JP3545360B2 - Optical pickup device - Google Patents
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Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、集光光学系において発生する球面収差を検出する光ピックアップ装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
一般に、光ディスク装置において記録密度を上げるためには、記録媒体である光ディスクの記録再生に用いられる光の波長をできるだけ短くするか、光ディスクに対して光を収束させる対物レンズの開口数(NA)を大きくする必要がある。
【0003】
ところで、光の波長を短くするには、より波長の短いレーザ光を発生する半導体レーザを開発する必要がある。しかしながら、このような半導体レーザを開発するのは容易ではないことから、記録密度を上げるために、通常、上記した対物レンズの開口数を大きくする方法が採用されている。
【0004】
一方、対物レンズの開口数を大きくするには、レンズの直径を大きくする方法が考えられるが、この場合、装置自体が大きなものとなる等の問題が生じる。そこで、ソリッド・イマージョンレンズを用いて、対物レンズの直径を大きくすることなく、対物レンズの開口数を実効的に向上させる方法が検討されている。
【0005】
例えば、特開平8−212579号公報には、ソリッド・イマージョンレンズを用いた光ピックアップ装置が開示されている。この光ピックアップ装置は、図6に示すように、対物レンズ112により集光された光はプレート113とソリッド・イマージョンレンズ114を介して光磁気ディスク111の基板111bを透過して情報記録層111aに集光され、該光磁気ディスク111を挟んでソリッド・イマージョンレンズ114と反対側に配置された磁気ヘッド115によって情報の記録が行われる。
【0006】
上記対物レンズ112は、周縁部においてホルダ118に保持されると共に、該ホルダ118の両側部に対物レンズ112のフォーカス制御を行うためのフォーカシングアクチュエータ119とトラッキング制御を行うためのトラッキングアクチュエータ120とが設けられている。
【0007】
一方、上記ソリッド・イマージョンレンズ114は、周縁部においてホルダ116に保持されると共に、該ホルダ116の両側部にソリッド・イマージョンレンズ114とプレート113または対物レンズ112との間隔を調整するためのソリッド・イマージョンレンズアクチュエータ117が設けられている。
【0008】
ここで、上記ソリッド・イマージョンレンズ114は、光磁気ディスク111の基板111bとほぼ同じ屈折率を有するガラスでできており、半球面は集光点を中心とする球面となっているので、対物レンズ112で集光された光の開口数は基板111b内において屈折率倍される。具体的に述べると、対物レンズ112の開口数を0.55、ソリッド・イマージョンレンズ114の屈折率を1.5とすると実効的な開口数は0.83となる。
【0009】
このように、ソリッド・イマージョンレンズ114を用いた集光光学系では、実効的な開口数が大きくなるが、その分、光磁気ディスク111の基板111bの厚み誤差や多層構造とした場合の基板111bの厚みの変化により大きな球面収差が発生する。
【0010】
したがって、上記のようにソリッド・イマージョンレンズ114と対物レンズ112とで構成された集光光学系において、球面収差が発生した場合、ソリッド・イマージョンレンズアクチュエータ117を用いて、ソリッド・イマージョンレンズ114とプレート113または対物レンズ112との間隔を調整することにより、球面収差を補正するようになっている。
【0011】
具体的には、ホルダ116とホルダ118とに対向する電極をそれぞれ設け、該電極間の電気容量を測定し、このときの電気容量が所定値となるように、ホルダ116をソリッド・イマージョンレンズアクチュエータ117によってホルダ118に対して移動させて該ホルダ116とホルダ118との間隔を一定に保つことで、上記集光光学系の球面収差を疑似的に補正している。
【0012】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、上述した光ピックアップ装置では、ホルダ116とホルダ118との間の電気容量が所定値になるように、ホルダ116とホルダ118との間隔を一定に保つことで、集光光学系の球面収差を補正するようになっている。
【0013】
したがって、上記光ピックアップ装置では、上記の電気容量を測定することで、集光光学系の球面収差が検出されることになる。
【0014】
しかしながら、ホルダ116とホルダ118との間で測定される電気容量は、10pF足らずの非常に小さな値であるので、光ピックアップ装置内の配線等の浮遊容量により誤差を生じる虞があり、このような場合、集光光学系に生じる球面収差を精度良く検出することができない。
【0015】
このように、集光光学系に生じる球面収差を精度良く検出できなければ、発生した球面収差を適切に補正できず、この結果、光磁気ディスク111の情報記録層111aに対する情報の記録および再生を適切に行うことができないという問題が生じる。
【0016】
本願発明は、上記の問題点に鑑みなされたものであって、その目的は、周囲の電気的なノイズに影響されることなく、集光光学系に生じる球面収差を精度良く検出する光ピックアップ装置を提供すると共に、集光光学系に生じる球面収差を適切に補正することができ、光磁気ディスクに対する情報の記録および再生を適切に行うことのできる光ピックアップ装置を提供することにある。
【0017】
【課題を解決するための手段】
本発明の光ピックアップ装置は、前記課題を解決するために、光源と、前記光源から照射される光ビームを記録媒体に集光させる集光光学系と、前記集光光学系の球面収差を補正する収差補正手段とを備えた光ピックアップ装置であって、前記集光光学系を通過する光ビームの光軸に近い側の第1の領域と、第1の領域よりも外側の第2の領域とが形成されている、光ビームを受光部に導く手段と、前記第1の領域から導かれる第1の光ビームが入射し、第1光検出器と第2光検出器とからなる第1受光部と、前記第2の領域から導かれる第2の光ビームが入射し、第3光検出器と第4光検出器とからなる第2受光部とを有し、記録媒体への情報の記録または再生中に、前記第1光検出器から得られる電気信号と前記第2光検出器から得られる電気信号との差から得られる電気信号、または前記第3光検出器から得られる電気信号と前記第4光検出器から得られる電気信号との差から得られる電気信号のうち、いずれか一方の電気信号に基づいて、前記集光光学系の球面収差を検出する検出手段と、を備えていることを特徴とする。
【0018】
本発明の光ピックアップ装置は、前記構成に加えて、前記記録媒体に情報の記録、または前記記録媒体に記録された情報の再生を行っている間に、前記検出手段が、前記記録媒体の基板の厚みのばらつきにより発生する前記集光光学系の球面収差を検出すると共に、前記収差補正手段が、前記検出手段により検出された球面収差を補正することを特徴とする。
【0019】
本発明の光ピックアップ装置は、前記構成に加えて、前記検出手段は、前記第1光検出器から得られる電気信号と前記第2光検出器から得られる電気信号との差から得られる電気信号、または前記第3光検出器から得られる電気信号と前記第4光検出器から得られる電気信号との差から得られる電気信号のうち、一方の電気信号に基づいて、前記第1の光ビームまたは前記第2光ビームの焦点を検出し、合焦状態では、もう一方の電気信号に基づいて前記集光光学系の球面収差を検出することを特徴とする。
また、本発明の光ピックアップ装置は、前記構成に加えて、前記検出手段は、前記第1光検出器から得られる電気信号と前記第2光検出器から得られる電気信号との差から得られる電気信号に基づいて前記第1の光ビームの焦点を検出すると共に、合焦状態では前記第3光検出器から得られる電気信号と前記第4光検出器から得られる電気信号との差から得られる電気信号に基づいて前記集光光学系の球面収差を検出することを特徴とする。
本発明の光ピックアップ装置は、前記構成に加えて、前記集光光学系は複数のレンズ要素を組み合わせた構造となっており、前記収差補正手段は前記集光光学系の各レンズ要素の間隔を調整することで、前記集光光学系の球面収差を補正することを特徴とする。
【0020】
【発明の実施の形態】
本発明の一実施の形態について図1ないし図5に基づいて説明すれば、以下の通りである。なお、本実施の形態では、集光光学系の球面収差を検出する収差検出装置を備えた光ピックアップ装置を有する光ディスク記録再生装置について説明する。
【0021】
本実施の形態に係る光ディスク記録再生装置は、図2に示すように、記録媒体である光磁気ディスク6を回転駆動するスピンドルモータ9、光磁気ディスク6に記録された情報を再生するための光ピックアップ装置11、上記スピンドルモータ9および光ピックアップ装置11を駆動制御するための駆動制御部12、図示しないが、光磁気ディスク6に情報を記録するための磁気ヘッドを備えている。
【0022】
上記光ピックアップ装置11は、半導体レーザ(光源)1、ホログラム2、コリメートレンズ3、対物レンズ(レンズ要素)4およびソリッド・イマージョンレンズ(レンズ要素)5からなる集光光学系10、および光検出装置(検出手段)7を有している。
【0023】
また、集光光学系10とコリメートレンズ3との間には、集光光学系10からの光ビームあるいはコリメートレンズ3からの光ビームの光路を約90°屈折させるミラー8が配設されている。
【0024】
さらに、上記対物レンズ4は、周縁部においてホルダ13により保持されており、このホルダ13の外周部にはフォーカスアクチュエータ14が設けられている。このフォーカスアクチュエータ14により、対物レンズ4を光軸方向に移動させるようになっている。これにより、フォーカスアクチュエータ14を駆動制御することで、対物レンズ4を適切な位置に移動させてフォーカシング制御を行なうようになっている。
【0025】
また、上記ソリッド・イマージョンレンズ5は、周縁部においてホルダ15に保持されており、このホルダ15の外周部にはソリッド・イマージョンレンズアクチュエータ16が設けられている。このソリッド・イマージョンレンズアクチュエータ16により、ソリッド・イマージョンレンズ5を光軸方向に移動させるようになっている。これにより、ソリッド・イマージョンレンズアクチュエータ16を駆動制御することで、ソリッド・イマージョンレンズ5と対物レンズ4との間隔を調整し、集光光学系10で生じる球面収差を補正するようになっている。
【0026】
上記駆動制御部12は、スピンドルモータ9の駆動制御を行うスピンドルモータ駆動回路17、フォーカスアクチュエータ14の駆動制御を行うフォーカス駆動回路18、ソリッド・イマージョンレンズアクチュエータ16の駆動制御を行うソリッド・イマージョンレンズ駆動回路19、上記のスピンドルモータ駆動回路17、フォーカス駆動回路18、ソリッド・イマージョンレンズ駆動回路19への制御信号を生成するための制御信号生成回路20、光検出装置7から得られた信号から情報を再生し、再生信号を生成するための情報再生回路21からなる。
【0027】
ここで、上記光ピックアップ装置11について図1を参照しながら詳細に説明する。なお、説明の便宜上、図1に示す光ピックアップ装置11では、図2で示したミラー8については省略している。
【0028】
上記光ピックアップ装置11において、ホログラム2、コリメートレンズ3、対物レンズ4およびソリッド・イマージョンレンズ5は、半導体レーザ1の出射面と光磁気ディスク6の反射面との間に形成される光軸OA上に配置され、光検出装置7はホログラム2の回折光の焦点位置近傍に配置されている。
【0029】
したがって、上記光ピックアップ装置11において、半導体レーザ1から出射された光(以下、光ビームと称する)は、ホログラム2で0次回折光として透過し、コリメートレンズ3によって平行光に変換された後、対物レンズ4およびソリッド・イマージョンレンズ5を介して光磁気ディスク6上の所定の位置に集光される。一方、光磁気ディスク6から反射された光ビームは、ソリッド・イマージョンレンズ5、対物レンズ4、コリメートレンズ3を通過してホログラム2に入射され、該ホログラム2にて回折されて光検出装置7上に集光される。
【0030】
上記ホログラム2は、光軸OAに直交する直線CLと該光軸OAを中心とする第1の半円E1とで囲まれた第1の領域2a、上記第1の半円E1と上記直線CLと第1の半円E1よりも半径が大きく、且つ第1の半円E1側の第2の半円E2と上記直線CLとで囲まれた第2の領域2b、上記直線CLに対して第1の半円E1および第2の半円E2とは反対側の第3の半円E3と直線CLとで囲まれた第3の領域2cの3つの領域を有している。
【0031】
上記ホログラム2は、半導体レーザ1側からの出射光を回折せずにそのまま光磁気ディスク6側に透過させ、光磁気ディスク6側からの反射光を回折して光検出装置7に導くようになっている。
【0032】
そして、ホログラム2の各領域は、それぞれの領域を光磁気ディスク6側から通過する光によって各領域に対応する集光スポットが別々に形成されように形成されている。これにより、ホログラム2の3つの領域を光磁気ディスク6側から通過する光は、3箇所の集光スポットを形成するようになる。
【0033】
また、光検出装置7は、5つの光検出器7a〜7eで構成されている。光検出器(第1光検出器)7a・光検出器(第2光検出器)7bを並置して第1受光部を形成し、光検出器(第3光検出器)7c・光検出器(第4光検出器)7dを並置して第2受光部を形成し、光検出器7eは単独で第3受光部を形成している。
【0034】
したがって、上記ホログラム2の各領域で回折された光ビームは、それぞれ光検出装置7の各受光部に導かれる。
【0035】
すなわち、光磁気ディスク6で反射された光ビームの光軸OAに近い側の第1の光ビームとなる第1の領域2aからの光ビームによって、第1受光部を構成する光検出器7aと光検出器7bとの境界線上に集光スポットP1が形成され、第1の光ビームよりも外側の第2の光ビームとなる第2の領域2bからの光ビームによって、第2受光部を構成する光検出器7cと光検出器7dとの境界線上に集光スポットP2が形成され、光磁気ディスク6の情報信号となる第3の領域2cからの光ビームによって、第3受光部を構成する光検出器7eに集光スポットP3が形成されるようになっている。
【0036】
また、上記の光検出器7a〜7eは、いずれも受光した光(光信号)を電気信号に変換するようになっており、変換した電気信号を前述した制御信号生成回路20および情報再生回路21に出力するようになっている。
【0037】
したがって、光検出装置7の第1受光部の光検出器7a・7bには、光磁気ディスク6で反射され、ソリッド・イマージョンレンズ5および対物レンズ4からなる集光光学系10を通過した光ビームのうち、ホログラム2の光軸OAに近い側の第1の領域2aで回折される第1の光ビームが入射されるようになっている。
【0038】
また、光検出装置7の第2受光部の光検出器7c・7dには、光磁気ディスク6で反射され、ソリッド・イマージョンレンズ5および対物レンズ4からなる集光光学系10を通過した光ビームのうち、ホログラム2の上記第1の領域2aよりも外側に形成された第2の領域2bで回折される第2の光ビームが入射されるようになっている。
【0039】
さらに、光検出装置7の第3受光部である光検出器7eには、光磁気ディスク6で反射され、ソリッド・イマージョンレンズ5および対物レンズ4からなる集光光学系10を通過した光ビームが、ホログラム2の第3の領域2cで回折され、入射されるようになっている。
【0040】
上記の各光検出器7a〜7eにおいて、受光された光信号は、それぞれ電気信号S1〜S5に変換される。
【0041】
各光検出器7a〜7eで得られた電気信号は、図2に示す制御信号生成回路20に出力され、集光光学系10における対物レンズ4やソリッド・イマージョンレンズ5の移動調整に使用される。
【0042】
また、上記電気信号は、情報再生回路21に出力され、再生信号に変換される。すなわち、光磁気ディスク6に記録された情報信号(再生信号)RFは、RF=S1+S2+S3+S4+S5で与えられる。
【0043】
ここで、光磁気ディスク6の基板の厚さや、ソリッド・イマージョンレンズ5と対物レンズ4との相対位置等が適切で球面収差が発生していない状態において、該光磁気ディスク6上に正しく焦点が結ばれているとき、つまり、合焦時には、各光検出器7a〜7eに形成される集光スポットP1〜P3の形状は、図3(b)に示すように、それぞれがほぼ同じ大きさの点となる。
【0044】
このとき、ホログラム2にて回折される光ビームのうち、光軸OA側の第1の光ビームが合焦した集光スポットP1は、光検出器7aと7bに対して照射面積が等しくなるように形成される。つまり、光検出器7aから得られる電気信号S1と、光検出器7bから得られる電気信号S2との値が等しいことを示している。
【0045】
ここで、光磁気ディスク6に照射される光ビームの焦点誤差を示す焦点誤差信号FESは、
FES=S1−S2
で表される。
【0046】
したがって、上述のように光検出器7aと7bとで得られる電気信号S1とS2との値が等しいとき、すなわち、合焦時には、焦点誤差信号FESは0となっている。
【0047】
また、光磁気ディスク6に照射される光ビームの焦点がずれた場合、光検出器7a〜7eに形成される集光スポットP1〜P3は半円状に拡がる。例えば光磁気ディスク6が対物レンズ4から遠ざかる方向に移動すると、図3(a)に示すように、集光スポットP1は光検出器7b上に半円状に拡がる。これに対して、光磁気ディスク6が対物レンズ4に近づく方向に移動すると、図3(c)に示すように、集光スポットP1は光検出器7a上に半円状に拡がる。
【0048】
すなわち、光磁気ディスク6が対物レンズ4から遠ざかる方向に移動する場合には、光検出器7bにより変換された電気信号S2の値の方が、光検出器7aにより変換された電気信号S1の値よりも大きくなり、焦点誤差信号FESは負の値を示す。
【0049】
一方、光磁気ディスク6が対物レンズ4に近づく方向に移動する場合には、光検出器7aにより変換された電気信号S1の値の方が、光検出器7bにより変換された電気信号S2の値よりも大きくなり、焦点誤差信号FESは正の値を示す。
【0050】
したがって、上記焦点誤差信号FESを0にするには、対物レンズ4を保持するホルダ13に設けられたフォーカスアクチュエータ14によって、該対物レンズ4を光軸OA方向に移動させることにより行われる。このときのフォーカス駆動回路18によるフォーカスアクチュエータ14の駆動量は、光検出器7aと7bとで得られる電気信号S1とS2とに基づいて、制御信号生成回路20で得られた制御信号によって調整される。
【0051】
一般に、光磁気ディスク6の基板の厚みや、ソリッド・イマージョンレンズ5と対物レンズ4との相対位置等が適切でない場合には、上記構成の光ピックアップ装置の集光光学系10において球面収差が発生する。
【0052】
この球面収差とは、集光光学系の中心部を通過する光ビームの焦点と周辺部を通過する光ビームの焦点とのずれを言う。
【0053】
このように、集光光学系10において球面収差が発生した場合、該集光光学系10において合焦状態、すなわち光検出器7aと7bとの電気信号の差が0である状態であっても、例えば図4(a)や図4(c)に示すように、光検出器7cと7dとの電気信号の差が0でなく、正あるいは負の値をとるようになる。これにより、正あるいは負の球面収差が発生したことが示される。
【0054】
例えば球面収差のない状態、且つ合焦状態では、集光光学系10を構成するソリッド・イマージョンレンズ5および対物レンズ4を通過する全ての光ビームは、図5(b)に示すように、光軸OA上の光磁気ディスク6の一点に集光される。このときの光検出装置7における各光ビームの集光スポットP1〜P3の形状は、図4(b)に示すようになる。
【0055】
これに対して、上記集光光学系10に正あるいは負の球面収差が発生した場合には、上記集光光学系10を通過する光ビームは、図5(a)および図5(c)に示すように、光磁気ディスク6の一点に集光されない。ここでは、光軸OAに近い側の光ビームの焦点位置が光磁気ディスク6上の適切な位置にあることを前提とし、例えば、集光光学系10において正の球面収差が発生した場合、図5(a)に示すように、該集光光学系10の周辺部の光ビームの焦点位置が光軸OAに近い側の光ビームの焦点位置よりもソリッド・イマージョンレンズ5から遠くになる。一方、集光光学系10において負の球面収差が発生した場合、図5(c)に示すように、該集光光学系10の周辺部の光ビームの焦点位置が光軸OAに近い側の光ビームの焦点位置よりもソリッド・イマージョンレンズ5に近くなる。
【0056】
したがって、焦点誤差信号FESが0となるようにフォーカスアクチュエータ14により対物レンズ4が駆動された状態において、光磁気ディスク6の基板の厚みが所定寸法と異なる寸法であるため、例えば正の球面収差が生じたとすると、集光光学系10の周辺部の光ビームは光磁気ディスク6がソリッド・イマージョンレンズ5に近づいたときと同様な変化を示すので光検出器7c・7dの集光スポットP2の形状は、図4(c)に示すように、光検出器7c上に半ドーナッツ状に拡がる。
【0057】
逆に、負の球面収差が生じたとすると、集光光学系10の周辺部の光ビームは光磁気ディスク6がソリッド・イマージョンレンズ5から遠ざかったときと同様な変化を示すので光検出器7c・7dの集光スポットP2の形状は、図4(a)に示すように、光検出器7d上に半ドーナッツ状に拡がる。
【0058】
したがって、焦点誤差信号FESが0で保たれている場合、集光光学系10で発生した球面収差を示す信号である球面収差信号SAは、各光検出器7a〜7eから得られる電気信号S1〜S5を用いて示せば以下のようになる。
【0059】
SA=S3−S4また、焦点誤差信号FESが0で保たれない場合、この焦点誤差信号FESを考慮して、球面収差信号SAは以下のようになる。
【0060】
SA=(S3−S4)−(S1−S2)×K (Kは定数である)
上記の球面収差信号SAは、制御信号生成回路20で生成され、ソリッド・イマージョンレンズ駆動回路19に出力される。
【0061】
したがって、ソリッド・イマージョンレンズ駆動回路19は、上記球面収差信号SAに基づいて、ソリッド・イマージョンレンズ5を保持しているホルダ15の外周部に設けられたソリッド・イマージョンレンズアクチュエータ16を駆動制御して、球面収差を補正するようになっている。
【0062】
つまり、ソリッド・イマージョンレンズ駆動回路19は、球面収差信号SAが正の球面収差を示すとき、ソリッド・イマージョンレンズ5と対物レンズ4との間隔を長くする方向に、ソリッド・イマージョンレンズアクチュエータ16を駆動制御し、逆に球面収差信号SAが負の球面収差を示すとき、ソリッド・イマージョンレンズ5と対物レンズ4との間隔を短くする方向に、ソリッド・イマージョンレンズアクチュエータ16を駆動制御するようになっている。
【0063】
このように、球面収差信号SAに基づいて、集光光学系10で発生する球面収差がなくなるよう補正すれば、情報の再生を行う場合、光磁気ディスク6に記録された情報の再生を良好に行うことができる。また、情報の記録を行う場合、図示しない磁気ヘッドを光磁気ディスク6を挟んで光ピックアップ装置11とは反対側に配置すれば、該光磁気ディスク6への情報の書き込みも良好に行うことができる。
【0064】
また、上記球面収差の補正は、光磁気ディスク6を光記録再生装置に装着した時に行っても良いし、光磁気ディスク6を光記録再生装置に装着した後、情報の記録あるいは再生を行っている間に適宜行っても良い。
【0065】
つまり、例えば、半導体レーザ1によって、光検出装置7による集光光学系10の球面収差検出後の球面収差情報を上記光磁気ディスク6の所定領域に記録するようにする。すなわち、半導体レーザ1は、光検出装置7による集光光学系10の球面収差検出後、光磁気ディスク6の装着時にのみ該光磁気ディスク6の所定領域に球面収差情報を記録する。
【0066】
例えば、光磁気ディスク6の基板厚みのばらつきが一枚のディスク内で一定値以内に抑えられている場合には、光磁気ディスク6の交換時の最初に球面収差検出を行なって、半導体レーザ1によって球面収差情報を光磁気ディスク6の所定の領域に記録し、この球面収差情報に従って、ソリッド・イマージョンレンズ5と対物レンズ4との間隔を調整し、その後はこのレンズ間隔を保つようにすれば良い。この場合、光磁気ディスク6の交換時のみ集光光学系10の球面収差の補正を行なうことになる。また、半導体レーザ1は、光磁気ディスク6の所定領域に球面収差情報を記録する収差情報記録手段の機能を兼ねている。
【0067】
一方、光磁気ディスク6の基板厚みのばらつきが一枚のディスク内で大きなばらつきがある場合には、記録および再生中に常に収差量を検出し、ソリッド・イマージョンレンズ5と対物レンズ4との間隔を変えて球面収差の補正を行う。この場合、光磁気ディスク6の記録および再生時に常に集光光学系10の球面収差の補正を行うことになる。このとき、集光光学系10の球面収差の検出は、光磁気ディスク6に対する情報の記録あるいは再生中に常に行なわれるようになるので、検出した球面収差情報は光磁気ディスク6に記録しないようにする。
【0068】
以上のように、光磁気ディスク6の交換時のみ集光光学系10の球面収差の補正を行う場合には、補正の時間は多少長くかかっても良いので、集光光学系10の対物レンズ4とソリッド・イマージョンレンズ5とのレンズ間隔を調整するソリッド・イマージョンレンズアクチュエータ16は低速動作のものが使用できる。これにより、球面収差の補正が行なえる光ピックアップ装置を安価に製造することができる。
【0069】
一方、光磁気ディスク6の記録再生時に常に集光光学系10の球面収差の補正を行なう場合には、光磁気ディスク6の回転速度に応じた速度で反応する高速のソリッド・イマージョンレンズアクチュエータ16が必要となるが、ディスク厚さの製造公差を大きくとれるので、光磁気ディスク6の製造コストを低減することが可能となる。
【0070】
なお、本実施の形態では、光磁気ディスク6に反射した光ビームを光検出装置7に導くための手段として、ホログラム2を使用したが、これに限定されるものではなく、例えば、ビームスプリッタと半円形あるいは半ドーナッツ形に分割されたウェッジプリズムを組み合わせたものを使用しても良い。しかしながら、装置の小型化を図る点からは、ホログラム2を使用するのが好ましい。
【0071】
また、焦点誤差信号FESを決定するために、集光光学系10を通過した光ビームのうち、光軸OAに近い側の光ビーム(第1の光ビーム)が光検出装置7において合焦するか否かで行なっていたが、これに限定されるものではなく、集光光学系10を通過した光ビームのうち、該集光光学系10の周縁部の光ビーム(第2の光ビーム)が光検出装置7において合焦するか否かで行なっても良い。しかしながら、集光光学系10の周縁部の光ビームである第2光ビームは球面収差の影響を受け易く、焦点位置を精密に調整し難いので、光軸OAに近い側の光ビームである第1の光ビームを用いて焦点誤差を調整することが好ましい。
【0072】
さらに、本実施の形態では、対物レンズ4とソリッド・イマージョンレンズ5とを組み合わせた集光光学系10の球面収差の検出および収差補正について述べたが、本願発明は、これに限定されるものではない。例えば、複数のレンズ要素を組み合わせた集光光学系にも適用可能である。
【0073】
【発明の効果】
本発明によれば、集光光学系に発生する球面収差を光学的に検出することが可能になり、従来のように、集光光学系に発生する球面収差を電気的に検出する装置に比べて、周囲の電気的なノイズに影響されず、精度良く球面収差を検出することができる。
【0074】
このように、集光光学系の球面収差が精度良く検出できれば、該集光光学系の球面収差の補正を適切に行なうことができるという効果を奏する。
【0075】
また、記録媒体に対して情報の記録あるいは再生を適切に行なうことができるという効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の光ピックアップ装置の概略構成図である。
【図2】図1に示す光ピックアップ装置を備えた光ディスク記録再生装置の概略構成図である。
【図3】(a)〜(c)は、図1に示す光ピックアップ装置における光ビームの焦点がずれた場合の光検出器上での集光スポットの形状変化を示す説明図である。
【図4】(a)〜(c)は、図1に示す光ピックアップ装置が有する集光光学系で球面収差が生じた場合の光検出器上での集光スポットの形状変化を示す説明図である。
【図5】(a)〜(c)は、図1に示す光ピックアップ装置が有する集光光学系で発生する球面収差を示す説明図である。
【図6】従来の光ピックアップ装置の概略構成図である。
【符号の説明】
1 半導体レーザ(光源、収差情報記録手段)
2 ホログラム
2a 第1の領域
2b 第2の領域
4 対物レンズ(レンズ要素)
5 ソリッド・イマージョンレンズ(レンズ要素)
6 光磁気ディスク(記録媒体)
7 光検出装置
7a 光検出器(第1光検出器)
7b 光検出器(第2光検出器)
7c 光検出器(第3光検出器)
7d 光検出器(第4光検出器)
10 集光光学系
16 ソリッド・イマージョンレンズアクチュエータ(収差補正手段)
CL 直線
E1 第1の半円
E2 第2の半円
OA 光軸[0001]
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
The present invention relates to an optical pickup device that detects a spherical aberration generated in a condensing optical system.
[0002]
[Prior art]
In general, in order to increase the recording density in an optical disk device, the wavelength of light used for recording and reproduction on an optical disk as a recording medium is shortened as much as possible, or the numerical aperture (NA) of an objective lens for converging light on the optical disk is increased. Need to be bigger.
[0003]
By the way, in order to shorten the wavelength of light, it is necessary to develop a semiconductor laser that generates laser light having a shorter wavelength. However, since it is not easy to develop such a semiconductor laser, the above-mentioned method of increasing the numerical aperture of the objective lens is usually employed to increase the recording density.
[0004]
On the other hand, in order to increase the numerical aperture of the objective lens, a method of increasing the diameter of the lens can be considered. Therefore, a method of using a solid immersion lens to effectively increase the numerical aperture of the objective lens without increasing the diameter of the objective lens has been studied.
[0005]
For example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 8-212579 discloses an optical pickup device using a solid immersion lens. In this optical pickup device, as shown in FIG. 6, the light condensed by the
[0006]
The
[0007]
On the other hand, the
[0008]
Here, the
[0009]
As described above, in the condensing optical system using the
[0010]
Therefore, when spherical aberration occurs in the condensing optical system composed of the
[0011]
Specifically, electrodes opposed to the
[0012]
[Problems to be solved by the invention]
By the way, in the above-described optical pickup device, by keeping the distance between the
[0013]
Therefore, in the optical pickup device, the spherical aberration of the condensing optical system is detected by measuring the capacitance.
[0014]
However, since the electric capacitance measured between the
[0015]
As described above, unless the spherical aberration occurring in the condensing optical system can be accurately detected, the generated spherical aberration cannot be properly corrected. As a result, recording and reproduction of information on and from the
[0016]
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above-described problems, and has as its object to provide an optical pickup device that accurately detects spherical aberration that occurs in a condensing optical system without being affected by surrounding electric noise. while providing, it is possible to properly correct spherical aberration caused on the condensing optical, it is to provide an optical pickup apparatus capable of performing recording and reproduction of information with respect to the magneto-optical disc appropriately.
[0017]
[Means for Solving the Problems]
In order to solve the above problem, an optical pickup device of the present invention includes a light source, a condensing optical system for condensing a light beam emitted from the light source on a recording medium, and correcting a spherical aberration of the condensing optical system. An optical pickup device comprising: a first area closer to an optical axis of a light beam passing through the condensing optical system; and a second area outside the first area. Means for guiding a light beam to a light receiving portion, and a first light beam guided from the first region, the first light beam comprising a first light detector and a second light detector. A light receiving unit, a second light beam guided from the second region, and a second light receiving unit including a third light detector and a fourth light detector; During recording or reproduction, the electric signal obtained from the first photodetector and the electric signal obtained from the second photodetector are obtained. One of an electric signal obtained from a difference between the electric signal and an electric signal obtained from a difference between an electric signal obtained from the third photodetector and an electric signal obtained from the fourth photodetector. Detecting means for detecting spherical aberration of the condensing optical system based on an electric signal .
[0018]
In the optical pickup device of the present invention, in addition to the above-described configuration, while the recording of the information on the recording medium or the reproduction of the information recorded on the recording medium is being performed, the detecting unit may include a substrate of the recording medium. Wherein the spherical aberration of the light-collecting optical system caused by the variation in the thickness of the light-collecting optical system is detected, and the aberration corrector corrects the spherical aberration detected by the detector .
[0019]
In the optical pickup device of the present invention, in addition to the above- described configuration, the detecting unit may detect the electric signal obtained from a difference between an electric signal obtained from the first photodetector and an electric signal obtained from the second photodetector. Or the first light beam based on one of the electric signals obtained from the difference between the electric signal obtained from the third photodetector and the electric signal obtained from the fourth photodetector. Alternatively, the focus of the second light beam is detected, and in a focused state, the spherical aberration of the condensing optical system is detected based on the other electric signal.
Further, in the optical pickup device of the present invention, in addition to the above configuration, the detecting means is obtained from a difference between an electric signal obtained from the first photodetector and an electric signal obtained from the second photodetector. A focus of the first light beam is detected based on the electric signal, and in a focused state, the focus is obtained from a difference between an electric signal obtained from the third light detector and an electric signal obtained from the fourth light detector. Detecting a spherical aberration of the condensing optical system based on the electrical signal obtained.
In the optical pickup device of the present invention, in addition to the above-described configuration, the light-collecting optical system has a structure in which a plurality of lens elements are combined, and the aberration correction unit sets an interval between each lens element of the light-collecting optical system. It is characterized in that the spherical aberration of the condensing optical system is corrected by adjusting.
[0020]
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
An embodiment of the present invention will be described below with reference to FIGS. In the present embodiment, an optical disc recording / reproducing apparatus having an optical pickup device including an aberration detecting device for detecting a spherical aberration of a condensing optical system will be described.
[0021]
As shown in FIG. 2, the optical disk recording / reproducing apparatus according to the present embodiment includes a spindle motor 9 for rotatingly driving a magneto-
[0022]
The
[0023]
In addition, a
[0024]
Further, the
[0025]
The
[0026]
The
[0027]
Here, the
[0028]
In the
[0029]
Accordingly, in the
[0030]
The
[0031]
The
[0032]
Each area of the
[0033]
The
[0034]
Therefore, the light beam diffracted in each area of the
[0035]
That is, a light beam from the
[0036]
Each of the
[0037]
Accordingly, the
[0038]
The
[0039]
Further, a light beam reflected by the magneto-
[0040]
In each of the
[0041]
The electric signals obtained by the
[0042]
The electric signal is output to the
[0043]
Here, when the thickness of the substrate of the magneto-
[0044]
At this time, among the light beams diffracted by the
[0045]
Here, a focus error signal FES indicating a focus error of a light beam applied to the magneto-
FES = S1-S2
It is represented by
[0046]
Therefore, as described above, when the values of the electric signals S1 and S2 obtained by the
[0047]
When the light beam irradiated on the magneto-
[0048]
That is, when the magneto-
[0049]
On the other hand, when the magneto-
[0050]
Therefore, the focus error signal FES is set to 0 by moving the
[0051]
In general, when the thickness of the substrate of the magneto-
[0052]
The spherical aberration refers to a shift between the focal point of the light beam passing through the central portion of the condensing optical system and the focal point of the light beam passing through the peripheral portion.
[0053]
As described above, when spherical aberration occurs in the condensing
[0054]
For example, in a state where there is no spherical aberration and in a focused state, all the light beams passing through the
[0055]
On the other hand, when a positive or negative spherical aberration occurs in the condensing
[0056]
Therefore, in a state where the
[0057]
Conversely, if a negative spherical aberration occurs, the light beam around the condensing
[0058]
Therefore, when the focus error signal FES is maintained at 0, the spherical aberration signal SA, which is a signal indicating the spherical aberration generated in the light-converging
[0059]
SA = S3-S4 If the focus error signal FES is not kept at 0, the spherical aberration signal SA becomes as follows, taking this focus error signal FES into consideration.
[0060]
SA = (S3-S4)-(S1-S2) * K (K is a constant)
The spherical aberration signal SA is generated by the control
[0061]
Therefore, the solid immersion
[0062]
That is, when the spherical aberration signal SA indicates a positive spherical aberration, the solid immersion
[0063]
As described above, when the information is corrected based on the spherical aberration signal SA so that the spherical aberration generated in the condensing
[0064]
The correction of the spherical aberration may be performed when the magneto-
[0065]
That is, for example, the
[0066]
For example, if the variation in the substrate thickness of the magneto-
[0067]
On the other hand, if the variation in the substrate thickness of the magneto-
[0068]
As described above, when the spherical aberration of the condensing
[0069]
On the other hand, when the spherical aberration of the condensing
[0070]
In the present embodiment, the
[0071]
In order to determine the focus error signal FES, the light beam (first light beam) closer to the optical axis OA among the light beams that have passed through the condensing
[0072]
Furthermore, in the present embodiment, detection of spherical aberration and aberration correction of the condensing
[0073]
【The invention's effect】
According to the present invention, it is possible to optically detect the spherical aberration generated in the condensing optical system, compared to a conventional device that electrically detects the spherical aberration generated in the condensing optical system. Thus, the spherical aberration can be accurately detected without being affected by the surrounding electric noise.
[0074]
As described above, if the spherical aberration of the condensing optical system can be detected with high accuracy, there is an effect that the spherical aberration of the condensing optical system can be appropriately corrected.
[0075]
Also, there is an effect that information can be appropriately recorded or reproduced on the recording medium.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a schematic configuration diagram of an optical pickup device of the present invention.
FIG. 2 is a schematic configuration diagram of an optical disk recording / reproducing apparatus including the optical pickup device shown in FIG.
3 (a) to 3 (c) are explanatory views showing changes in the shape of a condensed spot on a photodetector when a light beam is out of focus in the optical pickup device shown in FIG.
4 (a) to 4 (c) are explanatory diagrams showing changes in the shape of a condensed spot on a photodetector when spherical aberration occurs in a condensing optical system of the optical pickup device shown in FIG. It is.
5 (a) to 5 (c) are explanatory diagrams showing spherical aberration generated in a focusing optical system included in the optical pickup device shown in FIG.
FIG. 6 is a schematic configuration diagram of a conventional optical pickup device.
[Explanation of symbols]
1 semiconductor laser (light source, aberration information recording means)
2
5 Solid immersion lens (lens element)
6. Magneto-optical disk (recording medium)
7
7b Photodetector (second photodetector)
7c photodetector (third photodetector)
7d photodetector (4th photodetector)
10 Condensing
CL Straight line E1 First semicircle E2 Second semicircle OA Optical axis
Claims (5)
前記光源から照射される光ビームを記録媒体に集光させる集光光学系と、
前記集光光学系の球面収差を補正する収差補正手段とを備えた光ピックアップ装置であって、
前記集光光学系を通過する光ビームの光軸に近い側の第1の領域と、第1の領域よりも外側の第2の領域とが形成されている、光ビームを受光部に導く手段と、
前記第1の領域から導かれる第1の光ビームが入射し、第1光検出器と第2光検出器とからなる第1受光部と、前記第2の領域から導かれる第2の光ビームが入射し、第3光検出器と第4光検出器とからなる第2受光部とを有し、記録媒体への情報の記録または再生中に、前記第1光検出器から得られる電気信号と前記第2光検出器から得られる電気信号との差から得られる電気信号、または前記第3光検出器から得られる電気信号と前記第4光検出器から得られる電気信号との差から得られる電気信号のうち、いずれか一方の電気信号に基づいて、前記集光光学系の球面収差を検出する検出手段と、
を備えていることを特徴とする光ピックアップ装置。A light source,
A condensing optical system for condensing a light beam emitted from the light source on a recording medium,
An optical pickup device comprising: an aberration correction unit configured to correct spherical aberration of the light-converging optical system,
Means for guiding a light beam to a light receiving portion, wherein a first region near a light axis of a light beam passing through the condensing optical system and a second region outside the first region are formed. When,
A first light beam guided from the first region enters, a first light receiving unit including a first photodetector and a second photodetector, and a second light beam guided from the second region And a second light receiving unit including a third photodetector and a fourth photodetector, and an electric signal obtained from the first photodetector during recording or reproduction of information on a recording medium. And an electric signal obtained from a difference between the electric signal obtained from the second light detector and an electric signal obtained from the difference between an electric signal obtained from the third light detector and the electric signal obtained from the fourth light detector. Detection means for detecting a spherical aberration of the light-collecting optical system based on one of the electric signals,
An optical pickup device comprising:
前記収差補正手段は前記集光光学系の各レンズ要素の間隔を調整することで、前記集光光学系の球面収差を補正することを特徴とする請求項1ないし4のいずれか1項に記載の光ピックアップ装置。The condensing optical system has a structure combining a plurality of lens elements,
The said aberration correction means corrects the spherical aberration of the said condensing optical system by adjusting the space | interval of each lens element of the said condensing optical system, The Claim 1 characterized by the above-mentioned. Optical pickup device.
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