JP3481307B2 - 半導体ウエハ表面保護用粘着テープ - Google Patents
半導体ウエハ表面保護用粘着テープInfo
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Description
する工程において使用する粘着テープに関し、ウエハ裏
面研削時のウエハ表面のパターン保護等に使用される半
導体ウエハ表面保護用粘着テープに関する。
においては、パターン形成後のウエハは、通常、その厚
さを薄くするため、ウエハ裏面に研削、エッチング等の
処理が施される。この際、ウエハ表面のパターンを保護
する目的で該パターン面に粘着テープを貼着する。
射線、例えば紫外線のような光または電子線のような電
離性放射線を透過する基材フィルム上に放射線照射によ
り硬化する性質を有する粘着剤を塗工した放射線硬化性
粘着テープを用いる方法が提案されている。パターン形
成後のウエハ表面に放射線硬化性粘着テープを貼着し、
この状態でウエハ裏面に研削、エッチング等の処理を施
す。次いで、粘着テープに対して放射線を照射すること
によって、基材上の粘着剤層を硬化させて粘着性を失わ
せ、粘着テープより処理後のウエハを剥離する。
いて、その接着剤層は放射線照射し硬化させた後では表
面の粘着性がほとんど失われるように設計されている一
方、放射線照射前ではウエハ表面に対する粘着性が非常
に高くなるように設計されている。
な放射線硬化性粘着テープは、ウエハ表面からテープを
容易に剥離させるために、放射線照射による架橋硬化反
応により粘着剤の流動性を著しく低下させ粘着力を下げ
ることから、ウエハ裏面研削、エッチング処理時に有し
ていた粘着剤の可撓性が剥離時にはほとんどなくなって
しまう。このため、テープ剥離時の屈曲によりパターン
面の微細な凹凸部に浸入した糊がちぎれて残ってしまう
糊残りが生じるという問題があった。
ウエハ表面保護用粘着テープを提供することを目的とす
る。すなわち、放射線照射しても粘着剤が適度な可撓性
を有しているため、テープ剥離時に半導体ウエハのパタ
ーン面の微細な凹凸部に糊残りを生じることのない半導
体ウエハ表面保護用粘着テープを提供することを目的と
する。
線透過性基材上に、粘着剤層を設けてなる半導体ウエハ
表面保護用粘着テープにおいて、前記粘着剤層として塗
布する粘着剤が、分子中にヨウ素価0.5〜20の光重
合性炭素−炭素二重結合を有し、ガラス転移点が−70
〜−35℃である分子量1万〜22万の化合物(A)1
00重量部と、エポキシ樹脂、ポリイソシアネート類、
メラミン・ホルムアルデヒド樹脂から選ばれる少なくと
も1種(B)0.1〜10重量部とを主成分として含有
してなることを特徴とする半導体ウエハ表面保護用粘着
テープが提供される。
光線、または電子線などの電離性放射線を言う。
〜20の光重合性炭素−炭素二重結合を有する分子量1
万〜22万の化合物(A)はどのような製造方法のもの
でもよいが、例えば、アクリル系共重合体またはメタク
リル系共重合体などの光重合性炭素−炭素二重結合を有
し、かつ官能基をもつ化合物()と、その官能基と反
応し得る官能基及び炭素−炭素二重結合をもつ化合物
()とを反応させて得られるものが用いられる。
結合及び官能基を有する化合物()は、アクリル酸ア
ルキルエステルまたはメタクリル酸アルキルエステル等
の光重合性炭素−炭素二重結合を有する単量体(−
1)と、官能基を有する単量体(−2)とを反応させ
て得ることができる。
のヘキシルアクリレート、n−オクチルアクリレート、
イソオクチルアクリレート、2−エチルヘキシルアクリ
レート、ドデシルアクリレート、デシルアクリレート、
または炭素数5以下の単量体である、ペンチルアクリレ
ート、n−ブチルアクリレート、エチルアクリレート、
メチルアクリレート、またはこれらと同様のメタクリレ
ートなどを列挙することができる。
は、カルボキシル基、水酸基、アミノ基、環状酸無水
基、エポキシ基、イソシアネート基等をあげることがで
き、単量体(−2)の具体例としては、アクリル酸、
メタクリル酸、けい皮酸、イタコン酸、フマル酸、フタ
ル酸、2−ヒドロキシアルキルアクリレート類、2−ヒ
ドロキシアルキルメタクリレート類、グリコールモノメ
タクリレート類、N−メチロールアクリルアミド、N−
メチロールメタクリルアミド、アリルアルコール、N−
アルキルアミノエチルアクリレート類、N−アルキルア
ミノエチルメタクリレート類、アクリルアミド類、メタ
クリルアミド類、無水マレイン酸、無水イタコン酸、無
水フマル酸、無水フタル酸、グリシジルアクリレート、
グリシジルメタクリレート、アリルグリシジルエーテ
ル、ポリイソシアネート化合物のイソシアネート基の一
部を水酸基またはカルボキシル基及び光重合性炭素−炭
素二重結合を有する単量体でウレタン化したもの等を列
挙することができる。
合物()、つまり単量体(−2)の有する官能基
が、カルボキシル基または環状酸無水基である場合に
は、水酸基、エポキシ基、イソシアネート基等をあげる
ことができ、水酸基である場合には、環状酸無水基、イ
ソシアネート基などをあげることができ、アミノ基であ
る場合には、エポキシ基、イソシアネート基などをあげ
ることができ、エポキシ基である場合にはカルボキシル
基、環状酸無水基、アミノ基等をあげることができ、具
体例としては単量体(−2)の具体例で列挙したもの
と同様のものを列挙することができる。
数の大きな単量体を使用するほどガラス転移点は低くな
るので、所望のガラス転移点のものを作製することがで
きる。また、ガラス転移点の他、相溶性と各種性能をあ
げる目的で酢酸ビニル、スチレン、アクリロニトリル等
の炭素−炭素二重結合を持つ低分子化合物を配合するこ
とも5重量%以下の範囲内でできる。
て、未反応の官能基を残すことにより、酸価または水酸
基価等の特性に関して、所望のものを調製することがで
きる。
を溶液重合で行う場合の有機溶媒としては、ケトン類、
エステル類、アルコール類、芳香族系のものを使用する
ことができるが、中でもトルエン、酢酸エチル、イソプ
ロピルアルコール、ベンゼンメチルセロソルブ、エチル
セロソルブ、アセトン、メチルエチルケトンなどの、一
般的にアクリル系ポリマーの良溶媒で、沸点60〜12
0℃の溶媒が好ましく、重合開始剤としてはα,α’−
アゾビスイソブチルニトリルなどのアゾビス系、ベンゾ
イルペルオキシドなどの有機過酸化物系などのラジカル
発生剤を通常用いる。
を併用することができ、重合温度及び重合時間を調節す
ることにより、所望の分子量の化合物(A)を得ること
ができる。また分子量を調節することに関しては、メル
カプタン、四塩化炭素系の溶剤を用いることが好まし
い。なおこの反応は溶液重合に限定されるものではな
く、塊状重合、懸濁重合など従来公知の別の方法でも差
し支えない。
とができるが、本発明において、化合物(A)の分子量
は、1万〜22万程度が好ましい。分子量が22万を越
えると、放射線照射した場合に、放射線照射後の粘着剤
の可撓性がなく、脆くなっているため、ウエハ表面から
の剥離時に、ウエハ表面パターンの微細な凹凸部に糊残
りを生じる。
集力が小さく粘着力が弱いため、ウエハ裏面を研削した
り、エッチングする際にエッチング液が浸入しやすくな
り、ウエハ表面を汚染するおそれがある。また、放射線
照射後も硬化が不十分で、ウエハ表面からの剥離時に、
ウエハ表面パターンの微細な凹凸部に糊残りを生じる。
これらを極力防止するためには、分子量が10万以上で
ある方が好ましい。
重合性炭素−炭素二重結合の導入量はヨウ素価で0.5
〜20、好ましくは5〜15とする。ヨウ素価が0.5
未満では、放射線照射後の粘着力の低減効果が小さくな
るため粘着剤の硬化が不十分で、糊残りの原因となり、
ヨウ素価が20を越えると、放射線照射後の粘着剤の流
動性が十分ではなく、粘着剤が脆くなっており、剥離時
に硬化した粘着剤がちぎれて糊残りが生じてしまうほ
か、化合物(A)そのものの安定性に欠け、製造が困難
になるためである。
−70〜−35℃、好ましくは−70〜−40℃とす
る。ガラス転移点が−70℃より低いと、粘着剤の流動
性が高く糊残りの原因となってしまい、−35℃より高
いと流動性が不十分でパターン面になじみにくく、エッ
チング液がウエハ表面と粘着テープの間に浸入する原因
となってしまうためである。
酸価を0.5〜30、好ましくは1〜20、また、水酸
基価を5〜100、好ましくは10〜80とすると、さ
らに粘着テープ剥離時の糊残り防止効果に優れた粘着テ
ープが得られる。
して、ポリイソシアネート類、メラミン・ホルムアルデ
ヒド樹脂、またはエポキシ樹脂の群から選ばれる少なく
とも1種(B)を、化合物(A)100重量部に対して
0.1〜10重量部、好ましくは1〜10重量部の割合
で含有する。(B)は架橋剤として働き、化合物(A)
及び基材フィルムと反応した結果できる架橋構造によ
り、化合物(A)及び化合物(B)を主成分とした粘着
剤の凝集力を粘着剤塗布後に向上することができる。
集力向上効果が十分でないため、粘着剤の流動性が高く
糊残りの原因となってしまい、また粘着剤面と被着体面
がずれやすくウエハ裏面の研削、エッチング時に剥がれ
てしまう。10重量部を越えると粘着剤の配合及び塗布
作業中に架橋構造が急速に形成され、硬化反応が進行す
るため、作業性が損なわれる。また、粘着剤の柔軟性が
損なわれ、パターン面になじみにくくエッチング液の浸
入の原因となってしまう。
射後の粘着力の低減効果を向上させ、なおかつ放射線照
射後の粘着剤の流動性を損なわないために、化合物
(A)100重量部に対して、光重合性の炭素−炭素二
重結合を少なくとも1固有する分子量1万未満のシアヌ
レート化合物及びイソシアヌレート化合物(C)を10
重量部以下含有させるのが好ましい。
結合を繰り返し単位当り少なくとも1個有する分子量1
万未満のシアヌレート化合物またはイソシアヌレート化
合物(C)とは、分子内にトリアジン環を有し、さらに
光重合性の炭素−炭素二重結合を有する分子量1万未満
の化合物である。トリアジン環またはイソトリアジン環
を有する化合物は、一般に、ハロシアン化合物、ジアニ
リン化合物、ジイソシアネート化合物等を原料として常
法の環化反応によって合成することができる。さらにこ
のようにして合成された化合物に光重合性炭素−炭素二
重結合含有基、例えばビニル基、アリル基、アクリロキ
シ基、メタクリロキシ基等を含む官能基を導入して得る
ことができる。
されるものではないが、トリアジン環またはイソトリア
ジン環に導入された炭素−炭素二重結合含有基がいわゆ
る剛直な分子構造、例えば芳香環、異節環基等を含まな
いものが好ましい。その理由は、これらによって粘着剤
に過度の剛直性を与えることにより、放射線照射後の粘
着剤の流動性が損なわれるためである。したがって、炭
素−炭素二重結合との間の結合基は原子の自由回転性に
富むことが好ましく、これらの官能基を例示すれば、ア
ルキレン基、アルキリデン基などの脂肪族基などであ
り、これらには−O−、−OCO−、−COO−、−N
HCO−、−NHCOO−結合等を有してもよい。
アヌレート化合物(C)の具体例としては、2−プロペ
ニル ジ−3−ブテニルシアヌレート、2−ヒドロキシ
エチル ビス(2−アクリロキシエチル)イソシアヌレ
ート、トリス(アクリロキシエチル)イソシアヌレー
ト、トリス(メタクリロキシエチル)イソシアヌレー
ト、ビス(2−アクリロキシエチル)2−(5−アクリ
ロキシ)ヘキシロキシエチルイソシアヌレート、トリス
(1,3−ジアクリロキシイソプロピル−オキシカルボ
ニル−n−ヘキシル)イソシアヌレート、トリス(1−
アクリロキシ−3−メタクリロキシイソプロピル−オキ
イソプロピル−オキシジカルボニルアミノ−n−ヘキシ
ル)イソシアヌレートなどを列挙することができる。
00重量部に対して10重量部以下が好ましい。10重
量部を越えると、粘着剤の放射線照射前の粘着力が小さ
くなり、ウエハ裏面の研削、エッチング時に粘着テープ
が剥がれやすくなる。
によって硬化させる場合には、光重合開始剤、例えば、
イソプロピルベンゾインエーテル、イソブチルベンゾイ
ンエーテル、ベンゾフェノン、ミヒラーズケトン、クロ
ロチオキサントン、ドデシルチオキサントン、ジメチル
チオキサントン、ジエチルチオキサントン、ベンジルジ
メチルケタール、α−ヒドロキシクロロヘキシルフェニ
ルケトン、2−ヒドロキシメチルフェニルプロパン等を
併用することができる。これらのうち、1種あるいは2
種以上を粘着剤に添加することによって、紫外線照射時
間または紫外線照射量が少なくても効率よく硬化反応を
進行させ、粘着力を低下させることができる。
粘着剤には必要に応じて粘着付与剤、粘着調製剤、界面
活性剤等、あるいはその他の改質剤及び慣用成分を配合
することができる。
れるものではないが、通常2〜50μmである。
プラスチック、ゴムなどを好ましく用い、放射線を透過
する限りにおいて特に制限されるものではないが、紫外
線照射によって放射線硬化性粘着剤を硬化させる場合に
は、この基材としては光透過性の良いものを選択する必
要がある。このような基材として選択しうるポリマーの
例としては、ポリエチレン、ポリプロピレン、エチレン
−プロピレン共重合体、ポリブテン−1、ポリ−4−メ
チルペンテン−1、エチレン−酢酸ビニル共重合体、エ
チレン−アクリル酸共重合体、アイオノマー等のα−オ
レフィンの単独重合体または共重合体あるいはこれらの
混合物、ポリエチレンテレフタレート、ポリカーボネー
ト、ポリメチルメタクリレート等のエンジニアリングプ
ラスチック、ポリウレタン、スチレン−エチレン−ブテ
ンもしくはペンテン系共重合体等の熱可塑性エラストマ
ー等を列挙することができる。
線透過性の観点から通常30〜300μmが適当であ
る。
る。放射線性硬化性粘着剤を実施例1〜8、比較例1〜
9に示すように調製し、100μm厚のポリエステルフ
ィルム上に、乾燥後の粘着剤塗布厚さが30μmとなる
ように塗布した。このようにして製作した粘着テープの
特性は次のように試験し、評価した。
プを荷重1kgの加圧ロールを用いて貼着し、 HF:
HNO3=1:9のエッチング液に1分間浸漬し、水
洗、乾燥後、放射線照射した後、テープを剥離する。テ
ープを貼合していたウエハ表面を顕微鏡にて観察し、エ
ッチング液の浸入、糊残りの有無を観察する。
に示す。
リレート446.5g、メチルメタアクリレート45
g、メタクリル酸3.4g、重合開始剤としてベンゾイ
ルペルオキシド0.5gの混合液を2時間かけて滴下し
ながら、100℃の温度下で4時間反応させ官能基を持
つ化合物()の溶液を得た。次にこのポリマー溶液
()に、光重合性炭素−炭素二重結合及び官能基を有
する化合物()として、2−ヒドロキシエチルメタク
リレート5.1g、重合禁止剤としてハイドロキノン
0.1gを加え、120℃の温度下で6時間反応させた
後、酢酸にて中和し、化合物(A)の溶液を得た。合成
された化合物(A)の分子量、ガラス転移点、ヨウ素
価、酸価、水酸基価を表1に示す。この化合物(A)溶
液中の化合物(A)100重量部に対し、ポリイソシア
ネート(B)(日本ポリウレタン社製:コロネートL)
1重量部、光重合開始剤(日本チバガイギー社製イルガ
キュアー184)0.5重量部を化合物(A)溶液中に
加えて混合し、放射線硬化性粘着剤を調製した。
トの配合量を1gとした以外は実施例1と同様にして表
1に示した放射線硬化性粘着剤を調製した。
3時間20分とした以外は実施例1と同様にして表1に
示した放射線硬化性粘着剤を調製した。
としてトリス(1,3−ジアクリロキシイソプロピル−
オキシカルボニル−n−ヘキシル)イソシアヌレートを
5重量部配合した以外は実施例1と同様にして表1に示
した放射線硬化性粘着剤を調製した。
エチレングリコールを44g加え、酢酸にて中和しない
以外は実施例1と同様にして表1に示した放射線硬化性
粘着剤を調製した。
としてトリス(1,3−ジアクリロキシイソプロピル−
オキシカルボニル−n−ヘキシル)イソシアヌレートを
5重量部配合した以外は実施例1と同様にして表1に示
した放射線硬化性粘着剤を調製した。
6gとし、酢酸にて中和しない以外は実施例1と同様に
して表1に示した放射線硬化性粘着剤を調製した。
4gとし、酢酸にて中和しない以外は実施例1と同様に
して表1に示した放射線硬化性粘着剤を調製した。
0分とした以外は実施例1と同様にして表1に示した放
射線硬化性粘着剤を調製した。
時間とした以外は実施例1と同様にして放射線硬化性粘
着剤を調製した。
クリレート715.3gとした以外は実施例1と同様に
して表1に示した放射線硬化性粘着剤を調製した。
クリレート374.3g、メチルメタアクリレート12
5.7gとした以外は実施例1と同様にして表1に示し
た放射線硬化性粘着剤を調製した。
合しない他は実施例1と同様にして表1に示した放射線
硬化性粘着剤を調製した。
合量を12.7gとした他は実施例1と同様にして表1
に示した放射線硬化性粘着剤を調製した。
1に示した放射線硬化性粘着剤を調製した。
にして表1に示した放射線硬化性粘着剤を調製した。
にして表1に示した放射線硬化性粘着剤を調製した。
を半導体ウエハ等の裏面研削、エッチング時のパターン
面の保護に用いた場合、パターンの凹凸によくなじむこ
とより裏面研削時の冷却水もしくはエッチング液の浸入
を防ぎ、なおかつ放射線照射しても粘着剤の流動性が多
少あるため、ICパターン面の凹凸に入り込んだ糊がち
ぎれて残ることなく粘着テープを剥離することができ
る。
Claims (3)
- 【請求項1】 放射線透過性基材上に、粘着剤層を設け
てなる半導体ウエハ表面保護用粘着テープにおいて、前
記粘着剤層として塗布する粘着剤が、分子中にヨウ素価
0.5〜20の光重合性炭素−炭素二重結合を有し、ガ
ラス転移点が−70〜−35℃である分子量1万〜22
万の化合物(A)100重量部と、エポキシ樹脂、ポリ
イソシアネート類、メラミン・ホルムアルデヒド樹脂か
ら選ばれる少なくとも1種(B)0.1〜10重量部と
を主成分として含有してなることを特徴とする半導体ウ
エハ表面保護用粘着テープ。 - 【請求項2】 前記粘着剤層の粘着剤が光重合性の炭素
−炭素二重結合を繰り返し単位当たり少なくとも1個有
する分子量1万未満のシアヌレート化合物またはイソシ
アヌレート化合物(C)を含有し、その含有量が前記化
合物(A)100重量部に対し10重量部以下であるこ
とを特徴とする請求項1記載の半導体ウエハ表面保護用
粘着テープ。 - 【請求項3】 前記粘着剤中の化合物(A)が酸価0.
5〜30、水酸基価5〜100を有することを特徴とす
る請求項1または2記載の半導体ウエハ表面保護用粘着
テープ。
Priority Applications (1)
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JP15388694A JP3481307B2 (ja) | 1994-07-05 | 1994-07-05 | 半導体ウエハ表面保護用粘着テープ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15388694A JP3481307B2 (ja) | 1994-07-05 | 1994-07-05 | 半導体ウエハ表面保護用粘着テープ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0820756A JPH0820756A (ja) | 1996-01-23 |
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Family
ID=15572270
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP15388694A Expired - Lifetime JP3481307B2 (ja) | 1994-07-05 | 1994-07-05 | 半導体ウエハ表面保護用粘着テープ |
Country Status (1)
Country | Link |
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JP6738591B2 (ja) * | 2015-03-13 | 2020-08-12 | 古河電気工業株式会社 | 半導体ウェハの処理方法、半導体チップおよび表面保護テープ |
-
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- 1994-07-05 JP JP15388694A patent/JP3481307B2/ja not_active Expired - Lifetime
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