JP3761470B2 - 非接触電圧計測方法及び装置並びに検出プローブ - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、ビニル絶縁電線などのように、絶縁物によって被覆された導体に印加される交流の電圧を、導体とは非接触で計測する方法及び装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
従来より、絶縁電線に印加されている商用交流の電圧を測定するに当たって、交流電圧計が一般的に用いられている。
【0003】
しかし、従来の交流電圧計を用いる方法では、測定用電極の一方を導体に接触させる必要があるので、絶縁電線の被覆の一部を剥離したり、又は測定用の端子を予め設けておく必要があった。
【0004】
そこで、本出願人は、低電圧で動作して携帯用にも適した非接触電圧計測方法及び装置を先に提案した(特許第3158063号)。
図13は従来の非接触の電圧計測装置80の構成を示すブロック図、図14は電圧計測装置80の要部の等価回路である。
【0005】
図13において、電圧計測装置80は、検出用抵抗器R1、検出プローブ11、発振器12、電流検出部13j、バンドパスフィルタ21、整流器22、静電容量演算部23、浮遊容量検出部24、スイッチ25、ローパスフィルタ26、積分器27、及び除算器28から構成される。
【0006】
検出プローブ11は、電線WRの絶縁物SLの一部の表面を覆って導体CDの一部を外界から静電遮蔽する検出電極111、及び検出電極111を外界から静電遮蔽するシールド電極112を備える。検出プローブ11を用いて、検出電極111と導体CDとの間のインピーダンスZwが計測される。実際には、インピーダンスZwに代えてリアクタンスXC1つまり静電容量C1が計測される。
【0007】
検出電極111とシールド電極112との間の静電容量、検出用抵抗器R1への配線による浮遊容量、その他の浮遊容量による合成の静電容量をC0とし、これによるリアクタンスをXC0とする。静電容量C0のことを「浮遊容量C0」ということがある。
【0008】
発振器12から検出用抵抗器R1を通って検出電極111に流れ込む電流はIsであり、検出電極111から発振器12に向かって流れ出る電流はIxである。電流Isのうち、浮遊容量C0を経て接地極に流れ込む電流をIs0 、静電容量C1及び導体CDを経て接地極に流れ込む電流をIs1 とする。
【0009】
発振器12は、例えば5KHzの周波数の正弦波の一定の電圧Esの信号を出力する。電流検出部13jは、検出電極111に流入する電流及び検出電極111から流出する電流を検出し、信号S1を出力する。
【0010】
バンドパスフィルタ21は、電流検出部13jから出力される信号S1の中から、発振器12の信号Esによるもののみを通過させる。浮遊容量検出部24は、検出プローブ11を電線WRから離した状態において、浮遊容量C0を計測して記憶する。静電容量演算部23は、検出プローブ11により絶縁物SLの表面を覆った状態で整流器22から出力される信号S3と、浮遊容量検出部24に記憶された浮遊容量C0とに基づいて、静電容量C1を演算する。求められた静電容量C1は信号S4として除算器28に出力される。
【0011】
ローパスフィルタ26は、電流検出部13jから出力される信号S1の中から、導体CDに印加された電圧Exによるもののみを通過させる。積分器27は、ローパスフィルタ26から出力される信号S5を積分する。これによって、信号の波形の位相補正を行う。除算器28は、積分器27から出力される信号S6(Erx)を静電容量演算部23から出力される信号S4(静電容量C1)で除すことによって、電圧Exを求める。
【0012】
まず、検出プローブ11を開いた状態で、浮遊容量C0の計測を行う。発振器12の側から見たインピーダンスZ0は、
Z0=R1+jXC0
であるが、検出用抵抗器R1はリアクタンスXC0に比べて無視できるので、
Z0=XC0
とする。したがって、発振器12から出力される信号Esによって浮遊容量C0に流れ込む電流Is0 は、
これによる検出用抵抗器R1の両端の電圧Erは、
したがって、
XC0=(Es×R1)/Er
C0=(Es×R1)/ωs・Er …(3)
この(3)式によって得られる浮遊容量C0の値が、浮遊容量検出部24に記憶される。次に、検出プローブ11を閉じた状態で、静電容量C1の計測を行う。
【0013】
検出電極111が電線WRを覆うことにより、静電容量C1が加わることになる。したがって、発振器12から見たインピーダンスZwは、
Zw=R1+jXCc ……(4)
但し、Cc=C0+C1
検出用抵抗器R1はリアクタンスXCcに比べて小さく、無視できるので、
Zw=XCc
となる。したがって、発振器12から出力される信号Esによって検出用抵抗器R1に流れ込む電流Isは、
これによる検出用抵抗器R1の両端の電圧Erは、
したがって、
XCc=(Es×R1)/Er
また、XCcはωs(C0+C1)であるから、
C0+C1=(Es×R1)/ωs・Er …(7)
この(7)式によって得られる静電容量(C0+C1)の値が、信号S3として静電容量演算部23に入力される。静電容量演算部23では、入力された静電容量(C0+C1)の値から、浮遊容量検出部24に記憶された浮遊容量C0の値を減算することにより、静電容量C1を求め、これを除算器28に出力する。
【0014】
次に、検出プローブ11を閉じた状態で、導体CDに印加された電圧Exに起因する検出用抵抗器R1の両端の電圧Erを求める。
導体CDの側から見た検出用抵抗器R1を経由する回路のインピーダンスZxは、
Zx=R1+jXC1 ……(8)
検出用抵抗器R1はリアクタンスXC1に比べて小さく、無視できるので、
Zx=XC1
となる。
【0015】
したがって、導体CDに印加される電圧Exによって検出用抵抗器R1に流れ込む電流Ixは、
これによる検出用抵抗器R1の両端の電圧Erは、
この(10)式によって得られる電圧Er(Ers)の値が、信号S6として除算器28に入力される。除算器28では、入力された電圧Erを、静電容量演算部23から出力される静電容量C1を含む係数で除すことにより、電圧Exを求める。すなわち、
Ex=Er/(ωx×C1×R1) ……(11)
として求められる。
【0016】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、上述した従来の電圧計測装置80によると、検出電極111とシールド電極112との間の浮遊容量、および配線による浮遊容量などの影響がある。そのため、検出プローブ11を電線WRから離した状態で浮遊容量C0を計測しなければならず、計測に時間を要する。
【0017】
また、浮遊容量C0は一定ではなく、導体CDの線径、導体CDの検出プローブ11へのセッティング状態、検出プローブ11の周囲の状態などによって変化する。浮遊容量C0の変化によって計測誤差が発生する。また、浮遊容量C0の計測誤差によっても全体の計測精度が影響される。
【0018】
また、電線WRの絶縁物SLのインピーダンスZwとして、静電容量C1のみを計測したが、実際には、絶縁物SLの漏れ抵抗(絶縁抵抗)の影響がある。特に、電線WRの温度が上昇すると、絶縁物SLの絶縁抵抗が低下してその影響が無視できなくなり、それによって計測誤差が生じる。
【0019】
本発明は、上述の問題に鑑みてなされたもので、浮遊容量の影響をなくし、浮遊容量の計測を行うことなく簡単な操作によって非接触で高精度に電圧を計測することのできる非接触電圧計測方法及び装置を提供することを目的とする。
【0020】
【課題を解決するための手段】
本発明に係る方法の1つの形態によると、導体を被覆する絶縁物の一部の表面を覆うことが可能な検出電極及び前記検出電極を覆うシールド電極を備えた検出プローブと、所定の周波数の信号を出力する発振器とを用い、前記導体に印加される交流の電圧を前記導体とは非接触で計測する方法であって、シールドケーブルの芯線および被覆線の各一端を前記検出電極と前記シールド電極とに接続し、各他端をイマジナリショートの状態とすることによって浮遊容量の影響を実質的に零としておき、前記発振器の信号を前記シールドケーブルを介して前記検出電極に加えることによって前記検出電極と前記導体との間のインピーダンスを計測し、前記導体に印加される電圧に起因して前記検出電極から流出する電流を計測し、計測されたインピーダンスおよび電流に基づいて前記導体に印加された電圧を求め、前記インピーダンスの計測に際し、容量によるリアクタンスと前記容量と並列接続状態で存在する漏れ抵抗とを分離して計測し、前記リアクタンスおよび前記漏れ抵抗を用いて前記導体に印加された電圧を求める。
【0021】
他の形態によると、シールドケーブルの他端において、その芯線と被覆線とを演算増幅器の反転入力端子と非反転入力端子に接続することによってイマジナリショートの状態としておき、前記発振器の信号を前記シールドケーブルを介して前記検出電極に加え、前記検出電極と前記導体との間のインピーダンスを計測することによって前記導体に印加された電圧を求め、前記インピーダンスの計測に際し、容量によるリアクタンスと前記容量と並列接続状態で存在する漏れ抵抗とを分離して計測し、前記リアクタンスおよび前記漏れ抵抗を用いて前記導体に印加された電圧を求める。
【0022】
本発明に係る装置の1つの形態によると、絶縁物の一部の表面を覆って前記導体の一部を外界から静電遮蔽することが可能な検出電極及び前記検出電極を外界から静電遮蔽するためのシールド電極を備えた検出プローブと、前記検出電極と前記シールド電極とに芯線および被覆線の一端が接続されたシールドケーブルと、前記シールドケーブルの他端において、その芯線と被覆線とを反転入力端子と非反転入力端子とに接続してイマジナリショートの状態とする演算増幅器と、所定の周波数の信号を出力する発振器と、前記発振器の信号を前記シールドケーブルを介して前記検出電極に加えることによって前記検出電極と前記導体との間のインピーダンスを計測するものであって、前記インピーダンスの計測に際し、容量によるリアクタンスと前記容量と並列接続状態で存在する漏れ抵抗とを分離して計測するインピーダンス計測手段と、前記リアクタンスおよび前記漏れ抵抗を用いて前記導体に印加された電圧を求める計測部とを有してなる。
【0023】
他の形態によると、所定の周波数の信号を前記シールドケーブルを介して前記検出電極に加える発振器と、前記発振器の信号に起因して前記検出電極から流出する電流を検出し且つ前記導体に印加される電圧に起因して前記検出電極から流出する電流を検出するための検出用抵抗器と、前記発振器の信号に起因して前記検出用抵抗器の両端に生じる電圧に基づいて、前記検出電極と前記導体との間のインピーダンスを、容量によるリアクタンスと前記容量と並列接続状態で存在する漏れ抵抗とを分離して計測し、計測された前記リアクタンスおよび前記漏れ抵抗を用いて前記導体に印加された電圧を求める計測部とを有してなる。
【0024】
好ましくは、前記演算増幅器の誤差を補正して前記イマジナリショートの状態を完全なものに近づけるための補正回路を有してなる。
また、入力端子に前記発振器の信号が入力され、出力端子に前記検出用抵抗器の一端が接続され、前記演算増幅器の反転入力端子と非反転入力端子を経由して帰還回路が構成された反転増幅器を有する。
【0025】
また、前記蓋体の開閉にともなって開閉可能なように前記ハウジング本体と前記蓋体とにわたって設けられた電流検出用変圧器を有する。
本発明に係る検出プローブの1つの形態によると、ハウジング本体と、前記ハウジング本体に対して開閉可能な蓋体と、前記蓋体の開閉にともなって開閉可能なように前記ハウジング本体と前記蓋体とにわたって設けられ、且つ前記絶縁物に向かって付勢されて押しつけられる可動部分を有し、前記絶縁物の一部の表面を覆うことが可能な検出電極と、前記蓋体の開閉にともなって開閉可能なように前記ハウジング本体と前記蓋体とにわたって設けられ、前記検出電極を覆うシールド電極とを有してなる。
【0026】
なお、本発明において、導体に印加された電圧を計測するために、検出電極と導体との間のインピーダンス、および導体に印加された電圧に起因して検出電極から流出する電流を計測するが、これは電圧を求めるための原理であって、必ずしもそれらの物理量を計測する必要はない。他の種々の物理量またはパラメータを計測し、導体に印加された電圧が結果的に求まればよい。
【0027】
また、検出電極と導体との間のインピーダンスの計測に際し、通常は抵抗およびインダクタンスを無視できるので、静電容量またはリアクタンスを計測することによってインピーダンスの計測に代えることができる。しかし、本発明では、より正確に計測を行うために、静電容量によるリアクタンスと静電容量と並列接続状態で存在する漏れ抵抗とを分離して計測し、リアクタンスおよび漏れ抵抗を用いて導体に印加された電圧を計測する。
【0028】
〔第1の実施形態〕
図1は本発明に係る基となる実施形態の電圧計測装置1の構成を示すブロック図、図2は計測部30の構成の例を示すブロック図、図3は計測部30Bの他の例の構成の例を示すブロック図、図4は電圧計測装置1の要部の等価回路である。
【0029】
図1において、電圧計測装置1は、検出プローブ11、同軸ケーブル(シールドケーブル)CV、発振器12、電流検出部13、および計測部30からなる。
検出プローブ11として、先に従来の技術の項で説明したものと同じものを用いることができる。
【0030】
すなわち、検出プローブ11は、電線WRの絶縁物SLの一部の表面を覆って導体CDの一部を外界から静電遮蔽する検出電極111、及び検出電極111を外界から静電遮蔽するシールド電極112を備える。
【0031】
また、後述するように、改良された検出プローブ11Bを用いることもできる。
検出プローブ11と電流検出部13とは同軸ケーブルCVによって接続される。その際に、検出電極111は同軸ケーブルCVの一端側の芯線に、シールド電極112は同じ側の被覆線に、それぞれ接続される。
【0032】
発振器12は、商用交流の周波数である50Hz又は60Hzよりも充分に高い周波数、例えば2KHz程度または5KHz程度の周波数の正弦波の一定の電圧Esの信号を出力する。
【0033】
電流検出部13は、演算増幅器Q1〜3、検出用抵抗器R1、および抵抗器R2〜7などからなる。
演算増幅器Q1は、反転増幅回路K1を構成する。演算増幅器Q2は、その出力端子が反転入力端子aに接続されており、ボルテージフォロワ回路K2を構成する。演算増幅器Q3は、差動増幅回路K3を構成する。
【0034】
演算増幅器Q2の反転入力端子aに同軸ケーブルCVの被覆線が、非反転入力端子bに同軸ケーブルCVの芯線が、それぞれ接続される。ボルテージフォロワ回路K2では、反転入力端子aと非反転入力端子bとが実質的に同電位、つまりこれらがイマジナリショートの状態である。
【0035】
したがって、同軸ケーブルCVの芯線と被覆線との間はイマジナリショートの状態となり、それらの間に電流は流れない。つまり、同軸ケーブルCVの芯線と被覆線との間に存在する浮遊容量は、これを無視し、無いものとして扱うことができる。
【0036】
なお、浮遊容量の影響をなくして静電容量を電圧に変換する方法に関して、国際公開されたW099/38019を参照することができる。
図4によく示されるように、発振器12から検出用抵抗器R1を通って検出電極111に流れ込む電流はIsであり、検出電極111から発振器12に向かって流れ出る電流はIxである。
【0037】
検出プローブ11を用いて、検出電極111と導体CDとの間のインピーダンスZwが計測される。実際には、インピーダンスZwに代えて、検出電極111と導体CDとの間のリアクタンスXCつまり静電容量Cが計測される。
【0038】
なお、リアクタンスXCは、静電容量Cが一定であっても周波数fによって異なるので、発振器12の電圧Esの周波数fsに対するリアクタンスを「XCs」、導体CDに印加された電圧Exの周波数fxに対するリアクタンスを「XCx」と記載することがある。
【0039】
これら、リアクタンスXCsとリアクタンスXCxとの間には、
XCx=(fs/fx)・XCs
の関係がある。
【0040】
さて、図1のボルテージフォロワ回路K2では、非反転入力端子bの電位が、そのまま出力の電位Vsとなる。電位Vsは、演算増幅器Q1による反転増幅回路K1の出力であるから、
Vs=−Es(R3/R2) …(21)
ここで、R3=R2とすれば、
Vs=−Es …(22)
検出用抵抗器R1には、導体CDに印加された電圧Exによって、電流Ixが流れる。電流Ixによる降下電圧をErとすると、
Er=(Vs+Ex)R1/jXCx …(23)
ここで、差動増幅回路K3の4つの抵抗器(抵抗値)R4〜7が全て等しいとすると、差動増幅回路K3の出力電圧Eoは、
Eo=Er
つまり、検出用抵抗器R1の両端に発生する電圧Erが検出され、それが差動増幅回路K3から電圧Eoとして出力されることとなる。
【0041】
検出用抵抗器R1の両端に発生する電圧Erには、導体CDの電圧Exに起因して流れる電流Ixによる成分Erx、および発振器12の出力する電圧Esに起因して流れる電流Isによる成分Ersが含まれる。これらの電圧成分Ers,Erxは、周波数fが互いに異なることによる特性を利用し、フィルタなどを用いて弁別される。
【0042】
したがって、計測部30において、これらの電圧成分Erx,Ersを分離して求め、検出電極111と導体CDとの間のインピーダンスを求め、また導体CDの電圧Exに起因する電流Ixを計測し、これらから導体CDに印加された電圧Exを計測する。
【0043】
なお、インピーダンスとして、上にも述べたように、本実施形態においては静電容量(リアクタンス)を計測するが、高精度とするために、後述するように、静電容量C(またはリアクタンスXC)と漏れ抵抗Rxとを分離してそれぞれ計測し、これらを計算に用いる。
【0044】
電圧Eoの内の、発振器12による成分Eo(Vs)、導体CDの電圧Exによる成分Eo(Ex)は、次のようである。
Eo(Vs)=−Vs・R1/jXCs …(24)
Eo(Ex)= Ex・R1/jXCx …(25)
これらの成分Eo(Vs)、Eo(Ex)が実測により求められる。ここで、(24)式から、
Eo(Vs)=−(Es・R3/R2)・R1/jXCs …(26)
となり、したがって、
jXCs=−(Es・R3/R2)・R1/Eo(Es) …(27)
としてXCsを求めることができる。
【0045】
また、(25)式から、
Ex=jXCx・Eo(Ex)/R1 …(28)
となり、これから電圧Exを求めることができる。
【0046】
図2において、計測部30は、インピーダンス計測部14、流出電流計測部15、導体電圧計測部16、電力計測部17、および表示部18などから構成される。これらは、マイクロプロセッサ、ROM、RAMなどを用い、適切なプログラムを実行することによって実現可能である。
【0047】
インピーダンス計測部14は、検出電極111と導体CDとの間のインピーダンスZwを計測する。なお、本実施形態では、簡略化のために静電容量CまたはリアクタンスXCのみが計測される。流出電流計測部15は、電圧Exに起因する電流Ixを計測する。導体電圧計測部16は、電流IxとインピーダンスZwとから電圧Exを計測する。電力計測部17は、計測された電圧Exと、別途入力された電流Iwとに基づいて、導体CDによって負荷に供給される電力を計測する。なお、電流Iwは、電流検出用変圧器を用い、電線WRをクランプすることによって検出することができる。表示部18は、計測された電圧Ex又は電力を表示する。
【0048】
また、図3において、計測部30Bは、バンドパスフィルタ21、整流器22、ローパスフィルタ26、除算器28、電力計測部17、および表示部18などから構成される。
【0049】
バンドパスフィルタ21は、電流検出部13から出力される電圧Eoの中から、発振器12の信号Esによるもののみを通過させる。これに基づいて、検出電極111と導体CDとの間のインピーダンスZw(リアクタンスXCsまたはXCx)を求める。
【0050】
ローパスフィルタ26は導体CDに印加された電圧Exによるもののみを通過させる。これに基づいて、電圧Exに起因する電流Ixを求める。除算器28は、除算を行って電圧Exを求める。
【0051】
このような計測部30,30Bの構成および動作の一部についての詳細は、上に述べた特許第3158063号明細書を参照することができる。また、上に従来の技術の項で説明した図13の構成の一部を採用することもできる。
【0052】
このように、本実施形態の電圧計測装置1によると、種々の浮遊容量があっても、またそれが変化しても、同軸ケーブルCVの芯線と被覆線との間の電位は零であるので電流が流れない。これにより、浮遊容量の影響をなくすことができ、浮遊容量の計測を行うことなく、且つ浮遊容量の変化による誤差を生じることなく、簡単な操作によって非接触で電線WRの電圧を計測することができる。
【0053】
次に、具体的な数値例を説明する。
発振器12の出力する電圧Esを1V、その周波数を2KHzとし、導体CDに印加された電圧Exを100V、その周波数を60Hzとし、Cx=10pF、R1=1MΩとする。その場合に、
Eo(Es)=−1×1015×ωc=0.126〔V〕
Eo(Ex)=−1×106 ×ωc=3.77〔mV〕
ここで、電圧Exを1.00Vとして出力するための除算係数(K)は、
1.00=(3.77×10-3/0.126)×K
となればよいので、これからKを求めると、
K=0.126/3.77×10-3 =33.4
となる。つまり、K=33.4とすると、100Vの電圧Exに対して、1Vの電圧Eoを出力することができる。
【0054】
ところで、電圧計測装置1によって計測を実際に行うには、検出プローブ11内に電線WRがないときに、つまり静電容量Cおよび電圧Exが零のときに、電流検出部13の出力電圧Eoを零にする必要がある。しかし、実際の演算増幅器Qは理想的でないため、その動作に誤差がある。その他の種々の要因による誤差を補正するために、電圧および位相を微調整する補正回路を設ける必要がある。
【0055】
また、同軸ケーブルCVの芯線と被覆線との間の電位を零にして誤差を最少にするためにも、被覆線に電圧Esまたは電圧Vsを直接に印加するのではなく、電圧および位相を微調整する補正回路を通して印加する必要がある。
【0056】
図5および図6は補正回路40,40Bの例を示す図、図7は保護回路の例を示す図である。
図5に示す補正回路40は、演算増幅器Q4を用いた位相反転型の回路である。抵抗器R41によって振幅の調整を行い、抵抗器R42によって位相の調整を行う。
【0057】
図6に示す補正回路40Bは、演算増幅器Q5を用いた位相非反転型の回路である。抵抗器R43によって振幅の調整を行い、抵抗器R44によって位相の調整を行う。
【0058】
例えば、図1の回路において、演算増幅器Q1の出力と抵抗器R6との間に、位相非反転型の補正回路40Bを挿入する。または、同じ位置に位相反転型の補正回路40を挿入し、且つ、抵抗器R6の他端を演算増幅器Q3の反転入力端子に接続し、演算増幅器Q3を反転増幅回路として動作させる。
【0059】
また、図1の回路において、同軸ケーブルCVの被覆線を演算増幅器Q2の反転入力端子aに接続しているが、これを外し、その間に位相非反転型の補正回路40Bを挿入し、演算増幅器Q2の出力端子から同軸ケーブルCVの被覆線に対して補正電圧を印加する。
【0060】
また、同軸ケーブルCVに乗ってくるノイズから演算増幅器Q2を保護するために、図7に示すように、演算増幅器Qの反転入力端子aと非反転入力端子bとの間に互いに逆方向に並列に接続した2つのダイオードを接続する。そして、出力端子に、ダイオードを介して電源を接続する。
【0061】
上に実施形態において、検出プローブ11として種々のものを使用することができる。例えば、上に述べた特許第3158063号明細書に記載されている検出プローブを用いることが可能である。また、次に説明する検出プローブ11Bを用いることができる。
【0062】
図8は検出プローブ11Bの例を示す断面正面図、図9は検出プローブ11Bの断面側面図である。
これらの図において、検出プローブ11Bは、ハウジング本体51、蓋体52、検出電極53、シールド電極54、コイルバネ55、および電流検出用変圧器56などからなる。
【0063】
ハウジング本体51は、絶縁性の良好な合成樹脂からなり、ほぼ直方体形状である。蓋体52は、合成樹脂からなり、蝶番57によってハウジング本体51に対して開閉可能に取り付けられている。ハウジング本体51の上部両端中央には、電線WRを通すための開口部51aが設けられている。
【0064】
なお、蓋体52を閉じた状態で、蓋体52が開かないようにハウジング本体51との間で固定するために、ネジ、その他の種々の金具が取り付けられる。
検出電極53、シールド電極54、および電流検出用変圧器56は、いずれも、ハウジング本体51と蓋体52とにわたって形成される。
【0065】
すなわち、検出電極53は、ハウジング本体51に埋め込まれた互いに平行な2つの側壁部531、2つの側壁部531の間を上下方向に摺動する可動底部532、および、蓋体52に埋め込まれた上蓋部533からなる。可動底部532は、上面が緩いV字形に形成され、下面に当接する2つのコイルバネ55によって上方へ付勢され、常時電線WRに押し付けられるようになっている。これら、側壁部531、可動底部532、および上蓋部533は、互いに接触して電気的に接続され、同軸ケーブルCVの芯線に接続される。
【0066】
シールド電極54は、ハウジング本体51に埋め込まれた下半壁部541、および蓋体52に埋め込まれた上半壁部542からなる。これら、下半壁部541および上半壁部542は、それぞれ、端縁部において曲げられて耳部が設けられ、蓋体52を閉じたときに互いに良好に接触するようになっている。下半壁部541に、同軸ケーブルCVの被覆線が接続されている。
【0067】
なお、シールド電極54は、軸方向の長さが、検出電極53よりも長く形成されている。これによって、シールド電極54が確実に検出電極53を覆うようになっている。
【0068】
電流検出用変圧器56は、一部のコア561およびコイル563がハウジング本体51に設けられ、他の一部のコア562が蓋体52に設けられている。コア562は断面がコ字形であり、その両端面が開口部51aの下端部の近辺まで延びている。蓋体52を閉じたときに、コア561の端面とコア562の端面とが接し、これによってコア561、562が全周にわたってつながり、電線WRを取り囲む。コイル563の両端は、他の同軸ケーブルCVの芯線と被覆線に接続されている。
【0069】
検出プローブ11Bに電線WRを装着するには、蓋体52を開いた状態で、両端の開口部51aの間にわたって電線WRを挿入する。可動底部532は電線WRで押され、コイルバネ55の付勢力に抗して下がる。蓋体52を閉じて固定する。電線WRの太さによって検出電極53との間に隙間ができるが、電線WRはその絶縁物の表面が検出電極53で覆われる。可動底部532が電線WRに押し付けられるので、電線WRの太さが変わっても隙間が最小限に抑えられる。したがって、種々の太さの電線WRに適用することができる。
【0070】
電線WRに流れる電流Iwは、電流検出用変圧器56によって検出され、同軸ケーブルCVによって計測部30,30Bに入力される。これによって、電線WRに流れる電流による電力を計測することができる。
【0071】
上に述べた検出プローブ11Bでは、シールド電極54は検出電極53を覆うように角筒状に形成されている。しかし、この場合に、シールド電極54は、検出電極53の端面側(電線WRの挿通する両端面)については覆っていない。
【0072】
そこで、シールド電極54によって検出電極53の全体を覆うために、電線WRの挿通する両端面にも、シールド電極54を設けてよい。
図10は検出プローブ11Cの他の例を示す断面正面図である。
【0073】
図10に示すように、検出プローブ11Cは、基本的には図8に示す検出プローブ11Bと同じであるが、シールド電極54Cの構造がそれとは異なる。
図10において、シールド電極54Cは、下半壁部541および上半壁部542の他に、ハウジング本体51に設けられた、左下側壁部543、右下側壁部544、可動左側壁部545、可動右側壁部546、左側壁部547、および右側壁部548、並びに、蓋体52に設けられた、左上側壁部549、右上側壁部550、左側上蓋部551、および右側上蓋部552からなる。
【0074】
左下側壁部543および右下側壁部544は、それぞれ、ハウジング本体51において下半壁部541の左端面または右端面を塞ぐように設けられ、下半壁部541に接続されている。左上側壁部549および右上側壁部550は、それぞれ、蓋体52において上半壁部542の左端面または右端面を塞ぐように設けられ、上半壁部542に接続されている。
【0075】
可動左側壁部545および可動右側壁部546は、可動底部532の延長上に同じ形状に形成され、可動底部532に対し絶縁物を介して一体的に設けられている。したがって、可動左側壁部545および可動右側壁部546は、可動底部532と一体に移動する。但し、ワイヤを介して左下側壁部543または右下側壁部544に接続されているので、電気的には左下側壁部543および右下側壁部544と同じ電位である。
【0076】
左側壁部547および右側壁部548は、側壁部531の延長上に同じ形状に形成され、側壁部531に対し絶縁物を介して一体的に設けられている。左側壁部547および右側壁部548は、左下側壁部543または右下側壁部544と接し、これらと同じ電位である。
【0077】
左側上蓋部551および右側上蓋部552は、上蓋部533の延長上に同じ形状に形成され、上蓋部533に対し絶縁物を介して一体的に設けられている。左側上蓋部551および右側上蓋部552は、左上側壁部549および右上側壁部550と接し、これらと同じ電位である。
【0078】
つまり、可動左側壁部545、左側壁部547、および左側上蓋部551、並びに、可動右側壁部546、右側壁部548、および右側上蓋部552によって、それぞれ、検出電極53と同じような形態で電線WRの一部を囲い、且つその電位はシールド電極54Cと同じ電位となる。
【0079】
このような構造のシールド電極54Cによって、検出電極53の周囲の全体が覆われる。これによって、検出電極53とシールド電極54Cとの間の静電容量つまり浮遊容量が、外界の影響を受けなくなって変化しなくなり、それだけ安定した計測を高精度で行うことができる。
【0080】
上の実施形態においては、シールドケーブルとして一重の同軸ケーブルCVを用いたが、二重の同軸ケーブルを用いてもよい。つまり、その場合には、芯線を検出電極53,111および非反転入力端子bに接続し、内側のシールドの被覆線をシールド電極54,54C,112および反転入力端子aなどに接続する。この点は今まで述べた実施形態と同じである。そして、さらに、外側のシールドの被覆線を、電圧計測装置1の接地端子に接続する。つまり、内側の被覆線を外側の被覆線でシールドし、それを接地するのである。このようにすると、同軸ケーブルCVを手で触れたり、同軸ケーブルCVの周囲の環境が変化した場合であっても、内側の被覆線には電気的な影響を及ぼさないので、安定性に優れる。但し、内側の被覆線と外側の被覆線との間の静電容量によって電流が流れるので、その電流を供給できる程度の駆動回路としておく必要がある。
〔第2の実施形態〕
次に、導体CDの静電容量C(またはリアクタンスXC)と漏れ抵抗Rxとを分離してそれぞれ計測する例について説明する。
【0081】
図11は第2の実施形態における計測部30Cの構成の例を示すブロック図、図12は各部の電圧および電流の位相関係を示す図である。
図11に示すように、計測部30Cは、インピーダンス計測部14C、流出電流計測部15、および導体電圧計測部16Cなどからなる。
【0082】
計測部30Cの図に示されていない部分については、第1の実施形態の計測部30、30Bと同様である。また、計測部30C以外の部分についても、第1の実施形態と同様である。さらに、図1に示す電流検出部13に代えて、従来の技術の項で説明した電流検出部13jを適用することもできる。
【0083】
インピーダンス計測部14Cは、バンドパスフィルタ21、積分器32、および範囲設定部33などからなる。
バンドパスフィルタ21は、上に述べたように、電流検出部13から出力される電圧Eoの中から、発振器12の信号Esによるもののみを通過させる。
【0084】
積分器32は、電圧Eo(つまり電圧Ers)を所定の範囲で積分することによって、静電容量Cによる成分と漏れ抵抗Rxによる成分とを分離する。
すなわち、図12に示すように、発振器12の電圧Esによって静電容量Cに流れる電流Is(C)は、電圧Esに対して位相がπ/2進む。漏れ抵抗Rxに流れる電流Is(Rx)は、電圧Esと位相が同じである。しかし、通常、漏れ抵抗Rxは極めて大きいため(例えば1011オーム程度)、電流Is(Rx)の大きさは電流Is(C)と比べて小さい。したがって、これらを合成した電流Is(C+Rx)は、電流Is(C)よりも少し位相が遅れる程度である。電流Is(C+Rx)は、上に述べた電流Isのことであり、
Is=Ers/R1
である。つまり、電流Isと電圧Ersとは同相である。
【0085】
そこで、電圧Ersを、電圧Esの位相0から位相πまで積分することにより、電流Is(C)による成分が零となり、電流Is(Rx)による成分のみが抽出される。また、電圧Esの位相−π/2から位相π/2まで積分することにより、電流Is(Rx)による成分が零となり、電流Is(C)による成分のみが抽出される。
【0086】
このように、範囲設定部33によって積分範囲を適当に設定し、積分器32によってそれぞれ積分を行うことにより、電流Is(Rx)による成分と電流Is(C)による成分とが分離される。インピーダンス計測部14Cからは、静電容量C(またはリアクタンスXC)と漏れ抵抗Rxとが出力される。
【0087】
流出電流計測部15は、電圧Exに起因する電流Ixを計測して出力する。
導体電圧計測部16Cは、インピーダンス計測部14Cおよび流出電流計測部15の出力に基づいて電圧Exを算出する。
【0088】
上に述べた計測部30Cの動作について、数式による説明を加える。
発振器12の出力する電圧Esに起因して流れる電流Isによる成分Ers、および導体CDの電圧Exに起因して流れる電流Ixによる成分Erxは、それぞれ次のように示される。
【0089】
電圧Ersについて、電圧Esの位相0から位相πまで積分すると、これにより得られる電圧Ers’は、漏れ抵抗Rxによる成分のみが残り、
Ers’=(1/21/2 )・R1・Es/Rx
となる。これから、
Rx=(1/21/2 )・R1・Es/Ers’ ……(33)
となる。
【0090】
また、電圧Ersについて、電圧Esの位相−π/2から位相π/2まで積分すると、これにより得られる電圧Ers”は、リアクタンスXCsによる成分のみが残り、
Ers”=(1/21/2 )・R1・Es/XCs
となる。これから、
XCs=(1/21/2 )・R1・Es/Ers” ……(34)
となる。
【0091】
このようにして漏れ抵抗RxおよびリアクタンスXCsが求まる。リアクタンスXCsが求まると、リアクタンスXCxは、XCx=(fs/fx)・XCsにより求まる。
【0092】
また、(32)式から、
Ex=(Erx/R1)/〔(1/Rx)+(1/XCx)〕 …(35)
となるので、上で求めた値をこの式に代入することにより、電圧Exが算出される。
【0093】
このように、電流Is(Rx)による成分と電流Is(C)による成分とを分離して電圧Exを算出することにより、精度が向上する。因みに、第1の実施形態ではリアクタンスXCsのみを計測したが、実際には、リアクタンスXCsと漏れ抵抗Rxとの合成インピーダンスをリアクタンスXCsであると見なして計測していることになる。したがって、計測したリアクタンスXCsをリアクタンスXCxに変換する際に、漏れ抵抗Rxについても周波数の比に応じて変換してしまい、これが誤差の要因となる。第2の実施形態においては、リアクタンスXCsと漏れ抵抗Rxとが分離して計測されるため、リアクタンスXCxおよび漏れ抵抗Rxが正しく求まり、電圧Exを正確に算出することができる。
【0094】
第2の実施形態において、リアクタンスXCsと漏れ抵抗Rxとの分離のために積分器32を用いたが、積分に代えて、平均をとってもよい。その場合には、係数の(1/21/2 )は、(2/π)となる。なお、これらの係数は、一例であり、実際の回路または処理内容に応じて適当な値としてよい。積分または平均化を行ってリアクタンスと純抵抗とを分離すること自体は公知である。他の方法によって分離してもよい。例えば、周波数の異なる2つの信号を用い、周波数の相違によるリアクタンスの相違によって、周波数に影響されない純抵抗とを分離することができる。
【0095】
上述の実施形態において、計測部30,30B、30Cなどは、ハードウエア回路によって、マイクロプロセッサを用いたソフトウエアによって、またはそれらの組み合わせによって実現することができる。上に述べた演算は、アナログ的またはデジタル的に、またはそれらの組み合わせにより行うことができる。
【0096】
その他、検出プローブ11,11B,11Cの構造、形状、または材料、電流検出部13、計測部30,30B、30Cおよび補正回路40,40Bの回路構成、電圧計測装置1の全体又は各部の構成、定数、演算の順序、内容、タイミングなどは、本発明の主旨に沿って適宜変更することができる。
【0097】
【発明の効果】
本発明によると、浮遊容量の影響をなくし、浮遊容量の計測を行うことなく簡単な操作によって非接触で電圧を計測することができる。
【0098】
また、絶縁物の漏れ抵抗による誤差を低減し、高精度に電圧を計測することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る電圧計測装置の構成を示すブロック図である。
【図2】計測部の構成の例を示すブロック図である。
【図3】計測部の他の例の構成の例を示すブロック図である。
【図4】電圧計測装置の要部の等価回路である。
【図5】補正回路の例を示す図である。
【図6】補正回路の例を示す図である。
【図7】保護回路の例を示す図である。
【図8】検出プローブの例を示す断面正面図である。
【図9】検出プローブの断面側面図である。
【図10】検出プローブの他の例を示す断面正面図である。
【図11】第2の実施形態における計測部の構成の例を示すブロック図である。
【図12】各部の電圧および電流の位相関係を示す図である。
【図13】従来の非接触の電圧計測装置の構成を示すブロック図である。
【図14】従来の電圧計測装置の要部の等価回路である。
【符号の説明】
1 電圧計測装置
11,11B,11C 検出プローブ
12 発振器
13 電流検出部
14、14C インピーダンス計測部
15 流出電流計測部
16C 導体電圧計測部(導体電圧計手段)
30,30B、30C 計測部
32 積分器
33 範囲設定部
40,40B 補正回路
51 ハウジング本体
52 蓋体
53 検出電極
54,54C シールド電極
56 電流検出用変圧器
111 検出電極
112 シールド電極
531 側壁部(検出電極)
532 可動底部(検出電極、可動部分)
533 上蓋部(検出電極)
541 下半壁部(シールド電極)
542 上半壁部(シールド電極)
R1 検出用抵抗器
CV 同軸ケーブル(シールドケーブル)
CD 導体
Q1 演算増幅器(反転増幅器)
Q2 演算増幅器
a 反転入力端子
b 非反転入力端子
Claims (11)
- 導体を被覆する絶縁物の一部の表面を覆うことが可能な検出電極及び前記検出電極を覆うシールド電極を備えた検出プローブと、所定の周波数の信号を出力する発振器とを用い、前記導体に印加される交流の電圧を前記導体とは非接触で計測する方法であって、
シールドケーブルの芯線および被覆線の各一端を前記検出電極と前記シールド電極とに接続し、各他端をイマジナリショートの状態とすることによって浮遊容量の影響を実質的に零としておき、
前記発振器の信号を前記シールドケーブルを介して前記検出電極に加えることによって前記検出電極と前記導体との間のインピーダンスを計測し、前記導体に印加される電圧に起因して前記検出電極から流出する電流を計測し、計測されたインピーダンスおよび電流に基づいて前記導体に印加された電圧を求め、
前記インピーダンスの計測に際し、容量によるリアクタンスと前記容量と並列接続状態で存在する漏れ抵抗とを分離して計測し、
前記リアクタンスおよび前記漏れ抵抗を用いて前記導体に印加された電圧を求める、
ことを特徴とする非接触電圧計測方法。 - 絶縁物によって被覆された導体に印加される交流の電圧を前記導体とは非接触で計測する方法であって、
前記絶縁物の一部の表面を覆うことが可能な検出電極及び前記検出電極を覆うシールド電極を備えた検出プローブと、
前記検出電極と前記シールド電極とに芯線および被覆線の一端が接続されたシールドケーブルと、
所定の周波数の信号を出力する発振器と、を用い、
前記シールドケーブルの他端において、その芯線と被覆線とを演算増幅器の反転入力端子と非反転入力端子に接続することによってイマジナリショートの状態としておき、
前記発振器の信号を前記シールドケーブルを介して前記検出電極に加え、前記検出電極と前記導体との間のインピーダンスを計測することによって前記導体に印加された電圧を求め、
前記インピーダンスの計測に際し、容量によるリアクタンスと前記容量と並列接続状態で存在する漏れ抵抗とを分離して計測し、
前記リアクタンスおよび前記漏れ抵抗を用いて前記導体に印加された電圧を求める、
ことを特徴とする非接触電圧計測方法。 - 絶縁物によって被覆された導体に印加される交流の電圧を前記導体とは非接触で計測する装置であって、
前記絶縁物の一部の表面を覆って前記導体の一部を外界から静電遮蔽することが可能な検出電極及び前記検出電極を外界から静電遮蔽するためのシールド電極を備えた検出プローブと、
前記検出電極と前記シールド電極とに芯線および被覆線の一端が接続されたシールドケーブルと、
前記シールドケーブルの他端において、その芯線と被覆線とを反転入力端子と非反転入力端子とに接続してイマジナリショートの状態とする演算増幅器と、
所定の周波数の信号を出力する発振器と、
前記発振器の信号を前記シールドケーブルを介して前記検出電極に加えることによって前記検出電極と前記導体との間のインピーダンスを計測するものであって、前記インピーダンスの計測に際し、容量によるリアクタンスと前記容量と並列接続状態で存在する漏れ抵抗とを分離して計測するインピーダンス計測手段と、
前記リアクタンスおよび前記漏れ抵抗を用いて前記導体に印加された電圧を求める計測部と、
を有してなることを特徴とする非接触電圧計測装置。 - 絶縁物によって被覆された導体に印加される交流の電圧を前記導体とは非接触で計測する装置であって、
前記絶縁物の一部の表面を覆って前記導体の一部を外界から静電遮蔽することが可能な検出電極及び前記検出電極を外界から静電遮蔽するためのシールド電極を備えた検出プローブと、
前記検出電極と前記シールド電極とに芯線および被覆線の一端が接続されたシールドケーブルと、
前記シールドケーブルの他端において、その芯線と被覆線とを反転入力端子と非反転入力端子とに接続してイマジナリショートの状態とする演算増幅器と、
所定の周波数の信号を前記シールドケーブルを介して前記検出電極に加える発振器と、
前記発振器の信号に起因して前記検出電極から流出する電流を検出し且つ前記導体に印加される電圧に起因して前記検出電極から流出する電流を検出するための検出用抵抗器と、
前記発振器の信号に起因して前記検出用抵抗器の両端に生じる電圧に基づいて、前記検出電極と前記導体との間のインピーダンスを、容量によるリアクタンスと前記容量と並列接続状態で存在する漏れ抵抗とを分離して計測し、計測された前記リアクタンスおよび前記漏れ抵抗を用いて前記導体に印加された電圧を求める計測部と、
を有してなることを特徴とする非接触電圧計測装置。 - 前記演算増幅器の誤差を補正して前記イマジナリショートの状態を完全なものに近づけるための補正回路を有してなる、
請求項3記載の非接触電圧計測装置。 - 入力端子に前記発振器の信号が入力され、出力端子に前記検出用抵抗器の一端が接続され、前記演算増幅器の反転入力端子と非反転入力端子を経由して帰還回路が構成された反転増幅器を有する、
請求項4記載の非接触電圧計測装置。 - 前記シールドケーブルは、前記被覆線の外側を覆う第2の被覆線を有し、
前記第2の被覆線が接地電位となるように接続されている、
請求項4記載の非接触電圧計測装置。 - 前記検出プローブは、
ハウジング本体と、前記ハウジング本体に対して開閉可能な蓋体とを有し、
前記検出電極は、
前記蓋体の開閉にともなって開閉可能なように前記ハウジング本体と前記蓋体とにわたって設けられ、且つ、前記絶縁物に向かって付勢されて押しつけられる可動部分を有し、
前記シールド電極は、
前記蓋体の開閉にともなって開閉可能なように前記ハウジング本体と前記蓋体とにわたって設けられている、
請求項4記載の非接触電圧計測装置。 - 前記蓋体の開閉にともなって開閉可能なように前記ハウジング本体と前記蓋体とにわたって設けられた電流検出用変圧器を有する、
請求項8記載の非接触電圧計測装置。 - 導体を被覆する絶縁物の一部の表面を覆うことが可能な検出電極及び前記検出電極を覆うシールド電極を備えた検出プローブと、所定の周波数の信号を出力する発振器とを用い、前記導体に印加される交流の電圧を前記導体とは非接触で計測する方法であって、
前記発振器の信号を前記検出電極に加えることによって、前記検出電極と前記導体との間の容量またはリアクタンス、および、前記容量と並列接続状態で存在する漏れ抵抗を計測し、
前記導体に印加された電圧に起因して前記検出電極から流出する電流を計測し、
前記電流と前記容量またはリアクタンス、および、前記漏れ抵抗とから、前記導体に印加された電圧を計測する、
ことを特徴とする非接触電圧計測方法。 - 絶縁物によって被覆された導体に印加される交流の電圧を前記導体とは非接触で計測する装置であって、
前記絶縁物の一部の表面を覆って前記導体の一部を外界から静電遮蔽することが可能な検出電極及び前記検出電極を外界から静電遮蔽するためのシールド電極を備えた検出プローブと、
所定の周波数の信号を出力する発振器と、
前記発振器の信号を検出用抵抗器を介して前記検出電極に加えることによって、前記検出電極と前記導体との間の容量またはリアクタンス、および、前記容量と並列接続状態で存在する漏れ抵抗を計測するインピーダンス計測手段と、
前記導体に印加された電圧に起因して前記検出電極から流出する電流を計測する流出電流計測手段と、
前記電流と前記容量またはリアクタンス、および、前記漏れ抵抗とから、前記導体に印加された電圧を計測する導体電圧計測手段と、
を有してなることを特徴とする非接触電圧計測装置。
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