JP3384479B2 - Integrated light emitting device for contact type optical printer - Google Patents
Integrated light emitting device for contact type optical printerInfo
- Publication number
- JP3384479B2 JP3384479B2 JP5156796A JP5156796A JP3384479B2 JP 3384479 B2 JP3384479 B2 JP 3384479B2 JP 5156796 A JP5156796 A JP 5156796A JP 5156796 A JP5156796 A JP 5156796A JP 3384479 B2 JP3384479 B2 JP 3384479B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- light emitting
- nitride
- semiconductor
- emitting element
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Landscapes
- Printers Or Recording Devices Using Electromagnetic And Radiation Means (AREA)
- Led Devices (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本願発明は、光プリンタ、複写機
の光源、光書き込み型空間光変調素子を用いたプロジェ
クタの書き込み光源やセンサーの光源等に利用される発
光素子に係わり、特に小型化が可能であり、外部取り出
し効率が高く指向性に優れた発光素子に関する。
【0002】
【従来の技術】今日、オフィスオートメーション化の進
展に伴い、各種の情報端末機器が普及している。その中
でも発光素子を用いた情報端末機器は、光プリンタなど
として重要な位置を占めている。この様なプリンタは、
騒音がなく印字速度が速いのでO.A機器に搭載使用す
る光プリンタ用のヘッドなどとして注目を浴びている。
発光素子としてLEDを利用したものは、
【0003】1.応答速度がナノ秒であり並列化可能な
ことから高速度駆動が可能である。2.単に電気信号の
入出力によって発光制御できるので広範囲な速度で駆動
できる。3.駆動のための立ち上げ時間が無く待ち時間
がない。4.コンパクトでシンプルな構造であり、装置
の小型化と調整やメンテナンスに優れている。5.固体
系であり、可動部がないので騒音が生じなく信頼性が高
い等の優れた特性を有しており種々開発されてきてい
る。
【0004】このような、発光素子の特性を生かしたも
のとして電子写真方式プリンタの画像形成プロセスの一
例及び発光素子の概略断面図を図6及び図8に示す。発
光素子803は支持基板に沿ってライン状に固定配置さ
れている。発光素子には電力を供給するため正負一対の
電極が設けられ、それぞれの電極は、高解像度化するた
めに支持基板上に配されたパターン配線や駆動ICなど
と金属ワイヤー802などの導線を用いて3次元的に電
気的接続を行っている。さらに、透明樹脂804を介し
て光源を絞るための遮光部材として801を設けられ
る。この様に形成された発光素子を用いたLEDアレイ
装置を図6に示す電子写真方式プリンタに利用した場
合、駆動回路からの電源のON、0FF制御によりLEDア
レイ装置601の発光素子が発光し、レンズ602を介
して予め帯電室604で帯電された感光ドラム603上
に所望の静電潜像を形成する。形成された像はトナー供
給室605からトナーによる現像、用紙供給室606か
ら供給された用紙への転写、定着を経てプリントアウト
される。
【0005】プリンタヘッドによって、高解像度の画像
を実現させるためには発光素子を小型化するとともに発
光素子の実装をも小型高密度化させる必要がある。その
ため発光素子と駆動用ICチップなどとの導線配線は、
発光素子の周辺で電極や導線などがこみ入った状態とな
る。その結果、発光素子から発光された光は、この電極
や導線などの可反射体によって反射され、この反射光が
発光むらとなり画像の結像露光の際、画像の濃度むらを
生じるという問題を有する。そのため特開昭62−19
9073号公報や特開平7−22651号公報などで
は、可反射体を黒色マスクで覆ったり、透過率の高い封
止部材としての樹脂とスリットとを構成することなどに
より濃度むらを解消している。
【0006】一方、最近より短波長の発光光を高出力で
発光可能な半導体素子として窒化物系化合物半導体(I
nXAlYGa1-X-YN、0≦X≦1、0≦Y≦1、0≦
X+Y≦1)が開発されている。しかしながら、窒化物
系化合物半導体を利用した発光素子は、単結晶成長させ
ることが難しく比較的良好な半導体膜を形成させるため
にはサファイヤ基板などの絶縁基板上に半導体を形成さ
せているのが現状である。この様な窒化物系化合物半導
体は正負の各電極を半導体表面側から取り出す必要があ
ると同時に比較的高抵抗であるため電極取り出し用の実
装部がより複雑となる。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】従って、単に窒化物系
化合物半導体を用いた発光素子に上述の方法を利用して
も十分な発光むら解消にはならない。特に、より高解像
度化のために高密度化し装置自体を小型化させるにつれ
発光素子の実装の影響が大きくなるばかりでなく発光素
子自体の光の広がりを絞らなければ十分に発光むらを解
消することができない。また、上述のLEDアレイ装置
を応用したものでは、発光素子表面に電極取出用のワイ
ヤーが設けられプリント基板などに接続されているため
スポット光として光を取り出すためにはワイヤー保護の
透明樹脂を介してワイヤー上部にマスクを構成せざるを
得ない。したがって、発光面と遮光マスクとの間隙で光
が減衰しスリット上から見た光の取り出し効率が悪くな
る。そのため高解像度を得るために単に発光素子を高密
度化させたとしても発光むらや光の取り出し効率の低下
により、光強度分布が平均化し十分な高解像度が得られ
ないという問題点を有する。また、ワイヤー上部に遮光
部材としてのマスクを形成させた場合、ある程度の不要
光が抑えられるもののスリット部と発光部との距離があ
る程度必要であるために小型化に不向きである。したが
って、よりすぐれた発光素子が求められている。本願発
明は上述の問題点を解決し、より高密度化、小型化した
場合においても指向性が高く、また発光むらがなく光取
り出し効率の優れた発光素子が求められている。
【0008】
【課題を解決するための手段】本願発明は、透光性絶縁
基板上に第一の導電型を有する第一の窒化物系化合物半
導体と、第一の窒化物系化合物半導体上に第一の導電型
とは異なる第二の導電型であって発光部ごとに複数分離
してなる第二の窒化物半導体と、第一の窒化物系化合物
半導体上に形成された共通電極(403)とを有する集
積化発光素子である。また、透光性絶縁基体を介して窒
化物系化合物半導体と対向する面上に窒化物系化合物半
導体から透光性絶縁基体を透過した発光光の一部を遮光
する遮光部材を有する集積化発光素子でもある。さら
に、遮光部材は導電性部材で構成されアースに接続され
てなる集積化発光素子である。
【0009】本願発明の構成とすることにより集積化可
能であり、発光面とマスク上部の距離をマスクの厚みま
で短くすることができ小型化することができる。また、
不要な可反射体などがなく発光面との距離が短くなるた
め光の取り出し効率が良くなる。また、マスク形状を変
えることにより任意のスポット形状を得ることができ
る。
【0010】本願発明の構成とすることにより、静電気
による窒化物系化合物半導体の破壊がない発光素子とす
ることができる。
【0011】本願発明の構成とすることにより、遮光部
材で反射された光を窒化物半導体上に形成された電極で
再び反射させることにより、より発光光率の優れた発光
素子とすることができる。
【0012】
【発明の実施の形態】本願発明は種種の実験の結果、窒
化物系化合物半導体の発光素子を小型化させた場合に生
じる発光むらや輝度低下を、半導体発光素子と遮光部材
とを半導体発光素子の支持体である透光性絶縁基板を介
して配置し透光性絶縁基板を介して光を取り出すことに
より防ぎ、発光の指向特性を向上させ光り取り出し効率
が高く、且つ小型化が可能な発光素子とすることができ
ることを見いだし本願発明を成すに至った。
【0013】即ち、発光面とマスク上部の距離をマスク
の厚みまで短くできるとともに遮光部材と窒化物系化合
物半導体との間に電気的接続のための実装を配置する必
要がない。従って、実装に反射された反射光による発光
むらや実装による光吸収がなく窒化物系化合物半導体か
らの光をスポット光として取り出すとともに光の取り出
し効率が向上させることができる。また、半導体発光素
子への電気的取り出しのためのワイヤーを半導体発光面
上からはぶくことができるために発光部を小型化するこ
とができる。たとえ、実装上ワイヤーが用いられたとし
ても半導体発光素子から放出された発光光が透明絶縁基
板を透して直接遮光部材に届くため発光素子の周辺に配
置された導線などへの影響が極めて少なく高密度実装さ
せたとしても導線などからの反射による発光むらなどの
影響が極めて小さいものとなる。
【0014】窒化物系化合物半導体を発光素子として利
用した場合は、その発光波長が紫外域光に近い短波長半
導体とすることが可能であり高密度化に適しているとと
もにカンデラ級の高輝度で紫外光から赤色まで発光させ
ることが可能である。以下、本願発明の構成について具
体的に詳述する。
【0015】(遮光部材101)
本願発明に用いられる遮光部材101とは、窒化物系化
合物半導体から発光された光を所望の形状に発光せしめ
所望外の光の散乱を防止させるためのものである。ま
た、遮光部材は窒化物半導体の発光波長及びその波長の
広がりから含まれる紫外光により遮光部材が変質するお
それがないことが好ましい。したがって、遮光部材とし
ては着色した金属酸化膜や種々の金属などが挙げられ
る。特に微細加工のしやすさの観点から金属膜を用いる
ことが好ましい。遮光部材として金属膜を用いた場合は
窒化物系化合物半導体から放出された熱を透光性支持体
を介して外部に放出することができる。また、発光素子
を高周波駆動させた場合には窒化物系化合物半導体から
放出される電磁波を吸収させることもできるため電子機
器の誤作動を防止することができる。さらに、半導体は
半導体自身が発光した発光波長に対して透光性を有する
ため発光素子の電極と遮光部材により光の多重反射によ
る閉じこめ効果が生じスポット光からの取り出し光を向
上させることができる。この様な金属膜として、具体的
にはAg、Au、Cu、Al及びそれらの合金などが挙
げられる。これらの金属膜は、透光性絶縁基板上にスパ
ッタリング法や真空蒸着法などによって形成することが
できる。形成された金属膜は所望の形状例えば、真円、
楕円、正方形、長方形などの孔を形成するため所望の形
状のレジスト膜を形成後エッチングによって形成するこ
ともできるしスパッタリング法や真空蒸着法時に所望以
外の箇所が堆積されないようマスクを形成させても良
い。また、金属膜を形成した後、エッチングにより所望
の孔を形成させることも可能である。さらに、遮光部材
を孔のある金属部材を用いて構成した発光素子を基板に
固定するために利用することもできる。
【0016】さらに、発光素子を色素系光重合開始剤と
モノマーないしプレポリマと色素先駆体を含有したマイ
クロカプセルを添加した光記録媒体702、銀塩写真な
どの感光材に密着してプリントさせる密着型光プリンタ
などに利用した場合、感光材を発光素子に対応して感光
させるため或いは感光材を排出するために発光素子及び
/又は感光材を接触して移動させる必要がある。この場
合、当初より感光材に帯電している静電気やその移動に
伴う摩擦によって生じる静電気により半導体素子が破壊
される場合がある。窒化物系化合物半導体を利用した場
合、他の半導体と異なり静電気に対して弱いため破壊さ
れやすい。そのため、遮光部材を導電体としアース接続
などグランドに落としてやることにより電荷を逃がし窒
化物系化合物半導体を用いた発光素子の静電破壊を防止
することができる。具体的には遮光部材101と共通支
持体上のメタライズパターン203と、を導電性ペース
ト201を用いて電気的に接続させることによって電荷
を逃がす方法や、遮光部材上に発光素子固定用の金属板
301を利用して電荷を逃がす方法など種々の方法が挙
げられる。導電ペースト201などで電荷を逃がす場合
は、図2の如く遮光部材101と共通支持体のメタライ
ズパターン203との間に設けられる導電性ペースト2
01などがp型とn型の半導体側面をショートさせない
ようにSiO2、Si3N4、Al2O3、TiN、シリコ
ンゴムやエポキシ樹脂などの絶縁体202、302で少
なくとも窒化物系化合物半導体の側面を予め被覆するこ
とが好ましい。さらに、光の散乱を抑制するため絶縁体
202を黒色の顔料などにより暗色に着色することが好
ましい。図3に示す如く金属板301を用いて電荷を逃
がす場合も上述と同様であるが金属板によって発光素子
を固定することができる。
【0017】(透光性絶縁基板102)
本願発明に利用される透光性支持体102とは、半導体
発光素子の支持基板であるとともにその内部を透過させ
て光を取り出させるため半導体発光素子が発光した光に
対して透過光率が高いものが望まれる。また、透光性絶
縁基板は半導体発光素子を形成させる支持体として利用
しても良いし半導体を形成させた後、発光面を透光性支
持体と張り合わせて形成させても良い。さらに、窒化物
系化合物半導体の発光が、紫外域光近傍では所望外の発
光波長域の広がりなどから紫外域光を含むことが考えら
れ長時間使用すると有機材料で形成させた透光性絶縁基
板や遮光部材を形成する部材の2重結合が切れることな
どにより劣化する。この様な劣化は黄変などの着色が生
じ光り取り出し効率が低下するばかりではなく有機材料
の剥がれなどを生じさす。したがって、透光性絶縁基板
は無機材料とすることが好ましい。具体的には、サファ
イヤ、アルミナやスピネルなどが好適に用いられること
となる。
【0018】
(窒化物系化合物半導体103、104)
本願発明に用いられる窒化物系化合物半導体は、液相成
長法やMOCVD法等により基板上にInXAlYGa
1-X-YN(0≦X≦1、0≦Y≦1、0≦X+Y≦1)
の半導体を発光層として形成させた物が用いられる。半
導体の構造としては、MIS接合、PI接合、NI接合
やpn接合を有したホモ構造、ヘテロ構造あるいはダブ
ルへテロ構成のものが挙げられる。また、量子効果を持
たせるため発光層を単一井戸構造、多重井戸構造とさせ
ても良い。半導体の混晶度によって発光波長を紫外光か
ら赤色光まで種種選択することができる。感光材の感光
特性など発光素子の利用される用途に応じて種々選択さ
せてもよい。
【0019】また、窒化物系化合物半導体上に形成され
る電極の形状としては図4に記載のごとく種々選択でき
る。図4(A)は、一つの発光素子に一つの発光部(遮
光部材の孔に相当する。)を形成させるため透光性絶縁
基板上に窒化物系化合物半導体及び金属電極105と透
明電極401を形成させた発光素子である。図4(B)
は、長尺の透光性絶縁基板上にエッチングにより窒化物
系化合物半導体を発光部ごとに複数分離させるとともに
遮光部材402を形成させた発光素子である。これによ
り、発光素子間の光の散乱を抑えることができる。図4
(C)は、長尺の透明性絶縁基板上にエッチングにより
窒化物系化合物半導体の一方の導電型半導体層を発光部
ごとに複数分離させるとともに他方の導電型半導体上に
形成された電極を共通電極として形成させた発光素子で
ある。これにより、より集積化させた発光素子とするこ
とができる。図4(D)は、長尺の透光性絶縁基板上に
窒化物系化合物半導体を発光部ごとに複数に分離させる
とともに窒化物系化合物半導体表面の85%以上、より
好ましくは90%以上を反射性の電極で構成する。本願
発明の発光素子は、窒化物系化合物半導体が保持された
透光性絶縁基板を透して光の取り出しを行う。さらに半
導体はバンドギャップの関係から発光光に対しては実質
的に透明となるため透光性絶縁基板と反対側表面に反射
性の電極を設けることが好ましい。反射性の電極を用い
ることにより遮光部材と電極との間で反射を繰り返しな
がらもスポット光として光を有効利用することができ
る。
【0020】遮光部材の孔である発光部を複数設けライ
ン状やマトリックス状などに配置形成させる場合は、発
光部ごとに発光素子を有する透光性絶縁基板を共通基板
上に配置して形成してもよいし、一つの透光性絶縁基板
上に複数の発光部を持つ発光素子としてもよい。
【0021】(駆動IC501)
駆動IC501とは、発光素子をON、OFF駆動させるた
めに設けられるものであり発光素子と一体に形成させて
小型化させることもできる。また、駆動ICは発光素子
が所望の光出力を有するよう光量を補正をすることもで
きる。特に発光素子を複数用いた場合は個々の発光素子
の発光強度をそろえて配置することが難しく光量補正は
発光素子に流す電力を制御する或いは発光時間を制御す
ることによって補正することができる。また、発光素子
の光出力補正などは各発光素子のビット単位で補正して
もまた、チップ単位で補正しても良い。いずれにしても
個々の特性を駆動ICによって補正することができる。
【0022】(共通支持体505)
共通支持体505としては発光素子502、503、5
04、駆動IC501などを配置し共通支持体上に設け
られたメタライズパターンによって、それぞれ電気的に
接続し固定するために用いられる。共通支持体をフルカ
ラープリンタヘッドなどに利用する場合、R(赤)G
(緑)B(青)の発光素子502、503、504を積
置させる。共通支持体503は発光光の指向にも影響を
与えることからソリ、ウネリ、が少なく表面が平滑であ
ることが好ましい。
【0023】また、発光素子からの放熱は発光素子自体
の寿命を低下させるだけでなく発光波長の変調や駆動I
Cの出力など素子特性にも大きな影響を与える。そのた
め共通支持体の熱伝導性がよいものが好ましい。この様
な共通支持体として、具体的にはセラミック基板やアル
ミ、ステンレスなどの金属ベース上に絶縁層を形成しそ
の上に銅箔を接着したメタルベース基板などが挙げられ
る。以下本願発明の参考例について具体的に詳述するが
本願発明はこれのみに限定されるものでないことは言う
までもない。
【0024】
【参考例】(参考例1)
透光性絶縁基板上に窒化物系化合物半導体を形成させる
ために厚さ400μmのサファイヤ基板を真空チャンバ
ー内に挿入しTMGガス、NH3ガス、P型あるいはN
型ドーパント含有ガスをそれぞれ流しMOCVD成長法
でバッファ層、N型及びP型窒化ガリウム半導体をそれ
ぞれ5μm、1μm堆積させPN接合を有する半導体ウ
エハーを形成させた。エッチングによりP型半導体層の
一部を除去しN型半導体の電極形成面を形成した。その
後、N型半導体上にスパッタリングによりWとTiを積
層させN型電極を形成させた。次にP型半導体上にスパ
ッタリングによりAlを堆積してP型電極を形成した。
N型及びP型電極は遮光部材間との反射による光取り出
し効率向上のためにP型半導体表面及びN型半導体表面
をそれぞれ覆うように形成させてある。
【0025】こうしてできた半導体ウエハーのサファイ
ヤ基板表面を研磨により鏡面加工した。鏡面処理を施し
たサファイヤ基板上に遮光部材となる金属膜を形成させ
るため真空蒸着法を用いてAgを500μm堆積させ
た。こうして形成された金属膜に所望の形状のスリット
として孔を形成させるため発光素子の中心に直系が約1
00μm所望のレジスト膜を形成しエッチングにより不
要な金属膜を除去した。レジスト膜を除去しサファイヤ
基板上の発光素子中心に直径約100μmの孔を有する
遮光部材を形成させた。その後、スクライブラインを引
き外力によって350μmの発光素子を得た。このよう
な発光素子及び駆動用のICをそれぞれ100個ずつを
共通支持体であるメタライズされたセラミック基板上に
Agペーストを用いて固定させ電気的接続を行った。駆
動ICを用いて全発光素子の出力誤差を5%以内に調整
した。この様な発光素子を図6に示す電子写真式プリン
タのプリンタヘッドに利用した。予め帯電させた感光ド
ラム上に所望の静電潜像を形成させ、トナーによる現
像、用紙への転写、定着を経てプリントアウトさせた。
【0026】(比較例1)
サファイヤ基板上に形成させた遮光部材の替わりにとし
て参考例1と同様にPN接合が形成された半導体ウエハ
ーを350μm角に切断した。この発光素子のサファイ
ヤ基板を共通支持体に固定するとともに駆動ICを10
0個共通支持体上に固定した。発光素子の各電極と駆動
ICとをワイヤーボンディングにより電気的に接続させ
た後、共通支持体上に透光性樹脂としてエポキシ樹脂を
塗布し硬化させた。その後、参考例1と同様にして樹脂
上に直径40μmの孔を有するAg膜を形成させた。比
較のため参考例1と同様の電子写真式プリンタに組み込
みプリントアウトさせた。プリントアウトされたものを
顕微鏡で確認したところ参考例1のプリントアウトされ
たものに比べ比較例1のプリントアウトされたものは印
字が薄く濃度むらがあった。入力画像に対する出力画像
の相対比較で比較例1が参考例1に較べ15%ほどにじ
みが多かった。
【0027】(参考例2)
密着型光プリンタヘッドとしてR(赤)G(緑)B
(青)の各波長が発光可能な発光素子を各波長ごとにラ
イン状に形成する。赤色(660nm)の発光素子とし
て温度差液晶成長法で連続的にP型ガリウム・砒素基板
上にP型GaAlAs、N型GaAlAsを形成させ導
電性基板上にPN接合を有する半導体ウエハーを形成さ
せた。赤色用の半導体ウエハーは電極となる金属膜を両
面に形成させ一方に光取り出し用の孔を直径100μm
で設けた。スクライブラインを引いた後、外力を利用し
て300μmに分離して発光素子を形成させた。
【0028】一方、青色(470nm)及び緑色(52
5nm)の発光素子に関しては、MOCVD法を用いて
サファイヤ基板上にn型及びp型窒化ガリウム化合物半
導体を形成させ透光性絶縁基板上にpn接合を有する半
導体ウエハーを形成させた。形成された半導体ウエハー
を、サファイヤ基板上でエッチングにより280μm角
に電気的に分離した。p型半導体を一部エッチングしn
型電極形成面を露出させた後、分離された半導体ごとに
正負の電極となる金属膜をそれぞれ全面に形成させた。
次にサファイヤ基板上にマスクを形成しAgをターゲッ
トとしたスパッタリング法により遮光部材としてAg膜
を20μm堆積させた。マスクを除去し直径100μm
の孔を有する遮光部材を形成させた。それぞれを300
μm×1500μmにスクライブラインを引いた後外力
によって分離しライン形状の発光素子を形成させた。こ
うして形成されたRGBそれぞれの発光素子を半田によ
りメタライズパターンが形成されたセラミック基板上に
ライン状に形成させ光プリンタヘッドを構成させた。こ
れを密着型光プリンタヘッドとして図7の如く用い銀塩
写真を搬入搬出させ光プリンタヘッド701を移動させ
感光させた後現像させ、発光むらなく光プリンタヘッド
として十分機能することを確かめた。また、繰り返し使
用しても窒化物系化合物半導体が破壊されることはなか
った。
【0029】
【発明の効果】以上説明したように、本願発明の発光素
子は、小型化が可能であり、外部取り出し効率が高く指
向性に優れた発光素子及びそれを用いた発光装置とする
ことができる。Description: BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention is applied to a light source of an optical printer, a copying machine, a writing light source of a projector using an optical writing type spatial light modulator, and a light source of a sensor. In particular, the present invention relates to a light-emitting element that can be miniaturized, has high external extraction efficiency, and has excellent directivity. 2. Description of the Related Art Today, with the progress of office automation, various information terminal devices have become widespread. Among them, information terminal devices using light emitting elements occupy an important position as optical printers and the like. Such a printer is
Since there is no noise and the printing speed is fast, It is attracting attention as such head for an optical printer to a tower Works in A equipment.
A device using an LED as a light emitting element is as follows. Since the response speed is nanoseconds and parallelization is possible, high-speed driving is possible. 2. Light emission can be controlled simply by inputting and outputting electric signals, so that driving can be performed at a wide range of speeds. 3. There is no start-up time for driving and no waiting time. 4. It has a compact and simple structure, and is excellent in miniaturization and adjustment and maintenance of the device. 5. Solid type, no moving parts, no noise and high reliability
It has excellent properties such as stiffness and has been developed in various ways. FIGS. 6 and 8 show an example of an image forming process of an electrophotographic printer and a schematic cross-sectional view of a light emitting element utilizing the characteristics of the light emitting element. The light emitting elements 803 are fixedly arranged in a line along the support substrate. The light-emitting element is provided with a pair of positive and negative electrodes for supplying power, and each electrode uses a pattern wiring or a driving IC and a conductive wire such as a metal wire 802 arranged on a supporting substrate for high resolution. The three-dimensional electrical connection is made. Further, 801 is provided as a light shielding member for narrowing down the light source via the transparent resin 804. When the LED array device using the light emitting element formed in this way is used in the electrophotographic printer shown in FIG. 6, the light emitting element of the LED array device 601 emits light by turning on and off the power from the drive circuit, A desired electrostatic latent image is formed on the photosensitive drum 603 previously charged in the charging chamber 604 via the lens 602. The formed image is printed out after development with toner from the toner supply chamber 605, transfer to the paper supplied from the paper supply chamber 606, and fixing. In order to realize a high-resolution image by using a printer head, it is necessary to reduce the size of the light emitting elements and to mount the light emitting elements in a small and high density. Therefore, the wiring of the light emitting element and the driving IC chip, etc.
An electrode, a conductive wire, and the like are intruded around the light emitting element. As a result, the light emitted from the light-emitting element is reflected by a reflective body such as the electrode or the conductive wire, and the reflected light becomes uneven in light emission. . Therefore, Japanese Patent Application Laid-Open No. 62-19 / 1987
In Japanese Patent Application Laid-Open No. 9073 and Japanese Patent Application Laid-Open No. Hei 7-22651, unevenness in density is eliminated by covering the reflective body with a black mask or forming a resin and a slit as a sealing member having high transmittance. . On the other hand, recently, as a semiconductor device capable of emitting short-wavelength light with high output, a nitride-based compound semiconductor (I
n X Al Y Ga 1-XY N, 0 ≦ X ≦ 1,0 ≦ Y ≦ 1, 0 ≦
X + Y ≦ 1 ) has been developed. However, it is difficult for a light emitting device using a nitride-based compound semiconductor to grow a single crystal, and a semiconductor is formed on an insulating substrate such as a sapphire substrate in order to form a relatively good semiconductor film. It is. Such a nitride-based compound semiconductor needs to take out each of the positive and negative electrodes from the semiconductor surface side and has relatively high resistance, so that the mounting portion for taking out the electrodes becomes more complicated. Therefore, even if the above-described method is simply applied to a light-emitting device using a nitride-based compound semiconductor, it is not possible to sufficiently eliminate uneven light emission. In particular, as the density is increased for higher resolution and the size of the device itself is reduced, the influence of the mounting of the light emitting element is not only increased, but also the light emission unevenness is sufficiently eliminated unless the light spread of the light emitting element itself is narrowed. Can not. In the case of applying the above-mentioned LED array device, a wire for extracting an electrode is provided on the surface of the light-emitting element and is connected to a printed circuit board or the like. A mask must be formed on top of the wire. Therefore, the light is attenuated by the gap between the light emitting surface and the light shielding mask, and the light extraction efficiency as viewed from above the slit is deteriorated. Therefore, even if the density of the light emitting elements is simply increased in order to obtain a high resolution, there is a problem that the light intensity distribution is averaged and a sufficiently high resolution cannot be obtained due to uneven light emission and a decrease in light extraction efficiency. Further, when a mask as a light shielding member is formed on the upper portion of the wire, unnecessary light is suppressed to some extent, but a certain distance between the slit portion and the light emitting portion is required, which is not suitable for miniaturization. Therefore, a better light emitting element is required. The present invention solves the above-mentioned problems, and there is a need for a light-emitting element that has high directivity even when the density is increased and the size is reduced, and that has excellent light extraction efficiency without uneven light emission. [0008] The present invention provides a light-transmitting insulating material.
A first nitride-based compound half having a first conductivity type on a substrate
Conductor and first conductivity type on first nitride-based compound semiconductor
2nd conductivity type different from the above and separated into multiple for each light emitting part
Nitride semiconductor and first nitride-based compound
And a common electrode (403) formed on the semiconductor.
It is an integrated light emitting device. In addition, nitrogen is transmitted through a transparent insulating substrate.
Nitride-based compound semiconductor on the surface facing the nitride-based compound semiconductor
Part of the emitted light transmitted through the translucent insulating substrate from the conductor is shielded
It is also an integrated light emitting element having a light shielding member. Further
The light-shielding member is made of a conductive material and is connected to the ground.
It is an integrated light emitting device. [0009] Integration is possible by adopting the structure of the present invention.
The distance between the light emitting surface and the upper portion of the mask can be reduced to the thickness of the mask, and the size can be reduced. Also,
Since there is no unnecessary reflector or the like and the distance to the light emitting surface is short, light extraction efficiency is improved. Also, an arbitrary spot shape can be obtained by changing the mask shape. By adopting the structure of the present invention, a light emitting element free from destruction of a nitride compound semiconductor due to static electricity can be obtained. According to the structure of the present invention , the light reflected by the light-shielding member is reflected again by the electrode formed on the nitride semiconductor, so that a light-emitting element having a higher light emission rate can be obtained. . DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS As a result of various experiments, the present invention has been developed to reduce unevenness in light emission and decrease in luminance caused when a nitride-based compound semiconductor light-emitting element is miniaturized. It is arranged via a light-transmitting insulating substrate, which is a support for a semiconductor light-emitting element, and is prevented by extracting light through the light-transmitting insulating substrate, thereby improving directional characteristics of light emission, increasing light extraction efficiency, and reducing size. The inventors have found that a light-emitting element can be used, and have accomplished the present invention. That is, the distance between the light emitting surface and the upper portion of the mask can be reduced to the thickness of the mask, and there is no need to arrange a mounting for electrical connection between the light shielding member and the nitride compound semiconductor. Accordingly, there is no uneven light emission due to the reflected light reflected by the mounting or light absorption by the mounting, so that light from the nitride-based compound semiconductor can be extracted as spot light and the light extraction efficiency can be improved. Further, a wire for electrical extraction to the semiconductor light emitting element can be blown from above the semiconductor light emitting surface, so that the light emitting portion can be downsized. Even if a wire is used for mounting, the emitted light emitted from the semiconductor light emitting device directly reaches the light shielding member through the transparent insulating substrate, so that the influence on the conductive wires arranged around the light emitting device is extremely small. Even if high-density mounting is performed, the influence of uneven light emission due to reflection from a conductive wire or the like is extremely small. When a nitride-based compound semiconductor is used as a light-emitting element, it is possible to use a short-wavelength semiconductor whose emission wavelength is close to ultraviolet light, which is suitable for high-density and high-brightness of the candela class. It is possible to emit light from ultraviolet light to red. Hereinafter, the configuration of the present invention will be specifically described in detail. [0015] (light blocking member 101) and the light blocking member 101 used in the present invention, intended for sealed anti scatter desired outside light caused to emit light emitted from the nitride-based compound semiconductor into a desired shape It is. Further, it is preferable that the light-shielding member does not have a risk of being deteriorated by ultraviolet light included from the emission wavelength of the nitride semiconductor and the spread of the wavelength. Therefore, as the light shielding member, a colored metal oxide film, various metals, and the like can be given. In particular, it is preferable to use a metal film from the viewpoint of ease of fine processing. When a metal film is used as the light-blocking member, heat released from the nitride-based compound semiconductor can be released to the outside via the translucent support. In addition, when the light-emitting element is driven at a high frequency, electromagnetic waves emitted from the nitride-based compound semiconductor can be absorbed, so that malfunction of the electronic device can be prevented. Furthermore, since the semiconductor has a light-transmitting property with respect to the emission wavelength of the light emitted by the semiconductor itself, a confinement effect by multiple reflection of light is generated by the electrode of the light-emitting element and the light shielding member, so that light extracted from the spot light can be improved. Specific examples of such a metal film include Ag, Au, Cu, Al, and alloys thereof. These metal films can be formed over a light-transmitting insulating substrate by a sputtering method, a vacuum evaporation method, or the like. The formed metal film has a desired shape, for example, a perfect circle,
After forming a resist film of a desired shape to form a hole such as an ellipse, square, rectangle, etc., it can be formed by etching, or a mask can be formed so that undesired portions are not deposited during sputtering or vacuum evaporation. good. After forming the metal film, a desired hole can be formed by etching. Further, it can be used for fixing a light emitting element in which a light shielding member is formed using a metal member having a hole to a substrate. Further, a contact type in which the light emitting element is printed in close contact with an optical recording medium 702 to which microcapsules containing a dye-based photopolymerization initiator, a monomer or a prepolymer and a dye precursor are added, or a photosensitive material such as a silver salt photograph. When used in an optical printer or the like, it is necessary to contact and move the light emitting element and / or the photosensitive material in order to expose the photosensitive material corresponding to the light emitting element or to discharge the photosensitive material. In this case, the semiconductor element may be destroyed by static electricity charged on the photosensitive material from the beginning or static electricity generated by friction caused by the movement. When a nitride-based compound semiconductor is used, unlike other semiconductors, it is easily damaged by static electricity. For this reason, the light-shielding member is made of a conductive material and is dropped to the ground such as an earth connection, so that the electric charge can be released and the electrostatic breakdown of the light emitting element using the nitride-based compound semiconductor can be prevented. Specifically, a method of releasing electric charges by electrically connecting the light-shielding member 101 and the metallized pattern 203 on the common support using the conductive paste 201, a method of fixing a light-emitting element metal plate on the light-shielding member, and the like. There are various methods such as a method for releasing electric charges by utilizing 301. When the electric charge is released by the conductive paste 201 or the like, the conductive paste 2 provided between the light shielding member 101 and the metallized pattern 203 of the common support as shown in FIG.
01 or the like so as not to short the p-type and n-type semiconductor side surfaces, at least a nitride-based compound semiconductor with insulators 202 and 302 such as SiO 2 , Si 3 N 4 , Al 2 O 3 , TiN, silicon rubber or epoxy resin. Is preferably coated in advance. Further, the insulator 202 is preferably colored dark with a black pigment or the like to suppress light scattering. The case where the electric charge is released using the metal plate 301 as shown in FIG. 3 is the same as described above, but the light emitting element can be fixed by the metal plate. (Translucent Insulating Substrate 102) The translucent support 102 used in the present invention is a support substrate for a semiconductor light emitting device and a semiconductor light emitting device for transmitting light through the inside thereof to extract light. It is desirable that the transmittance of the emitted light be high. Further, the light-transmitting insulating substrate may be used as a support for forming a semiconductor light-emitting element, or after forming a semiconductor, a light-emitting surface may be attached to the light-transmitting support. Furthermore, the light emission of the nitride-based compound semiconductor is considered to include ultraviolet light due to the spread of an undesired emission wavelength region in the vicinity of ultraviolet light, and the light-transmitting insulating substrate formed of an organic material when used for a long time. It degraded such as by double bond parts material forming the or shielding member expires. Such deterioration not only causes coloring such as yellowing and reduces the light extraction efficiency, but also causes peeling of the organic material. Therefore, the light-transmitting insulating substrate is preferably made of an inorganic material. Specifically, sapphire, alumina, spinel, or the like is suitably used. The nitride used (nitride compound semiconductor 103, 104) the present invention based compound semiconductor, a liquid phase growth method or a MOCVD method or the like on a substrate In X Al Y Ga
1-XY N (0 ≦ X ≦ 1, 0 ≦ Y ≦ 1 , 0 ≦ X + Y ≦ 1 )
A product obtained by forming the above semiconductor as a light emitting layer is used. Semiconductor structures include MIS junction, PI junction, and NI junction
Homo structure and having a pn junction, include the hetero structure to heterostructure or double. Further, the light emitting layer may have a single-well structure or a multi-well structure to have a quantum effect. A variety of emission wavelengths can be selected from ultraviolet light to red light depending on the degree of mixed crystal of the semiconductor. Various selections may be made according to the use of the light emitting element, such as the photosensitive characteristics of the photosensitive material. The shape of the electrode formed on the nitride-based compound semiconductor can be variously selected as shown in FIG . FIG. 4A shows a nitride-based compound semiconductor and a metal electrode 105 and a transparent electrode 401 on a light-transmitting insulating substrate for forming one light-emitting portion (corresponding to a hole of a light-blocking member) in one light-emitting element. This is a light emitting element formed with. FIG. 4 (B)
Is a light-emitting element in which a plurality of nitride-based compound semiconductors are separated for each light-emitting portion by etching on a long light-transmitting insulating substrate and a light-shielding member 402 is formed. Thereby, scattering of light between the light emitting elements can be suppressed. FIG.
(C) separates a plurality of conductive semiconductor layers of one of the nitride-based compound semiconductors for each light emitting portion on a long transparent insulating substrate by etching, and shares an electrode formed on the other conductive semiconductor. A light-emitting element formed as an electrode. Thus, a more integrated light-emitting element can be obtained. FIG. 4D shows that a nitride-based compound semiconductor is separated into a plurality of light-emitting portions on a long light-transmitting insulating substrate and 85% or more, more preferably 90% or more, of the surface of the nitride-based compound semiconductor is separated. It is composed of a reflective electrode. The light-emitting element of the present invention extracts light through a light-transmitting insulating substrate holding a nitride-based compound semiconductor. Further, since the semiconductor is substantially transparent to emitted light due to the band gap, it is preferable to provide a reflective electrode on the surface opposite to the light-transmitting insulating substrate. By using the reflective electrode, light can be effectively used as spot light while repeating reflection between the light shielding member and the electrode. When a plurality of light emitting portions, which are holes of the light shielding member, are arranged and formed in a line or a matrix, a light transmitting insulating substrate having a light emitting element for each light emitting portion is arranged and formed on a common substrate. Alternatively, a light-emitting element having a plurality of light-emitting portions over one light-transmitting insulating substrate may be used. (Drive IC 501) The drive IC 501 is provided to turn on and off the light emitting element, and can be formed integrally with the light emitting element to be downsized. Further, the driving IC can correct the light amount so that the light emitting element has a desired light output. In particular, when a plurality of light emitting elements are used, it is difficult to arrange the light emitting elements with the same light emission intensity, and the light quantity can be corrected by controlling the power supplied to the light emitting elements or controlling the light emission time. Further, the light output correction of the light emitting elements may be corrected in bit units of each light emitting element or may be corrected in chip units. In any case, individual characteristics can be corrected by the drive IC. (Common Support 505) As the common support 505, the light emitting elements 502, 503, 5
04, a drive IC 501 and the like are arranged and electrically connected and fixed by metallization patterns provided on a common support. When the common support is used for a full-color printer head or the like, R (red) G
(Green) B (blue) light emitting elements 502, 503, and 504 are stacked. Since the common support 503 also affects the direction of emitted light, it is preferable that the common support 503 has a small amount of warpage and undulation and has a smooth surface. Further, the heat radiation from the light emitting element not only shortens the life of the light emitting element itself, but also modulates the emission wavelength and drives the light emitting element.
This has a great effect on the element characteristics such as the output of C. Therefore, a common support having good thermal conductivity is preferable. Specific examples of such a common support include a ceramic substrate and a metal base substrate in which an insulating layer is formed on a metal base such as aluminum or stainless steel and a copper foil is adhered thereon. Hereinafter, reference examples of the present invention will be described in detail, but it goes without saying that the present invention is not limited thereto. REFERENCE EXAMPLE ( Reference Example 1 ) A sapphire substrate having a thickness of 400 μm was inserted into a vacuum chamber to form a nitride-based compound semiconductor on a light-transmitting insulating substrate, and TMG gas, NH 3 gas, and P-type were used. Or N
The buffer layer and the N-type and P-type gallium nitride semiconductors were respectively deposited at 5 μm and 1 μm by MOCVD growth method by flowing the type dopant-containing gas to form a semiconductor wafer having a PN junction. A part of the P-type semiconductor layer was removed by etching to form an N-type semiconductor electrode formation surface. Thereafter, W and Ti were stacked on the N-type semiconductor by sputtering to form an N-type electrode. Next, Al was deposited on the P-type semiconductor by sputtering to form a P-type electrode.
The N-type and P-type electrodes are formed so as to cover the P-type semiconductor surface and the N-type semiconductor surface, respectively, in order to improve light extraction efficiency by reflection between the light shielding members. The sapphire substrate surface of the semiconductor wafer thus obtained was mirror-polished by polishing. Ag was deposited to a thickness of 500 μm using a vacuum deposition method to form a metal film serving as a light-shielding member on a sapphire substrate subjected to mirror finishing. In order to form a hole as a slit of a desired shape in the metal film formed in this way, about 1 direct line is formed at the center of the light emitting element.
A desired resist film having a thickness of 00 μm was formed, and an unnecessary metal film was removed by etching. The resist film was removed to form a light shielding member having a hole having a diameter of about 100 μm at the center of the light emitting element on the sapphire substrate. Thereafter, a scribe line was drawn to obtain a light emitting device of 350 μm by an external force. 100 light emitting elements and 100 driving ICs were fixed on a metallized ceramic substrate, which is a common support, using an Ag paste to perform electrical connection. The output error of all the light emitting elements was adjusted to within 5% using the driving IC. Such a light emitting element was used for a printer head of an electrophotographic printer shown in FIG. A desired electrostatic latent image was formed on a photosensitive drum that had been charged in advance, and the image was printed out through development with toner, transfer to paper, and fixing. Comparative Example 1 A semiconductor wafer on which a PN junction was formed was cut into a 350 μm square in the same manner as in Reference Example 1 instead of the light shielding member formed on the sapphire substrate. The sapphire substrate of this light emitting element is fixed to a common support, and
0 were fixed on a common support. After each electrode of the light emitting element was electrically connected to the drive IC by wire bonding, an epoxy resin as a light-transmitting resin was applied on the common support and cured. Thereafter, in the same manner as in Reference Example 1, an Ag film having a hole having a diameter of 40 μm was formed on the resin. For comparison, the same electrophotographic printer as in Reference Example 1 was incorporated and printed. As a result of confirming the printed out with a microscope, the printed out of Comparative Example 1 was lighter in printing and had uneven density compared to the printed out of Reference Example 1. In the relative comparison of the output image with respect to the input image, Comparative Example 1 showed about 15% more bleeding than Reference Example 1. Reference Example 2 R (red) G (green) B as a contact type optical printer head
Light emitting elements capable of emitting each wavelength of (blue) are formed in a line for each wavelength. As a red (660 nm) light emitting element, P-type GaAlAs and N-type GaAlAs were continuously formed on a P-type gallium arsenide substrate by a temperature difference liquid crystal growth method, and a semiconductor wafer having a PN junction was formed on a conductive substrate. . The semiconductor wafer for red has a metal film to be an electrode formed on both sides and a light extraction hole on one side with a diameter of 100 μm.
Provided. After the scribe line was drawn, the light was separated to 300 μm using external force to form a light emitting device. On the other hand, blue (470 nm) and green (52 nm)
For the light emitting element 5 nm), to form a semiconductor wafer having a pn junction to the n-type及beauty p-type gallium nitride compound to form a semiconductor light-transmissive insulating substrate on a sapphire substrate by MOCVD. The formed semiconductor wafer was electrically separated into 280 μm square by etching on a sapphire substrate . Partially etched p-type semiconductor and n
After exposing the mold electrode formation surface, a metal film to be a positive electrode and a negative electrode was formed on the entire surface of each separated semiconductor.
Next, a mask was formed on the sapphire substrate, and an Ag film was deposited as a light shielding member to a thickness of 20 μm by a sputtering method using Ag as a target. 100μm diameter after removing the mask
The light shielding member having the holes was formed. 300 each
After a scribe line was drawn to μm × 1500 μm, separation was performed by an external force to form a line-shaped light emitting element. The thus formed RGB light emitting elements were formed in a line on a ceramic substrate on which a metallized pattern was formed by soldering, thereby forming an optical printer head. This was used as a contact-type optical printer head as shown in FIG. 7, and a silver halide photograph was carried in and out, the optical printer head 701 was moved and exposed to light, and then developed. Further, the nitride-based compound semiconductor was not destroyed even when used repeatedly. As described above, the light emitting device of the present invention can be miniaturized, has high external extraction efficiency and excellent directivity, and a light emitting device using the same. Can be.
【図面の簡単な説明】
【図1】 本願発明の発光素子の模式的断面図である。
【図2】 本願発明の他の発光素子の模式的断面図であ
る。
【図3】 本願発明の別の発光素子の模式的断面図であ
る。
【図4】 本願発明の発光素子の電極構成の例を示した
模式的平面図である。
【図5】 本願発明の発光素子を利用した光プリンタヘ
ッドの模式的平面図である。
【図6】 本願発明の発光素子を利用した電子写真方式
プリンタの動作を示す模式的断面図である。
【図7】 本願発明の発光素子を利用した密着型プリン
タの動作を示す模式的断面図である。
【図8】 本願発明と比較のための発光素子の模式的断
面図である。
【符号の説明】
101・・・・・遮光部材
102・・・・・透光性絶縁基体
103・・・・・n型窒化物半導体
104・・・・・p型窒化物半導体
105・・・・・電極
106・・・・・半田
107・・・・・メタライズパターンが形成されたセラ
ミックス基板
201・・・・・導電性ペースト
202・・・・・エポシキ樹脂
203・・・・・アースに接続されるメタライズパター
ン
301・・・・・金属板
302・・・・・絶縁部材であるシリコン酸化物
303・・・・・アースに接続されるメタライズパター
ン
401・・・・・透明電極
402・・・・・遮光部材
403・・・・・共通電極
404・・・・・反射率の高いアルミニウム電極
501・・・・・駆動用ICチップ
502、503、504・・・・・発光素子
505・・・・・共通支持体
601・・・・・LEDアレイ
602・・・・・レンズ
603・・・・・感光ドラム
604・・・・・帯電室
605・・・・・トナー供給室
606・・・・・用紙供給室
701・・・・・光プリンタヘッド
702・・・・・感光体
703・・・・・感光体供給ドラム
704・・・・・感光体供給室
705・・・・・支持体
801・・・・・遮光部材
802・・・・・導線
803・・・・・発光素子
804・・・・・充填樹脂BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG. 1 is a schematic sectional view of a light emitting device of the present invention. FIG. 2 is a schematic sectional view of another light emitting device of the present invention. FIG. 3 is a schematic sectional view of another light emitting device of the present invention. FIG. 4 is a schematic plan view showing an example of an electrode configuration of the light emitting device of the present invention. FIG. 5 is a schematic plan view of an optical printer head using the light emitting device of the present invention. FIG. 6 is a schematic cross-sectional view showing the operation of an electrophotographic printer using the light emitting device of the present invention. FIG. 7 is a schematic cross-sectional view showing the operation of a contact printer using the light emitting device of the present invention. FIG. 8 is a schematic sectional view of a light emitting device for comparison with the present invention. [EXPLANATION OF SYMBOLS] 101 ..... light shielding member 102 ----- translucent insulating substrate 103 · · · · · n-type nitride semiconductor 104 · · · · · p-type nitride semiconductor 105 ... ··· Electrode 106 ···· Solder 107 ···· Ceramic substrate 201 on which metallized pattern is formed ···· Conductive paste 202 ···· Epoxy resin 203 ····· Connected to ground Metallized pattern 301 ... Metal plate 302 ... Silicon oxide 303 as an insulating member ... Metallized pattern 401 connected to ground ... Transparent electrode 402 ... ... Light-shielding member 403... Common electrode 404... Aluminum electrode 501 with high reflectivity... Driving IC chips 502, 503, 504.・ ・Common support 601 LED array 602 Lens 603 Photosensitive drum 604 Charging chamber 605 Toner supply chamber 606 Paper Supply chamber 701 Optical printer head 702 Photoconductor 703 Photoconductor supply drum 704 Photoconductor supply chamber 705 Support 801 ... Shielding member 802... Conducting wire 803... Light emitting element 804.
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01L 33/00 B41J 2/44 B41J 2/455 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on front page (58) Field surveyed (Int.Cl. 7 , DB name) H01L 33/00 B41J 2/44 B41J 2/455
Claims (1)
る第一の窒化物系化合物半導体と、該第一の窒化物系化
合物半導体上に前記第一の導電型とは異なる第二の導電
型であって発光部ごとに複数分離してなる第二の窒化物
半導体と、前記第一の窒化物系化合物半導体上に形成さ
れた共通電極(403)とを有する密着型光プリンタ用
集積化発光素子において、前記透光性絶縁基板を介して前記窒化物系化合物半導体
と対向する面上に、前記窒化物系化合物半導体から透光
性絶縁基板を透過した発光光の一部を遮光する遮断部材
を有し、前記遮断部材は、アースに接続された導電性部
材である密着型光プリンタ用集積化発光素子。 」(57) [Claim 1] A first nitride-based compound semiconductor having a first conductivity type on a light-transmitting insulating substrate, and a first nitride-based compound semiconductor on the first nitride-based compound semiconductor. A second nitride semiconductor having a second conductivity type different from the first conductivity type and separated by a plurality of light emitting portions, and a common electrode formed on the first nitride compound semiconductor ( 403) The integrated light-emitting device for a contact type optical printer having the above-mentioned, wherein the nitride-based compound semiconductor is interposed via the light- transmitting insulating substrate.
Light from the nitride-based compound semiconductor
Shielding member that blocks part of the emitted light transmitted through the conductive insulating substrate
And the blocking member has a conductive portion connected to ground.
Integrated light emitting device for contact type optical printers. "
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5156796A JP3384479B2 (en) | 1996-03-08 | 1996-03-08 | Integrated light emitting device for contact type optical printer |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5156796A JP3384479B2 (en) | 1996-03-08 | 1996-03-08 | Integrated light emitting device for contact type optical printer |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH09246597A JPH09246597A (en) | 1997-09-19 |
JP3384479B2 true JP3384479B2 (en) | 2003-03-10 |
Family
ID=12890555
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP5156796A Expired - Fee Related JP3384479B2 (en) | 1996-03-08 | 1996-03-08 | Integrated light emitting device for contact type optical printer |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3384479B2 (en) |
-
1996
- 1996-03-08 JP JP5156796A patent/JP3384479B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH09246597A (en) | 1997-09-19 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US10978615B2 (en) | Plurality of light emitting devices having opaque insulating layer between them | |
US11973067B2 (en) | Methods for manufacturing a display device | |
US8415680B2 (en) | Semiconductor composite apparatus, print head, and image forming apparatus | |
TWI755825B (en) | Light emitting apparatus | |
CN109417082B (en) | Semiconductor device and display apparatus including the same | |
CN103117347B (en) | Luminescent device and the light-emitting device with the luminescent device | |
CN108615740B (en) | Flexible active color semiconductor light-emitting display module and flexible display screen | |
JP4589604B2 (en) | Method for fabricating self-aligned and self-exposed photoresist pattern on light emitting device | |
US8338848B2 (en) | LED structure | |
KR20180131496A (en) | Display device and method for forming the same | |
CN111048547B (en) | Light emitting diode with multiple light emitting units | |
US20100047943A1 (en) | Light emitting device and method of manufacturing the same | |
WO2018143525A1 (en) | Method for manufacturing micro array light emitting diode and lighting device | |
EP3726576B1 (en) | Method for forming a display device | |
JP7561842B2 (en) | LED display device | |
US9502612B2 (en) | Light emitting diode package with enhanced heat conduction | |
WO2019231115A1 (en) | Semiconductor device package and light irradiation device comprising same | |
CN113711120A (en) | Light emitting diode display panel, display device having the same, and method of manufacturing the same | |
US20240266331A1 (en) | Methods for manufacturing electronic device and transfer device | |
JP2014216588A (en) | Light-emitting device, method of manufacturing the same, image display device, and image formation device | |
JP2023501269A (en) | Light-emitting element for display and LED display device having the same | |
KR20220002289A (en) | Light emitting element having cantilever electrode, display panel and display device having same | |
JP3384479B2 (en) | Integrated light emitting device for contact type optical printer | |
US5038186A (en) | Light emitting diode array | |
KR102320797B1 (en) | Light emitting diode |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |