JP3337538B2 - 光ディスク検査方法 - Google Patents
光ディスク検査方法Info
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- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/002—Recording, reproducing or erasing systems characterised by the shape or form of the carrier
- G11B7/0037—Recording, reproducing or erasing systems characterised by the shape or form of the carrier with discs
- G11B7/00375—Recording, reproducing or erasing systems characterised by the shape or form of the carrier with discs arrangements for detection of physical defects, e.g. of recording layer
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- Manufacturing Optical Record Carriers (AREA)
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、光ディスクの品質を検
査するための光ディスク検査方法に関する。
査するための光ディスク検査方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】ＣＤ（コンパクトディスク）等のディジ
タルディスク（以下、ディスクという）における製品の
品質評価は、たとえばＢＬＥＲ（ブロックエラーレー
ト）検査によって行われている。
タルディスク（以下、ディスクという）における製品の
品質評価は、たとえばＢＬＥＲ（ブロックエラーレー
ト）検査によって行われている。
【０００３】図１は、従来のＣＤ等のディスクに対する
ＢＬＥＲを検査する際のピックアップの光軸の状態を示
すもので、ディスク１に対して光軸がＳＫＥＷ角零（す
なわち垂直）となるように予め調整されたピックアップ
２によってデータが再生されるようになっている。この
場合、半導体レーザ３からの出射光は、ビームスプリッ
タ４によって対物レンズ５側に折り返され、対物レンズ
５によりディスク１の記録面に集光される。ディスク１
の記録面からの反射光は、対物レンズ５及びビームスプ
リッタ４を経てディテクタ６の検出面に集光される。
ＢＬＥＲを検査する際のピックアップの光軸の状態を示
すもので、ディスク１に対して光軸がＳＫＥＷ角零（す
なわち垂直）となるように予め調整されたピックアップ
２によってデータが再生されるようになっている。この
場合、半導体レーザ３からの出射光は、ビームスプリッ
タ４によって対物レンズ５側に折り返され、対物レンズ
５によりディスク１の記録面に集光される。ディスク１
の記録面からの反射光は、対物レンズ５及びビームスプ
リッタ４を経てディテクタ６の検出面に集光される。
【０００４】図示されていないが、ディテクタ６から出
力される再生データは、データブロック毎にエラー検出
が行われ、単位時間当りのエラーの積算値が所定値を上
回っている場合は不良品との判定が行われるとともに、
所定値を下回っている場合は良品との判定が行われる。
力される再生データは、データブロック毎にエラー検出
が行われ、単位時間当りのエラーの積算値が所定値を上
回っている場合は不良品との判定が行われるとともに、
所定値を下回っている場合は良品との判定が行われる。
【０００５】しかしながら、図２に示すようなディスク
の反り（反り角又はＳＫＥＷ角θ）に対するエラーレー
トのマージン（ＳＫＥＷマージン）の検査は行われてい
ない。これは、その設計上のＳＫＥＷマージンが広いた
めに、その検査が必要とされていないことに起因してい
る。
の反り（反り角又はＳＫＥＷ角θ）に対するエラーレー
トのマージン（ＳＫＥＷマージン）の検査は行われてい
ない。これは、その設計上のＳＫＥＷマージンが広いた
めに、その検査が必要とされていないことに起因してい
る。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】ところで、現在開発さ
れつつある高密度記録のディスクにおいては、ＣＤ等に
比べてトラックピッチが大幅に縮小され、これに併せて
ピットの大きさも大幅に縮小される。
れつつある高密度記録のディスクにおいては、ＣＤ等に
比べてトラックピッチが大幅に縮小され、これに併せて
ピットの大きさも大幅に縮小される。
【０００７】このようなディスクを再生するためには、
読取ビームスポットも小さくしなければならず、そのた
めには読取ビームの波長を短くし、対物レンズのＮＡを
大きくする必要がある。そうなると、ピックアップの焦
点深度が浅くなってしまう等の理由からＳＫＥＷ（ディ
スクの反り）に対してシビアになる傾向がある。
読取ビームスポットも小さくしなければならず、そのた
めには読取ビームの波長を短くし、対物レンズのＮＡを
大きくする必要がある。そうなると、ピックアップの焦
点深度が浅くなってしまう等の理由からＳＫＥＷ（ディ
スクの反り）に対してシビアになる傾向がある。
【０００８】そして、このような高密度記録ディスクに
おいて、ＳＫＥＷ角θに対するエラーレートのマージン
を検査すると、図３に示すように、特性で示されるよ
うなＳＫＥＷマージンの大きいディスクばかりでなく、
曲線で示されるようなＳＫＥＷマージンの小さいディ
スクが存在する。
おいて、ＳＫＥＷ角θに対するエラーレートのマージン
を検査すると、図３に示すように、特性で示されるよ
うなＳＫＥＷマージンの大きいディスクばかりでなく、
曲線で示されるようなＳＫＥＷマージンの小さいディ
スクが存在する。
【０００９】上記のように、高密度記録ディスクでは、
ＳＫＥＷに対してシビアになることから、特性で示さ
れるようなＳＫＥＷマージンの小さいディスクは不良品
として判別する必要が生じる。しかしながら、通常のエ
ラーレートの検査においては、ピックアップ２の光軸が
ＳＫＥＷ角零となるよう予め調整されているので、ＳＫ
ＥＷ角零の点でのエラーレートが測定される。したがっ
て、図３の特性で示されるようなＳＫＥＷマージンの
小さいディスクを判別することは困難であった。
ＳＫＥＷに対してシビアになることから、特性で示さ
れるようなＳＫＥＷマージンの小さいディスクは不良品
として判別する必要が生じる。しかしながら、通常のエ
ラーレートの検査においては、ピックアップ２の光軸が
ＳＫＥＷ角零となるよう予め調整されているので、ＳＫ
ＥＷ角零の点でのエラーレートが測定される。したがっ
て、図３の特性で示されるようなＳＫＥＷマージンの
小さいディスクを判別することは困難であった。
【００１０】本発明は、このような事情に対処してなさ
れたもので、高密度記録ディスクにおけるＳＫＥＷマー
ジンの検査を適切且つ確実に行うことができる光ディス
ク検査方法を提供することを目的とする。
れたもので、高密度記録ディスクにおけるＳＫＥＷマー
ジンの検査を適切且つ確実に行うことができる光ディス
ク検査方法を提供することを目的とする。
【００１１】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記目的を達
成するために、エラー検出訂正符号が付与され、ブロッ
ク単位でディジタル信号が記録されているディスクの品
質を検査するための光ディスク検査方法であって、回転
駆動される前記ディスクに対し所定角度光軸を傾けた状
態でレーザ光を照射し、前記ディスクに記録されている
ディジタル信号を再生する工程と、前記再生されたディ
ジタル信号を復調し、エラー検出訂正符号を用いてエラ
ーを検出するとともに、単位時間当りのエラー個数を積
算する工程と、この積算手段による積算結果に基づいて
前記ディスクの良否を判定する工程とを含むことを特徴
とする。
成するために、エラー検出訂正符号が付与され、ブロッ
ク単位でディジタル信号が記録されているディスクの品
質を検査するための光ディスク検査方法であって、回転
駆動される前記ディスクに対し所定角度光軸を傾けた状
態でレーザ光を照射し、前記ディスクに記録されている
ディジタル信号を再生する工程と、前記再生されたディ
ジタル信号を復調し、エラー検出訂正符号を用いてエラ
ーを検出するとともに、単位時間当りのエラー個数を積
算する工程と、この積算手段による積算結果に基づいて
前記ディスクの良否を判定する工程とを含むことを特徴
とする。
【００１２】
【作用】本発明の光ディスク検査方法では、エラー検出
訂正符号が付与されたブロック単位でディジタル信号が
記録されているディスクの品質を検査する際、回転駆動
されるディスクに対し所定角度光軸を傾けた状態でレー
ザ光を照射してディスクに記録されているディジタル信
号を再生するとともに、再生されたデジタル信号を復調
し、エラー検出訂正符号を用いてエラーを検出するとと
もに、単位時間当りのエラー個数を積算し、この積算結
果に基づいてディスクの良否を判定するようにしてい
る。
訂正符号が付与されたブロック単位でディジタル信号が
記録されているディスクの品質を検査する際、回転駆動
されるディスクに対し所定角度光軸を傾けた状態でレー
ザ光を照射してディスクに記録されているディジタル信
号を再生するとともに、再生されたデジタル信号を復調
し、エラー検出訂正符号を用いてエラーを検出するとと
もに、単位時間当りのエラー個数を積算し、この積算結
果に基づいてディスクの良否を判定するようにしてい
る。
【００１３】すなわち、ディスクに対し所定角度光軸が
傾けられた状態でレーザ光を照射し、再生信号のエラー
レートを測定することにより、生産された高密度記録デ
ィスクの内のＳＫＥＷマージンの小さいディスクの判別
を容易に且つ確実に行うことが可能となる。
傾けられた状態でレーザ光を照射し、再生信号のエラー
レートを測定することにより、生産された高密度記録デ
ィスクの内のＳＫＥＷマージンの小さいディスクの判別
を容易に且つ確実に行うことが可能となる。
【００１４】
【実施例】以下、本発明の実施例の詳細を図面に基づい
て説明する。なお、以下に説明する図において、図２と
共通する部分には同一符号を付して説明する。
て説明する。なお、以下に説明する図において、図２と
共通する部分には同一符号を付して説明する。
【００１５】図４及び図５は、本発明の光ディスク検査
方法の一実施例に係る光ディスク検査装置を示すもので
ある。
方法の一実施例に係る光ディスク検査装置を示すもので
ある。
【００１６】図４に示すように、高密度記録ディスク１
はスピンドルモータ１０によって所定の速度で回転され
るようになっている。ピックアップ２によって読み取ら
れたディスク１からの再生信号は、復調器１３によって
復調される。また、復調器１３からの復調データは、誤
り検出部１４によってデータブロック毎の誤りが検出さ
れるとともに、検出された誤りは誤りデータカウント部
１５により積算され、良否判定部１６によって単位時間
当りの積算結果（エラーレート）が所定値以下の場合は
良品、所定値以上の場合は不良品というようにディスク
１の良否が判定される。
はスピンドルモータ１０によって所定の速度で回転され
るようになっている。ピックアップ２によって読み取ら
れたディスク１からの再生信号は、復調器１３によって
復調される。また、復調器１３からの復調データは、誤
り検出部１４によってデータブロック毎の誤りが検出さ
れるとともに、検出された誤りは誤りデータカウント部
１５により積算され、良否判定部１６によって単位時間
当りの積算結果（エラーレート）が所定値以下の場合は
良品、所定値以上の場合は不良品というようにディスク
１の良否が判定される。
【００１７】図５は、上記のピックアップ２の光軸の調
整状態を示すもので、ピックアップ２はその軸がＳＫＥ
Ｗ角零の位置から所定の角度θ′だけ傾けられた状態に
予め調整されている。この場合、上述したように、半導
体レーザ３からの出射光は、ビームスプリッタ４によっ
て対物レンズ５側に折り返され、対物レンズ５によりデ
ィスク１の記録面に集光される。ディスク１の記録面か
らの反射光は、対物レンズ５及びビームスプリッタ４を
経てディテクタ６の検出面に集光される。
整状態を示すもので、ピックアップ２はその軸がＳＫＥ
Ｗ角零の位置から所定の角度θ′だけ傾けられた状態に
予め調整されている。この場合、上述したように、半導
体レーザ３からの出射光は、ビームスプリッタ４によっ
て対物レンズ５側に折り返され、対物レンズ５によりデ
ィスク１の記録面に集光される。ディスク１の記録面か
らの反射光は、対物レンズ５及びビームスプリッタ４を
経てディテクタ６の検出面に集光される。
【００１８】図６に示すように、高密度記録ディスクで
は、のような特性を示すＳＫＥＷマージンの大きいデ
ィスクばかりでなく、のような特性を示すＳＫＥＷマ
ージンの小さいディスクも存在するが、上記のようにピ
ックアップ２のＳＫＥＷ角を予め所定角θ′だけ傾けた
状態でエラーレートが測定される。言い換えれば、ディ
スクが所定角θ′だけ反った状態を予め作り出し、その
状態でエラーレートが測定される。
は、のような特性を示すＳＫＥＷマージンの大きいデ
ィスクばかりでなく、のような特性を示すＳＫＥＷマ
ージンの小さいディスクも存在するが、上記のようにピ
ックアップ２のＳＫＥＷ角を予め所定角θ′だけ傾けた
状態でエラーレートが測定される。言い換えれば、ディ
スクが所定角θ′だけ反った状態を予め作り出し、その
状態でエラーレートが測定される。
【００１９】したがって、角度θ′を適切に設定すれ
ば、ＳＫＥＷマージンの小さいディスクをエラーレート
が所定値以上か否かで判別することが可能となる。
ば、ＳＫＥＷマージンの小さいディスクをエラーレート
が所定値以上か否かで判別することが可能となる。
【００２０】このように、本実施例では、高密度記録さ
れたディスクにおけるＳＫＥＷのマージン検査を行うた
めに、エラーレートの検査を行うピックアップ２の光軸
を所定角度θ′傾け、その条件下でエラーレート検査を
行うようにしたので、ＳＫＥＷマージンの小さいディス
クを容易に且つ確実に判別することが可能である。
れたディスクにおけるＳＫＥＷのマージン検査を行うた
めに、エラーレートの検査を行うピックアップ２の光軸
を所定角度θ′傾け、その条件下でエラーレート検査を
行うようにしたので、ＳＫＥＷマージンの小さいディス
クを容易に且つ確実に判別することが可能である。
【００２１】しかも、ＳＫＥＷのマージン検査に併せて
エラーレートの検査を兼ねることができるので、高密度
記録されたディスクの品質評価を総合的に行うことが可
能となる。
エラーレートの検査を兼ねることができるので、高密度
記録されたディスクの品質評価を総合的に行うことが可
能となる。
【００２２】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の光ディス
ク検査方法では、本発明の光ディスク検査方法では、エ
ラー検出訂正符号が付与されたブロック単位でディジタ
ル信号が記録されているディスクの品質を検査する際、
回転駆動されるディスクに対し所定角度光軸を傾けた状
態でレーザ光を照射してディスクに記録されているディ
ジタル信号を再生するとともに、再生されたデジタル信
号を復調し、エラー検出訂正符号を用いてエラーを検出
するとともに、単位時間当りのエラー個数を積算し、こ
の積算結果に基づいてディスクの良否を判定するように
している。
ク検査方法では、本発明の光ディスク検査方法では、エ
ラー検出訂正符号が付与されたブロック単位でディジタ
ル信号が記録されているディスクの品質を検査する際、
回転駆動されるディスクに対し所定角度光軸を傾けた状
態でレーザ光を照射してディスクに記録されているディ
ジタル信号を再生するとともに、再生されたデジタル信
号を復調し、エラー検出訂正符号を用いてエラーを検出
するとともに、単位時間当りのエラー個数を積算し、こ
の積算結果に基づいてディスクの良否を判定するように
している。
【００２３】したがって、生産された高密度記録ディス
クの内のＳＫＥＷマージンの小さいディスクを容易に且
つ確実に判別することができる。
クの内のＳＫＥＷマージンの小さいディスクを容易に且
つ確実に判別することができる。
【図１】従来のエラーレート検査におけるピックアップ
の光軸の状態を説明するための図である。
の光軸の状態を説明するための図である。
【図２】ピックアップの光軸のＳＫＥＷ角を説明するた
めの図である。
めの図である。
【図３】ＳＫＥＷ角に対するエラーレートを示す図であ
る。
る。
【図４】本発明の光ディスク検査方法の一実施例に係る
光ディスク検査装置を示す図である。
光ディスク検査装置を示す図である。
【図５】図４のピックアップの光軸の状態を示す図であ
る。
る。
【図６】ＳＫＥＷ角に対するエラーレートを示す図であ
る。
る。
１ ディスク ２ ピックアップ ３ 半導体レーザ ４ ビームスプリッタ ５ 対物レンズ ６ ディテクタ １０ スピンドルモータ １３ 復調器 １４ 誤り検出部 １５ 誤りデータカウント部 １６ 良否判定部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平３−292647（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G11B 20/18,7/00,7/26
Claims (1)
- 【請求項１】 エラー検出訂正符号が付与され、ブロッ
ク単位でディジタル信号が記録されているディスクの品
質を検査するための光ディスク検査方法であって、 回転駆動される前記ディスクに対し所定角度光軸を傾け
た状態でレーザ光を照射し、前記ディスクに記録されて
いるディジタル信号を再生する工程と、 前記再生されたディジタル信号を復調し、エラー検出訂
正符号を用いてエラーを検出するとともに、単位時間当
りのエラー個数を積算する工程と、 この積算手段による積算結果に基づいて前記ディスクの
良否を判定する工程とを含むことを特徴とする光ディス
ク検査方法。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27336893A JP3337538B2 (ja) | 1993-11-01 | 1993-11-01 | 光ディスク検査方法 |
| US08/331,198 US5475667A (en) | 1993-11-01 | 1994-10-28 | Method for inspecting an optical disc |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27336893A JP3337538B2 (ja) | 1993-11-01 | 1993-11-01 | 光ディスク検査方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07130107A JPH07130107A (ja) | 1995-05-19 |
| JP3337538B2 true JP3337538B2 (ja) | 2002-10-21 |
Family
ID=17526932
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP27336893A Expired - Fee Related JP3337538B2 (ja) | 1993-11-01 | 1993-11-01 | 光ディスク検査方法 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5475667A (ja) |
| JP (1) | JP3337538B2 (ja) |
Families Citing this family (13)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE4434473A1 (de) * | 1994-09-27 | 1996-03-28 | Basler Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur Qualitätskontrolle von Gegenständen mit polarisiertem Licht |
| DE4434474C2 (de) * | 1994-09-27 | 2000-06-15 | Basler Ag | Verfahren und Vorrichtung zur vollständigen optischen Qualitätskontrolle von Gegenständen |
| US6744707B1 (en) | 1996-06-18 | 2004-06-01 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Optical head device, inclination detection apparatus using the same, and optical information processing apparatus using the same |
| US6665257B2 (en) | 1996-06-18 | 2003-12-16 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Optical head device, inclination detection apparatus using the same, and optical information processing apparatus using the same |
| US6418095B1 (en) | 1996-06-18 | 2002-07-09 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Optical head device, inclination detection apparatus using the same, and optical information processing apparatus using the same |
| US7203138B2 (en) * | 1996-06-18 | 2007-04-10 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Optical head device, inclination detection apparatus using the same, and optical information processing apparatus using the same |
| US6327231B1 (en) | 1997-06-17 | 2001-12-04 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Optical head device with zero-cross point correction |
| SG81971A1 (en) * | 1999-03-24 | 2001-07-24 | Sony Prec Engineering Ct Singa | Inspection device for optical pickup and method for detecting sensitivity of focussing actuator |
| US7586595B2 (en) * | 2003-11-17 | 2009-09-08 | Tdk Corporation | Method of scanning and scanning apparatus |
| JP2007066421A (ja) * | 2005-08-31 | 2007-03-15 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光ディスク用信号処理装置 |
| US20070081433A1 (en) * | 2005-10-07 | 2007-04-12 | Media Tek Inc. | Tilt adjustment system and method of optical disk device |
| US8077565B2 (en) * | 2007-06-06 | 2011-12-13 | Panasonic Corporation | Optical disc device and lens tilt control method |
| JP5796317B2 (ja) * | 2011-03-23 | 2015-10-21 | セイコーエプソン株式会社 | メディア処理システム、メディア処理システムの制御方法およびメディア処理装置 |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59168835U (ja) * | 1983-04-27 | 1984-11-12 | パイオニア株式会社 | 光学式記録情報読取装置 |
| AU575332B2 (en) * | 1983-07-29 | 1988-07-28 | Sony Corporation | Optical disk pick-up |
| US5151890A (en) * | 1989-05-08 | 1992-09-29 | Seiko Epson Corporation | Optical system for optical memory device |
| JPH03102644A (ja) * | 1989-09-14 | 1991-04-30 | Canon Inc | 光情報処理装置 |
| FR2683932B1 (fr) * | 1991-11-19 | 1993-12-24 | Atg Sa | Dispositif d'acces et de suivi de pistes pour disque optique. |
-
1993
- 1993-11-01 JP JP27336893A patent/JP3337538B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1994
- 1994-10-28 US US08/331,198 patent/US5475667A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH07130107A (ja) | 1995-05-19 |
| US5475667A (en) | 1995-12-12 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |