JP3644903B2 - ディスクの欠陥管理領域情報の検出方法及びこれを行うためのテスト装置 - Google Patents

Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は記録及び再生が可能なディスクを記録及び再生できる装置に係り、特に、ディスクを記録及び再生できる装置がディスクの欠陥管理領域（Defect Management Area、以下「ＤＭＡ」と略称する）情報を正常に生成または更新するのかを検証する方法及びこれを行うためのテスト装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
前述の記録及び再生が可能なディスクはレーザなどのように光の性質を利用して情報を記録し再生する光ディスクであって、ＤＶＤ−ＲＡＭ（Digital Versatile Disk Random Access Memory、以下「ＤＶＤ−ＲＡＭ」と略称）を例としてあげられる。このＤＶＤ−ＲＡＭは再度記録が可能なディスクである。「DVD Specifications for Rewritable Disc Part1 Physical Specifications version 2.0」規格書によれば、前記ＤＶＤ−ＲＡＭはディスク上の欠陥を管理するためにディスクの１面あたり４つのＤＭＡ（ＤＭＡ１、ＤＭＡ２、ＤＭＡ３、ＤＭＡ４）が存在するようになる。
【０００３】
この４つのＤＭＡのうちでＤＭＡ１とＤＭＡ２は図１に示したようにディスクの内部直径に隣接したリードイン領域に位置し、ＤＭＡ３とＤＭＡ４はディスクの外部直径に隣接したリードアウト領域に位置する。そして、各ＤＭＡには予備セクタが後続する。
【０００４】
このようなＤＭＡにはそれぞれＤＤＳ（Disk Definition Structure、以下「ＤＤＳ」と略称）と１次欠陥リスト（Primary Defect List、以下「ＰＤＬ」と略称）及び２次欠陥リスト（Secondary Defect List、以下「ＳＤＬ」と略称）が格納される。前記ＤＤＳにはディスク検定フラグ、ＤＤＳ／ＰＬＤアップデートカウンタ及び各領域別の開始論理セクタ番号などのディスクのフォーマット構造に関する情報が含まれ、ＰＤＬにはディスク初期化時に発見されたディスク上の全ての欠陥セクタに関する情報が含まれ、ＳＤＬにはディスク使用中に発生した欠陥ブロックの最初のセクタのセクタ番号と欠陥ブロックと置換される余裕ブロックの最初のセクタのセクタ番号に関する情報と余裕空間に関する情報が含まれる。
【０００５】
このようにＤＭＡに格納されている情報は直ちに読込んで使用できるものもあるが、ディスク上に存在する欠陥の位置及び数により変更される情報も含まれていて、ＤＭＡに登録されている欠陥情報を根拠とした演算を通じて得られる情報も含まれている。欠陥情報を根拠とした演算を通じて得られる情報としては、各領域の開始セクタ番号または論理セクタ番号０の位置情報などである。
【０００６】
このようなＤＭＡがディスクの１面あたり４つ存在することは、ＤＭＡ情報のエラーにより誤った欠陥管理がなされることを防止するためである。そして、ＤＭＡ情報はデータの物理的なセクタと密接な関係を持つので、移動可能な光ディスクのような記録媒体はＤＭＡの情報が誤って記録または判読される場合に、ディスク記録及び再生装置間の互換性問題が生じるようになる。
【０００７】
これはディスク記録及び再生装置（例えば、ＤＶＤ−ＲＡＭ記録再生装置）の記録及び再生階層をファイルシステム階層、ホストコンピューターと記録再生が可能なディスク記録及び再生装置をつなげるホストインタフェース階層、物理的な信号を記録再生する物理的なディスク記録及び再生装置（またはディスク駆動装置）階層及び記録媒体階層などと区分する時、物理的なディスク記録及び再生装置階層以下でＤＭＡ情報に関する記録及び判読がなされるためである。
【０００８】
すなわち、実際のファイルシステムでは論理的なセクタ番号だけを使用して記録または再生を所望する使用者の情報をディスク記録及び再生装置に受け渡し、ディスク記録及び再生装置は論理セクタ番号を物理的なセクタ番号に変えて使用者の情報に関する記録または再生処理を行うようになるのだが、この時ＤＭＡ情報を使用するようになる。従って一つのディスク記録及び再生装置でＤＭＡ情報を誤って判読したり間違って記録した場合に、他のディスク記録及び再生装置でデータを正しく読んだり使えない問題が起きるようになる。
【０００９】
従って、ディスク記録及び再生装置でディスクに記録されているＤＭＡ情報を正確に判読してディスク上にＤＭＡ情報を正確に記録して生成または更新するのかを確認できる方法が要求されていた。
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】
本発明は前記の要求により案出されたものであって、ディスク記録及び再生装置を通じて検定しつつ再初期化時に、ＤＭＡ情報を正常に生成または更新するのかを検証するための方法を提供するところにその目的がある。
【００１１】
本発明の他の目的はディスク記録及び再生装置を通じて検定しつつ再初期化時に、物理的な欠陥が存在するディスクとＰＤＬに全ての種類の欠陥情報が存在するように構成したテスト基準のＤＭＡミラーファイルを利用して生成したディスクのＤＭＡ情報を正常に生成または更新するのかを検証するための方法を提供するところにある。
【００１２】
本発明のさらに他の目的はディスク記録及び再生装置を通じて検定しつつ、再初期化時に、ＤＭＡ情報を正常に生成または更新するかを確認するためのテスト装置を提供するところにある。
本発明の追加的目的及びメリットは、次の詳細な説明で説明され詳細な説明から明らかにされ、本発明の実施により理解されるであろう。
【００１３】
【課題を解決するための手段】
本発明がなそうとする目的を達成するために、本発明による方法は、ＤＭＡ情報を有するディスクを記録及び再生できる記録及び再生装置のＤＭＡ情報生成または更新機能を検証する方法において、テスト基準情報と物理的な欠陥を有するテスト用ディスクを使用して記録及び再生装置の検証をしつつ再初期化モードを行った後、生成された欠陥管理情報からテスト情報を生成し、テスト基準情報と物理的な欠陥により予測された基準情報とテスト情報とを比較してテスト情報に関する検証結果と提供を含むことが望ましい。
【００１４】
本発明がなそうとする目的を達成するために、本発明による装置は、ＤＭＡ情報を有するディスクを記録及び再生できる記録及び再生装置のＤＭＡ情報の生成または更新機能をテストする装置において、テスト基準情報と物理的な欠陥とを有するテスト用ディスクと、テスト用ディスクを利用して記録及び再生装置にて検定しつつ再初期化モードを行った後、テスト用ディスクのＤＭＡからテスト情報を生成する基準ディスク駆動装置と、テスト基準情報と物理的な欠陥情報とを基として予測された基準情報とテスト情報とを比較してテスト情報を検証する検証器を含むことが望ましい。
【００１５】
【発明の実施の形態】
以下、添付した図面を参照して本発明の望ましい実施形態を詳細に説明する。同一の構成要素は同一の番号を引用する。
図２は本発明によるディスク記録及び再生装置についてのテスト装置に関する機能ブロック図であり、Ｃ−１ディスク２０１、ＤＭＡミラーファイルの提供部２０３、基準ディスク駆動装置２０５、Ｃ−２ディスク２０７、テスト対象ディスク駆動装置２０９、Ｃ−２'ディスク２１１、Ｃ−２'ディスクのＤＭＡミラーファイル２１３及び検証器２１５により構成される。
【００１６】
Ｃ−１ディスク２０１はＤＶＤ−ＲＡＭのように再度記録が可能なディスクに情報を記録及び再生できるディスク駆動装置をテストするために、人為的に物理的な欠陥が存在するように製作されたテスト用ディスクである。従って、Ｃ−１ディスク２０１に存在する物理的な欠陥は所望するディスク駆動装置をテストする時、前もって知られている情報として利用される。さらに、Ｃ−１ディスク２０１は再度記録が可能なディスクに関する「DVD Specifications for Rewritable Disk version 2.0」の規格書に規定されている４．７ギガバイトの容量を持つ相変化記録方式のＤＶＤ−ＲＡＭ条件を満足できるように構成されたディスクである。
【００１７】
ＤＭＡミラーファイル提供部２０３は図１に示したようにＤＤＳ、ＰＤＬ及びＳＤＬの情報を含み、追加余裕空間がぎっしり詰まった状態ではない条件を満足するテスト基準情報であるＤＭＡミラーファイルを提供する。
【００１８】
特に、ＤＭＡミラーファイル提供部２０３はＰＤＬに全ての種類の欠陥が存在するように構成されたテスト基準ＤＭＡミラーファイルを提供する。すなわち、テスト基準ＤＭＡミラーファイルはＰＤＬにディスク製造者により限定された欠陥セクタに関する情報により構成されたＰ−ｌｉｓｔ、ディスクの検証処理期間中に発見された欠陥セクタに関する情報により構成されたＧ１−ｌｉｓｔ及び検証なくしてＳＤＬから移動された欠陥セクタに関する情報により構成されたＧ２−ｌｉｓｔを全て含む。
【００１９】
さらに、テスト効果を上げるために、テスト対象ディスク駆動装置２０９にて再初期化を行う時、エラーを最も発生させやすい条件を満足できるように特別な位置の欠陥情報を含んだテスト基準ＤＭＡミラーファイルを提供する。すなわち、図３に示したように最初の論理的なセクタが位置しなければならない物理的なセクタの周辺に集中的にエラーセクタが配置されるように構成された欠陥情報を含んだテスト基準ＤＭＡミラーファイルを提供するようにして、前記「DVD Specifications for Rewritable Disk version 2.0」の規格書に提示している全ての場合のアルゴリズムを満足させる。
【００２０】
かつ各領域の最初のセクタと最後のセクタとをエラーと処理して、各領域の使用可能な全てのセクタ数が１６倍数にならないように、欠陥セクタを設定したテスト基準ＤＭＡミラーファイルを提供する。前記ミラーファイルは実際のファイルと同じ内容を持っているが、物理的に実際のファイルが位置できる箇所と他の位置に存在する形をとったファイルである。
【００２１】
基準ディスク駆動装置２０５はディスクに情報を記録及び再生できる装置をテストするために変形されたテスト用ディスク駆動装置である。この基準ディスク駆動装置２０５はＣ−１ディスク２０１が設置され、ＤＭＡミラーファイル提供部２０３からテスト基準ＤＭＡミラーファイルが提供されれば、提供されたテスト基準ＤＭＡミラーファイルをＣ−１ディスク２０１に記録したＣ−２ディスク２０７を生成するように構成される。この時、Ｃ−１ディスク２０１に記録されるＤＭＡミラーファイルはＣ−１ディスク２０１に存在する物理的な欠陥と関係なく記録される。従って、Ｃ−２ディスク２０７はＣ−１ディスク２０１に存在する物理的な欠陥が存在しつつ、この物理的な欠陥と関係ない前記テスト基準ＤＭＡミラーファイル情報が記録されたディスクとなる。このようなＣ−２ディスク２０７はＣ−１ディスク２０１と同様に、４．７ギガバイトの容量を有する相変化記録方式のＤＶＤ−ＲＡＭ条件を満足できるように構成されたディスクである。
【００２２】
さらに、基準ディスク駆動装置２０５は後述する検定しつつ再初期化されたＣ−２'ディスク２１１が設置されれば、設置されたＣ−２'ディスク２１１に記録されているＤＭＡ情報を直接読込み、これを基としたＣ−２'ディスクのＤＭＡミラーファイル２１３をテスト情報として出力するように構成される。この時、テスト情報はＣ−２'ディスクＤＭＡミラーファイル２１３に存在する一部の情報であることもある。
【００２３】
テスト対象ディスク駆動装置２０９は再度記録が可能なディスクに情報を記録し及び再生できるディスク記録及び再生装置である。このテスト対象ディスク駆動装置２０９は前述したように構成されたＣ−２ディスク２０７が設置されれば、検定しつつ再初期化する過程を行う。これによりＣ−２ディスク２０７に格納されていたＤＭＡ情報が生成または更新されるようになる。すなわち、テスト対象ディスク駆動装置２０９にてＣ−２ディスク２０７を検証しつつ再初期化するようになれば、Ｃ−２ディスク２０７に格納されていたテスト基準ＤＭＡ情報がＣ−１ディスク２０１に存在する物理的な欠陥を考慮したＤＭＡ情報として生成または更新される。
【００２４】
従ってテスト対象ディスク駆動装置２０９はＣ−２ディスク２０７が設置されれば、前述したように生成または更新されたＤＭＡ情報が記録されたＣ−２'ディスク２１１を生成する。生成されたＣ−２'ディスク２１１は基準ディスク駆動装置２０５に設置され、前述したようにＣ−２'ディスク２１１に記録されているＤＭＡ情報を基としたＤＭＡミラーファイルがテスト情報として出力されうるようにする。基準ディスク駆動装置２０５から出力されたテスト情報は検証器２１５に提供される。提供方式は基準ディスク駆動装置２０５が直接提供するように具現できる。
【００２５】
検証器２１５はテスト対象ディスク駆動装置２０９がＣ−２ディスク２０７を検定しつつ再初期化時に、正常にＤＭＡを判読または更新した場合に得られるものと予測された基準情報を利用してＣ−２'ディスクＤＭＡミラーファイル２１３を検証する。予測された基準情報はＤＭＡミラーファイル提供部２０３から提供されるテスト基準ＤＭＡミラーファイルと前もって提供されたＣ−１ディスク２０１に存在する物理的な欠陥情報を考慮して検証器２１５にて設定したり、図４Ａないし図４Ｄに示されたようなＤＭＡ情報テーブルを事前に具備して利用するように具現できる。
【００２６】
図４ＡはＤＭＡ検証のために検証器２１５に備え付けられるチェックリストである。チェックリストのチェック項目は、ＤＭＡ１ないしＤＭＡ４のエラー状態、ＤＤＳ１ないしＤＤＳ４及びＰＬＤ１ないしＰＤＬ４の更新カウンタ、ＳＤＬ１ないしＳＤＬ４の更新タウンタ、ＤＭＡ内容を含む。
【００２７】
ＤＭＡエラー状態の項目はリードイン領域とリードアウト領域にそれぞれ２カ所ずつ存在するＤＭＡにエラーが存在するのかをチェックするものであり、４カ所のＤＭＡ１、ＤＭＡ２、ＤＭＡ３、ＤＭＡ４に訂正されていないエラーがあってはならず、仮りに何れか一つのＤＭＡに訂正されていないエラーが発見されれば、検証結果はテスト対象ディスク駆動装置２０９がＣ−２ディスク２０７のＤＭＡ生成または更新に失敗したことを知らせることができるように出力される。出力方式は成敗を使用者が認識できるようにディスプレーする形で具現できる。このようにＤＭＡ生成または更新が失敗した場合に、使用者は新たなテストディスクを使用してはじめからテストを試してみなければならない。
【００２８】
ＤＤＳ／ＰＤＬ、ＳＤＬの更新カウンタ項目は検定しつつ再初期化の時、４カ所のＤＤＳ１、ＤＤＳ２、ＤＤＳ３、ＤＤＳ４内のＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタ値と４カ所のＳＤＬ１、ＳＤＬ２、ＳＤＬ３、ＳＤＬ４内のＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタ値を示す「Ｍ＋ｋ」値が「Ｍ」が「以前の値」で、「ｋ」が「２」であることによる値を有するのかをチェックする。以前の値は、テスト対象ディスク駆動装置２０９が検定しつつ再初期化する前のＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタ値を意味する。これはＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタ値がＤＤＳ／ＰＤＬが更新されたり再記入される時ごとに１ずつ増加するためである。そして、ＤＭＡ１、ＤＭＡ２、ＤＭＡ３、ＤＭＡ４にそれぞれ存在する８つのＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタ値が全て同じであるかをチェックする。
【００２９】
さらに、４カ所のＳＤＬ１、ＳＤＬ２、ＳＤＬ３、ＳＤＬ４内のＳＤＬ改正カウンタ値を示す「Ｎ＋Ｋ」値が「Ｎ」が「以前の値」であり、「ｋ」が「２」であることによる値を有するのかをチェックする。ＳＤＬの更新カウンタ値もまたＳＤＬが更新されたり再記入される時ごとに１ずつ増加するためである。そして、４カ所のＳＤＬの更新カウンタ値が同じであるかをチェックする。
【００３０】
さらに、４カ所（ＤＭＡ１、ＤＭＡ２、ＤＭＡ３、ＤＭＡ４）のＤＭＡの内容が全て同じであるかをチェックする。
図４ＢはＤＤＳ構造を検証するために検証器２１５に備わりうるチェックリストであり、ＤＤＳ識別子、ディスク検定フラグ、ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタ、グループ数、領域数、初期余裕空間（ＰＳＡ）の位置、最初の論理セクタ番号の位置、各領域の開始論理セクタ番号の位置などが存在する。
【００３１】
すなわち、ＤＤＳ識別子が「０Ａ０Ａｈ」であるかをチェックし、１バイトのディスク検定フラグ中で進行中であるかを示すビット位置ｂ７の値が「０ｂ」であるかをチェックする。この時、ビット位置ｂ７の値が「０ｂ」ならばフォーマッティングが完了することを示し、「１ｂ」ならばフォーマッティングが進行中であることを示すので、もし「１ｂ」ならば検証器２１５はフォーマッティングに失敗したと認識する。さらに、ディスク検証フラグ中にて予備ビット位置ｂ６〜ｂ２が全て「０ｂ」であるかをチェックし、使用者検定フラグを示すビット位置ｂ１の値が「１ｂ」であるかをチェックし、ディスク製造業者の検定フラグを示すビット位置ｂ０の値が「１ｂ」であるかをチェックする。
【００３２】
該当するＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタを確認するためにＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタを示すＭの値が「以前の値」であるかということとテスト前のＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタＭと他のテスト後のＤＤＳ／ＰＤＬカウンタの増分を示すｋの値が「２」であるかをチェックし、グループの数が１を示す「０００１ｈ」であるかということと領域数が３５であるかを示す「００２３ｈ」であるかをチェックする。
【００３３】
さらに、初期余裕空間の最初のセクタ番号が「０３１０００ｈ」であるかということと最後のセクタのセクタ番号が「０３４１ＦＦｈ」であるかをチェックし、最初の論理セクタ番号の位置はＰＤＬに登録されている欠陥数により決定されたのかをチェックする。そして、各領域の開始論理セクタ番号、すなわち二番目の領域から３５番目の領域の各開始論理セクタ番号がＰＤＬに登録されている欠陥数により決定されたのかをチェックする。ここで、ＰＤＬに登録されている欠陥はＣ−１ディスク２０１上に存在する物理的な欠陥とＤＭＡミラーファイル提供部２０３から提供されるテスト基準ＤＭＡミラーファイルのＰＤＬに登録されている欠陥を全て考慮したのである。
【００３４】
また、ＤＤＳ構造の残りの予備領域（バイト位置３９６から２０４７）が全て「００ｈ」であるかを確認する。
ＰＤＬ構造の確認のためのチェック項目は図４ｃに示したようにＰＤＬ識別子、ＰＤＬ内の項目数、ＰＤＬ項目の構成状態、未使用領域などである。
【００３５】
すなわち、ＰＤＬ識別子が「０００１ｈ」であるかをチェックし、ＰＤＬ内の項目数はＣ−１ディスク２０１の物理的な欠陥とＤＭＡミラーファイル提供部２０３から提供されたテスト基準ＤＭＡミラーファイルのＰＤＬに含まれた欠陥数を表し、各ＰＤＬ項目の構成状態は項目タイプと欠陥セクタ番号をチェックする。ここで、ＰＤＬ項目タイプはＣ−２ディスク２０７に存在する前もって知られているＰ−ｌｉｓｔを示す「００ｂ」が設定されているか、使用者検定時に発生した欠陥セクタのＧ１_ｌｉｓｔを示す「１０ｂ」が設定されているかをチェックし、ＰＤＬの欠陥セクタ番号はセクタ番号が上の順序から下の順序で記入されたのかをチェックする。
【００３６】
ＰＤＬの項目タイプをチェックする時、Ｇ２_ｌｉｓｔに対してチェックしていないのは、テスト対象ディスク駆動装置２０９の検定をしつつ再初期化が正常になされる場合に、図５に示したようにＣ−２ディスク２０７のＤＭＡに存在する旧ＰＤＬ５１０内のＰ_ｌｉｓｔ５１１はそのまま維持される一方、Ｇ１−ｌｉｓｔ５１３、Ｇ２−ｌｉｓｔ５１５は配列され、Ｃ−２ディスク２０７の検定により発見された欠陥がＧ１−ｌｉｓｔ５３３に登録された新ＰＤＬ５３０を有するＣ−２'ディスク２１１が生成されるためである。この時、Ｇ１−ｌｉｓｔ５３３にはＣ−１ディスク２０１の欠陥セクタに関する情報が全て含まれていなければならない。これはテスト対象ディスク駆動装置２０９がＣ−１ディスク２０１に故意的に作られた欠陥セクタに対しても正常に検定したのかを判断するためである。
【００３７】
そして、使われていないＰＤＬ領域は「ＦＦｈ」であるかをチェックする。
ＳＤＬ構造の確認のためのチェック項目は図４Ｄに示したように、ＳＤＬ識別子、ＳＤＬの更新カウンタ、ＳＳＡの開始セクタ番号、論理セクタの総数、ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタ、余裕空間のフルフラグ、ＳＤＬ内の項目数、ＳＤＬ項目の構成状態、未使用空間、予備空間を含む。
【００３８】
すなわち、ＳＤＬ識別子が「０００２ｈ」であるかをチェックし、ＳＤＬの更新カウンタの項目を検証するためにＳＤＬの更新カウンタを示すＮ値が「以前の値」であるかということと、テスト前のＳＤＬ更新カウンタＮと他のテスト後のＳＤＬ更新カウンタの増分値を示すｋの値が「２」であるかをチェックする。ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタの項目を検証するためにＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタを示すＭ値が「以前の値」であるかということとカウンタ増分値を示すｋ値が「２」であるかをチェックする。
【００３９】
さらに、余裕空間のフルフラグはＳＳＡがぎっしり詰まっていない状態を示すのかをチェックし、ＳＤＬ内の項目数は一般的には存在しないことを示す「０」として設定されているかをチェックする。さらに、ＳＤＬの総使用可能な領域を知っているためにＳＤＬ内の項目数をチェックしつつ、ＡＤＬの未使用空間を決定できる。従って、Ｃ−２’ディスクのＤＭＡミラーファイル２１３のＳＤＬの未使用空間の大きさがＳＤＬ内の項目数を基として知っているＳＤＬの未使用空間の大きさと同じであるかをチェックし、未使用空間が「ＦＦｈ」として設定されているかをチェックする。そして、全ての余裕空間の期待値が「００ｈ」であるかをチェックする。これはテスト対象のディスク駆動装置２０９にて検証しつつ再初期化が正常になされる場合に、図５に示したようにＣ−２ディスク２０７に存在する旧ＳＤＬ５２０が配列されるためである。
【００４０】
しかし、Ｃ−２ディスク２０７の検定により発見された欠陥がＧ１_ｌｉｓｔ５３３に割り当てられた領域を超過する場合に超過した欠陥はＣ−２'ディスク２１１の新ＳＤＬ５４０に登録される。従って、発見された欠陥に対してＧ１_ｌｉｓｔ５３３にオーバーフローが生じる条件では、ＳＤＬ項目の構成状態にＧ１_ｌｉｓｔのエントリタイプを有する欠陥情報が存在するのかをチェックしなければならない。
【００４１】
検証器２１５は図４でのように設定された基準情報とＣ−２'ディスクＤＭＡミラーファイル２１３に存在する情報とを比較し、テスト対象のディスク駆動装置２０９が検定しつつ再初期化時にＣ−２ディスク２０７のＤＭＡを正常に生成または更新したのかを検証する。検証された結果はテスト対象のディスク駆動装置２０９の検定をしつつ再初期化したモードに対するテスト結果として出力される。出力方式は使用者が見られるようにディスプレーされうる。このために本発明による装置は別のディスプレー手段をさらに具備するように具現できる。これにより使用者はテスト対象ディスク駆動装置２０９が検定しつつ再初期化モードを行う時、設置されたディスクのＤＭＡを正常に判読するのかということと発生した欠陥情報をＤＭＡに正常に生成または更新しているか否かを把握するようになる。
【００４２】
図６は本発明による検証方法についての動作フローチャートであり、段階６０１にて前記図２のような条件を備えたＣ−１ディスク２０１に前記図２でのような条件を有するＤＭＡミラーファイルを記録してＣ−２ディスク２０７を生成する。その次に、段階６０２でテスト対象のディスク駆動装置２０９にＣ−２ディスク２０７を設置してＣ−２ディスク２０７に対する検定をしつつ再初期化する過程がなされるようにする。
【００４３】
そして、段階６０３で再初期化されたＣ−２'ディスク２１１に記録されているＤＭＡ情報を読み出してＣ−２'ディスクＤＭＡミラーファイル２１３を生成する。Ｃ−２'ディスクＤＭＡミラーファイル２１３はテスト情報として利用される。この時、Ｃ−２'ディスクＤＭＡミラーファイル２１３の一部をテスト情報として抽出できる。段階６０４でＣ−２'ディスクＤＭＡミラーファイル２１３を検証する。検証は前記図２の検証器２１５でなされたのと同じように予測された基準情報（または期待値）を利用して行われる。検証が完了すれば、段階６０５で検証結果を出力して使用者がテスト対象ディスク駆動装置２０９に対するＤＭＡ生成または更新機能を評価できるようにする。
【００４４】
図７は、光を放射する光源２２、ディスクＤ上に光源からの光をフォーカシングするフォーカシング素子２４及び光源２２を制御する制御器２６を持つテスト対象ディスク駆動装置１１０を示す。前述の検証処理は、制御器２６の適した動作を検証する。
【００４５】
【発明の効果】
前述したように本発明は物理的にすでに固定された欠陥を持っているＣ−１ディスクとＰＤＬにＰ_ｌｉｓｔ、Ｇ１_ｌｉｓｔ及びＧ２_ｌｉｓｔなどの全ての種類の欠陥を含んでいるテスト基準ＤＭＡミラーファイルを利用して生成したＣ−２ディスクをテスト対象ディスク駆動装置で検証しつつ再初期化した後、得たＣ−２'ディスクＤＭＡミラーファイルを基としたテスト情報を検証して、テストしようとするディスク駆動装置のＤＭＡ判読及び記録機能に対するテスト結果を得ることにより、ディスクに情報を記録及び再生できるディスク駆動装置のＤＭＡ生成または更新機能を容易にテストでき、再初期化を行う時エラーが最も発生しやすい条件を満足するテスト基準ＤＭＡミラーファイルを利用することにより、「DVD Specifications for Rewritable Disk Part1 Physical Specifications version 2.0」規格書に提示している全ての場合のアルゴリズムを満足する検証及びテストを行うことができる。
【００４６】
さらに、Ｐ_ｌｉｓｔ、Ｇ１_ｌｉｓｔ及びＧ２_ｌｉｓｔをＰＤＬに含んでいるＣ−２ディスクをテスト基準ＤＭＡミラーファイルを利用して使用者が直接製作することもでき、製造者にＣ−２ディスク用途のテストディスクの製作及び提供を要求しないことにより費用を節減できる。使用者は、基準ディスク駆動装置２０５、ＤＭＡミラーファイル提供部２０３及びＣ−１ディスク２０１を使用してＣ−２ディスクを作れる。
【００４７】
本発明は、前述の実施形態に限定されず、本発明の思想内で当業者により変形が可能であることは言うまでもない。従って、本発明で権利を請求する範囲は、詳細な説明の範囲内に限定されるのではなく、請求範囲により限定されるものである。
【図面の簡単な説明】
【図１】 再度記録が可能なディスクの概略的な構造図である。
【図２】 本発明によるテスト装置に関する機能ブロック図である。
【図３】 Ｃ−２ディスクタイプの欠陥構造の例示図である。
【図４】 図４Ａ〜４Ｄは図２に示した検証器の検証のための詳細チェックリストである。
【図５】 検証しつつ再初期化する前のＣ−２ディスクのＤＭＡミラーファイルと検証しつつ再初期化された後のＣ−２ディスクのＤＭＡミラーファイル間の関係ブロック図である。
【図６】 本発明による検証方法に関する動作フローチャートである。
【図７】 図２に図示されたテスト対象ディスク駆動装置のブロック図である。
【符号の説明】
２０１ Ｃ−１ディスク
２０３ ＤＭＡミラーファイル提供部
２０５ 基準ディスク駆動装置
２０７ Ｃ−２ディスク
２０９ テスト対象ディスク駆動装置
２１５ 検証器

Claims (74)

1. 欠陥管理領域（ＤＭＡ）情報を有するディスクを記録及び再生できる記録及び再生装置の欠陥管理領域情報生成または更新機能を検証する方法において、
   テスト基準情報と物理的な欠陥を有するテスト用ディスクを使用し、前記記録及び再生装置の検定を行いつつ再初期化を行った後、生成されたＤＭＡ情報からテスト情報を生成する段階と、
   前記テスト基準情報と物理的な欠陥により予測された基準情報と前記テスト情報とを比較し、前記テスト情報に関する検証結果を提供する段階とを含む検証方法。
2. 前記テスト用ディスクは、前記検定を行いつつ再初期化が行われる時、エラーが発生しやすい条件を満足できる位置の欠陥情報を含んだことを特徴とする請求項１に記載の検証方法。
3. 前記テスト用ディスクは、
   各領域の最初のセクタと最後のセクタとをエラーと処理し、各領域の使用可能なセクタの和が１６倍数にならないように構成されたことを特徴とする請求項１に記載の検証方法。
4. 前記検定を行いつつ再初期化を行うにあたり、前記テスト基準情報はミラーファイルより構成されたことを特徴とする請求項１に記載の検証方法。
5. 前記検定を行いつつ再初期化を行うにあたり、前記テスト基準情報はＤＭＡミラーファイルより構成されたことを特徴とする請求項１に記載の検証方法。
6. 前記検定を行いつつ再初期化を行うにあたり、前記テスト基準情報は１次欠陥リスト（ＰＤＬ）に複数種類の種類の欠陥が存在するように構成されたＤＭＡミラーファイルより構成されたことを特徴とする請求項１に記載の検証方法。
7. 前記比較するにあたり前記予測された基準情報は、前記記録／再生装置で前記テスト用ディスクに対する検証をしつつ再初期化が正常になされる場合に、前記ＤＭＡミラーファイルの情報と前記物理的な欠陥情報を基にして得られる情報として設定されることを特徴とする請求項６に記載の検証方法。
8. 前記ＰＤＬは、ディスク製造者により限定された欠陥セクタに関する情報により構成されたＰリスト、検証処理期間の間に検出された欠陥セクタに関する情報により構成されたＧ１リスト及び検証なしに前記ＤＭＡミラーファイルの２次欠陥リスト（ＳＤＬ）から移動した欠陥セクタに関する情報により構成されたＧ２リストとを含むことを特徴とする請求項６に記載の検証方法。
9. 前記比較する段階は、前記ＤＭＡミラーファイルに含まれている前記Ｇ１リストと前記Ｇ２リスト及びＳＤＬが、前記テスト情報において排除されたのかをチェックすることを含むことを特徴とする請求項８に記載の検証方法。
10. 前記比較する段階は、前記Ｐリストが保存されたのかをチェックし、前記Ｇ１リストに前記テスト用ディスクに存在する意図的な欠陥セクタが存在するかをチェックし、前記ＳＤＬのエントリの存在有無をチェックすることを含むことを特徴とする請求項６に記載の検証方法。
11. 前記検定を行いつつ再初期化を行うにあたり生成されたテスト情報は、ミラーファイルより構成されたことを特徴とする請求項６に記載の検証方法。
12. 前記比較する段階は、前記テスト情報のＤＭＡ構造を検証する段階と、
    前記テスト情報のディスク限定構造（ＤＤＳ）を検証する段階と、前記テスト情報のＰＤＬの構造を検証する段階と、
    前記テスト情報のＳＤＬの構造を検証する段階とを含むことを特徴とする請求項１１に記載の検証方法。
13. 前記ＤＭＡ構造を検証する段階は、前記ＤＭＡ構造を検証するためのチェック項目はＤＭＡのエラー状態、ＤＤＳ／ＰＤＬ、ＳＤＬの更新カウンタ、ＤＭＡの内容を含むことを特徴とする請求項１２に記載の検証方法。
14. 前記ＤＭＡエラー状態のチェックは、前記テスト用ディスクのリードイン領域とリードアウト領域にそれぞれ２つずつ全てで４つの位置に記録されたＤＭＡうちいずれの一つででもエラーが存在するのかをチェックすることを含み、
    前記ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタのチェックは、前記４つのＤＤＳ及びＰＤＬ内のＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタ値が「以前の値」であるか、検定を行いつつ再初期化を行う前と後のＤＤＳ／ＰＤＬ値を示すＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタの増分値が「２」であるかということと、前記ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタが全て同じであるかをチェックすることとを含み、
    前記ＳＤＬの更新カウンタのチェックは、前記４つＳＤＬのＳＤＬ更新カウンタ値が「以前の値」であるか、検定を行いつつ再初期化を行う前と後のＳＤＬの更新カウンタを示すＳＤＬの増分値が「２」であるのかということと、前記ＳＤＬの更新カウンタが全て同じであるかをチェックすることとを含み、
    前記ＤＭＡの内容チェックは、４つのＤＭＡの内容が全て同一かをチェックすることを含むことを特徴とする請求項１３に記載の検証方法。
15. 前記ＤＤＳの検証段階は、ＤＤＳ識別子、ディスク検証フラグ、ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタ、グループ数、領域数、初期余裕空間の位置、最初の論理セクタ番号の位置、各領域の開始論理セクタ番号の位置チェックを含むことを特徴とする請求項１２に記載の検証方法。
16. 前記ＤＤＳ識別子のチェックは、前記ＤＤＳ識別子が所定値であるかをチェックすることを含み、
    前記ディスク検定フラグのチェックは、前記ディスク検定フラッグのうちで進行中であるかを示すビット値が「０ｂ」であるかということと、ディスク製造業者検定を示すビット値及び使用者検定を示すビット値が「１ｂ」であるかとをチェックすることを含み、
    前記ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタのチェックは、前記ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタ値が「以前の値」であるかということと、検定を行いつつ再初期化を行う前と後のＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタの差を示すＤＤＳ／ＰＤＬカウンタの増分値が「２」であるかとをチェックすることを含み、
    前記グループ数のチェックは、前記グループ数が所定数であるかをチェックすることを含み、
    前記領域数のチェックは、前記領域数が所定数であるかをチェックすることを含み、
    前記初期余裕空間の位置チェックは、前記初期余裕空間の最初と最後のセクタ番号がそれぞれ所定のセクタ番号であるかをチェックすることを含み、前記最初の論理セクタ番号の位置チェックは、
    前記最初の論理セクタ番号の位置がＰＤＬに登録された欠陥数により決定されるかをチェックすることを含み、
    前記開始論理セクタ番号のチェックは、前記各領域の開始論理セクタの番号が前記ＰＤＬに登録された欠陥数により決定されるかをチェックする段階と含むことを特徴とする請求項１５に記載の検証方法。
17. 前記ＰＤＬ構造の検証段階は、ＰＤＬ識別子、ＰＤＬ内の項目数、ＰＤＬ項目の構成状態のチェックを含むことを特徴とする請求項１２に記載の検証方法。
18. 前記ＰＤＬ識別子のチェックは、前記ＰＤＬ識別子が所定値であるかをチェックすることを含み、
    前記ＰＤＬ内の項目数のチェックは、前記ＰＤＬ内の項目数が前記ＰＤＬに登録された欠陥の数と一致するかをチェックすることを含み、
    前記ＰＤＬ項目の構成状態のチェックは、前記ＰＤＬ項目の構成状態が前記テスト用ディスクのＤＭＡのＰリストと使用者検定を通じ検出された欠陥を示すＧ１リストとを含むかをチェックすることを含むことを特徴とする請求項１７に記載の検証方法。
19. 前記ＳＤＬ構造の検証段階は、ＳＤＬ識別子、ＳＤＬの更新カウンタ、２次余裕空間（ＳＳＡ）の開始セクタ番号、論理セクタの総数、ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタ、余裕空間のフルフラグ、ＳＤＬ内の項目数、ＳＤＬ項目の構成状態、未使用領域及び予備領域をチェックすることを含むことを特徴とする請求項１２に記載の検証方法。
20. 前記ＳＤＬ識別子のチェックは、前記ＳＤＬ識別子が所定値であるかをチェックすることを含み、
    前記ＳＤＬ更新カウンタ値のチェックは、前記ＳＤＬ更新カウンタ値が「以前の値」であるかということと、前記更新しつつ再初期化を行う前と後のＳＤＬ更新カウンタの差を示すＳＤＬ更新カウンタの増分値が「２」であるかとをチェックすることを含み、
    前記ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタのチェックは、前記ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタの値が「以前の値」であるかということと、検定を行いつつ再初期化を行う前と後とのＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタの差を示すＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタの増分値が「２」であるかとをチェックすることを含み、
    前記ＳＳＡの開始セクタ番号と論理セクタの総数チェックは、ＳＳＡの開始セクタ番号及び論理セクタの総数が使用者が指定したＳＳＡの大きさに合うように設定されているかをチェックすることを含み、
    前記余裕空間のフルフラグ、前記ＳＤＬ内の項目数とＳＤＬ項目の構成状態のチェックは、前記余裕空間のフルフラグがＳＳＡがぎっしり詰まっていない状態を示すのか、ＳＤＬ内の項目数は項目が存在しないことを示す「００ｈ」として設定され、ＳＤＬ項目に関する情報が存在しないのかをチェックすることを含み、
    前記未使用領域及び予備領域のチェックは、ＳＤｌの未使用領域の大きさ、前記未使用領域が所定値を持つのか、前記予備領域が所定値を持つのかをチェックすることを含むことを特徴とする請求項１９に記載の検証方法。
21. 前記ＳＤＬ識別子のチェックは、 前記ＳＤＬ識別子が所定値であるかをチェックすることを含み、
    前記ＳＤＬの更新カウンタ値のチェックは、ＳＤＬの更新カウンタ値が「以前の値」であるかということと、検定を行いつつ再初期化を行う前と後のＳＤＬ更新カウンタの増分値が「２」であるかとをチェックすることを含み、
    前記ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタのチェックは、前記ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタ値が「以前の値」であるかということと、検定を行いつつ再初期化を行う前と後とのＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタの差を示すＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタの増分値が「２」であるかとをチェックすることを含み、
    前記ＳＳＡの開始セクタ番号、論理セクタの総数のチェックは、前記ＳＳＡの開始セクタ番号と論理セクタの総数が使用者が指定したＳＳＡの大きさに合うように設定されているかをチェックすることを含み、
    前記余裕空間のフルフラグ、ＳＤＬ内の項目数及びＳＤＬ項目の構成状態のチェックは、前記余裕空間のフルフラグが前記ＳＳＡがぎっしり詰まっていない状態を示すのか、前記検定時に生じる欠陥が前記ＰＤＬのＧ１リストに割当てられた領域を超過する場合に、ＳＤＬにＧ１リスト項目が登録されているかをチェックすることを含み、
    前記未使用領域及び予備空間チェックはＳＤＬの未使用空間の大きさ及び未使用空間が所定値であるか、前記予備空間の所定値であるかをチェックすることを含むことを特徴とする請求項１９に記載の検証方法。
22. 前記方法は、前記物理的欠陥と関係なく前記物理的欠陥を持つテストディスクに前記テスト基準情報を前記物理的欠陥と関係なく記録し、前記テスト用ディスクを生成する段階をさらに含むことを特徴とする請求項１に記載の検証方法。
23. 前記テスト情報を生成する段階は、前記検定しつつ再初期化されたテストディスクのＤＭＡから前記テスト情報を直接読み込むことを特徴とする請求項１に記載の検証方法。
24. 前記方法は、前記検証結果を前記記録／再生装置のＤＭＡ生成／更新機能をテストした結果としてディスプレーする段階をさらに含むことを特徴とする請求項１に記載の検証方法。
25. ＤＭＡ情報を有するディスクを記録及び再生できる記録及び再生装置のＤＭＡ情報の生成または更新機能をテストする装置において、
    前記記録及び再生装置がテスト基準情報と物理的欠陥とを持つテスト用ディスクに対して検定しつつ再初期化モードを行った後、前記テスト用ディスクのＤＭＡからテスト情報を生成する基準ディスク駆動装置と、
    前記テスト基準情報と前記物理的な欠陥情報とを基として予測された基準情報と前記テスト情報を比較し、前記テスト情報を検証する検証器とを含むテスト装置。
26. 前記テスト基準情報は、ＤＭＡミラーファイルより構成されたことを特徴とする請求項２５に記載のテスト装置。
27. 前記基準ディスク駆動装置は、前記物理的な欠陥が存在するディスクに、前記テスト基準情報を前記物理的な欠陥と関係なく記録し、前記テスト用ディスクを生成することを特徴とする請求項２５に記載のテスト装置。
28. 前記テスト用ディスクは、前記記録／再生装置で前記再初期化が行われる時、エラーが発生しやすい条件を満足できる位置の欠陥情報を含むことを特徴とする請求項２５に記載のテスト装置。
29. 前記テスト用ディスクは、エラーと処理される各領域の最初のセクタと最後のセクタ、１６倍数にならない各地域の使用可能なセクタ総数を含むことを特徴とする請求項２８に記載のテスト装置。
30. 前記テスト基準情報は、ＰＤＬに複数種類の欠陥が存在するＤＭＡミラーファイルの形で構成されたことを特徴とする請求項２５に記載のテスト装置。
31. 前記ＰＤＬの全ての種類の欠陥は、製造者により限定された欠陥セクタに関する情報により構成されたＰリスト、検証処理期間中に発見された欠陥セクタに関する情報により構成されたＧ１リスト及び、検証なしに前記ＤＭＡミラーファイルのＳＤＬから移動した欠陥セクタに関する情報により構成されたＧ２リストによりなされたことを特徴とする請求項３０に記載のテスト装置。
32. 前記検証器は、
    前記テスト基準情報に含まれていた前記Ｇ１リストと前記Ｇ２リスト及びＳＤＬが前記テスト情報において配列されていたのかをチェックするように構成されたことを特徴とする請求項３１に記載のテスト装置。
33. 前記検証器は、
    前記再初期化モードが行われた前記テスト用ディスクのＤＭＡのＧ２リストに、前記テスト用ディスクに存在する物理的な欠陥を始めとする意図的な欠陥情報が含まれているかをチェックするように構成されたことを特徴とする請求項３１に記載のテスト装置。
34. 前記基準ディスク駆動装置で生成された前記テスト情報は、
    ミラーファイルの形で構成されたことを特徴とする請求項３０に記載のテスト装置。
35. 前記検証器は、
    前記テスト情報のＤＭＡ構造、ＤＤＳ、ＰＤＬの構造及びＳＤＬの構造をそれぞれ検証するように構成されたことを特徴とする請求項３４に記載のテスト装置。
36. 前記検証するＤＭＡのエラー状態、ＤＤＳ／ＰＤＬ、ＳＤＬの更新カウンタ、ＤＭＡの内容をチェックしてＤＭＡ構造を検証することを特徴とする請求項３５に記載のテスト装置。
37. 前記検証器は、前記テスト用ディスクのリードイン領域とリードアウト領域にそれぞれ２つずつ存在する全てで４つのＤＭＡの何れか一つにでもエラーが存在するのかをチェックし、４つのＤＤＳ内のＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタ値と、前記４つのＳＤＬ内のＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタ値が「以前の値」であるか、検定しつつ再初期化を行う前と後のＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタがどちらも同じであるかをチェックし、４つのＳＤＬ内のＳＤＬの更新カウンタ値が「以前の値」であるか、検定しつつ再初期化を行う前と後のＳＤＬ更新カウンタ値を示すＳＤＬ更新カウンタの増分値が「２」であるかということと前記ＳＤＬの更新カウンタが全て同じであるかとをチェックし、前記４カ所のＤＭＡの内容が全て同一かをチェックことを特徴とする請求項３６に記載のテスト装置。
38. 前記検証するＤＤＳ識別子、ディスク検証フラグ、ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタ、グループ数、領域数、初期余裕空間の位置、最初の論理セクタ番号の位置、各領域の開始論理セクタ番号の位置をチェックしてＤＤＳを検証することを特徴とする請求項３５に記載のテスト装置。
39. 前記検証器は、前記ＤＤＳの識別子が所定値であるかをチェックし、前記ディスク検証フラグ中で進行中であるかを示すビット値が「０ｂ」であるかということとディスク製造業者検定を示すビット値及び使用者検定を示すビット値が「１ｂ」であるかとをチェックし、前記ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタ値が「以前の値」であるかということとＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタの増分値が「２」であるかとをチェックし、前記グループ数をチェックし、前記領域数をチェックし、前記初期余裕空間の最初のセクタ番号と最後のセクタのセクタ番号をチェックし、前記最初の論理セクタ番号の位置がＰＤＬに登録された欠陥数により決定されるのかをチェックし、前記各領域の開始論理セクタ番号が前記ＰＤＬに登録された欠陥数により決定されるかをチェックすることを特徴とする請求項３８に記載のテスト装置。
40. 前記検証器は、ＰＤＬ識別子、ＰＤＬ内の項目数、ＰＤＬ項目の構成状態をチェックしてＰＤＬ構造を検証することを特徴とする請求項３５に記載のテスト装置。
41. 前記検証器は、前記ＰＤＬ識別子をチェックし、前記ＰＤＬ内の項目数が前記ＰＤＬに登録された欠陥の数と一致するかをチェックし、前記ＰＤＬ項目のタイプが前記テスト用ディスクのＤＭＡのＰリストと使用者検定を通じ発生した欠陥を示すＧ１リストより構成されるのかをチェックしてＰＤＬ構造をチェックすることを特徴とする請求項４０に記載のテスト装置。
42. 前記検証器は、前記検証するＳＤＬ識別子、ＳＤＬの更新カウンタ、ＳＳＡの開始セクター番号、論理セクターの総数、ディスク限定構造/１次欠陥リストの更新カウンタ、余裕空間のフルフラグ、ＳＤＬ内の項目数、ＳＤＬ項目の構成状態、未使用領域及び予備領域をチェックして前記ＳＤＬ構造を検証することを特徴とする請求項３５に記載のテスト装置。
43. 前記検証する前記ＳＤＬ識別子が所定値であるかをチェックし、前記ＳＤＬ更新カウンタ値が「以前の値」であるかということと検定しつつ再初期化を行う前と後のＡＤＬ更新カウンタの差を示すＳＤＬ更新カウンタの増分値が「２」であるかをチェックし、前記ＤＤＳ/ＰＤＬの更新カウンタ値が「以前の値」であるかということとカウンタ増分値が「２」であるかをチェックし、前記ＳＳＡの開始セクター番号、論理セクターの総数が使用者が指定したＳＳＡの大きさに合うように設定されているのかをチェックし、前記余裕空間のフルフラグはＳＳＡがぎっしり詰まっていない状態を示し、ＳＤＬ内の項目数は存在しないことを示す「００ｈ」として設定され、ＳＤＬ項目に関する情報が存在しないのかをチェックすることを特徴とする請求項４２に記載のテスト装置。
44. 前記検証器は、前記ＳＤＬ識別子をチェックし、前記ＳＤＬの更新カウンタ値が「以前の値」であるかということと検定しつつ再初期化を行う前と後のＳＤＬ更新カウンタの差を示すＳＤＬ更新カウンタの増分値が「２」であるかをチェックし、前記ＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタ値が「以前の値」であるかということと検定しつつ再初期化を行う前と後のＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタの差を示すＤＤＳ／ＰＤＬ更新カウンタの増分値が「２」であるかをチェックし、前記ＳＳＡの開始セクタ番号、論理セクタの総数が使用者が指定したＳＳＡの大きさに合うように設定されているかをチェックし、前記余裕空間のフルフラグはＳＳＡがぎっしり詰まっていない状態を示し、前記検証時に生じる欠陥が前記ＰＤＬのＧ１リストに割り当てられた領域を超過する場合に、ＳＤＬにＧ１リスト項目が登録されているかをチェックし、ＳＤＬの未使用領域の大きさをチェックし、前記未使用領域が所定値であるか、前記予備領域が所定値であるかをチェックするＳＤＬ構造を検証することを特徴とする請求項４２に記載のテスト装置。
45. 前記基準ディスク駆動装置は、前記検証しつつ再初期化されたテスト用ディスクのＤＭＡから前記テスト情報を直接読み込むことを特徴とする請求項２５に記載のテスト装置。
46. 前記装置は、前記検証結果を前記記録及び再生装置の前記ＤＭＡの生成または更新機能をテストした結果としてディスプレーするディスプレーをさらに含むことを特徴とする請求項２５に記載のテスト装置。
47. ＤＭＡ情報を持つ光ディスクに情報を記録または前記光ディスクから情報を再生する記録及び再生装置にて前記ＤＭＡ情報を正確に生成または更新しているかを検証する方法において、
    検定しつつ再初期化テストモードによりテスト基準を設定する段階と、
    前記検定しつつ再初期化テストモードにより前記記録及び再生装置により生成または更新される前記ＤＭＡ情報からテスト情報を生成する段階と、
    前記再初期化テストモードにおいて前記テスト基準を使用して前記テスト情報を検証するためのテストを実行する段階と、を含み、
    前記テスト情報生成段階は、ＤＭＡの前もって固定された内容を読込み、追加余裕空間が詰まっていないＤＭＡミラーファイルを選択する段階を含み、
    空きディスク上の所定位置に物理的欠陥を形成して第１テストディスクを得る段階と、
    前記第１テストディスクに前もって固定されたＤＭＡ内容を記録し、前記第１テストディスクで前記追加余裕空間が詰まっていないことを示すミラーファイルを記録して第２テストディスクを得て、前記テスト情報を生成するにあたり前記第２テストディスクを使用する段階と、をさらに含み、
    前記テスト実行段階は、検定しつつ再初期化を行う段階、前記第２テストディスクのＤＭＡ情報が所定ＤＭＡ構造によっているかをチェックする段階、Ｐリストが維持されているかをチェックする段階、欠陥リストが前記第１テストディスクの知らされた欠陥と同じかをチェックする段階及び前記第２テストディスクの各領域の開始論理セクタ番号をチェックする段階を含むことを特徴とする検証方法。
48. 前記テスト情報はＤＭＡミラーファイルであることを特徴とする請求項４７に記載の検証方法。
49. 前記テスト情報はテストのために使われるディスク上のＤＭＡ領域から直接読込むことを特徴とする請求項４７に記載の検証方法。
50. ＤＭＡ情報を持つ記録可能で再生可能な光ディスク上に情報を記録したり前記光ディスクから情報を再生して前記ＤＭＡ情報を正確に生成または更新しているかをチェックする記録及び再生装置をテストするための装置において、
    検定しつつ再初期化に相応するＤＭＡミラーファイルを持つテストディスクに対して前記記録及び再生装置が検定しつつ再初期化を行った後で得られたテストディスクの生成または更新されたＤＭＡ情報からテスト情報を生成する変形されたテスト用ディスク駆動装置と、
    前記テスト情報と前記検定しつつ再初期化に相応する所定のテスト情報を比較してテスト結果を検証する検証器と、を含み、
    前記変形されたテスト用ディスク駆動装置は、前記テストディスクのＤＭＡ領域から前記テスト情報を読込んで前記テスト情報を前記検証器に提供し、
    前記テストディスクは空きディスクの所定位置に物理的欠陥が形成されて追加余裕空間が詰まっていないミラーファイルが記録された第１テストディスクに前もって固定されたＤＭＡ内容を記録した第２テストディスクであり、
    前記検証器は前記第２テストディスクのＤＭＡ情報が所定のＤＭＡ構造によっているか、Ｐリストを維持しているかをチェックし、欠陥リストが所定位置に形成された欠陥と同じであるかをチェックし、前記第２テストディスクの各領域の開始論理セクタ番号をチェックすることを特徴とするテスト装置。
51. 前記テスト情報はＤＭＡミラーファイルであることを特徴とする請求項５０に記載のテスト装置。
52. 記録及び再生装置がＤＭＡ情報を正確に記録及び処理しているかを検証する方法において、
    前記記録及び再生装置を使用して所定の欠陥情報を含んでいるテストディスクに対して検定しつつ再初期化を行ってテスト情報を生成する段階と、
    前記テスト情報を前記基準テスト情報と比較して前記記録及び再生装置の検証を行う段階と、
    空きディスクの所定位置に物理的欠陥を作って第１テストディスクを生産する段階と、
    前記第１テストディスクに前もって固定されたＤＭＡ内容を記録して前記第１テストディスクに追加余裕空間が詰まっていないことを示すミラーファイルを記録する第２テストディスクを得る段階と、
    前記記録及び再生装置が前記第２テストディスクに対して前記検定しつつ再初期化を行ってＤＭＡ情報を持つ第２テストディスクを生成する段階と、
    基準ディスク駆動装置を使用して前記ＤＭＡ情報を持つ第２テストディスクから前記ＤＭＡ情報だけを読込んでテストＤＭＡミラーファイルをテスト情報として生じる段階と、を含み、
    前記基準テスト情報は基準ＤＭＡミラーファイルである
    ことを特徴とする検証方法。
53. 前記比較は前記第２テストディスクのＤＭＡ情報が所定のＤＭＡ構造によっているかをチェックし、Ｐリストを維持しているかチェックし、欠陥リストが前記第１テストディスクの所定位置に形成した欠陥と同じかをチェックし、前記第２テストディスクの各領域の開始論理セクタ番号をチェックすることを含む請求項５２に記載の検証方法。
54. 記録及び再生装置が正確に欠陥情報を移して処理しているか検証する方法において、
    所定位置に形成された物理的欠陥及びテスト基準ＤＭＡミラーファイルを持つテストディスクを準備する段階と、
    前記記録及び再生装置が前記テストディスクに対して検定しつつ再初期化を行うことを基礎としてテスト情報を生成する段階と、
    前記テスト情報に対して検証テストをする段階と、を含み、
    前記テスト基準ＤＭＡミラーファイルは最初の論理セクタが位置すると推測される所に位置した物理的セクタの周辺に集中した欠陥に関する情報を含む
    ことを特徴とする検証方法。
55. 前記テスト基準ＤＭＡミラーファイルは誤処理される各領域の最初及び最後のセクタを含み、各領域に利用可能なセクタの総数が１６倍数にならないように設定された欠陥セクタを含むことを特徴とする請求項５４に記載の検証方法。
56. 記録及び再生装置がＤＭＡ情報を正確に読込んで処理しているかを検証する方法において、
    前記記録及び再生装置を使用して所定位置に形成された物理的欠陥とテスト基準ＤＭＡミラーファイルを持っているテストディスクに対して検定しつつ再初期化を行って前記ＤＭＡ情報を生成する段階と、
    生成されたＤＭＡ情報からテスト情報を生成する段階と、
    前記テスト情報と基準テスト情報とを比較して前記記録及び再生装置の検証を行う段階と、を含み、
    前記テスト基準ＤＭＡミラーファイルは、最初の論理セクタが位置すると推測される所に位置した物理的セクタの周辺に集中した欠陥に関する情報を含む
    ことを特徴とする検証方法。
57. 前記テスト基準ＤＭＡミラーファイルは誤処理される各領域の最初及び最後のセクタを含み、各領域に利用可能なセクタの総数が１６倍数にならないように設定された欠陥セクタを含むことを特徴とする請求項５６に記載の検証方法。
58. 前記比較は、前記テスト情報を形成するＤＭＡの構造、前記ＤＭＡのＤＤＳ、前記ＤＭＡのＰＤＬ構造及びＳＤＬをチェックすることを含むことを特徴とする請求項５４に記載の検証方法。
59. 記録及び再生装置において、
    前記記録及び再生装置を使用して所定位置に形成された物理的欠陥及びテスト基準ＤＭＡミラーファイルを含んでいるテストディスクに対して検定しつつ再初期化を行ってＤＭＡ情報を生成する処理と、
    前記生成されたＤＭＡ情報からテスト情報を生成する処理と、
    前記テスト情報と基準テスト情報とを比較して前記記録及び再生装置の検証を行う処理と、により検証され、
    前記テスト基準ＤＭＡミラーファイルは、最初の論理セクタが位置すると推測される所に位置した物理的セクタ周辺に集中している欠陥に関する情報を含む
    ことを特徴とする記録及び再生装置。
60. 前記テスト基準ＤＭＡミラーファイルは、誤処理される各領域の最初及び最後のセクタを含み、各領域に利用可能なセクタの総数が１６倍数にならないように設定された欠陥セクタを含むことを特徴とする請求項５９に記載の記録及び再生装置。
61. 前記比較は前記テスト情報を形成するＤＭＡの構造、前記ＤＭＡのＤＤＳ、前記ＤＭＡのＰＤＬ構造及びＳＤＬをチェックすることを含むことを特徴とする請求項５９に記載の記録及び再生装置。
62. 記録及び再生装置において、
    前記記録及び再生装置を使用して所定位置に形成された物理的欠陥及びテスト基準ＤＭＡミラーファイルを含んでいるテストディスクを検定しつつ再初期化を行ってＤＭＡ情報を生成する処理と、
    前記ＤＭＡ情報から生成されたテスト情報と基準テスト情報とを比較して前記記録及び再生装置の検証を行う処理と、により検証され、
    前記テスト基準ＤＭＡミラーファイルは、最初の論理セクタが位置すると推測される所に位置した物理的セクタ周辺に集中している欠陥に関する情報を含む
    ことを特徴とする記録及び再生装置。
63. 前記テスト基準ＤＭＡミラーファイルは、誤処理される各領域の最初及び最後のセクタを含み、各領域に利用可能なセクタの総数が１６倍数にならないように設定された欠陥セクタを含むことを特徴とする請求項６２に記載の記録及び再生装置。
64. 前記比較は前記テスト情報を形成するＤＭＡの構造、前記ＤＭＡのＤＤＳ、前記ＤＭＡのＰＤＬ構造及びＳＤＬをチェックすることを含むことを特徴とする請求項６２に記載の記録及び再生装置。
65. ＤＭＡ情報を正確に生成しているかをチェックするためにＤＭＡ情報を持つ記録可能で再生可能な光ディスクに情報を記録したり前記光ディスクから情報を再生する記録及び再生装置をテストするための装置において、
    前記記録及び再生装置を使用して所定位置に形成された物理的欠陥及びテスト基準ＤＭＡミラーファイルを含んでいるテストディスクに対して検定しつつ再初期化を行う再生装置により生成されたテストディスクのＤＭＡ情報を基礎としてテスト情報を生成し、ＤＭＡ情報を生成する変形されたテスト用ディスク駆動装置と、
    前記テスト情報と基準テスト情報とを比較して前記記録及び再生装置の検証を行う検証器と、を含み、
    前記変形されたテスト用ディスク駆動装置は、ＤＭＡ情報を持つ前記テストディスクからＤＭＡ情報だけを読込み、ＤＭＡミラーファイルを前記テスト情報として生成する
    ことを特徴とする装置。
66. 前記変形されたテスト用ディスク駆動装置は所定位置に物理的欠陥を持っている第１テストディスクに前もって固定されたＤＭＡの内容を記録し、前記第１テストディスクに追加余裕空間が詰まっていないことを示すテスト基準ＤＭＡミラーファイルを記録して第２テストディスクを生成し、
    前記記録及び再生装置は前記第２テストディスクに対して検定しつつ再初期化を行って前記ＤＭＡ情報を持つ第２テストディスクを生成し、
    前記変形されたテスト用ディスク駆動装置は前記ＤＭＡ情報を持つ前記第２テストディスクからＤＭＡ情報だけを読込んで前記テスト情報としてテストＤＭＡミラーファイルを生成し、
    前記基準テスト情報は基準ＤＭＡミラーファイルであることを特徴とする請求項６５に記載の装置。
67. 前記検証器は、前記第２テストディスクのＤＭＡ情報所定のＤＭＡ構造によっているかをチェックし、Ｐリストを維持しているかをチェックし、欠陥リストが前記第１テストディスクの所定位置に形成された欠陥と同じかをチェックし、前記第２テストディスクの各領域の開始論理セクタ番号をチェックすることを特徴とする請求項６６に記載の装置。
68. 前記検証器は、前記テスト情報を形成するＤＭＡの構造、前記ＤＭＡのＤＤＳ、前記ＤＭＡのＰＤＬ構造及びＳＤＬをチェックしつつ前記テスト情報と前記基準テスト情報とを比較することを特徴とする請求項６５に記載の装置。
69. 前記テスト基準ＤＭＡミラーファイルは、最初の論理セクタが位置すると推測される所に位置した物理的セクタ周辺に集中している欠陥に関する情報を含むことを特徴とする請求項６５に記載の装置。
70. 前記テスト基準ＤＭＡミラーファイルは、誤処理される各領域の最初及び最後のセクタを含み、各領域に利用可能なセクタの総数が１６倍数にならないように設定された欠陥セクタを含むことを特徴とする請求項６９に記載の装置。
71. 前記基準テスト情報を前記検証器に提供して前記テスト情報と前記基準テスト情報間を比較させるＤＭＡミラーファイル提供器をさらに含むことを特徴とする請求項５０に記載の装置。
72. 前記記録及び再生装置は前記基準テスト情報を前記検証器に提供して前記ＤＭＡミラーファイルと前記基準ＤＭＡミラーファイル間を比較させるＤＭＡミラーファイル提供器をさらに含むことを特徴とする請求項５９に記載の記録及び再生装置。
73. 前記ＤＤＳの検証は残りの予備領域が所定値を持っているかをチェックすることをさらに含むことを特徴とする請求項１６に記載の方法。
74. 前記ＰＤＬ構造の検証は未使用領域が所定値であるかをチェックすることを含むことを特徴とする請求項１８に記載の方法。

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