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JP3545360B2 - Optical pickup device - Google Patents

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JP3545360B2
JP3545360B2 JP2001151811A JP2001151811A JP3545360B2 JP 3545360 B2 JP3545360 B2 JP 3545360B2 JP 2001151811 A JP2001151811 A JP 2001151811A JP 2001151811 A JP2001151811 A JP 2001151811A JP 3545360 B2 JP3545360 B2 JP 3545360B2
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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、集光光学系において発生する球面収差を検出する光ピックアップ装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
一般に、光ディスク装置において記録密度を上げるためには、記録媒体である光ディスクの記録再生に用いられる光の波長をできるだけ短くするか、光ディスクに対して光を収束させる対物レンズの開口数(NA)を大きくする必要がある。
【0003】
ところで、光の波長を短くするには、より波長の短いレーザ光を発生する半導体レーザを開発する必要がある。しかしながら、このような半導体レーザを開発するのは容易ではないことから、記録密度を上げるために、通常、上記した対物レンズの開口数を大きくする方法が採用されている。
【0004】
一方、対物レンズの開口数を大きくするには、レンズの直径を大きくする方法が考えられるが、この場合、装置自体が大きなものとなる等の問題が生じる。そこで、ソリッド・イマージョンレンズを用いて、対物レンズの直径を大きくすることなく、対物レンズの開口数を実効的に向上させる方法が検討されている。
【0005】
例えば、特開平8−212579号公報には、ソリッド・イマージョンレンズを用いた光ピックアップ装置が開示されている。この光ピックアップ装置は、図6に示すように、対物レンズ112により集光された光はプレート113とソリッド・イマージョンレンズ114を介して光磁気ディスク111の基板111bを透過して情報記録層111aに集光され、該光磁気ディスク111を挟んでソリッド・イマージョンレンズ114と反対側に配置された磁気ヘッド115によって情報の記録が行われる。
【0006】
上記対物レンズ112は、周縁部においてホルダ118に保持されると共に、該ホルダ118の両側部に対物レンズ112のフォーカス制御を行うためのフォーカシングアクチュエータ119とトラッキング制御を行うためのトラッキングアクチュエータ120とが設けられている。
【0007】
一方、上記ソリッド・イマージョンレンズ114は、周縁部においてホルダ116に保持されると共に、該ホルダ116の両側部にソリッド・イマージョンレンズ114とプレート113または対物レンズ112との間隔を調整するためのソリッド・イマージョンレンズアクチュエータ117が設けられている。
【0008】
ここで、上記ソリッド・イマージョンレンズ114は、光磁気ディスク111の基板111bとほぼ同じ屈折率を有するガラスでできており、半球面は集光点を中心とする球面となっているので、対物レンズ112で集光された光の開口数は基板111b内において屈折率倍される。具体的に述べると、対物レンズ112の開口数を0.55、ソリッド・イマージョンレンズ114の屈折率を1.5とすると実効的な開口数は0.83となる。
【0009】
このように、ソリッド・イマージョンレンズ114を用いた集光光学系では、実効的な開口数が大きくなるが、その分、光磁気ディスク111の基板111bの厚み誤差や多層構造とした場合の基板111bの厚みの変化により大きな球面収差が発生する。
【0010】
したがって、上記のようにソリッド・イマージョンレンズ114と対物レンズ112とで構成された集光光学系において、球面収差が発生した場合、ソリッド・イマージョンレンズアクチュエータ117を用いて、ソリッド・イマージョンレンズ114とプレート113または対物レンズ112との間隔を調整することにより、球面収差を補正するようになっている。
【0011】
具体的には、ホルダ116とホルダ118とに対向する電極をそれぞれ設け、該電極間の電気容量を測定し、このときの電気容量が所定値となるように、ホルダ116をソリッド・イマージョンレンズアクチュエータ117によってホルダ118に対して移動させて該ホルダ116とホルダ118との間隔を一定に保つことで、上記集光光学系の球面収差を疑似的に補正している。
【0012】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、上述した光ピックアップ装置では、ホルダ116とホルダ118との間の電気容量が所定値になるように、ホルダ116とホルダ118との間隔を一定に保つことで、集光光学系の球面収差を補正するようになっている。
【0013】
したがって、上記光ピックアップ装置では、上記の電気容量を測定することで、集光光学系の球面収差が検出されることになる。
【0014】
しかしながら、ホルダ116とホルダ118との間で測定される電気容量は、10pF足らずの非常に小さな値であるので、光ピックアップ装置内の配線等の浮遊容量により誤差を生じる虞があり、このような場合、集光光学系に生じる球面収差を精度良く検出することができない。
【0015】
このように、集光光学系に生じる球面収差を精度良く検出できなければ、発生した球面収差を適切に補正できず、この結果、光磁気ディスク111の情報記録層111aに対する情報の記録および再生を適切に行うことができないという問題が生じる。
【0016】
本願発明は、上記の問題点に鑑みなされたものであって、その目的は、周囲の電気的なノイズに影響されることなく、集光光学系に生じる球面収差を精度良く検出する光ピックアップ装置を提供すると共に集光光学系に生じる球面収差を適切に補正することができ、光磁気ディスクに対する情報の記録および再生を適切に行うことのできる光ピックアップ装置を提供することにある。
【0017】
【課題を解決するための手段】
本発明の光ピックアップ装置は、前記課題を解決するために、光源と、前記光源から照射される光ビームを記録媒体に集光させる集光光学系と、前記集光光学系の球面収差を補正する収差補正手段とを備えた光ピックアップ装置であって、前記集光光学系を通過する光ビームの光軸に近い側の第1の領域と、第1の領域よりも外側の第2の領域とが形成されている、光ビームを受光部に導く手段と、前記第1の領域から導かれる第1の光ビームが入射し、第1光検出器と第2光検出器とからなる第1受光部と、前記第2の領域から導かれる第2の光ビームが入射し、第3光検出器と第4光検出器とからなる第2受光部とを有し、記録媒体への情報の記録または再生中に、前記第1光検出器から得られる電気信号と前記第2光検出器から得られる電気信号との差から得られる電気信号、または前記第3光検出器から得られる電気信号と前記第4光検出器から得られる電気信号との差から得られる電気信号のうち、いずれか一方の電気信号に基づいて、前記集光光学系の球面収差を検出する検出手段と、を備えていることを特徴とする。
【0018】
本発明の光ピックアップ装置は、前記構成に加えて、前記記録媒体に情報の記録、または前記記録媒体に記録された情報の再生を行っている間に、前記検出手段が、前記記録媒体の基板の厚みのばらつきにより発生する前記集光光学系の球面収差を検出すると共に、前記収差補正手段が、前記検出手段により検出された球面収差を補正することを特徴とする。
【0019】
本発明の光ピックアップ装置は、前記構成に加えて、前記検出手段は、前記第1光検出器から得られる電気信号と前記第2光検出器から得られる電気信号との差から得られる電気信号、または前記第3光検出器から得られる電気信号と前記第4光検出器から得られる電気信号との差から得られる電気信号のうち、一方の電気信号に基づいて、前記第1の光ビームまたは前記第2光ビームの焦点を検出し、合焦状態では、もう一方の電気信号に基づいて前記集光光学系の球面収差を検出することを特徴とする。
また、本発明の光ピックアップ装置は、前記構成に加えて、前記検出手段は、前記第1光検出器から得られる電気信号と前記第2光検出器から得られる電気信号との差から得られる電気信号に基づいて前記第1の光ビームの焦点を検出すると共に、合焦状態では前記第3光検出器から得られる電気信号と前記第4光検出器から得られる電気信号との差から得られる電気信号に基づいて前記集光光学系の球面収差を検出することを特徴とする。
本発明の光ピックアップ装置は、前記構成に加えて、前記集光光学系は複数のレンズ要素を組み合わせた構造となっており、前記収差補正手段は前記集光光学系の各レンズ要素の間隔を調整することで、前記集光光学系の球面収差を補正することを特徴とする。
【0020】
【発明の実施の形態】
本発明の一実施の形態について図1ないし図5に基づいて説明すれば、以下の通りである。なお、本実施の形態では、集光光学系の球面収差を検出する収差検出装置を備えた光ピックアップ装置を有する光ディスク記録再生装置について説明する。
【0021】
本実施の形態に係る光ディスク記録再生装置は、図2に示すように、記録媒体である光磁気ディスク6を回転駆動するスピンドルモータ9、光磁気ディスク6に記録された情報を再生するための光ピックアップ装置11、上記スピンドルモータ9および光ピックアップ装置11を駆動制御するための駆動制御部12、図示しないが、光磁気ディスク6に情報を記録するための磁気ヘッドを備えている。
【0022】
上記光ピックアップ装置11は、半導体レーザ(光源)1、ホログラム2、コリメートレンズ3、対物レンズ(レンズ要素)4およびソリッド・イマージョンレンズ(レンズ要素)5からなる集光光学系10、および光検出装置(検出手段)7を有している。
【0023】
また、集光光学系10とコリメートレンズ3との間には、集光光学系10からの光ビームあるいはコリメートレンズ3からの光ビームの光路を約90°屈折させるミラー8が配設されている。
【0024】
さらに、上記対物レンズ4は、周縁部においてホルダ13により保持されており、このホルダ13の外周部にはフォーカスアクチュエータ14が設けられている。このフォーカスアクチュエータ14により、対物レンズ4を光軸方向に移動させるようになっている。これにより、フォーカスアクチュエータ14を駆動制御することで、対物レンズ4を適切な位置に移動させてフォーカシング制御を行なうようになっている。
【0025】
また、上記ソリッド・イマージョンレンズ5は、周縁部においてホルダ15に保持されており、このホルダ15の外周部にはソリッド・イマージョンレンズアクチュエータ16が設けられている。このソリッド・イマージョンレンズアクチュエータ16により、ソリッド・イマージョンレンズ5を光軸方向に移動させるようになっている。これにより、ソリッド・イマージョンレンズアクチュエータ16を駆動制御することで、ソリッド・イマージョンレンズ5と対物レンズ4との間隔を調整し、集光光学系10で生じる球面収差を補正するようになっている。
【0026】
上記駆動制御部12は、スピンドルモータ9の駆動制御を行うスピンドルモータ駆動回路17、フォーカスアクチュエータ14の駆動制御を行うフォーカス駆動回路18、ソリッド・イマージョンレンズアクチュエータ16の駆動制御を行うソリッド・イマージョンレンズ駆動回路19、上記のスピンドルモータ駆動回路17、フォーカス駆動回路18、ソリッド・イマージョンレンズ駆動回路19への制御信号を生成するための制御信号生成回路20、光検出装置7から得られた信号から情報を再生し、再生信号を生成するための情報再生回路21からなる。
【0027】
ここで、上記光ピックアップ装置11について図1を参照しながら詳細に説明する。なお、説明の便宜上、図1に示す光ピックアップ装置11では、図2で示したミラー8については省略している。
【0028】
上記光ピックアップ装置11において、ホログラム2、コリメートレンズ3、対物レンズ4およびソリッド・イマージョンレンズ5は、半導体レーザ1の出射面と光磁気ディスク6の反射面との間に形成される光軸OA上に配置され、光検出装置7はホログラム2の回折光の焦点位置近傍に配置されている。
【0029】
したがって、上記光ピックアップ装置11において、半導体レーザ1から出射された光(以下、光ビームと称する)は、ホログラム2で0次回折光として透過し、コリメートレンズ3によって平行光に変換された後、対物レンズ4およびソリッド・イマージョンレンズ5を介して光磁気ディスク6上の所定の位置に集光される。一方、光磁気ディスク6から反射された光ビームは、ソリッド・イマージョンレンズ5、対物レンズ4、コリメートレンズ3を通過してホログラム2に入射され、該ホログラム2にて回折されて光検出装置7上に集光される。
【0030】
上記ホログラム2は、光軸OAに直交する直線CLと該光軸OAを中心とする第1の半円E1とで囲まれた第1の領域2a、上記第1の半円E1と上記直線CLと第1の半円E1よりも半径が大きく、且つ第1の半円E1側の第2の半円E2と上記直線CLとで囲まれた第2の領域2b、上記直線CLに対して第1の半円E1および第2の半円E2とは反対側の第3の半円E3と直線CLとで囲まれた第3の領域2cの3つの領域を有している。
【0031】
上記ホログラム2は、半導体レーザ1側からの出射光を回折せずにそのまま光磁気ディスク6側に透過させ、光磁気ディスク6側からの反射光を回折して光検出装置7に導くようになっている。
【0032】
そして、ホログラム2の各領域は、それぞれの領域を光磁気ディスク6側から通過する光によって各領域に対応する集光スポットが別々に形成されように形成されている。これにより、ホログラム2の3つの領域を光磁気ディスク6側から通過する光は、3箇所の集光スポットを形成するようになる。
【0033】
また、光検出装置7は、5つの光検出器7a〜7eで構成されている。光検出器(第1光検出器)7a・光検出器(第2光検出器)7bを並置して第1受光部を形成し、光検出器(第3光検出器)7c・光検出器(第4光検出器)7dを並置して第2受光部を形成し、光検出器7eは単独で第3受光部を形成している。
【0034】
したがって、上記ホログラム2の各領域で回折された光ビームは、それぞれ光検出装置7の各受光部に導かれる。
【0035】
すなわち、光磁気ディスク6で反射された光ビームの光軸OAに近い側の第1の光ビームとなる第1の領域2aからの光ビームによって、第1受光部を構成する光検出器7aと光検出器7bとの境界線上に集光スポットP1が形成され、第1の光ビームよりも外側の第2の光ビームとなる第2の領域2bからの光ビームによって、第2受光部を構成する光検出器7cと光検出器7dとの境界線上に集光スポットP2が形成され、光磁気ディスク6の情報信号となる第3の領域2cからの光ビームによって、第3受光部を構成する光検出器7eに集光スポットP3が形成されるようになっている。
【0036】
また、上記の光検出器7a〜7eは、いずれも受光した光(光信号)を電気信号に変換するようになっており、変換した電気信号を前述した制御信号生成回路20および情報再生回路21に出力するようになっている。
【0037】
したがって、光検出装置7の第1受光部の光検出器7a・7bには、光磁気ディスク6で反射され、ソリッド・イマージョンレンズ5および対物レンズ4からなる集光光学系10を通過した光ビームのうち、ホログラム2の光軸OAに近い側の第1の領域2aで回折される第1の光ビームが入射されるようになっている。
【0038】
また、光検出装置7の第2受光部の光検出器7c・7dには、光磁気ディスク6で反射され、ソリッド・イマージョンレンズ5および対物レンズ4からなる集光光学系10を通過した光ビームのうち、ホログラム2の上記第1の領域2aよりも外側に形成された第2の領域2bで回折される第2の光ビームが入射されるようになっている。
【0039】
さらに、光検出装置7の第3受光部である光検出器7eには、光磁気ディスク6で反射され、ソリッド・イマージョンレンズ5および対物レンズ4からなる集光光学系10を通過した光ビームが、ホログラム2の第3の領域2cで回折され、入射されるようになっている。
【0040】
上記の各光検出器7a〜7eにおいて、受光された光信号は、それぞれ電気信号S1〜S5に変換される。
【0041】
各光検出器7a〜7eで得られた電気信号は、図2に示す制御信号生成回路20に出力され、集光光学系10における対物レンズ4やソリッド・イマージョンレンズ5の移動調整に使用される。
【0042】
また、上記電気信号は、情報再生回路21に出力され、再生信号に変換される。すなわち、光磁気ディスク6に記録された情報信号(再生信号)RFは、RF=S1+S2+S3+S4+S5で与えられる。
【0043】
ここで、光磁気ディスク6の基板の厚さや、ソリッド・イマージョンレンズ5と対物レンズ4との相対位置等が適切で球面収差が発生していない状態において、該光磁気ディスク6上に正しく焦点が結ばれているとき、つまり、合焦時には、各光検出器7a〜7eに形成される集光スポットP1〜P3の形状は、図3(b)に示すように、それぞれがほぼ同じ大きさの点となる。
【0044】
このとき、ホログラム2にて回折される光ビームのうち、光軸OA側の第1の光ビームが合焦した集光スポットP1は、光検出器7aと7bに対して照射面積が等しくなるように形成される。つまり、光検出器7aから得られる電気信号S1と、光検出器7bから得られる電気信号S2との値が等しいことを示している。
【0045】
ここで、光磁気ディスク6に照射される光ビームの焦点誤差を示す焦点誤差信号FESは、
FES=S1−S2
で表される。
【0046】
したがって、上述のように光検出器7aと7bとで得られる電気信号S1とS2との値が等しいとき、すなわち、合焦時には、焦点誤差信号FESは0となっている。
【0047】
また、光磁気ディスク6に照射される光ビームの焦点がずれた場合、光検出器7a〜7eに形成される集光スポットP1〜P3は半円状に拡がる。例えば光磁気ディスク6が対物レンズ4から遠ざかる方向に移動すると、図3(a)に示すように、集光スポットP1は光検出器7b上に半円状に拡がる。これに対して、光磁気ディスク6が対物レンズ4に近づく方向に移動すると、図3(c)に示すように、集光スポットP1は光検出器7a上に半円状に拡がる。
【0048】
すなわち、光磁気ディスク6が対物レンズ4から遠ざかる方向に移動する場合には、光検出器7bにより変換された電気信号S2の値の方が、光検出器7aにより変換された電気信号S1の値よりも大きくなり、焦点誤差信号FESは負の値を示す。
【0049】
一方、光磁気ディスク6が対物レンズ4に近づく方向に移動する場合には、光検出器7aにより変換された電気信号S1の値の方が、光検出器7bにより変換された電気信号S2の値よりも大きくなり、焦点誤差信号FESは正の値を示す。
【0050】
したがって、上記焦点誤差信号FESを0にするには、対物レンズ4を保持するホルダ13に設けられたフォーカスアクチュエータ14によって、該対物レンズ4を光軸OA方向に移動させることにより行われる。このときのフォーカス駆動回路18によるフォーカスアクチュエータ14の駆動量は、光検出器7aと7bとで得られる電気信号S1とS2とに基づいて、制御信号生成回路20で得られた制御信号によって調整される。
【0051】
一般に、光磁気ディスク6の基板の厚みや、ソリッド・イマージョンレンズ5と対物レンズ4との相対位置等が適切でない場合には、上記構成の光ピックアップ装置の集光光学系10において球面収差が発生する。
【0052】
この球面収差とは、集光光学系の中心部を通過する光ビームの焦点と周辺部を通過する光ビームの焦点とのずれを言う。
【0053】
このように、集光光学系10において球面収差が発生した場合、該集光光学系10において合焦状態、すなわち光検出器7aと7bとの電気信号の差が0である状態であっても、例えば図4(a)や図4(c)に示すように、光検出器7cと7dとの電気信号の差が0でなく、正あるいは負の値をとるようになる。これにより、正あるいは負の球面収差が発生したことが示される。
【0054】
例えば球面収差のない状態、且つ合焦状態では、集光光学系10を構成するソリッド・イマージョンレンズ5および対物レンズ4を通過する全ての光ビームは、図5(b)に示すように、光軸OA上の光磁気ディスク6の一点に集光される。このときの光検出装置7における各光ビームの集光スポットP1〜P3の形状は、図4(b)に示すようになる。
【0055】
これに対して、上記集光光学系10に正あるいは負の球面収差が発生した場合には、上記集光光学系10を通過する光ビームは、図5(a)および図5(c)に示すように、光磁気ディスク6の一点に集光されない。ここでは、光軸OAに近い側の光ビームの焦点位置が光磁気ディスク6上の適切な位置にあることを前提とし、例えば、集光光学系10において正の球面収差が発生した場合、図5(a)に示すように、該集光光学系10の周辺部の光ビームの焦点位置が光軸OAに近い側の光ビームの焦点位置よりもソリッド・イマージョンレンズ5から遠くになる。一方、集光光学系10において負の球面収差が発生した場合、図5(c)に示すように、該集光光学系10の周辺部の光ビームの焦点位置が光軸OAに近い側の光ビームの焦点位置よりもソリッド・イマージョンレンズ5に近くなる。
【0056】
したがって、焦点誤差信号FESが0となるようにフォーカスアクチュエータ14により対物レンズ4が駆動された状態において、光磁気ディスク6の基板の厚みが所定寸法と異なる寸法であるため、例えば正の球面収差が生じたとすると、集光光学系10の周辺部の光ビームは光磁気ディスク6がソリッド・イマージョンレンズ5に近づいたときと同様な変化を示すので光検出器7c・7dの集光スポットP2の形状は、図4(c)に示すように、光検出器7c上に半ドーナッツ状に拡がる。
【0057】
逆に、負の球面収差が生じたとすると、集光光学系10の周辺部の光ビームは光磁気ディスク6がソリッド・イマージョンレンズ5から遠ざかったときと同様な変化を示すので光検出器7c・7dの集光スポットP2の形状は、図4(a)に示すように、光検出器7d上に半ドーナッツ状に拡がる。
【0058】
したがって、焦点誤差信号FESが0で保たれている場合、集光光学系10で発生した球面収差を示す信号である球面収差信号SAは、各光検出器7a〜7eから得られる電気信号S1〜S5を用いて示せば以下のようになる。
【0059】
SA=S3−S4また、焦点誤差信号FESが0で保たれない場合、この焦点誤差信号FESを考慮して、球面収差信号SAは以下のようになる。
【0060】
SA=(S3−S4)−(S1−S2)×K (Kは定数である)
上記の球面収差信号SAは、制御信号生成回路20で生成され、ソリッド・イマージョンレンズ駆動回路19に出力される。
【0061】
したがって、ソリッド・イマージョンレンズ駆動回路19は、上記球面収差信号SAに基づいて、ソリッド・イマージョンレンズ5を保持しているホルダ15の外周部に設けられたソリッド・イマージョンレンズアクチュエータ16を駆動制御して、球面収差を補正するようになっている。
【0062】
つまり、ソリッド・イマージョンレンズ駆動回路19は、球面収差信号SAが正の球面収差を示すとき、ソリッド・イマージョンレンズ5と対物レンズ4との間隔を長くする方向に、ソリッド・イマージョンレンズアクチュエータ16を駆動制御し、逆に球面収差信号SAが負の球面収差を示すとき、ソリッド・イマージョンレンズ5と対物レンズ4との間隔を短くする方向に、ソリッド・イマージョンレンズアクチュエータ16を駆動制御するようになっている。
【0063】
このように、球面収差信号SAに基づいて、集光光学系10で発生する球面収差がなくなるよう補正すれば、情報の再生を行う場合、光磁気ディスク6に記録された情報の再生を良好に行うことができる。また、情報の記録を行う場合、図示しない磁気ヘッドを光磁気ディスク6を挟んで光ピックアップ装置11とは反対側に配置すれば、該光磁気ディスク6への情報の書き込みも良好に行うことができる。
【0064】
また、上記球面収差の補正は、光磁気ディスク6を光記録再生装置に装着した時に行っても良いし、光磁気ディスク6を光記録再生装置に装着した後、情報の記録あるいは再生を行っている間に適宜行っても良い。
【0065】
つまり、例えば、半導体レーザ1によって、光検出装置7による集光光学系10の球面収差検出後の球面収差情報を上記光磁気ディスク6の所定領域に記録するようにする。すなわち、半導体レーザ1は、光検出装置7による集光光学系10の球面収差検出後、光磁気ディスク6の装着時にのみ該光磁気ディスク6の所定領域に球面収差情報を記録する。
【0066】
例えば、光磁気ディスク6の基板厚みのばらつきが一枚のディスク内で一定値以内に抑えられている場合には、光磁気ディスク6の交換時の最初に球面収差検出を行なって、半導体レーザ1によって球面収差情報を光磁気ディスク6の所定の領域に記録し、この球面収差情報に従って、ソリッド・イマージョンレンズ5と対物レンズ4との間隔を調整し、その後はこのレンズ間隔を保つようにすれば良い。この場合、光磁気ディスク6の交換時のみ集光光学系10の球面収差の補正を行なうことになる。また、半導体レーザ1は、光磁気ディスク6の所定領域に球面収差情報を記録する収差情報記録手段の機能を兼ねている。
【0067】
一方、光磁気ディスク6の基板厚みのばらつきが一枚のディスク内で大きなばらつきがある場合には、記録および再生中に常に収差量を検出し、ソリッド・イマージョンレンズ5と対物レンズ4との間隔を変えて球面収差の補正を行う。この場合、光磁気ディスク6の記録および再生時に常に集光光学系10の球面収差の補正を行うことになる。このとき、集光光学系10の球面収差の検出は、光磁気ディスク6に対する情報の記録あるいは再生中に常に行なわれるようになるので、検出した球面収差情報は光磁気ディスク6に記録しないようにする。
【0068】
以上のように、光磁気ディスク6の交換時のみ集光光学系10の球面収差の補正を行う場合には、補正の時間は多少長くかかっても良いので、集光光学系10の対物レンズ4とソリッド・イマージョンレンズ5とのレンズ間隔を調整するソリッド・イマージョンレンズアクチュエータ16は低速動作のものが使用できる。これにより、球面収差の補正が行なえる光ピックアップ装置を安価に製造することができる。
【0069】
一方、光磁気ディスク6の記録再生時に常に集光光学系10の球面収差の補正を行なう場合には、光磁気ディスク6の回転速度に応じた速度で反応する高速のソリッド・イマージョンレンズアクチュエータ16が必要となるが、ディスク厚さの製造公差を大きくとれるので、光磁気ディスク6の製造コストを低減することが可能となる。
【0070】
なお、本実施の形態では、光磁気ディスク6に反射した光ビームを光検出装置7に導くための手段として、ホログラム2を使用したが、これに限定されるものではなく、例えば、ビームスプリッタと半円形あるいは半ドーナッツ形に分割されたウェッジプリズムを組み合わせたものを使用しても良い。しかしながら、装置の小型化を図る点からは、ホログラム2を使用するのが好ましい。
【0071】
また、焦点誤差信号FESを決定するために、集光光学系10を通過した光ビームのうち、光軸OAに近い側の光ビーム(第1の光ビーム)が光検出装置7において合焦するか否かで行なっていたが、これに限定されるものではなく、集光光学系10を通過した光ビームのうち、該集光光学系10の周縁部の光ビーム(第2の光ビーム)が光検出装置7において合焦するか否かで行なっても良い。しかしながら、集光光学系10の周縁部の光ビームである第2光ビームは球面収差の影響を受け易く、焦点位置を精密に調整し難いので、光軸OAに近い側の光ビームである第1の光ビームを用いて焦点誤差を調整することが好ましい。
【0072】
さらに、本実施の形態では、対物レンズ4とソリッド・イマージョンレンズ5とを組み合わせた集光光学系10の球面収差の検出および収差補正について述べたが、本願発明は、これに限定されるものではない。例えば、複数のレンズ要素を組み合わせた集光光学系にも適用可能である。
【0073】
【発明の効果】
本発明によれば、集光光学系に発生する球面収差を光学的に検出することが可能になり、従来のように、集光光学系に発生する球面収差を電気的に検出する装置に比べて、周囲の電気的なノイズに影響されず、精度良く球面収差を検出することができる。
【0074】
このように、集光光学系の球面収差が精度良く検出できれば、該集光光学系の球面収差の補正を適切に行なうことができるという効果を奏する。
【0075】
また、記録媒体に対して情報の記録あるいは再生を適切に行なうことができるという効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の光ピックアップ装置の概略構成図である。
【図2】図1に示す光ピックアップ装置を備えた光ディスク記録再生装置の概略構成図である。
【図3】(a)〜(c)は、図1に示す光ピックアップ装置における光ビームの焦点がずれた場合の光検出器上での集光スポットの形状変化を示す説明図である。
【図4】(a)〜(c)は、図1に示す光ピックアップ装置が有する集光光学系で球面収差が生じた場合の光検出器上での集光スポットの形状変化を示す説明図である。
【図5】(a)〜(c)は、図1に示す光ピックアップ装置が有する集光光学系で発生する球面収差を示す説明図である。
【図6】従来の光ピックアップ装置の概略構成図である。
【符号の説明】
1 半導体レーザ(光源、収差情報記録手段)
2 ホログラム
2a 第1の領域
2b 第2の領域
4 対物レンズ(レンズ要素)
5 ソリッド・イマージョンレンズ(レンズ要素)
6 光磁気ディスク(記録媒体)
7 光検出装置
7a 光検出器(第1光検出器)
7b 光検出器(第2光検出器)
7c 光検出器(第3光検出器)
7d 光検出器(第4光検出器)
10 集光光学系
16 ソリッド・イマージョンレンズアクチュエータ(収差補正手段)
CL 直線
E1 第1の半円
E2 第2の半円
OA 光軸
[0001]
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
The present invention relates to an optical pickup device that detects a spherical aberration generated in a condensing optical system.
[0002]
[Prior art]
In general, in order to increase the recording density in an optical disk device, the wavelength of light used for recording and reproduction on an optical disk as a recording medium is shortened as much as possible, or the numerical aperture (NA) of an objective lens for converging light on the optical disk is increased. Need to be bigger.
[0003]
By the way, in order to shorten the wavelength of light, it is necessary to develop a semiconductor laser that generates laser light having a shorter wavelength. However, since it is not easy to develop such a semiconductor laser, the above-mentioned method of increasing the numerical aperture of the objective lens is usually employed to increase the recording density.
[0004]
On the other hand, in order to increase the numerical aperture of the objective lens, a method of increasing the diameter of the lens can be considered. Therefore, a method of using a solid immersion lens to effectively increase the numerical aperture of the objective lens without increasing the diameter of the objective lens has been studied.
[0005]
For example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 8-212579 discloses an optical pickup device using a solid immersion lens. In this optical pickup device, as shown in FIG. 6, the light condensed by the objective lens 112 passes through the plate 113 and the solid immersion lens 114, passes through the substrate 111b of the magneto-optical disk 111, and enters the information recording layer 111a. The light is condensed and information is recorded by a magnetic head 115 disposed on the opposite side of the solid immersion lens 114 with the magneto-optical disk 111 interposed therebetween.
[0006]
The objective lens 112 is held by a holder 118 at a peripheral portion, and a focusing actuator 119 for performing focus control of the objective lens 112 and a tracking actuator 120 for performing tracking control are provided on both sides of the holder 118. Has been.
[0007]
On the other hand, the solid immersion lens 114 is held by a holder 116 at the peripheral edge, and a solid lens for adjusting the distance between the solid immersion lens 114 and the plate 113 or the objective lens 112 is provided on both sides of the holder 116. An immersion lens actuator 117 is provided.
[0008]
Here, the solid immersion lens 114 is made of glass having substantially the same refractive index as the substrate 111b of the magneto-optical disk 111, and the hemispherical surface is a spherical surface centered on the condensing point. The numerical aperture of the light condensed at 112 is multiplied by the refractive index in the substrate 111b. More specifically, if the numerical aperture of the objective lens 112 is 0.55 and the refractive index of the solid immersion lens 114 is 1.5, the effective numerical aperture is 0.83.
[0009]
As described above, in the condensing optical system using the solid immersion lens 114, the effective numerical aperture becomes large, but the thickness error of the substrate 111b of the magneto-optical disk 111 and the A large spherical aberration occurs due to a change in the thickness of the thin film.
[0010]
Therefore, when spherical aberration occurs in the condensing optical system composed of the solid immersion lens 114 and the objective lens 112 as described above, the solid immersion lens 114 and the plate are used by using the solid immersion lens actuator 117. The spherical aberration is corrected by adjusting the distance between the lens 113 and the objective lens 112.
[0011]
Specifically, electrodes opposed to the holder 116 and the holder 118 are provided, and the electric capacitance between the electrodes is measured. The holder 116 is moved to a solid immersion lens actuator so that the electric capacitance at this time becomes a predetermined value. By moving the holder 116 and the holder 118 at a constant distance by moving the holder 118 with respect to the holder 118, the spherical aberration of the condensing optical system is corrected in a pseudo manner.
[0012]
[Problems to be solved by the invention]
By the way, in the above-described optical pickup device, by keeping the distance between the holder 116 and the holder 118 constant so that the electric capacitance between the holder 116 and the holder 118 becomes a predetermined value, the spherical aberration of the condensing optical system is reduced. Is corrected.
[0013]
Therefore, in the optical pickup device, the spherical aberration of the condensing optical system is detected by measuring the capacitance.
[0014]
However, since the electric capacitance measured between the holder 116 and the holder 118 is a very small value of less than 10 pF, an error may occur due to a stray capacitance of a wiring or the like in the optical pickup device. In this case, it is not possible to accurately detect spherical aberration occurring in the light collecting optical system.
[0015]
As described above, unless the spherical aberration occurring in the condensing optical system can be accurately detected, the generated spherical aberration cannot be properly corrected. As a result, recording and reproduction of information on and from the information recording layer 111a of the magneto-optical disk 111 cannot be performed. A problem arises that it cannot be performed properly.
[0016]
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above-described problems, and has as its object to provide an optical pickup device that accurately detects spherical aberration that occurs in a condensing optical system without being affected by surrounding electric noise. while providing, it is possible to properly correct spherical aberration caused on the condensing optical, it is to provide an optical pickup apparatus capable of performing recording and reproduction of information with respect to the magneto-optical disc appropriately.
[0017]
[Means for Solving the Problems]
In order to solve the above problem, an optical pickup device of the present invention includes a light source, a condensing optical system for condensing a light beam emitted from the light source on a recording medium, and correcting a spherical aberration of the condensing optical system. An optical pickup device comprising: a first area closer to an optical axis of a light beam passing through the condensing optical system; and a second area outside the first area. Means for guiding a light beam to a light receiving portion, and a first light beam guided from the first region, the first light beam comprising a first light detector and a second light detector. A light receiving unit, a second light beam guided from the second region, and a second light receiving unit including a third light detector and a fourth light detector; During recording or reproduction, the electric signal obtained from the first photodetector and the electric signal obtained from the second photodetector are obtained. One of an electric signal obtained from a difference between the electric signal and an electric signal obtained from a difference between an electric signal obtained from the third photodetector and an electric signal obtained from the fourth photodetector. Detecting means for detecting spherical aberration of the condensing optical system based on an electric signal .
[0018]
In the optical pickup device of the present invention, in addition to the above-described configuration, while the recording of the information on the recording medium or the reproduction of the information recorded on the recording medium is being performed, the detecting unit may include a substrate of the recording medium. Wherein the spherical aberration of the light-collecting optical system caused by the variation in the thickness of the light-collecting optical system is detected, and the aberration corrector corrects the spherical aberration detected by the detector .
[0019]
In the optical pickup device of the present invention, in addition to the above- described configuration, the detecting unit may detect the electric signal obtained from a difference between an electric signal obtained from the first photodetector and an electric signal obtained from the second photodetector. Or the first light beam based on one of the electric signals obtained from the difference between the electric signal obtained from the third photodetector and the electric signal obtained from the fourth photodetector. Alternatively, the focus of the second light beam is detected, and in a focused state, the spherical aberration of the condensing optical system is detected based on the other electric signal.
Further, in the optical pickup device of the present invention, in addition to the above configuration, the detecting means is obtained from a difference between an electric signal obtained from the first photodetector and an electric signal obtained from the second photodetector. A focus of the first light beam is detected based on the electric signal, and in a focused state, the focus is obtained from a difference between an electric signal obtained from the third light detector and an electric signal obtained from the fourth light detector. Detecting a spherical aberration of the condensing optical system based on the electrical signal obtained.
In the optical pickup device of the present invention, in addition to the above-described configuration, the light-collecting optical system has a structure in which a plurality of lens elements are combined, and the aberration correction unit sets an interval between each lens element of the light-collecting optical system. It is characterized in that the spherical aberration of the condensing optical system is corrected by adjusting.
[0020]
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
An embodiment of the present invention will be described below with reference to FIGS. In the present embodiment, an optical disc recording / reproducing apparatus having an optical pickup device including an aberration detecting device for detecting a spherical aberration of a condensing optical system will be described.
[0021]
As shown in FIG. 2, the optical disk recording / reproducing apparatus according to the present embodiment includes a spindle motor 9 for rotatingly driving a magneto-optical disk 6 as a recording medium, and an optical disk for reproducing information recorded on the magneto-optical disk 6. The apparatus includes a pickup device 11, a drive control unit 12 for controlling the drive of the spindle motor 9 and the optical pickup device 11, and a magnetic head (not shown) for recording information on the magneto-optical disk 6.
[0022]
The optical pickup device 11 includes a condensing optical system 10 including a semiconductor laser (light source) 1, a hologram 2, a collimating lens 3, an objective lens (lens element) 4, and a solid immersion lens (lens element) 5, and a light detection device. (Detection means) 7.
[0023]
In addition, a mirror 8 that refracts the optical path of the light beam from the condensing optical system 10 or the light beam from the collimating lens 3 by about 90 ° is provided between the condensing optical system 10 and the collimating lens 3. .
[0024]
Further, the objective lens 4 is held by a holder 13 at a peripheral portion, and a focus actuator 14 is provided on an outer peripheral portion of the holder 13. The focus lens 14 moves the objective lens 4 in the optical axis direction. Thus, by controlling the drive of the focus actuator 14, the objective lens 4 is moved to an appropriate position to perform the focusing control.
[0025]
The solid immersion lens 5 is held by a holder 15 at the peripheral edge, and a solid immersion lens actuator 16 is provided on the outer peripheral portion of the holder 15. The solid immersion lens actuator 16 moves the solid immersion lens 5 in the optical axis direction. Thus, by controlling the driving of the solid immersion lens actuator 16, the distance between the solid immersion lens 5 and the objective lens 4 is adjusted, and the spherical aberration generated in the condensing optical system 10 is corrected.
[0026]
The drive controller 12 includes a spindle motor drive circuit 17 for controlling the drive of the spindle motor 9, a focus drive circuit 18 for controlling the drive of the focus actuator 14, and a solid immersion lens drive for controlling the drive of the solid immersion lens actuator 16. Circuit 19, a spindle motor drive circuit 17, a focus drive circuit 18, a control signal generation circuit 20 for generating a control signal to the solid immersion lens drive circuit 19, and information from a signal obtained from the light detection device 7. It comprises an information reproducing circuit 21 for reproducing and generating a reproduction signal.
[0027]
Here, the optical pickup device 11 will be described in detail with reference to FIG. For convenience of explanation, in the optical pickup device 11 shown in FIG. 1, the mirror 8 shown in FIG. 2 is omitted.
[0028]
In the optical pickup device 11, the hologram 2, the collimating lens 3, the objective lens 4, and the solid immersion lens 5 are on the optical axis OA formed between the emission surface of the semiconductor laser 1 and the reflection surface of the magneto-optical disk 6. , And the light detection device 7 is arranged near the focal position of the diffracted light of the hologram 2.
[0029]
Accordingly, in the optical pickup device 11, the light (hereinafter, referred to as a light beam) emitted from the semiconductor laser 1 is transmitted as a zero-order diffracted light by the hologram 2, converted into parallel light by the collimating lens 3, and The light is condensed at a predetermined position on the magneto-optical disk 6 via the lens 4 and the solid immersion lens 5. On the other hand, the light beam reflected from the magneto-optical disk 6 passes through the solid immersion lens 5, the objective lens 4, and the collimating lens 3, enters the hologram 2, is diffracted by the hologram 2, and is diffracted on the photodetector 7. Is collected.
[0030]
The hologram 2 includes a first region 2a surrounded by a straight line CL orthogonal to the optical axis OA and a first semicircle E1 centered on the optical axis OA, and the first semicircle E1 and the straight line CL. And a second region 2b having a radius larger than that of the first semicircle E1 and being surrounded by the second semicircle E2 on the first semicircle E1 side and the straight line CL. It has three regions of a third region 2c surrounded by a third semicircle E3 and a straight line CL opposite to the first semicircle E1 and the second semicircle E2.
[0031]
The hologram 2 transmits the light emitted from the semiconductor laser 1 to the magneto-optical disk 6 without diffracting the light, diffracts the reflected light from the magneto-optical disk 6 and guides the light to the photodetector 7. ing.
[0032]
Each area of the hologram 2 is formed such that light passing through each area from the magneto-optical disk 6 forms a focused spot corresponding to each area separately. As a result, light passing through the three regions of the hologram 2 from the magneto-optical disk 6 forms three focused spots.
[0033]
The light detection device 7 includes five light detectors 7a to 7e. A photodetector (first photodetector) 7a and a photodetector (second photodetector) 7b are juxtaposed to form a first light receiving section, and a photodetector (third photodetector) 7c and photodetector (Fourth photodetector) 7d is juxtaposed to form a second light receiving portion, and the photodetector 7e independently forms a third light receiving portion.
[0034]
Therefore, the light beam diffracted in each area of the hologram 2 is guided to each light receiving unit of the light detection device 7.
[0035]
That is, a light beam from the first area 2a, which is a first light beam on the side closer to the optical axis OA of the light beam reflected by the magneto-optical disk 6, is used as a light detector 7a constituting a first light receiving unit. A condensed spot P1 is formed on a boundary line with the photodetector 7b, and a second light receiving unit is configured by a light beam from the second region 2b that is a second light beam outside the first light beam. A condensed spot P2 is formed on the boundary between the light detector 7c and the light detector 7d, and a light beam from the third area 2c serving as an information signal of the magneto-optical disk 6 constitutes a third light receiving unit. A condensing spot P3 is formed on the photodetector 7e.
[0036]
Each of the photodetectors 7a to 7e converts received light (optical signal) into an electric signal, and converts the converted electric signal into the control signal generating circuit 20 and the information reproducing circuit 21 described above. Output.
[0037]
Accordingly, the light detectors 7a and 7b of the first light receiving portion of the light detecting device 7 provide the light beams reflected by the magneto-optical disk 6 and passing through the condensing optical system 10 including the solid immersion lens 5 and the objective lens 4. Among them, the first light beam diffracted in the first area 2a on the side near the optical axis OA of the hologram 2 is incident.
[0038]
The light detectors 7c and 7d of the second light receiving unit of the light detecting device 7 provide light beams reflected by the magneto-optical disk 6 and passing through the condensing optical system 10 including the solid immersion lens 5 and the objective lens 4. Among them, the second light beam diffracted by the second area 2b formed outside the first area 2a of the hologram 2 is incident.
[0039]
Further, a light beam reflected by the magneto-optical disk 6 and passed through a condensing optical system 10 including a solid immersion lens 5 and an objective lens 4 is applied to a photodetector 7e as a third light receiving portion of the photodetector 7. , The hologram 2 is diffracted by the third region 2c and is incident.
[0040]
In each of the photodetectors 7a to 7e, the received optical signal is converted into an electric signal S1 to S5, respectively.
[0041]
The electric signals obtained by the photodetectors 7a to 7e are output to the control signal generation circuit 20 shown in FIG. 2 and used for adjusting the movement of the objective lens 4 and the solid immersion lens 5 in the condensing optical system 10. .
[0042]
The electric signal is output to the information reproducing circuit 21 and converted into a reproduced signal. That is, the information signal (reproduced signal) RF recorded on the magneto-optical disk 6 is given by RF = S1 + S2 + S3 + S4 + S5.
[0043]
Here, when the thickness of the substrate of the magneto-optical disk 6 and the relative position between the solid immersion lens 5 and the objective lens 4 are appropriate and no spherical aberration is generated, the focus is correctly focused on the magneto-optical disk 6. When they are connected, that is, at the time of focusing, the shapes of the converging spots P1 to P3 formed on the photodetectors 7a to 7e have substantially the same size as shown in FIG. Points.
[0044]
At this time, among the light beams diffracted by the hologram 2, the focused spot P1 where the first light beam on the optical axis OA side is focused has the same irradiation area with respect to the photodetectors 7a and 7b. Formed. That is, the electric signal S1 obtained from the photodetector 7a is equal to the electric signal S2 obtained from the photodetector 7b.
[0045]
Here, a focus error signal FES indicating a focus error of a light beam applied to the magneto-optical disk 6 is:
FES = S1-S2
It is represented by
[0046]
Therefore, as described above, when the values of the electric signals S1 and S2 obtained by the photodetectors 7a and 7b are equal, that is, at the time of focusing, the focus error signal FES is 0.
[0047]
When the light beam irradiated on the magneto-optical disk 6 is out of focus, the converging spots P1 to P3 formed on the photodetectors 7a to 7e expand in a semicircular shape. For example, when the magneto-optical disk 6 moves away from the objective lens 4, as shown in FIG. 3A, the condensed spot P1 spreads in a semicircular shape on the photodetector 7b. On the other hand, when the magneto-optical disk 6 moves in a direction approaching the objective lens 4, as shown in FIG. 3C, the condensed spot P1 spreads in a semicircular shape on the photodetector 7a.
[0048]
That is, when the magneto-optical disk 6 moves in the direction away from the objective lens 4, the value of the electric signal S2 converted by the photodetector 7b is changed to the value of the electric signal S1 converted by the photodetector 7a. And the focus error signal FES indicates a negative value.
[0049]
On the other hand, when the magneto-optical disk 6 moves in a direction approaching the objective lens 4, the value of the electric signal S1 converted by the photodetector 7a is changed to the value of the electric signal S2 converted by the photodetector 7b. And the focus error signal FES indicates a positive value.
[0050]
Therefore, the focus error signal FES is set to 0 by moving the objective lens 4 in the direction of the optical axis OA by the focus actuator 14 provided on the holder 13 holding the objective lens 4. At this time, the drive amount of the focus actuator 14 by the focus drive circuit 18 is adjusted by the control signal obtained by the control signal generation circuit 20 based on the electric signals S1 and S2 obtained by the photodetectors 7a and 7b. You.
[0051]
In general, when the thickness of the substrate of the magneto-optical disk 6 and the relative position between the solid immersion lens 5 and the objective lens 4 are not appropriate, spherical aberration occurs in the condensing optical system 10 of the optical pickup device having the above configuration. I do.
[0052]
The spherical aberration refers to a shift between the focal point of the light beam passing through the central portion of the condensing optical system and the focal point of the light beam passing through the peripheral portion.
[0053]
As described above, when spherical aberration occurs in the condensing optical system 10, even if the focusing optical system 10 is in a focused state, that is, a state where the difference between the electric signals of the photodetectors 7 a and 7 b is zero. For example, as shown in FIGS. 4A and 4C, the difference between the electric signals of the photodetectors 7c and 7d is not 0, but takes a positive or negative value. This indicates that positive or negative spherical aberration has occurred.
[0054]
For example, in a state where there is no spherical aberration and in a focused state, all the light beams passing through the solid immersion lens 5 and the objective lens 4 constituting the condensing optical system 10 are, as shown in FIG. The light is focused on one point of the magneto-optical disk 6 on the axis OA. At this time, the shapes of the converging spots P1 to P3 of the respective light beams in the photodetector 7 are as shown in FIG.
[0055]
On the other hand, when a positive or negative spherical aberration occurs in the condensing optical system 10, the light beam passing through the condensing optical system 10 is changed as shown in FIGS. 5 (a) and 5 (c). As shown, it is not converged on one point of the magneto-optical disk 6. Here, it is assumed that the focal position of the light beam on the side closer to the optical axis OA is at an appropriate position on the magneto-optical disk 6. For example, when a positive spherical aberration occurs in the focusing optical system 10, FIG. As shown in FIG. 5A, the focal position of the light beam in the peripheral portion of the condensing optical system 10 is farther from the solid immersion lens 5 than the focal position of the light beam closer to the optical axis OA. On the other hand, when a negative spherical aberration occurs in the condensing optical system 10, as shown in FIG. 5C, the focal position of the light beam in the peripheral portion of the condensing optical system 10 is closer to the optical axis OA. It is closer to the solid immersion lens 5 than the focal position of the light beam.
[0056]
Therefore, in a state where the objective lens 4 is driven by the focus actuator 14 so that the focus error signal FES becomes 0, the thickness of the substrate of the magneto-optical disk 6 is different from the predetermined size. If so, the light beam around the condensing optical system 10 shows the same change as when the magneto-optical disk 6 approaches the solid immersion lens 5, so the shape of the converging spot P2 of the photodetectors 7c and 7d As shown in FIG. 4 (c), it spreads like a half donut on the photodetector 7c.
[0057]
Conversely, if a negative spherical aberration occurs, the light beam around the condensing optical system 10 changes in the same manner as when the magneto-optical disk 6 moves away from the solid immersion lens 5, so that the light detector 7c As shown in FIG. 4A, the shape of the condensed spot P2 of 7d spreads in a half donut shape on the photodetector 7d.
[0058]
Therefore, when the focus error signal FES is maintained at 0, the spherical aberration signal SA, which is a signal indicating the spherical aberration generated in the light-converging optical system 10, includes the electric signals S1 to S1 obtained from the photodetectors 7a to 7e. The following is described using S5.
[0059]
SA = S3-S4 If the focus error signal FES is not kept at 0, the spherical aberration signal SA becomes as follows, taking this focus error signal FES into consideration.
[0060]
SA = (S3-S4)-(S1-S2) * K (K is a constant)
The spherical aberration signal SA is generated by the control signal generation circuit 20 and output to the solid immersion lens drive circuit 19.
[0061]
Therefore, the solid immersion lens drive circuit 19 controls the drive of the solid immersion lens actuator 16 provided on the outer peripheral portion of the holder 15 holding the solid immersion lens 5 based on the spherical aberration signal SA. , Spherical aberration is corrected.
[0062]
That is, when the spherical aberration signal SA indicates a positive spherical aberration, the solid immersion lens driving circuit 19 drives the solid immersion lens actuator 16 in a direction to increase the distance between the solid immersion lens 5 and the objective lens 4. When the spherical aberration signal SA indicates negative spherical aberration, the driving of the solid immersion lens actuator 16 is controlled so as to shorten the distance between the solid immersion lens 5 and the objective lens 4. I have.
[0063]
As described above, when the information is corrected based on the spherical aberration signal SA so that the spherical aberration generated in the condensing optical system 10 is eliminated, the information recorded on the magneto-optical disk 6 can be favorably reproduced when the information is reproduced. It can be carried out. When recording information, if a magnetic head (not shown) is arranged on the opposite side to the optical pickup device 11 with the magneto-optical disk 6 interposed, writing of information to the magneto-optical disk 6 can be performed well. it can.
[0064]
The correction of the spherical aberration may be performed when the magneto-optical disk 6 is mounted on the optical recording / reproducing apparatus, or after the magneto-optical disk 6 is mounted on the optical recording / reproducing apparatus, the information is recorded or reproduced. It may be performed as needed during the operation.
[0065]
That is, for example, the semiconductor laser 1 records the spherical aberration information after the spherical aberration of the focusing optical system 10 is detected by the light detecting device 7 in a predetermined area of the magneto-optical disk 6. That is, the semiconductor laser 1 records the spherical aberration information in a predetermined area of the magneto-optical disk 6 only when the magneto-optical disk 6 is mounted after the light detecting device 7 detects the spherical aberration of the condensing optical system 10.
[0066]
For example, if the variation in the substrate thickness of the magneto-optical disk 6 is suppressed within a certain value in one disk, the spherical aberration is detected first when the magneto-optical disk 6 is replaced, and the semiconductor laser 1 By recording spherical aberration information in a predetermined area of the magneto-optical disk 6, the distance between the solid immersion lens 5 and the objective lens 4 is adjusted according to the spherical aberration information, and thereafter, the lens distance is maintained. good. In this case, the spherical aberration of the focusing optical system 10 is corrected only when the magneto-optical disk 6 is replaced. The semiconductor laser 1 also functions as an aberration information recording unit that records spherical aberration information in a predetermined area of the magneto-optical disk 6.
[0067]
On the other hand, if the variation in the substrate thickness of the magneto-optical disk 6 is large within one disk, the amount of aberration is always detected during recording and reproduction, and the distance between the solid immersion lens 5 and the objective lens 4 is changed. To correct spherical aberration. In this case, the spherical aberration of the condensing optical system 10 is always corrected during recording and reproduction of the magneto-optical disk 6. At this time, the detection of the spherical aberration of the condensing optical system 10 is always performed during the recording or reproduction of the information on or from the magneto-optical disk 6, so that the detected spherical aberration information is not recorded on the magneto-optical disk 6. I do.
[0068]
As described above, when the spherical aberration of the condensing optical system 10 is corrected only when the magneto-optical disk 6 is exchanged, the correction time may take a little longer. The solid immersion lens actuator 16 that adjusts the lens distance between the solid immersion lens 5 and the solid immersion lens 5 can be one that operates at a low speed. Thus, an optical pickup device capable of correcting spherical aberration can be manufactured at low cost.
[0069]
On the other hand, when the spherical aberration of the condensing optical system 10 is constantly corrected during recording and reproduction on the magneto-optical disk 6, a high-speed solid immersion lens actuator 16 that responds at a speed corresponding to the rotation speed of the magneto-optical disk 6 is used. Although it is necessary, the manufacturing tolerance of the disk thickness can be made large, so that the manufacturing cost of the magneto-optical disk 6 can be reduced.
[0070]
In the present embodiment, the hologram 2 is used as a means for guiding the light beam reflected on the magneto-optical disk 6 to the light detection device 7, but the present invention is not limited to this. A combination of wedge prisms divided in a semicircular or semi-donut shape may be used. However, it is preferable to use the hologram 2 in order to reduce the size of the apparatus.
[0071]
In order to determine the focus error signal FES, the light beam (first light beam) closer to the optical axis OA among the light beams that have passed through the condensing optical system 10 is focused in the light detection device 7. However, the present invention is not limited to this. Of the light beams that have passed through the condensing optical system 10, the light beam (second light beam) at the peripheral edge of the condensing optical system 10 May be determined based on whether or not the light is focused in the light detection device 7. However, the second light beam, which is the light beam at the peripheral portion of the condensing optical system 10, is easily affected by spherical aberration, and it is difficult to precisely adjust the focal position. Preferably, the focus error is adjusted using one light beam.
[0072]
Furthermore, in the present embodiment, detection of spherical aberration and aberration correction of the condensing optical system 10 in which the objective lens 4 and the solid immersion lens 5 are combined has been described, but the present invention is not limited to this. Absent. For example, the present invention is also applicable to a condensing optical system combining a plurality of lens elements.
[0073]
【The invention's effect】
According to the present invention, it is possible to optically detect the spherical aberration generated in the condensing optical system, compared to a conventional device that electrically detects the spherical aberration generated in the condensing optical system. Thus, the spherical aberration can be accurately detected without being affected by the surrounding electric noise.
[0074]
As described above, if the spherical aberration of the condensing optical system can be detected with high accuracy, there is an effect that the spherical aberration of the condensing optical system can be appropriately corrected.
[0075]
Also, there is an effect that information can be appropriately recorded or reproduced on the recording medium.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a schematic configuration diagram of an optical pickup device of the present invention.
FIG. 2 is a schematic configuration diagram of an optical disk recording / reproducing apparatus including the optical pickup device shown in FIG.
3 (a) to 3 (c) are explanatory views showing changes in the shape of a condensed spot on a photodetector when a light beam is out of focus in the optical pickup device shown in FIG.
4 (a) to 4 (c) are explanatory diagrams showing changes in the shape of a condensed spot on a photodetector when spherical aberration occurs in a condensing optical system of the optical pickup device shown in FIG. It is.
5 (a) to 5 (c) are explanatory diagrams showing spherical aberration generated in a focusing optical system included in the optical pickup device shown in FIG.
FIG. 6 is a schematic configuration diagram of a conventional optical pickup device.
[Explanation of symbols]
1 semiconductor laser (light source, aberration information recording means)
2 Hologram 2a First area 2b Second area 4 Objective lens (lens element)
5 Solid immersion lens (lens element)
6. Magneto-optical disk (recording medium)
7 Photodetector 7a Photodetector (first photodetector)
7b Photodetector (second photodetector)
7c photodetector (third photodetector)
7d photodetector (4th photodetector)
10 Condensing optical system 16 Solid immersion lens actuator (Aberration correcting means)
CL Straight line E1 First semicircle E2 Second semicircle OA Optical axis

Claims (5)

光源と、
前記光源から照射される光ビームを記録媒体に集光させる集光光学系と、
前記集光光学系の球面収差を補正する収差補正手段とを備えた光ピックアップ装置であって、
前記集光光学系を通過する光ビームの光軸に近い側の第1の領域と、第1の領域よりも外側の第2の領域とが形成されている、光ビームを受光部に導く手段と、
前記第1の領域から導かれる第1の光ビームが入射し、第1光検出器と第2光検出器とからなる第1受光部と、前記第2の領域から導かれる第2の光ビームが入射し、第3光検出器と第4光検出器とからなる第2受光部とを有し、記録媒体への情報の記録または再生中に、前記第1光検出器から得られる電気信号と前記第2光検出器から得られる電気信号との差から得られる電気信号、または前記第3光検出器から得られる電気信号と前記第4光検出器から得られる電気信号との差から得られる電気信号のうち、いずれか一方の電気信号に基づいて、前記集光光学系の球面収差を検出する検出手段と、
を備えていることを特徴とする光ピックアップ装置。
A light source,
A condensing optical system for condensing a light beam emitted from the light source on a recording medium,
An optical pickup device comprising: an aberration correction unit configured to correct spherical aberration of the light-converging optical system,
Means for guiding a light beam to a light receiving portion, wherein a first region near a light axis of a light beam passing through the condensing optical system and a second region outside the first region are formed. When,
A first light beam guided from the first region enters, a first light receiving unit including a first photodetector and a second photodetector, and a second light beam guided from the second region And a second light receiving unit including a third photodetector and a fourth photodetector, and an electric signal obtained from the first photodetector during recording or reproduction of information on a recording medium. And an electric signal obtained from a difference between the electric signal obtained from the second light detector and an electric signal obtained from the difference between an electric signal obtained from the third light detector and the electric signal obtained from the fourth light detector. Detection means for detecting a spherical aberration of the light-collecting optical system based on one of the electric signals,
An optical pickup device comprising:
前記記録媒体に情報の記録、または前記記録媒体に記録された情報の再生を行っている間に、前記検出手段が、前記記録媒体の基板の厚みのばらつきにより発生する前記集光光学系の球面収差を検出すると共に、前記収差補正手段が、前記検出手段により検出された球面収差を補正することを特徴とする請求項1に記載の光ピックアップ装置。During recording of information on the recording medium, or reproduction of information recorded on the recording medium, the detecting unit detects the spherical surface of the condensing optical system generated due to a variation in the thickness of the substrate of the recording medium. The optical pickup device according to claim 1, wherein the aberration correction unit corrects the spherical aberration detected by the detection unit while detecting the aberration. 前記検出手段は、前記第1光検出器から得られる電気信号と前記第2光検出器から得られる電気信号との差から得られる電気信号、または前記第3光検出器から得られる電気信号と前記第4光検出器から得られる電気信号との差から得られる電気信号のうち、一方の電気信号に基づいて、前記第1の光ビームまたは前記第2光ビームの焦点を検出し、合焦状態では、もう一方の電気信号に基づいて前記集光光学系の球面収差を検出することを特徴とする請求項1または2に記載の光ピックアップ装置。The detection means includes an electric signal obtained from a difference between an electric signal obtained from the first photodetector and an electric signal obtained from the second photodetector, or an electric signal obtained from the third photodetector. Detecting a focus of the first light beam or the second light beam based on one of the electric signals obtained from a difference between the electric signal obtained from the fourth light detector and the electric signal; The optical pickup device according to claim 1, wherein in the state, the spherical aberration of the condensing optical system is detected based on another electric signal. 前記検出手段は、前記第1光検出器から得られる電気信号と前記第2光検出器から得られる電気信号との差から得られる電気信号に基づいて前記第1の光ビームの焦点を検出すると共に、合焦状態では前記第3光検出器から得られる電気信号と前記第4光検出器から得られる電気信号との差から得られる電気信号に基づいて前記集光光学系の球面収差を検出することを特徴とする請求項1または2に記載の光ピックアップ装置。The detection means detects a focus of the first light beam based on an electric signal obtained from a difference between an electric signal obtained from the first light detector and an electric signal obtained from the second light detector. At the same time, in a focused state, the spherical aberration of the condensing optical system is detected based on an electric signal obtained from a difference between an electric signal obtained from the third light detector and an electric signal obtained from the fourth light detector. The optical pickup device according to claim 1, wherein: 前記集光光学系は複数のレンズ要素を組み合わせた構造となっており、
前記収差補正手段は前記集光光学系の各レンズ要素の間隔を調整することで、前記集光光学系の球面収差を補正することを特徴とする請求項1ないし4のいずれか1項に記載の光ピックアップ装置。
The condensing optical system has a structure combining a plurality of lens elements,
The said aberration correction means corrects the spherical aberration of the said condensing optical system by adjusting the space | interval of each lens element of the said condensing optical system, The Claim 1 characterized by the above-mentioned. Optical pickup device.
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