Nothing Special   »   [go: up one dir, main page]

JP4039347B2 - ラッチ変換による遅延最適化回路の等価性検証システム、及びプログラム - Google Patents

ラッチ変換による遅延最適化回路の等価性検証システム、及びプログラム Download PDF

Info

Publication number
JP4039347B2
JP4039347B2 JP2003335981A JP2003335981A JP4039347B2 JP 4039347 B2 JP4039347 B2 JP 4039347B2 JP 2003335981 A JP2003335981 A JP 2003335981A JP 2003335981 A JP2003335981 A JP 2003335981A JP 4039347 B2 JP4039347 B2 JP 4039347B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
latch
circuit
flip
flop
input
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2003335981A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2005107566A (ja
Inventor
敦子 村上
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP2003335981A priority Critical patent/JP4039347B2/ja
Publication of JP2005107566A publication Critical patent/JP2005107566A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4039347B2 publication Critical patent/JP4039347B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Description

本発明はラッチ変換による遅延最適化回路の等価性検証システム、及びプログラムに関し、特に元の論理回路の非ラッチ化指定されなかったフリップフロップをラッチに変換し、その出力側の組み合わせ回路の適切な位置に前記ラッチとはラッチタイミングが異なる第2のラッチを挿入した遅延最適回路について、元の回路との等価性や、ラッチ組み合わせの妥当性を検証するラッチ変換による遅延最適化回路の等価性検証システム、及びプログラムに関する。



従来の等価性検証では、第1の方法として、論理回路をレジスタで切った論理木に分割し、分割した論理木同士を比較する方法がとられる。
又、第2の方法として、二つの論理回路における論理の等価性を検証する論理照合方式として二つの論理回路を構成するフリップフロップの対応情報を入力として準備し、対応関係を有するフリップフロップごとに各論理回路から小論理回路を抽出し、小論理回路の組毎に論理照合を行う方式がある(特許文献1参照。)。
特開平9−21850(段落[0009]、[0010]、[0020])
しかし、図2、図3で示されるように、特願2002−207658に記載の方法により、元の論理回路の非ラッチ化指定されていないフリップフロップ(以下FFと省略)は、遅延最適化を行った回路ではスルー状態を持つラッチに変換されており、また、そのラッチと反対の時間でスルーを行うラッチが挿入されているため、元の論理回路と遅延最適化の結果の回路のFFの対応がとれなくなっている。
従って、遅延最適化を行った回路の元の論理回路との等価性を検証するシステムや方法として前記従来の第1の方法や第2の方法を用いるには、遅延最適化を行った回路のラッチやFFと、元の論理回路のFFの対応情報を人手で作成する必要があるという問題点がある。
本発明の目的は、遅延最適化の結果の回路から元の論理回路とFFの対応がとれる中間回路を自動作成し、両者の等価性検証を可能とし、遅延最適化の結果のラッチ組み合わせの妥当性を検証できる、ラッチ変換による遅延最適化回路の等価性検証システムと方法、及びプログラムを提供することにある。
本発明の第1のラッチ変換による遅延最適化回路の等価性検証システムは、フリップフロップと組み合わせ回路とを含む元の論理回路に対して、ラッチ変換による遅延最適化、即ち前記フリップフロップで非ラッチ化指定されなかったフリップフロップを、フリップフロップが入力データを取り込むクロックのレベルでスルーとなる第1のラッチに変換し、前記クロックレベルとは異なるレベルでスルーとなる第2のラッチを論理回路の所定部分に挿入する遅延最適化を行った回路の等価性検証システムであって、前記遅延最適化を行った回路を入力し、これの第1のラッチをフリップフロップに変換し、第2のラッチをバッファに変換した中間回路を生成する手段と、中間回路と元の論理回路を入力しその等価性を検証する手段と、前記遅延最適化を行った回路を入力し、第1のラッチの出力ネットを辿って、次のフリップフロップ或いは次の第1のラッチまでの間に対となる第2のラッチが挿入されていることをチェックするラッチ組み合わせ検証手段とを備えたことを特徴とする。
本発明の第2のラッチ変換による遅延最適化回路の等価性検証システムは、前記第1のラッチ変換による遅延最適化回路の等価性検証システムであって、前記元の論理回路のフリップフロップをクロックがローレベルからハイレベルの変化時に入力されるデータを保持するものとし、前記第1のラッチを、クロックがロウレベルのときに入力データを出力側にスルーとし、クロックがハイレベルに変化時ラッチするローアクティブラッチとし、前記第2のラッチを、クロックがハイレベルのときに入力データを出力側にスルーとし、クロックがローレベルに変化時ラッチするハイアクティブラッチとすることを特徴とする。
本発明の第3のラッチ変換による遅延最適化回路の等価性検証システムは、前記第1、又は第2のラッチ変換による遅延最適化回路の等価性検証システムであって、前記等価性を検証する手段は、中間回路の各フリップフロップと元の論理回路の各フリップフロップとの対応付けを行う手段と、中間回路の任意のフリップフロップの入力の論理が、元の論理回路上で、前記任意のフリップフロップに対応するフリップフロップの入力の論理に等価であることを確認する手段とを含むことを特徴とする。
本発明の第1のラッチ変換による遅延最適化回路の等価性検証方法は、フリップフロップと組み合わせ回路とを含む元の論理回路に対して、ラッチ変換による遅延最適化、即ち前記フリップフロップで非ラッチ化指定されなかったフリップフロップを、フリップフロップが入力データを取り込むクロックのレベルでスルーとなる第1のラッチに変換し、前記クロックレベルとは異なるレベルでスルーとなる第2のラッチを論理回路の所定部分に挿入する遅延最適化を行った回路の等価性検証方法であって、前記遅延最適化を行った回路を入力し、これの第1のラッチをフリップフロップに変換し、第2のラッチをバッファに変換した中間回路を生成する手順と、中間回路と元の論理回路を入力しその等価性を検証する手順と、前記遅延最適化を行った回路を入力し、第1のラッチの出力ネットを辿って、次のフリップフロップ或いは次の第1のラッチまでの間に対となる第2のラッチが挿入されていることをチェックするラッチ組み合わせ検証手順とを含むことを特徴とする。
本発明の第2のラッチ変換による遅延最適化回路の等価性検証方法は、前記第1のラッチ変換による遅延最適化回路の等価性検証方法であって、前記元の論理回路のフリップフロップをクロックがローレベルからハイレベルの変化時に入力されるデータを保持するものとし、前記第1のラッチを、クロックがロウレベルのときに入力データを出力側にスルーとし、クロックがハイレベルに変化時ラッチするローアクティブラッチとし、前記第2のラッチを、クロックがハイレベルのときに入力データを出力側にスルーとし、クロックがローレベルに変化時ラッチするハイアクティブラッチとすることを特徴とする。
本発明の第3のラッチ変換による遅延最適化回路の等価性検証方法は、前記第1、又は第2のラッチ変換による遅延最適化回路の等価性検証方法であって、前記等価性を検証する手順は、中間回路の各フリップフロップと元の論理回路の各フリップフロップとの対応付けを行う手順と、中間回路の任意のフリップフロップの入力の論理が、元の論理回路上で、前記任意のフリップフロップに対応するフリップフロップの入力の論理に等価であることを確認する手順とを含むことを特徴とする。
本発明の第1のプログラムは、フリップフロップと組み合わせ回路とを含む元の論理回路に対して、ラッチ変換による遅延最適化、即ち前記フリップフロップで非ラッチ化指定されなかったフリップフロップを、フリップフロップが入力データを取り込むクロックのレベルでスルーとなる第1のラッチに変換し、前記クロックレベルとは異なるレベルでスルーとなる第2のラッチを論理回路の所定部分に挿入する遅延最適化を行った回路を入力し、これの第1のラッチをフリップフロップに変換し、第2のラッチをバッファに変換した中間回路を生成する手順と、中間回路と元の論理回路を入力しその等価性を検証する手順と、前記遅延最適化を行った回路を入力し、第1のラッチの出力ネットを辿って、次のフリップフロップ或いは次の第1のラッチまでの間に対となる第2のラッチが挿入されていることをチェックするラッチ組み合わせ検証手順とをコンピュータに実行させることを特徴とする。
本発明の第2のプログラムは、フリップフロップと組み合わせ回路とを含む元の論理回路に対して、ラッチ変換による遅延最適化、即ち前記フリップフロップで非ラッチ化指定されなかったフリップフロップを、フリップフロップが入力データを取り込むクロックのレベルでスルーとなる第1のラッチに変換し、前記クロックレベルとは異なるレベルでスルーとなる第2のラッチを論理回路の所定部分に挿入する遅延最適化を行った回路を入力し、これの第1のラッチをフリップフロップに変換し、第2のラッチをバッファに変換した中間回路を生成する手順と、中間回路と元の論理回路を入力する手順、中間回路の各フリップフロップと元の論理回路の各フリップフロップとの対応付けを行う手順、中間回路の任意のフリップフロップの入力の論理が、元の論理回路上で、前記任意のフリップフロップに対応するフリップフロップの入力の論理に等価であることを確認する手順からなる論理の等価性を検証する手順と、前記遅延最適化を行った回路を入力し、第1のラッチの出力ネットを辿って、次のフリップフロップ或いは次の第1のラッチまでの間に対となる第2のラッチが挿入されていることをチェックするラッチ組み合わせ検証手順とをコンピュータに実行させることを特徴とする。
特願2002−207658の記載の方法により遅延最適化された回路は、そのままでは、従来の等価性検証を適用するには、設計者がレジスタ位置の対応を手作業で指定する必要があるが、本発明は、全て自動で検証できるため、工数の削減を可能とする。
また、第1のラッチの出力ネットを辿って、次のFF或いは次の第1のラッチまでの間に対となる第2のラッチが挿入されていることをチェックしており、遅延最適化のためのFFのラッチ変換が適切に行われたかを自動検証できる。
次に、本発明を実施するための最良の形態について図面を参照して詳細に説明する。本実施形態の説明を、特願2002−207658に記載された遅延最適化方法で、元の論理回路のFFをLOWラッチに変換し、LOWラッチの出力側にHIGHラッチを挿入してある場合の例を用いて説明する。
ここでLOWラッチとは、クロックがロウレベルのときに入力データを出力側にスルーとし、クロックがハイレベルでラッチするロウアクティブラッチであり、HIGHラッチとは、クロックがハイレベルのときに入力データを出力側にスルーとし、クロックがロウレベルでラッチするハイアクティブラッチのことである。
図1は本発明のラッチ変換による遅延最適化回路の等価性検証システムのブロック図である。図1を参照し、本発明のラッチ変換による遅延最適化回路の等価性検証システムは、プログラム制御で動作するデータ処理装置10とこれに接続された補助記憶装置20とキーボード等の入力装置30とディスプレイ等の出力装置40を含む。
データ処理装置10には論理検証部13と、ラッチ組み合わせ検証部14を含む。論理検証部13は、ラッチ変換による遅延最適化回路の情報22が元の論理回路情報21に等価であることを検証する手段であり、中間回路生成部11と等価性検証部12を含む。
中間回路生成部11は、前記遅延最適化回路の情報22を入力とし、中間回路情報23を生成する。
等価性検証部12は、中間回路情報23と元の論理回路情報21との等価性検証を行う。
ラッチ組み合わせ検証部14は、遅延最適化処理でHIGHラッチが正しい位置に挿入されているかをチェックする。
補助記憶装置20は、ハードディスク装置或いは光ディスク装置等であり、これには元の論理回路情報21、ラッチ変換による遅延最適化回路の情報22が記憶されており、中間回路情報23、検証結果情報24も記憶される。
尚、中間回路情報23、検証結果情報24は補助記憶装置20に記憶せず、データ処理装置10の主記憶上の確保されたエリアに一時記憶する様にしてもよい。
又、論理検証部13と、ラッチ組み合わせ検証部14は好適にはデータ処理装置10で実行されるプログラムで実現される。
次に、本発明を実施するための最良の形態の動作について図面を参照して説明する。先ず、図2に、元の論理回路を示す。図2を参照し、2aは、非ラッチ化指定されたFFとする。又、FFはクロックのロウからハイへの変化タイミングの直前(正確にはセットアップタイム分前のタイミング)で、組み合わせ回路2g、2hからの入力信号レベルを取り込み、FF自身の動作遅延時間後に出力し、次のクロックの変化タイミングまではその出力値を保持する。
図3は、図2の元の論理回路に対し、特願2002−207658に記載の遅延最適化を行った結果の回路である。
即ち、元の論理回路の非ラッチ化指定されていないFF(2b、2c、2d、2e、2f)がLOWラッチ(3b、3c、3d、3e、3f)に変換してあり、最小遅延補償の為に(これらのLOWラッチ出力はクロックがロウ期間中に変化するが変化した出力が同じサイクルのロウ期間中に次段のLOWラッチやFFに取込まれない様にする為に)、HIGHラッチ(3k、3l、3m、3n)が挿入してある。
次に図5のフローチャートを参照し、論理検証部13の動作を説明する。中間回路生成部11はラッチ変換による遅延最適化回路の情報22を読み込む(ステップA1)。
中間回路生成部11は、遅延最適化の結果の回路のFFから変換されたLOWラッチをFFに変換し(ステップA2)、HIGHラッチをバッファに変換し(ステップA3)、変換後の回路を中間回路とし補助記憶装置に記憶する(ステップA3)。
即ち、図3で、FFから変換されたLOWラッチ(3b、3c、3d、3e、3f)をFF(4b、4c、4d、4e、4f)に変換し、HIGHラッチ(3k、3l、3m、3n)をバッファ(4k、4l、4m、4n)に変換した等価性検証用の中間回路(図4参照)を作成し、記憶する。
このとき、遅延最適化の結果の回路のLOWラッチ(3b、3c、3d、3e、3f)は、元の論理回路のFF(2b、2c、2d、2e、2f)と回路の論理構成上の同じ位置にあるので、中間回路のFF(4b、4c、4d、4e、4f)もまた、元の論理回路のFF(2b、2c、2d、2e、2f)と論理構成上の同じ位置にある。
従って、等価性検証部12は、元の論理回路のFF(2a、2b、2c、2d、2e、2f)と中間回路のFF(2a、4b、4c、4d、4e、4f)との対応をとることにより、図2の元の論理回路と図3の中間回路の等価性検証を行うことができる。
図5のフローチャートに戻り、等価性検証部12の具体動作例を示す。等価性検証部12は中間回路が生成され記憶されたことを受けて、中間回路と元の回路情報を読み込む(ステップA5)。
中間回路の各FFと元の回路の各FFの対応付け情報を作成する。例えば、中間回路の各FF(2a、4b、4c、4d、4e、4f)の入力信号名、或いはこれとFF出力の行き先の回路素子(ゲート、インバータ、セレクタ等)の識別(素子番号或いは出力信号名)を取得し、元の回路情報で同じ入力信号名、或いはこれとFF出力の行き先の回路素子に接続されたFFを探しFF名(FF出力ネット名)の対応リストを作成する(ステップA6)。
中間回路でFFの一つを選択し(ステップA7)、選択したFFの入力信号(ネット)の論理木情報(前段のFF名(FF出力ネット名)や外部入力ネット名による論理記述)を作成し、これのFF名を対応する元の回路のFF名に置換する(ステップA8)。
元の論理回路で、対応するFFの入力信号について論理木情報を作成する(ステップA9)。
ステップA8の置換後の論理木情報が、ステップA9の論理木情報に一致するかチェックし、少なくとも不一致であればその旨と、それぞれのFF名、入力信号名、論理木情報を検証結果情報に記録する(ステップA10)。
中間回路の全FFについてチェックすれば(ステップA11)、図6のラッチ組み合わせ検証部を呼び出し、そうでなければステップA7からA11を繰り返す。
ここで、中間回路情報と元の回路情報にRTL(Registor Trasfer−lebel)記述を含む場合は、中間回路の選択したレジスタやFFの入力は中間回路のレジスタ名、FF名で記述されている。この記述のレジスタ名、FF名を対応する元の回路のレジスタ名、FF名に置換し、これと元の回路情報の前記選択したレジスタやFFに対応するレジスタやFFの入力記述(RTL記述)の一致をチェックする様にしてもよい。
この様にして、論理検証部13は、元の回路のFF間の組み合わせ回路の論理と、遅延最適化後の回路のLOWラッチ間の組み合わせ回路の論理とが等価かどうかを検証することを可能とする。
但し、図3の各LOWラッチから次のLOWラッチまたは非ラッチ化指定のFFまで、正しくデータが伝播されるためには、LOWラッチから次のLOWラッチまたは非ラッチ化指定のFFまでにHIGHラッチが挿入されていなければならない。
ラッチ組み合わせ検証部14は、元の論理回路のFFから変換されたLOWラッチにの出力ネットを辿って、次のFF、または、LOWラッチまでの間に対になるHIGHラッチが挿入されているかをチェックする。
図6のフローチャートを参照し、ラッチ組み合わせ検証部14の詳細動作や結果出力動作を説明する。
ラッチ変換による遅延最適化回路で、LOWラッチの一つを選択し(ステップB1)、これの出力ネットを辿って次ぎのLOWラッチ、或いはFFまでのパスを全て抽出する(ステップB2)。
抽出した各パスにHIGHラッチが挿入されているかチェックし、なければそのパス情報(始点のLOWラッチ名(出力ネット名)、経路のゲートやセレクタ等の回路素子識別(出力ネット名、或いは素子番号)、終点のLOWラッチ名或いはFF名)を検証結果情報に記録する(ステップB3)。
最適化回路の全LOWラッチ(FFより変換されたLOWラッチの全て)についてチェックしてなければ(ステップB4)、ステップB1からB4を繰り返し、チェックが完了すると、等価性検証結果、ラッチ組み合わせ検証結果を出力装置に出力する(ステップC1)。
以上の説明では、元の論理回路のFFがクロックのロウからハイへの変化タイミングで入力信号レベルを取り込むタイプとし、遅延最適化で非ラッチ化指定のFFをLOWラッチに変換し、その出力側のパスの適切な位置にHIGHラッチを挿入し、中間回路生成部がこのLOWラッチ、HIGHラッチを前記タイプのFF、バッファに変換した中間回路を生成する例を説明した。
ここで、元の論理回路のFFがクロックのハイからロウへの変化タイミングで入力信号レベルを取り込む第2のタイプであれば、遅延最適化では非ラッチ化指定のFFをHIGHラッチに変換し、その出力側のパスの適切な位置にLOWラッチが挿入される。
従って、中間回路生成部はこのHIGHラッチ、LOWラッチを第2のタイプのFF、バッファに変換した中間回路を生成することで、同様に遅延最適化回路の元の論理回路との等価性検証を可能にする。
又、この場合はラッチ組み合わせ検証部は、遅延最適化回路のHIGHラッチから次ぎのHIGHラッチ、或いはFF間にLOWラッチが挿入されているかをチェックする。
本発明のラッチ変換による遅延最適化回路の等価性検証システムのブロック図。 図1の元の論理回路情報21の例を示す図。 図1のラッチ変換による遅延最適化回路の情報22の例を示す図。 図1の中間回路情報23の例を示す図。 本発明の動作を示すフローチャート。 本発明の動作を示すフローチャート。
符号の説明
2a〜2f 元の論理回路のFF
2g、2h 元の論理回路の組み合わせ回路
3b〜3f 遅延最適化回路のLOWラッチ
3k〜3n 遅延最適化回路のHIGHラッチ
3g、3h、3i、3j 遅延最適化回路の組み合わせ回路
4b〜4f 中間回路の変換されたFF
4k〜4n 中間回路の変換されたバッファ
10 データ処理装置
11 中間回路生成部
12 等価性検証部
13 論理検証部
14 ラッチ組み合わせ検証部
20 補助記憶装置
21 元の論理回路情報
22 ラッチ変換による遅延最適化回路の情報
23 中間回路情報
24 検証結果情報
30 入力装置
40 出力装置

Claims (5)

  1. フリップフロップと組み合わせ回路とを含む元の論理回路に対して、ラッチ変換による遅延最適化、即ち前記フリップフロップで非ラッチ化指定されなかったフリップフロップを、フリップフロップが入力データを取り込むクロックのレベルでスルーとなる第1のラッチに変換し、前記クロックレベルとは異なるレベルでスルーとなる第2のラッチを論理回路の所定部分に挿入する遅延最適化を行った回路の等価性検証システムであって、
    前記遅延最適化を行った回路を入力し、これの第1のラッチをフリップフロップに変換し、第2のラッチをバッファに変換した中間回路を生成する手段と、中間回路と元の論理回路を入力しその等価性を検証する手段と、前記遅延最適化を行った回路を入力し、第1のラッチの出力ネットを辿って、次のフリップフロップ或いは次の第1のラッチまでの間に対となる第2のラッチが挿入されていることをチェックするラッチ組み合わせ検証手段とを備えたことを特徴とするラッチ変換による遅延最適化回路の等価性検証システム。
  2. 前記元の論理回路のフリップフロップをクロックがローレベルからハイレベルの変化時に入力されるデータを保持するものとし、前記第1のラッチを、クロックがロウレベルのときに入力データを出力側にスルーとし、クロックがハイレベルに変化時ラッチするローアクティブラッチとし、前記第2のラッチを、クロックがハイレベルのときに入力データを出力側にスルーとし、クロックがローレベルに変化時ラッチするハイアクティブラッチとすることを特徴とする請求項1記載のラッチ変換による遅延最適化回路の等価性検証システム。
  3. 前記等価性を検証する手段は、中間回路の各フリップフロップと元の論理回路の各フリップフロップとの対応付けを行う手段と、中間回路の任意のフリップフロップの入力の論理が、元の論理回路上で、前記任意のフリップフロップに対応するフリップフロップの入力の論理に等価であることを確認する手段とを含むことを特徴とする請求項1、又は2記載のラッチ変換による遅延最適化回路の等価性検証システム。
  4. フリップフロップと組み合わせ回路とを含む元の論理回路に対して、ラッチ変換による遅延最適化、即ち前記フリップフロップで非ラッチ化指定されなかったフリップフロップを、フリップフロップが入力データを取り込むクロックのレベルでスルーとなる第1のラッチに変換し、前記クロックレベルとは異なるレベルでスルーとなる第2のラッチを論理回路の所定部分に挿入する遅延最適化を行った回路を入力し、これの第1のラッチをフリップフロップに変換し、第2のラッチをバッファに変換した中間回路を生成する手順と、
    中間回路と元の論理回路を入力しその等価性を検証する手順と、
    前記遅延最適化を行った回路を入力し、第1のラッチの出力ネットを辿って、次のフリップフロップ或いは次の第1のラッチまでの間に対となる第2のラッチが挿入されていることをチェックするラッチ組み合わせ検証手順とをコンピュータに実行させるためのプログラム。
  5. フリップフロップと組み合わせ回路とを含む元の論理回路に対して、ラッチ変換による遅延最適化、即ち前記フリップフロップで非ラッチ化指定されなかったフリップフロップを、フリップフロップが入力データを取り込むクロックのレベルでスルーとなる第1のラッチに変換し、前記クロックレベルとは異なるレベルでスルーとなる第2のラッチを論理回路の所定部分に挿入する遅延最適化を行った回路を入力し、これの第1のラッチをフリップフロップに変換し、第2のラッチをバッファに変換した中間回路を生成する手順と、
    中間回路と元の論理回路を入力する手順、中間回路の各フリップフロップと元の論理回路の各フリップフロップとの対応付けを行う手順、中間回路の任意のフリップフロップの入力の論理が、元の論理回路上で、前記任意のフリップフロップに対応するフリップフロップの入力の論理に等価であることを確認する手順からなる論理の等価性を検証する手順と、
    前記遅延最適化を行った回路を入力し、第1のラッチの出力ネットを辿って、次のフリップフロップ或いは次の第1のラッチまでの間に対となる第2のラッチが挿入されていることをチェックするラッチ組み合わせ検証手順とをコンピュータに実行させるためのプログラム。
JP2003335981A 2003-09-26 2003-09-26 ラッチ変換による遅延最適化回路の等価性検証システム、及びプログラム Expired - Fee Related JP4039347B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003335981A JP4039347B2 (ja) 2003-09-26 2003-09-26 ラッチ変換による遅延最適化回路の等価性検証システム、及びプログラム

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003335981A JP4039347B2 (ja) 2003-09-26 2003-09-26 ラッチ変換による遅延最適化回路の等価性検証システム、及びプログラム

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2005107566A JP2005107566A (ja) 2005-04-21
JP4039347B2 true JP4039347B2 (ja) 2008-01-30

Family

ID=34532267

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2003335981A Expired - Fee Related JP4039347B2 (ja) 2003-09-26 2003-09-26 ラッチ変換による遅延最適化回路の等価性検証システム、及びプログラム

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4039347B2 (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4954062B2 (ja) 2005-04-04 2012-06-13 株式会社日立メディコ X線ct装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP2005107566A (ja) 2005-04-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6536031B2 (en) Method for generating behavior model description of circuit and apparatus for logic verification
CN109543212B (zh) 可编程逻辑器件的功能测试方法、装置及计算机存储介质
CN115470748A (zh) 一种芯片仿真加速方法、装置、电子设备及存储介质
JP2004013720A (ja) 論理回路のタイミング制約モデル生成方法、論理回路のタイミング制約モデル生成プログラム、およびタイミング制約モデルを用いるタイミングドリブンレイアウト方法
JP2000207440A (ja) 半導体集積回路の設計検証装置、方法及び記憶媒体
JP2008511894A (ja) 電子回路の構造レベル記述を設計する方法及びシステム
JP4039347B2 (ja) ラッチ変換による遅延最適化回路の等価性検証システム、及びプログラム
KR102558036B1 (ko) Python을 활용한 RTL 설계 검증 자동화 방법 및 시스템
US20070266361A1 (en) Logic verification method, logic verification apparatus and recording medium
US7673288B1 (en) Bypassing execution of a software test using a file cache
US8056037B2 (en) Method for validating logical function and timing behavior of a digital circuit decision
JP2008197883A (ja) Lsi解析プログラム、該プログラムを記録した記録媒体、lsi解析装置、およびlsi解析方法
JP3941336B2 (ja) 論理回路検証装置
JP3759007B2 (ja) 非同期回路のタイミング検証装置とそのタイミング検証方法
US7047173B1 (en) Analog signal verification using digital signatures
JP2005222371A (ja) 論理回路の機能検証システムおよび方法
JP2845154B2 (ja) 論理シミュレーション用モデルの作成方法
JP6949440B2 (ja) ベクタ生成装置及びベクタ生成用プログラム
JP2006318121A (ja) 遅延付加rtl論理シミュレーション方法および装置
JP2009187119A (ja) 検証支援プログラム、検証支援装置、および検証支援方法
KR20090027015A (ko) 시뮬레이션 시간을 단축할 수 있는 시뮬레이션 방법
JP2008129921A (ja) 論理機能検証装置及び論理機能検証方法
JP2845173B2 (ja) 論理照合方式
JP2002251424A (ja) レイアウト設計方法、装置、プログラム及び記録媒体
JPH09251483A (ja) セルライブラリ作成方法

Legal Events

Date Code Title Description
RD01 Notification of change of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7421

Effective date: 20050315

RD01 Notification of change of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7421

Effective date: 20070118

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20070706

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20070717

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20070911

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20071016

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20071029

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101116

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111116

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111116

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121116

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121116

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131116

Year of fee payment: 6

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees