JP4059190B2 - 光ヘッド装置 - Google Patents
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Description
図18に、特許文献1に開示されている従来の第一の光ヘッド装置の構成を示す。半導体レーザ1からの出射光はコリメータレンズ2で平行光化され、偏光ビームスプリッタ3にP偏光として入射してほぼ100%透過し、1/4波長板4で直線偏光から円偏光に変換され、対物レンズ5でディスク6上に集光される。ディスク6からの反射光は対物レンズ5を逆向きに透過し、1/4波長板4で円偏光から直線偏光に変換され、偏光ビームスプリッタ3にS偏光として入射してほぼ100%反射され、ホログラム光学素子158で回折され、レンズ8を透過して光検出器159で受光される。
図19はホログラム光学素子158の平面図である。ホログラム光学素子158は、ディスク6の半径方向および接線方向に平行な2本の分割線で、領域160〜領域163の4つに分割されている。
図20に光検出器159のパタンと光検出器159上の光スポットを示す。光検出器159は受光部164〜受光部171を有する。ホログラム光学素子158の領域160からの+1次回折光は受光部164と受光部165の境界線上に光スポット173を形成し、−1次回折光は受光部170上に光スポット178を形成する。ホログラム光学素子158の領域161からの+1次回折光は受光部外に光スポット172を形成し、−1次回折光は受光部171上に光スポット179を形成する。ホログラム光学素子158の領域162からの+1次回折光は受光部166と受光部167の境界線上に光スポット174を形成し、−1次回折光は受光部169上に光スポット177を形成する。ホログラム光学素子158の領域163からの+1次回折光は受光部外に光スポット175を形成し、−1次回折光は受光部168上に光スポット176を形成する。受光部164〜受光部171からの出力をそれぞれV164〜V171で表わすと、フーコー法によるフォーカス誤差信号は(V164+V167)−(V165+V166)の演算から得られる。位相差法によるトラック誤差信号はV168+V170とV169+V171の位相差から得られる。プッシュプル法によるトラック誤差信号は(V168+V171)−(V169+V170)の演算から得られる。また、ディスク6に記録された情報信号はV168+V169+V170+V171またはV164+V165+V166+V167+V168+V169+V170+V171の演算から得られる。
図21に、特許文献2に開示されている従来の第二の光ヘッド装置の主要部であるモジュール180の構成を示す。モジュール180の内部には半導体レーザ181、光検出器182が設置されており、モジュール180の窓部にはホログラム光学素子183が設置されている。半導体レーザ181からの出射光はホログラム光学素子183を一部が透過してディスクに向かう。ディスクからの反射光はホログラム光学素子183で一部が回折されて光検出器182で受光される。
図22はホログラム光学素子183の平面図である。ホログラム光学素子183は、ディスクの半径方向および接線方向に平行な2本の分割線で、領域184〜領域187の4つに分割されている。
図23に光検出器182のパタンと光検出器182上の光スポットを示す。光検出器182は受光部188〜受光部193を有する。ホログラム光学素子183の領域184からの+1次回折光は受光部189と受光部190の境界線上に光スポット195を形成する。ホログラム光学素子183の領域185からの+1次回折光は受光部188上に光スポット194を形成する。ホログラム光学素子183の領域186からの+1次回折光は受光部193上に光スポット197を形成する。ホログラム光学素子183の領域187からの+1次回折光は受光部191と受光部192の境界線上に光スポット196を形成する。受光部188〜受光部193からの出力をそれぞれV188〜V193で表わすと、フーコー法によるフォーカス誤差信号は(V189+V192)−(V190+V191)の演算から得られる。位相差法によるトラック誤差信号はV189+V190+V191+V192とV188+V193の位相差から得られる。プッシュプル法によるトラック誤差信号は(V189+V190+V193)−(V188+V191+V192)の演算から得られる。また、ディスクに記録された情報信号はV188+V189+V190+V191+V192+V193の演算から得られる。
図24はホログラム光学素子183の断面図である。ホログラム光学素子183は、ガラス基板14上に誘電体膜198が形成された構成である。半導体レーザ181からの出射光はホログラム光学素子183に入射光199として入射し、透過光200として透過してディスクに向かう。ディスクからの反射光はホログラム光学素子183に入射光201として入射し、+1次回折光202として回折されて光検出器182で受光される。誘電体膜198の断面形状を鋸歯状にすることにより、+1次回折光の回折効率を高めると共に、−1次回折光を殆んど発生させないようにしている。
ディスク6に記録された情報信号および位相差法によるトラック誤差信号には、共に高周波の信号であるため高いS/Nが要求される。高いS/Nを得るには、ディスク6からの反射光の光量に対するこれらの信号の検出に用いられる光量の比Aをできるだけ大きくする必要がある。ホログラム光学素子158の断面形状は矩形状であるため、+1次回折光の回折効率と−1次回折光の回折効率は等しい。この場合、±1次回折光の回折効率の最大値はそれぞれ約40.5%である。すなわち、前記のAの最大値は0.405となる。この値は必ずしも十分に大きいとは言えない。
従来の第二の光ヘッド装置においては、ディスクに記録された情報信号はV188+V189+V190+V191+V192+V193の演算から得られる。この場合、受光部189と受光部190の境界線上に形成される光スポット195、および受光部191と受光部192の境界線上に形成される光スポット196を情報信号の検出に用いることになる。しかし、境界線上は受光部上に比べて光検出器としての周波数特性が低いため、境界線上に形成される光スポットは高周波の信号である情報信号の検出には実質的に寄与しない。すなわち、ディスクからの反射光の断面内の半分に相当する光スポット194および光スポット197のみを用いて情報信号を検出することと等価であるため、情報信号の分解能や隣接トラック間クロストークが悪く、情報信号の検出を正しく行うことができない。また、ディスクからの反射光の断面内の半分に相当する光スポット195および光スポット196のみを用いてフォーカス誤差信号を検出するため、トラック横断時のフォーカス誤差信号の雑音が大きく、フォーカス誤差信号の検出を正しく行うことができない。
従来の第一の光ヘッド装置におけるホログラム光学素子158の代わりに従来の第二の光ヘッド装置におけるホログラム光学素子183を用い、−1次回折光からフォーカス誤差信号を検出し、+1次回折光から位相差法によるトラック誤差信号、プッシュプル法によるトラック誤差信号、およびディスク6に記録された情報信号を検出する構成も考えられる。しかし、この場合、+1次回折光の回折効率が高いため、前記のAの値を大きくすることができるが、−1次回折光が殆んど発生しないため、実際にはフォーカス誤差信号の検出を行うことができなくなる。
本発明の目的は、従来の光ヘッド装置における上に述べた課題を解決し、ディスクからの反射光の光量に対する、ディスクに記録された情報信号および位相差法によるトラック誤差信号の検出に用いられる光量の比Aが大きく、これらの信号に関して高いS/Nが得られる光ヘッド装置を提供することにある。
このように、ディスクからの反射光が第一群の光と第二群の光とに分割されると、第一群の光の光量は第二群の光の光量に比べて大きいため、前記の光量の比Aの値が大きく、ディスクに記録された情報信号および位相差法によるトラック誤差信号に関して高いS/Nを得ることができる。
図1に本発明の光ヘッド装置の第一の実施の形態を示す。半導体レーザ1からの出射光はコリメータレンズ2で平行光化され、偏光ビームスプリッタ3にP偏光として入射してほぼ100%透過し、1/4波長板4で直線偏光から円偏光に変換され、対物レンズ5でディスク6上に集光される。ディスク6からの反射光は対物レンズ5を逆向きに透過し、1/4波長板4で円偏光から直線偏光に変換され、偏光ビームスプリッタ3にS偏光として入射してほぼ100%反射され、ホログラム光学素子7で回折され、レンズ8を透過して光検出器9で受光される。
η-1=(2/π2)(1−cos2φ){1−sin(2πw/p)sinφ} …(1)
η+1=(2/π2)(1−cos2φ){1+sin(2πw/p)sinφ} …(2)
φ=π/2、w/p=0.135またはw/p=0.365とするとη-1=0.10、η+1=0.71となる。従って、−1次回折光17からフォーカス誤差信号を検出し、+1次回折光18から位相差法によるトラック誤差信号、プッシュプル法によるトラック誤差信号、およびディスク6に記録された情報信号を検出する構成にすれば、前記のAの値は0.71となり、従来の第一の光ヘッド装置における値に比べて大きくなる。η-1<η+1かつη-1≠0を満たすw/pの範囲は0<w/p<0.25または0.25<w/p<0.5である。
φ=(2π/λ)(n−1)h/4 …(3)
λ=660nmの場合、誘電体膜15としてSiO2を用いるとn=1.46であるから、φ=π/2とするためにはh=1.43μmであればよい。
ηo0=(1/2)(1+cos2φo)
×{1−4w/p(1−2w/p)(1−cosφo)} …(4)
ηe0=(1/2)(1+cos2φe)
×{1−4w/p(1−2w/p)(1−cosφe)} …(5)
ηo-1=(2/π2)(1−cos2φo){1−sin(2πw/p)sinφo} …(6)
ηe-1=(2/π2)(1−cos2φe){1−sin(2πw/p)sinφe} …(7)
ηo+1=(2/π2)(1−cos2φo){1+sin(2πw/p)sinφo} …(8)
ηe+1=(2/π2)(1−cos2φe){1+sin(2πw/p)sinφe} …(9)
φo=0、φe=π/2、w/p=0.135またはw/p=0.365とするとηo0=1、ηo-1=0、ηo+1=0、ηe0=0、ηe-1=0.10、ηe+1=0.71となる。すなわち、半導体レーザ66からの出射光を偏光性ホログラム光学素子68に常光として入射させると、透過光として100%が透過し、ディスク6からの反射光を偏光性ホログラム光学素子68に異常光として入射させると、−1次回折光として10%、+1次回折光として71%がそれぞれ回折される。従って、−1次回折光17からフォーカス誤差信号を検出し、+1次回折光18から位相差法によるトラック誤差信号、プッシュプル法によるトラック誤差信号、およびディスク6に記録された情報信号を検出する構成にすれば、前記のAの値は0.71となり、従来の第一の光ヘッド装置における値に比べて大きくなる。ηe-1<ηe+1かつηe-1≠0を満たすw/pの範囲は0<w/p<0.25または0.25<w/p<0.5である。
φe=(2π/λ){Δned/4+(n−1)h/4} …(11)
λ=660nmの場合、Δno=−0.04、Δne=0.12であり、誘電体膜71としてNb2O5を用いるとn=2.2であるから、φo=0、φe=π/2とするためにはd=4.13μm、h=138nmであればよい。
η+1=(4/π2)(1−1/√2){1+cos(φ−π/4)}
×{1+cos(2φ−π/2)}{1+cos(4φ−π)}
…(12)
φ=π/4とするとη+1=0.95となる。
φ=(2π/λ)(n−1)h/8 …(13)
λ=660nmの場合、誘電体膜152および誘電体膜153としてSiO2を用いるとn=1.46であるから、φ=π/4とするためにはh=1.43μmであればよい。
この光ヘッド装置の効果は、ディスクからの反射光の光量に対する、ディスクに記録された情報信号および位相差法によるトラック誤差信号の検出に用いられる光量の比Aが大きく、これらの信号に関して高いS/Nが得られることである。その理由は、第一群の光の光量が大きいためである。
2 コリメータレンズ
3 偏光ビームスプリッタ
4 1/4波長板
5 対物レンズ
6 ディスク
7 ホログラム光学素子
8 レンズ
9 光検出器
10、11、12、13 領域
14 ガラス基板
15 誘電体膜
16 入射光
17 −1次回折光
18 +1次回折光
19、20、21、22、23、24、25、26 受光部
27、28、29、30、31、32、33、34 光スポット
35 ホログラム光学素子
36、37、38、39 領域
40、41 誘電体膜
42 入射光
43 −1次回折光
44 +1次回折光
45 入射光
46 −1次回折光
47 +1次回折光
48 光検出器
49、50、51、52、53、54、55、56 受光部
57、58、59、60、61、62、63、64 光スポット
65 モジュール
66 半導体レーザ
67 光検出器
68 偏光性ホログラム光学素子
69 ニオブ酸リチウム基板
70 プロトン交換領域
71 誘電体膜
72 入射光
73 透過光
74 入射光
75 −1次回折光
76 +1次回折光
77 ミラー
78、79、80、81、82、83、84、85 受光部
86、87、88、89、90、91、92、93 光スポット
94 偏光性ホログラム光学素子
95 プロトン交換領域
96 誘電体膜
97 プロトン交換領域
98 誘電体膜
99 入射光
100 透過光
101 入射光
102 −1次回折光
103 +1次回折光
104 入射光
105 透過光
106 入射光
107 −1次回折光
108 +1次回折光
109 光検出器
110、111、112、113、114、115、116、117 受光部
118、119、120、121、122、123、124、125 光スポ
ット
126 ウォラストンプリズム
127 4分割プリズム
128、129 プリズム
130 入射光
131、132 屈折光
133、134 光学軸
135、136、137、138 領域
139 入射光
140 屈折光
141 入射光
142 屈折光
143 入射光
144 屈折光
145 入射光
146 屈折光
147 ホログラム光学素子
148、149、150、151 領域
152、153 誘電体膜
154 入射光
155 +1次回折光
156 入射光
157 +1次回折光
158 ホログラム光学素子
159 光検出器
160、161、162、163 領域
164、165、166、167、168、169、170、171 受光部
172、173、174、175、176、177、178、179 光スポ
ット
180 モジュール
181 半導体レーザ
182 光検出器
183 ホログラム光学素子
184、185、186、187 領域
188、189、190、191、192、193 受光部
194、195、196、197 光スポット
198 誘電体膜
199 入射光
200 透過光
201 入射光
202 +1次回折光
Claims (1)
- 光源と、該光源からの出射光を光記録媒体上に集光する対物レンズと、前記光源と前記対物レンズの間に設けられた、前記光記録媒体からの反射光の光路を前記光源からの出射光の光路から分離する第一の光分離手段と、該第一の光分離手段を経た前記光記録媒体からの反射光を単一の面によりさらに第一群の光と第二群の光に分離する第二の光分離手段と、前記第一群の光と前記第二群の光を受光する光検出器を有する光ヘッド装置において、
前記光源からの出射光と前記光記録媒体からの反射光とは偏光方向が互いに直交しており、前記第一の光分離手段は、前記光源からの出射光のほぼ100%を前記光記録媒体の側へ導くと共に前記光記録媒体からの反射光のほぼ100%を前記第二の光分離手段の側へ導き、
前記第一群の光の光量が前記第二群の光の光量に比べて大きく、前記第一群の光から位相差法によるトラック誤差信号、プッシュプル法によるトラック誤差信号、および前記光記録媒体に記録された情報信号を検出し、前記第二群の光からフーコー法によるフォーカス誤差信号を検出することを特徴とする光ヘッド装置。
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