Nothing Special   »   [go: up one dir, main page]

JP3434944B2 - 自己診断能力を備えた対称型プルーフ・マス加速度計とその製造方法 - Google Patents

自己診断能力を備えた対称型プルーフ・マス加速度計とその製造方法

Info

Publication number
JP3434944B2
JP3434944B2 JP26013595A JP26013595A JP3434944B2 JP 3434944 B2 JP3434944 B2 JP 3434944B2 JP 26013595 A JP26013595 A JP 26013595A JP 26013595 A JP26013595 A JP 26013595A JP 3434944 B2 JP3434944 B2 JP 3434944B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
mass
cantilever beam
self
support
cantilever
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP26013595A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH08184609A (ja
Inventor
ヨン−ホ チョー
ビュン マン クワク
クイロ リー
クワンフン パーク
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Korea Advanced Institute of Science and Technology KAIST
Original Assignee
Korea Advanced Institute of Science and Technology KAIST
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Korea Advanced Institute of Science and Technology KAIST filed Critical Korea Advanced Institute of Science and Technology KAIST
Publication of JPH08184609A publication Critical patent/JPH08184609A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3434944B2 publication Critical patent/JP3434944B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01PMEASURING LINEAR OR ANGULAR SPEED, ACCELERATION, DECELERATION, OR SHOCK; INDICATING PRESENCE, ABSENCE, OR DIRECTION, OF MOVEMENT
    • G01P15/00Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration
    • G01P15/02Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01PMEASURING LINEAR OR ANGULAR SPEED, ACCELERATION, DECELERATION, OR SHOCK; INDICATING PRESENCE, ABSENCE, OR DIRECTION, OF MOVEMENT
    • G01P15/00Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration
    • G01P15/02Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses
    • G01P15/08Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values
    • G01P15/09Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values by piezoelectric pick-up
    • G01P15/0922Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values by piezoelectric pick-up of the bending or flexing mode type
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01PMEASURING LINEAR OR ANGULAR SPEED, ACCELERATION, DECELERATION, OR SHOCK; INDICATING PRESENCE, ABSENCE, OR DIRECTION, OF MOVEMENT
    • G01P15/00Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration
    • G01P15/02Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses
    • G01P15/08Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values
    • G01P15/0802Details
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01PMEASURING LINEAR OR ANGULAR SPEED, ACCELERATION, DECELERATION, OR SHOCK; INDICATING PRESENCE, ABSENCE, OR DIRECTION, OF MOVEMENT
    • G01P15/00Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration
    • G01P15/02Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses
    • G01P15/08Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values
    • G01P15/09Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values by piezoelectric pick-up
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01PMEASURING LINEAR OR ANGULAR SPEED, ACCELERATION, DECELERATION, OR SHOCK; INDICATING PRESENCE, ABSENCE, OR DIRECTION, OF MOVEMENT
    • G01P15/00Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration
    • G01P15/02Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses
    • G01P15/08Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values
    • G01P15/12Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values by alteration of electrical resistance
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01PMEASURING LINEAR OR ANGULAR SPEED, ACCELERATION, DECELERATION, OR SHOCK; INDICATING PRESENCE, ABSENCE, OR DIRECTION, OF MOVEMENT
    • G01P15/00Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration
    • G01P15/02Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses
    • G01P15/08Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values
    • G01P15/12Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values by alteration of electrical resistance
    • G01P15/123Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values by alteration of electrical resistance by piezo-resistive elements, e.g. semiconductor strain gauges
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01PMEASURING LINEAR OR ANGULAR SPEED, ACCELERATION, DECELERATION, OR SHOCK; INDICATING PRESENCE, ABSENCE, OR DIRECTION, OF MOVEMENT
    • G01P15/00Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration
    • G01P15/02Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses
    • G01P15/08Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values
    • G01P15/125Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values by capacitive pick-up
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01PMEASURING LINEAR OR ANGULAR SPEED, ACCELERATION, DECELERATION, OR SHOCK; INDICATING PRESENCE, ABSENCE, OR DIRECTION, OF MOVEMENT
    • G01P21/00Testing or calibrating of apparatus or devices covered by the preceding groups
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01PMEASURING LINEAR OR ANGULAR SPEED, ACCELERATION, DECELERATION, OR SHOCK; INDICATING PRESENCE, ABSENCE, OR DIRECTION, OF MOVEMENT
    • G01P15/00Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration
    • G01P15/02Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses
    • G01P15/08Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values
    • G01P2015/0805Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values being provided with a particular type of spring-mass-system for defining the displacement of a seismic mass due to an external acceleration
    • G01P2015/0822Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values being provided with a particular type of spring-mass-system for defining the displacement of a seismic mass due to an external acceleration for defining out-of-plane movement of the mass
    • G01P2015/0825Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values being provided with a particular type of spring-mass-system for defining the displacement of a seismic mass due to an external acceleration for defining out-of-plane movement of the mass for one single degree of freedom of movement of the mass
    • G01P2015/0828Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values being provided with a particular type of spring-mass-system for defining the displacement of a seismic mass due to an external acceleration for defining out-of-plane movement of the mass for one single degree of freedom of movement of the mass the mass being of the paddle type being suspended at one of its longitudinal ends

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Pressure Sensors (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は自己診断能力を備えた対
称型プルーフ・マス(認証・質量)・加速度計とその製
造方法に関するものであり、より特定的には、交差軸感
度を低下させるだけでなく自己診断抵抗素子の装着を容
易にするようにカンチレバービーム(片持ち梁)の面に
対して上部マス(上部質量部)と下部マス(下部質量
部)との間にオフセット(位置的なずれ)を持たせて
ンチレバービームの中心面に対称に質量を分布させるよ
うに設計した加速度計に関する。本発明は、変位、速
度、振動、加速度、角速度およびそれらの変化の測定が
必要とされる、自動車の電子系統、並びに、コンシュー
マ電子製品、工業用電子測定装置などに適用できる。
【0002】
【従来の技術】自己診断能力を備えた従来の加速度計と
その製造方法は、2つの形式に分類できる。図1(A)
カンチレバービーム2に接続された下側のマス1が設
けられた、非対称型(unsymmetric )プルーフ・マス
(認証・質量)方式加速度計を示しており、この加速度
計においては、カンチレバービーム2の破壊を検出する
ため非常に大きな応力がかかる部分(カンチレバービー
ムの各々の端部9a,9b)に自己診断抵抗体5または
導電体5が設けられている。なお、符号1はマス(質量
部)を示し、符号11は支持体を示している。従来の他
の形式の加速度計は図1(B)に示すように、カンチレ
バービーム2の中心面の両側の対称位置に同じプルーフ
・マス1a,1bが形成された、対称型プルーフ・マス
(認証・質量)方式加速度計である。この場合、自己診
断抵抗体5または導電体5は、カンチレバービーム2の
上、および、カンチレバービーム2を越えてその両端部
からプルーフ・マス1a,1bの一方のマス1a側およ
支持体11側に延びて形成されている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】これらの従来の加速度
計とその製造方法は下記に述べる問題を有している。ま
ず図1(A)に図解した非対称型加速度計は、図1
(B)に示した対称型加速度計に比較して交差軸感度
(cross-axis sensitivity) が比較的低いという問題を
有している。その理由は希望しない方向の加速度がカン
チレバービーム2の偏差(defection )を引き起こすか
らである。一方、図1(B)に図解した対称型加速度計
は、自己診断抵抗体5または導電体5を加速度計の最も
弱い領域であるカンチレバービームの端部9a,9bに
取りつける困難さに遭遇するという問題を有している。
カンチレバービームの各々の端部9a,9bが何故最も
弱いという理由は、カンチレバービーム2、プルーフ・
マス1a,1b、および支持体11によって形成された
表面が同じ平面ではないからである。図1(A)および
図1(B)に図解した加速度計の共通の問題は、カンチ
レバービーム2の各々の端部9a,9bにおける厚さの
急激な変化が応力の集中を起こすことである。したがっ
て、そのような応力の集中が製造過程または使用中に
ンチレバービーム2の破壊を引き起こすことになりかね
ない。
【0004】図1(A)および図1(B)に図解した加
速度計におけるカンチレバービーム2の厚さの制御の従
来方法としては、たとえば、時間制御されたエッチン
グ、P−nジャンンクション(接合)およびp+ エッチ
ング停止を行う方法が知られているが、この方法は、製
造プロセスの不安定さ、プロセスの複雑さ、厚さ制御の
困難さに起因する問題、および、材料の選択の限界に起
因する問題がある。
【0005】発明の目的は、カンチレバービームの各
々の端部の平坦な面に自己診断要素を容易に収容可能に
プルーフ・マス分布の適正化を図った加速度計と、その
製造方法を提供することにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】発明された加速度計は上
述した従来の技法における問題を克服している。本願の
発明された加速度計は、カンチレバービームの先端に、
カンチレバービームの中心面に対して上部と下部に、中
心位置をずらした相対的に異なった位置(オフセットし
た位置)に理想的な質量のプルーフ・マスを2つの部
、すなわち、上部マスおよび下部マスを有しており、
それにより、自己診断要素の装着と交差軸感度の低減が
可能となる。さらに、ビーム厚さ制御プロセスが、エッ
チング・厚み差を用いた方法により簡略化でき、歩留り
と信頼性がフィレット・ラウンディング(fillet-round
ing)形成プロセスによって向上する。フィレット・ラ
ウンディング形成プロセスは、ビームの各々の端部(最
も弱い領域)に曲げ部(屈曲部)を形成し、それによ
り、加速度計の製造過程中または製造後、加速度計の破
壊を防止する。
【0007】本発明の第1の観点によれば、請求項1に
記載のとおり、支持体と、該支持体から水平に延びるカ
ンチレバービームと、前記支持体と水平方向において対
向する前記カンチレバービームの端部の先端に、前記カ
ンチレバービームの水平中心面の上下両側に形成された
同じ質量の上部マスおよび下部のマスであって、当該
部マスが、当該下部マスと水平方向において重複しつ
つ、当該下部マスより前記カンチレバービームの端部か
ら離れた位置に、交差軸感度が最小になるように形成さ
れており、前記カンチレバービームの下面の前記支持体
との境界部および前記カンチレバービームの下面の前記
下部マスとの境界部が、応力の集中による前記カンチレ
バービームの破壊を防止するフィレット・ラウンディン
グとして形成されている第1および第2のカンチレバー
ビーム下面端部と、前記第2のカンチレバービーム下面
端部と垂直方向において対向する前記カンチレバービー
ム上面において、該カンチレバービーム上面から前記上
部マスの端部まで、ピエゾレジスティブ材料により形成
された、少なくとも自己診断能力および自己検査能力を
示す自己診断要素と、圧電効果型加速度計または静電容
量型加速度計として機能する加速度検出要素と、前記上
マスおよび前記下部マスの水平方向における先端の前
に位置する第1のボンディング部および前記支持体に
設けられた第2のボンディング部であって、該第1およ
び第2のボンディング部の厚さは前記上部マスと前記
部マスとの合計厚さより厚い厚さになっており、該第1
および第2のボンディング部の上下面にペースト溝が形
成されている、第1および第2のボンディング部と、前
記ペースト溝を介して前記第1および第2のボンディン
グ部の上下に設けられ、前記支持体を固定し、前記カン
チレバービームおよび前記上部マスおよび前記下部マス
を自由端にする、上部支持プレイトおよび下部支持プレ
イトとを有し、前記上部支持プレイトと前記上部マスと
の間、および、前記下部支持プレイトと前記下部マスと
の間にダンピングギャップが規定され、該ダンピングギ
ャップにプルーフ・マスおよびダンパーとして機能する
流体が充填されており、前記加速度検出要素は、前記第
1のカンチレバービーム下面端部と対向する前記前記カ
ンチレバービームの上面にピエゾレジスティブ材料また
はピエゾエレクトリック材料により圧電効果型加速度計
として形成され、または、前記 ダンピング制御ギャップ
の上下両側に装着された対向電極を有する静電容量型加
速度計として形成され、前記加速度検出要素の検出信号
に応じて加速度を検出する、対称型プルーフ・マス加速
度計が提供される。
【0008】本発明の第2の観点によれば、請求項2に
記載のとおり、(a)基板と、支持体と、該支持体から
水平方向に延びる一方の面に少なくとも自己診断能力お
よび自己検査能力を示す自己診断要素が装着されるカン
チレバービームと、前記支持体と水平方向において対向
する前記カンチレバービームの先端の前記カンチレバー
ビームの水平中心面の上下両面に位置し、同じ質量の
マスおよび下部マスとが形成されるダンピング制御ギ
ャップと、前記上部マスおよび前記下部マスの水平方向
における先端の前方に位置する第1のボンディング部お
よび前記支持体に設けられた第2のボンディング部であ
って、該第1および第2のボンディング部の厚さは前記
上部マスと前記下部マスとの合計厚さより厚い厚さにな
っており、該第1および第2のボンディング部の上下面
にペースト溝を有する第1および第2のボンディング部
を一体構造に形成し、(b)前記基板から前記カンチレ
バービームおよび前記上部マスおよび前記下部マスが形
成される部分のダンピング制御ギャップの深さを調整し
てダンピングレベルを制御し、(c)前記支持体と水平
方向において対向する前記カンチレバービームの先端
前記カンチレバービームの水平方向の中心面の上下に
置し、同じ質量で、交差軸感度を最小にしつつ、前記上
部マスを前記下部マスより前記カンチレバービームの端
部から離し、かつ、前記上部マスおよび前記下部マスと
水平方向において重複する位置に一体的に形成し、
(d)前記カンチレバービームと前記ペースト溝に固定
される前記上部支持プレイトおよび前記下部支持プレイ
トとの間、および、前記上部マスと前記上部支持プレイ
トとの間および前記下部マスと前記下部支持プレイトと
の間の相対的な位置を制御し、(e)前記カンチレバー
ビームの上面に前記自己診断要素を装着する平坦面を形
成し、(f)前記カンチレバービームの前記自己診断要
素が装着される面とは反対の前記カンチレバービームの
下面の前記支持体との境界および前記下部マスとの境界
の第1および第2のカンチレバービーム下面端部に応力
の集中による前記カンチレバービームの破壊を防止する
フィレット・ラウンディングを形成して製造され、前記
水平方向において対向する第1および第2のカンチレバ
ービーム下面端部と垂直方向において対向する前記カン
チレバービームのそれぞれの上面にピエゾレジスティブ
材料で加速度検出要素および前 記自己診断要素を形成
し、前記加速度検出要素で検出した検出信号に応じて加
速度を検出する、対称型プルーフ・マス加速度計が提供
される。
【0009】本発明の第3の観点によれば、請求項4に
記載のとおり、請求項1記載の対称型プルーフ・マス加
速度計を製造する方法であって、下記の諸段階、すなわ
ち、基板から、前記カンチレバービームおよび前記上部
マスおよび前記下部マスが形成される部分であるダンピ
ング制御ギャップ、前記ペースト溝およびビーム厚さ制
御領域を同時にエッチングする第1のエッチング段階、
前記ダンピング制御ギャップを形成するためエッチング
深さを制御する段階、前記ペースト溝についての第1の
エッチング段階の処理後、複数回のエッチングを適用し
て前記ビームの厚さを制御する第2のエッチング段階、
前記第1のエッチング段階および第2のエッチング段階
におけるエッチングによって前記フィレット・ラウンデ
ィングを形成する段階、前記カンチレバービームの先端
に、かつ、前記カンチレバービームの中心面の上下に、
前記上部マスおよび前記下部マスが水平方向において
複し、かつ、前記上部マスが前記下部マスより前記カン
チレバービームから離れた位置に、交差軸感度最小に
なるようにエッチングして形成して、前記カンチレバー
ビームの上面に該上面から前記上部マスに至る部分に
自己診断要素を装着させる空間のための平坦面を形成
する段階、 前記平坦面に前記加速度検出要素および前
記自己診断要素のためのピエゾレジスティブ部を同時に
製造する第1の製造段階、ブリッジ回路用のメタルライ
ンと電極とを同時に製造する第2の製造段階、加速度
出用のビームと、製造工程の期間の間前記ビームの破壊
を防止するためのビームを同時に製造する第3の製造段
階、前記第1〜第3の製造段階の後の段階において前記
破壊を防止するためのビームを排除する段階、前記第1
および第2のボンディング部に形成された前記ペースト
溝に収容されたペーストを用いて前記加速度検出要素
前記下部支持プレイトおよび前記上部支持プレイトを結
合する段階を有することを特徴とする対称型プルーフ・
マス加速度計を製造する方法が提供される。好ましく
は、前記加速度検出要素の両側にダブルに支持されるビ
ームを付加的に製造する、または、前記加速度検出要素
に複数に支持されるビームを付加的に製造する。
【0010】好ましくは、前記カンチレバービームは、
前記自己診断要素から、自己診断能力、自己校正能力お
よび自己検査能力が付与されている。
【0011】本発明の対称型プルーフ・マス加速度計に
ついて、図解との対比が明瞭になるように図面に記載し
た符号を参照して述べると、下記の特徴によって特徴付
けられる。当該加速度計は、図3に図解したように、カ
ンチレバービーム(片持ち梁)2、カンチレバービーム
2の中心面の両側に中心がずれた位置に形成された第1
および第2のプルーフ・マス(認証・質量部)1a,1
b、前記カンチレバービームの破壊を検出可能な自己診
断能力、自己校正能力および自己検査能力を示す自己診
断要素5、上部ボンディング部13aおよび下部ボンデ
ィング部13bからなるボンディング体13を具備し、
単一のボディ(一体構造)として形成される。当該加速
度計はまた、ボンディング体13の上部(第1の)ボン
ディング部13aおよび下部(第2の)ボンディング部
13bにおけるペースト溝12a,12bを有してお
り、これらのペースト溝12a,12bには上部支持プ
レイト10aおよび下部支持プレイト10bが取りつけ
られており、当該加速度計はさらに、プルーフ・マス1
a,1bと上部支持プレイト10aおよび下部支持プレ
イト10bとのそれぞれの間にダンピングギャップ(緩
衝空隙)3a,3b、および、カンチレバービーム2の
各々の端部(カンチレバービーム下面端部)9a,9b
に形成したフィレット・ラウンディング(丸み)を有す
る。
【0012】
【実施例】本発明の好適な実施例について詳細に記述す
る。本発明の加速度計は、下記に述べるユニークなプロ
セス工程によって製造されるのであり、そのプロセス工
程は、(1)図3に図解したダンピングギャップ3a,
3bとなる部分と、図3および図4(B)に示したペー
スト溝12a,12bを同時にエッチングするプロセス
と、(2)図4(B)に示したビーム14a,14b
(電極14a,14b)の厚さを制御する工程を具備す
る。製造方法はまた、(3)図3に示したダンピングギ
ャップ3a,3bを形成するエッチング深さ制御プロセ
ス、(4)図4(C)に示した溝16a,16bを形成
する第1のエッチング処理の後、図4(D)および図5
(A)に示した複数のエッチングによるビーム厚さ制御
プロセス、(5)図4(D)に示した破損防止ビーム1
7を形成する第1のエッチング工程、および、図5
(A)に示した第2のエッチング工程を用いて、カンチ
レバービームの各々の端部9a,9bにフィレット・
ラウンディングを形成するプロセス、(6)水平オフセ
ットを用いて(上側のプルーフ・マス1aを下側のプル
ーフ・マス1bより右側にずらした位置、すなわちオフ
セットした位置に形成して)、図5(A)に示したプル
ーフ・マス1a,1bをエッチングすることにより、
ンチレバービーム2の上面からプルーフ・マス1aの端
部まで、自己診断要素5を装着する空間を形成する平坦
面形成プロセスと図5(B)に示したピエゾレジスタ
(圧電抵抗体)および自己診断抵抗体を同時に収容する
プロセス、(7)ピエゾレジスタと自己診断抵抗体と接
続を行うメタライゼーションプロセス、(8)図5
(C)に図示した電極6,7と自己診断要素5に接続さ
れている導電ライン23との接続を行う形成プロセス、
(9)製造工程の間にカンチレバービームの破壊を防止
するため図5(A)、(B)、(C)におけるプロセス
工程を通じてビームの破壊を防止するまたは減少させる
プロセス、および、(12)ペースト溝12a,12b
にシールされたペーストを用いて支持体11に上部支持
プレイト10aおよび下部支持プレイト10bを取りつ
ける最終のボンディングプロセスを有している。
【0013】まず、図1(C)において、上部および下
(第1および第2)プルーフ・マス1a,1bが一点
鎖線(線B−B)で示したカンチレバービーム2の中心
面に対して、ただし、それらの水平位置にオフセットを
持って(位置的にずらして)対称に配置される。それに
より、全体のプルーフ・マスの中心がカンチレバービー
ム2の中心面に配置されて、交差軸感度(cross-axis s
ensitivity) を最小にし、強度的に最も弱い領域である
カンチレバービームの各々の端部9a,9bの対向す
カンチレバービーム2の面に平坦な面を提供し、その
平坦な面に自己診断導電体5または圧電抵抗体を取り
つけることを容易にする。さらに、カンチレバービーム
の各々の端部9a,9bに丸み(ラウンディング)が
形成されて応力の集中によるカンチレバービームの破
壊を防止する。
【0014】上述したプルーフ・マス1a,1bとが位
置的にずれた位置に形成された、スキュー・シンメトリ
カルな構造を採用した加速度計の1例が図2および図3
に図解されている。図2は本発明の実施の形態の加速時
計の斜視図であり、図3は図2に図解した加速時計の線
A−Aにおける断面図である。本発明の動作原理の詳細
な記述は下記の通りである。図3に図解したように、外
部支持部10a,10b,13a,13b(上部支持プ
レイト10a、下部支持プレイト10b、上部ボンディ
ング部13a、下部ボンディング部13b)の絶対変位
をZa とし、プルーフ・マス1a,1bの絶対変位をz
0 とすると、プルーフ・マス1a,1bと上記支持体
との間の相対変位はz=z0 −Za として表される。
図3に示したカンチレバービーム2はバネとして機能す
る。ここで、プルーフ・マス1a,1b、および、プル
ーフ・マス1a,1bと上部および下部支持プレイト1
0a,10bとの間のダンピングギャップ3a,3b
は流体が充填されており、その流体はそれぞれ、プルー
フ・マスおよびダンパーとして機能する。カンチレバー
ビーム2のバネ定数をKとし、プルーフ・マス1a,1
bの全質量をMとし、ダンパーのダンパー定数をCとす
ると、加速度計の運動方程式は下記のように記述でき
る。
【0015】
【数1】
【0016】正弦波入力をza =Zaiwt とすると、
下記に示す相対変位z
【0017】
【数2】
【0018】は下記になる。
【0019】
【数3】
【0020】ダンピング比率ζは下記になる。
【0021】
【数4】
【0022】それゆえ、式IIから、加速度(2ドット
Z、すなわち、Zの上にドットが2つつけられたもの)
の大きさは、相対変位z、つまり、マスの偏差(deflec
tion)の大きさから測定できる。
【0023】図2および図3はカンチレバービームの端
部9a,9bにおける応力からの偏差zのピエゾレジス
ティブ(ピエゾ抵抗的)な検出を用いた上記原理に基づ
く加速度計の適用例を示す。一方、ピエゾレジスティブ
検出型または静電容量検出型の加速度計は、ピエゾレジ
スティブ材料をピエゾエレクトリック(ピエゾ電気)材
料に置き換えること、または、ダンパーギャップの各々
の側に、電極を配設することによって、実現できる。こ
れらの形式の加速度計については、希望する共振周波数
ωn とダンピング比率ζは、プルーフ・マス1a,1b
の大きさ、カンチレバービーム2の大きさ、ダンピング
ギャップ3a,3b、または、ダンピングギャップ内の
流体の粘度および圧力を制御することにより、得ること
ができる。
【0024】図3に図示したように、プルーフ・マス
a,1bの中心がカンチレバービーム2中心平面B−
Bに位置しており、それにより、マスの位置ずれを無く
して、交差軸感度を向上させる。2つの同じ質量のマス
1a,1bの間の相対的なオフセットが(上側のプルー
フ・マス1aが下側のプルーフ・マス1bに対して右側
にずれた位置に形成されていることが)加速度計に自己
診断要素またはピエゾレジスタ5の装着を容易にする。
【0025】自己診断要素またはピエゾレジスタ5はま
た、加速度計に対する下記の能力を提供するために用い
られる。その能力とは、構造物破壊を検出する自己診断
能力、加速度計の周波数または感度を検出するための自
己検査能力、プルーフ・マス1a,1bおよび上部支持
プレイトおよび下部支持プレイト10a,10bに形成
された対向電極の使用による感度またはゼロオフセット
を補償する自己校正能力である。
【0026】図4(A)〜(D)および図5(A)〜
(C)は、基板材料としてシリコンを用いて図2および
図3に図示した加速度計を製造するための製造工程を例
を示している。その詳細な記述を下記に示す。
【0027】(工程A)図4(A)に図解したように、
シリコン基板21の両側にエッチングマスクとしてパー
シベーションフィルム22a,22bが形成される。
【0028】(工程B)図4(B)に図解したように、
ペースト溝12a,12b、ビーム厚さ制御溝および電
極14a,14b用の表面に位置する領域におけるパー
シベーションフィルム22a,22bが除去された後、
ダンピング制御ギャップ15a,15b部分が除去され
る。それから、マスクしていないシリコン基板が図3に
示したダンピングギャップ3a,3bの希望する深さま
でエッチングされる。この工程で上部ボンディング部
(上部支持プレイト)13aおよび下部ボンディング部
(上部支持プレイト)13bが準備される。
【0029】(工程C)図4(C)に図解したように、
工程Aにおけるようにパーシベーションフィルム22
a,22bの形成の後、パーシベーションフィルム22
a,22bおよびシリコン基板21の選択された区域2
3a,23bが、図3に示したカンチレバービーム2
形成される部分の厚さの半分の深さまでエッチングされ
て、ビームの厚さを制御するための溝16a,16b
形成される。
【0030】(工程D)図4(D)に図解したように、
工程Cにおいて使用されたパーシベーションフィルム2
2a,22bの選択された区域23a,23bを除去し
た後、カンチレバービーム2および破壊防止ビーム17
が形成される。代表的には、図3に図示した、カンチレ
バービームの各々の端部9a,9b(フィレット・ラウ
ンディング9a,9b)の形成のために適切な深さ、た
とえば、50〜80μmの深さまでエッチングされる。
図4(D)における破壊防止ビーム17の開口の長さは
最終的なビームの長さよりも短い。
【0031】(工程E)図5(A)に図解したように、
工程Dにおいて用いたパーシベーションフィルム22
a,22bの選択された区域23a,23bを除去した
後、エッチング貫通穴18,19が全体的にエッチング
で除去されて、図3に示した抵抗体4、導電体23、電
極6,7に用いる平坦面、および、図3におけるカンチ
レバービーム2と同じ厚さのシリコン膜2a,2bが形
成されるまで、シリコン基板21がエッチングされる。
上部および下部プルーフ・マス用のパーシベーションフ
ィルムの複数の開口がオフセットを持って(位置ずれし
た状態で)同じ形状を持ち、同じ面積であるべきであ
る。破壊防止ビーム17の開口の長さは工程Dにおける
ものより長いから、最終的なビーム長をもたらす。工程
Dおよび工程Eにおいて、最終的なビームの端部におけ
る曲げが所望の形状および半径を持ったフィレット・ラ
ウンディング部分が第1のエッチングおよび第2のエッ
チングのエッチング長さおよび深さを制御することによ
り形成される。
【0032】(工程F)図5(B)に図解したように、
ビームの偏差の検出に用いるピエゾレジスタ(圧電抵抗
体)4がビームの左端部に同時に形成される。自己診断
抵抗体5もまた図5(A)におけるジャンクション8と
フィレット・ラウンディング9bとの間に形成される。
【0033】(工程G)図5(C)に図解したように、
ピエゾ抵抗を測定する電極6a,6b,6c,6d、ピ
エゾレジスタブリッジ23(導電体23)および電極を
形成するメタルライン、および、自己診断用のメタルラ
インが同時に形成される。それから、ビーム2と破壊防
止ビーム2cが図5(A)のシリコン膜の選択された区
域2a,2bをエッチングすることにより形成される。
破壊防止ビーム2cを排除した後、上部および下部支持
プレイト10a,10b上部ボンディング部13a、
下部ボンディング部13bおよび支持体11に形成され
ペースト溝12a,12b内に収容されているペース
トを用いて結合される。図4(A)〜(D)および図5
(A)〜(C)に示された製造方法はダブル支持型加速
度計または多重支持型加速度計の製造にも用いられる。
【0034】その構造的な特徴に依存する本発明の利益
を下記に述べる。 (効果1)調整された相対的な位置でビーム2の両側に
同じ質量(マス)1a,1bを用いることにより、交差
感度を低減でき、さらに、自己診断に用いる導電体また
は抵抗体の取りつけを簡単にできる。 (効果2)効果1における自己診断能力に基づいて、自
己校正および自己検査能力が実現できる。 (効果3)ビーム2の両端部9a,9bに形成したフィ
レット・ラウンディングにより応力の集中を解放するこ
とにより、加速度計の製造期間または加速度計を使用す
る間、ビームの破壊が防止できる。 (効果4)ダンピングが質量1a,1bと支持プレイト
10a,10bとの間のダンピングギャップ3a,3b
を調整することにより、容易に制御できる。 (効果5)支持プレイトの両側のペースト溝12a,1
2bが加速度計をカバーフレイト10a,10b(上部
支持プレイト10a、下部支持プレイト10b)に対し
て整列させ、付着させることを容易にする。
【0035】新規でユニークな製造方法に基づく本発明
の利益を下記に述べる。 (1)製造工程の初期段階において、ダンピングギャッ
プを規定することにより、ダンピング制御ギャップ15
a,15bを精密に容易に制御できる。 (2)エッチングプロセス前およびエッチングプロセ
スの期間またはいずれかにおいて、エッチング時間およ
びエッチング深さを測定することなしに、正確なビーム
の厚さを得ることができる。図4(C)における半分の
ビームのエッチングを用いると、図5(A)におけるエ
ッチング穴18,19はエッチング終了の時間を示して
おり、その結果として、ビームの厚さを正確に制御でき
る。 (3)加速度計の最も弱い部分、すなわち、ビームの端
部9a,9bに2段階のエッチングプロセスによって形
成されたフィレット・ラウンディングによって、使用
中、ビームの破壊が防止できる。 (4)製造の終了後には除去される、破壊防止ビーム2
cを製造の中間段階で形成してそれ用いることにより、
製造の間ビームの破壊が防止できる。 (5)ダンピング制御ギャップ15a,15bとペース
ト溝12a,12bの形成を同時に行うのでプロセス工
程が短縮できる。
【0036】
【発明の効果】以上に述べたように、本発明によれば、
加速度計用のプルーフ・マス分布を適切にして、換言す
れば、カンチレバービームの上部と下部に相対的に異な
った位置に理想的な質量のプルーフ・マスを2つ設け、
両者の自己診断要素の収容を容易にしと交差軸感度の低
減を可能にした。また本発明によれば、フィレット・ラ
ウンディングを形成したことで、加速度計の歩留りと信
頼性が向上する。
【図面の簡単な説明】
【図1】図1(A)は従来の非対称型加速度計の断面図
であり、図1(B)は従来の対称型加速度計の断面図で
あり、図1(C)は本発明に基づくスキュー・シンメト
リカル・マスを備えた加速度計の断面図である。
【図2】図2は、ピエゾレジスティブ・カンチレバービ
ーム加速度計として用いた、図1(C)に示したスキュ
ー・シンメトリカル・マスエッチングの例示としての斜
視図である。
【図3】図3は図2に示した加速度計について線A−A
における断面図であり、上部プレイトと下部プレイトと
を取りつけた図である。
【図4】図4(A)〜(D)は図2に図解した加速度計
の製造方法を示す第1のプロセス図である。
【図5】図5(A)〜(D)は図2に図解した加速度計
の製造方法を示す第2のプロセス図である。
【図6】図6はダブル支持型ビーム加速度計として用い
られるスキュー・シンメトリカル・マス加速度計の他の
例を図解した図であり、図6(A)はその平面図であ
り、図6(B)はその断面図である。
【符号の説明】
1a,1b・・プルーフ・マス 2・・カンチレバービーム 2a,2b・・シリコン膜 3a,3b・・ダンピングギャップ 4・・抵抗体 5・・自己診断抵抗体(自己診断要素) 6a〜6d・・電極 7・・電極 8・・ジャンクション 9a,9b・・カンチレバービームの各々の端部(フィ
レット・ラウンディング) 10a,10b・・上部支持プレイト、下部支持プレイ
ト 11・・支持体 12a,12b・・ペースト溝 13a,13b・・上部ボンディング部、下部ボンディ
ング部 14a,14b・・電極 15a,15b・・ダンピング制御ギャップ 16a,16b・・溝 17・・破壊防止ビーム 18,19・・エッチング貫通穴 21・・シリコン基板 22a,22b・・パーシベーションフィルム 23・・導電体
フロントページの続き (73)特許権者 596071752 コリア アドバンスト インスティテュ ート オブ サイエンス アンド テク ノロジー 大韓民国 タエジョン ユサン−ク ク サン−ドン 373−1 (74)上記1名の代理人 100094053 弁理士 佐藤 隆久 (72)発明者 チョー ヨン−ホ 大韓民国、タエジョン、ユスン−ク、チ ュンミン−ドン、エクスポ アパート #307−808 (72)発明者 クワク ビュン マン 大韓民国、タエジョン、ユスン−ク、エ ヒュン−ドン、ハン−ビット アパート #101−802 (72)発明者 リー クイロ 大韓民国、タエジョン、ユスン−ク、エ ヒュン−ドン、ハン−ビット アパート #135−1303 (72)発明者 パーク クワンフン 大韓民国、キョンサンナム−ド、ウルサ ン、ジュン−ク、ヤンチュン−ドン、 700 (56)参考文献 特開 平5−10969(JP,A) 特開 平6−109758(JP,A) 特開 平6−74969(JP,A) 特開 平5−322917(JP,A) 特開 平1−301180(JP,A) 特開 平5−335596(JP,A) 特開 平5−273229(JP,A) 特開 平4−240569(JP,A) 実開 平5−50364(JP,U) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01P 15/12 - 15/125 G01P 21/00 H01L 29/84

Claims (5)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】支持体と、 該支持体から水平に延びるカンチレバービームと、前記支持体と水平方向において対向する前記カンチレバ
    ービームの端部の 先端に、前記カンチレバービームの水
    平中心面の上下両側に形成された同じ質量の上部マス
    よび下部のマスであって、当該上部マスが、当該下部マ
    スと水平方向において重複しつつ、当該下部マスより前
    記カンチレバービームの端部から離れた位置に、交差軸
    感度が最小になるように形成されており、前記カンチレバービームの下面の前記支持体との境界部
    および前記カンチレバービームの下面の前記下部マスと
    の境界部が、応力の集中による前記カンチレバービーム
    の破壊を防止するフィレット・ラウンディングとして形
    成されている第1および第2のカンチレバービーム下面
    端部と、 前記第2のカンチレバービーム下面端部と垂直方向にお
    いて対向する前記カンチレバービーム上面において、該
    カンチレバービーム上面から 前記上部マスの端部まで、
    ピエゾレジスティブ材料により形成された、少なくとも
    自己診断能力および自己検査能力を示す自己診断要素
    と、圧電効果型加速度計または静電容量型加速度計として機
    能する加速度検出要素と、 前記上部マスおよび前記下部マスの水平方向における
    端の前方に位置する第1のボンディング部および前記支
    持体に設けられた第2のボンディング部であって、該第
    1および第2のボンディング部の厚さは前記上部マスと
    前記下部マスとの合計厚さより厚い厚さになっており、
    該第1および第2のボンディング部の上下面にペースト
    溝が形成されている、第1および第2のボンディング部
    と、 前記ペースト溝を介して前記第1および第2のボンディ
    ング部の上下に設けられ、前記支持体を固定し、前記カ
    ンチレバービームおよび前記上部マスおよび前記下部マ
    を自由端にする、上部支持プレイトおよび下部支持プ
    レイトとを有し、 前記上部支持プレイトと前記上部マスとの間、および、
    前記下部支持プレイトと前記下部マスとの間にダンピン
    グギャップが規定され、 該ダンピングギャップにプルーフ・マスおよびダンパー
    として機能する流体が充填されており、前記加速度検出要素は、前記第1のカンチレバービーム
    下面端部と対向する前記前記カンチレバービームの上面
    にピエゾレジスティブ材料またはピエゾエレクトリック
    材料により圧電効果型加速度計として形成され、また
    は、前記ダンピング制御ギャップの上下両側に装着され
    た対向電極を有する静電容量型加速度計として形成さ
    れ、 前記加速度検出要素の検出信号に応じて加速度を検出す
    る、 対称型プルーフ・マス加速度計。
  2. 【請求項2】(a)基板と、支持体と、該支持体から
    平方向に延びる一方の面に少なくとも自己診断能力およ
    び自己検査能力を示す自己診断要素が装着されるカンチ
    レバービームと、前記支持体と水平方向において対向す
    る前記カンチレバービームの先端の前記カンチレバービ
    ームの水平中心面の上下両面に位置し、同じ質量の上部
    マスおよび下部マスとが形成されるダンピング制御ギャ
    ップと、前記上部マスおよび前記下部マスの水平方向に
    おける先端の前方に位置する第1のボンディング部およ
    び前記支持体に設けられた第2のボンディング部であっ
    て、該第1および第2のボンディング部の厚さは前記上
    部マスと前記下部マスとの合計厚さより厚い厚さになっ
    ており、該第1および第2のボンディング部の上下面に
    ペースト溝を有する第1および第2のボンディング部を
    一体構造に形成し、 (b)前記基板から前記カンチレバービームおよび前記
    上部マスおよび前記下部マスが形成される部分のダンピ
    ング制御ギャップの深さを調整してダンピングレベルを
    制御し、 (c)前記支持体と水平方向において対向する前記カン
    チレバービームの先端前記カンチレバービームの水平
    方向の中心面の上下に位置し、同じ質量で、交差軸感度
    を最小にしつつ、前記上部マスを前記下部マスより前記
    カンチレバービームの端部から離し、かつ、前記上部
    および前記下部マスとが水平方向において重複する位
    置に一体的に形成し、 (d)前記カンチレバービームと前記ペースト溝に固定
    される前記上部支持プレイトおよび前記下部支持プレイ
    トとの間、および、前記上部マスと前記上部支持プレイ
    トとの間および前記下部マスと前記下部支持プレイトと
    の間の相対的な位置を制御し、 (e)前記カンチレバービームの上面に前記自己診断要
    素を装着する平坦面を形成し、 (f)前記カンチレバービームの前記自己診断要素が
    着される面とは反対の前記カンチレバービームの下面
    記支持体との境界および前記下部マスとの境界の第1
    および第2のカンチレバービーム下面端部に応力の集中
    による前記カンチレバービームの破壊を防止するフィレ
    ット・ラウンディングを形成して製造され、 前記水平方向において対向する第1および第2のカンチ
    レバービーム下面端部と垂直方向において対向する前記
    カンチレバービームのそれぞれの上面にピエゾレジステ
    ィブ材料で加速度検出要素および前記自己診断要素を形
    成し、 前記加速度検出要素で検出した検出信号に応じて加速度
    を検出する、 対称型プルーフ・マス加速度計。
  3. 【請求項3】前記カンチレバービームは、前記自己診断
    要素から、自己診断能力、自己校正能力および自己検査
    能力が付与されている請求項1または2記載の対称型プ
    ルーフ・マス加速度計。
  4. 【請求項4】支持体と、 該支持体から水平に延びるカンチレバービームと、前記支持体と水平方向において対向する前記カンチレバ
    ービームの 端部の先端に、前記カンチレバービームの水
    平中心面の上下両側に形成された同じ質量の上部マス
    よび下部マスであって、当該上部マスが、当該下部マ
    スと水平方向において重複しつつ、当該下部マスより前
    記カンチレバービームの端部から離れた位置に、交差軸
    感度が最小になるように形成されており、前記カンチレバービームの下面の前記支持体との境界部
    および前記カンチレバ ービームの下面の前記下部マスと
    の境界部が、応力の集中による前記カンチレバービーム
    の破壊を防止するフィレット・ラウンディングとして形
    成されている第1および第2のカンチレバービーム下面
    端部と、 前記第2のカンチレバービーム下面端部と垂直方向にお
    いて対向する前記カンチレバービーム上面において、該
    カンチレバービーム上面から前記上部マスの端部まで、
    ピエゾレジスティブ材料により形成された、少なくとも
    自己診断能力および自己検査能力を示す 自己診断要素
    と、圧電効果型加速度計または静電容量型加速度計として機
    能する加速度検出要素と、 前記上部マスおよび前記下部マスの水平方向における先
    端の前方に位置する第1のボンディング部および前記支
    持体に設けられた第2のボンディング部であって、該第
    1および第2のボンディング部の厚さは前記上部マスと
    前記下部マスとの合計厚さより厚い厚さになっており、
    該第1および第2のボンディング部の上下面にペースト
    溝が形成されている、第1および第2のボンディング部
    と、前記ペースト溝を介して前記第1および第2のボンディ
    ング部の上下に設けられ、前記支持体を固定し、前記カ
    ンチレバービームおよび前記上部マスおよび前記下部マ
    スを自由端にする、上部支持プレイトおよび下部支持プ
    レイトとを有し、 前記上部支持プレイトと前記上部マスとの間、および、
    前記下部支持プレイトと前記下部マスとの間にダンピン
    グギャップが規定され、 該ダンピングギャップにプルーフ・マスおよびダンパー
    として機能する流体が充填されており、 前記加速度検出要素は、前記第1のカンチレバービーム
    下面端部と垂直方向において対向する前記前記カンチレ
    バービームの上面にピエゾレジスティブ材料またはピエ
    ゾエレクトリック材料により圧電効果型加速度計として
    形成され、 前記加速度検出要素の検出信号に応じて加速度を検出す
    る、 対称型プルーフ・マス加速度計を製造する方法であっ
    て、 下記の諸段階、すなわち、 基板から、前記カンチレバービームおよび前記上部マス
    および前記下部マスが形成される部分であるダンピング
    制御ギャップ、前記ペースト溝およびビーム厚さ制御領
    域を同時にエッチングする第1のエッチング段階、 前記ダンピング制御ギャップを形成するためエッチング
    深さを制御する段階、 前記ペースト溝についての第1のエッチング段階の処理
    後、複数回のエッチングを適用して前記ビームの厚さを
    制御する第2のエッチング段階、 前記第1のエッチング段階および第2のエッチング段階
    におけるエッチングによって前記フィレット・ラウンデ
    ィングを形成する段階、 前記カンチレバービームの先端に、かつ、前記カンチレ
    バービームの中心面の上下に、前記上部マスおよび前記
    下部マスが水平方向において重複し、かつ、前記上部マ
    スが前記下部マスより前記カンチレバービームから離れ
    位置に、交差軸感度最小になるようにエッチングし
    て形成して、前記カンチレバービームの上面に該上面か
    ら前記上部マスに至る部分に前記自己診断要素を装着さ
    せる空間のための平坦面を形成する段階、 前記平坦面に前記加速度検出要素および前記自己診断要
    素のためのピエゾレジスティブ部を同時に製造する第1
    の製造段階、 ブリッジ回路用のメタルラインと電極とを同時に製造す
    る第2の製造段階、加速度 検出用のビームと、製造工程の期間の間前記ビー
    ムの破壊を防止するためのビームを同時に製造する第3
    の製造段階、 前記第1〜第3の製造段階の後の段階において前記破壊
    を防止するためのビームを排除する段階、 前記第1および第2のボンディング部に形成された前記
    ペースト溝に収容されたペーストを用いて前記加速度
    出要素に前記下部支持プレイトおよび前記上部支持プレ
    イトを結合する段階を有することを特徴とする対称型プ
    ルーフ・マス加速度計を製造する方法。
  5. 【請求項5】前記加速度検出要素の両側にダブルに支持
    されるビームを付加的に製造する、または、前記加速度
    検出要素に複数に支持されるビームを付加的に製造す
    る、 請求項4記載の対称型プルーフ・マス加速度計を製造す
    る方法。
JP26013595A 1994-10-07 1995-10-06 自己診断能力を備えた対称型プルーフ・マス加速度計とその製造方法 Expired - Fee Related JP3434944B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019940025687A KR0139506B1 (ko) 1994-10-07 1994-10-07 자체진단 기능을 구비한 대칭질량형 가속도계 및 그 제조방법
KR1994-25687 1994-10-07

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH08184609A JPH08184609A (ja) 1996-07-16
JP3434944B2 true JP3434944B2 (ja) 2003-08-11

Family

ID=19394627

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP26013595A Expired - Fee Related JP3434944B2 (ja) 1994-10-07 1995-10-06 自己診断能力を備えた対称型プルーフ・マス加速度計とその製造方法

Country Status (5)

Country Link
US (2) US5777227A (ja)
JP (1) JP3434944B2 (ja)
KR (1) KR0139506B1 (ja)
DE (1) DE19537577C2 (ja)
FR (1) FR2725524B1 (ja)

Families Citing this family (27)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR0139506B1 (ko) * 1994-10-07 1998-07-15 전성원 자체진단 기능을 구비한 대칭질량형 가속도계 및 그 제조방법
FR2742230B1 (fr) * 1995-12-12 1998-01-09 Sextant Avionique Accelerometre et procede de fabrication
JP4166293B2 (ja) * 1996-09-20 2008-10-15 三菱電機株式会社 車両の衝突検出装置
DE19649715C2 (de) * 1996-11-30 2001-07-12 Telefunken Microelectron Anordnung zur Messung von Beschleunigungen
US6332359B1 (en) * 1997-04-24 2001-12-25 Fuji Electric Co., Ltd. Semiconductor sensor chip and method for producing the chip, and semiconductor sensor and package for assembling the sensor
US6070531A (en) * 1997-07-22 2000-06-06 Autoliv Asp, Inc. Application specific integrated circuit package and initiator employing same
JP2000106070A (ja) * 1998-09-28 2000-04-11 Tokai Rika Co Ltd マイクロgスイッチ
EP0997920B1 (en) * 1998-10-29 2002-06-12 Sensonor A.S. Micromechanical acceleration switch
JP2000346865A (ja) * 1999-03-26 2000-12-15 Ngk Insulators Ltd 加速度センサ素子の感度調整方法
JP3520821B2 (ja) * 1999-10-29 2004-04-19 株式会社村田製作所 振動ジャイロ用自己診断回路
US6829524B2 (en) * 2001-08-20 2004-12-07 Wisys Technology Foundation, Inc. Method and apparatus for estimating yaw rate in a wheeled vehicle and stability system
DE10248736B4 (de) * 2002-10-18 2005-02-03 Litef Gmbh Verfahren zur Ermittlung eines Nullpunktfehlers eines Corioliskreisels
US7005193B2 (en) * 2003-04-29 2006-02-28 Motorola, Inc. Method of adding mass to MEMS structures
TWI255341B (en) 2004-06-10 2006-05-21 Chung Shan Inst Of Science Miniature accelerator
JP4540467B2 (ja) * 2004-12-22 2010-09-08 Okiセミコンダクタ株式会社 加速度センサの構造及びその製造方法
USRE46514E1 (en) * 2008-10-07 2017-08-15 Panasonic Corporation Angular velocity sensor element, angular velocity sensor and angular velocity sensor unit both using angular velocity sensor element, and signal detecting method for angular velocity sensor unit
US8205498B2 (en) * 2008-11-18 2012-06-26 Industrial Technology Research Institute Multi-axis capacitive accelerometer
JP2013007653A (ja) * 2011-06-24 2013-01-10 Nippon Dempa Kogyo Co Ltd 外力検出装置及び外力検出センサー
DE212013000103U1 (de) * 2012-04-20 2014-11-20 Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. Trägheitskraftsensor
DE102015213576A1 (de) * 2015-05-11 2016-11-17 Robert Bosch Gmbh Verfahren zur Ansteuerung von Rückhaltemitteln für ein Fahrzeug, Computerprogramm, elektronisches Speichermedium und Vorrichtung Ansteuerung von Rückhaltemitteln für ein Fahrzeug
CN105258788B (zh) * 2015-10-23 2019-01-29 清华大学 一种用于高温条件下振动传感器起振元件及其制备方法
US10060943B2 (en) * 2016-03-18 2018-08-28 Rosemount Aerospace Inc. Symmetric MEMS piezoelectric accelerometer for lateral noise
JP2017187447A (ja) * 2016-04-08 2017-10-12 アルプス電気株式会社 センサ装置
US10073115B1 (en) 2016-04-18 2018-09-11 The United States Of America As Represented By The Administrator Of National Aeronautics And Space Administration Self diagnostic accelerometer field programmable gate array (SDA FPGA)
US20180149672A1 (en) * 2016-11-30 2018-05-31 Fiber Optic Sensor Systems Technology Corporation Intensity modulated fiber optic accelerometers and sensor system
CN107167304B (zh) * 2017-04-20 2019-03-01 西安交通大学 一种参数可调的铰间隙动力学特性研究试验台和试验方法
CN115605765A (zh) * 2021-04-23 2023-01-13 深圳市韶音科技有限公司(Cn) 加速度传感装置

Family Cites Families (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2452714A1 (fr) * 1979-03-30 1980-10-24 Thomson Csf Accelerometre a ondes elastiques
US4522072A (en) * 1983-04-22 1985-06-11 Insouth Microsystems, Inc. Electromechanical transducer strain sensor arrangement and construction
US4891985A (en) * 1985-07-22 1990-01-09 Honeywell Inc. Force sensor with attached mass
US4670092A (en) * 1986-04-18 1987-06-02 Rockwell International Corporation Method of fabricating a cantilever beam for a monolithic accelerometer
US4945765A (en) * 1988-08-31 1990-08-07 Kearfott Guidance & Navigation Corp. Silicon micromachined accelerometer
FR2637125B1 (fr) * 1988-09-29 1992-07-03 Vectavib Procede de fabrication d'un capteur integre de grandeurs mecaniques et capteur obtenu
US5081867A (en) * 1988-09-30 1992-01-21 Nec Corporation Semiconductor sensor
JPH0623782B2 (ja) * 1988-11-15 1994-03-30 株式会社日立製作所 静電容量式加速度センサ及び半導体圧力センサ
US5594172A (en) * 1989-06-21 1997-01-14 Nissan Motor Co., Ltd. Semiconductor accelerometer having a cantilevered beam with a triangular or pentagonal cross section
JP2811768B2 (ja) * 1989-07-17 1998-10-15 株式会社デンソー 半導体式加速度センサおよびその製造方法
JPH0670644B2 (ja) * 1989-09-07 1994-09-07 株式会社日立製作所 半導体容量式加速度センサとその製造方法
JP2560140B2 (ja) * 1990-08-03 1996-12-04 日産自動車株式会社 半導体装置
JP2575939B2 (ja) * 1990-09-21 1997-01-29 日産自動車株式会社 半導体加速度センサ
US5186053A (en) * 1990-12-19 1993-02-16 New Sd, Inc. Temperature compensated proofmass assembly for accelerometers
JP2728807B2 (ja) * 1991-07-24 1998-03-18 株式会社日立製作所 静電容量式加速度センサ
FR2698447B1 (fr) * 1992-11-23 1995-02-03 Suisse Electronique Microtech Cellule de mesure micro-usinée.
JP2804874B2 (ja) * 1992-12-25 1998-09-30 三菱電機株式会社 半導体加速度検出装置
KR0139506B1 (ko) * 1994-10-07 1998-07-15 전성원 자체진단 기능을 구비한 대칭질량형 가속도계 및 그 제조방법

Also Published As

Publication number Publication date
JPH08184609A (ja) 1996-07-16
FR2725524B1 (fr) 1999-05-07
KR0139506B1 (ko) 1998-07-15
KR960014939A (ko) 1996-05-22
DE19537577C2 (de) 1997-08-14
US5927143A (en) 1999-07-27
US5777227A (en) 1998-07-07
DE19537577A1 (de) 1996-04-11
FR2725524A1 (fr) 1996-04-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3434944B2 (ja) 自己診断能力を備えた対称型プルーフ・マス加速度計とその製造方法
US6263735B1 (en) Acceleration sensor
US5576250A (en) Process for the production of accelerometers using silicon on insulator technology
US5148604A (en) Micromechanical tilt sensor
JP3305516B2 (ja) 静電容量式加速度センサ及びその製造方法
EP0604519B1 (en) Micromechanical tuning fork angular rate sensor
CA2034663C (en) Method and apparatus for semiconductor chip transducer
JP4705229B2 (ja) マイクロマシニング型の回転角加速度センサ
EP0391512B1 (en) Force transducer etched from silicon, and method of producing the same
US4969359A (en) Silicon accelerometer responsive to three orthogonal force components and method for fabricating
US6845668B2 (en) Gyroscope
JPH09113534A (ja) 加速度センサー
US4981552A (en) Method for fabricating a silicon accelerometer responsive to three orthogonal force components
US4812199A (en) Rectilinearly deflectable element fabricated from a single wafer
JP2575939B2 (ja) 半導体加速度センサ
JPH11326365A (ja) 半導体力学量センサ
US5335544A (en) Apparatus for measuring mechanical forces and force actions
JPH11135804A (ja) 半導体加速度センサ及びその製造方法
JP5380891B2 (ja) Memsおよびmems製造方法
JP2000277753A (ja) 半導体加速度センサおよびその製造方法
JPH07128365A (ja) 半導体加速度センサとその製造方法
JP3021905B2 (ja) 半導体加速度センサの製造方法
JP3019444B2 (ja) 半導体加速度センサ
JPH1079519A (ja) 半導体のマイクロマシニング方法
JP3211433B2 (ja) 力学量センサの製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
LAPS Cancellation because of no payment of annual fees