG. 1, the driving IC chip 11 is disposed on the extending portion 10 </ b> A of the array substrate 3 that extends outward from the end portion 4 </ b> A of the counter substrate 4. The driving IC chip 11 has a signal line driving unit 11X that supplies a driving signal (video signal) to each signal line X, and a scanning line driving unit 11Y that supplies a driving signal (scanning signal) to each scanning line Y. is doing.

走査線駆動部11Yは、奇数番走査線Y(1、3、5、…)に対して駆動信号を出力する第1駆動部11Y1、及び、偶数番走査線Y(2、4、6、…)に対して駆動信号を出力する第2駆動部11Y2を含んでいる。これら第1駆動部11Y1及び第2駆動部11Y2は、信号線駆動部11Xを挟んだ両側にそれぞれ配置されている。   The scanning line drive unit 11Y outputs a drive signal to the odd-numbered scanning lines Y (1, 3, 5,...) And the even-numbered scanning lines Y (2, 4, 6,...). ) Includes a second drive unit 11Y2 that outputs a drive signal. The first drive unit 11Y1 and the second drive unit 11Y2 are respectively disposed on both sides of the signal line drive unit 11X.

第1駆動部11Y1は、外周部10の一端側10Bに配置された奇数番配線群20を介して奇数番走査線Y(1、3、5、…)と電気的に接続されている。この奇数番配線群20は、奇数番走査線Y(1、3、5、…)のそれぞれに接続された配線W(1、3、5、…)によって構成されている。つまり、第1駆動部11Y1から出力された駆動信号は、各配線W(1、3、5、…)を介して対応する奇数番走査線Y(1、3、5、…)に供給され、奇数行目の表示画素PXをオン・オフさせる。すなわち、各表示画素PXに含まれるスイッチング素子7は、対応する走査線Yから供給された駆動信号に基づいてオン・オフ制御される。   The first drive unit 11Y1 is electrically connected to the odd-numbered scanning lines Y (1, 3, 5,...) Via the odd-numbered wiring group 20 disposed on the one end side 10B of the outer peripheral part 10. The odd-numbered wiring group 20 is configured by wirings W (1, 3, 5,...) Connected to the odd-numbered scanning lines Y (1, 3, 5,...). That is, the drive signal output from the first drive unit 11Y1 is supplied to the corresponding odd-numbered scanning line Y (1, 3, 5,...) Via each wiring W (1, 3, 5,...) The display pixels PX in the odd rows are turned on / off. In other words, the switching elements 7 included in each display pixel PX are on / off controlled based on the drive signal supplied from the corresponding scanning line Y.

第2駆動部11Y2は、外周部10の他端側10Cに配置された偶数番配線群30を介して偶数番走査線Y(2、4、6、…)と電気的に接続されている。この偶数番配線群30は、偶数番走査線Y(2、4、6、…)のそれぞれに接続された配線W(2、4、6、…)によって構成されている。つまり、第2駆動部11Y2から出力された駆動信号は、各配線W(2、4、6、…)を介して対応する偶数番走査線Y(2、4、6、…)に供給され、偶数行目の表示画素PXをオン・オフさせる。   The second drive unit 11Y2 is electrically connected to the even-numbered scanning lines Y (2, 4, 6,...) Via the even-numbered wiring group 30 disposed on the other end side 10C of the outer peripheral portion 10. The even-numbered wiring group 30 is configured by wirings W (2, 4, 6,...) Connected to the even-numbered scanning lines Y (2, 4, 6,...). That is, the driving signal output from the second driving unit 11Y2 is supplied to the corresponding even-numbered scanning line Y (2, 4, 6,...) Via each wiring W (2, 4, 6,...) The display pixels PX in even-numbered rows are turned on / off.

アレイ基板3は、図2に示すように、外周部10における奇数番配線群20の各配線間の配線不良、偶数番配線群30の各配線間の配線不良、及び、有効表示部6における配線不良を検査するための検査用配線部40を備えている。この検査用配線部40は、信号線駆動部11Xに対応して設けられた信号線検査部41、走査線駆動部11Yの第1駆動部11Y1に対応して設けられた第1走査線検査部42、第2駆動部11Y2に対応して設けられた第2走査線検査部43、及び、各検査部41、42、43に各種信号を入力するためのパッド部44を有している。   As shown in FIG. 2, the array substrate 3 includes a wiring defect between the odd-numbered wiring groups 20 in the outer peripheral portion 10, a wiring defect between the even-numbered wiring groups 30, and a wiring in the effective display section 6. An inspection wiring unit 40 for inspecting defects is provided. The inspection wiring section 40 includes a signal line inspection section 41 provided corresponding to the signal line driving section 11X, and a first scanning line inspection section provided corresponding to the first driving section 11Y1 of the scanning line driving section 11Y. 42, a second scanning line inspection unit 43 provided corresponding to the second drive unit 11Y2, and a pad unit 44 for inputting various signals to the inspection units 41, 42, 43.

信号線検査部41は、各信号線Xに接続された信号線検査用配線51を備えている。ここでは、信号線検査用配線51は、赤色画素に接続された信号線に検査信号を供給するための赤色検査用配線51R、緑色画素に接続された信号線に検査信号を供給するための緑色検査用配線51G、及び、青色画素に接続された信号線に検査信号を供給するための青色検査用配線51Bを有している。   The signal line inspection unit 41 includes a signal line inspection wiring 51 connected to each signal line X. Here, the signal line inspection wiring 51 is a red inspection wiring 51R for supplying an inspection signal to a signal line connected to a red pixel, and a green for supplying an inspection signal to a signal line connected to a green pixel. The inspection wiring 51G and the blue inspection wiring 51B for supplying the inspection signal to the signal line connected to the blue pixel are provided.

また、信号線検査部41は、各信号線X(1、2、…、n)と信号線検査用配線51(R、G、B)との間にスイッチ素子61を備えている。これらのスイッチ素子61は、薄膜トランジスタによって構成されている。すなわち、各スイッチ素子61のゲート電極61Gは、共通のスイッチ信号線54に電気的に接続されている。また、各スイッチ素子61のソース電極61Sは、対応する信号線検査用配線51(R、G、B)に電気的に接続されている。さらに、各スイッチ素子61のドレイン電極61Dは、対応する信号線Xに電気的に接続されている。   Further, the signal line inspection unit 41 includes a switch element 61 between each signal line X (1, 2,..., N) and the signal line inspection wiring 51 (R, G, B). These switch elements 61 are constituted by thin film transistors. That is, the gate electrode 61G of each switch element 61 is electrically connected to the common switch signal line 54. The source electrode 61S of each switch element 61 is electrically connected to the corresponding signal line inspection wiring 51 (R, G, B). Further, the drain electrode 61D of each switch element 61 is electrically connected to the corresponding signal line X.

第1走査線検査部42は、奇数番配線群20の第1配線21、例えば配線W1、W5、W9…に接続された第1検査用配線52と、第1配線21に隣接する第2配線22、例えばW3、W7、W11…に接続された第2検査用配線53と、を備えている。また、第1走査線検査部42は、各第1配線21と第1検査用配線52との間に第1スイッチ素子62Aを備えるとともに、各第2配線22と第2検査用配線53との間に第2スイッチ素子62Bを備えている。これらの第1スイッチ素子62A及び第2スイッチ素子62Bは、薄膜トランジスタによって構成されている。   The first scanning line inspection unit 42 includes a first inspection wiring 52 connected to the first wiring 21 of the odd-numbered wiring group 20, for example, the wirings W 1, W 5, W 9, and the second wiring adjacent to the first wiring 21. 22, for example, second inspection wiring 53 connected to W3, W7, W11. The first scanning line inspection unit 42 includes a first switch element 62 </ b> A between each first wiring 21 and the first inspection wiring 52, and between each second wiring 22 and the second inspection wiring 53. A second switch element 62B is provided therebetween. The first switch element 62A and the second switch element 62B are composed of thin film transistors.

すなわち、第1スイッチ素子62Aのゲート電極62AGは、共通のスイッチ信号線54に電気的に接続されている。また、第1スイッチ素子62Aのソース電極62ASは、対応する第1検査用配線52に電気的に接続されている。さらに、第1スイッチ素子62Aのドレイン電極62ADは、対応する第1配線21に電気的に接続されている。   That is, the gate electrode 62AG of the first switch element 62A is electrically connected to the common switch signal line 54. The source electrode 62AS of the first switch element 62A is electrically connected to the corresponding first inspection wiring 52. Further, the drain electrode 62AD of the first switch element 62A is electrically connected to the corresponding first wiring 21.

また、第2スイッチ素子62Bのゲート電極62BGは、共通のスイッチ信号線54に電気的に接続されている。また、第2スイッチ素子62Bのソース電極62BSは、対応する第2検査用配線53に電気的に接続されている。さらに、第2スイッチ素子62Bのドレイン電極62BDは、対応する第2配線22に電気的に接続されている。   The gate electrode 62BG of the second switch element 62B is electrically connected to the common switch signal line 54. The source electrode 62BS of the second switch element 62B is electrically connected to the corresponding second inspection wiring 53. Further, the drain electrode 62BD of the second switch element 62B is electrically connected to the corresponding second wiring 22.

第2走査線検査部43は、偶数番配線群30の第3配線33、例えば配線W2、W6、W10…に接続された第1検査用配線52と、第3配線33に隣接する第4配線34、例えばW4、W8、W12…に接続された第2検査用配線53と、を備えている。また、第2走査線検査部43は、各第3配線33と第3検査用配線53Aとの間に第3スイッチ素子63Aを備えるとともに、各第4配線34と第4検査用配線53Bとの間に第4スイッチ素子63Bを備えている。これらの第3スイッチ素子63A及び第4スイッチ素子63Bは、薄膜トランジスタによって構成されている。   The second scanning line inspection unit 43 includes a first inspection wiring 52 connected to the third wiring 33 of the even-numbered wiring group 30, for example, the wirings W 2, W 6, W 10, and the fourth wiring adjacent to the third wiring 33. 34, for example, second inspection wiring 53 connected to W4, W8, W12. The second scanning line inspection unit 43 includes a third switch element 63A between each third wiring 33 and the third inspection wiring 53A, and each of the fourth wiring 34 and the fourth inspection wiring 53B. A fourth switch element 63B is provided therebetween. The third switch element 63A and the fourth switch element 63B are composed of thin film transistors.

すなわち、第3スイッチ素子63Aのゲート電極63AGは、共通のスイッチ信号線54に電気的に接続されている。また、第3スイッチ素子63Aのソース電極63ASは、第1スイッチ素子62Aと共通の第1検査用配線52に電気的に接続されている。さらに、第3スイッチ素子63Aのドレイン電極63ADは、対応する第3配線33に電気的に接続されている。   That is, the gate electrode 63AG of the third switch element 63A is electrically connected to the common switch signal line 54. The source electrode 63AS of the third switch element 63A is electrically connected to the first inspection wiring 52 that is common to the first switch element 62A. Furthermore, the drain electrode 63AD of the third switch element 63A is electrically connected to the corresponding third wiring 33.

また、第4スイッチ素子63Bのゲート電極63BGは、共通のスイッチ信号線54に電気的に接続されている。また、第4スイッチ素子63Bのソース電極63BSは、第2スイッチ素子62Bと共通の第2検査用配線53に電気的に接続されている。さらに、第4スイッチ素子63Bのドレイン電極63BDは、対応する第4配線34に電気的に接続されている。   The gate electrode 63BG of the fourth switch element 63B is electrically connected to the common switch signal line 54. The source electrode 63BS of the fourth switch element 63B is electrically connected to the second inspection wiring 53 that is common to the second switch element 62B. Further, the drain electrode 63BD of the fourth switch element 63B is electrically connected to the corresponding fourth wiring 34.

パッド部44は、信号線検査用配線51(R、G、B)のそれぞれの一端部に駆動信号の入力を可能とする入力パッド71(R、G、B)、第1検査用配線52の一端部に駆動信号の入力を可能とする入力パッド72、第2検査用配線53の一端部に駆動信号の入力を可能とする入力パッド73、スイッチ信号線54の一端部に駆動信号の入力を可能とする入力パッド74を備えている。   The pad portion 44 includes an input pad 71 (R, G, B) and a first inspection wiring 52 that allow a drive signal to be input to one end of each of the signal line inspection wirings 51 (R, G, B). An input pad 72 that allows a drive signal to be input to one end, an input pad 73 that allows a drive signal to be input to one end of the second inspection wiring 53, and a drive signal input to one end of the switch signal line 54 An input pad 74 is provided.

入力パッド71(R、G、B)から入力される駆動信号は、検査段階において各表示画素PXの画素電極8に書き込まれる検査用映像信号である。入力パッド72及び73から入力される駆動信号は、検査段階において各表示画素PXのスイッチング素子7のオン・オフを制御するための検査信号である。入力パッド74から入力される駆動信号は、検査段階において各検査部のスイッチ素子61、62、63のオン・オフを制御するためのスイッチ信号である。   The drive signal input from the input pad 71 (R, G, B) is an inspection video signal written to the pixel electrode 8 of each display pixel PX in the inspection stage. The drive signals input from the input pads 72 and 73 are inspection signals for controlling on / off of the switching element 7 of each display pixel PX in the inspection stage. The drive signal input from the input pad 74 is a switch signal for controlling on / off of the switch elements 61, 62, 63 of each inspection unit in the inspection stage.

各信号線X(1、2、…n)、奇数番配線群20の各配線21、22、及び、偶数番配線群30の各配線33、34は、それぞれの中途部に駆動ICチップ11との接続を可能とする接続パッドPDを備えている。   Each signal line X (1, 2,... N), each wiring 21 and 22 of the odd-numbered wiring group 20, and each wiring 33 and 34 of the even-numbered wiring group 30 are connected to the driving IC chip 11 in the middle. The connection pad PD that enables the connection is provided.

上述したような構成の液晶表示装置によれば、有効表示部の両端側から奇数番走査線及び偶数番走査線にそれぞれ駆動信号を供給可能なレイアウトにおいて、奇数番走査線に駆動信号を供給するための奇数番配線群を構成する第1配線及びこれに隣接する第2配線に対して異なるタイミングで異なる検査信号を入力することが可能となるとともに、偶数番走査線に駆動信号を供給するための偶数番配線群を構成する第3配線及びこれに隣接する第4配線に対して異なるタイミングで異なる検査信号を入力することが可能となる。このため、奇数番配線群における配線間でのショートや各配線の断線、及び、偶数番配線群における配線間でのショートや各配線の断線といったパネル上での配線不良を確実に検出することが可能となる。   According to the liquid crystal display device having the above-described configuration, the drive signal is supplied to the odd-numbered scan lines in the layout in which the drive signals can be supplied to the odd-numbered scan lines and the even-numbered scan lines from both ends of the effective display section. Therefore, it is possible to input different inspection signals at different timings to the first wirings constituting the odd-numbered wiring group and the second wirings adjacent thereto, and to supply drive signals to the even-numbered scanning lines. It is possible to input different inspection signals at different timings to the third wiring constituting the even-numbered wiring group and the fourth wiring adjacent thereto. For this reason, it is possible to reliably detect wiring defects on the panel such as a short circuit between wires in the odd-numbered wiring group or disconnection of each wiring, and a short circuit between wires in the even-numbered wiring group or a disconnection of each wiring. It becomes possible.

また、このような構成の液晶表示装置によれば、検査用配線部に配置する配線数を削減することができるため、低コスト化が可能となるとともに、外周部を縮小することができるため、狭額縁化が可能となる。   Further, according to the liquid crystal display device having such a configuration, the number of wirings arranged in the inspection wiring part can be reduced, so that the cost can be reduced and the outer peripheral part can be reduced. Narrow frame is possible.

(検査装置)
次に、上述したような構成の液晶表示装置において、液晶表示パネル上での配線不良を検出するための検査装置100について説明する。すなわち、検査装置100は、図3に示すように、パッド部44の各入力パッドに接続可能な複数のプローブ101と、プローブ101を介して第1検査用配線52及び第2検査用配線53に入力する検査信号やスイッチ信号線54に入力するスイッチ信号を含む各種信号を生成する信号生成部102と、信号生成部102によって生成された各検査信号を対応する第1検査用配線52及び第2検査用配線53に入力する信号入力部103と、を備えている。
(Inspection equipment)
Next, the inspection apparatus 100 for detecting a wiring defect on the liquid crystal display panel in the liquid crystal display device having the above-described configuration will be described. That is, as shown in FIG. 3, the inspection apparatus 100 includes a plurality of probes 101 that can be connected to each input pad of the pad unit 44, and the first inspection wiring 52 and the second inspection wiring 53 through the probes 101. A signal generation unit 102 for generating various signals including an inspection signal to be input and a switch signal to be input to the switch signal line 54, first inspection wiring 52 and second corresponding to each inspection signal generated by the signal generation unit 102 And a signal input unit 103 for inputting to the inspection wiring 53.

(検査方法)
すなわち、この検査方法では、まず、検査装置100のプローブ101を、液晶表示パネル1のパッド部44における対応する入力パッドに接続する。そして、所定のタイミングにおいて、信号入力部103は、信号生成部102で生成したスイッチ信号をスイッチ信号線54に入力する。このようなスイッチ信号の入力により、信号線検査部41の各スイッチ素子61、第1走査線検査部42の第1スイッチ素子62A及び第2スイッチ素子62B、及び、第2走査線検査部43の第3スイッチ素子63A及び第4スイッチ素子63Bは、適時オン状態となる。
(Inspection method)
That is, in this inspection method, first, the probe 101 of the inspection apparatus 100 is connected to the corresponding input pad in the pad portion 44 of the liquid crystal display panel 1. Then, at a predetermined timing, the signal input unit 103 inputs the switch signal generated by the signal generation unit 102 to the switch signal line 54. By inputting such a switch signal, each switch element 61 of the signal line inspection unit 41, the first switch element 62A and the second switch element 62B of the first scanning line inspection unit 42, and the second scanning line inspection unit 43 The third switch element 63A and the fourth switch element 63B are turned on in a timely manner.

続いて、信号入力部103は、第1スイッチ素子62Aがオンしたのに基づいて、奇数番配線群20の第1配線21に接続された第1検査用配線52に第1検査信号を入力する。これにより、第1配線21に接続された奇数番走査線のそれぞれに第1検査信号が供給される。このような第1検査信号の入力により、有効表示部6内の奇数番走査線に接続された各スイッチング素子7は、適時オン状態となる。   Subsequently, the signal input unit 103 inputs the first inspection signal to the first inspection wiring 52 connected to the first wiring 21 of the odd-numbered wiring group 20 based on the first switch element 62A being turned on. . As a result, the first inspection signal is supplied to each of the odd-numbered scanning lines connected to the first wiring 21. By such input of the first inspection signal, each switching element 7 connected to the odd-numbered scanning line in the effective display unit 6 is turned on in a timely manner.

また、信号入力部103は、第2スイッチ素子62Bがオンしたのに基づいて、奇数番配線群20の第2配線22に接続された第2検査用配線53に第2検査信号を入力する。これにより、第2配線22に接続された奇数番走査線のそれぞれに第2検査信号が供給される。このような第2検査信号の入力により、有効表示部6内の奇数番走査線に接続された各スイッチング素子7は、適時オン状態となる。   Further, the signal input unit 103 inputs the second inspection signal to the second inspection wiring 53 connected to the second wiring 22 of the odd-numbered wiring group 20 based on the second switch element 62B being turned on. As a result, the second inspection signal is supplied to each of the odd-numbered scanning lines connected to the second wiring 22. Due to the input of the second inspection signal, each switching element 7 connected to the odd-numbered scanning line in the effective display section 6 is turned on in a timely manner.

一方、信号入力部103は、第3スイッチ素子63Aがオンしたのに基づいて、偶数番配線群30の第3配線33に接続された第1検査用配線52に第1検査信号を入力する。これにより、第3配線33に接続された偶数番走査線のそれぞれに第1検査信号が供給される。このような第1検査信号の入力により、有効表示部6内の偶数番走査線に接続された各スイッチング素子7は、適時オン状態となる。   On the other hand, the signal input unit 103 inputs the first inspection signal to the first inspection wiring 52 connected to the third wiring 33 of the even-numbered wiring group 30 based on the third switch element 63A being turned on. As a result, the first inspection signal is supplied to each of the even-numbered scanning lines connected to the third wiring 33. By such input of the first inspection signal, each switching element 7 connected to the even-numbered scanning line in the effective display section 6 is turned on in a timely manner.

また、信号入力部103は、第4スイッチ素子63Bがオンしたのに基づいて、偶数番配線群30の第4配線34に接続された第2検査用配線53に第2検査信号を入力する。これにより、第4配線34に接続された偶数番走査線のそれぞれに第2検査信号が供給される。このような第2検査信号の入力により、有効表示部6内の偶数番走査線に接続された各スイッチング素子7は、適時オン状態となる。   Further, the signal input unit 103 inputs the second inspection signal to the second inspection wiring 53 connected to the fourth wiring 34 of the even-numbered wiring group 30 based on the fourth switch element 63B being turned on. As a result, the second inspection signal is supplied to each of the even-numbered scanning lines connected to the fourth wiring 34. By such input of the second inspection signal, the switching elements 7 connected to the even-numbered scanning lines in the effective display unit 6 are turned on in a timely manner.

続いて、これら第1検査信号及び第2検査信号の入力に基づき、奇数番配線群20における第1配線21と第2配線22との間のショート、偶数番配線群30における第3配線33と第4配線34との間のショート、及び、有効表示部6における奇数番走査線と偶数番走査線との間のショートを検査する。ここでは、この検査工程において、信号生成部102は、有効表示部6内の各スイッチング素子7がオンした状態において、信号線検査用配線51(R、G、B)を介して各信号線Xに検査用映像信号を入力する。これにより、液晶表示パネル1の有効表示部6における各表示画素PXに検査用映像信号が書き込まれる。このような検査用映像信号の書き込みにより、液晶表示パネル1上の各種配線の配線不良を検査する。   Subsequently, based on the input of the first inspection signal and the second inspection signal, a short circuit between the first wiring 21 and the second wiring 22 in the odd-numbered wiring group 20 and the third wiring 33 in the even-numbered wiring group 30 A short circuit between the fourth wiring 34 and a short circuit between the odd-numbered scanning line and the even-numbered scanning line in the effective display unit 6 is inspected. Here, in this inspection process, the signal generation unit 102, in a state in which each switching element 7 in the effective display unit 6 is turned on, each signal line X via the signal line inspection wiring 51 (R, G, B). Input video signal for inspection. As a result, the inspection video signal is written to each display pixel PX in the effective display section 6 of the liquid crystal display panel 1. By writing such an inspection video signal, wiring defects of various wirings on the liquid crystal display panel 1 are inspected.

すなわち、図4に示すように、奇数番配線群20の第1配線21から対応する奇数番走査線に信号入力可能なタイミングにおいて、第1検査用配線52から第1検査信号を入力するとともに、各信号線Xに検査用映像信号を入力する。このとき、奇数番配線群20において隣接する第1配線21と第2配線22との間でショートが発生していた場合、例えば配線W1と配線W3との間でショートが発生していた場合、配線W1に接続された走査線Y1のみならず、配線W3に接続された走査線Y3にも第1検査信号が供給される。このため、走査線Y1に接続された表示画素PXのスイッチング素子7のみならず、走査線Y3に接続された表示画素PXのスイッチング素子7も同時にオンしてしまう。したがって、本来、走査線Y1、Y5、Y9…に接続された表示画素PXのスイッチング素子7がオンした状態となるべきところ、配線W1と配線W3との間のショートにより、走査線Y1、Y3、Y5、Y9…に接続された表示画素PXのスイッチング素子7がオンした状態となる。   That is, as shown in FIG. 4, the first inspection signal is input from the first inspection wiring 52 at a timing at which a signal can be input from the first wiring 21 of the odd-numbered wiring group 20 to the corresponding odd-numbered scanning line, An inspection video signal is input to each signal line X. At this time, when a short circuit occurs between the adjacent first wiring 21 and the second wiring 22 in the odd-numbered wiring group 20, for example, when a short circuit occurs between the wiring W1 and the wiring W3, The first inspection signal is supplied not only to the scanning line Y1 connected to the wiring W1, but also to the scanning line Y3 connected to the wiring W3. For this reason, not only the switching element 7 of the display pixel PX connected to the scanning line Y1, but also the switching element 7 of the display pixel PX connected to the scanning line Y3 is simultaneously turned on. Therefore, originally, the switching element 7 of the display pixel PX connected to the scanning lines Y1, Y5, Y9... Should be in the on state, but due to a short circuit between the wiring W1 and the wiring W3, the scanning lines Y1, Y3,. The switching element 7 of the display pixel PX connected to Y5, Y9... Is turned on.

このように、各スイッチング素子7がオンした状態において、検査用映像信号が供給されると、液晶表示パネル1において、対応する表示画素PXが点灯する。このため、液晶表示パネル1における表示画素PXの点灯状態を観察することにより、奇数番配線群20における第1配線21と第2配線22との間のショートが検査可能となる。   As described above, when an inspection video signal is supplied in a state where each switching element 7 is turned on, the corresponding display pixel PX is turned on in the liquid crystal display panel 1. Therefore, by observing the lighting state of the display pixel PX in the liquid crystal display panel 1, it is possible to inspect a short circuit between the first wiring 21 and the second wiring 22 in the odd-numbered wiring group 20.

同様に、奇数番配線群20の第2配線22から対応する奇数番走査線に信号入力可能なタイミングにおいて、第2検査用配線53から第2検査信号を入力するとともに、各信号線Xに検査信号を入力する。これにより、奇数番配線群20における第1配線21と第2配線22との間のショートが検査可能となる。   Similarly, the second inspection signal is input from the second inspection wiring 53 and the signal lines X are inspected at a timing at which a signal can be input from the second wiring 22 of the odd-numbered wiring group 20 to the corresponding odd-numbered scanning line. Input the signal. Thereby, a short circuit between the first wiring 21 and the second wiring 22 in the odd-numbered wiring group 20 can be inspected.

また、図4に示すように、偶数番配線群30の第3配線33から対応する偶数番走査線に信号入力可能なタイミングにおいて、第1検査用配線52から第1検査信号を入力するとともに、各信号線Xに検査用映像信号を入力する。このとき、偶数番配線群30において隣接する第3配線33と第4配線34との間でショートが発生していた場合、例えば配線W2と配線W4との間でショートが発生していた場合、配線W2に接続された走査線Y2のみならず、配線W4に接続された走査線Y4にも第1検査信号が供給される。このため、走査線Y2に接続された表示画素PXのスイッチング素子7のみならず、走査線Y4に接続された表示画素PXのスイッチング素子7も同時にオンしてしまう。したがって、本来、走査線Y2、Y6、Y10…に接続された表示画素PXのスイッチング素子7がオンした状態となるべきところ、配線W2と配線W4との間のショートにより、走査線Y2、Y4、Y6、Y10…に接続された表示画素PXのスイッチング素子7がオンした状態となる。これにより、偶数番配線群30における第3配線33と第4配線34との間のショートが検査可能となる。   Further, as shown in FIG. 4, at a timing at which a signal can be input from the third wiring 33 of the even-numbered wiring group 30 to the corresponding even-numbered scanning line, the first inspection signal is input from the first inspection wiring 52, An inspection video signal is input to each signal line X. At this time, when a short circuit occurs between the third wiring line 33 and the fourth wiring line 34 adjacent to each other in the even-numbered wiring group 30, for example, when a short circuit occurs between the wiring line W2 and the wiring line W4, The first inspection signal is supplied not only to the scanning line Y2 connected to the wiring W2, but also to the scanning line Y4 connected to the wiring W4. For this reason, not only the switching element 7 of the display pixel PX connected to the scanning line Y2, but also the switching element 7 of the display pixel PX connected to the scanning line Y4 is simultaneously turned on. Therefore, originally, the switching element 7 of the display pixel PX connected to the scanning lines Y2, Y6, Y10... Should be in the on state, but due to a short circuit between the wiring W2 and the wiring W4, the scanning lines Y2, Y4,. The switching element 7 of the display pixel PX connected to Y6, Y10... Is turned on. Thereby, a short circuit between the third wiring 33 and the fourth wiring 34 in the even-numbered wiring group 30 can be inspected.

同様に、偶数番配線群30の第4配線34から対応する偶数番走査線に信号入力可能なタイミングにおいて、第2検査用配線53から第2検査信号を入力するとともに、各信号線Xに検査信号を入力する。これにより、偶数番配線群30における第3配線33と第4配線34との間のショートが検査可能となる。   Similarly, the second inspection signal is input from the second inspection wiring 53 and the signal lines X are inspected at a timing at which a signal can be input from the fourth wiring 34 of the even-numbered wiring group 30 to the corresponding even-numbered scanning line. Input the signal. Thereby, a short circuit between the third wiring 33 and the fourth wiring 34 in the even-numbered wiring group 30 can be inspected.

加えて、これら奇数番配線群20及び偶数番配線群30におけるショートの検査と同時に、有効表示部6における奇数番走査線と偶数番走査線との間のショートを検査することも可能である。すなわち、奇数番走査線と偶数番走査線との間でショートが発生していた場合、例えば走査線Y1と走査線Y2との間でショートが発生していた場合、奇数番配線群20の第1配線21と第2配線22との間のショートを検査する工程において、第1配線21から対応する奇数番走査線に第1検査信号を入力すると、走査線Y1及び走査線Y3に第1検査信号が供給される。このため、走査線Y1に接続された表示画素PXのスイッチング素子7のみならず、走査線Y2に接続された表示画素PXのスイッチング素子7も同時にオンしてしまう。したがって、本来、走査線Y1、Y5、Y9…に接続された表示画素PXのスイッチング素子7がオンした状態となるべきところ、走査線Y1と走査線Y2との間のショートにより、走査線Y1、Y2、Y5、Y9…に接続された表示画素PXのスイッチング素子7がオンした状態となる。   In addition, it is possible to inspect a short circuit between the odd-numbered scanning line and the even-numbered scanning line in the effective display portion 6 simultaneously with the inspection of the short circuit in the odd-numbered wiring group 20 and the even-numbered wiring group 30. That is, when a short circuit occurs between the odd-numbered scanning line and the even-numbered scanning line, for example, when a short circuit occurs between the scanning line Y1 and the scanning line Y2, the first wiring group 20 of the odd-numbered wiring group 20 In the step of inspecting a short between the first wiring 21 and the second wiring 22, when a first inspection signal is input from the first wiring 21 to the corresponding odd-numbered scanning line, the first inspection is applied to the scanning line Y1 and the scanning line Y3. A signal is supplied. For this reason, not only the switching element 7 of the display pixel PX connected to the scanning line Y1, but also the switching element 7 of the display pixel PX connected to the scanning line Y2 is simultaneously turned on. Therefore, originally, the switching element 7 of the display pixel PX connected to the scanning lines Y1, Y5, Y9... Should be in the on state, but due to the short circuit between the scanning lines Y1 and Y2, the scanning lines Y1, Y2,. The switching element 7 of the display pixel PX connected to Y2, Y5, Y9... Is turned on.

このように、各スイッチング素子7がオンした状態において、各信号線Xに検査用映像信号が供給されると、液晶表示パネル1において、対応する表示画素PXが点灯する。このため、液晶表示パネル1における表示画素PXの点灯状態を観察することにより、隣接する走査線間のショートが検査可能となる。   In this way, when an inspection video signal is supplied to each signal line X in a state where each switching element 7 is turned on, the corresponding display pixel PX is turned on in the liquid crystal display panel 1. For this reason, by observing the lighting state of the display pixel PX in the liquid crystal display panel 1, it is possible to inspect a short circuit between adjacent scanning lines.

さらに、上述した検査方法によれば、配線間のショートの検査に加えて、液晶表示パネル1における表示画素PXの点灯状態を観察することにより、駆動ICチップ11との接続を可能とする接続パッドPDから各配線の終端までの断線を検査することも可能である。すなわち、各種検査信号の入力に基づき、表示画素PXの点灯状態を観察することにより、奇数番配線群20を構成する第1配線21及び第2配線22、偶数番配線群30を構成する第3配線33及び第4配線34、さらには、有効表示部6における走査線Y及び信号線Xのそれぞれの終端までの断線を検査するが可能である(断線を生じていた場合、対応する表示画素PXが点灯しない)。   Further, according to the above-described inspection method, in addition to the inspection of the short circuit between the wirings, the connection pad that enables connection with the drive IC chip 11 by observing the lighting state of the display pixel PX in the liquid crystal display panel 1. It is also possible to inspect the disconnection from the PD to the end of each wiring. That is, by observing the lighting state of the display pixel PX based on the input of various inspection signals, the first wiring 21 and the second wiring 22 that constitute the odd-numbered wiring group 20 and the third wiring that configures the even-numbered wiring group 30. It is possible to inspect the disconnection to the end of each of the wiring 33, the fourth wiring 34, and the scanning line Y and the signal line X in the effective display section 6 (if a disconnection occurs, the corresponding display pixel PX Does not light up).

上述したように、検査方法によれば、有効表示部の両端側から奇数番走査線及び偶数番走査線にそれぞれ駆動信号を供給可能なレイアウトの液晶表示装置に対して、検査装置は、奇数番配線群を構成する互いに隣接する第1配線に対して第1検査信号を入力し、これとは異なるタイミングで第2配線に対して第2検査信号を入力する。このような検査信号の入力に基づき、奇数番配線群での配線不良を確実に検出することが可能となる。また、検査装置は、偶数番配線群を構成する互いに隣接する第3配線に対して第1検査信号を入力し、これとは異なるタイミングで第4配線に対して第2検査信号を入力する。このような検査信号の入力に基づき、偶数番配線群での配線不良を確実に検出することが可能となる。同時に、有効表示部における奇数番走査線と偶数番走査線との間のショートや走査線及び信号線の断線などの配線不良も確実に検出することが可能となる。したがって、配線不良の液晶表示パネルの後工程への流出を未然に防ぐことが可能となり、製造歩留まりの低下を抑制することが可能となる。   As described above, according to the inspection method, for the liquid crystal display device having a layout capable of supplying drive signals to the odd-numbered scanning lines and the even-numbered scanning lines from both ends of the effective display unit, A first inspection signal is input to the first wirings adjacent to each other constituting the wiring group, and a second inspection signal is input to the second wiring at a different timing. Based on the input of such an inspection signal, it is possible to reliably detect a wiring defect in the odd-numbered wiring group. In addition, the inspection apparatus inputs the first inspection signal to the third wirings adjacent to each other constituting the even-numbered wiring group, and inputs the second inspection signal to the fourth wiring at a different timing. Based on the input of such an inspection signal, it is possible to reliably detect a wiring defect in the even-numbered wiring group. At the same time, it is possible to reliably detect wiring defects such as a short circuit between the odd-numbered scanning lines and the even-numbered scanning lines and disconnection of the scanning lines and signal lines in the effective display portion. Therefore, it is possible to prevent the wiring defect from flowing into the subsequent process of the liquid crystal display panel, and to suppress a decrease in manufacturing yield.

なお、この発明は、上記実施形態そのままに限定されるものではなく、その実施の段階ではその要旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具体化できる。また、上記実施形態に開示されている複数の構成要素の適宜な組み合せにより種々の発明を形成できる。例えば、実施形態に示される全構成要素から幾つかの構成要素を削除してもよい。更に、異なる実施形態に亘る構成要素を適宜組み合わせてもよい。   Note that the present invention is not limited to the above-described embodiment as it is, and can be embodied by modifying the constituent elements without departing from the spirit of the invention in the stage of implementation. Further, various inventions can be formed by appropriately combining a plurality of constituent elements disclosed in the embodiment. For example, some components may be deleted from all the components shown in the embodiment. Furthermore, you may combine the component covering different embodiment suitably.

この発明の表示装置は、上述した液晶表示装置に限定されるものではなく、有効表示部の両端側から奇数番走査線及び偶数番走査線にそれぞれ駆動信号を供給可能なレイアウトの表示装置であれば適用可能であり、自己発光素子を表示素子とする有機エレクトロルミネッセンス表示装置などであっても良い。   The display device of the present invention is not limited to the liquid crystal display device described above, and may be a display device having a layout capable of supplying drive signals to the odd-numbered scan lines and even-numbered scan lines from both ends of the effective display section. For example, an organic electroluminescence display device using a self-luminous element as a display element may be used.

図1は、この発明の一実施の形態に係る液晶表示装置の液晶表示パネルの構成を概略的に示す図である。FIG. 1 schematically shows a configuration of a liquid crystal display panel of a liquid crystal display device according to an embodiment of the present invention. 図2は、図1に示した液晶表示パネルの検査用配線部の構成を概略的に示す図である。FIG. 2 is a diagram schematically showing the configuration of the inspection wiring portion of the liquid crystal display panel shown in FIG. 図3は、図1に示した液晶表示パネルに適用可能な検査装置の構成を概略的に示す図である。FIG. 3 is a diagram schematically showing a configuration of an inspection apparatus applicable to the liquid crystal display panel shown in FIG. 図4は、図1に示した液晶表示パネルに適用可能な検査方法を説明するための図である。FIG. 4 is a diagram for explaining an inspection method applicable to the liquid crystal display panel shown in FIG.

符号の説明Explanation of symbols

1…液晶表示パネル、20…奇数番配線群、30…偶数番配線群、40…検査用配線部、100…検査装置、PX…表示画素、X…信号線、Y…走査線、W…配線   DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Liquid crystal display panel, 20 ... Odd number wiring group, 30 ... Even number wiring group, 40 ... Inspection wiring part, 100 ... Inspection apparatus, PX ... Display pixel, X ... Signal line, Y ... Scanning line, W ... Wiring

Claims (4)

複数の表示画素によって構成された有効表示部を備えた表示装置であって、
前記有効表示部の外側に位置する外周部の一端側に配置され、奇数行目の前記表示画素をオン・オフさせるための駆動信号が供給される奇数番走査線にそれぞれ接続された配線からなる奇数番配線群と、
前記外周部の他端側に配置され、偶数行目の前記表示画素をオン・オフさせるための駆動信号が供給される偶数番走査線にそれぞれ接続された配線からなる偶数番配線群と、
前記奇数番配線群の第1配線及び前記偶数番配線群の第3配線に接続された第1検査用配線と、
前記奇数番配線群の前記第1配線に隣接する第2配線及び前記偶数番配線群の第3配線に隣接する第4配線に接続された第2検査用配線と、
を備えたことを特徴とする表示装置。
A display device including an effective display unit configured by a plurality of display pixels,
It is arranged on one end side of the outer peripheral portion located outside the effective display portion, and includes wirings respectively connected to odd-numbered scanning lines to which drive signals for turning on / off the display pixels in odd-numbered rows are supplied. An odd-numbered wiring group;
An even-numbered wiring group consisting of wirings arranged on the other end side of the outer peripheral portion and connected to even-numbered scanning lines to which a drive signal for turning on and off the display pixels in even-numbered rows is supplied;
A first inspection wiring connected to the first wiring of the odd-numbered wiring group and the third wiring of the even-numbered wiring group;
A second wiring for inspection connected to the second wiring adjacent to the first wiring of the odd-numbered wiring group and the fourth wiring adjacent to the third wiring of the even-numbered wiring group;
A display device comprising:
前記第1乃至第検査用配線は、それぞれの一端部に駆動信号の入力を可能とする入力パッドを有することを特徴とする請求項1に記載の表示装置。 2. The display device according to claim 1, wherein each of the first and second inspection wirings has an input pad that allows a drive signal to be input at one end thereof. 複数の表示画素によって構成された有効表示部を備え、
前記有効表示部の外側に位置する外周部の一端側に配置され、奇数行目の前記表示画素をオン・オフさせるための駆動信号が供給される奇数番走査線にそれぞれ接続された配線からなる奇数番配線群と、
前記外周部の他端側に配置され、偶数行目の前記表示画素をオン・オフさせるための駆動信号が供給される偶数番走査線にそれぞれ接続された配線からなる偶数番配線群と、を備えた表示装置の検査方法であって、
前記奇数番配線群の第1配線に接続された第1検査用配線に第1検査信号を入力し、前記第1配線に隣接する第2配線に接続された第2検査用配線に第2検査信号を入力し、前記偶数番配線群の第3配線に接続された第1検査用配線に第1検査信号を入力し、前記第3配線に隣接する第4配線に接続された第2検査用配線に第2検査信号を入力する工程と、
これら第1及び第2検査信号の入力に基づき、前記奇数番配線群における配線不良、及び、前記偶数番配線群における配線不良を検査する工程と、
を備えたことを特徴とする表示装置の検査方法。
Comprising an effective display part composed of a plurality of display pixels,
It is arranged on one end side of the outer peripheral portion located outside the effective display portion, and includes wirings respectively connected to odd-numbered scanning lines to which drive signals for turning on / off the display pixels in odd-numbered rows are supplied. An odd-numbered wiring group;
An even-numbered wiring group composed of wirings arranged on the other end side of the outer peripheral portion and connected to even-numbered scanning lines to which a drive signal for turning on / off the display pixels in the even-numbered rows is supplied. A display device inspection method comprising:
A first inspection signal is input to the first inspection wiring connected to the first wiring of the odd-numbered wiring group, and a second inspection wiring is connected to the second inspection wiring connected to the second wiring adjacent to the first wiring. A signal is input, a first inspection signal is input to the first inspection wiring connected to the third wiring of the even-numbered wiring group, and the second inspection is connected to the fourth wiring adjacent to the third wiring. Inputting a second inspection signal to the wiring;
Based on the input of the first and second test signals, defective lines in the odd-numbered line group, and a step of inspecting the wiring bad in the even-numbered line group,
An inspection method for a display device, comprising:
複数の表示画素によって構成された有効表示部を備え、
前記有効表示部の外側に位置する外周部の一端側に配置され、奇数行目の前記表示画素をオン・オフさせるための駆動信号が供給される奇数番走査線にそれぞれ接続された配線からなる奇数番配線群と、
前記外周部の他端側に配置され、偶数行目の前記表示画素をオン・オフさせるための駆動信号が供給される偶数番走査線にそれぞれ接続された配線からなる偶数番配線群と、を備えた表示装置の検査装置であって、
前記奇数番配線群の第1配線及び前記偶数番配線群の第3配線に接続された第1検査用配線に入力する第1検査信号を生成し、前記奇数番配線群の前記第1配線に隣接する第2配線及び前記偶数番配線群の第3配線に隣接する第4配線に接続された第2検査用配線に入力する第2検査信号を生成する信号生成手段を備えたことを特徴とする表示装置の検査装置。
Comprising an effective display part composed of a plurality of display pixels,
It is arranged on one end side of the outer peripheral portion located outside the effective display portion, and includes wirings respectively connected to odd-numbered scanning lines to which drive signals for turning on / off the display pixels in odd-numbered rows are supplied. An odd-numbered wiring group;
An even-numbered wiring group composed of wirings arranged on the other end side of the outer peripheral portion and connected to even-numbered scanning lines to which a drive signal for turning on / off the display pixels in the even-numbered rows is supplied. A display device inspection apparatus provided,
A first inspection signal to be input to a first inspection wiring connected to the first wiring of the odd-numbered wiring group and the third wiring of the even-numbered wiring group is generated, and the first inspection signal is input to the first wiring of the odd-numbered wiring group. And a signal generating means for generating a second inspection signal to be input to a second inspection wiring connected to an adjacent second wiring and a fourth wiring adjacent to the third wiring of the even-numbered wiring group. Display device inspection device.
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