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JP3327311B2 - 抵抗体のトリミング方法 - Google Patents

抵抗体のトリミング方法

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JP3327311B2
JP3327311B2 JP03252395A JP3252395A JP3327311B2 JP 3327311 B2 JP3327311 B2 JP 3327311B2 JP 03252395 A JP03252395 A JP 03252395A JP 3252395 A JP3252395 A JP 3252395A JP 3327311 B2 JP3327311 B2 JP 3327311B2
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JP
Japan
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slit
resistor
electrode
forming
slits
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光博 星井
浩司 佐藤
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Murata Manufacturing Co Ltd
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Murata Manufacturing Co Ltd
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Publication date
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01CRESISTORS
    • H01C17/00Apparatus or processes specially adapted for manufacturing resistors
    • H01C17/22Apparatus or processes specially adapted for manufacturing resistors adapted for trimming
    • H01C17/24Apparatus or processes specially adapted for manufacturing resistors adapted for trimming by removing or adding resistive material
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T29/00Metal working
    • Y10T29/49Method of mechanical manufacture
    • Y10T29/49002Electrical device making
    • Y10T29/49082Resistor making

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Apparatuses And Processes For Manufacturing Resistors (AREA)
  • Semiconductor Integrated Circuits (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、ハイブリッドICを
構成している絶縁基板上に形成された抵抗体のトリミン
グ方法に関する。
【0002】
【従来の技術】従来から抵抗体のトリミング方法とし
て、図3乃至図8に示すものがある。図3乃至図8にお
いて、1は抵抗体、2a,2bは電極、3は絶縁基板で
あり、41〜46は抵抗体1の抵抗値を調節するための
トリミングにより設けられたスリットである。
【0003】このうち抵抗体1は、スクリーン印刷など
により絶縁基板3上に設けた一対の電極2a,2b間に
またがって形成されている。
【0004】また、抵抗値を調節するための、トリミン
グにより設けられるスリット41〜46のうち、スリッ
ト41は、図3に示すように、抵抗体1の一方の端部か
ら電極2aに対して平行状に形成され、中間部で直交状
に折れて略L字状にトリミングすることにより形成さ
れ、スリット42は、図4に示すように、略L字状にト
リミングしてなるスリット41に連続して抵抗体1の一
方端部側にもどるように、略コ字状にトリミングするこ
とにより形成される。
【0005】また、スリット43は、図5に示すよう
に、抵抗体1の一方端部から略J字状にトリミングする
ことにより形成されるものであり、スリット44は、図
6に示すように、電極2a,2b間において、抵抗体1
の一方端部から抵抗体1をスキャンカットすることによ
り形成されるものである。
【0006】さらに、スリット45は、図7に示すよう
に、抵抗体1の一方端部の電極2a側から電極2b側に
略U字状にトリミングすることにより形成され、スリッ
ト46は、図8に示すように、抵抗体1の電極2aと電
極2bとん間に電極2a,2bの一部も含んだ状態で、
直線状にトリミング(リーンカット)することにより形
成されるものである。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た従来のトリミング方法においては、次のような問題点
があった。
【0008】第1に、図3乃至図5に示す略L字状のス
リット41、略コ字状のスリット42、略J字状のスリ
ット43を形成するものにおいては、雷サージ試験にお
いてサージ前後の抵抗値変化率が平均3.350%とな
り、大きな効果を期待することができなかった。
【0009】第2に、図6に示すスキャンカットにより
スリット44を形成するものにおいては、耐サージ特性
は良好となり、効果的なトリミング方法と言えるが、ト
リミングに要する時間が相当長いため、製品コストを引
上げる原因となっていた。
【0010】第3に、図7に示す略U字状にトリミング
してスリット45を形成するものにおいては、図6に示
したスキャンカットの耐サージ特性を維持した状態でト
リミングを高速化したものであるが、抵抗体初期値のバ
ラツキによって略U字状にトリミングする途中でトリミ
ングが終了してしまい、略J字状のスリット(図5と同
様の形状)になってしまう恐れがある。
【0011】第4に、図8に示すリーンカットによりス
リット46を形成するものにおいては、抵抗体1を電極
2a,2bも含めてトリミングする手法であり、略U字
状にトリミングしてスリット45を形成するものと同様
に、耐サージ特性を維持したままトリミングを高速化し
たものである。しかし、両電極と抵抗体を完全にカット
するためには、トリミングに関しプログラム的に難易度
が高く、かつ電極が完全にカットされないことがあり、
その結果、電気的に抵抗の並列接続を構成する恐れがあ
り、信頼性に欠けるものであった。
【0012】この発明は、上記のような問題点を解決す
るためになされたもので、耐サージ特性が良好で、高速
かつ確実に抵抗体にスリットを形成することのできる抵
抗体のトリミング方法を提供することを目的としてい
る。
【0013】
【課題を解決するための手段】この発明は上記の目的を
達成するために、請求項1に係る発明は、絶縁基板上に
設けられた一対の電極間に形成した抵抗体の前記電極の
一方に近接する位置の端縁から該電極に平行状に第1の
スリットを形成する工程と、該第1のスリットに連続し
前記電極の他方に向けて第1のスリットに対し直交状に
第2のスリットを形成する工程と、前記第1、第2のス
リットの分岐点を基準として前記第1、第2のスリット
と同様にして少なくとも一つの略L字状のスリットを形
成する工程を備え、少なくとも最初の前記第2のスリッ
トは他方の電極に近接する位置まで形成されることを特
徴とするものである。
【0014】請求項2に係る発明は、絶縁基板上に設け
られた一対の電極間に形成した抵抗体の前記電極の一方
に近接する位置の端縁から該電極に平行状に第1のスリ
ットを形成する工程と、該第1のスリットに連続し前記
電極の他方に向けて第1のスリットに対し直交状に第2
のスリットを形成する工程と、前記抵抗体の前記電極の
他方に近接する位置の端縁から該電極に平行状に第3の
スリットを形成する工程と、該第3のスリットに連続し
前記電極の一方に向けて第3のスリットに対し直交状に
前記第4のスリットを形成する工程と、前記第1、第2
のスリットの分岐点を基準として前記第1、第2のスリ
ットと同様にして少なくとも一つの略L字状のスリット
を形成する工程と、前記第3、第4のスリットの分岐点
を基準として前記第3、第4のスリットと同様にして少
なくとも一つの略逆L字状のスリットを前記略L字状の
スリットと交互に形成する工程とを備え、少なくとも最
初の前記第2のスリットは他方の電極に近接する位置ま
で形成され、少なくとも最初の前記第4のスリットは一
方の電極に近接する位置まで形成されることを特徴とす
るものである。
【0015】
【作用】この発明の抵抗体のトリミング方法によれば、
抵抗体に設けられたスリットを電極に極めて近接した位
置からトリミングを行うことにより、雷サージ試験にお
けるサージ前後の抵抗値変化率が平均0.003%と極
めて小さくなり、耐サージ特性が良好で、高速かつ確実
に抵抗体を形成することができる。
【0016】
【実施例】(実施例1)以下、この発明の一実施例にお
ける抵抗体のトリミング方法を図1を用いて説明する。
【0017】図1において、11は抵抗体、12a,1
2bは電極、13は絶縁基板であり、14はトリミング
により設けられたスリットである。このうち、抵抗体1
1は、スクリーン印刷などにより、絶縁基板13上に対
向して設けた一対の電極12a,12b間に跨って形成
される。
【0018】抵抗体11に設けられたスリット14は、
抵抗体11の電極12aに近接した位置の端縁Aから一
方の電極12aに対して平行状に抵抗体11の幅方向に
沿ってトリミングを行って第1のスリット141を形成
し、抵抗体11の幅方向略中間部において、第1のスリ
ット141に連続して他方の電極12bに向けて第1の
スリット141に対し直交状に抵抗体11の軸方向に沿
って電極12bに近接する位置までトリミングを行い第
2のスリット142を第1のスリット141と組み合わ
せて略L字状に形成し、第1、第2のスリット141、
142の分岐点を基準として、第1、第2のスリット1
41、142と同様に、第3、第4のスリット143、
144を抵抗体11の幅方向、軸方向に連続してトリミ
ングを行うことにより略L字状に形成し、同様に第5、
第6のスリット145、146をトリミングにより形成
し、以下、目標の抵抗値が得られるまで順次トリミング
によりスリットを形成することで、最終的に略くし歯状
のスリット14を得るものである。
【0019】(実施例2)図2において、11は抵抗
体、12a,12bは電極、13は絶縁基板であり、1
4、15はトリミングにより設けられたスリットであ
る。このうち、抵抗体11は、スクリーン印刷などによ
り、絶縁基板13上に対向して設けた一対の電極12
a,12b間に跨って形成される。
【0020】抵抗体11に設けられたスリット14は、
抵抗体11の電極12aに近接した位置の端縁Aから一
方の電極12aに対して平行状に抵抗体11の幅方向に
沿ってトリミングを行って第1のスリット141を形成
し、抵抗体11の幅方向略中間部において、第1のスリ
ット141に連続して他方の電極12bに向けて第1の
スリット141に対し直交状に抵抗体11の軸方向に沿
って電極12bに近接する位置までトリミングを行い第
2のスリット142を第1のスリット141と組み合わ
せて略L字状に形成する。
【0021】次に、抵抗体11に設けられたスリット1
5は、抵抗対11の電極12bに近接した位置の端縁B
から一方の電極12bに対して平行状に抵抗体11の幅
方向に沿ってトリミングを行って第3のスリット151
を形成し、抵抗体11の幅方向略中間部において、第3
のスリット151に連続して他方の電極12aに向けて
第3のスリット151に対し直交状に抵抗体11の軸方
向に沿って電極12aに近接する位置までトリミングを
行い第4のスリット152を第3のスリット151と組
み合わせて略L字状に形成する。さらに、第1、第2の
スリット141、142の分岐点を基準として、第1、
第2のスリット141、142と同様に、第5、第6の
スリット143、144を抵抗体11の幅方向、軸方向
に連続してトリミングを行うことにより形成し、同様に
第7、第8のスリット153、154を第3、第4のス
リット151、152の分岐点を基準としてトリミング
により形成し、以下、目標の抵抗値が得られるまで順次
トリミングによりスリットを形成することで、最終的に
略L字状のスリット14を略逆L字状のスリット15と
交互に得るものである。
【0022】なお、電極12aと、端縁Aとの間及び、
電極12bと、端縁Bとの間の距離は、抵抗体11が良
好な耐サージ特性を得るためにできる限り0に近付ける
ことが望ましい。また、一方向に伸びるスリットは、対
抗する電極に近い位置まで、すなわち抵抗体長さlと同
程度の長さを持つことが好ましい。
【0023】なお、本実施例では、1本目のスリットを
略L字状としたが、略コ字状または略J字状としても良
い。
【0024】
【発明の効果】以上のように、この発明によれば、次の
ような効果が得られる。
【0025】第1に抵抗体に設けられたスリットを電極
に極めて近接した位置からトリミングを行うことによ
り、雷サージ試験におけるサージ前後の抵抗値変化率が
平均0.003%と極めて小さくなり、スキャンカット
と同程度の良好な耐サージ特性が得られる。
【0026】第2に従来のスキャンカットに比べ高速化
がはかれる抵抗体のトリミング方法を提供することがで
きる。
【0027】第3に略U字状のトリミングまたはリーン
カットに比べ、確実かつ信頼性のあるトリミングを実現
できる抵抗体のトリミング方法を提供することができ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例を示す電極及び抵抗体の平面
図である。
【図2】本発明の他の実施例を示す電極及び抵抗体の平
面図である。
【図3】従来例を示す電極及び抵抗体の平面図である。
【図4】他の従来例を示す電極及び抵抗体の平面図であ
る。
【図5】さらに他の従来例を示す電極及び抵抗体の平面
図である。
【図6】さらに他の従来例を示す電極及び抵抗体の平面
図である。
【図7】さらに他の従来例を示す電極及び抵抗体の平面
図である。
【図8】さらに他の従来例を示す電極及び抵抗体の平面
図である。
【符号の説明】
1,11…抵抗体 2a,2b,12a,12b…電極 3,13…絶縁基板 14、15…スリット
フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭63−77101(JP,A) 特開 平6−338405(JP,A) 実開 昭63−149503(JP,U) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01C 17/00 - 17/30

Claims (2)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 絶縁基板上に設けられた一対の電極間に
    形成した抵抗体の前記電極の一方に近接する位置の端縁
    から該電極に平行状に第1のスリットを形成する工程
    と、 該第1のスリットに連続し前記電極の他方に向けて第1
    のスリットに対し直交状に第2のスリットを形成する工
    程と、 前記第1、第2のスリットの分岐点を基準として前記第
    1、第2のスリットと同様にして少なくとも一つの略L
    字状のスリットを形成する工程を備え 少なくとも最初の前記第2のスリットは他方の電極に近
    接する位置まで形成される ことを特徴とする抵抗体のト
    リミング方法。
  2. 【請求項2】 絶縁基板上に設けられた一対の電極間に
    形成した抵抗体の前記電極の一方に近接する位置の端縁
    から該電極に平行状に第1のスリットを形成する工程
    と、 該第1のスリットに連続し前記電極の他方に向けて第1
    のスリットに対し直交状に第2のスリットを形成する工
    程と、 前記抵抗体の前記電極の他方に近接する位置の端縁から
    該電極に平行状に第3のスリットを形成する工程と、 該第3のスリットに連続し前記電極の一方に向けて第3
    のスリットに対し直交状に前記第4のスリットを形成す
    る工程と、 前記第1、第2のスリットの分岐点を基準として前記第
    1、第2のスリットと同様にして少なくとも一つの略L
    字状のスリットを形成する工程と、 前記第3、第4のスリットの分岐点を基準として前記第
    3、第4のスリットと同様にして少なくとも一つの略逆
    L字状のスリットを前記略L字状のスリットと交互に形
    成する工程とを備え 少なくとも最初の前記第2のスリットは他方の電極に近
    接する位置まで形成され、少なくとも最初の前記第4の
    スリットは一方の電極に近接する位置まで形成される
    とを特徴とする抵抗体のトリミング方法。
JP03252395A 1995-02-21 1995-02-21 抵抗体のトリミング方法 Expired - Lifetime JP3327311B2 (ja)

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US08/604,016 US6480092B1 (en) 1995-02-21 1996-02-20 Resistor trimming method
US08/927,083 US6007755A (en) 1995-02-21 1997-09-10 Resistor trimming method

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Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6647614B1 (en) * 2000-10-20 2003-11-18 International Business Machines Corporation Method for changing an electrical resistance of a resistor
EP1258891A2 (en) * 2001-05-17 2002-11-20 Shipley Co. L.L.C. Resistors
KR20050026904A (ko) * 2001-09-10 2005-03-16 마이크로브리지 테크놀로지스 인크. 저항기 트리밍 방법
US7408437B2 (en) * 2004-05-18 2008-08-05 Ngk Spark Plug Co., Ltd. Resistance element, its precursor, and resistance value adjusting method
US7843309B2 (en) * 2007-09-27 2010-11-30 Vishay Dale Electronics, Inc. Power resistor
JP2013153130A (ja) 2011-12-28 2013-08-08 Rohm Co Ltd チップ抵抗器
JP7232679B2 (ja) * 2019-03-20 2023-03-03 ローム株式会社 電子部品

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3517436A (en) * 1965-05-04 1970-06-30 Vishay Intertechnology Inc Precision resistor of great stability
US4378549A (en) * 1977-07-11 1983-03-29 Vishay Intertechnology, Inc. Resistive electrical components
US4284970A (en) * 1979-08-09 1981-08-18 Bell Telephone Laboratories, Incorporated Fabrication of film resistor circuits
GB2064226B (en) * 1979-11-23 1983-05-11 Ferranti Ltd Trimming of a circuit element layer
US4429298A (en) * 1982-02-22 1984-01-31 Western Electric Co., Inc. Methods of trimming film resistors
US4563564A (en) * 1984-01-30 1986-01-07 Tektronix, Inc. Film resistors
FR2562711B1 (fr) * 1984-04-10 1987-01-23 Renix Electronique Sa Resistance haute tension de precision a faible encombrement en technologie couches epaisses
US4647899A (en) * 1984-04-30 1987-03-03 Beltone Electronics Corporation Electrical film resistor
JPH01253206A (ja) * 1988-03-31 1989-10-09 Hoya Corp 抵抗膜のトリミング方法
US5198794A (en) * 1990-03-26 1993-03-30 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Trimmed resistor
JP2940079B2 (ja) * 1990-06-19 1999-08-25 日本電気株式会社 膜抵抗体のトリミング方法
JPH04133301A (ja) * 1990-09-25 1992-05-07 Toshiba Lighting & Technol Corp 抵抗体

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US6480092B1 (en) 2002-11-12

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