JP3601525B2 - 零熱膨張材料及びそれを用いた応用部品 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、高周波応用製品などの電子材料、精密機械部品、構造材料等に用いられる、零熱膨張材料及びそれを用いた応用部品に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
従来、電子材料や構造材料は、酸化物や樹脂、あるいは、ガラスや金属を用いて作製されてきた。たとえば高周波回路用基板は、誘電体あるいは樹脂を板化したものを用いていた。このような従来の電子材料や構造材料では、通常、正の熱膨張係数を有している。このためこれらの材料は、周囲温度の上昇や下降に対応して、膨張や収縮を生じるという特性を有している。
【0003】
一方で、近年、いくつかの結晶系において熱膨張係数が負である材料が報告されている。例えば、K.Korthuis等のChemi.Mater.7(1995)412では、ZrV2O7が報告されている。また、J.S.O.Evans等のChemi.Mater.8(1996)2809では、ZrW2O8およびHfW2O8が報告されている。同じくJ.S.O.Evans等のPhysica B 241−243(1998)311−316では、A2(MO4)3の一般形を持つ物質(AはAl,Y,あるいはランタン系の元素)でAがScである物質が報告されている。また、D.A.Woodcock等のJournal of Solid State Chemistry 149(2000)92−98では、A2(MO4)3の一般形を持つ物質(AはAl,Y,あるいはランタン系の元素)でAがYまたはAlである物質が報告されている。
【0004】
このうちEvans等は、負の熱膨張係数をもつ物質では、M−O−M(Mは金属元素)結合において、温度上昇とともに回転運動が大きくなることにより、全体の結合距離が収縮するという、負の熱膨張理論を主張している。
【0005】
これらの報告がなされるとともに、正の熱膨張係数の材料と上記のような負の熱膨張係数の材料との混合物により、熱膨張係数の絶対値の低い材料(低熱膨張材料)を実現させることも検討されてきた。例えば、Sleight等のUSP5322559、USP5433778には、上記負の熱膨張材料とエポキシ樹脂との複合材料による低熱膨張材料が示されている。
【0006】
しかしながら、このような材料作製方法を、例えば高周波部品等によく用いられるセラミック材料に適用し、負の熱膨張材料とセラミック材料とを同時焼成することで新たな低熱膨張材料を作製するという報告はなされていない。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】
このように、従来の電子材料・部品や構造材料では、熱膨張係数が正であることにより、周囲の温度の変化に応じて膨張、収縮が生じてしまい、近年の高周波部品等に用いる電子材料や精密機械部品等においては、わずかな寸法の誤差でも大きな性能低下を生じてしまうため、このような材料では、高い加工精度が得られないだけでなく、電気電子特性の劣化も生じやすいという課題があった。
【0008】
すなわち、このような電子材料・部品や精密機械部品、構造材料においては、より高い加工精度が要求されるだけでなく、作製段階において、使用環境に応じた熱膨張係数の制御を行う必要がある。
【0009】
また、高温状態において膨張、収縮の無い材料が要求されている場合、Sleightらによる、エポキシ樹脂と負の熱膨張材料との複合材料では、実質的にこのような材料を実現することができないという課題があった。
【0010】
すなわち、ミクロン単位等の加工精度を要求される精密機械分野においては、高温状態での使用に対して上記の複合材料では対応できないため、広い温度範囲においても膨張、収縮がほとんど無い材料を用いた構造材料や精密機械部品が要求されている。
【0011】
本発明は、広い温度範囲においても熱膨張係数がほとんど零である材料(零熱膨張材料)を提供するとともに、この材料を用いた特性の良い各種材料及び部品を提供することを目的とする。
【0013】
【課題を解決するための手段】
本発明は、結晶構造が、化学式(RM)(QO4)3(ただし、RはZr,Hfまたはこれらの混合系で示される4価の金属元素、MはMg,Ca,Sr,Ba,Raまたはこれらの混合系で示される2価の金属元素、QはW から選択される6価の金属元素、で定義される物質)で示される複合酸化物を含むことを特徴とする零熱膨張材料である。
このような零熱膨張材料は、化学式RQ 2 O 8 (ただし、RはZr,Hfまたはこれらの混合系で示される4価の金属元素、QはWから選択される6価の金属元素)で示される化合物を含む複合酸化物である負の熱膨張材料と、化学式MQX 4 が(ただし、MはMg,Ca,Sr,Ba,Raまたはこれらの混合系で示される2価の金属元素、QはWから選択される6価の金属元素、XはOから選択される元素)である正の熱膨張材料とを混合した後に焼成することにより得られる。
【0014】
これら本発明により、熱膨張係数がほぼ零に近い零熱膨張材料を作製することが可能となり、セラミック材料を正の熱膨張材料として用いたことで1000℃以上の高温まで熱膨張係数がほとんど変化せず、これにより加工精度も高い耐熱材料である零熱膨張材料を供給することが可能となる。
【0015】
また、本発明は、これらのいずれかの零熱膨張材料を用いたことを特徴とする応用部品、すなわち高周波回路基板や高周波回路部品、精密機械部品、構造材料等である。
【0016】
これにより、例えば部品の長さが波長程度であるミリ波領域の高周波用途等においては、高い加工精度で且つ熱膨張係数がほとんど零である電子材料や、温度による特性変動の少ない高性能な電子部品を現実に供給することが可能となり、また、ミクロン単位等の加工精度を要求される精密機械分野においても、広い温度範囲で熱膨張・収縮がほとんど無い優れた構造材料や精密機械部品を供給することが可能となる。
【0024】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態について、図1から図3を用いて説明する。
【0025】
(実施の形態1)
本発明の実施の形態において、結晶構造が化学式(RM)(QO4)3(ただし、RはZr,Hfまたはこれらの混合系で示される4価の金属元素、MはMg,Ca,Sr,Ba,Raまたはこれらの混合系で示される2価の金属元素、QはWから選択される6価の金属元素、で定義される物質)である複合酸化物を含む材料を用いて零熱膨張材料を作製する場合を示す。用いる材料は、材料Α(AはRQ2O8の結晶系をもつ材料で熱膨張係数が負(熱膨張係数−α(α>0)、密度a))と、材料Β(ΒはMQO4の結晶系をもつ材料で熱膨張係数が正(熱膨張係数β、密度b))であり、主な材料の熱膨張係数を次の(表1)に示す。
【0026】
【表1】
【0027】
材料Αと材料Βを、体積比A:Bがβ:αになるように混合焼成すれば、結晶構造が(RM)(QO4)3である複合酸化物を含む材料を作製することができ、熱膨張係数がほぼ零となる。
【0028】
材料の熱膨張係数と密度が明らかな場合は、材料Αと材料Βの重量x、yを重量比率でx:y=aβ:bα(式1)となるように秤量して混合焼成すれば、結晶構造が(RM)(QO4)3である複合酸化物を含む材料が生成され、熱膨張係数がほぼ零になる。
【0029】
ここで、本発明の結晶構造(R2+M4+)(QO4)3の複合酸化物は、Evansの報告にあるA3+ 2(QO4)3の負の熱膨張材料と同様の構造をもち、X線回折の測定から(A3+ 2)のサイトを(R2+M4+)で置換した結晶構造をもつ複合酸化物と考えられる。すなわち、(A3+ 2)を(R2+M4+)で置換されていることが、低い熱膨張材料の実現に欠かせないと考えられる。なお、これらの材料は、(RO2)(MO)(QO3)3と表示される場合もある。
【0030】
なお、混合比は、正の材料と負の材料の特性値(熱膨張係数、密度など)が原料の混合粉砕などの前処理、あるいは仮焼温度、本焼成温度、圧力、雰囲気などの燒結条件により変動することもあるので、混合させる直前の材料の特性値を用いておこなう配慮が必要である。
【0031】
次に、具体的な例として、複合酸化物(RM)(QO4)3の一つである(HfMg)(WO4)3を含む零熱膨張材料について、詳しく説明する。この零熱膨張材料は、材料A及び材料Bとして、それぞれHfW2O8とMgWO4とを用いて作製することができる。
【0032】
HfW2O8は、出発原料として、HfO2(関東科学、純度99.5%)とWO3(高純度化学、純度4N)を使用し、HfO2とWO3をモル比1:2になるように、秤量、ボールミルによる混合粉砕を行った。こうして得られた原料紛を1150℃で仮焼し、HfW2O8を作製した。
【0033】
同様にMgWO4についても、MgOとWO3を1:1で秤量し、ボールミルによる混合粉砕を行い、この後、原料紛を1000℃で仮焼し、MgWO4を作製した。
【0034】
それぞれの仮焼成粉は、X線回折測定により、十分に反応が進んでいることを確認した。
【0035】
次に、HfW2O8の熱膨張係数は−8ppm/℃、理論密度は5.884g/cm3、MgWO4の熱膨張係数は+8ppm/℃、理論密度は5.77g/cm3であり、熱膨張係数の大きさ、密度はほぼ等しいので、HfW2O8とMgWO4の仮焼成粉を重量比が1:1になるように秤量し、ボールミルで十分に混合粉砕した後、ペレット状に成形した。この混合粉を1150℃で本焼成し、得られた成型体の熱膨張係数を測定した。その結果を図1に示す。図1に示すように、熱膨張係数は、室温から1000℃までのどの温度領域でも±1×10−6/℃以下の零熱膨張材料を得ることができた。
【0036】
また、HfW2O8とMgWO4を3:1で混合すると熱膨張係数−4ppm/℃の材料が合成され、また、HfW2O8とMgWO4を1:3で混合すると熱膨張係数+4ppm/℃の材料を合成できた。この結果も、図1に示す。
【0037】
図1に示した低熱膨張係数を示す材料のX線回折パターンの測定結果を、図2及び図3に示す。
【0038】
図2は、HfW2O8とMgWO4、及びこれらを1:1で混合した材料の3つのX線回折パターンを示し、1:1で混合した材料は、HfW2O8とMgWO4以外に(HfMg)(WO4)3が合成できていることがわかる。
【0039】
図3は、HfW2O8とMgWO4を1:1で混合した材料、1:3で混合した材料、及び3:1で混合した材料の3つのX線回折パターンを示し、1:1で混合した材料と同様に、1:3、3:1でそれぞれ混合した材料にも(HfMg)(WO4)3が合成されていることがわかる。
【0040】
したがって、図2及び図3から、(HfMg)(WO4)3のような結晶構造を持つ材料、すなわち(RM)(QO4)3で示される複合酸化物を含むことが、零熱膨張材料の合成および熱膨張係数の制御に欠かせないことは明らかである。
【0041】
異なる例として、ZrW2O8または、HfW2O8とZrW2O8との混合物を用い、これにMgWO4を用いて零熱膨張材料を作製した場合にも、同様に室温から1000℃まで温度領域で±2×10−6/℃以下の零熱膨張材料を得ることが可能であった。
【0042】
この場合の材料においては、(ZrMg)(WO4)3または(ZrxHf1−xMg)(WO4)3の材料の合成が確認できており、(RM)(QO4)3で示される複合酸化物を含むことが本発明の低熱膨張材料に欠かせないことが、この例においても明らかである。
【0043】
(実施の形態2)
図4は、本実施の形態による、零熱膨張材料を用いたバンドパスフィルターの一例を示す斜視図である。
【0044】
まず始めに、(実施の形態1)で使用したHfW2O8とMgWO4の重量比1:1の仮焼成粉を用いて、バインダー樹脂とともにボールミルにより混合し、ドクターブレード法によりグリーンシートを作製した。そして、得られたグリーンシートを所望の大きさにカットし、焼成後の板厚が1mmになるよう20枚重ねた上で加圧成型し、これを1150℃で焼成して、高周波回路基板用の焼成体を得た。この板の熱膨張係数を測定したところ、+0.8ppm/℃であった。また、このとき作製した板に(HfMg)(WO4)3の材料が含まれることはいうまでもない。
【0045】
次に、図4に示すように、この焼成体を高周波回路基板の誘電体基板1とし、その上に金属導体2を用いてストリップ線路を形成することにより、60GHzのバンドパスフィルターを作製した。
【0046】
室温から100℃までのフィルター特性を測定したところ、基板の熱膨張係数が小さいため、周波数特性の安定したフィルターを得ることできた。
【0047】
以上のように、熱膨張係数が小さい零熱膨張材料を用いた高周波回路用基板、あるいは高周波回路用部品を作製することで、良好な特性の基板や部品を得ることができる。
【0048】
なお、このようにHfW2O8とMgWO4を用いた場合には、これらの重量比を変えて(HfMg)(WO4)3の含有量を制御することで、室温から1000℃までの広い温度領域で、−8ppm/℃から+8ppm/℃の間で任意に熱膨張係数を制御することも容易であり、また、異なる材料を用いれば、熱膨張係数の制御範囲を所望の範囲に変えることが可能である。
【0049】
このため、精密機械部品や、構造材料のように、周辺の部材との関係でミクロン単位の精度を要求される場合には、熱膨張係数が零の場合はもちろん、熱膨張係数を制御したい場合にも、本発明は有効である。
【0050】
【発明の効果】
以上のように本発明によれば、熱膨張係数がほぼ零に近い優れた零熱膨張材料を提供でき、更に、この材料を用いることで、高精度、高性能な高周波回路基板や高周波回路部品、精密機械部品、構造材料等の応用部品を提供することができるという有利な効果が得られる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施の形態による、各材料の熱膨張係数を示す特性図
【図2】本発明の一実施の形態による、各材料のX線回折パターンを示す特性図
【図3】本発明の一実施の形態による、各材料のX線回折パターンを示す特性図
【図4】本発明の一実施の形態によるバンドパスフィルターを示す斜視図
【符号の説明】
1 誘電体基板
2 金属導体
Claims (11)
- 結晶構造が、化学式(RM)(QO4)3(ただし、RはZr,Hfまたはこれらの混合系で示される4価の金属元素、MはMg,Ca,Sr,Ba,Raまたはこれらの混合系で示される2価の金属元素、QはWから選択される6価の金属元素、で定義される物質)で示される複合酸化物を含むことを特徴とする零熱膨張材料。
- RはZr,Hfまたはこれらを含む4価の金属元素、MはMgから選択される6価の金属元素、であることを特徴とする請求項1記載の零熱膨張材料。
- RはHf、MはMg、QはW、であることを特徴とする請求項1記載の零熱膨張材料。
- 請求項1から3のいずれか記載の零熱膨張材料を用いたことを特徴とする高周波回路基板。
- 請求項1から3のいずれか記載の零熱膨張材料を用いたことを特徴とする高周波回路部品。
- 請求項1から3のいずれか記載の零熱膨張材料を用いたことを特徴とする精密機械部品。
- 請求項1から3のいずれか記載の零熱膨張材料を用いたことを特徴とする構造材料。
- 負の熱膨張材料と正の熱膨張材料とを混合した後に焼成してなり、結晶構造が化学式(RM)(QO 4 ) 3 (ただし、RはZr,Hfまたはこれらの混合系で示される4価の金属元素、MはMg,Ca,Sr,Ba,Raまたはこれらの混合系で示される2価の金属元素、QはWから選択される6価の金属元素、で定義される物質)で示される複合酸化物を含む零熱膨張材料の製造方法であって、
前記負の熱膨張材料は、化学式RQ2O8(ただし、RはZr,Hfまたはこれらの混合系で示される4価の金属元素、QはWから選択される6価の金属元素)で示される化合物を含む複合酸化物であり、
前記正の熱膨張材料は、化学式MQX4(ただし、MはMg,Ca,Sr,Ba,Raまたはこれらの混合系で示される2価の金属元素、QはWから選択される6価の金属元素、XはOから選択される元素)である、
零熱膨張材料の製造方法。 - RはZr,Hfまたはこれらを含む4価の金属元素、MはMgから選択される6価の金属元素、であることを特徴とする請求項8記載の零熱膨張材料の製造方法。
- RはHf、MはMg、QはW、であることを特徴とする請求項8記載の零熱膨張材料の製造方法。
- 前記負の熱膨張材料と前記正の熱膨張材料との混合比が約1:1である、請求項8記載の零熱膨張材料の製造方法。
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