JP3888142B2 - Method for synthesizing compound semiconductor polycrystal - Google Patents
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Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、GaP等III−V族化合物半導体多結晶の合成方法に係り、特に、合成用ボート内に充填されたIII族原料がボート本体と蓋材との螺着部位へ漏出する現象を防止できると共に、合成終了後に蓋材をボート本体から外す際の合成用ボートの欠けや破損も防止されてその再使用寿命の改善が図れるIII−V族化合物半導体多結晶の合成方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
GaP等のIII−V族化合物半導体は、従来、レーザダイオード、発光ダイオードのようなオプトデバイスやHEMTのような高速デバイス等の材料に利用されている。
【0003】
そして、このようなIII−V族化合物半導体は、Ga等のIII族原料とP等のV族原料を直接反応させて単結晶を成長させることが困難なため、III−V族化合物半導体多結晶をまず合成し、次いでこのIII−V族化合物半導体多結晶を用いてLEC法等によりIII−V族化合物半導体単結晶を成長させる方法が採られている。
【0004】
ところで、上記III−V族化合物半導体多結晶は、図2に示すように各原料が充填された石英等から成る封管1を横型高圧炉2内に搬入して合成する方法が採られている。
【0005】
すなわち、図2に示すようにGa等のIII族原料3は、スリット51が設けられた合成用ボート4(図3参照)内に充填されると共に、ボート4全体を石英等から成る内管5内に収容して上記封管1の一端側に配置され、P等のV族原料6は、熱遮蔽板7を介し上記封管1の他端側に配置される。尚、原料等が充填された封管1は、その後真空にして封じ切られる。
【0006】
次に、真空にして封じ切られた上記封管1は、中央に高周波コイル8を有しこの高周波コイル8を中央に挟んでその両側に抵抗ヒータ9を有する高圧容器にて構成された横型高圧炉2内に搬入される。
【0007】
そして、横型高圧炉2内において封管1全体が加熱され、高周波コイル8により合成用ボート4内のIII族原料3が局所的に更に高温に加熱されると共に、V族原料6から発生した原料ガスが上記熱遮蔽板7に取付けられた導入管10を介し内管5内に導入されて上記III族原料3と反応し、かつ、上記封管1を矢印α方向へ横型高圧炉2内を移動させるか封管1を固定して上記横型高圧炉2を逆方向へ移動させる等して(すなわち、高温部を相対移動させる)III−V族化合物半導体多結晶が合成される。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、III−V族化合物半導体多結晶の合成方法に用いられる合成用ボート4は、図3および図4に示すように上部長手方向に直線状のスリット51が開設された円筒状ボート本体50とこのボート本体50の両開放端に螺着される蓋材60とでその主要部が構成されており、上記スリット51のみが開放されて原料ガスがボート4内に出入りできるようになっている。
【0009】
そして、上記蓋材60とボート本体50に設けられた螺子部を介して互いに螺着される構造になっているため、蓋材60の螺子部やボート本体50の螺子部に欠けが存在したり緩みが生ずると、これ等螺着部位に隙間ができ、合成用ボート4内に充填されたIII族原料が上記螺着部位へ漏出することがあった。
【0010】
この状態でIII−V族化合物半導体多結晶の合成を行った場合、上記螺着部位へ漏出したIII族原料の一部とV族の原料ガスとがこの部位で反応してIII−V族化合物半導体多結晶を生成してしまうことがあり、螺着部位に生成した上記結晶が原因となって化合物半導体多結晶の合成を終了した時点でボート本体50から蓋材60を外す場合に蓋材60が外れ難くなる問題を有していた。
【0011】
尚、ボート本体50から蓋材60を強引に外そうとした場合、合成用ボート4に欠けや破損が発生し易く、合成用ボート4の再使用が阻害されてIII−V族化合物半導体多結晶の製造コストを上昇させる問題があつた。
【0012】
また、蓋材60近傍にIII族原料が未反応状態で残留した場合、未反応のIII族原料を介し合成されたIII−V族化合物半導体多結晶と蓋材60とが接着してしまうことがあり、上記同様、蓋材60を強引に外そうとした場合、合成用ボート4に欠けや破損が発生し易く、合成用ボート4の再使用が阻害されてIII−V族化合物半導体多結晶の製造コストを上昇させる問題があつた。
【0013】
本発明はこの様な問題点に着目してなされたもので、その課題とするところは、ボート内に充填されたIII族原料がボート本体と蓋材との螺着部位へ漏出する現象を防止できると共に、合成終了後に蓋材をボート本体から外す際の合成用ボートの欠けや破損も防止されてその再使用寿命の改善が図れるIII−V族化合物半導体多結晶の合成方法を提供することにある。
【0014】
【課題を解決するための手段】
すなわち、請求項1に係る発明は、
上部長手方向に直線状のスリットが開設された円筒状ボート本体とこのボート本体の両開放端に螺着される蓋材とでその主要部が構成されるボート内にIII族原料を充填し、このボートを封管内の一端側に配置する一方、封管内の他端側にはV族原料を配置し、上記封管全体を加熱すると共にボート内のIII族原料を局所的に更に高温に加熱してV族原料から発生した原料ガスと上記III族原料を反応させ、かつ、上記高温部を徐々に相対移動させながらIII−V族化合物半導体多結晶を合成する化合物半導体多結晶の合成方法を前提とし、
ボート本体の両開放端側筒壁面にその開放縁部から上記スリット端方向へ延びる帯状切欠部をそれぞれ設けると共に、ボート本体の開放面よりわずかに大きくかつその外周縁の一部に上記帯状切欠部に嵌合される突起片が設けられた円形若しくは多角形状の耐熱性フィルム体を間に介在させた状態でボート本体の両開放端に蓋材をそれぞれ螺着して上記ボートが構成されていることを特徴とし、
請求項2に係る発明は、
請求項1記載の発明に係る化合物半導体多結晶の合成方法を前提とし、
上記ボート本体並びに蓋体が黒鉛で構成され、かつ、耐熱性フィルム体がカーボンフィルムで構成されていることを特徴とするものである。
【0015】
そして、これ等請求項1〜2記載の発明に係る化合物半導体多結晶の合成方法によれば、
ボート本体の両開放端側筒壁面にその開放縁部から上記スリット端方向へ延びる帯状切欠部をそれぞれ設けると共に、ボート本体の開放面よりわずかに大きくかつその外周縁の一部に上記帯状切欠部に嵌合される突起片が設けられた円形若しくは多角形状の耐熱性フィルム体を間に介在させた状態でボート本体の両開放端に蓋材をそれぞれ螺着して上記ボートが構成されているため、蓋材の螺子部やボート本体の螺子部に欠けが存在したり緩みが生じてこれ等螺着部位に隙間ができても、蓋材とボート本体の開放端間に介在された上記耐熱性フィルム体の作用によりボート内に充填されたIII族原料が上記螺着部位へ漏出することがなく、更に、上記蓋材近傍にIII族原料が未反応状態で残留した場合でも、上記耐熱性フィルム体の作用により合成されたIII−V族化合物半導体多結晶と蓋材とが接着してしまうこともない。
【0016】
従って、化合物半導体多結晶の合成を終了した時点で蓋材をボート本体から容易に外すことができ、かつ、上記ボートの再使用が阻害されることもない。
【0017】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態について、図面を参照して詳細に説明する。
【0018】
すなわち、この実施の形態に係る化合物半導体多結晶の合成方法は、III族原料を充填するボートが図1に示すような構造に変更されている点を除き従来の合成方法と略同一である。
【0019】
まず、ボート4は、図1に示すように筒壁面の上部長手方向に直線状のスリット51が開設されかつ両開放端側筒壁面に上記スリット51より広幅で筒壁開放縁部から延びてスリット51端に接続される帯状切欠部52がそれぞれ設けられた黒鉛製の円筒状ボート本体50と、この円筒状ボート本体50の両開放端にそれぞれ螺着される黒鉛製の蓋材60と、上記円筒状ボート本体50と蓋材60との間に介在され円筒状ボート本体50の内径よりわずかに大きい直径を有しかつその外周縁の一部に上記帯状切欠部52に嵌合される突起片71を有する円形状の耐熱性フィルム体70とでその主要部が構成され、このボート4内には図2に示すようにIII族原料3が充填されている。
【0020】
そして、上記III族原料3が充填されたボート4は石英内管5内に収納され、図2に示すように石英内管5毎、石英封管(外管)1内の一端側に配置されると共に、石英封管1の他端側にはV族原料6が配置され、かつ、石英封管1の略中央部には不透明石英製の熱遮蔽板7が配置される。尚、熱遮蔽板7には導入管10が取付けられており、この導入管10を介してV族原料6が配置された空間と石英内管5とが連通するようになっている。
【0021】
次に、石英内管5、熱遮蔽板7およびV族原料6等が収納された石英封管(外管)1の口を塞ぎ、真空引きを行なった後、封止切る。
【0022】
次に、中央に高周波コイル8を有しこの高周波コイル8を中央に挟んでその両側に抵抗ヒータ9を有する高圧容器にて構成された横型高圧炉2内に、封じ切られた上記石英封管(外管)1を搬入し、横型高圧炉2の高圧容器内に窒素等不活性ガスを充填して高圧炉内を高圧状態に設定した後、抵抗ヒータ9を作用させて石英封管(外管)1全体を加熱し、かつ、高周波コイル8を作用させてボート4内におけるIII族原料3を局所的に更に高温に加熱する。
【0023】
そして、熱遮蔽板7に取付けられた導入管10を介し上記石英内管5内に導入されたV族原料6からの原料ガスとボート4内におけるIII族原料3とを反応させ、かつ、上記石英封管(外管)1若しくは横型高圧炉2を移動(すなわち、高温部を相対移動)させ、ボート4内で上記反応を順次進行させてIII−V族化合物半導体多結晶を合成する。
【0024】
この実施の形態に係る合成方法によれば、ボート本体50の両開放端側筒壁面にスリット51より広幅で筒壁開放縁部から延びてスリット51端に接続される帯状切欠部52がそれぞれ設けられていると共に、ボート本体50の内径よりわずかに大きい直径を有しかつその外周縁の一部に上記帯状切欠部52に嵌合される突起片71を設けた円形状の耐熱性フィルム体70を間に介在させた状態でボート本体50の両開放端に蓋材60がそれぞれ螺着されているため、蓋材60の螺子部やボート本体50の螺子部に欠けが存在したり緩みが生じてこれ等螺着部位に隙間ができていても、蓋材60とボート本体50の開放端間に介在された上記耐熱性フィルム体70の作用によりボート4内に充填されたIII族原料3が上記螺着部位へ漏出することがなく、更に、上記蓋材60近傍にIII族原料3が未反応状態で残留した場合でも、上記耐熱性フィルム体70の作用により合成されたIII−V族化合物半導体多結晶と蓋材60とが接着してしまうこともない。
【0025】
従って、化合物半導体多結晶の合成を終了した時点で蓋材60をボート本体50から外す際に、従来のように蓋材60が外れ難くなるようなことがなく、ボート4の再使用が阻害されるようなこともない利点を有している。
【0026】
尚、ボート本体50の両開放端側筒壁面に設けられる上記帯状切欠部52の幅寸法についてはスリット51と同一幅若しくは狭幅であってもよく、また、帯状切欠部52がスリット51端に必ずしも接続される必要はない。
【0027】
また、上記耐熱性フィルム体70の材質としては、例えば、カーボンフィルムや熱分解窒化ホウ素(p−BN)製フィルム等が挙げられる。また、耐熱性フィルム体70の直径はボート本体50の内径よりもわずかに大きければよく、この耐熱性フィルム体70を蓋材60とボート本体50の開放端間に介在させることによりボート4内に充填されたIII族原料3が螺着部位へ漏出しなくなるような寸法なら任意である。尚、ボート4内に充填されたIII族原料3の上記螺着部位への漏出が防止されるなら耐熱性フィルム体70の形状は円形状に限定されるものではなく、例えば、ボート本体の開放面よりわずかに大きい正八角形状など多角形状であってもよい。更に、上記耐熱性フィルム体70の外周縁に設けられる突起片71の幅寸法についても、この突起片71がボート本体50の上記帯状切欠部52に嵌合されてボート4内で保持されればよくこれ等寸法も任意である。
【0028】
【実施例】
以下、本発明の実施例について具体的に説明する。
【0029】
まず、図1に示す黒鉛製ボート本体50の内径よりわずかに大きい、直径42mm、厚さ0.4mmのカーボンフィルム製耐熱性フィルム体70を間に介在させた状態で上記黒鉛製ボート本体50の両開放端に蓋材60をそれぞれ螺着させて合成用ボート4を組み立てた。
【0030】
尚、図2に示すようにこのボート4は外径48mm、内径40mm、長さ745mmの寸法を有しており、この内部にIII族原料3であるガリウム(Ga)2000gが2等分して充填されている。
【0031】
次に、III族原料3が充填され黒鉛製ボート4を石英内管5内に収納し、図1に示すように石英内管5毎、石英封管1内の一端側に配置すると共に、石英封管1の他端側にはV族原料6である赤燐(P)920gを配置した。尚、石英封管1内には、V族原料6の原料ガスを石英内管5内に導入するための導入管10が取付けられた不透明石英製の熱遮蔽板7が配置されている。
【0032】
次に、石英内管5、熱遮蔽板7およびV族原料6等が収納された石英封管1の口を塞ぎ、中を10-6Torrオーダまで真空引きを行なった後、封止切る。
【0033】
次に、中央に高周波コイル8を有しこの高周波コイル8を中央に挟んでその両側に抵抗ヒータ9を有する高圧容器にて構成された横型高圧炉2内に、封じ切られた上記石英封管1を搬入し、横型高圧炉2の高圧容器内に窒素ガスを充填して高圧炉内を高圧状態(40kg/cm2)に設定した後、抵抗ヒータ9を作用させ石英封管1全体を加熱してV族原料6である赤燐(P)を300℃〜700℃に昇温し、かつ、ボート4内のIII族原料3であるガリウム(Ga)を500℃〜600℃の範囲で保持すると共に、高周波コイル8を作用させて上記ボート4内をGaPの融点である1470℃付近の温度で保持する。
【0034】
そして、熱遮蔽板7に取付けられた導入管10を介し上記石英内管5内に導入されたV族原料6からの原料ガスとボート4の内におけるIII族原料3とを反応させ、かつ、上記石英封管1を矢印α方向へ横型高圧炉2内を移動させ(すなわち、高温部を相対移動させ)、ボート4内で上記反応を順次進行させて一体化されたIII−V族化合物半導体(GaP)多結晶を合成した。
【0035】
一方、比較例としてカーボンフィルム製耐熱性フィルム体70を間に介在させない従来のボートも組み立て、かつ、合成条件は実施例と同一にしてIII−V族化合物半導体(GaP)多結晶を合成した。
【0036】
そして、実施例と比較例に係るIII−V族化合物半導体(GaP)多結晶の合成を繰り返し行い、III族原料であるガリウム(Ga)の漏れ状態、合成された多結晶と蓋材60との接着状態、および、黒鉛製ボート4の再使用寿命(耐久性)を比較した。この結果を以下の表1に示す。
【0037】
尚、表1において「原料漏れ発生率(%)」は繰り返し行った合成数に対して原料漏れが発生した数の割合、「蓋との接着発生率(%)」は上記合成数に対して合成されたIII−V族化合物半導体(GaP)多結晶と蓋材60とが接着した数の割合である。また、「黒鉛ボートの破損率(%)」は合成数に対して合成されたIII−V族化合物半導体(GaP)多結晶を取り出すときに破損したボート数の割合、「平均使用回数(回)」は黒鉛ボート1個について合成に繰り返し使用した回数の平均回数である。
【0038】
【表1】
表1に示された数値から明らかなように、実施例においてはIII族原料であるガリウム(Ga)の漏れ、合成されたIII−V族化合物半導体(GaP)多結晶と蓋材60との接着はほとんどない状態となり、接着の発生率は大幅に低下していることが確認される。
【0039】
また、実施例における黒鉛ボートの破損率は0.7%となり、比較例の18.2%から大きく低下し、かつ、実施例における黒鉛ボートの平均使用回数についても6.5回となり比較例の2.4回に較べて著しく向上していることが確認される。
【0040】
【発明の効果】
請求項1〜2記載の発明に係る化合物半導体多結晶の合成方法によれば、
ボート本体の両開放端側筒壁面にその開放縁部から上記スリット端方向へ延びる帯状切欠部をそれぞれ設けると共に、ボート本体の開放面よりわずかに大きくかつその外周縁の一部に上記帯状切欠部に嵌合される突起片が設けられた円形若しくは多角形状の耐熱性フィルム体を間に介在させた状態でボート本体の両開放端に蓋材をそれぞれ螺着して上記ボートが構成されているため、蓋材の螺子部やボート本体の螺子部に欠けが存在したり緩みが生じてこれ等螺着部位に隙間ができても、蓋材とボート本体の開放端間に介在された上記耐熱性フィルム体の作用によりボート内に充填されたIII族原料が上記螺着部位へ漏出することがなく、更に、上記蓋材近傍にIII族原料が未反応状態で残留した場合でも、上記耐熱性フィルム体の作用により合成されたIII−V族化合物半導体多結晶と蓋材とが接着してしまうこともない。
【0041】
従って、化合物半導体多結晶の合成を終了した時点で蓋材をボート本体から容易に外すことができるためボートの欠けや破損を防止することが可能となり、これによりボートの再使用寿命の大幅な改善が図れる効果を有する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態に係る化合物半導体多結晶の合成方法に適用されるボートの一部分解斜視図。
【図2】 III−V族化合物半導体多結晶の合成方法を示す説明図。
【図3】従来例に係るIII−V族化合物半導体多結晶の合成方法に適用されるボートの概略斜視図。
【図4】従来例に係るIII−V族化合物半導体多結晶の合成方法に適用されるボートの一部分解斜視図。
【符号の説明】
4 ボート
50 ボート本体
51 スリット
52 帯状切欠部
60 蓋材
70 耐熱性フィルム体
71 突起片[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a method for synthesizing a group III-V compound semiconductor polycrystal such as GaP, and in particular, prevents a phenomenon in which a group III raw material filled in a synthesis boat leaks into a screwed portion between a boat body and a lid. Further, the present invention relates to a method for synthesizing a group III-V compound semiconductor polycrystal which can prevent chipping or breakage of the synthesis boat when the lid member is removed from the boat body after the synthesis is completed and can improve its reuse life.
[0002]
[Prior art]
Conventionally, III-V group compound semiconductors such as GaP have been used as materials for optical devices such as laser diodes and light-emitting diodes and high-speed devices such as HEMTs.
[0003]
Since such a III-V compound semiconductor is difficult to grow a single crystal by directly reacting a group III material such as Ga and a group V material such as P, a III-V compound semiconductor polycrystal Is first synthesized, and then a group III-V compound semiconductor single crystal is grown by the LEC method using this group III-V compound semiconductor polycrystal.
[0004]
By the way, as shown in FIG. 2, the III-V group compound semiconductor polycrystal is synthesized by bringing a sealed tube 1 made of quartz or the like filled with each raw material into a horizontal high pressure furnace 2 and synthesizing it. .
[0005]
That is, as shown in FIG. 2, the group III
[0006]
Next, the sealed tube 1 that has been sealed in a vacuum is a horizontal high-pressure vessel that is composed of a high-pressure vessel having a high-
[0007]
The entire sealed tube 1 is heated in the horizontal high-pressure furnace 2, and the group III
[0008]
[Problems to be solved by the invention]
By the way, the
[0009]
Since the
[0010]
When the III-V compound semiconductor polycrystal is synthesized in this state, a part of the group III source material leaked to the screwing site reacts with the group V source gas at this site, so that the group III-V compound is produced. When the
[0011]
If the
[0012]
Further, when the group III raw material remains in an unreacted state in the vicinity of the
[0013]
The present invention has been made paying attention to such problems, and the problem is that the group III material filled in the boat is prevented from leaking into the screwed portion between the boat body and the lid. The present invention provides a method for synthesizing a III-V compound semiconductor polycrystal which can prevent chipping or breakage of the synthesis boat when removing the lid member from the boat body after synthesis and can improve its reuse life. is there.
[0014]
[Means for Solving the Problems]
That is, the invention according to claim 1
Group III raw material is filled into the boat, which consists of a cylindrical boat body with straight slits in the upper longitudinal direction and a lid member screwed to both open ends of the boat body. The boat is arranged on one end side in the sealed tube, while the V group material is arranged on the other end side in the sealed tube, and the entire sealed tube is heated and the group III material in the boat is locally heated to a higher temperature. A method for synthesizing a compound semiconductor polycrystal by reacting a source gas generated from a group V source by heating with the group III source and synthesizing a group III-V compound semiconductor polycrystal while gradually moving the high temperature portion relative to each other. Assuming
A strip-shaped notch extending from the open edge to the slit end direction is provided on both open end-side cylindrical wall surfaces of the boat body, and the strip-shaped notch is slightly larger than the open surface of the boat body and part of the outer periphery. The boat is configured by screwing lid members to both open ends of the boat body with a circular or polygonal heat-resistant film body provided with projection pieces fitted to the boat interposed therebetween. It is characterized by
The invention according to claim 2
Based on the method for synthesizing compound semiconductor polycrystal according to the invention of claim 1,
The boat body and the lid body are made of graphite, and the heat-resistant film body is made of a carbon film.
[0015]
According to the compound semiconductor polycrystal synthesis method according to the inventions according to claims 1 and 2,
A strip-shaped notch extending from the open edge to the slit end direction is provided on both open end-side cylindrical wall surfaces of the boat body, and the strip-shaped notch is slightly larger than the open surface of the boat body and part of the outer periphery. The boat is configured by screwing lid members to both open ends of the boat body with a circular or polygonal heat-resistant film body provided with projection pieces fitted to the boat interposed therebetween. Therefore, even if the screw part of the lid member or the screw part of the boat main body is chipped or loosened, and there is a gap between these screwed parts, the above heat resistance interposed between the cover member and the open end of the boat main body The group III raw material filled in the boat by the action of the conductive film body does not leak to the screwing site, and even when the group III raw material remains in an unreacted state in the vicinity of the lid member, the heat resistance Due to the action of the film body Is a Group III-V compound semiconductor polycrystalline and the lid member has no sometimes resulting in adhesion.
[0016]
Therefore, when the synthesis of the compound semiconductor polycrystal is finished, the lid member can be easily removed from the boat body, and the reuse of the boat is not hindered.
[0017]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
[0018]
That is, the method for synthesizing the compound semiconductor polycrystal according to this embodiment is substantially the same as the conventional synthesis method except that the boat filled with the group III material is changed to the structure shown in FIG.
[0019]
First, as shown in FIG. 1, the
[0020]
The
[0021]
Next, the mouth of the quartz sealed tube (outer tube) 1 in which the quartz
[0022]
Next, the quartz sealed tube sealed in a horizontal high pressure furnace 2 constituted by a high pressure vessel having a
[0023]
Then, the raw material gas from the group V
[0024]
According to the synthesizing method according to this embodiment, the strip-shaped
[0025]
Therefore, when the
[0026]
It should be noted that the width of the strip-shaped
[0027]
Moreover, as a material of the said heat
[0028]
【Example】
Examples of the present invention will be specifically described below.
[0029]
First, the graphite boat
[0030]
As shown in FIG. 2, this
[0031]
Next, the
[0032]
Next, the quartz sealed tube 1 containing the quartz
[0033]
Next, the quartz sealed tube sealed in a horizontal high pressure furnace 2 constituted by a high pressure vessel having a
[0034]
Then, the raw material gas from the group V
[0035]
On the other hand, as a comparative example, a conventional boat without a carbon film heat-
[0036]
And the synthesis | combination of the III-V compound semiconductor (GaP) polycrystal which concerns on an Example and a comparative example is performed repeatedly, the leakage state of the gallium (Ga) which is a III group raw material, the synthesized polycrystal, and the
[0037]
In Table 1, “Raw material leakage occurrence rate (%)” is the ratio of the number of raw material leakages to the number of repeated synthesis, and “Adhesion rate with lid (%)” is the number of the above synthesis. It is the ratio of the number of the synthesized III-V compound semiconductor (GaP) polycrystal and the
[0038]
[Table 1]
As is apparent from the numerical values shown in Table 1, in the examples, leakage of gallium (Ga), which is a group III raw material, and adhesion between the synthesized III-V compound semiconductor (GaP) polycrystal and the
[0039]
Further, the failure rate of the graphite boat in the example is 0.7%, which is greatly reduced from 18.2% in the comparative example, and the average number of times of use of the graphite boat in the example is 6.5 times. It is confirmed that it is remarkably improved compared to 2.4 times.
[0040]
【The invention's effect】
According to the method for synthesizing a compound semiconductor polycrystal according to the inventions of claims 1 and 2,
A strip-shaped notch extending from the open edge to the slit end direction is provided on both open end-side cylindrical wall surfaces of the boat body, and the strip-shaped notch is slightly larger than the open surface of the boat body and part of the outer periphery. The boat is configured by screwing lid members to both open ends of the boat body with a circular or polygonal heat-resistant film body provided with projection pieces fitted to the boat interposed therebetween. Therefore, even if the screw part of the lid member or the screw part of the boat main body is chipped or loosened, and there is a gap between these screwed parts, the above heat resistance interposed between the cover member and the open end of the boat main body The group III raw material filled in the boat by the action of the conductive film body does not leak to the screwing site, and even when the group III raw material remains in an unreacted state in the vicinity of the lid member, the heat resistance Due to the action of the film body Is a Group III-V compound semiconductor polycrystalline and the lid member has no sometimes resulting in adhesion.
[0041]
Therefore, when the synthesis of the compound semiconductor polycrystal is completed, the lid can be easily removed from the boat body, so that the boat can be prevented from being chipped or damaged, thereby greatly improving the reuse life of the boat. Has the effect of achieving.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a partially exploded perspective view of a boat applied to a method for synthesizing a compound semiconductor polycrystal according to an embodiment of the present invention.
FIG. 2 is an explanatory view showing a method for synthesizing a III-V compound semiconductor polycrystal.
FIG. 3 is a schematic perspective view of a boat applied to a conventional method for synthesizing a group III-V compound semiconductor polycrystal.
FIG. 4 is a partially exploded perspective view of a boat applied to a method for synthesizing a III-V compound semiconductor polycrystal according to a conventional example.
[Explanation of symbols]
4
Claims (2)
ボート本体の両開放端側筒壁面にその開放縁部から上記スリット端方向へ延びる帯状切欠部をそれぞれ設けると共に、ボート本体の開放面よりわずかに大きくかつその外周縁の一部に上記帯状切欠部に嵌合される突起片が設けられた円形若しくは多角形状の耐熱性フィルム体を間に介在させた状態でボート本体の両開放端に蓋材をそれぞれ螺着して上記ボートが構成されていることを特徴とする化合物半導体多結晶の合成方法。Group III raw material is filled into a boat which is composed of a cylindrical boat body with straight slits in the upper longitudinal direction and a lid member screwed to both open ends of the boat body. The boat is arranged on one end side in the sealed tube, while the V group material is arranged on the other end side in the sealed tube, the entire sealed tube is heated, and the group III material in the boat is locally heated to a higher temperature. A method for synthesizing a compound semiconductor polycrystal by reacting a source gas generated from a group V source by heating with the group III source and synthesizing a group III-V compound semiconductor polycrystal while gradually moving the high temperature part relatively In
A strip-shaped notch extending from the open edge to the slit end direction is provided on both open end-side cylindrical wall surfaces of the boat body, and the strip-shaped notch is slightly larger than the open surface of the boat body and part of the outer periphery. The boat is configured by screwing lid members to both open ends of the boat body with a circular or polygonal heat-resistant film body provided with projection pieces fitted to the boat interposed therebetween. A method of synthesizing a compound semiconductor polycrystal.
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