JP3798816B2 - マイクロボロメータ焦点面アレイの熱勾配安定化の方法および装置 - Google Patents
マイクロボロメータ焦点面アレイの熱勾配安定化の方法および装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP3798816B2 JP3798816B2 JP52300297A JP52300297A JP3798816B2 JP 3798816 B2 JP3798816 B2 JP 3798816B2 JP 52300297 A JP52300297 A JP 52300297A JP 52300297 A JP52300297 A JP 52300297A JP 3798816 B2 JP3798816 B2 JP 3798816B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- focal plane
- heat
- plane array
- thermally
- thermally conductive
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
- 230000006641 stabilisation Effects 0.000 title claims description 11
- 238000011105 stabilization Methods 0.000 title claims description 11
- 238000000034 method Methods 0.000 title description 8
- 238000001816 cooling Methods 0.000 claims description 18
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims description 4
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 3
- 230000000087 stabilizing effect Effects 0.000 claims 7
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 3
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 10
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 7
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 5
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 5
- WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N lead(0) Chemical compound [Pb] WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000000463 material Substances 0.000 description 4
- 230000008859 change Effects 0.000 description 2
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 2
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 2
- 230000001052 transient effect Effects 0.000 description 2
- FRWYFWZENXDZMU-UHFFFAOYSA-N 2-iodoquinoline Chemical compound C1=CC=CC2=NC(I)=CC=C21 FRWYFWZENXDZMU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- YLQBMQCUIZJEEH-UHFFFAOYSA-N Furan Chemical compound C=1C=COC=1 YLQBMQCUIZJEEH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000003491 array Methods 0.000 description 1
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 1
- LTPBRCUWZOMYOC-UHFFFAOYSA-N beryllium oxide Inorganic materials O=[Be] LTPBRCUWZOMYOC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 1
- 230000000593 degrading effect Effects 0.000 description 1
- 230000002939 deleterious effect Effects 0.000 description 1
- 230000001627 detrimental effect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000004377 microelectronic Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000011017 operating method Methods 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 239000003381 stabilizer Substances 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/02—Details
- H01L31/024—Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
- G01J5/02—Constructional details
- G01J5/06—Arrangements for eliminating effects of disturbing radiation; Arrangements for compensating changes in sensitivity
- G01J5/061—Arrangements for eliminating effects of disturbing radiation; Arrangements for compensating changes in sensitivity by controlling the temperature of the apparatus or parts thereof, e.g. using cooling means or thermostats
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
- G01J5/10—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using electric radiation detectors
- G01J5/20—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using electric radiation detectors using resistors, thermistors or semiconductors sensitive to radiation, e.g. photoconductive devices
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/34—Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements
- H01L23/38—Cooling arrangements using the Peltier effect
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N23/00—Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof
- H04N23/20—Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof for generating image signals from infrared radiation only
- H04N23/23—Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof for generating image signals from infrared radiation only from thermal infrared radiation
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/4805—Shape
- H01L2224/4809—Loop shape
- H01L2224/48091—Arched
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/73—Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
- H01L2224/732—Location after the connecting process
- H01L2224/73251—Location after the connecting process on different surfaces
- H01L2224/73265—Layer and wire connectors
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N5/00—Details of television systems
- H04N5/30—Transforming light or analogous information into electric information
- H04N5/33—Transforming infrared radiation
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Toxicology (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
- Radiation Pyrometers (AREA)
- Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)
Description
1.発明の分野
本発明は一般に、熱的に敏感な素子の熱勾配安定化に関し、より詳細には、マイクロボロメータ焦点面アレイの熱勾配安定化の方法および装置に関する。
2.関連技術の説明
マイクロボロメータ焦点面アレイ(FPA)は、種々の用途で画像を作り出すことができる。マイクロボロメータFPAの性能は、マイクロボロメータのきわめて高い感度のため、小さなノイズソースによってさえ影響されるおそれがある。たとえば、FPA上で生じる微妙な温度変化、たとえば熱勾配が、作り出される画像に有害な影響を及ぼすことがある。FPA中のボロメータ間の感度の不一致が、固定パターンノイズおよびシーンの見かけ明るさにおける勾配を生じさせる。さらには、FPAにおける温度変動および温度勾配は、固定パターンノイズによって生じる画像の問題を悪化させかねない。
FPAにおける周囲温度変化の影響を相殺するため、マイクロボロメータFPAは、熱的に安定化させることが有利である。追跡システムにおけるFPAの温度補正には熱電(TE)冷却装置が用いられてきた。この方法は、外部の周囲温度に偏倚があるとき、FPAを非常に正確に制御された温度に維持するのに非常に効果的であった。
そのようなTE冷却装置の使用にもかかわらず、安定性の問題は残る。マイクロボロメータFPAは、素子パッケージに張り巡らされた導線を介してオフチップの制御および電源電子系に電気的に接続している。導線によって伝導される熱がマイクロボロメータFPAの温度安定性に有害な影響を及ぼす。外部の周囲温度に偏倚があるとき、この熱流束は、素子パッケージでの、外部の周囲温度と制御されたFPA温度との温度差の関数として変化する。変化する熱流束は、FPAの表面上で変化する温度勾配を付与する。FPAの温度は正確に制御することができるが、公知の装置は、FPAの表面の温度勾配の制御までは考慮していない。
英国特許第1401434号明細書は、内側管状部材が外側管状部材の中に配設されて、二つの部材の間に真空排気空間を形成する、光電素子のアセンブリに関する。光電素子が内側管状部材の表面に配設され、その光電素子との間のワイヤが内側管状部材の壁の中を延びている。内側管状部材の内側の空間は、冷却手段の挿入に使用することができる。
国際公開特許88/04833号公報は、その作動に必要である比較的低い温度まで冷却されるセンサチップアセンブリを有する赤外線検出器を開示している。センサチップアセンブリの近くに配置しなければならず、センサチップアセンブリが発するよりもかなり多くの熱を発生させる前置増幅器が、センサチップアセンブリおよびその支持体から熱的に隔離され、より高い温度まで冷却される。
国際公開特許92/06561号公報は、CCDアレイの中に均一な温度分布を提供して暗電流を安定化するために、熱電冷却装置とCCDアレイとの間に挿入される熱緩衝材を開示している。
国際公開特許94/00950号公報は、廉価な熱電温度安定化を備えた、マイクロボロメータ素子の焦点面アレイを真空パッケージ中に有する主に赤外線用のカメラシステムを開示している。安定化温度は、設計者または使用者が選択することができる。
発明の概要
本発明は、信号リード線から伝導される熱流束を、焦点面アレイから熱電(TE)冷却装置の比較的等温の上面に向ける熱分路を提供する。FPAは、第一の熱伝導性付着手段により、熱伝導性の散熱板に載っている。散熱板は、散熱板よりも熱伝導性が低いことが好都合である第二の熱伝導性付着手段により、TE冷却装置の上面に載っている。熱伝導性がより低い界面によって隔てられた二つの比較的等温の面、すなわちFPA散熱体とTE冷却装置の上面との組み合わせが、熱分路とFPAエッジとの間に接続されたリード線にかけて比較的一定の温度差を維持する。実質的に比較的一定の温度差が、これらの地点の間での一定の熱流束およびFPAの表面上での一定の温度勾配を提供する。
本発明の一つの態様では、真空ハウジングがシステムを外部の環境条件から保護するのに役立つ。真空ハウジングは、放射線がFPAに当たることができるよう、FPAの上方に設けられた窓を含む。
【図面の簡単な説明】
図1は、従来技術のFPA取り付け部の部分断面図である。
図2は、本発明にしたがって真空ハウジングに取り付けられたマイクロボロメータFPAの断面図である。
図3は、本発明にしたがって温度安定化装置に取り付けられたマイクロボロメータFPAの詳細断面図である。
図4は、本発明にしたがって真空ハウジング中の温度安定化装置に取り付けられたマイクロボロメータFPAの一つの実施態様の切欠き図である。
詳細な説明
図1は、典型的な従来技術のFPAシステム10および接続リード線20の部分断面を示す。FPA30が、熱電冷却装置40の上面42に直接載っている。ワイヤボンディングされたリード線20が真空ハウジング50の中の気密封止された電気貫通接続孔22からFPA30上のボンディングパッド24まで直接延びている。外部の環境温度に依存して熱が真空ハウジング50に流れ込む、または真空ハウジング50から流れ出るとき、FPAエッジ32の温度が平均FPA表面温度に対して変化する。TE冷却装置40および温度制御装置(図示せず)が熱勾配におけるこの変化を補正することはなく、その結果、システム性能が落ちる。
次に、本発明のマイクロボロメータFPAアセンブリ100の熱勾配安定化装置の一つの実施態様の断面を示す図2および本発明の一つの実施態様の部分断面をさらに詳細に示す図3を参照する。FPA110が、第一の熱伝導性付着手段112を使用して、散熱体120に載っている。一つの実施態様では、散熱体120は、銅または同様な熱伝導性材料から形成することができる。一例では、第一の熱伝導性付着手段は、接着剤、たとえばA.I.テクノロジー(A.I.Technology)社の部品番号EG8050接着剤または同様な公知の接着剤の厚さ1ミルの層を含むことができる。散熱体120は、第二の熱伝導性付着手段122を使用して、熱電冷却装置130の第一の面に載っている。この場合、第二の熱伝導性付着手段は、第一の熱伝導性付着手段よりも熱伝導性が低い材料を含むことが好ましいが、必ずしもそうである必要はない。一例では、熱伝導性が低い方の材料は、フラン(Furane)のウラレイン(uralane)5753接着剤または同様な公知の接着剤を含むことができる。一つの実施態様では、第一の熱伝導性材料は、約0.08ワット/cm°Kの電導度を有する材料を含むことができる。第二の熱伝導性材料は、たとえば、約0.002ワット/cm°Kの電導度を有する材料を含むことができる。一つの実施態様では、第二の熱伝導性材料は、0.1ワット/cm°K未満の電導度を有することができる。
熱電冷却装置130の第一の面は、上板132を含むことができる。熱分路140が、第一の熱伝導性付着手段に類似した熱伝導性付着手段を使用して、TE冷却装置の上板132に載っている。一つの実施態様では、TE冷却装置の上板132は、酸化ベリリウムまたは同様な熱伝導性材料を含むことができる。同様に、熱分路は、ケイ素または同様な熱伝導性材料を含むことができる。
リード線180がマイクロボロメータFPAアセンブリ100からの信号を運ぶ。リード線180は、一端がFPA110に付き、第二端が熱分路140に付くことができる。第二のリード線180は、一端が熱分路140に付き、第二端が電気貫通接続孔152に付くことができる。本開示の特典を利する当業者ならば、第一のリード線と第二のリード線とが1本のステッチ接合リード線を含むものでもよいことを理解するであろう。
マイクロボロメータFPAアセンブリ100は、気密封止された真空ハウジング150の中に格納することができる。真空ハウジング150は、放射エネルギーがシステムに入り、FPA110を照射すことができるように設けられた窓154を含む。TE冷却装置130は、熱伝導性付着手段法を使用して、その第二の面を真空ハウジング150に取り付けてもよい。マイクロボロメータFPAアセンブリ100は、電気貫通接続孔152を介して外部電子系とインタフェースすることができる。本発明の一つの実施態様では、外部電子系は、検出器電子系160および温度制御装置170を含むことができる。
温度制御装置170は、FPA110から、FPA110の温度の関数としてのフィードバック入力信号を受ける。温度制御装置170は、この入力フィードバック信号を処理し、TE冷却装置130を制御するための出力信号を生成する。TE冷却装置はFPA110の温度を制御する。この方法が、過渡的な外部の環境周囲温度の偏倚があるときFPA110を実質的に一定で安定な温度に制御する。単なる例示として、これらの環境周囲温度偏倚は、−55℃〜+80℃またはそれ以上の範囲であることができる。
FPA110と検出器電子系160、170との間で信号を運ぶリード線180は、従来のマイクロエレクトロニクスワイヤボンディング技術を使用して取り付けることができる。従来技術とは対照的に、リード線180はまず、中間のワイヤボンディングによって熱分路140に接続する。次に、熱分路140がワイヤボンディングによってFPA110に接続する。本発明の一つの実施態様では、これらのリード線180は、真空ハウジング150中の気密封止された電気貫通接続孔152から熱分路140上のボンディングパッド182まで延び、その熱分路140からFPA110上のボンディングパッド182まで延びる。本発明の代替態様では、中間のリード線180は、熱分路140を使用せずに直接、TE冷却装置130または散熱体120の上面のボンディングパッドに付くこともできる。
リード線180を介して伝達された熱流束は、熱分路140および第三の熱伝導性付着手段142を通過してTE冷却装置の上板132に達する。上述したように、一つの実施態様では、FPA110は、第一の熱伝導性付着手段112を使用して、散熱体120に載っている。散熱体120は、第二の熱伝導性付着手段122を使用して、TE冷却装置の上板132に載っている。散熱体120は、熱伝導性が高く、TE冷却装置130からいくらか熱的に隔離されているため、リード線180を介して伝達され、TE冷却装置130に分路される熱流束変化によってFPA110が強い影響を受けることを防ぐ。
マイクロボロメータFPAアセンブリ100が過渡的な外部環境の周囲温度偏倚を受けると、外部の周囲温度にある真空ハウジング150と、一定に制御された温度にあるFPA110およびTE冷却装置の上板132との温度差が、熱流束をリード線180に伝達させる。熱流束は、外部の周囲温度の変化に比例して変化する。
熱伝導率がより低い熱界面122によって隔てられた一つ以上の熱伝導性板、すなわちFPA110の散熱体120とTE冷却装置130の上板132との組み合わせが、リード線のうち、熱分路140およびFPA110に近い接続部分182をほぼ一定の温度差に維持する。したがって、本発明の装置は、ほぼ一定の熱流束がFPA110上に伝達され、ほぼ一定の熱勾配がFPA110上で生じることを可能にする。
本発明の装置によって用いられるこれらの熱勾配温度安定化の方法は、マイクロボロメータFPAアセンブリ100を、その性能を落とすことなく、他の方法で可能であるよりもはるかに広い範囲の周囲温度変化にわたって作動させることができる。
次に、真空ハウジング150中の温度安定化装置130に取り付けられたマイクロボロメータFPA110の一つの実施態様の切欠き図を示す図4を参照する。第一の熱伝導性付着手段112がFPA110を散熱体120に取り付けている。第二の熱伝導性付着手段122が散熱体120をTE冷却装置130の上板132に取り付けている。第三の熱伝導性付着手段142が、この実施態様では、FPA110の二つの側に平行に取り付けられた二つの分路140を含む熱分路140をTE冷却装置130の上板132に取り付けている。
FPA110は、電気貫通接続孔152に接続された複数のリード線180を含む。熱分路140は、複数のリード線180が電気貫通接続孔152に接続する前に放熱子を提供して、リード線180によって伝達される熱流束の影響を減らす。ボンディングパッド182がリード線180から熱分路140への接続を提供する。
気密封止された真空ハウジング150が、FPA110およびTE冷却装置130を囲い込んでいる。電気貫通接続孔152は、真空ハウジング150に載置され、オフチップ電子系への接続を提供する。
特許法に準拠し、当業者に対し、本新規な原理を適用し、必要とされるような特殊な部品を構成し、使用するのに必要な情報を提供するため、本明細書に本発明を相当に詳細に記載した。しかし、本発明は、詳細には異なる機器およびデバイスによって実施することもでき、機器の詳細および作動手順のいずれに関しても、本発明そのものの範囲を逸することなく、種々の変形を達成できるということが理解されよう。
Claims (11)
- a)焦点面アレイ(110)と、
b)第一の熱伝導性付着手段(112)によって焦点面アレイ(110)に取り付けられた散熱体(120)と、
c)第二の熱伝導性付着手段(122)によって散熱体(120)に取り付けられた、上板(132)を有する熱電冷却装置(130)と、
d)熱電冷却装置(130)に熱的に接地された、焦点面アレイ(110)に取り付けられた少なくとも一つのリード線(180)と、
を含み、
第一の熱伝導性付着手段(112)の熱伝導率が第二の熱伝導性付着手段(122)の熱伝導率よりも高いことを特徴とする、温度安定化装置を有する焦点面アレイ(110)。 - 少なくとも一つのリード線(180)がケイ素棒(140)によって熱電冷却装置(130)に熱的に接地されている請求項1記載の焦点面アレイ(110)。
- a)窓(154)および少なくとも一つの気密封止された電気貫通接続孔(152)をさらに含む真空ハウジング(150)と、
b)真空ハウジング(150)の中に囲い込まれたチップ上に集積されたマイクロボロメータ焦点面アレイ(110)であって、放射線がマイクロボロメータ焦点面アレイ(110)に当たるように窓(154)の下方に設けられたマイクロボロメータ焦点面アレイ(110)と、
c)第一の熱伝導性付着手段(112)によってマイクロボロメータ焦点面アレイ(110)に取り付けられた散熱体(120)と、
d)散熱体(120)および第一の熱伝導性付着手段(112)よりも熱伝導性が低い第二の熱伝導性付着手段(122)によって散熱体(120)に取り付けられた上板(132)を有する熱電冷却装置(130)と、
e)第三の熱伝導性付着手段(142)によって上板に取り付けられた少なくとも一つの熱分路(140)と、
f)少なくとも一つの熱分路(140)それぞれに熱的に接地された少なくとも一つのリード線(180)であって、第一端がマイクロボロメータ焦点面アレイ(110)に付き、第二端が少なくとも一つの気密封止された電気貫通接続孔(152)のそれぞれに付く少なくとも一つのリード線(180)と、
を含むことを特徴とする、マイクロボロメータ焦点面アレイ(110)の温度安定化装置。 - 少なくとも一つの熱分路(140)がケイ素棒を含む請求項3記載の温度安定化装置。
- 焦点面アレイ(110)を含む少なくとも一つの熱的に敏感な検出器(110)と、
少なくとも一つの熱的に敏感な検出器(110)に熱的に結合された、温度を安定化させるための手段(130)と、
温度安定化手段(130)に熱的に結合された少なくとも一つの熱分路(140)であって、少なくとも一つの熱的に敏感な素子(110)および電気端子(182)に電気的に接続された、熱的に安定化された電気信号を運ぶための手段を含む少なくとも一つの熱分路(140)と、
第一の熱伝導性付着手段(112)によって少なくとも一つの熱的に敏感な素子(110)に取り付けられた散熱体(120)とを含み、
散熱体(120)が、第二の熱伝導性付着手段(122)によって温度安定化手段(130)に結合され、第二の熱伝導性付着手段(122)が、散熱体(120)の熱伝導率よりも低い熱伝導率を有し、
第一の熱伝導性付着手段(112)の熱伝導率が第二の熱伝導性付着手段(122)の熱伝導率よりも高いことを特徴とする温度安定化装置。 - 焦点面アレイ(110)がマイクロボロメータ焦点面アレイ(110)を含む請求項5記載の装置。
- 真空ハウジング(150)をさらに含み、温度安定化装置が真空ハウジング(150)の中に取り付けられ、真空ハウジング(150)がさらに、放射線が焦点面アレイ(110)に当たるようにするために設けられた窓(154)を含む請求項6記載の装置。
- 真空ハウジング(150)がさらに、それぞれの中間リード線(180)によって少なくとも一つの熱分路(140)に接続された少なくとも一つの気密封止された電気貫通接続孔(152)を含む請求項7記載の装置。
- 少なくとも一つのリード線(180)およびそれぞれの中間リード線(180)が少なくとも一つの熱分路(140)にワイヤボンディングされている請求項8記載の装置。
- 温度安定化手段(130)が、第一の熱伝導性付着手段(112)の熱伝導率と同じ熱伝導率を有する第三の熱伝導性付着手段(142)によって少なくとも一つの熱分路(140)に取り付けられている請求項7記載の装置。
- 少なくとも一つの熱分路(140)がケイ素棒(140)を含む請求項5記載の装置。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US08/574,815 | 1995-12-19 | ||
US08/574,815 US5763885A (en) | 1995-12-19 | 1995-12-19 | Method and apparatus for thermal gradient stabilization of microbolometer focal plane arrays |
PCT/US1996/020352 WO1997022860A1 (en) | 1995-12-19 | 1996-12-18 | Method and apparatus for thermal gradient stabilization of microbolometer focal plane arrays |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2000502449A JP2000502449A (ja) | 2000-02-29 |
JP3798816B2 true JP3798816B2 (ja) | 2006-07-19 |
Family
ID=24297761
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP52300297A Expired - Lifetime JP3798816B2 (ja) | 1995-12-19 | 1996-12-18 | マイクロボロメータ焦点面アレイの熱勾配安定化の方法および装置 |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5763885A (ja) |
EP (1) | EP0870181B1 (ja) |
JP (1) | JP3798816B2 (ja) |
AU (1) | AU1686497A (ja) |
DE (1) | DE69629587T2 (ja) |
IL (1) | IL124989A (ja) |
WO (1) | WO1997022860A1 (ja) |
Families Citing this family (74)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7495220B2 (en) * | 1995-10-24 | 2009-02-24 | Bae Systems Information And Electronics Systems Integration Inc. | Uncooled infrared sensor |
US6515285B1 (en) * | 1995-10-24 | 2003-02-04 | Lockheed-Martin Ir Imaging Systems, Inc. | Method and apparatus for compensating a radiation sensor for ambient temperature variations |
US6322670B2 (en) | 1996-12-31 | 2001-11-27 | Honeywell International Inc. | Flexible high performance microbolometer detector material fabricated via controlled ion beam sputter deposition process |
JPH10281864A (ja) * | 1997-04-03 | 1998-10-23 | Nikon Corp | 熱型赤外線カメラ |
US6144031A (en) * | 1997-04-21 | 2000-11-07 | Inframetrics Inc. | Infrared video camera system with uncooled focal plane array and radiation shield |
JP3149919B2 (ja) * | 1997-12-03 | 2001-03-26 | 日本電気株式会社 | 固体撮像素子及びこれを用いた読み出し回路 |
US6133572A (en) * | 1998-06-05 | 2000-10-17 | The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration | Infrared detector system with controlled thermal conductance |
US6307194B1 (en) | 1999-06-07 | 2001-10-23 | The Boeing Company | Pixel structure having a bolometer with spaced apart absorber and transducer layers and an associated fabrication method |
US6610984B2 (en) * | 2000-03-17 | 2003-08-26 | Infrared Components Corporation | Method and apparatus for correction of microbolometer output |
US6630674B2 (en) * | 2000-03-17 | 2003-10-07 | Infrared Components Corporation | Method and apparatus for correction of microbolometer output |
WO2001084118A2 (en) | 2000-05-01 | 2001-11-08 | Bae Systems Information And Electronic Systems Integration Inc. | Methods and apparatus for compensating a radiation sensor for temperature variations of the sensor |
US6544477B1 (en) * | 2000-08-01 | 2003-04-08 | Regents Of The University Of Minnesota | Apparatus for generating a temperature gradient |
US6668126B2 (en) * | 2001-05-17 | 2003-12-23 | 3M Innovative Properties Company | Temperature stabilized optical fiber package |
US6675600B1 (en) | 2002-12-05 | 2004-01-13 | Bae Systems Information And Electronic Systems Integration Inc. | Thermal mismatch compensation technique for integrated circuit assemblies |
AU2003288652A1 (en) * | 2003-01-06 | 2004-07-29 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Radiation detector with shielded electronics for computed tomography |
FR2856522B1 (fr) * | 2003-06-20 | 2005-08-19 | Sagem | Photodetecteur refroidi |
US7429596B2 (en) * | 2003-06-20 | 2008-09-30 | The Regents Of The University Of California | 1H-pyrrolo [2,3-D] pyrimidine derivatives and methods of use thereof |
US7030378B2 (en) * | 2003-08-05 | 2006-04-18 | Bae Systems Information And Electronic Systems Integration, Inc. | Real-time radiation sensor calibration |
JP2008520744A (ja) | 2004-11-19 | 2008-06-19 | ザ・レジェンツ・オブ・ザ・ユニバーシティ・オブ・カリフォルニア | 抗炎症性ピラゾロピリミジン |
US7135679B2 (en) * | 2004-12-06 | 2006-11-14 | Thermophotonics Inc. | Method and system for enhanced radiation detection |
FR2879819B1 (fr) * | 2004-12-21 | 2007-02-23 | Ulis Soc Par Actions Simplifie | Composant de detection de rayonnements electromagnetiques notamment infrarouges |
PT2004654E (pt) * | 2006-04-04 | 2013-08-27 | Univ California | Derivados de pirazolopirimidina para utilização como antagonistas da quinase |
WO2008103678A1 (en) * | 2007-02-20 | 2008-08-28 | Efw Inc. | Temperature controlled photodetector |
WO2009046448A1 (en) | 2007-10-04 | 2009-04-09 | Intellikine, Inc. | Chemical entities and therapeutic uses thereof |
EP2240451B1 (en) | 2008-01-04 | 2017-08-09 | Intellikine, LLC | Isoquinolinone derivatives substituted with a purine useful as PI3K inhibitors |
US8193182B2 (en) | 2008-01-04 | 2012-06-05 | Intellikine, Inc. | Substituted isoquinolin-1(2H)-ones, and methods of use thereof |
DE102008005167A1 (de) | 2008-01-19 | 2009-07-23 | Testo Ag | Wärmebildkamera |
EP2252293B1 (en) | 2008-03-14 | 2018-06-27 | Intellikine, LLC | Kinase inhibitors and methods of use |
US8993580B2 (en) | 2008-03-14 | 2015-03-31 | Intellikine Llc | Benzothiazole kinase inhibitors and methods of use |
US20110224223A1 (en) | 2008-07-08 | 2011-09-15 | The Regents Of The University Of California, A California Corporation | MTOR Modulators and Uses Thereof |
KR20110039326A (ko) | 2008-07-08 | 2011-04-15 | 인텔리카인, 인크. | 키나제 억제제 및 사용 방법 |
US8703778B2 (en) | 2008-09-26 | 2014-04-22 | Intellikine Llc | Heterocyclic kinase inhibitors |
EP2358720B1 (en) | 2008-10-16 | 2016-03-02 | The Regents of The University of California | Fused ring heteroaryl kinase inhibitors |
US8476282B2 (en) | 2008-11-03 | 2013-07-02 | Intellikine Llc | Benzoxazole kinase inhibitors and methods of use |
US9635285B2 (en) | 2009-03-02 | 2017-04-25 | Flir Systems, Inc. | Infrared imaging enhancement with fusion |
WO2012170946A2 (en) | 2011-06-10 | 2012-12-13 | Flir Systems, Inc. | Low power and small form factor infrared imaging |
US9451183B2 (en) | 2009-03-02 | 2016-09-20 | Flir Systems, Inc. | Time spaced infrared image enhancement |
US10244190B2 (en) | 2009-03-02 | 2019-03-26 | Flir Systems, Inc. | Compact multi-spectrum imaging with fusion |
CA2760791C (en) | 2009-05-07 | 2017-06-20 | Intellikine, Inc. | Heterocyclic compounds and uses thereof |
US10091439B2 (en) | 2009-06-03 | 2018-10-02 | Flir Systems, Inc. | Imager with array of multiple infrared imaging modules |
WO2011047384A2 (en) | 2009-10-16 | 2011-04-21 | The Regents Of The University Of California | Methods of inhibiting ire1 |
WO2011146882A1 (en) | 2010-05-21 | 2011-11-24 | Intellikine, Inc. | Chemical compounds, compositions and methods for kinase modulation |
EP2608713A4 (en) | 2010-08-27 | 2014-01-08 | Milwaukee Electric Tool Corp | THERMAL DETECTION SYSTEMS, METHODS AND DEVICES |
US8901133B2 (en) | 2010-11-10 | 2014-12-02 | Infinity Pharmaceuticals, Inc. | Heterocyclic compounds and uses thereof |
JP5500056B2 (ja) * | 2010-12-06 | 2014-05-21 | 日本電気株式会社 | 赤外線センサパッケージおよび該赤外線センサパッケージを搭載した電子機器 |
MX347708B (es) | 2011-01-10 | 2017-05-09 | Infinity Pharmaceuticals Inc | Proceso para preparar isoquinolinonas y formas solidas de isoquinolinonas. |
AR085397A1 (es) | 2011-02-23 | 2013-09-25 | Intellikine Inc | Combinacion de inhibidores de quinasa y sus usos |
US9883084B2 (en) | 2011-03-15 | 2018-01-30 | Milwaukee Electric Tool Corporation | Thermal imager |
US9961277B2 (en) * | 2011-06-10 | 2018-05-01 | Flir Systems, Inc. | Infrared focal plane array heat spreaders |
CA2838992C (en) | 2011-06-10 | 2018-05-01 | Flir Systems, Inc. | Non-uniformity correction techniques for infrared imaging devices |
US9143703B2 (en) | 2011-06-10 | 2015-09-22 | Flir Systems, Inc. | Infrared camera calibration techniques |
EP2734520B1 (en) | 2011-07-19 | 2016-09-14 | Infinity Pharmaceuticals, Inc. | Heterocyclic compounds and uses thereof |
CA2842190A1 (en) | 2011-07-19 | 2013-01-24 | Infinity Pharmaceuticals Inc. | Heterocyclic compounds and uses thereof |
US8785470B2 (en) | 2011-08-29 | 2014-07-22 | Infinity Pharmaceuticals, Inc. | Heterocyclic compounds and uses thereof |
JP6342805B2 (ja) | 2011-09-02 | 2018-06-13 | ザ リージェンツ オブ ザ ユニバーシティ オブ カリフォルニア | 置換ピラゾロ[3,4−d]ピリミジンおよびその用途 |
US8940742B2 (en) | 2012-04-10 | 2015-01-27 | Infinity Pharmaceuticals, Inc. | Heterocyclic compounds and uses thereof |
US8828998B2 (en) | 2012-06-25 | 2014-09-09 | Infinity Pharmaceuticals, Inc. | Treatment of lupus, fibrotic conditions, and inflammatory myopathies and other disorders using PI3 kinase inhibitors |
US10794769B2 (en) * | 2012-08-02 | 2020-10-06 | Milwaukee Electric Tool Corporation | Thermal detection systems, methods, and devices |
SG11201502331RA (en) | 2012-09-26 | 2015-04-29 | Univ California | Modulation of ire1 |
CN205157061U (zh) * | 2012-12-26 | 2016-04-13 | 菲力尔系统公司 | 红外传感器模块和红外成像设备 |
US10677656B2 (en) | 2012-12-31 | 2020-06-09 | Flir Systems, Inc. | Devices and methods for infrared reference pixels |
US9606016B2 (en) * | 2012-12-31 | 2017-03-28 | Flir Systems, Inc. | Devices and methods for determining vacuum pressure levels |
KR102123991B1 (ko) * | 2013-03-11 | 2020-06-17 | 삼성전자주식회사 | 반도체 패키지 및 이를 구비하는 전자 시스템 |
US9481667B2 (en) | 2013-03-15 | 2016-11-01 | Infinity Pharmaceuticals, Inc. | Salts and solid forms of isoquinolinones and composition comprising and methods of using the same |
TWI657085B (zh) | 2013-10-04 | 2019-04-21 | 英菲尼提製藥股份有限公司 | 雜環化合物及其用途 |
US9751888B2 (en) | 2013-10-04 | 2017-09-05 | Infinity Pharmaceuticals, Inc. | Heterocyclic compounds and uses thereof |
MX2016012021A (es) | 2014-03-19 | 2017-04-13 | Infinity Pharmaceuticals Inc | Compuestos heterociclicos para utilizarlos en el tratamiento de trastornos mediados por pi3k-gamma. |
WO2015160975A2 (en) | 2014-04-16 | 2015-10-22 | Infinity Pharmaceuticals, Inc. | Combination therapies |
WO2016054491A1 (en) | 2014-10-03 | 2016-04-07 | Infinity Pharmaceuticals, Inc. | Heterocyclic compounds and uses thereof |
AU2016322552B2 (en) | 2015-09-14 | 2021-03-25 | Infinity Pharmaceuticals, Inc. | Solid forms of isoquinolinone derivatives, process of making, compositions comprising, and methods of using the same |
CN105280586B (zh) * | 2015-11-16 | 2017-12-26 | 长春乙天科技有限公司 | 非制冷型红外机芯散热装置及散热方法 |
WO2017161116A1 (en) | 2016-03-17 | 2017-09-21 | Infinity Pharmaceuticals, Inc. | Isotopologues of isoquinolinone and quinazolinone compounds and uses thereof as pi3k kinase inhibitors |
WO2017214269A1 (en) | 2016-06-08 | 2017-12-14 | Infinity Pharmaceuticals, Inc. | Heterocyclic compounds and uses thereof |
UA125216C2 (uk) | 2016-06-24 | 2022-02-02 | Інфініті Фармасьютікалз, Інк. | Комбінована терапія |
Family Cites Families (21)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3621258A (en) * | 1970-03-18 | 1971-11-16 | Us Army | Peltier-controlled bolometer temperature reference technique |
GB1401434A (en) * | 1971-09-30 | 1975-07-16 | Mullard Ltd | Photo-electric devices |
US4230945A (en) * | 1978-04-24 | 1980-10-28 | Meir Vladimir A | Device for detecting ionizing radiation |
US4555626A (en) * | 1982-08-03 | 1985-11-26 | Capintec Inc. | Radiation shield in light detector and/or assembly |
JPS61195315A (ja) * | 1985-02-26 | 1986-08-29 | Fujitsu Ltd | 冷却型赤外線検知器 |
US4755676A (en) * | 1986-12-19 | 1988-07-05 | Hughes Aircraft Company | Infrared detector with improved heat dissipation |
JPH0766976B2 (ja) * | 1987-02-27 | 1995-07-19 | 三菱電機株式会社 | 赤外線検知器 |
FR2638023B1 (fr) * | 1988-10-13 | 1992-07-31 | Telecommunications Sa | Dispositif cryostatique pour detecteur de rayonnements |
JPH02221823A (ja) * | 1989-02-22 | 1990-09-04 | Hitachi Ltd | 光度計 |
US4990782A (en) * | 1989-06-23 | 1991-02-05 | Santa Barbara Research Center | Radiation shield for thermoelectrically cooled infrared detectors |
US5041723A (en) * | 1989-09-30 | 1991-08-20 | Horiba, Ltd. | Infrared ray detector with multiple optical filters |
JP2763355B2 (ja) * | 1989-12-06 | 1998-06-11 | 富士通株式会社 | 赤外線検知装置 |
US5081358A (en) * | 1990-02-23 | 1992-01-14 | Shimadzu Corporation | Detector of fourier transform infrared spectrometer |
US5075555A (en) * | 1990-08-10 | 1991-12-24 | Kevex Instruments | Peltier cooled lithium-drifted silicon x-ray spectrometer |
WO1992006561A1 (en) * | 1990-10-05 | 1992-04-16 | E.I. Du Pont De Nemours And Company | Temperature stabilization buffer for a solid state electronic component |
JP2560560B2 (ja) * | 1991-04-22 | 1996-12-04 | 株式会社島津製作所 | 熱型光検出器およびその支持台の製造方法 |
JP2737518B2 (ja) * | 1992-03-16 | 1998-04-08 | 富士通株式会社 | 赤外線検知器の冷却構造 |
US5227631A (en) * | 1992-04-30 | 1993-07-13 | Nicolet Instrument Corporation | Infrared detector of the type used in infrared spectrometers |
KR100271083B1 (ko) * | 1992-06-19 | 2000-11-01 | 데이비드 에스. 호이리스 | 열전 온도 안정화를 갖는 적외선 카메라(Infrared Camera with Thermoelectric Temperature Stabilization) |
US5486689A (en) * | 1993-01-22 | 1996-01-23 | Intermec Corporation | Method and apparatus for decoding unresolved multi-width bar code symbology profiles |
US5371376A (en) * | 1993-07-20 | 1994-12-06 | Xsirius, Inc. | Mercuric iodide detector |
-
1995
- 1995-12-19 US US08/574,815 patent/US5763885A/en not_active Expired - Lifetime
-
1996
- 1996-12-18 WO PCT/US1996/020352 patent/WO1997022860A1/en active IP Right Grant
- 1996-12-18 DE DE69629587T patent/DE69629587T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1996-12-18 JP JP52300297A patent/JP3798816B2/ja not_active Expired - Lifetime
- 1996-12-18 IL IL12498996A patent/IL124989A/en not_active IP Right Cessation
- 1996-12-18 AU AU16864/97A patent/AU1686497A/en not_active Abandoned
- 1996-12-18 EP EP96945626A patent/EP0870181B1/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US5763885A (en) | 1998-06-09 |
AU1686497A (en) | 1997-07-14 |
IL124989A0 (en) | 1999-01-26 |
WO1997022860A1 (en) | 1997-06-26 |
JP2000502449A (ja) | 2000-02-29 |
EP0870181A1 (en) | 1998-10-14 |
DE69629587T2 (de) | 2004-06-24 |
EP0870181B1 (en) | 2003-08-20 |
DE69629587D1 (de) | 2003-09-25 |
IL124989A (en) | 2002-08-14 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP3798816B2 (ja) | マイクロボロメータ焦点面アレイの熱勾配安定化の方法および装置 | |
US5420419A (en) | Camera for producing video output signal, infrared focal plane array package for such camera, and method and apparatus for generating video signals from passive focal plane array of elements on a semiconductor substrate | |
US9377363B2 (en) | Infrared camera architecture systems and methods | |
JP6050561B1 (ja) | 加熱装置を有する放射線検出器、それを動作させる方法及びそれを有するイメージング装置 | |
US7276697B2 (en) | Infrared apparatus | |
JP2008219704A (ja) | 半導体装置 | |
US5875204A (en) | Temperature-controlled semiconductor laser apparatus and temperature control method therefor | |
JP2015012063A (ja) | 映像出力装置 | |
JPS6322623B2 (ja) | ||
WO1997021080A9 (en) | Array combining many photoconductive detectors in a compact package | |
WO1997021080A1 (en) | Array combining many photoconductive detectors in a compact package | |
US6829263B1 (en) | Semiconductor laser | |
JP3047352B2 (ja) | 温度制御型光結合構造 | |
US5157352A (en) | Bias current control for operational amplifier current/voltage converters | |
WO2018131216A1 (ja) | 赤外線センサ基板及び赤外線センサデバイス | |
JPH0821767A (ja) | 赤外線検出器及びその製造方法 | |
JPH0831993A (ja) | 冷却装置 | |
JPH0532917B2 (ja) | ||
JPS61232684A (ja) | 光半導体素子の温度安定化装置 | |
JPH10148578A (ja) | 赤外線検出器 | |
Forsthoefel et al. | Performance of a linear multiplexed MWIR FPA featuring buffered direct injection | |
JP3449312B2 (ja) | 半導体装置 | |
TW202429054A (zh) | 感測器降噪及製造方法 | |
JP2000292253A (ja) | 熱型赤外線検知器 | |
JPH0666629A (ja) | 赤外線検出装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20031211 |
|
RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20031211 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20041124 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20050214 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20050328 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20050523 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20050719 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20051012 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20051128 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20060110 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20060328 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20060421 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090428 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100428 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100428 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110428 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120428 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130428 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130428 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140428 Year of fee payment: 8 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
EXPY | Cancellation because of completion of term |