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JP3835195B2 - バイオセンサの製造方法 - Google Patents

バイオセンサの製造方法 Download PDF

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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は半導体電界効果トランジスタを利用したバイオセンサとその使用方法に関する。バイオセンサはイオンセンサ、酵素センサ、DNAセンサ、抗原・抗体センサ、タンパク質センサなどとして、特に医用分野への応用が期待されている。
【0002】
【従来の技術】
従来の電界効果型のバイオセンサは通常のMOS FETからゲート電極を除去し、ゲート絶縁膜の上にイオン感応膜を被着した構造であり、ISFET(Ion Sensitive FET)と呼ばれている。図24は電界効果型半導体イオンセンサの従来例の説明図である。図24において、241はシリコン(Si)基板、241Sはソース、241Dはドレイン、242は分離絶縁膜、243はゲート絶縁膜、244はイオン感応膜である。ここで、イオン感応膜に酸化還元酵素、各種タンパク質、DNA、抗原や抗体などを固定化することにより、各種バイオセンサとして適用可能となる。
【0003】
ところで、バルクシリコンを用いたISFETはセンサチップ断面が電解質中に露出するのを防ぐために、樹脂などで封止する必要があった。小さなISFETを封止するのは困難であり、封止できたとしても信頼性が低下するという問題があった。
【0004】
そこで、シリコンオンインシュレータ(SOI)型のISFETや、ガラス基板上にポリシリコン層を半導体層として形成したISFETなどが提案されている。即ち、これらの構造はトランジスタが絶縁体で囲まれた構造となっているため、リーク電流が発生しにくく、特別な封止作業が不要である。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
昨今のバイオセンサとしての応用には、センサ素子の保存やメンテナンスを考慮して、1組のセンサ素子による測定を1回限りとする、いわゆる「使い捨て型」(ディスポーザブル)のバイオセンサが開発されている。これらの応用としてポリシリコンTFTなどの薄膜デバイスをISFETとしてバイオセンサに用いることが考えられるが、これらのデバイスはガラス基板の上に形成されるのが一般的で、センサを使い捨てとするには高価である。また、焼却廃棄する場合にはガラス破片が残り問題となる。
【0006】
本発明は、上記事由に鑑みてなされたものであり、その目的は、製造コストを低くでき、且つ、使い捨て型センサに適したバイオセンサを提供することを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】
上記の目的を達成するために、本発明の一態様に係るバイオセンサの製造方法によれば、基板上に分離層を形成する工程と、前記分離層上に中間層を形成する工程と、前記中間層上に半導体膜を形成する工程と、前記半導体膜をパターニングする工程と、前記パターニングされた半導体膜を被うように第1の絶縁膜を形成する工程と、前記第1の絶縁膜上の所定の領域にゲート電極を形成する工程と、前記パターニングされた半導体膜の所定領域にイオン注入することによりソース/ドレイン領域を形成する工程と、前記第1の絶縁膜及び前記ゲート電極上に第2絶縁膜を形成する工程と、前記半導体膜の前記ソース/ドレイン領域の一部が露出ように、前記第1の絶縁膜及び前記第2の絶縁膜の一部をエッチングしてコンタクトホールを形成する工程と、前記コンタクトホールに電極を形成する工程と、前記第2の絶縁膜上に接着層を形成する工程と、前記接着層を介して前記第2の絶縁膜に一次転写体を貼り付ける工程と、前記基板の前記分離層が形成された面とは反対側からレーザを照射することによって前記分離層の内部又は界面において前記基板と前記中間層とを分離する工程と、前記中間層上の前記分離層を除去する工程と、前記中間層の一部を除去することにより前記半導体膜のチャネル領域を露出する開口部を形成する工程と、前記開口部により露出された前記半導体膜及び前記中間層を被う第3の絶縁膜を形成する工程と、前記半導体膜のチャネル領域上の前記第3の絶縁膜上にイオン感応膜を形成する工程と、を備える。
【0008】
また、本発明の一態様に係るバイオセンサの製造方法によれば、前記半導体膜を形成する工程は、前記中間層上にアモルファスシリコン膜を形成する工程と、前記アモルファスシリコン膜の前記中間層と接する面とは反対側から前記アモルファスシリコン膜にレーザ照射することにより前記アモルファスシリコン膜をポリシリコン膜へ再結晶化する工程と、を備えることを特徴とする。
【0009】
また、本発明の一態様に係るバイオセンサの製造方法によれば、前記分離層はアモルファスシリコンからなることを特徴とする。
【0010】
また、本発明の一態様に係るバイオセンサの製造方法によれば、前記中間層はシリコン酸化膜からなることを特徴とする。
【0014】
【発明の実施の形態】
(1)第一の実施の形態
次に本発明のISFET型バイオセンサを図面を参照して説明する。図1は本願発明の第一の実施の形態を説明するための平面図と断面図である。ここで、図1(a)の平面図に記すA−Bで切断した断面図が図1(b)である。ここでは、グルコースセンサの場合について説明する。図1(a)および図1(b)に示すように、プラスチック基板11上には接着層12が積層され、その上には中間層13a、ISFETとして機能するポリシリコン層14が形成されている。ポリシリコン層14の両端にはドレイン及びソースとしてのN型ポリシリコン層15及び16が形成されている。そして、前記ポリシリコン層14及びポリシリコン層15、16を被うように保護絶縁膜としてのシリコン酸化膜13b及び51が設けられている。さらに、表面保護膜としてのシリコン窒化膜71(Si)はセンサ表面全体を被っている。尚、前記ポリシリコン層14のチャネル部、即ち、イオン感応領域部分の前記シリコン酸化膜13b及び51は除去されており、前記シリコン窒化膜71と前記ポリシリコン層14は直接接している。N型ポリシリコン層15及び16には、シリコン酸化膜13b及び51に開口されたコンタクト孔を通してそれぞれの電極に接続されている。グルコースを測定するためのグルコースオキシダーゼ(GOD)が固定された固定化酵素膜19が前記シリコン窒化膜上のイオン感応領域に設けられている。本実施例では、ISFET全体が前記シリコン窒化膜により被われているため、ピンホールなどが少なく信頼性が高い。また、マルチセンサ構造とした場合でもセンサ間のリーク電流が小さく抑えられる。ここで、シリコン窒化膜71をゲート絶縁膜として用いたが、タンタルオキサイド膜や、酸化アルミニウム膜でもよい。
【0015】
このようなプラスチック基板上にTFTを作製する方法として、例えば特開平10−125931に開示されている方法に基づいて、第一の実施例で説明したISFET型バイオセンサの製造方法を図2〜図13を用いて説明する。
【0016】
(工程1)図2に示すように、基板(例えば石英基板)20上に分離層21(例えばLPCVD法に形成されたアモルファスシリコン層)と中間層13aと(たとえば、SiO)アモルファスシリコン層14とを積層形成し、続いて、アモルファスシリコン層の全面に上方からレーザ照射し、アニールを施す。これにより、アモルファスシリコンは再結晶化してポリシリコン層14となる。
【0017】
(工程2)続いて、図3に示すように、レーザアニールにより得られたポリシリコン層14をパターニングして、ポリシリコンの島を形成する。
【0018】
(工程3)図3に示されるように、ポリシリコンのアイランドを被う絶縁膜としてのシリコン酸化膜13bを、例えばCVD法により形成する。
【0019】
(工程4)図4に示すように、フォトレジストをマスクとして、リン不純物のイオン注入を行う。これによって、N型もしくはP型のポリシリコン層が形成され、ソース、ドレインとなる。
【0020】
(工程5)図5に示すように、シリコン酸化膜51を形成し、選択的にコンタクトホール52を形成した後、アルミ電極53を形成する。
【0021】
(工程6)次に、図6に示すように、イオン感応領域61だけが露出するように、表面のシリコン酸化膜51の一部をレジストをマスクとしてエッチングする。その後、図7に示すように、表面全体を被うように、表面保護膜及びISFET型バイオセンサのゲート絶縁膜としてのシリコン窒化膜71を成膜する。このようにして形成されたポリシリコン層14を含むデバイス層をここでは被転写層54とよぶ。
【0022】
(工程7)図8に示すように、前記被転写層54の表面上に接着層としての水溶性接着剤81を塗布し、次に、その水溶性接着剤層81を介して、被転写層54を一次転写体82に貼り付ける。続いて、前記水溶性接着剤81が熱硬化型であれば熱を加えて硬化させ、一次転写体82と被転写層54とを接着(接合)する。そして、ガラス基板20の裏面から、例えば、Xe−Clエキシマレーザ光を照射する。これにより、分離層21の層内及び/又は界面において剥離を生じせしめる。
【0023】
(工程9)図9に示すように、基板20を引き剥がす。
【0024】
(工程10)図10に示すように、分離層21をエッチングにより除去する。これにより、被転写層54が一次転写体82に転写されたことになる。
【0025】
(工程11)次に、図11に示すように、転写された被転写層54の下面、即ち中間層aの下面、に接着層12を介して、二次転写体11を接着する。二次転写体としては、各種合成樹脂が挙げられる。例えば、熱可塑性樹脂、熱硬化性樹のいずれでもよく、例えば、ポリエチレン、ポリプロピレンなどでもよい。ここで、接着層12を構成する接着剤の例としては、反応硬化型接着剤、熱硬化型接着剤、紫外線硬化型接着剤等の光硬化型接着剤、嫌気硬化接着剤等の各種硬化型接着剤が挙げられる。接着剤の組成としては、例えば、エポキシ系、アクリレート系、シリコーン系などいかなるものでもよい。接着層12の形成は例えば塗布法によりなされる。
【0026】
(工程12)前記接着層12が光硬化型の場合、光透過性の二次転写体11の外側から光を照射することにより、二次転写体11と中間層13aの下面が接合される。
【0027】
(工程13)次に、図12の示すように、前記水溶性接着層81と第一転写体54とが接着している界面を水と接触させる。これにより、水溶性接着剤が溶融し、被転写層54の上面であるシリコン窒化膜71と一次転写体82とが分離する。同シリコン窒化膜71の表面に付着した水溶性接着剤を除去することにより、プラスチック基板11上に形成した薄膜デバイスが得られる。
【0028】
(工程14)次に、図13に示すように、イオン感応領域以外、即ち、酵素固定化膜が形成される領域以外の領域がマスクされるようにフォトレジストをパターニングし、グルコースオキシダーゼ、アルブミン水溶液、グルタールアルデヒドの混合液が基板全面に塗布される。前記混合液が固定した後、アセトン中で前記フォトレジストを除去することによって、固定化酵素膜がISFETのチャネル領域上部、即ち、イオン感応領域に形成される。
以上の工程により、合成樹脂基板上に形成されたISFET型のバイオセンサが得られる。
【0029】
(2)第二の実施の形態
第一の実施の形態では、ポリシリコンTFT層から構成される被転写層を二度転写するものであったが、第二の実施の形態では同被転写層を一度のみ転写するものである。ここでは、第二の実施の形態のバイオセンサの製造方法について図14から図23に基づき説明する。
【0030】
(工程1)図14に示すように、基板20上に分離層21(例えばLPCVD法に形成されたアモルファスシリコン層)と中間層13a(例えば、SiO膜)及びアモルファスシリコン層14とを積層形成し、続いて、アモルファスシリコン層の全面に上方からレーザ照射し、アニールを施す。これにより、アモルファスシリコンは再結晶化してポリシリコン層14となる。
【0031】
(工程2)続いて、図15に示すように、レーザアニールにより得られたポリシリコン層14をパターニングして、ポリシリコンの島を形成する。
【0032】
(工程3)図16に示されるように、ポリシリコンの島を被うゲート絶縁膜13bを、例えば、CVD法により形成する。次に、ポリシリコンあるいはメタル等からなるゲート電極161を形成する。前記ゲート電極161をパターニングし、フォトレジスト162をマスクとしてリン不純物のイオン注入を行う。これによって、N型ポリシリコン層が形成され、ソース及びドレインの各領域が形成される。
【0033】
(工程4)図17に示すように、層間絶縁膜170を形成し、選択的にコンタクトホール171を形成した後、アルミ電極172を形成する。このようにして形成されたポリシリコン層を含むデバイス層をここでは被転写層173とよぶ。
【0034】
(工程5)図18に示すように、被転写層173の表面に接着層としての水溶性接着剤181を塗布し、次に、その水溶性接着剤層181を介して、被転写層173を一次転写体182に貼り付ける。続いて、前記水溶性接着剤が熱硬化であれば熱を加えて硬化させ、前記一次転写体182と被転写層173を接着(接合)する。
【0035】
(工程6)図19に示すように、基板20の裏面から、例えば、Xe−Clエキシマレーザ光を照射する。これにより、分離層21の層内及び/又は界面において剥離を生じせしめる。
【0036】
(工程7)図20に示すように、基板20を引き剥がす。
【0037】
(工程8)図21のように、前記分離層21をエッチングにより除去する。これにより、被転写層173は一次転写体182に転写されたことになる。
【0038】
(工程9)図22に示すように、ポリシリコンTFT層からなる被転写層173が接合された一次転写体182を反転させ、チャネル領域、即ちイオン感応領域が露出するように中間層13aをエッチングする。
【0039】
(工程10)その後、図23に示すように、基板全体を被うように表面保護およびISFETのゲート絶縁膜としてのシリコン窒化膜231を成膜する。そして、イオン感応領域以外、即ち、酵素固定化膜が形成される領域以外の領域がマスクされるようにフォトレジストをパターニングし、グルコースオキシダーゼ、アルブミン水溶液、グルタールアルデヒドの混合液が基板全面に塗布される。前記混合液が固定した後、アセトン中で前記フォトレジストを除去する。即ち、固定化酵素膜232がISFETのチャネル領域上部、即ち、イオン感応領域に形成される。以上の工程により、図23に示すような合成樹脂基板上にISFET型のバイオセンサが作製される。
【0040】
第二の実施の形態では、ゲート電極を有する構造のISFETを説明したが、ゲート電極を有しない構造のISFETとしてもよい。
【0041】
以上の実施の形態の説明では、固定化酵素膜としてグルタールオキシダーゼを固定したグルコースセンサについて説明したが、他の酵素についても適用可能である。さらに、本発明の主旨はイオン感応膜上に形成するものとして酵素に限るものではなく、タンパク質同士の反応を検出するタンパク質センサ、核酸同士の反応を検出する核酸センサ、抗原抗体反応を検出する抗体センサなどへ適用しても同様の効果を得る。
【0042】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明の一態様に係るバイオセンサの製造方法によれば、前記一次転写体は有機高分子材料よりなるため、廃棄する場合は容易に焼却可能なバイオセンサが得られる。すなわち、ディスポーザブルなバイオセンサとして利用できる。また、フレキシブル且つ割れにくい材料であるため、例えば体内にバイオセンサを移植して使用する場合でも、体内に設置し易く、安全に利用できる。
【0043】
また、本発明の一態様に係るバイオセンサの製造方法によれば、性能の高いポリシリコンTFTから構成された回路を同一基板上のISFET以外の場所に同時に作製可能なので、センサ、周辺回路、CPUなどを含む信号処理回路をセンサチップに作り込む事ができる。また、ISFETセンサ自体を小さく作れるので、多数のセンサを同一チップ内に作製する応用にも適している。
【0044】
また、本発明の一態様に係るバイオセンサの製造方法によれば、バックゲートに印加する電圧を変化させることにより、ポリシリコンTFT素子自体のしきい値電圧バラツキによるISFETの感度バラツキが調整可能となる。
【0045】
また、本発明の一態様に係るバイオセンサの製造方法によれば、安価で大量生産に向いたバイオセンサを得ることができる。
【0046】
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第一の実施の形態を説明するISFET型バイオセンサの平面図及び断面図である。
【図2】本発明の第一の実施の形態の製造工程を説明する断面図である。
【図3】本発明の第一の実施の形態の製造工程を説明する断面図である。
【図4】本発明の第一の実施の形態の製造工程を説明する断面図である。
【図5】本発明の第一の実施の形態の製造工程を説明する断面図である。
【図6】本発明の第一の実施の形態の製造工程を説明する断面図である。
【図7】本発明の第一の実施の形態の製造工程を説明する断面図である。
【図8】本発明の第一の実施の形態の製造工程を説明する断面図である。
【図9】本発明の第一の実施の形態の製造工程を説明する断面図である。
【図10】本発明の第一の実施の形態の製造工程を説明する断面図である。
【図11】本発明の第一の実施の形態の製造工程を説明する断面図である。
【図12】本発明の第一の実施の形態の製造工程を説明する断面図である。
【図13】本発明の第一の実施の形態の製造工程を説明する断面図である。
【図14】本発明の第二の実施の形態の製造工程を説明する断面図である。
【図15】本発明の第二の実施の形態の製造工程を説明する断面図である。
【図16】本発明の第二の実施の形態の製造工程を説明する断面図である。
【図17】本発明の第二の実施の形態の製造工程を説明する断面図である。
【図18】本発明の第二の実施の形態の製造工程を説明する断面図である。
【図19】本発明の第二の実施の形態の製造工程を説明する断面図である。
【図20】本発明の第二の実施の形態の製造工程を説明する断面図である。
【図21】本発明の第二の実施の形態の製造工程を説明する断面図である。
【図22】本発明の第二の実施の形態の製造工程を説明する断面図である。
【図23】本発明の第二の実施の形態を説明するISFET型バイオセンサの断面図である。
【図24】従来例の説明図である。
【符号の説明】
11 プラスチック基板
12 接着層
13a シリコン酸化膜
14 ポリシリコン層
15 ソース
16 ドレイン
19 イオン感応膜
51 シリコン酸化膜
71 シリコン窒化膜

Claims (4)

  1. 基板上に分離層を形成する工程と、
    前記分離層上に中間層を形成する工程と、
    前記中間層上に半導体膜を形成する工程と、
    前記半導体膜をパターニングする工程と、
    前記パターニングされた半導体膜を被うように第1の絶縁膜を形成する工程と、
    前記第1の絶縁膜上の所定の領域にゲート電極を形成する工程と、
    前記パターニングされた半導体膜の所定領域にイオン注入することによりソース/ドレイン領域を形成する工程と、
    前記第1の絶縁膜及び前記ゲート電極上に第2絶縁膜を形成する工程と、
    前記半導体膜の前記ソース/ドレイン領域の一部が露出ように、前記第1の絶縁膜及び前記第2の絶縁膜の一部をエッチングしてコンタクトホールを形成する工程と、
    前記コンタクトホールに電極を形成する工程と、
    前記第2の絶縁膜上に接着層を形成する工程と、
    前記接着層を介して前記第2の絶縁膜に一次転写体を貼り付ける工程と、
    前記基板の前記分離層が形成された面とは反対側からレーザを照射することによって前記分離層の内部又は界面において前記基板と前記中間層とを分離する工程と、
    前記中間層上の前記分離層を除去する工程と、
    前記中間層の一部を除去することにより前記半導体膜のチャネル領域を露出する開口部を形成する工程と、
    前記開口部により露出された前記半導体膜及び前記中間層を被う第3の絶縁膜を形成する工程と、
    前記半導体膜のチャネル領域上の前記第3の絶縁膜上にイオン感応膜を形成する工程と、
    を備えたバイオセンサの製造方法。
  2. 前記半導体膜を形成する工程は、
    前記中間層上にアモルファスシリコン膜を形成する工程と、
    前記アモルファスシリコン膜の前記中間層と接する面とは反対側から前記アモルファスシリコン膜にレーザ照射することにより前記アモルファスシリコン膜をポリシリコン膜へ再結晶化する工程と、
    を備えることを特徴とする請求項1に記載のバイオセンサの製造方法。
  3. 前記分離層はアモルファスシリコンからなることを特徴とする請求項1または2に記載のバイオセンサの製造方法。
  4. 前記中間層はシリコン酸化膜からなることを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1に記載のバイオセンサの製造方法。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105784822A (zh) * 2016-04-19 2016-07-20 青岛科技大学 一种基于壳聚糖-石墨烯/金纳米颗粒复合膜的电化学dna传感器的制备及应用的方法

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN100334443C (zh) * 2003-06-02 2007-08-29 友达光电股份有限公司 离子感应场效应晶体管及制造方法
CN100498319C (zh) * 2004-10-20 2009-06-10 财团法人工业技术研究院 多晶硅薄膜晶体管离子感测装置与制作方法
JP4797498B2 (ja) * 2005-08-03 2011-10-19 凸版印刷株式会社 ハイブリダイゼーションの検出方法
JP5076364B2 (ja) * 2006-06-01 2012-11-21 カシオ計算機株式会社 半導体センサ及び同定方法
JP5150893B2 (ja) * 2006-07-13 2013-02-27 国立大学法人富山大学 酸化還元物質の信号増幅検出方法及びその測定装置
US8536626B2 (en) * 2011-04-28 2013-09-17 Honeywell International Inc. Electronic pH sensor die packaging
CN105136893B (zh) * 2015-06-24 2017-11-07 中国科学院宁波材料技术与工程研究所 一种薄膜晶体管生物传感器及其制备方法
JPWO2023281674A1 (ja) * 2021-07-07 2023-01-12

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0894577A (ja) * 1994-09-22 1996-04-12 Fujitsu Ltd 半導体イオンセンサ及びその使用方法
JPH095293A (ja) * 1995-06-15 1997-01-10 Horiba Ltd イオン応答センサとその製造方法およびmosfetの製造方法
JP4619462B2 (ja) * 1996-08-27 2011-01-26 セイコーエプソン株式会社 薄膜素子の転写方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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CN105784822A (zh) * 2016-04-19 2016-07-20 青岛科技大学 一种基于壳聚糖-石墨烯/金纳米颗粒复合膜的电化学dna传感器的制备及应用的方法
CN105784822B (zh) * 2016-04-19 2019-02-26 青岛科技大学 一种基于壳聚糖-石墨烯/金纳米颗粒复合膜的电化学dna传感器的制备及应用的方法

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